JP2000174202A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

半導体装置およびその製造方法

Info

Publication number
JP2000174202A
JP2000174202A JP10349597A JP34959798A JP2000174202A JP 2000174202 A JP2000174202 A JP 2000174202A JP 10349597 A JP10349597 A JP 10349597A JP 34959798 A JP34959798 A JP 34959798A JP 2000174202 A JP2000174202 A JP 2000174202A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shunt resistor
semiconductor device
power semiconductor
resistor
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10349597A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3548024B2 (ja
Inventor
Manabu Watanabe
学 渡辺
Yoshinori Oda
佳典 小田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP34959798A priority Critical patent/JP3548024B2/ja
Priority to US09/447,806 priority patent/US6262902B1/en
Priority to DE69942796T priority patent/DE69942796D1/de
Priority to EP99309398A priority patent/EP1009030B1/en
Priority to EP08167294A priority patent/EP2012357B1/en
Priority to DE69942812T priority patent/DE69942812D1/de
Priority to DE69942813T priority patent/DE69942813D1/de
Priority to EP08167298A priority patent/EP2015361B1/en
Publication of JP2000174202A publication Critical patent/JP2000174202A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3548024B2 publication Critical patent/JP3548024B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6644Packaging aspects of high-frequency amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Power Conversion In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 設置スペースを必要とすることなく出力電流
を検出でき、配線用のスペースおよび組み立て工数の低
減を可能にすることを目的とする。 【解決手段】 パワー素子からなるインバータ11とこ
れを駆動するプリドライバ12と保護回路13とを搭載
して同一パッケージに組み込んだインテリジェント・パ
ワー・モジュール(IPM)3において、インバータ1
1の出力にシャント抵抗31を設け、このシャント抵抗
31の両端電圧を外部装置に取り出すことができるよう
に構成した。これにより、IPM3を組み込んだインバ
ータ装置の出力電流を大きな設置スペースを必要とする
カレントトランスを用いることなく検出することができ
る。また、IPM3のモジュール端子とインバータ装置
の端子台とを一体化し、モジュール端子と端子台とを接
続するために線材および接続用取り付けねじを不要とし
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置に関し、
特に汎用インバータ装置、数値制御工作機械、エアコン
などの電力変換装置に内蔵される半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、モータの可変速装置などに適用
されるインバータ装置には、電力変換を行うパワー素
子、このパワー素子を制御駆動するドライブ回路、保護
回路、およびこれらを統括制御する制御回路から構成さ
れている。最近では、これらの構成のうち、直流を交流
に変換するパワー素子、ドライブ回路および保護回路を
一つのパッケージに内蔵したインテリジェント・パワー
・モジュール(以下、IPMという)と呼ばれる半導体
装置が製品化されている。このIPMを使用したインバ
ータの例を以下に示す。
【0003】図10は従来のインバータ装置の回路構成
を示すブロック図である。インバータ装置は、二相また
は三相の交流電源に接続され、交流を直流に変換するコ
ンバータ1と、平滑用の電解コンデンサ2と、IPM3
と、バッファ4、コントローラ5およびメモリを含む中
央処理装置(CPU・ROM)6からなる制御回路と、
スイッチングトランジスタ7、トランス8,9およびス
イッチングレギュレータ10からなるIPM3および制
御回路用の電源回路と、IPM3の出力とモータMとの
間に設置されたカレントトランスCTとから構成されて
いる。
【0004】IPM3は、パワー素子から構成されて出
力がモータMに接続される三相のインバータ11と、こ
のインバータ11を制御駆動するプリドライバ12と、
保護回路13と、過電流検出用のセンサ14と、過熱検
出用のセンサ15と、モータMの減速制御時に用いられ
るブレーキ用パワー素子16および抵抗17と、ブレー
キ用パワー素子16を制御駆動するプリドライバ18と
によって一体に構成されている。
【0005】制御回路からIPM3に対する制御信号
は、バッファ4からフォトカプラを介してプリドライバ
12,18に供給され、センサ14,15による過電流
状態または過熱状態が検出されたときのアラーム信号
は、保護回路13からフォトカプラを介してバッファ4
に供給される。また、カレントトランスCTの出力はコ
ントローラ5に接続されている。
【0006】このカレントトランスCTは、IPM3か
らモータMへ流れる出力電流を検出してコントローラ5
に帰還させることにより各種制御を行うもので、三つの
貫通孔が設けられており、そこにインバータ11の出力
電流ラインであるワイヤまたはバーを挿通した状態でイ
ンバータ装置内に設けられている。
【0007】このような構成のインバータ装置におい
て、コンバータ1により変換された直流電圧は、インバ
ータ11によってモータMに供給する交流電圧に変換さ
れる。インバータ11は、たとえばIGBT(Insulate
d Gate Bipolar Transistor)とダイオードとによりブ
リッジが組まれ、そのIGBTで直流電圧をチョッピン
グ制御することにより、最終的にモータに流す電流を交
流にする。その交流の周波数を変えることで、モータの
回転速度を可変にすることができる。
【0008】また、カレントトランスCTによって検出
されたインバータ出力電流は、コントローラ5に入力さ
れ、このコントローラ5は、出力電流の波形に歪みが発
生しないように制御したり、所定の出力電流値以上にな
らないように制御する。
【0009】図11は従来のインバータ装置の電力変換
回路の部分を示すブロック図である。電力変換回路は、
コンバータ1とインバータ11を含むIPM3との二つ
のモジュールによって構成されている。コンバータ1に
は、入出力端子として、丸印で示したモジュール端子2
1〜25が設けられ、IPM3には、モジュール端子2
6〜30が設けられている。また、コンバータ1および
IPM3を含むインバータ装置の入出力端子として、大
きな黒丸で示した端子台R,S,T,P1,P2,N,
U,V,Wが設けられている。
【0010】コンバータ1およびIPM3のモジュール
端子21〜30は、それぞれ対応する端子台に接続され
ているが、これらの接続は、たとえば銅バーをねじ止め
することによって実施している。また、コンバータ1お
よびインバータ11を接続する部分、すなわち、端子台
P1と端子台P2との間、およびモジュール端子25と
モジュール端子27との間においても、銅バーをねじ止
めすることによって接続を行っている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
インバータ装置では、出力電流を監視するために装置内
に内蔵しているカレントトランスは、他の構成要素と比
べて比較的大きいため、大きな設置スペースを必要と
し、小型化の妨げになっている。また、出力電流ライン
のワイヤまたはバーを挿通させる構成になっているの
で、組み立て工数が複雑であるという問題点があった。
【0012】また、モジュール端子と端子台との間の接
続は、銅バーなどの線材をねじ止めすることによって行
っているため、接続用取り付けねじが多く、配線も複雑
で多くの組立工数を必要とし、また、配線用の設置スペ
ースの確保も必要となるため、省スペースの制約条件と
なっているという問題点があった。
【0013】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、組み込まれる装置の省スペース化を可能と
し、また、配線用のスペースおよび組み立て工数の低減
が可能な半導体装置を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明では上記問題を解
決するために、パワー半導体とドライブ回路と保護回路
とを同一パッケージに組み込んだ半導体装置において、
前記パワー半導体の出力ラインに直列に設けられた出力
電流検出用のシャント抵抗と、前記シャント抵抗の両端
から配線パターンにより引き出されて外部装置と接続可
能とすることができる制御ピンと、を備えていることを
特徴とする半導体装置が提供される。
【0015】このような半導体装置によれば、この半導
体装置の出力電流をシャント抵抗の両端電圧として制御
ピンより外部装置に取り出すことができる。これによ
り、出力電流を検出するために、大きな設置スペースを
必要とするカレントトランスを別途設ける必要がなく、
この半導体装置が組み込まれる装置の省スペース化が図
れる。
【0016】また、本発明によれば、パワー半導体とド
ライブ回路と保護回路とを同一パッケージに組み込んだ
半導体装置において、前記パワー半導体の主回路に接続
されるモジュール端子の少なくとも一部は、この半導体
装置が組み込まれる装置の端子台として構成されている
ことを特徴とする半導体装置が提供される。
【0017】このような半導体装置によれば、この半導
体装置のモジュール端子とこの半導体装置が組み込まれ
る装置の端子台とが一体化され、モジュール端子と端子
台とを接続するために線材および接続用取り付けねじが
不要となり、配線用のスペースおよび組み立て工数を低
減することができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、I
PMに適用した場合を例に図面を参照して詳細に説明す
る。
【0019】図1は本発明を適用したIPMを含むイン
バータ装置の回路構成を示すブロック図である。この図
1に示したインバータ装置は、図10に示した従来のイ
ンバータ装置とほぼ同じ構成および作用を有しており、
したがって、従来のインバータ装置を構成する構成要素
と同じ構成要素については同じ符号を付して、その詳細
は省略する。従来のインバータ装置との相違点は、シャ
ント抵抗31がIPM3の出力ラインに直列に挿入され
た状態でIPM3に内蔵されていることと、このシャン
ト抵抗31の端子電圧をコントローラ5に帰還させるた
めの絶縁アンプ32あるいは絶縁アンプに代わる高耐圧
ICが設けられていることである。
【0020】このシャント抵抗31は、その両端をパタ
ーンを介してIPM3の制御ピンまで配線されており、
コントローラ5には出力電流を電圧値として与えること
ができ、モータMに流れる出力電流をカレントトランス
と同じように監視することができる。シャント抵抗31
をIPM3に内蔵することにより、インバータとして
は、カレントトランスを省略することができ、設置スペ
ースや配線工数を削減することができ、小型化すること
が可能になる。また、シャント抵抗31の放熱が効率的
に行うことができるようになる。
【0021】次に、この出力電流検出用のシャント抵抗
31の構成について説明する。図2はシャント抵抗近傍
のIPMの一構成例を示す図である。シャント抵抗31
は、絶縁層33と、接着層34と、抵抗体35とから構
成されている。このシャント抵抗31は、絶縁基板36
の上に、IPM3を構成する機能素子、すなわちインバ
ータ11のパワー素子と一緒に搭載される。プリドライ
バ12,18、保護回路などの放熱の必要のない素子
は、絶縁基板36とは別のプリント基板などに搭載され
る。絶縁基板36としては、金属絶縁基板を用いること
ができるが、ここでは、セラミック基板の表面に銅の回
路パターンが形成されたものを用いており、そこにシャ
ント抵抗31が半田37によって接合されている。この
絶縁基板36は、銅ベース38に半田39によって接合
されている。
【0022】シャント抵抗31をIPM3の絶縁基板3
6の上に半田付けし、シャント抵抗31にて発生した熱
を絶縁基板36と銅ベース38を介して放熱する。シャ
ント抵抗31をIPM3に内蔵することで放熱性が良く
なり、たとえば50アンペア以上の大電流を出力するこ
とができるIPM3に適用することが可能になる。
【0023】次に、IPMに適用することができるシャ
ント抵抗の別の構成例について説明する。図3はシャン
ト抵抗近傍のIPMの別の構成例を示す図である。この
構成例によれば、銅ベース38上に半田39を介して接
合された絶縁基板36の上に、抵抗体35を直接蒸着す
ることによってシャント抵抗31を構成している。この
ように、絶縁基板36の上に直接シャント抵抗31を形
成することで、抵抗体35と銅ベース38との間の熱抵
抗が低減され、放熱性が向上する。これにより、シャン
ト抵抗31の温度上昇を抑えることができ、インバータ
の許容負荷能力を上げることができる。
【0024】なお、この例では、抵抗体35を絶縁基板
36に蒸着により形成したが、抵抗体35を絶縁基板3
6に圧接、接着、ろう付け、活性金属法などにより接合
するようにしてもよい。
【0025】以上のようにして、シャント抵抗31を絶
縁基板36上に搭載したが、これが搭載されるIPM3
は、適用するインバータの仕様に応じて、出力電流の異
なるものが製造される。したがって、IPM3の定格出
力電流に応じて、シャント抵抗31の抵抗値を変える必
要がある。このため、抵抗値の異なるシャント抵抗を複
数用意し、必要に応じて最適な抵抗値を有するシャント
抵抗を用いればよい。しかし、この場合、抵抗値の種類
が多いため、シャント抵抗の取り扱い、在庫管理などが
非常にわずらわしくなる。そこで、本発明では、使用す
るシャント抵抗31は1種類とし、出力電流ラインとの
間で接続されるワイヤのボンディング位置を変えること
によって抵抗値を調整するようにした。その詳細を以下
に説明する。
【0026】図4はシャント抵抗の平面図であって、
(A)はボンディング位置を均等配置した状態を示し、
(B)は等電位線を示している。シャント抵抗31は、
(A)に示したように、抵抗体35と、その両側に配置
された導電性のボンディング領域41,42と、抵抗体
35の両側の一部と接続された導電性のセンス端子4
3,44とから構成される。ここで、ボンディング領域
41は、インバータ11の電流出力ラインである絶縁基
板36上の回路パターン45にボンディングワイヤ46
によって接続される領域であり、ボンディング領域42
は、このIPM3の出力に通じる電流出力ラインである
絶縁基板36上の回路パターン47にボンディングワイ
ヤ48によって接続される領域である。ボンディング領
域41では、この中に一例として五つのボンディング位
置49が均等に配置され、ボンディング領域42の中に
も五つのボンディング位置50が均等に配置されてい
る。センス端子43,44も、図示はしないが、絶縁基
板36上の回路パターンに接続され、この回路パターン
は外部装置、ここでは絶縁アンプ32を介してコントロ
ーラ5へ接続するためのこのIPM3の制御ピンに通じ
ている。
【0027】以上のように、ボンディングワイヤ46,
48がボンディング領域41,42に均等にボンディン
グされている場合、電流密度および電流経路も抵抗体3
5全面にわたって均等に分布され、抵抗体35における
等電位線は、(B)に示したように、平行に分布してい
る。
【0028】ここで、一例として、このシャント抵抗3
1にたとえば100アンペアの電流を流した場合、セン
ス端子43,44間の電圧は250ミリボルトであっ
た。これは、センス端子43,44間から見た抵抗体3
5の抵抗値が2.5ミリオームであることを示してい
る。
【0029】図5はシャント抵抗の平面図であって、
(A)はボンディング位置をセンス端子の反対側に偏倚
配置した状態を示し、(B)は等電位線を示している。
今度は、ボンディング領域41,42において、ボンデ
ィングワイヤ46,48のボンディング位置49,50
をセンス端子43,44から離れた位置に密着配置し
た。この場合、電流密度および電流経路は、ボンディン
グ位置49とボンディング位置50との間に集中して分
布され、この間から離れた領域ほど電流密度は低くな
る。したがって、抵抗体35における等電位線は、
(B)に示したように、ボンディング位置間のみ平行に
分布し、センス端子43,44の側では等電位線の間隔
が広くなっている。
【0030】このとき、このシャント抵抗31に100
アンペアの電流を流した場合のセンス端子43,44に
延びている等電位線間の電位差は181ミリボルトであ
った。これは、センス端子43,44間から見た抵抗体
35の抵抗値が1.81ミリオームであることを示し、
等間隔ボンディングの場合よりも低くなっている。
【0031】図6はシャント抵抗の平面図であって、
(A)はボンディング位置をセンス端子の側に偏倚配置
した状態を示し、(B)は等電位線を示している。ボン
ディングワイヤ46,48のボンディング位置49,5
0がボンディング領域41,42のセンス端子43,4
4の近くに密着配置されている場合、電流密度および電
流経路は、ボンディング位置49とボンディング位置5
0との間に集中して分布され、このときの抵抗体35に
おける等電位線は、(B)に示したように分布してい
る。
【0032】このとき、このシャント抵抗31に100
アンペアの電流を流した場合のセンス端子43,44に
おける等電位線間の電位差は290ミリボルトであっ
た。これは、センス端子43,44間から見た抵抗体3
5の抵抗値が2.9ミリオームであることを示し、ボン
ディング位置がセンス端子43,44に近くなるほど、
抵抗値の上昇する傾向があることが分かる。
【0033】このように、ワイヤの位置を変えることに
よってシャント抵抗31の抵抗値が変わる特性を利用す
ることにより、一種類のシャント抵抗で抵抗値の異なる
ものを実現することができ、インバータの仕様に合わせ
て各種抵抗値のシャント抵抗を用意しておく必要がな
い。
【0034】また、本インバータ装置では、IPM3の
モジュール端子とインバータ装置の端子台とを一体化し
て、配線用の銅バーおよびそれらの取り付けねじを省略
することができる構成にした。以下、この構成について
説明する。
【0035】図7はインバータ装置の電力変換回路を示
すブロック図である。電力変換回路は、コンバータ1と
IPM3との二つのモジュールによって構成されてい
る。コンバータ1は、その入出力端子としてモジュール
端子を備えているが、その中の入力端子および正極出力
端子についてはインバータ装置の交流入力用の端子台
R,S,T,P1と一体化してあり、配線用の銅バーお
よびその取り付けねじを不要にしている。なお、コンバ
ータ1のモジュール端子24,25は電解コンデンサ接
続用の端子である。
【0036】IPM3についても、入力側のモジュール
端子はインバータ装置の直流入力用の端子台P2,Nと
一体化してあり、出力側のモジュール端子も端子台U,
V,Wと一体化されている。また、IPM3のインバー
タ11を構成するIGBTの直近に、モジュール端子P
(+)1,P(+)2,N(−)1,N(−)2が設け
られている。これらのモジュール端子P(+)1,P
(+)2,N(−)1,N(−)2は、IGBTのスイ
ッチング動作時に発生するサージ電圧抑制のためのスナ
バ回路用コンデンサを接続するのに使用される。
【0037】このように、IPM3の入力側のモジュー
ル端子を端子台P2,Nと一体化したことにより、構造
的に端子台P2,NとIGBTとの間の配線が長くな
り、端子台P2,NからIGBTまでの内部配線のイン
ダクタンスL1,L2が増えてしまう傾向にある。特
に、中・大容量のインバータ装置では、配線のインダク
タンスL1,L2がIGBTのスイッチング動作時に大
きなサージ電圧を発生し、そのサージ電圧がIGBTを
破壊するといった現象が起きる。しかし、これを防ぐた
めのスナバ回路用のモジュール端子P(+)1,P
(+)2,N(−)1,N(−)2をIGBTの直近に
設けたことにより、端子台P2,NとIGBTとの間の
インダクタンスL1,L2の影響をなくすことを可能に
している。
【0038】図8はIPMの概観例を示す図であって、
(A)は平面図、(B)は正面図、(C)は端子台の部
分断面図、(D)は背面図、(E)は右側面図である。
IPM3は、銅ベース38の外周部に搭載されたフレー
ムに、このモジュール端子と一体化されたインバータ装
置の端子台P2,N,U,V,Wと、スナバ回路用のモ
ジュール端子P(+)1,P(+)2,N(−)1,N
(−)2と、外部の制御回路と接続するための制御ピン
を有するコネクタ51とを備えている。端子台P2,
N,U,V,Wは二組設けられ、一方はフレームの上
面、他方はフレームの正面に設けられている。このフレ
ームの中央部は、絶縁基板36上に形成されたIGB
T、プリドライバ12,18、保護回路13、シャント
抵抗31などが位置しており、蓋52によって封止され
ている。
【0039】この蓋52の上部には、スナバ回路用の2
個のコンデンサが配置され、それぞれモジュール端子P
(+)1,N(−)1およびP(+)2,N(−)2と
直接接続される。端子台P2は、コンバータ1の端子台
P1および電解コンデンサに接続され、端子台U,V,
Wは、モータMに接続される。
【0040】このIPM3のモジュール端子とインバー
タ装置の端子台とにおいて、共用できる部分を内部配線
53により一体化したことにより、配線用の銅バーおよ
びこれを取り付けるためのねじが不要となり、組み立て
工数の大幅な低減と設置スペースの削減に大いに寄与す
る。
【0041】また、スナバ回路用のモジュール端子P
(+)1,P(+)2,N(−)1,N(−)2を単独
に設け、IGBTの直近の回路パターンと接続するよう
にしたので、モジュール端子とインバータ装置の端子台
とを一体化したことによって端子台とIGBTとの間の
内部配線53が長くなって、その内部配線53のインダ
クタンスが増えたとしても、IGBTの直近でスナバ回
路がスイッチング時に発生するサージ電圧を直接抑制す
るよう動作するため、実質的にインダクタンスの存在は
無視することができ、サージ電圧によるIGBTの破壊
を確実に防止することができる。
【0042】図9はIPMの別の概観例を示す図であっ
て、(A)は平面図、(B)は正面図、(C)は背面
図、(D)は端子台の部分断面図、(E)は端子台近傍
の底面図、(F)は右側面図である。この例によれば、
IPM3は、このモジュール端子と一体化されたインバ
ータ装置の端子台P2,N,U,V,Wと、スナバ回路
用のモジュール端子P(+)1,P(+)2,N(−)
1,N(−)2と、外部の制御回路と接続するための制
御ピンを有するコネクタ51とを備えている。端子台P
2,N,U,V,Wは、フレームの上面に二組設けられ
ている。このフレームの中央部は、絶縁基板36上に形
成されたIGBT、プリドライバ12,18、保護回路
13、シャント抵抗31などが位置しており、蓋52に
よって封止されている。
【0043】モジュール端子P(+)1,N(−)1お
よびP(+)2,N(−)2は、蓋52の上部に配置さ
れたスナバ回路用の2個のコンデンサと直接接続され、
端子台P2は、コンバータ1の端子台P1および電解コ
ンデンサに接続され、端子台U,V,Wは、モータMに
接続される。
【0044】このIPM3においても、モジュール端子
とインバータ装置の端子台とを内部配線53により一体
化し、配線用の銅バーおよびこれを取り付けるためのね
じを不要にしている。また、スナバ回路用のモジュール
端子P(+)1,P(+)2,N(−)1,N(−)2
をIGBTの直近の回路パターンに接続した構成にした
ことにより、IGBTの直近でスナバ回路が動作し、イ
ンバータ装置の端子台とIGBTとの間の配線のインダ
クタンスによる影響を無視することが可能になる。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、出力
電流検出用のシャント抵抗を内蔵し、その両端を外部装
置と接続できるように構成した。これにより、インバー
タ装置としてはカレントトランスを削減でき、設置スペ
ースおよび配線工数を削減することができ、外部装置と
接続することにより検出電圧をもとに出力電流を制御す
ることができる。
【0046】また、シャント抵抗をパワー素子が搭載さ
れた絶縁基板上に設けることにより、放熱性を向上させ
ることができ、50アンペア以上の大電流用のインバー
タ装置に適用することができる。
【0047】また、シャント抵抗に接続するワイヤのボ
ンディング位置を変更して、抵抗値を変えるように構成
したことにより、1種類のシャント抵抗で複数の抵抗値
を実現することができる。
【0048】さらに、モジュールの端子とインバータ装
置の端子台とを一体化するように構成したことにより、
内部の配線材および取り付けねじを省略することがで
き、設置スペースおよび組み立て工数を低減することが
でき、また、スナバ回路用の端子をパワー素子直近から
引き出すように構成したことで、モジュール端子と端子
台との一体化によって長くなった配線のインダクタンス
の影響をなくすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したIPMを含むインバータ装置
の回路構成を示すブロック図である。
【図2】シャント抵抗近傍のIPMの一構成例を示す図
である。
【図3】シャント抵抗近傍のIPMの別の構成例を示す
図である。
【図4】シャント抵抗の平面図であって、(A)はボン
ディング位置を均等配置した状態を示し、(B)は等電
位線を示している。
【図5】シャント抵抗の平面図であって、(A)はボン
ディング位置をセンス端子の反対側に偏倚配置した状態
を示し、(B)は等電位線を示している。
【図6】シャント抵抗の平面図であって、(A)はボン
ディング位置をセンス端子の側に偏倚配置した状態を示
し、(B)は等電位線を示している。
【図7】インバータ装置の電力変換回路を示すブロック
図である。
【図8】IPMの概観例を示す図であって、(A)は平
面図、(B)は正面図、(C)は端子台の部分断面図、
(D)は背面図、(E)は右側面図である。
【図9】IPMの別の概観例を示す図であって、(A)
は平面図、(B)は正面図、(C)は背面図、(D)は
端子台の部分断面図、(E)は端子台近傍の底面図、
(F)は右側面図である。
【図10】従来のインバータ装置の回路構成を示すブロ
ック図である。
【図11】従来のインバータ装置の電力変換回路の部分
を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 コンバータ 2 電解コンデンサ 3 インテリジェント・パワー・モジュール(IPM) 4 バッファ 5 コントローラ 6 中央処理装置 7 スイッチングトランジスタ 8,9 トランス 10 スイッチングレギュレータ 11 インバータ 12,18 プリドライバ 13 保護回路 14,15 センサ 16 ブレーキ用パワー素子 17 抵抗 31 シャント抵抗 32 絶縁アンプ 33 絶縁層 34 接着層 35 抵抗体 36 絶縁基板 37,39 半田 38 銅ベース 41,42 ボンディング領域 43,44 センス端子 45 回路パターン 46,48 ボンディングワイヤ 47 回路パターン 49,50 ボンディング位置 51 コネクタ 52 蓋 M モータ P(+)1,P(+)2,N(−)1,N(−)2 モ
ジュール端子 R,S,T,P1,P2,N,U,V,W 端子台

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パワー半導体とドライブ回路と保護回路
    とを同一パッケージに組み込んだ半導体装置において、 前記パワー半導体の出力ラインに直列に設けられた出力
    電流検出用のシャント抵抗と、 前記シャント抵抗の両端から配線パターンにより引き出
    されて外部装置と接続可能とすることができる制御ピン
    と、 を備えていることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記シャント抵抗は、絶縁層に抵抗体を
    接合することによって構成され、前記絶縁層を前記パワ
    ー半導体が搭載される絶縁基板上に接合して放熱性を向
    上させたことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記シャント抵抗は、前記パワー半導体
    が搭載される絶縁基板上に直接抵抗体を接合して構成さ
    れることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記抵抗体の前記絶縁基板上への接合
    は、蒸着、活性金属法、圧接、接着、およびろう付けの
    いずれかによって行われることを特徴とする請求項3記
    載の半導体装置。
  5. 【請求項5】 パワー半導体とドライブ回路と保護回路
    とを同一パッケージに組み込んだ半導体装置において、 前記パワー半導体の主回路に接続されるモジュール端子
    の少なくとも一部は、この半導体装置が組み込まれる装
    置の端子台として構成されていることを特徴とする半導
    体装置。
  6. 【請求項6】 前記パワー半導体の直近から引き出され
    て前記パワー半導体のスイッチング動作によるサージ電
    圧の抑制用素子を接続するための独立した端子を備えて
    いることを特徴とする請求項5記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 前記パワー半導体の出力ラインに直列に
    出力電流検出用のシャント抵抗が設けられ、前記シャン
    ト抵抗の両端電圧が外部装置に出力されるように構成し
    たことを特徴とする請求項6記載の半導体装置。
  8. 【請求項8】 パワー半導体とドライブ回路と保護回路
    とを同一パッケージに組み込む半導体装置の製造方法に
    おいて、 前記パワー半導体の出力ラインに直列に設けられる出力
    電流検出用のシャント抵抗の抵抗値を、前記出力ライン
    とシャント抵抗とを接続するワイヤのボンディング位置
    を変えることによって所定の値にすることを特徴とする
    半導体装置の製造方法。
JP34959798A 1998-12-09 1998-12-09 半導体装置およびその製造方法 Expired - Lifetime JP3548024B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34959798A JP3548024B2 (ja) 1998-12-09 1998-12-09 半導体装置およびその製造方法
US09/447,806 US6262902B1 (en) 1998-12-09 1999-11-23 Power conversion component with integral output current shunt and its manufacturing method
EP99309398A EP1009030B1 (en) 1998-12-09 1999-11-24 Semiconductor device comprising a power element and a protect circuit
EP08167294A EP2012357B1 (en) 1998-12-09 1999-11-24 Method of manufacturing a semi conductor device
DE69942796T DE69942796D1 (de) 1998-12-09 1999-11-24 Halbleiteranordnung mit einem Leistungselement und einer Schutzschaltung
DE69942812T DE69942812D1 (de) 1998-12-09 1999-11-24 Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung
DE69942813T DE69942813D1 (de) 1998-12-09 1999-11-24 Halbleitervorrichtung
EP08167298A EP2015361B1 (en) 1998-12-09 1999-11-24 Semi conductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34959798A JP3548024B2 (ja) 1998-12-09 1998-12-09 半導体装置およびその製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003374457A Division JP3747931B2 (ja) 2003-11-04 2003-11-04 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000174202A true JP2000174202A (ja) 2000-06-23
JP3548024B2 JP3548024B2 (ja) 2004-07-28

Family

ID=18404813

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34959798A Expired - Lifetime JP3548024B2 (ja) 1998-12-09 1998-12-09 半導体装置およびその製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6262902B1 (ja)
EP (3) EP2015361B1 (ja)
JP (1) JP3548024B2 (ja)
DE (3) DE69942796D1 (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003070230A (ja) * 2001-08-22 2003-03-07 Hitachi Ltd シャント抵抗を備えた電力変換装置
JP2003218318A (ja) * 2002-01-21 2003-07-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体パワーモジュール、半導体パワーモジュールに用いる絶縁基板及び該絶縁基板の製造方法
JP2004165430A (ja) * 2002-11-13 2004-06-10 Mitsubishi Electric Corp 電力半導体モジュール
JP2004343820A (ja) * 2003-05-13 2004-12-02 Mitsubishi Electric Corp 電力変換装置
JP2009538534A (ja) * 2006-05-23 2009-11-05 インターナショナル レクティファイアー コーポレーション 高効率両面冷却ディスクリートパワーパッケージ、特に革新的なパワーモジュール用の基本素子
WO2013054548A1 (ja) * 2011-10-11 2013-04-18 富士電機株式会社 フォトカプラの出力信号受信回路
JP2014120563A (ja) * 2012-12-14 2014-06-30 Mitsubishi Electric Corp パワーモジュール
WO2016204044A1 (ja) * 2015-06-17 2016-12-22 ダイキン工業株式会社 インバータ装置
JP2017005125A (ja) * 2015-06-11 2017-01-05 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JPWO2015005181A1 (ja) * 2013-07-08 2017-03-02 株式会社村田製作所 電力変換部品
JP2017188527A (ja) * 2016-04-04 2017-10-12 ダイキン工業株式会社 電子回路装置
WO2018235511A1 (ja) * 2017-06-22 2018-12-27 三菱電機株式会社 半導体モジュール

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10143932B4 (de) * 2001-09-07 2006-04-27 eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG Shunt-Widerstandanordnung
EP1429679A2 (en) * 2001-09-27 2004-06-23 Galil Medical Ltd Apparatus and method for cryosurgical treatment of tumors of the breast
US6653812B1 (en) 2002-01-31 2003-11-25 Analog Devices, Inc. Space vector modulation methods and structures for electric-motor control
US20040227476A1 (en) * 2002-12-19 2004-11-18 International Rectifier Corp. Flexible inverter power module for motor drives
KR100669327B1 (ko) * 2004-10-11 2007-01-15 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 장치
WO2007080748A1 (ja) * 2006-01-16 2007-07-19 Mitsubishi Electric Corporation 電動機の駆動回路及び空気調和機の室外機
JP5354144B2 (ja) * 2007-10-22 2013-11-27 東芝キヤリア株式会社 インバータ
US8482904B2 (en) * 2010-05-25 2013-07-09 Lear Corporation Power module with current sensing
DE102012211924B4 (de) * 2012-07-09 2014-02-13 Infineon Technologies Ag Halbleitermodul mit einem in einer Anschlusslasche integrierten Shunt-Widerstand und Verfahren zur Ermittlung eines durch einen Lastanschluss eines Halbleitermoduls fließenden Stromes
CN102999009B (zh) * 2012-12-11 2016-01-20 深圳市麦格米特驱动技术有限公司 机床控制电路
US9140735B2 (en) * 2013-05-03 2015-09-22 Infineon Technologies Ag Integration of current measurement in wiring structure of an electronic circuit
JP2015073261A (ja) * 2013-09-03 2015-04-16 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
CN105609493B (zh) * 2016-03-22 2018-05-11 富士电机(中国)有限公司 一种集成双向升降压功能的八合一igbt模块
WO2020191848A1 (zh) * 2019-03-25 2020-10-01 广东美的制冷设备有限公司 集成式控制器及其控制方法和制冷设备
CN109861501A (zh) * 2019-03-25 2019-06-07 广东美的制冷设备有限公司 智能功率模块和空调器

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3676807A (en) * 1971-05-19 1972-07-11 Tektronix Inc Film attenuator with distributed capacitance high frequency compensation
JPH0231457A (ja) * 1988-07-21 1990-02-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 発光素子駆動用半導体装置
JPH0834705B2 (ja) * 1988-11-16 1996-03-29 株式会社大林組 開閉器
JP2658427B2 (ja) * 1989-01-17 1997-09-30 富士電機株式会社 電力変換用半導体素子のスナバ回路とそのモジュール装置
US5214407A (en) * 1991-11-06 1993-05-25 Hewlett-Packard Company High performance current shunt
JP2979930B2 (ja) * 1993-10-28 1999-11-22 富士電機株式会社 電力用半導体装置のパッケージ
JP3325697B2 (ja) 1994-01-20 2002-09-17 三菱電機株式会社 パワーデバイスの制御装置およびモータの駆動制御装置
JPH09312376A (ja) * 1996-05-21 1997-12-02 Fuji Electric Co Ltd 半導体装置
EP1028520A1 (en) * 1996-09-06 2000-08-16 Hitachi, Ltd. Semiconductor device
JP3008924B2 (ja) * 1998-04-10 2000-02-14 富士電機株式会社 パワー素子のドライブ回路

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003070230A (ja) * 2001-08-22 2003-03-07 Hitachi Ltd シャント抵抗を備えた電力変換装置
JP2003218318A (ja) * 2002-01-21 2003-07-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体パワーモジュール、半導体パワーモジュールに用いる絶縁基板及び該絶縁基板の製造方法
JP2004165430A (ja) * 2002-11-13 2004-06-10 Mitsubishi Electric Corp 電力半導体モジュール
JP2004343820A (ja) * 2003-05-13 2004-12-02 Mitsubishi Electric Corp 電力変換装置
JP2009538534A (ja) * 2006-05-23 2009-11-05 インターナショナル レクティファイアー コーポレーション 高効率両面冷却ディスクリートパワーパッケージ、特に革新的なパワーモジュール用の基本素子
WO2013054548A1 (ja) * 2011-10-11 2013-04-18 富士電機株式会社 フォトカプラの出力信号受信回路
US8917065B2 (en) 2011-10-11 2014-12-23 Fuji Electric Co., Ltd. Photocoupler output signal receiving circuit
JP2014120563A (ja) * 2012-12-14 2014-06-30 Mitsubishi Electric Corp パワーモジュール
JPWO2015005181A1 (ja) * 2013-07-08 2017-03-02 株式会社村田製作所 電力変換部品
JP2017005125A (ja) * 2015-06-11 2017-01-05 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US10115251B2 (en) 2015-06-11 2018-10-30 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
WO2016204044A1 (ja) * 2015-06-17 2016-12-22 ダイキン工業株式会社 インバータ装置
JP2017011794A (ja) * 2015-06-17 2017-01-12 ダイキン工業株式会社 インバータ装置
JP2017188527A (ja) * 2016-04-04 2017-10-12 ダイキン工業株式会社 電子回路装置
WO2018235511A1 (ja) * 2017-06-22 2018-12-27 三菱電機株式会社 半導体モジュール
JPWO2018235511A1 (ja) * 2017-06-22 2020-05-21 三菱電機株式会社 半導体モジュール

Also Published As

Publication number Publication date
EP2015361B1 (en) 2010-09-29
EP2012357A3 (en) 2009-07-29
EP1009030A3 (en) 2001-10-17
EP2015361A3 (en) 2009-07-29
EP1009030A2 (en) 2000-06-14
US6262902B1 (en) 2001-07-17
EP2015361A2 (en) 2009-01-14
EP2012357A2 (en) 2009-01-07
DE69942812D1 (de) 2010-11-11
EP1009030B1 (en) 2010-09-29
EP2012357B1 (en) 2010-09-29
JP3548024B2 (ja) 2004-07-28
DE69942796D1 (de) 2010-11-11
DE69942813D1 (de) 2010-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3548024B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
CN110199388B (zh) 用于并联功率装置的具有低电感和快速切换的高功率多层模块
US8423317B2 (en) Temperature detection method of semiconductor device and power conversion apparatus
US8564996B2 (en) Semiconductor module and driving apparatus including semiconductor module
CN102810532B (zh) 半导体装置和包括半导体装置的驱动设备
TW567513B (en) Switching circuit
JP6745991B2 (ja) 半導体パワーモジュール
US10886202B2 (en) Semiconductor device
US6795324B2 (en) Power converter
JP3747931B2 (ja) 半導体装置
JPH07170723A (ja) 半導体スタック
US10164530B2 (en) Boost chopper circuit including switching device circuit and backflow prevention diode circuit
JP4631179B2 (ja) 半導体装置およびこれを用いたインバータ装置
JP2005252090A (ja) 半導体素子の温度検出方法及び電力変換装置
JP4366269B2 (ja) 半導体素子の温度検出方法及び電力変換装置
JP2002291261A (ja) 電力変換装置
CN112968622A (zh) 智能功率模块及采用其的智能功率模块结构
JP2023071324A (ja) 半導体装置
JP4246040B2 (ja) 半導体装置の実装体
JP6483963B2 (ja) 電力変換装置
CN214480328U (zh) 智能功率模块及采用其的智能功率模块结构
JP2000069764A (ja) インバータ装置
JP7396264B2 (ja) 半導体モジュール及び電力変換装置
JP7329578B2 (ja) 電力用半導体装置
US20220321022A1 (en) Semiconductor module

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20031225

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040120

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20040205

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20040209

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040226

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040413

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040415

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080423

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090423

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100423

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100423

Year of fee payment: 6

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100423

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110423

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120423

Year of fee payment: 8

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120423

Year of fee payment: 8

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120423

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130423

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140423

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term