DE69734946T2 - Ultrakurzzeit-Raster- und Verzögerungsverfahren - Google Patents

Ultrakurzzeit-Raster- und Verzögerungsverfahren Download PDF

Info

Publication number
DE69734946T2
DE69734946T2 DE69734946T DE69734946T DE69734946T2 DE 69734946 T2 DE69734946 T2 DE 69734946T2 DE 69734946 T DE69734946 T DE 69734946T DE 69734946 T DE69734946 T DE 69734946T DE 69734946 T2 DE69734946 T2 DE 69734946T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
laser
pulses
pulse
sampling
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69734946T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69734946D1 (de
Inventor
Gregg D. Dr. Sucha
Dr. Martin E. Fermann
Dr. Donald J. Harter
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IMRA America Inc
Original Assignee
IMRA America Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IMRA America Inc filed Critical IMRA America Inc
Publication of DE69734946D1 publication Critical patent/DE69734946D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69734946T2 publication Critical patent/DE69734946T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/23Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media
    • H01S3/2383Parallel arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P3/00Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
    • G01P3/64Devices characterised by the determination of the time taken to traverse a fixed distance
    • G01P3/80Devices characterised by the determination of the time taken to traverse a fixed distance using auto-correlation or cross-correlation detection means
    • G01P3/806Devices characterised by the determination of the time taken to traverse a fixed distance using auto-correlation or cross-correlation detection means in devices of the type to be classified in G01P3/68
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor
    • G01R13/34Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
    • G01R13/347Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies using electro-optic elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/08Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G01S17/10Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
    • G01S17/18Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves wherein range gates are used
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/50Systems of measurement based on relative movement of target
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483Details of pulse systems
    • G01S7/484Transmitters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483Details of pulse systems
    • G01S7/486Receivers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497Means for monitoring or calibrating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/139Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length
    • H01S3/1398Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length by using a supplementary modulation of the output

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

  • GEBIET DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Steuern eines zeitlichen Unterschieds zwischen ersten und zweiten Laserimpulsen, die von einer ersten und einer zweiten Kurzimpulslaserquelle ausgegeben werden, auf eine schnelle Abtastlaservorrichtung mit einer ersten und einer zweiten Kurzimpulslaserquelle, und auf eine Verwendung einer Phasenregelschleife (PLL, „Phase-Locked Loop") in einer Laservorrichtung, die mit der ersten und der zweiten Kurzimpulslaserquelle versehen ist.
  • Die Erfindung bezieht sich insbesondere auf das Gebiet von Lasern mit ultrakurzen Impulsbreiten und im einzelnen auf Vorrichtungen und Verfahren zum zeitlichen Abtasten mit minimaler mechanischer Bewegung (d.h. Mikrometermaßstab).
  • Die Erfindung bezieht sich auch auf Verfahren zum Erzielen einer hochgenauen Zeitkalibrierung (d.h. Subpikosekunden), die in den vorgenannten Zeitabtastverfahren oder in bekannten Zeitabtastverfahren anwendbar sind. Im einzelnen wird durch die Erfindung das Erfordernis eines mechanischen Abtastverzögerungsarms in einem Korrelator oder einer anderen Art Pumpsensorgerät (pump-probe-divice) vermieden, wobei Entfernungsmessung, 3-D-Abbildung, Konturbildung, Tomographie und optische Zeit-Bereich-Reflexmessung (OTDR) enthalten sind.
  • BESCHREIBUNG DES STANDS DER TECHNIK
  • Derzeit sind ultraschnelle Laseroszillatoren bekannt, mit denen die Erzeugung von Impulsbreiten in der Größenordnung einiger zehn Femtosekunden mit Nanojoule-Impulsenergien bei Wiederholraten im Bereich von 5 MHz bis zu 1 GHz möglich ist. Solche kurzen Impulse werden für viele Anwendungen wie beispielsweise Zeittormessungen beispielsweise in der Metrologie verwendet. Viele Anwendungen solcher kurzer optischer Impulse erfordern die Verzögerung einer Gruppe optischer Impulse gegenüber einer anderen Gruppe optischer Impulse, wobei Zeitverzögerungen mit sehr hoher Genauigkeit wie beispielsweise in der Größenordnung von 10 Femtosekunden erfasst werden müssen. Zeitverzögerungen kurzer Impulse werden häufig in Anwendungen wie beispielsweise biologischer und medizinischer Bilderzeugung, Lichterfassung und optischer Abtastung, optischer Zeit-Bereich-Reflexmessung und der Metrologie eingesetzt.
  • Das bekannte Verfahren zum Verzögern und Abtasten optischer Impulse besteht darin, die Impulse an einem Spiegel zu reflektieren und den Spiegel unter Verwendung mechanischer Einrichtungen um eine Distanz D physikalisch zu verschieben, die durch das Produkt aus der Zeitverzögerung ΔT und der Lichtgeschwindigkeit im Vakuum c = 3,0 × 108 m/s festgelegt ist. Somit gilt: D = c/2 × ΔT oder D(cm) = 15 × ΔT(ns).
  • Diese Art Verzögerung wird hier als physikalische Verzögerung bezeichnet. Ebenso beschreibt der Begriff Abtasten, sofern er hier verwendet wird, die systematische Änderung der Differenz der Ankunftszeiten zweier optischer Impulse. Zum Bereitstellen der genauen Positionierung und Abtastung des Spiegels wurden verschiedene Verfahren und Geräte entwickelt, wie etwa:
    Schwingspulengeräte (Rüttler)(R. F. Fork Nd F. A. Beisser, APPL Opt. 17, 3534 (1978)).
    Drehspiegelpaare (Z. A. Yasa and N. M. Amer, Opt. Comm., 36, 406 (1981)).
    Lineartranslatoren mit Schrittmotoren, die von vielen Händlern kommerziell angeboten werden.
    Lineartranslatoren mit Galvanometern (D. C. Edelstein, R. B. Romney und M. Scheuermann, Rev. Sci. Instrum. 62, 579 (1990)).
  • Bei anderen Arten physikalischer Verzögerung wird eine einstellbare Gruppenverzögerung verwendet, wie etwa:
    Femtosekunden-Impulsformer (FPS) mit Abtastgalvanometern (K. F. Kwong, D. Yankelevich, K. C. Chu, J. P. Heritage, und A. Dienes; "400-Hz Mechanical Scanning Optical Delay Line" Opt. Lett. 18, (7) 558 (1993) (nachfolgend als Kwong u.a. bezeichnet); K. C. Chu, K. Liu, J. P. Heritage, A. Dienes, Conference on Lasers and Electro-Optics, OSA Tech.Digest Series, Vol. 8, 1994, paper CThI23.).
  • Drehglasblöcke
  • Die physikalischen Verzögerungsverfahren weisen eine Reihe von Nachteilen auf, wobei der Hauptnachteil in dem bei gewünschten großen Verzögerungen erforderlichen großen Raumbedarf liegt. Beispielsweise erfordert eine Verzögerung von 10 ns einen Spiegelversatz von 152 cm (5 Fuß). Es sind noch weitere physikalische Einschränkungen und Nachteile vorhanden. Messungen können durch Fehlausrichtung und Defokussierung verfälscht werden, wenn große Verzögerungen verwendet werden. Eine Verwendung von Eckwürfel-Retro-Reflektoren verringert das Fehlausrichtungsproblem, aber nicht die Defokussierung. Der Defokussiereffekt kann auftreten, wenn die Abtastamplitude einen beachtlichen Teil des Konfokalparameters des Strahls ausmacht. Eine Zeitverzögerung von 10 ns führt zu einer Änderung der Freiraumausbreitung von ungefähr 3 Metern (10 Fuß). Zur Minimierung der Defokussierwirkung muss der Konfokalparameter (ZR) ungefähr das Zehnfache dieser Zahl oder ZR = 30 m betragen. Bei einer Wellenlänge von 1550 nm ist dafür ein Strahlradius von w0 = 12 mm erforderlich. Dies ist in vielen Situationen unzweckmäßig groß.
  • Das Erfordernis eines großen Spiegelversatzes kann durch mehrfaches Durchlaufen der Verzögerungsleitung verringert werden (beispielsweise wird der erforderliche Spiegelversatz durch einen Zweifachdurchlauf der Verzögerungsleitung um die Hälfte gekürzt), wodurch jedoch das Defokussierproblem nicht verringert wird. Mehrfachdurchläufe verursachen eigene Probleme, wie etwa Erschwernis der Ausrichtvorgänge und Vergrößerung der optischen Verluste.
  • Eine weitere Einschränkung steht mit den gleichzeitig erzielbaren Abtastraten und Abtastfrequenzen in Verbindung. Es ist oft wünschenswert, bei schneller Abtastung (> 30 Hz) einen Signalmittelwert zu bilden, um eine "Echtzeit-Anzeige" der gerade durchgeführten Messung bereitzustellen. Bei solchen hohen Abtastfrequenzen ist jedoch der Abtastbereich eingeschränkt. Der beste erzielte Abtastbereich beträgt 100 ps bei einer Rate von 100 Hz unter Verwendung des FPS-Abtastverfahrens (Kwong u.a.). Jede weitere Erhöhung des Abtastbereichs und/oder der Frequenz würde bei derartigen Umkehrgeräten hohe Vibrationsgrade verursachen, was zur Störung des Laserbetriebs führen kann. Das Vibrationsproblem kann durch drehende Glasblöcke verhindert werden, die eine höhere Abtastgeschwindigkeit ermöglichen, allerdings keine Einstellbarkeit des Abtastbereichs aufweisen und eine variable Gruppengeschwindigkeits-Dispersion einführen, wodurch sie für eine Anwendung bei Impulsen mit Breiten kürzer als 100 fs ungeeignet sind.
  • Zusätzlich zu den physikalischen Verzögerungen wurden Verfahren eingeführt, die ein zeitliches Abtasten ohne das Erfordernis jeglicher mechanischer Bewegung ermöglichen. Diese enthalten:
    Freiabtastlaser (A. Black, R.B. Apte und D.M. Bloom, Rev. Sci. Instrum. 63, 3191 (1992); K.S. Giboney, S.T. Allen, M.J.W. Redwell und J.E. Bowers; "Picosecond Measurements by Free-Running Electro-Optic Sampling." IEEE Photon. Tech. Lett., 6, Seite 1353-5, Nov. 1994; J.D. Kafka, J.W. Pieterse und M.L. Watts; "Two-color subpicosecond optical sampling technique." Opt. Lett., 17, Seite 1286-9, 15. Sept. 1992 (nachfolgend als Kafka u.a. bezeichnet); M.H. Ober, G. Sucha und M.E. Fermann; "Controllable dual-wavelength operation of a femtosecond neodymium fiber laser," Opt. Lett. 20, Seite 195-7, 15. Jan. 1995).
  • Verzögerungsleitungen mit gestuftem Spiegel unter Verwendung von akusto-optischen Deflektoren als dispersive Elemente (R. Payaket, S. Hunter, J.E.
  • Ford, S. Esener; "Programmable ultrashort optical pulse delay using an acousto-optic deflector." Appl. Opt., 34, Nr. 8, Seiten 1445-1453, 10. März 1995).
  • Nachführen der HF-Phase zwischen zwei modenverriegelten Lasern (D.E. Spence, W.E. Sleat, J.M. Evans, W. Sibbett und J.D. Kafka; "Time synchronization measurements between two selfmodelocked Ti:sapphire lasers." Opt. Comm., 101, Seiten 286-296, 15. Aug. 1993).
  • Die nichtmechanischen Verfahren ermöglichen insbesondere eine Hochgeschwindigkeitsabtastung. Die Freiabtastlaser erzeugen einen Abtastbereich, der die gesamte Wiederholperiode des Lasers überspannt. Beispielsweise ist in 1 ein bekanntes Freiabtastlasersystem dargestellt, das einen Hauptlaser (masterlaser) 10 und einen Nebenlaser (slave laser) 20 mit unterschiedlichen Resonatorlängen aufweist, die Impulszüge mit unterschiedlichen Wiederholfrequenzen ν1 und ν2 erzeugen. Die Abtastfrequenz entspricht dem Frequenzunterschied Δν = ν1 – ν2 und wird durch Einstellen der Resonatorlänge des Nebenlasers auf eine spezifische feste Länge auf den gewünschten Wert eingestellt. Ein Korrelator 40 erzeugt anhand der Kreuzkorrelation zwischen den beiden Lasern ein Signal, das Informationen über den Zeitablauf zwischen den beiden Lasern und ein Triggersignal für eine Datenerfassungselektronik 50 bereitstellt. In Kafka u.a. wurden beispielsweise zwei unabhängige, modenverriegelte Ti:Saphir-Laser, nämlich ein Hauptlaser 10 und ein Nebenlaser 20 mit jeweils einer nominalen Wiederholrate von 80 MHz, auf unterschiedliche Wiederholfrequenzen (von ungefähr 80 Hz) eingestellt. Aufgrund der Verschiebung der Wiederholfrequenzen führten die Laser eine gegenseitige Abtastung mit einer Verschiebungsfrequenz Δν von ungefähr 100 kHz durch. Diese Verschiebungsfrequenz kann auf einen Empfangs-HF-Oszillator stabilisiert werden. Da sich die Laserwiederholraten in der Nähe von 80 MHz befanden, betrug der gesamte Abtastbereich ungefähr 13 ns. Somit wurde eine Zeitabtastung ohne jegliche sich bewegende mechanischen Verzögerungsleitungen erzielt. Eine Zeitkalibrierung erfolgte durch Kreuzkorrelation der beiden an einem Spiegel 30 reflektierten Laserstrahlen in einem nichtlinearen Kristall, d.h. Korrelator 40, wobei das resultierende Signal zur Triggerung einer Datenerfassungseinheit 50 (z.B. ein Oszilloskop) verwendet wird. Die von den Lasern 10 und 20 ausgegebenen Laserstrahlen werden auch an einem weiteren Spiegel 60 reflektiert und durch eine Messvorrichtung 70 empfangen, die einen gewünschten Messvorgang oder Versuch unter Verwendung des Laserstrahls durchführt.
  • Der Hauptnachteil dieses Verfahrens liegt in dem hohen Datenerfassungs-Zeitverbrauch aus zwei Hauptgründen:
    • 1. Fester Abtastbereich – Der Abtastbereich ist als der Reziprokwert der Wiederholfrequenz (d.h. der Umlaufzeit) des Lasers festgelegt.
    • 2. Totzeit – Anstelle der gesamten 13 ns Impulspause besteht oft nur Interesse an 100 ps oder 10 ps Abtastbereich. Somit sind lediglich 1% (oder 0,1%) der 10 μs Abtastdauer brauchbar, während die übrigen 99% (99,9) eine "Totzeit" darstellen. Dadurch wird die Datenerfassungszeit um einen Faktor 100 oder 1000 erhöht.
  • Diese Einschränkungen werden bei Kafka u.a. angesprochen und es wird vorgeschlagen, dies durch Verwendung von Lasern mit höheren Wiederholraten (z.B. ν0 = 1 GHz) zu umgehen. Diese Lösung ist jedoch bei vielen Anwendungen mit hoher Vielfalt von Abtastbereichen inakzeptabel. Beispielsweise werden häufig Pumpsensormessungen von Halbleitern über eine hohe Vielfalt von Abtastbereichen durchgeführt. Halbwertzeiten von Ladungsträgern (d.h. Elektronen und Löchern) des Halbleiters liegen in der Größenordnung von einigen Nanosekunden, wodurch ein 1-GHz-Laser vollständig inakzeptabel wird, da Restladungsträger des vorangehenden Laserimpulses beim Ankommen des nächsten Impulses immer noch vorhanden wären. Gleichzeitig ist es jedoch wünschenswert, auf einen viel engeren Zeitmaßstab (z.B. 50 ps) zu vergrößern, um extrem schnelle Veränderungen zu beobachten. Somit mangelt es dem Freiabtast-Laserverfahren an der bei vielen Anwendungen erforderlichen Vielfalt der Abtastbereichswahl. Eine Möglichkeit, einen hohen Zeitdynamikbereich ohne extrem lange Erfassungszeiten zu erzielen, liegt im Bereitstellen der Flexibilität einer groben und feinen Zeiteinstellung.
  • In verwandten Arbeiten wurden mehrere Verfahren zur Stabilisierung der Zeitsteuerung zwischen zwei modenverriegelten Lasern verwendet, für die Fälle, dass die Laser aktiv modensynchronisiert, passiv modensynchronisiert und regenerativ modensynchronisiert waren, oder bei Kombinationen passiver und aktiver modenverriegelter Laser. Die zur Synchronisation verwendeten Verfahren können in zwei Haupttypen eingeteilt werden: (1) passive optische Verfahren; (2) elektronische Stabilisierung. Die höchste Synchronisationsgenauigkeit wird durch passive optische Verfahren erzielt, bei denen sich zwei Laser über optische Effekte beeinflussen (J.M. Evans, D.E. Spence, D. Burns und W. Sibbett; "Dual-wavelength selfmode-locked Ti:sapphire lasers." Opt. Lett., 13, Seite 1074-7, 1. Juli 1993; M. R. X. de Parros und P.C. Becker; "Two-color synchronously mode-locked femtosecond Ti:sapphire laser." Opt. Lett., 18, Seite 631-3, 15. Apr. 1993; D.R. Dykaar und S.B. Darak, "Sticky pulses: two-color cross-modelocked femtosecond operation of a single Ti:sapphire laser," Opt. Lett., 18, Seite 634-7, 15. Apr. 1993 (nachfolgend als Dykaar u.a. bezeichnet); Z. Zhang und T. Yagi, "Dual-wavelength synchronous operation of a modelocked Ti:sapphire laser based on self-spectrum splitting." Opt. Lett., 18, Seite 2126-8, 15. Dez. 1993). Diese optischen Effekte (z. B. Kreuzphasenmodulation) bewirken einen starren Verriegelungseffekt zwischen den beiden Lasern, die innerhalb weniger als einer Impulsbreite (< 100 fs) synchronisiert werden. Obwohl sie zu der genauesten Synchronisation führen, ist die Zeitverzögerung zwischen den Lasern starr fixiert, so dass zum Abtasten der zwischen diesen bestehenden Zeitverzögerung übliche physikalische Abtastverzögerungsverfahren erforderlich sind.
  • Elektronische Stabilisierung unter Verwendung einer einfachen HF-Phasenerfassung führt zur höchsten Flexibilität hinsichtlich der Einstellung der relativen Zeitverzögerung, wobei jedoch diese Systeme derzeit Zeitgenauigkeiten von nicht mehr als einigen Pikosekunden (~ 3 ps) beibehalten können. Ein solches System ist zur Stabilisierung eines Ti:Saphir-Lasers auf eine externe Referenzfrequenz oder zur Synchronisierung zweier modenverriegelter Ti:Saphir-Laser kommerziell verfügbar. (Die Marke "Lok-to-ClockTM "-System der Firma Spectra Physics, siehe auch Druckschrift US-5 367 529). Eine gegenüber 100 fs bessere Stabilisierung wurde durch Verwendung einer gepulsten optischen Phasenregelschleife (POPLL) erzielt. Es handelt sich dabei um ein optoelektronisches Hybridverfahren, wie beispielsweise in S.P. Dijaili, J.S. Smith und A. Dienes, "Timing synchronisation of a passively mode-locked dye laser using a pulsed optical phase locked loop." Appl Phys. Lett., 55, Seiten 418-420, Jul. 1989 (nachfolgend als Dijaili u.a. bezeichnet) offenbart ist, bei den die elektronische Stabilisierschaltung das Zeitfehlersignal von einem optischen Kreuzkorrelator ableitet. Dieses Verfahren hat jedoch auch die fehlende Zeiteinstellbarkeit wie die passiven optischen Verfahren zum Nachteil. Die Zeitsteuerung ist nur um weniger als eine Impulsbreite einstellbar. Bei der Verwendung des POPLL-Verfahrens wäre es somit erforderlich, eine Art physikalische Verzögerungsleitung in einen Laserstrahl einzufügen, falls gewünscht wird, die relative Impulszeit um mehr als eine Impulsbreite zu verändern.
  • Die Zeitstabilisierung der HF-Verfahren könnte verbessert werden, wenn die eigenen Zeitgabeschwankungen (Timing Jitter) des Lasers reduziert werden könnten. Eine gewisse Verringerung des eigenen Laserjitters kann dadurch erzielt werden, dass so gut wie möglich sichergestellt wird, dass die beiden Laser identischen Umgebungsbedingungen ausgesetzt sind. In dem von Dykaar u.a. offenbarten "Sticky-Pulse-Laser" wird ein räumlich getrennter Pumplaserstrahl zum Pumpen zweier räumlich getrennter Bereiche eines Ti:Saphir-Laser Kristalls verwendet. Es handelt sich dabei im wesentlichen um zwei getrennte Laser, die denselben Pumplaser, Laserkristall, Luftraum und die meisten weiteren resonatorinternen Elemente mit Ausnahme der beiden Endspiegel gemeinsam verwenden. Auf diese Weise sind die beiden Laser denselben thermischen Schwankungen, Pumplasergeräuschen und Turbulenzen ausgesetzt, wodurch der Unterschied der Wiederholratenschwankungen minimiert wird. Dies ermöglicht ein Einrasten der Impulse selbst bei einer schwachen optischen Wechselwirkung zwischen den beiden Lasern. Dieses allgemeine Prinzip der "Umgebungskopplung" kann auch bei anderen Laserarten wie etwa modenverriegelten Faserlasern eingesetzt werden. Es sollte jedoch beachtet werden, dass das Ziel von Dykaar u.a. das gegenseitige Verriegeln der beiden Laser darstellt, was für die Zwecke der vorliegenden Erfindung unerwünscht ist, da die Zeitverzögerung dabei nicht abgetastet werden kann; d.h. die Zeitpunkte der Impulse der beiden gekoppelten Laser des vorstehend erläuterten "Sticky-Pulse-Lasers" sind durch die optische Kopplung miteinander synchronisiert und können nicht unabhängig gesteuert werden.
  • KURZFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Die Aufgabe der Erfindung liegt in der Bereitstellung eines Verfahrens zum Steuern eines zeitlichen Unterschieds zwischen ersten und zweiten Laserimpulsen, die von einer ersten und einer zweiten Kurzimpulslaserquelle ausgegeben werden, einer schnellen Abtastlaservorrichtung mit einer ersten und einer zweiten Kurzimpulslaserquelle, und einer Verwendung einer Phasenregelschleife in einer Laservorrichtung, damit eine Abtastung mit minimaler mechanischer Bewegung durchgeführt werden kann.
  • Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch ein Verfahren zum Steuern eines zeitlichen Unterschieds zwischen ersten und zweiten Laserimpulsen mit den Merkmalen gemäß Patentanspruch 1, eine schnelle Abtastlaservorrichtung mit den Merkmalen gemäß Patentanspruch 5 und eine Verwendung einer Phasenregelschleife in einer Laservorrichtung mit den Merkmalen gemäß Patentanspruch 9 erfüllt.
  • Es sind weitere vorteilhafte Entwicklungen in den abhängigen Patentansprüchen dargelegt.
  • Die Erfindung stellt ein Verfahren und eine Vorrichtung zum schnellen Abtasten der Zeitverzögerung zwischen zwei modenverriegelten Lasern wie beispielsweise einem Haupt- und Nebenlaser bereit, bei denen keine großen mechanischen Bewegungen optischer Elemente erforderlich sind und die ein Abtasten eines beliebig gewählten benachbarten Subintervalls der Impulswiederholperiode TR ermöglicht. Dies wird durch geeignete Einstellungen der Resonatorlänge eines Lasers (z.B. des Nebenlasers) in der Größenordnung von Mikrometern erzielt, während eine elektronische Rückkoppelschaltung zur fortlaufenden Überwachung der mittleren Zeitgabe (Phase) zwischen den beiden Lasern verwendet wird. Darüber hinaus ist es erwünscht, die HF-Stabilisierung der beiden Laser in solcher Weise abzuwandeln, dass die relative Zeitverzögerung im Gegensatz zum Freiabtast-Laserverfahren über einige Subintervalle der Wiederholperiode abgetastet werden kann, wodurch der Auslastzyklus der Datenerfassung beachtlich verbessert wird.
  • Die Erfindung minimiert die durch Fluktuationen der Umgebungsbedingungen wie beispielsweise Vibration, Luftturbulenzen und Temperaturveränderungen verursachten Zeitgabeschwankungen. Dies wird dadurch erzielt, dass beide Laser mit identischen Elementen innerhalb des selben Gehäuses aufgebaut sind und mit dem selben Pumplaser gepumpt werden, wobei jedoch eine unabhängige Steuerung möglich ist. Im einzelnen kann dies im Falle von Glasfaserlasern dadurch erreicht werden, dass die Glasfasern gemeinsam auf dieselbe Spule gewickelt werden.
  • Gemäß der Erfindung werden Beispiele von Verfahren zum Kalibrieren des Abtastzeitmaßstabs mit Subpiko-Sekundengenauigkeit bereitgestellt, die während und in Verbindung mit dem vorgenannten Abtastverfahren zu verwenden sind. Beispielsweise kann die vorliegende Erfindung zur Kreuzkorrelation der Impulse eines Lasers (z. B. eines Hauptlasers) mit durch Hindurchführen von Impulsen des anderen Lasers (z. B. eines Nebenlasers) durch eine Reihe von teilweise reflektierenden optischen Elementen erhaltenen Impulssequenzen verwendet werden.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die Erfindung wird nachstehend anhand bevorzugter Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 ein bekanntes Freiabtastlasersystem;
  • 2(A) und (B) ein erfindungsgemäßes schnelles Abtastlasersystem, bei dem die Resonatorlänge des Haupt- und/oder Nebenlasers gesteuert wird;
  • 3(A) und (B) eine Zeitverzögerung TD(t) und an den PZT in dem Laserresonator angelegte Wellenformen;
  • 4 ein erfindungsgemäßes Doppelfaserlasersystem mit zwei identischen modenverriegelten Glasfaserlasern, in denen als moden-synchronisierender Mechanismus eine nichtlineare Polarisationsentwicklung verwendet wird und Glasfasern beider Laser gemeinsam auf dieselbe Spule gewickelt sind;
  • 5(A) und (B) eine Darstellung eines Kreuzkorrelationssignals zwischen zwei durch das erfindungsgemäße Zitterverfahren abgetasteten Glasfaserlasern gemäß 4, der an den PZT angelegten sinusförmigen Spannung und des Rechteckwellen-Triggerausgangssignals des Signalgenerators;
  • 5(C) eine Darstellung der Zeitgabeschwankungsdaten;
  • 6(A) und (B) einen Impulszüge erzeugenden hochgenauen Fabry-Perot-Etalon;
  • 7(A)-(D) Darstellungen zweier Vollabtastzyklen mit den Kreuzkorrelationssignalen zwischen einem Einzellaserimpuls und dem durch einen luftgetrennten FP-Etalon übertragenen Impulszug;
  • 8(A) und (B) einen Impulszuggenerator, der aus einer Reihe fotorefraktiv gewachsener gechirpter Glasfasergitter;
  • 9 ein detailliertes schematisches Diagramm eines Laserstabilisierungs- und Zittersystems;
  • 10 ein schematisches Diagramm eines Meßsystems, in dem die erfindungsgemäßen schnell abtastenden Laser und das erfindungsgemäße Zeitkalibrierungsverfahren eingesetzt werden;
  • 11(A) und (B) Metrologiesysteme, in denen ein erfindungsgemäßes schnell abtastendes Lasersystem eingesetzt wird;
  • 12 ein Femtosekunden-OTDR-System, in dem ein erfindungsgemäßes schnell abtastendes Lasersystem und ein erfindungsgemäßes Zeitkalibrierungsverfahren eingesetzt werden; und
  • 13 ein elektrooptisches Abtastoszilloskop, in dem ein erfindungsgemäßes schnell abtastendes Lasersystem und ein erfindungsgemäßes Zeitkalibrierungsverfahren eingesetzt werden.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
  • Es folgt eine Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung, bei denen gleiche Bezugszeichen gleiche oder ähnliche Elemente bezeichnen.
  • Prinzip des Schnellabtastverfahrens
  • Die vorliegende Erfindung besteht wie das Freiabtastlasersystem aus zwei Lasern, einem Masterlaser 110 (im folgenden Hauptlaser genannt) und einem Slavelaser 120 (im folgenden Nebenlaser genannt), die nahezu identische Wiederholraten aufweisen, wie beispielsweise in 2(A) gezeigt ist. Im Gegensatz zu dem Freiabtastlasersystem ist es jedoch den von dem Haupt- und dem Nebenlaser ausgegebenen Impulsen nicht möglich, vollkommen durcheinander hindurch abzutasten. Vielmehr wird die Wiederholfrequenz ν2 des Nebenlasers 120 um die Wiederholrate des Hauptlasers 110 gezittert, während der Hauptlaser 110 mit einer Wellenlänge λ1 bei einer konstanten Wiederholrate ν1 festgehalten wird oder aus freien Stücken driften kann. Dieses Zittern („Dithering") der Wiederholrate wird durch Verändern der Resonatorlänge (L2) des Nebenlasers 120 mit "hoher Frequenz" erreicht, beispielsweise im Bereich von 30Hz bis 1 kHz, wobei seine mittlere Wiederholrate durch die des Hauptlasers 110 mittels einer Stabilisierereinheit 130, die eine "langsame Phasenregelschleifen-(PLL)-Schaltung" mit geringerer Bandbreite als die Abtastfrequenz enthält, fremd synchronisiert oder gesteuert ist. Die mittlere Zeitverzögerung zwischen dem Haupt- und Nebenlaser wird durch eine Stabilisierereinheit 130, die die Resonatorlänge des Nebenlasers 120 steuert, konstant gehalten. Zwischenzeitlich wird ein schnelles Zitterausgangssignal eines Signalgenerators 140 zu der Steuerausgangsspannung der Stabilisierereinheit 130 hinzuaddiert, um die augenblickliche Verzögerung zwischen den Lasern abzutasten. Das Fremdsynchronisieren und Zittern der Wiederholfrequenz kann durch Anbringen eines Endspiegels des Nebenlasers 120 auf einem piezoelektrischen Wandler (PZT) 121 und Anlegen des erforderlichen Spannungssignal eines Frequenzsignalgenerators 140 erreicht werden. Es ist erforderlich, dass die Bandbreite der PLL-Schaltung geringer ist als die Zitterfrequenz; anderenfalls wird sie versuchen, den Hauptlaser zu führen und der Resonatorlängenabtastung entgegenzuwirken.
  • 2(B) zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel, in dem der Hauptlaser 110 einen PZT 111 enthält und die Spiegel sowohl des Hauptlasers 110 als auch des Nebenlasers 120 durch PZTs 111 und 121 gesteuert werden. In diesem Fall wird der Hauptlaser 110 mit der Abtastfrequenz gezittert, während der Nebenlaser 120 der mittleren Wiederholrate des Hauptlasers 110 nachgeführt wird. Die Resonatorlänge des Hauptlasers 110 wird durch einen Signalgenerator 140 schnell gezittert, während der Stabilisierer den Nebenlaser 120 auf die gewünschte mittlere Zeitverzögerung einrastet.
  • Wiederum ist es für die Zitterfrequenz erforderlich, die Bandbreite der PLL-Schaltung zu überschreiten, damit die PLL der Zeitabtastung nicht entgegenwirkt.
  • Als Beispiel für die Funktion der Resonatorlängenabtastung wird eine Rechteckwelle mit einer Abtastfrequenz fs an den Nebenlaser-PZT 121 angelegt. Dann ergibt sich die Resonatorlängenverstimmung als eine sich schnell verändernde Funktion der Zeit: ΔL(t) = ΔL0·Sq(fst) Gl.1wobei ΔL0 die Amplitude des Rechteckwellenversatzes kennzeichnet und Sq(x) die Rechteckwellenfunktion. Daraus ergeben sich positive und negative lineare Abtastverzögerungen für eine Hälfte des Abtastzyklus (eine Dreieckwelle). Im zeitstationären Fall erzeugt eine konstante Resonatorlängenverstimmung ΔL eine Offsetfrequenz von:
    Figure 00170001
    die umgeschrieben werden kann als
  • Figure 00170002
  • Bei dem schnellen Abtastverfahren wird allerdings die Resonatorlänge mit einer ausreichend hohen Frequenz gezittert, so dass ein vollständiges gegenseitiges Durchlaufen der Impulse nicht auftritt. Das bedeutet, dass die Abtastfrequenz und -amplitude die Bedingung erfüllen
    Figure 00180001
  • In diesem Fall wäre die zeitveränderliche Zeitverzögerung Td(t) proportional zu dem Zeitintegral der Resonatorlängenverstimmung:
    Figure 00180002
    wobei c die Lichtgeschwindigkeit im Vakuum kennzeichnet und das Integrationsintervall in der Größenordnung eines Abtastzyklus liegt. 3(A) zeigt einen Augenblick der Rechteckwellenmodulation, bei dem eine 1kHz-Rechteckwelle an den PZT eines der Laser angelegt wird. Die in 3 gezeigten Wellenformen zeigen eine zeitabhängige Resonatorlängenverstimmung ΔL(t) und die resultierenden augenblicklichen Zeitverzögerungen TD(t) als Funktion der Zeit, wenn verschiedene Zitterwellenformen an den PZT des Nebenlasers angelegt werden. Die augenblickliche Wiederholrate ν2 zittert um ν1, und die relative Zeitverzögerung tastet zeitlinear rückwärts und vorwärts ab. Der Gesamtabtastbereich ist abhängig von der Grundwiederholrate ν1 der Abtastfrequenz fs und der Abtastamplitude ΔL, entsprechend den Gleichungen:
    Figure 00180003
    oder hinsichtlich der Offsetfrequenz:
    Figure 00190001
  • Die Abtastrate ergibt sich mit einer Einheit von (ms/ms) zu:
    Figure 00190002
    oder in bequemeren Laboreinheiten:
    Figure 00190003
  • Das "Abtastraster" ergibt sich aus dem zeitlichen Impulsfortschreiten pro Umlauf: δg = 2ΔL/C Gl.7
  • Es kann ein Abtastgeschwindigkeitsparameter definiert werden, der dem Grad der räumlichen Impulsfortschreitung pro Sekunde entspricht. Dieser ergibt sich aus
    Figure 00190004
  • Es ist zu beachten, dass diese Konzepte der Abtastrate, des Abtastrasters und der Abtastgeschwindigkeit in gleicher Weise bei Freiabtastlasern geeignet sind.
  • Als ein Beispiel ergibt sich bei einem Paar von Lasern mit einer nominalen Resonatorlänge von L = 1,5 m ein ν1 = 100 MHz. Wird eine Abtastamplitude von ΔL = 15 μm angenommen, so ergeben sich eine Offsetfrequenz Δν = 1 kHz, eine Abtastrate von Rscan = 104 ps/ms und ein Abtastraster von δtg = 100 fs. Ein vollständiges Impulsausrasten (full pulse walkoff) tritt in 1 ms auf, wenn die Resonatorlänge nicht gezittert wird. Somit wird zur Verhinderung des vollständigen Ausrastens eine Abtastfrequenz von fs > 1 kHz benötigt, falls eine Abtastamplitude von 15 μm verwendet wird.
  • Die Tabellen 1, 2 und 3 zeigen einige mögliche Abtastbereiche, Abtastraten und Abtast-Rasterintervalle als Funktion verschiedener Abtastparameter für modenverriegelte Laser mit Wiederholraten ν von 10 MHz, 100 MHz und 1 GHz. Anhand der Tabelle 3 ist entnehmbar, dass bei einem 1-GHz-Laser die gebräuchlichsten Abtastbedingungen ein vollständiges Ausrasten bewirken, weshalb die Zeitverzögerung 1 ns nicht überschreiten kann. Somit ist bei Lasern mit Wiederholraten unterhalb 1 GHz das erfindungsgemäße Zitterverfahren gegenüber dem Freiabtastlaserverfahren bevorzugt.
  • Tabelle 1. Abtastparameter für einen 10-MHz-Laser (L = 15 m).
    Figure 00210001
  • Tabelle 2. Abtastparameter für einen, 100-Mßz-Laser (L = 1,5m).
    Figure 00210002
  • Tabelle 3. Abtastparameter für einen, 1-GHz-Laser (L = 0,15 m).
    Figure 00220001
  • Symmetrisches Rechteckwellenzittern ist nicht das einzige bevorzugte Verfahren. 3(B) und (C) zeigen zusätzlich zu der Rechteckwellenmodulation zwei weitere Zitterschemata. Zum Erhalten einer Einrichtungsabtastung kann eine asymmetrische Rechteckwelle verwendet werden, wie in 3(B) dargestellt ist. Dies führt zu einer Verringerung der überflüssigen Totzeit der Rückwärtsabtastung. Bei der Verwendung der Einrichtungsabtastung in handelsüblichen Fabry-Perot-Interferometern wird diese vielmehr durch eine Dreieckwellenform anstelle einer Rechteckwellenform erzeugt, wie in 3(B) dargestellt ist.
  • Die abrupten Spannungsänderungen an den ansteigenden und abfallenden Flanken der Rechteck- und Quadratwellen können mechanische Stöße und Schwingen in dem PZT verursachen, wodurch die anderenfalls lineare Zeitskala der Abtastung gestört wird. Eine gewisse Signalaufbereitung (z. B. Glättung der Übergänge), die diese Effekte verringert, ist daher wünschenswert. Als Alternative kann eine Sinusspannung an den PZT angelegt werden, wie in 3(C) dargestellt ist. Einer der Vorteile bei der sinusförmigen Abtastung liegt darin, dass das Stoßen und Klingeln, die die mit Quadrat- und Rechteckwellen verbundenen scharfen Spannungstransienten begleiten würden, verhindert werden. Ebenso wird eine Zeitgabestörung verhindert, da die PLL versucht, auf die induzierte Resonanzlängenverstimmung zu reagieren. Das bedeutet, dass eine sinusförmige Ansteuerspannung bei einer einfachen analogen Stabilisierungsschaltung eine sinusförmige Abtastcharakteristik hervorruft, selbst dann, wenn der Stabilisierer in gewissem Umfang auf die Abtastzeitverzögerung anspricht. Aus diesen Gründen handelt es sich bei der sinusförmigen Abtastung um die am einfachsten realisierbare. Die sinusförmige Abtastung teilt jedoch nicht den Vorteil eines Rechteckwellensignals, wie das in 3B gezeigte, das eine Einrichtungsabtastung erzeugt. Daher kann abhängig vom erforderlichen Einfachheitsgrad ein sinusförmiges Abtastsignal zum Ansteuern des PZT bevorzugt sein. Die in den Tabellen 1-3 gegebenen Abtastparameter wurden basierend auf einer symmetrischen Quadratwellenmodulation des PZT erhalten. Bei einer sinusförmigen Abtastung müssen der Abtastbereich und die Abtastrate etwas modifiziert werden. Die zeitabhängige Verzögerung ist immer noch durch Gleichung 4 gegeben, wobei jedoch die Resonatorlängenmodulation erhalten wird durch: ΔL(t) = ΔL0·cos(2πfst) Gl.9
  • Daraus ergibt sich eine Verzögerung von:
    Figure 00240001
  • Dies führt zu einer sinusförmigen Abtastung, obwohl die Zeitverzögerung gegenüber der PZT-Position um 90 Grad phasenverschoben ist. Es ist zu beachten, dass die Abtastcharakteristik nichtlinear ist und eine gewisse Maßstabskorrektur erforderlich ist.
  • Es sollte beachtet werden, dass dieses Verfahren nicht auf die vorgenannten Ausführungsbeispiele beschränkt ist, obwohl das hier beschriebene Laserabtastverfahren unter Verwendung eines Paars modenverriegelter Glasfaserlaser demonstriert wurde, sondern es auch bei vielen weiteren Arten modenverriegelter Laser wie beispielsweise Festlaser, Diodenlaser und Farbstofflaser anwendbar ist.
  • Abtast-Glasfaser-Lasersystem
  • 4 zeigt ein bevorzugtes erfindungsgemäßes Ausführungsbeispiel für ein Doppelfaserlasersystem mit zwei Glasfaserlasern, d.h. einem Hauptlaser 210 und einem Nebenlaser 220.
  • Beide Laser werden durch dieselbe Laserdiode LD 205 gepumpt, deren Leistung durch einen Teiler SPL 206 zwischen den beiden Lasern aufgeteilt wird. Der Hauptlaser 210 wird durch einen integrierten Faraday-Rotator-Spiegel FRM 215 abgeschlossen, während der Nebenlaser 220 durch einen optischen Aufbau PZT-FRM 225 abgeschlossen wird, der zu dem FRM 215 äquivalent ist, jedoch auch einen auf einem PZT angeordneten Spiegel enthält. Die beiden Glasfaserlaser enthalten identische Modenfremdsynchronisationsoptiken (d.h. Wellenplatten λ/4, λ/2, Faraday-Rotatoren (FR) und polarisierende Strahlteiler PBS, „Polarizing Beam Splitter"). Lasermodenfremdsynchronisation wird durch sättigbare Absorber SA eingeleitet. Die Ausgangsimpulse der rauscharmen Ausgangsanschlüsse der Laser werden durch Fotodioden PD-1 und PD-2 erfasst, die zur Ansteuerung des Stabilisierers 130 verwendet werden.
  • Beide Glasfaserlaser weisen eine nominale Wiederholrate von ν0 = 4,629 MHz auf. Sie basieren auf einer umgebungsstabilen Ausgestaltung, die in M.E. Fermann, L.M. Yang, M.L. Stock und M.J. Andrejco, "Environmentally stable Kerr-type mode-locked erbium fiber laser producing 360-fs pulses." Opt. Lett., 19, Seite 43-5, Jan. 1994 offenbart ist, bei der eine nicht lineare Polarisationsentwicklung (NPE) als Modenfremdsynchronisations-Mechanismus verwendet wird. Die Laser weisen mit Ausnahme der Faraday-Rotator-Spiegel identische Komponenten auf; der Hauptlaser 210 wird mit einem integrierten Faraday-Rotator-Spiegel FRM 215, der als Einzelbauteil ausgestaltet ist, festgelegt, während der Nebenlaser 220 durch den Aufbau PZT-FRM 225 aus diskreten Komponenten bestimmt wird, der zu einem FRM äquivalent ist, aber auch einen auf einem PZT angebrachten Spiegel enthält. Der hier verwendete PZT weist einen Gesamtverschiebungsbereich von 40 Mikrometern auf. Die Laser sind durch gemeinsames Umwickeln um dieselbe Glasfaserspule 280 thermisch und mechanisch gekoppelt. Darüber hinaus werden beide Laser durch dieselbe Pumplaserdiode LD 205 gepumpt, so dass das in den beiden Lasern auftretende Pumprauschen korreliert ist. Die relative Zeitgabe zwischen den Lasern wird durch den eine PLL-Schaltung enthaltenden Stabilisierer 130 eingestellt und stabilisiert. Sobald der Stabilisierer 130 aktiviert und die Laser auf die richtige Verzögerung eingestellt sind, wird ein Zittersignal an den PZT des Nebenlasers 220 angelegt, um diesen zum Abtasten zu veranlassen. Das Zittersignal wird durch einen Signalgenerator 135 angelegt und wird zu einem Stabilisierausgangssignal des Stabilisierers 130 hinzu addiert, um ein Signal zum Ansteuern des PZT zu erzeugen. Alternativ kann auch der Stabilisierer 130 das Zittersignal erzeugen, so dass das Ausgangssignal des Stabilisierer 130 sowohl das Stabilisier- als auch das Zittersignal enthält. Jeder Laser weist zwei auf deren im Resonatorinneren befindlichen Polarisierer bezogene Ausgangsanschlüsse auf. Diese beiden Ausgangsanschlüsse sind in 4 als zwei Ausgänge eines jeden PBS dargestellt. Diese beiden Laserausgänge weisen sehr unterschiedliche Rauscheigenschaften auf; einer ist zu einem gewissen Grad verrauscht und der andere weist, aufgrund eines optischen Begrenzungseffekts (wegen der NPE), dessen Auftreten in diesem Lasertyp bekannt ist, ein sehr geringes Rauschen auf. Dieser ruhige Ausgangsstrahl wird durch Fotodioden PD-1 und PD-2 erfasst, die ein Eingangssignal für die Stabilisiererschaltung 130 bereit stellen. Die Verwendung des ruhigen Ausgangsstrahls als Eingangssignal für den Stabilisierer 130 trägt zur Minimierung der Zeitgabeschwankungen (Timing Jitter) bei.
  • Eine sinusförmige Zeitabtastung wurde durch die Erfinder unter Verwendung des Doppelfaserlasersystems realisiert. 5(A) zeigt zwei Zyklen einer Kreuzkorrelationsabtastung zwischen den beiden in 4 gezeigten Faserlasern, die anhand einer Einzeldatenerfassung, d.h. ohne Mittelung, gesammelt wurden. Im einzelnen zeigt 5(A) das Kreuzkorrelationssignal zwischen zwei Faserlasern, die durch das erfindungsgemäße Jitterverfahren mit einer Abtastfrequenz von 106 Hz und über einen Abtastbereich von 200 ps abgetastet werden. Hierbei zeigt 5(A) zwei volle Abtastzyklen mit sowohl vorwärtigem als auch rückwärtigen Abtasten. Ebenso sind die an die PZT-Steuerung angelegte Sinuswellenspannung und der als eine Quadratwelle erscheinende Triggerausgang des Signalgenerators dargestellt. Diese Darstellung gemäß 5(A) wurde erhalten durch Passieren der Impulse der beiden Laser durch einen modifizierten Kreuzkorrelator, in dem eine Summenfrequenzmischung in einem nichtlinearen Kristall, insbesondere einem Beta-Barium-Borat-(BBO)-Kristall, angewendet wird.
  • Eine mechanische Abtastverzögerung wird in einem Arm eines bekannten Korrelators angewendet. In dem erfindungsgemäßen Korrelator wurde jedoch keine mechanische Verzögerung verwendet. Alle Abtastvorgänge wurden unter Verwendung des vorstehend beschriebenen Laserzitterverfahrens durchgeführt. 5(A) zeigt auch die an die PZT-Steuerung angelegte Sinuswellenspannung und den Triggerausgang des Funktionsgenerators. Es ist zu beachten, dass die in der Darstellung markierten Verschiebungsenden des PZT gegenüber der angelegten Sinuswelle 90 Grad phasenverschoben sind, wie gemäß den Gleichungen 9 und 10 zu erwarten ist. Der Abtastbereich beträgt ungefähr 200 ps bei einer Abtastfrequenz von 100 Hz. Dies ist äquivalent mit dem Abtasten einer physikalischen Verzögerung von 3 cm bei einer Wiederholrate von 100 Hz. Mit dem Doppellasersystem wird jedoch derselbe Abtastbereich durch Verschieben des PZT des Nebenlasers um lediglich einige Mikrometer erzielt.
  • Dieses Kreuzkorrelationsverfahren wurde zur Messung der Zeitgabeschwankungen zwischen den beiden Lasern verwendet. Die Zeitkalibrierung erfolgte durch Einfügen eines Glasetalons mit einer Dicke von 2 mm in einen Arm des Korrelators, der eine durch 20 ps getrennte Impulssequenz erzeugt. Diese Impulssequenz ist auf den in 5(A) gezeigten Abtastvorgängen deutlich erkennbar. 5(B) zeigt denselben Abtastvorgang bei gedehntem Zeitmaßstab, wobei gering beabstandete Impulse (ein Laser weist Nebenimpulse auf) und Wiederholungen der Impulspaare dargestellt sind, die durch Einfügen eines 2mm-Glasetalons in einen Arm des Korrelators erzeugt wurden. Die Impulspaarwiederholungen sind von dem Hauptimpulspaar entsprechend der Dicke des Etalons durch 20 ps getrennt. Hier ist erkennbar, dass die Impulsbreiten in der Größenordnung von 1 ps liegen und dass auch Nebenimpulse einige ps von dem Hauptimpuls entfernt vorhanden sind. Die so gemessene RMS-Zeitgabeschwankung betrug ΔTj = 5 ps bei gelegentlichen Zeitgabeabweichungen von bis zu ± 20 ps. Die Zeitgabeschwankungsdaten sind in 5(C) dargestellt, wobei jeder Datenpunkt die relative Zeitverzögerung zwischen den Lasern bei jedem Abtastvorgang mit der 106-Hz-Abtastrate darstellt.
  • Die gemessenen Schwankungen demonstrieren die Genauigkeitseinschränkungen der elektronischen PLL-Schaltung des Stabilisierers 130, aber sie demonstrieren auch, wie genau Zeitgabeinformationen trotz dieser Schwankungen erhalten werden können. Erfolgt die Abtastung schnell genug, so ergeben sich innerhalb der Abtastzeit ziemlich kleine relative Zeitgabeschwankungen. Und falls eine stabile Serie von Zeitgabeimpulsen bereitgestellt wird, beispielsweise durch Hindurchtreten der Laserimpulse durch ein Etalon, so sind selbst die Schwankungen während der Abtastzeit genau bekannt. Auf diese Weise ist die Abtastcharakteristik bis auf Subpikosekunden-Genauigkeit bekannt, selbst wenn die Laser um mehrere Pikosekunden schwanken.
  • Die vorteilhaften Wirkungen der gemeinsamen Anordnung der Laser sind wichtig. In einem vorhergehenden und weniger erfolgreichen durch die Erfinder erstellten Doppellasersystem war dasselbe Laserpaar auf verschiedenen Rasterplatinen aufgebaut und wurde durch verschiedene Laser gepumpt. Bei aktiviertem Stabilisierer folgte der Nebenlaser dem Hauptlaser lediglich für ungefähr 30 Minuten, bevor die Resonatorlängenverstimmung den 40-Mikrometer-Verschiebungsbereich des PZT überschritt. Zu diesem Zeitpunkt ist ein Nachführen unmöglich. Somit kann die Resonatorlängenverstimmung zwischen einem 5-MHz-Laserpaar selbst bei normalen Raumtemperaturbedingungen um mehr als 40 Mikrometer driften, was außerhalb des Bereichs der meisten PZTs liegt. Andererseits ermöglicht das erfindungsgemäße, gemeinsam angeordnete System eine unbestimmte Nachführung, die andeutet, dass die Resonatorlängenverstimmung bei normaler Raumtemperaturbedingung ausreichend innerhalb der 40-Mikrometer-Begrenzung des PZT verbleibt. Messungen der absoluten und relativen Frequenzdrift zeigen, dass die relative Frequenzdrift zwischen den beiden Lasern 7-mal geringer als die absolute Drift eines Lasers ist. Die relative Drift kann durch Bereitstellen von im Aufbau vollkommen identischen Lasern noch weiter verbessert werden. Dies kann dadurch erzielt werden, dass beide Laser mit identischen PZT-FRM-Aufbauten abgeschlossen werden, oder dass beide mit identischen FRM-Paketen abgeschlossen werden und die Nebenlaserresonatorlänge mittels einer Glasfaserstreckvorrichtung, verändert wird.
  • Eine weitere Verringerung sowohl des relativen als auch der absoluten Zeitgabedrift kann durch akustische Dämpfung der Glasfaserspule 280 und weiterer Komponenten erzielt werden, und durch Unterbringen der Laser in dem selben Gehäuse, das seinerseits akustisch gedämpft und temperaturgesteuert sein kann. Unter Einsatz all der vorgenannten Verfahren kann die relative Laserschwankung gegebenenfalls das Quantenlimit erreichen (H.A. Haus und A. Mecozzi, "Noise of mode-locked lasers," IEEE J. Quantum Electron., QE-29, Seiten 983-996, März 1993). Da die quantenbegrenzten Zeitgabeschwankungen mit steigender Dispersion ansteigen, könnte die Schwankung durch Betrieb der modenverriegelten Laser in der Nähe der Null-Dispersions-Wellenlänge weiter reduziert werden.
  • Das Zittern des Endspiegels eines modenverriegelten Lasers kann aufgrund einer Spiegelfehlausrichtung und Defokussierung Amplitudenschwankungen bei der Abtastfrequenz induzieren. Dieser Fehlausrichtungseffekt kann durch Fokussieren auf den PZT-Spiegel zur Verringerung der Winkelempfindlichkeit minimiert werden, und durch Verwenden eines 3-Punkt-Spiegelabtast-PZTs zur Beibehaltung der Ausrichtung, wie es bei handelsüblichen Abtast-Fabry-Perot-Interferometern durchgeführt wird. Der Defokussiereffekt kann auftreten, wenn die Abtastamplitude einen beachtlichen Teil des Konfokalparameters des auf den PZT-Spiegel einfallenden Strahlmittelteils darstellt. In einem Glasfaserlaser verursacht diese Defokussierung eine Verringerung der Koppeleffizienz des Strahls zurück in die Glasfaser, was wiederum Leistungsschwankungen hervorruft. Somit ist eine starke Fokussierung auf den PZT-Spiegel nicht erwünscht. Eine sparsame Wahl der Strahlkollimation kann diesen Defokussiereffekt verringern. Wird beispielsweise ein PZT mit einem Abtastbereich von 40 Mikrometern verwendet, so wäre ein Konfokalparameter von zumindest einigen Millimetern erforderlich. Dann ist die Größe (ΔL/ZR)2 10–4 ziemlich klein, wobei ZR den Konfokalparameter des Strahlmittelteils an dem PZT-Spiegel kennzeichnet. Ist diese Größe klein, so ist die Amplitudenmodulation des Lasers entsprechend klein.
  • Es sollte herausgestellt werden, dass selbst bei einigen kleinen Amplitudenschwankungen durch leichte Spiegelfehlausrichtungen während des Abtastens die Strahlzeigestabilität aufgrund der Führungseigenschaften der Glasfaser in keiner Weise verschlechtert wird. Bei einem phasenverriegelten Festkörperlaser könnten jedoch gewisse Abweichungen des Ausgangsstrahls auftreten, falls nicht Maßnahmen zum Verhindern ergriffen werden.
  • Bei einem alternativen Lasersystem könnten beide Laser durch identische FRM abgeschlossen werden und die Resonatorlängen könnten durch eine PZT-Faserstreckvorrichtung eingestellt werden, wie beispielsweise ein durch die Firma Piezomechanik GmbH aus Deutschland hergestelltes Röhrenstellglied PiT 40 × 18 × 1.
  • Zeitgabekalibrierung
  • Trotz des Stabilisierens der mittleren, relativen Zeitverzögerung mittels der PLL-Schaltung des Stabilisierers 130 kann diese Position um einige Pikosekunden schwanken, so dass es erforderlich ist, sicherzustellen, dass die Datenerfassungseinheit 50 in korrekter Weise mit einem die gewünschte Genauigkeit, d.h. 100 fs, aufweisenden Zeitgabesignal getriggert wird. Ein derartiges Signal kann von einem Kreuzkorrelator mit nichtlinearer optischer Mischung in einem nichtlinearen Kristall wie beispielsweise einem BBO erhalten werden, wie es bei der vorstehend genannten Demonstration und durch andere wie beispielsweise Kafka u.a. durchgeführt wurde. Diese Art der Triggerung hat sich zum Erhalten einer hohen Genauigkeit in Metrologiemessungen als wichtig herausgestellt, selbst wenn für die Abtastzeitgabeverzögerung ein Spiegelrüttler verwendet wird. Während dies erforderlich ist, ist es jedoch nicht ausreichend. Jittermessungen zeigen, dass die Zeitgabe nicht nur von Abtastvorgang zu Abtastvorgang schwanken kann, sondern auch während einem einzelnen Abtastzyklus. Dies bedeutet, dass die Abtastrate Rscan sich von Abtastvorgang zu Abtastvorgang und selbst während dem Abtastzyklus verändert. Es ist daher wichtig, dass Zeitmaßstabsoperationen vor der Signalmittelung auftreten. Es ist somit erforderlich, pro Abtastvorgang mindestens zwei Zeitgabeimpulse von dem Korrelator zu erhalten – einen zum Triggern und den anderen für die Zeitmaßstabsinformation. Um dies zu erreichen, wird das Abtastintervall bei der vorliegenden Erfindung mit einer Impulssequenz gefüllt, entweder gleichmäßig oder ungleichmäßig (sowohl in Amplitude als auch Zeit). Auf diese Weise können bei jedem Abtastzyklus Zeitgabeinformationen über das Abtastintervall erhalten werden.
  • Zeitmaßstabserzeugung
  • Ein wichtiger Schlüsselpunkt der Zeitmaßstabskalibrierung liegt in der Wahl der zur Erzeugung der Zeitgabeinformationen verwendeten Verfahren. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel kann eine Impulssequenz durch reflektieren eines Einzelimpulses an einem hoch empfindlichen Fabry-Perot-(FP)-Etalon erzeugt werden, um eine zeitlich gleichmäßige Sequenz vieler Impulse zu erzeugen, wie in 6(A) und (B) dargestellt ist. Da das FP-Etalon als eine "Rüttelplatte" verwendet wird, innerhalb der der Impuls in dem FP-Etalon (d.h. einem hochempfindlichen FP-Etalon) oft reflektiert wird, ist die Transmission im Gegensatz zur Verwendung seiner Resonanzeigenschaften ziemlich gering. Ein Beispiel für die Verwendung eines FP-Etalons aus zwei Spiegeln mit R = 98%, woraus sich eine Transmission T = .0004 ergibt, wird nun erläutert. Der in 6(A) gezeigte übertragene Impulszug stellt eine Serie von durch die Durchgangszeit durch den FP-Etalon getrennten Impulsen dar, die mit einem Abfallfaktor, der von den Spiegelverlusten und der Fehlausrichtung abhängig ist, abklingt. Das bedeutet, dass der übertragene Impulszug durch einen Faktor T2 gedämpft wird, wobei T die Transmission der Etalonoberfläche kennzeichnet. Der übertragene Impulszug ist mehr oder weniger gleichmäßig, wobei die Impulsintensitäten mit jedem Umlauf geringfügig abfallen, der erste (und größte) Impuls des Zuges ist 250-mal schwächer als der auf den FP-Etalon einfallende Impuls. 7(A) und (B) zeigen den durch einen echten luftgetrennten FP-Etalon mit Oberflächenreflexionsgraden von R = 98% und einem Spiegelabstand von ungefähr 1 mm übertragenen, langsam abfallenden Impulszug. 7(B) zeigt bei gedehntem Zeitmaßstab einen Verlauf eines einzelnen rückwärtigen Abtastvorgangs mit 17 Impulsen und den dem Ende der Abtastung entsprechenden Punkt. Diese Daten wurden erhalten durch einfaches Einfügen des FP-Etalons in einen üblichen Abtastkorrelator, in dem ein auf einer Schwingspule (Lautsprecher) angebrachter Rückreflektor eingesetzt ist. Da eine sinusförmige Spannung an den Lautsprecher angelegt wurde, wurde die Zeitverzögerung in mehr oder weniger sinusförmiger Weise abgetastet. Die Abstände der Impulse über der Zeit ergeben die Abtastcharakteristik des Rüttelspiegels, die in 7(C) dargestellt ist. Der Gesamtabtastbereich kann leicht aus diesen Daten berechnet werden, wie: Tmax ≈ (17 Impulse) × (6,7 ps/Impuls) = 114 ps Gl.11
  • Die Daten gemäß 7(C) zeigen, dass die Abtastcharakteristik, wie erwartet, nicht vollständig linear verläuft. Zur Verdeutlichung der Linearitätsabweichung werden die Daten mit einer geraden Linie angenähert und danach von dieser Ideallinie abgezogen. Das Ergebnis ist in 7(D) dargestellt und entspricht der Linearabweichung der Zeitabtastcharakteristik.
  • Der reflektierte Impulszug ist mit dem übertragenen Impulszug identisch, die beide in 6(B) gezeigt sind, mit der Ausnahme, dass der reflektierte Impulszug durch einen Führungsimpuls angeführt wird, der die erste Oberflächenreflexion darstellt und den größten Anteil der Impulsenergie (d.h. 98%) enthält. Da dieser zuerst reflektierte Impuls annähernd die gesamte Intensität aufweist, ist er für jede der durchzuführenden experimentellen Anwendungen oder Messungen brauchbar. Es ist zu beachten, dass dieser Führungsimpuls eine 2500-mal höhere Intensität aufweist, als der unmittelbar darauffolgende Impulszug. In den meisten Fällen werden die Messungen durch den schwachen Impulszug nicht ernsthaft beeinflusst. In anderen Fällen jedoch kann dies nicht akzeptabel sein.
  • Es können selbstverständlich auch Etalone mit geringerer Empfindlichkeit verwendet werden, dann fällt aber der übertragene Impulszug viel schneller ab und der Korrelatordynamikbereich wird zum begrenzenden Faktor.
  • Beispielsweise erzeugt ein Etalon mit Oberflächenreflexionsgrad von R = 30% eine rapide abfallenden Impulsserie, bei der jeder Impuls 10-mal schwächer als der vorangehende Impuls ist. Somit können nur etwa 3 Impulse zur Echtzeitkalibrierung verwendet werden, da die meisten Datenerfassungen einen Einzeldynamikbereich von lediglich drei Dekaden aufweisen. Dies galt auch bei der in 5 gezeigten Korrelation. Dieser Effekt kann durch Dynamikbereichs-Kompressionsverfahren, beispielsweise durch Verwenden eines logarithmischen Verstärkers, vermieden werden.
  • In einem weiteren Ausführungsbeispiel können Kombinationen von FP-Etalonen verwendet werden. Ein dünner Etalon (wie beispielsweise ein Deckglas) würde z.B. ein Paar eng beabstandeter Impulse (ungefähr ein ps) erzeugen, die dann zu einem höher empfindlichen FP mit größerem Abstand (z.B. 20 ps) gesendet würden. Das Ergebnis wäre eine Sequenz von durch 20 ps beabstandeten Impulspaaren. Dies ergibt eine lokale Ableitungsinformation über die Zeitgabecharakteristik.
  • Die FP-Etalone könnten sowohl festkörper- als auch luftgetrennt sein. Ein Festkörperetalon ist unebener und kompakter, ein luftgetrenntes Etalon ist aber einstellbar und verhindert das Problem der Impulsverbreiterung aufgrund einer Gruppengeschwindigkeitsdispersion, die für Impulse auftritt, die viele Umläufe durch den Etalon durchgeführt haben. Für eine hohe Genauigkeit ist es erforderlich, die Temperatur des Etalons zu steuern. Die partielle Änderung der Gruppenverzögerung durch ein Stück Quarzglas beträgt beispielsweise ungefähr Δl/l ~ 10–6/°C. Ist somit eine Genauigkeit von 1 Mikrometer (6 fs) über einen Gesamtbereich von 1 m (6 ns) erforderlich, sollte die Etalontemperatur innerhalb 1 °C konstant sein.
  • Luftgetrennte Etalone weisen den Vorteil auf, dass sie unter Verwendung von thermisch kompensierten Fertigungsverfahren hergestellt werden können. Somit kann die Temperaturempfindlichkeit gegenüber der eines Festkörperetalons verringert werden, und eine Temperatursteuerung wäre für normalen Raumtemperaturbetrieb nicht erforderlich.
  • Ein weitere mögliche Anwendung wäre das Verwenden einer Reihe fotorefraktiv gewachsener Glasfasergitter 310, wie in 8(A) dargestellt ist, die auf einer optische Glasfaser 300 gewachsen wurden. Die Gitter können so eingerichtet werden, dass die hervortretende Impulssequenz entweder gleichmäßig oder ungleichmäßig ist. In diesem Fall ist die Beabstandung gleichmäßig, aber die Amplituden ungleichmäßig, um einen "Linienmaßstab" zu erzeugen, wobei alle 5 oder 10 Impulse größere Impulse auftreten, wie in der Figur dargestellt ist. Selbstverständlich führt die Möglichkeit des Wachsens von Fasergittern an jeder gewünschten Stelle in der Glasfaser zu einer hohen Flexibilität, und es könnte von Vorteil sein, diese in gleichmäßigen Abständen anzubringen, um Zeitgabemehrdeutigkeiten zu verhindern.
  • Ist es darüber hinaus wünschenswert, dass die Impulse beachtliche Glasfaserlängen durchschreiten (d.h. > 0,5 m), so werden sich die Impulse aufgrund der Gruppengeschwindigkeitsdispersion (GVD, „Group Velocity Dispersion") in der Glasfaser verbreitern. Dann könnte eine Reihe gechirpter Gitter in solcher Weise gezüchtet werden, dass die GVD der durchtretenen Glasfaser wirksam kompensiert wird. Tatsächlich sind gechirpte Gitter für eine hohe Zeitauflösung erforderlich, da normale ungechirpte Gitter Reflektionsbandbreiten von lediglich 2 nm aufweisen, wodurch sie für Subpikosekunden-Impulse ungeeignet sind. Bei einer Mittenwellenlänge von 800 nm, weist ein 100-fs-Impuls eine Halbwertsbreite (FWHM) von 8 nm auf und bei einer Wellenlänge von 1500 nm eine Bandbreite von ungefähr 30 nm. Lediglich gechirpte Gitter weisen für solche Impulse ausreichend breite Bandbreiten auf. Es ist bekannt, dass das Reflektieren von Femtosekundenimpulsen an gechirpten Gittern dazu führt, dass die Impulse selbst verbreitert und gechirpt werden. In diesem Fall ist es erforderlich, die Impulse nacheinander an zwei gechirpten Gittern mit umgekehrter Chirpweise zu reflektieren, wie es in 8(B) schematisch dargestellt ist. Hierbei wird die Impulsverbreiterung durch Verwenden eines Kompensierverfahrens verhindert, bei dem der Impuls zuerst an einer gechirpten Gittersequenz CFGS 320 und danach an einem fast identischen gechirpten Gitter CFG 330, das in umgekehrter Weise gechirpt ist, reflektiert wird. Die Reihenfolge kann umgekehrt sein (d.h. zuerst an dem CFG und dann an dem CFGS reflektiert), was zu denselben Ergebnissen führt. Eine wirksame Aufteilung und Reflexion kann durch polarisierende Strahlteiler PBS 340 und durch Viertelwellenlängenplatten QWP 350 bereitgestellt werden. Dieses Verfahren wurde erfolgreich bei gechirpter Impulsverstärkung in Glasfasern angewendet durch A. Galvanauskas, M.E. Fermann, D. Harter, K. Sugden und I. Bennion, "All-fiber femtosecond pulse amplification circuit using chirped Bragg gratings." Appl Phys. Lett., 66, Seite 1053-5, 27. Feb. 1995. Die Aufgabe dieses Aspekts der Erfindung weicht jedoch von der Galvanauskas u.a. ab. Bei deren Arbeit wurde ein Gitterpaar zur Streckung der optischen Impulse auf eine sehr lange Dauer (> 300 ps) zur gechirpten Impulsverstärkung verwendet, um die Impulse dann wieder zu komprimieren. Bei der vorliegenden Erfindung werden gechirpte Gitter verwendet, weil ungechirpte Gitter eine nicht ausreichende Bandbreite (~ 1 nm) aufweisen, um dadurch kurze Impulse zu ermöglichen und da ein gewisses Erfordernis zur Kompensierung der GVD in der Glasfaser für beachtliche Glasfaserlängen durchtretende Impulse vorhanden ist. Hier ist eine Impulsstreckung nicht wünschenswert, da die Aufgabe dieses Aspekts der Erfindung in der Erzeugung einer Sequenz kurzer Impulse liegt.
  • Es können auch zwei Glasfasergitter zur Erzeugung eines Glasfaser-FP-Etalons verwendet werden, die entweder bei der Übertragung oder bei der Reflexion verwendet werden können. Alternativ könnte auch eine passive optische Glasfaserschleife verwendet werden. Andere Strukturen, die Reflexionen erzeugen können, sind schlechte Spleißstellen zwischen optischen Glasfasern und Mikrokrümmungen in einer Faser. In diesen Fällen wäre eine Temperatursteuerung der Glasfaser erforderlich oder Veränderungen der Zeitgabekalibrierung könnten vorab bekannt sein und mathematisch kompensiert werden.
  • Impulssequenzen können auch durch eine Reihe von teilweise reflektierenden Spiegeln erzeugt werden, wobei der Reflexionsgrad und Abstand eines jeden Spiegels sorgfältig gewählt wird, um die gewünschte Impulssequenz zu erhalten, sofern es physikalisch möglich ist. Zur Berechnung der erforderlichen Spiegelparameter wurden Algorithmen zur Erzeugung der gewünschten Impulssequenzen aus einem Einzelimpuls entwickelt (V. Narayan u.a. "Disign of multimirror structures for high-frequency bursts and codes of ultrashort pulses," IEEE J. Quantum Electron. QE-30, Seiten 1671-1680, Juli 1994). Es gibt zahlreiche andere Arten aus Teilreflektoren aufgebauter optischer Geräte, die ebenso zur Erzeugung von Impulszügen aus einem Einzelimpuls verwendet werden können.
  • Beliebige programmierbare Impulssequenzen können durch Passieren eines Laserimpulses durch eine impulsformende, dispersive Verzögerungsleitung (DDL) erzeugt werden. Dies führt zu einer wesentlich höheren Flexibilität im Vergleich zu den vorgenannten Verfahren, ist jedoch hinsichtlich des maximal erzielbaren Impulsabstands beschränkt. Praktische Grenzwerte liegen bei ungefähr 100-200 ps. Jeglicher größerer Impulsabstand erfordert eine physikalisch größere Einrichtung, was zu einem verbotenen Zustand führen kann.
  • Ein weiteres Ausführungsbeispiel, das am geeignetsten für Laser mit geringen Wiederholraten (≤ 30 MHz) bei Wellenlängen in der Nähe von 1550 nm ist, wäre das Einführen einer Impulssequenz in einen regenerativen Solitonenspeicherring bestehend aus einer Glasfaserschleife mit einem Verstärkungsteil (z.B. Erdotierte Glasfaser). Die in den Ring eingefügte Impulssequenz kann auf jede Art einschließlich der vorgenannten Verfahren (d.h. Fabry-Perot-Etalon, Glasfasergitter, Impulsformer usw.) erhalten werden. Da die Schleife regenerativ ist, ist es erforderlich, sie bei jedem Laserimpuls zu entleeren und wieder zu injizieren. Dies würde bei einem 5-MHz-Laser alle 200 ns auftreten. Das Entleeren und Injizieren kann durch eine Art optischen Schalter, entweder AO oder EO, erzielt werden, die im Handel erhältlich sind.
  • Ein weiteres Ausführungsbeispiel wäre das Injizieren kurzer Impulse eines Lasers in eine bei oder in der Nähe der Schwelle vorgespannte Laserdiode. Die Laserdiodenfacetten weisen einen Reflexionsgrad von 30 auf, was zu einem gering empfindlichen FP-Etalon führt. Das "Abklingen" der optischen Impulse würde jedoch durch die Verstärkung der Laserdiode verzögert oder verhindert. Auf diese Weise wäre es möglich, einen Zug mit mehreren zehn Impulsen zu erhalten. Gegebenenfalls würde die Gruppengeschwindigkeitsdispersion und Verstärkungseinengung in der Diode zu einer Verbreiterung von viele Umläufe durch den Aufbau durchführenden Impulsen führen, und somit die Zahl tatsächlich verwendbarer Impulse begrenzen. Dieses Gerät sollte entweder zur Reflexion oder Transmission verwendet werden.
  • Eine extrem feine (Submikrometer-) Kalibrierung kann durch Einfügen eines doppelbrechenden Kristalls (z.B. Quarz) in einen Strahl des Meßsystems und Vergleich der Impulsankunftszeiten, wenn die Impulse sich entlang der ordentlichen und außerordentlichen Achsen des Kristalls ausbreitet, erzielt werden. Typische Plattendicken von 1 mm führen zu einer Verzögerung von wenigen Wellenlängen, die zu einer leicht feststellbaren Differenz der Impulsankunftszeiten führt, falls Impulse von 100 fs Dauer oder weniger verwendet werden.
  • Kreuzkorrelatoroptik
  • Die nach den vorstehend beschriebenen Verfahren erzeugte Sequenz von Impulssignalen wird mit den anderen Laserimpulsen unter Verwendung einer Art nichtlinearem Element kreuzkorreliert. Es können verschiedene nichtlineare Vorgänge zur Erfassung einer Impulskoinzidenz oder relativen Impulszeitgabe verwendet werden. Einige optische Nichtlinearitäten, die verwendet werden können, enthalten, ohne darauf beschränkt zu sein: optische Mischung durch Erzeugung einer zweiten Harmonischen (SHG), Summenfrequenzerzeugung, Verstärkungssättigung, Absorptionssättigung, Vierwellenmischung (FWM) und nichtlineare Fotostromanwort. Eine gängige Wahl für das nichtlineare Element stellt ein SHG-Kristall dar. Die Verwendung eines SHG-Kristalls weist jedoch den Nachteil auf, dass lediglich ein Signal bereitgestellt wird, wenn sich eine Überlappung zwischen den Laserimpulsen ergibt. Somit kann es lediglich als ein Koinzidenzdetektor dienen. Dies erfordert die Verwendung der verschiedenen Impulszuggeneratoren, Impulsformer, Etalone, usw., wie vorstehend erläutert. In einigen Situationen ist die durch Verwendung des SHG-Kristalls erhaltene extrem hohe Genauigkeit nicht erforderlich. In einigen Fällen kann es wünschenswerter sein, ein Element mit nichtaugenblicklicher Antwort zu verwenden, und somit Informationen über eine Zeitverzögerung anhand einer Amplitudeninformation bereitstellen zu können. Es gibt eine Reihe von Geräten oder Materialien, die geeignet sein könnten, wie beispielsweise Wanderwellen-Laserdiodenverstärker (TWAs); sättigbare Absorber; Fotodetektoren, die auf Sättigungseffekten beruhen, wie beispielsweise PIN-Dioden und Lawinenfotodioden (APDs); oder eventuell sogar SEED-Geräte. Beispielsweise wurden TWAs zur optischen Taktwiedergewinnung bei der optischen Kommunikation verwendet. Sie weisen den Vorteil auf, dass sie bei einem Betrieb weit innerhalb der Sättigung relativ immun gegen Amplitudenschwankungen werden. Hierbei wird die Genauigkeit und der Bereich durch die Erholzeit des Geräts bestimmt werden. TWA-Geräte sind für ihre Phasenmeßgenauigkeit von ungefähr 10–3 rad bekannt. In solchen optoelektronischen Geräten ist die Nichtlinearität der optischen Absorption nicht das einzige Verfahren zur Bereitstellung von Zeitgabeinformationen. Impulszeitgabeinformationen können auch erhalten werden durch überwachen elektrischer Eigenschaften wie beispielsweise Fotostrom, Spannung, Kapazität, usw. des Geräts, wenn Impulse sich durch dieses ausbreiten. Dies würde eine beachtliche Vereinfachung gegenüber der Erfassung der Änderungen der optischen Eigenschaften darstellen.
  • Obwohl eine Verwendung solcher Zeitgabekalibrierungsverfahren in Verbindung mit dem Schnellabtastlaserverfahren beabsichtigt ist, wird deren Einsetzbarkeit nicht nur bei den hier beschriebenen Laserabtastsystemen erwartet, sondern auch bei Freiabtastlasern, modenverriegelten Lasern mit Doppelwellenlänge und selbst bei den bekannteren Abtastsystemen mit physikalischen Verzögerungen. Ein Beispiel dafür stellen die in 7 gezeigten Kalibrierungsdaten dar, die für ein Abtastsystem erhalten wurden, das aus einem auf eine Schwingspule (Lautsprecher) montierten Rückreflektor bestand. Da eine sinusförmige Spannung an den Lautsprecher angelegt wurde, wurde die Zeitverzögerung in mehr oder weniger sinusförmiger Weise abgetastet. Die in 7(C) dargestellte Abtastcharakteristik kann zur Korrektur des Zeitmaßstabs beliebiger während des Abtastvorgangs erfasster Daten verwendet werden. Wird der Aktivierer mit höheren Amplituden betrieben, in der Nähe seiner physikalischen Grenzen, so weicht die Abtastcharakteristik beträchtlich von einer Sinusform ab. Dies kann ebenso korrigiert werden. Andere Geräte wie beispielsweise drehende Glasblöcke und Drehspiegel weisen ebenfalls nichtlineare Abtastcharakteristiken auf, die durch die hier beschriebenen, erfindungsgemäßen Zeitgabeverfahren korrigiert werden können.
  • Laserstabilisierung
  • Da sich jeder Resonatorlängenfehler bei jedem Umlauf des Laserresonators fortlaufend aufaddiert, führen sehr geringe Resonatorlängenschwankungen zu großen Zeitgabefehlern. Somit ist es erforderlich, einen Regelkreis zu verwenden, um die zeitgemittelte Wiederholrate auf ν1 festzuhalten; oder in äquivalenter Weise muss die zeitgemittelte Resonatorlängenverstimmung ΔL auf Null gehalten werden. Das zur Steuerung der mittleren Resonatorverstimmung verwendbare Rückkoppelsignal wird von einem paar Fotodetektoren PD-1 und PD-2 gemäß 9 abgeleitet, die in eine übliche Phasenregelschleifen-(PLL)-Schaltung einspeisen. Wie bereits erläutert, wurde die Genauigkeit eines solchen PLL-Stabilisiersystems gemessen und die Fähigkeit festgestellt, zwei Glasfaserlaser innerhalb 5 ps RMS mit maximalen Zeitgabeabweichungen von bis zu 20 ps zu synchronisieren. Die angegebene Stabilisiergenauigkeit entspricht dem aktuellen Stand der Technik und stellt in keiner Weise einen abschließend erreichbaren Grenzwert dar. Es sollte möglich sein, die Genauigkeit in beachtlicher Weise auf unter 1 ps zu vergrößern. Es wird jedoch nicht erwartet, dass sich die Stabilisierungsgenauigkeit jemals der gewünschten Zeitauflösung, die in einigen Fällen 1 fs oder sogar weniger betragen könnte, annähern wird. Aus diesem Grund werden die hier beschriebenen Zeitkalibrierungsverfahren weiterhin erforderlich sein.
  • 9 zeigt ein detailliertes Diagramm des bevorzugten Ausführungsbeispiels des Laserstabilisierungs- und -zittersystems mit dem Stabilisierer 130. Der Stabilisierer 130 enthält Zeitgabediskriminatoren TD 131 und 132, einen Phasendetektor 133, einen Filter 134, eine Gleichspannungsquelle 135, und einen Verstärker 136, einen Frequenzgenerator 140 und einen Addierer 137. Impulsverstärker (PA, „pulse amplifier") 430 und 440 empfangen die von dem PD-1 bzw. PD-2 ausgegebenen elektrischen Impulse. Die Impulsverstärker 430 und 440 verstärken die empfangenen elektrischen Impulse und geben sie an die Zeitgabediskriminatoren 131 bzw. 132 aus. Die Zeitgabediskriminatoren 131 und 132 unterziehen die Signale einer Bedingung, bevor sie dem Phasendetektor 133 eingegeben werden. Die hier verwendetet PZT-Steuerung ist eine handelsübliche PZT-Steuereinheit. Es handelt sich dabei um einen Hochspannungsverstärker, der ein Eingangssignal im Bereich von 1-10 Volt aufnimmt und einen proportionalen Ausgang im Bereich von 0-150 Volt erzeugt. Obwohl die PZT-Steuereinheit als getrennte Einheit dargestellt ist, kann sie in den Stabilisierer 130 integriert sein, was bevorzugterweise der Fall ist.
  • Gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel des Stabilisierers 130 kann der Phasendetektor 133 für die PLL ein Standard-HF-Phasendetektor sein, oder ein Mischer, oder ein logisches Gatter wie beispielsweise ein XOR-Gatter, das eine erhöhte Linearität aufweist. Die Linearität ist sehr wichtig, falls es gewünscht ist, einen Abtastvorgang eines jeden Unterintervalls der Umlaufzeit durchzuführen. Als Alternative kann ein Zeit-Amplitude-Umsetzer (TAC) als Phasendetektor verwendet werden. Dieser ist ebenfalls sehr linear und wäre insbesondere bei geringen Wiederholraten wie beispielsweise 5 MHz geeignet. Eine Einschränkung der hoch genauen Phasenstabilität stellt die AM/FM-Umsetzung dar, die in einem einfachen HF-Mischer auftreten kann. Das bedeutet, dass Laseramplitudenschwankungen durch den Mischer in Zeitgabeschwankungen umgewandelt werden. Es ist somit wünschenswert, eine Signalaufbereitung der durch die Fotodioden PD-1 und PD-2 erzeugten elektrischen Impulse durchzuführen. Dies kann am einfachsten durch Verwenden von Zeitgabediskriminatoren 131 und 132 vor dem Phasendetektor 133 erzielt werden, wie in 9 dargestellt ist. Dieser Effekt kann aber auch dadurch minimiert werden, dass das Amplitudenrauschen des Lasers verringert wird. Es ist bekannt, dass während dem phasenstarren Betrieb unter bestimmten Bedingungen und für bestimmte Ausgangsanschlüsse des Lasers ein optischer Begrenzungsvorgang eintritt. Dies verringert in starkem Ausmaß die Zeitgabeschwankungen, wenn der Stabilisierer aktiviert ist.
  • Zudem ist es wichtig, dass die Abtastfrequenz größer als die Bandbreite des Stabilisierersystems ist. Auf diese Weise würde die PLL die mittlere Zeitposition genau beibehalten, würde aber der angelegten Spiegelabtastung nicht entgegenwirken. Die vorstehend beschriebenen Doppelphasenlaser wurden unter Verwendung einer PLL-Schaltung mit einer Bandbreite von lediglich 30 Hz stabilisiert. Diese relativ geringe Bandbreite ist vorteilhaft zur Ermöglichung von Abtastraten im Bereich zwischen 30 Hz bis hinauf zu einigen kHz. Um jedoch die Verwendung einer 30-Hz-Stabilisiererbandbreite zu ermöglichen und weiterhin eine Synchronisation mit einer Genauigkeit von < 10 ps beizubehalten, muss die relative Eigenzeitgabeschwankung des Laserpaars sehr gering sein. Dies wird durch Verwendung der vorstehend beschriebenen Konstruktionsverfahren erreicht, durch die sichergestellt wird, dass die beiden Laser bis zum größtmöglichen Ausmaß denselben Umgebungsbedingungen ausgesetzt sind.
  • Es ist auch möglich, das zur Stabilisierung erforderliche Rückkoppelsignal durch einen einfachen Korrelator bereitzustellen. Während des Abtastvorgangs des Lasers könnte die durch den Korrelator gemessene Spitzenposition als ein zu dem Stabilisierer 130 zurückzukoppelndes Fehlersignal verwendet werden. Es ist zu beachten, dass das einfache stationäre Kreuzkorrelationsverfahren gemäß Dijaili u.a. hier nicht funktionsfähig ist, da in der vorliegenden Erfindung die Laser fortlaufend abtasten.
  • Das erfindungsgemäße schnell abtastende System weist gegenüber bekannten physikalischen Verzögerungsabtastungen und Freiabtastlasern viele Vorteile auf. Insbesondere tritt im Gegensatz zu bekannten physikalischen Verzögerungsabtastungen mit bewegten Armen bei der vorliegenden Erfindung keine Fehlausrichtung oder Defokussierung des Laserstrahls auf, selbst wenn hohe Verzögerungen von einigen ns abgetastet werden. Bei physikalischen Verzögerungen muss eine sehr sorgfältige Ausrichtung durchgeführt werden und der Konfokalparameter muss > 1 m sein, selbst für eine Verzögerungsleitung von 1 ns. Weiterhin ermöglicht die vorliegende Erfindung eine hohe Abtastgeschwindigkeit, und sogar Überschallabtastgeschwindigkeiten. Mit einer physikalischen Verzögerung ist jedoch ein Abtasten von sogar 1 ns bei 100 Hz (100 Fuß/s) nicht praktikabel. Obwohl mit der vorliegenden Erfindung große (einstellbare) Abtastbereiche möglich sind, z.B. (von ungefähr 50 ps bis zu 200 ns für einen 5-MHz-Glasfaserlaser). In einem gewöhnlichen Abtastsystem wären zum Erzielen eines solchen Abtastbereichs 200 Fuß Verzögerungsleitung erforderlich. Ebenso ist die Verwendung eines Lasers mit hoher Wiederholrate für einen besseren Lastzyklus, wie in bekannten Freiabtastsystemen, nicht erforderlich. Weiterhin ist ein großer Zeitdynamikbereich möglich, was zum Abtasten abgesetzter Ziele oder OTDR geeignet wäre. Beispielsweise ergibt sich bei einem Gesamtabtastbereich von TR = 200 ns mit einer Zeitauflösung von weniger als 1 fs ein Zeitdynamikbereich von mehr als 108. Ebenso wird im Gegensatz zu dem bekannten Freiabtastsystem ein verbesserter Lastzyklus mit stark verringerter Totzeit erzielt. Darüber hinaus wird mit der vorliegenden Erfindung nunmehr ein extrem einfacher und kompakter Kreuzkorrelatoraufbau ohne bewegte Teile ermöglicht. Beispielsweise könnte der Korrelator die Abmessungen eines Game-Boys aufweisen. Darüber hinaus werden experimentelle Einrichtarbeiten stark vereinfacht, da gemäß der vorliegenden Erfindung Weglängen nicht miteinander in Übereinstimmung gebracht werden müssen.
  • Die vorstehend erläuterten Schnellabtast- und Zeitkalibrierungsverfahren können zur Durchführung vieler Arten von Messungen und Experimenten verwendet werden. Einige der Anwendungen, in denen die erfindungsgemäßen Verfahren und Vorrichtungen verwendet werden können, werden nachstehend erläutert. Der Fachmann wird jedoch schnell erkennen, dass die vorliegende Erfindung auch für andere Anwendungen einsetzbar ist und nicht auf die nachstehend beschriebenen Anwendungen beschränkt ist.
  • 10 zeigt ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel eines allgemeinen Meßsystems, in dem das erfindungsgemäße Schnellabtastlasersystem und das erfindungsgemäße Zeitkalibrierungsverfahren unter Verwendung eines FP-Etalons eingesetzt wird. Impulse eines Lasers 510 (der Laser 510 kann entweder der Haupt- oder der Nebenlaser sein, es ist unbedeutend welcher) treffen auf ein FP-Etalon. Der durch den FP-Etalon hindurchgetretene Impulszug wird zu einer Zeitgabeeinheit 540 gesendet, in der er mit einem Impuls eines Lasers 520 kreuzkorreliert wird, um einen Datenstrom zu erzeugen, der einen kalibrierten Zeitmaßstab bereitstellt. Der an dem Etalon reflektierte Impulszug wird gemeinsam mit einem Impuls des Lasers 520 zu einer (nicht gezeigten) Messeinheit gesendet. Der Datenstrom der Messeinheit wird in den "Y-Kanal" des Datenerfassungssystems (DAQ) 550 eingegeben, während der Datenstrom der Zeitgabeeinheit zu dem "X-Kanal" des DAQ 550 gesendet wird. Diese Informationen können auf zwei verschiedene Weisen verwendet werden.
  • 1. "On-the-fly"-(OTF)-Zeitmaßstabskorrektur
  • Bei diesem Verfahren bilden die Zeitgabeimpulse einen Zeitmaßstab. Wird beispielsweise eine sinusförmige Abtastung verwendet, so erscheint selbst eine gleichmäßige Impulssequenz zeitlich ungleichmäßig. Schnelle Prozessoren können eine solche Zeitmaßstabsinformation bei jedem Abtastvorgang verwenden, um die Abtastdaten vor der Signalmittelung mit dem richtigen Zeitmaßstab in geeigneter Weise einzustellen (z.B. durch Verwenden einer Interpolation).
  • Mit anderen Worten wird jeder Abtastpunkt durch den schnellen Prozessor basierend auf dem mittels der Zeitgabeimpulse gebildeten Zeitmaßstab korrigiert. 7(C) zeigt beispielsweise die Abtastcharakteristik für jeden Spitzenwert des in 7(B) gezeigten Abtastvorgangs, und 7(D) zeigt die Linearabweichung dieser Punkte. Diese Zeitmaßstabsinformation kann zur Korrektur der Abweichungen verwendet werden, mit dem Ergebnis, dass jeder Spitzenwert "nebenbei" ("on-the-fly") kalibriert wird.
  • 2. Abtastzurückweisung (kluge Triggerung)
  • Bei diesem Verfahren wird ein "Abtastwähler" verwendet, der eine Anzahl von Zeitgabeimpulsen (zumindest zwei) sucht, die innerhalb eines bestimmten, wohl definierten Zeitschlitzes relativ zu dem Triggerimpuls auftreten. Der Wähler führt dann eine GEHT/GEHT-NICHT-Entscheidung darüber durch, ob die Abtastdaten in dem Signalmittler aufaddiert werden. Fallen die Zeitgabeimpulse des Korrelators in die Zeitschlitze, so wird der Abtastvorgang in dem vorhandenen Datenpuffer aufsummiert; "verfehlt" einer der Zeitgabeimpulse seinen Zeitschlitz, so wird der Abtastvorgang zurückgewiesen. Nachdem die Signalmittelung beendet ist, kann jede Nichtlinearität des Zeitmaßstabs korrekt kompensiert werden.
  • Das Verfahren der klugen Triggerung ist das am einfachsten einsetzbare; es wären jedoch viele Abtastvorgänge umsonst. Die On-the-fly-Maßstabskorrektur ist anspruchsvoller und zeiteffizienter hinsichtlich überflüssiger Abtastvorgänge, ist aber computerintensiver. Dementsprechend wird das anzuwendende Verfahren wahrscheinlich durch die Anwendungszwänge bestimmt.
  • Metrologiesystem
  • 11(A) und (B) zeigen als Beispiel einer spezifischeren Anwendung ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel eines Metrologiesystems, in dem das erfindungsgemäßes schnelle Laserabtastverfahren anstelle des bekannten Bewegtspiegelverfahrens eingesetzt wird.
  • 11(A) zeigt ein Ausführungsbeispiel eines Metrologiesystems. Hierbei trifft der Strahl eines Nebenlasers 620 auf den FP-Etalon, der eine Sequenz von Impulsen erzeugt, die in eine Zeitgabeeinheit 641 eingegeben werden. Der Strahl eines Hauptlasers 610 wird durch einen gewöhnlichen Strahlteiler BS 660 aufgeteilt. Ein Teil des geteilten Strahls des Nebenlasers 620 wird in die Zeitgabeeinheit 641 eingegeben. Der andere Teil des Strahls wird auf die zu überprüfende Oberfläche gerichtet, die den Strahl reflektiert. Der reflektierte Strahl wird einem Korrelator 640 eingegeben. Ebenso wird der von dem FP-Etalon reflektierte Impuls in den Korrelator 640 eingegeben. Somit wird der Korrelator 640 für das zu messende Objekt (Experiment) und die Zeitgabeeinheit 641 für die Zeitmaßstabskalibrierung verwendet. Der von dem Korrelator 640 ausgegebene, dem Objekt entsprechende Datenstrom wird in den Y-Kanal eines DAQ 650 eingegeben, und der von der ebenfalls einen Korrelator enthaltenden Zeitgabeeinheit 641 ausgegebene Datenstrom verläuft zu dem X-Kanal des DAQ 650. Die in den X-Kanal eingegebenen Zeitgabeeinheitsdaten ergeben einen Zeitmaßstab, und die von dem Korrelator 640 ausgegebenen und in den Y-Kanal eingegebenen Daten Objekt/Oberflächen-Distanzinformationen.
  • 11(B) zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel eines Metrologiesystems mit den erfindungsgemäßen Verfahren. Hier wird das Zeitgabeelement (FP-Etalon) in einen Strahlenweg zu dem Objekt eingefügt. Der an dem FP-Etalon reflektierte Strahl beleuchtet das zu messende Objekt. Das an der Objektoberfläche gestreute Licht wird durch eine Linse L1 gesammelt und danach wieder (über einen Strahlteiler BS 670) mit dem durch den FP hindurchgetretenen, kalibrierten Impulszug vereinigt. Die resultierende Kreuzkorrelation zwischen einem Anführungsimpuls des Nebenlasers 620 und dieser Impulsserie von dem Ziel und dem Etalon ergibt die dem Mehrfach-Impulszeitgabemaßstab des Etalons überlagerte Objektentfernungsinformation (ein Einzelimpuls). Das Ergebnis ist ein einzelner Datenstrom, der sowohl die Objektentfernungsinformation als auch die Zeitmaßstabskalibrierung enthält. Der Abstand zu dem Punkt auf der Objektoberfläche wird dann durch Messung der relativen Zeitverzögerung zwischen dem Objektimpuls und den Zeitgabeimpulsen in dem Datenstrom hergeleitet. Dieser Vergleich zwischen dem Zeitpunkt des Objektimpulses und der Etalonimpulse stellt eine Variation eines differentiellen Metrologieverfahrens unter Verwendung ultrakurzer Impulse dar.
  • In den 11(A) und (B) sind die FP-Etalone in einem spitzen Winkel bezüglich dem Eingangsstrahl ausgerichtet. Dieser Einfallswinkel ist aus Klarheitsgründen übertrieben dargestellt. Der Fachmann erkennt, dass eine Neigung des FP-Etalon außerhalb des senkrechten Einfalls zu vergrößerten Lateralversätzen einer jeden nachfolgenden Reflexion an dem Etalon führt, wie in 6 dargestellt ist. Daher ist es wünschenswert den Etalon mit einem Einfallswinkel zu betreiben, der den kleinstmöglichen praktikablen Wert darstellt. Er würde mit senkrechtem Einfall betrieben werden, wenn ein Polarisierer und Faraday-Rotator vorgeschaltet wäre. Dieser räumliche Versatz führt nicht zu einer Verschlechterung der Korrelatorfunktion, solange nicht die Linse oder eine andere Öffnung in dem Korrelator überfüllt wird.
  • Alternativ dazu, kann dieser Lateralversatzeffekt in gewissem Maße vorteilhaft dazu verwendet werden, die Form der Impulszugeinhüllenden dahingehend zu modifizieren, dass sie von einem exponentiellen Abfall abweicht. Dies kann durch Verbreiterung der Strahlen, oder durch die Winkelselektivität der Phasenübereinstimmungsbedingung des nichtlinearen Mischkristalls in dem Korrelator auftreten.
  • OTDR-System
  • 12 zeigt ein schematisches Diagramm eines optischen Zeit-Bezirk-Reflexmessungs-(OTDR)-Systems, in dem das erfindungsgemäße Schnellabtastlaser- und Zeitgabesystem eingesetzt werden. Das Abtastlasersystem besteht bevorzugterweise aus Lasern mit geringer Wiederholrate (ν ~ 5-10 MHz), so dass der verwendbare nicht-mehrdeutige Bereich groß ist. Ein kurzer Impuls von einem Hauptlaser 710 wird durch einen Strahlteiler BS 760 in zwei Strahlen aufgeteilt. Einer der aufgeteilten Strahlen wird zu einer Zeitgabeeinheit 741 und der andere zu einer Glasfaser oder einem zu testenden Wellenleiterelement (DUT) 790 gesendet. An Oberflächen, Spleißstellen, Defekten usw. in dem DUT 790 reflektierte Impulse werden zu einem Korrelator 740 zur Präzisions-Zeitgabe/Distanzmessung mit Genauigkeiten von ~ 10 fs/ ~ 3 Mikrometer gesendet. Dies wird entsprechend dem nachfolgenden Verfahren erreicht. Einzelimpulse des Nebenlasers 720 werden in zwei Strahlen aufgeteilt. Einer der Strahlen wird zu dem Korrelator 740 gesendet, um als ein Torimpuls für das Signal der Glasfaser verwendet zu werden. Der andere wird zu einem Impulsformer 780 gesendet, der Impulssequenzen, die darauffolgend durch eine ihrerseits einen weiteren Korrelator bildende Zeitgabeeinheit 741 verwendet werden, um einen kalibrierten Zeitmaßstab für die Datenerfassungs-(DAQ)-Einheit 750 bereitzustellen. Für ein System mit geringer Wiederholrate, wie beispielsweise 5 MHz (TR = 200 ns), muss der Impulsformer 780 Impulssequenzen erzeugen, die das gesamte 200 ns-Zeitgabeintervall mehr oder weniger auffüllen. In dem bevorzugten Ausführungsbeispiel würden in dem Impulsformer gechirpte Glasfaser-Bragg-Gitter gemäß 8(B) verwendet werden.
  • Weitere Konfigurationen des Lasers, der Zeitgabeeinheiten und der Korrelatoren sind denkbar. Beispielsweise könnten die Rollen des Haupt- und Nebenlaser 710 und 720 vertauscht werden. Der Impulsformer könnte auch aus einem Glasfaser-FP-Etalon oder einer Glasfaserschleife (entweder passiv oder mit Verstärkung) aufgebaut sein.
  • EO-Abtastoszilloskop
  • 13 zeigt ein schematisches Diagramm eines jitterfreien, elektrooptischen Abtastoszilloskops, in dem das erfindungsgemäße Schnellabtastlaser- und -zeitgabesystem eingesetzt werden. In diesem Ausführungsbeispiel werden das wohlbekannte, kontaktfreie EO-Abtastverfahren mit dem hier beschriebenen Schnellabtastverfahren kombiniert, wodurch eine viel höhere Flexibilität bei der Zeitmaßstabseinstellung ermöglicht wird.
  • Impulse eines Hauptlasers 810 werden in zwei Strahlen aufgeteilt. Ein Strahl wird zu einer Zeitgabeeinheit 841 gesendet; der andere Impuls wird ausgesendet, um elektrische Impulse auf dem zu testenden Element (DUT), das in diesem Fall auf einem integrierten Schaltkreis (IC) 890 angebracht ist, über fotoelektrische (PC) Schalter 891 zu erzeugen. Impulse des Nebenlaser 820 werden auch in zwei Strahlen aufgeteilt. Ein Strahl wird zu einer elektrooptischen (EO) Abtastspitze 892 gesendet und der andere zu dem Impulsformer 880, der eine Impulssequenz erzeugt, die wiederum zur Zeitmaßstabskalibrierung zu der Zeitgabeeinheit 841 gesendet wird. Die von der EO-Abtastspitze 892 zurückkehrenden Impulse werden durch die Wechselwirkung zwischen der Spannung des DUT und der EO-Abtastspitze 892 moduliert. Diese Impulse werden durch Polarisieroptiken 893 erfasst und zu einem Y-Kanal eines DAQ 850 gesendet.
  • Dementsprechend wird eine Präzisionszeitgabekalibrierung in gleicher Weise wie für die OTDR gemäß 12 erzielt.
  • Die Zeitgabeverzögerung, Abtastintervall und Abtastfrequenz werden durch einen Stabilisierer 830 auf die gewünschten Werte eingestellt. Ist es beispielsweise wünschenswert, die Abtastfrequenz um einen Faktor 2 zu erhöhen, nicht aber den Abtastbereich, so ist es erforderlich, die Modulationsfrequenz des PZT in dem Nebenlaser 820 zu verdoppeln und die PZT-Abtastspannung um einen entsprechenden Grad zu erhöhen. Andererseits muss lediglich die PZT-Abtastspannung erhöht werden, um den Abtastbereich ohne Veränderung der Abtastfrequenz zu vergrößern. Die relative Verzögerung des Zeitwobbelbereichs wird durch die Phasensteuerung des Stabilisierers 830 eingestellt. Diese Flexibilität der Zeitmaßstabseinstellung gleicht der durch die Verzögerungszeitbasis eines üblichen Oszilloskops gewährleisteten.
  • Ebenso könnte man zu diesem Zweck einen fotoleitenden Abtastvorgang verwenden. Dieser weist eine viel höhere Empfindlichkeit auf, die Zeitauflösung ist jedoch auf ungefähr 2 ps beschränkt.
  • Die am weitesten verbreiteten Anwendungen kurzer Laserimpulse und Abtastverzögerungen fanden bei Pumpsensormessungen in physikalischen, chemischen und elektronischen Systemen statt. Der Anwendungsbereich dieser Technologie steigt jedoch rapide und ihre Einführung in kommerzielle Produkte jenseits des wissenschaftlichen Markts steht bevor. Die hier beschriebenen Schnellabtast- und Zeitkalibrierungsverfahren können in fast allen Anwendungen eingesetzt werden, in denen ultraschnelle Laserimpulse verwendet werden, da in nahezu all diesen Anwendungen eine Art einstellbare Laserverzögerung zwischen Laserimpulsen erforderlich ist. Zu diesen Anwendungen gehören nicht abschließend das elektrooptische Testen von ultraschnellen elektronischen und optoelektronischen Geräteeigenschaften der Ladedynamik in Halbleitermaterialien und -geräten, gesamtoptische, signalverarbeitende, fotoleitende Abtastung und verschiedene andere Formen zeitauflösender Nanometersensorik. Darüber hinaus gibt es eine Anzahl neuer Anwendungen, die für Terahertz-Strahlen entwickelt wurden, für die diese Abtastverfahren angewendet werden könnten, inklusive Terahertz-Bilderzeugung wie die durch B.B. Hu u.a. offenbarte „Imaging with Terahertz Waves", Optics Letter, vol. 20, Nr. 16, 15. August 1995, Seiten 1716 bis 1719. Seit kurzem sind ultraschnelle Fotodektoren im Handel erhältlich, deren Geschwindigkeit (50 GHz, 10 ps FWHM) die Messkapazität handelsüblicher Abtastoszilloskope bei weitem überschreitet, wie beispielsweise Newport Corp. Model #PX-D7, hergestellt von Pikometrix. Subpikosekundenlaser und -abtastverzögerungen sind erforderlich, um aus der Geschwindigkeit dieser Detektoren den vollen Nutzen ziehen zu können. Weiterhin ist das erfindungsgemäße Abtastverfahren aufgrund seiner ungewöhnlichen Vielseitigkeit bei der Abtastbereichswahl insbesondere geeignet für ein Laserradar mit Submillimeter-Auflösung und Profilgebung abgesetzter Ziele. Die Flexibilität der Abtastbereichseinstellungen führt dazu, dass das Schnellabtastungssystem analog zu der einstellbaren Zeitbasis eines Oszilloskops ist.
  • Die mit den hier beschriebenen Schnellabtastverfahren erreichbare, sehr hohe Abtastrate ermöglicht viele neue potentielle Anwendungen. Der Abtastgeschwindigkeitsparameter (vgl. Tab. 1-3) stellt eine in besonderem Maße brauchbare Gütezahl dar. Es ist zu beachten, dass die Abtastgeschwindigkeiten in den Tabellen 1-3 im Bereich von 3 m/s bis 30.000 m/s liegen. Somit sind Überschallabtastgeschwindigkeiten mit dem freien Abtast- oder dem schnellen Abtastverfahren möglich, wodurch sie besonders brauchbar für Studien von oder Anwendungen mit beispielsweise laserinduzierten akustischen und fotoelastischen Effekten in Festkörpern und Flüssigkeiten sind. Bei solchen Anwendungen ist es unpraktisch, übliche Abtastverfahren anzuwenden, da hierfür eine Bewegung des Abtastspiegels mit Schallgeschwindigkeiten in einem physikalischen Verzögerungssystem erforderlich wären, was unrealistisch ist.
  • Die vorliegende Erfindung wurde in Verbindung mit den bevorzugten Ausführungsbeispielen beschrieben, und es ist nicht beabsichtigt, sie lediglich auf die vorgenannten Ausführungsbeispiele zu beschränken. Weitere Abwandlungen und Variationen der Erfindung sind für den Fachmann anhand der vorstehenden Offenbarungen und Lehren offensichtlich. Es ist somit offensichtlich, dass vielseitige Abwandlungen ohne Abweichen vom Umfang der Ansprüche möglich sind, wobei nur bestimmte Ausführungsbeispiele der Erfindung hier im einzelnen beschrieben wurden.
  • Die Erfindung ist auf Verfahren und Vorrichtungen zur Durchführung einer zeitlichen Abtastung unter Verwendung von Ultrakurzimpulsbreitenlasern gerichtet, in denen lediglich eine minimale (mikroskopische) mechanische Bewegung erforderlich ist. Die Erfindung bezieht sich auch auf Verfahren zum Erhalten einer hochgenauen Zeitgabekalibrierung in der Größenordnung von Femtosekunden. Es ist ein Duallasersystem offenbart, in dem der Resonator eines oder mehrerer Laser unter Verwendung eines piezoelektrischen Elements verzittert wird. Ein Fabry-Perot-Etalon wird zur Erzeugung einer Sequenz von Zeitgabeimpulsen verwendet, die in Verbindung mit einem durch den Laser mit dem verzitterten Laserresonator erzeugten Laserstrahl verwendet werden. Ein Korrelator korreliert einen Laserimpuls von einem der Laser mit der Sequenz der Zeitgabeimpulse zur Erzeugung eines kalibrierten Zeitmaßstabs. Die Verfahren und Vorrichtungen der Erfindung sind bei vielen Anwendungen anwendbar, die eine schnelle Abtastung und Zeitkalibrierung erfordern, einschließlich Metrologie, der Charakterisierung der Ladungsdynamik in Halbleitern, dem elektrooptischen Prüfen ultraschneller Elektronik und optoelektronischer Geräte, einer optischen Reflektometrie im Zeitbereich, und elektrooptischer Abtastoszilloskope, ohne aber auf diese beschränkt zu sein.

Claims (9)

  1. Verfahren zum Steuern eines zeitlichen Unterschieds zwischen ersten bzw. zweiten Laserimpulsen, die von einer ersten bzw. zweiten Kurzimpulslaserquelle (110, 120) ausgegeben werden, mit den Schritten: (a) Erfassen eines zeitlichen Unterschieds bei Ankunft der ersten und zweiten Laserimpulse, (b) Erzeugen eines Steuersignals basierend auf dem in Schritt (a) erfassten zeitlichen Unterschied, und (c) Variieren der Wiederholungsrate der ersten und/oder zweiten Laserquelle basierend auf dem Steuersignal, um dadurch den zeitlichen Unterschied zwischen den ersten bzw. zweiten Laserimpulsen zu variieren.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Steuern ferner enthält: schnelles Abtasten eines ersten Kurzimpulses, der von der ersten Laserquelle ausgegeben wird, durch einen zweiten Kurzimpuls, der von der zweiten Laserquelle ausgegeben wird, und Verändern einer Zeitverzögerung der ersten und/oder zweiten Kurzimpulse durch Verändern der Frequenz der von der ersten und/oder zweiten Laserquelle ausgegebenen Impulse basierend auf dem Zeitverzögerungssteuersignal, wodurch die zweiten Impulse bezüglich der ersten Impulse stabilisiert werden, und Fortsetzen des Abtastens durch Verändern der Zeitverzögerung einer der ersten oder zweiten Impulse in einer vorbestimmten Weise.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei die Zeitverzögerung durch Verändern der Länge eines Laserresonators der zweiten Kurzimpulslaserquelle (120; 220; 520; 620; 720; 820) verändert wird, und in dem Abtastschritt die Zeitverzögerung einer der ersten und zweiten Impulse durch Verändern der Länge des Laserresonators einer der ersten bzw. zweiten Kurzimpulslaserquelle (110, 120; 210, 220; 510, 520; 610, 620; 710, 720; 810, 820) verändert wird.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, wobei die Länge eines Laserresonators der einen der ersten und zweiten Kurzimpulslaserquelle (110, 120; 210, 220; 510, 520; 610, 620; 710, 720; 810, 820) in dem Abtastschritt in der vorbestimmten Weise durch Anlegen einer Quadratwelle, einer Rechteckwelle oder einer Sinuswelle an eine piezoelektrische Einheit geändert wird, die sich innerhalb des Laserresonators der einen der ersten und zweiten Kurzimpulslaserquelle (110, 120; 210, 220; 510, 52O; 610, 620; 710, 720; 810, 820) befindet.
  5. Schnelle Abtastlaservorrichtung mit: einer Einrichtung zur Erfassung eines zeitlichen Unterschieds bei Ankunft erster und zweiter Laserimpulse, einem Signalgenerator (140; 135; 540; 640; 740) zur Ausgabe eines Steuersignals basierend auf dem zeitlichen Unterschied, und ersten und zweiten Kurzimpulslaserquellen (110, 120; 210, 220; 510, 520; 610, 620; 710, 720; 810, 820) jeweils mit einem Laserresonator, wobei zumindest eine der ersten und zweiten Laserquellen (110, 120; 210, 220; 510, 520; 610, 620; 710, 720; 810, 820) eine innerhalb ihres Laserresonators angeordnete Längenveränderungseinheit (130; 630; 730; 830) aufweist, wobei die Längenveränderungseinheit zur Änderung der Länge des Laserresonators basierend auf dem Steuersignal dient, um dadurch den zeitlichen Unterschied zwischen den ersten und zweiten Laserimpulsen zu verändern.
  6. Schnelle Abtastvorrichtung nach Anspruch 5, ferner mit: einem Stabilisierer (130; 630; 730; 830) zur Erzeugung eines Steuersignals basierend auf Zeitgabeunterschieden zwischen einem von der ersten Laserquelle (110; 210; 510; 610; 710; 810) ausgegebenen ersten Impuls und einem von der zweiten Laserquelle (120; 220; 520; 620; 720; 820) ausgegebenen zweiten Impuls, und zur Ausgabe des Steuersignals an die Längenänderungseinheit, die dadurch die Länge des Laserresonators basierend auf dem Steuersignal und dem ersten Signal verändert.
  7. Schnelle Abtastvorrichtung nach Anspruch 6, wobei der Stabilisierer (130; 630; 730; 830) umfasst: eine Phasenregelschleifenschaltung zum Erfassen und Steuern eines Phasenunterschieds zwischen einem von der ersten Kurzimpulslaserquelle (110; 210; 510; 610; 710; 810) ausgegebenen ersten Impuls und einem von der zweiten Kurzimpulslaserquelle (120; 220; 520; 620; 720; 820) ausgegebenen zweiten Impuls, eine Einrichtung zum Erzeugen des Steuersignals basierend auf dem durch die Phasenregelschleifenschaltung erfassten Phasenunterschied, und zum Einstellen und Ausgeben des Steuersignals.
  8. Schnelle Abtastvorrichtung nach Anspruch 5, wobei die Längenänderungseinheit einen auf einem piezoelektrischen Element angebrachten Spiegel aufweist.
  9. Verwenden einer Phasenregelschleife in einer Laservorrichtung, wobei eine Einrichtung zum Erfassen eines zeitlichen Unterschieds bei Ankunft erster und zweiter Laserimpulse, eine Phasenregelschleifenschaltung und erste und zweite Kurzimpulslaserquellen (110, 120; 210, 220; 510, 520; 610, 620; 710, 720; 810, 820) bereitgestellt sind, jede Laserquelle mit einem Laserresonator, und wobei zumindest eine der ersten und zweiten Laserquellen (110, 120; 210, 220; 510, 520; 610, 620; 710, 720; 810, 820) eine Längenänderungseinheit (130; 630; 730; 830) innerhalb ihres Laserresonators aufweist, wobei die Längenveränderungseinheit zur Änderung der Länge des Laserresonators basierend auf der Ausgabe der Phasenregelschleifenschaltung dient, um dadurch den zeitlichen Unterschied zwischen den ersten und zweiten Laserimpulsen zu verändern.
DE69734946T 1996-02-16 1997-02-13 Ultrakurzzeit-Raster- und Verzögerungsverfahren Expired - Lifetime DE69734946T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US602457 1996-02-16
US08/602,457 US5778016A (en) 1994-04-01 1996-02-16 Scanning temporal ultrafast delay methods and apparatuses therefor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69734946D1 DE69734946D1 (de) 2006-02-02
DE69734946T2 true DE69734946T2 (de) 2006-07-27

Family

ID=24411430

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69734946T Expired - Lifetime DE69734946T2 (de) 1996-02-16 1997-02-13 Ultrakurzzeit-Raster- und Verzögerungsverfahren

Country Status (4)

Country Link
US (5) US5778016A (de)
EP (2) EP1701145B1 (de)
JP (3) JP3688841B2 (de)
DE (1) DE69734946T2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012217655A1 (de) * 2012-09-27 2014-03-27 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zum Bestimmen der relativen Zeitlage elektromagnetischer Pulse und Bestimmungsvorrichtung
DE102011087881B4 (de) * 2010-12-27 2016-08-25 Advantest Corp. Folgefrequenzregelgerät

Families Citing this family (204)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5778016A (en) * 1994-04-01 1998-07-07 Imra America, Inc. Scanning temporal ultrafast delay methods and apparatuses therefor
US5767941A (en) * 1996-04-23 1998-06-16 Physical Sciences, Inc. Servo tracking system utilizing phase-sensitive detection of reflectance variations
GB9700269D0 (en) * 1997-01-08 1997-02-26 York Sensors Ltd Improvements to optical time domain reflectometry
US6008889A (en) * 1997-04-16 1999-12-28 Zeng; Haishan Spectrometer system for diagnosis of skin disease
US5887009A (en) * 1997-05-22 1999-03-23 Optical Biopsy Technologies, Inc. Confocal optical scanning system employing a fiber laser
US6356381B1 (en) 1997-12-19 2002-03-12 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Multi-wavelength cross-correlator for ultrashort radiation pulses
US6445491B2 (en) 1999-01-29 2002-09-03 Irma America, Inc. Method and apparatus for optical sectioning and imaging using time-gated parametric image amplification
US6188078B1 (en) 1999-05-04 2001-02-13 Lockheed Martin Missiles & Space Company Optical metrology device for precision angular measurement of a pointing mirror
US6865210B2 (en) * 2001-05-03 2005-03-08 Cymer, Inc. Timing control for two-chamber gas discharge laser system
US6279829B1 (en) * 1999-06-09 2001-08-28 Psc Scanning, Inc. Method and apparatus for reducing bandwidth limited noise in an optical scanner
US6546272B1 (en) 1999-06-24 2003-04-08 Mackinnon Nicholas B. Apparatus for in vivo imaging of the respiratory tract and other internal organs
JP4291494B2 (ja) * 2000-04-04 2009-07-08 株式会社アドバンテスト Ic試験装置のタイミング校正装置
US7190705B2 (en) * 2000-05-23 2007-03-13 Imra America. Inc. Pulsed laser sources
US6885683B1 (en) 2000-05-23 2005-04-26 Imra America, Inc. Modular, high energy, widely-tunable ultrafast fiber source
US6771076B1 (en) 2000-06-30 2004-08-03 Andrew L. Smith Method and apparatus for measurement of length of cable having fixed impedance
US6678294B1 (en) * 2000-11-06 2004-01-13 Northrop Grumman Corporation Distributed feedback laser apparatus for avoiding stimulated brillouin scattering
US7177491B2 (en) * 2001-01-12 2007-02-13 Board Of Regents The University Of Texas System Fiber-based optical low coherence tomography
US8208505B2 (en) * 2001-01-30 2012-06-26 Board Of Trustees Of Michigan State University Laser system employing harmonic generation
US7973936B2 (en) * 2001-01-30 2011-07-05 Board Of Trustees Of Michigan State University Control system and apparatus for use with ultra-fast laser
US7450618B2 (en) * 2001-01-30 2008-11-11 Board Of Trustees Operating Michigan State University Laser system using ultrashort laser pulses
US7567596B2 (en) * 2001-01-30 2009-07-28 Board Of Trustees Of Michigan State University Control system and apparatus for use with ultra-fast laser
US7583710B2 (en) * 2001-01-30 2009-09-01 Board Of Trustees Operating Michigan State University Laser and environmental monitoring system
US6934655B2 (en) * 2001-03-16 2005-08-23 Mindspeed Technologies, Inc. Method and apparatus for transmission line analysis
KR100474839B1 (ko) * 2001-03-28 2005-03-08 삼성전자주식회사 광 발진 장치
US6831935B2 (en) * 2001-03-29 2004-12-14 The Regents Of The University Of Colorado Multistage synchronization of pulsed radiation sources
US7079564B2 (en) * 2001-04-09 2006-07-18 Cymer, Inc. Control system for a two chamber gas discharge laser
US7039086B2 (en) * 2001-04-09 2006-05-02 Cymer, Inc. Control system for a two chamber gas discharge laser
US7061959B2 (en) * 2001-04-18 2006-06-13 Tcz Gmbh Laser thin film poly-silicon annealing system
US7009140B2 (en) * 2001-04-18 2006-03-07 Cymer, Inc. Laser thin film poly-silicon annealing optical system
US20050259709A1 (en) 2002-05-07 2005-11-24 Cymer, Inc. Systems and methods for implementing an interaction between a laser shaped as a line beam and a film deposited on a substrate
US6842548B2 (en) * 2001-05-29 2005-01-11 Queen's University At Kingston Optical loop ring-down
JP3926119B2 (ja) * 2001-08-10 2007-06-06 株式会社東芝 医療用マニピュレータ
US7830934B2 (en) * 2001-08-29 2010-11-09 Cymer, Inc. Multi-chamber gas discharge laser bandwidth control through discharge timing
US20030068024A1 (en) * 2001-10-05 2003-04-10 Jones William W. Communication system activation
US20050100072A1 (en) * 2001-11-14 2005-05-12 Rao Rajasekhar M. High power laser output beam energy density reduction
JP3747242B2 (ja) * 2002-03-14 2006-02-22 独立行政法人情報通信研究機構 光パルス繰り返し周波数逓倍装置
WO2004012308A2 (en) * 2002-07-31 2004-02-05 Cymer, Inc. Control system for a two chamber gas discharge laser
US6687270B1 (en) * 2002-08-14 2004-02-03 Coherent, Inc. Digital electronic synchronization of ultrafast lasers
US6865198B2 (en) 2002-09-27 2005-03-08 Battelle Memorial Institute Cavity ringdown spectroscopy system and method
US7457326B2 (en) * 2003-01-17 2008-11-25 Hrl Laboratories, Llc Method and apparatus for coherently combining multiple laser oscillators
US7741639B2 (en) * 2003-01-31 2010-06-22 Cymer, Inc. Multi-chambered excimer or molecular fluorine gas discharge laser fluorine injection control
US7720525B2 (en) * 2003-03-12 2010-05-18 New Art Advanced Research Technologies Inc. Method and apparatus for combining continuous wave and time domain optical imaging
US20050018271A1 (en) * 2003-03-26 2005-01-27 Kddi R&D Laboratories Inc. Apparatus for simultaneous OTDM demultiplexing, electrical clock recovery and optical clock generation, and optical clock recovery
US7277188B2 (en) * 2003-04-29 2007-10-02 Cymer, Inc. Systems and methods for implementing an interaction between a laser shaped as a line beam and a film deposited on a substrate
US7361171B2 (en) 2003-05-20 2008-04-22 Raydiance, Inc. Man-portable optical ablation system
US7003204B2 (en) * 2003-08-07 2006-02-21 Northrop Grumman Corporation Systems and methods for a continuously variable optical delay line
US9022037B2 (en) 2003-08-11 2015-05-05 Raydiance, Inc. Laser ablation method and apparatus having a feedback loop and control unit
US20050065502A1 (en) * 2003-08-11 2005-03-24 Richard Stoltz Enabling or blocking the emission of an ablation beam based on color of target
US20050038487A1 (en) * 2003-08-11 2005-02-17 Richard Stoltz Controlling pulse energy of an optical amplifier by controlling pump diode current
US7143769B2 (en) * 2003-08-11 2006-12-05 Richard Stoltz Controlling pulse energy of an optical amplifier by controlling pump diode current
US8921733B2 (en) 2003-08-11 2014-12-30 Raydiance, Inc. Methods and systems for trimming circuits
US7115514B2 (en) * 2003-10-02 2006-10-03 Raydiance, Inc. Semiconductor manufacturing using optical ablation
US8173929B1 (en) 2003-08-11 2012-05-08 Raydiance, Inc. Methods and systems for trimming circuits
US7367969B2 (en) * 2003-08-11 2008-05-06 Raydiance, Inc. Ablative material removal with a preset removal rate or volume or depth
SE526113C2 (sv) * 2003-09-16 2005-07-05 Safe Rail Scandinavia Ab Övervakningsanordning
DE10346379B4 (de) * 2003-09-26 2010-09-02 Technische Universität Berlin Verfahren zum Bestimmen des Frequenzgangs eines elektrooptischen Bauelements
US7038781B2 (en) * 2003-10-01 2006-05-02 Coherent, Inc. Time correlation of ultrafast laser pulses
US7413847B2 (en) * 2004-02-09 2008-08-19 Raydiance, Inc. Semiconductor-type processing for solid-state lasers
US7505196B2 (en) * 2004-03-31 2009-03-17 Imra America, Inc. Method and apparatus for controlling and protecting pulsed high power fiber amplifier systems
US7491909B2 (en) * 2004-03-31 2009-02-17 Imra America, Inc. Pulsed laser processing with controlled thermal and physical alterations
US7804864B2 (en) 2004-03-31 2010-09-28 Imra America, Inc. High power short pulse fiber laser
US7282666B2 (en) * 2004-05-07 2007-10-16 Micron Technology, Inc. Method and apparatus to increase throughput of processing using pulsed radiation sources
US20060029110A1 (en) * 2004-08-03 2006-02-09 Imra America, Inc. Cavity monitoring device for pulse laser
JP2006073970A (ja) * 2004-09-06 2006-03-16 Cyber Laser Kk Cw深紫外線光源
US7349452B2 (en) * 2004-12-13 2008-03-25 Raydiance, Inc. Bragg fibers in systems for the generation of high peak power light
WO2006088841A1 (en) 2005-02-14 2006-08-24 Board Of Trustees Of Michigan State University Ultra-fast laser system
US7605371B2 (en) * 2005-03-01 2009-10-20 Osaka University High-resolution high-speed terahertz spectrometer
US20060222034A1 (en) * 2005-03-31 2006-10-05 Cymer, Inc. 6 Khz and above gas discharge laser system
US8135050B1 (en) 2005-07-19 2012-03-13 Raydiance, Inc. Automated polarization correction
US7245419B2 (en) 2005-09-22 2007-07-17 Raydiance, Inc. Wavelength-stabilized pump diodes for pumping gain media in an ultrashort pulsed laser system
US8643359B2 (en) * 2005-09-27 2014-02-04 Ronald Quan Method and apparatus to measure differential phase and frequency modulation distortions for audio equipment
US7809222B2 (en) * 2005-10-17 2010-10-05 Imra America, Inc. Laser based frequency standards and their applications
DE102005050151B3 (de) * 2005-10-19 2006-11-02 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Abtastung von sich periodisch wiederholenden Ereignissen
FR2892511B1 (fr) * 2005-10-21 2008-05-09 Centre Nat Rech Scient Dispositif d'echantillonnage optique heterodyne
US7679029B2 (en) * 2005-10-28 2010-03-16 Cymer, Inc. Systems and methods to shape laser light as a line beam for interaction with a substrate having surface variations
US7317179B2 (en) * 2005-10-28 2008-01-08 Cymer, Inc. Systems and methods to shape laser light as a homogeneous line beam for interaction with a film deposited on a substrate
US7308171B2 (en) 2005-11-16 2007-12-11 Raydiance, Inc. Method and apparatus for optical isolation in high power fiber-optic systems
US7912117B2 (en) * 2006-09-28 2011-03-22 Tektronix, Inc. Transport delay and jitter measurements
US7436866B2 (en) 2005-11-30 2008-10-14 Raydiance, Inc. Combination optical isolator and pulse compressor
US8618470B2 (en) * 2005-11-30 2013-12-31 Board Of Trustees Of Michigan State University Laser based identification of molecular characteristics
US9130344B2 (en) 2006-01-23 2015-09-08 Raydiance, Inc. Automated laser tuning
US8232687B2 (en) 2006-04-26 2012-07-31 Raydiance, Inc. Intelligent laser interlock system
US8189971B1 (en) 2006-01-23 2012-05-29 Raydiance, Inc. Dispersion compensation in a chirped pulse amplification system
US7444049B1 (en) 2006-01-23 2008-10-28 Raydiance, Inc. Pulse stretcher and compressor including a multi-pass Bragg grating
US8120778B2 (en) * 2009-03-06 2012-02-21 Imra America, Inc. Optical scanning and imaging systems based on dual pulsed laser systems
US7822347B1 (en) 2006-03-28 2010-10-26 Raydiance, Inc. Active tuning of temporal dispersion in an ultrashort pulse laser system
US9018562B2 (en) * 2006-04-10 2015-04-28 Board Of Trustees Of Michigan State University Laser material processing system
US7758189B2 (en) * 2006-04-24 2010-07-20 Physical Sciences, Inc. Stabilized retinal imaging with adaptive optics
EP2012653B1 (de) * 2006-05-01 2012-12-12 Physical Sciences, Inc. Hybrides system aus laserophthalmoskop mit zeilenabtastung und spektraldomänenkohärenztomografie
US7545838B2 (en) * 2006-06-12 2009-06-09 Coherent, Inc. Incoherent combination of laser beams
DE102006032962A1 (de) * 2006-07-07 2008-01-10 Rhode & Schwarz Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren für hochauflösende Zeitmessungen
WO2008011059A1 (en) * 2006-07-20 2008-01-24 Board Of Trustees Of Michigan State University Laser plasmonic system
US7929580B2 (en) * 2006-09-22 2011-04-19 Alcatel-Lucent Usa Inc. Inexpensive terahertz pulse wave generator
GB0624361D0 (en) * 2006-12-06 2007-01-17 Michelson Diagnostics Ltd Multiple beam source for a multi-beam interferometer and multi-beam interferometer
US8036537B2 (en) 2007-06-13 2011-10-11 International Business Machines Corporation Optical pulse amplication apparatus and method
JP5250736B2 (ja) * 2007-06-26 2013-07-31 ユニバーシテ ラバル 光周波数コムのビートスペクトルの基準付け
US7961764B2 (en) * 2007-09-12 2011-06-14 Howard Hughes Medical Institute Nonlinear imaging using passive pulse splitters and related technologies
US7903326B2 (en) 2007-11-30 2011-03-08 Radiance, Inc. Static phase mask for high-order spectral phase control in a hybrid chirped pulse amplifier system
WO2009086122A2 (en) 2007-12-21 2009-07-09 Board Of Trustees Of Michigan State University Control in ultrashort laser systems by a deformable mirror in the stretcher
US8750341B2 (en) 2008-01-04 2014-06-10 Mindspeed Technologies, Inc. Method and apparatus for reducing optical signal speckle
US8125704B2 (en) 2008-08-18 2012-02-28 Raydiance, Inc. Systems and methods for controlling a pulsed laser by combining laser signals
JP5410534B2 (ja) 2008-10-14 2014-02-05 コーネル・ユニバーシティー 位相シフトを入力波形に対して付与する装置
US7756171B2 (en) * 2008-10-21 2010-07-13 Cymer, Inc. Method and apparatus for laser control in a two chamber gas discharge laser
US7720120B2 (en) * 2008-10-21 2010-05-18 Cymer, Inc. Method and apparatus for laser control in a two chamber gas discharge laser
US7751453B2 (en) * 2008-10-21 2010-07-06 Cymer, Inc. Method and apparatus for laser control in a two chamber gas discharge laser
US20100118900A1 (en) * 2008-11-13 2010-05-13 Waarts Robert G Generation of profiled light packets
US8498538B2 (en) 2008-11-14 2013-07-30 Raydiance, Inc. Compact monolithic dispersion compensator
WO2010083381A1 (en) * 2009-01-15 2010-07-22 Physical Sciences, Inc. Adaptive optics line scanning ophthalmoscope
US8675699B2 (en) * 2009-01-23 2014-03-18 Board Of Trustees Of Michigan State University Laser pulse synthesis system
WO2010141128A2 (en) 2009-03-05 2010-12-09 Board Of Trustees Of Michigan State University Laser amplification system
US8399835B2 (en) * 2009-05-25 2013-03-19 Advantest Corporation Light measurement apparatus and a trigger signal generator
JP5461079B2 (ja) * 2009-06-25 2014-04-02 株式会社アドバンテスト 光測定装置
RU2447557C2 (ru) * 2009-07-13 2012-04-10 Учреждение Российской Академии Наук Сибирское Отделение Ран Институт Лазерной Физики Способ стабилизации частоты излучения лазера
DE102009041156B4 (de) * 2009-09-14 2013-04-25 Laser Quantum Gmbh Verfahren zur Kopplung zweier gepulster Laser mit einstellbarer und von Null verschiedener Differenz der Pulsfrequenzen
WO2011041472A1 (en) * 2009-10-02 2011-04-07 Imra America, Inc. Optical signal processing with modelocked lasers
JPWO2011062114A1 (ja) * 2009-11-19 2013-04-04 株式会社アドバンテスト 信号出力器、複数信号の信号源および複数のレーザ光パルスの出力装置
US8270844B2 (en) * 2009-11-24 2012-09-18 The Regents Of The University Of California Low jitter RF distribution system
WO2011091253A2 (en) * 2010-01-21 2011-07-28 Physical Sciences, Inc. Multi-functional adaptive optics retinal imaging
US8953651B2 (en) * 2010-02-24 2015-02-10 Alcon Lensx, Inc. High power femtosecond laser with repetition rate adjustable according to scanning speed
US8630322B2 (en) * 2010-03-01 2014-01-14 Board Of Trustees Of Michigan State University Laser system for output manipulation
JP4792530B2 (ja) * 2010-03-08 2011-10-12 株式会社アドバンテスト レーザ光パルスの位相制御装置
US8237922B2 (en) * 2010-04-08 2012-08-07 Haas Laser Technologies, Inc. Laser beam analysis apparatus
US9120181B2 (en) 2010-09-16 2015-09-01 Coherent, Inc. Singulation of layered materials using selectively variable laser output
US8493123B2 (en) * 2010-12-15 2013-07-23 Raytheon Company Synchronization of remote clocks
KR20140006027A (ko) 2011-03-07 2014-01-15 아이엠알에이 아메리카, 인코포레이티드. 피크 전력이 증가한 광 펄스 소스
CN102231472A (zh) * 2011-04-18 2011-11-02 电子科技大学 一种激光脉冲同步控制装置
US9793673B2 (en) * 2011-06-13 2017-10-17 Kla-Tencor Corporation Semiconductor inspection and metrology system using laser pulse multiplier
CN102426306B (zh) * 2011-09-13 2013-06-26 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 超快电子器件测试系统及方法
US8916813B2 (en) * 2011-09-13 2014-12-23 Massachusetts Institute Of Technology Background-free balanced optical cross correlator
CN103814317A (zh) 2011-09-14 2014-05-21 Imra美国公司 可控的多波长光纤激光源
US10239160B2 (en) 2011-09-21 2019-03-26 Coherent, Inc. Systems and processes that singulate materials
KR20130073450A (ko) * 2011-12-23 2013-07-03 한국전자통신연구원 테라헤르츠파 생성기 및 테라헤르츠파 생성 방법
DE102012001357A1 (de) * 2012-01-24 2013-07-25 Menlo Systems Gmbh Optikanordnung und Verfahren zum Erzeugen von Lichtimpulsen veränderbarer Verzögerung
WO2012092892A2 (zh) 2012-02-01 2012-07-12 华为技术有限公司 时间同步方法和设备及系统
EP2629142B1 (de) * 2012-02-14 2019-05-08 Fastlite Schnelles optisches Verzögerungsabtastverfahren und Vorrichtung mit Verwendung der Zeitabhängigkeit der akustisch-optischen Diffraktion
GB2499472B (en) * 2012-06-01 2016-02-24 M Squared Lasers Ltd Method and apparatus for locking and scanning the output frequency from a laser cavity
DE112013003959B4 (de) 2012-08-07 2024-06-20 Advantest Corporation Pulslichtquelle mit einer regelung der phasendifferenz zwischen zwei pulslaserlichtern
US8811440B2 (en) 2012-09-07 2014-08-19 Asml Netherlands B.V. System and method for seed laser mode stabilization
WO2014079478A1 (en) 2012-11-20 2014-05-30 Light In Light Srl High speed laser processing of transparent materials
CN102983488B (zh) * 2012-11-26 2014-09-24 核工业理化工程研究院 激光脉冲同步控制器
US20140149023A1 (en) * 2012-11-29 2014-05-29 Ford Global Technologies, Llc Method and system for engine position control
US8716685B1 (en) 2012-12-27 2014-05-06 The Aerospace Corporation Systems and methods for use in generating pulsed terahertz radiation
US9701564B2 (en) 2013-01-15 2017-07-11 Corning Incorporated Systems and methods of glass cutting by inducing pulsed laser perforations into glass articles
EP2754524B1 (de) 2013-01-15 2015-11-25 Corning Laser Technologies GmbH Verfahren und Vorrichtung zum laserbasierten Bearbeiten von flächigen Substraten, d.h. Wafer oder Glaselement, unter Verwendung einer Laserstrahlbrennlinie
US9478931B2 (en) 2013-02-04 2016-10-25 Nlight Photonics Corporation Method for actively controlling the optical output of a seed laser
US9263855B2 (en) * 2013-03-15 2016-02-16 Nlight Photonics Corporation Injection locking of gain switched diodes for spectral narrowing and jitter stabilization
EP2781296B1 (de) 2013-03-21 2020-10-21 Corning Laser Technologies GmbH Vorrichtung und verfahren zum ausschneiden von konturen aus flächigen substraten mittels laser
US9207190B2 (en) 2013-04-10 2015-12-08 Technology Assessment & Transfer, Inc. Method for nondestructive testing of optical discontinuities in monolithic transparent polycrystalline ceramic articles
CN103674484B (zh) * 2013-12-16 2016-05-11 西安北方捷瑞光电科技有限公司 一种棱镜式谐振腔模间增损比检测系统及检测方法
US9815730B2 (en) 2013-12-17 2017-11-14 Corning Incorporated Processing 3D shaped transparent brittle substrate
US9850160B2 (en) 2013-12-17 2017-12-26 Corning Incorporated Laser cutting of display glass compositions
US9517963B2 (en) 2013-12-17 2016-12-13 Corning Incorporated Method for rapid laser drilling of holes in glass and products made therefrom
US10442719B2 (en) 2013-12-17 2019-10-15 Corning Incorporated Edge chamfering methods
US9701563B2 (en) 2013-12-17 2017-07-11 Corning Incorporated Laser cut composite glass article and method of cutting
US9687936B2 (en) 2013-12-17 2017-06-27 Corning Incorporated Transparent material cutting with ultrafast laser and beam optics
US20150165560A1 (en) 2013-12-17 2015-06-18 Corning Incorporated Laser processing of slots and holes
US11556039B2 (en) 2013-12-17 2023-01-17 Corning Incorporated Electrochromic coated glass articles and methods for laser processing the same
US9676167B2 (en) 2013-12-17 2017-06-13 Corning Incorporated Laser processing of sapphire substrate and related applications
KR101591490B1 (ko) * 2013-12-27 2016-02-03 에이피시스템 주식회사 레이저 보정 방법 및 장치
CN105119134A (zh) 2014-03-13 2015-12-02 恩耐激光技术有限公司 用于种子可中止的脉冲光纤激光放大器的快速选通的算法
EP3166895B1 (de) 2014-07-08 2021-11-24 Corning Incorporated Verfahren und vorrichtung zur laserbearbeitung von materialien
JP6788571B2 (ja) 2014-07-14 2020-11-25 コーニング インコーポレイテッド 界面ブロック、そのような界面ブロックを使用する、ある波長範囲内で透過する基板を切断するためのシステムおよび方法
WO2016010943A2 (en) 2014-07-14 2016-01-21 Corning Incorporated Method and system for arresting crack propagation
EP3169635B1 (de) 2014-07-14 2022-11-23 Corning Incorporated Verfahren und system zur herstellung von perforationen
KR20170028943A (ko) * 2014-07-14 2017-03-14 코닝 인코포레이티드 조정가능한 레이저 빔 촛점 라인을 사용하여 투명한 재료를 처리하는 방법 및 시스템
US9617180B2 (en) 2014-07-14 2017-04-11 Corning Incorporated Methods and apparatuses for fabricating glass articles
US10047001B2 (en) 2014-12-04 2018-08-14 Corning Incorporated Glass cutting systems and methods using non-diffracting laser beams
WO2016115017A1 (en) 2015-01-12 2016-07-21 Corning Incorporated Laser cutting of thermally tempered substrates using the multi photon absorption method
EP3274306B1 (de) 2015-03-24 2021-04-14 Corning Incorporated Laserschneiden und verarbeiten von anzeigeglaszusammensetzungen
WO2016160391A1 (en) 2015-03-27 2016-10-06 Corning Incorporated Gas permeable window and method of fabricating the same
US9806488B2 (en) 2015-06-30 2017-10-31 Nlight, Inc. Adaptive boost control for gating picosecond pulsed fiber lasers
US11186060B2 (en) 2015-07-10 2021-11-30 Corning Incorporated Methods of continuous fabrication of holes in flexible substrate sheets and products relating to the same
GB2545496B (en) 2015-12-18 2020-06-03 Teraview Ltd A Test System
MY194570A (en) 2016-05-06 2022-12-02 Corning Inc Laser cutting and removal of contoured shapes from transparent substrates
CN106017698A (zh) * 2016-05-13 2016-10-12 中国科学院上海光学精密机械研究所 超短脉冲宽度测量装置及其测量方法
CN105890643B (zh) * 2016-05-16 2018-03-06 中国电子科技集团公司第二十三研究所 一种用于光程差测试仪的校准装置及校准方法
US10410883B2 (en) 2016-06-01 2019-09-10 Corning Incorporated Articles and methods of forming vias in substrates
WO2017214078A1 (en) * 2016-06-10 2017-12-14 The Regents Of The University Of California Apparatus for and methods of acoustic thermometry
US10794679B2 (en) 2016-06-29 2020-10-06 Corning Incorporated Method and system for measuring geometric parameters of through holes
JP7090594B2 (ja) 2016-07-29 2022-06-24 コーニング インコーポレイテッド レーザ加工するための装置および方法
KR101866650B1 (ko) * 2016-08-10 2018-06-12 한국과학기술원 레이저의 동기화 장치 및 방법
CN107356929B (zh) * 2016-08-29 2020-07-28 北醒(北京)光子科技有限公司 一种快速扫描探测方法
EP3507057A1 (de) 2016-08-30 2019-07-10 Corning Incorporated Laserbearbeitung von transparenten materialien
CN106353546A (zh) * 2016-09-20 2017-01-25 中国兵器装备集团自动化研究所 一种基于等精度频率计的压电引信瞬发度测量仪
KR102078294B1 (ko) 2016-09-30 2020-02-17 코닝 인코포레이티드 비-축대칭 빔 스폿을 이용하여 투명 워크피스를 레이저 가공하기 위한 기기 및 방법
WO2018081031A1 (en) 2016-10-24 2018-05-03 Corning Incorporated Substrate processing station for laser-based machining of sheet-like glass substrates
US10752534B2 (en) 2016-11-01 2020-08-25 Corning Incorporated Apparatuses and methods for laser processing laminate workpiece stacks
US10688599B2 (en) 2017-02-09 2020-06-23 Corning Incorporated Apparatus and methods for laser processing transparent workpieces using phase shifted focal lines
CN107422139A (zh) * 2017-04-07 2017-12-01 广东精点数据科技股份有限公司 一种转子转动频率测量方法及系统
US10770859B2 (en) * 2017-05-24 2020-09-08 Massachusetts Institute Of Technology Short pulse wavelength tuning via timed soliton-dispersive wave interaction
US11078112B2 (en) 2017-05-25 2021-08-03 Corning Incorporated Silica-containing substrates with vias having an axially variable sidewall taper and methods for forming the same
US10580725B2 (en) 2017-05-25 2020-03-03 Corning Incorporated Articles having vias with geometry attributes and methods for fabricating the same
US10626040B2 (en) 2017-06-15 2020-04-21 Corning Incorporated Articles capable of individual singulation
US11554984B2 (en) 2018-02-22 2023-01-17 Corning Incorporated Alkali-free borosilicate glasses with low post-HF etch roughness
CN108896979B (zh) * 2018-07-13 2021-09-21 中山大学 一种超宽单射测量范围的脉冲激光雷达接收电路及系统
US10942275B2 (en) 2018-07-28 2021-03-09 Haas Laser Technologies, Inc. System and method for improving signal-to-noise ratio in a laser imaging system
US10708537B2 (en) 2018-07-28 2020-07-07 Haas Laser Technologies, Inc. System and method for reducing ghost images in a laser imaging system
JP7292840B2 (ja) * 2018-09-05 2023-06-19 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 磁気共鳴イメージング装置
JP7496111B2 (ja) * 2019-12-24 2024-06-06 国立大学法人東京工業大学 サブキャリア変調方式テラヘルツレーダー
CN112595356A (zh) * 2020-06-06 2021-04-02 东南大学 一种基于柔性压电传感器的高速公路/桥梁结构动态称重、测速、测试应变的监测系统
DE102020115338B3 (de) * 2020-06-09 2021-11-18 Toptica Photonics Ag Optische Abtastung
CN111987579A (zh) * 2020-08-19 2020-11-24 华东师范大学 一种基于法布里珀罗干涉仪的脉冲序列调制方法
US11791925B2 (en) * 2021-11-08 2023-10-17 Huawei Technologies Co., Ltd. Method, apparatus and system for determining multipath interference (MPI) on an optical link
CN114509780B (zh) * 2022-01-25 2024-05-28 西北大学 一种测距激发式水下动态目标长距离选通偏振成像装置及方法

Family Cites Families (93)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3626319A (en) * 1970-04-14 1971-12-07 Warner Lambert Pharmaceutical Laser structures and the like
US3669541A (en) * 1970-06-19 1972-06-13 Bell Telephone Labor Inc Direct display of light images with picosecond resolution
US3806829A (en) * 1971-04-13 1974-04-23 Sys Inc Pulsed laser system having improved energy control with improved power supply laser emission energy sensor and adjustable repetition rate control features
US4025875A (en) * 1976-01-05 1977-05-24 Nasa Length controlled stabilized mode-lock Nd:YAG laser
US4097148A (en) * 1976-11-24 1978-06-27 Hughes Aircraft Company Mode locked laser range finder
US4229079A (en) * 1978-07-20 1980-10-21 United Technologies Corporation Electro-optic modulator with improved acousto-optic suppression, heat transfer and mechanical support
US4212191A (en) * 1979-03-15 1980-07-15 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Differential pressure gauge
DE3006489C2 (de) * 1980-02-21 1982-09-02 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Wegmeßeinrichtung
US4323860A (en) * 1980-03-27 1982-04-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Laser excited molecular beam time and frequency standard
US4380391A (en) * 1980-09-30 1983-04-19 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Short pulse CO2 laser for ranging and target identification
IL65344A (en) 1981-03-31 1987-08-31 Univ Leland Stanford Junior Single continuous optical fiber rotation sensor
JPS58131557A (ja) * 1982-01-12 1983-08-05 Nippon Steel Corp 超音波の非接触測定法
US4767210A (en) * 1983-02-24 1988-08-30 British Telecommunications Plc Optical fibre interferometer
US4613752A (en) * 1983-08-04 1986-09-23 Optical Technologies, Inc. Fiber optic force measuring device
US4830486A (en) * 1984-03-16 1989-05-16 Goodwin Frank E Frequency modulated lasar radar
US4606639A (en) * 1984-12-17 1986-08-19 United Technologies Corporation Broad bandwidth interferometric gauging system
US4660978A (en) * 1984-12-19 1987-04-28 Hughes Aircraft Company Direct slope measurement shearing interferometer
JPS61219802A (ja) * 1985-03-27 1986-09-30 Hitachi Ltd 変位の光学的測定装置
KR900002117B1 (ko) * 1985-03-28 1990-04-02 시부야 고오교오 가부시끼가이샤 레이저 광선을 이용한 거리측정방법과 장치
US4735506A (en) 1985-04-01 1988-04-05 Litton Systems, Inc. Phase nulling optical gyroscope
US4730886A (en) * 1985-08-06 1988-03-15 Hicks John W Fiber laser sensor
EP0272258B1 (de) * 1985-08-13 1992-09-30 Btg International Limited Herstellung von optischen fasern
US4736378A (en) * 1986-06-12 1988-04-05 Uniwersytet Warszawski Integrated acousto-optic mode locking device for a mode locked laser system
GB2201033B (en) * 1987-02-12 1991-01-09 Stc Plc Lasers and amplifiers
US4793708A (en) 1987-03-27 1988-12-27 Litton Systems Canada Limited Fiber optic sensing coil
US4767197A (en) * 1987-06-25 1988-08-30 Rockwell International Corporation Nonlinear optical matrix manipulation
JPH0510499Y2 (de) 1987-06-29 1993-03-15
US4835778A (en) * 1987-09-30 1989-05-30 Spectra-Physics, Inc. Subpicosecond fiber laser
JPH01149032A (ja) 1987-12-07 1989-06-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光パルス発生方法とその装置
US4978219A (en) * 1988-05-06 1990-12-18 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Surface roughness measuring apparatus utilizing deflectable laser beams
JP2612593B2 (ja) * 1988-06-16 1997-05-21 日本電信電話株式会社 光ファイバレーザ装置
JPH0216018A (ja) 1988-07-04 1990-01-19 Daiso Co Ltd 合成樹脂筒成形方法及びそれに使用される金型
DE3825475A1 (de) * 1988-07-27 1990-02-01 Bodenseewerk Geraetetech Optischer lagegeber
US4886363A (en) * 1988-09-06 1989-12-12 Eastman Kodak Company Quadratic frequency modulated absolute distance measuring interferometry
JP2592938B2 (ja) 1988-11-11 1997-03-19 株式会社東芝 パルスレーザ発振装置
US4884283A (en) * 1988-12-20 1989-11-28 Litton Systems, Inc. Ring laser gyroscope mirror orientation system and method
US4896324A (en) * 1988-12-22 1990-01-23 United Technologies Corporation Method and apparatus for optimizing coupled laser resonator performance
US5050988A (en) * 1989-03-30 1991-09-24 Yokogawa Electric Corporation Measuring device using optical beam
US5170217A (en) * 1989-03-31 1992-12-08 Canon Kabushiki Kaisha Object measuring apparatus using lightwave interference
US4973160A (en) * 1989-04-06 1990-11-27 Yoshihiro Takiguchi SHG autocorrelator
JP2808136B2 (ja) * 1989-06-07 1998-10-08 キヤノン株式会社 測長方法及び装置
JPH0334588A (ja) 1989-06-30 1991-02-14 Hoya Corp 固体レーザ媒体、その固体レーザ媒体の製造方法及び固体レーザ装置
KR940001043B1 (ko) * 1989-07-20 1994-02-08 스미도모덴기고오교오 가부시기가이샤 파이버형 광증폭기
US4995105A (en) * 1989-09-18 1991-02-19 Xerox Corporation Adaptive laser diode driver circuit for laser scanners
JPH03148189A (ja) 1989-11-02 1991-06-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体レーザの発振周波数安定化装置
DE3942896A1 (de) * 1989-12-23 1991-06-27 Zeiss Carl Fa Interferometrischer sensor zur messung von abstandsaenderungen einer kleinen flaeche
JPH03269416A (ja) 1990-03-19 1991-12-02 Fujitsu Ltd 光増幅中継装置
JPH03274780A (ja) 1990-03-23 1991-12-05 Komatsu Ltd ガスレーザ装置
JPH0411794A (ja) 1990-04-28 1992-01-16 Furukawa Electric Co Ltd:The ファイバ型光増幅器
US5056885A (en) * 1990-05-10 1991-10-15 General Electric Company Fiber optic switch
IL94429A (en) * 1990-05-17 1993-06-10 Andrei Brunfeld Interferometric measurement
US5172186A (en) * 1990-07-03 1992-12-15 Konica Corporation Laser interferometry length measuring an apparatus employing a beam slitter
US5062117A (en) 1990-07-11 1991-10-29 Amoco Corporation Tailored laser system
US6501551B1 (en) * 1991-04-29 2002-12-31 Massachusetts Institute Of Technology Fiber optic imaging endoscope interferometer with at least one faraday rotator
US5194918A (en) * 1991-05-14 1993-03-16 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Method of providing images of surfaces with a correlation microscope by transforming interference signals
JPH04344725A (ja) 1991-05-21 1992-12-01 Fujitsu Ltd 光増幅海底中継器の実装構造
US5166940A (en) * 1991-06-04 1992-11-24 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Fiber laser and method of making same
JP3151881B2 (ja) * 1991-06-07 2001-04-03 キヤノン株式会社 光パルス幅測定装置
US5323260A (en) * 1991-08-23 1994-06-21 Alfano Robert R Method and system for compressing and amplifying ultrashort laser pulses
JP2678176B2 (ja) 1991-10-11 1997-11-17 日本電信電話株式会社 光ファイバレーザ装置
JPH05110179A (ja) 1991-10-14 1993-04-30 Hamamatsu Photonics Kk 短波長短パルス光源
US5181214A (en) * 1991-11-18 1993-01-19 Harmonic Lightwaves, Inc. Temperature stable solid-state laser package
US5179612A (en) * 1991-12-19 1993-01-12 Hughes Aircraft Company Optical fiber canister with ablative coating
JPH05259561A (ja) 1992-03-09 1993-10-08 Toshiba Corp インジェクションロック同調制御装置
US5237576A (en) * 1992-05-05 1993-08-17 At&T Bell Laboratories Article comprising an optical fiber laser
US5218610A (en) * 1992-05-08 1993-06-08 Amoco Corporation Tunable solid state laser
JPH05327093A (ja) 1992-05-18 1993-12-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> パルスレーザ
JPH0652575A (ja) 1992-07-30 1994-02-25 Kuraray Co Ltd 光ディスク
US5293213A (en) * 1992-08-12 1994-03-08 Klein Uwe K A Utilization of a modulated laser beam in heterodyne interferometry
GB9217705D0 (en) * 1992-08-20 1992-09-30 Ici Plc Data-recordal using laser beams
AU675509B2 (en) * 1993-02-25 1997-02-06 Ipg Photonics Corporation Mode-locked fibre ring laser stabilisation
US5367529A (en) * 1993-06-15 1994-11-22 Spectra-Physics Lasers, Inc. Apparatus and method for improved time synchronization of pulsed laser systems
EP0641996A1 (de) * 1993-09-03 1995-03-08 Litton Systems, Inc. Aufnehmerspule eines Lichtleitfaserkreisels
US5396506A (en) * 1993-12-09 1995-03-07 United Technologies Corporation Coupled multiple output fiber laser
JPH07183597A (ja) 1993-12-22 1995-07-21 Shin Etsu Chem Co Ltd 光増幅器の励起用光ファイバループ
US5611946A (en) * 1994-02-18 1997-03-18 New Wave Research Multi-wavelength laser system, probe station and laser cutter system using the same
US5920583A (en) * 1994-02-22 1999-07-06 Lucent Technologies Inc. Dual laser with thermoelectric cooling
US5425039A (en) * 1994-02-24 1995-06-13 Micron Optics, Inc. Single-frequency fiber Fabry-Perot micro lasers
JP3183021B2 (ja) * 1994-03-23 2001-07-03 日本電信電話株式会社 モード同期レーザ装置
US5585913A (en) 1994-04-01 1996-12-17 Imra America Inc. Ultrashort pulsewidth laser ranging system employing a time gate producing an autocorrelation and method therefore
US5778016A (en) * 1994-04-01 1998-07-07 Imra America, Inc. Scanning temporal ultrafast delay methods and apparatuses therefor
JP3191843B2 (ja) 1994-06-29 2001-07-23 日本電信電話株式会社 レーザパルス発振器
JP2708370B2 (ja) 1994-07-04 1998-02-04 リトン システムズ,インコーポレーテッド ポット状光ファイバジャイロセンサコイル
DE4441133A1 (de) * 1994-11-21 1996-05-23 Sel Alcatel Ag Modengekoppelter Faserlaser
JP3274780B2 (ja) 1994-11-22 2002-04-15 日本無線株式会社 電源供給方法
JP3234429B2 (ja) * 1995-01-17 2001-12-04 日本電信電話株式会社 モード同期レーザの動作安定化装置
DE19520663A1 (de) * 1995-06-07 1996-12-12 Thomas Merker Abstandssensor
US5717712A (en) * 1995-09-12 1998-02-10 Lucent Technologies Inc. Laser communication system with temperature controlled
JP2836566B2 (ja) * 1995-12-08 1998-12-14 日本電気株式会社 波長安定化狭帯域エキシマレーザ装置
US5704960A (en) * 1995-12-20 1998-01-06 Corning, Inc. Method of forming an optical fiber for reduced polarization effects in amplifiers
DE19620594A1 (de) * 1996-05-22 1997-11-27 Sel Alcatel Ag Resonator für elektromagnetische Wellen mit einer Stabilisierungseinrichtung und Verfahren zum Stabilisieren der Resonatorlänge
US5778014A (en) * 1996-12-23 1998-07-07 Islam; Mohammed N. Sagnac raman amplifiers and cascade lasers
JP2005191420A (ja) 2003-12-26 2005-07-14 Stanley Electric Co Ltd 波長変換層を有する半導体発光装置およびその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011087881B4 (de) * 2010-12-27 2016-08-25 Advantest Corp. Folgefrequenzregelgerät
DE102012217655A1 (de) * 2012-09-27 2014-03-27 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zum Bestimmen der relativen Zeitlage elektromagnetischer Pulse und Bestimmungsvorrichtung
DE102012217655B4 (de) * 2012-09-27 2014-05-08 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zum Bestimmen der relativen Zeitlage elektromagnetischer Pulse und Bestimmungsvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
US6396856B1 (en) 2002-05-28
US5778016A (en) 1998-07-07
DE69734946D1 (de) 2006-02-02
EP0790492B1 (de) 2005-12-28
EP1701145B1 (de) 2013-06-19
JP4242364B2 (ja) 2009-03-25
EP1701145A3 (de) 2006-12-27
JP2004088120A (ja) 2004-03-18
US20020097761A1 (en) 2002-07-25
US20090296749A1 (en) 2009-12-03
EP0790492A2 (de) 1997-08-20
EP1701145A2 (de) 2006-09-13
JP2005236327A (ja) 2005-09-02
US20130010818A1 (en) 2013-01-10
JPH1096610A (ja) 1998-04-14
JP3688841B2 (ja) 2005-08-31
JP4323917B2 (ja) 2009-09-02
US8630321B2 (en) 2014-01-14
US7580432B2 (en) 2009-08-25
EP0790492A3 (de) 2000-01-12
US8265105B2 (en) 2012-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69734946T2 (de) Ultrakurzzeit-Raster- und Verzögerungsverfahren
EP0008089B1 (de) Laser-Impuls-Entfernungsmesser mit optischem Korrelator
EP3239734B1 (de) Dynamikerweiterung einer distanzmessvorrichtung mit einem variablen optischen abschwächelement im sendekanal
DE19512447A1 (de) Impulslaser-Abstands-Meßsystem und Verfahren
Shi et al. Review of low timing jitter mode-locked fiber lasers and applications in dual-comb absolute distance measurement
DE102011000963A1 (de) Pulslaser, Laser mit stabilisierter optischer Frequenz, Messverfahren und Messvorrichtung
DE10047136A1 (de) Doppeltgepulstes optisches Interferometer zur Signalformabtastung integrierter Schaltungen
DE102009041156B4 (de) Verfahren zur Kopplung zweier gepulster Laser mit einstellbarer und von Null verschiedener Differenz der Pulsfrequenzen
EP3534176A1 (de) Laserbasierte distanzmessung mittels doppelkamm-laser
DE102012217655B4 (de) Verfahren zum Bestimmen der relativen Zeitlage elektromagnetischer Pulse und Bestimmungsvorrichtung
DE102008045359B3 (de) Detektion von Veränderungen eines Zeitabstands optischer oder elektrischer Signale
DE102012104193B4 (de) Zeitlinsenaufbau mit variabler Vergrößerung und dessen Verwendung
EP1594020A1 (de) Verfahren zum Erzeugen eines offsetfreien optischen Frequenzkamms und Lasereinrichtung hierfür
Débarre et al. An amplitude correlator for broadband laser source characterization
DE102011012749B4 (de) Verfahren zum Erzeugen eines Frequenzkamms aus einer Mehrzahl an Kammlinien und Vorrichtung dazu
DE102010023362B9 (de) Verfahren und Vorrichtung zur präzisen Leistungsbestimmung unterhalb der Quantenrauschgrenze
EP1185844A1 (de) Strahlungs-messvorrichtung
JP2008098676A (ja) ファイバーレーザー安定化法、短パルスファイバーレーザー出力制御法、レーザー装置、短パルスファイバーレーザー出力制御法及び短パルスファイバーレーザー反復率安定化法
Sucha et al. Rapid temporal scanning of ultrafast lasers
DD273758A3 (de) Verfahren zur einstellung der havariegrenzen und zur ueberwachung der frequenzstabilitaet stabilisierter 2-moden-laser

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition