JP2002044961A - インバータ制御モジュール - Google Patents

インバータ制御モジュール

Info

Publication number
JP2002044961A
JP2002044961A JP2000219223A JP2000219223A JP2002044961A JP 2002044961 A JP2002044961 A JP 2002044961A JP 2000219223 A JP2000219223 A JP 2000219223A JP 2000219223 A JP2000219223 A JP 2000219223A JP 2002044961 A JP2002044961 A JP 2002044961A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic substrate
switching element
main surface
power
control module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000219223A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4475757B2 (ja
Inventor
Kouichiro Sugai
広一朗 菅井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2000219223A priority Critical patent/JP4475757B2/ja
Publication of JP2002044961A publication Critical patent/JP2002044961A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4475757B2 publication Critical patent/JP4475757B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance

Landscapes

  • Inverter Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】パワーラインのインダクタンスに起因してスイ
ッチング素子にサージ電圧が印加され、スイッチング素
子に破壊が発生してしまう。 【解決手段】セラミック基板2の両主面に対向配置さ
れ、流れる電流の方向が逆である2本のパワーライン3
a、3bと、前記セラミック基板2の一方主面に配置さ
れた3本の出力ライン4a、4b、4cと、前記セラミ
ック基板2の一方主面に形成されているパワーライン3
a及び各出力ライン4a、4b、4cに搭載されている
複数個のスイッチング素子5と、前記パワーライン3a
上のスイッチング素子5を各出力ライン4a、4b、4
cに接続する第1の接続手段6及び各出力ライン4a、
4b、4c上に搭載されているスイッチング素子5をセ
ラミック基板2の他方主面に形成されているパワーライ
ン3bに接続する第2の接続手段7とから成る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、3相モータ等を制
御するためのインバータ制御モジュールに関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来、3相モータ等を制御するためのイ
ンバータ制御モジュールは、一般に図5、図6に示すよ
うにセラミック基板32の一主面に直流源が供給される
2本のパワーライン33a、33b及び3相交流源を出
力する3本の出力ライン34a、34b、34cを被着
形成したセラミック回路基板31と、前記一方のパワー
ライン33aと各出力ライン34a、34b、34c上
に搭載されている複数のスイッチング素子35と、前記
一方のパワーライン33a上に搭載された各スイッチン
グ素子35と各出力ライン34a、34b、34cとを
電気的接続する金属細線よりなる第1の接続手段36
と、各出力ライン34a、34b、34c上に搭載され
た各スイッチング素子35と他方のパワーライン33b
とを電気的接続する金属細線よりなる第2の接続手段3
7とにより構成されている。
【0003】かかるインバータ制御モジュールは、前記
2本のパワーライン33a、33bを外部電源に、出力
ライン34a、34b、34cを3相モータ等に接続
し、外部電源より2本のパワーライン33a、33b間
に20A以上の直流電源を供給するとともに各スイッチ
ング素子35のオン・オフを少しずつずらせながら繰り
返し行なわせることによって出力ライン34a、34
b、34cを介し3相モータ等に3相交流電源が供給さ
れることとなる。
【0004】なお、前記スイッチング素子35としては
IGBT(Insulated Gate Bipol
or Transistor)等が一般に用いられてい
る。
【0005】また前記インバータ制御モジュールに使用
されるセラミック回路基板31は、一般に酸化アルミニ
ウム質焼結体から成るセラミック基板32の表面にメタ
ライズ金属層を所定パターンに被着させるとともに該メ
タライズ金属層にパワーライン33a、33bや出力ラ
イン34a、34b、34cとなる銅等の金属回路板を
銀ロウ等のロウ材を介しロウ付けすることによって形成
されており、具体的には、酸化アルミニウム、酸化珪
素、酸化マグネシウム、酸化カルシウム等の原料粉末に
適当な有機バインダー、可塑剤、溶剤等を添加混合して
泥漿状と成すとともにこれを従来周知のドクターブレー
ド法やカレンダーロール法等のテープ成形技術を採用し
て複数のセラミックグリーンシートを得、次に前記セラ
ミックグリーンシート上にタングステンやモリブデン等
の高融点金属粉末に適当な有機バインダー、溶剤を添加
混合して得た金属ペーストをスクリーン印刷法等の印刷
技術を採用することによって所定パターンに印刷塗布
し、次に前記金属ペーストが所定パターンに印刷塗布さ
れたセラミックグリーンシートを必要に応じて上下に積
層するとともに還元雰囲気中、約1600℃の温度で焼
成し、セラミックグリーンシートと金属ペーストを焼結
一体化させて表面にメタライズ金属層を有する酸化アル
ミニウム質焼結体から成るセラミック基板32を形成
し、最後に前記セラミック基板32に被着されているメ
タライズ金属層上にパワーライン33a、33bや出力
ライン34a、34b、34cとなる銅等の金属回路板
を間に銀ロウ等のロウ材を挟んで載置させるとともにこ
れを還元雰囲気中、約900℃の温度に加熱してロウ材
を溶融させ、該溶融したロウ材でメタライズ金属層と金
属回路板とを接合することによって製作されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来のインバータ制御モジュールにおいては、2本のパワ
ーライン33a、33bがインダクタンスを有してお
り、2本のパワーライン33a、33b間に20A以上
の直流電源を供給するとともに各スイッチング素子35
のオン・オフを少しずつずらせて出力ライン34a、3
4b、34cを介して3相モータ等に3相交流電源を供
給する際、前記パワーライン33a、33bのインダク
タンスによってスイッチング素子35のオン・オフ時に
定格電圧より高いサージ電圧が発生してしまい、その結
果、前記サージ電圧によってスイッチング素子35に過
電圧がかかり、スイッチング素子35を破壊してインバ
ータ制御モジュールを安定して信頼性よく作動させるこ
とができないという欠点を有していた。
【0007】そこで上記欠点を解消するために2本のパ
ワーライン33a、33bを近接配置させるとともに各
々のパワーライン33a、33bに流れる電流の方向を
逆とし、2本のパワーライン33a、33b間に相互イ
ンダクタンスを発生させるとともに該相互インダクタン
スによって2本のパワーライン33a、33bが有する
インダクタンスを低減することが考えられる。
【0008】しかしながら、2本のパワーライン33
a、33bを近接配置させた場合、パワーライン33
a、33bには20A以上という非常に大きな電流が流
れ600V以上の電圧がかかることから、パワーライン
33a、33b間に放電が発生し、セラミック回路基板
31にショートが発生してインバータ制御モジュールの
作動信頼性を損なうという欠点が誘発されてしまう。
【0009】本発明は上記欠点に鑑み案出されたもの
で、その目的はサージ電圧印加によるスイッチング素子
の破壊及び2本のパワーライン間での放電を有効に防止
し、直流電源を3相交流電源に確実、かつ長期間にわた
って変換することができるインバータ制御モジュールを
提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のインバータ制御
モジュールは、セラミック基板と、該セラミック基板の
両主面に対向配置され、流れる電流の方向が逆である2
本のパワーラインと、前記セラミック基板の一方主面に
配置された3本の出力ラインと、前記セラミック基板の
一方主面に形成されているパワーライン及び各出力ライ
ンに搭載されている複数個のスイッチング素子と、前記
パワーライン上のスイッチング素子を各出力ラインに接
続する第1の接続手段及び各出力ライン上に搭載されて
いるスイッチング素子をセラミック基板の他方主面に形
成されているパワーラインに接続する第2の接続手段と
から成ることを特徴とするものである。
【0011】また本発明のインバータ制御モジュール
は、前記セラミック基板の一方主面に配置された各出力
ラインに搭載されているスイッチング素子とセラミック
基板の他方主面に形成されているパワーラインとを接続
する第2の接続手段がセラミック基板に設けた貫通孔内
を通過していることを特徴とするものである。
【0012】更に本発明のインバータ制御モジュール
は、前記セラミック基板の一方主面に配置された各出力
ラインに搭載されているスイッチング素子とセラミック
基板の他方主面に形成されているパワーラインとを接続
する第2の接続手段が前記セラミック基板の一方主面か
ら他方主面にかけて導出する貫通導体部を具備している
ことを特徴とするものである。
【0013】本発明のインバータ制御モジュールによれ
ば、2本のパワーラインを間にセラミック基板を挟んで
対向配置させるとともに各々のパワーラインに流れる電
流の方向を逆としたことから2本のパワーライン間に相
互インダクタンスを効率良く発生させるとともに該相互
インダクタンスによって2本のパワーラインが有するイ
ンダクタンスを大きく低減させることができ、これによ
って2本のパワーライン間に20A以上の直流電源を供
給するとともに各スイッチング素子のオン・オフを少し
ずつずらせて出力ラインより3相モータ等に3相交流電
源を供給する際、スイッチング素子のオン・オフ時に前
記2本のパワーラインが有するインダクタンスに起因し
て定格電圧より高いサージ電圧が発生することはなく、
その結果、スイッチング素子に過電圧がかかり、スイッ
チング素子が破壊するのを有効に防止してインバータ制
御モジュールを安定、かつ信頼性よく作動させることが
可能となる。
【0014】また同時に2本のパワーラインはその間に
絶縁性に優れたセラミック基板が介在していることから
パワーラインに20A以上という非常に大きな電流を流
し600V以上の電圧がかかったとしてもパワーライン
間に放電が発生し、セラミック回路基板にショートを発
生させることはなく、これによってインバータ制御モジ
ュールの作動を高信頼性となすことが可能となる。
【0015】更に本発明のインバータ制御モジュールに
よれば、セラミック基板に貫通孔を設け、該貫通孔内に
セラミック基板の一方主面に配置された各出力ラインに
搭載されているスイッチング素子とセラミック基板の他
方主面に形成されているパワーラインとを接続する第2
の接続手段を通過させるようにしておくとスイッチング
素子とパワーラインとを接続する第2の接続手段がセラ
ミック基板の外周より大きくはみ出してインバータ制御
モジュールを大型化させることはなく、その結果、イン
バータ制御モジュールを小型のものとなすことが可能と
なる。
【0016】また更に本発明のインバータ制御モジュー
ルによれば、セラミック基板の一方主面から他方主面に
かけて導出する貫通導体部を形成し、該貫通導体部の一
方端に各出力ラインに搭載されているスイッチング素子
を、他方端にパワーラインを接続すれば、各出力ライン
に搭載されているスイッチング素子とセラミック基板の
他方主面に形成されているパワーラインとを接続する第
2の接続手段がセラミック基板の外周より大きくはみ出
してインバータ制御モジュールを大型化させることはな
く、その結果、インバータ制御モジュールを小型のもの
となすことが可能となる。同時に貫通導体部の一方端と
各出力ラインに搭載されているスイッチング素子とをワ
イヤを介して接続する際、ワイヤの長さを短いものとし
てワイヤの倒れに起因する接触短絡事故や短絡に伴なう
スイッチング素子の破壊等を有効に防止することができ
る。
【0017】
【発明の実施の形態】次に、本発明を添付図面に示す実
施例に基づき詳細に説明する。図1および図2は、本発
明のインバータ制御モジュールの一実施例を示し、セラ
ミック基板2の両主面に2本のパワーライン3a、3b
を対向配置させるとともに一方主面に3本の出力ライン
4a、4b、4cを配置したセラミック回路基板1とス
イッチング素子5とから構成されており、セラミック基
板2の一方主面に形成されているパワーライン3a及び
各出力ライン4a、4b、4c上にスイッチング素子5
を搭載し、パワーライン3a上のスイッチング素子5を
各出力ライン4a、4b、4cに第1の接続手段6を介
して接続するとともに各出力ライン4a、4b、4c上
に搭載されているスイッチング素子5をセラミック基板
2の他方主面に形成されているパワーライン3bに第2
の接続手段7を介して接続することによって形成されて
いる。
【0018】前記セラミック回路基板1のセラミック基
板2はパワーライン3a、3b及び出力ライン4a、4
b、4c及びパワーライン3a、出力ライン4a、4
b、4c上に搭載されるスイッチング素子5を支持する
支持部材として作用し、窒化珪素質焼結体、窒化アルミ
ニウム質焼結体、炭化珪素質焼結体、アルミニウム質焼
結体等のセラミック絶縁体で形成されている。
【0019】前記セラミック基板2は、例えば、窒化珪
素質焼結体から成る場合、窒化珪素、酸化アルミニウ
ム、酸化マグネシウム、酸化イットリウム等の原料粉末
に適当な有機バインダー、可塑剤、溶剤を添加混合して
泥漿状となすとともに該泥漿物を従来周知のドクターブ
レード法やカレンダーロール法を採用することによって
セラミックグリーンシート(セラミック生シート)を形
成し、次に前記セラミックグリーンシートに適当な打ち
抜き加工を施し、所定形状となすとともに必要に応じて
複数枚を積層して成形体となし、しかる後、これを窒素
雰囲気等の非酸化性雰囲気中、1600乃至2000℃
の高温で焼成することによって製作される。
【0020】また前記セラミック基板2は、その一方主
面に1本のパワーライン3aと3本の出力ライン4a、
4b、4cが、他方主面に1本のパワーライン3bが活
性金属ロウ材等の接着材を介してロウ付け取着されてい
る。
【0021】前記パワーライン3aは外部電源から供給
される直流電源をスイッチング素子5に供給する作用を
なし、また出力ライン4a、4b、4cはスイッチング
素子5のオン・オフにより変換された3相交流電源を外
部の3相モータ等に供給する作用をなす。
【0022】前記2本のパワーライン3a、3b及び3
本の出力ライン4a、4b、4cは銅やアルミニウム等
の金属材料から成り、銅やアルミニウム等のインゴット
(塊)に圧延加工法や打ち抜き加工法等、従来周知の金
属加工法を施すことによって、例えば、厚さが500μ
mで、所定パターン形状に製作される。
【0023】更に前記2本のパワーライン3a、3b及
び3本の出力ライン4a、4b、4cのセラミック基板
2への接着は、例えば、銀ロウ材(銀:72重量%、
銅:28重量%)やアルミニウムロウ材(アルミニウ
ム:88重量%、シリコン:12重量%)等にチタンや
タングステン、ハフニウム及び/またはその水素化物の
少なくとも1種を2乃至5重量%添加した活性ロウ材を
使用することによって行なわれ,具体的にはセラミック
基板2の表面に間に活性金属ロウ材を挟んでパワーライ
ン3a、3b及び出力ライン4a、4b、4cを載置さ
せ、次にこれを真空中もしくは中性、還元雰囲気中、所
定温度(銀ロウ材の場合は約900℃、アルミニウムロ
ウ材の場合は約600℃)で加熱処理し、活性金属ロウ
材を溶融せしめるとともにセラミック基板2の表面とパ
ワーライン3a、3b及び出力ライン4a、4b、4c
の下面とを接合させることによって行われる。
【0024】なお、前記セラミック回路基板1はセラミ
ック基板2を窒化珪素質焼結体や窒化アルミニウム質焼
結体、炭化珪素質焼結体等の熱伝達率が60W/m・K
以上のセラミック絶縁体で形成しておくとスイッチング
素子5が作動時に多量の熱を発生した際、その熱をセラ
ミック基板2が効率良く吸収するとともに大気中に良好
に放出してスイッチング素子5を常に適温となし、スイ
ッチング素子5を常に安定、かつ正常に作動させること
が可能となる。従って、前記セラミック基板2は窒化珪
素質焼結体や窒化アルミニウム質焼結体、炭化珪素質焼
結体等の熱伝達率が60W/m・K以上のセラミック絶
縁体で形成しておくことが好ましい。
【0025】また前記パワーライン3a、3b及び出力
ライン4a、4b、4cはこれを無酸素銅で形成してお
くと、該無酸素銅はロウ付けの際に銅の表面が銅中に存
在する酸素により酸化されることなく活性金属ロウ材と
の濡れ性が良好となり、セラミック基板2への活性金属
ロウ材を介しての接合が強固となる。従って、前記パワ
ーライン3a、3b及び出力ライン4a、4b、4cは
これを無酸素銅で形成しておくことが好ましい。
【0026】更に前記パワーライン3a、3b及び出力
ライン4a、4b、4cはその表面にニッケルから成る
良導電性で、かつ耐蝕性及びロウ材に対する濡れ性が良
好な金属をメッキ法により被着させておくと、パワーラ
イン3a、3b及び出力ライン4a、4b、4cの酸化
腐蝕を有効に防止しつつパワーライン3a、3b及び出
力ライン4a、4b、4cにスイッチング素子5や外部
電源、外部の3相モータ等を半田等のロウ材を介して極
めて強固に接続させることができる。従って、前記前記
パワーライン3a、3b及び出力ライン4a、4b、4
cはその表面にニッケルから成る良導電性で、かつ耐蝕
性及びロウ材に対する濡れ性が良好な金属をメッキ法に
より被着させておくことが好ましい。
【0027】前記セラミック回路基板1はまたセラミッ
ク基板2の一方主面に配置されたパワーライン3a及び
各出力ライン4a、4b、4c上に複数のスイッチング
素子5が搭載されており、かつパワーライン3a上に搭
載されたスイッチング素子5はワイヤ等からなる第1の
接続手段6を介して各出力ライン4a、4b、4cに、
また出力ライン4a、4b、4c上に搭載されたスイッ
チング素子5はワイヤ等からなる第2の接続手段7を介
してセラミック基板2の他方主面に配置されたパワーラ
イン3bに電気的に接続されている。
【0028】前記スイッチング素子5はIGBT(In
sulated Gate Bipolor Tran
sistor)等の素子が用いられており、電流のオ
ン、オフを制御し、各スイッチング素子5のオン・オフ
を少しずつずらせることによってパワーライン3a、3
bより供給された直流電源を3相の交流電源に変換し出
力ライン4a、4b、4cに供給する作用をなす。
【0029】また前記第1の接続手段6及び第2の接続
手段7は、アルミニウムやアルミニウム−珪素合金から
なる、例えば直径が300μmの金属細線(ワイヤ)か
らなり、従来周知のワイヤーボンディング法等の接合技
術を用いることによって、パワーライン3a上に搭載さ
れたスイッチング素子5と各出力ライン4a、4b、4
cに、また出力ライン4a、4b、4c上に搭載された
スイッチング素子5とセラミック基板2の他方主面に配
置されたパワーライン3bに接続される。
【0030】本発明のインバータ制御モジュールにおい
ては、2本のパワーライン3a、3bを間にセラミック
基板2を挟んで対向配置させるとともにパワーライン3
a、3bに流れる電流の方向を逆としておくことが重要
である。
【0031】前記2本のパワーライン3a、3bを間に
セラミック基板2を挟んで対向配置させるとともにパワ
ーライン3a、3bに流れる電流の方向を逆としておく
と2本のパワーライン3a、3b間に相互インダクタン
スが効率良く発生し、この発生した相互インダクタンス
によって2本のパワーライン3a、3bの各々が有する
インダクタンスを大きく低減させ、その結果、2本のパ
ワーライン3a、3b間に20A以上の直流電源を供給
するとともに各スイッチング素子5のオン・オフを少し
ずつずらせて出力ライン4a、4b、4cより3相モー
タ等に3相交流電源を供給する際、スイッチング素子5
のオン・オフ時に前記2本のパワーライン3a、3bが
有するインダクタンスに起因して定格電圧より高いサー
ジ電圧が発生することはなく、これによってスイッチン
グ素子5に過電圧がかかり、スイッチング素子5が破壊
するのを有効に防止してインバータ制御モジュールを安
定、かつ信頼性よく作動させることが可能となる。
【0032】また同時に2本のパワーライン3a、3b
はその間に絶縁性に優れたセラミック基板2が介在して
いることからパワーライン3a、3bに20A以上とい
う非常に大きな電流を流し600V以上の電圧がかかっ
たとしてもパワーライン3a、3b間に放電が発生し、
セラミック回路基板1にショートを発生させることはな
く、これによってインバータ制御モジュールの作動を高
信頼性となすことが可能となる。
【0033】なお、前記セラミック基板2はその厚みが
2mmを超えると2本のパワーライン3a、3b間に相
互インダクタンスを効率良く発生させるのが困難とな
り、また0.2mm未満となるとセラミック基板2の機
械的強度が劣化してインバータ制御モジュールとしての
信頼性が低下してしまう危険性がある。従って、前記セ
ラミック基板2はその厚みを0.2mm乃至2mmの範
囲としておくことが好ましい。
【0034】また前記セラミック基板2はその絶縁耐圧
が10kV/mm未満となるとセラミック基板2の厚み
が、例えば、0.2mmの薄いものとなったときにパワ
ーライン3a、3b間に放電が生じ、セラミック回路基
板1にショートが発生してしまう危険性がある。従っ
て、前記セラミック基板2はその耐電圧を10kV/m
m以上としておくことが好ましい。
【0035】更に図3に示すように、セラミック基板2
に貫通孔8を設け、該貫通孔8内にセラミック基板2の
一方主面に配置された各出力ライン4a、4b、4cに
搭載されているスイッチング素子5とセラミック基板2
の他方主面に形成されているパワーライン3bとを接続
する第2の接続手段7を通過させるようにしておくとス
イッチング素子5とパワーライン3bとを接続する第2
の接続手段7がセラミック基板2の外周より大きくはみ
出してインバータ制御モジュールを大型化させることは
なく、その結果、インバータ制御モジュールを小型のも
のとなすことが可能となる。従って、インバータ制御モ
ジュールを小型となすにはセラミック基板2に貫通孔8
を設け、貫通孔8内に第2の接続手段7を通過させてセ
ラミック基板2の一方主面に配置された各出力ライン4
a、4b、4cに搭載されているスイッチング素子5と
セラミック基板2の他方主面に形成されているパワーラ
イン3bとを接続するようにすればよい。
【0036】前記貫通孔8は、例えば、セラミック基板
2の一方主面に配置されたパワーライン3aと出力ライ
ン4a、4b、4cとの間で出力ライン4a、4b、4
cに近接した位置に形成され、その直径は3mm以上
で、前述のセラミック基板2となるセラミックグリーン
シートに予め打ち抜き加工法により所定の大きさの孔を
あけておくことによって形成される。
【0037】また更に図4に示すように、セラミック基
板2の一方主面から他方主面にかけて導出する貫通導体
部9を形成し、該貫通導体部9の一方端に各出力ライン
4a、4b、4cに搭載されているスイッチング素子5
を、他方端にパワーライン3bを接続すれば、各出力ラ
イン4a、4b、4cに搭載されているスイッチング素
子5とセラミック基板2の他方主面に形成されているパ
ワーライン3bとを接続する第2の接続手段7がセラミ
ック基板2の外周より大きくはみ出してインバータ制御
モジュールを大型化させることはなく、その結果、イン
バータ制御モジュールを小型のものとなすことが可能と
なる。同時に貫通導体部9の一方端と各出力ライン4
a、4b、4cに搭載されているスイッチング素子5と
をワイヤを介して接続する際、ワイヤの長さを短いもの
としてワイヤの倒れに起因する接触短絡事故や短絡に伴
なうスイッチング素子の破壊等を有効に防止することが
できる。従って、インバータ制御モジュールを小型のも
のとし、かつ短絡事故が無く高信頼性のものとするには
セラミック基板2の一方主面から他方主面にかけて導出
する貫通導体部9を形成し、該貫通導体部9の一方端に
各出力ライン4a、4b、4cに搭載されているスイッ
チング素子5を、他方端にパワーライン3bを接続する
ようにすればよい。
【0038】前記貫通導体部9はセラミック基板2の一
方主面に配置されたパワーライン3aと出力ライン4
a、4b、4cとの間で出力ライン4a、4b、4cに
近接した位置に直径0.3乃至1mmの大きさの貫通孔
を単数または複数個形成し、この貫通孔内にタングステ
ンやモリブデン等の高融点金属粉末を充填することによ
って形成される。
【0039】前記貫通導体部9の具体的な形成方法は、
まずセラミック基板2となるセラミックグリーンシート
の所定位置に打ち抜き加工法によって直径0.3乃至1
mmの大きさの貫通孔を単数または複数個形成し、次に
前記貫通孔内にタングステンやモリブデン等の高融点金
属粉末に適当な有機バインダー、溶剤を添加混合して得
た金属ペーストをスクリーン印刷法等の印刷技術を採用
することによって印刷充填し、最後にこれをセラミック
グリーンシートとともに所定温度で焼成することによっ
て行なわれる。
【0040】かくして上述のインバータ制御モジュール
によれば、2本のパワーライン3a、3bを外部電源
に、出力ライン4a、4b、4cを3相モータ等に接続
し、外部電源より2本のパワーライン3a、3b間に2
0A以上の直流電源を供給するとともに各スイッチング
素子5のオン・オフを少しずつずらせながら繰り返し行
なわせることによって出力ライン4a、4b、4cから
3相の交流電源が導出され、これによってインバータ制
御モジュールとして機能する。
【0041】なお、本発明は上述の実施例に限定される
ものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば
種々の変更は可能である。
【0042】
【発明の効果】本発明のインバータ制御モジュールによ
れば、2本のパワーラインを間にセラミック基板を挟ん
で対向配置させるとともに各々のパワーラインに流れる
電流の方向を逆としたことから2本のパワーライン間に
相互インダクタンスを効率良く発生させるとともに該相
互インダクタンスによって2本のパワーラインが有する
インダクタンスを大きく低減させることができ、これに
よって2本のパワーライン間に20A以上の直流電源を
供給するとともに各スイッチング素子のオン・オフを少
しずつずらせて出力ラインより3相モータ等に3相交流
電源を供給する際、スイッチング素子のオン・オフ時に
前記2本のパワーラインが有するインダクタンスに起因
して定格電圧より高いサージ電圧が発生することはな
く、その結果、スイッチング素子に過電圧がかかり、ス
イッチング素子が破壊するのを有効に防止してインバー
タ制御モジュールを安定、かつ信頼性よく作動させるこ
とが可能となる。
【0043】また同時に2本のパワーラインはその間に
絶縁性に優れたセラミック基板が介在していることから
パワーラインに20A以上という非常に大きな電流を流
し600V以上の電圧がかかったとしてもパワーライン
間に放電が発生し、セラミック回路基板にショートを発
生させることはなく、これによってインバータ制御モジ
ュールの作動を高信頼性となすことが可能となる。
【0044】更に本発明のインバータ制御モジュールに
よれば、セラミック基板に貫通孔を設け、該貫通孔内に
セラミック基板の一方主面に配置された各出力ラインに
搭載されているスイッチング素子とセラミック基板の他
方主面に形成されているパワーラインとを接続する第2
の接続手段を通過させるようにしておくとスイッチング
素子とパワーラインとを接続する第2の接続手段がセラ
ミック基板の外周より大きくはみ出してインバータ制御
モジュールを大型化させることはなく、その結果、イン
バータ制御モジュールを小型のものとなすことが可能と
なる。
【0045】また更に本発明のインバータ制御モジュー
ルによれば、セラミック基板の一方主面から他方主面に
かけて導出する貫通導体部を形成し、該貫通導体部の一
方端に各出力ラインに搭載されているスイッチング素子
を、他方端にパワーラインを接続すれば、各出力ライン
に搭載されているスイッチング素子とセラミック基板の
他方主面に形成されているパワーラインとを接続する第
2の接続手段がセラミック基板の外周より大きくはみ出
してインバータ制御モジュールを大型化させることはな
く、その結果、インバータ制御モジュールを小型のもの
となすことが可能となる。同時に貫通導体部の一方端と
各出力ラインに搭載されているスイッチング素子とをワ
イヤを介して接続する際、ワイヤの長さを短いものとし
てワイヤの倒れに起因する接触短絡事故や短絡に伴なう
スイッチング素子の破壊等を有効に防止することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のインバータ制御モジュールの一実施例
を示す平面図である。
【図2】図1に示すインバータ制御モジュールの断面図
である。
【図3】本発明のインバータ制御モジュールの他の実施
例を示す断面図である。
【図4】本発明のインバータ制御モジュールの他の実施
例を示す断面図である。
【図5】従来のインバータ制御モジュールの平面図であ
る。
【図6】図5に示すインバータ制御モジュールの断面図
である。
【符号の説明】
1・・・・・・・・・セラミック回路基板 2・・・・・・・・・セラミック基板 3a、3b・・・・・パワーライン 4a、4b、4c・・出力ライン 5・・・・・・・・・スイッチング素子 6・・・・・・・・・第1の接続手段 7・・・・・・・・・第2の接続手段 8・・・・・・・・・貫通孔 9・・・・・・・・・貫通導体部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】セラミック基板と、該セラミック基板の両
    主面に対向配置され、流れる電流の方向が逆である2本
    のパワーラインと、前記セラミック基板の一方主面に配
    置された3本の出力ラインと、前記セラミック基板の一
    方主面に形成されているパワーライン及び各出力ライン
    に搭載されている複数個のスイッチング素子と、前記パ
    ワーライン上のスイッチング素子を各出力ラインに接続
    する第1の接続手段及び各出力ライン上に搭載されてい
    るスイッチング素子をセラミック基板の他方主面に形成
    されているパワーラインに接続する第2の接続手段とか
    ら成ることを特徴とするインバータ制御モジュール。
  2. 【請求項2】前記セラミック基板の一方主面に配置され
    た各出力ラインに搭載されているスイッチング素子とセ
    ラミック基板の他方主面に形成されているパワーライン
    とを接続する第2の接続手段がセラミック基板に設けた
    貫通孔内を通過していることを特徴とする請求項1に記
    載のインバータ制御モジュール。
  3. 【請求項3】前記セラミック基板の一方主面に配置され
    た各出力ラインに搭載されているスイッチング素子とセ
    ラミック基板の他方主面に形成されているパワーライン
    とを接続する第2の接続手段が前記セラミック基板の一
    方主面から他方主面にかけて導出する貫通導体部を具備
    していることを特徴とする請求項1に記載のインバータ
    制御モジュール。
JP2000219223A 2000-07-19 2000-07-19 インバータ制御モジュール Expired - Fee Related JP4475757B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000219223A JP4475757B2 (ja) 2000-07-19 2000-07-19 インバータ制御モジュール

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000219223A JP4475757B2 (ja) 2000-07-19 2000-07-19 インバータ制御モジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002044961A true JP2002044961A (ja) 2002-02-08
JP4475757B2 JP4475757B2 (ja) 2010-06-09

Family

ID=18714040

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000219223A Expired - Fee Related JP4475757B2 (ja) 2000-07-19 2000-07-19 インバータ制御モジュール

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4475757B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009099131A1 (ja) * 2008-02-07 2009-08-13 Jtekt Corporation 多層回路基板およびモータ駆動回路基板
JP2019067805A (ja) * 2017-09-28 2019-04-25 デンカ株式会社 多層回路基板及びその製造方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05129483A (ja) * 1991-11-06 1993-05-25 Japan Aviation Electron Ind Ltd ハイブリツドic
JPH065847A (ja) * 1992-06-17 1994-01-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体パワーモジュール
JPH0621323A (ja) * 1992-06-30 1994-01-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体パワーモジュール
JPH0645509A (ja) * 1992-07-21 1994-02-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびその製造方法
JPH08125116A (ja) * 1994-10-25 1996-05-17 Origin Electric Co Ltd 電力用半導体装置
JPH09135565A (ja) * 1995-09-08 1997-05-20 Hitachi Ltd 配線基板及びそれを用いてた電力変換装置
JPH1198815A (ja) * 1997-09-19 1999-04-09 Hitachi Ltd 電力変換装置並びに多層積層導体と電気部品接続体
JP2000031325A (ja) * 1998-07-13 2000-01-28 Hitachi Ltd 半導体パワーモジュール及びこれを用いたインバータ装置
JP2000102253A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Hitachi Ltd 電力変換装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05129483A (ja) * 1991-11-06 1993-05-25 Japan Aviation Electron Ind Ltd ハイブリツドic
JPH065847A (ja) * 1992-06-17 1994-01-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体パワーモジュール
JPH0621323A (ja) * 1992-06-30 1994-01-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体パワーモジュール
JPH0645509A (ja) * 1992-07-21 1994-02-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびその製造方法
JPH08125116A (ja) * 1994-10-25 1996-05-17 Origin Electric Co Ltd 電力用半導体装置
JPH09135565A (ja) * 1995-09-08 1997-05-20 Hitachi Ltd 配線基板及びそれを用いてた電力変換装置
JPH1198815A (ja) * 1997-09-19 1999-04-09 Hitachi Ltd 電力変換装置並びに多層積層導体と電気部品接続体
JP2000031325A (ja) * 1998-07-13 2000-01-28 Hitachi Ltd 半導体パワーモジュール及びこれを用いたインバータ装置
JP2000102253A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Hitachi Ltd 電力変換装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009099131A1 (ja) * 2008-02-07 2009-08-13 Jtekt Corporation 多層回路基板およびモータ駆動回路基板
CN101940071B (zh) * 2008-02-07 2012-10-03 株式会社捷太格特 多层电路板和电机驱动电路板
US8288658B2 (en) 2008-02-07 2012-10-16 Jtekt Corporation Multilayer circuit board and motor drive circuit board
JP2019067805A (ja) * 2017-09-28 2019-04-25 デンカ株式会社 多層回路基板及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4475757B2 (ja) 2010-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20040154830A1 (en) Ceramic circuit board and method for manufacturing the same
JP4334054B2 (ja) セラミックス回路基板
US6787706B2 (en) Ceramic circuit board
JP3635020B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP2002170922A (ja) インバータ制御モジュール
JP3825309B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP4475757B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP4290860B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP4344465B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP3677449B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP3631675B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP4475773B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP3635012B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP3635027B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP4646417B2 (ja) セラミック回路基板
JP3635053B2 (ja) インバータ制御モジュール
JP2002043509A (ja) インバータ制御モジュール
JP2001068808A (ja) セラミック回路基板
JP2002164501A (ja) インバータ制御モジュール
JP4721533B2 (ja) セラミック回路基板
JP4721534B2 (ja) セラミック回路基板
JP4427467B2 (ja) 配線基板およびそれを用いた電気素子モジュール
JPH06177495A (ja) 窒化アルミプリント配線板
JP2000277872A (ja) 配線基板
JP2004140103A (ja) 配線基板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070618

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100209

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100309

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4475757

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140319

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees