DE10039520A1 - Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten - Google Patents
Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen ObjektenInfo
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Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten (1), mit einem Mikroskop (2), einer zur Beleuchtung des Objekts (1) dienenden Lichtquelle (3, 4), einem Beleuchtungsstrahlengang (5), einem zur Detektion des vom Objekt (1) zurückkehrenden Lichts dienenden Detektor (6), einem Detektionsstrahlengang (7), einer zur Objektmanipulation dienenden Lichtquelle (8) und einem Manipulationslichtstrahlengang (9). Die erfindungsgemäße Vorrichtung bzw. das erfindungsgemäße Verfahren soll eine dreidimensionale Untersuchung und Manipulation von Objekten (1) ermöglichen, deren Ausdehnung entlang der optischen Achse größer als der Tiefenschärfenbereich des verwendeten Mikroskopobjektivs ist, wobei eine Objektmanipulation auch an allen Stellen des dreidimensionalen Objekts (1) möglich sein soll. Darüber hinaus soll eine dreidimensionale Detektion des Objekts (1) möglich sein, bei der eine Diskriminierung der Objektlichtbeiträge erfolgt, die von Bereichen kommen, die jenseits des Tiefenschärfenbereichs des Mikroskopobjektivs liegen. Die erfindungsgemäße Vorrichtung bzw. das erfindungsgemäße Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskop ein konfokales Rastermikroskop ist.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Un
tersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten, mit einem Mi
kroskop, einer zur Beleuchtung des Objekts dienenden Lichtquelle, einem
Beleuchtungsstrahlengang, einem zur Detektion des vom Objekt zurückkeh
renden Lichts dienenden Detektor, einem Detektionsstrahlengang, einer zur
Objektmanipulation dienenden Lichtquelle und einem Manipulationslicht
strahlengang.
Vorrichtungen der gattungsbildenden Art sind in der Praxis seit geraumer Zeit
bekannt. Lediglich beispielhaft wird auf "Micromanipulation by Light in Biology
and Medicine" von Karl Otto Greulich, Birkhäuser Verlag 1999 verwiesen. Dort
wird beschrieben, wie bei der mikroskopischen Untersuchung von Objekten
mit Hilfe von fokussierten Laserstrahlen Kräfte auf Partikel ausgeübt, Partikel
zerkleinert, perforiert oder Ablationen vorgenommen werden können. Die
Möglichkeiten der Objektmanipulation werden insbesondere in der Zellbiologie
eingesetzt, um beispielsweise das Innere ungeöffneter Zellen ungehindert zu
manipulieren. Hierbei sind vor allem zwei unterschiedliche Manipulationsvor
gänge üblich. Einerseits werden Objekte oder Objektbereiche mit fokussiertem
Infrarotlicht beleuchtet, wodurch einzelne Partikel der Objekte bzw. Objektbe
reiche in der Nähe des Manipulationsfokusses eingefangen und bei Verän
derung der Position des Manipulationsfokusses in der Fokalebene mit dem
Fokus mitbewegt werden (optische Pinzette), so dass diese beispielsweise mit
einer Kraft beaufschlagbar sind. Wird ein Objektbereich mit gepulstem, fokus
siertem UV-Licht beaufschlagt, so kann biologisches Material aufgrund einer
hohen Energiedichte des UV-Lichts mit hoher räumlicher Auflösung zer
schnitten oder perforiert werden (Nannoskalpell).
Bei einer weiteren Untersuchungsmethode in der Zellbiologie werden Objekte
mit sogenannten "Caged-Compound"-Verbindungen präpariert. Diese Verbin
dungen enthalten Calcium oder Aminosäuren, wie beispielsweise Glutamat,
und sind mit Komplexbildnern (Gelators) verbunden bzw. umgeben. Diese
Verbindungen können durch Einstrahlung von UV-Licht aufgebrochen werden,
wodurch das Calcium oder das freiwerdende Glutamat in der Lage ist, weitere
Reaktionen in der Zelle auszulösen (Photoaktivierung). Eine Photoaktivierung
kann auch mit Hilfe von Zwei-Photonen-Prozessen erzielt werden. Lediglich
beispielhaft wird hierzu auf die US 5,034,613 und auf die DE 44 14 940 ver
wiesen, die die Anwendung der Zwei-Photonen-Absorbtion von Fluoreszenz
farbstoffen bei der Rastermikroskopie beschreiben.
Mit Hilfe von optischen Pinzetten ist es möglich, Bindungskräfte zwischen
Zellelementen, beispielsweise zwischen Mikrotubuli und anderen Zytosklett
elementen, zu bestimmen oder Kontahierungskräfte von Muskelfasern zu
messen.
Derzeit wird das zur Manipulation des Objekts dienende Laserlicht in den
Strahlengang eines konventionellen Lichtmikroskops eingekoppelt. Die Mani
pulation des Objekts erfolgt im Allgemeinen durch Bewegen der Probe mit
dem Mikroskoptisch. Die Manipulation und die Untersuchung bzw. Beob
achtung des Objekts erfolgt dabei entweder im Fluoreszenzlicht-Modus oder
im Durchlicht-Modus eines konventionellen Mikroskops.
Bei diesen Untersuchungen und Manipulationen von Objekten ist jedoch pro
blematisch, dass aufgrund der Abbildungseigenschaften eines konventionellen
Mikroskops nur der Objektbereich zweidimensional abgebildet wird, der sich in
dem Tiefenschärfenbereich des Mikroskopobjektivs befindet. Die Objektberei
che jenseits dieses Tiefenschärfenbereichs sind jedoch dem Bild störend
überlagert, was eine exakte Objektmanipulation erschwert bzw. unmöglich
macht. Dementsprechend werden solche Untersuchungen und Manipulatio
nen hauptsächlich an Objekten ausgeführt, die eine geringe Ausdehnung ent
lang der optischen Achse aufweisen, so dass diese Objekte komplett in dem
Tiefenschärfenbereich des Mikroskopobjektivs gebracht werden können. So
mit kann dann das Objekt bei einem Abbildungsvorgang vollständig abgebildet
werden und störende Überlagerungen von Objektbereichen jenseits des
Tiefenschärfenbereichs des Mikroskopobjektivs können auf diese Weise ver
mieden werden.
Sollen nun Untersuchungen und Manipulationen an Objekten durchgeführt
werden, die eine - verglichen zum Tiefenschärfenbereich des Mikroskopobjek
tivs - große Ausdehnung entlang der optischen Achse haben, treten zum ei
nen die bereits beschriebenen Abbildungsprobleme auf, zum anderen ist es
nicht ohne weitere möglich, Objektmanipulationen in verschiedenen Ebenen
parallel zur Fokalebene des Mikroskopobjektivs durchzuführen. Der Grund
hierfür ist, dass eine gleichzeitige Manipulation an mehreren Objektstellen mit
unterschiedlicher Position entlang der optischen Achse die Foki des zu mani
pulierenden Lichts entsprechend unterschiedlich einzustellen wären, was der
zeit bei herkömmlichen Geräten zur Objektmanipulation nicht vorgesehen ist.
Eine entsprechende Ansteuerung einer solchen Manipulationsvorrichtung
durch einen Benutzer würde weiterhin voraussetzen, dass zur Einstellung der
zu manipulierenden Objektbereiche das dreidimensionale Objekt mit einer
hinreichenden Auflösung entlang der optischen Achse abgebildet werden
kann, was bei einem konventionellen Mikroskop jedoch jenseits einer
Genauigkeit von einem Mikrometer so gut wie nicht möglich ist.
Der Einsatz eines Lasers für ein Nannoskalpell schneidet in nachteiliger
Weise zylinderförmige Ausschnitte in das dreidimensionale Objekt, so dass
diese Art der Manipulation für viele Anwendungen ungeeignet ist.
Aus der DE 199 24 709 ist eine Vorrichtung bekannt, mit der Bauteile schnell,
mit hoher Auflösung und präzise positioniert werden können. Insbesondere
kann mit dieser Vorrichtung ein Objektivrevolver eines Mikroskops entlang der
optischen Achse positioniert werden können (Objektivrevolverscannanord
nung).
Aus der DE 196 53 413 bzw. der EP 0 753 779 sind Vorrichtungen bekannt,
die kollimiertes Laserlicht in 20 bis 50 Beleuchtungsfoki in die Zwischenbild
ebene bzw. Objektebene eines Mikroskops fokussieren können. Bei dem Licht
handelt es sich um Laserlicht, das zur Zweiphotonen-Anregung von
Fluoreszenzobjekten geeignet ist.
Aus den DE 196 54 210 C2 und DE 100 33 549.7 sind für sich gesehen Vor
richtungen zum Ablenken eines Lichtstrahls im Wesentlichen in zwei senk
recht zueinander stehenden Richtungen bekannt.
Aus der DE 44 14 940 und US 5,034,613 sind konfokale Rastermikroskope
bekannt, bei denen Fluoreszenzobjekte mit Zweiphotonen-Prozessen zur
Fluoreszenz angeregt werden.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, auch dreidi
mensionale Objekte zu untersuchen und zu manipulieren, deren Ausdehnung
entlang der optischen Achse größer als der Tiefenschärfenbereich des ver
wendeten Mikroskopobjektivs ist, wobei eine Objektmanipulation auch an allen
Stellen des dreidimensionalen Objekts möglich sein soll. Darüber hinaus soll
eine dreidimensionale Detektion des Objekts möglich sein, bei der eine
Diskriminierung der Objektlichtbeiträge erfolgt, die von Bereichen kommen,
die jenseits des Tiefenschärfenbereichs des Mikroskopobjektivs liegen.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung der gattungsbildenden Art löst die voran
stehende Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruchs 1. Danach ist
eine solche Vorrichtung dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskop ein
konfokales Rastermikroskop ist.
Erfindungsgemäß ist zunächst erkannt worden, dass mit einem konfokalen
Rastermikroskop die vom Objekt kommenden und außerhalb des Tiefen
schärfenbereichs des Mikroskopobjektivs stammenden Lichtbeiträge aufgrund
des konfokalen Prinzips wirksam unterdrückt bzw. ausgeblendet werden kön
nen. Weiterhin ist die Auflösung entlang der optischen Achse eines konfokalen
Rastermikroskops höher als die eines konventionellen Lichtmikroskops, so
dass einerseits eine dreidimensionale Abbildung des zu manipulierenden Ob
jekts möglich ist und andererseits - aufgrund der vorliegenden dreidimensio
nalen Information des Objekts - eine dreidimensionale Objektmanipulation
hierdurch ermöglicht wird. Die dreidimensionale Objektinformation mit hoher
Auflösung entlang der optischen Achse ist eine Grundvoraussetzung für eine
exakte dreidimensionale Ansteuerung des Manipulationslichtstrahls. Eine
Objektmanipulation kann die Anwendung mindestens einer optischen
Pinzette, die Durchführung einer Objektveränderung durch mindestens ein
Nanoskalpell, das Ausbleichen von Fluoreszenzfarbstoffen und/oder das
Freisetzen von Caged-Compund-Verbindungen umfassen.
In einer bevorzugten Ausführungsform sind mindestens zwei Strahlablenkvor
richtungen vorgesehen. Als Strahlablenkvorrichtung könnte beispielsweise ein
Spiegel vorgesehen sein, der um zwei Achsen drehbar gelagert ist und hierbei
vorzugsweise kardanisch aufgehängt ist. Weiterhin könnte eine Strahlablenk
vorrichtung ein Spiegelsystem, bestehend aus zwei jeweils um eine Achse
drehbar gelagerten Spiegeln bestehen. In einer bevorzugten Ausführungsform
wird eine Vorrichtung zum Ablenken eines Lichtstrahls im Wesentlichen in
zwei senkrecht zueinander stehenden Richtungen gemäß der DE 196 54 210 C2
bzw. DE 100 33 549.7 eingesetzt. Die Verwendung eines AOD's (Acousto-
Optical-Deflector) oder eines EOD's (Electro-Optical-Modulator) als Strahlab
lenkvorrichtung wäre ebenfalls denkbar.
In einer konkreten Ausführungsform ist eine Ablenkung des Beleuchtungs
lichtstrahls durch eine Strahlablenkvorrichtung vorgesehen. Der Manipula
tionslichtstrahl wird ebenfalls von einer Strahlablenkvorrichtung abgelenkt. Die
Ablenkung des Beleuchtungslichtstrahls erfolgt unabhängig von der Ab
lenkung des Manipulationslichtstrahls, da im Allgemeinen der Beleuchtungs
lichtstrahl zur zwei- bzw. dreidimensionalen Detektion des Objekts dient und
der Manipulationslichtstrahl zur Manipulation des Objekts bzw. einzelner Ob
jektbereiche und daher eine andere Ablenkung als bei der des Beleuchtungs
lichtstrahls erforderlich ist.
In einer vorteilhaften Ausführungsform verlaufen der Manipulationslichtstrah
lengang und der Detektions-/Beleuchtungsstrahlengang weitgehend getrennt
voneinander. Hierzu könnte beispielsweise der Detektions-
/Beleuchtungsstrahlengang durch ein Mikroskopobjektiv verlaufen und der
Manipulationslichtstrahlengang könnte durch eine Optik verlaufen, die bezüg
lich der Fokalebene des Mikroskopobjektivs dem Mikroskopobjektiv gegen
überstehend angeordnet ist. Diese Optik könnte in einfachster Form als Mi
kroskopkondensor ausgebildet sein, die Verwendung eines weiteren Mikro
skopobjektivs als Optik ist ebenfalls möglich. Falls zwei gegenüberstehend an
geordnete Mikroskopobjektive eingesetzt werden, werden bevorzugt Mikro
skopobjektive verwendet, die die gleichen oder zumindest vergleichbare tech
nische Eckdaten aufweisen, wie z. B. Vergrößerung, Immersionsmedium
und/oder numerische Appertur.
Falls sich der Manipulationslichtstrahlengang und der Detektions-
/Beleuchtungsstrahlengang zumindest teilweise überlappen, ist vorgesehen,
dass der Manipulationslichtstrahlengang und der Detektions-
/Beleuchtungsstrahlengang mit einem Strahlteiler zusammenführbar sind. Der
Strahlteiler könnte hierbei entweder als Farbstahlteiler oder als Polarisations
strahlteiler ausgeführt sein. Auch eine Strahlzusammenführung, bei der einer
der im gemeinsamen Strahlengang angeordneten Scanspiegel einer Strahl
ablenkvorrichtung zur Strahlzusammenführung dient, ist denkbar. In diesem
Fall ist der Scanspiegel für einen der beiden Strahlengänge transparent, für
den anderen Strahlengang wirkt er als Spiegel.
In einer besonders vorteilhaften Ausführungsform ist vorgesehen, dass die
Fokusposition des Manipulationslichts entlang der optischen Achse veränder
bar ist. Hierdurch ist eine dreidimensionale Objektmanipulation möglich, indem
die Fokusposition des Manipulationslichts an unterschiedlichen Positionen
entlang der optischen Achse eingestellt werden kann, so dass die Objekt
manipulation auch in Objektbereichen möglich ist, die jenseits des momentan
eingestellten Tiefenschärfenbereichs des Mikroskopobjektivs liegen. Im kon
kreten könnte die Veränderung der Fokusposition des Manipulationslichts
durch zwischen Lichtquelle und Objekt verschiebbar angeordnete Fokussier
mittel erfolgen. Eine Strahlaufteilung des Manipulationslichts wäre ebenfalls
denkbar, um nämlich mehrere Manipulationslichtfoki in unterschiedlichen
Ebenen entlang der optischen Achse zu positionieren. Hierbei könnte das
Manipulationslicht in soviel Teilstrahlen aufgeteilt werden, wie es unterschied
liche Ebenen entlang der optischen Achse gibt, in denen Manipulationslichtfoki
zu positionieren sind. Hierbei könnte jedem Teilstrahl des Manipulationslichts
ein diesem Teilstrahl zugeordnetes Fokussiermittel vorgesehen sein. Durch
das bzw. die lediglich im Manipulationslichtstrahlengang wirkenden Fokus
siermittel ist eine Positionierung einer Fokusposition des Manipulationslichts
auch außerhalb des aktuell eingestellten Tiefenschärfenbereichs des Mikro
skopobjektivs möglich.
Die Veränderung der Manipulationslichtfokusposition geht in einer bevorzug
ten Ausführungsform mit einer Veränderung der Beleuchtungslichtfokusposi
tion einher. Insbesondere ist vorgesehen, dass die Veränderung der beiden
Fokuspositionen simultan erfolgt. Hierbei könnte die Fokusveränderung durch
eine gemeinsame Objektivrevolverscananordnung erfolgen, wie sie beispiels
weise aus der DE 199 24 709 bekannt ist. In diesem Fall verläuft der Detek
tions-/Beleuchtungsstrahlengang und der Manipulationslichtstrahlengang ge
meinsam durch das von der Objektivrevolverscananordnung bewegte optische
Bauteil, das beispielsweise in Form eines Mikroskopobjektivs ausgeführt ist.
In einer bevorzugten Ausführungsform dient der Manipulationslichtstrahl als
optische Pinzette und/oder als Nannoskalpell. Zur Veränderung der Form des
Manipulationslichtfokusses ist eine Zoom-Optik im Manipulationslichtstrahlen
gang vorgesehen. Somit kann beispielsweise der Fokusradius des Manipula
tionslichtstrahls mit Hilfe der Zoom-Optik verkleinert oder vergrößert werden,
was eine Veränderung der Kraft auf das zu manipulierende Objekt zur Folge
hat, bzw. die Form des Nanoskalpells verändern kann.
Die Strahlablenkvorrichtung bzw. die Strahlablenkvorrichtungen sind in einer
konkreten Ausführungsform an der Mikroskopschnittstelle für die konventio
nelle Auflichtbeleuchtung und/oder an einer zusätzlichen Schnittstelle am Mi
kroskop ankoppelbar. Hierdurch können in vorteilhafter Weise bereits beste
hende Mikroskopschnittstellen genutzt werden, was eine einfache Aufrüstung
bereits installierter Mikroskopsysteme ermöglicht.
Zu Einkoppeln des Beleuchtungs- und/oder Manipulationslichts ist mindestens
ein spektral selektives Element vorgesehen. Mit dem spektral selektiven Ele
ment kann Licht mindestens einer bestimmten Wellenlänge selektiert und in
den jeweiligen Strahlengang eingekoppelt werden und/oder die Lichtleistung
des einzukoppelnden Lichts verändert werden. Das spektral selektive Element
könnte ein AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter), AOBS (Acousto-Optical-
Beam-Splitter), AOD (Acousto-Optical-Deflector) und/oder EOM (Electro-
Optical-Modulator) umfassen und von einem Steuerrechner, vorzugsweise in
Abhängigkeit der Beleuchtungs- und/oder Manipulationsstrahlposition,
angesteuert werden. Hierdurch ist eine selektive Einkopplung von Licht
mehrerer Wellenlängen in den Beleuchtungs- und/oder
Manipulationslichtstrahlengang möglich, wobei die eingekoppelte Lichtleistung
auch in Abhängigkeit der entsprechenden Strahlposition gesteuert werden
kann. Insbesondere kann hierdurch ein schnelles Ein- und Ausschalten des
Manipulationsstrahls realisiert werden, was bei der gleichzeitigen Manipulation
mehrerer Manipulationsstellen mit einem Manipulationslichtstrahl im Allgemei
nen erforderlich ist. Hierzu muss der Manipulationslichtstrahl zu den einzelnen
Manipulationsstellen abgelenkt werden und während des Ablenkvorgangs
muss der Manipulationslichtstrahl aus dem Manipulationslichtstrahlengang
ausgeblendet werden.
In verfahrensmäßiger Hinsicht wird die eingangs genannte Aufgabe durch die
Merkmale des Patentanspruchs 22 gelöst. Danach ist ein solches Verfahren
dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskop auch als konfokales Rastermi
kroskop arbeitet.
In einer besonders bevorzugten Weise erfolgt die Objektmanipulation simultan
zur konfokalen Objektdetektion. Hierdurch kann in vorteilhafter Weise die vor
genommene Objektmanipulation mit Hilfe der konfokalen Objektdetektion bei
einer verglichen zur konventionellen Mikroskopie erhöhten Auflösung entlang
der optischen Achse untersucht werden. Insbesondere ist vorgesehen, dass
ein Objekt während der Objektmanipulation dreidimensional detektiert wird.
Insoweit ist hierbei eine unabhängige Ablenkung bzw. Positionierung des De
tektions-/Beleuchtungsstrahlengangs und des Manipulationslichtstrahlengangs
erforderlich.
In besonders vorteilhafter Weise erfolgt die Objektmanipulation dreidimensio
nal. Insbesondere ist hierbei vorgesehen, dass auch in den zur Fokalebene
des Mikroskopobjektivs parallelen Ebenen eine Objektmanipulation an unter
schiedlichen Manipulationsstellen durchgeführt wird.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren ist es möglich, Bindungskräfte zwi
schen einzelnen Objekten oder Objektbereichen indirekt zu messen. Hierzu
können mit Hilfe der optischen Pinzette mindestens zwei mit dem Objekt oder
Objektbereich zusammenhängende Manipulationsstellen eingefangen und im
eingefangenen Zustand ausgelenkt werden. Während der Auslenkung der
Manipulationsstellen ist vorgesehen, dass das Objekt oder die Objektbereiche
und/oder die Auslenkung der Manipulationsstellen detektiert werden. Wenn
beispielsweise an den beiden Enden einer Muskelfaser jeweils ein Latex-Bead
spezifisch angebracht ist, so könnten die beiden Latex-Beads jeweils mit einer
optischen Pinzette eingefangen werden. Eine Auslenkung eines oder beider
Beads würde auch eine Veränderung der Muskelfaser bewirken. Die Detektion
der Muskelfaser während der Auslenkung der optischen Pinzette kann Auf
schluß auf die vorherrschenden Bindungskräfte sowie den Eigenschaften der
Muskelfaser geben.
In einer alternativen Vorgehensweise werden mit Hilfe der optischen Pinzette
mindestens zwei mit dem Objekt oder Objektbereich zusammenhängende
Manipulationsstellen eingefangen. Bei einer Objektmanipulation wird eine
Veränderung der Manipulationsstellen und/oder des Objekts detektiert. Die
Objektmanipulation könnte hierbei durch den Manipulationslichtstrahl induziert
werden. Der Manipulationslichtstrahl könnte beispielsweise das Ausbleichen
von Fluoreszenzfarbstoffen oder das Freisetzten von Caged-Compuond-Ver
bindungen induzieren.
Beispielsweise kann durch diese Vorgehensweise die Kontraktionskraft einer
Muskelfaser indirekt gemessen werden. Hierzu ist die Muskelfaser mit Caged-
Compound-Release-Calcium präpariert und zur Untersuchung bzw. Manipula
tion in das erfindungsgemäße Mikroskopsystem eingebracht. Zur Objektde
tektion wird die Muskelfaser kontinuierlich mit Beleuchtungslicht einer Wel
lenlänge von 488 nm abgetastet. Lediglich im Bereich der Muskelfaser wird
über den Manipulationsstrahlengang UV-Licht (z. B. 365 nm) eingestrahlt, wo
durch das Caged-Compuond-Release-Calcium freigesetzt wird, wodurch die
Muskelfaser kontrahiert. An den Muskelfaserenden wurde ebenfalls präparativ
Aktien oder Myosin angekoppelt. Das Aktien oder Myosin wurde zuvor mit
einer optischen Pinzette eingefangen. Durch die Kontraktion der Muskelfaser
wird eine Auslenkung des Aktiens bzw. Myosins von der Ausgangsposition
erzeugt, wobei die Auslenkung proportional zur Kontraktionskraft der Muskel
faser ist. Durch Messung der Auslenkung der Ausgangspositionen während
der Auslösung der Muskelkontraktion kann auf die Kontraktionskraft geschlos
sen werden.
Weiterhin ist vorgesehen, dass die Objektmanipulation zur Untersuchung der
Informationsweitergabe von Zelle zu Zelle eingesetzt werden kann. Der Infor
mationstransport von Zelle zu Zelle vollzieht sich zum einen durch elektrische
Informationsübertragung und zum anderen durch die Weitergabe von Neu
rotransmittern, wie z. B. Calcium. So kann beispielsweise eine Caged-Calcium-
Verbindung in eine Zelle eingebracht werden, die zu einem vorgegebenen
Zeitpunkt durch Einstrahlung von UV-Licht oder Infrarotlicht aufgebrochen
werden kann. Hierdurch löst das freiwerdende Calcium eine Reaktion in der
Zelle aus, die sodann unabhängig von der Manipulation verläuft. Der gesamte
Vorgang kann zur Untersuchung mit dem konfokalen Rastermikroskop un
unterbrochen detektiert werden, so dass die Informationsweiterleitung an die
mit einem Fluoreszenz-Calcium-Indikator präparierte Nachbarzelle nachweis
bar ist. Es ist bereits bekannt, dass die Reaktion der Nachbarzelle ausbleiben
kann, wenn innerhalb eines bestimmten Zeitfensters die Reizinformation einer
dritten Zelle eintrifft. Zur Untersuchung dieser Phänomenologie ist es hilfreich,
quasi gleichzeitig oder definiert zeitversetzt eine Informationsweiterleitungs
reaktion in zwei benachbarten Zellen auszulösen. Diese Untersuchungen
setzten eine schnelle Objektdetektion voraus, die beispielsweise durch eine
Strahlablenkvorrichtung gemäß der DE 196 54 210 oder DE 100 33 549 erzielt
werden kann.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren sind noch weitere Anwendungen der
Zellbiologie, Neurobiologie sowie Humangenomforschung denkbar.
Das während der Untersuchung und Manipulation detektierte Objekt samt
Manipulationsstellen wird vorzugsweise an einem Monitor dargestellt. Hierbei
ist eine zwei- und/oder dreidimensionale Darstellung vorgesehen. Die dreidi
mensionale Darstellung erfolgt vorzugsweise in einer perspektivischen An
sicht, wobei der perspektivische Ansichtspunkt frei gewählt wird. Die Wahl des
Ansichtspunktes könnte mit Zeigegeräten, beispielsweise mit Maus oder Joy
stick, erfolgen.
Zur Untersuchung des Objekts ist vorgesehen, dass von dem Objekt und ge
gebenenfalls zusätzlich von den Manipulationsstellen Fluoreszenz- und/oder
Reflexionslicht detektiert wird. Die Fluoreszenzanregung könnte hierbei auch
mit Methoden der Mehrphotonenanregung erfolgen, wie sie beispielsweise in
der DE 44 14 940 bzw. US 5,034,613 beschrieben werden.
In Abhängigkeit der jeweiligen Anwendung ist vorgesehen, dass die Wellen
länge des Beleuchtungslichtstrahls gewählt werden kann. Insbesondere ist es
hierdurch möglich, jederzeit während des Abtastens der Probe Licht minde
stens einer weiteren Wellenlänge hinzuzuschalten. Hierzu ist eine Objektbe
leuchtung durch mehrere Laser und/oder durch die Verwendung eines Mehrli
nienlasers vorgesehen.
In einer weiteren Variante könnte beispielsweise ein "Mini-Labor" im erfin
dungsgemäßen Mikroskopsystem realisiert werden. Dieses Mini-Labor könnte
verschiedene Bereiche in der Objektaufnahmevorrichtung aufweisen, in denen
ein Objekt verschiedenen Verarbeitungsschritten unterzogen wird. Diese un
terschiedlichen Bereiche könnten unterschiedliche Umgebungs- bzw. Einbet
tungsmedien aufweisen, so dass für den jeweiligen Bearbeitungsschritt geeig
nete Randbedingungen vorliegen. Ein Objekt könnte mit Hilfe der optischen
Pinzette von einem Bereich zu einem anderen Bereich transportiert werden,
wo beispielsweise bei fortlaufender Objektdetektion Teile einer Zelle oder der
vollständige Zellkern aus der Zelle herausgeschnitten wird und sodann mit
einer weiteren optischen Pinzette zu einem anderen Bereich transportiert wird,
wo eine Weiterverarbeitung des herausgeschnittenen Zellkerns erfolgt.
Zur ausführlichen und umfassenden Objektuntersuchung ist vorgesehen, dass
ein Objekt simultan mit mindestens zwei Lichtstrahlen abgetastet wird, die von
jeweils unterschiedlichen Strahlablenkvorrichtungen abgelenkt werden. Hier
bei ist vorgesehen, dass die Strahlablenkvorrichtungen synchron zueinander
arbeiten. Beispielsweise könnte ein Lichtstrahl zu Einphotonenanregung, ein
zweiter Lichtstrahl zur Mehrphotonenanregung des Fluoreszenzobjekts die
nen.
Im Hinblick auf eine schnelle Bildaufnahme des Objekts wird dieses mit meh
reren Beleuchtungsfoki oder mit einem linienförmigen Beleuchtungsmuster
abgetastet und entsprechend detektiert. Zur Objektabtastung mehrerer Be
leuchtungsfoki könnte beispielsweise eine aus den DE 196 53 413 oder EP 0
753 779 bekannten Anordnungen verwendet werden, die in Verbindung mit
Zweiphotonen-Fluoreszenzanregung arbeiten. Ein linienförmiges Be
leuchtungsmuster könnte beispielsweise durch Einbringen eines Be
leuchtungsspalts und unter Verwendung von Zylinderlinsen erzeugt werden.
In einer besonders bevorzugten Weise wird mindestens ein zwei- oder dreidi
mensionaler Teilbereich eines Objekts festgelegt, der mit erhöhter Photonen
statistik, mit verminderter Abtastgeschwindigkeit und/oder mit höherer Orts
auflösung detektiert wird. Bei diesem Teilbereich handelt es sich vorzugs
weise um den zu untersuchenden Teilbereich des Objekts, der für die jewei
lige Anwendung relevant ist. Der übrige Bereich könnte mit einer verminderten
Photonenstatistik, mit erhöhter oder maximaler Abtastgeschwindigkeit
und/oder mit verminderter Ortsauflösung detektiert werden. Somit kann die
gesamte Untersuchung des Objekts auf die wesentlichen Bereiche konzen
triert werden, wodurch eine maximale Informationsausbeute dieser Bereiche
des Objekts detektierbar sind. Alternativ hierzu könnte auch vorgesehen sein,
dass der übrige Bereich überhaupt nicht detektiert wird und dass der
Beleuchtungsstrahl derart abgelenkt wird, dass er von einem Teilbereich einen
anderen Teilbereich auf dem kürzesten Weg erreicht. Bei dieser Vor
gehensweise werden dann lediglich die festgelegten Teilbereiche ausgehend
detektiert.
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung
in vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzubilden. Dazu ist einerseits
auf die den Patentansprüchen 1 und 22 nachgeordneten Patentansprüche
und andererseits auf die nachfolgende Erläuterung der bevorzugten Ausfüh
rungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung zu verweisen. In Verbin
dung mit der Erläuterung der bevorzugten Ausführungsbeispiele der Erfindung
anhand der Zeichnung werden auch im Allgemeinen bevorzugte Ausgestal
tungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert. In der Zeichnung zeigen
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen Aus
führungsbeispiels einer Vorrichtung zur Untersuchung und Ma
nipulation von mikroskopischen Objekten,
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines weiteren erfindungsge
mäßen Ausführungsbeispiels einer Vorrichtung zur Untersu
chung und Manipulation von mikroskopischen Objekten,
Fig. 3 eine schematische Darstellung eines dritten Ausführungsbei
spiels einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Untersuchung
und Manipulation von mikroskopischen Objekten,
Fig. 4 eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen Ver
fahrensschritts zur Bestimmung von Kontraktionskräften einer
Muskelzelle,
Fig. 5 eine schematische Darstellung einer Schnittebene senkrecht zu
der in Fig. 4 dargestellten Ebene und
Fig. 6 eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen Ver
fahrensschritts zur Untersuchung der Informationsweiterleitung
zwischen drei Zellen.
Fig. 1 zeigt eine Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikro
skopischen Objekten 1 mit einem lediglich als Mikroskopobjektiv dargestellten
Mikroskop 2, mit zwei zur Beleuchtung des Objekts 1 dienenden Lichtquellen
3, 4, einem Beleuchtungsstrahlengang 5, einem zur Detektion des vom Objekt
1 zurückkehrenden Lichts dienenden Detektor 6, einem Detektionsstrahlen
gang 7, einer zur Objektmanipulation dienenden Lichtquelle 8 und einem Ma
nipulationslichtstrahlengang 9.
Das Licht der Lichtquellen 3, 4 wird mit einem Strahlteiler 10 koaxial zusam
mengeführt und in Richtung des dichroitischen Strahlteilers 11 reflektiert. Das
von dem dichroitischen Strahlteiler 11 reflektierte Beleuchtungslicht der Licht
quellen 3, 4 wird von der Strahlablenkvorrichtung 12 in zwei im wesentlichen
senkrecht zueinanderstehenden Richtungen abgelenkt. Hierzu ist ein Scan
spiegel 13 vorgesehen, der kardanisch aufgehängt ist und um zwei senkrecht
zueinander stehenden Achsen (nicht eingezeichnet) gedreht werden kann.
Das vom Scanspiegel 13 reflektierte Licht wird in das schematisch dargestellte
Mikroskop 2 eingekoppelt, wobei das Mikroskopobjektiv 2 das Beleuchtungs
licht im Objektbereich fokussiert.
Erfindungsgemäß handelt es sich bei dem Mikroskop um ein konfokales Ra
stermikroskop, dass nämlich ein Beleuchtungspinhole 14 und ein dazu optisch
konjugiertes konfokales Detektionspinhole 15 aufweist.
Bei den Ausführungsbeispielen der Fig. 1 bis 3 sind zwei Strahlablenkvorrich
tungen 12, 16 vorgesehen. Hierbei lenkt die Strahlablenkvorrichtung 12 den
Beleuchtungslichtstrahl 5 ab, die Strahlablenkvorrichtung 16 hingegen den
Manipulationslichtstrahl 9. Die Ablenkung des Beleuchtungslichstrahls 5 er
folgt unabhängig von der Ablenkung des Manipulationslichtstrahls 9. Die
Strahlablenkvorrichtung 12 wird über Verbindung 17 von dem Steuerrechner
18 angesteuert. Die Strahlablenkvorrichtung 16 wird über die Steuerverbin
dung 19 von dem Steuerrechner 18 angesteuert.
In Fig. 3 ist gezeigt, dass der Manipulationslichtstrahlengang 9 weitgehend
getrennt von dem Detektionsstrahlengang 7 und dem Beleuchtungsstrahlen
gang 5 verläuft. Hierbei verläuft der Beleuchtungsstrahlengang 5 bzw. der
Detektionsstrahlengang 7 durch das Mikroskopobjektiv 2 und der Manipula
tionslichtstrahlengang 9 verläuft durch ein zweites Mikroskopobjektiv 20, das
bezüglich der Fokalebene des Mikroskopobjektivs 2 dem Mikroskopobjektiv 2
gegenüberstehend angeordnet ist.
In den Fig. 1 und 2 wird der Manipulationsstrahlengang 9 und der Detektions-
/Beleuchtungsstrahlengang 7, 5 mit einem Strahlteiler 21 bzw. 13 zusammen
geführt. Hierbei ist der Strahlteiler 21 aus Fig. 2 als Farbstahlteiler ausgeführt,
der Licht der Manipulationslichtquelle 8 zum Mikroskopobjektiv 2 reflektiert
und der für das Beleuchtungs- und Detektionslicht 5, 7 transparent ist. Der
Scanspiegel 13 der Strahlablenkvorrichtung 12 aus Fig. 1 dient zur Strahlzu
sammenführung des Beleuchtungs-/Detektionslichts 5, 7 und dem
Manipulationslichtstrahlengang 9. Hierbei ist der Scanspiegel 13 für das Licht
der Manipulationslichtquelle 8 transparent, das Beleuchtungs-/Detektionslicht
5, 7 wird an dem Scanspiegel 13 in das Mikroskopobjektiv 2 reflektiert.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren zur Untersuchung und Manipulation
von mikroskopischen Objekten 1 erfolgt die Objektmanipulation simultan zur
konfokalen Objektdetektion. Während der Objektmanipulation erfolgt eine
dreidimensionale Objektdetektion. Fig. 4 zeigt einen Ausschnitt eines detek
tierten dreidimensionalen Objektdatensatzes in Form einer xy-Schnittebene
22. Fig. 5 zeigt einen Ausschnitt aus dem gleichen detektierten Datensatz in
Form einer yz-Schnittebene 23. Die Objektmanipulation erfolgt hierbei dreidi
mensional, zum einen in der strichpunktiert angedeuteten xz-Manipulations
ebene 24 sowie in der ebenfalls strichpunktiert angedeuteten xz-
Manipulationsebene 25. Die beiden Ebenen 24, 25 sind zur Fokalebene des
Mikroskopobjektivs 2 parallel.
Die Fig. 4 und 5 zeigen die Durchführung eines erfindungsgemäßen Verfah
rens zur Bestimmung von Kontraktionskräften von einer Muskelzelle 26. Hier
bei werden mit Hilfe zweier optischer Pinzetten 27, 28 zwei mit der Muskel
zelle 26 zusammenhängende Manipulationsstellen 29, 30 eingefangen. Die
Manipulationsstellen 29, 30 sind jeweils mit der Muskelzelle 26 über eine Ak
tin-Verbindung 31 verbunden. Nach einer Objektmanipulation durch einen
nicht eingezeichneten weiteren Manipulationslichtstrahl wird das in der
Muskelzelle 26 präparierte Caged-Compuond-Release-Calcium freigesetzt,
wodurch sich die Muskelzelle 26 zusammenzieht, was mit den beiden Pfeilen
in den Bildausschnitten 22, 23 angedeutet ist. Die Muskelzelle 26 wird vor,
während und nach der Objektmanipulation ständig detektiert, so dass die Ort
sänderung der Manipulationsstellen 29, 30, die sich aufgrund der Kontraktion
der Muskelzelle 26 ergeben haben, detektiert werden kann und somit eine
quantitative Auswertung des Kontraktionskräfte möglich ist.
Das detektierte Objekt 1, 26 wird samt Manipulationsstelle 29, 30 auf dem
Monitor 31 des Bedienerrechners 32 des konfokalen Rastermikroskops dar
gestellt. Die Darstellung erfolgt hierbei zweidimensional, beispielsweise in
Form der xy- und yz-Schnittebenen 22, 23 der Fig. 4 und 5. In Fig. 4 ist
schematisch das Abtastmuster 36 des Beleuchtungsfokusses dargestellt,
wobei zur einfacheren Darstellung das Abtastmuster in y-Richtung einen
großen Abtastabstand aufweist.
In Fig. 6 ist eine xy-Schnittebene 22 einer Bildaufnahme von drei Zellen 33,
34, 35 gezeigt. Bei diesen Zellen wird die Informationsweiterleitung von Zelle
zu Zelle untersucht. Hierbei werden die Zellen 34 und 35 jeweils mit UV-Licht
zur Objektmanipulation beaufschlagt, wodurch in die Zellen präparierte Ca
ged-Calcium-Verbindungen aufgebrochen werden und das freiwerdende Cal
cium eine Reaktion in der Zelle 34 bzw. 35 auslöst. Eine Reaktion der Zelle 35
zur Zelle 33 kann ausbleiben; wenn innerhalb eines bestimmten Zeitfensters
die Reizinformation der Zelle 34 bei der Zelle 33 eintrifft. Hierzu werden die
beiden Zellen 34, 35 definiert zeitversetzt mit UV-Licht beaufschlagt. Dieses
Zeitintervall wird bei erneuten Versuchsdurchführungen stetig verringert, bis
die beiden Zellen 34, 35 quasi gleichzeitig mit UV-Licht beaufschlagt werden.
Ein ebenfalls in die Zellen präparierter Fluoreszenz-Calcium-Indikator ermög
licht die Detektion der Informationsweiterleitung.
Abschließend sei ganz besonders darauf hingewiesen, dass die voranstehend
erörterten Ausführungsbeispiele lediglich zur Beschreibung der beanspruchten
Lehre dienen, diese jedoch nicht auf die Ausführungsbeispiele einschränken.
1
Objekt
2
Mikroskop, Mikroskopobjektiv
3
Beleuchtungslichtquelle
4
Beleuchtungslichtquelle
5
Beleuchtungslicht, Beleuchtungsstrahlengang von (
3
), (
4
)
6
Detektor
7
Detektionsstrahlengang, Detektionslicht
8
Manipulationslichtquelle
9
Manipulationslichtstrahlengang, Manipulationslichtstrahl
10
Strahlteiler
11
dichroitischer Strahlteiler
12
Strahlablenkvorrichtung für (
5
), (
7
)
13
Scanspiegel von (
12
)
14
Anregungspinhole
15
Detektionspinhole
16
Strahlablenkvorrichtung für (
9
)
17
Steuerverbindung zwischen (
12
) und (
18
)
18
Steuerrechner
19
Steuerverbindung zwischen (
16
) und (
18
)
20
Optik, Mikroskopobjektiv
21
Strahlteiler zum Zusammenführen von (
9
) mit (
5
), (
7
)
22
xy-Schnittebene
23
yz-Schnittebene
24
xz-Manipulationsebene
25
xz-Manipulationsebene
26
Muskelzelle
27
erste optische Pinzette
28
zweite optische Pinzette
29
eingefangene Manipulationsstelle von (
27
)
30
eingefangene Manipulationsstelle von (
28
)
31
Monitor von (
32
)
32
Bedienerrechner
33
Zelle
34
Zelle
35
Zelle
36
Abtastmuster
Claims (44)
1. Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen
Objekten (1), mit einem Mikroskop (2), einer zur Beleuchtung des Objekts
(1) dienenden Lichtquelle (3, 4), einem Beleuchtungsstrahlengang (5), ei
nem zur Detektion des vom Objekt (1) zurückkehrenden Lichts dienenden
Detektor (6), einem Detektionsstrahlengang (7), einer zur Objektmanipula
tion dienenden Lichtquelle (8) und einem Manipulationslichtstrahlengang
(9),
dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskop ein
konfokales Rastermikroskop ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens
zwei Strahlablenkvorrichtungen (12, 16) vorgesehen sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass eine
Strahlablenkvorrichtung (12) den Beleuchtungslichtstrahl (5) ablenkt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass eine
Strahlablenkvorrichtung (16) den Manipulationslichtstrahl (9) ablenkt.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Ablen
kung des Beleuchtungslichtstrahls (5) unabhängig von der Ablenkung des
Manipulationslichtstrahls (9) erfolgt.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet,
dass der Manipulationslichtstrahlengang (9) und Detektions-/Beleuch
tungsstrahlengang (7, 5) weitgehend getrennt voneinander verlaufen.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Detek
tions-/Beleuchtungsstrahlengang (7, 5) durch ein Mikroskopobjektiv (2)
verläuft und der Manipulationslichtstrahlengang (9) durch eine Optik (20)
verläuft, die bezüglich der Fokalebene des Mikroskopobjektivs (2) dem Mi
kroskopobjektiv (2) gegenüberstehend angeordnet ist.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet,
dass der Manipulationslichtstrahlengang (9) und der Detektions-
/Beleuchtungsstrahlengang (7, 5) mit einem Strahlteiler (21, 13) zusam
menführbar ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahl
teiler (21) als Farbstahlteiler oder als Polarisationsstrahlteiler ausgeführt
ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass zur Strahlzu
sammenführung ein Scanspiegel (13) einer Strahlablenkvorrichtung (12)
dient.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet,
dass die Fokusposition des Manipulationslichts (9) entlang der optischen
Achse veränderbar ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Verän
derung der Fokusposition durch zwischen Lichtquelle (8) und Objekt (1)
verschiebbar angeordnete Fokussiermittel erfolgt.
13. Vorrichtung nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass die
Veränderung der Manipulationslichtfokusposition mit einer Veränderung
der Beleuchtungslichtfokusposition einhergeht.
14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Verän
derung der beiden Fokuspositionen simultan erfolgt.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass die Fokus
veränderung durch eine gemeinsame Objektivrevolverscananordnung er
folgt.
16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet,
dass der Manipulationslichtstrahl als optische Pinzette (27, 28) und/oder
als Nannoskalpell dient.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass zur Verän
derung der Form des Manipulationslichtfokusses eine Zoom-Optik im Ma
nipulationslichtstrahlengang (9) vorgesehen ist.
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekennzeichnet,
dass die Strahlablenkvorrichtung bzw. die Strahlablenkvorrichtungen (12,
16) an der Mikroskopschnittstelle für die konventionelle Auflichtbeleuch
tung und/oder an einer zusätzlichen Schnittstelle am Mikroskop ankoppel
bar sind.
19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet,
dass zum Einkoppeln des Beleuchtungs- und/oder Manipulationslichts
mindestens ein spektral selektives Element dient.
20. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass mit dem
spektral selektiven Element Licht mindestens einer bestimmten Wellen
länge selektierbar und einkoppelbar ist und/oder die Lichtleistung des ein
zukoppelnden Lichts variierbar ist.
21. Vorrichtung nach Anspruch 19 oder 20, dadurch gekennzeichnet, dass das
spektral selektive Element ein AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter),
AOBS (Acousto-Optical-Beam-Splitter), AOD (Acousto-Optical-Deflector)
und/oder EOM (Electro-Optical-Modulator) umfasst und von einem
Steuerrechner vorzugsweise in Abhängigkeit der Beleuchtungs- und/oder
Manipulationsstrahlposition ansteuerbar ist.
22. Verfahren zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Ob
jekten (1), mit einem Mikroskop (2), einer zur Beleuchtung des Objekts (1)
dienenden Lichtquelle (3, 4), einem Beleuchtungsstrahlengang (5), einem
zur Detektion des vom Objekt (1) zurückkehrenden Lichts dienenden De
tektor (6), einem Detektionsstrahlengang (7), einer zur Objektmanipulation
dienenden Lichtquelle (8) und einem Manipulationslichtstrahlengang (9),
vorzugsweise unter Verwendung einer Vorrichtung nach einem der An
sprüche 1 bis 21,
dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskop auch
als konfokales Rastermikroskop arbeitet.
23. Verfahren nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, dass die Objekt
manipulation simultan zur konfokalen Objektdetektion erfolgt.
24. Verfahren nach Anspruch 22 oder 23, dadurch gekennzeichnet, dass ein
Objekt während der Manipulation dreidimensional detektiert wird.
25. Verfahren nach einem der Ansprüche 22 bis 24, dadurch gekennzeichnet,
dass die Objektmanipulation dreidimensional erfolgt, insbesondere auch in
den zu der Fokalebene des Mikroskopobjektivs (2) parallelen Ebenen (24,
25).
26. Verfahren nach einem der Ansprüche 22 bis 25, dadurch gekennzeichnet,
dass eine Bestimmung der Bindungskräfte zwischen einzelnen Objekten
oder Objektbereichen erfolgt.
27. Verfahren nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, dass mit Hilfe der
optischen Pinzette (27, 28) mindestens zwei mit dem Objekt (26) oder
Objektbereich zusammenhängende Manipulationsstellen (29, 30) einge
fangen und im eingefangenen Zustand ausgelenkt werden.
28. Verfahren nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, dass das Objekt
(26) oder die Objektbereiche und/oder die Auslenkung der Manipulations
stellen (29, 30) detektiert wird, vorzugsweise durch konfokale Objektde
tektion.
29. Verfahren nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, dass mit Hilfe der
optischen Pinzette (27, 28) mindestens zwei mit dem Objekt (26) oder
Objektbereich zusammenhängende Manipulationsstellen (29, 30) einge
fangen und dass bei einer Objektmanipulation eine Veränderung der Ma
nipulationsstellen (29, 30) und/oder des Objekts (26) detektiert werden.
30. Verfahren nach Anspruch 29, dadurch gekennzeichnet, dass die Objekt
manipulation durch den Manipulationslichtstrahl induziert wird.
31. Verfahren nach einem der Ansprüche 22 bis 30, dadurch gekennzeichnet,
dass der Manipulationslichtstrahl das Ausbleichen von Fluoreszenzfarb
stoffen und/oder das Freisetzen von Caged-Compound-Verbindungen in
duziert.
32. Verfahren nach Anspruch 30 oder 31, dadurch gekennzeichnet, dass die
Objektmanipulation zur Untersuchung der Informationsweitergabe von
Zelle zu Zelle (33, 34, 35) dient.
33. Verfahren nach einem der Ansprüche 27 bis 32, dadurch gekennzeichnet,
dass das detektierte Objekt (26) samt Manipulationsstellen (29, 30) vor
zugsweise an einem Monitor (31) dargestellt wird.
34. Verfahren nach Anspruch 33, dadurch gekennzeichnet, dass die Darstel
lung zwei- und/oder dreidimensional erfolgt.
35. Verfahren nach Anspruch 34, dadurch gekennzeichnet, dass der perspek
tivische Ansichtspunkt der dreidimensionalen Darstellung frei gewählt wird.
36. Verfahren nach einem der Ansprüche 22 bis 35, dadurch gekennzeichnet,
dass von dem Objekt Fluoreszenz- und/oder Reflexionslicht detektiert
wird.
37. Verfahren nach Anspruch 36, dadurch gekennzeichnet, dass ein Objekt
mit Methoden der Mehrphotonenanregung zur Fluoreszenz angeregt wird.
38. Verfahren nach einem der Ansprüche 22 bis 37, dadurch gekennzeichnet,
dass ein Objekt simultan mit mindestens zwei Lichtstrahlen abgetastet
wird, die von jeweils unterschiedlichen Strahlablenkvorrichtungen abge
lenkt werden.
39. Verfahren nach Anspruch 38, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahl
ablenkvorrichtungen synchron zueinander arbeiten.
40. Verfahren nach Anspruch 38 oder 39, dadurch gekennzeichnet, dass ein
Lichtstrahl zur Einphotonenanregung und ein zweiter Lichtstrahl zur Mehr
photonenanregung des Fluoreszenzobjekts dient.
41. Verfahren nach einem der Ansprüche 22 bis 40, dadurch gekennzeichnet,
dass zur schnellen Bildaufnahme das Objekt mit mehreren Beleuchtungs
foki oder mit einem linienförmigen Beleuchtungsmuster abgetastet wird.
42. Verfahren nach einem der Ansprüche 22 bis 41, dadurch gekennzeichnet,
dass mindestens ein zwei- oder dreidimensionaler Teilbereich des Objekts
festgelegt wird, der mit erhöhter Photonenstatistik, mit verminderter Ab
tastgeschwindigkeit und/oder mit höherer Ortsauflösung detektiert wird.
43. Verfahren nach Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, dass der übrige
Bereich mit verminderter Photonenstatistik, mit erhöhter oder maximaler
Abtastgeschwindigkeit und/oder mit verminderter Ortsauflösung detektiert
wird.
44. Verfahren nach Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, dass der übrige
Bereich überhaupt nicht detektiert wird und dass der Beleuchtungsstrahl
derart abgelenkt wird, dass er ausgehend von einem Teilbereich einen
anderen Teilbereich auf dem kürzesten Weg erreicht.
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