JP2001292369A - 顕微鏡システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】顕微鏡側の設定及び動作状態に基いて電子カメ
ラを最適な条件に自動的に設定可能にした顕微鏡システ
ムを提供すること。 【解決手段】顕微鏡による観察像の撮像に電子カメラ
（３６）を使用した顕微鏡システムにおいて、前記顕微
鏡側の少なくとも対物レンズ（２７）と写真接眼レンズ
（３５ａ）の投影倍率に係る光学系の組み合わせ、観察
方法、及び照明条件の少なくとも一つの状態に応じて、
前記電子カメラ（３６）における撮像素子（４２）の撮
像動作を最適な状態に設定する制御部を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡による観察
像の撮像に電子カメラを使用した顕微鏡システムに関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、顕微鏡による観察像を記録するた
めに、観察像を銀塩フィルムを使用したカメラにより撮
影する方法が用いられていたが、最近では電子カメラの
高性能化にともない、観察像を電子カメラにより撮像す
る方法が多く用いられるようになっている。

【０００３】ところで、電子カメラを用いて顕微鏡の観
察像を最適な状態で撮像するには、顕微鏡での対物レン
ズの倍率、中間変倍率（ズーム倍率）、接眼レンズ倍率
などの光学系倍率（投影倍率）をはじめ、検鏡方式、照
明光の明るさ、照明光色温度など、観察条件や設置環境
に応じて電子カメラの露出時間、ゲインなどを調整する
必要がある。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところが従来では、こ
れら電子カメラ側での調整は、検鏡者が勘や経験に基い
て手動により行なわなければならず、そのための作業が
面倒になるとともに、検鏡者の経験の度合いによって、
撮像結果に差が生じるなどの問題がある。このため、従
来では顕微鏡システムが使用しずらいものとなってい
る。

【０００５】本発明の目的は、顕微鏡側の設定及び動作
状態に基いて電子カメラを最適な条件に自動的に設定可
能にした顕微鏡システムを提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】課題を解決し目的を達成
するために、本発明の顕微鏡システムは以下の如く構成
されている。

【０００７】（１）本発明の顕微鏡システムは、顕微鏡
による観察像の撮像に電子カメラを使用した顕微鏡シス
テムにおいて、前記顕微鏡側の少なくとも対物レンズと
写真接眼レンズの投影倍率に係る光学系の組み合わせ、
観察方法、及び照明条件の少なくとも一つの状態に応じ
て、前記電子カメラにおける撮像素子の撮像動作を最適
な状態に設定する制御部を備えている。

【０００８】（２）本発明の顕微鏡システムは、顕微鏡
による観察像の撮像に電子カメラを使用した顕微鏡シス
テムにおいて、前記顕微鏡側の少なくとも対物レンズと
写真接眼レンズの投影倍率に係る光学系の組み合わせ、
観察方法、及び照明条件の少なくとも一つの状態に応じ
て、前記電子カメラで撮像された画像の調整動作を最適
な状態に設定する制御部を備えている。

【０００９】（３）本発明の顕微鏡システムは、顕微鏡
による観察像の撮像に電子カメラを使用した顕微鏡シス
テムにおいて、前記顕微鏡側の少なくとも対物レンズと
写真接眼レンズの投影倍率に係る光学系の組み合わせ、
及び観察方法の少なくとも一方の状態に応じて、前記電
子カメラで撮像された画像の記録を最適な状態に設定す
る制御部を備えている。

【００１０】（４）本発明の顕微鏡システムは、顕微鏡
による観察像の撮像に電子カメラを使用した顕微鏡シス
テムにおいて、前記顕微鏡の動作状態に応じて観察画像
の表示部への表示方法を最適な状態に設定する制御部を
備えている。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従い説明する。

【００１２】図１は、本発明の実施の形態に係る顕微鏡
システムの構成を示す図である。図１において、顕微鏡
本体１には、ステージ２６上の試料３に対向する対物レ
ンズ２７が配置されている。また、この対物レンズ２７
を介した観察光軸上には、三眼鏡筒ユニット５を介して
接眼レンズユニット６が配置されているとともに、結像
レンズユニット１００を介して電子カメラ３６が配置さ
れている。

【００１３】図２は、上記顕微鏡システムの詳細な構成
を示す図である。図２では、透過明視野観察、暗視野観
察、位相差観察、微分干渉観察、蛍光観察などの各種の
検鏡法を適宜選択可能な構成を示している。

【００１４】図２に示す顕微鏡システムには、照明系と
して、透過照明光学系１１及び落射照明光学系１２が備
えられている。透過照明光学系１１には透過照明用光源
１３が備えられ、この透過照明用光源１３から照射され
る透過照明光の光路上に、この透過照明光を集光するコ
レクタレンズ１４、透過用フィルタユニット１５、透過
視野絞り１６、透過シャッタ１６１、折曲げミラー１
７、透過開口絞り１８、コンデンサ光学素子ユニット１
９、及びトップレンズユニット２０が配置されている。
また、落射照明光学系１２には、落射照明用光源２１が
備えられ、この落射照明用光源２１から照射される落射
照明光の光路上に、落射用フィルタユニット２２、落射
シャッタ２３、落射視野絞り２４、及び落射開口絞り２
５が配置されている。

【００１５】透過照明光学系１１と落射照明光学系１２
との各光軸が重なる観察光路Ｓ上には、観察の対象とな
る標本を載せる試料ステージ２６、対物レンズ２７が複
数装着され、一つの対物レンズ２７を回転動作で選択し
観察光路Ｓ上に位置させるためのレボルバ２８、対物レ
ンズ側光学素子ユニット２９、例えば透過明視野観察ま
たは蛍光観察などの各種検鏡法に応じて観察光路Ｓ上の
ダイクロイックミラーを切り替えるためのキューブユニ
ット３０、観察光路Ｓを観察光路Ｓ’と観察光路Ｓ”と
に分岐するビームスプリッタ３１が配置されている。こ
のビームスプリッタ３１は、三眼鏡筒ユニット５内に配
置されている。

【００１６】ビームスプリッタ３１で手前に折り曲げら
れた観察光路Ｓ’上には、接眼レンズ６ａが配置されて
いる。また、ビームスプリッタ３１を透過した観察光路
Ｓ”上には、中間変倍光学系（ズーム鏡筒）３３、オー
トフォーカス（ＡＦ）ユニット３７１と写真接眼レンズ
ユニット３５からなる結像レンズユニット１００、及び
電子カメラ３６が配置されている。

【００１７】中間変倍光学系（ズーム鏡筒）３３は、電
子カメラ３６で撮像される像を変倍するための変倍ズー
ムレンズ３３ａを内蔵している。なお、中間変倍が不要
な場合は、この中間変倍光学系（ズーム鏡筒）３３を取
り外すことができる。電子カメラ３６内には撮像素子４
２が配置されている。対物レンズ２７からの光像は、写
真接眼レンズユニット３５内の写真接眼レンズ３５ａに
よって撮像素子４２の撮像面に結像する。

【００１８】オートフォーカス（ＡＦ）ユニット３７１
内には、ビームスプリッタ３４が配置され、ここで観察
光路Ｓ″から分岐された光路上には、ＡＦ用受光素子３
４ａが配置されている。オートフォーカスユニット３７
１は、この受光素子３４ａからの出力信号をもとに合焦
検出を行なうもので、ＡＦ機能が不要な場合にはユニッ
トごと取り外すことができる。

【００１９】透過照明光学系１１における透過用フィル
タユニット１５、透過視野絞り１６、透過シャッタ１６
１、透過開口絞り１８、コンデンサ光学素子ユニット１
９、及びトップレンズユニット２０、落射照明光学系１
２における落射用フィルタユニット２２、落射シャッタ
２３、落射視野絞り２４、及び落射開口絞り２５、レボ
ルバ２８、対物レンズ側光学素子ユニット２９、キュー
ブユニット３０、ビームスプリッタ３１、中間変倍光学
系（ズーム鏡筒）３３は、それぞれモータライズされて
おり、駆動回路部３７からの各駆動信号によって図示し
ない各モータにより駆動される。

【００２０】一方、レボルバ２８には、観察光路Ｓ上に
位置される対物レンズ２７の種類を検出する対物レンズ
検出部３８が配置され、対物レンズ側光学素子ユニット
２９には、リタデーション調整動作を検出するリタデー
ション調整動作検出部３９が配置され、写真接眼レンズ
ユニット３５には、写真接眼レンズの種類を検出する写
真接眼レンズ検出部４０が配置されている。

【００２１】顕微鏡コントロール部４１は、顕微鏡全体
の動作を制御するもので、透過照明用光源１３、落射照
明用光源２１、駆動回路部３７、対物レンズ検出部３
８、リタデーション調整動作検出部３９、写真接眼レン
ズ検出部４０、及び電子カメラ３６が接続されている。

【００２２】顕微鏡コントロール部４１は、検鏡者によ
る図示しない操作部の操作に従って、透過照明用光源１
３及び落射照明用光源２１の調光を行なうとともに、駆
動回路部３７に対して制御指示を行なう。さらに顕微鏡
コントロール部４１は、透過照明用光源１３及び落射照
明用光源２１に対する制御状態、駆動回路部３７に対す
る制御状態を始め、対物レンズ検出部３８、リタデーシ
ョン調整動作検出部３９、写真接眼レンズ検出部４０か
らの検出情報を電子カメラ３６へ出力し、電子カメラ３
６での撮像条件を自動設定する。

【００２３】図３は、上記顕微鏡システムに用いられる
電子カメラの構成を示すブロック図である。図３にて一
点鎖線で囲まれる部分は、顕微鏡コントロール部４１に
より撮像条件が設定される電子カメラ３６の構成を示し
ている。図３において、撮像素子４２はカラー画像を撮
像するものであり、上述した顕微鏡の写真接眼レンズユ
ニット３５とともに観察光路Ｓ”上に配置されている。
撮像素子４２は、顕微鏡により拡大される標本の観察像
を撮像し光電変換する。撮像素子４２には、撮像素子冷
却部４２１が取付けられている。撮像素子冷却部４２１
は、冷却温度設定部４２２を介して制御部４８に接続さ
れ、制御部４８の指示に基づく冷却温度設定部４２２の
設定温度で撮像素子４２の冷却を行なう。

【００２４】撮像素子４２の撮像出力は前置処理部４３
に入力される。この前置処理部４３は、撮像素子４２か
らの出力信号を映像信号化して、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、
Ｂ（青）の各色信号に分離する機能を有している。撮像
素子４２には、ＣＣＤ駆動部４９を介して露出時間設定
部４５、ビニング数設定部４６、ＣＣＤ駆動モード設定
部４７が接続されている。これらにより、制御部４８の
指示に従い、ＣＣＤ駆動部４９を介して撮像素子４２に
対する露出時間、ビニング数、ＣＣＤ駆動モード（例え
ば、通常の駆動モードの他に、高速駆動モードへの切換
え）などの撮像条件が制御される。

【００２５】ここでビニングとは、撮像素子４２の画素
を図４（ａ），図４（ｂ）に示すように表わした場合、
通常図４（ａ）のような撮像単位４０１で撮像するのに
対し、図４（ｂ）のような周辺の画素を加算した撮像単
位４０２で、１回のみの読出しにより撮像することを示
す。これにより、撮像素子４２の解像度は低下するが、
読出しノイズを増やすことなく信号量を増大することが
でき、感度が向上する。本実施の形態で用いるビニング
数とは、ビニングを行なうときの加算画素数を示し、図
４（ｂ）の場合はビニング数‘２’とする。

【００２６】また撮像素子４２には、通常の駆動モード
（低速読み出しモード）または高速読み出しモードが、
制御部４８の指示によりＣＣＤ駆動モード設定部４７を
介して設定される。撮像素子４２は、マトリックス状の
受光素子の集合として構成されるが、高速読み出しモー
ドでは、ビニングや間引き読み出しにより、例えば５コ
マ／秒以上で撮像素子から撮像信号の読み出しが行なわ
れる。一方、低速読み出しモードでは、高速読み出しモ
ードよりも多い画素数で撮像素子から撮像信号が読み出
され、高速読み出しモードよりも読み出し速度は遅くな
るが、高い解像力の画像を得ることができる。

【００２７】また、前置処理部４３にはゲイン設定部５
０が接続されており、このゲイン設定部５０により、制
御部４８の指示に従って前置処理部４３に対するゲイン
が制御される。露出時間設定部４５及びゲイン設定部５
０には、ＡＥ（自動露光）演算部４４１を介してＡＥ設
定部４４が接続されている。ＡＥ設定部４４は、制御部
４８の指示に従ってＡＥ演算部４４１の目標値を設定す
る。ＡＥ演算部４４１は、後述するフレームメモリ５１
からの画像データとＡＥ目標値を比較し、露出時間とゲ
インを算出し、露出時間設定部４５とゲイン設定部５０
の自動制御を行なう。露出時間及びゲインの設定を、制
御部４８により直接指示するかＡＥ演算部４４１により
自動制御するかは、検鏡者の好みにより切換えることが
できる。なお、制御部４８は、各種の処理を実行する際
に必要となるデータを格納するメモリ４８ａを有してい
る。

【００２８】前置処理部４３で分離された各色信号Ｒ、
Ｇ、Ｂは、デジタル信号に変換され、デジタル画像デー
タとしてフレームメモリ５１に入力される。フレームメ
モリ５１は、撮像素子４２により撮像される観察画像の
１フレームに相当する画像データを記憶するものであ
る。フレームメモリ５１には、メモリコントローラ５２
が接続されている。

【００２９】メモリコントローラ５２は、制御部４８の
指示により前置処理部４３からの画像信号をフレームメ
モリ５１に書き込むための制御信号と、フレームメモリ
５１に記憶されている画像データを画像調整部５３に対
して読み出すための制御信号とをフレームメモリ５１へ
出力する。フレームメモリ５１に記憶されている観察画
像データは、メモリコントローラ５２により画像調整部
５３へ送られる。

【００３０】画像調整部５３には、フィルタ設定部５
４、シェーディング補正パターン設定部５５、色マトリ
ックス設定部５６、色バランス設定部５７、階調特性設
定部５８が接続されている。これらにより、制御部４８
の指示に従い、画像調整部５３での画像調整の際のフィ
ルタ設定、シェーディング補正パターン、色マトリック
ス、色バランス、及び階調特性などの変更が制御され
る。シェーディング補正パターン設定部５５には、制御
部４８が接続されている。制御部４８はフレームメモリ
５１の画像データからシェーディング補正パターンを演
算し、メモリ４８ａに記憶する。画像調整部５３により
画像調整された観察画像データは、画像記録部５９へ送
られ記憶されるとともに、表示処理部６０を介して表示
部６１へ送られて画像表示される。

【００３１】画像記録部５９には、画像圧縮率設定部６
２と画像記録画素数設定部６３が接続されており、これ
らにより、制御部４８の指示に従って記録画像の圧縮
率、記録画素数などの変更が制御される。また、表示部
６１は、表示処理部６０により表示画像サイズや表示速
度が設定されるとともに、アナログ信号に変換された観
察画像をモニタ表示する。さらに表示部６１には、モニ
タ制御部６４が接続されており、このモニタ制御部６４
により、制御部４８の指示に従ってモニタ表示のオンオ
フが制御される。

【００３２】一方、制御部４８には、上述した顕微鏡の
顕微鏡コントロール部４１が接続されているとともに、
電源回路６５が接続されている。この電源回路６５は、
電子カメラ３６全体の電源を管理するもので、制御部４
８の指示によりＯＮ／ＯＦＦが制御される。

【００３３】また制御部４８には、ＧＰＳなどからなる
位置検出部６５１、気圧検出部６６、磁場検出部６７、
温度検出部６８、湿度検出部６９、環境照度検出部７
０、環境照明分光特性（または色温度）検出部７１、振
動検出部７２など、顕微鏡周囲の種々の状況を検出する
各種検出部が接続されている。制御部４８には、冷却部
７３、暖房部７４、乾燥部７５など、顕微鏡周囲の環境
を変化させるためのユニットが接続され、さらに、像ぶ
れ警告表示部７６、警告表示部７７などの警告部が接続
され、さらにまた、アクティブ除振制御部７８を介して
アクティブ除振ユニット７９が接続されている。アクテ
ィブ除振ユニット７９は、顕微鏡の振動を強制的に取除
くためのもので、振動検出部７２により所定強さ以上の
振動が検出されると、アクティブ除振制御部７８からの
除振開始指令を受けて動作する。

【００３４】次に、以上のように構成された顕微鏡シス
テムの作用を説明する。

【００３５】第１の実施の形態では、顕微鏡の投影倍
率、観察法（照明条件）のいずれかの状態に応じて、電
子カメラの撮像素子の撮像動作状態を最適な条件に設定
する。

【００３６】図５は、本第１の実施の形態に係る顕微鏡
及び電子カメラの構成を示す図である。図５の構成は、
図３に示した構成から関係する部分を抜き出したもので
あるため、その構成部分の説明は省略する。

【００３７】（１）投影倍率の状態→ビニング数の設
定：ビニング数は、投影倍率の状態に応じて設定され
る。

【００３８】まず検鏡者が、図示しない操作部から顕微
鏡コントロール部４１に対して、光学系倍率（投影倍
率）の切換えを指示すると、この指示内容に応じて顕微
鏡コントロール部４１により対物レンズ２７の倍率、中
間変倍光学系３３での中間変倍率が切換えられる。この
状態から、以下に述べる動作が実行される。

【００３９】図６は、本第１の実施の形態の動作手順を
示すフローチャートである。まずステップ４０１で、対
物レンズ検出部３８による対物レンズ２７の情報、駆動
回路部３７による中間変倍光学系３３の情報、及び写真
接眼レンズ検出部４０による写真接眼レンズユニット３
５の情報から、顕微鏡コントロール部４１により、対物
レンズ２７、中間変倍光学系３３、写真接眼レンズユニ
ット３５の有無及び倍率が検出される。これら顕微鏡コ
ントロール部４１で検出された情報は、電子カメラ３６
の制御部４８に送られる。なお制御部４８は、下表１の
ような対物レンズとＮＡ（開口数）の対応テーブルをメ
モリ４８ａに記憶しており、このテーブルから対物レン
ズのＮＡを求める。

【００４０】

【表１】

【００４１】ステップ４０２では、制御部４８が入力さ
れた情報から撮像素子４２上での分解能を算出する。す
なわち制御部４８は、入力された対物レンズ２７、中間
変倍光学系３３のズーム倍率、写真接眼レンズの倍率の
情報から、光学系全体の結像倍率を求め、この結像倍率
と予め求めている対物レンズのＮＡから、電子カメラ３
６へ入射する光線のＮＡを次式により求める。

【００４２】 入射光線のＮＡ＝対物レンズのＮＡ／光学系の結像倍率 さらに制御部４８は、このように求めたＮＡから撮像素
子４２上の分解能Ｒを次式により求める。

【００４３】Ｒ＝０．５λ／入射光線のＮＡ または
０．６１λ／入射光線のＮＡ （λは光像を構成する光の波長のうちの一つ：例えば
０．５５μｍ） 次にステップ４０３で、制御部４８はビニングによる撮
像時のサンプリングピッチが分解能Ｒの１／２以下にな
る最大のビニング数を求める。すなわち制御部４８は、
ビニング数をＢ、撮像素子４２の素子ピッチをｐとした
ときに次式を満たす１以上の最大の整数Ｂを求める。

【００４４】Ｂ＜Ｒ／２ｐ 次にステップ４０４で、制御部４８は求めたビニング数
をビニング数設定部４６へ出力する。これにより、ＣＣ
Ｄ駆動部４９を介して駆動される撮像素子４２のビニン
グ数は、対物レンズ２７、中間変倍光学系３３、写真接
眼レンズユニット３５の組み合わせで決まる投影倍率で
の分解能に最適な値に設定され、顕微鏡による光学情報
を欠如しない範囲で、撮像素子４２で最高の感度、最低
限のデータ数による撮像を得ることができる。

【００４５】なお、対物レンズ、中間倍率、写真接眼レ
ンズの有無等の条件に応じた最適ビニング数を予め下表
２のようなテーブルとして制御部４８のメモリ４８ａ内
に記憶し、制御部４８が顕微鏡コントロール部４１から
の信号を受けたときにこのテーブルを参照することによ
り、ステップ４０２を省略して最適ビニング数を設定す
るようにすることもできる。

【００４６】

【表２】

【００４７】その他ビニング数を求める変形例として、
以下のようなものがある。

【００４８】(1）変形例１ 光学系の組合わせとＮＡの対応テーブルからＮＡを求
め、さらにＮＡから分解能を求め、分解能とＣＣＤの画
素ピッチの関係からビニング数を求める。

【００４９】この場合、下表３のようなテーブルを予め
制御部４８のメモリ４８ａ内に記憶しておく。制御部４
８は、前述のように顕微鏡コントロール部４１からの情
報により光学系の組合わせを識別し、記憶されているテ
ーブルと比較して光学系の組合わせに対応する電子カメ
ラへ入射する光線のＮＡを求める。

【００５０】

【表３】

【００５１】次に制御部４８は、この光線のＮＡから次
式により分解能Ｒを求める。

【００５２】Ｒ＝０．５λ／入射光線のＮＡ または
０．６１λ／入射光線のＮＡ （λは光像を構成する光の波長のうちの一つ：例えば
０．５５μｍ） さらに制御部４８は、ビニング数をＢ、撮像素子４２の
素子ピッチをｐとしたときに次式を満たす１以上の最大
の整数Ｂとしてビニング数を求める。

【００５３】Ｂ＜Ｒ／２ｐ (2)変形例２ 顕微鏡の結像光学系が対物レンズ２７と１種類の結像レ
ンズとから構成される場合、下表４のような対物レンズ
とビニング数の対応テーブルからビニング数を求める。

【００５４】この場合、下表４のようなテーブルを予め
制御部４８のメモリ４８ａ内に記憶しておく。制御部４
８は、前述のように顕微鏡コントロール部４１からの情
報により対物レンズを識別し、記憶されているテーブル
と比較してビニング数を求める。

【００５５】

【表４】

【００５６】(3)変形例３ 顕微鏡の結像光学系が対物レンズ２７と１種類の結像レ
ンズとから構成される場合に、対物レンズとＮＡの対応
テーブルからＮＡを求め、さらにＮＡから分解能を求
め、分解能とＣＣＤの画素ピッチの関係からビニング数
を求める。

【００５７】この場合、下表５のような対物レンズと撮
像素子上のＮＡの対応テーブルを予め制御部４８のメモ
リ４８ａ内に記憶しておく。制御部４８は、前述のよう
に顕微鏡コントロール部４１からの情報により使用され
ている対物レンズを識別し、その対物レンズに対する撮
像素子４２上の光線のＮＡを求める。

【００５８】

【表５】

【００５９】さらに制御部４８は、この光線のＮＡから
次式により分解能を求める。

【００６０】Ｒ＝０．５λ／入射光線のＮＡ または
０．６１λ／入射光線のＮＡ （λは光像を構成する光の波長のうちの一つ：例えば
０．５５μｍ） さらに制御部４８は、ビニング数をＢ、撮像素子４２の
素子ピッチをｐとしたときに次式を満たす１以上の最大
の整数Ｂとしてビニング数を求める。

【００６１】Ｂ＜Ｒ／２ｐ （２）観察法の状態→ＡＥ演算モードの設定：ＡＥ演算
モードは、観察法の状態に応じて設定される。

【００６２】検鏡者が、図示しない操作部から顕微鏡コ
ントロール部４１に対して、透過明視野観察、暗視野観
察、位相差観察、微分干渉観察、蛍光観察などの検鏡
法、つまり観察法の選択を指示すると、これらの観察法
に応じて顕微鏡コントロール部４１は、駆動回路部３７
に対して透過照明光学系１１、落射照明光学系１２の選
択を始め、透過用フィルタユニット１５、透過視野絞り
１６、ミラー１７、透過開口絞り１８、コンデンサ光学
素子ユニット１９、トップレンズユニット２０、落射用
フィルタユニット２２、落射シャッタ２３、落射視野絞
り２４及び落射開口絞り２５、レボルバ２８、対物レン
ズ側光学素子ユニット２９、キューブユニット３０など
の切換え指示を行なう。この状態から、以下に述べる動
作が実行される。

【００６３】図７は、本第１の実施の形態の動作手順を
示すフローチャートである。まずステップ８０１で、顕
微鏡コントロール部４１から観察方法の情報が電子カメ
ラ３６の制御部４８へ送られる。ステップ８０２で、制
御部４８は、入力された情報から予めメモリ４８ａ内に
記憶されている観察法別ＡＥ演算モードテーブルを用い
て、以下に示すモードの切換えを行なう。

【００６４】この場合、下表６のような観察法別ＡＥ演
算モードテーブルには、各観察法に対応する露出演算モ
ードが書き込まれている。

【００６５】

【表６】

【００６６】表６で、「ＡＵＴＯ」モードは、通常の明
視野標本を基準にした演算モードであり、明視野、微分
干渉、位相差など、比較的標本バックが明るい標本を測
光するのに適した演算モードである。「ＦＬ−ＡＵＴ
Ｏ」モードは、明視野標本より暗い標本をターゲットに
した演算モードで、落射蛍光、暗視野観察に適した演算
モードである。「ＳＦＬ−ＡＵＴＯ」モードは、落射蛍
光観察に最も適した演算モードであり、蛍光発色の分布
と強度を判断し、演算するモードである。

【００６７】なお、このような観察法別ＡＥ演算モード
テーブルは、必要に応じて更新可能であり、図示しない
演算モード設定画面で選択可能になっている。また、検
鏡者の好みに合わせた変更も可能になっており、変更し
た時点での観察法の演算モードデータが更新されるよう
になっている。

【００６８】制御部４８は、こうして得られた演算モー
ドをＡＥ設定部４４を介してＡＥ演算部４４１に設定
し、ＡＥ演算部４４１は観察法に最適な露出時間とゲイ
ンを求め、それぞれ露出時間設定部４５とゲイン設定部
５０へ出力する。これにより、ＣＣＤ駆動部４９を介し
て駆動される撮像素子４２の露出時間は、露出時間設定
部４５に設定された露出時間に変更され、前置処理部４
３のゲインも、ゲイン設定部５３に設定されたゲインに
変更される。

【００６９】以上説明したように、ビニング数、ＡＥ演
算モード、露出時間、ゲインなどの設定は、上記（１）
（２）のように行なわれるが、以下に説明する（３）
（４）の方法によっても調整可能である。

【００７０】（３）照明条件（明るさ）→ビニング数、
露出時間、ゲインの設定 透過照明光学系１１または落射照明光学系１２での照明
光の明るさが変化したような場合、透過照明用光源１３
及び落射照明用光源２１に対する照明電圧、駆動回路３
７の駆動内容から、各種フィルタのうち光路上に挿入さ
れるＮＤフィルタや色温度変換フィルタの種類や個数な
どの情報が顕微鏡コントロール部４１で検出されると、
これらの情報は、顕微鏡コントロール部４１から電子カ
メラ３６の制御部４８へ送られる。

【００７１】制御部４８では、入力された情報から照明
光の明るさに最適なビニング数を求め、このビニング数
をビニング数設定部４６へ出力する。これにより、ＣＣ
Ｄ駆動部４９に設定された照明光の明るさに適したビニ
ング数に変更され、変更後の照明光の明るさに対応した
最も速い画像の書き換えサイクルで動画を表示すること
ができる。

【００７２】同様にして、顕微鏡コントロール部４１か
らの照明電圧及びフィルタ情報が制御部４８に入力され
ると、制御部４８では、入力された情報から照明光の明
るさに最適な露光時間とゲインを求め、露出時間設定部
４５とゲイン設定部５０へ出力する。これにより、ＣＣ
Ｄ駆動部４９を介して駆動される撮像素子４２の露出時
間は、照明光の明るさに適した露出時間に設定されると
ともに、前置処理部４３のゲインもゲイン設定部５０に
設定された照明光の明るさに適したゲインに変更され、
照明光の明るさに対応したＡＥスタート値を設定し、最
も効率のよいＡＥ制御を行なうことができる。

【００７３】（４）投影倍率の状態→露出時間、ゲイン
の設定 顕微鏡コントロール部４１により、対物レンズ２７、中
間変倍光学系３３、写真接眼レンズユニット３５の組み
合わせによる投影倍率が制御部４８に入力されると、制
御部４８は、入力された情報から光学系の投影倍率に最
適な露出時間とゲインを求め、それぞれ露出時間設定部
４５とゲイン設定部５０へ出力する。これにより、ＣＣ
Ｄ駆動部４９を介して駆動される撮像素子４２の露出時
間は、露出時間設定部４５に設定された投影倍率変更に
適した露出時間に設定されるとともに、前置処理部４３
のゲインもゲイン設定部５０に設定された投影倍率変更
に適したゲインに変更できる。

【００７４】以上のように第１の実施の形態によれば、
顕微鏡の対物レンズの種類などによって決まる投影倍率
に応じて電子カメラの撮像動作状態を最適に制御できる
ので、検鏡者が電子カメラの扱いを熟知していなくと
も、顕微鏡による観察像を常に最適な状態で撮像するこ
とができる。

【００７５】第２の実施の形態では、顕微鏡の投影倍
率、観察法、照明条件のいずれかの状態に応じて、電子
カメラの撮像素子から読み出された画像データの画質調
整の条件を最適に設定する。

【００７６】図８は、本第２の実施の形態に係る顕微鏡
及び電子カメラの構成を示す図である。図８の構成は、
図３に示した構成から関係する部分を抜き出し詳細に示
したものであるため、図３と同一部分の説明は省略す
る。

【００７７】画像調整部５３は、シェーディング補正部
５３１、色バランス補正部５３２、色マトリックス補正
部５３３、階調特性補正部５３４、及びフィルタ部５３
５から構成されている。フレームメモリ５１から送られ
た画像データは、画像調整部５３に送られ、まず、シェ
ーディング補正部５３１でシェーディング補正が行なわ
れる。以下、このシェーディング補正について詳しく説
明する。

【００７８】図９（ａ），図９（ｂ）は、シェーディン
グ補正を説明するための図である。対物レンズ２７及び
結像レンズユニット１００による標本の光像を撮像素子
４２で撮像すると、画像の中心部が明るく、周辺部が暗
くなるシェーディングが発生する。例えば標本を置かず
に透過照明による像を撮像すると、図９（ａ）の９ａの
ように撮像される。また、撮像画像の中心線に沿った輝
度分布は図９（ａ）の９ｂのようになる。このシェーデ
ィングの量は、対物レンズの種類Ａ，Ｂ，Ｃによって異
なる。このようなシェーディングの補正を、図９（ｂ）
の９ｃのようなシェーディング補正パターンに基づき行
なう。

【００７９】例えば対物レンズＣの場合、画像の中心部
を１００％とすると周辺部ではシェーディングのために
９０パーセントの明るさとなる。図９（ｂ）の９ｄに示
すように、対物レンズＣに対応するシェーディング補正
パターンＣ′は、画像の中心部が１、周辺部が１．１１
のゲインを持つパターンである。このようなシェーディ
ング補正パターンを用いてシェーディングの補正を行な
うと、中心部では元の画像に対しゲイン１をかけるのに
対し、周辺部ではゲイン１．１１をかける。元画像の周
辺部の明るさは、中心部の９０パーセントであるため、
ゲイン１．１１をかけることにより、中心部と同じ１０
０％となる。画像上の各位置で同様のシェーディング補
正パターンによるゲイン調整を行なうことにより、画像
はシェーディング補正され、例えば照明のみを撮像した
場合、全面が一様な画像となる。

【００８０】以上のようなシェーディング補正を行なう
ためにシェーディング補正部５３１は、シェーディング
補正パターン設定部５５に接続されており、このシェー
ディング補正パターン設定部５５で設定されたシェーデ
ィング補正パターンに基づいてシェーディング補正を行
なう。

【００８１】次に、シェーディング補正が行なわれた画
像パターンは、色バランス補正部５３２で、色バランス
補正が行なわれる。撮像素子４２で撮像された画像は、
照明光の色温度によって照明のみを撮像した場合の色が
異なる。すなわち、色温度が低い場合は赤っぽく、色温
度が高い場合は、青っぽく撮像される。このような色の
違いを無くすため、色バランス補正部５３２により画像
データのＲデータ及びＢデータに適当な係数を乗算す
る。色バランス補正部５３２は、色バランス設定部５７
に接続されており、この色バランス設定部５７でＲデー
タ及びＢデータに乗じる係数の設定が行なわれる。

【００８２】次に、色バランス補正が行なわれた画像デ
ータは、色マトリックス補正部５３３で色補正が行なわ
れ、撮像素子４２で撮像された画像のＲＧＢ信号が、よ
り視覚的に色再現性のよい画像データに変換される。こ
の変換前後の画像データの信号をそれぞれＲ１，Ｇ１，
Ｂ１及びＲ２，Ｇ２，Ｂ２とすると、色マトリックス補
正部５３３では、次式（１）により変換が行なわれる。

【００８３】

【数１】

【００８４】色マトリックス補正部５３３は、色マトリ
ックス設定部５６に接続されており、この色マトリック
ス設定部５６で上記（１）式の変換行列の設定が行なわ
れる。

【００８５】次に、色補正の行なわれた画像データは、
階調特性補正部５３４で階調特性の補正が行なわれる。
この階調特性の補正では、Ｒ２，Ｇ２，Ｂ２の各データ
が図１０（ａ）に示す入出力特性ＬＵＴによりＲ３，Ｇ
３，Ｂ３の各データに変換される。階調特性補正部５３
４は、階調特性設定部５８に接続されており、この階調
特性設定部５８で入出力特性ＬＵＴの設定が行なわれ
る。

【００８６】次に、階調特性補正の行なわれた画像デー
タは、フィルタ部５３５によりフィルタがかけられる。
フィルタ部５３５は、フィルタ設定部５４に接続されて
おり、このフィルタ設定部５４で画像にかけるフィルタ
が設定される。ここで用いられるフィルタには、ローパ
スフィルタやエッジ強調フィルタや平滑化フィルタな
ど、さまざまなものを選択することができる。フィルタ
をかけられた画像データは、表示処理部６０及び画像記
録部５９へ送られる。

【００８７】（１）投影倍率の変化→シェーディング補
正パターンの設定 まず制御部４８は、顕微鏡のセットアップ時等に、光学
系の組み合わせ、観察方法等の各条件におけるシェーデ
ィング補正パターンを求めて、これを予めメモリ４８ａ
に記憶させておく。この設定手順は、図１１（ａ）及び
図１１（ｂ）に示すフローチャートに従い実行される。

【００８８】図１１（ａ）及び図１１（ｂ）は、本第２
の実施の形態の動作手順を示すフローチャートである。
まず、図１１（ａ）のステップ７０１で、全ての観察方
法、対物レンズ２７、中間変倍光学系３３、写真接眼レ
ンズユニット３５の組み合わせにおける照明のみによる
図９（ａ）の９ａのような像が撮像される。次にステッ
プ７０２で、制御部４８は全ての観察方法、対物レンズ
２７、中間変倍光学系３３、写真接眼レンズユニット３
５の組み合わせによる図９（ｂ）の９ｃのようなシェー
ディング補正パターンを算出して、メモリ４８ａに記憶
する。

【００８９】そして実際の検鏡時に、検鏡者が顕微鏡コ
ントロール部４１で指示することにより、対物レンズ２
７、中間変倍光学系３３の中間変倍率が切り替えられる
と、図１１（ｂ）のステップ７０３で、制御部４８は、
観察方法、対物レンズ２７、中間変倍光学系３３、写真
接眼レンズユニット３５を検出し、ステップ７０４で、
観察方法、対物レンズ２７、中間変倍光学系３３、写真
接眼レンズユニット３５の組み合わせに対応する図９
（ｂ）の９ｃのようなシェーディング補正パターンをメ
モリ４８ａからロードし、ステップ７０５で、このシェ
ーディング補正パターンをシェーディング補正パターン
設定部５５へ出力する。これにより画像調整部５３で
は、シェーディング補正パターン設定部５５に設定され
たシェーディング補正が行なわれる。

【００９０】次に、中間変倍光学系で連続的に倍率が変
化するズーム光学系の場合について説明する。この場
合、上記と同様の方法により、制御部４８は中間変倍光
学系３３の倍率が１倍のときの全ての光学系の組み合わ
せ、観察方法等の各条件におけるシェーディング補正パ
ターンを算出して、メモリ４８ａに記憶しておく。

【００９１】実際の検鏡時には、検鏡者が顕微鏡コント
ロール部４１で指示することによって、対物レンズ２
７、中間変倍光学系３３のズーム倍率が切り替えられる
と、顕微鏡コントロール部４１は光学系の組み合わせ、
観察方法、中間変倍光学系３３のズーム倍率を検出し、
その情報を制御部４８へ送る。制御部４８は光学系の組
み合わせ、観察方法に対応したシェーディング補正パタ
ーンをメモリ４８ａから選択し、さらにズーム倍率によ
るパターンの調整を行なう。この調整は、以下のように
行なわれる。

【００９２】図１２は、中間変倍光学系３３によるシェ
ーディングの変化を示す図であり、中間変倍光学系３３
のズーム倍率が１倍から２倍へ変化した場合を示してい
る。中間変倍光学系３３のズーム倍率が１倍から２倍へ
変化すると、同じ対物レンズに対するシェーディングで
あっても、ＣＣＤで撮像される範囲が１２ａのように変
わり、撮像結果に生じるシェーディングは１２ｂのよう
になる。このため、中間変倍光学系３３のズーム倍率が
変化したときにシェーディングを補正するシェーディン
グ補正パターンは、１２ｃのようになる。

【００９３】すなわち、中間変倍光学系３３の倍率が１
倍のときのシェーディング補正パターンに対して、ズー
ム倍率が変化したときのシェーディング補正パターン
を、ズーム倍率の分だけ大きさの変化した（この場合２
倍の大きさ）パターンとして、そのパターンの中の撮像
範囲のみを切り出すように調整すればよい。このように
調整されたシェーディング補正パターンにより、シェー
ディング補正が行なわれる。

【００９４】（２）照明条件（色温度）の状態→色バラ
ンス調整の設定 撮像素子４２によって撮像される画像は、照明光の色温
度によって、照明のみを撮像した場合の色が異なる。顕
微鏡の照明光の色温度は、１０００Ｋから８０００Ｋぐ
らいまで変化する。このとき、撮像素子４２で撮像され
るＲＧＢデータのＲとＧの比Ｒ／Ｇを横軸、ＢとＧの比
Ｂ／Ｇを横軸とするグラフを示すと、図１０（ｂ）のよ
うな色温度に対する分布になる。従って、各色温度に対
応する比Ｒ／Ｇ及び比Ｂ／Ｇの逆比Ｇ／Ｒ及び逆比Ｇ／
Ｂが、それぞれ色バランス補正部５３２にてＲ信号及び
Ｂ信号に乗ずる係数である。制御部４８のメモリ４８ａ
内には、色温度に対応した逆比Ｇ／Ｒ及び逆比Ｇ／Ｂ
が、下表７のような照明色温度別色バランステーブルと
して記憶されている。

【００９５】

【表７】

【００９６】図１３は、本第２の実施の形態の動作手順
を示すフローチャートである。まずステップ１５０１
で、透過照明用光源１３及び落射照明用光源２１に対す
る照明光電圧と駆動回路部３７の駆動内容から、各種フ
ィルタのうち、光路上に挿入されるＮＤフィルタや色温
度変換フィルタの種類や個数などの情報が顕微鏡コント
ロール部４１により検出されると、これらの情報は、顕
微鏡コントロール部４１から電子カメラ３６の制御部４
８へ送られる。

【００９７】制御部４８では、ステップ１５０２で、入
力された情報、つまり、照明光電圧及び光路上に挿入さ
れるフィルタの種類と数から照明光色温度を算出し、続
けて、ステップ１５０３で、予め用意された表７に示す
照明色温度別色バランステーブルを参照して、色バラン
スの切換えを行なう。なお、このような照明色温度別色
バランステーブルは、必要に応じて更新可能になってい
る。また、観察者の好みに合わせた変更も可能になって
おり、変更した時点での色バランスが更新されるように
なっている。

【００９８】制御部４８は、このようにして得られた色
バランスの情報を色バランス設定部５７へ出力する。こ
れにより画像調整部５３の色バランス補正部５３２は、
画像の色バランスを色バランス設定部５７に設定された
色バランスに変更するため、照明光の色温度によらずホ
ワイトバランスのとれた観察像を再現できる。

【００９９】（３）照明条件（色温度）の状態→色マト
リックスの設定 撮像素子４２によって撮像される画像は、照明光の色温
度によって、撮像した画像の色が異なる。顕微鏡の照明
光の色温度は、１０００Ｋから８０００Ｋぐらいまで変
化する。制御部４８のメモリ４８ａ内には、各色温度に
よって撮像された画像を視覚的に色再現性のよい画像デ
ータに変換する色マトリックスが、下表８に示す照明色
温度別色マトリックステーブルとして記憶されている。

【０１００】

【表８】

【０１０１】図１４は、本第２の実施の形態の動作手順
を示すフローチャートである。まずステップ１３０１
で、透過照明用光源１３及び落射照明用光源２１に対す
る照明光電圧と駆動回路部３７の駆動内容から、各種フ
ィルタのうち、光路上に挿入されるＮＤフィルタや色温
度変換フィルタの種類や個数などの情報が顕微鏡コント
ロール部４１により検出されると、これらの情報は、顕
微鏡コントロール部４１から電子カメラ３６の制御部４
８へ送られる。

【０１０２】制御部４８では、ステップ１３０２で、入
力された情報、つまり、照明光電圧及び光路上に挿入さ
れるフィルタの種類と数から照明光色温度を算出し、続
けて、ステップ１３０３で、予め用意された表８に示す
照明色温度別色マトリックステーブルを参照して、色マ
トリックスの切換えを行なう。なお、このような照明色
温度別色マトリックステーブルは、必要に応じて更新可
能になっている。また、観察者の好みに合わせた変更も
可能になっており、変更した時点での色マトリックスが
更新されるようになっている。

【０１０３】制御部４８は、このようにして得られた色
マトリックスの情報を色マトリックス設定部５６へ出力
する。これにより画像調整部５３の色マトリックス補正
部５３３は、画像のパターンを色マトリックス設定部５
６に設定されたパターンに変更するため、照明光の色温
度によらず、視覚的に色再現性のよい観察像を再現でき
る。

【０１０４】（４）観察法の状態→階調特性の設定 制御部４８のメモリ４８ａ内には、観察方法に適した階
調特性が、下表９に示す観察法別階調特性テーブルとし
て記憶されている。

【０１０５】

【表９】

【０１０６】図１５（ａ）〜図１５（ｄ）は、それぞれ
表９における階調特性Ａ〜Ｄの入出力特性ＬＵＴを表わ
している。ここで階調特性Ａは、図１５（ａ）に示すも
ので、透過明視野観察及び落射明視野観察に適してい
る。階調特性Ｂは、図１５（ｂ）に示すもので、透過暗
視野観察及び落射暗視野観察に適している。階調特性Ｃ
は、図１５（ｃ）に示すもので、微分干渉観察及び位相
差観察に適している。そして、階調特性Ｄは、図１５
（ｄ）に示すもので、落射蛍光観察に適している。な
お、このような観察法別階調特性テーブルは、必要に応
じて更新可能であり、変更した時点での観察法の階調特
性が更新されるようになっている。

【０１０７】図１６は、本第２の実施の形態の動作手順
を示すフローチャートである。まずステップ１００１
で、顕微鏡コントロール部４１により観察方法が検出さ
れると、この情報は電子カメラ３６の制御部４８へ送ら
れる。制御部４８は、ステップ１００２で、入力された
情報から予め用意された表９に示す観察法別階調特性テ
ーブルを参照して、階調特性の切換えを行なう。

【０１０８】制御部４８は、このようにして観察法に最
適な階調特性を求め、階調特性設定部５８へ出力する。
これにより画像調整部５３の階調特性補正部５３４は、
画像の階調を階調特性設定部５８に設定された階調特性
に変更するため、観察法に適した階調の再現を行なうこ
とができる。なお、この階調特性は、ＲＧＢデータ別に
設けることが可能である。

【０１０９】（５）投影倍率の状態→フィルタの設定 図１７は、本第２の実施の形態の動作手順を示すフロー
チャートである。顕微鏡コントロール部４１から対物レ
ンズ倍率等の投影倍率の変化が制御部４８へ通知される
と、ステップ５０１で顕微鏡コントロール部４１によ
り、対物レンズ検出部３８による対物レンズ２７の情
報、駆動回路部３７による中間変倍光学系３３の情報、
写真接眼レンズ検出部４０による写真接眼レンズユニッ
ト３５の情報から、対物レンズ２７、中間変倍光学系３
３、写真接眼レンズユニット３５の有無及びＮＡ、倍率
が検出され、これらの情報は、電子カメラ３６の制御部
４８へ送られる。

【０１１０】制御部４８は、ステップ５０２で、光学系
のカットオフ周波数を算出するとともに、ステップ５０
３で、光学系のカットオフ周波数をローパスフィルタの
カットオフ周波数として設定し、フィルタ設定部５４へ
出力する。これにより、画像調整部５３のフィルタ部５
３５は、光学系のカットオフ周波数に合わせてローパス
フィルタのカットオフ周波数に設定されるので、画像上
にあるはずのない光学系カットオフ周波数以上の情報を
取り除くことができる。なお、ここでのローパスフィル
タは、ソフトウェアによるものでもハードウェアによる
ものでもどちらでもよい。画像調整部５３での設定は、
上記（１）〜（５）のように行なわれるが、以下に説明
する（６）のように行なうこともできる。

【０１１１】（６）観察法の変化→その他の画像調整条
件の設定 顕微鏡コントロール部４１から、使用する観察法の変化
が通知されると、制御部４８では、入力された情報から
観察法に最適なフィルタの組み合わせを求め、フィルタ
設定部５４へ出力する。これにより、画像調整部５３の
フィルタ部５３５は、フィルタ設定部５４に設定された
フィルタの組み合わせに変更される。

【０１１２】また、顕微鏡コントロール部４１での観察
方法の情報が制御部４８に入力されると、制御部４８で
は、入力された情報から観察法に最適な色マトリックス
パターンを求め、色マトリックス設定部５６へ出力す
る。これにより、画像調整部５３の色マトリックス補正
部５３３は、色マトリックス設定部５６に設定された色
マトリックスパターンに変更されるため、観察法に適し
た色再現を行なうことができる。

【０１１３】さらに、顕微鏡コントロール部４１の観察
方法が制御部４８に入力されると、制御部４８では、入
力された情報から予め用意されたテーブルに基いて観察
法に最適な色バランスを求め、色バランス設定部５７へ
出力する。これにより、画像調整部５３の色バランス補
正部５３２は、色バランス設定部５７に設定された色バ
ランスに変更されるため、観察法に適した色再現を行な
うことができる。

【０１１４】以上のように第２の実施の形態によれば、
顕微鏡の投影倍率、観察法、照明条件のいずれかの状態
に応じて、撮像素子から読み出された画像データの画質
調整の条件を最適に設定できるので、検鏡者が電子カメ
ラの扱いを熟知していなくとも、顕微鏡による観察像を
常に最適な状態で撮像することができる。

【０１１５】第３の実施の形態では、顕微鏡の投影倍率
又は観察法の状態に応じて、画像記録の条件設定を最適
に行なうものである。

【０１１６】図１８は、本第３の実施の形態に係る顕微
鏡及び電子カメラの構成を示す図である。図１８の構成
は、図３に示した構成から関係する部分を抜き出したも
のであるため、その構成部分の説明は省略する。

【０１１７】（１）投影倍率の状態→記録画素数 図１９は、本第３の実施の形態の動作手順を示すフロー
チャートである。まずステップ６０１で、対物レンズ検
出部３８による対物レンズ２７の情報、駆動回路部３７
による中間変倍光学系３３の情報、写真接眼レンズ検出
部４０による写真接眼レンズユニット３５の情報から、
対物レンズ２７、中間変倍光学系３３、写真接眼レンズ
ユニット３５の有無および倍率が、顕微鏡コントロール
部４１で検出される。

【０１１８】この顕微鏡コントロール部４１で検出され
た情報は、電子カメラ３６の制御部４８に送られる。制
御部４８は、下表１０のような対物レンズとＮＡの対応
テーブルをメモリ４８ａ内に記憶しておき、このテーブ
ルから対物レンズのＮＡを求める。

【０１１９】

【表１０】

【０１２０】ステップ６０２では、制御部４８が入力さ
れた情報から撮像素子４２上での分解能を算出する。す
なわち制御部４８は、入力された対物レンズ２７、中間
変倍光学系３３のズーム倍率、写真接眼レンズの倍率か
ら光学系全体の結像倍率を求め、この倍率と前に求めた
ＮＡから電子カメラ３６へ入射する光線のＮＡを次式に
より求める。

【０１２１】 入射光線のＮＡ＝対物レンズのＮＡ／光学系の結像倍率 さらに制御部４８は、このＮＡから撮像素子４２上の分
解能Ｒを次式により求める。

【０１２２】Ｒ＝０．５λ／入射光線のＮＡ または
０．６１λ／入射光線のＮＡ （λは光像を構成する光の波長のうちの一つ：例えば
０．５５μｍ） 次にステップ６０３で、画素ピッチが分解能の１／２以
下となる最小の記録画素数を求める。すなわち、記録画
素の画素ピッチをＩｐとしたときに、次式を満たし、か
つＩｐが最大となる記録画素数を求める。

【０１２３】Ｉｐ＜Ｒ／２次にステップ６０４で、この
記録画素数を画像記録画素数設定部６３へ出力する。こ
れにより、画像記録部５９では、顕微鏡による光学情報
を欠如しない最低限の画像記録画素数のデータで記録で
きるようになり、画像記録部５９での記憶容量の節約を
実現することができる。

【０１２４】その他、記録画素数を求める方法として以
下の変形例が考えられる。

【０１２５】(1-1)変形例１ 光学系組合せとＮＡの対応テーブルからＮＡを求め、さ
らにＮＡから分解能を求め、分解能と記録画像の画素ピ
ッチの関係から記録画素数を求める。

【０１２６】すなわち下表１１のようなテーブルを制御
部４８のメモリ４８ａ内に記憶しておく。制御部４８は
前述のように顕微鏡コントロール部４１からの情報によ
り光学系組合せを識別し、記憶されているテーブルと比
較して対応する光学系組合せによる電子カメラへ入射す
る光線のＮＡを求める。

【０１２７】

【表１１】

【０１２８】次に、このＮＡから次式により分解能Ｒを
求める。

【０１２９】Ｒ＝０．５λ／入射光線のＮＡ または
０．６１λ／入射光線のＮＡ （λは光像を構成する光の波長のうちの一つ：例えば
０．５５μｍ） さらに次式を満たし、かつＩｐが最大となる記録画素数
を求める。

【０１３０】Ｉｐ＜Ｒ／２ (1-2)変形例２ 顕微鏡の結像光学系が対物レンズ２７と１種類の結像レ
ンズとから構成される場合に、対物レンズとＮＡの対応
テーブルからＮＡを求め、さらにＮＡから分解能を求
め、分解能と記録画像の画素ピッチの関係から記録画素
数を求める。

【０１３１】すなわち、まず下表１２のような対物レン
ズと撮像素子上のＮＡの対応テーブルを制御部４８のメ
モリ４８ａ内に記憶しておく。制御部４８は前述のよう
に顕微鏡コントロール部４１からの情報により、使用さ
れている対物レンズを識別し、その対物レンズに対する
撮像素子上のＮＡを求める。

【０１３２】

【表１２】

【０１３３】さらに、このＮＡから次式により分解能を
求める。

【０１３４】 Ｒ＝０．５λ／ＮＡ または ０．６１λ／ＮＡ （λは光像を構成する光の波長のうちの一つ） さらに次式を満たし、かつＩｐが最大となる記録画素数
を求める。

【０１３５】Ｉｐ＜Ｒ／２ （２）投影倍率の状態→圧縮率の設定 顕微鏡コントロール部４１から、対物レンズ２７、中間
変倍光学系３３、写真接眼レンズユニット３５の組み合
わせによる投影倍率の情報が、制御部４８へ出力される
と、制御部４８では、入力された情報から光学系の投影
倍率に最適な圧縮率、つまり光学系の解像力を再現でき
る最大の圧縮率を求め、画像圧縮率設定部６２へ出力す
る。これにより、画像記録部５９での圧縮率は、画像圧
縮率設定部６２に設定された圧縮率に変更されるように
なり、画像記録部５９での記憶容量の節約を実現するこ
とができる。画像記録画素数及び画像記録圧縮率は上記
（１）（２）のように設定されるが、以下に説明する
（３）のように設定することも可能である。

【０１３６】（３）観察法の状態→記録画素数、圧縮率
の設定 顕微鏡コントロール部４１から観察方法の情報が制御部
４８に入力されると、制御部４８では、入力された情報
から観察法に最適な圧縮率と画素数を求め、画像圧縮率
設定部６２と画像記録画素数設定部６３へ出力する。こ
れにより、画像記録部５９での圧縮率と画像記録画素数
は、画像圧縮率設定部６２に設定された圧縮率に変更さ
れるとともに、画像記録画素数設定部６３に設定された
画像記録画素数に変更されるため、観察法に適した圧縮
率及び画素数で記録を行なうことができる。

【０１３７】以上のように第３の実施の形態によれば、
顕微鏡の投影倍率又は観察法の状態に応じて、画像記録
の条件を最適に設定できるので、検鏡者が電子カメラの
扱いを熟知していなくとも、顕微鏡による観察像を常に
最適な状態で記録することができる 第４の実施の形態では、顕微鏡の動作状態に応じて、電
子カメラの表示状態、動作状態の設定を最適に行なうも
のである。

【０１３８】図２０は、本第４の実施の形態に係る顕微
鏡及び電子カメラの構成を示す図である。図２０の構成
は、図３に示した構成から関係する部分を抜き出したも
のであるため、その構成部分の説明は省略する。

【０１３９】（１）レボルバ回転動作中の処理 顕微鏡コントロール部４１が駆動回路部３７によるレボ
ルバ２８の回転動作を検出すると、この情報は、顕微鏡
コントロール部４１から電子カメラ３６の制御部４８へ
送られる。

【０１４０】制御部４８では、入力された情報から動作
直前の露出時間、ゲインを維持する旨の指示をＡＥ設定
部４４へ出力し、露出時間設定部４５、ゲイン設定部５
０の動作を停止させる。これにより、レボルバ２８の回
転にともなう急激な観察像の変化に起因する表示部６１
での表示画面の高輝度発光や暗転を避けることができ、
検鏡者の不快感を低減できる。

【０１４１】同様にして、顕微鏡コントロール部４１が
駆動回路部３７によるレボルバ２８の回転動作を検出す
ると、制御部４８では、顕微鏡コントロール部４１から
入力された情報を基にメモリコントローラ５２へフレー
ムメモリ５１の書き換えを停止する指示を出力する。こ
れによっても、レボルバ２８の回転にともなう急激な観
察像の変化に起因する表示部６１の表示画面の高輝度発
光や暗転を避けて、動作前の画像をフリーズ状態で表示
し続けることができる。

【０１４２】（２）ステージ動作中の処理 顕微鏡コントロール部４１が駆動回路部３７によるステ
ージ２６の移動動作を検出すると、この情報は、顕微鏡
コントロール部４１から電子カメラ３６の制御部４８へ
送られる。制御部４８では、入力された情報を基に動作
直前の露出時間とゲインを維持する旨の指示をＡＥ設定
部４４へ出力し、露出時間設定部４５とゲイン設定部５
０の動作を停止させる。これにより、ＡＥによる観察像
の変化をなくし、ステージ２６の移動に応じた表示部６
１の表示画面の変化のみが得られ、この状態でのステー
ジ２６の位置調整を簡単にできる。

【０１４３】同様にして、顕微鏡コントロール部４１が
駆動回路部３７によるステージ２６の移動動作を検出す
ると、制御部４８では、入力された情報を基にメモリコ
ントローラ５２へフレームメモリ５１の書き換えを停止
する指示を出力する。これによっても、ステージ２６の
移動にともなう急激な観察像の変化に起因する表示部６
１の表示画面の高輝度発光や暗転を避けて、動作前の画
像をフリーズ状態で表示し続けることができる。

【０１４４】また、顕微鏡コントロール部４１が駆動回
路部３７によるステージ２６の移動動作を検出すると、
制御部４８では、入力された情報を基にＣＣＤ駆動モー
ド設定部４７へ撮像素子４２の駆動モードを高速読出し
モードに設定するように指示する。これにより、ステー
ジ２６の移動中は、撮像素子４２の駆動モードが高速読
出しモードに設定されるので、ステージ２６の移動とと
もに動画像として表示される表示部６１の表示画面上の
観察像は見やすいものとなり、この状態からのステージ
２６の位置調整がし易くなる。

【０１４５】（３）照明光源のＯＮ／ＯＦＦにともなう
処理 顕微鏡コントロール部４１が透過照明用光源１３及び落
射照明用光源２１のランプのＯＮ／ＯＦＦを検出する
と、この情報は、顕微鏡コントロール部４１から電子カ
メラ３６の制御部４８へ送られる。制御部４８では、入
力された情報、つまりランプのＯＮ／ＯＦＦに合わせ
て、ＡＥ設定部４４に動作、停止を指示する。これによ
り、ランプがＯＦＦの場合（表示部６１は黒画像の状
態）、ＡＥ設定部４４を停止できるので、無理やり露出
時間を延ばしてＡＥをかけようとする無駄な動作をなく
すことができる。

【０１４６】同様にして、顕微鏡コントロール部４１が
透過照明用光源１３及び落射照明用光源２１のランプの
ＯＮ／ＯＦＦを検出すると、制御部４８では、ランプの
ＯＮ／ＯＦＦに合わせて、モニタ制御部６４に対し表示
部６１の表示のＯＮ／ＯＦＦを指示する。これにより、
ランプがＯＦＦの場合（表示部６１は黒画像の状態）、
モニタ制御部６４により表示部６１の表示を強制的にＯ
ＦＦにできるので、節電を図ることができる。

【０１４７】また、顕微鏡コントロール部４１が透過照
明用光源１３及び落射照明用光源２１のランプのＯＮ／
ＯＦＦを検出すると、制御部４８では、入力された情
報、つまりランプのＯＮ／ＯＦＦに合わせて、メモリコ
ントローラ５２にフレームメモリ５１の書き換えの可否
を指示する。これにより、ランプがＯＦＦの場合、フレ
ームメモリ５１の書き換えを停止できるので、表示部６
１が黒画像の状態になってしまうことを防ぐことができ
る。

【０１４８】さらに、顕微鏡コントロール部４１が透過
照明用光源１３及び落射照明用光源２１のランプのＯＮ
／ＯＦＦを検出すると、制御部４８では、入力された情
報、つまりランプのＯＮ／ＯＦＦに合わせて、電源回路
６５に通常動作モードまたは待機電流モードを指示す
る。これにより、ランプがＯＦＦの場合、電源回路６５
を待機電流モードに設定できるので、節電を図ることが
できる。

【０１４９】（４）照明のシャッタ動作にともなう処理 顕微鏡コントロール部４１が駆動回路部３７によるシャ
ッタ２３，１６１のＯＮ／ＯＦＦを検出すると、この情
報は、顕微鏡コントロール部４１から電子カメラ３６の
制御部４８へ送られる。この場合、シャッタのＯＮ／Ｏ
ＦＦの検出は、透過照明光学系１１及び落射照明光学系
１２のいずれか一方のシャッタ２３，１６１が開いてい
るときにＯＮ、両方とも閉じているときにＯＦＦが検出
される。制御部４８では、入力された情報、つまりシャ
ッタ２３，１６１のＯＮ／ＯＦＦに合わせて、ＡＥ設定
部４４に動作、停止を指示する。これにより、シャッタ
２３，１６１がＯＦＦの場合、ＡＥ動作を停止できるの
で、無理やり露出時間を延ばしてＡＥを動作させようと
する無駄な動作をなくすことができる。

【０１５０】同様にして、顕微鏡コントロール部４１が
駆動回路部３７によるシャッタ２３，１６１のＯＮ／Ｏ
ＦＦを検出すると、制御部４８では、入力された情報、
つまりシャッタ２３，１６１のＯＮ／ＯＦＦに合わせ
て、モニタ制御部６４に対し表示部６１の表示のＯＮ／
ＯＦＦを指示する。これにより、シャッタ２３，１６１
がＯＦＦの場合（表示部６１は黒画像の状態）、モニタ
制御部６４により表示部６１の表示を強制的にＯＦＦに
できるので、節電を図ることができる。

【０１５１】また、顕微鏡コントロール部４１が駆動回
路部３７によるシャッタ２３，１６１のＯＮ／ＯＦＦを
検出すると、制御部４８では、入力された情報、つまり
シャッタ２３，１６１のＯＮ／ＯＦＦに合わせて、メモ
リコントローラ５２へフレームメモリ５１の書き換えの
可否を指示する。これにより、シャッタ２３，１６１が
ＯＦＦの場合、フレームメモリ５１の書き換えを停止で
きるので、表示部６１が黒画像の状態になってしまうの
を防ぐことができる。

【０１５２】さらに、顕微鏡コントロール部４１が駆動
回路部３７によるシャッタ２３，１６１のＯＮ／ＯＦＦ
を検出すると、制御部４８では、入力された情報、つま
りシャッタ２３，１６１のＯＮ／ＯＦＦに合わせて、電
源回路６５に通常動作モードまたは待機電流モードを指
示する。これにより、シャッタ２３，１６１がＯＦＦの
場合、電源回路６５を待機電流モードに設定できるの
で、節電を図ることができる。

【０１５３】（５）光路切換え動作にともなう処理 顕微鏡コントロール部４１が、写真接眼レンズ検出部４
０による写真接眼レンズユニット３５の情報をはじめ、
駆動回路部３７によるキューブユニット３０、レボルバ
２８、コンデンサ光学素子ユニット１９、透過用フィル
タユニット１５、落射用フィルタユニット２２の動作状
態などから光路の切換えを検出すると、これらの情報
は、顕微鏡コントロール部４１から電子カメラ３６の制
御部４８へ送られる。

【０１５４】制御部４８では、入力された情報を基に動
作直前の露出時間とゲインを維持する旨の指示をＡＥ設
定部４４へ出力し、露出時間設定部４５とゲイン設定部
５０の動作を停止させる。これにより、光路切換えにと
もなう急激な観察像の変化に起因する表示部６１での表
示画面の高輝度発光や暗転を避けることができ、検鏡者
の不快感を低減できる。

【０１５５】同様にして、顕微鏡コントロール部４１が
光路の切換えを検出すると、制御部４８では、入力され
た情報を基にメモリコントローラ５２へフレームメモリ
５１の書き換えを停止する指示を出力する。これによっ
ても、光路切換えにともなう急激な観察像の変化に起因
する表示部６１の表示画面の高輝度発光や暗転を避け
て、動作前の画像をフリーズ状態で表示し続けることが
できる。

【０１５６】（６）リタデーション調整動作にともなう
処理 顕微鏡コントロール部４１が、リタデーション調整動作
検出部３９からリタデーション調整の動作を検出する
と、この情報は、顕微鏡コントロール部４１から電子カ
メラ３６の制御部４８へ送られる。制御部４８では、入
力された情報から動作直前の露出時間とゲインを維持す
る旨の指示をＡＥ設定部４４へ出力し、露出時間設定部
４５とゲイン設定部５０の動作を停止させる。これによ
り、リタデーション調整の際のＡＥ調整による画像の変
化をなくして、リタデーション調整のみによる画像変化
を表示させることができ、リタデーション調整を簡単に
行なえる。

【０１５７】同様にして、顕微鏡コントロール部４１が
リタデーション調整の動作を検出すると、制御部４８で
は、入力された情報を基にＣＣＤ駆動モード設定部４７
へ撮像素子４２の駆動モードを高速読出しモードに設定
するように指示する。これにより、リタデーション調整
中は、撮像素子４２の駆動モードが高速読出しモードに
設定されるので、リタデーション調整により動画像とし
て表示される表示部６１の表示画面上の観察像は見やす
いものとなり、この状態からのリタデーション調整がし
易くなる。

【０１５８】（７）ズーム動作にともなう処理 顕微鏡コントロール部４１が、駆動回路部３７による中
間変倍光学系（ズーム鏡筒）３３のズーム動作を検出す
ると、この情報は、顕微鏡コントロール部４１から電子
カメラ３６の制御部４８へ送られる。制御部４８では、
入力された情報を基に動作直前の露出時間とゲインを維
持する旨の指示をＡＥ設定部４４へ出力し、露出時間設
定部４５とゲイン設定部５０の動作を停止させる。これ
により、ズーム動作の際のＡＥ調整に起因する画像の変
化をなくして、ズーム動作のみによる画像変化を表示さ
せることができ、ズーム調整を簡単に行なえる。

【０１５９】同様にして、顕微鏡コントロール部４１が
ズーム動作を検出すると、制御部４８では、入力された
情報を基にＣＣＤ駆動モード設定部４７に撮像素子４２
の駆動モードを高速読出しモードに設定するように指示
する。これにより、ズーム調整中は、撮像素子４２の駆
動モードは高速読出しモードに設定されるので、ズーム
調整により動画像として表示される表示部６１の表示画
面上の観察像は見やすいものとなり、この状態からのズ
ーム調整がし易くなる。

【０１６０】（８）ＡＦ動作にともなう処理 顕微鏡コントロール部４１が、駆動回路部３７によるＡ
Ｆユニット３７１のＡＦ動作を検出すると、この情報
は、顕微鏡コントロール部４１から電子カメラ３６の制
御部４８へ送られる。制御部４８では、入力された情報
から動作直前の露出時間とゲインを維持する旨の指示を
ＡＥ設定部４４へ出力し、露出時間設定部４５とゲイン
設定部５０の動作を停止させる。これにより、ＡＦ動作
の際のＡＥ調整による画像の変化をなくして、ＡＦ動作
中の表示部６１上での観察像の変化を観察しやすくでき
る。

【０１６１】同様にして、顕微鏡コントロール部４１が
ＡＦ動作を検出すると、制御部４８では、入力された情
報を基にＣＣＤ駆動モード設定部４７に撮像素子４２の
駆動モードを高速読出しモードに設定するように指示す
る。これにより、ＡＦ動作中は、撮像素子４２の駆動モ
ードは高速読出しモードに設定されるので、ＡＦ動作に
より動画像として表示される表示部６１の表示画面上の
観察像は見やすいものとなる。

【０１６２】（９）動作休止状態の検出 顕微鏡コントロール部４１と顕微鏡各部位との間で一定
時間情報のやり取りがないような場合、その旨を示す情
報は、顕微鏡コントロール部４１から電子カメラ３６の
制御部４８へ送られる。制御部４８では、入力された情
報を基にモニタ制御部６４に対し表示部６１の表示を強
制的にＯＦＦにさせる指示を与える。これにより、顕微
鏡コントロール部４１への情報のやり取りが一定時間な
い場合は、モニタ制御部６４により表示部６１の表示を
強制的にＯＦＦにできるので、節電を図ることができ
る。

【０１６３】同様にして、顕微鏡コントロール部４１と
顕微鏡各部位との間で一定時間情報のやり取りがない場
合、制御部４８では、入力された情報に合わせて電源回
路６５に待機電流モードを指示する。これにより、顕微
鏡コントロール部４１への情報のやり取りが一定時間な
い場合は、電源回路６５を待機電流モードに設定できる
ので、節電を図ることができる。勿論、顕微鏡コントロ
ール部４１へ情報が送られた場合は、電源回路６５は、
通常モードに復活される。

【０１６４】（１０）三眼鏡筒ユニットの光路切換えに
ともなう処理 顕微鏡コントロール部４１が、駆動回路部３７の情報と
して、三眼鏡筒ユニット５にて観察光路Ｓ’を使用する
接眼レンズ６ａのみで観察が行なわれていることを検出
すると、この情報は、顕微鏡コントロール部４１から電
子カメラ３６の制御部４８へ送られる。制御部４８で
は、入力された情報を基にモニタ制御部６４に対し表示
部６１の表示を強制的にＯＦＦにさせる指示を与える。
これにより、接眼レンズ６ａのみでの観察の間は、モニ
タ制御部６４により表示部６１の表示を強制的にＯＦＦ
にできるので、節電を図ることができる。

【０１６５】同様にして、顕微鏡コントロール部４１が
接眼レンズ６ａのみでの観察を検出すると、制御部４８
では、入力された情報に合わせて電源回路６５に待機電
流モードを指示する。これにより、接眼レンズ６ａのみ
での観察の間は、電源回路６５を待機電流モードに設定
できるので、節電を図ることができる。勿論、接眼レン
ズ６ａのみでの観察が終了して、電子カメラ３６への観
察光路Ｓ“が使用される場合、電源回路６５は通常モー
ドに復活される。

【０１６６】（１１）蛍光観察中の処理 顕微鏡コントロール部４１から観察方法の情報が制御部
４８に入力されると、制御部４８では、入力された情報
を基に観察法に最適な冷却温度を求め、冷却温度設定部
４２２にその温度を設定させる。例えば、露出時間が長
くなる蛍光観察では、冷却温度を低く設定し、露出時間
が短い明視野観察では、冷却をしないという設定を行な
う。これにより、不要な冷却を行なわず消費電力の節約
を図ることができる。

【０１６７】さらに、観察方法の情報が制御部４８に入
力され、蛍光観察が行なわれていることが検出される
と、制御部４８は、撮像時は表示部６１をＯＦＦさせる
か、または表示部６１の一部に残露出時間を表示し他の
部分は低輝度または無発光状態にする。蛍光観察では、
迷光を避けるために室内照明を消す場合があるが、さら
にモニタである表示部６１からの迷光をなくすことがで
き、より高精度の観察を行なうことができる。

【０１６８】以上のように第４の実施の形態によれば、
顕微鏡の動作状態に応じて、電子カメラの表示状態、動
作状態の設定を最適にできるので、検鏡者が電子カメラ
の扱いを熟知していなくとも、顕微鏡による観察像を常
に最適な状態で撮像することができる。

【０１６９】第５の実施の形態では、顕微鏡システムの
周囲の種々の状況を検出する各種検出部から検出出力が
与えられる場合について説明する。

【０１７０】まず、顕微鏡システムの周囲の温度を、設
置環境の温度として温度検出部６８が検出すると、この
環境温度は制御部４８へ送られる。制御部４８では、温
度検出部６８で検出された環境温度が予め設定された動
作保証範囲にあるか否かを判断し、この範囲から外れる
と、警告表示部７７にその旨を表示させる。これによ
り、使用条件として適さない環境での顕微鏡システムの
使用に対して警告を発することができる。

【０１７１】同様にして、温度検出部６８が環境温度を
検出し、制御部４８が温度検出部６８で検出された環境
温度が予め設定された動作保証範囲を超えていることを
判断すると、制御部４８は冷却部７３へ動作指令を与
え、顕微鏡の周囲を強制的に冷却させる。これにより、
使用条件に適した環境で顕微鏡システムを使用すること
ができる。

【０１７２】また、温度検出部６８が環境温度を検出
し、制御部４８が温度検出部６８で検出された環境温度
が予め設定された動作保証範囲より低いことを判断する
と、制御部４８は暖房部７４へ動作指令を与え、顕微鏡
の周囲を強制的に暖房させる。これにより、使用条件に
適した環境で顕微鏡システムを使用することができる。

【０１７３】なお、制御部４８では、温度検出部６８で
検出された環境温度が予め設定された動作保証範囲から
外れていることを判断した場合、電源回路６５へＯＦＦ
指令を与えて給電を強制的に中止することもできる。こ
のようにすれば、使用条件として適さない環境での顕微
鏡システムの使用を防止できる。

【０１７４】次に、顕微鏡システムの周囲の湿度を、設
置環境の湿度として湿度検出部６９が検出すると、この
環境湿度の情報は制御部４８へ送られる。制御部４８で
は、湿度検出部６９で検出された環境湿度が予め設定さ
れた動作保証範囲にあるか否かを判断し、この範囲から
外れると、警告表示部７７にその旨を表示させる。これ
により、使用条件として適さない環境での顕微鏡システ
ムの使用に対して警告を発することができる。

【０１７５】同様にして、湿度検出部６９が環境湿度を
検出し、制御部４８が湿度検出部６９で検出された環境
湿度が予め設定された動作保証範囲を超えていることを
判断すると、制御部４８は乾燥部７５へ動作指令を与
え、顕微鏡の周囲を強制的に乾燥させる。これにより、
使用条件に適した環境で顕微鏡システムを使用すること
ができる。

【０１７６】なお、制御部４８では、湿度検出部６９で
検出された環境湿度が予め設定された動作保証範囲から
外れていることを判断した場合、電源回路６５へＯＦＦ
指令を与えて給電を強制的に中止することもできる。こ
のようにすれば、使用条件として適さない環境での顕微
鏡システムの使用を防止できる。

【０１７７】次に、顕微鏡システムの周囲の気圧を、設
置環境の気圧として気圧検出部６６が検出すると、この
環境気圧の情報は制御部４８へ送られる。制御部４８で
は、気圧検出部６６で検出された環境気圧が予め設定さ
れた動作保証範囲にあるか否かを判断し、この範囲から
外れると、警告表示部７７にその旨を表示させる。これ
により、使用条件として適さない環境での顕微鏡システ
ムの使用に対して警告を発することができる。

【０１７８】次に、顕微鏡システムの周囲の明るさを、
設置環境の明るさとして環境照度検出部７０が検出する
と、この環境照度の情報は制御部４８へ送られる。制御
部４８では、モニタ制御部６４に指示を与えて、環境照
度に対する表示部６１での表示の明るさが最適になるよ
うに調整させる。これにより、顕微鏡システムの設置環
境の明るさにかかわらず、最も見やすい表示部６１の明
るさを設定することができ、最適な環境下で観察作業を
行なうことができる。

【０１７９】次に、顕微鏡システムの周囲の環境照明光
の分光特性を環境照明分光特性（または色温度）検出部
７１が検出すると、この分光特性（または色温度）の情
報は、制御部４８へ送られる。制御部４８では、顕微鏡
システムの設置される環境照明下での表示部６１の表示
画像が目視観察像に近い色に再現できる色マトリックス
を求め、色マトリックス設定部５６へ出力する。これに
より、画像調整部５３の色マトリックスは、色マトリッ
クス設定部５６に設定された色マトリックスパターンに
変更され、顕微鏡システムの設置環境における照明光の
分光特性（または色温度）にかかわらず、目視観察と同
じ観察像を表示部６１上に再現できる。

【０１８０】次に、顕微鏡システムに伝えられる振動を
振動検出部７２が検出すると、この振動の振幅情報は制
御部４８へ送られる。制御部４８では、振動検出部７２
で検出された振動の振幅が予め設定された動作保証範囲
にあるか否かを判断し、この範囲から外れると、警告表
示部７７にその旨を警告表示させる。これにより、使用
条件として適さない振動が与えられた状況での顕微鏡シ
ステムの使用に対して警告を発することができる。

【０１８１】同様にして、顕微鏡システムに伝えられる
振動を振動検出部７２が検出すると、制御部４８では、
振動検出部７２で検出された振動の振幅が予め設定され
た動作保証範囲にあるか否かを判断し、この範囲から外
れると、像ぶれ警告表示部７６にその旨を警告表示させ
る。これにより、使用条件として適さない顕微鏡システ
ムの使用に対して警告を発することができる。

【０１８２】また、顕微鏡システムに伝えられる振動を
振動検出部７２が検出すると、制御部４８では、振動検
出部７２で検出された振動の振幅に応じた最長露出時間
を求め、露出時間設定部４５へ出力する。これにより、
観察像の撮像条件として最長露出時間を設定できるの
で、顕微鏡システムにある程度の振動が加わっていて
も、これらの悪条件を意識せずに撮像を続けることがで
きる。

【０１８３】さらに、顕微鏡システムに伝えられる振動
を振動検出部７２が検出し、制御部４８が振動検出部７
２で検出された振動の振幅が予め設定された除振開始範
囲にあると判断すると、制御部４８はアクティブ除振制
御部７８に除振開始を指示する。これにより、顕微鏡シ
ステム自身の振動を除去することができ、使用条件とし
て適さないような環境下での顕微鏡システムの使用が可
能になる。

【０１８４】なお、制御部４８では、検出された振動の
振幅が予め設定された動作保証範囲から外れていること
を判断すると、電源回路６５へＯＦＦ指令を与えて給電
を強制的に中止することもできる。このようにすれば、
使用条件として適さない環境での顕微鏡システムの使用
を防止できる。

【０１８５】次に、顕微鏡システムの設置環境の磁場を
磁場検出部６７が検出すると、この磁場強度に応じた情
報は制御部４８へ送られる。制御部４８では、モニタ制
御部６４に指示を与え、磁場検出部６７で検出された情
報に基いて表示部６１のデガウスを指示する。これによ
り、検鏡者が意識してデガウスを行なわなくても、顕微
鏡システムの設置環境の磁場の変化に応じて自動的にデ
ガウスを行なうことができる。

【０１８６】次に、顕微鏡システムの設置地域をＧＰＳ
などの位置検出部６５１が検出すると、この地域情報は
制御部４８へ送られる。制御部４８では、位置検出部６
５１で検出された地域情報に基いて顕微鏡システムの設
置場所での公用語を求め、システム中で使用する全ての
言語を変更する。これにより、顕微鏡システムが地球上
のどの地域に設置されていても、検鏡者は意識すること
なく、設置地域の言語を使用した表示によるシステムを
操作できる。

【０１８７】なお、以上の各実施の形態で説明した各動
作は、競合しない範囲で同時に行なうことが可能であ
り、図示しない設定部による制御部４８への指示によ
り、検鏡者の必要に応じた各動作を適宜選択可能であ
る。

【０１８８】以上述べたように本発明によれば、顕微鏡
側の設定及び動作状態に基いて電子カメラを最適な条件
に自動的に設定できるので、観察者が電子カメラの扱い
を熟知していなくとも、顕微鏡による観察像を常に最適
な状態で撮像することができる。

【０１８９】本発明の実施の形態に係る顕微鏡システム
は以下の如き構成を有している。

【０１９０】（１） 顕微鏡による観察像の撮像に電子
カメラを使用した顕微鏡システムにおいて、前記顕微鏡
側の少なくとも対物レンズと写真接眼レンズの投影倍率
に係る光学系の組み合わせ、観察方法、及び照明条件の
少なくとも一つの状態に応じて、前記電子カメラにおけ
る撮像素子の撮像動作を最適な状態に設定する制御部を
備えた顕微鏡システム。

【０１９１】（２） 前記顕微鏡の動作を制御する顕微
鏡コントロール部と、前記撮像素子を駆動する撮像素子
駆動部と、を備え、前記制御部は、前記顕微鏡コントロ
ール部から出力される動作情報を検出している間、前記
撮像素子駆動部の撮像素子駆動モードを高速駆動モード
に設定する上記（１）記載の顕微鏡システム。

【０１９２】（３） 前記顕微鏡の動作を制御する顕微
鏡コントロール部と、前記撮像素子を駆動する撮像素子
駆動部と、を備え、前記制御部は、前記顕微鏡コントロ
ール部から出力される対物レンズの種類に基づいて、前
記撮像素子駆動部のビニング数の設定を行なう上記
（１）記載の顕微鏡システム。

【０１９３】（４） 前記制御部は、対物レンズの種類
とそれに対応するビニング数のテーブルを記憶したメモ
リを有し、前記顕微鏡コントロール部から出力される対
物レンズの種類と前記テーブルとを比較してビニング数
を決定し、このビニング数を前記撮像素子駆動部のビニ
ング数として設定する上記（３）記載の顕微鏡システ
ム。

【０１９４】（５） 前記制御部は、対物レンズの種類
とそれに対応する前記電子カメラへ入射する光像のＮＡ
のテーブルを記憶したメモリを有し、前記顕微鏡コント
ロール部から出力される対物レンズの種類と前記テーブ
ルとを比較して前記電子カメラへ入射する光像のＮＡを
求め、このＮＡから前記光像の分解能Ｒを求め、ビニン
グ数をＢ、前記撮像素子の素子ピッチをｐとしたときに
Ｂ＜Ｒ／２ｐを満たす１以上の最大の整数となるビニン
グ数を求め、このビニング数を前記撮像素子駆動部のビ
ニング数として設定する上記（３）記載の顕微鏡システ
ム。

【０１９５】（６） 前記顕微鏡の動作を制御する顕微
鏡コントロール部と、前記撮像素子を駆動する撮像素子
駆動部と、結像レンズ及び中間変倍光学系と、を備え、
前記制御部は、前記顕微鏡コントロール部から出力され
る対物レンズの種類、結像レンズの種類、及び中間変倍
光学系のズーム倍率に基づいて、前記撮像素子駆動部の
ビニング数の設定を行なう上記（１）記載の顕微鏡シス
テム。

【０１９６】（７） 前記制御部は、対物レンズの種
類、結像レンズの種類、及び中間変倍光学系のズーム倍
率の組合せに対応するビニング数のテーブルを記憶した
メモリを有し、前記顕微鏡コントロール部から出力され
る対物レンズの種類、結像レンズの種類、及び中間変倍
光学系のズーム倍率の組合せと前記テーブルとを比較し
てビニング数を決定し、このビニング数を前記撮像素子
駆動部のビニング数として設定する上記（６）記載の顕
微鏡システム （８） 前記制御部は、対物レンズの種類、結像レンズ
の種類、及び中間変倍光学系のズーム倍率の組合せとそ
れに対応する前記電子カメラへ入射する光像のＮＡのテ
ーブルを記憶したメモリを有し、前記顕微鏡コントロー
ル部から出力される対物レンズの種類、結像レンズの種
類、及び中間変倍光学系のズーム倍率と前記テーブルと
を比較して前記電子カメラへ入射する光像のＮＡを求
め、このＮＡから前記光像の分解能Ｒ（＝０．５λ／Ｎ
Ａまたは０．６１λ／ＮＡ：λは光像を構成する光の波
長のうちの一つ）を求め、ビニング数をＢ、前記撮像素
子の素子ピッチをｐとしたときに Ｂ＜Ｒ／２ｐ を満たす１以上の最大の整数となるビニング数を求め、
このビニング数を前記撮像素子駆動部のビニング数とし
て設定する上記（６）記載の顕微鏡システム。

【０１９７】（９） 前記制御部は、対物レンズの種類
に対応するＮＡと倍率のテーブルを記憶したメモリを有
し、前記顕微鏡コントロール部から出力される対物レン
ズの種類と前記テーブルとを比較して対物レンズのＮＡ
を求め、前記顕微鏡コントロール部から出力される対物
レンズの種類、結像レンズの種類、及び中間変倍光学系
のズーム倍率から前記顕微鏡の光学系の結像倍率を求
め、前記対物レンズのＮＡと前記光学系の結像倍率から
下式により前記電子カメラへ入射する光像のＮＡを求
め、 ＮＡ＝対物レンズのＮＡ／光学系の結像倍率 このＮＡから光像の分解能Ｒ（＝０．５λ／ＮＡまたは
０．６１λ／ＮＡ：λは光像を構成する光の波長のうち
の一つ）を求め、ビニング数をＢ、撮像素子の素子ピッ
チをｐとしたときに Ｂ＜Ｒ／２ｐ を満たす１以上の最大の整数となるビニング数を求め、
このビニング数を前記撮像素子駆動部のビニング数とし
て設定する上記（６）記載の顕微鏡システム。

【０１９８】（１０） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、自動露出制御を行なうＡＥ演算
部を備え、前記制御部は、検鏡法と、それに応じた露出
演算モードのＡＥ演算モードテーブルを記憶したメモリ
を有し、前記顕微鏡コントロール部から出力される検鏡
法と前記テーブルとを比較して露出演算モードを決定
し、この露出演算モードを前記ＡＥ演算部に設定する上
記（１）記載の顕微鏡システム。

【０１９９】（１１） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、自動露出制御を行なうＡＥ演算
部を備え、前記制御部は、前記顕微鏡コントロール部か
ら出力される前記顕微鏡の光路の切換え情報を検出して
いる間、前記ＡＥ演算部における露出時間制御を停止さ
せる上記（１）記載の顕微鏡システム。

【０２００】（１２） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、前記撮像素子で撮像された画像
データを記憶するフレームメモリと、を備え、前記制御
部は、前記顕微鏡コントロール部から出力される前記顕
微鏡の光路の切換え情報を検出している間、前記フレー
ムメモリへの画像データの書き換えを停止させる上記
（１）記載の顕微鏡システム。

【０２０１】（１３） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、前記撮像素子の冷却を行なう冷
却部と、を備え前記制御部は、前記顕微鏡コントロール
部から出力される検鏡法に応じて前記冷却部に設定する
設定温度を変化させる上記（１）記載の顕微鏡システ
ム。

【０２０２】（１４） 顕微鏡による観察像の撮像に電
子カメラを使用した顕微鏡システムにおいて、前記顕微
鏡側の少なくとも対物レンズと写真接眼レンズの投影倍
率に係る光学系の組み合わせ、観察方法、及び照明条件
の少なくとも一つの状態に応じて、前記電子カメラで撮
像された画像の調整動作を最適な状態に設定する制御部
を備えた顕微鏡システム。

【０２０３】（１５） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、前記撮像素子で撮像された画像
データを調整する画像調整部と、を備え、前記制御部
は、対物レンズの種類に応じたシェーディング補正パタ
ーンを記憶したメモリを有し、前記顕微鏡コントロール
部から出力される対物レンズの種類と前記メモリの内容
とを比較し、対物レンズの種類に応じたシェーディング
補正パターンを前記画像調整部に設定し、前記画像調整
部は、設定されたシェーディング補正パターンにより画
像データのシェーディング補正を行なう上記（１４）記
載の顕微鏡システム。

【０２０４】（１６） 前記シェーディング補正パター
ンは、前記撮像素子の撮像面上の位置に応じたゲイン補
正値を記憶したパターンであり、前記画像調整部は、前
記パターンのゲイン補正値に基づいて、前記撮像素子の
撮像面上の位置に対応する画像データのゲイン補正を行
なう上記（１５）記載の顕微鏡システム。

【０２０５】（１７） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、前記撮像素子で撮像された画像
データを調整する画像調整部と、結像レンズ及び中間変
倍光学系と、を備え、前記制御部は、対物レンズの種類
と中間変倍光学系のズーム倍率とに応じたシェーディン
グ補正パターンを記憶したメモリを有し、前記顕微鏡コ
ントロール部から出力される対物レンズの種類及び中間
変倍光学系のズーム倍率と前記メモリの内容とを比較
し、中間変倍光学系のズーム倍率に応じたシェーディン
グ補正パターンを前記画像調整部に設定し、前記画像調
整部は、設定されたシェーディング補正パターンにより
画像データのシェーディング補正を行なう上記（１４）
記載の顕微鏡システム。

【０２０６】（１８） 前記シェーディング補正パター
ンは、前記撮像素子の撮像面上の位置に応じたゲイン補
正値を記憶したパターンであり、前記画像調整部は、前
記パターンのゲイン補正値に基づいて、前記撮像素子の
撮像面上の位置に対応する画像データのゲイン補正を行
なう上記（１７）記載の顕微鏡システム。

【０２０７】（１９） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、前記撮像素子で撮像された画像
データを調整する画像調整部と、中間変倍光学系と、を
備え、前記制御部は、対物レンズの種類に応じたシェー
ディング補正パターンを記憶したメモリを有し、前記顕
微鏡コントロール部から出力される対物レンズの種類と
前記メモリの内容とを比較し、対物レンズの種類に応じ
たシェーディング補正パターンを求め、このシェーディ
ング補正パターンを前記中間変倍光学系のズーム倍率に
応じて補正し、このシェーディング補正パターンを前記
画像調整部に設定し、前記画像調整部は、設定されたシ
ェーディング補正パターンにより画像データのシェーデ
ィング補正を行なう上記（１４）記載の顕微鏡システ
ム。

【０２０８】（２０） 前記シェーディング補正パター
ンは、前記撮像素子の撮像面上の位置に応じたゲイン補
正値を記憶したパターンであり、前記画像調整部は、前
記パターンのゲイン補正値に基づいて、前記撮像素子の
撮像面上の位置に対応する画像データのゲイン補正を行
なう上記（１９）記載の顕微鏡システム。

【０２０９】（２１） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、前記撮像素子で撮像された画像
データを調整する画像調整部と、結像レンズと、を備
え、前記制御部は、対物レンズと結像レンズの組合せに
応じたシェーディング補正パターンを記憶したメモリを
有し、前記顕微鏡コントロール部から出力される結像レ
ンズの種類と前記メモリの内容とを比較し、結像レンズ
の種類に応じたシェーディング補正パターンを前記画像
調整部に設定し、前記画像調整部は、設定されたシェー
ディング補正パターンにより画像データのシェーディン
グ補正を行なう上記（１４）記載の顕微鏡システム顕微
鏡システム。

【０２１０】（２２） 前記シェーディング補正パター
ンは、前記撮像素子の撮像面上の位置に応じたゲイン補
正値を記憶したパターンであり、前記画像調整部は、前
記パターンのゲイン補正値に基づいて、前記撮像素子の
撮像面上の位置に対応する画像データのゲイン補正を行
なう上記（２１）記載の顕微鏡システム。

【０２１１】（２３） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、前記撮像素子で撮像された画像
データを調整する画像調整部と、を備え、前記制御部
は、照明条件に応じた色マトリックスを記憶したメモリ
を有し、前記顕微鏡コントロール部から出力される照明
条件と前記メモリの内容とを比較し、照明条件に応じた
色マトリックスを前記画像調整部に設定し、前記画像調
整部は、設定された色マトリックスにより画像データの
色変換を行なう上記（１４）記載の顕微鏡システム。

【０２１２】（２４） 顕微鏡による観察像の撮像に電
子カメラを使用した顕微鏡システムにおいて、前記顕微
鏡側の少なくとも対物レンズと写真接眼レンズの投影倍
率に係る光学系の組み合わせ、及び観察方法の少なくと
も一方の状態に応じて、前記電子カメラで撮像された画
像の記録を最適な状態に設定する制御部を備えた顕微鏡
システム。

【０２１３】（２５） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、前記撮像素子で撮像された画像
データを調整する画像調整部と、を備え、前記制御部
は、前記顕微鏡コントロール部から出力される対物レン
ズの種類に基づいて、前記画像記録部の記録画素数の設
定を行なう上記（２４）記載の顕微鏡システム。

【０２１４】（２６） 前記制御部は、対物レンズの種
類とそれに対応する前記電子カメラへ入射する光像のＮ
Ａのテーブルを記憶したメモリを有し、前記顕微鏡コン
トロール部から出力される対物レンズの種類と前記テー
ブルとを比較して前記電子カメラへ入射する光像のＮＡ
を求め、このＮＡから光像の分解能Ｒ（＝０．５λ／Ｎ
Ａまたは０．６１λ／ＮＡ：λは光像を構成する光の波
長のうちの一つ）を求め、記録画像の画素ピッチをＩｐ
としたときに Ｉｐ＜Ｒ／２ を満たす最大の画素ピッチとなる記録画素数を求め、こ
の記録画素数を前記画像記録部の記録画素数として設定
する上記（２５）記載の顕微鏡システム。

【０２１５】（２７） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部と、前記撮像素子で撮像された画像
データを調整する画像調整部と、結像レンズ及び中間変
倍光学系と、を備え、前記制御部は、前記顕微鏡コント
ロール部から出力される対物レンズの種類、結像レンズ
の種類、及び中間変倍光学系のズーム倍率に基づいて、
前記画像記録部の記録画素数の設定を行なう上記（２
４）記載の顕微鏡システム。

【０２１６】（２８） 前記制御部は、対物レンズの種
類、結像レンズの種類、及び中間変倍光学系のズーム倍
率の組合せとそれに対応する前記電子カメラへ入射する
光像のＮＡのテーブルを記憶したメモリを有し、前記顕
微鏡コントロール部から出力される対物レンズの種類、
結像レンズの種類、及び中間変倍光学系のズーム倍率と
前記テーブルとを比較して前記電子カメラへ入射する光
像のＮＡを求め、このＮＡから光像の分解能Ｒ（＝０．
５λ／ＮＡまたは０．６１λ／ＮＡ：λは光像を構成す
る光の波長のうちの一つ）を求め、記録画像の画素ピッ
チをＩｐとしたときに Ｉｐ＜Ｒ／２ を満たす最大の画素ピッチとなる記録画素数を求め、こ
の記録画素数を前記画像記録部の記録画素数として設定
する上記（２７）記載の顕微鏡システム。

【０２１７】（２９） 前記制御部は、対物レンズの種
類に対応するＮＡと倍率のテーブルを記憶したメモリを
有し、前記顕微鏡コントロール部から出力される対物レ
ンズの種類と前記テーブルとを比較して、対物レンズの
ＮＡを求め、前記顕微鏡コントロール部から出力される
対物レンズの種類、結像レンズの種類、及び中間変倍光
学系のズーム倍率から前記顕微鏡の光学系の結像倍率を
求め、前記対物レンズのＮＡと前記光学系の結像倍率か
ら下式により前記電子カメラへ入射する光像のＮＡを求
め、 ＮＡ＝対物レンズのＮＡ／光学系の結像倍率 このＮＡから光像の分解能Ｒ（＝０．５λ／ＮＡまたは
０．６１λ／ＮＡ：λは光像を構成する光の波長のうち
の一つ）を求め、記録画像の画素ピッチをＩｐとしたと
きに Ｉｐ＜Ｒ／２ を満たす最大の画素ピッチとなる記録画素数を求め、こ
の記録画素数を前記画像記録部の記録画素数として設定
する上記（２７）記載の顕微鏡システム。

【０２１８】（３０） 顕微鏡による観察像の撮像に電
子カメラを使用した顕微鏡システムにおいて、前記顕微
鏡の動作状態に応じて観察画像の表示部への表示方法を
最適な状態に設定する制御部を備えた顕微鏡システム。

【０２１９】（３１） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部を備え、前記制御部は、前記顕微鏡
コントロール部が出力する検鏡法が蛍光観察である場
合、その露光中は、前記表示部による表示をＯＦＦにす
る上記（３０）記載の顕微鏡システム。

【０２２０】（３２） 前記顕微鏡の動作を制御する顕
微鏡コントロール部を備え、前記制御部は、前記顕微鏡
コントロール部が出力する検鏡法が蛍光観察であり、か
つ静止画撮影を指示した場合、その露光中は、前記表示
部の一部に残露出時間を表示し、他の部分は低輝度また
は無発光状態にする上記（３０）記載の顕微鏡システ
ム。

【０２２１】なお、本発明は上記各実施の形態のみに限
定されず、要旨を変更しない範囲で適宜変形して実施で
きる。

【０２２２】

【発明の効果】本発明によれば、顕微鏡側の設定及び動
作状態に基いて電子カメラを最適な条件に自動的に設定
可能にした顕微鏡システムを提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る顕微鏡システムの構
成を示す図である。

【図２】本発明の実施の形態に係る顕微鏡システムの詳
細な構成を示す図である。

【図３】本発明の実施の形態に係る顕微鏡システムに用
いられる電子カメラの構成を示すブロック図である。

【図４】本発明の実施の形態に係るビニングを説明する
ための図である。

【図５】本発明の実施の形態に係る顕微鏡及び電子カメ
ラの構成を示す図である。

【図６】本発明の実施の形態に係る動作手順を示すフロ
ーチャートである。

【図７】本発明の実施の形態に係る動作手順を示すフロ
ーチャートである。

【図８】本発明の実施の形態に係る顕微鏡及び電子カメ
ラの構成を示す図である。

【図９】本発明の実施の形態に係るシェーディング補正
を説明するための図である。

【図１０】（ａ）は本発明の実施の形態に係る入出力特
性ＬＵＴを示す図、（ｂ）は本発明の実施の形態に係る
入出力特性を示す図。

【図１１】本発明の実施の形態に係る動作手順を示すフ
ローチャートである。

【図１２】本発明の実施の形態に係る中間変倍光学系に
よるシェーディングの変化を示す図である。

【図１３】本発明の実施の形態に係る動作手順を示すフ
ローチャートである。

【図１４】本発明の実施の形態に係る動作手順を示すフ
ローチャートである。

【図１５】本発明の実施の形態に係る入出力特性ＬＵＴ
を示す図である。

【図１６】本発明の実施の形態に係る動作手順を示すフ
ローチャートである。

【図１７】本発明の実施の形態に係る動作手順を示すフ
ローチャートである。

【図１８】本発明の実施の形態に係る顕微鏡及び電子カ
メラの構成を示す図である。

【図１９】本発明の実施の形態に係る動作手順を示すフ
ローチャートである。

【図２０】本発明の実施の形態に係る顕微鏡及び電子カ
メラの構成を示す図である。

【符号の説明】

１…顕微鏡本体 ３…試料 ５…三眼鏡筒ユニット ６…接眼レンズユニット ２６…ステージ ２７…対物レンズ ３６…電子カメラ １００…結像レンズユニット １１…透過照明光学系 １２…落射照明光学系 １３…透過照明用光源 １４…コレクタレンズ １５…透過用フィルタユニット １６…透過視野絞り １６１…透過シャッタ １７…折曲げミラー １８…透過開口絞り １９…コンデンサ光学素子ユニット ２０…トップレンズユニット ２１…落射照明用光源 ２２…落射用フィルタユニット ２３…落射シャッタ ２４…落射視野絞り ２５…落射開口絞り ２６…試料ステージ ２７…対物レンズ ２８…レボルバ ２９…対物レンズ側光学素子ユニット ３０…キューブユニット ３１…ビームスプリッタ ３３…中間変倍光学系（ズーム鏡筒） ３４…ビームスプリッタ ３５…写真接眼レンズユニット ３６…電子カメラ ３７…駆動回路部 ３８…対物レンズ検出部 ３９…リタデーション調整動作検出部 ４０…写真接眼レンズ検出部 ４１…顕微鏡コントロール部 ４２…撮像素子 ４３…前置処理部 ４４…ＡＥ設定部 ４５…露出時間設定部 ４６…ビニング数設定部 ４７…ＣＣＤ駆動モード設定部 ４８…制御部 ４８ａ…メモリ ４９…ＣＣＤ駆動部 ５０…ゲイン設定部 ５１…フレームメモリ ５２…メモリコントローラ ５３…画像調整部 ５３１…シェーディング補正部 ５３２…色バランス補正部 ５３３…色マトリックス補正部 ５３４…階調特性補正部 ５３５…フィルタ部 ５４…フィルタ設定部 ５５…シェーディング補正パターン設定部 ５６…色マトリックス設定部 ５７…色バランス設定部 ５８…階調特性設定部 ５９…画像記録部 ６０…表示処理部 ６１…表示部 ６２…画像圧縮率設定部 ６３…画像記録画素数設定部 ６４…モニタ制御部 ６５…電源回路 ６５１…位置検出部 ６６…気圧検出部 ６７…磁場検出部 ６８…温度検出部 ６９…湿度検出部 ７０…環境照度検出部 ７１…環境照明分光特性（または色温度）検出部 ７２…振動検出部 ７３…冷却部 ７４…暖房部 ７５…乾燥部 ７６…像ぶれ警告表示部 ７７…警告表示部 ７８…アクティブ除振制御部 ７９…アクティブ除振ユニット

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） // Ｈ０４Ｎ 101:00 Ｈ０４Ｎ 101:00 (72)発明者 益山 英之 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 上田 均 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 斉藤 光彦 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】顕微鏡による観察像の撮像に電子カメラを
   使用した顕微鏡システムにおいて、 前記顕微鏡側の少なくとも対物レンズと写真接眼レンズ
   の投影倍率に係る光学系の組み合わせ、観察方法、及び
   照明条件の少なくとも一つの状態に応じて、前記電子カ
   メラにおける撮像素子の撮像動作を最適な状態に設定す
   る制御部を備えた顕微鏡システム。
2. 【請求項２】顕微鏡による観察像の撮像に電子カメラを
   使用した顕微鏡システムにおいて、 前記顕微鏡側の少なくとも対物レンズと写真接眼レンズ
   の投影倍率に係る光学系の組み合わせ、観察方法、及び
   照明条件の少なくとも一つの状態に応じて、前記電子カ
   メラで撮像された画像の調整動作を最適な状態に設定す
   る制御部を備えた顕微鏡システム。
3. 【請求項３】顕微鏡による観察像の撮像に電子カメラを
   使用した顕微鏡システムにおいて、 前記顕微鏡側の少なくとも対物レンズと写真接眼レンズ
   の投影倍率に係る光学系の組み合わせ、及び観察方法の
   少なくとも一方の状態に応じて、前記電子カメラで撮像
   された画像の記録を最適な状態に設定する制御部を備え
   た顕微鏡システム。
4. 【請求項４】顕微鏡による観察像の撮像に電子カメラを
   使用した顕微鏡システムにおいて、 前記顕微鏡の動作状態に応じて観察画像の表示部への表
   示方法を最適な状態に設定する制御部を備えた顕微鏡シ
   ステム。