JP2009128648A - 顕微鏡観察システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】顕微鏡と、前記顕微鏡により得られた標本像を撮像信号に変換する撮像手段と、前記撮像手段に結像される前記標本像の入射光量を抑制するために、前記顕微鏡に含まれる調整部位群を制御する光量調整手段と、前記撮影信号を所望の状態に調整するために、前記撮像手段に関する調整部位群を制御する撮像調整手段と、前記撮像信号に基づいて前記標本像の明るさを測定する測光手段と、前記撮像信号に基づいて生成された撮像画像が表示される表示手段と、前記光量調整手段と前記撮像調整手段とを制御して、前記表示手段に連続的に表示させる画像の連続表示間隔を示す連続表示速度を制御する制御手段と、を備えることにより、上記課題の解決を図る。
【選択図】 図1
Description
特許文献1の発明によれば、顕微鏡の動作状態に基づきモニタ表示部の表示方法を最適な状態に自動設定する顕微鏡観察システムが提案されている。特許文献1の発明では、観察者が撮影装置の操作に不慣れな場合でも顕微鏡の観察像を常に最適な状態で撮影できるようにしている。
前記顕微鏡観察システムにおいて、前記制御手段は、前記光電変換された撮像信号の信号ノイズレベルを計測し、前記信号ノイズにより劣化する観察画像で観察に耐えうる信号ノイズレベルの基準値を設け、前記計測手段より計測されたノイズレベルが前記基準値を超えたか否かを判定し、該判定結果に基づいて、前記連続表示速度の制御を行うことを特徴とする。
前記顕微鏡観察システムにおいて、前記顕微鏡にて光学系の状態で透過照明光学系が選択されている場合、前記制御手段は前記連続表示速度の制御を行わないことを特徴とする。
顕微鏡観察システムは、さらに、前記光量調整手段または前記撮像調整手段で制御される前記調整部位の調整に関する情報を入力できる調整入力手段を備え、前記制御手段は、前記調整入力手段により調整された前記調整部位以外の調整部位に関して、前記連続表示速度を制御することを特徴とする。
前記顕微鏡観察システムにおいて、前記制御手段は、前記観察位置移動手段により前記標本が移動しており、断続的に光量が変化する前記調整部位を駆動する制御の必要性が発生した場合でも、連続的に変化する調整部位で一旦補正を掛けて表示画像の輝度が一定になるように保つ前記調整補完処理を実行し、前記標本の移動が停止した場合に前記連続表示速度を制御することを特徴とする。
撮像手段は、前記顕微鏡により得られた標本像を撮像信号に光電変換する。撮像手段は、例えば本実施の形態で言えば、撮像素子[36]に相当する。
表示手段は、前記撮像信号に基づいて生成された撮像画像が表示される。表示手段は、例えば本実施の形態で言えば、表示部[46]に相当する。
<第1の実施の形態>
本実施形態では、明視野観察法、蛍光観察法のそれぞれの観察法において、観察画像の明るさが適正な露光なのかを判別し、不適切な場合には、顕微鏡側についてはNDフィルターと開口絞り(AS)とを、撮像装置側については撮像素子の電荷の蓄積時間とゲインとビニングを制御することにより、最適な観察状態とすることについて説明する。
ステージ[8]上方には複数の対物レンズ[11]/[12]がレボルバー[10]に保持されている。レボルバー[10]の回転により観察光路[LP3]の光軸上に挿入すべき対物レンズを交換することができる。レボルバー[10]は、例えば顕微鏡本体のアーム先端部に回転自在に取付けられており、その上部にはキューブターレット[13]が配設されている。
観察試料[9]は、レボルバー[10]に取り付けられた対物レンズ[11]あるいは対物レンズ[12]により拡大され、キューブターレット[13]を介して結像レンズ[35]に入射される。入射された拡大像は、撮像素子(CCD)[36]で焦点を結ぶように結像レンズ[35]にて結像される。
図2は、顕微鏡制御部[34]と撮像制御部[43]の内部構成図である。同図では、顕微鏡制御部[34]と撮像制御部[43]の基本構成は周知のCPU回路構成の一例を示す。CPU[60]と、プログラムを格納するROM[61]、及びプログラム実行時に諸処のデータを格納するRAM[62]は、CPUバス[63]にて接続される。また、図示しない不揮発性のメモリなどを設けることで、電源遮断後もデータの保持が可能な構成になっている。
図3は、システム制御部[44]の内部構成図である。システム制御部[44]は、プログラムの実行を行うCPU[48]と、プログラムを格納するHDD[49]等の不揮発性メモリと、プログラム実行に必要なデータやプログラム自体を読み込んで高速で処理を実行するメインメモリ[50]からなり、これらはシステムバス[51]にて接続される。HDD[49]に関しては、周知の接続方法が種々有り、それぞれに必要なブリッジ(接続するための手段)は省略する。
例えば、操作部[47]は周知のUSB(ユニバーサルシリアルバス)を介して接続され、USB I/F部[78]から情報を得る。操作部[47]としては、周知のキーボード[58]やポインティングデバイス(マウス[59])を使用する。
図4は、撮像素子(CCD)[36]の素子構造を示す平面図である。この場合、受光素子としてフォトダイオード[201]がマトリクス状に配置され、これらフォトダイオードの間に縦列方向に複数本の垂直転送路[202]が配置され、この垂直転送路[202]端部の横方向に1本の水平転送路[203]が配置されている。
垂直転送路[202]を転送された信号電荷は、水平転送路[203]に移送され、この水平転送路[203]を紙面左方向に転送され、信号検出部[204]に転送される。信号検出部[204]の信号を所望のレベルに増幅し、最終的にAMP(読み出しアンプ)[205]を介して外部に出力されるようになっている。
同図[d]に示すV転送パルスは、水平同期信号HDと同期して垂直転送路[202]内で電荷を転送するための電荷転送パルスとして出力される。
このようにして撮像素子(CCD)[36]から出力された信号はCDS[38]に入力される。CDS[38]では、撮像素子(CCD)[36]からの信号を後段回路で画像データとして扱える信号出力のみに抽出する作業を行う。
同図[c’]の電荷移送パルスTGを間引くことにより、2フレーム分の露光時間(露光A’)での露光(同図[f’])を可能にした一例である。また、露光中は電荷の排出も抑制する必要があるので、電荷移送パルスVSUB(同図[e’])も出力されない。
次に上記とは逆に撮像素子(CCD)[36]への入射光量が強すぎ、フォトダイオード[201]の電荷が飽和してしまった場合は、蓄積時間を短くする必要が生じる。
しかしながら、1フレームでの露光で飽和してしまう強い光量の場合は、これ以上蓄積時間を短くできない。このような場合には、電子シャッターモードを利用して露光量の調整を行う。
画像信号(同図[g”])からフレームメモリ[42]への書き込みタイミングは、図5と同様である。
ところが、上記蓄積時間を延ばし、ある時間以上の蓄積を越える場合は撮像素子(CCD)[36]からのデータ出力間隔が長くなる。フレームメモリ[42]への書き込み間隔も長くなり、結果、表示部[46]に表示される画像の更新間隔も長くなり、データ変化がある画像を表示させたい場合には表示速度がデータ変化に追従しなくなってしまう。例えば、ステージ[8]を駆動して観察位置を変更しても、その速度に表示部[46]の表示自体が追いつかないケースが出てくる。
撮像素子(CCD)[36]は、通常図4に示すフォトダイオード[201]1画素に対して、1つのデータとして扱われる。これを複数個の単位に纏めた形で出力させることで、蓄積時間を変えずに感度を上げることが可能になる。
現段階では水平転送路[203]の中には、同図[a1〜n1]のデータが蓄積されていることになる。通常であれば水平転送路[203]に移送された電荷は、この水平転送路[203]を紙面左方向に転送され、信号検出部[204]に転送される。しかし、ビニングモードの時はこの段階で水平転送は行わずにそのまま待機となる。
ここで、信号検出部[204]に転送された電荷を読み出す段階でも更に電荷の加算を実施する。通常1画素ごとに電荷のリセットを掛けるためにリセットパルスが入力されている。このリセットパルスの発生間隔を間引くことにより、水平転送路[203]に蓄積されている隣同士の電荷を加算することができる(図9[i”’])。実際の読み出し時の波形を図10に示す。
透過照明用光源[1]は、透過照明用光源調光回路[24]により点灯のON/OFF、及び光量の調整が可能となっている。従来の顕微鏡と呼ばれる光源の場合、特に染色標本を使用する明視野観察の場合などは、接眼レンズで観察するために色温度を一定に保ち、例えばハロゲンランプなどでは約9[V]で使用するのが一般的であった。しかし本発明に関しては観察する部位は表示部[46]で示すところのLCDモニタ等であり、最終的な色の補正は、ホワイトバランス等で補正しており、OFF〜最大輝度までリニアに制御することもできる。
(2)透過用ND1[4]、透過用ND2[5]いずれかのフィルターが透過照明光路[LP1]に挿入されると、表2に示す透過率により光量が減光される。
(3)透過用ND1[4]、透過用ND2[5]両方とも透過照明光路[LP1]に挿入されると「50% x 25%」の透過率となる。
上記それぞれの組み合わせを減光率に換算したものを表3に示す。
本来、透過用AS[6]の役割としては、使用される対物レンズ([11][12]等)の開口数に合わせて、透過用照明光路[LP1]の開口数を調整するためのもので、一般的な対物レンズでは瞳経の70%〜80%程度がバランスのとれた観察像とされている。
本来、絶対照度にて制御を行うような場合には、対物レンズ[11]/対物レンズ[12]の組み合わせで考える必要があるが、本実施の形態では相対比較として制御(後述)するものなので、明るさの比率のみで考えられる。
さらに、落射用AS[23]も透過用AS[6]と同じ働きをするので、撮像素子(CCD)[36]への入射光量の調整パラメータの一つなる。
次にこれら観察法を切り換える動作を説明する。上記観察法の切り換える場合は、表示部[46]と操作部[47]の操作によって行われる。
続けて、観察法の切り換え(BFボタン[89]/FLボタン[80])が指定された場合の基本動作について図12のフローチャートに従って説明する。
まず、前処理として、顕微鏡駆動状態であることを他のプログラム(タスク)に知らしめるためのフラグをセットする[S3]。本実施の形態では、周知のマルチタスク処理が実行されており、並列して別の処理(後述する撮像処理シーケンス)も実行されている。他のタスクに現在の状態を通知する必要がある。
前処理[S3]が完了したら、実際の顕微鏡駆動処理を実行する[S4]。
表5に従い制御を実行すると、制御シーケンスは以下のようになる。
(1)落射照明用を消灯(遮光)
まず駆動中に不要な光量入射を防止するために使用する照明光自体の制御を行う。落射照明用光源[17]は前述の通り頻繁な消灯/点灯が難しいので落射シャッター[22]を落射照明光路[LP2]に挿入さて照明光を遮光させるべく、落射用フィルター駆動回路[32]を駆動して落射シャッター[22]を制御する。
フィルターの挿脱操作も観察光路[LP3]の状態が暗くなるような制御を優先して実行する。従ってまず、光路中に挿入すべきフィルターを先に全て挿入するシーケンスをとる。透過用ND1[5]が透過照明光路[LP1]上に挿入されていなければ、透過フィルター駆動回路[25]に指示を与えて透過照明光路中に挿入させる。
透過用AS駆動回路[26]に指示を与えて開口絞りの値を80[%]に設定する。ところで、ここでの80[%]とは瞳経に対する割合を示しているものである。しかし、実際に透過用AS駆動回路[25]に与える指示としては、機械的な絞り経でなければならない。そこで、顕微鏡制御部[34]は絶対絞り経への換算を実行する。
透過開口絞り = 2×OBna×CDf×Kas …………………(1)
落射開口絞り = 2×OBna×OBfb×ASmag×Kas ……(2)
[OBna]は対物レンズの開口数であり、対物レンズ毎に固有値を持つ。
[CDf]は使用しているコンデンサレンズの焦点距離であり、これも使用レンズ毎に固有値を持つ。
[Kas]が実際の絞り率を示し、100%を1とした時の明るさ比で示される補正係数である。この値を可変、記憶することにより、各観察法、毎に固有の絞り値を設定する事が可能となる。
(3)式より実際のAS径が求められる。顕微鏡制御部[34]は、このようにして求められたAS径に透過AS[6]を制御するため透過用AS駆動回路[26]を駆動して絞り経の設定を行う。落射用AS[23]も(2)式と落射用AS駆動回路[33]を使用することにより制御可能である。
次に、蛍光キューブ[13]あるいは図示しない別のキューブが観察光路[LP3]中に挿入されている場合は、キューブ駆動回路[30]を駆動して、蛍光キューブ[14]等を光路外に移動させる。
上記(2)とは逆に不要なフィルターを透過照明光路[LP1]外に移動させる。透過用ND2[5]が透過照明光路[LP1]中に入っている状態であれば、透過フィルター駆動回路[25]を駆動して、透過照明光路[LP1]外に移動させる。
最後に透過照明用光源調光回路[24]を制御して、透過照明用光源[1]を規定の状態に点灯させる。また、システム制御部[44]は、測光方式の切り換えを撮像制御部[43]に通知する。
顕微鏡駆動処理[S4]が完了したら、最後に後処理として、ステップ[S3]にてセットしたフラグをリセットする[S4-2]。
表示部[46]の操作MENU[80]にてFLボタン[82]が選択された場合も同様に、表6のデータを基準にして制御することで、蛍光観察に切り換えることが可能となる。
上記の通り設定された観察法により、表示部[46]により標本拡大像の観察を行う。指定された観察法による観察試料[9]の投影像が結像レンズ[35]を介して撮像素子(CCD)[36]に結像される。
画像処理回路[70]から送られてきた画像データは、CPU[48]により順次表示用I/F[52]を介して、表示用メモリ[45]の観察画面表示エリアに転送される。表示用メモリ[45]には、画像データの他に図11に示す如く操作MENU[80]等も表示されており、同図観察画面[79]の表示位置に対応したメモリアドレス上に撮像データを転送する。
次に、この表示部[46]に現在表示されている観察画像の明るさが適正な露光なのかを判別し、不適切な場合は露光調整の制御を実施する必要が生ずる。以下、その露光調整に関して図13のフローチャートを参照し説明する。
(明視野用処理の設定)
現在、明視野(BF)観察が設定されているので、まずは明視野用処理(図15)を説明する。
もし、「測光演算値≠測光基準値」の場合、その測光演算結果が露出Overの状態なのか/露出Underの状態なのかを判別する[S13]。
測光基準値よりも小さい場合は、露光不足であり露光Under処理(1)[S14=図17]を実行する。以下、図17に添って説明する。
sMin:モニタ表示限界
sMax:快適操作限界5〜10[fps]
sMax2:操作限界2〜4[fps]
(+):蓄積時間を延ばす
(-):蓄積時間を縮める
ND In:NDフィルターが光路上に挿入状態
ND Max:NDが全て光路に挿入されている
Speed:ライブ表示スピード
Gain:AMP増幅率
gLimit:S/N我慢できるレベル
gMax:最大ゲイン
bLimit:解像劣化が許容範囲のレベル
bMax:最大ビニング
(1)蓄積時間制御[Zone-1]
現在、表示部[46]に表示する画像データを取り込む間隔(以下、[Speed])が、表示部[46]が表示更新できる表示限界(以下[sMin])より短いかを判断する[S16]。
図17(以降のフローチャートも同様)の[蓄積時間(+)]とは蓄積時間を延ばすことを意味し、逆に[蓄積時間(−)]は蓄積時間を短くすることを意味する。もし[Speed]が[sMin]を越えて(長く)なっている場合は、次ステップ[S18]の処理を実行する。
顕微鏡制御部[34]が制御している透過用AS[6]の現在の状態を確認する[S18]。
開口絞りが80[%]より絞られている場合は開口絞り経を規定数だけ大きくなるように顕微鏡制御部[34]に指示を与える[S19](→図17処理終了)。これは、開口絞りが必要以上に絞られていると撮像素子(CCD)[36]に入射される観察画像の解像度が劣化し、なおかつ光量をロスしているので最適な状態に戻す制御を兼ねて露光調整を実施するために実行される。
(3)NDフィルター制御[Zone-3]
透過用フィルター群[3]内の透過用NDが透過照明光路[LP1]に挿入されているかを確認する[S20]。同図[ND In] [S20]とは、光路中にNDフィルターが一枚でも挿入されている状態を意味する。もし、透過用ND1[4]か透過用ND2[5]のどちらか/或いは両方が透過照明光路[LP1]に挿入されている場合はNDフィルターの離脱処理を行う。
システム制御部[22]は、顕微鏡制御部[34]に指示を与えNDフィルターを一段階(表3[#1]→[#0])明るくする。すなわち、透過フィルター駆動回路[25]を駆動し、透過用ND1[4]を透過照明光路[LP1]外に跳ね除ける[S21]。
蓄積補正(-)が完了した時点では、結局撮像素子(CCD)[36]から得られる画像データは処理前と同等の状態で、露光Underのままである。そこで、続けて[S17]と同等の処理である蓄積制御(+)[S23]を実行して露光調整を行う(→図17処理終了)。
ステップ[S20]において、透過照明光路[LP1]中のNDが全てOUTになっていた場合は、次ステップの処理[S24]に移行する。
システム制御部[44]は、[Speed]が[sMin]以上で、なおかつ、快適な標本観察を行えるだけの表示スピード[sMax]範囲内にあるかを確認する。
(5)Gain制御[Zone-5]
上記までの制御においては、なるべく画質を損なうようなパラメータ調整を避け、観察画像の画質を優先したパラメータを制御した。この段階でも露光Underとなる場合は、以下の処理を続ける。
現在設定されているビニング数[binning]をチェックし、[bLimit]より小さいか確認する。ビニングは回数を増やせば感度が向上するが、その分画像の解像度が落ちる。解像度劣化許容のビニング限界回数を[bLimit]とする。
まず、現在観察光路[LP3]中に挿入されている対物レンズを確認する。現在挿入されているレンズが対物レンズ[11]の場合には、顕微鏡制御部[34]の不揮発性メモリに記憶してある表6から、その対物レンズのNA(OBna)が認識できる。このNA[Obna]を利用し、撮像素子(CCD)[36]に入射する光線のNA(結像レンズ[35]の射出NA)を求める。
さらに上記NAから撮像素子(CCD)[46]上の分解能Rを算出する。
分解能R = 0.5λ/ 射出NA または、0.61λ/ 射出NA ………(5)
ここで、λは光線を構成する波長のうちの一つ、例えば550[nm]とする。
Bはビニング数、Rは上記算出した分解能、pは撮像素子(CCD)[36]のフォトダイオード[201]の素子ピッチとして(6)式を満たす1以上の最大整数Bを求める。
例えば、撮像素子(CCD)[36]の素子ピッチを3.4[μm]、結像レンズ[35]と投影倍率を2[×]とした場合のビニング数Bは、
まず(4)式より
射出NA = Obna / 光学系の結像倍率 = 0.4 / 10x2 = 0.02 ……… (7)
次に(5)式より
R = 0.5λ/ 射出NA = 0.5 x 550[nm] / 0.02 = 13.8[μm] ……… (8)
最後に(6)式より
B = R / 2p = 13.8[μm] / 2 x 3.4[μm] = 2.01 ……… (9)
となる。よって[bLimit] = 2となる。
同様に対物レンズ[12]に対して演算すると、[bLimit] = 3 となる。
また、表示部[46]に表示させるための観察画面[79]に表示させる表示エリアの解像度をもとにビニング限界値[bLimit]を決定しても良い。
そこで、明るさが増大した分の補正については、ゲインを下げて対応する[S30]。例えば、ビニングなしの状態からビニング2(2x2)に設定すると、感度は4倍に増大するので、ゲインを現状の1/4に下げる処理を実行する。
本ステップ[Zone-6]の処理が終わった時点では、AMP[39]のゲインは[GLimit]以下となるので、その後暫くはステップ[S26][S27]の処理を繰り返すことになる。
(7)開口絞りの制御2[Zone-7]
ビニング数が[bLimit]を越えてしまう状態であれば、再び開口絞りの制御を実行する。前述の[Zone-2]の処理では、開口絞りを最適な状態にする制御を実行したが、今度は明るさを最大限に確保できる絞り経(100%)までの制御を行う。
前述の[Zone-6]の処理では、光学系、あるいは表示系の性能を考慮した[bLimit]を基準にビニング制御を実行したが、今度は感度のみに着目して撮像制御部[43]で制御可能な限界ビニング数[bMax]までビニングをアップさせる処理を実行させる。
現在のビニング数が既に[bMax]であれば、次ステップ[S38]を実行する。
前述の[S26][S27]では、ある規定のゲイン内での制御であったが、今回はノイズを無視して撮像制御部[43]で制御できる最大のゲイン[gMax]までの制御を行う。
(10)蓄積時間制御3[Zone-10]
上記パラメータを制御しておき、全ての調整部位での調整でも露光調整しきれない場合は、操作性は損なうものの観察できる状態を提供するために、再び蓄積時間を調整する。快適操作の限界[sMax]を越えるが必要な蓄積時間だけ蓄積制御を実行する[S40](→図17処理終了)。
(明視野、露光Overの場合)
図15に戻り逆に、測光基準値よりも測光基準値が大きい場合は、露光過多であり露光Over処理(1)[S15=図18]を実行する。
[S41][S42]は、図17の[Zone-10]に相当する逆の処理である。[sMax]以下のスピードであれば蓄積制御(-)を行う。
[S43][S44]は、図17の[Zone-9]に相当する逆の処理である。[gLimit]以上にゲインが掛かっていれば、[gLimit]までゲインを下げる。
[S45]〜[S49]は、図17の[Zone-8]に相当する逆の処理である。必要以上にビニング制御が掛かっている場合は、[bLimit]までビニング数を減らす処理を実行する。ただ、この処理の場合、制御基準となる判定値が前述図17と異なる。ビニングを落とす場合、当然落とした後にリニアに露光調整しようとすると、他の調整手段による補正作業[S47]が必要とされる。従って、補正後の動作も考慮した判定が必要となる。
[S50][S51]は、図17の[Zone-7]に相当する逆の処理である。開口絞りが最適値(80%)以上に開いている場合は、80%まで絞る処理を実行する。
[S52]〜[S56]は、図17の[Zone-6]に相当する逆の処理である。ビニングが掛かっていれば、ビニングなしの状態までビニングを落とす。この場合の判定処理も、[Zone-8’]同様に、ゲイン補正後の状態を考慮して判定を実施する[S53]。
[S57]〜[S58]は、図17の[Zone-5]に相当する逆の処理である。ゲインが掛かっていれば、ゲインなしの状態までゲインを下げる。
[S59]〜[S60]は、図17の[Zone-4]に相当する逆の処理である。[Speed]が、[sMin]から[sMax]の間では、蓄積制御(-)の処理にて露光調整を行う。
[S61]〜[S65]は、図17の[Zone-3]に相当する逆の処理である。この場合の処理も[Zone-8’][Zone-6’]同様に、NDを挿入した後に蓄積補正した時の蓄積時間が[sMin]を越えないかを基準にしてND制御可否の判定を実施する[S62]。
[S66]〜[S67]は、図17の[Zone-2]に相当する逆の処理である。ここで、[asLimit]は透過用AS[6]の物理経のMin値、もしくは絞り込みによる分解能低下が許容できる範囲(例えば50%)を任意の設定値に定め、その数値[asLimit]をターゲットに制御を行う。
以上の調整部位を調整しきっても、まだ露光Over状態が継続した場合は、蓄積制御(-)の処理[S68]を行い、露光調整を実施する。
[Zone-1(1’)]〜[Zone-10(10’)]の制御経緯をプログラム線図として表記すると、例えば図19のようなグラフで示せる。
Speed[L1]が撮像素子(CCD)[36]の蓄積時間の変位を示したラインであり、その縦軸は[J1]である。
Binning[L3]が、撮像素子(CCD)[36]のビニング制御の状態を示したラインであり、その縦軸は[J3]である。
AS[L5]が、透過用AS[6]の開口絞りの状態変位を示したラインであり、その縦軸は[J5]である。
(蛍光観察の場合)
一方、現在の顕微鏡の観察法が蛍光観察の状態である場合の処理について説明する。図13のステップ[S8]に戻り、観察法がFLモードの場合は、蛍光用処理(S10=図16)を実行する。
まず図15と同様に、最新の画像データに対して、測光処理[S69]を実行する。測光演算に関しては、今回はFLモードにて行う。
もし、「測光演算値≠測光基準値」の場合、その測光演算結果が露出Overの状態なのか/露出Underの状態なのかを判別する[S13]。
測光基準値よりも小さい場合は、露光不足であり露光Under処理(2)[S70=図20]を実行する。
蛍光観察の場合、励起光(落射照明用光源[17])をなるべく観察標本[9]に照射しないように制御することが重要になる。蛍光では一般的に励起光による蛍光の発光が照明光の照射時間(強度)により変化し、発光量が低下(以下、褪色と呼ぶ)してくる。そのため、なるべく励起光を抑えて観察することが褪色防止の鍵となる。
[sMax]になるまでは、蓄積時間の制御のみで露光調整を実施する[S72][S73]。
(2)Gain制御[Zone-22]
[gLimit]になるまで、ゲイン増幅にて露光調整を実施する[S26][S27]。
[blimit]になるまで、ビニング制御にて露光調整を実施する[S28]〜[S31]。
(4)ND制御[Zone-24]
ND制御を実行した場合の補正処理として、図17では蓄積時間の制御で補正したが、今回はGain制御にて補正[S74][S75]を行う。蛍光モードの場合、この処理が実行される段階では、既にGainが[gLimit]まで達しており、補正に同期してノイズの低減も可能になるのでGain制御にての補正を優先する。
(5)開口絞りの制御[Zone-25]
開口絞りが絞られている場合は、100%まで開放する[S32][S33]。これもND制御同様に、処理自体は図17の[S32][S33]と同等であるが、顕微鏡制御部[34]が制御対象とする部位が、落射用AS[23]に変更となる。
[bMax]になるまでビニング制御を実施する[S34]〜[37]。
(7)Gain制御2[Zone-27]
[gMax]になるまで、ゲインアップを実施する。
以上のパラメータを制御し、全ての調整部位での調整でも露光調整しきれない場合は、操作性は損なうものの観察できる状態を提供するために、再び蓄積時間を調整する。
同様に、現在の測光演算値が測光基準値よりも大きい場合は、露光過多であり、露光Over処理(2)[S71=図21]を実行する。
今、図11のBFボタン[81]またはFLボタン[82]が選択され、図12の処理により観察法が切り替わると、観察法駆動状態データ[Data1]の状態より、観察法が切り替わったことを認識する[S6]。
例えば、現在の設定(表8)を表9のパラメータ設定した場合に算出される蓄積時間を求める。Gainを2xから1xにすると、蓄積時間は倍必要となるので蓄積時間はT=2x[sMax]となる。同じように、ビニング処理では4倍、NDを離脱して2倍となり、結果16x[sMax]が測光ターゲット値となる。
仮想演算処理[S83]の処理は、図17と図18、および図20と図21の処理と等価のもので、変更された観察法の露光調整を演算するための処理である。実際の装置を制御せずに仮想状態データ[Data3]を装置と仮定して処理を行う。仮想状態データ[Data3]のデータを更新しながら仮想演算を実施する。
以上により、観察法が切り替わった際の制御部位の優先順位の変更処理[S86]が完了する。
続いて、本発明の第2の実施の形態について説明する。本実施形形態では、観察画像を高画質モードで表示させる場合の顕微鏡及び撮像装置の最適化について説明する。すなわち、本実施形態では、画質劣化に影響のある露光調整部位を制御対象に含めないようにする。さらに、本実施形態では、多少操作性を落としても高画質で観察したいことを目的としているので、快適操作の限界点[sMax]よりも一段階遅い[sMax2]を設け制御を行うようにする。
図24は、本実施の形態に関する表示部[46]の画面構成の一例を示す。図11の構成に付け加えて、観察画面[79]に表示する画像の画質選択メニュー[91]を表示する。
第1の実施の形態では、図17←→図20、図18←→図21という形で処理が切り替わる体系であったが、それに付け加え本実施の形態においては、以下の表10のような体系で処理内容が変更される。
高画質モードでは、画質劣化に影響のある露光調整部位の優先順位を下げる、あるいは制御範囲に制限を設けて処理が実行される。特に、開口絞り(透過用AS[6]および落射用AS[23])は観察者の好みにより調整されていることが多く、画質変化に対して影響が大きい部位であるのでその制御対象から外し、制御を行わないところに特徴がある。
(高画質モード 露光Underの場合)
(1)蓄積時間制御[Zone-31]
[sMax2]になるまでは、画質に影響される調整部位を制御せず、蓄積時間制御のみで露光調整を実施する[S87][S88]。
NDが挿入されていれば、透過照明光路[LP1]もしくは落射照明光路[LP2]から離脱して露光調整を実施する[S20]〜[S23]。
[gLimit]になるまで、ゲイン増幅にて露光調整を実施する[S26][S27]。
(4)ビニング制御[Zone-34]
[blimit]になるまで、ビニング制御にて露光調整を実施する[S28]〜[S31]。
本来、この後まだ調整できる項目([bLimit]〜[bMax]/[gLimit]〜[gMax]/開口絞り等の制御)が残されているが、開口絞りに関しては制御対象とし、その他の項目について画質劣化に対して影響が大きい調整パラメータ設定の範囲なので制御を実施せずに後は蓄積時間を調整して制御が行われる[S40]。
露光Overの処理に関しても、第1の実施の形態と同様に、露光Underの処理と逆の制御順序で露光調整を実施する。
本実施形態では、ステージ操作を手動で行う際の観察画像の光量調整において、NDフィルターなどの段階的に明るさが変化する機構部や切り換え変更動作に時間を有する機械的な駆動部を動作させる順番の優先順位を下げて制御を行うことについて説明する。
ここで、手動操作部[68]あるいは、図11、図24の操作MENU[80]上のX+ボタン[83]/X-ボタン[84]/Y+ボタン[85]/Y-ボタン[86]または、UPボタン[87]/DOWNボタン[88]が指定され、顕微鏡のステージ[8]が操作された場合について説明する。
次に移動中露光処理[S95]=図30を実行する。まず、露光状態がOverなのかUnderなのかにより処理を振り分ける。
(1)Gain制御→(2)蓄積制御[<sMax]→(3)ビニング制御→(4)AS制御→(5)ND制御→(6)Gain制御[<gMax]→(7)蓄積制御[>sMax]
(移動中露光Overの場合の制御優先順位)…[S101]
第1の実施の形態、第2の実施の形態では、露光Overの制御優先順位は露光Underの逆順であったが、本実施の形態においては、露光Overの場合でも、下記の通り優先順位を大きく変えずに、光量変化が段階的な調整部位や機械的な駆動部位の優先順を下げたままで下記の通りの制御を行う。
ここで、ステップ[S99]のMinとは、最小の蓄積時間であり、撮像素子(CCD)[36]の電子シャッターモードの最小の蓄積時間を示す。
図32は、第3の実施の形態の処理のフローチャート(優先順位変更処理 その2)を示す。基本的な動作は観察法が変更された時とほぼ同じ処理(図14)を実行する。同処理内容に関しては同番を付記し、相違点のみ説明する。
本実施の形態では、上記の実施の形態に加え、さらに、撮像した画像をシステム制御部へ転送する場合の転送速度も考慮した観察画像の光量調整について説明する。
フレーム数 = ComMax / (Pix x Dp) = 480M / (5M*8) = 12 ………(10)
となり、単純計算ではあるが、12[fps]の最高速度しか確保できない。これは白黒CCDの場合のデータ量であり、カラーCCDや1ピクセルの階調数が増えれば更に遅くなる。
<第5の実施の形態>
本実施の形態では、ステージ移動を伴う観察において、撮像素子のデータ取り込み間隔(蓄積時間)に応じて、ステージの最大移動速度に制限を設ける場合について説明する。
図34は、第5の実施の形態のステージ[8]を移動した場合の観察画面[79]の表示内容変化の説明図(その1)を示す。
今、ステージ[8]を移動方向[94]に移動させると、観察画面[79]上には観察画面[79]-Frame(2)〜(n)の順番で表示される。
図37は、顕微鏡駆動処理[S4]の中の一例として、ステージ駆動処理のフローチャートを示す。操作NENU[80]のステージ移動ボタン(X+[83]/X-[84])により、X方向のステージ移動操作を指定する。
以上説明した本実施の形態によれば、表示部[46]に表示される観察画像の表示スピード(更新間隔)により、ステージ移動速度を制限することが可能になり、観察時に観察場所を見失うことを防止できる。
本実施の形態では、前回撮像した画像と今回撮像した画像とを比較することにより標本の移動を検出した場合にはその動きが停止するまで光量調整の最適化を行わないようにする。
検出は、前回演算検出処理した画像データ[Data8]と今回測光対象となる最新の画像データ(メインメモリ[50]内)を比較して周知の相関ズレ検出方法にて演算される。例えば、図39のように前回の画像データ[L101]と今回の画像データ[L102]の輝度データのラインプロファイルを作成し、その相関Δdを算出し、両者にズレがある/もしくは一定以上のズレが有る場合に移動したものと認識される。
<第7の実施の形態>
第7の実施の形態は、第6の実施の形態に以下の点を加えたところに特徴がある。第6の実施の形態では標本の動きが有る場合に測光処理を実行しなかったが、本実施の形態では標本の動きが有る場合にも露光調整を行うようにする。
標本が移動中であり、それが移動開始した検出の初回を判断[S117]し、初回であれば現状の露光調整の設定状態を[Data6]に退避させる[S94]。そして、標本移動に適した優先順位で露光制御を処理するために、優先順位変更処理[S118]が実行される。
露光Underの場合は処理[S120]を実行し、露光Overの場合は処理[S121]を実行し、蓄積時間の制御に関して、[sMin]を越えない範囲で制御([S122]等)を行う。
露光調整を実施する場合は、先の[S115]での検出結果により、標本が移動中の場合には標本移動中露光処理[S119]が実行される。[S119]は前述した図41の処理であり、優先順位変更処理[S118]の段階では仮想演算として実行されたが、今度は実際の調整部位を対象に制御が行われる。
そして、標本移動が終了した場合([S115]にて移動していないと判断された場合)は、[S97]にて優先順を復帰する処理[S97]を実行し、通常の処理内容に戻る。
本実施の形態は、第1〜第7の実施の形態にて観察している画像を動画データとして記録する場合に適応される。すなわち、本実施の形態では録画中は露光制御を実行しないようにする。もし録画中に露光制御をする場合には、露光調整する調整部位の優先順位を変更し、調整部位を制限する。
変更手段に関しては、第1〜7実施の形態によるところの切り換えを同様の方法で行われる。例えば、録画の目的が観察画像の輝度変化の状態を記録する用途の場合などは、露光調整自体を実施してしまうと変化の具合を捕まえることができなくなる。このような場合は図43に示す処理によって、録画中は露光制御自体を実行しないようにスキップする。
一方、録画中の細胞形状変化などを記録したい場合などは、ある程度の露光調整を実施した方が良い場合もある。このような場合には、露光調整する調整部位の優先順位を切り換え、及び調整部位の制限を掛けることを行う。録画中には輝度変化が断続的な調整部位、または調整したことによる画質の変化が大きい調整部位の制御は避けようにする。
図44は、第8の実施の形態の処理のフローチャート(録画中の露光処理)を示す。同図[S124]が露光Under時の制御で、同図[S125]が露光Over時の制御となる。両者ともゲイン調整での補正を優先し、次に蓄積時間を可変して露光調整を行う。その他の部位に関しては制御対象から外し、観察している画像を安定させた状態での記録を実施する。
以上のように、録画中にその録画目的に添った制御方法に切り換えることで目的に合った画像の動画記録が実現できる。
第9の実施の形態では、[gLimit]を規定値ではなく、S/N(ノイズ)の検出手段による検出結果に基づいて[gLimit]を規定するところに特徴を持たせる。
決定された[gLimit]をもとに、第1〜第8の実施の形態の如く制御を行うことで、ゲインを増幅した場合の画質劣化(ノイズレベル)を一定範囲内に納めることができ、安定した観察画像での観察が可能になる。
<第10の実施の形態>
本実施の形態では、観察者が設定した調整制御部位以外の調整制御部位について、システム制御部による露光調整の対象とする顕微鏡観察システムについて説明する。
例えば、図17の[S18]の前処理として図47の判定処理[S135]を挿入し、もし制御対象外の調整部位であれば次処理(この場合は[S18])の処理をスキップする。
ただし、複数の調整部位を操作されると、露光調整できる調整部位が少なくなるので調整範囲も狭くなり操作性を落とす結果に成り兼ねないので、このような場合は観察者が操作する毎にその操作された調整部位の優先順位を一番下げた制御を実行してもよい。
第10の実施の形態までは露光調整によって制御される調整部位は顕微鏡または撮像装置に関しての調整のみであった。本実施の形態ではシステム制御部[44]での後処理も調整部位に含めて制御を実施するものである。
図48は、第11の実施の形態の処理のフローチャート(蛍光観察で露光Underの場合の処理)である。基本処理としては図20のフローチャートとほぼ同じなので、同番を付記して説明は省略する。
露光Overの場合の処理(図49)としては、画像加算処理の解除を最優先の調整項目として最初に解除してから、図21に記載と同じ処理([S141]〜[S145])を実施する。
本実施の形態では、モニタの解像度に基づいて、画像データの表示サイズを調整する顕微鏡観察システムについて説明する。
取り込まれた画像データをそのままの画像サイズで表示部[46]へ表示すると、図52aに示すように表示部[46]の観察画面[79]の表示サイズと画像データのサイズが同じの場合は問題ないが、画像サイズが小さい場合は図52bのように観察画面に余白ができ、また画像サイズの方が大きい場合は図52cのように画像データの一部分しか表示できない。
これにより、ビニング処理を行い画像サイズが変更されても表示される画像サイズの大きさが変わらずに観察できるようになる。
<第13の実施の形態>
本実施の形態では、露光状態に変化が生じた場合に露光調整を行うが、露光調整が完了するまでは露光調整直前画像を表示し続ける顕微鏡観察システムについて説明する。
まず、図55aにはゲイン制御、蓄積時間制御など連続的(ある程度細かいステップにて露光調整が可能)な調整を実施できる部位を調整した場合の例を示す。図55a(2)までは最適に露光調整されている状態(図55a[Frame(A)])であり、図55a(3)にて標本の明るさが変化して露光Underの状態(図55a[Frame(B)])になったと仮定すると、図55a(3)の画像にて露光調整を行い、図55a(4)で元の最適に露光調整された状態(同図[Frame(A)])に戻り、観察画像[79]の輝度変化が少ない。
図56は、第13の実施の形態の処理のフローチャート(補完処理制御)を示す。図56には、第1の実施の形態(図17)との相違点(補完制御部分)のみを示しており、全体的な制御フローに関しては図17に酷似する。
通常何もしない場合は、メインメモリ[50]の画像データは逐次表示メモリ[45]に転送され、表示部[46]に表示されている。この転送動作を一時中断する。これにより、表示部[46]には最後に転送された画像(露光Underと判断された最後の画像(図55(c)[Frame(B)]))が表示された状態になる。
本実施の形態の構成、作用については第13の実施の形態とほぼ同じであるが、第13の実施の形態では断続的な調整部位を制御する直前の画像データを表示部[46]に表示していたが、本実施の形態ではその表示画像が異なる。
図58は、第14の実施の形態の処理のフローチャート(補完制御処理)を示す。補完処理開始[S152]の段階で、表示用メモリ[45]に転送するデータを測光時に待避した保持画像データ[Data11]に切り換える。そして、補完処理終了[S153]にてメインメモリ[50]の正規の最新画像データに復帰する。
その他、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を変更しない範囲で種々変形することが可能である。
(1)撮像素子(CCD)[36]の撮像素子は、CCDとしてはインターライン型CCDでの回路構成、動作説明を実施したが、フレームインターライン型、フレームトランスファー型など、種々の形式のCCDでも適用可能である。また、CCDに限らずCMOSなど撮像素子デバイスでも適応可能である。
(7)観察法に関しては、明視野観察と蛍光観察の切り換えについて述べているが、その他観察法を複数用意して切り換えることも可能である。その際には上記実施の形態の如く、選択された観察法毎に露光調整の調整部位に優先順位を設けて観察法毎に切り換えて制御を実施する。
更に、必要以上に高速でのデータ取り込みが不要になり、撮像素子(CCD)[36]の発熱を低減し、寿命を延ばすことや表示部に表示される観察画像の表示スピード(更新間隔)により、ステージ移動速度を制限することで観察場所を見失うことができるなどの副次効果も生まれる。
本発明にかかる顕微鏡観察システムによれば、撮影装置に入射される観察像を最優先にしてシステム全体(顕微鏡+観察装置)を最適制御することができる。すなわち、本発明にかかる顕微鏡観察システムは、接眼レンズでの観察概念を排除し、観察するためのモニタ画像に表示される観察画像に対して、観察者の観察用途に沿って撮影装置と顕微鏡の性能を最大限に引き出すことができる。また、本発明にかかる顕微鏡観察システムは、顕微鏡、撮影装置双方の扱いに不慣れな観察者でもモニタ表示に所望の観察画像が簡単に表示でき、かつ操作性も良い。
2…透過用コレクタレンズ
3…透過用フィルター群
4…透過用ND1
5…透過用ND2
6…透過用AS
7…コンデンサレンズ
8…ステージ
9…観察試料
10…レボルバー
11…対物レンズ1
12…対物レンズ2
13…キューブターレット
14…蛍光キューブ
15…励起フィルター
16…吸収フィルター
17…落射照明用光源
18…落射用コレクタレンズ
19…落射用フィルター群
20…落射用ND1
21…落射用ND2
22…落射用シャッター
23…落射用AS
24…透過照明用光源調光回路
25…透過フィルター駆動回路
26…透過用AS駆動回路
27…フォーカス駆動回路
28…XYステージ駆動回路
29…レボルバー駆動回路
30…キューブ駆動回路
31…落射照明用光源点灯回路
32…落射用フィルター駆動回路
33…落射用AS駆動回路
34…顕微鏡制御部
35…結像レンズ
36…撮像素子(CCD)
37…画像信号処理調整部
38…CDS
39…AMP
40…A/D変換器
41…タイミングジェネレータ
42…フレームメモリ
43…撮像制御部
44…システム制御部
45…表示用メモリ
46…表示部
47…操作部
48…CPU
49…HDD
50…メインメモリ
51…システムバス
52…表示用I/F
53…汎用バスI/F(PCI/ISA等)
54…バスブリッジ
55…グラフィックコントローラ
56…カメラI/F部
57…IEEE1394I/F部
58…キーボード
59…マウス
60…CPU
61…ROM
62…RAM
63…CPUバス
64…PC I/F回路
65…専用I/F回路
66…レボルバー位置検出部
67…ステージ操作検出部
68…手動操作部
681…汎用I/F変換部
69…汎用I/Fケーブル
70…画像処理回路
71…OS
72…アプリケーション層
73…ドライバ層
74…表示用ドライバ
75…通信用ドライバ
76…入力装置用ドライバ
77…ハードウェア
78…USB I/F部
79…観察画面
80…操作MENU
81…BFボタン
82…FLボタン
83…X+ボタン
84…X−ボタン
85…Y+ボタン
86…Y−ボタン
87…UPボタン
88…DOWNボタン
89…ポインタ
90…ポインタ軌跡
91…画質選択メニュー
92…Normalボタン
93…Highボタン
94…移動方向
95…録画用ボタン
96…REC(録画)ボタン
97…STOP(停止)ボタン
201…フォトダイオード
202…垂直転送路
203…水平転送路
204…信号検出部
205…AMP
206…撮像素子駆動電源
LP1…透過照明光路
LP2…落射照明光路
LP3…観察光路
Claims (28)
- 標本を拡大観察するための光学系を有する顕微鏡と、
前記顕微鏡により得られた標本像を撮像信号に光電変換する撮像手段と、
前記撮像手段に結像される前記標本像の入射光量を抑制するために、前記顕微鏡に含まれる調整部位群を制御する光量調整手段と、
前記撮像手段により光電変換された前記撮影信号を所望の状態に調整するために、前記撮像手段に関する調整部位群を制御する撮像調整手段と、
前記撮像信号に基づいて前記標本像の明るさを測定する測光手段と、
前記撮像信号に基づいて生成された撮像画像が表示される表示手段と、
前記光量調整手段と前記撮像調整手段とを制御して、前記表示手段に連続的に表示させる画像の連続表示間隔を示す連続表示速度を制御する制御手段と、
前記標本の観察位置を変更あるいは観察倍率を変更する観察位置変更手段と、観察位置の検出あるいは観察倍率を検出する観察状態検出手段とのうち少なくとも一方、
を備えることを特徴とする顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記連続表示速度の下限が前記表示手段の観察及び操作可能な最低限の表示速度となるように、前記光量調整手段と前記撮像調整手段を制御することにより、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記連続表示の最小間隔の上限が前記表示手段の最大フレームレートによる表示間隔になるように、前記光量調整手段と前記撮像調整手段を制御することにより、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記撮像手段によって光電変換され前記表示手段に表示可能なデータに変換されるまでの最短時間が最大フレームレートによる表示間隔になるように、前記光量調整手段と前記撮像調整手段を制御することにより、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記撮像手段によって光電変換され画像信号として読み出される読み出し速度を基準に、前記連続表示間隔の上限を規定して、前記光量調整手段と前記撮像調整手段を制御することにより、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項4に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記顕微鏡観察システムは、さらに、
前記撮像手段によって光電変換された後に所定の画像処理がされた撮像信号を前記制御手段へ伝達する外部通信手段を備え、
前記制御手段は、前記外部通信手段の最大データ伝達速度に基づいて、前記連続表示速度の上限を規定して前記光量調整手段と前記撮像調整手段を制御することにより、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項4に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記表示手段の観察及び操作可能な最低限の表示速度を前記連続表示速度の下限とし、前記表示手段の最大フレームレートを前記連続表示速度の上限とし、前記連続表示速度が前記下限と前記上限の範囲内に入るように、前記光量調整手段と前記撮像調整手段を制御することにより、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記表示手段の観察及び操作可能な最低限の表示速度を前記連続表示速度の下限とし、前記撮像手段によって光電変換され前記表示手段に表示可能なデータに変換されるまでの速度の上限として示される最大フレームレートを前記連続表示速度の上限とし、前記連続表示速度が前記下限と前記上限の範囲内に入るように、前記光量調整手段と前記撮像調整手段を制御することにより、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記観察位置変更手段が非動作中の場合、あるいは前記観察状態検出手段による移動状態が非動作状態の場合には、前記標本自体の移動の変化を識別し、前記標本が移動していると認識した場合には、前記連続表示速度の制御を行わない
ことを特徴とする請求項1〜8のうちいずれか1項に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記顕微鏡観察システムは、前記光量調整手段により制御される調整部位と前記撮像調整手段により制御される調整部位を合計して2つ以上有し、
前記制御手段は、前記調整部位を調整する順番に優先順位を設け、調整される撮影画像の解像が変化する前記調整部位と、光電変換された電気信号のノイズレベルに影響を及ぼす前記調整部位とのうち少なくともいずれかの制御の優先順位を下げて前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1、7、または8に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記顕微鏡観察システムは、前記光量調整手段により制御される調整部位と前記撮像調整手段により制御される調整部位を合計して2つ以上有し、
前記制御手段は、前記調整部位を調整する順番に優先順位を設け、前記標本に照射される光量が増大する傾向にある前記調整部位を制御する優先順位を下げて前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1、7、または8に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記顕微鏡観察システムは、前記光量調整手段により制御される調整部位と前記撮像調整手段により制御される調整部位を合計して2つ以上有し、
前記制御手段は、前記調整部位を調整する順番に優先順位を設け、前記連続表示速度の間隔を長くすることに起因する前記調整部位を制御する優先順位を下げて前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1、7、または8に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記顕微鏡観察システムは、さらに、
前記連続的に表示される画像の記録をする画像記録手段
を備え、
前記制御手段は、前記連続表示速度の下限が前記画像記録手段に記録するビデオレートになるように、前記光量調整手段と前記撮像調整手段を制御することにより、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1または4に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記顕微鏡により光学系の状態が異なった標本観察を行うことができる2以上の観察法を用いて観察することができ、
前記顕微鏡観察システムは、前記光量調整手段により制御される調整部位と前記撮像調整手段により制御される調整部位を合計して2つ以上有し、
前記顕微鏡観察システムは、さらに、前記観察法に応じて前記調整部位を調整する優先順位が設定されており、該観察法を切り換えるための観察法切り替え手段
を備えることを特徴とする請求項10〜13のうちいずれか1項に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記観察法切り換え手段に基づいて、前記連続表示速度の制御を行う
ことを特徴とする請求項14に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記光電変換された撮像信号の信号ノイズレベルを計測し、前記信号ノイズにより劣化する観察画像で観察に耐えうる信号ノイズレベルの基準値を設け、前記計測手段より計測されたノイズレベルが前記基準値を超えたか否かを判定し、該判定結果に基づいて、前記連続表示速度の制御を行う
ことを特徴とする請求項14または15に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記観察法の種別が明視野観察である場合、前記制御手段は前記連続表示速度の制御を行わない
ことを特徴とする請求項15または16に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記顕微鏡にて光学系の状態で透過照明光学系が選択されている場合、前記制御手段は前記連続表示速度の制御を行わない
ことを特徴とする請求項15、16、または17記載の顕微鏡観察システム。 - 前記観察法の種別が蛍光観察または暗視野観察の場合、前記制御手段は前記連続表示速度の制御を行う
ことを特徴とする請求項15〜18のうちいずれか1項に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記顕微鏡観察システムは、さらに、
前記光量調整手段または前記撮像調整手段で制御される前記調整部位の調整に関する情報を入力できる調整入力手段を備え、
前記制御手段は、前記調整入力手段により調整された前記調整部位以外の調整部位に関して、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1〜19のうちいずれか1項に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記光量調整手段または前記撮像調整手段により前記連続表示速度を制御しても最低限の前記表示間隔時間に達しない場合に、前記表示部に連続的に表示される所定画像データに対して該所定画像データからn(n:任意の整数)フレーム前までに表示されるn個のフレーム画像データを累積加算し、該加算された画像データを現在の表示画像として表示すると共に、前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項1、2、7、または8に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記観察位置変更手段が動作中の場合、あるいは前記観察状態検出手段により移動中と判断した場合には、前記制御手段は、前記調整部位を調整する順番の優先順位を一時的に変更する
ことを特徴とする請求項1〜8及び10〜21のうちいずれか1項に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記光量調整手段または前記撮像調整手段にて連続表示速度を制御しても最低限の表示間隔時間に達しない場合に、前記観察位置変更手段の変更速度を制限する
ことを特徴とする請求項1、2、7、または8に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記撮像調整手段により制御された結果、前記表示手段に表示されるべき表示画像のサイズが変わっても該表示部に表示される画像を一定のサイズに保持する
ことを特徴とする請求項1〜23のうちいずれか1項に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記調整部位のうち光量の変化、画像の変化が断続的に発生する調整を適用する場合、該調整が完了するまでは該調整直前の画像を表示させ続ける調整補完処理を行う
ことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記顕微鏡観察システムは、さらに、
前記調整直前の画像を保持する保持手段
を備え、
前記制御手段は、前記表示手段に表示されている連続的な表示を停止し、断続的に光量が変化する前記調整部位を制御し、断続的に光量が変化する前記調整部位の制御が完了するまでの間、前記保持手段により保持された画像データを前記表示手段に表示させ、断続的に光量が変化する前記調整部位の制御が完了したら連続的な表示を再開させる
ことを特徴とする請求項25に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記観察位置移動手段により前記標本が移動している場合、前記調整補完処理を適用する
ことを特徴とする請求項25または26に記載の顕微鏡観察システム。 - 前記制御手段は、前記観察位置移動手段により前記標本が移動しており、断続的に光量が変化する前記調整部位を駆動する制御の必要性が発生した場合でも、連続的に変化する調整部位で一旦補正を掛けて表示画像の輝度が一定になるように保つ前記調整補完処理を実行し、前記標本の移動が停止した場合に前記連続表示速度を制御する
ことを特徴とする請求項27に記載の顕微鏡観察システム。
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