JP2004272077A - シェーディング補正装置、方法および制御プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents

Abstract

【課題】確実なシェーディング補正を行うことができるとともに、シェーディングの変化にも速やかに対応することができ、さにな価格的にも安価なシェーディング補正装置、方法および制御プログラムを記録した記録媒体を提供する。
【解決手段】ステージ２６上の試料３の存在しないエリアを撮影エリア６５に移動させ、この状態をＣＣＤ４２で撮像して明時画像信号を取得するとともに、明時画像信号に発生しているシェーディングのゲインを求めてシェーディング補正パターンを生成し、次に、試料３の観察したい部位を撮影エリア６５に移動させ、この状態をＣＣＤ４２で撮像して主画像信号を取得し、この主画像信号をシェーディング補正パターンにより補正することで主画像信号中のシェーディングを除去する。
【選択図】 図３

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、観察像の撮像に撮像装置を使用した顕微鏡などに適用されるシェーディング補正装置、方法およびおよび制御プログラムを記録した記録媒体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、カメラなどに使用されるレンズなどの結像光学素子は、それぞれの光学素子ごとに歪曲収差や照度むらなどの諸特性が異なることが知られている。
【０００３】
そして、このような結像光学素子を用いて被写体を撮影する場合、例えば光学像の周辺光量が低下するなどのシェーディングによって画像劣化が生じたような場合は、経験的な補正値または実測値を用いて画像処理を行い、このときの画像劣化を補正することが行われている。
【０００４】
一方、対物レンズを使用する顕微鏡の場合も同様で、異なる焦点距離を有する複数の対物レンズを選択的に切替えて使用する場合やズーム式の対物レンズを使用する場合に、観察倍率ごとに歪曲収差や照度むらなどの特性が異なる。つまり、観察倍率の異なる対物レンズを選択的に切替えて使用する場合は、対物レンズごとに歪曲収差などの状態が異なり、ズーム式の対物レンズを使用する場合は、各倍率ごとに歪曲収差などの状態が異なる。
【０００５】
従って、このような各種の対物レンズを使用し、試料の観察像の撮像に撮像装置を使用した顕微鏡についても、観察像の周辺光量が低下するシェーディングによって撮像画像に劣化が生じるような場合は、それぞれの対物レンズに最適な画像処理により画像劣化を補正することが必要である。
【０００６】
そこで、従来、特許文献１に開示されるように、顕微鏡の動作を制御する顕微鏡コントローラ部、撮像素子で撮像された画像データを調整する画像調整部を有し、さらに、対物レンズの種類に応じたシェーディング補正パターンを記憶したメモリを用意していて、顕微鏡コントロール部が対物レンズの種類を検出すると、このときの対物レンズの種類に応じたシェーディング補正パターンを読み出して画像調整部に設定し、設定されたシェーディング補正パターンにより画像データのシェーディング補正を行うようにしたものがある。
【０００７】
【特許文献１】
特開２００１−２９２３６９号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、このような特許文献１に開示されるものは、予め対物レンズの種類に応じたシェーディング補正パターンを記憶したメモリを用意しているので、仮にメモリにシェーディング補正パターンが記憶されていない、新たな対物レンズを使用したい場合は、シェーディング補正パターンが用意できずシェーディング補正を行うことができなくなる。また、対物レンズとしてズーム式のものを使用した場合は、各倍率ごとに多数のシェーディング補正パターンを用意しなくてはならなくなり、現実的でなくなる。
【０００９】
さらに、顕微鏡コントロール部により対物レンズの種類を検出する必要があるため、特別な検出手段などが必要であり、上述した対物レンズの種類に応じたシェーディング補正パターンを記憶した専用のメモリを用意することを合わせ考えると、システム全体が高価なものになる。
【００１０】
さらにまた、長期間の使用で発生する光源の心ずれなどにより、メモリに記憶されたいるシェーディング補正パターンと実際に発生するシェーディングパターンが一致しなくなることがあり、この場合は、シェーディング補正が難しくなることもある。
【００１１】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、確実なシェーディング補正を行うことができるとともに、シェーディングの変化にも速やかに対応することができ、さにな価格的にも安価なシェーディング補正装置、方法および制御プログラムを記録した記録媒体を提供することを目的とする。
【００１２】
媒体を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、試料の像の撮像に撮像装置を使用した顕微鏡に適用されるシェーディング補正装置において、前記撮像装置または前記試料を移動させて、前記試料を前記撮像装置の撮影領域に対して挿脱可能にした移動手段と、
前記試料が前記撮影領域に存在しない状態で前記撮影領域の像を前記撮像装置により撮像し、明時画像信号を取り込む明時画像信号取込手段と、前記明時画像信号中に含まれるシェーディングのゲインを求め、シェーディング補正パターンを生成するシェーディング補正パターン生成手段と、前記試料が前記撮影領域に存在する状態で、前記撮影領域の試料の像を前記撮像装置によりを撮像し、主画像信号を取り込む主画像信号取込手段と、前記シェーディング補正パターンにより前記主画像信号を補正し、前記主画像信号のシェーディングを除去するシェーディング補正手段と、前記明時画像信号取込手段への明時画像信号の再度の取込みを指示にする取込み指示手段とを具備したことを特徴としている。
【００１４】
請求項２記載の発明は、試料の像の撮像に撮像装置を使用した顕微鏡に適用されるシェーディング補正方法において、前記撮像装置または前記試料を移動させて、前記試料を前記撮像装置の撮影領域に対して挿脱させ、前記試料が前記撮影領域に存在しない状態で前記撮影領域の像を前記撮像装置により撮像し、明時画像信号を取り込み、前記明時画像信号中に含まれるシェーディングのゲインを求めて、シェーディング補正パターンを生成し、前記試料が前記撮影領域に存在する状態で、前記撮影領域の試料の像を前記撮像装置によりを撮像し、主画像信号を取り込み、前記シェーディング補正パターンにより前記主画像信号を補正し、前記主画像信号のシェーディングを除去するようになっていて、前記明時画像信号取込手段への明時画像信号の再度の取込み指示を可能にしたことを特徴としている。
【００１５】
請求項３記載の発明は、試料の像の撮像に撮像装置を使用した顕微鏡に適用されるシェーディング補正装置の制御プログラムを記録した記録媒体であって、前記撮像装置または前記試料を移動させて、前記試料を前記撮像装置の撮影領域に対して挿脱させ、前記試料が前記撮影領域に存在しない状態で前記撮影領域の像を前記撮像装置により撮像させ、明時画像信号を取り込み、前記明時画像信号中に含まれるシェーディングのゲインを求めて、シェーディング補正パターンを生成し、前記試料が前記撮影領域に存在する状態で、前記撮影領域の試料の像を前記撮像装置によりを撮像させ、主画像信号を取り込み、前記シェーディング補正パターンにより前記主画像信号を補正し、前記主画像信号のシェーディングを除去するようになっていて、前記明時画像信号取込手段への明時画像信号の再度の取込み指示を可能にしたことを特徴としている。
【００１６】
この結果、本発明によれば、顕微鏡に新たな対物レンズを使用したい場合も、何ら問題なくシェーディング補正を行うことができ、また、対物レンズとしてズーム式のものを使用した場合も、各倍率ごとに問題なくシェーディング補正を行うことができる。
【００１７】
また、本発明によれば、従来では必要とされていた顕微鏡コントロール部により対物レンズの種類などを検出するための特別な検出手段を一切必要としないので、システム全体を安価にできる。
【００１８】
さらに、本発明によれば、取込み指示手段により明時画像信号取込手段への明時画像信号の再度の取込みを指示するだけでシェーディング補正パターンを最新のものに更新してシェーディング補正を続けることができるので、例えば、光源の心ずれ、対物レンズの交換などの明時画像信号のシェーディングを変化させる要因が発生した場合も、速やかに対応することができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に従い説明する。
【００２０】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明が適用される顕微鏡システムの概略構成を示している。図において、１は顕微鏡本体で、この顕微鏡本体１には、移動手段としてのステージ２６上の試料３に対向する対物レンズ２７が配置されている。また、この対物レンズ２７を介した観察光軸上には、三眼鏡筒ユニット５を介して接眼レンズユニット６が配置されているとともに、結像レンズユニット１００を介して電子カメラ３６が配置されている。この場合、ステージ２６は、対物レンズ２７の光軸に直交したＸＹ方向に水平移動できるようになっている。
【００２１】
この場合、ステージ２６側が固定で、対物レンズ２７側が移動するようにすることも考えられる。
【００２２】
図２は、このような顕微鏡システムの詳細な構成を示す図である。図２では、透過明視野観察、暗視野観察、位相差観察、微分干渉観察、蛍光観察などの各種の検鏡法を適宜選択可能な構成を示している。
【００２３】
図２に示す顕微鏡システムには、照明系として、透過照明光学系１１及び落射照明光学系１２が備えられている。透過照明光学系１１には透過照明用光源１３が備えられ、この透過照明用光源１３から照射される透過照明光の光路上に、この透過照明光を集光するコレクタレンズ１４、透過用フィルタユニット１５、透過視野絞り１６、透過シャッタ１６１、折曲げミラー１７、透過開口絞り１８、コンデンサ光学素子ユニット１９、及びトップレンズユニット２０が配置されている。また、落射照明光学系１２には、落射照明用光源２１が備えられ、この落射照明用光源２１から照射される落射照明光の光路上に、落射用フィルタユニット２２、落射シャッタ２３、落射視野絞り２４、及び落射開口絞り２５が配置されている。
【００２４】
透過照明光学系１１と落射照明光学系１２との各光軸が重なる観察光路Ｓ上には、観察の対象となる試料を載せる試料ステージ２６、対物レンズ２７が複数装着され、一つの対物レンズ２７を回転動作で選択し観察光路Ｓ上に位置させるためのレボルバ２８、対物レンズ側光学素子ユニット２９、例えば透過明視野観察または蛍光観察などの各種検鏡法に応じて観察光路Ｓ上のダイクロイックミラーを切り替えるためのキューブユニット３０、観察光路Ｓを観察光路Ｓ’と観察光路Ｓ”とに分岐するビームスプリッタ３１が配置されている。このビームスプリッタ３１は、三眼鏡筒ユニット５内に配置されている。
【００２５】
ビームスプリッタ３１で手前に折り曲げられた観察光路Ｓ’上には、接眼レンズ６ａが配置されている。また、ビームスプリッタ３１を透過した観察光路Ｓ”上には、中間変倍光学系（ズーム鏡筒）３３、オートフォーカス（ＡＦ）ユニット３７１と写真接眼レンズユニット３５からなる結像レンズユニット１００、及び電子カメラ３６が配置されている。
【００２６】
中間変倍光学系（ズーム鏡筒）３３は、電子カメラ３６で撮像される像を変倍するための変倍ズームレンズ３３ａを内蔵している。なお、中間変倍が不要な場合は、この中間変倍光学系（ズーム鏡筒）３３を取り外すことができる。電子カメラ３６内にはＣＣＤ４２が配置されている。対物レンズ２７からの光像は、写真接眼レンズユニット３５内の写真接眼レンズ３５ａによってＣＣＤ４２の撮像面に結像する。
【００２７】
オートフォーカス（ＡＦ）ユニット３７１内には、ビームスプリッタ３４が配置され、ここで観察光路Ｓ″から分岐された光路上には、ＡＦ用受光素子３４ａが配置されている。オートフォーカス（ＡＦ）ユニット３７１は、この受光素子３４ａからの出力信号をもとに合焦検出を行なうもので、ＡＦ機能が不要な場合にはユニットごと取り外すことができる。
【００２８】
透過照明光学系１１における透過用フィルタユニット１５、透過視野絞り１６、透過シャッタ１６１、透過開口絞り１８、コンデンサ光学素子ユニット１９、及びトップレンズユニット２０、落射照明光学系１２における落射用フィルタユニット２２、落射シャッタ２３、落射視野絞り２４、及び落射開口絞り２５、レボルバ２８、対物レンズ側光学素子ユニット２９、キューブユニット３０、ビームスプリッタ３１、中間変倍光学系（ズーム鏡筒）３３およびステージ２６は、それぞれモータライズされており、駆動回路部３７からの各駆動信号によって図示しない各モータにより駆動される。
【００２９】
一方、レボルバ２８には、観察光路Ｓ上に位置される対物レンズ２７の種類を検出する対物レンズ検出部３８が配置され、対物レンズ側光学素子ユニット２９には、リタデーション調整動作を検出するリタデーション調整動作検出部３９が配置され、写真接眼レンズユニット３５には、写真接眼レンズの種類を検出する写真接眼レンズ検出部４０が配置されている。
【００３０】
顕微鏡コントロール部４１は、顕微鏡全体の動作を制御するもので、透過照明用光源１３、落射照明用光源２１、駆動回路部３７、リタデーション調整動作検出部３９、写真接眼レンズ検出部４０、及び電子カメラ３６が接続されている。
【００３１】
顕微鏡コントロール部４１は、検鏡者による図示しない操作部の操作に従って、透過照明用光源１３及び落射照明用光源２１の調光を行なうとともに、駆動回路部３７に対して制御指示を行なう。さらに顕微鏡コントロール部４１は、透過照明用光源１３及び落射照明用光源２１に対する制御状態、駆動回路部３７に対する制御状態を始め、リタデーション調整動作検出部３９、写真接眼レンズ検出部４０からの検出情報を電子カメラ３６へ出力し、電子カメラ３６での撮像条件を自動設定する。
【００３２】
図３（ａ）（ｂ）は、上記顕微鏡システムに用いられる電子カメラの構成を示すブロック図である。図３（ａ）において一点鎖線で囲まれる部分は、顕微鏡コントロール部４１により撮像条件が設定される電子カメラ３６の構成を示している。なお、図３に示す一点鎖線で囲まれる部分以外は、図２で述べたと同一部分には、同符号を付して説明を省略する。
【００３３】
図３において、４２はＣＣＤなどの固体撮像素子（以下、単にＣＣＤという）で、このＣＣＤ４２には、対物レンズ２７、結像レンズユニット１００を介して試料３の光学的な観察像が結像される。ＣＣＤ４２は、結像される光学的な観察像を光電変換し、画像信号を生成するものである。
【００３４】
ＣＣＤ４２には、駆動パルス等の同期信号を発生させるタイミングジェネレータ（ＴＧ）５３およびシグナルジェネレータ（ＳＧ）５４が接続され、所定のタイミング信号により駆動されるようになっている。また、ＣＣＤ４２は、図示しない電子シャッタ機能（手段）を有しており、これにより露光時間の制御を行なうことができるようになっている。
【００３５】
ＣＣＤ４２には、ＣＤＳ回路（相関二重サンプリング回路；Ｃｏｒｒｅｌａｔｅｄ Ｄｏｕｂｌｅ Ｓａｍｐｌｉｎｇ）４３が接続されている。このＣＤＳ回路４３は、ＣＣＤ４２の出力信号から画像信号成分を抽出するものである。
【００３６】
ＣＤＳ回路４３には、ゲイン調整手段として増幅器（ＡＭＰ）４４が接続されている。この増幅器（ＡＭＰ）４４は、ＣＤＳ回路４３からの出力信号レベルを所定のゲイン値に調整するためのＡＧＣ回路などを含むゲイン制御手段からなっている。
【００３７】
増幅器（ＡＭＰ）４４には、Ａ／Ｄ変換器４５を介して明時画像信号取込手段としての第１の画像メモリ４６と、主画像信号取込手段としての第２の画像メモリ４７が接続されている。Ａ／Ｄ変換器４５は、タイミングジェネレータ（ＴＧ）５３のタイミング信号に同期して増幅器（ＡＭＰ）４４より出力されるアナログ画像信号をデジタル画像信号に変換するものである。第１の画像メモリ４６と第２の画像メモリ４７は、Ａ／Ｄ変換器４５から出力されるデジタル信号を記憶するもので、このうちの第１の画像メモリ４６は、シェーディング補正パターンを生成するため試料３がない状態を撮像した明時画像信号を記憶し、第２の画像メモリ４７は、シェーディング補正を行うため試料３を撮像した主画像信号を記憶するようになっている。
【００３８】
これら第１の画像メモリ４６と第２の画像メモリ４７は、メモリコントローラ５５によりデータの読み書きが制御される。
【００３９】
第１の画像メモリ４６には、シェーディング補正パターン生成手段としてのシェーディング補正パターン演算部４９が接続されている。シェーディング補正パターン演算部４９には、補正パターン記憶メモリ６２が接続されている。シェーディング補正パターン演算部４９は、フィルタ部４９１と演算部本体４９２を有するものである。フィルタ部４９１は、明時画像信号中のノイズを始め、欠陥やゴミに相当する信号分を除去するためのもので、メディアンフィルタなどの各種フィルタが用いられる。演算部本体４９２は、明時画像信号からシェーディング補正パターンを生成するものである。補正パターン記憶メモリ６２は、演算部本体４９２で生成されたシェーディング補正パターンを記憶する。この補正パターン記憶メモリ６２も、メモリコントローラ５５によりデータの読み書きが制御される。
【００４０】
第２の画像メモリ４７には、シェーディング補正手段としてのシェーディング補正部４８が接続されている。シェーディング補正部４８は、図３（ｂ）に示すように切替えスイッチ４８１、４８２および掛算器４８３から構成されている。切替えスイッチ４８１、４８２は、それぞれ固定切片ａ１、ｂ１と可動切片ｃ１を有し、後述するＣＰＵ６０の制御信号ｓにより固定切片ａ１、ｂ１に対する可動切片ｃ１の切替えを可能にしている。掛算器４８３は、第２の画像メモリ４７に記憶された主画像信号ｂ’（Ｂ）と補正パターン記憶メモリ６２に記憶されたシェーディング補正パターンａ’（Ａ）を掛算するものである。また、切替えスイッチ４８１は、固定切片ａ１を第２の画像メモリ４７の出力端子に、固定切片ｂ１をＡ／Ｄ変換器４５の出力端子に、可動切片ｃ１を掛算器４８３の入力端子と切替えスイッチ４８２の固定切片ｂ１にそれぞれ接続され、また、切替えスイッチ４８２は、固定切片ａ１を掛算器４８３に出力端子に接続されていて、切替えスイッチ４８１、４８２の切替えが図示状態にある時は、掛算器４８３により第２の画像メモリ４７に記憶された主画像信号ｂ’と補正パターン記憶メモリ６２に記憶されたシェーディング補正パターンａ’の掛算が実行され、また、切替えスイッチ４８１の可動切片ｃ１が固定切片ｂ１に切替えられると、第２の画像メモリ４７を通さず、Ａ／Ｄ変換器４５からの主画像信号を直接掛算器４８３に入力でき、さらに切替えスイッチ４８１の可動切片ｃ１が固定切片ｂ１に切替えられ、切替えスイッチ４８２の可動切片ｃ１が固定切片ｂ１に切替えられるとＡ／Ｄ変換器４５からの主画像信号を画像メモリ５０に直接入力できるようにもなっている。
【００４１】
シェーディング補正部４８には、画像メモリ５０と画像信号処理回路５１が接続されている。画像メモリ５０は、ＣＣＤ４２で撮像された画像信号を静止画として直接記憶するものである。画像信号処理回路５１は、シェーディング補正された画像信号のγ補正、エッジ強調などの画像信号処理を行うものである。
【００４２】
画像信号処理回路５１には、表示手段である液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）５９およびＤＲＡＭ５６が接続されている。液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）５９は、画像信号を表示可能な形態に処理する信号処理回路を有し、ここで信号処理された画像を表示するものである。ＤＲＡＭ５６は、画像信号を一時的に記憶するメモリ等からなるカメラ内蔵記憶手段である。
【００４３】
ＤＲＡＭ５６には、画像信号に圧縮処理及び伸長処理を施す圧縮伸長回路５７が接続されている。
【００４４】
上述した各構成部材は、制御手段であるＣＰＵ６０に接続されている。ＣＰＵ６０は、電子カメラ３６全体を統括的に制御するものである。
【００４５】
ＣＰＵ６０には、記録媒体５８と操作部６１が接続されている。記録媒体５８は、画像信号を保存するメモリカードなどからなっている。操作部６１は、撮影時にＡＦ動作を開始させると共に、露光動作を開始させるトリガー信号を発生させるスイッチ、シェーディング補正を指示するトリガー信号を発生させるスイッチ（取込み指示手段）、図２で述べた対物レンズ２７の切換えを指示するスイッチ、透過開口絞り１８，落射開口絞り２５などの開口絞りの開閉を指示するスイッチなどの各種の操作スイッチを有している。
【００４６】
次に、このように構成された実施の形態の作用を説明する。
【００４７】
なお、ここでは撮影時に行われる作用のうち、本発明にかかわる部分のみを説明している。
【００４８】
この場合、図４に示すフローチャートが実行される。
【００４９】
まず、ステップ４０１で、顕微鏡システムの電源をオンにし、ステップ４０２で、ステージ２６上に試料３をセットする。
【００５０】
この場合、試料３は、図５に示すように試料ホルダ、例えば、スライドガラス６３面に固定されている。スライドガラス６３は、ステージ２６上でスライドガラス受け６４により位置決めされていて、ステージ２６の電動または手動によるＸＹ方向の移動により、試料３の任意の位置を対物レンズ２７の光軸上、つまり電子カメラ３６による撮影エリア（領域）６５に移動させて顕微観察できるようにしている。
【００５１】
次に、ステップ４０３で、電子カメラ３６の電源をオンにする。すると、ＣＰＵ６０から顕微鏡コントロール部４１を経由して駆動回路部３７にステージ２６の移動を指示する制御信号が与えられる。
【００５２】
ステップ４０４で、駆動回路部３７は、顕微鏡コントロール部４１の指示に従ってステージ２６を移動させる。ステージ２６は、図５に示すステージ２６上の試料３の存在しないエリアを撮影エリア６５に移動させる。このときのステージ２６の移動方向と移動距離は、予め決めておいておいてもよいし、試料３の大きさを検出して移動距離を自動的に決定するようにしてもよい。図示例では、ステージ２６上の試料３の存在しないエリアは、スライドガラス６３上で試料３の存在しない位置Ｓ１、またはステージ２６の光路透過用の孔部２６ａ上で試料３の存在しない位置Ｓ２が設定されている。
【００５３】
この状態から、ステップ４０５で、電子カメラ３６により撮影エリア６５の撮影を行う。この場合、ＣＣＤ４２は、透過照明により撮影エリア６５の像を撮像する。この撮像により得られた画像信号は、ＣＤＳ回路４３において画像信号成分が抽出され、増幅器（ＡＭＰ）４４により出力信号レベルが所定のゲイン値に調整された後、Ａ／Ｄ変換器４５においてデジタル信号に変換され、試料３がない状態を撮像した明時画像信号として、第１の画像メモリ４６に記憶される。
【００５４】
次に、ステップ４０６で、シェーディング補正パターン演算部４９によりシェーディング補正パターンを演算により求める。
【００５５】
図６（ａ）（ｂ）は、シェーディング補正パターン演算部４９の演算により求められるシェーディング補正パターンを説明するものである。
【００５６】
この場合、第１の画像メモリ４６に記憶された明時画像信号は、現在、観察光路に挿入されている対物レンズ２７により、図６（ａ）に示すように画像中央部が明るく、画像周辺部が暗くなるシェーディングＳＥが発生している。
【００５７】
この明時画像信号による画像中心線に沿った輝度分布は、同図（ａ’）に示すようになる。ここでの輝度分布は、画像中心の輝度を基準（１００％）とすると、周辺部の輝度が１０％程度低下している。
【００５８】
次に、この明時画像信号を反転させて、反転明時画像信号を求める。この反転明時画像信号は、図６（ｂ）に示すように画像全体が暗く、画像周辺部がシェーディング量に応じて明るくなっている。この反転明時画像信号による画像中心線に沿ったゲインの変化は、同図（ｂ’）に示すように画像中心のゲインを１とすると、周辺部でのゲインは１．１１になる。
【００５９】
この結果が、対物レンズ２７に対応するシェーディング補正パターンとして、図４に示すステップ４０７で、補正パターン記憶メモリ６２に記憶される。
【００６０】
次に、ステップ４０８で、再びＣＰＵ６０から顕微鏡コントロール部４１を経由して駆動回路部３７にステージ２６の移動を指示する制御信号が与えられ、駆動回路部３７によりステージ２６を移動させる。この場合、ステージ２６は、図５に示すステージ２６上の試料３の観察したい部位を撮影エリア６５に移動させる。
【００６１】
この状態から、ステップ４０９で、電子カメラ３６により撮影エリア６５の撮影を行う。この場合、ＣＣＤ４２は、試料３の観察したい部位の像を撮像する。この撮像により得られた画像信号は、ＣＤＳ回路４３、増幅器（ＡＭＰ）４４、Ａ／Ｄ変換器４５を介して、試料３の観察したい部位を撮像した主画像信号として、第２の画像メモリ４７に記憶される。
【００６２】
次に、ステップ４１０で、シェーディング補正部４８によりシェーディング補正が行われる。
【００６３】
図７（ａ）（ｂ）は、シェーディング補正を説明するものである。
【００６４】
この場合、第２の画像メモリ４７に記憶された主画像信号ｂ’が図３（ｂ）に示すシェーディング補正部４８の切替えスイッチ４８１を介して掛算器４８３に入力され、同時に、補正パターン記憶メモリ６２に記憶されたシェーディング補正パターンａ’も掛算器４８３に入力され、これら主画像信号ｂ’（Ｂ）とシェーディング補正パターンａ’（Ａ）の掛算が行われる。
【００６５】
この場合、主画像信号ｂ’による画像も、図７（ａ）に示すように周辺部にシェーディングＳＥが発生しており（このシェーディングは、観察光路に挿入されている対物レンズ２７によるものである。）、画像中心線に沿った輝度分布は、同図（ａ’）に示すように、画像周辺部の輝度が中心部に比べて１０％程度低下している。一方、シェーディング補正パターンａ’は、上述した図６（ｂ’）に示すように画像中心が１、周辺部が１．１１のゲインを有している。
【００６６】
掛算器４８３の掛算によりシェーディング補正パターンａ’による主画像信号ｂ’のシェーディング補正が行われると、画像中心部については各画素の輝度にゲイン１が掛けられ、周辺部については各画素にゲイン１．１１が掛けられる。これにより、画像周辺部の明るさが、中心部の９０％であったものが、ゲイン１．１１を掛けることにより、１００％となり、画像中心部と同じ明るさに補正することができる。
【００６７】
このようなシェーディング補正によるゲイン調整は、主画像信号ｂ’の全ての画素について行われる。この結果、図７（ｂ）に示すように画像周辺部のシェーディングが除去され、同図（ｂ’）に示すように画面全体の明るさがほぼ均一な画像が得られる。
【００６８】
そして、シェーディング補正された画像信号は、画像信号処理回路５１で、γ補正、エッジ強調などの画像信号処理が施され、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）５９に表示されるとともに、ＤＲＡＭ５６に記憶される。
【００６９】
この状態で、ステップ４１１で、操作部６１において、シェーディング補正を指示するスイッチが操作されたかを判断する。ここで、スイッチ操作がなければ、ステップ４０９〜４１１の動作が繰り返される。つまり、この間は、ステップ４０６で求められたシェーディング補正パターンがそのまま利用され、ステージ２６の移動により撮影エリア６５に位置される試料３を撮像した主画像信号のシェーディング補正が行われる。
【００７０】
その後、例えば対物レンズ２７を他の倍率のものと交換したような場合、シェーディングレベルが変動することが考えられるので、対物レンズ２７の切換えに連動させてシェーディング補正パターンを更新する必要がある。
【００７１】
この場合、操作部６１において、シェーディング補正を指示するスイッチを操作すると、ステップ４１１でＹＥＳとなってステップ４０４に戻り、このステップ４０４以降の動作が繰り返して実行される。この場合も、駆動回路部３７によりステージ２６を移動して、ステージ２６上の試料３の存在しないエリアを撮影エリア６５に位置させ、電子カメラ３６により撮影エリア６５の像を撮像する。撮像された画像信号は、明時画像信号として、第１の画像メモリ４６に記憶され、シェーディング補正パターン演算部４９により新しいシェーディング補正パターンが演算により求められる。
【００７２】
その後は、次のスイッチ操作が行われるまで、この更新されたシェーディング補正パターンを利用して、ステージ２６の移動により撮影エリア６５に位置される試料３を撮像した主画像信号のシェーディング補正が行われる。
【００７３】
従って、このようにすれば、ステージ２６上の試料３の存在しないエリアを撮影エリア６５に移動させ、この状態をＣＣＤ４２で撮像して明時画像信号を取得するとともに、明時画像信号に発生しているシェーディングのゲインを求めてシェーディング補正パターンを生成し、次に、試料３の観察したい部位を撮影エリア６５に移動させ、この状態をＣＣＤ４２で撮像して主画像信号を取得し、この主画像信号をシェーディング補正パターンにより補正することで主画像信号中のシェーディングを除去するようにしたので、従来の予め対物レンズの種類に応じたシェーディング補正パターンを記憶したメモリを用意するものと比べ、新たな対物レンズを使用したい場合も、何ら問題なく確実にシェーディング補正を行うことができ、また、対物レンズとしてズーム式のものを使用した場合も、各倍率ごとに問題なくシェーディング補正を行うことができる。
【００７４】
また、従来では必要とされていた顕微鏡コントロール部により対物レンズの種類を検出するための特別な検出手段などを一切必要としないので、システム全体も安価にできる。
【００７５】
さらに、操作部６１において、シェーディング補正を指示するスイッチを操作するだけで、シェーディング補正パターンを最新のものに更新してシェーディング補正を続けることができるので、光源の心ずれ、対物レンズの交換などの明時画像信号のシェーディングを変化させる要因が発生した場合も、速やかに対応することができ、常に安定したシェーディング補正を行うことができる。
【００７６】
（第２の実施の形態）
次に、本発明の第２の実施の形態を説明する。
【００７７】
この場合、第２の実施の形態のシェーディング補正装置が適用される顕微鏡システム、顕微鏡システムおよび電子カメラのそれぞれの構成は、第１の実施の形態で述べた図１、図２および図３と同様なので、これらの図面を援用するものとする。
【００７８】
ところで、上述したように対物レンズ２７の切換えて他の倍率のものと交換したような場合、シェーディングが変化する。そこで、この第２の実施の形態では、対物レンズの切換えに連動してシェーディング補正パターンを更新するようにしている。
【００７９】
図８は、第２の実施の形態の動作を説明するフローチャートを示している。
【００８０】
この場合、ステップ８０１〜ステップ８１０までは、図４に示すステップ４０１〜ステップ４１０で述べた動作と同様である。
【００８１】
その後、対物レンズ２７の切換えが必要になって、操作部６１において、対物レンズ２７の切換えを指示するスイッチ操作を行うと、ＣＰＵ６０から顕微鏡コントロール部４１を経由して駆動回路部３７に対物レンズ２７の切換えを指示する制御信号が与えられる。これによりレボルバ２８が回転駆動され、観察光路状の対物レンズ２７が切換えられる。
【００８２】
この場合、操作部６１でのスイッチ操作により、ステップ８１１でＹＥＳが判断され、ステップ８０４に戻る。そして、ステップ８０４以降の動作が繰り返して実行される。この場合も、駆動回路部３７によりステージ２６を移動して、ステージ２６上の試料３の存在しないエリアを撮影エリア６５に位置させ、電子カメラ３６により撮影エリア６５の像を撮像する。撮像された画像信号は、明時画像信号として、第１の画像メモリ４６に記憶され、シェーディング補正パターン演算部４９により新しいシェーディング補正パターンが求められる。
【００８３】
その後は、次の対物レンズ２７が切換えが行われるまで、更新されたシェーディング補正パターンを利用して、ステージ２６の移動により撮影エリア６５に位置される試料３を撮像した主画像信号のシェーディング補正が行われる。
【００８４】
従って、このようにすれば、対物レンズ２７の切換え指示を与えるだけで、自動的にシェーディング補正パターンを更新することができるので、改めてシェーディング補正パターンを更新するための作業を行う必要がなくなり、検鏡作業の効率化を実現できる。
【００８５】
（第３の実施の形態）
次に、本発明の第３の実施の形態を説明する。
【００８６】
この場合、第３の実施の形態のシェーディング補正装置が適用される顕微鏡システム、顕微鏡システムおよび電子カメラのそれぞれの構成は、第１の実施の形態で述べた図１、図２および図３と同様なので、これらの図面を援用するものとする。
【００８７】
ところで、第２の実施の形態では、対物レンズ２７の切換えの場合を述べたが、開口絞りの開閉調整によっても、シェーディングが変化する。そこで、この第３の実施の形態では、開口絞りの開閉動作に連動してシェーディング補正パターンを更新するようにしている。
【００８８】
図９は、第３の実施の形態の動作を説明するフローチャートを示している。
【００８９】
この場合、ステップ９０１〜ステップ９１０までは、図４に示すステップ４０１〜ステップ４１０で述べた動作と同様である。
【００９０】
その後、透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）の開閉調整が必要になって、操作部６１において、開口絞りの開閉を指示するスイッチ操作を行うと、ＣＰＵ６０から顕微鏡コントロール部４１を経由して駆動回路部３７に透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）の開閉調整を指示する制御信号が与えられる。これにより透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）が開閉動作され、開度が調整される。
【００９１】
この場合、操作部６１でのスイッチ操作により、ステップ９１１でＹＥＳが判断され、ステップ９０４に戻る。そして、このステップ９０４以降の動作が繰り返して実行される。この場合も、駆動回路部３７によりステージ２６を移動して、ステージ２６上の試料３の存在しないエリアを撮影エリア６５に位置させ、電子カメラ３６により撮影エリア６５の像を撮像する。撮像された画像信号は、明時画像信号として、第１の画像メモリ４６に記憶され、シェーディング補正パターン演算部４９により新しいシェーディング補正パターンが求められる。
【００９２】
その後は、次の透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）の開閉調整が行われるまで、更新されたシェーディング補正パターンを利用して、ステージ２６の移動により撮影エリア６５に位置される試料３を撮像した主画像信号のシェーディング補正が行われる。
【００９３】
従って、このようにしても、透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）の開閉の指示を与えるだけで、自動的にシェーディング補正パターンを更新することができるので、改めてシェーディング補正パターンを更新するための作業を行う必要がなくなり、検鏡作業の効率化を実現できる。
【００９４】
（第４の実施の形態）
次に、本発明の第４の実施の形態を説明する。
【００９５】
この場合、第４の実施の形態のシェーディング補正装置が適用される顕微鏡システム、顕微鏡システムおよび電子カメラのそれぞれの構成は、第１の実施の形態で述べた図１、図２および図３と同様なので、これらの図面を援用するものとする。
【００９６】
ところで、第３の実施の形態では、開口絞りの開閉によってシェーディング補正パターンを更新する場合を述べたが、開口絞りの場合、開閉状態によってシェーディングが変化し、例えば、開口絞りが開放しているときは、シェーディングが大きく、ゴミや傷の影響が少なく、逆に開口絞りが閉じているときは、シェーディングが小さく、ゴミや傷の影響が大きい。そこで、この第４の実施の形態では、開口絞りの状態によってシェーディング補正パターンの更新の可否を決定するようにしている。
【００９７】
図１０は、第４の実施の形態の動作を説明するフローチャートを示している。
【００９８】
この場合、ステップ１００１〜ステップ１００９までは、図４に示すステップ４０１〜ステップ４０９で述べた動作と同様である。
【００９９】
そして、ステップ１０１０で、透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）の状態が判断される。ここで、透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）が開放している場合は、シェーディングが大きく、ゴミや傷の影響が少ないと判断され、ステップ１０１１に進み、シェーディング補正が実行される。ここでのシェーディング補正は、図４に示すステップ４１０で述べた動作と同様である。
【０１００】
一方、透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）が閉じている場合は、シェーディングが小さく、ゴミや傷の影響が大きいと判断して、ステップ１０１１のシェーディング補正を行わない。ゴミなどを検出すると、シェーディング補正が正しく行なえないことがあるからである。この場合、図３（ｂ）に示す切替えスイッチ４８１、４８２にＣＰＵ６０から制御指令が与えられ、切替えスイッチ４８１の可動切片ｃ１が固定切片ａ１側に切替えられ、切替えスイッチ４８２も可動切片ｃ１が固定切片ｂ１側に切替えられる。これにより、第２の画像メモリ４７に記憶された主画像信号ｂ’は、掛算器４８３を経由させずに画像信号処理回路５１に直接入力される。
【０１０１】
そして、ステップ１０１２に進み、対物レンズ２７の切換えの可否が判断される。ここでの対物レンズ２７の切換え動作は、図８に示すステップ８１１で述べた動作と同様である。
【０１０２】
その後は、対物レンズ２７の切換えが行われるごとに、シェーディング補正パターンが更新されるが、透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）の開閉状態に応じてシェーディング補正の可否が決定される。
【０１０３】
従って、このようにすれば、透過開口絞り１８（または落射開口絞り２５）の開閉状態によりシェーディングが小さく、ゴミや傷の影響が大きいと判断した場合は、シェーディング補正を行わないようにできるので、無駄なシェーディング補正を行わないようにもできる。
【０１０４】
（第５の実施の形態）
次に、本発明の第５の実施の形態を説明する。
【０１０５】
この場合、第５の実施の形態のシェーディング補正装置が適用される顕微鏡システム、顕微鏡システムおよび電子カメラのそれぞれの構成は、第１の実施の形態で述べた図１、図２および図３と同様なので、これらの図面を援用するものとする。
【０１０６】
ところで、第４の実施の形態では、開口絞りの開閉状態によってシェーディング補正を行わないようにした例を述べたが、シェーディング補正は、ゲインアップにより補正しているため、Ｓ／Ｎ比の劣化を生じる可能性があり、特に、ゴミなどを検出してしまうと、シェーディング補正が正しく行えないことがある。そこで、この第５の実施の形態では、シェーディング補正パターンからシェーディング量の大きさを判断し、このシェーディング量によりシェーディング補正パターンの更新の可否を決定するようにしている。
【０１０７】
図１１は、第５の実施の形態の動作を説明するフローチャートを示している。
【０１０８】
この場合、ステップ１１０１〜ステップ１００５までは、図４に示すステップ４０１〜ステップ４０５で述べた動作と同様である。
【０１０９】
そして、ステップ１１０６で、シェーディング補正パターン演算部４９により第１の画像メモリ４６に記憶された明時画像信号に基づいてシェーディング補正パターンを求めるが、このシェーディング補正パターンを求めるのと同時に、シェーディング量を求める。また、ステップ１１０７で、これらシェーディング補正パターンとシェーディング量を補正パターン記憶メモリ６２に記憶する。
【０１１０】
次いで、ステップ１１０８で、ステージ２６を移動して、試料３の観察したい部位を撮影エリア６５に移動させ、ステップ１１０９で、電子カメラ３６により撮影エリア６５に位置される試料３の観察部位の像を撮像し、撮像により得られた画像信号を主画像信号として第２の画像メモリ４７に記憶させる。
【０１１１】
そして、ステップ１１１０で、シェーディング量が判断される。ここで、シェーディング量が大きく、Ｓ／Ｎ比の劣化の可能性がある場合は、ステップ１１１１に進み、シェーディング補正を実行する。ここでのシェーディング補正は、図４に示すステップ４１０で述べた動作と同様である。
【０１１２】
一方、シェーディング量が小さい場合は、Ｓ／Ｎ比の劣化の可能性が小さいと判断して、ステップ１１１１のシェーディング補正を行わない。この場合も、図３（ｂ）に示す切替えスイッチ４８１、４８２にＣＰＵ６０から制御指令が与えられ、切替えスイッチ４８１の可動切片ｃ１が固定切片ａ１側に切替えられ、切替えスイッチ４８２も可動切片ｃ１が固定切片ｂ１側に切替えられる。これにより、第２の画像メモリ４７に記憶された主画像信号ｂ’は、掛算器４８３を経由させずに画像信号処理回路５１に直接入力される。
【０１１３】
そして、ステップ１１１２に進み、対物レンズ２７の切換えの可否が判断される。ここでの対物レンズ２７の切換え動作は、図８に示すステップ８１１で述べた動作と同様である。
【０１１４】
その後は、対物レンズ２７の切換えが行われるごとに、シェーディング補正パターンが更新されるが、このときのシェーディング量に応じてシェーディング補正の可否が決定される。
【０１１５】
従って、このようにしても、シェーディング補正パターンの生成とともに、シェーディング量を求め、このシェーディング量が小さい場合は、シェーディング補正を行わないようにできるので、無駄なシェーディング補正を行なわないようにできる。
【０１１６】
（第６の実施の形態）
次に、本発明の第６の実施の形態を説明する。
【０１１７】
この場合、第６の実施の形態のシェーディング補正装置が適用される顕微鏡システム、顕微鏡システムおよび電子カメラのそれぞれの構成は、第１の実施の形態で述べた図１、図２および図３と同様なので、これらの図面を援用するものとする。
【０１１８】
この第６の実施の形態では、試料３の観察したい部位の像を静止画像として撮り込んだ後に、シェーディング補正を行うようにしている。
【０１１９】
図１２は、第６の実施の形態の動作を説明するフローチャートを示している。
【０１２０】
この場合、ステップ１２０１〜ステップ１２０３までは、図４に示すステップ４０１〜ステップ４０３で述べた動作と同様である。
【０１２１】
そして、ステップ１２０４で、電子カメラ３６により撮影エリア６５の撮影を行う。この場合、ＣＣＤ４２は、試料３の観察したい部位の像を撮像する。この撮像された画像信号は、画像信号処理回路５１で画像処理された後、ＬＣＤ５９に動画像として表示される。
【０１２２】
この場合、図３（ｂ）に示す切替えスイッチ４８１、４８２にＣＰＵ６０から制御指令が与えられ、切替えスイッチ４８１の可動切片ｃ１が固定切片ｂ１側に切替えられ、切替えスイッチ４８２も可動切片ｃ１が固定切片ｂ１側に切替えられる。これにより、Ａ／Ｄ変換器４５でデジタル化された画像信号は、シェーディング補正部４８をそのまま通過して画像信号処理回路５１に入力される。
【０１２３】
この状態で、ＬＣＤ５９に表示される動画像を見ながら操作部６１より画像撮り込みを指示すると、ステップ１２０５で、撮り込みトリガがオンとなり、ステップ１２０６で静止画像が画像メモリ５０に記憶される。
【０１２４】
その後、ステップ１２０７以降の動作に進むが、ここでのステップ１２０７〜ステップ１２１２までの動作は、図４に示すステップ４０４〜ステップ４０８とステップ４１０での動作と同様である。
【０１２５】
そして、ステップ１２１３で、シェーディング補正後の信号を記録し、ステップ１２０４に戻って、ステップ１２０４以降の動作を繰り返す。
【０１２６】
従って、このようにすれば、試料３の観察したい部位の像を静止画像として撮り込んだ後に、シェーディング補正パターンを更新するようにしたので、例えば、対物レンズを交換した場合も、この交換した状態で静止画像が撮り込まれているので、改めて対物レンズの交換を検出してシェーディング補正パターンを更新する必要がなくなる。このことは、電子カメラ３６の動作中の心ずれなど予期しないシェーディングの変化にも対応することができる。
【０１２７】
（第７の実施の形態）
次に、本発明の第７の実施の形態を説明する。
【０１２８】
この場合、第７の実施の形態のシェーディング補正装置が適用される顕微鏡システム、顕微鏡システムおよび電子カメラのそれぞれの構成は、第１の実施の形態で述べた図１、図２および図３と同様なので、これらの図面を援用するものとする。
【０１２９】
この第７の実施の形態では、第６の実施の形態において、静止画像の撮り込みに連動して対物レンズ２７の交換の有無を判断してからシェーディング補正パターンの更新の必要性を判断している。
【０１３０】
図１３は、第７の実施の形態の動作を説明するフローチャートを示している。
【０１３１】
この場合、ステップ１３０１〜ステップ１３０６までは、図１２に示すステップ１２０１〜ステップ１２０６で述べた動作と同様である。
【０１３２】
そして、対物レンズ２７の切換えが必要になって、操作部６１において、対物レンズ２７の切換えを指示するスイッチ操作を行うと、ステップ１３０７で、ＹＥＳが判断され、ステップ１３０８〜ステップ１３１４の動作が行われる。ここでのステップ１３０８〜ステップ１３１４の動作は、図１２に示すステップ１２０７〜ステップ１２１３で述べた動作と同様である。
【０１３３】
一方、対物レンズ２７の切換えが行われない場合は、ステップ１３１３に進み、ステップ１３１３以降の動作が繰り返される。この場合は、対物レンズ２７が切換えが行われるまで、シェーディング補正パターンの更新は行わず、これまで使用しているシェーディング補正パターンを利用して、主画像信号のシェーディング補正が行われる。
【０１３４】
従って、このようにしても、第６の実施の形態と同様に、電子カメラ３６の動作中の心ずれなど予期しないシェーディングの変化にも対応することができる。
【０１３５】
（第８の実施の形態）
次に、本発明の第８の実施の形態を説明する。
【０１３６】
図１４は、第８の実施の形態のシェーディング補正装置が適用される電子カメラの概略構成を示すもので、図３と同一部分には、同符号を付している。
【０１３７】
この場合、第１の画像メモリ４６には、シェーディングパターン検出部７１が接続されている。このシェーディングパターン検出部７１は、第１の画像メモリ４６に記憶された試料３がない状態を撮像した明時画像信号を取り込む。そして、明時画像信号から画像中の何点かの画素に着目し、これら画素の明るさの数値を検出し、これらの明るさの数値からシェーディング補正パターンを決定するパラメータを求める。このシェーディングパターン検出部７１についても、明時画像信号中のノイズを始め、欠陥やゴミに相当する信号分を除去するための、メディアンフィルタなどのフィルタが設けられている。
【０１３８】
ＣＰＵ６０には、シェーディングパターン設定部７２が接続されている。このシェーディングパターン設定部７２は、予め基本となるシェーディング補正パターンが用意されていて、シェーディングパターン検出部７１で求められたバラメータに応じて明時画像信号に対応するシェーディング補正パターンを設定する。
【０１３９】
そして、このシェーディング補正パターンを使用し、第１の実施の形態で述べたと同様にして、試料３の観察したい部位を撮像した主画像信号に対するシェーディング補正を行う。
【０１４０】
このようにしても、第１の実施の形態と同様な効果を期待できる。
【０１４１】
なお、上述した実施の形態では、対物レンズの交換、開口絞りの調整など、シェーディングの変化が生じる可能性のある場合について、シェーディング補正パターンを更新する例を述べたが、シェーディングが変化する原因としては、光源の心ずれなどもある。この光源の心ずれは、電子カメラ３６の付け替え、透過照明用光源１３の付け替えなどが原因するものである。このような原因による光源の心ずれは、電源を一旦オフしてから付け替えられるものであるから、システム電源オン時のシェーディング補正パターンの更新によりカバーできる。また、一定時間ごとにシェーディング補正パターンを更新するのも有効である。
【０１４２】
その他、本発明は、上記実施の形態に限定されるものでなく、実施段階では、その要旨を変更しない範囲で種々変形することが可能である。
【０１４３】
さらに、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。
【０１４４】
なお、上述した各実施の形態には、以下の発明が含まれる。
【０１４５】
（１）請求項１記載のシェーディング補正装置において、
取込み指示手段は、前記明時画像信号のシェーディングを変化させる要因が発生した状態で前記明時画像信号取込手段への明時画像信号の再度の取込みを指示するようになっている。
【０１４６】
（２）請求項１記載のシェーディング補正装置において、主画像信号取込手段による主画像信号の優先的な撮り込みを指示する指示手段をさらに有し、該指示手段に連動して前記取込み指示手段による明時画像信号の再度の取込みを行うことを特徴としている。
【０１４７】
（３）請求項１記載のシェーディング補正装置は、少なくとも対物レンズを有する光学系の組合わせ、観察方法、照明方法の組合わせた顕微鏡に適用されるようになっている。
【０１４８】
（４）（１）記載のシェーディング補正装置において、前記取込み指示手段は、前記明時画像信号のシェーディングを変化させる要因として対物レンズの切換えまたは開口絞りの開閉動作に応じて明時画像信号の再度の取込みを指示するようになっている。
【０１４９】
（５）（１）記載のシェーディング補正装置において、前記取込み指示手段は、前記明時画像信号のシェーディングの状態を判断して明時画像信号の再度の取込みを指示するようになっている。
【０１５０】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、確実なシェーディング補正を行うことができるとともに、シェーディングの変化にも速やかに対応することができ、さにな価格的にも安価なシェーディング補正装置、方法および制御プログラムを記録した記録媒体を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態が適用される顕微鏡システムの概略構成を示す図。
【図２】第１の実施の形態が適用される顕微鏡システムの詳細な構成を示す図。
【図３】第１の実施の形態が適用される電子カメラの概略構成を示す図。
【図４】第１の実施の形態の動作を説明するフローチャート。
【図５】第１の実施の形態のテーブル上の試料の載置状態を示す図。
【図６】第１の実施の形態のシェーディング補正を説明するための図。
【図７】第１の実施の形態のシェーディング補正を説明するための図。
【図８】本発明の第２の実施の形態の動作を説明するフローチャート。
【図９】本発明の第３の実施の形態の動作を説明するフローチャート。
【図１０】本発明の第４の実施の形態の動作を説明するフローチャート。
【図１１】本発明の第５の実施の形態の動作を説明するフローチャート。
【図１２】本発明の第６の実施の形態の動作を説明するフローチャート。
【図１３】本発明の第７の実施の形態の動作を説明するフローチャート。
【図１４】本発明の第８の実施の形態が適用される電子カメラの概略構成を示す図。
【符号の説明】
１…顕微鏡本体、３…試料、５…三眼鏡筒ユニット
６…接眼レンズユニット、６ａ…接眼レンズ、１１…透過照明光学系
１２…落射照明光学系、１３…透過照明用光源、１４…コレクタレンズ
１５…透過用フィルタユニット、１６…透過視野絞り、１６１…透過シャッタ
１７…ミラー、１８…透過開口絞り、１９…コンデンサ光学素子ユニット
２０…トップレンズユニット、２１…落射照明用光源
２２…落射用フィルタユニット、２３…落射シャッタ、２４…落射視野絞り
２５…落射開口絞り、２６…ステージ、２６ａ…孔部
２７…対物レンズ、２８…レボルバ、２９…対物レンズ側光学素子ユニット
３０…キューブユニット、３１…ビームスプリッタ、
３３…中間変倍光学系（ズーム鏡筒）、３３ａ…変倍ズームレンズ
３４…ビームスプリッタ、３４ａ…ＡＦ用受光素子
３５…写真接眼レンズユニット、３５ａ…写真接眼レンズ
１００…結像レンズユニット、３６…電子カメラ、３７…駆動回路部
３７１…オートフォーカス（ＡＦ）ユニット、３８…対物レンズ検出部
３９…リタデーション調整動作検出部、４０…写真接眼レンズ検出部
４１…顕微鏡コントロール部、４２…ＣＣＤ、４３…ＣＤＳ回路
４５…Ａ／Ｄ変換器、４６…第１の画像メモリ
４７…第２の画像メモリ、４８…シェーディング補正部
４８１．４８２…切替えスイッチ、４８３…掛算器
４９…シェーディング補正パターン演算部、４９１…フィルタ部
４９２…演算部本体、５０…画像メモリ
５１…画像信号処理回路、５５…メモリコントローラ
５６…ＤＲＡＭ、５７…圧縮伸長回路、５８…記録媒体
５９…ＬＣＤ、６０…ＣＰＵ、６１…操作部
６２…補正パターン記憶メモリ、６３…スライドガラス
６４…スライドガラス受け、６５…撮影エリア
７１…シェーディングパターン検出部
７２…シェーディングパターン設定部

Claims (3)

1. 試料の像の撮像に撮像装置を使用した顕微鏡に適用されるシェーディング補正装置において、
   前記撮像装置または前記試料を移動させて、前記試料を前記撮像装置の撮影領域に対して挿脱可能にした移動手段と、
   前記試料が前記撮影領域に存在しない状態で前記撮影領域の像を前記撮像装置により撮像し、明時画像信号を取り込む明時画像信号取込手段と、
   前記明時画像信号中に含まれるシェーディングのゲインを求め、シェーディング補正パターンを生成するシェーディング補正パターン生成手段と、
   前記試料が前記撮影領域に存在する状態で、前記撮影領域の試料の像を前記撮像装置によりを撮像し、主画像信号を取り込む主画像信号取込手段と、
   前記シェーディング補正パターンにより前記主画像信号を補正し、前記主画像信号のシェーディングを除去するシェーディング補正手段と、
   前記明時画像信号取込手段への明時画像信号の再度の取込みを指示にする取込み指示手段と
   を具備したことを特徴とするシェーディング補正装置。
2. 試料の像の撮像に撮像装置を使用した顕微鏡に適用されるシェーディング補正方法において、
   前記撮像装置または前記試料を移動させて、前記試料を前記撮像装置の撮影領域に対して挿脱させ、
   前記試料が前記撮影領域に存在しない状態で前記撮影領域の像を前記撮像装置により撮像し、明時画像信号を取り込み、
   前記明時画像信号中に含まれるシェーディングのゲインを求めて、シェーディング補正パターンを生成し、
   前記試料が前記撮影領域に存在する状態で、前記撮影領域の試料の像を前記撮像装置によりを撮像し、主画像信号を取り込み、
   前記シェーディング補正パターンにより前記主画像信号を補正し、前記主画像信号のシェーディングを除去するようになっていて、
   前記明時画像信号取込手段への明時画像信号の再度の取込み指示を可能にしたことを特徴とするシェーディング補正方法。
3. 試料の像の撮像に撮像装置を使用した顕微鏡に適用されるシェーディング補正装置の制御プログラムを記録した記録媒体であって、
   前記撮像装置または前記試料を移動させて、前記試料を前記撮像装置の撮影領域に対して挿脱させ、
   前記試料が前記撮影領域に存在しない状態で前記撮影領域の像を前記撮像装置により撮像させ、明時画像信号を取り込み、
   前記明時画像信号中に含まれるシェーディングのゲインを求めて、シェーディング補正パターンを生成し、
   前記試料が前記撮影領域に存在する状態で、前記撮影領域の試料の像を前記撮像装置によりを撮像させ、主画像信号を取り込み、
   前記シェーディング補正パターンにより前記主画像信号を補正し、前記主画像信号のシェーディングを除去するようになっていて、
   前記明時画像信号取込手段への明時画像信号の再度の取込み指示を可能にしたことを特徴とするシェーディング補正装置の制御プログラムを記録した記録媒体。

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