JPS58131557A - 超音波の非接触測定法 - Google Patents

超音波の非接触測定法

Info

Publication number
JPS58131557A
JPS58131557A JP57002995A JP299582A JPS58131557A JP S58131557 A JPS58131557 A JP S58131557A JP 57002995 A JP57002995 A JP 57002995A JP 299582 A JP299582 A JP 299582A JP S58131557 A JPS58131557 A JP S58131557A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
measured
point
beams
ultrasonic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57002995A
Other languages
English (en)
Inventor
Toru Inouchi
徹 井内
Tomio Tanaka
田中 富三男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP57002995A priority Critical patent/JPS58131557A/ja
Priority to US06/455,551 priority patent/US4619529A/en
Priority to EP83300080A priority patent/EP0083979B1/en
Priority to DE8383300080T priority patent/DE3377083D1/de
Publication of JPS58131557A publication Critical patent/JPS58131557A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
    • G01H9/00Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by using radiation-sensitive means, e.g. optical means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/24Probes
    • G01N29/2418Probes using optoacoustic interaction with the material, e.g. laser radiation, photoacoustics
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028Material parameters
    • G01N2291/02854Length, thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/042Wave modes
    • G01N2291/0421Longitudinal waves

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、超音波による測定物体表面の振動変位をレー
ザー光を用いて検出する、超音波の非接触測定法に関す
る。
水晶振動子やPZTのような圧電素子を用いた超音波の
測定法は、非破壊検査法として鋼材の内部欠陥の検出や
、溶接継手部の内部割れの検出などに広く利用されてい
る。しかしながら、この方法では検出器を測定物体に接
触させるか、あるいは水媒体等を介して測定する必要が
ある丸め、測定物体が高温である場合には検出器の保躾
が困難であ)、また該媒体尋が蒸発して正常な超音波伝
播を妨ける問題がある。更に1測定物体が高速で移動し
ている場合で社、検出器を測定物体表面になられせなが
ら保持する方法が困難となり、また検出器と測定物体間
の超音波の授受を助ける水や油等の媒体の供給、旭理法
が困難になるという間組がある。
本発明は上記の問題を克服して、非接触で測定物体表面
の超音波振動を測定する方法を提供するものである。レ
ーザー光を用いれば、非接触で測定物体表面の変位や振
動を測定することが可能となり、従来からいくつかの方
法が提案されている。
即ち、コヒーレントな計測用レーザー光を試料面に照射
し、試料面の変位による位相差を光ヘテロダインまたは
光ホモダインの手法で検出する。
光ホモダイン法で微小簾動変位を測定することは例えば
飯島健−1都築泰雄共著、共立出版社刊の「計測論」に
おける[レーザー干渉計による微小機械振動の測定」の
項などに示されている。
従来法の一例として、第1図にマイケルソン型の干渉計
を物体表面の超音波測定に用いた場合を示す。すなわち
レーザー光源1から出たレーザー光はビームスプリッタ
−2で測定ビーム6と参照ビーム7に分けられ、測定ビ
ームは測定物体40表面上の振動によって位相変調を受
けて反射さ汰光検出器5に達し、参照ビームは空間に固
定された反射ミラー5によって位相変調を受けずに反射
され、光検出器5において測定ビームとともに検出され
、干渉ビートを形成する。この場合、誼測定物体がたと
えば鉄鋼プロセスの熱間圧延ラインを移動する高温の鋼
板であるようなときFcFi、次のような事が問題とな
る。(1)該測定物体表面の空気層が熱によってゆらぎ
そのために屈折率が変化する。それによりて該測定ビー
ムが変調を受け、それが該光検出器において骸参照ビー
ムと干渉ビートを形成し雑音となる。(2)該測定物体
は移動しているために物体全体が上下方向に振動してい
る。
従って骸測定ビームは物体表面の超音波に伴う振動変位
のみならず、移動に伴う上下振動変位によっても変調を
受けるため、それが雑音となる。
レーザーを用いた光干渉法は、非接触法であるために、
前述の接触法による問題点を克服することはできるが、
依然なお上述の問題点を含んでいる。これは実用上大き
な問題である。
本発明は、上述の問題点、すなわち空気層のゆらぎ、お
よび該測定対称の移動中の機械的振動の影響を消去して
超音波振動変位のみを検出する方法に関するものである
以下、図面を参照しながら本発明の構成およびその特徴
を説明する。第2図は本発明の実施例の一つである。レ
ーザー光源4から出たレーザー光は、と−ムスプリッタ
ー2で2分割され、一方は測定ビーム6として測定物体
4上の測定点10に入射し、測定点の振動変位によって
位相変調を受け、その反射光が光検出器5に達する。他
方のビームは参照ビーム7として反射ミラー3を経て該
測定点の近傍の参照点11に入射し参照点の振動変位に
よって位相変調を受け、その反射光が再び反射ミラーろ
、ビームスプリッタ−2を経て光検出器5に到達する。
このようにして両ビームは光検出器5において合成され
、両ビームの相対的位相差により干渉ビートを形成する
ここで、レーザー光源1から発振されるレーザー光の角
周波数をω0.波数をko(=ω・/C,Cは光の速さ
)、測定点10で反射されて光検出器5に達する光の振
幅をLXお照点11で反射されて光検出器5に達する光
の振幅をL′とすればり、L’は次の式で与えられる。
L’= A’ cot (ωat  2 kor’−2
kl)u’−φ′)ここでA、A’はり、L’の最大振
幅値を表わし、yおよびy′は測定点10および参照点
11における測定物体の移動に伴って生じるy方向の機
械的振動変位であり、UおよびU′は各点の超音波振動
変位、φおよびφ′は各点の空気層のゆらぎによって生
ずる位相変化成分である。ここで Φ’=2 k(1y’+2 k6n’+φ′とおけば、
(2)式は L ’= A’ eos (co6 t−Φ′)と書け
る。
従って、光検出器5の2乗平均検波出力の強度3■は次
式で表わされる。
I=< (Acos(ω、1−Φ)+A’eos (ω
。t−Φ’))”>=<A3C0II!(物を一Φ)+
A”cow’ (ω。t−1’)+ 2 AA’eos
(ωat−Φ) eos ((da t−Φ′)〉= 
<’ (A”+A′り +−L (A”cot2(4t
−Φ)+A”cost2 (ω6を一Φ’) )+AA’eos(2ai6t−Φ
−Φ’) +AA’eom(Φ−Φl)〉 =、;= (A” +A”) + A A’eoa (
Φ−Φ′)  ・・−・・(5)(5)式の右辺第1項
は直流信号成分であり、第2項が測定ビームと参照ビー
ムの位相差圧よって生じる交流信号成分である。いま、
測定点10と参照点11の距離が充分に小さく、各点の
機械的振動変位も、空気層のゆらぎKよる位相変化も等
しいとみなせる場合、すなわち(3)式においてT=Y
’eφ=φ′とみなせる場合には、 Φ−Φ’ = 2 ka (u −u’)      
 =” (6)となる。従って(5)式の右辺第2項の
交流信号成分をIsとすれば Ia =AA’eom2 k@ (u−u’)    
  =−・−・(71と表わすことができる。
すなわち、交流信号成分Iaは、測定ビームと参照ビー
ムの相対的表位相差のみに関係するから、測定点と参照
点の距離が小さければ各ビームが、物体の移動に伴う機
械的振動変位や、空気層のゆらぎによって位相変調を受
けてもそれらは互いに相殺し合って雑音の原因とならな
い。
以上述べたように、本発明によれば移動中の高温物体表
面の超音波振動変位を高い87N比で測定することがで
きる。
第2図において、測定物体4の表面上をパルス状の超音
波13が伝播して行く場合を考える。パルス超音波13
が測定点10を通過する時の時刻をt1超超音波エコー
を町とすれば、(7)弐においてU=町 vs’=oで
あるから ■&−ムA’cos 2 k6m1 (tz tlのと
き)・・・・・・(8)であり、パルス超音波が更に伝
播して、参照点11を通過する時の時刻をt!超音波振
動変位を璽!とすれば、その時vs == Oil’:
= va鵞であるからIa社ムA’ess 2 k@w
l (t x= tHのとき)   ・−・・−・(9
1となる。それ以外の時間においては11 = @’冨
Qであるから Ia=O=〜・−aS となる。このようなパルス状の表面波を検出した時の検
出信号を第3図に示す、超音波が測定点および参照点1
1を通過する時の時間差)1=1.−1.。
信号Iaの大きさを測定すれば、測定点と参照点の距離
ΔXとΔtがら表面波の伝播速度マがマーΔ2/Δtに
よって求ま)、さらK 18) =・(91式から町。
町を求めれば減衰係数も求めることができる。
鋼材中を伝播する縦波も、全く同様な方法で検出するこ
とができる。第4図において、測定鋼板4に対して測定
点10の裏側の点10′にジャイアントパルスレーザ−
20から瞬間的に大出力のレーザー光を照射すると、点
10′の表面物質が瞬間的に蒸発せられ、その反動力と
して点10′からパルス状の超音#14が発生する。こ
の超音波パルスは物体内部を伝播し、測定点10と点1
0’の間を往復するので、これを本発明の方法により超
音波エコーとして検出することができる。
a、t S図は、この場合の光検出器の検波信号を示し
たものである。測定点10と参照点11の距離は、参照
点11に超音波パルスが到達する以前に測定点10にた
とえば第2エコー1での信号が到達するように設にし、
第1エコー、第2エコーの検出時間差Δtや、各エコー
の大きさから超音波振動の大きさを求めれは、物体の厚
さや、減衰係数を測定することができる。
第4ン1においては、超音波を発生させるジャイアント
パルスレーザ−を測定点の裏側の点10’に入射したが
、測定点10に入射させても全く同様な測定が可能であ
る。
このような超音波l+i定法では、測定すべき超音波信
号が極めて短い時間の間だけ存在する。たとえば、厚さ
30−程度の鋼板の板厚を測定しようとする場合、第4
図に示したような超音波発生時刻から第3エコー到達時
刻までの時間は約25μ!I@eとなる。従って、この
時間の前後にわたる限られた時間内だけ計測用レーザー
光を一時的に畠出力とすれば、光検出器に到達する光量
子数を大きくすることができて、更にS/N比の大きい
測定を行うこともできる。
本発明による超音波の非接触測定法は、このように計測
用レーザー光を、測定すべき超音波が存在する限られた
時間内だけ高出力として測定する方法としても適用可能
である。さらに、鋼材中を伝播する横波の検出も本発明
による方法で測定することができる。
第6図に示すように、測定ビーム、参照ビームを測定物
体表面に傾けて入射すると、それぞれのビームは横波1
5によりて変調を受けるため、それぞれの点からの反射
光を光検出器5に導いてやれば、表面波、縦波の場合と
全く同様に測定することができる。但し、第6図におい
て2.2′けビ〜ムスブリッター、3.3’は全反射ミ
ラーである。
また、本発明による超音波の非接触111定法は、也(
1定ビームあるいは参照ビームのいずれか一方を変隔器
によって変−させる、いわゆる光ヘテロダイン方式とし
ても実現可能である。第7図は、光変調器12にビーム
スプリッタ−の役割をももたせた構成により超音波を測
定する、本発明の実施例の一つである。同様に第2しI
において全反射ミラー3のかわりに、ピエゾ素子等の振
動子の表面を鏡面メッキしたものを用いれは、該振動子
を振動させて光変論を行う光ヘテロダイン方式による超
音波1’1411足が容易に行える。また、本発明は、
光学系をファイバーを用いた構成とすることも容易であ
る。
以上述べたように、本発明による超音波の非接触側定法
d1高温物体や、高速移動物体の超音波撮動を空気層の
屈折率のゆらぎゃ、機械的振動変位に関らず高S/N比
で沖1定できる方法を提供するものであって極めて実用
的な価値の高いものであ
【図面の簡単な説明】
第1図は従来法の実例を示す説明図、第2図は本発明の
実例を示す説明図、第3図は本発明における検出信号を
示す説明図、第4図は本発明の他の実例を示す説明図、
第5図は第4図の場合の検出信号を示す説明図、第6図
および第7図は本発明の他の実例を示す説明図である。 図中で、1#″i計測用レーザー光源、2.2′はビー
ムスプリッタ−15,3’d全反射ミラー、4は測定物
体、5は光検出器、6け測定ビーム、7は参照ビーム、
10Vi測定点、11は参照点、12は光変調器、15
,14,15ti超音波振動、20ねジャイアントパル
スレーザ−である。 出願人  新日本製鐵株式会社 代理人弁理士    青   柳      稔第1図 市2図 市3図 弔4図 帛5図 昭和58年 3月14日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 1、事件の表示 昭和57年特肝願第2995号 2、兄明の名称 超音波の非接触測定法 3、補止をする者 事件との関係  特許出願人 住 nl   東京都千代田区大手町二丁目6番3号名
称 (665)新日本#鐵株式会社 代表者  武  1)     豊 4、代 理 人  〒101 庄 乃[束足部千代田区岩本町3丁目4番519纂−東
ビル:、、] 氏名(7017)升!± ’ft  IN’、’ 、 
la5、補正命令の日付  な し 6、補正Vヒよシ増加する%明の数  な し7、補正
の対象 明細=Hの発明の詳細な説明の欄および図面8
、補iEの内容 (1)明細書第4負14行の「レーザー光源4」を「レ
ーザー光源1」と補正する。 (2)同第6負12行の記載をr=<−(が+A”)+
2 (A’tnt2Cωot−Φ) +A”(XII2 J
と補正する。 (3)図面第6図を別紙のとおシ補正する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 超音波による測定物体表面の振動変位を、レーザー光を
    用いて針側する方法において、骸レーザー光を2つのレ
    ーザービームに分割し、一方を測定ビームとして該物体
    表面上の測定点に入射し、他方を参照ビームとして該測
    定点近傍の参照点九入射し、それぞれの点からの反射光
    を同一の光検出器へ導き検波することを特徴とする超音
    波の非接触測定法・
JP57002995A 1982-01-12 1982-01-12 超音波の非接触測定法 Pending JPS58131557A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57002995A JPS58131557A (ja) 1982-01-12 1982-01-12 超音波の非接触測定法
US06/455,551 US4619529A (en) 1982-01-12 1983-01-04 Interferometric contact-free measuring method for sensing motional surface deformation of workpiece subjected to ultrasonic wave vibration
EP83300080A EP0083979B1 (en) 1982-01-12 1983-01-07 Interferometric contact-free method for testing workpieces using ultrasonic wave vibrations
DE8383300080T DE3377083D1 (en) 1982-01-12 1983-01-07 Interferometric contact-free method for testing workpieces using ultrasonic wave vibrations

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57002995A JPS58131557A (ja) 1982-01-12 1982-01-12 超音波の非接触測定法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58131557A true JPS58131557A (ja) 1983-08-05

Family

ID=11544954

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57002995A Pending JPS58131557A (ja) 1982-01-12 1982-01-12 超音波の非接触測定法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4619529A (ja)
EP (1) EP0083979B1 (ja)
JP (1) JPS58131557A (ja)
DE (1) DE3377083D1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61225646A (ja) * 1985-03-29 1986-10-07 ロツクウエル インタ−ナシヨナル コ−ポレ−シヨン 欠陥及び音響的不連続検知用の無接触超音波変換
JPH0271147A (ja) * 1988-04-29 1990-03-09 American Teleph & Telegr Co <Att> 非破壊検査方法及び装置
JP2013029399A (ja) * 2011-07-28 2013-02-07 Institute For Laser Technology 欠陥検査装置
JP2018179833A (ja) * 2017-04-17 2018-11-15 株式会社東芝 超音波受信装置、欠陥検査装置、超音波受信方法、欠陥検査方法、および構造体の製造方法

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2574537B1 (fr) * 1984-12-06 1989-08-04 France Etat Procede et dispositif de mesure de l'epaisseur de films minces utilisant des ondes acoustiques de surface
US5778016A (en) 1994-04-01 1998-07-07 Imra America, Inc. Scanning temporal ultrafast delay methods and apparatuses therefor
US5489984A (en) * 1994-04-01 1996-02-06 Imra America, Inc. Differential ranging measurement system and method utilizing ultrashort pulses
US5585913A (en) * 1994-04-01 1996-12-17 Imra America Inc. Ultrashort pulsewidth laser ranging system employing a time gate producing an autocorrelation and method therefore
US5604592A (en) * 1994-09-19 1997-02-18 Textron Defense Systems, Division Of Avco Corporation Laser ultrasonics-based material analysis system and method using matched filter processing
US5546187A (en) * 1995-03-15 1996-08-13 Hughes Aircraft Company Self-referencing laser-based ultrasonic wave receiver
USH1937H1 (en) * 1996-02-29 2001-02-06 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Laser barometer
US6552803B1 (en) * 1998-02-24 2003-04-22 Kla-Tencor Corporation Detection of film thickness through induced acoustic pulse-echos
US6715354B2 (en) 1998-02-24 2004-04-06 Massachusetts Institute Of Technology Flaw detection system using acoustic doppler effect
US6108087A (en) * 1998-02-24 2000-08-22 Kla-Tencor Corporation Non-contact system for measuring film thickness
WO1999049309A2 (en) * 1998-03-26 1999-09-30 British Nuclear Fuels Plc Improvements in and relating to inspection
US6657733B1 (en) * 1998-06-30 2003-12-02 Lockheed Martin Corporation Method and apparatus for detecting ultrasonic surface displacements using post-collection optical amplification
US6633384B1 (en) 1998-06-30 2003-10-14 Lockheed Martin Corporation Method and apparatus for ultrasonic laser testing
WO2000020841A1 (en) * 1998-10-05 2000-04-13 Kla-Tencor Corporation Interferometric system for measurement disturbance of a sample
US6628408B1 (en) 1999-04-15 2003-09-30 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Amplitude measurement for an ultrasonic horn
GB2356931B (en) * 1999-12-03 2003-05-28 Aea Technology Plc Optical ultrasonic measurement
US6728515B1 (en) 2000-02-16 2004-04-27 Massachusetts Institute Of Technology Tuned wave phased array
US6325172B1 (en) 2000-05-25 2001-12-04 Pvt-Wrl, Llc Geophone including laser interferometer
US20020190207A1 (en) 2000-09-20 2002-12-19 Ady Levy Methods and systems for determining a characteristic of micro defects on a specimen
US6891627B1 (en) 2000-09-20 2005-05-10 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for determining a critical dimension and overlay of a specimen
US6673637B2 (en) 2000-09-20 2004-01-06 Kla-Tencor Technologies Methods and systems for determining a presence of macro defects and overlay of a specimen
US6812045B1 (en) 2000-09-20 2004-11-02 Kla-Tencor, Inc. Methods and systems for determining a characteristic of a specimen prior to, during, or subsequent to ion implantation
US7349090B2 (en) 2000-09-20 2008-03-25 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for determining a property of a specimen prior to, during, or subsequent to lithography
US7130029B2 (en) 2000-09-20 2006-10-31 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for determining an adhesion characteristic and a thickness of a specimen
US7106425B1 (en) 2000-09-20 2006-09-12 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for determining a presence of defects and a thin film characteristic of a specimen
US6694284B1 (en) 2000-09-20 2004-02-17 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for determining at least four properties of a specimen
US6919957B2 (en) 2000-09-20 2005-07-19 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for determining a critical dimension, a presence of defects, and a thin film characteristic of a specimen
US6782337B2 (en) 2000-09-20 2004-08-24 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for determining a critical dimension an a presence of defects on a specimen
CN1478007A (zh) * 2000-11-13 2004-02-25 ��Ī������ 激光烧蚀
US6833554B2 (en) * 2000-11-21 2004-12-21 Massachusetts Institute Of Technology Laser-induced defect detection system and method
WO2002099412A1 (en) * 2001-06-04 2002-12-12 Aea Technology Plc Optical ultrasonic measurement

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3796495A (en) * 1972-05-30 1974-03-12 Zenith Radio Corp Apparatus and methods for scanning phase profilometry
US3854325A (en) * 1973-07-13 1974-12-17 Us Air Force Method and means for determining fatigue damage and surface stress
DE2457253C2 (de) * 1974-12-04 1982-09-02 Krautkrämer, GmbH, 5000 Köln Optisches interferometrisches Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Messung der durch Ultraschallwellen verursachten Oberflächenauslenkung eines Prüflings
DE2709686C2 (de) * 1977-03-05 1982-09-09 Krautkrämer, GmbH, 5000 Köln Optisches interferometrisches Verfahren zur berührungslosen Messung der durch Ultraschallwellen verursachten Oberflächenauslenkung eines Prüflings
DE2709725A1 (de) * 1977-03-05 1978-09-07 Krautkraemer Gmbh Verfahren zur thermischen anregung von ultraschallwellen in lichtabsorbierenden oberflaechen von pruefstuecken
US4147435A (en) * 1977-06-30 1979-04-03 International Business Machines Corporation Interferometric process and apparatus for the measurement of the etch rate of opaque surfaces
US4172382A (en) * 1978-10-03 1979-10-30 The Johns Hopkins University Applied Physics Laboratory Laser interferometry detection method/apparatus for buried structure
JPS5664655A (en) * 1979-10-31 1981-06-01 Nippon Steel Corp Measurement method of isometric ratio of cast-iron piece
DE3016879C2 (de) * 1980-05-02 1982-12-30 Krautkrämer, GmbH, 5000 Köln Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Ultraschall-Werkstoffprüfung

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61225646A (ja) * 1985-03-29 1986-10-07 ロツクウエル インタ−ナシヨナル コ−ポレ−シヨン 欠陥及び音響的不連続検知用の無接触超音波変換
JPH0271147A (ja) * 1988-04-29 1990-03-09 American Teleph & Telegr Co <Att> 非破壊検査方法及び装置
JP2013029399A (ja) * 2011-07-28 2013-02-07 Institute For Laser Technology 欠陥検査装置
JP2018179833A (ja) * 2017-04-17 2018-11-15 株式会社東芝 超音波受信装置、欠陥検査装置、超音波受信方法、欠陥検査方法、および構造体の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0083979B1 (en) 1988-06-15
EP0083979A3 (en) 1984-07-11
US4619529A (en) 1986-10-28
EP0083979A2 (en) 1983-07-20
DE3377083D1 (en) 1988-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS58131557A (ja) 超音波の非接触測定法
Dorighi et al. Stabilization of an embedded fiber optic Fabry-Perot sensor for ultrasound detection
Dewhurst et al. Optical remote measurement of ultrasound
US4046477A (en) Interferometric method and apparatus for sensing surface deformation of a workpiece subjected to acoustic energy
US6543288B1 (en) Laser-ultrasonic measurement of elastic properties of a thin sheet and of tension applied thereon
Servagent et al. A laser displacement sensor using the self-mixing effect for modal analysis and defect detection
US4129041A (en) Method and apparatus for receiving ultrasonic waves by optical means
Jang et al. Noncontact detection of ultrasonic waves using fiber optic Sagnac interferometer
JP2001330669A (ja) 二重外部共振器つきレーザダイオード式距離・変位計
Noui et al. A laser beam deflection technique for the quantitative detection of ultrasonic Lamb waves
Fomitchov et al. Extrinsic and intrinsic fiberoptic Sagnac ultrasound sensors
Behroozi et al. Direct measurement of the attenuation of capillary waves by laser interferometry: Noncontact determination of viscosity
Jang et al. Surface-bonded fiber optic Sagnac sensors for ultrasound detection
Shan et al. A conjugate optical confocal Fabry-Perot interferometer for enhanced ultrasound detection
US5952554A (en) Method for testing frequency response characteristics of laser displacement/vibration meters
Palmer et al. Optical probing of acoustic emission waves
WO1998048252A1 (en) Laser detection of material thickness
JPH05346309A (ja) 透明薄膜の厚さ及び音速の同時測定法
JP3150239B2 (ja) 微小周期振動変位の測定装置
Dewhurst Optical sensing of ultrasound
JP2000002690A (ja) 超音波検出用光干渉装置
Ho et al. Direct and indirect dual-probe interferometers for accurate surface wave measurements
Alcoz et al. Noncontact detection of ultrasound with rugged fiber-optic interferometer
JPH10339604A (ja) ファイバ音響光学遅延時間走査干渉計
Azcona Guerrero Implementation of differential self-mixing interferometry systems for the detection of nanometric vibrations