JP2003185936A - 顕微鏡システム - Google Patents
顕微鏡システムInfo
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Abstract
置に表示される画像を最適な状態に制御することができ
る顕微鏡システムを提供することを目的とする。 【解決手段】 試料の観察状態を変更する複数の被調整
部材と、試料の光学像を撮像して画像を生成する撮像手
段と、撮像手段により生成される画像を表示し、表示画
像に基づき表示条件を変更できる表示手段とを備え、表
示手段により表示すべき画像の表示条件に応じて、複数
の被調整部材のうち制御すべき被調整部材の制御内容と
撮像手段の撮像条件とを関連付けて決定し、決定した内
容に従って被調整部材と撮像手段とを互いに関連させて
制御する。
Description
する機能を備えた顕微鏡システムに関する。
物レンズおよび絞りなどの被調整部材が電動化された顕
微鏡と、顕微鏡による観察像を撮像する電子カメラなど
の撮像装置と、このような撮像により得られる試料の画
像を表示するモニタなどの表示装置とを備えた顕微鏡シ
ステムが知られている。
鏡の制御は、それぞれの被調整部材に対するユーザの指
示に応じて行われていた。例えば、倍率を変更する場
合、ユーザは、まずレボルバを切り換え、好みの倍率が
得られない場合は中間変倍機構を調整する。従来の電動
化された顕微鏡システムには、倍率変更に伴う明るさや
コントラストの変化に対応すべく顕微鏡の各被調整部材
(開口絞り、NDフィルタ、ランプなど)を予め記憶さ
れている状態(設計値)へと制御する機能を備えたもの
がある。しかし、このような顕微鏡システムにおいて、
顕微鏡では、ユーザが顕微鏡の接眼レンズを介して試料
を観察することを目的として、接眼部で最適化された光
量となるように被調整部材の制御が行われ、撮像装置で
は、その制御された光量の試料の像を撮像するための制
御が行われていた。すなわち、顕微鏡に対する制御と撮
像装置に対する制御とが独立して行われていた。
テムでは、顕微鏡の接眼部での試料像が最適な明るさに
制御されていても、撮像装置側では自動露出制御範囲外
となり、表示装置を介して試料を観察する場合、表示装
置に表示される試料の画像が明るすぎたり、暗すぎたり
する場合があり、ユーザはこのような場合、再度、顕微
鏡と撮像装置とのそれぞれに対して微調整を行わなけれ
ばならなかった。同様に、試料像のコントラストが低下
した場合も両者の微調整が必要であった。
が限定される蛍光観察(主に落射蛍光観察)を効率良く行
うために、DIC(微分干渉コントラスト)観察で試料
の構図や大きさを決定してから蛍光観察を行う場合があ
る。このような場合、まず、DIC観察を行うための被
調整部材が顕微鏡装置内で設定され、その後、蛍光観察
を行うための被調整部材が顕微鏡装置内で設定される
が、DIC観察から蛍光観察への切り換えにより、表示
画面に表示される画像の明るさやコントラストが急激に
変化してしまうことがある。そのため、ユーザが、画像
を最適な状態にするように明るさの調整を行ったり、コ
ントラストの調整を行っている間に発光量が減少してし
まい、観察を効率良く行うことができなかった。
てなされたものであり、ユーザが煩雑な作業を行うこと
なく、表示装置に表示される試料の画像を最適な状態に
制御すること(以下、「画像の最適化」と称する)がで
きる顕微鏡システムを提供することを目的とする。
システムは、試料の観察状態を変更する複数の被調整部
材と、前記試料の光学像を撮像して画像を生成する撮像
手段と、前記撮像手段により生成される画像を表示し、
前記表示画像に基づき表示条件を変更できる表示手段
と、前記表示手段により表示すべき画像の前記表示条件
に応じて、前記複数の被調整部材のうち制御すべき被調
整部材の制御内容と前記撮像手段の撮像条件とを関連付
けて決定し、決定した内容に従って前記被調整部材と前
記撮像手段とを互いに関連させて制御する制御手段とを
備えたことを特徴とする。
項1に記載の顕微鏡システムにおいて、前記表示手段の
表示画面上において前記画像の表示条件を設定できる表
示条件設定手段を備え、前記制御手段は、前記表示手段
に既に表示されている画像の表示条件から前記表示条件
設定手段により再設定された画像の表示条件への変更に
応じて、前記制御すべき被調整部材の制御内容と前記撮
像条件とを決定することを特徴とする。
項2に記載の顕微鏡システムにおいて、前記制御手段
は、前記表示条件設定手段により設定された画像の表示
条件に応じて、前記観察手段の複数の被調整部材のうち
制御すべき被調整部材の制御内容と前記撮像手段の撮像
条件とを決定する際に、前記表示条件設定手段により設
定された以外の画像の表示条件を、前記表示手段に既に
表示されている画像の表示条件に保つことを特徴とす
る。
項2または請求項3の何れか1項に記載の顕微鏡システ
ムにおいて、前記制御手段は、前記表示条件設定手段に
より明るさ以外の画像の表示条件が設定された場合、前
記表示手段に既に表示されている画像の明るさが保たれ
るように、前記制御すべき被調整部材の制御内容と前記
撮像条件とを決定することを特徴とする。
項1に記載の顕微鏡システムにおいて、検鏡方法の設定
に係るユーザ操作を受け付ける検鏡方法設定手段を備
え、前記制御手段は、前記表示手段に既に表示されてい
る画像の表示条件が保たれるように、前記制御すべき被
調整部材の制御内容と前記撮像条件とを、前記検鏡方法
設定手段により設定された検鏡方法に基づいて決定する
ことを特徴とする。請求項6に記載の顕微鏡システム
は、請求項5に記載の顕微鏡システムにおいて、前記制
御手段は、前記表示手段に表示されている画像の明るさ
が最適に保たれるように、前記制御すべき被調整部材の
制御内容と前記撮像条件とを、前記検鏡方法設定手段に
より設定された検鏡方法に基づいて決定することを特徴
とする。
図面を用いて詳細に説明する。図1は、本発明の実施形
態における顕微鏡システムの構成を示すブロック図であ
る。図1に示すように、顕微鏡システム1は、電子カメ
ラ2、顕微鏡10および画像処理装置30から構成さ
れ、光学的に像を観察する接眼部を備えていない。
微鏡制御部11には各被調整部材が相互に接続されてい
る。このような被調整部材として図1では、電動XYス
テージ12、電動Z上下動13、電動レボルバ14、電
動中間変倍機構15、電動視野絞り16、電動開口絞り
17、電動NDフィルタ18およびランプ19を示して
いる。
用される被調整部材(図示省略)から成る電動検鏡方法
切換部20を備え、電動検鏡方法切換部20と顕微鏡制
御部11とは相互に接続されている。画像処理装置30
は、画像処理装置制御部31、マウス32、キーボード
33、モニタ34、インタフェース部35および表示画
像生成部36を備えている。画像処理装置制御部31
は、インタフェース部35を介して、マウス32および
キーボード33に接続され、マウス32およびキーボー
ド33の状態を示す信号をインタフェース部35を介し
て取得する。
像生成部36に接続される。表示画像生成部36は、液
晶表示装置などのモニタ34に接続され、画像処理装置
制御部31の指示に応じて、モニタ34に表示すべき画
像を生成して、モニタ34に表示する。さらに、画像処
理装置制御部31は、インタフェース部35を介して、
電子カメラ2と相互に接続され、電子カメラ2に対して
撮像条件などを通知し、電子カメラ2により得られる試
料の画像データを取得し、表示画像生成部36に出力す
ると共に、不図示の記録部(ハードディスク、コンパク
トフラッシュ(登録商標)など)に記録する。
と画像処理装置制御部31での制御条件(撮像条件を含
む)とはマッチングがとれており、ユーザが見ているモ
ニタ34で表示された画像と、記録部に記録された画像
データとは一致している。また、画像処理装置制御部3
1は、インタフェース部35を介して、顕微鏡10内の
顕微鏡制御部11と相互に接続され、顕微鏡制御部11
に対して各被調整部材の制御内容を通知し、顕微鏡制御
部11から供給される各被調整部材の状態を示すデータ
を取得する。
1において、ユーザ操作は、モニタ34に表示されるG
UI(Graphical User Interface)の表示画面に基づく
マウス32やキーボード33の操作によって実現され
る。GUIの表示画面は、画像処理装置制御部31の指
示に応じて表示画像生成部36で生成される。表示画像
生成部36では、電子カメラ2により得られる試料の画
像データに所定のアイコンを重ね合わせて、GUIの表
示画面を生成する。
表示画面の例を示す図である。図2において、モニタ3
4の画像表示領域40には、試料の画像が表示されてお
り、画像表示領域40上に各種アイコンが配置されてい
る。画像表示領域40の右側の領域に配置されているア
イコン41〜47は、画像の表示条件の設定に係るユー
ザ操作を受け付けるためのアイコンである。本実施形態
では、表示条件として、大きさ、コントラスト、明るさ
を用い、アイコン41および42の操作により大きさの
設定が行われ、アイコン43およびアイコン44の操作
によりコントラストの設定が行われ、アイコン45およ
びアイコン46の操作により明るさの設定が行われる。
マクロ観察用アイコン47は、試料全体の画像を表示さ
せる際に操作される。
置されているアイコン60〜64は、検鏡方法の設定に
係るユーザ操作を受け付けるためのアイコンである。ア
イコン60の操作により明視野観察の設定が行われ、ア
イコン61の操作により暗視野観察の設定が行われ、ア
イコン62の操作により蛍光観察の設定が行われ、アイ
コン63の操作により位相差観察の設定が行われ、アイ
コン64の操作によりDIC観察の設定が行われる。
UIの表示画面では、マウス32などを介して、画像表
示領域40上の任意の領域(図2では、点線で囲まれる
領域に相当する)を拡大表示させるための領域指定の操
作や、画像表示領域40上の任意の位置を視野の中心に
移動させるさせるための視野中心指定の操作が行われ
る。
システム1の動作を示すフローチャートであり、特に、
図2に示したGUIの表示画面に対する操作が行われた
際の画像処理装置制御部31の動作を示している。この
ような動作は、画像処理装置制御部31内の不図示のメ
モリに予め記録されている制御プログラムに応じて行わ
れるものとする。
1の動作を説明する。まず、ステップS1において、画
像処理装置制御部31は、マウス32やキーボード33
を介し、ユーザによるGUIの表示画面に対する操作が
行われた否かを判定する。そして、このような操作が行
われなかった場合、画像処理装置制御部31は、ステッ
プS1を繰り返し、操作が行われるまで待機する。
部31は、GUIの表示画面に対する操作に応じて、予
め内部に記録されているルックアップテーブル(以下、
「LUT」と称する)と、既に表示画面に表示されてい
る画像の表示条件とに基づき、顕微鏡10の制御内容
(制御すべき被調整部材および制御すべき被調整部材の
制御量など)と、電子カメラ2の撮像条件とを関連付け
て決定する。
の表示条件としては、大きさ、コントラスト、明るさな
どがあり、このような表示条件は、モニタ34上の座標
位置データ、輝度情報、高周波成分情報などに基づくも
のとする。図4は、ユーザにより表示条件の設定に係る
操作が行われた場合に用いられるLUTの例である。
表示条件の設定に係る操作(アイコン41〜47に対す
る操作など)が行われると、操作内容に応じて、図4に
示すLUTと、既に表示画面に表示されている画像の表
示条件とに基づき、○印の記されている顕微鏡10の制
御内容と電子カメラ2の撮像条件とを関連付けて決定す
る。このような決定の際、既に表示画面に表示されてい
る画像の表示条件が変動する可能性がある場合、さら
に、△印の記されている顕微鏡10の制御内容と電子カ
メラ2の撮像条件とを関連付けて決定する。
る操作が行われた場合に用いられるLUTの例である。
画像処理装置制御部31は、ユーザにより検鏡方法の設
定に係る操作(アイコン60〜64に対する操作など)
が行われると、検鏡方法に応じて、図5に示すLUT
と、既に表示画面に表示されている画像の表示条件とに
基づき、○印の記されている顕微鏡10の制御内容を決
定する。このような決定の際、既に表示画面に表示され
ている画像の表示条件が変動する可能性がある場合、さ
らに、△印の記されている顕微鏡10の制御内容を決定
する。
の被調整部材として、電動フィルタブロック、電動エピ
シャッタ、電動アナライザ、電動ポラライザおよび電動
ユニバーサルコンデンサが示されているが、このような
構成は公知技術であるので詳細な説明および図示を省略
する。また、電子カメラ2の撮像条件については、既に
表示画面に表示されている画像の表示条件を保つように
決定されるものとする。
部31は、ステップS2において決定した内容に従って
顕微鏡10および電子カメラ2に対する制御を行う。す
なわち、画像処理装置制御部31は、ステップS2にお
いて決定した顕微鏡10の制御内容を顕微鏡制御部11
に通知して制御するとともに、電子カメラ2の撮像条件
を電子カメラ2に通知して制御する。
1によれば、ユーザが、例えば、大きさ設定用のアイコ
ン41および42を操作すると、図4のLUTにおい
て、○印が記されている顕微鏡10の被調整部材の制御
内容(電動レボルバ14、電動中間変倍機構15)およ
び電子カメラ2の電子ズームの撮像条件が関連付けて決
定され、制御される。
42の操作により、試料の観察倍率が変更されると、大
きさ以外の撮像条件が変動する可能性がある。その場合
には、従来の電動化された顕微鏡システムのように接眼
部に合わせて各種被調整部材(NDフィルタ、各種絞り
など)を調整した後に電子カメラの撮像条件を決定する
のでは既に述べたように自動制御範囲外となる問題があ
るので、顕微鏡10の被調整部材と電子カメラ2の撮像
条件とを図4に示すように適宜、調整することになる。
電動Z上下動13、電動視野絞り16、電動開口絞り1
7、電動NDフィルタ18、ランプ19および電子カメ
ラ2のCCD露光時間、ゲインコントロールも関連付け
て制御される。つまり、本実施形態の顕微鏡システム1
によれば、ユーザが、大きさ設定用のアイコン41,4
2を操作するだけで、大きさを変更するとともに、大き
さの変更後に大きさ以外の表示条件(例えば、明るさ)
が保たれるように顕微鏡10の制御内容と電子カメラ2
の撮像条件とが決定されることになる。
件)を決定する場合に、まず顕微鏡10の電動開口絞り
17や電動NDフィルタ18により露出がアンダー気味
になるように設定しておき、電子カメラ2のCCD露出
時間(電子シャッタ)やゲインコントロールによって適
正露出となるように上記の撮像条件を決定する。このよ
うに決定すれば、電子カメラ2側での露出制御範囲が広
がり、撮像される試料側の明るさ(露出)変化に対して
十分に対応でき、適正露出を得ることができる。また、
それでも電子カメラ2側において適正露出制御範囲外と
なっている場合には、顕微鏡10の各種被調整部材が再
調整され、電子カメラ2側で適正露出を得ることができ
る。すなわち、顕微鏡10の各種被調整部材の制御内容
と電子カメラ2の撮像条件とを互いに関連させ、補い合
うように制御する。
部材のそれぞれに対して制御を行う必要や、電子カメラ
2の撮像条件を一つずつ設定する必要が無くなり、表示
画面に表示されている画像をどのようにしたいかという
イメージに基づいて指示を行うことが可能になる。その
結果、ユーザは顕微鏡10および電子カメラ2のどの部
分を制御すべきかを意識する必要も無くなり、一般的な
顕微鏡および電子カメラについての知識や経験が乏しい
初心者などのユーザでも手軽に利用することが可能にな
る。
用アイコン43,44を操作すると、図4に示される顕
微鏡10の被調整部材の制御内容(電動開口絞り17、
電動NDフィルタ18、ランプ19)と電子カメラ2の
撮像条件(CCD露光時間、ゲインコントロール、カラ
ーバランス、輪郭強調)とが関連付けて制御される。具
体的には、図4に示されるように、まず○印の付いてい
る顕微鏡10の電動開口絞り17と電子カメラ2の輪郭
強調の撮像条件とが決定され、所定のコントラストが得
られれば終了するが、更に微調整が必要な場合には△印
の付いている顕微鏡10の被調整部材と電子カメラ2の
撮像条件とが補い合う制御がなされ、適宜、調整される
ことになる。
アイコン(図2の45,46)、マクロ画像用アイコン
(図2の47)、領域指定操作や視野中心指定操作をす
ると、上述したのと同様に、○印の付いているものから
優先的に制御され、補助的に△印の付いたものが制御さ
れることになる。また、ユーザが、例えば、位相差観察
設定用のアイコン63を操作すると、図5のLUTにお
いて、○印が記されている顕微鏡10の電動視野絞り1
6、電動開口絞り17、電動NDフィルタ18、電動フ
ィルタブロック、電動エピシャッタ、電動アナライザ、
電動ポラライザおよび電動ユニバーサルコンデンサが関
連付けて制御され、検鏡方法の変更に伴って明るさなど
の表示条件が変動する可能性がある場合、△印が記され
ているランプ19も制御されるとともに、電子カメラ2
の撮像条件も関連付けて決定され、制御される。
よれば、ユーザが、検鏡方法の設定に係るアイコン(図
2の60〜64)を操作するだけで、検鏡方法を切り換
えるとともに、検鏡方法の変更後に画像の表示条件が保
たれるように、顕微鏡10の制御すべき被調整部材と電
子カメラ2の撮像条件とを関連付けて決定する。
ぐために、DIC観察において焦点合わせや検査領域を
決定し、その後に蛍光観察で検査するので、DIC観察
から蛍光観察への検鏡法切換えは、生物顕微鏡などでは
良く行われる。この場合、DIC観察を設定すると(図
2の64)、図5に示される顕微鏡10の通常被調整部
材の制御内容(電動視野絞り16を開放絞りに設定、電
動開口絞り17を開放絞りに設定、電動NDフィルタ1
8を減光率の最低なものに設定して光量最大に設定、ラ
ンプ19は任意調整)と検鏡方法切換え用の被調整部材
(電動フィルタブロックを中間位置に設定、電動エピシ
ャッタを閉に設定、電動アナライザを光路中に設定、電
動ポラライザを光路中に設定、電動ユニバーサルコンデ
ンサをDIC位置に設定)とが関連付けて制御される。
その後に、蛍光観察に設定されると、図5に示されるよ
うに顕微鏡10の通常被調整部材の制御内容(電動視野
絞り16、電動開口絞り17及び電動NDフィルタ18
は透過照明用であるので制御されず、ランプ19は消灯
される)と検鏡方法切換え用の被調整部材(電動フィル
タブロックを任意フィルタに設定、電動エピシャッタを
閉或いは開に設定、電動アナライザを光路中に設定、電
動ポラライザを光路中に設定、電動ユニバーサルコンデ
ンサを中間位置に設定)とが関連付けて制御される。
鏡方法を切り換えると、電子カメラ2の撮像条件は、D
IC観察では顕微鏡10のランプ19と関連付けられ画
像の表示条件が制御され、蛍光観察では顕微鏡10の電
動エピシャッタと関連付けられ画像の表示条件が制御さ
れる。すなわち、DIC観察では、顕微鏡10のランプ
の光量を変化させて画像の表示条件である明るさを調整
するものであるから、図4から明らかなように、明るさ
設定用アイコンで示した制御対象である顕微鏡10の被
調整部材と電子カメラ2の撮像条件とが関連付けられて
制御される。同様に、蛍光観察では、顕微鏡10の電動
エピシャッタの開閉時間の制御(励起光を照射させる時
間制御)により蛍光観察の画像の表示条件が決定される
ので、顕微鏡10の電動エピシャッタと、上述した明る
さ設定用アイコンで示した電子カメラ2の制御対象とが
関連付けて制御される。
示される画像の明るさやコントラストが急激に変化する
ことが無くなるので、ユーザが明るさやコントラストの
調整を行っている間に発光量が減少してしまうというよ
うな問題を回避し、スムーズに観察を行うことができ
る。なお、本実施形態では、画像の表示条件として、大
きさ、コントラスト、明るさを設定したが、他に色合
い、焦点深度の深さなどを設定しても良いし、検鏡方法
についても偏光観察などの検鏡方法を設定しても良い。
面は実施の一例であり、アイコンの配置および種類は、
この例に限定されない。例えば、画像表示領域40の外
側に各種アイコンを表示しても良いし、ユーザにより何
れかの検鏡方法が設定された場合、その検鏡方法の詳細
を設定するための別のアイコンを新しく表示するように
しても良い。
容は実施の一例であり、顕微鏡システムの構成や検鏡方
法などに応じて変更されるものとする。
顕微鏡と撮像装置とを関連付けて制御を行うことによ
り、表示装置に表示される画像の最適化をはかることが
可能になり、表示装置を介した試料の観察の精度を向上
させることができる。
る。
す図である。
ある。
れた場合に用いられるLUTの例である。
れた場合に用いられるLUTの例である。
Claims (6)
- 【請求項1】 試料の観察状態を変更する複数の被調整
部材と、 前記試料の光学像を撮像して画像を生成する撮像手段
と、 前記撮像手段により生成される画像を表示し、前記表示
画像に基づき表示条件を変更できる表示手段と、 前記表示手段により表示すべき画像の前記表示条件に応
じて、前記複数の被調整部材のうち制御すべき被調整部
材の制御内容と前記撮像手段の撮像条件とを関連付けて
決定し、決定した内容に従って前記被調整部材と前記撮
像手段とを互いに関連させて制御する制御手段とを備え
たことを特徴とする顕微鏡システム。 - 【請求項2】 請求項1に記載の顕微鏡システムにおい
て、 前記表示手段の表示画面上において前記画像の表示条件
を設定できる表示条件設定手段を備え、 前記制御手段は、前記表示手段に既に表示されている画
像の表示条件から前記表示条件設定手段により再設定さ
れた画像の表示条件への変更に応じて、前記制御すべき
被調整部材の制御内容と前記撮像条件とを決定すること
を特徴とする顕微鏡システム。 - 【請求項3】 請求項2に記載の顕微鏡システムにおい
て、 前記制御手段は、前記表示条件設定手段により設定され
た画像の表示条件に応じて、前記観察手段の複数の被調
整部材のうち制御すべき被調整部材の制御内容と前記撮
像手段の撮像条件とを決定する際に、前記表示条件設定
手段により設定された以外の画像の表示条件を、前記表
示手段に既に表示されている画像の表示条件に保つこと
を特徴とする顕微鏡システム。 - 【請求項4】 請求項2または請求項3の何れか1項に
記載の顕微鏡システムにおいて、 前記制御手段は、前記表示条件設定手段により明るさ以
外の画像の表示条件が設定された場合、前記表示手段に
既に表示されている画像の明るさが保たれるように、前
記制御すべき被調整部材の制御内容と前記撮像条件とを
決定することを特徴とする顕微鏡システム。 - 【請求項5】 請求項1に記載の顕微鏡システムにおい
て、 検鏡方法の設定に係るユーザ操作を受け付ける検鏡方法
設定手段を備え、 前記制御手段は、前記表示手段に既に表示されている画
像の表示条件が保たれるように、前記制御すべき被調整
部材の制御内容と前記撮像条件とを、前記検鏡方法設定
手段により設定された検鏡方法に基づいて決定すること
を特徴とする顕微鏡システム。 - 【請求項6】 請求項5に記載の顕微鏡システムにおい
て、 前記制御手段は、前記表示手段に表示されている画像の
明るさが最適に保たれるように、前記制御すべき被調整
部材の制御内容と前記撮像条件とを、前記検鏡方法設定
手段により設定された検鏡方法に基づいて決定すること
を特徴とする顕微鏡システム。
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