JP2001223077A - 成膜装置及びそれを用いた発光装置の作製方法 - Google Patents
成膜装置及びそれを用いた発光装置の作製方法Info
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 claims abstract description 73
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 37
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 37
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 37
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims abstract description 19
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims abstract description 13
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims abstract description 13
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 94
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 83
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 58
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 38
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 32
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 20
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 13
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 12
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims description 7
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 6
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 abstract description 27
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 abstract description 15
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 148
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 132
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 46
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 46
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 41
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 36
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 24
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 19
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 19
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 19
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 15
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 11
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 9
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 9
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 9
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 8
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 7
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 7
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 6
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 6
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 5
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 5
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 4
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 4
- -1 polyparaphenylene vinylene Polymers 0.000 description 4
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 3
- RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N heliogen blue Chemical compound [Cu].[N-]1C2=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=NC([N-]1)=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=N2 RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 229920000553 poly(phenylenevinylene) Polymers 0.000 description 3
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 2
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 2
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical class C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920000547 conjugated polymer Polymers 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 2
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 2
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 2
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 2
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical compound C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002033 PVDF binder Substances 0.000 description 1
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 1
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 1
- NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N Quinacridone Chemical compound N1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=C1C(=O)C3=CC=CC=C3NC1=C2 NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 125000000732 arylene group Chemical class 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 1
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 150000001716 carbazoles Chemical class 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- XCJYREBRNVKWGJ-UHFFFAOYSA-N copper(II) phthalocyanine Chemical compound [Cu+2].C12=CC=CC=C2C(N=C2[N-]C(C3=CC=CC=C32)=N2)=NC1=NC([C]1C=CC=CC1=1)=NC=1N=C1[C]3C=CC=CC3=C2[N-]1 XCJYREBRNVKWGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VBVAVBCYMYWNOU-UHFFFAOYSA-N coumarin 6 Chemical compound C1=CC=C2SC(C3=CC4=CC=C(C=C4OC3=O)N(CC)CC)=NC2=C1 VBVAVBCYMYWNOU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005247 gettering Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 1
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- VOFUROIFQGPCGE-UHFFFAOYSA-N nile red Chemical compound C1=CC=C2C3=NC4=CC=C(N(CC)CC)C=C4OC3=CC(=O)C2=C1 VOFUROIFQGPCGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 1
- 229920002098 polyfluorene Polymers 0.000 description 1
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N rubrene Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C1=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=CC=C2C(C=2C=CC=CC=2)=C11)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=CC=C1 YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 description 1
- SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N scandium atom Chemical compound [Sc] SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007779 soft material Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 1
- ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N triphenylamine Chemical class C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/10—Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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-
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Abstract
を提供する。 【解決手段】 スピンコータ等の液相成膜室109の成
膜室内に周期表の1族または2族に属する元素からなる
酸化剤209を設けた酸化セル205が設けられてい
る。そして、酸化剤209が酸化されることによって雰
囲気中の酸素が消費され雰囲気中の酸素濃度を1ppb
以下に低減できる。これにより殆ど無酸素状態でEL素
子を形成することができ、EL素子の信頼性が大幅に向
上する。
Description
れらの間にEL(Electro Luminescence)が得られる発
光性材料、特に発光性有機材料(以下、有機EL材料と
いう)を挟んだ構造でなるEL素子の作製に用いる薄膜
形成装置及びそれを用いた発光装置の作製方法に関す
る。
た自発光素子としてEL素子を用いた表示装置(EL表
示装置)の開発が進んでいる。EL表示装置は自発光型
であるため、液晶表示装置のようなバックライトが不要
であり、さらに視野角が広いため、屋外で使用する携帯
型機器の表示部として有望視されている。
クス型)とアクティブ型(アクティブマトリクス型)の
二種類があり、どちらも盛んに開発が行われている。特
に現在はアクティブマトリクス型EL表示装置が注目さ
れている。また、EL素子の発光層となるEL材料は、
有機材料と無機材料があり、さらに有機材料は低分子系
(モノマー系)有機EL材料と高分子系(ポリマー系)
有機EL材料とに分けられる。両者ともに盛んに研究さ
れているが、低分子系有機EL材料よりも取り扱いが容
易で耐熱性の高いポリマー系有機EL材料が注目されて
いる。
容易に分子構造が変化してしまい、発光能力を失ってし
まう。即ち、有機EL材料からなる発光層が酸化するこ
とによってEL素子が発光能力を失い劣化する。従っ
て、有機EL材料を成膜した後は、有機EL材料の酸化
を促進する酸素(O2)を極力排除することが、信頼性
の高いEL素子を形成するためには必要である。
蒸着法により成膜が行われるため素子中への酸素の混入
は殆ど問題とならない。また、有機EL材料を形成した
あとは、大気解放しないで密閉空間に封入してしまうた
め、成膜工程から一貫して外気(大気)に触れさせるこ
となくEL素子を完成させることができる。
真空中での成膜が困難であるため、窒素または希ガスと
いった不活性ガス中でインクジェット法、スピンコート
法または印刷法を用いて行われる。また、高分子系有機
EL材料は特に酸素に弱く、僅かな酸素の存在によって
容易に酸化し、劣化してしまう。不活性ガス中の酸素濃
度を1ppm以下とすることでほぼ問題のないレベルに
まで劣化を抑制することは可能であるが、さらに長期の
信頼性を確保するには問題がある。
鑑みてなされたものであり、発光生材料を用いた発光装
置の信頼性をさらに高めるための方法を提供することを
課題とする。また、そのような信頼性の高い発光装置を
形成するための成膜装置を提供することを課題とする。
(特に有機EL材料)を成膜するに先だって、成膜室の
内部で周期表の1族または2族に属する元素(アルカリ
金属元素またはアルカリ土類金属元素)を酸化させ、成
膜室の内部の酸素を除去することを特徴とする。即ち、
アルカリ金属元素またはアルカリ土類金属元素の非常に
酸化し易い性質を利用し、化学的に酸素を除去する(ゲ
ッタリングする)ことを特徴とする。
化用セルに周期表の1族または2族に属する元素を設置
し、前記酸化用セルにて周期表の1族または2族に属す
る元素を酸化させる。このとき、室温で酸化しない元素
を用いる場合は酸化用セルを加熱すれば良い。また、室
温で酸化する元素を用いる場合はアルコールで保存した
りして酸素の供給を絶ったまま酸化用セル内に密閉し、
成膜室に搬入してから酸化させる。
は2族に属する元素が酸化している間、成膜室の内部に
存在する酸素は周期表の1族または2族に属する元素と
の酸化反応により消費される。即ち、周期表の1族また
は2族に属する元素が酸素をゲッタリングすると考えて
も良い。
相法(インクジェット法、スピンコート法、印刷法また
はディスペンス法)により成膜する際の前処理として実
施することが有効であるが、低分子系有機EL材料を気
相法(蒸着法またはスパッタ法)により成膜する際の前
処理として行うことも可能である。
として、成膜室内において周期表の1族または2族に属
する元素と酸素との酸化反応を利用する。これにより成
膜室内の酸素濃度を1ppb以下(好ましくは0.1p
pb以下)にすることが可能となる。その結果、酸素濃
度が1ppb以下(好ましくは0.1ppb以下)の不
活性雰囲気でEL材料を成膜することが可能となる。即
ち、無酸素に近い状態でEL素子を形成することが可能
となり、従来以上に信頼性の高いEL表示装置が得られ
る。
図2を用いて説明する。図1において、101は搬送室
(A)であり、搬送室(A)101には搬送機構(A)
102が備えられ、基板103の搬送が行われる。搬送
室(A)101は減圧雰囲気にされており、各処理室と
はゲートによって遮断されている。各処理室への基板の
受け渡しは、ゲートを開けた際に搬送機構(A)102
によって行われる。また、搬送室(A)101を減圧す
るには、油回転ポンプ、メカニカルブースターポンプ、
ターボ分子ポンプ若しくはクライオポンプなどの排気ポ
ンプを用いることが可能であるが、水分の除去に効果的
なクライオポンプが好ましい。
の側面に排気ポート104が設けられ、その下に排気ポ
ンプが設置される。このような構造とすると排気ポンプ
のメンテナンスが容易になるという利点がある。
なお、搬送室(A)101は減圧雰囲気となるので、搬
送室(A)101に直接的に連結された処理室には全て
排気ポンプ(図示せず)が備えられている。排気ポンプ
としては上述の油回転ポンプ、メカニカルブースターポ
ンプ、ターボ分子ポンプ若しくはクライオポンプが用い
られる。
置)を行うストック室であり、ロードロック室とも呼ば
れる。ストック室105はゲート100aにより搬送室
(A)101と遮断され、ここに基板103をセットし
たキャリア(図示せず)が配置される。なお、ストック
室105は基板搬入用と基板搬出用とで部屋が区別され
ていても良い。また、ストック室105は上述の排気ポ
ンプと高純度の窒素ガスまたは希ガスを導入するための
パージラインを備えている。
成面を下向きにしてキャリアにセットする。これは後に
気相成膜(スパッタまたは蒸着による成膜)を行う際
に、フェイスダウン方式(デポアップ方式ともいう)を
行いやすくするためである。フェイスダウン方式とは、
基板の素子形成面が下を向いた状態で成膜する方式をい
い、この方式によればゴミの付着などを抑えることがで
きる。
ック室105とはゲート100bを介して連結され、搬
送機構(B)107を備えている。また、108は焼成
室(ベーク室)であり、ゲート100cを介して搬送室
(B)106と連結している。なお、焼成室108は基
板の面の上下を反転させる機構を有する。即ち、フェイ
スダウン方式で搬送されてきた基板はここで一旦フェイ
スアップ方式に切り替わる。これは次の液相成膜室10
9での処理がフェイスアップ方式で行えるようにするた
めである。また逆に、液相成膜室109で処理を終えた
基板は再び焼成室108に戻ってきて焼成され、再び上
下を反転させてフェイスダウン方式に切り替わり、スト
ック室105へ戻る。
dを介して搬送室(B)106と連結している。液相成
膜室109はEL材料を含む溶液を基板上に塗布するこ
とでEL材料を含む膜を形成する成膜室であり、本発明
では液相成膜室109で高分子系(ポリマー系)有機E
L材料を成膜する。なお、成膜されるEL材料は、発光
層として用いるものだけでなく、電荷注入層または電荷
輸送層をも含む。また、公知の如何なる高分子系有機E
L材料を用いても良い。
は、PPV(ポリパラフェニレンビニレン)誘導体、P
VK(ポリビニルカルバゾール)誘導体またはポリフル
オレン誘導体が挙げられる。これはπ共役ポリマーとも
呼ばれる。また、電荷注入層としては、PEDOT(ポ
リチオフェン)またはPAni(ポリアニリン)が挙げ
られる。
図2を用いて行う。なお、本実施形態では液相成膜室1
09としてスピンコータ室を用いた例を示す。但し、ス
ピンコータに限定する必要はなく、液相成膜室はディス
ペンサー、印刷またはインクジェットを用いた成膜室で
あっても構わない。
見た図である。201は塗布カップであり、その中心に
チャック202が設けられ、搬送されてきた基板203
はチャック202に支持される。また、204は塗布ノ
ズルであり、先端部から有機EL材料が吐出される。
化セル(酸化室)205が設けられている。本発明で
は、この酸化セル205内で周期表の1族または2族に
属する元素からなる固体(以下、酸化剤という)を酸化
(燃焼)させ、液相成膜室109の内部の酸素をゲッタ
リング(捕獲)する。このとき、ゲート100dを閉め
ておけば液相成膜室109は密閉空間となるため、効率
良く酸素をゲッタリングすることができる。
図2(A)のA−A’で切断した断面を見た図である。
チャック202は回転軸206に連結しており、回転軸
206は軸受けとなる制御機構207によって駆動され
る。また、酸化セル205の下にはヒータ208が設置
され、酸化セル205内に設けられた酸化剤209は、
ヒータ208によって加熱されて酸化する。なお、酸化
セル205自体に電流を流して抵抗加熱により酸化剤2
09を酸化させても良い。
な蓋を設け、その蓋を開閉することで酸化剤209の酸
化する時間を調節することもできる。このような方式は
室温で自然発火するような元素(代表的にはナトリウ
ム)を用いる場合に有効な手法である。即ち、有機EL
材料を成膜する前に所定の時間だけ酸化剤209を酸化
させ、蓋を閉めて酸化セル205を密閉して酸素の供給
を断つことで酸化を強制的に終了させる。そして、再び
基板が搬送されてきたら蓋を開け、酸化剤209を酸化
させる。この繰り返しにより複数枚の基板を酸化剤の交
換なしで処理することが可能となり、製造スループット
を向上させることができる。
相成膜室109に酸化セル205が備えられており、防
塵板210で液相成膜室109を密閉空間とすることが
できる。そのため、酸化セル205内で周期表の1族ま
たは2族に属する元素を酸化させることで容易に成膜雰
囲気中の酸素を除去することができる。即ち、酸素濃度
が1ppb以下(好ましくは0.1ppb以下)の不活
性雰囲気中で有機EL材料を成膜することが可能とな
る。
ましくは2〜3気圧)としておくことで液相成膜室10
9内の圧力を高め、酸素の混入を極力防ぐ手段をとって
も良い。
素電極となる陰極もしくは陽極の表面を処理する処理室
(以下、前処理室という)であり、前処理室110はゲ
ート100eにより搬送室(A)101と遮断される。
前処理室はEL素子の作製プロセスによって様々に変え
ることができるが、本実施例では画素電極の表面に紫外
光を照射しつつ100〜120℃で加熱できるようにす
る。このような前処理は、EL素子の陽極表面を処理す
る際に有効である。
より導電膜または有機EL材料を形成するための気相成
膜室であり、ゲート100fを介して搬送室(A)10
1に連結される。本実施形態では気相成膜室111とし
て蒸着室を設けており、内部に複数の蒸着源を設置でき
る。また、抵抗加熱または電子ビームにより蒸着源を蒸
発させ、成膜を行うことができる。
はEL素子の陰極側の電極として設けられる導電膜であ
り、仕事関数の小さい金属、代表的には周期表の1族も
しくは2族に属する元素(代表的にはリチウム、マグネ
シウム、セシウム、カルシウム、カリウム、バリウム、
ナトリウムもしくはベリリウム)またはそれらに近い仕
事関数をもつ金属を蒸着できる。また、低抵抗な導電膜
としてアルミニウム、銅もしくは銀を蒸着することもで
きる。さらに、透明導電膜として酸化インジウムと酸化
スズとの化合物からなる導電膜や酸化インジウムと酸化
亜鉛との化合物からなる導電膜を蒸着法により形成する
ことも可能である。
るEL材料(特に低分子系有機EL材料)を形成するこ
とが可能である。発光層の代表例としてはAlq3(ト
リス−8−キノリノラトアルミニウム錯体)もしくはD
SA(ジスチルアリーレン誘導体)があり、電荷注入層
の代表例としてはCuPc(銅フタロシアニン)、Li
F(フッ化リチウム)もしくはacacK(カリウムア
セチルアセトネート)があり、電荷輸送層の代表例とし
てはTPD(トリフェニルアミン誘導体)もしくはNP
D(アントラセン誘導体)が挙げられる。
は、クマリン6、ルブレン、ナイルレッド、DCM、キ
ナクリドン等)とを共蒸着することも可能である。蛍光
物質としては公知の如何なる材料を用いても良い。ま
た、EL材料と周期表の1族または2族に属する元素と
を共蒸着して発光層の一部に電荷輸送層または電荷注入
層としての役割をもたせることも可能である。なお、共
蒸着とは、同時に蒸着源を加熱し、成膜段階で異なる物
質を混合する蒸着法をいう。
送室(A)101と遮断され、真空下で有機EL材料ま
たは導電膜の成膜が行われる。なお、成膜はフェイスダ
ウン方式(デポアップ方式)で行われる。
ーブボックスともいう)であり、ゲート100gを介し
て搬送室(A)101に連結されている。封止室112
では、最終的にEL素子を密閉空間に封入するための処
理が行われる。この処理は形成されたEL素子を酸素や
水分から保護するための処理であり、シーリング材で機
械的に封入する、又は熱硬化性樹脂若しくは紫外光硬化
性樹脂で封入するといった手段を用いる。
クス、金属などの材料を用いることができるが、シーリ
ング材側に光を出射する場合は透光性でなければならな
い。また、シーリング材と上記EL素子が形成された基
板とは熱硬化性樹脂又は紫外光硬化性樹脂を用いて貼り
合わせられ、熱処理又は紫外光照射処理によって樹脂を
硬化させて密閉空間を形成する。この密閉空間の中に酸
化バリウム等の乾燥剤を設けることも有効である。
た基板との空間を熱硬化性樹脂若しくは紫外光硬化性樹
脂で充填することも可能である。この場合、熱硬化性樹
脂若しくは紫外光硬化性樹脂の中に酸化バリウム等の乾
燥剤を添加しておくことは有効である。
の内部に紫外光を照射するための機構(以下、紫外光照
射機構という)113が設けられており、この紫外光照
射機構113から発した紫外光によって紫外光硬化性樹
脂を硬化させる構成となっている。なお、封止室112
内の作業は、グローブを用いた手作業であっても構わな
いが、コンピュータ制御により機械的に行われるような
構造となっていることが好ましい。シーリング材を用い
る場合には、液晶のセル組み工程で用いられるようなシ
ール剤(ここでは熱硬化性樹脂若しくは紫外光硬化性樹
脂)を塗布する機構と、基板を貼り合わせる機構と、シ
ール剤を硬化させる機構とが組み込まれていることが好
ましい。
取り付けることで減圧することも可能である。上記封入
工程をロボット操作で機械的に行う場合には、減圧下で
行うことで酸素や水分の混入を防ぐことができる。ま
た、逆に封止室112の内部を与圧とすることも可能で
ある。この場合、高純度な窒素ガスや希ガスでパージし
つつ与圧とし、外気から酸素等が侵入することを防ぐ。
クス)114が連結される。受渡室114には搬送機構
(C)115が設けられ、封止室112でEL素子の封
入が完了した基板を受渡室114へと搬送する。受渡室
114も排気ポンプを取り付けることで減圧することが
可能である。この受渡室114は封止室112を直接外
気に晒さないようにするための設備であり、ここから基
板を取り出す。
いることで完全にEL素子を密閉空間に封入するまで外
気に晒さずに済む。さらに、液相成膜室109では、酸
素濃度が1ppb以下の不活性雰囲気にて有機EL材料
の成膜を行うため、殆ど酸素のない状態での成膜が可能
となる。以上のことから従来以上に信頼性の高いEL表
示装置を作製することが可能となる。
相成膜室109とは異なる構造の液相成膜室を設けた例
について図3を用いて説明する。図3(A)は液相成膜
室301の上面図であり、塗布カップ201、チャック
202、基板203及び塗布ノズル204は図2と同様
である。図3に示した成膜装置の特徴は、図2の酸化セ
ル205の代わりに酸化炉302を成膜装置の外部に設
け、配管303により液相成膜室301と酸化炉302
とを連結している点にある。
310の一部に配管303の一方の口(吸気口)が取り
付けられ、配管303のもう一方の口(排気口)が酸化
炉302に取り付けられている。
2は酸化セル304、ヒータ305を有し、酸化セル3
04の内部には周期表の1族または2族に属する元素か
らなる酸化剤306が設置される。また、本実施例では
酸化セル304への酸素の供給を遮断するシャッタ30
7も設けられている。
剤306が酸化(燃焼)する。そのとき、消費された酸
素は配管303を通じて液相成膜室301から供給さ
れ、その結果、液相成膜室301の内部の酸素濃度が減
少する。図1の成膜装置と根本的に異なる点は、成膜装
置の近くに熱源を備えなくて済む点が挙げられる。液相
成膜室301で成膜される高分子系有機EL材料は有機
溶媒に溶かして塗布されるため、熱源が遠い方が管理は
容易である。
に示した成膜装置の成膜室の一つとして用いることが可
能である。
置において液相成膜室として赤色、緑色及び青色の発光
層をストライプ状に形成する液相成膜室を設けた例を示
す。本実施例の液相成膜室について図4を用いて説明す
る。
を側面からみた外観図であり、図4(B)は前面からみ
た外観図である。図4(A)において、401は支持
台、402は搬送ステージであり、その上に基板403
が固定される。搬送ステージ402はX方向(横方向)
またはY方向(縦方向)に移動が可能である。
405が取り付けられ、搬送ステージ402の上方に塗
布ユニット406が設置される。塗布ユニット406は
有機EL材料を含む溶液を基板上に塗布するための機構
を備えた装置であり、ヘッド部407に圧縮ガス(加圧
された不活性ガス)を送ったり、有機EL材料を含む溶
液を供給する装置である。このとき、塗布ユニット40
6にはサックバック機構(サックバックバルブまたはエ
アオペレーションバルブを備えた機構)を設けることが
好ましい。サックバック機構とは、ダイヤフラムゲージ
等を用いた容積変化を利用して配管内の圧力を下げるこ
とにより、配管等のノズル口に溜まった液滴をノズル内
に引き込むための機構である。
に取り付けられた防塵フード408に覆われている。防
塵フード408には基板を搬送するための入り口が設け
られているが、その部分にはゲートが設けられ、支持台
401と防塵フード408とで密閉空間が形成される。
9、ヒータ410及び酸化剤411が設けられ、有機E
L材料を成膜する前に酸化剤411の酸化が行われる。
部407が固定され、基板403を載せた搬送ステージ
402がX方向またはY方向へと移動する。即ち、搬送
ステージが移動することにより相対的にヘッド部407
が基板403上を移動するような機構となっている。勿
論、ヘッド部407の方を移動させるような機構とする
ことも可能であるが、基板側を移動させた方が安定性は
良い。
L材料(厳密には有機EL材料を溶媒に溶かした混合
物)の供給口となるノズルを備えたヘッド部407が基
板403上を移動することにより、基板の必要箇所へ有
機EL材料を塗布していく。ここでヘッド部407によ
り有機EL材料を塗布していく過程を以下に説明する。
てπ共役系ポリマーでなる有機EL材料を成膜する様子
を模式的に示す図である。図5(A)において、510
は基板であり、基板510上には画素部511、ソース
側駆動回路512、ゲート側駆動回路513がTFTに
より形成されている。ソース側駆動回路512に接続さ
れた複数のソース配線とゲート側駆動回路513に接続
された複数のゲート配線とで囲まれた領域が画素であ
り、画素内にはTFTと該TFTに電気的に接続された
EL素子が形成される。画素部511はこのような画素
がマトリクス状の配列されて形成されている。
に発光する有機EL材料(以下、有機EL材料(R)と
いう)と溶媒との混合物(以下、塗布液(R)とい
う)、514bは電圧を加えることで緑色に発光する有
機EL材料(以下、有機EL材料(G)という)と溶媒
との混合物(以下、塗布液(G)という)、514cは
電圧を加えることで青色に発光する有機EL材料(以
下、有機EL材料(B)という)と溶媒との混合物(以
下、塗布液(B)という)である。
合したものを直接溶媒に溶かして塗布する方法と、モノ
マーを溶媒に溶かしたものを成膜した後に加熱重合させ
てポリマーとする方法とがあるが、本発明はどちらでも
構わない。ここではポリマーとなった有機EL材料を溶
媒に溶かして塗布した例を示す。
7からは塗布液(R)514a、塗布液(G)514b、
塗布液(B)514cが別々に塗布され、矢印の方向に
向かって塗布される。即ち、赤色に発光すべき画素列、
緑色に発光すべき画素列及び青色に発光すべき画素列
に、同時にストライプ状の発光層(厳密には発光層の前
駆体)が形成される。
に仕切られた画素の列を指し、バンク521はソース配
線の上方に形成されている。即ち、ソース配線に沿って
複数の画素が直列に並んだ列を画素列と呼んでいる。但
し、ここではバンク521がソース配線の上方に形成さ
れた場合を説明したが、ゲート配線の上方に設けられて
いても良い。この場合は、ゲート配線に沿って複数の画
素が直列に並んだ列を画素列と呼ぶ。
線もしくは複数のゲート配線の上方に設けられたストラ
イプ状のバンクにより分割された複数の画素列の集合体
として見ることができる。そのようにして見た場合、画
素部511は、赤色に発光するストライプ状の発光層が
形成された画素列、緑色に発光するストライプ状の発光
層が形成された画素列及び青色に発光するストライプ状
の発光層が形成された画素列からなるとも言える。
のソース配線もしくは複数のゲート配線の上方に設けら
れているため、実質的に画素部511は、複数のソース
配線もしくは複数のゲート配線により分割された複数の
画素列の集合体と見ることもできる。
部と言っても良い)407の様子を拡大して図5(B)
に示す。
a、緑色用ノズル516b、青色用ノズル516cが取り
付けられている。また各々のノズルの内部には塗布液
(R)514a、塗布液(G)514b、塗布液(B)5
14cが蓄えられている。これらの塗布液は、配管51
7内に充填された圧縮ガスにより加圧されて画素部51
1上に押し出される。このようなヘッド部407が紙面
に垂直な方向に沿って手前方向に移動することで図5
(A)に示したような塗布工程が行われる。
図を図5(C)に示す。基板510上に設けられた画素
部511は、複数のTFT519a〜519cと画素電極
520a〜520cとでなる複数の画素の集合体である。
図5(B)のノズル516a〜516cに圧縮ガスにより
圧力がかかると、その圧力により塗布液514a〜51
4cが押し出される。
ンク521が設けられており、隣接する画素間で塗布液
が混合されてしまうことを防いでいる。この構造ではバ
ンク521の幅(フォトリソグラフィの解像度で決ま
る)を狭くすることで画素部の集積度が向上し、高精細
な画像を得ることができる。特に塗布液の粘性が1〜3
0cpの場合に有効である。
ゾル状もしくはゲル状であればバンクを用いないことも
可能である。即ち、塗布後の塗布液と塗布面との接触角
が十分に大きければ必要以上に塗布液が広がることもな
いので、バンクで堰き止めておく必要もなくなる。その
場合は、最終的に発光層が長円形状(長径と短径の比が
2以上の細長い楕円形状)、典型的には画素部の一端か
ら他端にまで及ぶ細長い楕円状で形成されることにな
る。
としてはアクリル、ポリイミド、ポリアミド、ポリイミ
ドアミドを用いることができる。この樹脂材料に予めカ
ーボンや黒色顔料等を設けて樹脂材料を黒色化しておく
と、バンク521を画素間の遮光膜として用いることも
可能となる。
6cのいずれかの先端付近に光反射を用いたセンサーを
取り付ければ、塗布面とノズルとの距離を常に一定に保
つように調節することも可能である。さらに、画素ピッ
チ(画素間の距離)に応じてノズル516a〜516cの
間隔を調節する機構を備えることで、どのような画素ピ
ッチのEL表示装置にも対応することが可能である。
された塗布液514a〜514cは各々画素電極520a
〜520cを覆うようにして塗布される。なお、以上の
ようなヘッド部407の動作は電気的な信号により制御
される。
中で加熱処理(ベーク処理または焼成処理)することに
より塗布液514a〜514cに含まれる有機溶媒を揮発
させ、有機EL材料でなる発光層を形成する。このた
め、有機溶媒は有機EL材料のガラス転移温度(Tg)
よりも低い温度で揮発するものを用いる。また、有機E
L材料の粘度により最終的に形成される発光層の膜厚が
決まる。この場合、有機溶媒の選定または添加物により
粘度を調節することができるが、粘度は1〜50cp
(好ましくは5〜20cp)とするのが好ましい。
り、赤、緑、青の各色に発光する三種類の発光層を同時
に形成することができるため、高いスループットでポリ
マー系有機EL材料でなる発光層を形成することができ
る。さらに、インクジェット方式と異なり、一つの画素
列では切れ間なくストライプ状に塗布していくことがで
きるため、非常にスループットが高い。
においても、本発明により酸素をゲッタリングしておく
ことで信頼性の高いEL素子を形成することができる。
なお、本実施例の液相成膜室は実施例1に示した液相成
膜室(スピンコータ室)と併用して用いることも可能で
ある。
5に示した液相成膜室のヘッド部の構造を異なるものと
した液相成膜室について説明する。なお、図5と同一の
符号を用いている部分に関する記載は実施例2を参照す
れば良い。
ド部を示している。ノズル601a〜601cの内部に
は、各々ノズルと同軸のロッド602a〜602cが設け
られている。さらに、ノズル601a〜601cの内部に
は、塗布液(R)603a、塗布液(G)603b、塗布
液(B)603cが蓄えられている。このロッド602a
〜602cを設けることにより、塗布液の固化によるノ
ズルの目詰まりを抑制することができる。
は塗布液に対して疎水性とし、ロッド602a〜602c
の表面は塗布液に対して親水性とすると良い。ノズル6
01a〜601cの内壁を疎水性とするには形成材料とし
て疎水性を示す材料を用いれば良く、代表的にはテフロ
ン(登録商標)、PVDF(ポリビニリデンフロライ
ド)または金属(代表的にはステンレス、アルミニウ
ム、ジルコニウム)とすれば良い。また、ロッド602
a〜602cの表面を親水性とするには形成材料として親
水性を示す材料を用いれば良く、代表的にはナイロンま
たはPVA(ポリビニルアルコール)とすれば良い。
成し、ノズル601a〜601cに超音波をかけること
で、塗布液(R)603a、塗布液(G)603b、塗布
液(B)603cの固化を抑制することも可能である。
(G)603b、塗布液(B)603cの塗布はロッド6
02a〜602cが被成膜面(本実施例では画素電極52
0a〜520cの表面)に接した状態で行われる。ロッド
602a〜602cは非常に柔らかい材料で形成され、被
成膜面をなぞるように移動する。この様子を図6(B)
に示す。
あり、ロッド602aは画素電極520aに接している。
即ち、塗布液(R)603aはロッド602aを伝って画
素電極520aの表面に塗布される。従って、インクジ
ェット法のように塗布液を飛ばす必要がなく、塗布時の
位置ずれといった問題を生じない。
た液相成膜室はノズルの目詰まりといった問題を解消し
つつ、細かいパターンにも対応して有機EL材料を成膜
することが可能である。また、本発明と組み合わせるこ
とで、信頼性の高いEL素子を形成することができる。
液相成膜室のヘッド部として用いることが可能であり、
図1の液相成膜室として用いることが可能である。ま
た、実施例1の液相成膜室と併用しても構わない。
したノズルの構造をとは異なる構造のノズルを有した液
相成膜室について説明する。なお、図7(A)は塗布前
後の待機状態を示しており、図7(B)は塗布時の状態
を示している。また、図7(C)、(D)はノズルの断
面を上から見た図を示している。
02はロッド、703は塗布液である。各々の材料は実
施例2、実施例3を参照すれば良い。また、ノズル70
1の内壁を塗布液に対して疎水性にし、ロッド702を
親水性にしても良い。
トッパ部704a、704bを有し、ロッドストッパ部7
04aは中央に塗布液を通すための孔が設けられてい
る。また、ロッド702はストッパ部705を有し、ス
トッパ部705の直径はロッドストッパ部704aに設
けられた孔の直径よりも大きい。
705はロッドストッパ部704に引っかかるようにな
っており、塗布前後の待機状態では塗布液703の移動
経路が封じられるような仕組みになっている。その結
果、待機状態では塗布液703がノズルの先端から流出
しない。
塗布する際はロッド702の先端部706が被成膜面7
07に接し、ロッド702がノズル701の内部に押し
込まれる。そして、ストッパ部705がロッドストッパ
部704bに接した状態でロッド702が止まる。この
状態で、塗布液703はロッド702を伝ってノズルか
ら流出し、被成膜面707に塗布される。
しておくことが望ましい。こうすることで被成膜面70
7を傷つけることを防ぐことができる。
相成膜室は、実施例2で説明したサックバック機構を設
けなくても塗布液の流出を防ぐことができる。また、本
発明と組み合わせることで、信頼性の高いEL素子を形
成することができる。なお、本実施例の構成は実施例2
に示した液相成膜室のヘッド部として用いることが可能
であり、図1の液相成膜室として用いることが可能であ
る。また、実施例1の液相成膜室と併用しても構わな
い。
置において前処理室110にプラズマ処理を行う機構を
備える例を示す。EL素子の陰極表面に前処理を行う場
合、金属からなる陰極表面の自然酸化物を除去すること
が望ましい。本実施例では、フッ素または塩素を含むガ
スを用いて陰極表面にプラズマ処理を行い、自然酸化物
を除去する機構を有する。
例3に示したいずれの構成とも自由に組み合わせて実施
することが可能である。
置において前処理室110にスパッタ処理を行う機構を
備える例を示す。EL素子の陰極表面に前処理を行う場
合、金属からなる陰極表面の自然酸化物を除去すること
が望ましい。本実施例では、希ガスや窒素等の不活性ガ
スを用いて陰極表面に対してスパッタ処理を行い、自然
酸化物を除去する機構を有する。
例3に示したいずれの構成とも自由に組み合わせて実施
することが可能である。
成膜装置を用いて発光装置(具体的にはEL表示装置)
を作製する例を示す。
作製し、画素部及び駆動回路部とを形成する。本実施例
では本出願人による特開平5−107561号公報に記
載の技術を用いて同一基板上に画素部及び駆動回路部を
形成する。なお、画素部に設けられる画素TFTには透
明導電膜からなる画素電極が電気的に接続され、この画
素電極がEL素子の陽極となる。
板(以下、アクティブマトリクス基板という)が完成し
たら、そのアクティブマトリクス基板を図1のストック
室105に設置する。
クス基板を搬送し、画素電極の表面に対して前処理を行
う。本実施例では、オゾン雰囲気において紫外光を照射
することで画素電極の表面状態を改善する。
リクス基板を搬送し、正孔注入層として銅フタロシアニ
ン膜を蒸着法により形成する。本実施例では、膜厚を2
0nmとするが特に限定はない。
ック室105に戻し、そのアクティブマトリクス基板を
搬送機構(B)107により焼成室108へと搬送す
る。このとき、焼成室ではアクティブマトリクス基板を
反転させ、TFTを形成した面が上を向くようにする。
板を図2に示される構造の液相成膜室109へ搬送す
る。なお、液相成膜室109は実施例1〜4のいずれの
構造を有していても良い。そして、まず酸化セル205
内にて酸化剤(本実施例ではマグネシウム)を酸化さ
せ、液相成膜室109の内部の酸素濃度を1ppb以下
にまで低減する。その後、スピンコート法によりジクロ
ロメタンに溶解させたポリフェニレンビニレンの前駆体
を塗布する。
トリクス基板を焼成室108へ搬送し、ポリフェニレン
ビニレンの前駆体を焼成する。こうして前駆体が重合し
てポリマー化し、ポリフェニレンビニレン膜からなる発
光層が形成される。焼成処理が終了したら再度アクティ
ブマトリクス基板を反転させてストック室105へ戻
す。
膜室111に搬送し、膜厚400nmのアルミニウム膜
を蒸着する。このアルミニウム膜がEL素子の陰極とし
て機能する。なお、本実施例で用いるアルミニウム膜は
チタン、スカンジウムもしくはシリコンを含むアルミニ
ウム合金膜であっても良い。また、アルミニウム膜の代
わりに銅もしくは銅合金または銀からなる導電膜を形成
しても良い。
ガス(窒素ガスまたは希ガス)で充填された封止室11
2へ搬送する。ここではアクティブマトリクス基板上に
シール材を形成し、EL素子が形成された面を覆うよう
にカバー材を貼り合わせる。そのため、EL素子が不活
性ガスの充填された密閉空間に封入され、完全に外気と
遮断される。なお、密閉空間に吸湿性物質(好ましくは
酸化バリウム)を設けることは有効である。また、不活
性ガスの代わりに樹脂を充填することも可能である。そ
の場合も、樹脂中に吸湿性物質を設けることは有効であ
る。
バー材をシール材により張り合わせたら、紫外光照射機
構113を用いてシール材に紫外光を照射し硬化させ
る。以上のようにしてEL素子の封入処理が終了した
ら、受渡室114へ封入後のアクティブマトリクス基板
を搬送する。
ことで極力酸素を排除した環境でEL素子が形成され、
完全に外気と遮断された状態となるまでのプロセスを一
貫して行うことが可能である。
型EL表示装置の作製工程の例を示しているが、本実施
例はパッシブマトリクス型EL表示装置の作製工程に対
しても実施できる。また、本実施例はバックライト等に
用いられる発光装置の作製工程に対しても実施できる。
成膜装置を用いて実施例7とは異なる構造の発光装置を
作製する例を示す。なお、本実施例ではアクティブマト
リクス型EL表示装置を例にとって説明する。
公報に記載の技術を用いて画素部及び駆動回路部を形成
する。なお、本実施例では画素電極としてアルミニウム
もしくはアルミニウム合金からなる導電膜を用いる。即
ち、本実施例では画素電極がEL素子の陰極となる。
そのアクティブマトリクス基板を図1のストック室10
5に設置する。
クス基板を搬送し、画素電極の表面に対して前処理を行
う。本実施例では、フッ素または塩素を含むガスを用い
て画素電極の表面に対してプラズマ処理を行い、自然酸
化物を除去する。
リクス基板を搬送し、電子注入層としてフッ化リチウム
膜を蒸着法により形成する。本実施例では、膜厚を20
nmとするが特に限定はない。
ック室105に戻し、そのアクティブマトリクス基板を
搬送機構(B)107により焼成室108へと搬送す
る。次いでアクティブマトリクス基板を反転させる。
板を図4に示される構造の液相成膜室109へ搬送す
る。そして、まず酸化セル409内にて酸化剤(本実施
例ではナトリウム)を酸化させ、液相成膜室109の内
部の酸素濃度を1ppb以下にまで低減する。その後、
図5に示した塗布法によりトルエンに溶解させたポリビ
ニルカルバゾールの前駆体を塗布する。
トリクス基板を焼成室108へ搬送し、ポリビニルカル
バゾールの前駆体を焼成する。こうして前駆体が重合し
てポリマー化し、ポリビニルカルバゾール膜からなる発
光層が形成される。焼成処理が終了したら再度アクティ
ブマトリクス基板を反転させてストック室105へ戻
す。
膜室111に搬送し、膜厚20nmの銅フタロシアニン
膜を蒸着し、さらに膜厚200nm透明導電膜(具体的
には酸化インジウムと酸化亜鉛との化合物膜)を蒸着す
る。この透明導電膜がEL素子の陽極として機能する。
なお、本実施例で用いる透明導電膜は酸化インジウムと
酸化スズとの化合物膜であっても良い。
ガス(窒素ガスまたは希ガス)で充填された封止室11
2へ搬送する。ここではアクティブマトリクス基板上に
シール材を形成し、EL素子が形成された面を覆うよう
にカバー材を貼り合わせる。そのため、EL素子が不活
性ガスの充填された密閉空間に封入され、完全に外気と
遮断される。なお、密閉空間に吸湿性物質(好ましくは
酸化バリウム)を設けることは有効である。また、不活
性ガスの代わりに樹脂を充填することも可能である。そ
の場合も、樹脂中に吸湿性物質を設けることは有効であ
る。
バー材をシール材により張り合わせたら、紫外光照射機
構113を用いてシール材に紫外光を照射し硬化させ
る。以上のようにしてEL素子の封入処理が終了した
ら、受渡室114へ封入後のアクティブマトリクス基板
を搬送する。
ことで極力酸素を排除した環境でEL素子が形成され、
完全に外気と遮断された状態となるまでのプロセスを一
貫して行うことが可能である。
て作製したアクティブマトリクス型EL表示装置につい
て図8(A)、(B)を用いて説明する。図8(A)
は、EL素子の形成されたアクティブマトリクス基板に
おいて、EL素子の封入まで行った状態を示す上面図で
ある。点線で示された801はソース側駆動回路、80
2はゲート側駆動回路、803は画素部である。また、
804はカバー材、805は第1シール材、806は第
2シール材であり、第1シール材805で囲まれた内側
のカバー材とアクティブマトリクス基板との間には充填
材807(図8(B)参照)が設けられる。
ゲート側駆動回路802及び画素部803に入力される
信号を伝達するための接続配線であり、外部機器との接
続端子となるFPC(フレキシブルプリントサーキッ
ト)809からビデオ信号やクロック信号を受け取る。
断面に相当する断面図を図8(B)に示す。なお、図8
(A)、(B)では同一の部位に同一の符号を用いてい
る。
は画素部803、ソース側駆動回路801が形成されて
おり、画素部803はEL素子に流れる電流を制御する
ためのTFT(以下、電流制御用TFTという)851
とそのドレインに電気的に接続された画素電極852を
含む複数の画素により形成される。本実施例では電流制
御用TFT851をpチャネル型TFTとする。また、
ソース側駆動回路801はnチャネル型TFT853と
pチャネル型TFT854とを相補的に組み合わせたC
MOS回路を用いて形成される。
(R)855、カラーフィルタ(G)856及びカラー
フィルタ(B)(図示せず)を有している。ここでカラ
ーフィルタ(R)とは赤色光を抽出するカラーフィルタ
であり、カラーフィルタ(G)は緑色光を抽出するカラ
ーフィルタ、カラーフィルタ(B)は青色光を抽出する
カラーフィルタである。なお、カラーフィルタ(R)8
55は赤色発光の画素に、カラーフィルタ(G)856
は緑色発光の画素に、カラーフィルタ(B)は青色発光
の画素に設けられる。
果としては、まず発光色の色純度が向上する点が挙げら
れる。例えば赤色発光の画素からはEL素子から赤色光
が放射される(本実施例では画素電極側に向かって放射
される)が、この赤色光を、赤色光を抽出するカラーフ
ィルタに通すことにより赤色の純度を向上させることが
できる。このことは、他の緑色光、青色光の場合におい
ても同様である。
造ではEL表示装置の外部から侵入した可視光がEL素
子の発光層を励起させてしまい、所望の発色が得られな
い問題が起こりうる。しかしながら、本実施例のように
カラーフィルタを設けることでEL素子には特定の波長
の光しか入らないようになる。即ち、外部からの光によ
りEL素子が励起されてしまうような不具合を防ぐこと
が可能である。
提案されているが、EL素子は白色発光のものを用いて
いた。この場合、赤色光を抽出するには他の波長の光を
カットしていたため、輝度の低下を招いていた。しかし
ながら、本実施例では、例えばEL素子から発した赤色
光を、赤色光を抽出するカラーフィルタに通すため、輝
度の低下を招くようなことがない。
され、EL素子の陽極として機能する。また、画素電極
852の両端には絶縁膜857が形成され、さらに赤色
に発光する発光層858、緑色に発光する発光層859
が形成される。なお、図示しないが隣接する画素には青
色に発光する発光層を設けられ、赤、緑及び青に対応し
た画素によりカラー表示が行われる。勿論、青色の発光
層が設けられた画素は青色を抽出するカラーフィルタが
設けられている。
図1に示した成膜装置を用いて行われる。また、実際に
発光層を成膜する液相成膜室は実施例1〜4のいずれの
構成を有する液相成膜室であっても良い。また、材料と
して有機材料だけでなく無機材料を用いることができ
る。また、発光層だけでなく電子注入層、電子輸送層、
正孔輸送層または正孔注入層を組み合わせた積層構造と
しても良い。
60が遮光性を有する導電膜でもって形成される。この
陰極860は全ての画素に共通であり、接続配線808
を経由してFPC809に電気的に接続されている。
ー等で形成し、スペーサ(図示せず)を撒布してカバー
材804を貼り合わせる。そして、アクティブマトリク
ス基板、カバー材804及び第1シール材805で囲ま
れた領域内に充填材807を真空注入法により充填す
る。
湿性物質861として酸化バリウムを添加しておく。な
お、本実施例では吸湿性物質を充填材に添加して用いる
が、塊状に分散させて充填材中に封入することもでき
る。また、図示されていないがスペーサの材料として吸
湿性物質を用いることも可能である。
熱により硬化させた後、第1シール材805に形成され
た開口部(図示せず)を塞ぐ。第1シール材805の開
口部を塞いだら、導電性材料862を用いて接続配線8
08及びFPC809を電気的に接続させる。さらに、
第1シール材805の露呈部及びFPC809の一部を
覆うように第2シール材806を設ける。第2シール材
806は第1シール材807と同様の材料を用いれば良
い。
材807に封入することにより、EL素子を外部から完
全に遮断することができ、外部から水分や酸素等の有機
材料の酸化を促す物質が侵入することを防ぐことができ
る。従って、信頼性の高いEL表示装置を作製すること
ができる。
示装置用の製造ラインを転用させることができるため、
整備投資の費用が大幅に削減可能であり、歩留まりの高
いプロセスで1枚の基板から複数の発光装置を生産する
ことができるため、大幅に製造コストを低減しうる。
〜7のいずれの構成を組み合わせた成膜装置を用いても
作製することができる。
示したEL表示装置において、EL素子から発する光の
放射方向とカラーフィルタの配置を異ならせた場合の例
について示す。説明には図9を用いるが、基本的な構造
は図8(B)と同様であるので変更部分に新しい符号を
付して説明する。
TFT902としてnチャネル型TFTが用いられてい
る。また、電流制御用TFT902のドレインには画素
電極903が電気的に接続され、この画素電極903は
遮光性を有する導電膜で形成されている。本実施例では
画素電極903がEL素子の陰極となる。
光する発光層858、緑色に発光する発光層859の上
には各画素に共通な透明導電膜904が形成される。こ
の透明導電膜904はEL素子の陽極となる。
(R)905、カラーフィルタ(G)906及びカラー
フィルタ(B)(図示せず)がカバー材804に形成さ
れている点に特徴がある。本実施例のEL素子の構造と
した場合、発光層から発した光の放射方向がカバー材側
に向かうため、図9の構造とすればその光の経路にカラ
ーフィルタを設置することができる。
05、カラーフィルタ(G)906及びカラーフィルタ
(B)(図示せず)をカバー材804に設けると、アク
ティブマトリクス基板の工程を少なくすることができ、
歩留まり及びスループットの向上を図ることができると
いう利点がある。
〜8のいずれの構成を組み合わせた成膜装置を用いても
作製することができる。
材料からなる発光層の劣化を最小限に抑制することがで
き、EL素子の信頼性を高めることができる。従って、
EL素子を用いた発光装置の信頼性を大幅に向上させる
ことが可能となる。
示す図。
示す図。
示す図。
Claims (10)
- 【請求項1】基板の搬入または搬出を行うストック室、
前記基板を搬送する機構を含む搬送室及び前記搬送室に
ゲートを介して連結された液相成膜室を有し、前記液相
成膜室には周期表の1族または2族に属する元素を酸化
させる機構が備えられていることを特徴とする成膜装
置。 - 【請求項2】基板の搬入または搬出を行うストック室、
前記基板を搬送する機構を含む搬送室及び前記搬送室に
ゲートを介して連結された液相成膜室を有し、前記液相
成膜室には周期表の1族または2族に属する元素を酸化
させる機構が配管を介して備えられていることを特徴と
する成膜装置。 - 【請求項3】基板の搬入または搬出を行うストック室、
前記ストック室にゲートを介して連結された二つの搬送
室、前記二つの搬送室の一方にゲートを介して連結され
た気相成膜室及び前記二つの搬送室の他方にゲートを介
して連結された液相成膜室を有し、前記液相成膜室には
周期表の1族または2族に属する元素を酸化させる機構
が備えられていることを特徴とする成膜装置。 - 【請求項4】基板の搬入または搬出を行うストック室、
前記ストック室にゲートを介して連結された二つの搬送
室、前記二つの搬送室の一方にゲートを介して連結され
た気相成膜室及び前記二つの搬送室の他方にゲートを介
して連結された液相成膜室を有し、前記液相成膜室には
周期表の1族または2族に属する元素を酸化させる機構
が配管を介して備えられていることを特徴とする成膜装
置。 - 【請求項5】請求項1乃至請求項4のいずれか一におい
て、前記搬送室は減圧に保持され、前記液相成膜室は不
活性ガスを充填した大気圧または与圧に保持されること
を特徴とする成膜装置。 - 【請求項6】請求項1乃至請求項4のいずれか一におい
て、前記液相成膜室が連結された搬送室にはゲートを介
して焼成室が連結され、該焼成室は前記基板の面の上下
を反転させる機構を備えていることを特徴とする成膜装
置。 - 【請求項7】画素電極の形成された基板を液相成膜室へ
搬送し、前記液相成膜室を密閉して周期表の1族または
2族に属する元素を酸化させた後、前記基板に有機EL
材料を含む膜を形成するプロセスを含むことを特徴とす
る発光装置の作製方法。 - 【請求項8】画素電極の形成された基板を液相成膜室へ
搬送し、前記液相成膜室を密閉して周期表の1族または
2族に属する元素を酸化させた後、前記基板に有機EL
材料を含む膜を形成し、前記有機EL材料を含む膜を形
成した基板を気相成膜室へ搬送して導電膜を形成するプ
ロセスを含むことを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項9】請求項7または請求項8において、前記有
機EL材料を含む膜を形成する際に、スピンコート法、
印刷法、インクジェット法またはディスペンス法を用い
ることを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項10】請求項7または請求項8において、前記
有機EL材料を含む膜は酸素濃度が1ppb以下の雰囲
気で行われることを特徴とする発光装置の作製方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000358857A JP4827294B2 (ja) | 1999-11-29 | 2000-11-27 | 成膜装置及び発光装置の作製方法 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1999337190 | 1999-11-29 | ||
JP33719099 | 1999-11-29 | ||
JP11-337190 | 1999-11-29 | ||
JP2000358857A JP4827294B2 (ja) | 1999-11-29 | 2000-11-27 | 成膜装置及び発光装置の作製方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010250808A Division JP2011049182A (ja) | 1999-11-29 | 2010-11-09 | El表示装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001223077A true JP2001223077A (ja) | 2001-08-17 |
JP2001223077A5 JP2001223077A5 (ja) | 2008-01-17 |
JP4827294B2 JP4827294B2 (ja) | 2011-11-30 |
Family
ID=37529376
Family Applications (5)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2000358857A Expired - Fee Related JP4827294B2 (ja) | 1999-11-29 | 2000-11-27 | 成膜装置及び発光装置の作製方法 |
JP2010250808A Withdrawn JP2011049182A (ja) | 1999-11-29 | 2010-11-09 | El表示装置 |
JP2011251411A Withdrawn JP2012074389A (ja) | 1999-11-29 | 2011-11-17 | El表示装置 |
JP2012248558A Expired - Fee Related JP5463406B2 (ja) | 1999-11-29 | 2012-11-12 | 発光装置の作製方法 |
JP2013247602A Expired - Lifetime JP5604581B2 (ja) | 1999-11-29 | 2013-11-29 | 発光装置の作製方法 |
Family Applications After (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2010250808A Withdrawn JP2011049182A (ja) | 1999-11-29 | 2010-11-09 | El表示装置 |
JP2011251411A Withdrawn JP2012074389A (ja) | 1999-11-29 | 2011-11-17 | El表示装置 |
JP2012248558A Expired - Fee Related JP5463406B2 (ja) | 1999-11-29 | 2012-11-12 | 発光装置の作製方法 |
JP2013247602A Expired - Lifetime JP5604581B2 (ja) | 1999-11-29 | 2013-11-29 | 発光装置の作製方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
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US (1) | US20100255184A1 (ja) |
JP (5) | JP4827294B2 (ja) |
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US11489119B2 (en) | 2014-01-21 | 2022-11-01 | Kateeva, Inc. | Apparatus and techniques for electronic device encapsulation |
JP2020028880A (ja) * | 2014-04-30 | 2020-02-27 | カティーバ, インコーポレイテッド | 基板コーティングのためのガスクッション装置および技法 |
JP2018153809A (ja) * | 2014-04-30 | 2018-10-04 | カティーバ, インコーポレイテッド | 基板コーティングのためのガスクッション装置および技法 |
US11338319B2 (en) | 2014-04-30 | 2022-05-24 | Kateeva, Inc. | Gas cushion apparatus and techniques for substrate coating |
JP2017025395A (ja) * | 2015-07-27 | 2017-02-02 | 東レエンジニアリング株式会社 | 封止膜形成装置および封止膜形成方法 |
WO2017018265A1 (ja) * | 2015-07-27 | 2017-02-02 | 東レエンジニアリング株式会社 | 封止膜形成装置および封止膜形成方法 |
US12018857B2 (en) | 2020-12-17 | 2024-06-25 | Kateeva, Inc. | Gas enclosure assembly and system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014089963A (ja) | 2014-05-15 |
JP2011049182A (ja) | 2011-03-10 |
KR20010061975A (ko) | 2001-07-07 |
JP5604581B2 (ja) | 2014-10-08 |
KR100664662B1 (ko) | 2007-01-04 |
US20100255184A1 (en) | 2010-10-07 |
JP2013033761A (ja) | 2013-02-14 |
JP2012074389A (ja) | 2012-04-12 |
JP5463406B2 (ja) | 2014-04-09 |
JP4827294B2 (ja) | 2011-11-30 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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