JP2001111218A - 多層プリント回路基板および電子装置 - Google Patents

多層プリント回路基板および電子装置

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JP2001111218A JP29150099A JP29150099A JP2001111218A JP 2001111218 A JP2001111218 A JP 2001111218A JP 29150099 A JP29150099 A JP 29150099A JP 29150099 A JP29150099 A JP 29150099A JP 2001111218 A JP2001111218 A JP 2001111218A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】複合絶縁材料層の線膨張係数を調整することに
より、電気導体層の厚みや被覆率が表裏で非対称の多層
プリント回路基板の温度変化による反り変形抑制する。 【解決手段】クロスおよび該クロスに含浸した樹脂から
なる複合絶縁材料層3、6と、該複合絶縁材料層表面を
被覆して形成した導電体層1、2、4、5からなる積層
体を複数層積層して形成した多層回路基板において、前
記導電体層による被覆率が高い複合絶縁材料層3の線膨
張係数を、導電体層による被覆率が低い複合絶縁材料層
6の線膨張係数よりも小さく設定した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は新規な多層プリント
回路基板にかかり、特に温度変化に伴う反りを抑制した
多層プリント回路基板およびそれを用いた電子装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】プリント回路基板は、繊維を織って形成
したクロスに樹脂を含浸した複合絶縁材料と、該複合絶
縁材料の表面に形成した電気導体の回路パターンからな
り、これらを多層積層することによって多層プリント回
路基板が構成される。前記複合絶縁材料に用いるクロス
には通常、電気用のE−ガラス繊維が用いられる。な
お、石英ガラス繊維あるいは芳香族ポリアミド繊維を用
いる場合もある。また、前記電気導体には、銅箔あるい
は銅箔の表面にニッケルメッキした導体を用いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記電気導体材料の銅
箔の線膨張率は略17×10-6(1/℃)、E−ガラス
繊維とエポキシ系樹脂からなる複合材料の線膨張率は略
11×10-6(1/℃)である。このように電気導体材
料と複合絶縁材料の線膨張係数は異なっている。このた
め電気導体材料と複合絶縁材料からなる多層プリント回
路基板の面方向の線膨張係数は前記回路パターンを形成
する電気導体の厚みおよび電気導体で形成した回路パタ
ーンが前記複合絶縁材料表面を覆う比率、すなわち被覆
率に依存する。
【0004】多層プリント回路基板に形成する回路パタ
ーンは、通常多層プリント回路基板の板厚の中心面に対
して表裏対称ではない。このように多層プリント回路基
板を形成する各電気導体層の厚みや被覆率が表裏で非対
称の場合、各電気導体層の面内方向の線膨張係数も非対
称になる。
【0005】したがって、多層プリント回路基板は製造
時に熱的影響を受けると、基板に反り変形が生じる。多
層プリント回路基板に反り変形が生じると、多層プリン
ト回路基板表面に電子部品を半田付けする際に、電子部
品に形成した接点と多層プリント回路基板に形成した接
点の位置関係にずれが生じて電子部品の接続に不具合を
生じる。
【0006】一般に、多層プリント回路基板は、前記複
合絶縁材料の表面に回路パターンを形成したプリント回
路基板を複数枚プリプレグ材を用いて170℃程度で加
熱接着して形成する。ここで、形成した多層プリント回
路基板の各導体層の厚みや被覆率が板厚の中心面対して
表裏で非対称の場合、170℃程度で加熱接着した後に
室温(20℃)まで冷却すると前記線膨張係数の差によ
り多層プリント回路基板に反り変形が生じる。また、多
層プリント回路基板に電子部品を半田付けする際には多
層プリント回路基板を200℃以上に加熱する。この場
合にも前記線膨張係数の差により多層プリント回路基板
に反り変形が生じる。
【0007】本発明の目的は、導体層の厚みや被覆率が
表裏で非対称の場合においても、温度変化による反り変
形の少ない多層プリント回路基板および電子回路を提供
する。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、クロスおよび
該クロスに含浸した樹脂からなる複合絶縁材料層と、該
複合絶縁材料層表面を被覆して形成した導電体層からな
る積層体を複数層積層して形成した多層プリント回路基
板において、前記導電体層による被覆率が高い複合絶縁
材料層の線膨張係数を、導電体層による被覆率が低い複
合絶縁材料層の線膨張係数よりも小さく設定したことを
特徴とする。
【0009】本発明の多層プリント回路基板は、前記導
電体層の被覆率が高い複合絶縁材料層における前記クロ
スの線膨張係数が、前記導電体層の被覆率が低い複合絶
縁材料層の前記クロスの線膨張係数より大きいこと、前
記導電体層は電源層および信号層を有し、前記電源層に
接する少なくとも一方の前記複合絶縁材料層の線膨張係
数を、前記信号層に接する前記複合絶縁材料層の線膨張
係数よりも小さく設定したこと、前記導電体層は被覆率
が60〜80%好ましくは65〜75%の電源層および
被覆率が10〜20%の信号層を有し、前記電源層に接
する少なくとも一方の前記複合絶縁材料層の線膨張係数
が8.5〜9.5×10-6/℃、前記信号層に接する前
記複合絶縁材料層の線膨張係数が10〜12×10-6
℃、好ましくは10.5〜11.5×10-6/℃である
こと、および前記導電体層は電源層および信号層を有
し、前記電源層に接する少なくとも一方の前記複合絶縁
材料層の前記クロスが石英ガラスであり、前記信号層に
接する前記複合絶縁材料層の前記クロスが前記石英ガラ
スより線膨張係数が大きいガラスからなることを特徴と
するものである。
【0010】本発明にかかる回路層として、4〜50層
形成できる。
【0011】また、本発明は、上述の多層プリント回路
基板の表面に形成した回路接続用のパッドに電子部品を
搭載したことを特徴とする電子装置にある。
【0012】特に、本発明は、複合絶縁材料層中のクロ
スの含有量を各層毎に同等のものとし、使用するクロス
材として線膨張係数の異なる材料を用いることにより生
産性の高い回路基板を得ることができる。したがって、
被覆率の多い方の複合絶縁材料層に石英ガラスを用い、
それより被覆率が少ない方に石英ガラスより線膨張係数
の大きいガラスを用いるのが好ましい。
【0013】本発明における多層プリント回路基板の製
造方法の一例は次の通りである。
【0014】含浸用エポキシワニスをシート状基材に含
浸塗工し、室温〜170℃で乾燥し、粘着性の内プリプ
レグを得る。このときの乾燥温度の設定は用いた溶媒お
よび開始材等によって決まる。得られたプリプレグおよ
び銅箔等を素材にして作成された硬化積層板に回路パタ
ーンを形成後、これらを必要枚数重ね、プリプレグシー
トを間にはさんで、100〜250℃で1〜100kg
f/cm2の条件で接着成形を行い多層プリント回路板
を得る。
【0015】シート状基材の繊維クロスとして、無機繊
維としては、SiO2、Al23等を成分とするEガラ
ス、Cガラス、Aガラス、Sガラス、Dガラス、YM−
31−Aガラス、および石英ガラス等の各種ガラス繊維
が使用できる。また有機繊維としては、芳香族ポリアミ
ドイミド骨格を有する高分子化合物を成分とするアラミ
ド繊維が使用できる。繊維クロスは絶縁層に対して20
〜40体積%および直径10ないし20μmが好まし
い。
【0016】前記絶縁層一層当たりの繊維クロス層は複
数であり、該絶縁層は前記回路導体層を介して薄い層と
それより厚い層とが交互に積層されており、信号層およ
び整合層のライン幅は100μm以下とするのが好まし
い。
【0017】前記絶縁層の厚さは250μm以下で、一
層当たりの繊維クロス層が2〜5層が好ましく、特に薄
い層の一層当たりの繊維クロス層が2層で厚さが100
μm以下であり、前記厚い層の一層当たりの繊維クロス
層が3層で厚さが150μm以下であるものが好まし
い。
【0018】本発明は、複数個の半導体素子を搭載した
セラミック多層回路板に設けられたピンを多層プリント
基板に設けられたスルーホールに挿入固着し、前記多層
プリント回路板の端子をバックボードに設けられた多芯
コネクタに電気的に接続してなるコンピュータ接続構造
において、前記多層プリント基板およびバックボードの
少なくとも一方が繊維クロスに樹脂を含浸した絶縁層と
回路導体層とを交互に積層した前述のものからなり、前
記絶縁層が1MHzにおける比誘電率が3.0〜3.5
であり、難燃性がUL94でV−0、厚さ方向の熱膨張
率が5.0×10-5〜8.0×10-5/℃であり、前記
回路信号層のライン幅が100μm以下であることが好
ましい。
【0019】本発明にかかる多層プリント回路基板は他
に携帯電話、パーソナルコンピュータ、自動車のECU
の電子装置のプリント基板として用いることができる。
【0020】
【発明の実施の形態】図1は絶縁材料層の表裏両面に導
電層を形成したプリント回路基板における導電層の被覆
率を変更したとき、変更前の被覆率の場合と同一の線膨
張係数を得るために必要とされる前記絶縁材料層の線膨
張係数の変更割合を示す図であり、図1において曲線A
は複合絶縁材料として樹脂を含浸したガラスクロスを用
いた場合を示し、曲線Bは樹脂のみを用いた場合を示
す。
【0021】表1は前記絶縁材料層として樹脂と、樹脂
を含浸したガラスクロスからなる複合絶縁材料(複合
材)を用いた場合における縦弾性係数、線膨張係数およ
び層厚を示す表である。また、表1において、E1,E
2はそれぞれ導電層および絶縁材料層の縦弾性係数、α
1,α2はそれぞれ導電層および絶縁材料層の線膨張係
数、t1,t2はそれぞれ導電層および絶縁材料層の厚
みを示す。
【0022】
【表】
【0023】図1および表1に示すように、銅箔の被覆
率の変更に対してプリント回路基板の線膨張係数を一定
に保つには、絶縁材料層として弾性係数の低い絶縁材料
層(図1の曲線Bに示す樹脂)を用いる場合は、弾性係
数の高い絶縁材料層(図1の曲線Aに示す樹脂を含浸し
たガラスクロス)を用いる場合に比して絶縁材料層(樹
脂材料)の線膨張係数を大きく変化させなければならな
い。
【0024】すなわち、多層プリント回路基板を構成す
る導電体層の厚みおよび被覆率が表裏で非対称である場
合において、絶縁材料層として弾性係数の低い絶縁材料
層を用いる場合は、該材料層の線膨張係数を制御して多
層プリント回路基板の反り変形を抑制することは困難で
ある。これに対して、絶縁材料層として弾性係数の高い
絶縁材料層(樹脂を含浸したガラスクロス)を用いる場
合は、該材料層の線膨張係数を制御して多層プリント回
路基板の反り変形を抑制することは比較的簡単である。
【0025】そこで、温度変化により反り変形する多層
プリント回路基板において、冷却したときに凸に反り変
形する側に配置した絶縁材料層の線膨張係数よりも小さ
い線膨張係数を有する複合絶縁材料層を凹に反り変形す
る側に積層した多層プリント回路基板を製作した。この
多層プリント回路基板は凸に反り変形する側よりも小さ
い線膨張係数を有する複合絶縁材料層を用いたことによ
り、冷却したときに生じる凹側の熱収縮量を凸側のそれ
と同等にすることができる。これにより、多層プリント
回路基板の温度変化による反り変形を小さくすることが
できる。したがって、電子部品を多層プリント回路基板
表面に半田付けする際に生じる電子部品に形成した接点
と多層プリント回路基板に形成した接点の位置にずれが
抑制され、電子部品の接続に不具合を生じさせることは
ない。
【0026】実施例1 図2ないし図11は本発明の第1の実施例を説明する図
であり、図1は多層プリント回路基板の概略断面図であ
る。図において、1は銅で形成した第1の信号回路導
体、2は銅で形成した電源回路導体、3は第1の複合絶
縁材料層であり、石英ガラス製の60重量%のクロスと
該クロスに含浸したエポキシ系樹脂からなり、その厚み
は略0.12mmである。前記複合絶縁材料層3の両面
に前記第1の信号回路導体1および電源回路導体2を形
成して、これを上部体Aとする。
【0027】4は銅で形成した第2の信号回路導体、5
は銅で形成した第3の信号回路導体である。6は第2の
複合絶縁材料層であり、E−ガラス製の60重量%のク
ロスと該クロスに含浸したエポキシ系樹脂からなり、そ
の厚みは略0.12mmである。前記複合絶縁材料層6
の両面に前記第2の信号回路導体および第3の信号回路
導体を形成して、これを下部体Bとする。
【0028】7は第3の複合絶縁材料層であり、E−ガ
ラス製の60重量%のクロスと該クロスに含浸したエポ
キシ系樹脂からなり、その厚みは略0.14mmであ
る。第3の複合絶縁材料層7により前記上部体Aと下部
体Bを接合して多層プリント回路基板を作成する。ま
た、8はスルーホール、17はスルーホール内に形成し
た銅メッキである。
【0029】第1の信号回路導体1および第2の信号回
路導体4の被覆率は略15%であり、厚みは略0.04
8mmである。また、第3の信号回路導体5の被覆率は
略14%であり、厚みは0.035mmである。これに
対して電源回路導体2の被覆率は略68%であり、厚み
は0.035mmである。すなわち、前記上部体Aが有
する導体量は下部体Bが有する導体量よりも多い。
【0030】導体材料である銅箔の線膨張係数は17×
10-6(1/℃)であり、E−ガラス繊維とエポキシ系
樹脂からなる複合絶縁材料の線膨張係数は11×10-6
(1/℃)である。このため、多層プリント回路基板を
構成する絶縁材料層の全てをE−ガラス繊維とエポキシ
系樹脂からなる複合絶縁材料で形成すると、前記上部体
の線膨張係数が下部体の線膨張係数よりも大きくなる。
したがって、前記多層プリント回路基板を冷却した場
合、前記上部体の方が下部体よりも大きく収縮して、多
層プリント回路基板は図の上側が凹になるように反り変
形する。
【0031】これに対して、本実施例では第1の複合絶
縁材料層に石英ガラス製のクロスと該クロスに含浸した
エポキシ系樹脂を用いる。石英ガラス製のクロスと該ク
ロスに含浸したエポキシ系樹脂からなる複合絶縁材料層
の線膨張係数は9×10-6(1/℃)である。このよう
に第1の複合絶縁材料層を線膨張係数の小さい絶縁材料
で構成すると、前記上部体の導体量が下部体の導体量よ
りも多いにも関わらず、多層プリント回路基板を冷却し
た場合の上部体の収縮量と下部体の収縮量ほぼ同等とな
り、その反り変形量は100mm当たりで0.1mm以
下に抑制することができる。
【0032】次に本発明の実施例の多層プリント回路基
板の製造方法を図3ないし図10を用いて説明する。こ
れらの図において、10は1m2当たりの重さが1/2
オンスの銅箔、11は1m2当たりの重さが1オンスの
銅箔、12は石英ガラスクロスを用いた銅張り積層板、
13はガイド穴、14はE−ガラスクロスを用いた銅張
り積層板、15は複合絶縁材料層、16はスルーホール
用の穴である。なお、図において図1に示される部分と
同一部分については同一符号を付してその説明を省略す
る。
【0033】図3は、E−ガラスクロスを用いた複合材
料層6の両面に銅箔10と銅箔11とを接着した銅張り
積層板12を示す図、図4は積層する際に利用する治具
を挿通するためのガイド穴13形成した銅張り積層板1
2を示す図、図5は電源回路導体を形成した銅張り積層
板を示す図、図6は、石英ガラスクロスを用いた複合絶
縁材料層3の両面に銅箔10と銅箔11とを接着した銅
張り積層板14を示す図、図7は積層する際に利用する
治具を挿通するためのガイド穴13形成した銅張り積層
板14を示す図、図8は信号回路導体5を形成した銅張
り積層板を示す図、図9は銅張り積層板12および14
を複合絶縁材料層15を介して積層した状態を示す図、
図10はスルーホール用の穴16をあけた状態を示す図
である。
【0034】まず、臭素化ビスフェノールA型エポキシ
樹脂(商品名;エピコートG045、油化シェルエポキ
シ株式会社製)100部にジシアンジアミドを4部、ベ
ンジルジメチルアミンを0.15部調合し、メチルエチ
ルケトン、メチルセロソルブ、ジメチルフォルムアミド
の1:1:1混合溶媒70部に溶解した。このエポキシ
樹脂ワニスを縦糸50本/25mm、横糸50本/25
mmを平織にした厚さ0.10mmの石英ガラスクロス
に塗工し、170℃で3分間加熱して、溶剤などの揮発
分を除去し、プリプレグを作成する。
【0035】次に、前記エポキシ樹脂ワニスを縦糸50
本/25mm、横糸50本/25mmを平織にした厚さ
0.10mmのE−ガラスクロスに塗工し、170℃で
3分間加熱して、溶剤などの揮発分を除去し、プリプレ
グを作成する。
【0036】次に、図3に示すように、1m2当たりの
重さが1/2オンスの銅箔10と1オンスの銅箔11の
間に、前記石英ガラスクロスを用いたプリプレグを挟
み、プレスを用いて温度170℃、圧力4MPaで1時
間加熱加圧して張り合わせ、銅箔10、銅箔11および
石英ガラスクロスに樹脂を含浸した複合材料層3からな
る銅張り積層板12を作成する。
【0037】次に、図4に示すように、銅張り積層板を
多層化接着する際に用いるガイド穴13を銅張り積層板
12の4隅に設ける。
【0038】次に、図5に示すように前記石英ガラスク
ロスを用いた銅張り積層板の前記銅箔11をエッチング
して電源回路導体2を作成する。この電源用の回路2の
導体の被覆率は68%である。
【0039】一方、図6に示すように1m2当たりの重
さが1/2オンスの銅箔10と1オンスの銅箔11の間
に先に形成したE−ガラスクロスを用いたプリプレグを
挟み、プレスを用いて温度170℃、圧力4MPaで1
時間加熱加圧して張り合わせ、銅箔10と銅箔11とE
−ガラスクロスを用いた複合材料層6からなる銅張り積
層板14を作成する。
【0040】次に、図7に示すように、銅張り積層板を
多層化接着する際に用いるガイド穴13を銅張り積層板
14の4隅に設ける。
【0041】次に、図8に示すように前記E−ガラスク
ロスを用いた銅張り積層板14の前記銅箔11にエッチ
ングにより信号回路導体5を作成する。この信号回路導
体の被覆率は14%である。
【0042】続いて、4隅に位置合わせ用のピンを設け
たステンレス製の治具板を用意し、図9に示すように、
前記治具板のピンに、前記銅張り積層板14のガイド穴
をはめ込む。このとき信号回路導体5を形成した面を上
にしておく。次に、E−ガラスクロスを用いたプリプレ
グ15にガイド穴を開け、信号回路導体5の上に載置す
る。
【0043】次に、前記治具板のピンに、前記銅張り積
層板13のガイド穴をはめ込む。このとき電源回路導体
2を形成した面を下にしておく。その後、プレスを用い
て温度170℃、圧力2MPaで1時間加熱加圧して、
前記上銅張り積層板14および12を複合絶縁材料層1
5を介して張り合わせる。
【0044】次に、図10に示すように、スルーホール
用の穴16をドリルで開け、前記穴16の内壁および前
記銅張り積層板12および14の両表面に化学めっきに
より0.03mm厚さの銅めっき層17形成する。次
に、銅めっきを形成した銅箔10に、エッチングにより
信号回路導体1および信号回路導体4を形成する。次
に、銅張り積層板12および14の周縁の不要部分を切
断除去して4層の回路を備えた多層プリント回路基板を
得る。
【0045】図11は本実施例にかかる多層プリント回
路基板の側面図である。この多層プリント回路基板は、
20℃の下で目視観察したところ図11に示すように平
らであった。3次元の座標測定器を用いて反り変形量を
測定した結果、100mmあたりの反り変形量が0.1
mm以下であった。
【0046】実施例2 図12は本発明の第2の実施例を説明する図である。図
において、18は実施例1により形成した多層プリント
回路基板、19はCSP(Chip Size Package)型LSI
素子、20ははんだバンプ、22は多層プリント回路基
板の表面に形成した回路接続用パッドである。前記CS
P型LSI素子19は15mmの間に1mmピッチで1
2個の接続端子を備えている。また、前記はんだバンプ
20の径は0.3mmである。
【0047】前記CSP型LSI素子19を基板上には
んだバンプ20を用いて実装するに際して、多層プリン
ト回路基板18を220℃に加熱した。このときに生じ
る反り変形量は100mm当たり0.09mm以下であ
る。なお、この反り変形量はCSP型LSI素子19の
接続端子最大幅15mm当たりに換算すると0.014
mm以下である。したがって、図12に示すように多層
プリント回路基板18上に形成した回路接続用パッド2
2とCSP型LSI素子19の各端子は安定的に接続す
ることができる。
【0048】比較例1 次に比較例の多層プリント回路基板を図13ないし15
用いて説明する。図13は1m2当たりの重さが1/2
オンスの銅箔10と1オンスの銅箔11をE−ガラスク
ロスを用いた厚さ0.12mmの複合材料層6で接着し
た銅張り積層板を示す図、図14は比較例の多層プリン
ト回路基板を示す図である。図14において、A’は複
合絶縁材料層表面に形成した銅箔10、11をエッチン
グして形成した信号回路導体1および電源回路導体2か
らなる上部体である。なお、図において図2ないし図1
1に示される部分と同一部分については同一符号を付し
てその説明を省略する。
【0049】図14において、多層プリント回路基板
は、複合材料層表面に形成した銅箔10、11をエッチ
ングして形成した信号回路導体1および電源回路導体2
からなる上部体A’、前記複合材料層表面に形成した銅
箔10、11をエッチングして形成した信号回路導体5
および信号回路導体4からなる下部体B、並びに前記上
部体A’および下部体Bを接合する複合絶縁材料7から
なる。
【0050】図15は比較例1の多層プリント回路基板
の側面図である。この多層プリント回路基板において
は、前記上部体A’が有する導体量は下部体Bが有する
導体量よりも多い。また、導体材料である銅箔の線膨張
係数はE−ガラス繊維とエポキシ系樹脂からなる複合絶
縁材料の線膨張係数より大である。このため、前記上部
体A’の線膨張係数が下部体Bの線膨張係数よりも大き
くなる。したがって、前記多層プリント回路基板を冷却
した場合、前記上部体の方が下部体よりも大きく収縮し
て、多層プリント回路基板は図の上側が凹になるように
反り変形する。この反り変形量を測定すると、100m
m当たりの反り変形量は0.51mmであった。
【0051】比較例2 図16は、比較例2を説明する図である。図において、
21は比較例1により形成した多層プリント回路基板で
ある。なお、図において図12に示される部分と同一部
分については同一符号を付してその説明を省略する。
【0052】前記CSP型LSI素子19を基板21上
にはんだバンプ20を用いて実装するに際して、多層プ
リント回路基板21を220℃に加熱した。多層プリン
ト回路基板の上部体A’および下部体Bを接着するとき
の温度170℃よりも高温に昇温するため、多層プリン
ト回路基板は図16に示すように上側が凸になるように
反り変形した。
【0053】このときに生じる反り変形量は100mm
当たり0.56mmであった。この反り変形量はCSP
型LSI素子19の接続端子最大幅15mm当たりに換
算すると0.084mmである。したがって、図12に
示すように多層プリント回路基板18上に形成した回路
接続用パッド22とCSP型LSI素子19の各端子は
中央部では接続できるが、周縁部では接続できなかかっ
た。
【0054】実施例3 図17は実施例1および2と同様に作成した多層プリン
ト基板回路を使用した携帯電話器実装構造の一例を示す
斜視図である。(a)は本体の斜視図、(b)はその内
部斜視図である。ボタンキー24などが付けられた筐体
23の内部に多層プリント回路基板26が組み込まれて
いる。この多層プリント回路基板の表面にCSP(Chip
Size Package)型LSI素子25を、はんだバンプ
を用いて実装した。2は液晶表示画面、28はアンテナ
である。この実装した基板を−40℃〜+125℃の熱
ストレス試験を行った結果、良好な接続信頼性を得るこ
とができた。
【0055】実施例4 臭素化ポリ(P−ヒドロキシスチレン)250gをクロ
ロホルム500gに溶解させ、水酸化ナトリウム120
g水溶液500gを撹拌しながら添加し、25℃で1時
間反応させ、ナトリウム塩を得る。次にメタクリル酸ク
ロライド120gのクロロホルム溶液200gを徐々に
加え25℃で2時間反応を行った後、クロロホルム溶液
と水溶液を分離して、クロロホルム溶液を濃縮し反応物
を得る。さらに、この反応物をアセトンで溶かし、その
溶液をメタノール中に滴下し、精製を行った。
【0056】前述のようにして得た臭素化ポリ(P−ヒ
ドロキシスチレン)メタクリル酸エステルをメチルエチ
ルケトンに溶解させ固形分量40〜50重量%のワニス
を得る。さらに、ラジカル重合開始剤としてジグミルパ
ーオキサイドを該樹脂100重量部に対して3重量部添
加した後、このワニスをE−ガラスクロス(厚さ50μ
m)および石英ガラスクロス(厚さ50μm)に各々含
浸塗工し、60〜80℃、10〜20分間乾燥してタッ
クフリーのプリプレグを得た。次にプリプレグを2枚重
ね、プリプレグ側を表面粗化した銅箔(35μm厚)を
両面に積層して、圧力30kgf/cm2、温度130
℃で30分間加熱し、さらに170℃で1時間プレスを
行い銅張り積層板を得た。この積層板の厚さは約100
μmである。得られた銅張り積層板をフォトエッチング
法によってEガラスクロスには被覆率15%の信号層お
よび石英ガラスクロスには被覆率70%の電源層の内層
回路パターンを形成させ、下記方法によって回路パター
ンの銅表面を処理し、両面配線単位回路シートを形成し
た。なお、電源層は絶縁層の表裏に形成した。
【0057】
【外1】
【0058】上記の処理を終了後、前記のプリプレグ樹
脂シートを用いて信号回路導体層として30層、電源層
として2層形成し、170℃、圧力20kgf/c
2、80分の条件で接着を行い、多層プリント回路板
を作成した。多層化接着のためプリプレグ樹脂シートは
3枚重ねで行った。その厚さは約150μmである。
【0059】多層化接着はシートの四方に設けた穴ガイ
ドピンを挿入する方法で位置ずれを防止して行った。多
層化接着後穴径0.3mmまたは0.6mmの穴をマイ
クロドリルによってあけ、前面に化学銅めっきを行って
スルーホール導体を形成させた。次に、最外層回路をエ
ッチングにより形成させて多層プリント回路板を形成し
た。
【0060】本実施例では厚さが約4mm×570mm
×420mmの大きさで、ライン幅70μmおよび10
0μmの2種、(チャンネル/グリッド)が2〜3本/
1.3mm、層間ずれが約100μm以下のものを得る
ことができた。ガラスクロスは絶縁層の約30体積%で
あった。
【0061】本実施例の多層プリント回路基板は大型計
算機用のプリント板として有効である。
【0062】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、複
合絶縁材料層の線膨張係数を調整したので、電気導体層
の厚みや被覆率が表裏で非対称の多層プリント回路基板
の温度変化による反り変形抑制することができる。
【0063】また、温度変化による反り変形抑制が抑制
された多層プリント回路基板を用いることにより、基板
上に電子部品を安定に搭載することができ、信頼性の高
い電子装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】導電層の被覆率を変更したとき、同一の線膨張
係数を得るために必要な絶縁材料の線膨張係数の変更割
合を示す図である。
【図2】第1の実施例にかかる多層プリント回路基板の
概略断面図である。
【図3】E−ガラスクロスを用いた銅張り積層板を示す
図である。
【図4】ガイド穴13形成した銅張り積層板を示す図で
ある。
【図5】電源回路導体を形成した銅張り積層板を示す図
である。
【図6】石英ガラスクロスを用いた銅張り積層板を示す
図である。
【図7】ガイド穴13形成した銅張り積層板を示す図で
ある。
【図8】信号回路導体を形成した銅張り積層板を示す図
である。
【図9】複合材料層を介して積層した銅張り積層板を示
す図である。
【図10】スルーホール用の穴をあけた積層板を示す図
である。
【図11】多層プリント回路基板の側面図である。
【図12】第2の実施例を説明する図である。
【図13】比較例1の銅張り積層板を示す図である。
【図14】比較例1の多層プリント回路基板の概略断面
図である
【図15】比較例1の多層プリント回路基板の側面図で
ある。
【図16】比較例2を説明する図である。
【図17】携帯電話器の実装構造の斜視図である。
【符号の説明】
1 第1の信号回路導体 2 電源回路導体 3 第1の複合絶縁材料層 4 第2の信号回路導体 5 第3の信号回路導体 6 第2の複合絶縁材料層 7 第3の複合絶縁材料層 8 スルーホール 10 銅箔 11 銅箔 12 銅張り積層板 13 ガイド穴 14 銅張り積層板 15 複合絶縁材料層 16 スルーホール用の穴 18,26 多層プリント回路基板 19 LSI 20 はんだバンプ 22 パッド 23 筐体 24 ボタンキー 25 CSP型LSI素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 1/03 630 H01L 23/14 R

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クロスおよび該クロスに含浸した樹脂か
    らなる複合絶縁材料層と、該複合絶縁材料層表面に形成
    した導電体層からなる積層体を複数層積層して形成した
    多層プリント回路基板において、 前記導電体層による被覆率が高い複合絶縁材料層の線膨
    張係数を、導電体層による被覆率が低い複合絶縁材料層
    の線膨張係数よりも小さく設定したことを特徴とする多
    層プリント回路基板。
  2. 【請求項2】 クロスおよび該クロスに含浸した樹脂か
    らなる複合絶縁材料層と、該複合絶縁材料層表面に形成
    した導電体層からなる積層体を複数層積層して形成した
    多層プリント回路基板において、 前記導電体層の被覆率が高い複合絶縁材料層における前
    記クロスの線膨張係数が、前記導電体層の被覆率が低い
    複合絶縁材料層の前記クロスの線膨張係数よりも大きい
    ことを特徴とする多層プリント回路基板。
  3. 【請求項3】 クロスおよび該クロスに含浸した樹脂か
    らなる複合絶縁材料層と、該複合絶縁材料層表面に形成
    した導電体層からなる積層体を複数層積層して形成した
    多層プリント回路基板において、 前記導電体層は電源層および信号層を有し、前記電源層
    に接する少なくとも一方の前記複合絶縁材料層の線膨張
    係数を、前記信号層に接する前記複合絶縁材料層の線膨
    張係数よりも小さく設定したことを特徴とする多層プリ
    ント回路基板。
  4. 【請求項4】 クロスおよび該クロスに含浸した樹脂か
    らなる複合絶縁材料層と、該複合絶縁材料層表面に形成
    した導電体層からなる積層体を複数層積層して形成した
    多層プリント回路基板において、 前記導電体層は被覆率が60〜80%の電源層および被
    覆率が10〜20%の信号層を有し、 前記電源層に接する少なくとも一方の前記複合絶縁材料
    層の線膨張係数が8.5〜9.5×10-6/℃、前記信
    号層に接する前記複合絶縁材料層の線膨張係数が10〜
    12×10-6/℃であることを特徴とする多層プリント
    回路基板。
  5. 【請求項5】 クロスおよび該クロスに含浸した樹脂か
    らなる複合絶縁材料層と、該複合絶縁材料層表面に形成
    した導電体層からなる積層体を複数層積層して形成した
    多層プリント回路基板において、 前記導電体層60〜80%の被覆率に用いる前記複合絶
    縁材料層の線膨張係数が8.5〜9.5×10-6/℃、
    導電体層10〜20%の被覆率に用いる前記複合絶縁材
    料層の線膨張係数が10〜12×10-6/℃であること
    を特徴とする多層プリント回路基板。
  6. 【請求項6】 クロスおよび該クロスに含浸した樹脂か
    らなる複合絶縁材料層と、該複合絶縁材料層表面に形成
    した導電体層からなる積層体を複数層積層して形成した
    多層プリント回路基板において、 前記導電体層は電源層および信号層を有し、 前記電源層に接する少なくとも一方の前記複合絶縁材料
    層の前記クロスが石英ガラスであり、前記信号層に接す
    る前記複合絶縁材料層の前記クロスが前記石英ガラスよ
    り線膨張係数が大きいガラスからなることを特徴とする
    多層プリント回路基板。
  7. 【請求項7】 クロスおよび該とクロスに含浸した樹脂
    からなる複合絶縁材料層と、該複合絶縁材料層表面を被
    覆して形成した導電体層からなる積層体を複数層積層し
    て形成した多層プリント回路基板と、該多層回路基板の
    表面に形成した回路接続用のパッド上に搭載した電子部
    品とを備えた電子装置において、 前記多層プリント回路基板が請求項1〜6のいずれか記
    載の多層プリント回路基板よりなることを特徴とする電
    子装置。
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