JP2001120969A - 水素ガス分離フィルタおよびその製造方法 - Google Patents
水素ガス分離フィルタおよびその製造方法Info
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Abstract
選択的かつ効率的に分離する水素ガス分離フィルタおよ
びその製造方法を提供する。 【解決手段】非晶質シリカ質骨格2と骨格2内に形成さ
れた細孔径が10nm以下の多数の細孔3とを有する水
素ガス分離フィルタ1の骨格2内および/または水素ガ
ス分離フィルタ1の少なくとも表面および/または細孔
3内壁に平均粒径0.2〜10nmの周期律表第8族金
属粒子4が分散する水素ガス分離フィルタ1を用いて、
水素ガスを含む混合ガスから該水素ガスを選択的かつ効
率的に透過、分離する。
Description
合ガスから水素ガスを分離する水素ガス分離フィルタお
よびその製造方法に関するものである。
精製プラントにおいて発生するオフガスや、アンモニア
合成プラントにおいて発生するパージガスからの水素ガ
スの回収、水蒸気やLNGなどの改質ガスとして生成す
る水素ガスの回収などに利用されている。水素ガスは、
クリーンなエネルギー源として大きな期待が寄せられ、
また幅広い利用用途があることからその需要は高くなっ
ている。
ては、パラジウム等の水素ガスを吸収、透過できる金属
板や、高分子からなるガス分離フィルタ、多孔質セラミ
ックからなるガス分離フィルタが使用または検討されて
いるが、金属パラジウム板では強度維持のために厚くな
り、水素ガスの透過速度が遅く高価であり、高分子から
なるフィルタは、ガス分離性能、耐熱性が低いために、
多孔質セラミックスからなるガス分離フィルタや多孔質
セラミック支持体と金属パラジウムとの組み合わせが種
々検討されている。
175号公報にて、シリコンアルコキシドを用い、シロ
キサン結合による骨格内にガス分子径オーダーの細孔を
形成することによって、CO2等の各種ガスの透過に対
する選択性を高め、ガス分離性能を向上したガス分離フ
ィルタを提案した。
は、100nm以上の細孔を有するアルミナ焼結体から
なる多孔質支持体の細孔内にシリカゲルを担持し、さら
に前記多孔質支持体表面に厚み6μm以上のパラジウム
含有薄膜を形成した水素ガス分離フィルタが提案されて
いる。
は、100μm以上の細孔を有する金属多孔質支持体表
面にシリカ質薄膜を被着形成し、さらに、メッキ法また
は気相法によって厚み7μm以上のパラジウム薄膜を被
着形性した水素ガス分離フィルタが開示されている。
は、50nm以上の細孔を有するシリカ質多孔質支持体
の細孔内に、厚み1μm以上のパラジウム金属を充填し
た水素ガス分離フィルタが提案されている。
10−249175号公報のガス分離フィルタでは、細
孔径を制御してガス透過の選択性を高めることはできる
ものの、分子径の小さい水素ガスのみを選択的に透過す
る場合、細孔径を小さくする必要があり、ガス透過速度
が遅くなるという問題があった。
内に吸収して、パラジウム金属内を拡散させることによ
り透過する水素ガス分離フィルタは、いずれも水素ガス
の吸収、拡散速度が遅く、フィルタ特性が低いという問
題があった。
で、その目的は、水素ガスを含む複数の混合ガス中から
水素ガスを分離する水素ガス分離フィルタにおいて、透
過率及び透過係数比等のガス分離特性に優れた水素ガス
分離フィルタおよびその製造方法を提供することにあ
る。
に対して鋭意研究を重ねた結果、細孔径10nm以下の
細孔を有する非晶質セラミック、その細孔開口部および
/または細孔内壁面に平均粒径0.2〜10nmの周期
律表第8族金属粒子を分散させることによって、水素ガ
スがセラミック多孔質フィルタの細孔内をより選択的
に、かつより迅速に透過できることを見いだした。
は、非晶質シリカ質骨格と該骨格内に形成された細孔径
が10nm以下、特に平均細孔径0.25〜5nmの多
数の細孔とを有するものであって、前記骨格内に平均粒
径0.2〜10nmの周期律表第8族金属粒子が分散す
ることを特徴とするものである。
は、非晶質シリカ質骨格と該骨格内に形成された細孔径
が10nm以下、特に平均細孔径0.25〜5nmの多
数の細孔とを有するものであって、前記水素ガス分離フ
ィルタの少なくとも表面および/または前記細孔内壁に
平均粒径0.2〜10nmの周期律表第8族金属粒子が
分散することを特徴とするものである。
Pd、Pt、Rh、Ru、Irの群から選ばれる少なく
とも1種であることが望ましく、前記水素ガス分離フィ
ルタ中の前記周期律表第8族金属粒子の含有量が0.1
〜30モル%であることが望ましい。
造方法は、(a)シリコンアルコキシドを加水分解して
作製した前駆体ゾル中に周期律表第8族金属を含有する
溶液を添加する工程と、(b)(a)工程の前駆体ゾル
をゲル化した後、350〜700℃の温度で熱処理する
工程とを具備することを特徴とするものである。
他の製造方法は、(a)シリコンアルコキシドを加水分
解して作製した前駆体ゾルをゲル化した後、350〜7
00℃の温度で熱処理する工程と、(b)前記(a)工
程のシリカ膜を周期律表第8族金属の含有する溶液中に
浸漬して引き上げる工程とを具備することを特徴とする
ものである。
トラアルコキシシランと一般式が下記化2
キシシランの混合物であることが望ましく、前記シリコ
ンのアルコキシド全量中における前記他のアルコキシシ
ランの含有量が10〜50モル%であることが望まし
い。
ガスがガス分子径オーダーの細孔内を透過する、いわゆ
る表面拡散機構に基づくものであるために、水素ガスが
パラジウム金属内に吸収され、金属内を拡散することに
よって透過する、いわゆる溶解拡散機構に基づくものに
比べてガス透過速度が速く、ガス分離速度を高めること
ができる。
が分散することにより、分子径が小さいことから分子ふ
るい効果による水素の優先透過効果に加えて、シリカ膜
の表面および/または細孔内壁面に存在する周期律表第
8族金属により水素に対する親和性が増大し、周期律表
第8族金属を介して細孔内壁面にて水素の拡散が活性化
し、水素が優先的に透過することができる。
製造方法によれば、シリコンのアルコキシドを加水分解
して作製したゾル中に周期律表第8族金属を含有する溶
液を添加することにより、シリカマトリックス中に微細
な周期律表第8族金属粒子が分散することができ、水素
の拡散を促進することができる。
の製造方法によれば、多数の細孔を有するシリカ膜を周
期律表第8族金属を含有する溶液中に浸漬することによ
り、シリカ膜表面および/またはシリカ膜の細孔内壁面
に周期律表第8族金属を分散、担持でき、水素の拡散を
促進することができる。
第一の態様について、その一部拡大図を図1に示す。本
発明の水素ガス分離フィルタ(以下、単にフィルタと略
す。)1は、基本的にSi−O−Siで表されるシロキ
サン結合を有する非晶質シリカ質骨格(以下、単に骨格
と略す。)2と骨格2内に環状のシロキサン結合によっ
て形成された細孔径が10nm以下、特に0.25〜5
nm、さらに0.25〜1nmの多数の細孔3を有し、
かつ、骨格2内に平均粒径0.2〜10nm、特に0.
5〜5nm、さらに1.0〜1.5nmの周期律表第8
族金属粒子4が分散するものである。これによって、分
子径(0.289nm)の水素ガスが細孔3内を表面拡
散機構に基づき、分子ふるい効果により選択的に透過す
るとともに、水素ガスの周期律表第8族金属粒子4との
親和性により、より水素ガス透過の選択性が向上する。
また、水素ガスとヘリウムガスとを分離することも可能
となる。
一部表面が骨格2表面および細孔3内壁面に露出してい
ることが望ましく、これによって水素ガス分子の細孔3
内への導入率、および水素ガス分子の細孔内、特に細孔
内壁面での通過速度が向上できる。
d、Pt、Rh、Ru、Irの群から選ばれる少なくと
も1種であることが望ましく、特に、水素ガスに対する
親和性の強さの点でPd、Pt、さらに、Pdであるこ
とが望ましい。
の含有量は、水素ガスとの親和性の向上およびフィルタ
内への金属粉末の均一な分散の点で、0.1〜30mo
l%であることが望ましい。
二の態様について、その一部拡大図を図2に示す。本発
明の他の水素ガス分離フィルタ(以下、単にフィルタと
略す。)11は、上記同様に、基本的にSi−O−Si
で表されるシロキサン結合を有する非晶質シリカ質骨格
(以下、単に骨格と略す。)12と骨格12内に環状の
シロキサン結合によって形成された細孔径が10nm以
下、特に0.25〜5nm、さらに0.25〜1nmの
多数の細孔13を有し、かつ、骨格12の表面および/
または細孔13内壁面に平均粒径0.2〜10nmの周
期律表第8族金属粒子14が分散するものである。これ
によっても、分子径(0.289nm)の水素ガスが細
孔13内を表面拡散機構に基づき、分子ふるい効果によ
り選択的に透過する。
13を塞いでも、水素ガスは粒径が10nm以下の微細
な粒子内を透過するためにガス分離速度が極端に低下す
ることはないが、ガス分離速度向上のためには周期律表
第8族金属粒子14は細孔13を塞がないことが望まし
い。
格内、および骨格表面および/または骨格内の細孔内壁
面に周期律表第8族金属粒子が分散したものであっても
よい。
離フィルタ1、11は、例えば、平均細孔径が0.1〜
2μmの多孔質支持体6、16表面に被着形成されてお
り、その結果、構造体としての機械的強度を高くできる
ことから、水素ガス分離フィルタ1の厚みを薄くして水
素ガスの分離速度を向上できる。
構造であることが、耐熱性および耐水性を高める上で望
ましく、前記Siと前記Zrとの原子比(Zr/Si)
は、耐熱性および耐水性向上と製造時に生じるゾルの安
定性の点で、0.01〜0.5、特に0.1〜0.3の
割合からなることが望ましい。
造体として必要な強度を有するとともに、フィルタ1の
成膜性を高める点で、0.1〜2μmの細孔径を有する
ことが望ましく、また、高い圧力をかけコストの点でα
−アルミナを主成分とするセラミックスからなることが
望ましい。また、フィルタ1の成膜性を高める上で、支
持体6は表面粗さ(Ra)0.1〜2.0μmの平滑な
表面を有することが望ましい。
はなく、平板状や管状体のいずれでも良いが、ガスの分
離効率およびフィルタの取り扱いを考慮すれば管状体で
あることが望ましい。また、この場合、管状体の径は、
ガスの分離効率を高める上では、内径2mm程度が望ま
しく、また、混合ガスが支持体6中を透過すること、お
よび支持体6の強度を確保し、フィルタ1を組み立てる
際に、支持体6が破損したり、操作中に支持体6を構成
する粒子が脱粒することを防止する点で、支持体6は2
0〜50%の気孔率を有することが望ましい。
ジルコニアを主成分とするセラミックスやシリカ系ガラ
ス(分相ガラス)等によって形成できるが、耐熱性が高
いこと、容易に作製できること、に支障のない強度を保
つため、管状体の肉厚が0.3〜1mmであることが望
ましい。また、平板形状のフィルタの場合には、強度の
点で、支持体の厚みは、0.3mm以上であることが望
ましい。
6の内面または外面に被着形成されるが、フィルタ1の
厚みは、水素ガス分離の処理速度向上の点で0.01〜
1μm、特に0.01〜0.5μmであることが望まし
い。
気性を有する中間層(図示せず。)が介在することが望
ましい。これにより、フィルタ1の支持体6への成膜性
が向上することから、フィルタ1の厚みを薄くすること
ができ、水素ガス分離の処理速度が向上する。
の透過速度およびフィルタ1の成膜性の点で、支持体6
の平均細孔径よりも小さく、かつフィルタ1の平均細孔
径よりも大きいことが望ましく、具体的には1〜10n
m、特に2〜5nmであることが望ましい。
との間に反応生成物を生じず、支持体6の表面を層状に
覆い、平滑な表面を形成するものであればよい。
としてα−アルミナ質セラミックスを用いる場合、γ−
アルミナが好適である。
は、フィルタ1の一方の表面に水素ガスを含む混合ガス
を流すとともに、フィルタ1の反対側の面で前記混合ガ
ス中の水素分圧を低めることにより、該水素ガスをフィ
ルタ1を介して選択的に他方の表面へ透過、分離し、前
記混合ガスから水素ガスを効率よく分離することができ
る。
した後フィルタ1を透過してもよく、逆に、フィルタ1
を透過した後支持体6を透過してもよい。また、支持体
6が管状体形状からなる場合には、管状体の内に混合ガ
スを流して管状体の外部に水素ガスを透過させ、分離、
回収することもでき、逆に、管状体の外部に混合ガスを
流しながら、管状体の内部に水素ガスを透過させること
もできる。
素ガスの排出面側に水素ガス以外のガスを流すこともで
きるが、水素ガスを含む混合ガス供給面側の気圧よりも
水素ガス排出面側の気圧を低めることにより、より効率
的に水素ガスの分離が可能である。
水素ガス排出面側を減圧する方法、水素ガスを含む混合
ガス供給面側を加圧する方法、さらに、上記2つの方法
を併用する方法が挙げられる。
ィルタ1は、常温から350℃における水素ガスの透過
率が1×10-8mol/(m2・Pa・sec)以上、
室温における水素ガスと窒素ガスの透過係数比(H2/
N2)が25以上の優れた特性を有する水素ガス分離フ
ィルタとなる。
ィルタ1は、フィルタ1の耐熱性や耐久性の点で常温か
ら400℃の広い温度範囲にわたって使用することが可
能なものである。
素ガスを分離する水素ガス分離装置の一例を図3に示
す。図3によれば、水素ガス分離装置21は、内径1〜
5mm、肉厚0.2〜1mm、長さ50〜500mmの
円筒形状の水素ガス分離フィルタ22を数本〜数百本程
度が、固定用部材23で固定され、更にハウジング24
中に接着固定されている。
塩化ビニルやポリウレタン等の樹脂、ステンレス等の金
属、アルミナやジルコニア等の緻密質セラミックスある
いはガラス等のガスを透過しないものによって形成され
るが、ハウジング24については、系内を加圧または減
圧する場合、また装置を加熱する場合には、金属やセラ
ミックス等の機械的強度が高いものが好適である。
利用する場合、フィルタとハウジングの熱膨張率の差に
よる応力を緩和するような構造で接着、固定することが
望ましい。
ガスを導入するための混合ガス導入口25、ガス分離フ
ィルタ22表面を通過した混合ガスを系外へ排出するた
めの混合ガス排出口26およびフィルタを透過したガス
を分離、回収するための透過ガス排出口27が形成さ
れ、上記3個所にてのみガスが出入りする。
圧差を設けることができ、例えば、透過ガス排出口27
に真空ポンプ等(図示せず。)を接続して水素ガス分離
フィルタ22の外周表面の気圧を下げることができる。
造する方法について説明する。まず、シリコンのアルコ
キシドと、所望により、ジルコニウムのアルコキシドを
準備する。シリコンのアルコキシドとしては、テトラア
ルコキシシランと一般式が下記化3
キシシランとからなることが望ましい。
ては、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシランお
よびテトラプロポキシシラン等が挙げられ、原料のコス
トおよび成膜性の点でテトラメトキシシランまたはテト
ラエトキシシランを用いることが望ましい。
は、有機官能基がゾル形成時に立体的な障害となり、ゾ
ル中に所望の大きさの細孔骨格を形成できるが、水素
(H2)ガスの分離を行なう上では細孔径を1nm以下
に制御する必要があり、適当な大きさの有機官能基を有
するシリコンアルコキシドが望ましい。
25〜1nmの細孔径を有するフィルタを得るために
は、前記シリコンのアルコキシド全量中のおける前記他
のアルコキシシランの含有量が、10〜50モル%であ
ることが望ましい。
は、テトラエトキシジルコニウム、テトラプロポキシジ
ルコニウム、テトラブトキシジルコニウム等が使用でき
るが、アルコールへの溶解性、ゲルの成膜性の点から、
テトラエトキシジルコニウム、テトラプロポキシジルコ
ニウムが望ましく、前記総Siと前記Zrとの原子比
(Zr/Si)は、耐熱性および耐水性向上と製造時に
生じるゾルの安定性の点で、0.01〜0.5、特に
0.1〜0.3の割合からなることが望ましい。
に溶解させる。該溶媒としては、メタノール、エタノー
ル、プロパノール、ブタノール、2ーメトキシエタノー
ル、2ーエトキシエタノール等のアルコールが好適に用
いられるが、前記アルコシキドの溶解性およびゲルの支
持体への親和性および乾燥性等の成膜性の点で、メタノ
ールまたはエタノール等の低級アルコールが最適であ
る。
は、溶媒とともにテトラアルコキシシラン1molに対
して1〜3molの水を酸等とともに添加し、部分的に
加水分解することが望ましく、これによりテトラアルコ
キシシランの加水分解された部分が前記他のアルコキシ
シランおよびジルコニウムのアルコキシドと反応するこ
とによって溶液中の組成の均質性を高めることができ
る。
窒素気流下で攪拌して複合アルコキシドを作製した後、
これに所定の濃度の水、酸等を添加する公知の加水分解
方法によって加水分解し、ゾルを作製する。なお、前記
加水分解のために添加する水の量としては、アルコキシ
ド溶液中の全シリコンのアルコキシド1モルに対して1
〜20モルが望ましい。
と加水分解が十分でなく、シロキサン結合が進行しない
ために成膜性が悪く、膜内にクラックが生じたり、膜の
剥離が生じるためであり、前記水の量が20モルより多
いと、加水分解が急激に進行しすぎ、沈殿等が生じて安
定なゾルを得ることができないからである。
めに上記溶液中に、さらに、周期律表第8族金属を含む
溶液を添加することが重要である。なお、周期律表第8
族金属粒子の平均粒径を0.2〜10nmに制御するた
めには、周期律表第8族金属を含む溶液として、前駆体
ゾルの構造変化を防止するためにPd,Pt,Rh,R
u,Ir,Fe,Ni,Co有機金属化合物のアルコー
ル溶液等であることが望ましく、また、上記周期律表第
8族金属を含む溶液の添加は、シロキサン結合内に安定
にかつ均一に分散させるために、前記シリコンアルコキ
シドを加水分解して得られるゾル作製後に添加すること
が望ましい。
ば、平均粒径0.1〜2.0μmのアルミナ原料に、所
定量のバインダ、潤滑剤、可塑剤、水等を添加、混合し
た後、該混合物をプレス成形、押し出し成形、射出成
形、冷間静水圧成形等の公知の成形手段によって成形す
る。その後、該成形体を大気中、1000〜1500℃
にて焼成することにより多孔質支持体を得ることができ
る。
率、平均細孔径を有するとともに、表面粗さ(Ra)
0.1〜2μmの平坦な表面を有することが望ましく、
また、内径2mm、肉厚0.3〜1mmの管状体である
ことが望ましい。
えば、アルミニウムセカンダリーブトキシド等のアルミ
ニウムアルコキシドを加水分解することによってベーマ
イトゾルを作製し、上記の多孔質支持体の表面に前記ベ
ーマイトゾルを被着形成する。
着する方法としては、前記ベーマイトゾルを塗布または
注入する方法、または前記ベーマイトゾル溶液中に前記
多孔質支持体を含浸して引き上げる方法が好適に用いら
れる。
を乾燥しゲル化し、これを大気中、400〜900℃、
特に400〜600℃で熱処理することにより支持体表
面に中間層を被着形成することができる。焼成温度につ
いては、400℃より低いと中間層の支持体への結合力
が弱く中間層が剥離してしまうためであり、また、90
0℃より高いと、焼結が進行しすぎてしまい中間層の細
孔径が大きくなり、所望の細孔径を得ることができない
ためである。
の表面に前記Siと周期律表第8族金属とを含むゾルを
中間層形成方法と同様の方法により被着形成し、これを
乾燥しゲル化する。
を含むゲルを被着形成した支持体を、大気中、350〜
700℃、特に400〜500℃で熱処理することによ
りゲル内でSi−Oのシロキサン結合が進行し、強固な
膜となるとともに、前記有機官能基が熱処理により分
解、除去され細孔が生成する。
処理温度が350℃より低いと、シロキサン結合を強固
なものとすることができず、安定な膜を形成することが
できいとともに、所望の径の細孔を得ることができな
い。また、熱処理温度が700℃より高い場合には、フ
ィルタが結晶化して、膜中の細孔を所望の径とすること
ができない。
度で焼成することにより、熱処理後にも前記膜中に前記
有機官能基の一部が残存することによりシロキサン結合
の過度の成長を阻害することができるものであり、これ
により前記膜内にÅオーダーの細孔径を有する微細な細
孔を存在させることができることから、0.289nm
の分子径の水素(H2)ガスを優先的に透過させること
ができる。
などの還元雰囲気下、前記熱処理温度以下の温度で再度
熱処理することにより、前記酸化性雰囲気中での熱処理
により酸化した周期律表第8族金属粒子が金属に還元す
ることができる。
を作製するためには、所望により前記ジルコニウムアル
コキシドを添加した前記シリコンアルコキシドを加水分
解して得られるゾルを乾燥し、熱処理して非晶質シリカ
骨格を形成し、該周期律表第8族金属を含む溶液に浸漬
して引き上げることによって、非晶質シリカ骨格および
その細孔内壁面に8族を分散、担持することができる。
なお、前記細孔内壁面にも該周期律表第8族金属粒子を
分散するためには、ゾル被着形成面を減圧することが望
ましい。
ては、Pd、Pt、Rh、Ru、Ir、Fe、Ni、C
oの金属塩や有機金属化合物の水溶液、もしくはアルコ
ール溶液であることが望ましく、8属金属粒子を前記骨
格表面および/または細孔内壁面に分散させるために
は、8属金属を含む溶液の濃度は1mol/l以下であ
ることが望ましい。
の溶液として、周期律表第8族金属塩の水溶液もしくは
アルコール溶液とポリビニルピロリドン、ポリビニルア
ルコール等の高分子を共存させ、加熱還流もしくはXe
ランプ等の光照射することで還元して周期律表第8族金
属超微粒子を生成させることもでき、この方法によれ
ば、数nmの周期律表第8族金属コロイド粒子が析出、
分散させることが可能である。
(TEOSと略す。)に対して、水0.7molおよび
HClを含むエタノール溶液を添加、混合して部分加水
分解ゾルを作製し、これに表1に示す他のアルコキシシ
ラン(TASと略す。)のエタノール溶液をシリコンア
ルコキシド全量に対する比率が表1となるように添加
し、窒素気流下で攪拌した後、次いでシリカに対する比
率(Zr/Si)が表1に示す量のジルコニウムのアル
コキシドであるテトラプロポキシジルコニウム(TPZ
と略す。)のエタノール溶液を添加して複合アルコキシ
ドを作製した。
olとエタノールの混合溶液を添加し加水分解して、更
に3時間攪拌し、前駆体ゾルを作製した。
にエタノール、ポリNビニルピロリドンを加えて溶液中
の気泡を脱泡処理した。この溶液を攪拌しながら、50
0WのXeランプを3時間照射し、光還元によりPd微
粒子が分散した溶液を作製した。この溶液を前記シリコ
ンアルコキシド溶液のSi1molに対してPdが0.
001mol%となるように添加した。
mのアルミナに対し、所定量の有機バインダ、潤滑剤、
可塑剤および水を添加、混合し、押し出し成形にて管状
体に成形した後、大気中、1200℃にて焼成して、内
径2mm、肉厚0.4mm、長さ250mmの管状体
で、平均粒径0.2μm、気孔率39%を有するα−ア
ルミナ質多孔質支持体を作製した。さらに、この外表面
を表面粗さ(Ra)が0.3μmとなるように研磨し
た。
ーブトキシドを1mol添加して加水分解し、さらに硝
酸を添加した後、16時間還流してベーマイトゾルを作
製した。そして、上記の支持体の先端部に栓をして、前
記ベーマイトゾル溶液内に含浸して60秒間保持し、5
mm/秒の速度で排出し、室温で2時間乾燥してベーマ
イトゾルをゲル化した後、前記ゲルを被着形成した支持
体を大気中、500℃で焼成する工程を4回繰り返して
前記α−アルミナ質多孔質支持体の表面にγ−アルミナ
からなる中間層を被着形成した。
記中間層を被着形成した支持体を、30秒間浸漬し、5
mm/秒の速度で引き上げ、室温で1時間乾燥した後、
引き続いて大気中、表1に示す焼成温度で1時間保持
し、その後、室温まで冷却した。この浸漬、乾燥、焼成
の一連の操作を4回繰り返し、γ−アルミナ層上にSi
と周期律表第8族金属粒子とを含有するフィルタをを被
着形成した。
て熱処理を行い、水素ガス分離フィルタを作製した。
外観検査を行い、クラックやピンホール等の欠陥の有無
を確認した。また、SEM観察またはTEM観察により
周期律表第8族金属粒子の平均粒子径を金属径として測
定を行った。さらに、アルゴン吸着法または後述の図4
に示すようなフィルタの各種ガスに対する透過性能によ
りフィルタ内の細孔の平均細孔径を推定した。また、上
記と同様の方法により作製した20mm角の平板形状の
支持体表面に上記と同様にして中間層およびフィルタを
形成し、フィルタのX線回折測定を行ない、結晶相を分
析した。結果は表1に示した。
の水素ガス分離装置を作製し、該フィルタを表2に示す
温度の炉内に設置するとともに、管外側にヘリウムガス
30cc/minを流しながら、管内側に窒素0.5気
圧と、水素0.5気圧との混合ガスを100cc/mi
nの割合で流し、透過ガス排出口で回収されるガスにつ
いて、膜流量計によりガスの全流量を、ガスクロマトグ
ラフィを用いてフィルタを透過した水素の濃度を測定
し、上記水素の透過量を算出し、さらに、水素の透過量
/(膜面積×差圧×時間)で表される水素ガスの透過率
を算出した。
を求め、水素の透過係数比α(水素の透過率/窒素の透
過率)を求めた。
温度のHeガス流通下で1時間前処理し、フィルタが各
温度となった状態で、評価を行なった。結果は、表2に
示した。
を含有しない試料No.15では、膜にクラックが生
じ、水素ガスを分離することができなかった。また、周
期律表第8族金属粒子を含有しない試料No.13で
は、水素ガスの透過係数比αが低かった。
化した試料No.10では、平均細孔径が測定不能、す
なわち、緻密化してしまい水素の透過率が小さくなっ
た。
で図4に示す各種ガスの透過特性を上記と同様に評価
し、各種ガスの分子径とガスの透過特性との関係を示し
た。図4から明らかなように、本発明の水素ガス分離フ
ィルタは、水素ガスを選択的に分離できることがわかっ
た。
コキシドシラン(TAS)として、テトラエトキシシラ
ン(TEOS)0.7molとビニルトリエトキシシラ
ン0.3molとを混合し、このシリコンアルコキシド
1molに対してテトラプロポキシジルコニウム(TP
Z)を0.25mol添加し、実施例1と同様に加水分
解してゾルを形成し、12時間環流してゾルを作製した
後、該ゾルを実施例1と同じ支持体表面に被着形成した
中間層表面に被着形成し、大気中にて熱処理した。
100mlに溶解した。そして、一端を封じた前記フィ
ルタをフィルタ内部を真空ポンプにて減圧しながら上記
硝酸パラジウム水溶液中に浸漬し3分間保持した後、5
mm/secの速度で引き上げて室温にて乾燥した。そ
の後、水素/窒素中、500℃で1時間熱処理し、非晶
質シリカ骨格の表面および細孔内壁面に周期律表第8族
金属粒子を担持、分散した水素ガス分離フィルタを作製
した。
は良好な外観を示し、平均細孔径1.2nmの非晶質で
あり、周期律表第8族金属粒子の平均粒径は2nmであ
った。
価した結果、350℃で水素の透過率が3.52×10
-6mol/(m2・Pa・sec)、水素の透過係数比
(H2 /N2)αが183と良好なガス分離特性を示し
た。
分離フィルタによれば、水素ガス透過が表面拡散機構に
基づくものであるために、水素ガスがパラジウム金属内
を透過する溶解拡散機構に基づくものに比べてガス透過
速度が速く、ガス分離速度を高めることができる。
が分散することにより、シリカ膜の表面および/または
細孔内壁面に存在する周期律表第8族金属により水素に
対する親和性が増大し、水素がより優先的に透過するこ
とができる。
製造方法によれば、シリカ質骨格内および/または骨格
表面および細孔内壁面に微細な周期律表第8族金属粒子
が分散することができ、水素の拡散を促進することがで
きる。
ある。
図である。
素ガス分離装置の概略断面図である。
スの分離特性を評価した一例を示す図である。
Claims (13)
- 【請求項1】非晶質シリカ質骨格と該骨格内に形成され
た細孔径が10nm以下の多数の細孔とを有する水素ガ
ス分離フィルタであって、前記骨格内に平均粒径0.2
〜10nmの周期律表第8族金属粒子が分散してなるこ
とを特徴とする水素ガス分離フィルタ。 - 【請求項2】前記細孔の平均細孔径が、0.25〜5n
mであることを特徴とする請求項1記載の水素ガス分離
フィルタ。 - 【請求項3】非晶質シリカ質骨格と該骨格内に形成され
た細孔径が10nm以下の多数の細孔とを有する水素ガ
ス分離フィルタであって、前記水素ガス分離フィルタの
少なくとも表面および/または前記細孔内壁に平均粒径
0.2〜10nmの周期律表第8族金属粒子が分散して
なることを特徴とする水素ガス分離フィルタ。 - 【請求項4】前記水素ガス分離フィルタの少なくともガ
ス供給側面における平均細孔径が、0.25〜5nmで
あることを特徴とする請求項3記載の水素ガス分離フィ
ルタ。 - 【請求項5】前記周期律表第8族金属粒子が、Pd、P
t、Rh、Ru、Irの群から選ばれる少なくとも1種
であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか記載
の水素ガス分離フィルタ。 - 【請求項6】前記水素ガス分離フィルタ中の前記周期律
表第8族金属粒子の含有量が0.1〜30モル%である
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか記載の水素
ガス分離フィルタ。 - 【請求項7】(a)シリコンアルコキシドを加水分解し
て作製した前駆体ゾル中に周期律表第8族金属を含有す
る溶液を添加する工程と、(b)(a)工程の前駆体ゾ
ルをゲル化した後、350〜700℃の温度で熱処理す
る工程とを具備することを特徴とする水素ガス分離フィ
ルタの製造方法。 - 【請求項8】(a)シリコンアルコキシドを加水分解し
て作製した前駆体ゾルをゲル化した後、350〜700
℃の温度で熱処理する工程と、(b)前記(a)工程の
シリカ膜を周期律表第8族金属の含有する溶液中に浸漬
して引き上げる工程とを具備することを特徴とする水素
ガス分離フィルタの製造方法。 - 【請求項9】前記周期律表第8族金属粒子が、Pd、P
t、Rh、Ru、Irの群から選ばれる少なくとも1種
であることを特徴とする請求項7または8記載の水素ガ
ス分離フィルタの製造方法。 - 【請求項10】前記水素ガス分離フィルタ中の前記周期
律表第8族金属粒子の含有量が、0.1〜30モル%で
あることを特徴とする請求項7乃至9のいずれか記載の
水素ガス分離フィルタの製造方法。 - 【請求項11】前記細孔の平均細孔径が、0.25〜5
nmであることを特徴とする請求項7乃至10のいずれ
か記載の水素ガス分離フィルタの製造方法。 - 【請求項12】前記シリコンのアルコキシドがテトラア
ルコキシシランと一般式が下記化1 【化1】 で表される有機官能基を有する他のアルコキシシランの
混合物であることを特徴とする請求項7乃至11のいず
れか記載の水素ガス分離フィルタの製造方法。 - 【請求項13】前記シリコンのアルコキシド全量中にお
ける前記他のアルコキシシランの含有量が10〜50モ
ル%であることを特徴とする請求項12記載の水素ガス
分離フィルタの製造方法。
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JP30964999A JP2001120969A (ja) | 1999-10-29 | 1999-10-29 | 水素ガス分離フィルタおよびその製造方法 |
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