JP2000332313A - 薄膜圧電型バイモルフ素子及びその応用 - Google Patents

薄膜圧電型バイモルフ素子及びその応用

Info

Publication number
JP2000332313A
JP2000332313A JP11142058A JP14205899A JP2000332313A JP 2000332313 A JP2000332313 A JP 2000332313A JP 11142058 A JP11142058 A JP 11142058A JP 14205899 A JP14205899 A JP 14205899A JP 2000332313 A JP2000332313 A JP 2000332313A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
piezoelectric
thin
thin film
film
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11142058A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoru Fujii
覚 藤井
Isaku Jinno
伊策 神野
Ryoichi Takayama
良一 高山
Takeshi Kamata
健 鎌田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP11142058A priority Critical patent/JP2000332313A/ja
Priority to KR1020000026866A priority patent/KR100683325B1/ko
Priority to EP00110740A priority patent/EP1054459B1/en
Priority to DE60000948T priority patent/DE60000948T2/de
Publication of JP2000332313A publication Critical patent/JP2000332313A/ja
Priority to US10/116,096 priority patent/US7024738B2/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/005Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
    • B41J2/01Ink jet
    • B41J2/135Nozzles
    • B41J2/14Structure thereof only for on-demand ink jet heads
    • B41J2/14201Structure of print heads with piezoelectric elements
    • B41J2/14233Structure of print heads with piezoelectric elements of film type, deformed by bending and disposed on a diaphragm
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/09Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by piezoelectric pick-up
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/01Manufacture or treatment
    • H10N30/07Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base
    • H10N30/074Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base by depositing piezoelectric or electrostrictive layers, e.g. aerosol or screen printing
    • H10N30/076Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base by depositing piezoelectric or electrostrictive layers, e.g. aerosol or screen printing by vapour phase deposition
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/20Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators
    • H10N30/204Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators using bending displacement, e.g. unimorph, bimorph or multimorph cantilever or membrane benders
    • H10N30/2041Beam type
    • H10N30/2042Cantilevers, i.e. having one fixed end
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/20Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators
    • H10N30/204Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators using bending displacement, e.g. unimorph, bimorph or multimorph cantilever or membrane benders
    • H10N30/2047Membrane type
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/30Piezoelectric or electrostrictive devices with mechanical input and electrical output, e.g. functioning as generators or sensors
    • H10N30/302Sensors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/005Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
    • B41J2/01Ink jet
    • B41J2/135Nozzles
    • B41J2/14Structure thereof only for on-demand ink jet heads
    • B41J2/14201Structure of print heads with piezoelectric elements
    • B41J2/14233Structure of print heads with piezoelectric elements of film type, deformed by bending and disposed on a diaphragm
    • B41J2002/14258Multi layer thin film type piezoelectric element
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/42Piezoelectric device making
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49004Electrical device making including measuring or testing of device or component part
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49005Acoustic transducer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49126Assembling bases
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49128Assembling formed circuit to base
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49147Assembling terminal to base

Abstract

(57)【要約】 【課題】 振動板が不必要、特性のバラツキが小さく、
パターンに沿って微細化が可能しかも耐久性、信頼性等
の優れた薄膜圧電型バイモルフ素子とこれを使用した各
種機器並びにそれらの製造技術を提供する。 【解決手段】 1)金属薄板の両面に第1電極膜、第1
及び第2の圧電体薄膜、第2電極膜をRFスパッタ法等
により直接形成する。 2)この際、圧電材料のZr/Ti比、成膜基板温度等
を制御して、圧電体薄膜の分極方向、層方向の電圧特性
等を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薄膜圧電型バイモルフ
素子に関し、更にこれを用いた力学量検出器及びインク
ジェット式記録ヘッド並びにこれらの製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】現在、誘電体、特にそのなかでも強誘電
体は、焦電(ピロ電気)性を用いた焦電型赤外線検出
器、圧電性を用いた加速度検出端(センサ)やアクチュ
エータ等の圧電体素子、分極反転を用いた不揮発性メモ
リ、高誘電率特性を用いた容量性素子の基本的材料(キ
ーマテリアル)として研究開発が行われている。
【0003】ここに、圧電型検出器(センサ)は、圧電
体に力が加わることにより圧電体が電荷を発生する「圧
電効果」を利用して、加速度や圧力等の力学量を検出す
るものであり、電圧感度がきわめて大きいという特徴が
ある。
【0004】アクチュエータは、検出器とは逆に、圧電
体に電圧を印加した際に発生する歪みを利用して変形等
の力学量を与えるものであり、応答性が良好かつ微小の
変位量を精密に制御可能という特徴がある。
【0005】ところで、圧電素子の型(構造)は、圧電
体に加えられる力の方向で分類され、(1)電気軸に平
行(縦効果型)、(2)電気軸と直角(横効果型)、
(3)電気軸に平行な面内のずれ、の3種類がある。
【0006】これらの中で、横効果型のものは、片持ち
梁、あるいは両端固定梁の弾性板に接着して、小型、高
感度そして微小な加速度や振動を検出するセンサとして
使用可能である。
【0007】また、逆圧電効果により、高性能のアクチ
ュエータとしても使用可能である。特に2枚の圧電体薄
板を互いの分極方向が反転するように貼り合わせたバイ
モルフといわれる構造の素子は、振動板を備えていない
構成でありながら、大きな変位量が得られることが知ら
れている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このバ
イモルフ素子は、製造時の圧電体薄板の基板への接着が
不完全あるいは不揃いであると、感度バラツキが生じ
る。といって、完全なあるいは品質の揃った接着は、ど
うしても接着剤の塗布という厚さの制御や硬化時の均一
な硬化の制御という現時点では困難な技術が必要であ
り、このためなかなか困難である。
【0009】また、一方の圧電体薄板は収縮し、他方の
圧電体薄板は伸長するため、貼り付け面の如何によって
は接着界面では応力が大きくなり、ひいては耐久性等が
必ずしも充分とは言えない面があった。
【0010】また、分極処理した圧電体を貼り合わせる
ため、どうしても圧電体の厚みの最小値に限界があり、
ひいては薄膜の圧電体を用いたバイモルフ素子を作製す
ることは非常に困難であった。
【0011】従って、圧電体薄膜を用いた各種の素子で
は、非圧電体である弾性体の表裏両面に2枚の圧電体薄
膜を分極を反転させて貼り合わせたモノモルフ構造の素
子が主流であった。この結果、変位量の拡大が困難であ
った。
【0012】また、鉛系ペロブスカイト系をはじめとす
る圧電体薄膜は、高温で形成されるため、薄膜にどうし
ても基板材料との熱膨張係数の差に起因する残留応力が
発生する。このため、圧電デバイスの高感度化を図るた
め成膜基板を加工すると、この残留応力が原因で圧電体
薄膜に大きな反りが生じ、ひいてはデバイス作製が困難
になる場合があった。
【0013】また、以上の結果、バイモルフ素子の応用
として例えばインクジェットヘッド上に多数のインクジ
ェットヘッド素子を形成するため、同一の基板上に多数
の圧電体薄膜をインクジェットヘッド素子の配列に従っ
て形成する等のいわゆる微細なパターン化も困難であっ
た。
【0014】また、同じく例えばインクジェットヘッド
に応用した場合、小型高性能しかも高階調の美しい印刷
が可能なもの等の製造も困難であった。
【0015】このため、かかる欠点のない、しかも安価
な薄膜圧電型バイモルフ素子及びその応用技術の開発が
望まれていた。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、以上の要望に
鑑みなされたものであり、金属薄板の両面に分極制御が
可能な非貼り付け法により圧電薄膜を直接形成すること
により、2個の圧電体の接着工程を不必要にし、圧電素
子の感度バラツキを減少させ、薄膜の残留応力による反
りの影響を抑えた薄膜圧電型バイモルフ素子とその製造
に関する技術を提供することにある。具体的には、以下
の構成としている。
【0017】請求項1記載の発明においては、金属薄板
と、金属薄板の両面に、少くも分極制御が可能な非貼り
付け法により互いに分極方向が反転して形成された2つ
の圧電体部と、2つの圧電体部のそれぞれの反金属薄板
側面に形成された電極膜とを有していることを特徴とし
ている。
【0018】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0019】圧電体部は、成膜基板たる金属薄板の両面
に、組成や温度を制御する等して分極制御が可能なスパ
ッタリング等の非貼り付け法により互いに分極方向が反
転して形成される。
【0020】電極膜は、2つの圧電体部のそれぞれの金
属薄板側に形成される。
【0021】以上の他、圧電素子として機能発揮するべ
き必要な結線等がなされており、またこれらを有してい
るのは勿論である。
【0022】また、分極制御の他、圧電素子の結晶構造
の制御が可能な方法等で形成されてもよいのは勿論であ
る。
【0023】請求項2記載の発明においては、圧電体部
は、材料の面からは少なくとも2種以上の組成の異なる
圧電体薄膜の積層体や厚み方向に組成が連続的に変化し
た圧電体薄膜等の層方向材料変化圧電体であり、伸縮の
面からは、材料の変化に相応して成膜基板たる金属薄板
と電極膜とにより電界が加えられた場合には、中心にあ
るため、曲げに際して伸縮がほとんどない金属薄板に近
い層や部分が外側の電極膜に近い層や部分に比較して伸
び、若しくは縮みによる歪みが小さい膜厚方向伸縮調整
型圧電体部であることを特徴としている。
【0024】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0025】圧電体部は膜厚方向伸縮調整型圧電体部で
あり、このため材料の面からは少なくとも2種以上の組
成の異なる圧電体薄膜の積層体や厚み方向に組成が連続
的に変化した圧電体薄膜等の層方向材料変化圧電体であ
る。また、伸縮の面からは、材料の変化に相応して金属
薄板と電極膜とにより電界が加えられた場合には、中心
に存在する事実上伸縮しない剛体の金属薄板に近い層や
部分が、電極膜に近い層や部分に比較して伸び、若しく
は縮みによる歪みが小さいため、無理な応力が発生し難
い。
【0026】請求項3記載の発明においては、金属薄板
の両面の圧電体部はその分極方向が同じ同方向分極圧電
体部であり、金属薄板若しくはその外表面の2つの電極
膜のいずれかは、電位的に接地されている接地金属薄板
であることを特徴としている。
【0027】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0028】金属薄板の両面の圧電体部は、その分極方
向が反対の反対方向分極圧電体部であり、金属薄板は、
電位的に接地されている接地金属薄板であり、2つの電
極膜との間で同じ電位が与えられる。このため比較的低
い電圧での駆動が可能となる。
【0029】請求項4記載の発明においては、金属薄板
の両面の圧電体部は、その分極方向が同じの同方向分極
圧電体部であり、金属薄板と2組の電極膜間に逆方向の
電位を与える逆方向電位付与手段を有している。
【0030】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0031】金属薄板の両面の圧電体部は、その分極方
向が同じの同方向分極圧電体部である。そして、逆方向
電位付与手段は、金属薄板と2組の電極膜間に金属薄板
の両面で逆方向の電位を与える。
【0032】請求項5記載の発明において、圧電体部
は、その圧電体薄膜厚さが、10μm以下である10μ
m以下厚圧電体部であることを特徴としている。
【0033】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0034】圧電体部は10μm以下厚圧電体部であ
り、そのため圧電体薄膜はその形成に要する時間が短
く、この一方組成の制御等の容易な10μm以下であ
る。
【0035】なお、この場合、成膜基板たる金属薄板
は、圧電体部の分極の制御、自身の歪発生防止等の面か
ら、材質にもよるがSUS304の場合で200μm〜
50μm、好ましくは100μmから50μmが適当で
ある。ただし、用途や材質によってはこの限りではな
い。
【0036】請求項6記載の発明においては、金属薄板
は、中心部の比較的厚い薄板本体と、薄板本体中の物質
が圧電体部に拡散するのを防止するためその両面に0.
1μm〜0.2μm程度の比較的薄く形成された拡散防
止用金属膜を有していることを特徴としている。
【0037】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0038】金属薄板は、成膜基板の役を担う中心部の
比較的厚い薄板本体と、薄板本体中の圧電体に悪影響を
与えるCr等の物質が圧電体部に拡散するのを防止する
ためその両面に薄く形成されたPt等の拡散防止用金属
膜を有している。
【0039】なおこの場合、この拡散防止用金属膜は、
成膜基板全面に形成されていてもよいし、圧電体部形成
部やそれに多少余裕を見た部分にのみ形成されていても
よいのは勿論である。
【0040】請求項7記載の発明においては、共通の成
膜基板としての金属薄板とその表裏両面に直接形成され
た複数の薄膜圧電型バイモルフ素子とを有する力学量検
出端を使用してなる力学量検出器であって、複数の力学
量検出端は、金属薄膜のなす面上に相互に方向の相違す
る複数のものが形成されてなる多軸方向力学量検出端で
あることを特徴としている。
【0041】上記構成により、金属薄板とその表裏両面
に直接形成された複数の薄膜圧電型バイモルフ素子とを
有する力学量検出端を使用してなる力学量検出器におい
て、以下の作用がなされる。
【0042】複数の力学量検出端は、多軸方向力学量検
出端であり、金属薄膜のなす面上に相互に方向の相違す
る、そして原則として同時に形成されるが故に同一面で
は特性が原則として同じ複数のものが形成されてなる。
【0043】請求項8記載の発明においては、金属薄板
とその表裏両面に圧電体部が分極制御が可能な非貼り付
け法により形成された薄膜圧電型バイモルフ素子からな
る力学量検出端をn(nは、2以上の整数)個1組とし
て使用してなる力学量検出器であって、n個1組の力学
量検出端は、共通の金属薄板の両面所定の位置に上下
(表裏)対称の位置に圧電体部が各面n個形成された
後、各圧電体部の形成された部分の金属薄板に所定の切
断や折り曲げ加工等を行なうことにより相互に直交する
等のn個の薄膜圧電型バイモルフ素子が対応する方向の
力学量を検出する多軸方向力学量検出端であることを特
徴としている。
【0044】上記構成により、金属薄板とその表裏両面
に圧電体部が分極制御が可能な非貼り付け法により形成
された薄膜圧電型バイモルフ素子からなる力学量検出端
をn個1組として使用してなる力学量検出器において、
以下の作用がなされる。
【0045】n個1組の力学量検出端は多軸方向力学量
検出端であり、共通の金属薄板の両面所定の位置に圧電
体部が1組当り各面n個、例えば3個、形成された後、
各圧電体部の形成された部分の厚さの均一な金属薄板に
所定の切断や折り曲げ加工等を行なうことにより相互に
直交するn個の薄膜圧電型バイモルフ素子が対応する方
向の力学量を検出する。
【0046】請求項9記載の発明においては、金属薄板
とその表裏両面に圧電体部が分極制御が可能な非貼り付
け法により形成された薄膜圧電型バイモルフ素子からな
る力学量検出端をn個1組として使用してなる力学量検
出器であって、n個1組の力学量検出端は、あらかじめ
所定の形状にされた共通の金属薄板の両面所定の対称の
位置に圧電体部が1組当り各面n個形成された後、各圧
電体部の形成された部分の金属薄板に圧電体形成時の形
状維持用に残された細い梁部の切断や所定の折り曲げ加
工等を行なうことにより相互に直交する等所定の角度で
交わるn個の薄膜圧電型バイモルフ素子が対応する方向
の力学量を検出する多軸方向力学量検出端であることを
特徴としている。
【0047】上記構成により、金属薄板とその表裏両面
に圧電体部が分極制御が可能な非貼り付け法により形成
された薄膜圧電型バイモルフ素子からなる力学量検出端
をn個1組として使用してなる力学量検出器において、
以下の作用がなされる。
【0048】n個1組の力学量検出端は、多軸方向力学
量検出端であり、あらかじめ所定の形状にされた共通の
金属薄板の両面所定の位置に圧電体部が各面n個形成さ
れた後、各圧電体部の形成された部分の金属薄板に圧電
体形成時の形状維持用に残された細い梁部の切断や所定
の折り曲げ加工やその他折り曲げ後の固定処理等を行な
うことにより相互に直交する等所定の角度で交わるn個
の薄膜圧電型バイモルフ素子が対応する方向の力学量を
検出する。
【0049】請求項10記載の発明においては、金属薄
板とその表裏両面に圧電体部が分極制御が可能な非貼り
付け法により形成された薄膜圧電型バイモルフ素子から
なる力学量検出端を複数使用してなる力学量検出器であ
って、複数の力学量検出端は、共通の金属薄板の両面所
定の位置に圧電体部が各面複数個形成された後、各圧電
体部の形成された金属薄板に、エッチングやレーザーを
使用しての所定の切断加工等を行なうことにより、相互
に固有振動数の相違する複数のものが同一平面状に形成
されてなる周波数解析用力学量検出端であることを特徴
としている。
【0050】上記構成により、金属薄板とその表裏両面
に圧電体部が分極制御が可能な非貼り付け法により形成
された薄膜圧電型バイモルフ素子からなる力学量検出端
を複数使用してなる力学量検出器において、以下の作用
がなされる。
【0051】複数の力学量検出端は周波数解析用力学量
検出端であり、共通の金属薄板の両面所定の位置に圧電
体部が各面複数個形成された後、各圧電体部の形成され
た金属薄板に所定の切断加工等を行なうことにより、相
互に固有振動数の相違する複数のものが同一平面状に形
成されてなる。なお、実際の使用に応じて各素子に同一
若しくは相違する所定の角度が付与され、また必要な結
線、取付け処理がなされているのは本発明に含まれるの
は勿論である。
【0052】なおまた、解析する周波数としては、加速
度、流体振動等その種類を問わないのも勿論である。
【0053】請求項11記載の発明においては、金属薄
板とその表裏両面に圧電体部が分極制御が可能な非貼り
付け法により形成された薄膜圧電型バイモルフ素子から
なる力学量検出端を複数使用してなる力学量検出器であ
って、複数の力学量検出端は、圧電体形成時の形状維持
用に残された細い梁部はともかくあらかじめ所定の形状
に切断された共通の金属薄板の両面所定の位置に圧電体
部が各面複数個形成された後、各圧電体部の形成された
金属薄板、特に細い梁部に所定の切断加工等を行なうこ
とにより、相互に固有振動数の相違する複数のものが相
互の振動が影響しあわない状態で、同一平面状に形成さ
れてなる周波数解析用力学量検出端であることを特徴と
している。
【0054】上記構成により、金属薄板とその表裏両面
に圧電体部が分極制御が可能な非貼り付け法により形成
された薄膜圧電型バイモルフ素子からなる力学量検出端
を複数使用してなる力学量検出器において、以下の作用
がなされる。
【0055】複数の力学量検出端は周波数解析用力学量
検出端であり、圧電体形成時の形状維持用に残された細
い梁部はともかくあらかじめ所定の形状に切断された共
通の金属薄板の両面所定の位置に圧電体部がスパッタリ
ングやパターニングにより各面複数個形成された後、各
圧電体部の形成された金属薄板に所定の切断加工等を行
なうことにより各素子を振動の面からは独立させ、相互
に固有振動数の相違する複数のものが同一平面状に形成
されてなる。
【0056】請求項12記載の発明においては、金属薄
板の表裏両面に直接形成された複数の薄膜圧電型バイモ
ルフ素子は、請求項1、同2、同3、同4、同5若しく
は同6のいずれかに記載している薄膜圧電型バイモルフ
素子であることを特徴としている。
【0057】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0058】請求項1、同2、同3、同4、同5若しく
は同6のいずれかに記載している薄膜圧電型バイモルフ
素子が金属薄板の表裏両面に直接形成される。
【0059】請求項13記載の発明においては、圧力室
を備えたインク流路構造体と、該インク流路構造体の圧
力室形成面上に形成されたインクを吐出させるための薄
膜圧電型バイモルフ素子を使用するアクチュエータを有
するインクジェットヘッドであって、アクチュエータ
は、金属薄板と、該金属薄板の表裏両面に直接形成され
た薄膜型圧電型バイモルフ素子とを有していることを特
徴としている。
【0060】上記構成により、圧力室を備えたインク流
路構造体と、該インク流路構造体の圧力室形成面上に形
成されたインクを吐出させるための薄膜圧電型バイモル
フ素子を使用するアクチュエータを有するインクジェッ
トヘッドにおいて、以下の作用がなされる。
【0061】アクチュエータは、耐インク性のあるSU
SやCr等からなる金属薄板と、該金属薄板の表裏両面
に直接形成された薄膜型圧電型バイモルフ素子と、その
他結線やインクに接する部分の絶縁用の有機あるいは無
機物質製の薄膜等の必要な部品をも有している。
【0062】請求項14記載の発明においては、インク
を吐出させるための薄膜圧電型バイモルフ素子は、請求
項1、同2、同3、同4、同5若しくは同6のいずれか
に記載している薄膜圧電型バイモルフ素子であることを
特徴としている。
【0063】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0064】請求項1、同2、同3、同4、同5若しく
は同6のいずれかに記載している薄膜圧電型バイモルフ
素子が、インクを吐出させるための薄膜圧電型バイモル
フ素子として使用されているため、各アクチュエータの
特性が均一等の効果を有する。
【0065】請求項15記載の発明においては、金属薄
板の両面に圧電体薄膜を少くも分極制御が可能な非貼付
法で直接形成する圧電体薄膜形成ステップと、形成され
た圧電体膜に電極膜を形成する電極膜形成ステップと、
形成された圧電体薄膜及び電極膜を素子の配列から定ま
る所定の形状にパターニングしてパターニングされた薄
膜圧電型バイモルフ素子を形成するパターニングステッ
プとを有していることを特徴としている。
【0066】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0067】圧電体薄膜形成ステップにて、金属薄板の
両面に圧電体薄膜を分極制御が可能な非貼付法で直接形
成する。電極膜形成ステップにて、形成された圧電体膜
に電極膜を形成する。パターニングステップにて、形成
された圧電体薄膜及び電極膜をフォトレジストを使用す
る等して所定の形状にパターニングして各素子を孤立化
してパターニングされた薄膜圧電型バイモルフ素子を形
成する。
【0068】請求項16記載の発明においては、金属薄
板の両面に、その表裏で分極方向が互いに反転した、そ
して、組成の異なる複数の層(含む、圧電体として機能
発揮しない組成の層)あるいは組成が連続的に異なる層
から構成される圧電体薄膜を分極制御が可能な非貼り付
け法で形成する圧電体薄膜形成ステップと、形成された
両面の圧電体薄膜上に各々電極膜を形成する電極膜形成
ステップとを有していることを特徴としている。
【0069】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0070】圧電体薄膜形成ステップにて、金属薄板の
両面対称の位置に(必ずしも、厚さや組成が対称とは限
らない)、その表裏で分極方向が互いに反転した、そし
て、組成の異なる複数の層あるいは組成が連続的に異な
る層から構成される圧電体薄膜を分極制御が可能な非貼
り付け法で形成する。電極膜形成ステップにて、形成さ
れた両面の圧電体薄膜上に各々電極膜を形成する。
【0071】請求項17記載の発明においては、金属薄
板の一方の面に第1圧電体薄膜を分極制御が可能な非貼
り付け法で形成する第1圧電体薄膜形成ステップと、金
属薄板の他方の面に、第1圧電体薄膜形成時よりも低い
基板温度のもとでヒーターを調整する等して形成温度を
制御することにより、第1の圧電体薄膜と分極方向が同
じ第2の圧電体薄膜を分極制御が可能な非貼り付け法で
形成する第2圧電体薄膜形成ステップと、形成された第
1圧電体薄膜及び第2圧電体薄膜上に各々電極膜を形成
する電極膜形成ステップとを有していることを特徴とし
ている。
【0072】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0073】第1圧電体薄膜形成ステップにて、成膜基
板たる金属薄板の一方の面に第1圧電体薄膜を原則とし
て全面に分極制御が可能な非貼り付け法で直接形成す
る。第2圧電体薄膜形成ステップにて、金属薄板の他方
の面に、第1圧電体薄膜形成時よりも低い基板温度のも
とで形成温度を制御することにより、第1の圧電体薄膜
と分極方向が同じ第2の圧電体薄膜を分極制御が可能な
非貼り付け法で形成する。電極膜形成ステップにて、形
成された第1圧電体薄膜及び第2圧電体薄膜上に、それ
ら両膜が既にパターニング(必要な形状での孤立化)さ
れているか否かは別にして、ともかく各々電極膜を形成
する。
【0074】以上の他、圧電体膜が既にパターニングさ
れているならばレジストの除去、されていないならば圧
電体膜と電極膜のパターニング等が必要に応じてなされ
るのは勿論である。
【0075】請求項18記載の発明においては、第1圧
電体薄膜形成ステップ及び第2圧電体形成ステップは、
組成の異なる複数の層あるいは組成が連続的に異なる層
から構成される圧電体薄膜を形成する膜層変化形圧電体
薄膜形成ステップであることを特徴としている。
【0076】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0077】第1圧電体薄膜形成ステップ及び第2圧電
体形成ステップは、膜層変化形圧電体薄膜形成ステップ
であり、このため組成の異なる複数の層あるいは組成が
連続的に異なる層から構成される圧電体薄膜を形成す
る。
【0078】請求項19記載の発明においては、圧電体
薄膜形成ステップ、第1圧電体薄膜形成ステップ及び第
2圧電体形成ステップによる金属薄板への圧電体薄膜の
形成に先立って、成膜基板たる金属薄板の両面にCr等
その内部物質が圧電体部に拡散するのを防止するための
安定した金属の薄膜を形成する安定金属薄膜形成ステッ
プを有していることを特徴としている。
【0079】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0080】圧電体薄膜形成ステップ、第1圧電体薄膜
形成ステップ及び第2圧電体形成ステップによる金属薄
板への圧電体薄膜の形成に先立って、安定金属薄膜形成
ステップにて、金属薄板の両面にその内部物質が圧電体
部に拡散するのを防止するための安定した金属の薄膜を
化学蒸着、めっき、スパッタリング等何等かの手段で形
成する。従って、金属薄板の種類によっては、このステ
ップが不必要なのは勿論である。
【0081】請求項20記載の発明においても、金属薄
板若しくは拡散防止用金属層の形成された金属薄板の両
面に分極制御が可能な非貼り付け法により圧電体薄膜を
形成する圧電体薄膜形成ステップと、形成された圧電体
薄膜上に電極膜を形成する電極膜形成ステップと、形成
された圧電体薄膜と電極膜とを所定の形状にパターニン
グするパターニングステップと、パターニングステップ
終了後、金属薄板を加工してn個1組の薄膜圧電型バイ
モルフ素子からなる圧電効果型検出部を少くも1組形成
するn個組圧電効果型検出部形成ステップと、形成され
た圧電効果型検出部の形成された金属薄板に、各薄膜圧
電型バイモルフ素子が相互に影響しないよう所定の切断
線を入れる部分切断ステップと、部分切断ステップにて
各1個の薄膜圧電型バイモルフ素子が形成された半切断
金属薄板各部を相互に相直交する方向に折り曲げて多次
元構造を作成する多次元構造作成ステップを有している
ことを特徴としている。
【0082】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0083】圧電体薄膜形成ステップにて、燐青銅、ベ
リリウム青銅あるいはSUS304等の金属薄板若しく
は拡散防止用金属層の形成された金属薄板の両面に分極
制御が可能な非貼り付け法により圧電体薄膜を形成す
る。電極膜形成ステップにて、形成された圧電体薄膜が
パターニングされているか否かはともかく、その上に電
極膜を形成する。パターニングステップにて、形成され
た圧電体薄膜と電極膜とを所定の形状にパターニングす
る。
【0084】従って、既にパターニングがなされている
圧電体薄膜上に電極膜が形成されているならば、本パタ
ーニングステップの一部(半分)は電極膜形成ステップ
に先立ってなされることとなる。
【0085】パターニングステップ終了後、n個組圧電
効果型検出部形成ステップにて、金属薄板を加工してn
個1組の薄膜圧電型バイモルフ素子からなる圧電効果型
検出部を少くも1組形成する。部分切断ステップにて、
形成された圧電効果型検出部の形成された金属薄板に、
各薄膜圧電型バイモルフ素子が相互に影響しないよう所
定の切断線を入れる。多次元構造作成ステップにて、部
分切断ステップにて各1個の薄膜圧電型バイモルフ素子
が形成された半切断金属薄板各部を相互に所定の角度で
交わる方向に折り曲げて多次元構造を作成する。また、
必要に応じての曲がり部の金属の当該部のみの加熱そし
て急冷による熱処理や硬化性樹脂の塗布による曲がりの
固定化(安定化)等もなされる。
【0086】従って、nが3、所定の角度が90°なら
ば、立体の3次元構造となる。
【0087】請求項21記載の発明においては、金属薄
板若しくは拡散防止用金属層の形成された金属薄板の両
面に分極制御が可能な非貼り付け法により圧電体薄膜を
形成する圧電体薄膜形成ステップと、形成された圧電体
薄膜上に電極膜を形成する電極膜形成ステップと、形成
された圧電体薄膜と電極膜とを所定の形状にパターニン
グするパターニングステップと、パターニングステップ
終了後、金属薄板を加工して、幅や長さが相違するため
固有振動数の異なるそして薄膜圧電型バイモルフ素子を
少くも2つ有する圧電効果型検出部を形成する周波数検
出用圧電効果型検出部形成ステップと、少くも2個の圧
電横効果部の形成された金属薄板に、各圧電効果部が相
互に影響しないよう所定の切断線を入れる部分切断ステ
ップとを有していることを特徴としている。
【0088】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0089】圧電体薄膜形成ステップにて、金属薄板若
しくは拡散防止用金属層の形成された金属薄板の両面に
分極制御が可能な非貼り付け法により圧電体薄膜を形成
する。電極膜形成ステップにて、形成された圧電体薄膜
上に電極膜を形成する。パターニングステップと、形成
された圧電体薄膜と電極膜とを所定の形状にパターニン
グする。パターニングステップ終了後、周波数検出用圧
電効果型検出部形成ステップにて、金属薄板を加工して
少くも2つの固有振動数の異なるそして薄膜圧電型バイ
モルフ素子を有する圧電効果型検出部を形成する。部分
切断ステップにて、少くも2個の圧電横効果部の形成さ
れた金属薄板に、各圧電効果部が相互に影響しないよう
所定の切断線を入れる。
【0090】請求項22記載の発明においては、共通の
成膜基板としての金属薄板若しくは拡散防止用金属層の
形成された金属薄板の両面に分極制御が可能な非貼り付
け法により圧電体薄膜を形成する圧電体薄膜形成ステッ
プと、形成された圧電体薄膜上に電極膜を形成する電極
膜形成ステップと、形成された圧電体薄膜と電極膜とを
インクジェットヘッド上のインクジェットヘッド素子の
配列に対応してアクチュエータを形成するパターニング
するアクチュエータ形成用パターニングステップと、該
アクチュエータ形成用パターニングステップ終了後、多
数のアクチュエータの形成された金属薄板をインク流路
構造体に接着する接着ステップを有していることを特徴
としている。
【0091】上記構成により、以下の作用がなされる。
【0092】圧電体薄膜形成ステップにて、金属薄板若
しくは拡散防止用金属層の形成された金属薄板の両面に
分極制御が可能な非貼り付け法により圧電体薄膜を形成
する。電極膜形成ステップにて、形成された圧電体薄膜
上に電極膜を形成する。パターニングステップは、アク
チュエータ形成用パターニングステップにて、インクジ
ェットヘッド上の各色用のインクジェットヘッド素子の
配列に対応してアクチュエータを形成するためパターニ
ングする。該アクチュエータ形成用パターニングステッ
プ終了後、接着ステップにて、多数のアクチュエータの
形成された金属薄板をインク流路構造体に接着する。
【0093】以上の他、必要な結線、絶縁処理等がなさ
れるのは勿論である。
【0094】
【実施の形態】以下、本発明をその実施の形態に基づい
て説明する。
【0095】(第1の実施の形態)本実施の形態は、成
膜基板の両面に圧電体薄膜を少くも分極制御が可能な方
法で直接形成した薄膜圧電型バイモルフ素子とその製造
方法に関する。
【0096】図1にその断面構造を、図2にその製造の
進展に伴う断面の変化の様子を示す。
【0097】以下、両図を基にその成作の手順を示す。
【0098】(a)厚さ50μmのSUS304を、中
間の成膜基板101として用いた。そして、この成膜基
板101の両面に各々Pt製の第1電極膜102を形成
した。
【0099】なお、この第1電極膜は、SUS304中
のクロムが圧電体内へ侵入するのを防止するためであ
る。従って、成膜基板の材質の如何によっては必ずしも
必要なものではない。
【0100】(b)成膜基板の表裏の第1電極膜の外面
に圧電体部を構成する互いに分極方向が異なった第1圧
電体薄膜103と第2圧電体薄膜104を形成した。
【0101】(c)これらの圧電体薄膜の外面に外部
(第2)電極膜105を各々形成した。
【0102】次に、具体的な形成方法であるが、第1電
極膜102及び第2電極膜膜105は、表裏とも高周波
マグネトロンスパッタ法によりPt薄膜を形成した。ス
パッタ成膜条件は、基板温度が500〜700℃、スパ
ッタガスはArと酸素の混合ガス(95/5〜80/2
0)であり、ガス圧は0. 1〜5Pa、高周波投入パワ
ー密度は1〜5W/cm2 (13. 56MHz)で、成
膜時間は1時間であった。
【0103】形成した膜の厚さは0. 15μmであっ
た。
【0104】圧電体薄膜は、表1に示した材料を用い
て、同じく表1に記載した成膜条件により形成した。形
成した膜厚は、各々3μmである。
【0105】本表1の条件で成膜することにより、すべ
ての誘電体は、正方晶の結晶構造を持ち、その分極軸が
基板面に対して垂直方向に優先配向したc軸配向多結晶
膜が得られた。
【0106】
【表1】 金属薄板は、その熱膨張係数が大きいため、圧電体薄膜
形成後の冷却過程での熱応力を緩和するため、(00
1)に優先配向した圧電体薄膜が得られるものと推定さ
れる。しかも、この薄膜は、成膜後の状態においても分
極の方向がほぼ一方向に揃っており、分極処理なしの状
態で圧電デバイスとして機能する特徴がある。
【0107】ところで、この場合には基板の両面に同じ
条件で圧電体薄膜を形成したため、第1及び第2圧電体
薄膜の分極方向は、図3に矢印で示すように互いに反転
していることとなる。
【0108】本図において、上下の第2電極膜間に電圧
をかけると、上部の圧電体部は例えば伸び(縮み)、下
部の圧電体部は逆に縮み(伸び)、このためこのバイモ
ルフ型素子は下方(上方)へ突出して曲がることとな
る。
【0109】また逆に、バイモルフ型素子が外力により
曲げられた場合には、2つの圧電素子の出力が合算され
るため、比較的高い電圧が発生することともなる。
【0110】次に、この素子の用途によって、形成され
た圧電体部等を適切な形状にしたり、孤立化したりする
こととなる。以下、これについて説明する。
【0111】まず、最外面層に形成された第2電極膜
を、スパッタエッチングによりパターニングした。この
際のPt薄膜のエッチング条件は、真空度0. 06To
rr、Arガス流量10sccm、プラズマパワー17
0Wのもとで、15分を要した。
【0112】続いて、第1圧電体薄膜と第2圧電体薄膜
をパターニングした。パターニングのプロセス条件を表
2に示す。
【0113】
【表2】 そして、最後に表裏の第1電極膜を上記電極膜5と同じ
条件でパターニングした。
【0114】本実施の形態では、成膜基板の表裏両面の
圧電体薄膜が相互に直接接着されたりしてはいない。従
って、接着のバラツキによる素子の感度のバラツキが発
生しない。更に、圧電体薄膜は分極処理が不必要である
だけでなく、基板温度の制御により分極方向を制御する
ことが可能である。
【0115】以上の結果、たとえ圧電体の厚さが非常に
小さくても、互いの分極の方向が反転したバイモルフ素
子を連続した成膜プロセスにより、すなわち接着工程な
しに、容易に製作可能となる。更に、分極処理を行うこ
とにより圧電特性は一層向上することとなる。
【0116】次に、材料であるが、成膜基板としての金
属薄板は、SUS以外に、例えば、Ti、Pt等の薄板
としてもよい。
【0117】また、第1電極膜としては、Pt以外に、
例えば、Au、Pd、Ag等の貴金属を使用してもよ
い。
【0118】なお、酸化、腐蝕等により素子の振動特性
が多少とも変化しても不都合の生じない用途やその恐れ
がない用途に使用するならば、貴金属や耐蝕金属(合
金)以外の金属を使用してもよいのは勿論である。
【0119】次に、圧電薄膜の組成であるが、これは表
1に示す物質の他に、Pbx LayTiz Zrw 3
表され、ここにx、y、z、wは、 1)0. 7≦x≦1,x+y=1,0. 925≦z≦
1,w=0 2)x=1,y=0,0≦z≦0. 50,z+w=1 3)0. 75≦x<1,x+y=1,0. 3≦z<1,
z+w=1 の式を充たす組成の物質であるならば、同様な結果が得
られた。ここに、Laはランタノイドである。
【0120】最後に、分極軸の方向について説明する。
【0121】圧電体薄膜の分極軸の方向は、組成により
変化する。PZTは、Zr/Ti比により、その結晶構
造が変化する。これを、図4に示す。
【0122】本図に示すように、菱面体結晶構造では
(111)方向が分極軸である。
【0123】この一例を示すならば、圧電体薄膜とし
て、PbZr0.56Ti0.443 というZr/Ti比が異
なる以外は表1に示すもののPZTと全く同一条件で形
成した。
【0124】このPZT薄膜は菱面体結晶構造を持ち、
その分極軸は(111)方向である。しかし、作製した
圧電体薄膜は、(001)配向の多結晶であった。従っ
て、基板面に対して垂直な方向に、分極軸が配向してい
る構造ではない。
【0125】しかしながら、この菱面体構造の圧電体薄
膜も、分極が一方向の(111)に揃っており、分極処
理なしの状態で圧電デバイスとして機能する特徴を備え
ている。
【0126】従って、必ずしも、分極軸が基板面に対し
て垂直に配向した圧電体薄膜のみに本発明が限定される
わけではない。なお、(111)軸が分極軸となる組成
は、圧電体薄膜の組成がPbx Lay Tiz Zrw 3
のとき、x、y、z、wが以下の式を充たす場合であ
る。
【0127】1)x=1,y=0,0. 5≦z≦1.
0,z+w=1 2)0. 9≦x<1,x+y=1,0≦z<0. 5,z
+w=1 (第2の実施の形態)本実施の形態は、圧電体薄膜を多
層構造とし、更に各層の圧電定数を成膜基板側より外表
面側へ向かって順に大きくしたものである。
【0128】図5の(a)に、本実施の形態の薄膜圧電
型バイモルフ素子を示す。
【0129】本実施の形態の薄膜圧電型バイモルフ素子
も、先の第1の実施の形態と同様の方法にて作製した。
ただし、以下の2点が相違する。
【0130】1)圧電体薄膜が、厚さ方向に組成及び圧
電特性が変化した複数層のあるいは同じく組成及び圧電
特性が連続的に変化した膜(層)から構成されている。
【0131】2)圧電体薄膜の圧電定数は、中央の成膜
基板101からそれぞれの圧電体薄膜の外表面へ向かう
に従って増加する。
【0132】以下、本実施の形態のこの圧電体薄膜につ
いて詳しく説明する。
【0133】さて、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)
は、その圧電特性が組成により変化することが知られて
いる。図4に、PZT焼結体の誘電及び圧電特性とZr
/Ti比の関係を示す。本図にて、PZTの電気機械結
合定数は、Zr/Ti比により大きく変化しているのが
わかる。
【0134】従って、Zr/Ti比の異なるPZT薄膜
を積層する事により、厚さ方向に圧電特性が変化したバ
イモルフ素子を製造することが可能となる。そして、そ
のようなPZT薄膜の形成は、図6に、その原理を示す
ようなPb、Ti及びZrの金属ターゲットを備えた多
元スパッタ装置を使用して行なう。
【0135】さて、組成の制御であるが、この装置で各
ターゲットに印加するRF(高周波)パワーを制御する
事によりなされる。図5の(b)に分極方向を示した素
子の断面を示す。
【0136】次に、製造手順について図7を参照しつつ
説明する。
【0137】(a)成膜基板101の表裏両面に第1電
極膜を形成する。
【0138】(b)一方の面の第1電極膜の外表面に、
厚さ方向(反成膜基板側)に順に圧電定数が増加する3
つの圧電体薄膜層203a、203b、203cからな
る第1の圧電体膜203をZr/Ti比を変化させて形
成する。
【0139】(c)他方の面にも、第1電極膜の外表面
に、厚さ方向(反成膜基板側)に順に圧電定数が増加す
る、そして上記第1の面の圧電体薄膜層と分極方向が逆
の3つの圧電体薄膜層204a、204cからなる第2
の圧電体膜204をZr/Ti比を変化させて形成す
る。
【0140】(d)表裏の圧電体薄膜層の外表面に、第
2電極膜を形成する。
【0141】しかる後、素子の用途等に応じて各種のパ
ターニングをなすこととなる。
【0142】本実施の形態の圧電体薄膜であるが、具体
的には、表3に示すような、組成の異なる3層のPZT
からなる。
【0143】
【表3】 さて、2つの圧電体部の外表面側から同一方向の電圧を
かけるタイプの圧電型バイモルフ素子では、分極方向が
異なる2層の圧電体の伸縮方向は逆である。このため、
電圧印加により第1の圧電体薄膜が伸びる場合には第2
の圧電体薄膜は収縮し、前者が収縮する場合には後者が
伸びることとなる。従って、両方の圧電体薄膜の界面の
応力が大きくなる。また、中心部に金属が存在する場合
には、中心部にあるため金属自体は伸縮しないものの金
属の剛性は圧電体よりはるかに大きいため、金属面に接
触(接着)している部分の圧電体には大きな引張若しく
は圧縮応力が発生し、特に圧電体はその性質上引張力に
弱いため、引張力の発生する側の疲労(耐久性)が問題
となる。
【0144】しかし、本圧電バイモルフ素子では、両方
の圧電体膜の界面に近い圧電体層の圧電定数を小さく
し、厚み方向に大きくなる圧電定数の分布を持つため、
界面付近の圧電体薄膜の歪み量が小さい。このため、界
面で発生する応力を緩和できる。この結果、バイモルフ
素子全体の耐久性が向上する。
【0145】なお、本実施の形態では、組成の異なる圧
電体薄膜を積層したが、これは組成を連続的に変化させ
てもよいのは勿論である。
【0146】(第3の実施の形態)本実施の形態は、分
極方向が同じ圧電体薄膜を形成した素子に関する。
【0147】本実施の形態の薄膜圧電型バイモルフ素子
を図8に、その作製手順の進行に伴う断面の変化する様
子を図9に示す。
【0148】図9の(a)、(b)、(c)、(d)に
示すように、本実施の形態においても先の第1の実施の
形態と同様に形成基板たる金属薄板101上両面にPt
製の第1電極102、第1と第2の圧電体薄膜103,
1041であるPZT(PbZr0.50Ti0.503 )、
Pt製の第2電極膜105を作製した。
【0149】ただし、第1と第2の圧電体薄膜103,
104は(001)配向して分極処理なしの状態であ
り、更に図8に示すようにその分極の方向が同じである
のが相違する。すなわち、図で下方の第2圧電体膜10
41は図2に示す下方の第2圧電体膜104と分極方向
が逆である。
【0150】ここで、第1圧電体薄膜は、基板温度67
0〜720℃で形成した。この場合、焦電流の方向から
判断して、圧電体薄膜から基板面への方向に分極軸が配
向していると考えられる。
【0151】一方、第2圧電体薄膜は、第1圧電体薄膜
形成後に基板温度を570〜630℃に下げた状態にし
て形成した。この場合、焦電流の方向から判断して、第
2圧電薄膜から第2電極膜への方向に分極軸が配向して
いると考えられる。
【0152】次に、この際の分極方向の基板温度依存性
について説明する。
【0153】圧電体薄膜がPbLa0.1 Ti0.925 3
の場合の、焦電係数と基板温度の関係を図10に示す。
なお、本図では、圧電体薄膜表面から第1電極膜への方
向を、焦電流が正の方向としている。
【0154】以上の結果より、この薄膜圧電型バイモル
フ素子は、図9に矢印で示す分極状態にあるものと判断
される。
【0155】さて、本実施の形態の場合の結線である
が、これは図9に示すように、形成基板そして第1の電
極を接地し、第1及び第2圧電体薄膜の外表面側に存在
する第2電極膜を互いに接続することとなる。そしてこ
れにより、2つの圧電体薄膜には逆方向の圧電が生じ、
ひいては比較的低い電圧で駆動される並列型の薄膜圧電
型バイモルフ素子が形成される。
【0156】本実施の形態では、圧電体が薄膜のため、
長さが異なる片持ち梁を同一形成基板上に複数個作製す
る事が可能となる。従って、加速度センサ等の応用にお
いて、幅広い周波数範囲で加速度の検知が可能となる。
【0157】更に、分極方向が互いに異なる圧電体薄膜
を連続成膜により形成するため、接着工程が不必要であ
る。従って、感度や変位のバラツキ発生を防止できる。
【0158】以上の説明でわかるように、本実施の形態
の素子は、加速度や圧力等の力学量のセンサ(検出端)
あるいはアクチュエータとして使用する場合に、優れた
効果、性能を発揮する。
【0159】(第4の実施の形態)本実施の形態は、先
の第2の実施の形態と同じく多層の圧電体薄膜を有する
が、先の第3の実施の形態と同様にその分極方向が表裏
で同じものである。
【0160】図11に、本実施の形態の薄膜圧電型バイ
モルフ素子を示す。
【0161】本図の素子の断面図中の矢印は、分極方向
を示す。
【0162】先の第3の実施の形態と同様にして、薄膜
圧電型バイモルフ素子を作製した。本実施の形態におい
ても、TiとZrの存在比率を、ひいては圧電定数を順
に大きくした3層の圧電体203a、203b、203
cからなる第1圧電体薄膜203は、基板温度670〜
720℃で形成した。この場合、焦電流の方向から判断
して、圧電体薄膜から基板面への方向に分極軸が配向し
ていると考えられる。
【0163】一方、同様な3層の圧電体2041a、2
041b、2041cからなる第2圧電体薄膜2041
は、第1圧電体薄膜形成後に基板温度を570〜630
℃に下げた状態にして形成した。
【0164】第3の実施の形態との相違は、以下の2点
である。
【0165】1)両方の圧電体薄膜とも、厚さ方向に組
成及び圧電特性が変化した複数のあるいは連続した層か
らなる。
【0166】2)圧電体薄膜の圧電定数は、中央の形成
基板からそれぞれの圧電体薄膜の外表面へ向かうに従っ
て増加する。
【0167】なお、Zr/Ti比の異なるPZT薄膜を
多元スパッタ装置を使用しても、積層する際に、成膜温
度により分極の方向を制御する事が可能である。
【0168】本実施の形態において作成した組成の異な
る3層のPZTからなる第1圧電体膜及び第2圧電体膜
の組成を表3に示す。ところで、本実施の形態では、組
成の異なる圧電体薄膜を3層積層したが、先の第2の実
施の形態と同じく組成を連続的に変化させた圧電体薄膜
とすることも可能である。
【0169】前述のごとく、一般の圧電バイモルフ素子
では、分極方向が異なる2層の圧電体の伸縮方向が反対
であり、その界面の応力が大きくなる。しかし、本実施
の形態では、界面に近い圧電体層の圧電定数が小さくな
るという分布であるため、界面付近の歪み量を小さくし
て応力を緩和することが可能となる。この結果、バイモ
ルフ素子全体の強度特に疲労強度あるいは耐久性が向上
する。
【0170】(第5の実施の形態)本実施の形態は、薄
膜圧電型力学量検出器あるいはその検出端に関する。
【0171】図12に、本発明の薄膜圧電型バイモルフ
素子を用いた薄膜圧電型力学量検出器を示す。また、図
13及び図14にその2つの製作手順を示す。
【0172】この薄膜圧電型力学量検出器は、加速度や
圧力等の精度よい力学量センサあるいは制御性良好なア
クチュエータとして好適である。
【0173】次にこの製造方法について説明する。
【0174】図13は、金属薄膜両面に圧電体薄膜等を
形成し、センサの配置に従ってこれらをパターニングし
た後、金属薄板を所定の形状にエッチング加工して製造
する様子を示すものである。
【0175】以下、本図をもとに、この内容を説明す
る。
【0176】(a)SUS304製の金属薄板501の
両面にPt等の第1電極膜502を形成し、その後パタ
ーニングする。
【0177】(b)第1圧電体薄膜503を、第1電極
膜の形成された金属薄板の両面に形成する。
【0178】(c)第1圧電体薄膜及び第2圧電体薄膜
の外表面に第2電極膜を形成し、その後これらを本来の
検出端の配置に従ってパターニングする。なお、本図の
505は、パターニングされた第2電極膜である。
【0179】(d)金属薄板をエッチングして開孔部5
06を形成する。
【0180】以上により、本図に示す片持梁508ある
いは両端固定梁構造509を形成する。
【0181】また、図14は、あらかじめ所定の開孔部
506が設けられた金属薄板501を用いて製造する様
子を示すものである。本図の(a)〜(c)に示すよう
に、この方法においても各膜の順次の形成、必要なパタ
ーニングは、図13の(a)〜(c)とほぼ同様であ
る。ただし、金属薄板があらかじめ開孔されているた
め、薄膜形成に際して必要なレジストを塗布したり、必
要に応じての当て板をしておいたりすること及びパター
ニングの内容については相違する。本図の505もパタ
ーニングされた第2電極膜である。
【0182】なお、特に片持梁の場合にそうであるが、
金属薄板といえども薄いため、そのままでは圧電体の形
成時等に変形、歪みが発生したりしかねない。このた
め、必要に応じて梁を支持する細い梁(切断加工部)5
07を設けている。
【0183】(d)切断加工部507を、細い工作が可
能なレーザー加工機等で切断して片持ち梁構造を形成す
る。
【0184】本実施の形態では圧電体が薄膜のため長さ
が異なる片持ち梁や両端固定梁を同一の金属薄板に複数
個作製する事が可能である。従って、加速度センサ等に
使用する場合、幅広い周波数範囲でその検出、測定が可
能となる。
【0185】更に、金属薄板に第1及び第2圧電体薄膜
を直接形成するため、接着工程が不必要となる。このた
め、接着のバラツキによる感度や変位のバラツキ発生を
防止できる。
【0186】なお、成膜基板としての金属は、使用温度
のみならず、雰囲気ガスの種類に応じての選定もなされ
るのは勿論である。
【0187】(第6の実施の形態)本実施の形態は、3
軸方向用の薄膜圧電型力学量検出器に関する。
【0188】図15に、本発明の薄膜圧電型バイモルフ
素子を用いた薄膜圧電型力学量検出器を示す。この薄膜
圧電型バイモルフ素子の金属薄板両面への製作方法自体
は、先の第5の実施の形態と同様である。
【0189】ただし、本実施の形態では、片持ち梁構造
や両端固定梁構造の素子の形成された部分の金属薄板に
更に折り曲げ加工を施しているのが相違する。すなわ
ち、圧電検出部が金属薄板のなす平面に対して角度を有
することとなる。この結果、この平面に直角な方向以外
の方向の力学量の検出が可能となる。
【0190】従って、図15に示すように、3つの圧電
体検出部605d、605e、605fが互いに垂直の
場合には、それぞれ直交するx,y,z軸方向の力学量
が検出可能である。
【0191】圧電検出部と金属薄板のなす角度θである
が、これは、90度に限定されるものではないのは勿論
である。すなわち、検出する力学量の方向にあわせて自
由に定め、検出感度の向上を図るようにしてもよい。
【0192】本実施の形態においても、策の第6の実施
の形態と同じく圧電体が薄膜であるため、長さが異なる
片持ち梁や両端固定梁を有する各種の3次元力学量検出
端を同一金属基板上に多数作製可能である。
【0193】従って、例えば加速度センサとして使用し
た場合には、幅広い周波数範囲でその検出測定が可能と
なる。更に、他の実施の形態と同じく、金属薄板に第1
及び第2圧電体薄膜を直接形成するため、接着工程が不
要であり、感度や変位のバラツキ発生を防止できる。
【0194】また、長時間での曲がり角度の変化防止の
ため、当該部の金属に必要な熱処理を施しても良い。
【0195】(第7の実施の形態)本実施の形態は、イ
ンクジェットヘッドに関する。
【0196】図16に、本発明の薄膜圧電型バイモルフ
素子を用いたインクジェットヘッドを、図17にその作
製手順の進行に伴う断面の変化の様子を示す。
【0197】本図において、701は成膜基板そしてイ
ンクを吐出させるために振動する板、アクチュエータと
しての金属薄板である。702は、その両面に形成され
た第1電極膜である。703と704は、更にその外面
に形成された圧電体薄膜である。705は、第2電極膜
である。706は、吐出されるインクが満ちている圧力
室である。707は、共通インク室部品である。708
は、インク供給路である。709は、共通インク供給路
である。710は、インク吐出路である。711は、ノ
ズルである。712は、接着剤である。
【0198】図16及び図17の(d)に示すように、
インクジェットヘッドはインク流路構造体を有してお
り、このインク流路構造体には、インクの吐出口と連通
すると共にインクを収容する圧力室が形成されている。
【0199】そして、この圧力室の上部(反印刷用紙
側)には金属薄板701が圧力室上部を密閉するよう接
着剤712にて固定して形成されており、更にこの金属
薄板の上下(表裏)両面にはバイモルフ構造を構成する
圧電体薄膜703、704が固着形成されている。
【0200】更にまた、インクに晒される部分の第2圧
電体704、第2電極膜は例えば薄い有機絶縁膜等で覆
われ、第1電極膜と第2電極膜は共に+−信号線で接続
されているのは勿論であるが、これらは自明かつ煩雑と
なるため図示は省略してある。
【0201】次に、このインクジェトヘッドの製造方法
を図17を参照しつつ説明する。
【0202】図17の(a)〜(c)は、先の第1の実
施の形態から第4の実施における薄膜圧電型バイモルフ
素子の作製と同じ手順である。ただし、中央の成膜基板
とその両面の圧電体薄膜等はインクジェットベッドのア
クチュエータとしての作用をなすため、それ用の形状寸
法等とされているだけでなく、ヘッド上のインクジェッ
ト素子の配列に従ってのパターニングがなされているの
は勿論である。
【0203】(d)アクチュエータとしての薄膜圧電型
バイモルフ素子を、接着剤でインク流路構造体に接合し
て、インクジェットヘッド素子を完成する。
【0204】本実施の形態のインクジェットヘッドは、
圧電体が一度に形成された薄膜であるため、小型であっ
ても均質化が容易であり、ひいてはインクジェットヘッ
ドの素子の集積化と高階調化が容易となる。更に、圧電
体のパターニングが可能なために、圧電素子の形状に制
限がなく、インクジェットヘッドの製造に際して、形
状、寸法等の自由度が大きくなる。
【0205】更に、本実施の形態においても、圧電体薄
膜の金属薄板上への接着工程が不必要であるため、感度
や変位のバラツキが生じない。
【0206】更にまた、圧電体がバイモルフ構造である
ため、別途の振動板が不必要であるにもかかわらず大き
な変位特性が得られる。
【0207】(第8の実施の形態)本実施の形態は、図
5に示す第2の実施の形態の応用例である。
【0208】本実施の形態のおいては、図18に示すよ
うに第3の実施の形態におけるPt製の第1電極膜に換
えて、PbTiO3 層若しくはPbZrO3 層203
e、204eのみ、すなわち圧電効果なしの層とし、こ
れによりクロム等の圧電体部への拡散を防止しつつ、中
央部にあるため、伸縮しない成膜基板とのその両側の伸
縮する本来の圧電体部とに発生する応力の緩和を図って
いる。
【0209】(第9の実施の形態)本実施の形態は、図
15に示す第6の実施の形態の応用例である。
【0210】本実施の形態のおいては、図19に示すよ
うに長さのみ異なり、幅と圧電体等の形成位置や厚さが
同じ検出端が同一平面上に5つ並んだ周波数検出機であ
る。この場合、各検出端の成膜基板は共通であり、圧電
体は同時に形成されたものであるため、圧電定数等は同
じ、ひいては各検出端の特性が揃うこととなり、周波数
を検出する際の解析が容易となる。
【0211】また、被検出部への機械的な取り付けも楽
となる。
【0212】(第10の実施の形態)本実施の形態は、
分極制御の他の手段である。従来の実施の形態では、成
膜基板と圧電体との熱膨張率の差及び成膜温度を制御し
ていたが、本実施の形態では、図20に示すように、積
極的に外力を加えるものである。
【0213】以下、本図を参照にしつつ本実施の形態を
説明する。
【0214】本図の(a)において、101xは円形の
薄い成膜基板である。103x、104xは、その上両
面に形成された圧電体である。111は円形の薄い成膜
基板の上下両面に固定された金属環であり、その熱膨張
率は、中央の薄い成膜基板より大な金属よりなる。具体
的には、成膜基板が、SUS(種類によるも9〜18×
10-6/℃)やクロム(7×10-6/℃)ならば、アル
ミ(24×10-6/℃)やマンガン(23×10-6
℃)等である。
【0215】そしてこれにより、圧電体薄膜形成時の温
度にさえ注意すれば、本図の(b)に示すように適切な
引張力Fを成膜基板に与えることが可能となる。
【0216】さらに、分極制御のみならず、圧電体成膜
時の成膜基板のそりの発生を防止する。また、圧電体は
焼成品であるため本来的に引張力に弱いが、室温時にお
いては本図の(b)に示すような圧縮力が作用すること
となるため、強度上も好ましいものとなる。また、成膜
基板そのものも10μm程度のものでも製作可能とな
る。
【0217】(第11の実施の形態)本実施の形態は、
先の第10の実施の形態の変形である。成膜基板に一方
向にのみ応力を加えるものである。
【0218】このため、四角い金属枠112で長方形の
成膜基板101yを固定し、その上で両面に圧電体10
3y、104yを形成する。
【0219】(第12の実施の形態)本実施の形態は成
膜基板の上、下面で圧電体の厚さを変化させるものであ
る。
【0220】すなわち、圧電体は金属と異なり焼成品で
あるため、圧縮力に比較して引張力に弱い。
【0221】そこで、図22の(a)に示すように、引
張力のかかる側の圧電素子103tを圧縮側の圧電素子
104pよりも厚く形成する。
【0222】さて、圧電体よりも金属薄板の方が剛性が
大であるため、その両面の圧電体部をこのように厚さを
かえて形成したところで、図22の(b)に示すように
バイモルフ型圧電素子は金属薄板を中心にして曲がるの
は従来のものと同じである。しかしながら、圧電体部に
加わる応力は、引張側の方が肉厚なだけに圧縮側のもの
に比較して小さくなる。このため耐久性が向上すること
となる。
【0223】(第13の実施の形態)本実施の形態は、
より小型のバイモルフ型圧電素子の製造に関するもので
ある。
【0224】以下、図23を参照しつつ本実施の形態を
説明する。
【0225】(a)SiO2 基板100aを用意する。
【0226】(b)SiO2 基板に2〜10μm程度の
金属薄膜101zをスパッタリングで形成する。
【0227】(c)金属薄膜上に圧電体層を形成し、必
要に応じてパターニングする。更に、その上に電極膜層
を形成し、必要に応じてパターニングする。
【0228】本(c)では、既にパターニングされた圧
電体103zと電極膜105aを示す。
【0229】(d)パターニングした電極膜、圧電体上
にSiO2 膜100bを形成する。
【0230】(e)この後に形成したSiO2 膜100
bを保護物質で覆い(図示せず)、その後最初のSiO
2 膜を燐酸等を使用して溶融除去する。
【0231】(f)金属薄膜のSiO2 を除去した面、
即ち既に圧電体の存在する面の反対側の面にも圧電体部
104zと電極膜105bを形成する。
【0232】(g)新しく形成した圧電体部、電極膜に
図示していない必要な配線等をなし、インク質部品70
7zに固定する。
【0233】(h)反インク質部品側のSiO2 膜を除
去し、必要な配線をなす。
【0234】本実施の形態においても、金属薄膜のそり
や変形を防止しつつ、かつ圧電体の分極を圧電体や金属
薄膜形成時の温度を調整することにより制御しつつ小型
高性能のバイモルフ型圧電素子、アクチュエータを形成
可能である。
【0235】以上、本発明を幾つかの実施の形態に基づ
いて説明してきたが、本発明は何もこれらに限定されな
いのは勿論である。すなわち、例えば以下のようにして
もよい。
【0236】(1)結晶構造は、c軸に優先配向した正
方晶の圧電体薄膜材料でない。
【0237】(2)配向性は、分極軸が基板面に対して
垂直に配向していない。
【0238】(3)圧電体材料として他のもの、例えば
Nb、Mn等が添加されたものを使用している。
【0239】
【発明の効果】以上の説明でわかるように本発明におい
ては、薄膜圧電型バイモルフ素子の製造において、圧電
体の分極を制御しつつ金属薄膜に直接圧電体を形成する
ので、接着工程が不必要である。
【0240】またこのため、素子の感度のバラツキ発生
を防止できる。
【0241】また、圧電体を貼り合わせるものでないた
め、膜厚が数μm程度の薄い圧電体が使用可能となる。
従って、モノモルフ構造のものと比較して、振動板無し
の構造であるにもかかわらず変位量が大きくなる。
【0242】また、圧電体が薄膜材料であるため、その
微細加工が可能となる。このため、微小かつ多様な形状
の検出器等を容易に形成でき、また圧電素子全体の小
型、集積化が可能となる。
【0243】また、長さの異なる複数の梁構造等を多数
並列等に、あるいは2次元や3次元に配置した圧電素子
を作成すること等も可能であり、これらを組み合わせる
ことにより共振周波数の広帯域化等が可能である。
【0244】また、圧電定数の異なる圧電体薄膜を複数
あるいは連続的に組み合わせることにより、第1圧電体
薄膜と第2圧電体薄膜の界面、境界部の大きな応力の発
生を防止あるいは緩和できるため、信頼性や耐久性が向
上する。
【0245】また、引張側の圧電体層を厚くしたりし
て、その耐久性の向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施の形態の薄膜圧電型バイ
モルフ素子の断面図である。
【図2】 上記薄膜圧電型バイモルフ素子の作製手順の
進行に伴う断面の変化を示す図である。
【図3】 上記薄膜圧電型バイモルフ素子の圧電体薄膜
の分極方向を示す図である。
【図4】 チタン酸ジルコン酸鉛焼結体の組成比と誘電
率及び電気機械結合係数との関係を示す図である。
【図5】 本発明の第2の実施の形態の薄膜圧電型バイ
モルフ素子の断面(a)と圧電体薄膜の分極方向(b)
を示す図である。
【図6】 上記実施の形態に使用する多元スパッタ装置
の概略構成図である。
【図7】 上記薄膜圧電型バイモルフ素子の作製手順の
進行に伴う断面の変化を示す図である。
【図8】 本発明の第3の実施の形態の薄膜圧電型バイ
モルフ素子の断面図である。
【図9】 上記薄膜圧電型バイモルフ素子の作製手順の
進行に伴う断面の変化を示す図である。
【図10】 上記実施の形態の圧電薄膜の焦電係数と基
板温度の関係を示す図である。
【図11】 本発明の第4の実施の形態の薄膜圧電型バ
イモルフ素子の断面と分極方向を示す図である。
【図12】 本発明の第5の実施の形態の薄膜圧電型バ
イモルフ素子を用いた薄膜圧電型力学量検出器の平面図
である。
【図13】 上記薄膜圧電型バイモルフ素子を用いた薄
膜圧電型力学量検出器の作製手順を示す図である。
【図14】 上記薄膜圧電型バイモルフ素子を用いた薄
膜圧電型力学量検出器の他の作製手順を示す図である。
【図15】 本発明の第6の実施の形態の薄膜圧電型バ
イモルフ素子を用いた薄膜圧電型力学量検出器の概念図
である。
【図16】 本発明の第7の実施の形態の薄膜圧電型バ
イモルフ素子を用いたインクジェットヘッドの断面構成
を示す図である。
【図17】 上記薄膜圧電型バイモルフ素子を用いたイ
ンクジェット式記録ヘッドのアクチュエータの作製手順
の進行に伴う断面の変化の様子及びインク流露構造体へ
の取付けを示す図である。
【図18】 本発明の第8の実施の形態の薄膜圧電型バ
イモルフ素子の断面図である。
【図19】 本発明の第9の実施の形態の薄膜圧電型バ
イモルフ素子を用いた周波数分析器の平面と主要部の断
面を示す図である。
【図20】 本発明の第10の実施の形態の薄膜圧電型
バイモルフ素子の製造方法を示す図である。
【図21】 本発明の第11の実施の形態の薄膜圧電型
バイモルフ素子の製造方法を示す図である。
【図22】 本発明の第12の実施の形態の薄膜圧電型
バイモルフ素子の断面図である。
【図23】 本発明の第13の実施の形態の薄膜圧電型
バイモルフ素子を用いたインクジェットヘッドの製造方
法を示す図である。
【符号の説明】
100a SiO2 基板 100b SiO2 基板 101 成膜基板(金属薄板) 101z 成膜基板(金属層) 102 第1電極膜 103 第1圧電体薄膜 103t 第1圧電体薄膜(引張側) 103x 圧電体部 103y 圧電体部 104 第2圧電体薄膜 104p 第2圧電体薄膜(圧縮側) 104x 圧電体部 104y 圧電体部 105 第2電極膜 111 厚手金属円環 112 厚手金属枠 203a 第1圧電体薄膜(成膜基板側) 203b 第1圧電体薄膜(中央) 203c 第1圧電体薄膜(反成膜基板側) 203e クッション層 204a 第2圧電体薄膜(成膜基板側) 204b 第2圧電体薄膜(中央) 204c 第2圧電体薄膜(反成膜基板側) 204e クッション層 303 第1圧電体薄膜 304 第2圧電体薄膜 403a 第1圧電体薄膜 403b 第1圧電体薄膜 403c 第1圧電体薄膜 404a 第2圧電体薄膜 404b 第2圧電体薄膜 404c 第2圧電体薄膜 501 金属薄板 502 第1電極膜 503 第1圧電体薄膜 505 パターニングされた第2電極膜 506 開孔部 507 切断加工部 508 片持梁 508a 周波数解析用端子梁 508b 周波数解析用端子梁 508c 周波数解析用端子梁 508d 周波数解析用端子梁 508e 周波数解析用端子梁 509 両端固定梁 601 金属薄板 602 第1電極膜 605d 第2電極膜 605e 第2電極膜 605f 第2電極膜 606 開孔部 701 金属薄板 702 第1電極膜 703 第1圧電体薄膜 704 第2圧電体薄膜 705 第2電極膜 706 圧力室 707 共通インク室部品 707z 共通インク室部品 708 インク供給路 709 共通インク供給路 710 インク吐出路 711 ノズル 712 接着剤
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // H02N 2/00 H01L 41/08 U (72)発明者 高山 良一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 鎌田 健 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 2C057 AF23 AF51 AF65 AF93 AG44 AP02 AP14 AP25 AP52 BA03 BA14 5D107 AA09 AA13 BB06 BB09 CC03 CC10 CC12

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属薄板と、 該金属薄板の両面に、分極制御が可能な非貼り付け法に
    より互いに分極方向が反転して形成された圧電体部と、 該2つの圧電体部のそれぞれの反金属薄板側に形成され
    た電極膜とを有していることを特徴とする薄膜圧電型バ
    イモルフ素子。
  2. 【請求項2】 前記圧電体部は、 材料の面からは少なくとも2種以上の組成の異なる圧電
    体薄膜の積層体や厚み方向に組成が連続的に変化した圧
    電体薄膜等の層方向材料変化圧電体であり、 伸縮の面からは、上記材料の変化に相応して前記金属薄
    板と前記電極膜とにより電界が加えられた場合には、前
    記金属薄板に近い層や部分が前記電極膜に近い層や部分
    に比較して伸び、若しくは縮みによる歪みが小さい膜厚
    方向伸縮調整型圧電体部であることを特徴とする請求項
    1記載の薄膜圧電型バイモルフ素子。
  3. 【請求項3】 前記金属薄板の両面の圧電体部は、 その分極方向が反対の反対方向分極圧電体部であり、 前記金属薄板若しくは2つの電極膜のいずれかは、 電位的に接地されている接地金属薄板であることを特徴
    とする請求項1若しくは請求項2記載の薄膜圧電型バイ
    モルフ素子。
  4. 【請求項4】 前記金属薄板の両面の圧電体部は、 その分極方向が同じの同方向分極圧電体部であり、 前記金属薄板と前記2組の電極膜間に逆方向の電位を与
    える逆方向電位付与手段を有していることを特徴とする
    請求項1若しくは請求項2記載の薄膜圧電型バイモルフ
    素子。
  5. 【請求項5】 前記圧電体部は、 その圧電体薄膜厚さが、10μm以下である10μm以
    下厚圧電体部であることを特徴とする請求項1、請求項
    2、請求項3若しくは請求項4記載の薄膜圧電型バイモ
    ルフ素子
  6. 【請求項6】 前記金属薄板は、 中心部の比較的厚い薄板本体と、 前記薄板本体中の物質が圧電体部に拡散するのを防止す
    るためその両面に薄く形成された拡散防止用金属膜を有
    していることを特徴とする請求項1、請求項2、請求項
    3、請求項4若しくは請求項5記載の薄膜圧電型バイモ
    ルフ素子。
  7. 【請求項7】 金属薄板とその表裏両面に直接形成され
    た複数の薄膜圧電型バイモルフ素子とを有する力学量検
    出端を使用してなる力学量検出器であって、上記複数の
    力学量検出端は、 上記金属薄膜のなす面上に相互に方向の相違する複数の
    ものが形成されてなる多軸方向力学量検出端であること
    を特徴とする多軸方向用薄膜圧電型力学量検出器。
  8. 【請求項8】 金属薄板とその表裏両面に圧電体部が分
    極制御が可能な非貼り付け法により形成された薄膜圧電
    型バイモルフ素子からなる力学量検出端をn(nは2以
    上の整数)個1組として使用してなる力学量検出器であ
    って、 上記n個1組の力学量検出端は、 共通の金属薄板の両面所定の位置に圧電体部が各面n個
    形成された後、各圧電体部の形成された部分の金属薄板
    に所定の切断や折り曲げ加工等を行なうことにより相互
    に所定の角度で交わるn個の薄膜圧電型バイモルフ素子
    が対応する方向の力学量を検出する多軸方向力学量検出
    端であることを特徴とする立体薄膜圧電型力学検出器。
  9. 【請求項9】 金属薄板とその表裏両面に圧電体部が分
    極制御が可能な非貼り付け法により形成された薄膜圧電
    型バイモルフ素子からなる力学量検出端を3個1組とし
    て使用してなる力学量検出器であって、 上記3個1組の力学量検出端は、 あらかじめ所定の形状にされた共通の金属薄板の両面所
    定の位置に圧電体部が各面n(nは2以上の整数)個形
    成された後、各圧電体部の形成された部分の金属薄板に
    圧電体形成時の形状維持用に残された細い梁部の切断や
    所定の折り曲げ加工等を行なうことにより相互に所定の
    角度で交わるn個の薄膜圧電型バイモルフ素子が対応す
    る方向の力学量を検出する多軸方向力学量検出端である
    ことを特徴とする立体薄膜圧電型力学検出器。
  10. 【請求項10】 金属薄板とその表裏両面に圧電体部が
    分極制御が可能な非貼り付け法により形成された薄膜圧
    電型バイモルフ素子からなる力学量検出端を複数使用し
    てなる力学量検出器であって、 上記複数の力学量検出端は、 共通の金属薄板の両面所定の位置に圧電体部が各面複数
    個形成された後、各圧電体部の形成された金属薄板に所
    定の切断加工等を行なうことにより、相互に固有振動数
    の相違する複数のものが同一平面状に形成されてなる周
    波数解析用力学量検出端であることを特徴とする周波数
    解析用薄膜圧電型力学量検出器。
  11. 【請求項11】 金属薄板とその表裏両面に圧電体部が
    分極制御が可能な非貼り付け法により形成された薄膜圧
    電型バイモルフ素子からなる力学量検出端を複数使用し
    てなる力学量検出器であって、 上記複数の力学量検出端は、 圧電体形成時の形状維持用に残された細い梁部はともか
    くあらかじめ所定の形状に切断された共通の金属薄板の
    両面所定の位置に圧電体部が各面複数個形成された後、
    各圧電体部の形成された金属薄板に所定の切断加工等を
    行なうことにより、相互に固有振動数の相違する複数の
    ものが同一平面状に形成されてなる周波数解析用力学量
    検出端であることを特徴とする周波数解析用薄膜圧電型
    力学量検出器。
  12. 【請求項12】 上記金属薄板の表裏両面に分極制御が
    可能な非貼り付け法により形成された複数の薄膜圧電型
    バイモルフ素子は、 請求項1、同2、同3、同4、同5若しくは同6のいず
    れかに記載している薄膜圧電型バイモルフ素子であるこ
    とを特徴とする請求項7、請求項8、請求項9、請求項
    10若しくは請求項11記載の薄膜圧電型力学量検出
    器。
  13. 【請求項13】 圧力室を備えたインク流路構造体と、
    該インク流路構造体の圧力室形成面上に形成されたイン
    クを吐出させるための薄膜圧電型バイモルフ素子を使用
    するアクチュエータを有するインクジェットヘッドであ
    って、 上記アクチュエータは、 金属薄板と、 該金属薄板の表裏両面に直接形成された薄膜型圧電型バ
    イモルフ素子とを有していることを特徴とするインクジ
    ェットヘッド。
  14. 【請求項14】 前記インクを吐出させるための薄膜圧
    電型バイモルフ素子は、 請求項1、同2、同3、同4、同5若しくは同6のいず
    れかに記載している薄膜圧電型バイモルフ素子であるこ
    とを特徴とする請求項10に記載のインクジェットヘッ
    ド。
  15. 【請求項15】 金属薄板の両面に圧電体薄膜を分極制
    御が可能な非貼付法で形成する圧電体薄膜形成ステップ
    と、 上記形成された圧電体膜に電極膜を形成する電極膜形成
    ステップと、 上記形成された圧電体薄膜及び電極膜を所定の形状にパ
    ターニングしてパターニングされた薄膜圧電型バイモル
    フ素子を形成するパターニングステップとを有している
    ことを特徴とする薄膜圧電型バイモルフ素子の製造方
    法。
  16. 【請求項16】 金属薄板の両面に、その表裏で分極方
    向が互いに反転した、そして、組成の異なる複数の層あ
    るいは組成が連続的に異なる層から構成される圧電体薄
    膜を分極制御が可能な非貼り付け法で形成する圧電体薄
    膜形成ステップと、 上記形成された両面の圧電体薄膜上に各々電極膜を形成
    する電極膜形成ステップとを有していることを特徴とす
    る薄膜圧電型バイモルフ素子の製造方法。
  17. 【請求項17】 金属薄板の一方の面に第1圧電体薄膜
    を分極制御が可能な非貼り付け法で形成する第1圧電体
    薄膜形成ステップと、 上記金属薄板の他方の面に、上記第1圧電体薄膜形成時
    よりも低い基板温度のもとで形成温度を制御することに
    より、第1の圧電体薄膜と分極方向が同じ第2の圧電体
    薄膜を分極制御が可能な非貼り付け法で形成する第2圧
    電体薄膜形成ステップと、 上記形成された第1圧電体薄膜及び第2圧電体薄膜上に
    各々電極膜を形成する電極膜形成ステップとを有してい
    ることを特徴とする薄膜圧電型バイモルフ素子の製造方
    法。
  18. 【請求項18】 前記第1圧電体薄膜形成ステップ及び
    前記第2圧電体形成ステップは、 組成の異なる複数の層あるいは組成が連続的に異なる層
    から構成される圧電体薄膜を形成する膜層変化形圧電体
    薄膜形成ステップであることを特徴とする請求項17記
    載の薄膜圧電型バイモルフ素子の製造方法。
  19. 【請求項19】 前記圧電体薄膜形成ステップ、第1圧
    電体薄膜形成ステップ及び第2圧電体形成ステップによ
    る金属薄板への圧電体薄膜の形成に先立って、 上記金属薄板の両面にその内部物質が圧電体部に拡散す
    るのを防止するための安定した金属の薄膜を形成する安
    定金属薄膜形成ステップを有していることを特徴とする
    請求項15、請求項16、請求項17若しくは請求項1
    8記載の薄膜圧電型バイモルフ素子の製造方法。
  20. 【請求項20】 金属薄板若しくは拡散防止用金属層の
    形成された金属薄板の両面に分極制御が可能な非貼り付
    け法により圧電体薄膜を形成する圧電体薄膜形成ステッ
    プと、 形成された圧電体薄膜上に電極膜を形成する電極膜形成
    ステップと、 形成された圧電体薄膜と電極膜とを所定の形状にパター
    ニングするパターニングステップと、 前記パターニングステップ終了後、上記金属薄板を加工
    してn(nは2以上の整数)個1組の薄膜圧電型バイモ
    ルフ素子からなる圧電効果型検出部を少くも1組形成す
    るn個組圧電効果型検出部形成ステップと、 上記形成された圧電効果型検出部の形成された金属薄板
    に、各薄膜圧電型バイモルフ素子が相互に影響しないよ
    う所定の切断線を入れる部分切断ステップと、 前記部分切断ステップにて各1個の薄膜圧電型バイモル
    フ素子が形成された半切断金属薄板各部を相互に所定の
    角度で交わる方向に折り曲げてn次元構造を作成する3
    次元構造作成ステップを有していることを特徴とする薄
    膜圧電型バイモルフ素子を使用した3次元用力学量検出
    器の製造方法。
  21. 【請求項21】 金属薄板若しくは拡散防止用金属層の
    形成された金属薄板の両面に分極制御が可能な非貼り付
    け法により圧電体薄膜を形成する圧電体薄膜形成ステッ
    プと、 形成された圧電体薄膜上に電極膜を形成する電極膜形成
    ステップと、 形成された圧電体薄膜と電極膜とを所定の形状にパター
    ニングするパターニングステップと、 前記パターニングステップ終了後、上記金属薄板を加工
    して固有振動数の異なる、そして少くも2つの薄膜圧電
    型バイモルフ素子を有する圧電効果型検出部を形成する
    周波数検出用圧電効果型検出部形成ステップと、 上記少なくも2個の圧電横効果部の形成された金属薄板
    に、各圧電効果部が相互に影響しないよう所定の切断線
    を入れる部分切断ステップとを有していることを特徴と
    する薄膜圧電型バイモルフ素子を使用した周波数解析器
    の製造方法。
  22. 【請求項22】 金属薄板若しくは拡散防止用金属層の
    形成された共通の成膜基板としての金属薄板の両面に分
    極制御が可能な非貼り付け法により圧電体薄膜を形成す
    る圧電体薄膜形成ステップと、 形成された圧電体薄膜上に電極膜を形成する電極膜形成
    ステップと、 形成された圧電体薄膜と電極膜とを、インクジェットヘ
    ッド上のインクジェットヘッド素子の配列に対応してア
    クチュエータを形成するためパターニングするアクチュ
    エータ形成用パターニングステップと、 上記多数のアクチュエータの形成された金属薄板をイン
    ク流路構造体に接着する接着ステップを有していること
    を特徴とする薄膜圧電型バイモルフ素子を使用したイン
    クジェットヘッドの製造方法。
JP11142058A 1999-05-21 1999-05-21 薄膜圧電型バイモルフ素子及びその応用 Pending JP2000332313A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11142058A JP2000332313A (ja) 1999-05-21 1999-05-21 薄膜圧電型バイモルフ素子及びその応用
KR1020000026866A KR100683325B1 (ko) 1999-05-21 2000-05-19 박막 압전형 바이머프 소자와 이를 이용한 역학량 검출기,잉크젯 헤드 및 이들의 제조방법
EP00110740A EP1054459B1 (en) 1999-05-21 2000-05-19 Thin-film piezoelectric bimorph element, mechanical detector and inkjet head using the same, and methods of manufacturing the same
DE60000948T DE60000948T2 (de) 1999-05-21 2000-05-19 Dünnschichtiges piezoelektrisches bilaminares Element, diese benutzender mechanischer Detektor und Tintenstrahldruckkopf und Herstellungsverfahren dafür
US10/116,096 US7024738B2 (en) 1999-05-21 2002-04-04 Method for controlling a direction of polarization of a piezoelectric thin film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11142058A JP2000332313A (ja) 1999-05-21 1999-05-21 薄膜圧電型バイモルフ素子及びその応用

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000332313A true JP2000332313A (ja) 2000-11-30

Family

ID=15306448

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11142058A Pending JP2000332313A (ja) 1999-05-21 1999-05-21 薄膜圧電型バイモルフ素子及びその応用

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7024738B2 (ja)
EP (1) EP1054459B1 (ja)
JP (1) JP2000332313A (ja)
KR (1) KR100683325B1 (ja)
DE (1) DE60000948T2 (ja)

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003060251A (ja) * 2001-08-09 2003-02-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 強誘電体アクチュエータ素子およびその製造方法
US6803703B2 (en) 2002-03-18 2004-10-12 Seiko Epson Corporation Piezoelectric actuator, liquid jetting head incorporating the same, and method of manufacturing the actuator and head
JP2005039178A (ja) * 2003-06-30 2005-02-10 Kyocera Corp 圧電アクチュエータおよびその製造方法、並びに液体吐出装置
US6918659B2 (en) 2002-03-18 2005-07-19 Seiko Epson Corporation Piezoelectric element, piezoelectric actuator and liquid ejection head incorporating the same
US6949869B2 (en) 2002-03-18 2005-09-27 Seiko Epson Corporation Piezoelectric actuator, liquid jetting head incorporating the same, piezoelectric element, and method of manufacturing the same
JP2005295786A (ja) * 2004-03-11 2005-10-20 Seiko Epson Corp アクチュエータ装置の製造方法及び液体噴射装置
US6997547B2 (en) 2002-03-18 2006-02-14 Seiko Epson Corporation Piezoelectric element, piezoelectric actuator and liquid jetting head incorporating the same
US7152290B2 (en) 2002-03-18 2006-12-26 Seiko Epson Corporation Methods of manufacturing a piezoelectric actuator and a liquid jetting head
JP2007036612A (ja) * 2005-07-26 2007-02-08 Tdk Corp 圧電薄膜振動子およびその製造方法、並びにそれを用いた駆動装置および圧電モータ
JP2007173400A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Fujifilm Corp 圧電アクチュエータの製造方法、液体吐出ヘッドの製造方法及び圧電アクチュエータ、液体吐出ヘッド並びに画像形成装置
JPWO2005067346A1 (ja) * 2003-12-26 2007-07-26 日本電気株式会社 圧電アクチュエータ
US7265481B2 (en) 2002-03-18 2007-09-04 Seiko Epson Corporation Piezoelectric actuator and fluid ejection head having the same
JP2011232200A (ja) * 2010-04-28 2011-11-17 Panasonic Corp 角速度センサ素子およびその製造方法
JP2012235687A (ja) * 2007-10-16 2012-11-29 Murata Mfg Co Ltd 圧電ポンプおよび振動装置
JP2016040985A (ja) * 2014-08-13 2016-03-24 セイコーエプソン株式会社 圧電駆動装置及びその駆動方法、ロボット及びその駆動方法
WO2017002341A1 (ja) * 2015-07-02 2017-01-05 富士フイルム株式会社 積層薄膜構造体の製造方法、積層薄膜構造体及びそれを備えた圧電素子

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW546477B (en) * 2001-08-09 2003-08-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Drop impact determination system and acceleration sensing element used in the drop impact determination system
WO2003049209A1 (en) * 2001-11-21 2003-06-12 Apogent Robotics Limited Actuator structure
KR100478228B1 (ko) * 2002-06-12 2005-03-23 재단법인서울대학교산학협력재단 분극 방향이 서로 반대인 압전-압전 세라믹 액츄에이터
WO2004023572A1 (en) * 2002-08-30 2004-03-18 Usc Corporation Piezoelectric generator
EP1566728B1 (en) * 2002-10-30 2018-05-23 Thomson Licensing Input device and process for manufacturing the same, portable electronic apparatus comprising input device
JP3867664B2 (ja) * 2002-12-12 2007-01-10 ソニー株式会社 入力装置、携帯型情報処理装置、リモートコントロール装置、および入力装置における圧電アクチュエータ駆動制御方法
US7089635B2 (en) * 2003-02-25 2006-08-15 Palo Alto Research Center, Incorporated Methods to make piezoelectric ceramic thick film arrays and elements
US6964201B2 (en) * 2003-02-25 2005-11-15 Palo Alto Research Center Incorporated Large dimension, flexible piezoelectric ceramic tapes
US6895645B2 (en) * 2003-02-25 2005-05-24 Palo Alto Research Center Incorporated Methods to make bimorph MEMS devices
JP4058018B2 (ja) * 2003-12-16 2008-03-05 松下電器産業株式会社 圧電素子及びその製造方法、並びにその圧電素子を備えたインクジェットヘッド、インクジェット式記録装置及び角速度センサ
CN100402293C (zh) * 2004-07-13 2008-07-16 兄弟工业株式会社 压电致动器和喷墨头以及其制造方法
US7419252B2 (en) * 2004-07-13 2008-09-02 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Ink jet head, piezo-electric actuator, and method of manufacturing them
EP1616700A1 (en) * 2004-07-13 2006-01-18 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Piezoelectric actuator, ink jet head, and method of manufacturing them
US7239064B1 (en) 2004-10-15 2007-07-03 Morgan Research Corporation Resettable latching MEMS temperature sensor apparatus and method
WO2006097522A1 (en) * 2005-03-18 2006-09-21 Bae Systems Plc An actuator
US20070041273A1 (en) * 2005-06-21 2007-02-22 Shertukde Hemchandra M Acoustic sensor
DE602007001155D1 (de) * 2006-03-17 2009-07-09 Delphi Tech Inc Piezoelektrischer Aktor
DE602007003553D1 (de) * 2007-01-30 2010-01-14 Delphi Tech Inc Herstellungsverfahren für einen piezoelektrischen Aktor
KR101187465B1 (ko) 2011-01-31 2012-10-02 한국산업기술대학교산학협력단 다층 졸겔층을 갖는 압전 세라믹 소자
RU2472253C1 (ru) * 2011-08-17 2013-01-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тверской государственный университет" Пьезоэлектрический прибор и способ его изготовления
US8957566B2 (en) * 2011-10-03 2015-02-17 Seiko Epson Corporation Power generation unit, electronic apparatus, transportation device, battery, and method of controlling power generation unit
DE102013200242A1 (de) * 2013-01-10 2014-07-10 Robert Bosch Gmbh Piezoelektrisches Bauteil und Verfahren zur Herstellung eines piezoelektrischen Bauteils
DE102013200243A1 (de) * 2013-01-10 2014-07-10 Robert Bosch Gmbh Piezoelektrisches Bauteil und Verfahren zur Herstellung eines piezoelektrischen Bauteils
KR101531114B1 (ko) * 2013-12-26 2015-06-23 삼성전기주식회사 압전 액추에이터 모듈, 압전 액추에이터 모듈의 제조방법 및 압전 액추에이터 모듈을 포함하는 mems 센서
KR101616784B1 (ko) * 2014-08-21 2016-04-29 한양대학교 산학협력단 전력모듈 제어시스템
KR101705078B1 (ko) * 2015-02-09 2017-02-10 도레이첨단소재 주식회사 양면 금속적층 필름의 제조방법 및 그로부터 제조되는 양면 금속적층 필름
DE102016206566A1 (de) * 2016-04-19 2017-10-19 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauteil und Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil
US10622543B2 (en) 2017-01-11 2020-04-14 The Boeing Company Piezoelectric bimorph disk outer boundary design and method for performance optimization
US20190198748A1 (en) * 2017-12-26 2019-06-27 Santosh Kumar BEHERA Self-sensing bending actuator
US10777730B2 (en) * 2017-12-26 2020-09-15 Santosh Kumar BEHERA Scalable piezoelectric linear actuator
US11701619B2 (en) * 2018-10-12 2023-07-18 MIS IP Holdings, LLC Diagnostic methods and apparatus for electrodialysis
DE102020107028B4 (de) 2020-03-13 2022-12-29 Technische Universität Chemnitz Piezoelektrische Vorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
DE102020002351A1 (de) * 2020-04-19 2021-10-21 Exel Industries Sa Druckkopf mit mikropneumatischer Steuereinheit
CN116418251A (zh) * 2021-12-31 2023-07-11 华为技术有限公司 致动器、驱动装置、摄像模组以及电子设备

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3457463A (en) 1965-07-07 1969-07-22 Lewis Balamuth Method and apparatus for generating electric currents of small magnitude
JPS58151077A (ja) 1982-03-03 1983-09-08 Seiko Epson Corp 圧電効果装置
JPS5919383A (ja) 1982-07-23 1984-01-31 Omron Tateisi Electronics Co 圧電バイモルフ
JPS59175777A (ja) 1983-03-25 1984-10-04 Sumitomo Special Metals Co Ltd バイモルフ振動子の駆動方法
JPS60178677A (ja) 1984-02-24 1985-09-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 屈曲形圧電アクチユエ−タ
DE3751183T2 (de) * 1986-09-29 1995-11-16 Mitsubishi Chem Corp Piezoelektrischer Antrieb.
US4985926A (en) * 1988-02-29 1991-01-15 Motorola, Inc. High impedance piezoelectric transducer
US5404067A (en) * 1990-08-10 1995-04-04 Siemens Aktiengesellschaft Bonded piezoelectric bending transducer and process for producing the same
JP2741629B2 (ja) * 1990-10-09 1998-04-22 キヤノン株式会社 カンチレバー型プローブ、それを用いた走査型トンネル顕微鏡及び情報処理装置
JP3185226B2 (ja) * 1991-01-30 2001-07-09 株式会社村田製作所 圧電バイモルフ素子の駆動方法及び圧電バイモルフ素子
JP2836269B2 (ja) * 1991-03-07 1998-12-14 三菱マテリアル株式会社 光学スイッチ
JP3093849B2 (ja) * 1991-08-09 2000-10-03 呉羽化学工業株式会社 可撓性積層圧電素子
JPH05286132A (ja) * 1992-04-16 1993-11-02 Rohm Co Ltd インクジェットプリントヘッドの製造方法及びインクジェットプリントヘッド
JPH06218917A (ja) 1993-01-22 1994-08-09 Sharp Corp インクジェットヘッド
JPH07142781A (ja) * 1993-06-21 1995-06-02 Sumitomo Metal Ind Ltd 圧電バイモルフ素子
US5666141A (en) * 1993-07-13 1997-09-09 Sharp Kabushiki Kaisha Ink jet head and a method of manufacturing thereof
JP3490483B2 (ja) * 1993-10-08 2004-01-26 アネルバ株式会社 Pzt薄膜の作製方法
JP3114538B2 (ja) 1994-12-12 2000-12-04 株式会社村田製作所 圧電体素子及びその製造方法
US5914556A (en) 1994-09-09 1999-06-22 Murata Manufacturing Co., Ltd. Piezoelectric element and method of manufacturing the same
JP3405618B2 (ja) 1995-04-11 2003-05-12 松下電器産業株式会社 バイモルフ圧電アクチュエータ
JP3428773B2 (ja) * 1995-04-21 2003-07-22 松下電器産業株式会社 バイモルフ圧電素子とその製造方法
JPH08293631A (ja) 1995-04-24 1996-11-05 Tokin Corp 圧電バイモルフ
JP3890634B2 (ja) * 1995-09-19 2007-03-07 セイコーエプソン株式会社 圧電体薄膜素子及びインクジェット式記録ヘッド
JPH111387A (ja) * 1997-06-12 1999-01-06 Toshio Fukuda Pzt薄膜バイモルフ構造体、pzt薄膜バイモルフ形の平行平板構造体、及びその製造方法
US6169355B1 (en) 1998-07-22 2001-01-02 Eastman Kodak Company Piezoelectric actuating element for an ink jet head and the like

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003060251A (ja) * 2001-08-09 2003-02-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 強誘電体アクチュエータ素子およびその製造方法
US7265481B2 (en) 2002-03-18 2007-09-04 Seiko Epson Corporation Piezoelectric actuator and fluid ejection head having the same
US6803703B2 (en) 2002-03-18 2004-10-12 Seiko Epson Corporation Piezoelectric actuator, liquid jetting head incorporating the same, and method of manufacturing the actuator and head
US6918659B2 (en) 2002-03-18 2005-07-19 Seiko Epson Corporation Piezoelectric element, piezoelectric actuator and liquid ejection head incorporating the same
US6949869B2 (en) 2002-03-18 2005-09-27 Seiko Epson Corporation Piezoelectric actuator, liquid jetting head incorporating the same, piezoelectric element, and method of manufacturing the same
US6997547B2 (en) 2002-03-18 2006-02-14 Seiko Epson Corporation Piezoelectric element, piezoelectric actuator and liquid jetting head incorporating the same
US7152290B2 (en) 2002-03-18 2006-12-26 Seiko Epson Corporation Methods of manufacturing a piezoelectric actuator and a liquid jetting head
JP2005039178A (ja) * 2003-06-30 2005-02-10 Kyocera Corp 圧電アクチュエータおよびその製造方法、並びに液体吐出装置
JP4593905B2 (ja) * 2003-06-30 2010-12-08 京セラ株式会社 圧電アクチュエータおよびその製造方法、並びに液体吐出装置
US7701119B2 (en) 2003-12-26 2010-04-20 Nec Corporation Piezoelectric actuator
JP4497321B2 (ja) * 2003-12-26 2010-07-07 日本電気株式会社 圧電アクチュエータ
JPWO2005067346A1 (ja) * 2003-12-26 2007-07-26 日本電気株式会社 圧電アクチュエータ
JP4737375B2 (ja) * 2004-03-11 2011-07-27 セイコーエプソン株式会社 アクチュエータ装置の製造方法及び液体噴射ヘッドの製造方法並びに液体噴射装置の製造方法
JP2005295786A (ja) * 2004-03-11 2005-10-20 Seiko Epson Corp アクチュエータ装置の製造方法及び液体噴射装置
JP2007036612A (ja) * 2005-07-26 2007-02-08 Tdk Corp 圧電薄膜振動子およびその製造方法、並びにそれを用いた駆動装置および圧電モータ
JP4696754B2 (ja) * 2005-07-26 2011-06-08 Tdk株式会社 圧電薄膜振動子およびその製造方法、並びにそれを用いた駆動装置および圧電モータ
JP2007173400A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Fujifilm Corp 圧電アクチュエータの製造方法、液体吐出ヘッドの製造方法及び圧電アクチュエータ、液体吐出ヘッド並びに画像形成装置
JP2012235687A (ja) * 2007-10-16 2012-11-29 Murata Mfg Co Ltd 圧電ポンプおよび振動装置
US9714651B2 (en) 2007-10-16 2017-07-25 Murata Manufacturing Co., Ltd. Vibrating device and piezoelectric pump
JP2011232200A (ja) * 2010-04-28 2011-11-17 Panasonic Corp 角速度センサ素子およびその製造方法
JP2016040985A (ja) * 2014-08-13 2016-03-24 セイコーエプソン株式会社 圧電駆動装置及びその駆動方法、ロボット及びその駆動方法
WO2017002341A1 (ja) * 2015-07-02 2017-01-05 富士フイルム株式会社 積層薄膜構造体の製造方法、積層薄膜構造体及びそれを備えた圧電素子
JP2017017211A (ja) * 2015-07-02 2017-01-19 富士フイルム株式会社 積層薄膜構造体の製造方法、積層薄膜構造体及びそれを備えた圧電素子
US10020443B2 (en) 2015-07-02 2018-07-10 Fujifilm Corporation Method of producing laminated thin film structure, laminated thin film structure, and piezoelectric element including same
DE112016002558B4 (de) 2015-07-02 2018-09-20 Fujifilm Corporation Verfahren zum Produzieren einer laminierten dünnen Filmstruktur, eine laminierte dünne Filmstruktur und ein piezoelektrisches Element, das dieselbe aufweist

Also Published As

Publication number Publication date
US20020149296A1 (en) 2002-10-17
KR20010007085A (ko) 2001-01-26
US7024738B2 (en) 2006-04-11
KR100683325B1 (ko) 2007-02-15
DE60000948T2 (de) 2003-07-17
DE60000948D1 (de) 2003-01-23
EP1054459B1 (en) 2002-12-11
EP1054459A1 (en) 2000-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000332313A (ja) 薄膜圧電型バイモルフ素子及びその応用
US8033654B2 (en) Piezoelectric element, ink jet head and producing method for piezoelectric element
JP4058018B2 (ja) 圧電素子及びその製造方法、並びにその圧電素子を備えたインクジェットヘッド、インクジェット式記録装置及び角速度センサ
EP2579348B1 (en) Piezoelectric device, method of manufacturing piezoelectric device, and liquid ejection head
JP4717344B2 (ja) 誘電体薄膜素子、圧電アクチュエータおよび液体吐出ヘッド
US5940947A (en) Method of making a piezoelectric/electrostrictive film element with a diaphragm having at least one stress releasing end section
US7768178B2 (en) Piezoelectric device, piezoelectric actuator, and liquid discharge device having piezoelectric films
KR100672883B1 (ko) 압전 소자
JP5311775B2 (ja) 圧電体素子、インクジェットヘッド及び圧電体素子の製造方法
KR20030085538A (ko) 압전소자, 잉크젯헤드, 각속도센서 및 이들의 제조방법,그리고 잉크젯방식 기록장치
JP2002009358A (ja) 圧電素子構造および液体噴射記録ヘッドとその製造方法
JP2005175099A5 (ja)
JP2015530728A (ja) 圧電素子、圧電アクチュエータ、ハードディスクドライブ、インクジェットプリンタ装置、および圧電センサ
CN108349249B (zh) 喷墨头及其制造方法、以及喷墨记录装置
JP2015529963A (ja) 圧電素子、圧電アクチュエータ、ハードディスクドライブ、インクジェットプリンタ装置、及び圧電センサ
JP2001077438A (ja) 圧電素子、インクジェット式記録ヘッド、およびこれらの製造方法
CN104185555A (zh) 压电致动器、喷墨头以及压电致动器的制造方法
EP3144987B1 (en) Ferroelectric thin film, substrate with piezoelectric thin film, piezoelectric actuator, inkjet head, and inkjet printer
JP5729065B2 (ja) 薄膜圧電体デバイス
JP2007088445A (ja) 圧電体、圧電素子、液体吐出ヘッド、液体吐出装置及び圧電体の製造方法
JP2005167820A (ja) 超音波センサ素子及び超音波アレイセンサ装置の共振周波数の調整方法及び調整装置
US10790434B2 (en) Piezoelectric thin film-stacked body, piezoelectric thin film substrate, piezoelectric thin film device, piezoelectric actuator, piezoelectric sensor, head assembly, head stack assembly, hard disk drive, printer head, and ink-jet printer device
JP2006196547A (ja) 圧電素子の製造方法及び液体噴射ヘッドの製造方法
JPH1178004A (ja) インクジェット式記録ヘッド及びその製造方法
JPS6038163A (ja) インクジエツトヘツド