JP2000338533A

JP2000338533A - 手ぶれ補正装置

Info

Publication number: JP2000338533A
Application number: JP11149996A
Authority: JP
Inventors: Junichi Ito; 順一伊藤
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1999-05-28
Filing date: 1999-05-28
Publication date: 2000-12-08
Also published as: US6987529B1

Abstract

(57)【要約】【課題】手ぶれ補正装置に楔プリズムを利用した場合、
オープンループ制御で駆動しなければならず、意図した
とおりに楔プリズムが光束を傾けているか監視すること
ができず、製造時等に生じる物理的な特性のばらつきに
より、一義的に設定できなかった。【解決手段】本発明は、ＥＥＰＲＯＭ１９に記憶される
楔プリズム２０へ印加する電圧と光束の振れ角度の関係
を示したパラメータを用いて、検出されたぶれ量に応じ
た印加電圧データが読み出され、温度補正が施された電
圧が楔プリズム２０へ印加され、楔プリズム２０の屈折
率を変化させて光束をぶれ方向と反対の方向に振って手
ぶれを補正する手ぶれ補正装置である。上記パラメータ
は、楔プリズム２０へ電圧を印加して屈折率を変化させ
て、撮像素子における基準光束の照射位置からどれだけ
傾いたかによる印加電圧と光束の傾きの関係を求め、デ
ータテーブルとしてＥＥＰＲＯＭ１９に記憶される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、カメラ等の光学機
器に搭載する手ぶれ補正装置に係り、特に手ぶれによる
画像の劣化を電気的に屈折率が変化する楔プリズムを用
いて補正する手ぶれ補正装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、カメラを手持ちで撮影する場
合、撮影時に生じる手ぶれによる画像の劣化が問題とな
り、これを解消するために種々の技術が開発されてい
る。この手ぶれ補正の技術は、カメラだけでなく双眼鏡
等の光学機器にも広く応用されている。

【０００３】一般的に、銀塩フィルムのカメラにおいて
は、撮影レンズ系の中に像の振動を防止するように動く
ぶれ防止用レンズとその駆動機構を配置している技術が
知られている。

【０００４】しかし、ぶれ防止用レンズの駆動機構は、
撮影レンズ系の構成を大型化させるとともに、機械的な
駆動機構でレンズを動かしているため、手ぶれに追従で
きず、ぶれ防止動作に遅れが発生する場合があった。

【０００５】また、ＣＣＤ等の撮像素子を備えるカメラ
においては、ＣＣＤ撮像素子の受光エリア（総画素数）
を実際に画像に変換する受光エリア（有効画素数）より
も大きく取り、所定位置の画素における撮像された画像
データの移動ベクトルを検出して、電気的処理により画
像自体を補正する手ぶれ補正装置がある。しかし、この
撮像素子を利用した手ぶれ補正は、画質が劣化する、画
像処理が複雑になるという問題がある。

【０００６】これに対して、本出願人により特開平０６
−１４８７３０号公報に、手ぶれ補正装置として、光学
式の手ぶれ補正であって、機械的な駆動機構を用いずに
電気的偏光部材、即ち、印加する電圧に応じて、通過す
る光束の傾きを変化できる液晶プリズム（楔プリズム）
を用いた技術を提案している。

【０００７】このぶれ補正技術は、光学的異方性媒体で
ある液晶を楔型に合わされた２枚のガラス基板内に封入
した楔プリズムを用いたものであり、加速度センサによ
り検出された検出信号に従った電圧を楔プリズムに印加
して、屈折率を変化させて光束をぶれ方向と反対の方向
に振って、手ぶれが補正されるように像を動かす技術で
ある。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】前述した特開平０６−
１４８７３０号公報に記載された技術における楔プリズ
ムを利用する場合、楔プリズムをオープンループ制御で
駆動しなければならない点が問題となる。

【０００９】つまり、従来のレンズを動かしたり、光学
系の一部を変位させる方式の防振光学系は、補正量を何
らかのセンサで検出できる。この補正量をフィードバッ
クすることにより、適正な補正量に制御することができ
る。

【００１０】しかし、楔プリズムにおいては、電圧を印
加しても外形状の変化がないため、補正量をフィードバ
ックすることができず、意図したとおりに楔プリズムが
光束を傾けているか監視することができない。さらに、
楔プリズムにおいても、製造時等に生じる物理的な特性
のばらつきが発生し、一義的に特性を設定できない。従
って、カメラの手ぶれ補正装置に楔プリズムを用いる際
には、個々の楔プリズムに対して、駆動電圧と通過する
光束の傾きとの関係を予め知っておく必要がある。

【００１１】そこで本発明は、カメラ等の光学機器に搭
載する手ぶれ補正装置に用いる楔プリズムの個々に対す
る印加電圧と光束の振れ角度の関係を示すパラメータを
得て保持し、ぶれ補正の際に検出されたぶれ量に基づく
ぶれ補正量を上記パラメータにより補正し、適正な手ぶ
れ補正を行う手ぶれ補正装置を提供することを目的とす
る。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、手ぶれの状態を検出するぶれ検出手段と、
印加する電圧に応じて、通過する光束の角度が変化する
楔プリズムと、上記楔プリズムに印加する電圧を発生す
る電圧発生手段と、上記楔プリズムに印加する電圧と上
記楔プリズムを通過する光束の傾き角度との関係を記憶
した記憶手段と、上記ぶれ検出手段の出力と上記記憶手
段の出力とに基づいて、上記電圧発生手段を制御する制
御手段とを備える手ぶれ補正装置を提供する。

【００１３】また、被写体像を画像データに変換するた
めの撮像素子と、カメラの手ぶれの状態を検出するぶれ
検出手段と、印加する電圧に応じて、通過する光束の角
度が変化する楔プリズムと、上記楔プリズムに印加する
電圧を発生する電圧発生手段と、上記楔プリズムに印加
する電圧と上記楔プリズムを通過する光束の傾き角度と
の関係を示すパラメータを記憶する記憶手段と、上記楔
プリズムに基準光束を投光した状態で、上記楔プリズム
ヘ電圧を印加し、このときの撮像素子から出力された画
像データに基づき、上記パラメータを決定する決定手段
とを備えるカメラを提供する。

【００１４】以上のような構成の手ぶれ補正装置は、楔
プリズムへ印加する電圧と光束の振れ角度の関係を示し
たパラメータが記憶手段に記憶される。ぶれ検出手段に
より光学系のぶれ量が検出されると、そのぶれ量に応じ
た印加電圧データが記憶手段から読み出し、カメラの温
度に応じた補正が施された電圧データに基づいた電圧が
楔プリズムへ印加され、楔プリズムの屈折率を変化させ
て光束をぶれ方向と反対の方向に振って手ぶれを補正す
る。

【００１５】上記楔プリズムへ印加する電圧と光束の振
れ角度の関係を示したパラメータは、基準の光を楔プリ
ズムが配置された光学系へ入射し、この時、楔プリズム
へ電圧を印加して屈折率を変化させて、光学系の焦点面
に配置された撮像素子の所定位置から基準の光束が移動
した量を測定し、その印加電圧と光束の傾きの関係を求
める。このパラメータはデータテーブルとして作成し、
記憶手段に記憶される。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について詳細に説明する。

【００１７】図１は、本発明による第１の実施形態とし
て、手ぶれ補正装置を搭載する電子スチルカメラの概略
的な構成例を示し説明する。

【００１８】このカメラは、大別すると、撮影光学系１
と、撮像画像処理部２と、手ぶれ補正部３と、これらの
構成部及びカメラ全体を制御するシステムコントローラ
（ＣＰＵ）４とで構成され、この他、パワースイッチ５
と、レリーズスイッチ６と、カメラの動作中の温度を測
定する温度測定回路７と、被写体の輝度を測定するため
の測光回路８と、後述するテスト端子９等を備えてい
る。この測光回路８による輝度情報に基づいて、後述す
る絞り１４の絞り値や撮像素子のシャッタ秒時（積分時
間）が決定される。

【００１９】上記温度測定回路７は、周囲の温度に応じ
て楔プリズムの屈曲率の特性が変わるため、その温度に
応じたぶれ補正を行う必要があり、楔プリズムの駆動電
圧を補正するための温度測定を行う。

【００２０】上記撮影光学系１は、被写体像を結像する
ための撮影レンズ１１と、モータ等のアクチェータを配
して撮影レンズ１１を光軸上で任意の位置へ移動させる
レンズ駆動機構１２と、ＣＰＵ４の制御によりレンズ駆
動機構１２を駆動するレンズ駆動回路１３と、光量を制
御する絞り１４と、ステップモータ等のアクチェータを
配して、絞り１４を駆動する絞り駆動機構１５と、ＣＰ
Ｕ４の制御により絞り駆動機構１５を駆動して、任意の
絞り値に設定する絞り駆動回路１６とで構成される。

【００２１】上記手ぶれ補正部３は、ぶれ検出部１７、
ぶれ補正部１８及び不揮発性記憶メモリ（ＥＥＰＲＯ
Ｍ）１９で構成される。このＥＥＰＲＯＭ１９は、後述
するぶれ補正用の楔プリズム２０を駆動する時に必要な
駆動パラメータが記憶されている。

【００２２】上記ぶれ補正部１８は、楔プリズム２０と
これらを駆動する駆動回路２１からなる。この楔プリズ
ム２０は、電圧を印加することで屈折率が変化する液晶
を楔形に配置したガラス基板内に封入したものであり、
詳しくは、従来技術の項で説明した本出願人により提案
された特開平６−１４８７３０号公報に記載されてお
り、ここでの詳細な説明は省略する。楔プリズム２０
は、絞り１４の近傍に配置された撮影レンズの光軸と垂
直方向に直交するＸ軸方向のカメラのぶれを補正するた
めのＸ軸楔プリズム２０ａと、光軸及びＸ軸と直交した
水平方向となるＹ軸方向のカメラのぶれを補正するため
のＹ軸楔プリズム２０ｂから構成され、Ｘ軸楔プリズム
２０ａは、ＣＰＵ４に制御されるＸ軸プリズム駆動回路
２１ａからの駆動信号によって、プリズムを通過する光
束をＸ軸方向へ振ることができ、Ｙ軸楔プリズム２０ｂ
も同様に、Ｙ軸プリズム駆動回路２１ｂによってプリズ
ムを通過する光束をＹ軸方向へ振ることができる。

【００２３】上記ぶれ検出部１７は、ぶれ検出用ジャイ
ロ２２と、ジャイロが検出した角速度信号を積分する積
分回路２３とを備える。このぶれ検出用ジャイロ２２
は、上記Ｘ軸方向のぶれ角度を検出するＸ軸ぶれ検出用
ジャイロ２２ａと、上記Ｙ軸方向のぶれ角度を検出する
Ｙ軸ぶれ検出用ジャイロ２２ｂであり、積分回路２３
は、Ｘ軸方向の角速度信号を積分するＸ軸積分回路２３
ａと、Ｙ軸方向のぶれ角度を検出するＹ軸積分回路２３
ｂである。

【００２４】カメラに利用できるぶれ検出用ジャイロと
しては、振動ジャイロが代表的なものであり、一般に普
及しているものである。

【００２５】さらに、上記ぶれ検出部１７は、ＣＰＵ４
の制御により必要に応じて、積分回路２３からの２つの
角速度信号のいずれかを選択するアナログマルチプレク
サ２４と、選択された角速度信号をデジタル化して、Ｃ
ＰＵ４に入力するＡ／Ｄコンバータ２５と、２つの積分
回路２３を初期化するリセット回路２６とを備えてい
る。

【００２６】上記撮像画像処理部２について説明する。
この撮像画像処理部２は、ＣＣＤ等からなる撮像素子２
７と、撮像された被写体像（アナログ信号）をデジタル
信号の画像データに変換するＡ／Ｄコンバータ２８と、
撮像素子２７を駆動するためのパルス信号を発生するタ
イミングパルス発生回路２９と、撮像された画像を表示
する液晶モニタ３０と、液晶モニタ３０を駆動する画像
表示回路３１と、画像データの一時的記憶や画像データ
を加工演算する時に利用するＤＲＡＭ３２と、外部制御
装置３３との通信を行うための通信インターフェイス回
路３４と、画像データを記録する画像データ記録メディ
ア３５と、ＤＳＰによって構成され、ＣＰＵ１の指令に
基づいて、撮像素子２７等の各構成部位の制御や撮像し
た画像データの加工等を処理する画像データコントロー
ラ３６とで構成される。

【００２７】上記ＤＲＡＭ３２へ取り込まれた画像デー
タは、ＤＳＰ３６の制御により所定のフォーマットへ変
換された後、画像データ記録メディア３５へ格納され
る。用いられる記録メディアとしては、ハードディス
ク、フラッシュメモリ、フロッピーディスク等がある。

【００２８】また上記パワーＳＷ５は、本カメラシステ
ムの動作と非動作を決定する操作ＳＷであり、オン状態
であれば各構成部位の動作が可能となる。上記レリーズ
ＳＷ６がオフ状態の時は、測距・測光等の撮影準備が行
われ、レリーズＳＷ６がオンされると撮像や手ぶれ補正
が行われる。また、テスト端子３７は、後述する楔プリ
ズム２０の特性測定動作を実行する際に使用される。こ
のテスト端子３７がショートされると、測定動作が実行
可能となる。カメラの製造時に手ぶれ補正のための調整
を行う際に、楔プリズム２０の測定動作中にＸ軸タイミ
ング信号出力端子３８とＹ軸タイミング信号出力端子３
９から測定動作に必要な信号が出力される。

【００２９】上記通信インターフェイス回路３４は、パ
ーソナルコンピュータ（ＰＣ）に代表される外部制御装
置３３との通信に用いられ、、例えば、画像データをカ
メラから外部制御装置３３へ転送して、画像データの加
工する時などに必要となる回路である。

【００３０】図２は、図１に示した楔プリズム２０と、
これを駆動する駆動回路２１の構成を示す。ここでは、
Ｘ軸楔プリズム２０ａと、このプリズムを駆動するＸ軸
楔プリズム駆動回路２１ａを例として説明するが、Ｙ軸
楔プリズム２０ｂとＹ軸楔プリズム駆動回路２１ｂも同
等である。

【００３１】このＸ軸楔プリズム駆動回路２１ａは、Ｘ
軸楔プリズム２０ａの電極に接続して、変流電圧を印加
するトランジスタＱ１〜Ｑ４から構成されるブリッジ回
路４１と、カメラの電源側からブリッジ回路４１に電圧
を供給するＤＣ／ＤＣコンバータ４２と、ＤＣ／ＤＣコ
ンバータ４２出力をブリッジ回路４１へ印加される電圧
値に設定する降圧回路４３と、降圧回路４３の出力電圧
値の基準となる電圧を任意に設定するＤ／Ａコンバータ
４４と、ブリッジ回路４１のスイッチング切換を制御し
て交流を発生させるためのクロック出力回路４５及びイ
ンバータ４６と、で構成される。

【００３２】この構成において、カメラの電源がＤＣ／
ＤＣコンバータ４２に供給され、楔プリズム２０に印加
する最大電圧以上の電圧を降圧回路４３に出力する。こ
の降圧回路４３は、直列接続された抵抗Ｒａ，Ｒｂと、
これらの抵抗の分圧比による電圧値とＤ／Ａコンバータ
４４による電圧値（ＶＤＡＣ）との差分を出力するオペ
アンプ４７と、この差分出力に基づき必要な駆動電圧
（ＶＬＣＤ）まで降下して出力するトランジスタＱ０
と、で構成される。

【００３３】この駆動電圧ＶＬＣＤは、Ｄ／Ａコンバー
タ４４の出力電圧ＶＤＡＣに応じて、任意に設定可能で
ある。これらの電圧ＶＬＣＤとＶＤＡＣの間には、以下
の関係式（１）が成立している。ＶＬＣＤ＝（Ｒａ＋Ｒｂ）／Ｒｂ×ＶＤＡＣ …（１）ブリッジ回路４１は、電圧（ＶＬＣＤ）をクロック出力
回路４５とインバータ４６の作用によって、トランジス
タＱ３とＱ２のペアとトランジスタＱ１とＱ４のペアが
交互にオン／オフ制御されて交流に変換され、楔プリズ
ム２０へ印加される。そして、ＣＰＵ４は、印加電圧
（Ｄ／Ａコンバータの設定値）と楔プリズム２０による
ふれ角度の関係が判れば、プリズムを通過する光束の向
きを所望の角度分変更することができる。

【００３４】Ｘ軸，Ｙ軸検出用ジャイロ２２ａ，２２ｂ
により検出されたぶれ量を積分することによりカメラの
ふれ角度が検出できる。このふれ角度を相殺する方向
へ、Ｘ軸，Ｙ軸楔プリズム２０ａ，２０ｂを通過する光
束を振ってやれば、撮影レンズの形成する被写体像自体
は、空間上では固定されているかの如くその位置に静止
していることになる。

【００３５】本実施形態は、楔プリズムを用いて、この
ようなふれ角度分を逆方向（相殺方向）に光束を振って
やることにより、手ぶれ補正を実現している。

【００３６】図３に示すフローチャートを参照して、本
実施形態のカメラのメイン動作について説明する。ま
ず、パワーＳＷ５がオンされると、カメラのシステムへ
電源が供給され、ＣＰＵ４が動作を開始し、初期設定動
作が行われる（ステップＳ１）。この初期設定では、Ｉ
／Ｐポートの初期化、メモリの初期化、ＣＰＵ４に接続
された回路の初期化などが行われる。

【００３７】次にテスト端子３７がテストモードか否か
を検出する（ステップＳ２）。具体的には、テスト端子
３７がショート状態にあるときは、テストモードと判定
され（ＹＥＳ）、後述するサブルーチン「楔プリズム特
性測定」が実行される（ステップＳ３）。しかし、テス
ト端子３７がテストモードでなければ（ＮＯ）、通常の
動作モードと判定され、温度測定回路７により測定され
た現在のカメラの温度データを入力する（ステップＳ
４）。

【００３８】次に、ＥＥＰＲＯＭ１９に記憶されている
Ｘ軸，Ｙ軸楔プリズム２０ａ，２０ｂへ印加すべき各電
圧値を指示するための電圧データを読み出し、ＣＰＵ４
に入力する（ステップＳ５）。このＥＥＰＲＯＭ１９に
は、電圧データを選択するためのデータテーブルが記憶
されている。例えば、以下の表１には、Ｘ軸楔プリズム
２０ａを制御するために必要な印加電圧を示したデータ
テーブルが設定されている。

【００３９】

【表１】

【００４０】楔プリズム２０を構成する部位の温度特性
を考慮すると、このデータテーブルは温度に応じて変化
させる必要がある。表１に示した例では、カメラが使用
される温度の範囲を仮に３つの領域に分割した。例え
ば、ステップＳ４で測定された温度が２０℃ならば、※
１に示されたデータテーブルがＥＥＰＲＯＭ１９から読
み出される。同様にＥＥＰＲＯＭ１９にもＹ軸楔プリズ
ム２０ｂ用のデータテーブルが設定されており、２０℃
に対応するデータテーブルが読み出される。

【００４１】次に、表１におけるデータテーブルから※
２に示されたセンタリング電圧をＸ軸楔プリズム２０ａ
へ印加するため、Ｘ軸プリズム駆動回路２１ａ内のＤ／
Ａコンバータ４４の出力を設定する（ステップＳ６）。
同様に、Ｙ軸楔プリズム２０ｂに対してもセンタリング
電圧による設定が行なわれる。通常、撮影光学系の一部
のレンズ群をシフト若しくはチルトすることで手ぶれ補
正を行なうシステムにおいては、ぶれ補正動作に先だっ
てこのレンズ群を中立位置（シフト若しくはチルトする
範囲の中心）へ移動する。この動作は、センタリング動
作と称されている。

【００４２】本実施形態のように楔プリズム２０を用い
て手ぶれ補正を行なう場合も、ステップＳ６の様なセン
タリング動作に相当する動作が必要となる。このセンタ
リング電圧が印加されたことにより、楔プリズム２０を
通る光は、振れることなく通過する。センタリング電圧
より低い電圧を印加すると、正側（＋側）へ光束は振ら
れる。またセンタリング電圧より高い電圧を印加する
と、負側（−側）へ光束は振れる。上記ステップＳ４〜
Ｓ６の温度測定、楔プリズムの電圧データ読み出し及び
センタリング電圧の印加は、周期的に実行される。従っ
て、カメラの温度が変化しても変化に応じたデータテー
ブルが、適宜ＥＥＰＲＯＭ１９から読み出されて、適切
な電圧が楔プリズム２０に印加されることになる。

【００４３】次に、測光回路８から被写体の輝度データ
が入力され、露出即ち、シャッタ秒時（撮像素子の積分
時間）と絞り１４の絞り値が演算される（ステップＳ
７）。ＣＰＵ４は、シャッタ秒時及び絞り値が設定され
た後、ＤＳＰ３６に対して、撮像素子２７の積分動作を
開始するよう指示する（ステップＳ８）。

【００４４】そして、タイマカウンタに所定時間が設定
された後、動作を開始され（ステップＳ９）、タイマカ
ウンタの値より所定時間が経過するまで待機する（ステ
ップＳ１０）。そして所定時間が経過すると（ＹＥ
Ｓ）、ＣＰＵ４は、ＤＳＰ３６に対して、画像データの
取り込みを指令する。この指令に基づき、ＤＳＰ３６
は、撮像素子２７の積分動作を停止して、画像データを
取り込み、ＤＲＡＭ３２へ格納する（ステップＳ１
１）。その後、ＤＳＰ３６は、画像データを表示するよ
うに指令されて、取り込んだ画像データを液晶モニタ３
０に表示させる。

【００４５】次に、レリーズＳＷ６がオフか否かを判断
し（ステップＳ１３）、オフならば、パワーＳＷ５のオ
ン・オフ状態を判断し（ステップＳ１４）、オンであれ
ば、ステップＳ４に戻り、ＣＰＵ４は動作を続ける。し
かしオフならば、システム停止処理が実行された（ステ
ップＳ１５）、ＣＰＵ４の動作を停止させる。

【００４６】一方、ステップＳ１３において、レリーズ
ＳＷ６がオンであれば、ステップＳ７で決定された絞り
値になるように絞り駆動機構１５により設定され（ステ
ップＳ１６）、さらに、Ｘ軸，Ｙ軸積分回路２３ａ，２
３ｂの初期化がそれぞれ行なわれる（ステップＳ１
７）。このＸ軸，Ｙ軸積分回路２３ａ，２３ｂの初期化
は、Ｘ軸，Ｙ軸検出用ジャイロ２２ａ，２２ｂの出力を
積分すると、カメラのふれ角度が検出できる。そのた
め、手ぶれ補正動作の開始時点においては、リセット回
路２６を用いて、Ｘ軸積分回路２３ａとＹ軸積分回路２
３ｂを初期化して基準値へ戻しておく。

【００４７】次にＣＰＵ４は、ＤＳＰ３６へ撮像素子２
７の積分動作を開始するよう指令する（ステップＳ１
８）。この指示により、ステップＳ７で設定したシャッ
タ秒時を計測するタイマカウンタのカウント動作を開始
する（ステップＳ１９）。そして、このタイマカウンタ
のカウント時間が設定されているシャッタ秒時に達した
か否か判定する（ステップＳ２０）。この判定で、シャ
ッタ秒時に達していなければ（ＮＯ）、Ｘ軸積分回路２
３ａの出力をアナログマルチプレクサ２４で選択し、Ａ
／Ｄコンバータ２５でデジタル信号化して、ＣＰＵ４に
おいて、Ｘ軸方向の手ぶれ（カメラ振れ角度）を算出す
る（ステップＳ２１）。算出されたカメラ振れ角度と、
すでにＥＥＲＯＭ１９から読み出したテーブルデータと
から、Ｘ軸楔プリズム２０ａへ印加する電圧を求める
（ステップＳ２２）。例えば、カメラ振れ角度が−０．
４（度）ならば、Ｘ軸楔プリズム２０ａで＋０．４
（度）光束を振ればよいことになる。これは、上記表１
の※１から印加すべき電圧は、３．０（Ｖ）が選択され
る。この印加電圧がＸ軸楔プリズム２０ａに印加される
ように、Ｘ軸楔プリズム駆動回路２３ａのＤ／Ａコンバ
ータ４４を設定する（ステップＳ２３）。また、カメラ
振れ角度が−０．４５（度）のようなテーブル上に存在
しない角度の時は、＋０．４度と＋０．６度における印
加電圧データに基づき、中間値を求めればよい。

【００４８】Ｙ軸方向の手ぶれにおいても同様に、カメ
ラ振れ角度からＹ軸楔プリズム２０ｂ印加すべき電圧を
求めて、Ｙ軸楔プリズム駆動回路２３ｂのＤ／Ａコンバ
ータ４４を設定する（ステップＳ２４〜Ｓ２６）。これ
らの設定の後、上記ステップＳ２０に戻る。また、これ
らのステップＳ２１〜Ｓ２６の処理が撮像素子２７の積
分動作中に高速に繰り返されるので、撮像素子２７上の
被写体像はカメラに生じた手ぶれに関係なく固定され
る。

【００４９】一方、上記ステップ２０において、所定の
シャッタ秒時を経過した場合（ＹＥＳ）、ＣＰＵ４は、
ＤＳＰ３６に対して画像データの取り込みを指令する
（ステップＳ２７）。この指令により、ＤＳＰ３６は撮
像素子２７の積分動作を停止して、撮像素子２７から画
像データを読み出し、ＤＲＡＭ３２に格納される。

【００５０】次に、ＣＰＵ４からＤＳＰ３６に画像ファ
イルの作成が指令され（ステップＳ２７）、ＤＳＰ３６
は、取り込んだ画像データを所定のフォーマットに変換
して、画像ファイルを作成し、画像データ記録メディア
３５へ格納する。

【００５１】この記憶処理が完了した後、絞り１４を開
放位置へ駆動した後（ステップＳ２９）、ステップＳ４
に戻り、同様な処理を繰り返し実行する。

【００５２】次に図３に示したステップＳ３のサブルー
チン「楔プリズム特性測定」について説明する。このサ
ブルーチンを実行するにあたって、図４に示すように、
カメラ５１はベンチ５２に取り付け、楔プリズム２０の
特性を測定するのに必要な基準光源ユニット５３と対峙
させる。

【００５３】この基準光源ユニット５３の概念的な構成
を図５に示す。カメラの撮影レンズの光軸上に、Ｘ軸測
定光源５４、スリット板５５、コリメータレンズ５６、
ビームスプリッタ５７及びカメラ５１を配置する。同様
にビームスプリッタ５７を分岐した光軸上のＸ軸方向に
直交するＹ軸方向に、Ｙ軸測定光源５８、スリット板５
９及び上記コリメータレンズ５７が配置される。

【００５４】このように構成された基準光源ユニット５
５による測定でＸ軸方向においては、Ｘ軸測定光源５４
の近傍に配置されたスリット板５５には、Ｘ軸に直交す
るスリット６１が形成されており、このスリット６１を
通過した光束は、コリメータレンズ５６により平行光線
となり、ビームスプリッタ５７に入射する。ビームスプ
リッタ５７を通過した光束は、カメラ５１の撮影レンズ
に入る。

【００５５】一方、Ｙ軸方向においては、Ｙ軸測定光源
５８の近傍に配置されるスリット板５９にはＹ軸に直交
したスリット６２が形成されており、スリット６２を通
過した光束は、コリメータレンズ５７により平行光線に
されてビームスプリッタ５７に入射する。入射された光
束は、ビームスプリッタ５７内のハーフミラーにより、
撮影レンズに向かうように、９０度曲げられて、カメラ
５１の撮影レンズに入射する。

【００５６】Ｘ軸測定光源５４は、Ｘ軸タイミング信号
出力端子３８の出力に基づいて点灯と非点灯の制御が行
なわれる。同様に、Ｙ軸測定用光源５８は、Ｙ軸タイミ
ング信号出力端子３９の出力により点灯と非点灯の制御
が行われる。

【００５７】また、この基準光源ユニットを使用しない
方法として、図６に示したチャート６３を使用する方法
も考えられる。カメラ５１の焦点調整可能な距離中に黒
色のチャート６３を配置する。そして、Ｘ軸タイミング
信号出力端子３８に制御信号が出力された時は、チャー
ト６３上に設けた水平方向の白いスリットマーク６４が
撮影エリアの中央になるようにチャート６３を位置決め
する。

【００５８】一方、Ｙ軸タイミング信号出力端子３９に
制御信号が出力された時は、チャート６３上の垂直方向
の白いスリットマーク６５がカメラの撮影エリア中央に
なるようにチャート６３を位置決めする。このようなチ
ャートを用いて前述した方法により測定を行なうなら
ば、上記基準光源ユニットと同等の同じ測定結果が得ら
れる。

【００５９】次に図７に示すフローチャートを参照し
て、「楔プリズム特性測定」のサブルーチンについて説
明する。

【００６０】図３のステップＳ２において、テスト端子
３７がショートされていることが検出されると「楔プリ
ズム特性測定」のサブルーチンが実行される。

【００６１】まず、Ｘ軸タイミング信号出力端子３８か
らタイミング信号を出力し、基準光源ユニット５３のＸ
軸測定光源５４を点灯した後（ステップＳ３１）、測定
回数カウンタ（Ｎｘ）の値をクリア（”０”）する（ス
テップＳ３２）。そしてカウンタの値（Ｎｘ）と測定の
電圧（ΔＶｘ）を掛け合わせて決定される電圧をＸ軸楔
プリズム２０ａへ印加するため、Ｘ軸楔プリズム駆動回
路２１ａのＤ／Ａコンバータ４４の出力を設定する（ス
テップＳ３３）。

【００６２】ＣＰＵ４は、ＤＳＰ３６に対して撮像素子
２７の積分動作を開始するよう指令する（ステップＳ３
４）。ＤＳＰ３６は、この指令に基づき撮像素子２７の
積分をスタートさせる。撮像を所定時間を継続する（ス
テップＳ３５）。この所定時間は、基準光源ユニット５
３がカメラ５１へ入力する光の明るさによって決定され
る。

【００６３】次に、ＣＰＵ４はＤＳＰ３６に対して画像
データの取り込みを指令する（ステップＳ３６）。ＤＳ
Ｐ３６は撮像素子２７の積分動作を止め、画像データを
取り込み、ＤＲＡＭ３２へ格納する。ＣＰＵ４は、ＤＲ
ＡＭ３２へ格納された画像データの中から測定動作に必
要な領域Ｘの画素データのみをＤＳＰ３２から入力する
（ステップＳ３７）。

【００６４】この領域Ｘの画素データ位置を図８に示
す。撮像素子２７上に使宜上設定したＸ軸とＹ軸が存在
し、このＸ軸にそった領域を仮に領域Ｘとした。同様
に、領域Ｙも定義される。領域Ｙの画素データは、Ｙ軸
楔プリズム２０ｂの特性を測定する時に使用される。

【００６５】図９（ａ）に示すようにＸ軸測定光源が点
灯しているとスリットによる投光パターンが撮像素子上
に結像する。図９（ｂ）は、領域Ｘの画像データをプロ
ットした様子を示している。図９（ｂ）に示す※部のＸ
軸上の重心位置（Ｇｘ）が算出され（ステップＳ３
８）、重心位置Ｇｘに所定の係数を掛けることで、Ｘ軸
楔プリズムによる光束の振れ角（θｘ）が算出される
（ステップＳ３９）。

【００６６】これらは、光束の振れ角θｘと印加電圧
（ΔＶｘ・Ｎｘ）を対応させて、ＣＰＵ４内のメモリへ
一時的に記憶される（ステップＳ４０）。そして、測定
回数カウンタ（Ｎｘ）をインクリメント（＋１）して
（ステップＳ４１）、そのカウンタ数が所定回数（Ｎｘ
ｏ）に達したか否かを判定する（ステップＳ４２）。こ
の判定で、カウンタ数が所定回数Ｎｘｏに達していなけ
れば（ＮＯ）、上記ステップＳ３３に戻り、測定動作を
継続する。しかし、カウンタ数が所定数に達したならば
（ＹＥＳ）、Ｘ軸タイミング信号の出力を停止させ（ス
テップＳ４３）、その後、Ｘ軸測定光源５４を消灯す
る。

【００６７】次に、温度測定回路７からＣＰＵ４にカメ
ラの温度データを入力する（ステップＳ４４）。

【００６８】前述したステップＳ３３〜ステップＳ２４
２の演算処理により、ＣＰＵ４内のメモリには、表２に
示すようなデータテーブルが形成される（ステップＳ４
５）。このテーブルデータは、印加電圧を変数とした時
における、電圧と光束と振れ角度の関係を示している。
しかし、ＥＥＰＲＯＭ１９には、表１に示したように、
光束の振れ角度を変数とした時における、振れ角度と印
加電圧の関係が記憶されている。

【００６９】

【表２】

【００７０】この表２のデータテーブルに基づき、表１
に示す形態のデータテーブルを算出する。例えば、温度
が２０℃を示しているならば、表１の※１に相当するデ
ータテーブルが算出されたことを意味する。この表１の
※１に相当するＥＥＰＲＯＭ１９のアドレスへ算出され
たデータを記憶する。このようなデータテーブルを正確
に算出するためには、印加電圧の変化量（ΔＶｘ）を小
さくし、測定回数（Ｎｘｏ）を大きくすればよい。変化
量ΔＶｘ、測定回数カウンタの所定回数Ｎｘｏの最適な
値は、楔プリズム２０を構成する物質の特性や、求めら
れる防振の精度によって決定されるものである。

【００７１】従って、予め求めた固定値とするよりは、
適宜、変更できる方が望ましい。変化量ΔＶｘと所定回
数Ｎｘｏは、ＥＥＰＲＯＭ１９へ格納するパラメータと
すれば、必要に応じて変更が可能となり都合がよい。表
１に示されるデータテーブルを作成するためには、温度
を変更しながら、３回測定する必要がある。楔プリズム
を構成する物質の特性が温度によって複雑な変化をする
時は、データテーブルの数を増やす必要がある。温度に
よる特性の変化が、単調増加もしくは単調減少ならば、
テーブルは代表的な温度において測定されたデータのみ
で作成してもよい。例えば、２０℃に対応するデータテ
ーブルのみを作成してＥＥＰＲＯＭへ記憶しておく。そ
して、手ぶれ補正動作をする時のカメラと温度と２０℃
との差に基づいて、データテーブルの値を補正して使用
してもよい。

【００７２】次に、Ｘ軸楔プリズム２０ａの測定が終了
すると、Ｙ軸楔プリズム２０ｂの特性測定動作を行な
う。

【００７３】以降、ステップＳ４７〜ステップＳ６２で
行われるＹ軸楔プリズム２０ｂの特性位測定は、Ｙ軸測
定光源５８を点灯して、Ｘ軸楔プリズム２０ａの測定と
同等の動作及び演算処理を行い、作成されたデータテー
ブルは、ＥＥＰＲＯＭ１９に記憶される。従って、フロ
ーチャートからＸ軸楔プリズムの測定動作と同じことは
明らかなので説明は省略する。

【００７４】尚、本実施形態ではカメラ側により演算処
理を行ったが、通信インターフェイス回路３４を通して
画像データを外部制御装置（ＰＣ）３３へ出力して、Ｐ
Ｃ３３側でデータテーブルの作成を実行させてもよい。
データテーブルを作成する動作がカメラ側のＣＰＵ４に
とって、重い負荷となり演算処理に時間がかかる場合な
どに、製造工数の短縮のために有用となる方法である。

【００７５】次に図１０には、本発明による第２の実施
形態として、手ぶれ補正装置を搭載する銀塩フィルムカ
メラの概略的な構成例を示し説明する。ここで、図１０
に示す構成部位で前述した図１に示した第１の実施形態
の構成部位と同等の構成部位には、同じ参照符号を付し
て、その説明は省略する。

【００７６】本実施形態のカメラは、光学ファインダ７
８を有し、また楔プリズム２０の後方に撮影レンズ１
１、レンズシャッタ７１及びアパーチャ７２が配置され
る。このアパーチャ７２を通してフィルム７３がカメラ
に装填される。

【００７７】レンズシャッタ７１は、第１の実施形態に
おける絞り１４に替わるものであり、レンズシャッタ７
１に設けられたセクタは、アクチェータを有するレンズ
シャッタ駆動機構７４によって駆動される。このアクチ
ェータを駆動するために必要な電力は、ＣＰＵ４により
制御されるレンズシャッタ駆動回路７５から供給され
る。従って、ＣＰＵ４がレンズシャッタ駆動回路７５を
制御することにより、任意のシャッタ秒時でフィルム７
３を露光することができる。

【００７８】また、フィルム７３の給送は、モータ等の
アクチェータを備えるフィルム駆動機構７６により行わ
れ、フィルム駆動機構７６は、ＣＰＵ４により制御され
るフィルム駆動回路７７から駆動電源が供給され、フィ
ルム７３を任意に巻き上げ／巻き戻しすることができ
る。

【００７９】そして、図１０に示す点線で囲んだ撮像ユ
ニット７９は、楔プリズム２０の特性測定時のみにフィ
ルム７３に代わってカメラに取りつけられる。

【００８０】これは本実施形態では、撮像素子を備えて
おらず、前述した第１の実施形態のように撮像素子を利
用して特性測定はできないため、フィルム７３に代わっ
て、測定時に撮像ユニット７９を装着する。この撮像ユ
ニット７９は、ＣＣＤからなる撮像素子８０と、パーソ
ナルコンピュータ等の外部制御装置３３により制御され
て撮像素子８０を駆動する撮像素子制御回路８１とで構
成される。また、特性測定時には、前述したと同等な基
準光源ユニット５３を用いる。

【００８１】この構成により、撮像ユニット７９は、外
部制御装置３３からの指令に基づいて、撮像素子８０の
制御が行なわれ、また測定動作中は通信インターフェイ
ス回路３４を通して、ＣＰＵ４は外部制御装置３３から
の指令に基づき動作する。

【００８２】図１１に示すフローチャートを参照して、
第２の実施形態によるカメラのメイン動作について説明
する。

【００８３】まず、パワーＳＷ５がオンされると、カメ
ラのシステムへ電源が供給され、ＣＰＵ４が動作を開始
し、Ｉ／Ｏポート、メモリその他の回路の初期設定動作
が行われる（ステップＳ７１）。次に、通信インターフ
ェイス回路３４の出力に基づいて、外部制御装置３３か
らの通信要求がないか否か判定する（ステップＳ７
２）。この判定で通信要求がなければ（ＮＯ）、通常の
動作モードと判定され、温度測定回路７により測定され
た現在のカメラの温度データを入力する（ステップＳ７
３）。

【００８４】そして、図３に示したステップＳ５〜Ｓ７
と同様な処理が行われ、まずＥＥＰＲＯＭ１９のデータ
テーブから電圧データを読み出し、ＣＰＵ４に入力する
（ステップＳ７４）。表１におけるデータテーブルから
センタリング電圧をＸ軸，Ｙ軸楔プリズム２０ａ，２０
ｂへ印加するため、Ｘ軸，Ｙ軸プリズム駆動回路２１
ａ，２１ｂ内のそれぞれＤ／Ａコンバータ４４の出力を
設定する（ステップＳ７５）。これらのカメラの温度デ
ータと電圧データに基づいて、センタリング動作が行わ
れる。また、これらの温度測定、楔プリズムの電圧デー
タ読み出し及びセンタリング電圧の印加は、周期的に実
行される。

【００８５】次に、測光回路８から被写体の輝度データ
が入力され、露出演算即ち、シャッタ秒時が決定する
（ステップＳ７６）。そして、レリーズＳＷ６がオフか
否かを判断し（ステップＳ７７）、オフならば、パワー
ＳＷ５のオン・オフ状態を判断し（ステップＳ７８）、
オンであれば、ステップＳ７３に戻り、ＣＰＵ４は動作
を続ける。しかしオフならば、システム停止処理が実行
された（ステップＳ７９）、ＣＰＵ４の動作を停止させ
る。

【００８６】一方、ステップＳ７７において、レリーズ
ＳＷ６がオンであれば、Ｘ軸，Ｙ軸積分回路２３ａ，２
３ｂの初期化がそれぞれ行なわれる（ステップＳ８
０）。

【００８７】次に、レンズシャッタ７１を開き（ステッ
プＳ８１）、露光を開始すると共にステップＳ７で設定
したシャッタ秒時を計測するタイマカウンタのカウント
動作を開始する（ステップＳ８２）。そして、このタイ
マカウンタのカウント時間が設定されているシャッタ秒
時に達したか否か判定する（ステップＳ８３）。

【００８８】この判定で、シャッタ秒時に達していなけ
れば（ＮＯ）、図３に示したステップＳ２１〜ステップ
Ｓ２６までと同等な手ぶれ補正処理を実行する。

【００８９】まず、Ｘ軸方向の手ぶれ（カメラ振れ角
度）を測定する（ステップＳ８６）。算出されたカメラ
振れ角度とテーブルデータとから、Ｘ軸楔プリズム２０
ａへ印加する電圧を求める（ステップＳ８７）。この印
加電圧がＸ軸楔プリズム２０ａに印加されるように、Ｘ
軸楔プリズム駆動回路２３ａのＤ／Ａコンバータ４４を
設定する（ステップＳ８８）。Ｙ軸方向の手ぶれにおい
ても同様に、カメラ振れ角度を求め、Ｙ軸楔プリズム２
０ｂ印加すべき電圧を算出して、Ｙ軸楔プリズム駆動回
路２３ｂのＤ／Ａコンバータ４４を設定する（ステップ
Ｓ８９〜Ｓ９１）。

【００９０】これらの設定の後、上記ステップＳ８３に
戻る。露光中は、これらのステップＳ８６〜Ｓ２６の手
ぶれ補正処理が高速に繰り返され、フィルム上に結像さ
れる被写体像は手ぶれに関係なく固定される。

【００９１】そして上記ステップＳ８３において、所定
のシャッタ秒時を経過した場合（ＹＥＳ）、レンズシャ
ッタ７１を閉じて（ステップＳ８４）、フィルム７３を
１駒巻き上げて（ステップＳ８５）、ステップＳ７３に
戻り、同様な処理を繰り返し実行する。

【００９２】上記ステップＳ７２において、後述する外
部制御装置３３からの通信要求があった場合（ＹＥ
Ｓ）、レンズシャッタ７１を開き（ステップＳ９２）、
サブルーチン「外部制御モード」が実行される（ステッ
プＳ９３）。そしてサブルーチンの動作が終了すると、
レンズシャッタ７１は閉じられる（ステップＳ９４）。

【００９３】この動作については、楔プリズム２０の特
性を測定する際に、基準光源ユニット５３から測定に必
要な光をカメラへ入力する必要があるため、通常は遮光
のため閉じているレンズシャッタ７１を開状態にする。
このためステップＳ９２におけるがレンズシャッタ７１
を開を設けて、外部制御による測定が終了すれば、レン
ズシャッタ７１は閉じられる。

【００９４】図１２に示すフローチャートを参照して、
図１１のステップＳ９３に示した外部制御モードについ
て説明する。

【００９５】まず、通信インターフェイス回路３４を通
して、外部制御装置３３からコマンドデータが入力する
（ステップＳ１０１）。このコマンドデータがＸ軸楔プ
リズム２０ａへの電圧印加を示しているか否かを判定す
る（ステップＳ１０２）。この判定において、電圧印加
を示している場合は（ＹＥＳ）、外部制御装置３３から
印加電圧を示す電圧データ（Ｖｘ）を入力する（ステッ
プＳ１０３）。この電圧データＶｘは、Ｘ軸楔プリズム
駆動回路２１ａのＤ／Ａコンバータ４４へ設定される。
そして、次のコマンドを入力するため、ステップＳ１０
１へ戻り、さらに入力されたコマンドに対する処理を繰
り返し行う。

【００９６】しかし、ステップＳ１０２でＸ軸楔プリズ
ム２０への電圧印加を示すコマンドデータでなければ
（ＮＯ）、コマンドデータがＹ軸楔プリズム２０ａへの
電圧印加を示しているか判定する（ステップＳ１０
５）。

【００９７】この判定で、Ｙ軸楔プリズム２０ｂへの電
圧印加を示している場合は（ＹＥＳ）、外部制御装置３
３から印加電圧を示す電圧データ（Ｖｙ）を入力する
（ステップＳ１０６）。

【００９８】この電圧データＶｙは、Ｙ軸楔プリズム駆
動回路２１ｂのＤ／Ａコンバータ４４へ設定し（ステッ
プＳ１０７）、上記ステップＳ１０１に戻る。

【００９９】しかし、上記ステップＳ１０５の判定にお
いて、コマンドデータがＹ軸楔プリズム２０ｂへの電圧
印加でなかった場合（ＮＯ）、そのコマンドデータがＥ
ＥＰＲＯＭ１９へのデータ記憶を示しているか否かを判
定する（ステップＳ１０８）。この判定で、ＥＥＰＲＯ
Ｍ１９へのデータ記憶を示している場合（ＹＥＳ）、外
部制御装置３３からテーブルデータを、通信インターフ
ェイス回路３４を通じて、ＣＰＵ４に取り込み（ステッ
プＳ１０９）、さらにＥＥＰＲＯＭ１９へ記憶し（ステ
ップＳ１１０）、次のコマンドを入力するため、ステッ
プＳ１０１へ戻り、さらに入力されたコマンドに対する
処理を繰り返し行う。

【０１００】上記ステップＳ１０８の判定において、Ｅ
ＥＰＲＯＭ１９へのデータ記憶でなかった場合（Ｎ
Ｏ）、コマンドデータが外部制御終了を示しているか否
かを判定する（ステップＳ１１１）。この判定で外部制
御終了を示している場合は（ＹＥＳ）、サブルーチンを
終了するためリターンする。しかし、外部制御終了を示
していない場合（ＮＯ）、次のコマンドデータを入力す
るため上記ステップＳ１０１に戻る。

【０１０１】次に、図１３に示すフローチャートを参照
して、プリズムの特性を測定し、カメラのＥＥＰＲＯＭ
へ楔プリズムの制御に必要なデータテーブルを作成する
際に外部制御装置上で実行されるプログラムについて説
明する。

【０１０２】まず、外部制御装置３３からカメラに対し
て通信要求を行なう（ステップＳ１２１）。この通信要
求は、図１１に示したステップＳ７２において検出され
るものである。そしてカメラのＣＰＵ４は、図１２にお
いて説明したサブルーチン「外部制御モード」を実行す
る。

【０１０３】次に、基準光源ユニット５３内のＸ軸測定
光源５４を点灯させる（ステップＳ１２２）。その点灯
の後に、測定条件を示すパラメータ（ΔＶｘ，Ｎｘ，Δ
Ｖｙ，Ｎｙ）を外部制御装置３３へ入力する（ステップ
Ｓ１２３）。入力操作は、測定動作を行なう製造ライン
のオペレータや、修理センタのオペレータによって行な
われる。

【０１０４】そして、測定回数カウンタ（Ｎｘ）をクリ
アした後（ステップＳ１２４）、ＣＰＵ４へＸ軸電圧印
加を示すコマンドを転送する（ステップＳ１２５）。カ
ウンタの値（Ｎｘ）と測定パラメータの１つである電圧
ΔＶｘをかけて、楔プリズム２０へ印加する電圧を決定
し、その電圧データをＣＰＵ４へ転送する（ステップＳ
１２６）。

【０１０５】転送されたＸ軸電圧印加を示す上記コマン
ドとＸ軸楔プリズム２０ａへ印加するための電圧データ
とに基づき、カメラのＣＰＵ４は、Ｘ軸楔プリズム２０
ａへ電圧を印加させた後、撮像ユニット７９を制御して
外部制御装置３３に画像データを取り込み（ステップＳ
１２７）、その画像データから領域Ｘのデータを取り出
す（ステップＳ１２８）。この領域Ｘは、第１の実施形
態において、図８に示された領域Ｘと等価の意味を有す
る撮像ユニット７９のＣＣＤ上の領域である。前述した
図７のステップＳ３８と同様にして、この領域Ｘの画像
データの重心位置（Ｇｘ）を算出する（ステップＳ１２
９）。求めた重心位置Ｇｘに所定の係数を掛けること
で、Ｘ軸楔プリズムによる光束の振れ角（θｘ）が算出
される（ステップＳ１３０）。これらは、光束の振れ角
θｘと印加電圧（ΔＶｘ・Ｎｘ）を関連づけて、外部制
御装置３３内のメモリへ一時的に記憶される（ステップ
Ｓ１３１）。

【０１０６】そして、測定回数カウンタ（Ｎｘ）をイン
クリメント（＋１）して（ステップＳ１３２）、そのカ
ウンタ数が上記測定条件を示すパラメータの１つである
所定回数（Ｎｘｏ）に達したか否かを判定する（ステッ
プＳ１３３）。この判定で、カウンタ数が所定回数Ｎｘ
ｏに達していなければ（ＮＯ）、上記ステップＳ１２５
に戻り、測定動作を継続する。しかし、カウンタ数が所
定数に達したならば（ＹＥＳ）、Ｘ軸タイミング信号の
出力を停止させた後、Ｘ軸測定光源５４を消灯する（ス
テップＳ１３４）。

【０１０７】次に、上記ステップＳ１２４２〜ステップ
Ｓ１３３の処理動作において算出された光束の振れ角θ
ｘと印加電圧（ΔＶｘ・Ｎｘ）の関係から以降の楔プリ
ズム制御に用いるためのテーブルデータを作成する（ス
テップＳ１３５）。作成した後、ＣＰＵ４へＥＥＰＲＯ
Ｍライトコマンドを転送する（ステップＳ１３６）。作
成した上記テーブルデータをＣＰＵ４へ転送する（ステ
ップＳ１３７）。コマンドとテーブルデータを入力した
ＣＰＵ４は、図１２のステップＳ１１０において、テー
ブルデータをＥＥＰＲＯＭ１９に記憶する。

【０１０８】以上の測定及び演算により、Ｘ軸楔プリズ
ム２０ａへ印加するための電圧データと光束の振れ角
（θｘ）との関係を示すテーブルデータを求めたが、次
にＹ軸楔プリズム２０ｂの特性を測定し、テーブルデー
タを作成する。このテーブル作成は、Ｙ軸楔プリズム２
０ｂに対して、前述したＸ軸楔プリズム２０ａと同等な
動作処理を行うため、詳細な説明は省略する。

【０１０９】このＹ軸楔プリズム２０ｂにおいては、前
述したステップＳ１２２〜ステップＳ１３７までの処理
動作と同等な処理を行い、Ｙ軸楔プリズム２０ｂのテー
ブルデータを作成して、ＥＥＰＲＯＭ１９に記憶する。

【０１１０】そして、Ｘ軸楔プリズム２０ａ及びＹ軸楔
プリズム２０ｂの各テーブルデータをＥＥＰＲＯＭ１９
に記憶した後、外部制御装置３３から外部制御終了コマ
ンドをＣＰＵ４へ転送する。このコマンドを入力したＣ
ＰＵ４は、図１２に示したサブルーチン「外部制御モー
ド」の動作を終了する。

【０１１１】次に図１４には、本発明による第３の実施
形態として、カメラ以外の光学機器、例えば、双眼鏡や
望遠鏡などの光学機器に手ぶれ補正装置を搭載した概略
的な構成例を示し説明する。ここで、本実施形態の構成
部位において、前述した第１及び第２の実施形態の構成
部位と同等の構成部位には、同じ参照符号を付して、そ
の説明を省略する。

【０１１２】この光学機器のレンズ系は、ぶれ補正用の
楔レンズ２０、対物レンズ８２、正立プリズム８３及び
接眼レンズ８４が配置されている。

【０１１３】この構成において、対物レンズ８２が結像
する被写体像は、接眼レンズ８４によって拡大され、観
察者の目（不図示）に入る。その時、正立プリズム８３
が対物レンズ８２と接眼レンズ８４の間に配置され、対
物レンズ８２が結像した被写体像を正立させるアフォー
カル系を構成している。

【０１１４】本実施形態はフォーカル系であるため、接
眼レンズ８４から射出される光束は平行となる。このた
め、前述した第２の実施形態で用いた撮像ユニット７９
を接眼レンズ８４の後方に取り付けてもＣＣＤ８０の受
光面に結像しない。

【０１１５】そこで本実施形態に用いる撮像ユニット８
５は、コリメータレンズ８６を接眼レンズ８４とＣＣＤ
８０との間に配置して、接眼レンズ８４から射出した光
束をＣＣＤ８０上へ再結像させる。

【０１１６】以降は、ＣＣＤ８０の受光面に結像された
光束を用いて、第２の実施形態と同様に、楔プリズム２
０の特性の測定動作を行う。

【０１１７】これまでの実施形態に用いていた楔プリズ
ム２０の他に、２つのガラス板の間に光屈折率を持つ液
体を閉じ込めてプリズムを形成し、２つのガラス間の角
度をアクチェータで変化させることにより、プリズムを
通過する光束の向きを変更出来る可変頂角プリズムを利
用することもできる。この時のアクチェータとしては、
ボイスコイル等を利用できる。

【０１１８】このようなプリズムの特性の測定は、前述
した実施形態の楔プリズムの特性の測定方法を応用する
ことで可能である。

【０１１９】尚、前述した実施形態による防振用光学系
の特性を測定する技術は、楔プリズムだけではなく、従
来からの撮影レンズの一部をシフト、若しくはチルトさ
せて防振動作を行なう光学機器においても、製造ライン
や製品の検査ラインなどで適用することができる。

【０１２０】以上説明したように、実施形態に用いた基
準光源ユニットは、Ｘ軸測定用光源とＹ軸測定光源の２
つの光源が必要であった。しかし、スポット光源１つで
も楔プリズムの測定は可能である。

【０１２１】例えば、図１５には、楔プリズムの特性測
定の変形例を示し、撮影レンズ９１の光軸に沿ってぶれ
補正用の楔プリズム９２を配置し、光源９３からスポッ
ト光９４を撮像素子９５へ入射させる。光源９３には、
レーザを使用してもよい。光源９３からのスポット光９
４は、撮像素子９５上に図１６に示すようなパターンを
形成する。

【０１２２】このパターンの重心座標（Ｇｘ，Ｇｙ）を
求めることで、すでに説明したように電圧と振れ角の関
係が判明する。但し、図８に示したような特定の領域の
みの画像データ（領域Ｘ，領域Ｙ）を使用しても重心座
標は求められない。

【０１２３】これは、Ｘ軸プリズムの特性を測定する
時、Ｙ軸プリズムの状態は不定である。このため投光パ
ターンが領域Ｘ上に存在するとは限らない。従って、画
像データをすべて読み出して、投光パターンの座標を求
めなければならない。この事柄は、座標を求める演算が
複雑になることを示している。

【０１２４】前述した各実施形態に用いた撮像ユニット
には、投光パターンの座標を測定するセンサとして、Ｃ
ＣＤイメージセンサを利用したが、２次元ＰＳＤ（光ス
ポットの位置を検出する素子）を利用することも可能で
ある。

【０１２５】以上の実施形態について説明したが、本明
細書には以下のような発明も含まれている。

【０１２６】（１）手ぶれの状態を検出するぶれ検出手
段と、印加する電圧に応じて、通過する光束の角度が変
化する楔プリズムと、上記楔プリズムに印加する電圧を
発生する電圧発生手段と、上記楔プリズムに印加する電
圧と上記楔プリズムを通過する光束の傾き角度との関係
を記憶した記憶手段と、上記ぶれ検出手段の出力と上記
記憶手段の出力とに基づいて、上記電圧発生手段を制御
する制御手段と、を具備することを特徴とする手ぶれ補
正装置。

【０１２７】（２）被写体像を画像データに変換するた
めの撮像素子と、カメラの手ぶれの状態を検出するぶれ
検出手段と、印加する電圧に応じて、通過する光束の角
度が変化する楔プリズムと、上記楔プリズムに印加する
電圧を発生する電圧発生手段と、上記楔プリズムに印加
する電圧と上記楔プリズムを通過する光束の傾き角度と
の関係を示すパラメータを記憶する記憶手段と、上記楔
プリズムに基準光束を投光した状態で、上記楔プリズム
ヘ電圧を印加し、このときの撮像素子から出力された画
像データに基づき、上記パラメータを決定する決定手段
と、を具備することを特徴とするカメラ。

【０１２８】（３）銀塩フィルムに露光可能なカメラに
おいて、カメラの手ぶれの状態を検出するぶれ検出手段
と、印加する電圧に応じて、通過する光束の角度が変化
する楔プリズムと、上記楔プリズムに印加する電圧を発
生する電圧発生手段と、上記楔プリズムに印加する電圧
と上記楔プリズムを通過する光束の傾き角度との関係を
示すパラメータを記憶する記憶手段と、上記楔プリズム
に基準光束を投光し、且つこの基準光束の光路上に撮像
素子を配置した状態で、上記楔プリズムヘ電圧を印加
し、このときの撮像素子から出力された画像データに基
づき上記パラメータを決定する決定手段と、を具備する
ことを特徴とするカメラ。

【０１２９】（４）銀塩フィルムに露光可能なカメラに
おいて、カメラの手ぶれの状態を検出するぶれ検出手段
と、印加する電圧に応じて、通過する光束の角度が変化
する楔プリズムと、上記楔プリズムに印加する電圧を発
生する電圧発生手段と、上記楔プリズムに印加する電圧
と上記楔プリズムを通過する光束の傾き角度との関係を
示すパラメータを記憶する記憶手段と、上記銀塩フィル
ムが配置される場所の近傍に撮像素子を配置し、上記楔
プリズムに基準光束を投光した状態で、上記楔プリズム
ヘ電圧を印加し、このときの撮像素子から出力された画
像データに基づき上記パラメータを決定する決定手段
と、を具備することを特徴とするカメラ。

【０１３０】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、
カメラ等の光学機器に搭載する手ぶれ補正装置に用いる
楔プリズムの個々に対する印加電圧と光束の振れ角度の
関係を示すパラメータを得て保持し、ぶれ補正の際に検
出されたぶれ量に基づくぶれ補正量を上記パラメータに
より補正し、適正な手ぶれ補正を行う手ぶれ補正装置を
提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による第１の実施形態に係る手ぶれ補正
装置を搭載する電子スチルカメラの概略的な構成例を示
す図である。

【図２】図１に示した楔プリズムとその駆動回路の構成
例を示す図である。

【図３】第１の実施形態におけるカメラのメイン動作に
ついて説明するためのフローチャートである。

【図４】第１の実施形態における楔プリズム特性測定を
実施するための構成例を示す図である。

【図５】図４に示した基準光源ユニットの概念的な構成
を示す図である。

【図６】第１の実施形態における楔プリズム特性測定に
チャートを使用した構成例を示す図である。

【図７】第１の実施形態における楔プリズム特性測定の
サブルーチンについて説明するたるのフローチャートで
ある。

【図８】第１の実施形態における楔プリズム特性測定に
必要な領域Ｘの画素データ位置を示す図である。

【図９】図９（ａ）は、Ｘ軸測定光源の点灯時に撮像素
子上に結像する投光パターンの一例を示し、図９（ｂ）
は、その領域Ｘの画像データをプロットした様子を示す
図である。

【図１０】本発明による第２の実施形態に係る手ぶれ補
正装置を搭載する銀塩フィルムカメラの概略的な構成例
を示す図である。

【図１１】第２の実施形態に係るカメラのメイン動作に
ついて説明するためのフローチャートである。

【図１２】図１１に示した外部制御モードについて説明
するためのフローチャートである。

【図１３】第２の実施形態における、プリズムの特性を
測定して制御に必要なデータテーブルの作成について説
明するためのフローチャートである。

【図１４】第３の実施形態係るカメラ以外の光学機器に
手ぶれ補正装置を搭載した概略的な構成例を示す図であ
る。

【図１５】１つのスポット光源による楔プリズムの特性
の測定を実施する変形例を示す図である。

【図１６】図１５に示した特性測定の変形例の場合の撮
像素子に照射されるスポット光のパターンを示す図であ
る。

【符号の説明】

１…撮影光学系２…撮像画像処理部３…手ぶれ補正部４…システムコントローラ（ＣＰＵ）７…温度測定回路８…測光回路９…テスト端子１１…撮影レンズ１４…絞り１７…ぶれ検出部１８…ぶれ補正部１９…不揮発性記憶メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）２０…ぶれ補正用楔プリズム２０ａ…Ｘ軸楔プリズム２０ｂ…Ｙ軸楔プリズム２１ａ…Ｘ軸プリズム駆動回路２１ｂ…Ｙ軸プリズム駆動回路２２ａ…Ｘ軸ぶれ検出用ジャイロ２２ｂ…Ｙ軸ぶれ検出用ジャイロ２３ａ…Ｘ軸積分回路２３ｂ…Ｙ軸積分回路２６…リセット回路２７…撮像素子（ＣＣＤ）３３…外部制御装置３４…通信インターフェイス回路３６…画像データコントローラ（ＤＳＰ）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】手ぶれの状態を検出するぶれ検出手段
と、印加する電圧に応じて、通過する光束の角度が変化する
楔プリズムと、上記楔プリズムに印加する電圧を発生する電圧発生手段
と、上記楔プリズムに印加する電圧と上記楔プリズムを通過
する光束の傾き角度との関係を記憶した記憶手段と、上記ぶれ検出手段の出力と上記記憶手段の出力とに基づ
いて、上記電圧発生手段を制御する制御手段と、を具備
することを特徴とする手ぶれ補正装置。
【請求項２】被写体像を画像データに変換するための
撮像素子と、カメラの手ぶれの状態を検出するぶれ検出手段と、印加する電圧に応じて、通過する光束の角度が変化する
楔プリズムと、上記楔プリズムに印加する電圧を発生する電圧発生手段
と、上記楔プリズムに印加する電圧と上記楔プリズムを通過
する光束の傾き角度との関係を示すパラメータを記憶す
る記憶手段と、上記楔プリズムに基準光束を投光した状態で、上記楔プ
リズムヘ電圧を印加し、このときの撮像素子から出力さ
れた画像データに基づき、上記パラメータを決定する決
定手段と、を具備することを特徴とするカメラ。
【請求項３】銀塩フィルムに露光可能なカメラにおい
て、カメラの手ぶれの状態を検出するぶれ検出手段と、印加する電圧に応じて、通過する光束の角度が変化する
楔プリズムと、上記楔プリズムに印加する電圧を発生する電圧発生手段
と、上記楔プリズムに印加する電圧と上記楔プリズムを通過
する光束の傾き角度との関係を示すパラメータを記憶す
る記憶手段と、上記楔プリズムに基準光束を投光し、且つこの基準光束
の光路上に撮像素子を配置した状態で、上記楔プリズム
ヘ電圧を印加し、このときの撮像素子から出力された画
像データに基づき上記パラメータを決定する決定手段
と、を具備することを特徴とするカメラ。
【請求項４】上記楔プリズムは、印加する電圧に応じ
て屈折率が変化するものであることを特徴とする請求項
２若しくは請求項３に記載のカメラ。