FR2807425A1 - Ceramique dielectrique non reductrice et condensateur en ceramique monolitique l'utilisant - Google Patents

Abstract

Un diélectrique non réducteur contient un composant principal comportant une phase cristalline de perovskite et satisfaisant la formule(Ca1-a-b-c Sra Bab Mgc )m (Zr1-w-x-y-z Tiw Mnx Niy Hfz )O3 et un oxyde composite représenté par la formule (Si, T) O2 -MO-MnO. Le rapport de l'intensité de la crête maximum d'une phase cristalline qui n'est pas la phase cristalline de perovskite sur l'intensité de la crête maximum assignée à la phase cristalline de perovskite apparaissant à 2theta = 25degre à 35degre vaut 5 % ou moins dans un motif de diffraction rayons X CuKalpha.

Description

ARRIÈRE-PLAN DE L'INVENTION 1. Domaine de l'invention La présente invention concerne une céramique diélectrique non réductrice ainsi condensateur en céramique monolithique qui l'utilise. 2. Description de l'art antérieur Les publications de demandes de brevet non examinées du Japon numéros 60- 708, 63-126117, 5-9073, 5-217426, 10-330163 et 10-335169 décrivent des matériaux de céramique diélectrique du type (Cal _XSrX)m(Zr,_yTiy)03 en tant que matériaux de céramique diélectrique non réductrice qui présentent des caractéristiques diélectriques excellentes et qui ne deviennent pas semiconducteurs même lorsque électrodes internes prévues en conséquence sont constituées par métal de base peu coûteux tel que le nickel (Ni), le cuivre (Cu) etc. et 'une cuisson est réalisée dans une atmosphère neutre ou dans atmosphère réductrice qui présente une pression partielle d'oxygène faible.

En utilisant matériaux de céramique diélectrique, des céramiques diélectriques qui ne deviennent pas sémiconductrices même lorsqu'une cuisson est réalisée dans une atmosphère réductrice peuvent être formées. plus est, la fabrication de condensateurs en céramique monolithiques comportant des électrodes internes constituées par métal de base tel que le nickel (Ni) ou le cuivre (Cu) est devenue possible.

Cependant, dans les céramiques diélectriques non réductrices décrites dans publications de demandes de brevet non examinées du Japon mentionnées ci-avant numéros 60-131708 et 63-126117, des matériaux bruts, c'est ' dire carbonate de calcium (CaCo3), carbonate de strontium (SrCo3), dioxyde de titane (Ti02) et dioxyde de zirconium (Zr02), sont soumis a calcination en même temps que du dioxyde de manganèse (Mn02) qui est un composant secondaire et que du dioxyde de silicium (Si02) qui est un agent de minéralisation de manière à constituer une céramique qui présente un composant principal satisfaisant la formule (Ca,_XSrX)m(Zr,_yTiy)Os. En tant conséquence, la poudre de matériau soumise à calcination résultante presente non seulement des crêtes qui sont caractéristiques d'une phase cristalline de perovskite qui est la phase cristalline primaire mais également des crêtes qui indiquent les phases cristallines sont pas la phase cristalline perovskite. Lorsque la céramique diélectrique est formée en frittant l'une de ces poudres de matériau soumises à calcination dans une atmosphère réductrice, des phases cristallines qui ne sont pas la phase cristalline primaire à structure perovskite (des phases différentes) subsistent dans le diélectrique résultant. Lorsque l'épaisseur d'un élément est réduite afin de fabriquer condensateur en céramique monolithique à valeur de capacite élevée et miniaturisé, la performance afférente lors d'un test de durée vie en charge haute température est dégradée puisque ces phases cristallines différentes présentent une résistance thermique inférieure. Les publications de demandes de brevet non examinées Japon numéros 63-126117, 5-9073, 5-217426 et 10-330163 décrivent céramiques diélectriques non réductrices contenant du lithium (Li) ou du bore (B) dans leurs verres additifs. .Du fait que le Li et le s'évaporent aisément à des températures élevées, des fluctuations niveau de la température du four et au niveau de l'irrégularité ou non uniformité de l'atmosphère conduisent à une fluctuation de la quantité de Li ou de B qui s'évapore et au niveau du temps d'évaporation. Par conséquent, les caractéristiques telles que la valeur de capacité électrostatique des condensateurs résultants sont irrégulières.

La publication de demande de brevet non examinée du Japon numéro 10-335169 décrit une céramique diélectrique non réductrice comprenant un composant principal qui est représenté par la formule [(CaXSr,_X)O]m[(TiyZr,_y)02], de l'oxyde de manganèse, de l'oxyde d'aluminium et un composant secondaire qui est représenté par la formule [(BaZCa,_Z)O]"SiO2. La céramique diélectrique non réductrice ne contient pas des composants qui s'évaporent aisément pendant la cuisson. Par conséquent, les céramiques présentent une fiabilité plus importante lors d'un test de durée de vie en charge haute température et révèlent une irrégularité de performance moindre. céramique diélectrique non réductrice démontre bien entendu certaine amélioration en termes d'isolation-résistance lors d'un test durée de vie charge haute température mais présente proportion significative de phases cristallines qui ne sont pas la phase cristalline primaire de perovskite. En tant que résultat, une dégradation de la caracteristique isolation-résistance est observée lors test en charge d'humidité-résistance.

Récemment, une demande pour des condensateurs en céramique monolithiques de dimension plus petite présentant une valeur capacité importante a conduit à la nécessité de disposer de couches en céramique diélectrique minces et toujours hautement fiables. Afin de satisfaire ce besoin, un matériau de céramique diélectrique hautement fiable permettant de former des couches minces ainsi qu'un petit condensateur en céramique monolithique toujours hautement fiable présentant une valeur de capacite importante à des températures élevées et à une humidité élevée est souhaité.

RÉSUMÉ DE L'INVENTION conséquent, un objet de la présente invention consiste à proposer céramique diélectrique non réductrice incluant un composant principal comportant une phase cristalline de perovskite, le composant principal satisfaisant la formule (Ca,_a_b_cSraBabMgc),,(Zr,_W_X_ y_ZTi,MnXNiyHfZ)Os où 0 < a < 0,5,<B>0</B> < _ b < 0,5,<B>0:5</B> c < 0,<B>0</B> < _ a + b + c < 0,5,0,98 < m < 1,03,05w < 0,6,0 < x < 0,05,0 < y 05,0_ < z < 0,3, 0 < _x+y < 0,05et0 < _w+x+y+z < 0,6, et au moins un type d'oxyde composite choisi parmi le groupe comprenant (S i, T)02-MO- XO où T est au moins un élément choisi parmi Ti et Zr, MO est au moins un élément choisi parmi MnO et NiO et XO est au moins un élément choisi parmi BaO, SrO, CaO et MgO, et (Si, T)02-(Mn, M)O- A1203 où T est au moins un élément choisi parmi Ti et Zr et M est au moins un élément choisi parmi Ni, Ba, Sr, Ca et Mg. La proportion de l'intensité de la crête maximum d'une phase cristalline qui n'est pas la phase cristalline de perovskite sur l'intensité de la crête maximum qui est assignée la phase cristalline de perovskite apparaissant 20 = 25 à 35 vaut 5 % ou moins dans un motif de diffraction rayons X

CuKa.
<tb> De <SEP> préférence, <SEP> l'oxyde <SEP> composite <SEP> (Si, <SEP> T)02-MO-XO <SEP> qui <SEP> est
<tb> représenté <SEP> par <SEP> la <SEP> formule <SEP> a(Si,_N,_,Ti,,Zr,)02-p(Mn,_@Nis)0-yX0 <SEP> où <SEP> a, <SEP> P <SEP> et
<tb> y <SEP> sont <SEP> des <SEP> pourcentages <SEP> molaires <SEP> et <SEP> XO <SEP> est <SEP> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> élément
<tb> choisi <SEP> parmi <SEP> BaO, <SEP> SrO, <SEP> CaO <SEP> et <SEP> MgO <SEP> satisfait <SEP> les <SEP> relations <SEP> <B>0</B> < _ <SEP> g <SEP> < <SEP> 0,5,
<tb> <B>0</B> < _ <SEP> v <SEP> < <SEP> 0,7, <SEP> 0 <SEP> < _ <SEP> <B>#::9</B> <SEP> 1,0, <SEP> <B>0</B> < _ <SEP> g <SEP> + <SEP> v <SEP> :g <SEP> 0,7. <SEP> La <SEP> teneur <SEP> en <SEP> (Si,_#,_vTiwZrv)02, <SEP> la
<tb> teneur <SEP> en <SEP> (Mn,_@NQ0 <SEP> et <SEP> la <SEP> teneur <SEP> en <SEP> XO <SEP> dans <SEP> l'oxyde <SEP> composite <SEP> se
<tb> situent <SEP> de <SEP> préférence <SEP> dans <SEP> la <SEP> région <SEP> qui <SEP> est <SEP> entourée <SEP> par <SEP> des <SEP> points <SEP> A
<tb> (a <SEP> = <SEP> 25,0, <SEP> P <SEP> = <SEP> 75,0,y <SEP> = <SEP> 0), <SEP> B <SEP> (a <SEP> = <SEP> 100,0, <SEP> (3 <SEP> = <SEP> 0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 0), <SEP> C <SEP> (a <SEP> = <SEP> 20,0, <SEP> (3 <SEP> =
<tb> 0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 80,0) <SEP> et <SEP> D <SEP> (a <SEP> = <SEP> 5,0, <SEP> P <SEP> = <SEP> 15,0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 80,0) <SEP> y <SEP> compris <SEP> les <SEP> lignes <SEP> AB,
<tb> AD <SEP> et <SEP> DC <SEP> et <SEP> à <SEP> l'exclusion <SEP> de <SEP> la <SEP> ligne <SEP> BC <SEP> dans <SEP> un <SEP> diagramme <SEP> ternaire.
<tb>

De <SEP> préférence, <SEP> l'oxyde <SEP> composite <SEP> (Si, <SEP> T)02-(Mn, <SEP> M)O-AI203 <SEP> qui
<tb> est <SEP> représenté <SEP> par <SEP> la <SEP> formule <SEP> a(Sii_wTu)02-P(Mnl_vMv)O-yAI203 <SEP> où <SEP> a, <SEP> a
<tb> et <SEP> y <SEP> sont <SEP> des <SEP> pourcentages <SEP> molaires, <SEP> T <SEP> est <SEP> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> élément <SEP> choisi
<tb> parmi <SEP> Ti <SEP> et <SEP> Zr <SEP> et <SEP> M <SEP> est <SEP> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> élément <SEP> choisi <SEP> parmi <SEP> Ni, <SEP> Ba, <SEP> Sr, <SEP> Ca
<tb> et <SEP> Mg <SEP> satisfait <SEP> les <SEP> relations <SEP> 0 <SEP> < _ <SEP> g, <SEP> < <SEP> 0,5 <SEP> et <SEP> 0 <SEP> < <SEP> v <SEP> < <SEP> 0,5. <SEP> La <SEP> teneur <SEP> en <SEP> (Si, @T,)02, <SEP> la <SEP> teneur <SEP> en <SEP> (Mn,_vMv)O <SEP> et <SEP> la <SEP> teneur <SEP> en <SEP> A1203 <SEP> dans <SEP> l'oxyde
<tb> composite <SEP> se <SEP> situent <SEP> de <SEP> préférence <SEP> dans <SEP> la <SEP> région <SEP> qui <SEP> est <SEP> entourée <SEP> par
<tb> des <SEP> points <SEP> A <SEP> (a <SEP> = <SEP> 80,0, <SEP> P <SEP> = <SEP> 20,0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 0), <SEP> B <SEP> (a <SEP> = <SEP> 10,0, <SEP> P <SEP> = <SEP> 90,0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 0), <SEP> C
<tb> (a <SEP> = <SEP> 10,0, <SEP> (3 <SEP> = <SEP> 20,0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 70,0), <SEP> D <SEP> (a <SEP> = <SEP> 30,0, <SEP> (3 <SEP> = <SEP> 0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 70,0) <SEP> et <SEP> E <SEP> (a <SEP> =
<tb> 80,0, <SEP> P <SEP> = <SEP> 0, <SEP> -y <SEP> = <SEP> 20,0) <SEP> y <SEP> compris <SEP> les <SEP> lignes <SEP> AE, <SEP> BC <SEP> et <SEP> CD <SEP> et <SEP> à <SEP> l'exclusion
<tb> des <SEP> lignes <SEP> AB <SEP> et <SEP> ED <SEP> dans <SEP> un <SEP> diagramme <SEP> ternaire.
<tb>

La <SEP> présente <SEP> invention <SEP> propose <SEP> également <SEP> un <SEP> condensateur <SEP> en
<tb> céramique <SEP> monolithique <SEP> incluant <SEP> une <SEP> pluralité <SEP> de <SEP> couches <SEP> en
<tb> céramique <SEP> diélectrique, <SEP> des <SEP> électrodes <SEP> internes <SEP> prévues <SEP> entre <SEP> les
<tb> couches <SEP> de <SEP> la <SEP> pluralité <SEP> de <SEP> couches <SEP> en <SEP> céramique <SEP> diélectrique <SEP> et <SEP> des
<tb> électrodes <SEP> externes <SEP> connectées <SEP> électriquement <SEP> aux <SEP> électrodes internes. Chacune de la pluralité de couches en céramique diélectrique comprend une céramique diélectrique non réductrice telle que décrite précédemment conformément à la présente invention. Les électrodes internes comprennent un métal de base en tant que composant principal.

Le condensateur en céramique monolithique peut être muni de couches de placage sur les surfaces des électrodes externes.

Le métal de base de préférence un métal choisi parmi le groupe comprenant Ni, un alliage de Ni, Cu et un alliage de Cu.

La céramique diélectrique non réductrice conformément à la présente invention présente une valeur de résistance spécifique élevée de 10'3 S2. cm ou plus une perte diélectrique faible de 0,1 % ou moins. Le taux de variation de la valeur de capacité électrostatique est dans -1000 ppml C. La performance afférente lors d'un test de durée de vie en charge haute température et lors d'un test en charge humidité-résistance est hautement fiable. En outre, des irrégularités au niveau des caractéristiques afférentes sont réduites puisque des substances qui s'évaporent pendant le frittage ne sont pas contenues dedans.

En utilisant la ceramique diélectrique non réductrice de la présente invention, la fabrication de condensateurs en céramique monolithiques comportant électrodes internes constituées par un métal de base peu coûteux devient possible. En tant que métal de base, non seulement du nickel élémentaire et un alliage de Ni mais également du cuivre élémentaire et un alliage de Cu présentant une performance haute fréquence supérieure peuvent être utilisés pour fabriquer de petits condensateurs en céramique monolithiques haute performance.

La céramique diélectrique non réductrice de la présente invention peut être appliquee à des condensateurs de compensation de température et à des résonateurs diélectriques micro-ondes ou hyperfréquences. Elle peut également être utilisée en tant que matériau pour des condensateurs en céramique monolithiques à valeur de capacité élevée de petite dimension puisque les couches formées à partir de cette céramique sont minces. Le champ de l'application industrielle est significativement large. BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS La figure 1 est un diagramme qui représente le motif de diffraction rayons X d'un échantillon de céramique diélectrique 34 ; la figure 2 est un diagramme qui représente le motif de diffraction rayons X d'un échantillon de céramique diélectrique 20 ; la figure 3 est un diagramme ternaire qui représente la teneur en (Si,_u_,TiuZr,)02, la teneur en (Mn,_4Ni4)O et la teneur en XO dans un oxyde composite du type (Si, T)02-MO-XO ; la figure 4 est diagramme qui représente le motif de diffraction rayons X d'un échantillon de céramique diélectrique 121 ; la figure 5 est un diagramme qui représente le motif de diffraction rayons X d'un échantillon de céramique diélectrique 119 ; et la figure 6 est un diagramme ternaire qui représente la teneur en (Si,_,Tw)02, la teneur en (Mn,-,M,) et la teneur en A1203 dans un oxyde composite à base de (Si, T)02-(Mn, M)O-AI203.

DESCRIPTION DES MODES DE RÉALISATION PRÉFÉRÉS Maintenant, des modes de réalisation préférés de la présente invention seront décrits ci-après à titre d'exemples.

Exemple 1 Tout d'abord, des poudres de CaC03 SrC03, BaC03, MgCO3, Zr02, Ti02, MnC03, NiO, Hf02 et Si02 dont chacune présente une pureté de 99 % ou plus sont préparées en tant que matériaux bruts pour le composant principal d'une céramique diélectrique non réductrice et pour un oxyde composite qui lui est ajouté.

Ces poudres de matériau sont pesées afin de fabriquer des poudres de matériau de composant principal non calcinées représentées par la formule (Cal _a_b_cSraBabMgc)k(Zr,_W_x_y_ ZTiWMnxNiyHfZ)03 où les indices a, b, c, w, x, y et z sont comme représentés au niveau des tableaux 1 et 2 et l'indice k est comme représenté au niveau des tableaux 3 et 4. Au niveau des tableaux 3 et 4, les numéros des échantillons correspondent aux numéros des échantillons dans les tableaux 1 et 2.

Les poudres de matériau de composant principal non calcinées sont mélangées par voie humide, sont pulvérisées dans un broyeur à billes et sont séchées. Le diamètre de particule moyen des poudres de matériau de composant principal respectives est représenté au niveau des tableaux 3 et 4. Puis les poudres de matériau de composant principal non calcinées sont calcinées dans l'air aux températures qui sont représentées au niveau des tableaux 3 et 4 pendant 2 heures afin d'obtenir des poudres de matériau de composant principal calcinées.

Afin de régler de façon précise la proportion des composants dans chacune des poudres de matériau de composant principal, CaCO3, SrC03, BaC03 et MgC03 sont additionnés la poudre de composant principal calcinée de telle sorte que l'indice m dans la formule (Ca,_a_b_cSraBabMgc)m(Zr,_W_X_y_2TiWMnXNiyHfZ)03 soit l'un de ceux qui sont représentés au niveau des tableaux 1 et 2. Une quantité prédéterminée d'oxyde composite comme représenté au niveau des tableaux 1 et 2 est ensuite ajoutée ou additionnée chacune des poudres de matériau de composant principal réglée de façon précise. Dans les échantillons de poudre de matériau 13 et 14, une quantité prédéterminée de verre du type Li et de verre du type Li-B est ajoutée en lieu et place des oxydes composites et est mélangée.

Si02, Ti02, Zr02, MnC03, NiO et CaCO3 sont pesés à l'avance et sont mélangés, sont calcinés et sont broyés jusqu'à obtention d'un diamètre moyen de 1 #tm ou moins afin d'obtenir les oxydes composites qui sont représentés au niveau des tableaux 1 et 2 qui satisfont les formules a(Sil_u_,TiuZr,)02-0(Mn,_@Ni@)O-yCaO où les indices a, p et y sont des pourcentages molaires et les indices a, P, y, v et @ sont comme représentés au niveau des tableaux 1 et 2.

Un agent de liaison à base de poly(vinyl butyral) et un solvant organique tel que de l'éthanol sont ajoutés aux poudres de matériau résultantes et l'ensemble est mélangé par voie humide dans un broyeur billes afin d'obtenir des boues de céramique.

Chacune des boues de céramique est formée selon une feuille au moyen d'un procédé par lame et la feuille est découpée afin d'obtenir des feuilles de base en céramique rectangulaires dont chacune presente une épaisseur de 12 grm.

Une pâte conductrice essentiellement constituée par du nickel élémentaire (Ni) est appliquée par impression sur les feuilles de base en céramique de manière à constituer des couches de pâte conductrice pour former des électrodes internes d'un condensateur en céramique monolithique.

Les feuilles de base en céramique munies des couches de pâte conductrice déposées sur elles sont ensuite empilées de telle sorte qu'une face de chaque feuille de base en céramique munie de la pate conductrice apparaisse en alternance dans un empilement de feuilles de base en céramique résultant.

L'empilement est chauffé jusqu'à une température dans la plage de 240 C a 350 C dans l'air ou dans une atmosphère de N2 afin brûler l'agent de liaison. Ensuite, l'empilement est fritté à température qui est représentée au niveau des tableaux 5 et 6 dans une atmosphère réductrice constituée par du gaz H2-N2-H20 afin de former un compact fritté en céramique. Il est à noter que les numéros des échantillons au niveau des tableaux 5 et 6 correspondent numéros des échantillons au niveau des tableaux 1 et 2.

Une pâte d'argent (Ag) est appliquée sur les deux faces d'extrémité du compact fritté en céramique résultant et l'ensemble soumis à cuisson à 800 C dans l'air afin de former des électrodes externes qui sont connectées électriquement aux électrodes internes.

Les dimensions externes du condensateur en céramique monolithique résultant sont une largeur de 1,6 mm, une longueur 3,2 mm et une épaisseur de 1,2 mm. L'épaisseur de la couche céramique diélectrique est de 10 gm. Le nombre total de couches en céramique diélectrique effectives est de 50.

Puis des caractéristiques électriques du condensateur en céramique monolithique résultant sont examinées. La valeur capacité électrostatique et la perte diélectrique sont déterminées à fréquence de 1 MHz et à une température de 25 C. La constante diélectrique relative est calculée à partir de la valeur de capacité électrostatique. Ensuite, une isolation-résistance est mesurée en appliquant une tension continue de 50 V pendant deux minutes à une température de 25 C et la valeur de résistance spécifique est calculée à partir de la valeur ainsi obtenue. La valeur de capacité électrostatique est en outre examinée à une fréquence de 1 MHz et à des températures de 25 C et de 125 C. Un taux de variation (TC) afférent est calculé en utilisant la formule (1) décrite ci-après. Dans formule (1), C125 représente la valeur de capacité électrostatique ( ) à une température de 125 C et C25 représente la valeur de capacité électrostatique (pF) à une température de 25 C.

Formule (1) TC = C125 - C25)IC25} x {1I(125 - 25)} x 106 [ppml C] outre, trente six éléments de test pour chaque échantillon sont soumis à un test de durée de vie en charge haute température. Une tension continue de 200 V est appliquée aux éléments de test a une température de 140 C et la variation de l'isolation-résistance en fonction temps est examinée. Lors de ce test, les vies des éléments d'échantillon sont considérées comme étant achevées lorsque l'isolation résistance atteint 106 S2 ou moins. La durée de vie moyenne pour chaque échantillon est calculée.

Soixante-seize éléments de test pour chaque échantillon sont soumis à un test en charge humidité-résistance. Une tension continue de 100 V est appliquée aux éléments d'échantillon à une température 121 C sous une pression d'air de 2 (humidité relative de 100 %) et la variation de l'isolation-résistance en fonction du temps est mesurée. Les éléments de test sont considérés comme étant défectueux si leur isolation-résistance atteint 106 S2 ou moins en 200 heures.

Les éléments de test des compacts frittés en céramique sont pulvérisés en utilisant un mortier afin de subir une analyse par diffraction rayons X CuKa afin d'obtenir un rapport d'intensités de la crête maximum d'une phase différente (il est à noter que l'expression "phase différente" se réfère à chaque phase cristalline qui n'est pas la phase cristalline de perovskite) et de la caractéristique crête maximum de la phase cristalline de perovskite apparaissant à 28 = à 35 C. Il est bien entendu que du fait que les électrodes internes sont pulvérisées en association avec les compacts frittés en céramique, l'abaque de diffraction rayons X comporte des cretes se rapportant aux électrodes internes. Ces crêtes ne sont par conséquent pas phases différentes de la céramique et l'intensité de ces crêtes a été écartée dans le but de réaliser la comparaison.

Les résultats des examens décrits ci-avant sont représentés au niveau des tableaux 5 et 6.

Comme il apparaît au vu des tableaux 5 et 6, les echantillons de céramique diélectrique non réductrice 21 à 56 présentent des valeurs de résistance spécifique élevées de 10'3 S2 cm ou plus et des pertes diélectriques faibles de 0,1 % ou moins. Le taux de variation de la valeur de capacité électrostatique en fonction de la température n'excède pas -1000 ppml C et cette valeur peut être réglée à une valeur souhaitée en modifiant la composition. La durée de vie moyenne lors d'un test de durée de vie en charge haute température à 150 C et 200 V est significativement longue et est de heures ou plus. Des defauts ne sont pas observés au niveau du test en charge humidité-résistance à 121 Clpression d'air de 2I100 V même après que 200 heures se sont écoulées.

Exemple 2 Puis condensateur en céramique monolithique contenant un oxyde composite et contenant un verre de type Li est fabriqué afin d'examiner le diamètre de particule et la tension de claquage des deux corps.

De façon davantage spécifique, les mêmes poudres de matériau que dans l'exemple 1 sont pesées afin de préparer une poudre de matériau de composant principal non calcinée représentée par la formule (Cal _a_b_@SraBabMgc)k(Zr,_W_x_y_ZTiWMnxNiYHfZ)03 où les indices a, b, c, w, x, y et z sont comme représentés au niveau du tableau 7 et l'indice k est comme représenté au niveau du tableau 8. Au niveau du tableau 7, les numéros des échantillons correspondent aux numéros des échantillons au niveau du tableau 8.

poudres de matériau de composant principal non calcinées décrites ' avant sont mélangées par voie humide, sont pulvérisées dans un broyeur à billes et sont séchées. Le diamètre de particule moyen poudres de matériau de composant principal est représenté au niveau du tableau 8. Puis les poudres de matériau de composant principal non calcinées sont calcinées aux températures sont representées au niveau du tableau 8 dans l'air pendant deux heures afin de former des poudres de matériau de composant principal calcinées. CaC03, SrC03, BaC03 et MgCO3 sont ajoutés à chacune poudres composant principal calcinées de telle sorte que l'indice au niveau de la formule (Ca,_a_b_cSraBabMgc)m(Zr,_W_X_y_ZTiWMnXNiyHfZ)03 soit comme représenté au niveau du tableau 7. Une quantité prédéterminée de l'oxyde composite qui est représenté au niveau du tableau est ensuite ajoutée à l'échantillon de poudre de matériau 61. Dans l'échantillon de poudre de matériau 62, une quantité prédéterminée de verre du type Li est ajoutée en lieu et place de l'oxyde composite.

Les mêmes matériaux bruts que dans l'exemple 1 sont pesés à l'avance sont mélangés, sont calcinés et sont broyés de manière à obtenir même diamètre moyen que dans l'exemple 1 et de manière également à obtenir l'oxyde composite qui est représenté au niveau du tableau 7 et qui satisfait la formule a(Si,_u_,Ti,,Zr,)02-P(Mn,_@Ni@)0- yCaO où les indices a, p et y sont des pourcentages molaires et les indices a, P, y, g,, v et @ sont comme représentés au niveau du tableau 7.

Des boues de céramique sont formées comme dans le cas l'exemple 1 à partir des poudres de matériau et des feuilles de base céramique rectangulaires présentant une épaisseur de 12 gm sont formées à partir des boues de céramique. Une pâte conductrice essentiellement constituée par du nickel (Ni) comme dans l'exemple est appliquée sur ces feuilles de base en céramique par impression afin de former des couches de pâte conductrice pour former des électrodes internes de condensateurs en céramique monolithiques. Les feuilles de base en céramique sont empilées comme dans le cas de l'exemple 1 afin d'obtenir un empilement de feuilles de base en céramique. Après évacuation par combustion d'un agent de liaison ou liant contenu dans les empilements comme dans le cas de l'exemple 1, les empilements sont soumis à cuisson dans une atmosphère réductrice aux températures représentées au niveau du tableau 9 afin de former compacts en céramique frittés. Les numéros des échantillons niveau du tableau 9 correspondent aux numéros des échantillons au niveau du tableau 7.

Des électrodes externes sont formées comme dans l'exemple sur les deux faces d'extrémité de chacun des compacts en céramique frittés.

Les dimensions externes des condensateurs en céramique monolithiques résultants sont une largeur de 1,6 mm, une longueur 0,8 mm et une épaisseur de 0,7 mm. L'épaisseur de la couche céramique diélectrique est de 10 gm. Le nombre total de couches céramique diélectrique effectives est de 30.

Puis le diamètre de particule de condensateurs en céramique monolithiques, à raison de trente pour chaque échantillon, est mesure au moyen d'un microscope électronique à balayage (SEM). La tension de claquage est examinée afin de calculer une déviation standard.

Les résultats sont représentés au niveau du tableau 9.

Comme il apparaît au vu du tableau 9, il y a une faible variation au niveau des diamètres de l'échantillon en céramique diélectrique non réductrice 61 après frittage et une légère fluctuation au niveau de la tension de claquage.

II est bien entendu que, bien que du CaO soit utilisé en tant XO dans l'oxyde composite qui est représenté par la formule a( ,Ti,,Zr,)02-p(Mni_@Ni@)O-yXO, le cadre de l'invention n'est pas limité cet exemple. N'importe quel élément pris parmi BaO, SrO et MgO peut être utilisé en tant que XO et les mêmes avantages et les mêmes effets peuvent toujours être obtenus comme selon cet exemple.

En outre, bien que du nickel élémentaire soit utilisé en tant métal de base constituant les électrodes internes, un alliage de nickel, du cuivre (Cu) ou un alliage de cuivre peut être utilisé en lieu et place du nickel élémentaire. Les mêmes avantages et les mêmes effets qu'obtenus selon cet exemple peuvent toujours être obtenus.

Les plages de la composition de la céramique diélectrique non réductrice de la composition de l'oxyde composite additionnel sont limitées comme défini ci-après.

La composition du composant principal (pourcentage molaire égal à 100) satisfait la formule ( b_cSraBabMgc)m(Zr,_W_X_y_ZTiWMnXNiYHfZ)03 0 < _a < 0 < _b < 0,5,0 < _c < 0,05,0 < _a+b+c < 0,5,0,98 < _m 1,03,0 < _ 0,6, 0 < _x < 0,05,0 < _y < 0,05,0 < _z < 0,3,0_x+y < 0,05 et 0 < _ w + x + y + z < 0,6. Lorsque les indices a et b sont respectivement supérieurs à 0,5 comme dans les échantillons céramique diélectrique 1 et 2 au niveau des tableaux 1 et 5, la durée de vie moyenne lors d'un test de durée de vie en charge haute température est raccourcie. Lorsque l'indice c est de 0,05 ou plus comme dans l'échantillon en céramique diélectrique 3, la capacité de frittage dégradée de façon drastique. Lorsque les indices a, b et c sont dans les plages définies par<B>0</B> < _ a < 0,5, 0 < b < 0,5, 0 < _ c < 05 mais que le total de a, b et c est de 0,5 ou plus comme dans le de l'échantillon 5, la perte diélectrique est augmentée, ce qui raccourcit la durée de vie moyenne lors d'un test de durée de vie en charge haute température. Lorsque l'indice w est de 0,6 ou plus comme dans le cas de l'échantillon en céramique diélectrique 4, la perte diélectrique et le taux de variation de la valeur de capacité électrostatique en fonction de la température (TC) sont augmentés et la duree de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie. Lorsque l'indice x vaut 0,05 ou plus comme dans le cas de l'échantillon en céramique diélectrique 8, la perte diélectrique est augmentée et la durée de vie moyenne lors du test de durée vie en charge haute température est diminuée. Lorsque l'indice y vaut 0,05 ou plus comme dans l'échantillon en céramique diélectrique 9, la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie. Lorsque l'indice z vaut 0,3 ou plus comme dans le cas de l'échantillon en céramique diélectrique 10, la capacité de frittage afférente est dégradée de façon drastique. Lorsque le total des indices x et y excède 0,05 comme dans le cas de l'échantillon de céramique diélectrique 11, la perte diélectrique est augmentée et la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie. Lorsque le total des indices w, x., y et z est de 0,6 ou plus comme dans l'échantillon de céramique diélectrique 12, la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie.

Au vu de ce qui précède, la teneur en Sr. a est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ a < 0,5, la teneur en Ba b est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ b < 0,5 et la teneur en Mg c est de préférence dans la plage de 0 _ < c < 0,05. Dans le même temps, la somme de a, b et c est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ a + b + c < 0,5. La teneur en Ti w est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ w < 0,6, la teneur en Mn x est de préférence dans la plage de 0 _ < x < 0,05, la teneur en Ni y est de préférence dans la plage de 0 < _ y < 0,05 et la teneur en Hf z est de préférence dans la plage de 0 < z < 0,3. Dans le même temps, la somme de x et de<I>y</I> est de préférence dans la plage de 0:## x +<B>y</B> < _ 0,05 et la somme de w, x, y et z est de préférence dans la plage de 0 < _ w + x+y+z < 0,6. Dans cas de l'échantillon de céramique diélectrique 6 comme représenté niveau des tableaux 1 et 5, lorsque l'indice m inférieur à 0 la perte diélectrique est augmentée et la durée de moyenne niveau du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie. Lorsque l'indice m vaut 1,03 ou plus comme dans le cas de l'échantillon en céramique diélectrique 7, caractéristique de frittage est dégradée de façon drastique. L'indice est par conséquent dans la plage définie par 0,98:g m < 1,03.

Lorsqu'un verre contenant des composants volatiles tels que Li ou B est utilisé en lieu et place de l'oxyde composite additionnel, la quantité de volatilisation et le temps de volatilisation varient entre échantillons. En tant que conséquence, certaines particules présentent une croissance anormale tandis que d'autres particules ne présentent pas de croissance, ce qui conduit à des diamètres de particule irréguliers. conséquent, même lorsque le composant principal la céramique diélectrique non réductrice satisfait les plages décrites avant, le nombre d'éléments défectueux lors d'un test en charge humidité-résistance augmente comme dans le cas des échantillons en céramique diélectrique 13 et 14 au niveau des tableaux 1 et 5 si l'oxyde composite ajouté contient du verre du type Li ou du verre du type Li-B. Par ailleurs, dans le cas de l'échantillon en céramique diélectrique 62 au niveau des tableaux 7 et 9, une fluctuation de la tension de claquage est augmentée, ce qui dégrade la fiabilité.

Au vu de ce qui précède, l'oxyde composite additionnel est de préférence l'oxyde composite qui contient ni du verre du type Li, ni verre du type Li-B qui satisfait la formule (Si, T)02-MO-XO où T est moins un élément choisi parmi le groupe comprenant Ti et Zr, MO est au moins un élément choisi parmi le groupe comprenant MnO et NiO et XO est au moins un élément choisi parmi le groupe comprenant BaO, SrO, CaO et MgO.

Lorsque le rapport d'intensités de la crête maximum d'une phase différente (il est à noter que l'expression "phase différente" se réfère à chaque phase cristalline qui n'est pas la phase cristalline de perovskite) et de la caractéristique de crête maximum de la phase cristalline de perovskite apparaissant à 20 = 25 C à 35 C excède 5 au niveau de l'analyse par diffraction rayons X CuKa, la perte diélectrique est augmentée de façon non souhaitable et la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie de façon non souhaitable comme démontre par les échantillons de céramique diélectrique 15 à 20 présentés niveau du tableau 5. Par conséquent, le rapport d'intensités de la crête maximum de la phase différente et de la crête maximum de la phase cristalline de perovskite est de préférence de 5 % ou moins de façon davantage préférable de 3 % ou moins.

Comme il apparaît au vu des échantillons de céramique diélectrique 15 à 20 au niveau des tableaux 1, 3 et 5, les facteurs qui suivent doivent être satisfaits en plus de satisfaire les plages de compositions décrites ci-avant du composant principal et en plus de se conformer aux types de l'oxyde composite, afin d'empêcher que le rapport d'intensités de la crête maximum de la phase différente et de la crête maximum de la phase cristalline de perovskite n'excède 5 %. Tout d'abord, un diamètre de particule moyen du matériau de composant principal est de 0,5 pm ou moins après broyage et avant calcination. En second lieu, un rapport de site A/B dans le matériau de composant principal est dans la plage de 0,97 à 1,01 avant calcination. En troisième lieu, une température de calcination est dans la plage de 10000C à 13000C.

La figure 1 est un diagramme de diffraction rayons X de l'échantillon de céramique diélectrique 34 où le rapport d'intensités de la crete maximum de la phase différente et de la crête maximum de la phase cristalline de perovskite est de 1,0 %. La figure 2 est un diagramme de diffraction rayons X de l'échantillon de céramique diélectrique 20 qui présente le rapport d'intensités de 6,5 %. Les crêtes representées avec des astérisques au niveau des abaques représentent des crêtes qui représentent la phase cristalline de

perovskite. <SEP> Les <SEP> cretes <SEP> qui <SEP> ne <SEP> représentent <SEP> pas <SEP> la <SEP> phase <SEP> cristalline <SEP> de
<tb> perovskite <SEP> ne <SEP> sont <SEP> pas <SEP> accompagnées <SEP> d'astérisques.
<tb>

De <SEP> préférence, <SEP> un <SEP> oxyde <SEP> composite <SEP> qui <SEP> est <SEP> représenté <SEP> par <SEP> la
<tb> formule <SEP> a(Si,_,,_,TiwZr,)02-P(Mn,_4Ni4)O-yXO, <SEP> (a, <SEP> (i <SEP> et <SEP> y <SEP> sont <SEP> des
<tb> pourcentages <SEP> molaires <SEP> et <SEP> XO <SEP> est <SEP> un <SEP> élément <SEP> choisi <SEP> parmi <SEP> le <SEP> groupe
<tb> comprenant <SEP> BaO, <SEP> SrO, <SEP> CaO <SEP> et <SEP> <B>MgO),</B> <SEP> où <SEP> <B>0:##,</B> <SEP> g. <SEP> < <SEP> 0,5, <SEP> 0 <SEP> < _ <SEP> v <SEP> < <SEP> 0,7, <SEP> 0 <SEP> < _ <SEP> @
<tb> < _ <SEP> 1,0, <SEP> 0 <SEP> < _ <SEP> g. <SEP> + <SEP> v <SEP> < <SEP> 0,7 <SEP> et <SEP> où <SEP> la <SEP> teneur <SEP> en <SEP> (Si,_,,_VTi,Zr,)02, <SEP> la <SEP> teneur <SEP> en
<tb> (Mn1_SNQO <SEP> et <SEP> la <SEP> teneur <SEP> en <SEP> XO <SEP> se <SEP> situent <SEP> dans <SEP> la <SEP> région <SEP> dans <SEP> le
<tb> diagramme <SEP> ternaire <SEP> de <SEP> la <SEP> figure <SEP> 3 <SEP> qui <SEP> est <SEP> entourée <SEP> par <SEP> des <SEP> points <SEP> A <SEP> (a
<tb> = <SEP> 25,0, <SEP> (3 <SEP> = <SEP> 75,0,y <SEP> = <SEP> 0), <SEP> B <SEP> (a <SEP> = <SEP> 100,0, <SEP> (3 <SEP> = <SEP> 0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 0), <SEP> C <SEP> (a <SEP> = <SEP> 20,0, <SEP> P <SEP> = <SEP> 0, <SEP> y
<tb> = <SEP> 80,0) <SEP> et <SEP> D <SEP> (a <SEP> = <SEP> 5,0, <SEP> (i <SEP> = <SEP> 15,0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 80,0) <SEP> y <SEP> compris <SEP> les <SEP> lignes <SEP> AB, <SEP> AD <SEP> et
<tb> DC <SEP> et <SEP> à <SEP> l'exclusion <SEP> de <SEP> la <SEP> ligne <SEP> BC <SEP> est <SEP> utilisé <SEP> en <SEP> tant <SEP> qu'oxyde
<tb> composite. <SEP> En <SEP> utilisant <SEP> un <SEP> tel <SEP> oxyde, <SEP> une <SEP> durée <SEP> de <SEP> vie <SEP> longue <SEP> de <SEP> façon
<tb> significative <SEP> de <SEP> heures <SEP> ou <SEP> plus <SEP> lors <SEP> du <SEP> test <SEP> de <SEP> durée <SEP> de <SEP> vie <SEP> en
<tb> charge <SEP> haute <SEP> température <SEP> peut <SEP> être <SEP> obtenue <SEP> comme <SEP> représenté <SEP> au
<tb> moyen <SEP> des <SEP> échantillons <SEP> de <SEP> céramique <SEP> diélectrique <SEP> 21 <SEP> à <SEP> 50 <SEP> au <SEP> niveau
<tb> des <SEP> tableaux <SEP> 1, <SEP> 2, <SEP> 5 <SEP> et <SEP> 6.
<tb>

Exemple <SEP> 3
<tb> Des <SEP> céramiques <SEP> diélectriques <SEP> non <SEP> .réductrices <SEP> présentant <SEP> le
<tb> même <SEP> composant <SEP> principal <SEP> que <SEP> dans <SEP> l'exemple <SEP> 1 <SEP> auquel <SEP> sont <SEP> ajoutés
<tb> les <SEP> oxydes <SEP> composites <SEP> de <SEP> différentes <SEP> compositions <SEP> sont <SEP> formées.
<tb>

Tout <SEP> d'abord <SEP> des <SEP> poudres <SEP> de <SEP> CaC03, <SEP> SrC03, <SEP> BaC03, <SEP> MgC03,
<tb> Zr02, <SEP> Ti02, <SEP> MnC03, <SEP> NiO, <SEP> HfO2, <SEP> Si02 <SEP> et <SEP> A1203 <SEP> dont <SEP> chacune <SEP> présente
<tb> une <SEP> pureté <SEP> de <SEP> 99% <SEP> ou <SEP> plus <SEP> sont <SEP> préparées <SEP> en <SEP> tant <SEP> que <SEP> matériaux <SEP> bruts
<tb> pour <SEP> le <SEP> composant <SEP> principal <SEP> et <SEP> pour <SEP> l'oxyde <SEP> composite.
<tb>

Ces <SEP> poudres <SEP> de <SEP> matériau <SEP> sont <SEP> pesées <SEP> afin <SEP> d'obtenir <SEP> une <SEP> poudre
<tb> de <SEP> matériau <SEP> de <SEP> composant <SEP> principal <SEP> non <SEP> calcinée <SEP> représentée <SEP> par <SEP> la
<tb> formule <SEP> (Cal_a_b-cSraBabMgc)k(Zrl_W_X_y_ZTi,MnxNiyHfZ)03 <SEP> où <SEP> les <SEP> indices <SEP> a,
<tb> b, <SEP> c, <SEP> w, <SEP> x, <SEP> y <SEP> et <SEP> z <SEP> sont <SEP> comme <SEP> représentés <SEP> au <SEP> niveau <SEP> des <SEP> tableaux <SEP> 10 <SEP> et
<tb> 11 <SEP> et <SEP> l'indice <SEP> k <SEP> est <SEP> comme <SEP> représenté <SEP> au <SEP> niveau <SEP> des <SEP> tableaux <SEP> 12 <SEP> et <SEP> 13.
<tb> Au <SEP> niveau <SEP> des <SEP> tableaux <SEP> 12 <SEP> et <SEP> 13, <SEP> les <SEP> numéros <SEP> des <SEP> échantillons
<tb> correspondent <SEP> aux <SEP> numéros <SEP> des <SEP> échantillons <SEP> au <SEP> niveau <SEP> des <SEP> tableaux
<tb> 10 <SEP> et <SEP> 11.

Les poudres de matériau de composant principal non calcinées sont mélangées par voie humide et pulvérisées dans un broyeur à billes sont séchées comme dans le cas de l'exemple 1. Les diamètres de particule moyens des poudres de matériau de composant principal sont représentés au niveau des tableaux 12 et 13.

Puis les poudres de matériau de composant principal non calcinées sont soumises à calcination dans l'air aux températures sont représentées au niveau des tableaux 3 et 4 pendant deux heures afin d'obtenir des poudres de matériau de composant principal calcinées.

CaC03, SrC03, BaC03 et MgC03 sont ensuite pesés et ajoutes à la poudre de composant principal calcinée de telle sorte que l'indice m dans la formule (Cal_a_b-cSraBabMgc)m(Zr,_W_x_y_ZTiWMnxNiyHfZ)03 soit comme représenté au niveau des tableaux 10 et 11. Une quantité prédéterminée d'oxyde composite comme représenté au niveau tableaux 10 et 11 est ensuite ajoutée à la poudre de matériau de composant principal. Une quantité prédéterminée de verre du type Li est ajoutée à l'échantillon de poudre de matériau 113 en lieu et place de l'oxyde composite décrit ci-avant. Une quantité prédéterminée de verre du type Li-B est ajoutée à l'échantillon de poudre de matériau 114. Des quantités prédéterminées d'oxyde de Si non calciné, d'oxyde de non calciné et d'oxyde d'AI non calciné sont ajoutées à l'échantillon de poudre de matériau 115 et l'ensemble est mélangé.

Si02, Ti02, MnC03, SrC03 et A1203 sont pesés à l'avance, sont mélangés, sont calcinés et sont broyés jusqu'à obtention d'un diamètre moyen de 1 Nm ou moins et afin d'obtenir les oxydes composites qui sont représentés au niveau des tableaux 10 et 11 et qui satisfont la formule a(Si,_#,T#,)02-p(Mn,_vSr,)O-yA1203 où les indices a, p et y sont des pourcentages molaires et les indices a, et v sont comme représentés au niveau des tableaux 10 et 11.

Des boues de céramique sont formées en mélangeant par voie humide les poudres de matériau résultantes comme dans le cas de l'exemple 1, sont formées selon des feuilles qui sont découpées afin d'obtenir les feuilles de base en céramique qui présentent la même épaisseur et la même forme que dans le cas de l'exemple 1.

Une pâte conductrice qui est essentiellement constituée par nickel (Ni) est appliquée par impression sur les feuilles de base céramique de manière à former des couches de pâte conductrice pour former des électrodes internes de condensateurs en céramique monolithiques comme dans le cas de l'exemple 1. Plusieurs feuilles base en céramique sont empilées afin de former des empilements de feuilles de base en céramique.

Après que l'empilement est brûlé afin d'évacuer par combustion l'agent de liaison ou liant contenu dedans comme dans le cas de l'exemple 1, l'empilement est cuit à une température comme représenté au niveau des tableaux 14 et 15 dans une atmosphère réductrice afin de former un compact fritté en céramique. II est à noter que les numéros des échantillons au niveau des tableaux 14 et 15 correspondent aux numéros des échantillons au niveau des tableaux 10 et 11.

Des électrodes externes qui sont connectées électriquement aux electrodes internes sont formées sur le compact fritté en céramique comme dans le cas de l'exemple 1.

Une solution de placage au Ni constituée par du sulfate de nickel par du chlorure de nickel et par de l'acide borique est préparée et couches de placage au Ni sont formées sur les surfaces des électrodes externes au moyen d'un placage au tonneau.

Sur les couches de placage au Ni résultantes, des couches de placage au Sn sont formées en utilisant une solution de placage au Sn à base d'acide carboxylique au moyen d'un placage au tonneau.

Les dimensions externes du condensateur en céramique monolithique résultant sont une largeur de 1,6 mm, une longueur 3,2 mm et une épaisseur de 1,2 mm. L'épaisseur de la couche céramique diélectrique est de 10 pm. Le nombre total des couches en céramique diélectrique effectives est de 50.

Puis des caractéristiques électriques du condensateur en céramique monolithique sont examinées sous les mêmes conditions que celles dans le cas de l'exemple 1. C'est-à-dire que la valeur de capacité électrostatique et la perte diélectrique sont déterminées et une constante diélectrique relative est calculée à partir de la valeur de capacité électrostatique obtenue. Ensuite, une caractéristique d'isolation-résistance est mesurée et la valeur de résistance spécifique est calculée à partir de la valeur ainsi mesurée. La valeur de capacité électrostatique est en outre examinée et son taux de variation (TC) est calcule comme dans le cas de l'exemple 1.

En outre, trente six éléments de test pour chaque échantillon sont soumis à un test de durée de vie en charge haute température comme dans le cas de l'exemple 1 afin d'examiner la variation de la caractéristique d'isolation-résistance en fonction du temps. Les durées de ' des éléments d'échantillon sont déterminées en utilisant le même standard que dans le cas de l'exemple 1 et une durée de vie moyenne pour chaque échantillon est déterminée.

Un test en charge humidité-résistance est également mis en oeuvre comme dans le cas de l'exemple 1 afin d'observer variation de la caractéristique d'isolation-résistance en fonction du temps. Les éléments de test qui sont considérés comme étant défectueux en utilisant le même standard que dans le cas de l'exemple 1 sont comptés.

Ces compacts frittés en céramique sont soumis à analyse par diffraction rayons X CuKa afin d'obtenir un rapport d'intensités des crêtes maximum. Les résultats sont représentés au niveau des tableaux 14 et 15.

Comme il apparaît au vu des tableaux 14 et 15, les échantillons de céramique diélectrique non réductrice 121, 122, , 125, 127, 129, 131 et 133 à 148 présentent des valeurs de résistance spécifique élevees de 10'3 çZ.cm ou plus et des pertes diélectriques faibles de 0,1 moins. Le taux de variation de la valeur de capacité électrostatique en fonction de la température est dans -1000 ppm/ C. Ce taux peut être réglé à une valeur souhaitée modifiant la composition. La durée de vie moyenne au niveau du test de durée de vie charge haute température à 150 C/200 V est significativement long, c'est-à-dire 200 heures ou plus. Aucun élément defectueux n'est trouvé après 200 heures lors du test en charge humidité-résistance à 121 C/pression d'air de 2/100 V.

Exemple 4 Puis un condensateur en céramique monolithique contenant un oxyde composite et un condensateur en céramique monolithique contenant un verre du type Li sont formés afin d'examiner la fluctuation du point de vue du diamètre des particules et du point de vue de la tension de claquage.

Les mêmes matériaux bruts que dans le cas de l'exemple 1 sont utilisés. Ces matériaux sont pesés afin d'obtenir une poudre de matériau de composant principal non calcinée représentée par la formule (Ca,_a_b_cSraBabMgc)m(Zr,_w_x_y_ZTiwMnxNiyHfZ)03 où les indices a, b, c, w, x, y et z sont comme représentés au niveau du tableau 16 et l'indice k est comme représenté au niveau du tableau 17. Les numéros des échantillons au niveau du tableau 17 correspondent aux numéros des échantillons au niveau du tableau 16.

Les poudres de matériau de composant principal non calcinées sont ensuite mélangées par voie humide et pulvérisé dans un broyeur billes et sont séchées. Un diamètre de particule moyen de la poudre de matériau de composant principal à ce niveau est comme représenté au niveau du tableau 17.

La poudre de matériau pour le composant principal est calcinée pendant deux heures dans l'air à une température comme représentée au niveau du tableau 17 afin de former une poudre de matériau calcinée pour le composant principal.

Afin de régler de façon précise la proportion des composants contenus dans la poudre, CaC03, SrC03, BaC03 et MgC03 sont ajoutés de telle sorte que l'indice m dans la formule (Ca,-a-b- cSraBabMgc)m(Zr,_W_x_y_ZTiWMnXNiyHfZ)03 soit comme représenté au niveau du tableau 16. Une quantité prédéterminée d'oxyde composite comme représentée au niveau du tableau 16 est ajoutée à l'échantillon de poudre de matériau 151 et du verre du type Li est ajouté en lieu et place de l'oxyde composite à l'échantillon de poudre de matériau 152.

Les mêmes matériaux bruts que dans le cas de l'exemple 3 sont pesés à l'avance, sont mélangés, sont calcinés et sont broyés jusqu'à obtention du même diamètre moyen que dans le cas de l'exemple 3 de manière à obtenir les oxydes composites qui sont représentés au niveau du tableau 16 et qui satisfont les formules (Si,- wTi,)02-5(Mn,_,Sr,)O--yA1203 où les indice a, @i et y sont des pourcentages molaires et les indices a, a, y, et v sont comme représentés au niveau du tableau 16.

Des boues de céramique sont constituées en utilisant des poudres de matériau comme dans l'exemple 3. Des feuilles de base en céramique rectangulaires présentant une épaisseur de 12 Nm sont ensuite constituées à partir de ces boues de céramique. Une pâte conductrice essentiellement constituée par du nickel (Ni) est appliquée par impression sur les feuilles de base en céramique de maniere à obtenir des couches de pâte conductrice pour former des électrodes internes d'un condensateur en céramique monolithique. Ces feuilles de base en céramique sont empilées comme dans le cas l'exemple 3 afin de former un empilement de feuilles de base céramique. L'empilement est chauffé afin d'évacuer par combustion l'agent de liaison ou liant et est ensuite soumis à cuisson à une température représentee au niveau du tableau 18 dans une atmosphère réductrice afin d'obtenir un compact fritté en céramique. Les numéros des échantillons au niveau du tableau 18 correspondent aux numéros des échantillons au niveau du tableau 16.

électrodes externes pour assurer une connexion électrique sur les électrodes internes sont formées sur le compact fritté en céramique comme dans le cas de l'exemple 3. Des couches de plaquage au Ni puis des couches de plaquage au Sn sont formées sur les surfaces des électrodes externes comme dans le cas de l'exemple 3.

La dimension de contour du condensateur en céramique monolithique résultant est une largeur de 1,6 nm, une longueur de 3,2 nm et une épaisseur de 1,2 nm. L'épaisseur de la couche en céramique diélectrique est de 10 Nm. Le nombre total des couches en céramique diélectrique effectives est de 80.

Puis le diamètre de particule de condensateurs en céramique monolithiques, à raison de 30 pour chaque échantillon, est mesuré au moyen d'un microscope électronique à balayage (SEM). La tension de claquage est également mesurée et une déviation standard est déterminée. Les résultats sont représentés au niveau du tableau 18 ci- après.

Comme il apparaît au niveau tableau 18, l'échantillon de céramique diélectrique non réductrice 151 qui contient un oxyde composite présente une faible variation en termes de diamètre de particule après cuisson et une faible variation de tension de claquage.

II est bien entendu que, bien que Ti soit utilisé en tant que T et bien que du Sr soit utilisé en tant que M dans l'oxyde composite qui est représenté par la formule a(Si,_ )02-P(Mn,_,M,)O-yA1203 selon cet exemple, le cadre de l'invention est pas limité à cet oxyde composite. Selon une variante, T peut être Zr et M peut être un élément choisi parmi le groupe comprenant Ni, Ba, Ca et Mg et les mêmes avantages et effets peuvent être obtenus comme dans le cas de cet exemple.

En outre, bien que du nickel élémentaire soit utilisé en tant que métal de base constituant les électrodes internes, un alliage de nickel, du cuivre (Cu) ou un alliage de cuivre peut être utilisé en lieu et place du nickel élémentaire. Les mêmes avantages et les mêmes effets peuvent toujours être obtenus comme dans le cas de cet exemple.

Les plages de la composition dans la céramique diélectrique non réductrice et de la composition de l'oxyde composite additionnel sont limitées comme présenté ci-après.

Dans le composant principal (pourcentage molaire de 100) représenté par la formule (Ca,_a_b_cSraBabMgc)m(Zr,_W_x_Y_ ZTi,MnxNiyHfZ)03 où<B>0</B> < _ a < 0,5,<B>O</B> :g b < 5,<B>0</B> < _ c < 0,05,<B>0</B> < _ a + b + c < 0,5,<B>0,98:g</B> m < 1,03,<B>0:g</B> w < 0,6, 0 < < 0,05,<B>O</B> :g y < 0,05, 0 < z < 0,3,<B>0</B> < _ x +<B>y</B> < _ 0,05 et<B>0</B> < _ w + x + y + z 0,6, lorsque les indices a et b sont respectivement supérieurs à 0 comme dans les échantillons de céramique diélectrique 101 et 102 niveau des tableaux 10 et 14, la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie. Lorsque l'indice c vaut 0,05 ou plus comme dans le cas de l'échantillon 103, la capacité de frittage est dégradée de façon significative. Lorsque<B>0</B> < _ a < 0,5,<B>0:9</B> b < 0,5,<B>0</B> < _ c < 0,05 mais que le total de a, b et c est de 0,5 ou plus comme dans le cas de l'échantillon 104, la perte diélectrique est augmentée, ce qui conduit une durée de vie moyenne plus courte lors du test de durée de vie en charge haute température. Lorsque l'indice w est de 0, ou plus comme dans le cas de l'échantillon en céramique diélectrique 105, la perte diélectrique et le taux de variation de la valeur de capacité électrostatique en fonction de la température (TC) sont augmentés et la durée de vie moyenne lors du test de durée de ' en charge haute température est raccourcie. Lorsque l'indice x est de 0,05 ou plus comme dans le cas de l'échantillon de céramique diélectrique 106, la perte diélectrique est augmentée et la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est diminuée. Lorsque l'indice y est de 0,05 ou plus comme dans le cas de l'échantillon de céramique diélectrique 107, la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie. Lorsque l'indice z est de 0,3 ou plus comme dans le cas de l'échantillon de céramique diélectrique 108, sa capacité de frittage est dégradée de façon drastique. Lorsque le total des indices x et y excède 0,05 comme dans le cas de l'échantillon de céramique diélectrique 109, la perte diélectrique est augmentée et la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie. Lorsque le total des indices w, x, y et z est de 0,6 ou plus comme dans le cas de l'échantillon de céramique diélectrique 110, la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie.

Au vu de ce qui précède, la teneur en Sr a est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ a < 0,5, la teneur en Ba b est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ b < 0,5 et la teneur en Mg c est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ c < 0,05. Dans le même temps, le total de a, b et c est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ a + b + c < 0,5. La teneur en Ti w est de préférence dans la plage de 0::g w < 0,6, la teneur en Mn x est de préférence dans la plage de 0 < x < 0,05, la teneur en Ni y est de préférence dans la plage de 0 < _ y < 0,05 et la teneur en Hf z est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ z < 0,3. Dans le même temps, le total de x et y est de préférence dans la plage de 0 < x + y < 0,05 et le total de w, x, y et z est de préférence dans la plage de<B>0</B> < _ W + x + y + z < 0,6. En ce qui concerne l'échantillon de céramique diélectrique 111 au niveau des tableaux 10 et 14, lorsque l'indice m est inférieur à 0,98, la perte diélectrique est augmentée et la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie. Lorsque l'indice m est de 1,03 ou plus comme dans le cas de l'échantillon de céramique diélectrique 112, la capacité de frittage est dégradée de façon significative. L'indice m est par conséquent de préférence dans la plage de 0,98 < m < 1,03.

Lorsqu'un verre qui contient des composants volatiles tels que Li ou que B est utilisé en tant qu'oxyde composite additionnel, le volume de volatilisation et le temps de volatilisation varient en fonction des échantillons. En tant que conséquence, certaines particules présentent une croissance anormale tandis que d'autres ne présentent pas de croissance du tout, ce qui génère une fluctuation augmentée du diamètre de particule. Par conséquent, lorsque le composant principal la céramique diélectrique non réductrice satisfait les plages décrites avant mais que l'oxyde composite additionnel contient du verre du type Li ou du verre du type Li-B, le nombre d'éléments défectueux lors test en charge humidité-résistance augmente tout comme dans le des échantillons de céramique diélectrique 113 et 114 au niveau des tableaux 10 et 14. En outre, dans le cas de l'échantillon de céramique diélectrique 152 au niveau des tableaux 16 et , la fluctuation au niveau de la tension de claquage est augmentée, qui dégrade la fiabilité.

Lorsque l'oxyde de Si, l'oxyde de Mn et l'oxyde d'AI ajoutés à la poudre ne sont pas calcinés à l'avance comme dans le cas de l'échantillon de céramique diélectrique non réductrice 115 au niveau des tableaux 10 et 14, la capacité de frittage est dégradée et le nombre d'éléments défectueux lors du test en charge humidité- résistance est augmenté. Lorsque l'oxyde composite n'est pourvu d'aucun des oxydes que sont l'oxyde de Si, l'oxyde de Mn et l'oxyde d'AI comme dans le cas des échantillons de céramique diélectrique non réductrice 116 à 118, la capacité de frittage est degradée et le nombre d'éléments défectueux lors du test en charge humidité- résistance est augmenté.

Au vu de ce qui précède, l'oxyde composite additionnel est de préférence le type d'oxyde composite qui ne contient ' du verre du type Li, ni du verre du type Li-B, qui satisfait la formule (Si, T)02-(Mn, M)O-AI203 où T est au moins un élément choisi parmi le groupe comprenant Ti et Zr, M est au moins un élément choisi parmi le groupe comprenant Ni, Ba, Sr, Ca et Mg.

Lorsque le rapport d'intensités de la crête maximum d'une phase différente (il est à noter que l'expression "phase différente" se réfère à chaque phase cristalline qui n'est pas la phase cristalline de perovskite) et de la caractéristique de crête maximum de la phase cristalline de pérovskite apparaissant à 28 = 25 C à 35 C excède 5 au niveau de l'analyse par diffraction rayons X CuKa, la perte diélectrique est augmentée de façon non souhaitable et la durée de vie moyenne lors du test de durée de vie en charge haute température est raccourcie de façon non souhaitable comme représenté par les échantillons de céramique diélectrique 119, 120, 123, 126, 128 et 130 au niveau du tableau 14 et par l'échantillon 132 au niveau du tableau 15. Le rapport d'intensités de la crête maximum de la phase différente sur la crête maximum de la phase cristalline de pérovskite est de préférence de 5 % ou moins.

Comme il apparaît au vu des échantillons de céramique diélectrique 119, 120, 123, 126, 128 et 130 au niveau des tableaux 10, 12 14 et au vu de l'échantillon 132 au niveau des tableaux 11, 13, 15, les facteurs qui suivent doivent être satisfaits en plus de satisfaire les plages de compositions décrites ci-avant du composant principal et en plus de se conformer aux types de l'oxyde composite, afin d'empêcher que le rapport d'intensités de la crête maximum de la phase différente et de la crête maximum de la phase cristalline de pérovskite n'excède 5 %. Tout d'abord, un diamètre de particule moyen du matériau de composant principal est de 0,5 pm ou moins après broyage et avant calcination. En second lieu, un rapport de site AIB dans le matériau de composant principal est dans la plage de 0,97 à 1,01 avant calcination. En troisième lieu, une température de calcination est dans la plage de 1000 C à 1300 C.

La figure 4 est un abaque d'analyse par diffraction rayons X de l'échantillon de céramique diélectrique 121 où le rapport d'intensités de la crête maximum de la phase différente et de la crête maximum de la phase cristalline de pérovskite est de 0,5 %. La figure 5 est un abaque d'analyse par diffraction rayons X de l'échantillon de céramique diélectrique 119 qui présente le rapport d'intensités de 5,5 %. Les crêtes munies d'un astérisque au niveau des abaques sont les crêtes qui sont assignées à la phase cristalline de pérovskite et les autres crêtes sont des crêtes qui sont assignées aux phases différentes.

De préférence, un oxyde composite qui est représenté par la formule a(Si,_,,T,,)02-P(Mni_VM,)O-yAl20s (a, 0 et y sont des pourcentages molaires, T est au moins un élément choisi par le groupe comprenant Ti et Zr, et M est au moins un élément choisi parmi le groupe comprenant Ni, Ba, Sr, Ca et Mg) où<B>0</B> < _ p < 0,5 et 0 < _ v < 0,5 et où la teneur en (Si,_,,T,,)02, la teneur en (Mn,_,Mv)O et la teneur en A1203 sont situées dans la région qui est entourée dans le diagramme ternaire de la figure 6 par des points A (a = 80,0, P = 20,0, y = 0), B (a = 10,0, (3 = 90,0, y = 0), C (a = 10,0, P = 20,0, y = 70,0), D (a = 30,0, (3 = 0, y = 70,0) et E (a = 80,0, P = y = 20,0) y compris les lignes AE, BC et CD et à l'exclusion des lignes AB et ED est utilisé en tant qu'oxyde composite. La céramique diélectrique qui contient un tel oxyde présente une durée de vie longue de façon significative de 400 heures ou plus lors du test durée de vie en charge haute température comme représenté moyen des échantillons 121, 122, 124, 125, 127, 129, 131, 133 à 135 137 à 139, 141 à 143 et 145 à 148 au niveau des tableaux 10, 11, 14 15.

Lorsque les matériaux bruts sont pesés afin de constituer la poudre de matériau de composant principal non calcinée, la valeur de l'indice k dans la formule (Cal _a_b-cSraBabMgc)k(Zr,_w_x_y_ZTiwMnxNiyHfZ)03 est de préférence dans la plage de 0,97 < _ k < _ 1,01 et de façon davantage préférable, dans la plage de 0,98 < _<B>k</B> < _ 1,00. Lorsque k est inférieur à 0,97, la croissance des particules des matériaux bruts est favorisée de façon excessive et un diamètre de particule moyen après calcination est rendu grossier. tant que conséquence, une réaction en phase solide est inhibée pendant le frittage, la phase cristalline de pérovskite en tant que phase cristalline primaire est empêchée d'être synthétisée et les phases cristallines qui ne sont pas la phase cristalline de pérovskite sont genérées. Lorsque k excède 1,01, la formation de la phase cristalline de pérovskite en tant que phase cristalline primaire dans la poudre de matériau calcinée n'est pas satisfaisante.

La poudre de matériau composant principal non soumise à calcination est de préférence broyée jusqu'à obtention d'un diamètre moyen de 0,5 Nm ou moins, façon davantage préférable de 0,3 pm ou moins dans un broyeur à billes. Lorsqu'un diamètre moyen excède 0,5 pm, la réaction en phase solide pendant la calcination est inhibée, la phase cristalline de pérovskite en tant que phase cristalline primaire est empêchée d'être synthétisee les phases cristallines qui ne sont pas la phase cristalline de perovskite sont générées. II est bien entendu qu'aucune limite n'est imposée en ce qui concerne la valeur la plus faible d'un diamètre de particule moyen.

La poudre de matériau de préférence calcinée à une température dans la plage 1000 C à 1300 C. Lorsque la température de calcination est inférieure à 1000 C, une réaction en phase solide est inhibée et la phase cristalline de pérovskite en tant que phase cristalline primaire empêchée d'être synthétisée. Des substances n'ayant pas réagi subsistent et provoquent la génération de phases cristallines qui ne sont pas la phase cristalline de pérovskite. Lorsque la température de calcination excède 1300 C, un diamètre de particule moyen de la poudre matériau calcinée est excessivement augmenté, ce qui empêche réaction en phase solide pendant le processus de frittage et ce qui empêche la formation de la phase cristalline pérovskite en tant que phase cristalline primaire.

II doit être noté que, bien que l'épaisseur de la couche en céramique diélectrique frittée soit de 10 Nm au niveau exemples, l'épaisseur peut être diminuée davantage jusqu'à 5 pm moins de manière a former un condensateur en céramique monolithique de capacité élevée et de dimension plus petite. Dans ce cas egalement, la fluctuation au niveau du diamètre de particule est empêchée et la capacité de frittage est améliorée du fait de l'oxyde composite décrit ci- avant qui ajouté à la poudre matériau. Le condensateur résultant présente performance hautement fiable lors d'un test de durée de vie en charge haute température et lors d'un test en charge humidité- résistance et profite des mêmes avantages que ceux conformément aux exemples.

II doit être également noté qu'au niveau des exemples, les oxydes composites sont essentiellement selon une phase amorphe et que l'expression "phases différentes" se réfèrent à toutes les phases cristallines qui ne sont pas la phase cristalline primaire structure pérovskite telles que celles générées par divers additifs moyen d'une réaction entre l'oxyde composite et le composant principal.

Claims (1)

REVENDICATIONS

1. Céramique diélectrique non réductrice caractérisée en ce

qu'elle <SEP> comprend

<tb> composant <SEP> principal <SEP> comportant <SEP> une <SEP> phase <SEP> cristalline <SEP> de

<tb> perovskite, <SEP> le <SEP> composant <SEP> principal <SEP> satisfaisant <SEP> la <SEP> formule <SEP> (Ca,_a_b cSraBabMgc)m(Zr,_w_X_y_ZTiwMnXNiyHfZ)03 <SEP> où <SEP> <B>0</B> < _ <SEP> a <SEP> < <SEP> 0,5, <SEP> <B>0</B> < _ <SEP> b <SEP> < <SEP> 0,5, <SEP> <B>0:##</B> <SEP> c

<tb> < 0,05,0 < _ <SEP> a+b+c < 0,5,0,98 < _m < 1,03,0 < _w < 0,6,0 < _x < 0,05,0

<tb> < y < 0,05, <SEP> 0_ < z < 0,3, <SEP> 0 < _x+y < _0,05et0 < _w+x+y+z < 0,6; <SEP> et

<tb> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> type <SEP> d'oxyde <SEP> composite <SEP> choisi <SEP> parmi <SEP> le <SEP> groupe

<tb> comprenant <SEP> (Si, <SEP> T)02-MO-XO <SEP> où <SEP> T <SEP> est <SEP> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> élément <SEP> choisi

<tb> parmi <SEP> Ti <SEP> et <SEP> Zr, <SEP> MO <SEP> est <SEP> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> élément <SEP> choisi <SEP> parmi <SEP> MnO <SEP> et <SEP> NiO

<tb> et <SEP> XO <SEP> est <SEP> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> élément <SEP> choisi <SEP> parmi <SEP> BaO, <SEP> SrO, <SEP> CaO <SEP> et <SEP> MgO, <SEP> et

<tb> (Si, <SEP> T)02-(Mn, <SEP> M)O-AI203 <SEP> où <SEP> T <SEP> est <SEP> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> élément <SEP> choisi <SEP> parmi <SEP> Ti

<tb> et <SEP> Zr <SEP> et <SEP> M <SEP> est <SEP> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> élément <SEP> choisi <SEP> parmi <SEP> Ni, <SEP> Ba, <SEP> Sr, <SEP> Ca <SEP> et <SEP> Mg,

<tb> où <SEP> le <SEP> rapport <SEP> de <SEP> l'intensité <SEP> de <SEP> la <SEP> crête <SEP> maximum <SEP> d'une <SEP> phase

<tb> cristalline <SEP> qui <SEP> n'est <SEP> pas <SEP> la <SEP> phase <SEP> cristalline <SEP> de <SEP> perovskite <SEP> sur <SEP> l'intensite

<tb> de <SEP> la <SEP> crete <SEP> maximum <SEP> assignée <SEP> à <SEP> la <SEP> phase <SEP> cristalline <SEP> de <SEP> perovskite

<tb> apparaissant <SEP> à <SEP> 28 <SEP> = <SEP> 25 <SEP> à <SEP> 35 <SEP> vaut <SEP> 5 <SEP> % <SEP> ou <SEP> moins <SEP> dans <SEP> un <SEP> motif <SEP> de

<tb> diffraction <SEP> rayons <SEP> X <SEP> CuKa.

<tb> 2. <SEP> Céramique <SEP> diélectrique <SEP> non <SEP> réductrice <SEP> selon

<tb> revendication <SEP> 1, <SEP> caractérisée <SEP> en <SEP> ce <SEP> que

<tb> l'oxyde <SEP> composite <SEP> (Si, <SEP> T)02-MO-XO <SEP> qui <SEP> est <SEP> représenté <SEP> par <SEP> la

<tb> formule <SEP> a(Sil_,,_,Ti,,Zr,)02-a(Mni_@Ni@)0-yX0 <SEP> où <SEP> a, <SEP> P <SEP> et <SEP> y <SEP> sont <SEP> des

<tb> pourcentages <SEP> molaires <SEP> et <SEP> XO <SEP> est <SEP> au <SEP> moins <SEP> un <SEP> élément <SEP> choisi <SEP> parmi

<tb> BaO, <SEP> SrO, <SEP> CaO <SEP> et <SEP> MgO <SEP> satisfait <SEP> les <SEP> relations <SEP> <B>0:## <SEP> #i</B> <SEP> < <SEP> 0,5, <SEP> <B>0</B> < _ <SEP> v <SEP> < <SEP> 0,7, <SEP> 0

<tb> <B>1,0, <SEP> 0</B> < _<B>g <SEP> +</B> <SEP> v < _<B>0,7;</B> <SEP> et

<tb> la <SEP> teneur <SEP> en <SEP> (Si,_N_vTiNZrv)02, <SEP> la <SEP> teneur <SEP> en <SEP> (Mn,_@NQO <SEP> et <SEP> la

<tb> teneur <SEP> en <SEP> XO <SEP> dans <SEP> l'oxyde <SEP> composite <SEP> se <SEP> situent <SEP> dans <SEP> la <SEP> région

<tb> entourée <SEP> par <SEP> des <SEP> points <SEP> A <SEP> (a <SEP> = <SEP> 25,0, <SEP> P <SEP> = <SEP> 75,0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 0), <SEP> B <SEP> (a <SEP> = <SEP> 100,0, <SEP> P

<tb> 0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 0), <SEP> C <SEP> (a <SEP> = <SEP> 20,0, <SEP> (3 <SEP> = <SEP> 0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 80,0) <SEP> et <SEP> D <SEP> (a <SEP> = <SEP> 5,0, <SEP> P <SEP> = <SEP> 15,0, <SEP> y <SEP> = <SEP> 80,0) y compris les lignes AB, AD et DC et à l'exclusion la ligne BC dans un diagramme ternaire. 3. Céramique diélectrique non réductrice selon la revendication 1, caractérisée en ce que l'oxyde composite (Si, T)02-(Mn, M)O- qui est représenté par la formule a(Si,_,T,,)02-P(Mnl_,M,)O-yAl20s où a, P et y sont des pourcentages molaires, T est au moins un élément choisi parmi Ti et Zr et M est au moins un élément choisi parmi Ni, Ba, Sr, Ca et Mg satisfait les relations 0:## #t < 0,5 et<B>0:9</B> v < 0,5 ; et la teneur en (Si,_uT,,)02, la teneur en (Mn,_,M,)O et la teneur en A1203 dans l'oxyde composite se situent dans la région qui est entourée par des points A (a = 80,0, 20,0, y = ), B (a = 10,0, P = 90,0, y = 0), C (a = 10,0, (3 = 20,0,y = 70,0), D ( = 30,0, (3 = 0, y = 70,0) et E (a = 80,0, (i = 0, y = 20,0) y compris les lignes AE, BC et CD et à l'exclusion des lignes AB et ED dans un diagramme ternaire. 4. Condensateur en céramique monolithique caractérisé en ce qu'il comprend une pluralité de couches en céramique diélectrique ; des électrodes internes prévues entre les couches de la pluralité de couches en céramique diélectrique ; et des électrodes externes connectées électriquement aux électrodes internes, où chacune de la pluralité de couches en céramique diélectrique comprend une céramique diélectrique non réductrice selon l'une quelconque des revendications 1 à 3 et les électrodes internes comprennent un métal de base en tant que composant principal. 5. Condensateur en céramique monolithique selon la revendication 4, caractérisé en ce qu'il comprend outre des couches de placage prévues sur les surfaces des électrodes externes. 6. Condensateur en céramique monolithique selon l'une quelconque des revendications 4 et 5, caractérise en ce que le métal de base est un métal choisi parmi le groupe comprenant Ni, un alliage de Ni, Cu et un alliage de Cu.