DE69831294T2 - Platzeffizienter Halbleiterspeicher - Google Patents

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DE69831294T2
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amplifier
region
drivers
diffusion region
semiconductor memory
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Gerhard Mueller
Toshiaki Kirihata
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Infineon Technologies AG
International Business Machines Corp
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Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Halbleiterspeicher, wie etwa dynamische Speicher mit wahlfreiem Zugriff großer Kapazität (DRAMs, dynamic random access memories). Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf einen Halbleiterspeicher mit einem raum-effizienten Layout mit Verstärkertreibern, platziert in dem Speicher, wobei die Zahl von Kontakten reduziert ist.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Speicher großer Kapazität enthalten typischerweise Leseverstärkerbänke zwischen Speicherzellenfeldern. Die Leseverstärkerbänke belegen Raum auf der Fläche der Chips. Mit der Nachfrage nach Speicherchips höherer Kapazität wurde der verfügbare Flächenbereich zunehmend wichtig, um so effizient wie möglich zu sparen und zu verwenden. Speicherchips sind in einer Vielzahl von Zeilen und Spalten angeordnet. Eine Verringerung in der Größe einer Spalte könnte z.B. eine große Auswirkung auf die Größe des Chips haben.
  • Bezug nehmend auf 1 wird ein typisches Speicherfeld 10 gezeigt. Eine Leseverstärkerbank 12 enthält eine Vielzahl von Leseverstärkern 14 für eine Spalte 16 von Speicherzellen 18. Jede Spalte 16 von Speicherzellen 18 inkludiert ein Paar von komplementären Bitleitungen 20. Während des Betriebs "liest" ein Leseverstärker 14 eine Differenzialspannung zwischen einem Paar von komplementären Bitleitungen 20 ab. Während des Abtastens der Differenzialspannung verstärkt Leseverstärker 14 die Differenzialspannung zu einer Bitleitungs-Hochspannung in einer Bitleitung des Paars, und die andere Bitleitung ist geerdet. Eine Leitung kann hoch (Bitleitung hoch) oder tief (Masse) angesteuert werden, je nach Erfordernis. Dies erlaubt den Speicherzellen in dieser Spalte, entweder ein hohes oder ein tiefes Bit zu speichern, je nach Notwendigkeit. Eine Region 22 wird gezeigt, die drei Leseverstärker 14 und einen Abschnitt einer Stichregion (stitch-region) 23 enthält, wo sich keine Speicherzellen befinden. Ferner kann sich in einer segmentierten Wortleitungsarchitektur ein lokaler Wortleitungstreiber in einer entsprechenden freien Region befinden.
  • Bezug nehmend auf 2 enthält Leseverstärker 14 gewöhnlich große Transistoren, die zum Ansteuern der zwei getrennten Hälften von Leseverstärker 14 verwendet werden. Die zwei Hälften von Leseverstärker 14 inkludieren einen P-Verstärker 24 und einen N-Verstärker 26. Stichregion 23 verläuft allgemein benachbart zu Spalte 16, und Stichregion 23 hat die gleiche grundlegende Ausrichtung wie Spalten 16. Stichregion 23 ist ein intermittierender Raum, frei von Bitleitungen 20, wobei daher ein Raum geschaffen wird, in dem es zweckdienlich ist, notwendige Komponenten zu platzieren. Regionen für eine Multiplexing-Schaltung, die Isolationstransistoren enthält, befinden sich in MUX-Regionen 28 und 30. Eine Bitleitungs-Ausgleichsschaltung, die Ausgleichstransistoren enthält, befindet sich in EQ-Regionen 32 und 34. EQ-Regionen 32 und 34 können gemeinsam genutzt werden, falls sich eine EQ zwischen MUX-Regionen 28 und 30 befindet. Sowohl die MUX- als auch die EQ-Regionen befinden sich zu den Enden der Leseverstärkerbank 12 (1).
  • P-Verstärker 24 befindet sich in der P-Verstärkerregion 36 und N-Verstärker 26 befindet sich in der N-Verstärkerregion 38. Die Transistoren, die sich in der Stichregion 23 befin den, inkludieren einen PSET-Transistor-(PSET)Treiber 40 und einen NSET-Transistor-(NSET)Treiber 42. Wie erwähnt, inkludiert Leseverstärker 14 einen N-Verstärker 38 und einen P-Verstärker 36. N-Verstärker 38 wird durch ein Signal NSET gesteuert, angesteuert durch einen NSET-Treiber 42, und P-Typ-Verstärker 40 wird durch ein Signal PSET gesteuert, angesteuert durch einen PSET-Treiber 40. Treiber PSET 40 und NSET 42 werden gewöhnlich verwendet, um eine Vielzahl von P-Verstärkern oder N-Verstärkern anzusteuern, je nach Lage des Falles. PSET-Treiber 40 und NSET-Treiber 42 tendieren dazu relativ groß zu sein. Eine gemeinsame Platzierungsstelle für PSET-Treiber 40 und NSET-Treiber 42 ist innerhalb von Stichregion 23, da es Raum gibt, der für eine derartige Platzierung verfügbar ist. Da jedoch die Nachfrage steigt, wird dieser Raum für eine Platzierung dieser Einrichtungen unzureichend. Ferner erfordert PSET-Treiber 40 Platzierung über einer N-Wanne (N-well), während ein NSET-Treiber Platzierung über einer P-Wanne erfordert. Dies begrenzt weiter eine Platzierung von PSET-Treiber 40 zu einem Bereich benachbart zu P-Verstärkerregion 24 innerhalb von Stichregion 23 und NSET-Treiber 42 benachbart zu N-Verstärkerregion 26, EQ-Regionen 32 und 34 oder MUX-Regionen 28 und 30 innerhalb von Stichregion 23.
  • Es ist von Vorteil, einen Abschnitt von PSET-Treiber 40 und NSET-Treiber 42 innerhalb von Regionen 24 bzw. 26 platzieren zu können, um PSET-Treiber 40 und NSET-Treiber 42 besser unterzubringen. Vorhandensein von Treibern 40 und 42 innerhalb ihrer jeweiligen Verstärkerregionen wird RC-Zeitverzögerungen reduzieren. Eine derartige Platzierung kann jedoch verursachen, dass Bitleitungen wegen Kontakten umgeleitet werden, die zu Sources, Gates und Drains von PSET-Treiber 40 und NSET-Treiber 42 erforderlich sind.
  • Bezug nehmend auf 3 werden Bitleitungen 20 gezeigt, die um Kontakte 46, 48 und 50 geleitet werden. Kontakte 46 und 50 erstrecken sich nach unten zu einem aktiven Bereich AA durch eine Schicht MO, die die Schicht ist, in der sich Bitleitungen 20 befinden. Metallleitungen 54 und 56 werden zum Verbinden von Source 58 und Drain 60 von NSET-Treiber 42 verwendet. N-Verstärker 26 wird schematisch gezeigt. Kontakt 48 von NSET-Treiber 42 muss auch durch Bitleitungen 20 gemieden werden. Die Umleitung von Bitleitungen 20 reduziert den verfügbaren Chipbereich, was die Raumeffizienz des Chiplayouts reduziert, was in direktem Konflikt zu dem Wunsch einer Verringerung der Chipgröße steht.
  • Bezug nehmend auf 4 werden Bitleitungen 20 gezeigt, die um Kontakte 46', 48' und 50' geleitet sind. Kontakte 46' und 50' erstrecken sich abwärts zu einem aktiven Bereich AA durch eine Schicht MO, die die Schicht ist, in der sich Bitleitungen 20 befinden. Metallleitungen 54' und 56' werden zum Verbinden von Source 58' und Drain 60' von PSET-Treiber 40' verwendet. P-Verstärker 24 wird schematisch gezeigt. Kontakt 48' von PSET-Treiber 40 muss auch durch Bitleitungen 20 gemieden werden. Erneut reduziert die Umleitung von Bitleitungen 20 den verfügbaren Chipbereich, was die Raumeffizienz des Chiplayouts reduziert, was in direktem Konflikt zu dem Wunsch einer Verringerung der Chipgröße steht.
  • Deswegen existiert ein Bedarf nach einer Platzierung von Leseverstärkertreibern innerhalb ihrer jeweiligen Leseverstärkerregionen, um RC-Zeitverzögerungen zu reduzieren, ohne Bitleitungen beträchtlich umleiten zu müssen, was die Gesamtgröße des Chips beeinträchtigen könnte.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Offenbarung inkludiert einen Halbleiterspeicher mit einem raum-effizienten Layout. Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Halbleiterspeicher mit einer Vielzahl von Speicherzellen vorgesehen, die in Zeilen und Spalten angeordnet sind, der Speicher umfassend: eine Bank von Leseverstärkern, die in einer ersten allgemein rechteckigen Region mit einer Länge parallel zu den Zeilen aufgestellt sind, wobei jeder Leseverstärker in der Bank in einer entsprechenden Leseverstärkerregion einer zugehörigen Spalte aufgestellt ist; eine Vielzahl der Leseverstärker, die durch mindestens erste und zweite Treiber angesteuert werden, wobei sich jeder aus der Vielzahl von Leseverstärkern innerhalb einer Leseverstärkerregion einer zugehörigen Spalte befindet, aufgestellt zwischen einem Paar von komplementären Bitleitungen; und sich der erste Treiber in mindestens einer Leseverstärkerregion befindet, aufgestellt zwischen einem ersten Paar von komplementären Bitleitungen und mindestens eine Diffusionsregion, die sich querlaufend zu der Spaltenrichtung erstreckt, mit dem zweiten Treiber gemeinsam nutzt, aufgestellt zwischen einem zweiten Paar von komplementären Bitleitungen derart, dass eine Zahl von Kontakten der Leseverstärkerbank reduziert wird.
  • Die ersten und zweiten Treiber können eine Diffusionsregion und ein Gate haben, senkrecht zu den Spalten rotiert. Die ersten und zweiten Treiber können in einen ersten Abschnitt und einen zweiten Abschnitt unterteilt werden, wobei der erste Abschnitt in einer Stichregion oder in einem freien Raum, geschaffen durch einen lokalen Wortleitungstreiber, platziert ist, und der zweite Abschnitt in der Leseverstärkerregion platziert ist. Ferner kann der zweite Abschnitt zwischen komplementären Paaren von Bitleitungen segmentiert sein und MDQ-Schalter können in der Leseverstärkerregion zwischen segmentierten Abschnitten platziert sein.
  • Jede Leseverstärkerregion kann eine Verstärkerregion mit einer Vielzahl von Leseverstärkern inkludieren, die durch eine Vielzahl von Treibern angesteuert werden. Jeder aus der Viel zahl von Leseverstärkern kann zwischen einem Paar von komplementären Bitleitungen aufgestellt sein und sich innerhalb der Verstärkerregion befinden. Die Vielzahl von Treibern können eine erste Diffusionsregion und eine zweite Diffusionsregion gemeinsam nutzen. Die erste Diffusionsregion und die zweite Diffusionsregion können sich innerhalb der Verstärkerregion befinden, jeder der Treiber mit einem Gate, das mit einer lokalen Gate-Verbindungsleitung verbunden ist. Ein erster Kontakt kann eine erste globale Metallleitung mit der ersten gemeinsam genutzten Diffusionsregion verbinden. Ein zweiter Kontakt kann eine zweite globale Metallleitung mit der zweiten gemeinsam genutzten Diffusionsregion verbinden. Ein dritter Kontakt kann eine dritte globale Metallleitungen mit der lokalen Gate-Verbindungsleitung derart verbinden, dass die Zahl von Kontakten der Leseverstärkerbank minimiert wird. Einige der globalen Metallleitungen können nicht notwendig sein, falls z.B. der Gate-Leiter einen genügend niedrigen Widerstandswert hat, können die globale Gate-Metallverbindungsleitung und ein entsprechender Kontakt eliminiert werden.
  • Durch Reduzieren der Zahl von Kontakten wird der Umfang einer Umleitung von Bitleitungen reduziert, wobei dadurch die Größe des Halbleiterspeichers reduziert wird. Ferner können der erste Kontakt, der zweite Kontakt und der dritte Kontakt dimensioniert werden, zwischen Bitleitungen zu passen, wobei die Notwendigkeit für eine Umleitung von Bitleitungen umgangen wird.
  • Die Verstärkerregion kann einen N-Verstärker und einen P-Verstärker zwischen jedem Paar von komplementären Bitleitungen inkludieren. Die Vielzahl von Treibern können deshalb PSET-Treiber sein, die sich in einer P-Verstärkerregion innerhalb der Verstärkerregion von NSET-Treibern befinden, die sich in einer N-Verstärkerregion innerhalb der Verstärkerregion befinden.
  • Der Halbleiterspeicher kann die erste globale Metallleitung, die zweite globale Metallleitung und die globale Gate-Verbindung inkludieren, befindlich direkt über der ersten gemeinsam genutzten Diffusionsregion, der zweiten gemeinsam genutzten Diffusionsregion bzw. der lokalen Gate-Verbindungsleitung. Eine Vielzahl von Verstärkertransistoren kann in der Verstärkerregion aufgestellt sein, die Transistoren können die erste Diffusionsregion mit dem Treiber gemeinsam nutzen, wobei dadurch der Raum reduziert wird, der in dem Halbleiterspeicherlayout benötigt wird, und es leichter gemacht wird, Treiber in der Verstärkerregion zu platzieren.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die Erfindung wird detailliert in der folgenden Beschreibung von bevorzugten Ausführungsformen mit Verweis auf die folgenden Figuren beschrieben, worin:
  • 1 ein Grundriss eines Leseverstärkerbanklayouts vom Stand der Technik für Halbleiterspeicher ist;
  • 2 ein auseinandergezogener Grundriss einer Region 22 vom Stand der Technik ist, gezeigt in 1, der eine Stichregion und mehrere Spalten in einer Leseverstärkerbank zeigt;
  • 3 ein schematisches Diagramm vom Stand der Technik ist, das einen N-Verstärker und einen NSET-Treiber, befindlich in der N-Verstärkerregion, zeigt, mit Kontakten für jede Source, Drain und Gate für jeden NSET-Treiber, und umgeleitete Bitleitungen zeigt;
  • 4 ein schematisches Diagramm vom Stand der Technik ist, das einen P-Verstärker und einen PSET-Treiber, befindlich in der P-Verstärkerregion, zeigt, mit Kontakten für jede Source, Drain und Gate für jeden PSET-Treiber, und umgeleitete Bitleitungen zeigt;
  • 5 ein schematisches Diagramm vom Stand der Technik einer Spalte ist, das Leseverstärkerschaltungstechnik mit einem PSET-Treiber und einem NSET-Treiber außerhalb von Verstärkerregionen eines Leseverstärkers zeigt;
  • 6 ein schematisches Diagramm einer Spalte ist, das Leseverstärkerschaltungstechnik mit einem PSET-Treiber und einem NSET-Treiber innerhalb von Verstärkerregionen eines Leseverstärkers zeigt;
  • 7 ein schematisches Diagramm ist, das eine N-Verstärkerregion mit einer reduzierten Zahl von Kontakten zum Verbinden einer Vielzahl von NSET-Treibern mit globalen Metallleitungen zeigt und auch Bitleitungen zeigt, wobei Umleitung minimiert ist;
  • 8 ein schematisches Diagramm ist, das eine P-Verstärkerregion mit einer reduzierten Zahl von Kontakten zum Verbinden einer Vielzahl von PSET-Treibern mit globalen Metallleitungen zeigt und auch Bitleitungen zeigt, wobei Umleitung minimiert ist;
  • 9 eine Querschnittsansicht einer N-Verstärkerregion ist, aufgenommen parallel zu und zwischen einem komplementären Paar von Bitleitungen, wobei eine Diffusionsregion gezeigt wird, die zwischen einem NSET-Treiber und einem N-Verstärker gemeinsam genutzt wird;
  • 10 eine Querschnittsansicht einer P-Verstärkerregion ist, aufgenommen parallel zu und zwischen einem komplementären Paar von Bitleitungen, wobei eine Diffusionsregion ge zeigt wird, die zwischen einem PSET-Treiber und einem P-Verstärker gemeinsam genutzt wird; und
  • 11 ein Grundriss einer Leseverstärkerbank ist, der einen Treiber zeigt, der in einer Verstärkerregion verteilt ist, und einen MDQ-Schalter zeigt, der zwischen Segmenten des Treibers verteilt ist.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
  • Chips eines Speichers mit wahlfreiem Zugriff (RAM), wie etwa dynamische RAMs (DRAMs), synchrone DRAMs (SDRAMs) oder verflochtene DRAM-Logikchips (eingebettete DRAMs) enthalten viele Leseverstärkerbänke. Der fortgesetzte Wunsch, die Größe von Chips zu reduzieren, während die Dichte von Merkmalen auf dem Chip erhöht wird, zwingt die Technologie in die Richtung einer effizienten Verwendung vom Chiplayoutbereich. Typischerweise wird eine rechteckige Stichregion verwendet, um die großen PSET- und NSET-Treiber unterzubringen. Um Zeitverzögerungen zu reduzieren und Treiber mit größeren Abmessungen unterzubringen, ist es zweckdienlich, alle oder einen Teil der PSET-Treiber und NSET-Treiber unter anderen Abschnitten des Layoutbereiches verteilen zu können. Eine Platzierung dieser Treiber innerhalb der Leseverstärkerregion erfordert jedoch, dass Bitleitungen um Kontakte zu der Source, Drain und Gate der Treiber geleitet werden. Durch Reduzieren der Zahl von Kontakten, die die Bitleitungsmetallschicht MO passieren, können PSET- und NSET-Treiber innerhalb der Leseverstärkerregion platziert werden und Bitleitungsrouting ermöglichen oder den Umfang von Umleitung um Kontakte reduzieren. Dies führt zu einem effizienteren Layout.
  • Bezug nehmend auf 5 wird eine schematische Diagrammdarstellung eines Leseverstärkers vom Stand der Technik 14 gezeigt. Bitleitungen 20 skizzieren eine Spalte 16, in der Le severstärker 14 aufgestellt ist. PSET-Treiber 40 und NSET-Treiber 42 werden außerhalb von Spalte 16 gezeigt und sind z.B. in einem Zeilendecoder (nicht gezeigt) platziert. Es werden ebenso Entzerrungsschaltung 32 und 34 gezeigt. Es werden auch MUX-Isolationsschalter in MUX-Regionen 28 und 30 gezeigt. N-Verstärkerregion 26 enthält zwei N-Typ-Transistoren 26a und 26b. N-Typ-Transistoren 26a und 26b sind derart verbunden, dass die Source des einen der Drain des anderen in Knoten N1 ist. NSET-Treiber 42 hat seinen Drain ebenso mit N1 verbunden. P-Verstärkerregion 24 enthält zwei P-Typ-Transistoren 24a und 24b. P-Typ-Transistoren 24a und 24b sind derart verbunden, dass die Source des einen der Drain des anderen in Knoten N2 ist. PSET-Treiber 40 hat ebenso seinen Drain mit N2 verbunden. Sowohl NSET-Treiber 42 als auch PSET-Treiber 40 befinden sich außerhalb der Grenzen von Leseverstärker 14. Obwohl eine einzelne Spalte zum Zweck einer Erläuterung gezeigt wird, steuern NSET-Treiber und PSET-Treiber häufig eine Vielzahl von Leseverstärkern an. Z.B. können die Treiber 512 Leseverstärker ansteuern.
  • Bezug nehmend auf 6 wird eine schematische Darstellung eines Leseverstärkers 114 mit PSET-Treiber 140 und NSET-Treiber 142, die in die Leseverstärkerregion verschoben sind, gezeigt. Bitleitungen 120 skizzieren eine Spalte 116, in der Leseverstärker 114 aufgestellt ist. PSET-Treiber 140 und NSET-Treiber 142 werden innerhalb ihrer entsprechenden Verstärkerregion gezeigt. Z.B. befindet sich NSET-Treiber 142 innerhalb von N-Verstärkerregion 126, und PSET-Treiber 140 befindet sich innerhalb von P-Verstärkerregion 124. Es werden Ausgleichsschaltung 132 und 134 ebenso wie MUX-Isolationsschalter in MUX-Regionen 128 und 130 gezeigt. N-Verstärkerregion 126 enthält zwei N-Typ-Transistoren 126a und 126b ebenso wie NSET-Treiber 142. N-Typ-Transistoren 126a und 126b sind derart verbunden, dass die Source vom einen der Drain des anderen in Knoten N3 ist. NSET-Treiber hat seinen Drain ebenso mit N3 verbunden. P-Verstärkerregion 124 enthält zwei P-Typ-Transistoren 124a und 124b ebenso wie PSET-Treiber 140. P-Typ-Transistoren 124a und 124b sind derart verbunden, dass die Source vom einen der Drain des anderen in Knoten N4 ist. PSET-Treiber 140 hat seinen Drain ebenso mit N4 verbunden. Sowohl NSET-Treiber 142 als auch PSET-Treiber 140 befinden sich innerhalb der Grenzen von Leseverstärker 114. Auf diese Weise werden RC-Verzögerungen durch Reduzieren des Abstands zwischen den Treibern und den Verstärkern reduziert.
  • Um die Vorteile einer Platzierung von Treibern 140 und 142 in die Leseverstärkerregion zu realisieren, ist es notwendig, das Problem von Bitleitungsumleitung um die Source-, Gate- und Drain-Kontakte anzusprechen, wie hierin oben in 4 beschrieben. Dieses Problem wird durch Reduzieren der Zahl von Kontakten, worin Bitleitungen 120 überbrückt werden müssen, angesprochen.
  • Bezug nehmend auf 7 zeigt ein schematisches Diagramm die Erfindung der vorliegenden Offenbarung. Kontakte 146, 148 und 150 werden verwendet, um Kontakte 46, 48 und 50 von 3 zu ersetzen. Die Gesamtzahl von Kontakten kann beträchtlich reduziert werden, da eine Vielzahl von Leseverstärkerkontakten vom Stand der Technik 46, 48 und 50 durch Kontakte 146, 148 und 150 ersetzt werden. N-Verstärker 126 hat N-Verstärkertransistoren 126a und 126b, die zwischen Bitleitungen 120 aufgestellt gezeigt werden. Eine erste Diffusionsregion 154 wird durch NSET-Treiber 142 gemeinsam genutzt. Eine Vielzahl von NSET-Treibern 142 kann mit Region 154 verbunden werden, was der Drain ist, z.B. für alle NSET-Treiber 142, die damit verbunden sind. Die erste Diffusionsregion 154 befindet sich innerhalb eines aktiven Bereichs (AA). AA stellt die unterste Ebene in einem Chiplayout dar. Die nächste Ebene nach oben ist Gate-Leiter (GC), MO, die nächste ist M1 usw. Bitleitungen 120 sind auf Ebene MO, die Ebene AA übergehen und deshalb Region 154 übergehen. Eine zweite Diffusionsregion 156 befindet sich auch auf Ebene AA. Eine Vielzahl von NSET-Treibern 142 kann mit Region 156 verbunden werden, was die Source z.B. für alle NSET-Treiber 142 ist, die damit verbunden sind.
  • Region 154 ist mit einer globalen Metallleitung 152, die sich auf einer höheren Ebene befindet, z.B. M1, durch Kontakt 146 verbunden. Kontakt 146 verbindet eine Vielzahl der Sourcen von NSET-Treibern 142 durch einen einzelnen Kontakt 146. Die globale Metallleitung 152 ist unnötig, falls NSET-Treiber 142 Diffusionsregion 154 mit N-Verstärker 126 in N3 gemeinsam nutzt. Dies ersetzt die Kontakte, die zuvor erforderlich waren, die einen Kontakt, z.B. Kontakt 46 von 3, für jede Leseverstärkerspalte hatten. Kontakt 146 kann viele Kontakte vom Stand der Technik ersetzen, z.B. 512 Kontakte. Kontakt 146 stellt den verwendeten Layoutbereich dar, während eine Verbindung 168 zur globalen Metallleitung 152 hergestellt wird. In einer Ausführungsform ist die globale Metallleitung 152 direkt über Region 154. Siehe 9.
  • Kontakt 150 verbindet eine Vielzahl der Sourcen von NSET-Treibern 142 dort durch. Dies ersetzt die Kontakte, die zuvor erforderlich waren, die einen Kontakt, z.B. Kontakt 50 von 3, für jede Transistor-Source hatten. Kontakt 150 kann viele Kontakte vom Stand der Technik ersetzen, z.B. 512 Kontakte. Kontakt 150 verbindet eine globale Massemetallleitung 160 mit Region 156. Kontakt 150 wird durch eine Verbindung 164 dargestellt, wird zur globalen Massemetallleitung 160 hergestellt. In einer Ausführungsform ist die globale Massemetallleitung 160 direkt über Region 156. Siehe 9.
  • Kontakt 148 verbindet eine Vielzahl der Gates von NSET-Treibern 142 dort durch. Dies ersetzt die Kontakte, die zuvor erforderlich waren, die einen Kontakt, z.B. Kontakt 48 von 3, für jedes Transistor-Gate hatten. Kontakt 148 kann viele Kontakte vom Stand der Technik ersetzen, z.B. 512 Kontakte. Kontakt 148 verbindet einen Gate-Leiter 158 mit der globalen Gate-Verbindungsmetallleitung 162. In einer Ausführungsform kann Gate-Leiter 158 ausreichend sein, um die Gates einer Vielzahl von NSET-Treibern 142 zu verbinden, wobei somit die Notwendigkeit für die globale Gate-Verbindungsmetallleitung 162 umgangen wird, wobei dadurch die Zahl von Kontakten weiter reduziert wird. Siehe 9. Der Wegfall der globalen Gate-Verbindungsmetallleitung 162 kann geschehen, falls der Widerstandswert im Gate-Leiter 158 tief genug ist. Kontakt 148 stellt den verwendeten Layoutbereich dar, während eine Verbindung 166 zur globalen Gate-Verbindungsmetallleitung 160 hergestellt wird. In einer Ausführungsform ist die globale Gate-Verbindungsmetallleitung 160 direkt über Gate-Leiter 158. Siehe 9. In einer anderen Ausführungsform ist Gate-Leiter 158 senkrecht zu Spalten ausgerichtet und wird durch viele Einrichtungen gemeinsam genutzt, z.B. eine gedrehte Treibereinrichtung.
  • Bezug nehmend auf 8 hat P-Verstärker 124 P-Verstärkertransistoren 124a und 124b, die zwischen Bitleitungen 120 aufgestellt gezeigt werden. Eine erste Diffusionsregion 172 wird durch PSET-Treiber 140 gemeinsam genutzt. Es kann eine Vielzahl von PSET-Treibern 140 mit Region 172 verbunden sein, was der Drain z.B. für alle PSET-Treiber 142 ist, die damit verbunden sind. Die erste Diffusionsregion 172 befindet sich innerhalb eines aktiven Bereichs (AA). AA stellt die unterste Ebene in einem Chiplayout dar. Die nächste Ebene nach oben ist Gate-Leiterebene (GC), MO, die nächste ist M1 usw. Bitleitungen 120 sind auf Ebene MO, die Ebene AA übergehen und deshalb Region 172 übergehen. Es befindet sich auch eine zweite Diffusionsregion 174 innerhalb von Ebene AA. Es kann eine Vielzahl von PSET-Treibern 140 mit Region 174 verbunden sein, was die Source z.B. für alle PSET-Treiber 174 ist, die damit verbunden sind.
  • Region 172 ist mit einer globalen Metallleitung 170, die sich auf einer höheren Ebene befindet, z.B. M1, durch Kontakt 182 verbunden. Die globale Metallleitung 170 ist unnötig, falls PSET-Treiber 140 Diffusionsregion 172 mit P-Verstärker 124 in N4 gemeinsam nutzt. Kontakt 182 verbindet eine Vielzahl der Drains von PSET-Treibern 140 durch einen einzelnen Kontakt 182. Dies ersetzt die Kontakte, die zuvor erforderlich waren, die einen Kontakt, z.B. Kontakt 46' von 4, für jede Leseverstärkerspalte hatten. Kontakt 182 kann viele Kontakte vom Stand der Technik ersetzen, z.B. 512 Kontakte. Kontakt 182 stellt den verwendeten Layoutbereich dar, während eine Verbindung 188 mit der globalen Metallleitung 170 hergestellt wird. In einer Ausführungsform ist die globale Metallleitung 170 direkt über Region 172. Siehe 9.
  • Kontakt 184 verbindet eine Vielzahl der Sourcen von PSET-Treibern 140 dort durch. Dies ersetzt die Kontakte, die zuvor erforderlich waren, die einen Kontakt, z.B. Kontakt 50' von 4, für jede Transistor-Source hatten. Kontakt 184 kann viele Kontakte vom Stand der Technik ersetzen, z.B. 512 Kontakte. Kontakt 184 verbindet eine globale Massemetallleitung 178 mit Region 174. Kontakt 184 stellt den verwendeten Layoutbereich dar, während eine Verbindung 190 mit der globalen Bitleitungshochmetallleitung 178 hergestellt wird. In einer Ausführungsform ist die globale Bitleitungshochmetallleitung 178 direkt über Region 174. Siehe 9.
  • Kontakt 186 verbindet eine Vielzahl der Gates von PSET-Treibern 140 dort durch. Dies ersetzt die Kontakte, die zuvor erforderlich waren, die einen Kontakt, z.B. Kontakt 48' von 4, für jedes Transistor-Gate hatten. Kontakt 186 kann viele Kontakte vom Stand der Technik ersetzen, z.B. 512 Kontakte. Kontakt 186 verbindet eine lokale Gate-Verbindungsleitung 176 mit der globalen Gate-Verbindungsmetallleitung 180.
  • In einer Ausführungsform kann Gate-Leiter 176 ausreichend sein, die Gates einer Vielzahl von PSET-Treibern 140 zu verbinden, wobei somit die Notwendigkeit für die globale Gate-Verbindungsmetallleitung 180 umgangen wird, was die Zahl von Kontakten weiter reduziert. Siehe 10. Der Wegfall der globalen Gate-Verbindungsmetallleitung 180 kann geschehen, falls der Widerstandswert im Gate-Leiter 176 tief genug ist. Kontakt 186 stellt den verwendeten Layoutbereich dar, während eine Verbindung 192 mit der globalen Gate-Verbindungsmetallleitung 178 hergestellt wird. In einer Ausführungsform ist die globale Gate-Verbindungsmetallleitung 178 direkt über Gate-Leiter 176. Siehe 9. In einer anderen Ausführungsform ist Gate-Leiter 176 senkrecht zu Spalten ausgerichtet und wird durch viele Einrichtungen gemeinsam genutzt, z.B. eine gedrehte Treibereinrichtung.
  • Wie in 7 und 8 gezeigt, verringern Kontakte 146, 148, 150, 182, 184 und 186 stark die Zahl von Kontakten, die benötigt werden, um PSET-Treiber 140 und NSET-Treiber 142 innerhalb von Leseverstärker 114 zu platzieren. Da die Zahl von Kontakten herum reduziert wird, wird Bitleitungsumleitung um Kontaktbereiche reduziert oder macht Bitleitungsumleitung möglich. Als ein Ergebnis wird ein raum-effizienteres Layout für den Chip vorgesehen. In einer Ausführungsform werden Kontakte derart gebildet, dass Kontakte 146, 148, 150, 182, 184 und 186 zwischen Bitleitungen 120 passen, wobei dadurch eine beträchtliche Umleitung von Bitleitungen 120 nicht erforderlich ist.
  • Bezug nehmend auf 9 wird ein Querschnitt einer Ausführungsform gezeigt, wobei die globale Metallleitung 160 direkt über Diffusionsregion 156 von NSET-Treiber 142 aufgestellt ist. Kontakt 150 verbindet die globale Metallleitung 160 mit Diffusionsregion 156. NSET-Treiber 142 hat Gate-Leiter 152, der zwischen Diffusionsregion 154 und Diffusionsregion 156 aufgestellt ist. In einer Ausführungsform erstreckt sich Diffusionsregion 154 quer, vorzugsweise senkrecht, zu Diffusionsregion 156, um verfügbaren Raum effektiver zu verwenden. Es kann eine Vielzahl von NSET-Treibern 142 Diffusionsregion 156 gemeinsam nutzen. In einer alternativen Ausführungsform wird Diffusionsregion 156 mit N-Verstärker 126 gemeinsam genutzt.
  • 9 zeigt den Querschnitt von N-Verstärkerregion 38 von Leseverstärkerbank 12 (siehe 2), wobei Metallleitungen 152 und 162 und Kontakte 146 und 148 weggelassen sind. P-Wanne 200 befindet sich in N-Verstärkerregion 38 (2). Diffusionsregion 154 und Diffusionsregion 156 sind N-dotiert. In einer Ausführungsform wird Diffusionsregion 154 wie durch N-Verstärkertransistoren 126a oder 126b verwendet, wobei dadurch ermöglicht wird, dass Diffusionsregion 154 z.B. durch N-Verstärkertransistoren 126a und 126b und NSET-Treiber 142 gemeinsam genutzt wird. Diese reduziert weiter die Zahl von Kontakten und reduziert die Zahl von globalen Metallleitungen über der Leseverstärkerregion.
  • P-Wanne 200 mit Diffusionsregionen 154 und 156 befinden sich auf Ebene AA. Gate-Leiter 158 befindet sich auf GC. Bitleitung 120 befindet sich auf Ebene MO (nicht gezeigt) zwischen GC und M1. Die globale Metallleitung 160 kann auf Ebene M1, M2 etc. sein.
  • Bezug nehmend auf 10 wird ein Querschnitt einer Ausführungsform gezeigt, wobei die globale Metallleitung 178 direkt über Diffusionsregion 174 von PSET-Treiber 140 aufgestellt ist. Kontakt 184 verbindet die globale Metallleitung 178 mit Diffusionsregion 174. PSET-Treiber 140 hat Gate-Leiter 176, der zwischen Diffusionsregion 172 und Diffusionsregion 174 aufgestellt ist. In einer Ausführungsform erstreckt sich Diffusionsregion 174 quer, vorzugsweise senkrecht, zu Diffusi onsregion 172, um verfügbaren Raum effektiver zu verwenden. Eine Vielzahl von PSET-Treibern 140 kann Diffusionsregion 174 gemeinsam nutzen. In einer alternativen Ausführungsform wird Diffusionsregion 174 mit P-Verstärker 126 gemeinsam genutzt.
  • 10 zeigt den Querschnitt von P-Verstärkerregion 36 von Leseverstärkerbank 12 (siehe 2), wobei die globalen Metallleitungen 170 und 180 und Kontakte 182 und 186 weggelassen sind. N-Wanne 210 befindet sich in P-Verstärkerregion 36 (2). Diffusionsregion 172 und Diffusionsregion 174 sind P-dotiert. In einer Ausführungsform wird Diffusionsregion 172 durch N-Verstärkertransistoren 124a oder 124b verwendet, wobei dadurch ermöglicht wird, dass Diffusionsregion 172 z.B. durch P-Verstärkertransistoren 124a und 124b und PSET-Treiber 140 gemeinsam genutzt wird. Diese reduziert weiter die Zahl von Kontakten und reduziert die Zahl von globalen Metallleitungen über der Leseverstärkerregion.
  • N-Wanne 210 mit Diffusionsregionen 172 und 174 befinden sich auf Ebene AA. Gate-Leiter 176 befindet sich auf GC. Bitleitung 120 befindet sich auf Ebene MO (nicht gezeigt) zwischen GC und M1. Die globale Metallleitung 178 kann auf Ebene M1, M2 etc. sein.
  • Bezug nehmend auf 11 ist ein Treiber 222 in einer Leseverstärkerbank verteilt. Treiber 222 kann z.B. ein NSET-Treiber oder ein PSET-Treiber sein. Ein erster Abschnitt 222a vom Treiber befindet sich in Stichregion 228 oder einem freien Raum, der für einen lokalen Wortleitungstreiber geschaffen ist, und ein zweiter Abschnitt 222b befindet sich in einer Verstärkerregion 224, z.B. der N-Verstärkerregion oder der P-Verstärkerregion, abhängig von dem verwendeten, Treiber. Der zweite Abschnitt 222b kann segmentierte Abschnitte haben. Regionen 226 zwischen den segmentierten Abschnitten von entweder dem PSET-Treiber oder dem NSET-Treiber können durch Masterdatenleitungs-(MDQ)Schalter 230 oder einen Abschnitt von MDQ-Schaltern belegt sein. MDQ-Schalter 230 inkludiert geeignete Logikschaltungstechnik, die die Zeilenadresse von einem Adresspuffer empfängt um zu bestimmen, welches Feld auszuwählen ist. MDQ-Schalter werden in einem Artikel mit dem Titel "A 286 mm2 256 Mb DRAM with X32 Both-Ends DQ" von Watanabe et al., gedruckt im IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 31 Nr. 4, April 1996 erläutert. Watanabe et al. wird hierin durch Verweis inkorporiert. Es ist zweckdienlich und vorteilhaft, den MDQ-Schalter zwischen die segmentierten Abschnitte zu platzieren.
  • Die in dieser Offenbarung beschriebenen Ausführungsformen sind auf Layout-Architekturen neben der erwähnten Stichwortleitungsarchitektur anwendbar. Z.B. trifft die Erfindung auf segmentierte Wortleitungslayoutarchitekturen zu. Ferner werden zusätzlich zu den rechteckig geformten Regionen, die hierin dargestellt werden, auch verschieden geformte Diffusionsregionen betrachtet.
  • Nach Beschreibung von Ausführungsformen eines Halbleiterspeicherchips mit einem raum-effizienten Layout (die gedacht sind, veranschaulichend und nicht begrenzend zu sein) wird vermerkt, dass die Modifikationen und Variationen durch einen Fachmann angesichts der obigen Unterweisungen durchgeführt werden könnten. Es ist deshalb zu verstehen, dass in den offenbarten bestimmten Ausführungsformen der Erfindung Änderungen durchgeführt werden können, die innerhalb des Bereichs der Erfindung sind, der durch die angefügten Ansprüche dargelegt wird.

Claims (19)

  1. Halbleiterspeicher mit einer Vielzahl von Speicherzellen, die in Zeilen und Spalten angeordnet sind, der Speicher umfassend: eine Bank von Leseverstärkern (114), aufgestellt in einer ersten allgemein rechteckigen Region mit einer Länge parallel zu den Zeilen, wobei jeder Leseverstärker (114) in der Bank in einer entsprechenden Leseverstärkerregion einer zugehörigen Spalte (116) aufgestellt ist; eine Vielzahl der Leseverstärker (114), angesteuert durch mindestens erste und zweite Treiber (140, 142), jeder aus der Vielzahl von Leseverstärkern (114) befindlich innerhalb einer Leseverstärkerregion einer zugehörigen Spalte (116), aufgestellt zwischen einem Paar von komplementären Bitleitungen (120); und den ersten Treiber (140), der sich in mindestens einer Leseverstärkerregion befindet, aufgestellt zwischen einem ersten Paar von komplementären Bitleitungen (120), und mindestens eine Diffusionsregion, die sich quer zu der Spaltenrichtung erstreckt, mit dem zweiten Treiber (142), aufgestellt zwischen einem zweiten Paar von komplementären Bitleitungen, gemeinsam nutzt, derart, dass eine Zahl von Kontakten der Leseverstärkerbank reduziert wird.
  2. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 1 vorgetragen, wobei die mindestens ersten und zweiten Treiber (140, 142) eine Diffusionsregion und ein Gate haben, sich im wesentlichen senkrecht zu der Spaltenrichtung erstreckend.
  3. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 1 vorgetragen, wobei die mindestens ersten und zweiten Treiber (140, 142) eine Source, Drain und Gate haben, die sich quer zu den Spalten erstrecken.
  4. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 1 vorgetragen, wobei die mindestens ersten und zweiten Treiber in einen ersten Abschnitt und einen zweiten Abschnitte unterteilt sind, wobei der erste Abschnitt in einer ersten Region platziert ist, der zweite Abschnitt in der mindestens einen Leseverstärkerregion platziert ist.
  5. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 4 vorgetragen, wobei der zweite Abschnitt zwischen komplementären Paaren von Bitleitungen (120) segmentiert ist.
  6. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 1 vorgetragen, wobei die mindestens ersten und zweiten Treiber (140, 142) eine Diffusionsregion mit einer Vielzahl von Leseverstärkern (114) gemeinsam nutzen.
  7. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 1 vorgetragen, wobei jede Leseverstärkerregion eine Verstärkerregion inkludiert; die Vielzahl von Leseverstärkern (114) durch eine Vielzahl von Treibern (140, 142) angesteuert werden, jeder aus der Vielzahl von Leseverstärkern (114) zwischen einem Paar von komplementären Bitleitungen (120) aufgestellt ist und sich innerhalb der Verstärkerregion befindet; die Vielzahl von Treibern (140, 142) eine erste Diffusionsregion gemeinsam nutzen, die sich quer zu der Spaltenrichtung erstreckt, wobei sich die erste Diffusionsregion und eine zweite Diffusionsregion innerhalb der Verstärkerregion befinden, jeder der Treiber (140, 142) ein Gate hat, das mit einem Gate-Leiter (158) verbunden ist; und wobei ein erster Kontakt (168) zum Verbinden einer ersten globalen Metallleitung (152) mit der ersten gemeinsam genutzten Diffusionsregion (154), ein zweiter Kontakt (150) zum Verbinden einer zweiten globalen Metallleitung (160) mit der zweiten Diffusionsregion (156) und ein dritter Kontakt (148) zum Verbinden einer dritten globalen Metallleitung (162) mit dem Gates-Leiter (158) derart, dass die Zahl von Kontakten der Leseverstärkerbank reduziert wird.
  8. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 7 vorgetragen, wobei die Verstärkerregion einen N-Verstärker und einen P-Verstärker zwischen jedem Paar von komplementären Bitleitungen (120) inkludiert.
  9. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 7 vorgetragen, wobei die Vielzahl von Treibern PSET-Treiber (140) sind, befindlich in einer P-Verstärkerregion innerhalb der Verstärkerregion.
  10. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 7 vorgetragen, wobei die Vielzahl von Treibern NSET-Treiber (142) sind, befindlich in einer N-Verstärkerregion innerhalb der Verstärkerregion.
  11. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 7 vorgetragen, wobei sich die erste globale Metallleitung (152), die zweite globale Metallleitung (150) und die globale Gate-Verbindung (148) direkt über der ersten gemeinsam genutzten Diffusionsregion, der zweiten gemeinsam genutzten Diffusionsregion bzw. dem Gate-Leiter befinden.
  12. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 7 vorgetragen, ferner umfassend eine Vielzahl von Verstärkertransistoren, die in der Verstärkerregion aufgestellt sind, wobei die Verstärkertransistoren die erste Diffusionsregion mit dem Treiber gemeinsam nutzen.
  13. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 12 vorgetragen, wobei die zweite Diffusionsregion gemeinsam genutzt ist, mit einem gemeinsamen Knoten mit den Verstärkertransistoren derart verbunden ist, dass der zweite Kontakt und die zweite globale Metallleitung entfernt sind.
  14. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 7 vorgetragen, wobei der Widerstandswert in dem Gate-Leiter tief genug ist, derart, dass der dritte Kontakt und die dritte globale Metallleitung entfernt sind.
  15. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 1 vorgetragen, worin jede Leseverstärkerregion eine N-Verstärkerregion und eine P-Verstärkerregion inkludiert, aufgestellt zwischen einem Paar von komplementären Bitleitungen (20); und wobei der Speicher ferner umfasst: einen N-Verstärker (26), aufgestellt in der N-Verstärkerregion, einen P-Verstärker, aufgestellt in der P-Verstärkerregion, wobei der N-Verstärker durch einen NSET-Treiber (142) angesteuert wird, aufgestellt in der N-Verstärkerregion, und der P-Verstärker durch einen PSET-Treiber (140) angesteuert wird, aufgestellt in der P-Verstärkerregion; den PSET-Treiber (140), der eine erste Diffusionsregion (172), die sich quer zu der Spaltenrichtung erstreckt, mit einer Vielzahl von PSET-Treibern gemeinsam nutzt, wobei sich die erste Diffusionsregion (172) und eine zweite Diffusionsregion (174) innerhalb der P-Verstärkerregion befinden, jeder der PSET-Treiber ein Gate hat, das mit einem Gate-Leiter (176) verbunden ist; und einen ersten Kontakt (182) zum Verbinden einer ersten globalen Metallleitung (170) mit der ersten gemeinsam genutzten Diffusionsregion (172), einen zweiten Kontakt (184) zum Verbinden einer zweiten globalen Metallleitung (178) mit der zweiten gemeinsam genutzten Diffusionsregion (174) und einen dritten Kontakt (186) zum Verbinden einer dritten globalen Metallleitung (180) mit dem Gate-Leiter (176) derart, dass die Zahl von Kontakten der Leseverstärkerbank reduziert wird.
  16. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 15 vorgetragen, wobei sich die erste globale Metallleitung (170), die zweite globale Metallleitung (178) und die globale Gate-Verbindung (180) direkt über der ersten gemeinsam genutzten Diffusionsregion (172), der zweiten gemeinsam genutzten Diffusionsregion (174) bzw. dem Gate-Leiter (176) befinden.
  17. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 15 vorgetragen, ferner umfassend eine Vielzahl von P-Verstärkertransistoren, aufgestellt in der P-Verstärkerregion, wobei die Transistoren die erste Diffusionsregion mit dem PSET-Treiber (140) gemeinsam nutzen.
  18. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 15 vorgetragen, wobei der NSET-Treiber (142) eine erste Diffusionsregion (154) und eine zweite Diffusionsregion (150) mit einer Vielzahl von NSET-Treibern gemeinsam nutzt, wobei sich die erste Diffusionsregion (154) und die zweite Diffusionsregion (150) innerhalb der N-Verstärkerregion befinden, jeder der NSET-Treiber ein Gate hat, das mit einer lokalen Gate-Verbindungsleitung (158) verbunden ist.
  19. Halbleiterspeicher, wie in Anspruch 18 vorgetragen, ferner umfassend eine Vielzahl von N-Verstärkertransistoren, aufgestellt in der N-Verstärkerregion, wobei die Transistoren die erste Diffusionsregion mit dem NSET-Treiber gemeinsam nutzen.
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