DE69317927T2 - Halbleiterspeicheranordnung mit einer Adressübergangsabfühlschaltung - Google Patents

Halbleiterspeicheranordnung mit einer Adressübergangsabfühlschaltung

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DE69317927T2
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
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Description

    HINTERGRUND DER ERFINDUNG Gebiet der Erfindung:
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Halbleiterspeichervorrichtung gemäß dem Oberbegriff des unabhängigen Patentanspruches 1. Eine derartige Halbleiterspeichervorrichtung ist aus EP-A2-0 322 901 bekannt.
  • Beschreibung des Standes der Technik:
  • Bisher ist eine Technologie bekannt, die eine Zugriffzeit eines SRAM beispielsweise durch Verwenden eines ATD (Adreßübergangsdetektor) vermindern kann.
  • Wie in Fig. 1 der beigefügten Zeichnungen dargestellt ist, umfaßt die ATD- Schaltung eine Vielzahl von Eingangsanschlüssen φ&sub1;, φ&sub2;, ... φn, in die beispielsweise Zeilenadressen eingegeben sind, und exklusive ODER- Schaltungen XOR&sub1;, XOR&sub2;,..., XORn, die entsprechend an die Eingangsanschlüsse φ&sub1;, φ&sub2;, ..., φn angeschlossen sind. Die exklusiven ODER- Schaltungen XOR&sub1;, XOR&sub2;, ..., XORn sind jeweils mit Verzögerungsadreßsignalen Ssa1, Ssa2, ..., Ssan von den entsprechenden Eingangsanschlüssen φ&sub1;, φ&sub2;, ..., φn und Verzögerungsadreßsignalen dSa1, dSa2, ..., dSan die auf einer Verarbeitung der Adreßsignale Sa1, Sa2, ..., San durch Inverterspalten von mehreren Stufen beruhen (Inverter von vier Stufen sind in dem gezeigten Beispiel angeschlossen), gespeist. Die jeweiligen exklusiven ODER- Schaltungen XOR&sub1;, XOR&sub2;,..., XORn liefern Bezugsimpulssignale Pa1, Pa2, ..., Pan der Adreßerfassungssignale, die weiter unten näher beschrieben sind. Der Betrieb der ATD-Schaltung wird anhand eines Fig. 2 bildenden Zeitdiagrammes beschrieben. Wenn das Adreßsignal Sa1 zu einem Zeitpunkt t&sub1; verändert wird, steigt das Impulssignal Pa1 von der ATD- Schaltung im Zeitpunkt t&sub1; an. Im Zeitpunkt t&sub2;, nachdem eine Verzögerungszeit T&sub1; der Inverterspalte abgelaufen ist, fällt das Impulssignal Pa1 abhängig von dem Verzögerungsadreßsignal dSa1 ab und wird ein Impulssignal mit einer vorbestimmten Breite T&sub1;.
  • Ein Speicher mit der obigen ATD-Schaltung und einer Peripherieschaltung wird im folgenden anhand der Fig. 3 beschrieben.
  • In Fig. 3 bezeichnet ein Bezugszeichen 101 einen Allgemeinzweck- Zeilendekodierer, 102 einen Allgemeinzweck-Spaltendekodierer, 103 und 104 eine Bitleitung bzw. eine invertierende Bitleitung, 105 bis 105 Speicherzellen, 108 und 109 Spaltendekodier-Kopplungstransistoren, 110 eine Bitleitung-Ausgleichschaltung, 112 eine Ausgleich-Logikschaltung, 113 eine Zeilenadreß-Übergangserfassungs-(ATD-) und Steuerschaltung (im folgenden einfach als Zeilen-ATD-Steuerschaltung bezeichnet), 114 eine Spaltenadreß-Übergangserfassungs-(ATD-) und Steuerschaltung (im folgenden einfach als Spalten-ATD-Steuerschaltung bezeichnet), 116 und 117 Datenleitungen und 118,..., 118, Wortleitungen.
  • Die Bitleitung-Ausgleichschaltung 110 umfaßt zwei N-Kanal-Transistoren 122, 123 und einen P-Kanal-Transistor 124. Die Datenleitung-Ausgleichschaltung 111 umfaßt zwei N-Kanal-Transistoren 126, 127 und einen P- Kanal-Transistor 128. Die Ausgleich-Logikschaltung 112 umfaßt vier Inverter 131 bis 134, zwei N-Kanal-Transistoren 136, 137 und einen P- Kanal-Transistor 138.
  • Jede der Speicherzellen 105, ..., 105 ist ein herkömmlicher SRAM, bei dem ein Eingang hiervon jeweils mit den Wortleitungen 118, ... 118 verbunden ist und komplementäre Ausgänge jeweils an die Bitleitung 103 und die invertierende Bitleitung 104 angeschlossen sind.
  • Von den Dekodier-Kopplungstransistoren 108 und 109 ist ein Gate des Transistors 108 mit dem Ausgang des Spaltendekodierers 102 verbunden, eine Elektrode aus den Source- und Drain-Elektroden hiervon ist an die Bitleitung 103 angeschlossen, und die andere Elektrode hiervon ist mit der Datenleitung 116 verbunden. Ein Gate des anderen Spaltendekodier- Kopplungstransistors 109 ist an den Ausgang des Spaltendekodierers 102 angeschlossen, eine Elektrode aus den Source- und Drain-Elektroden hiervon ist mit der invertierenden Bitleitung 104 verbunden, und die andere Elektrode ist an die Datenleitung 117 angeschlossen.
  • Von den beiden Transistoren 122 und 123, die die Bitleitung-Ausgleichschaltung 110 aufbauen, ist eine Drain-Elektrode des Transistors 122 mit dem positiven Spannungsquellenanschluß Vcc verbunden, ein Vorladungssignal Sp, das durch die Ausgleich-Logikschaltung 112 erzeugt ist, liegt an Gate hiervon, und eine Source-Elektrode hiervon ist mit der Bitleitung 103 verbunden. Eine Drain-Elektrode des anderen N-Kanal- Transistors 123 ist mit dem positiven Spannungsquellenanschluß Vcc verbunden, das durch die Ausgleich-Logikschaltung 112 erzeugte Vorladungssignal Sp liegt an Gate hiervon, und eine Source-Elektrode hiervon ist mit der invertierenden Bitleitung 104 verbunden.
  • Eine Elektrode aus den Source- und Drain-Elektroden des die Bitleitung- Ausgleichschaltung 110 zusammen mit den obigen beiden N-Kanal- Transistoren 122, 123 bildenden P-Kanal-Transistors 124 ist an die Bitleitung 103 angeschlossen, die andere Elektrode hiervon ist mit der invertierenden Bitleitung 104 verbunden, und ein Ausgleichsignal *Sp, das durch die Ausgleich-Logikschaltung 112 erzeugt ist, liegt an Gate hiervon.
  • Von den die Datenleitung-Ausgleichschaltung 111 bildenden beiden N- Kanal-Transistoren 126 und 127 ist eine Drain-Elektrode des Transistors 126 mit dem positiven Spannungsquellenanschluß Vcc verbunden, eine Source-Elektrode hiervon ist an die Datenleitung 116 angeschlossen, und das Vorladungssignal Sp von der Ausgleich-Logikschaltung 112 liegt an einem Gate hiervon. Eine Drain-Elektrode des anderen N-Kanal- Transistors 127 ist mit dem positiven Spannungsquellenanschluß Vcc verbunden, eine Source-Elektrode hiervon ist an die Datenleitung 117 angeschlossen, und das Vorladungssignal Sp von der Ausgleich-Logikschaltung 112 ist einem Gate hiervon zugeführt.
  • In dem P-Kanal-Transistor 128, der die Datenleitung-Ausgleichschaltung 111 zusammen mit den beiden N-Kanal-Transistoren 126, 127 bildet, ist eine Elektrode hiervon an die Datenleitung 116 angeschlossen, die andere Elektrode hiervon ist mit der Datenleitung 117 verbunden, und das invertierte Vorladungssignal *Sp von der Ausgleich-Logikschaltung 112 ist einem Gate hiervon zugeführt.
  • Von den vier Invertem 131 bis 134, die die Ausgleich-Logikschaltung 112 bilden, ist der erste Inverter 131 mit einem Zeilenadreß-Übergangserfassungssignal (im folgenden einfach als ein Zeilen-ATD-Signal bezeichnet) *RX, das von der Zeilen-ATD-Steuerschaltung 113 erzeugt ist, beaufschlagt und liefert ein invertiertes Signal RX. Der zweite Inverter 132 verbindet seinen Eingang mit dem Ausgang des ersten Inverters 131 und liefert ein Ausgleichsignal *SEq.
  • Transistoren, die die Ausgleich-Logikschaltung 112 bilden, werden im folgenden beschrieben. Eine Source-Elektrode des ersten N-Kanal- Transistors 136 ist geerdet, eine Gate-Elektrode hiervon ist mit dem Ausgang des Inverters verbunden, und eine Drain-Elektrode hiervon ist an eine Eingangsleitung 139 des dritten Inverters 133 angeschlossen. Ein Gate des zweiten N-Kanal-Transistors 137 ist mit dem Ausgleichsignal *Seq von dem Inverter 132 versorgt, eine Elektrode aus den Source- und Drain- Elektroden hiervon ist mit der Eingangsleitung 139 verbunden, und die andere Elektrode ist angeschlossen, um ein Spaltenadreß- Übergangserfassungssignal (im folgenden einfach als ein Spalten-ATD- Signal bezeichnet) *CX, das von der Spalten-ATD-Steuerschaltung 114 erzeugt ist, zu empfangen.
  • Ein Gate des P-Kanal-Transistors 138 ist mit dem Gate des N-Kanal- Transistors 136 verbunden, eine Elektrode aus den Source- und Drain- Elektroden ist an die Eingangsleitung 139 des Inverters 133 angeschlossen, und die andere Elektrode ist mit dem Spalten-ATD-Signal *CX von der Spalten-ATD-Steuerschaltung 114 beaufschlagt.
  • Ein Eingang des dritten Inverters 133 ist mit der Eingangsleitung 139 verbunden und liefert das Vorladungssignal Sp. Ein Eingang des vierten Inverters 134 ist mit dem Ausgang des Inverters 133 verbunden und liefert das invertierte Signal *Sp des Vorladungssignales Sp.
  • Die Zeilen-ATD-Steuerschaltung 113 erfaßt die Änderung eines beliebigen Zeilenadreßsignales der von dem Zellenadreßbus 141 eingespeisten Zeilenadreßsignale. Wenn zu dieser Zeit die Schaltung 113 keine Adreßverzerrung erfaßt, liefert die Schaltung 113 einen Impuls (Zeilen-ATD-Signal) *RX von negativer Polarität mit einer Signalbreite von beispielsweise 5 bis 6 ns. Wenn eine Adreßverzerrung vorliegt, wird die Signalbreite des ATD- Signales mehr gedehnt. Die Zeilen-ATD-Steuerschaltung 113 liefert ein Freigabesignal RD zu dem Zeilendekodierer 101. Das Freigabesignal RD einer logischen "0" stellt den abgeschalteten Zustand dar, und das Freigabesignal RD einer logischen "1" stellt den freigegebenen Zustand dar. Der Zeilendekodierer 101 wird durch das Freigabesignal RD gesteuert.
  • In ähnlicher Weise erfaßt die Spalten-ATD-Steuerschaltung 114 die Änderung in dem von dem Spaltenadreßbus 142 gelieferten Spaltenadreßsignal und gibt einen Impuls einer negativen Polarität (Spalten-ATD-Signal) ab. Auch steuert die Schaltung 114 den Spaltendekodierer 102 durch ein Freigabesignal CD.
  • Bei Freigabe wählt der Zeilendekodierer 101 eine Wortleitung aus den Wortleitungen 118, ..., 118, bestimmt durch den Zeilendekodierer 101. In ähnlicher Weise wählt bei Freigabe der Spaltendekodierer 102 Transistoren, die durch den Spaltendekodierer 102 bestimmt sind, beispielsweise Transistoren 108 und 109 in dem veranschaulichten Beispiel.
  • Während des Ausgleichbetriebes (wenn das Zeilen-ATD-Signal bei einer logischen "0" ist), geht das Freigabesignal RD auf eine logische "0", um den Zeilendekodierer 102 in einen Nicht-Wählzustand zu setzen. Die Ursache hierfür ist die folgende. Wenn das Freigabesignal RD beispielsweise auf eine logische "1" übergeht und eine beliebige Wortleitung der Wortleitungen 118 gewählt wird, fließt ein unnötiger Strom zu der durch die Wortleitung 118 gewählten Speicherzelle 105 während der Ausgleichperiode. Demgemäß wird das Freigabesignal RD auf eine logische "O" gesetzt, so daß der oben erwähnte Nachteil vermieden werden kann.
  • Weiterhin wird beim Übergang der Spaltenadresse (Spalten-ATD-Signal ist bei einer logischen "O") oft beobachtet, daß, wenn die Zeilenadresse nicht verändert wird, die Bitleitungen 103 und die mit den Datenleitungen 116 und 117 verbundene invertierende Bitleitung 104 ersetzt werden. Folglich werden die Potentiale der Bitleitung 103 und der invertierenden Bitleitung 104 invertiert. Es besteht dann die Gefahr, daß ein schlechter Einfluß auf die Datenauslesegeschwindigkeit ausgeübt wird. Demgemaß wird das Freigabesignal CD bei einer logischen "O" gehalten, bis die Ausgleichope ration der Datenleitungen 116, 117 beendet ist, um so den Spaltendekodierer 102 in den gesamten Nicht-Wählzustand zu setzen.
  • Wie oben beschrieben ist, werden bei dem Adreßübergang die ATD-Signale (Impulssignale) *RX und *CX erzeugt, die Bitleitung 103 und die invertierende Bitleitung 104 werden ausgeglichen, die Potentiale der komplementären Bitleitung 103 und der invertierenden Bitleitung 104 werden gleich gemacht, und sodann werden die Speicherzellen 105, ... 105 aktiviert, um dadurch die Auslesegeschwindigkeit des Speichers zu erhöhen.
  • Wenn jedoch, wie in Fig. 2 gezeigt ist, ein impulsförmiges Signal mit einer Impulsbreite Δt, die kürzer als die Verzögerungszeit T1 ist, als das Adreßsignal Sa1 beispielsweise zu einem Zeitpunkt 2 eingespeist wird, werden zwei Impulssignale mit einer Impulsbreite Δt nacheinander in einem Intervall der Verzögerungszeit T1 erzeugt.
  • Das heißt, es werden ein Impulssignal, das in einem Zeitpunkt t2 ansteigt und in einem Zeitpunkt t3 abfällt, und ein Impulssignal, das in einem Zeitpunkt t4 (= t2 + t1) ansteigt und in einem Zeitpunkt t5 (= t4 + Δt) abfällt, erzeugt. Wenn die interne Schaltung des SRAM mittels dieser Impulssignale initialisiert wird, kann die Initialisierung nicht mit einer ausreichenden Zeit ausgeführt werden, und in einem schlimmsten Fall tritt eine Fehlfunktion auf.
  • In EP-A2-0 322 901 ist eine in Fig. 38 gezeigte und in Spalte 36, Zeile 38 bis Spalte 37, Zeile 34, beschriebene Impulsgeneratorschaltung nach einer Synthesizerschaltung gekoppelt, die beispielsweise in deren Fig. 10 mit dem Bezugszeichen 142 gezeigt ist (vgl. beispielsweise deren Fig. 32). Wie in den Fig. 38 und 39 der EP-A2-0 322 901 gezeigt ist, ist die Hauptfunktion der Impulsgeneratorschaltung der bekannten Halbleiterspeichervorrichtung ein Unterdrücken von Ausgangsimpulsen P der Synthesizerschaltung mit einer schmalen Impulsbreite, beispielsweise in deren Fig. 39, erste Zeile, der zweite Impuls mit der Impulsbreite T2. Diese Funktion der Impulsgeneratorschaltung 26 (genannt: "Impulsbreiten- Detektorschaltung") der bekannten Halbleitervorrichtung ist gemäß der Aufgabendefinition von EP-A2-0 322 901 in Spalte 4, Zeilen 13 bis 18:
  • "Die vorliegende Erfindung wurde gemacht, um ein Problem zu lösen, daß ein Operationsfehler verursacht wird in einer internen Schaltung eines IC nach einer Spannungsquellenänderung während einer Änderung in Ausgangsdaten oder nach Einspeisung externen Rauschens, und dieser Operationsfehler veranlaßt einen Ausgangspuffer, fehlerhafte Daten auszugeben."
  • Gemäß der generellen Feststellung der Erfindung der EP-A2-0 322 901 in Spalte 4, Zeilen 37 bis 42, ist die Datenübertragungs-Steuereinrichtung der bekannten Halbleiterspeichervorrichtung so gesteuert, daß sie eine längere Verzögerungszeit hat, während ein Impulssignal nicht durch den Impulssignalgenerator erzeugt wird (vgl. eine in der in Fig. 32 gezeigten Schaltung 25 eingeschlossene Synthesizerschaltung).
  • Dieser Zweck der Impulssignal-Generatoreinrichtung der bekannten Halbleiterspeichervorrichtung ist sehr verschieden von den Aufgaben der vorliegenden Erfindung, wie dies unten beschrieben wird.
  • EP-A3-0 155 787 beschreibt eine Impulsgeneratorschaltung (vgl. deren Fig. 11), die eine Flip-Flop-Schaltung und eine Verzögerungsschaltung aulweist, wobei die Flip-Flop-Schaltung einen ersten Eingangsanschluß S hat, in den ein Steuersignal zum Setzen eines Ausgangssignales Q der Flip-Flop-Schaltung auf einen ersten logischen Weret als ein Triggerimpulssignal eingespeist ist, einen zweiten Eingangsanschluß R aufweist, in den ein Steuersignal zum Setzen des Ausgangssignales Q auf einen zweiten logischen Wert eingegeben ist, und wobei ein Signal, das auf der Verzögerungsschaltung D beruht, in den zweiten Eingangsanschluß der Flip- Flop-Schaltung FF eingespeist ist. In der EP-A3-0 155 787 wird die bekannte Impulsgeneratorschaltung als ein Rücksetzsignalgenerator verwendet, um ein Rücksetzsignal zum Rücksetzen von Signalleitungen auf ein gleiches Potential zu erzeugen, wenn eine Halbleiterspeichervorrichtung in einen Nicht-Wählzustand gebracht ist.
  • AUFGABEN UND ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Halbleiterspeichervorrichtung mit Adreßübergangs-Detektorschaltungen zu schaffen, die ein ATD-Signal hervorrufen, in welcher, wenn eine interne Schaltung eines SRAM durch Verwenden eines ATD-Signales initialisiert wird, ein Impulssignal mit einer konstanten Impulsbreite unabhängig von einer Wellenform eines Adreßsignales erhalten werden kann und das ein Bezugs-ATD- Signal abhängig lediglich von der Änderung einer Adresse wird.
  • Es ist eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine derartige Halbleiterspeichervorrichtung mit Adreßübergangs-Erfassungsschaltungen mit einer Impulsbreiten-Vergrößerungsschaltung zu schaffen, die ein Impulssignal (ein Signal, das ein Bezug eines ATD-Signales wird) mit einer Impulsbreite erhalten kann, so daß eine Initialisierung mit einer ausreichenden Zeit ausgeführt werden kann, wenn eine interne Schaltung des SRAM beispielsweise durch Verwenden des ATD-Signales initialisiert wird.
  • Gemäß einem ersten Aspekt der Erfindung ist eine Halbleiterspeichervorrichtung mit Adreßübergangs-Detektorschaltungen, die jeweils mit einer Vielzahl von Adreßleitungen verbunden sind, wobei jede der Adreßübergangs-Detektorschaltungen eine erste Verzögerungsschaltung aufweist, und mit einer Synthesizer-Schaltung, die mit einer folgenden Stufe der Adreßübergangs-Detektorschaltungen verbunden ist und eine Summe von Adreßübergangs-Detektorsignalen aus den jeweiligen Adreßübergangs- Detektorschaltungen berechnet, um dadurch eine interne Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung auf der Grundlage eines Ausgangssignales von der Synthesizer-Schaltung rückzusetzen oder auszugleichen, dadurch gekennzeichnet, daß eine Impulsgeneratorschaltung jeweils zwischen den Adreßübergangs-Detektorschaltungen und der Synthesizer-Schaltung vorgesehen ist, wobei die Impulsgeneratorschaltung abhängig von jedem eingegebenen Adreßübergangs-Detektorsignal ein Ausgangssignal mit einer konstanten Impulsbreite erzeugt und auf die erste Änderung des Adreßsignales der jeweiligen Adreßleitung anspricht (Patentanspruch 1).
  • Weitere Entwicklungen der Halbleiterspeichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung werden durch die abhängigen Patentansprüche 2 und 3 angegeben.
  • Eine Impulsgeneratorschaltung A umfaßt ein Flip-Flop A und eine Verzögerungsschaltung 3. Die Flip-Flop-Schaltung A umfaßt einen ersten Eingangsanschluß S, in den ein Steuersignal zum Setzen eines Ausgangssignales P auf einen ersten logischen Wert eingegeben ist, einen zweiten Eingangsanschluß R, in den ein Steuersignal zum Setzen des Ausgangssignales P auf einen zweiten logischen Wert eingegeben ist, und einen Ausgangsanschluß Q, von welchem das Ausgangssignal P ausgegeben wird. Ein Triggerimpulssignal Pa wird in den ersten Eingangsanschluß S eingespeist, und ein Verzögerungssignal dP, das auf einem Verzögern des Ausgangssignales P der Flip-Flop-Schaltung FF durch die Verzögerungsschaltung 3 beruht, wird in den zweiten Eingangsanschluß R eingegeben.
  • Eine Impulsbreiten-Vergrößerungsschaltung C umfaßt eine Einrichtung 12, die eine Vielzahl von Eingangsanschlüssen hat und eine Summe der zu den jeweiligen Eingangsanschlüssen gespeisten Eingangssignale berechnet, sowie die Impulsgeneratorschaltung A. Das Ausgangssignal P der Impulsgeneratorschaltung A und wenigstens nein Verzögerungssignal von einem Ausgangssignal P werden in die Eingangsanschlüsse der Einrichtung 12 eingespeist.
  • Eine Impulssummen-Generatorschaltung D umfaßt eine Einrichtung 12, die eine Vielzahl von Eingangsanschlüssen hat und eine Summe der Eingangssignale berechnet, die in die jeweiligen Eingangsan schlüsse eingespeist sind, sowie eine Vielzahl von Impulsgeneratorschaltungen A1, A2, A3, ..., An Ausgangssignale P1, P2, P3, ..., Pn der jeweiligen Impulsgeneratorschaltungen A1, A2, A3, ..., An werden in die Eingangsanschlüsse der Einrichtung 12 eingespeist, die eine Summe der Eingangssignale berechnet.
  • Eine Impulssummen-Generatorschaltung E umfaßt eine Einrichtung 21, die eine Vielzahl von Eingangsanschlüssen hat und eine Summe von Eingangssignalen berechnet, die in die jeweiligen Eingangsanschlüsse eingespeist sind, sowie eine Vielzahl von Impulsbreiten-Vergrößerungsschaltungen C1, C2, C3, ..., Cn. Ausgangssignale Pc1, Pc2, ....... Pcn der jeweiligen Impulsbreiten-Vergrößerungsschaltungen C1, C2, C3 ..., Cn werden in die Eingangsanschlüsse der Einrichtung 21 eingespeist, die eine Summe der Eingangssignale berechnet.
  • Gemäß der Impulsgeneratorschaltung A wird das Impulssignal Pa, das eine Bezugsgröße des ATD-Signales wird, in den ersten Eingangsanschluß S eingespeist, und das Signal dP, das auf einem Verzögern des Ausgangssignales P der Flip-Flop-Schaltung FF beruht, wird in den zweiten Eingangsanschluß R eingespeist, wodurch das Ausgangssignal P des Flip- Flops FF durch das Impulssignal Pa invertiert wird, das erzeugt wird, wenn die Adresse sich verändert. Nach einer durch die Verzögerungsschaltung 3 bestimmten konstanten Verzögerungszeit T2 wird das Ausgangssignal P der Flip-Flop-Schaltung F wieder invertiert. Diese Impulsgeneratorschaltung A spricht auf die erste Änderung des Adreßsignales Sa an, sie spricht jedoch nicht auf das Adreßsignal Sa, das sich wieder innerhalb der konstanten Verzögerungszeit T2 verändert hat, an. Daher liefert diese Impulsgeneratorschaltung A das Impulssignal (Signal, das eine Bezugsgröße des ATD-Signales wird) P, das eine konstante Impulsbreite hat, welche auf die erste Änderung des Adreßsignales Sa anspricht.
  • Da das Ausgangssignal P der Impulsgeneratorschaltung A und das verzögerte Signal von wenigstens einem Ausgangssignal P in den Eingangsanschluß der Einrichtung 12 eingespeist werden, die eine Summe der Eingangssignale berechnet, kann gemäß der Impulsbreiten-Verzögerungsschaltung C eine Impulsbreite T2 des Impulssignales P mit der konstanten Breite von der Impulsgeneratorschaltung A einfach vergrößert werden. Demgemäß wird diese Impulsbreiten-Vergrößerungsschaltung C wirksam, wenn das Impulssignal P mit der konstanten Breite von der Impulsgeneratorschaltung A nicht eine Impulsbreite hat, die ausreichend ist, so daß beispielsweise die interne Schaltung des SRAM initialisiert werden kann.
  • Gemäß der Impulssummen-Generatorschaltung D werden die Ausgangssignale P1, P2, C3 ..., Pn von einer Vielzahl von Impulsgeneratorschaltungen A1, A2, A3, ..., An jeweils in die Eingangsanschlüsse der Einrichtung 12 eingegeben, die eine Summe der Eingangssignale berechnet. Wenn die Impulsgeneratorschaltungen A, die in der Anzahl den Adressen entsprechen, vorbereitet sind, um eine Vielzahl von Impulssignalen P1, P2, P3, ..., Pn zu erhalten, und wenn die jeweiligen Impulssignale P1, P2, P3, ..., Pn in die Einrichtung 12 eingegeben sind, die eine Summe der Eingangssignale berechnet, kann die Einrichtung 12 das ATD-Signal erzeugen, das verwendet wird, um beispielsweise die interne Schaltung des SRAM abhängig von einer Änderung von wenigstens einer Adresse zu initialisieren. Das heißt, wenn eine Vielzahl von Adressen verändert wird, kann das ATD-Signal mit der konstanten Breite abhängig von einem Adreßsignal von einer Vielzahl der Adreßsignale Sa1, Sa2, Sa3, ..., San erhalten werden.
  • Da gemäß der Impulssummen-Generatorschaltung E die Ausgangssignale Pc1, Pc2, Pc3, ..., Pcn von einer Vielzahl von Impulsbreiten-Vergrößerungsschaltungen C1, C2, C3 ..., Cn jeweils in die Eingangsanschlüsse der Einrichtung 21 eingespeist sind, die eine Summe der Eingangssignale abhängig von der Änderung von wenigstens einem Adreßsignal einer Vielzahl von Adreßsignalen Sa1, Sa2, Sa3, ..., San berechnet, kann das ODER-Gatter 21 ein beliebiges Impulssignal (ATD-Signal) Pe erzeugen, das ausreichend ist, so daß die interne Schaltung von beispielsweise dem SRAM initialisiert werden kann.
  • Wie oben beschrieben ist, kann bei der Impulsgeneratorschaltung A, der Impulsbreiten-Vergrößerungsschaltung C und den Impulssummen- Generatorschaltungen D und E der vorliegenden Erfindung selbst dann, wenn das Impulssignal, das eine Impulsbreite hat, die unzureichend ist, so daß die interne Schaltung von beispielsweise dem SRAM nicht initialisiert werden kann, als das Adreßsignal eingegeben wird, das ATD-Signal (d.h. ein Signal, das eine Bezugsgröße zum Initialisieren der internen Schaltung wird) erhalten werden, das die notwendige Impulsbreite hat. Selbst wenn daher das Adreßsignal in einen kurzen Zyklus verändert wird oder wenn sogar ein Rauschen in den Adreßeingangsanschluß eingespeist wird, kann die interne Schaltung mit ausreichender Zeit initialisiert werden. Somit kann eine Schwankung der Zugriffzeit aufgrund der Wellenform des Adreßsignales entfernt werden, und weiterhin kann die Betriebsgeschwindigkeit des SRAM erhöht werden.
  • Die obigen und andere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden Detailbeschreibung von veranschaulichten Ausführungsbeispielen hiervon offenbar, welche im Zusammenhang mit den begleitenden Zeichnungen auszuwerten sind, in welchen gleiche Bezugszeichen verwendet werden, um die gleichen oder ähnliche Teile der verschiedenen Darstellungen zu identifizieren.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Fig. 1 ist ein Schaltungsdiagramm, das ein Beispiel einer herkömmlichen ATD-Schaltung zeigt;
  • Fig. 2 ist ein Zeitdiagramm, das einen Betrieb der herkömmlichen ATD- Schaltung zeigt;
  • Fig. 3 ist ein Schaltungsdiagramm, das eine Bitleitung und eine Datenleitung-Ausgleichschaltung des SRAM und von Peripherieschaltungen zeigt;
  • Fig. 4 ist ein Blockdiagramm, das eine Impulsgeneratorschaltung gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • Fig. 5 ist ein Zeitdiagramm, das einen Betrieb der Impulsgeneratorschaltung gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
  • Fig. 6 ist ein Blockdiagramm, das eine Impulsbreiten-Vergrößerungsschaltung gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • Fig. 7 ist ein Zeitdiagramm, das einen Betrieb der Impulsbreiten- Vergrößerungsschaltung gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • Fig. 8 ist ein Blockdiagramm, das eine Impulsbreiten-Generatorschaltung gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • Fig. 9 ist ein Zeitdiagramm, das einen Betrieb der Impulssummen- Generatorschaltung gemaß dem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
  • Fig. 10 ist ein Blockdiagramm, das eine Impulssummen-Generatorschaltung gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
  • Fig. 11 ist ein Zeitdiagramm, das einen Betrieb der Impulssummen- Generatorschaltung gemäß dem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • Fig. 12 ist ein Blockdiagramm, das eine Impulssummen-Generatorschaltung gemaß einem fünften Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindungzeigt;
  • Fig. 13 ist ein Schaltungsdiagramm, das einen Hauptteil einer Halbleiterspeichervorrichtung gemäß einem sechsten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, insbesondere eine Schaltungsanordnung, die ein Initialisierungssignal zum Initialisieren einer internen Schaltung liefert, zeigt;
  • Fig. 14 ist ein Zeitdiagramm, das einen Betrieb einer Schaltungsanordnung veranschaulicht, die ein Initialisierungssignal zum Initialisieren einer internen Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung gemäß dem sechsten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung erzeugt;
  • Fig. 15 ist ein Blockdiagramm, das eine Wellenform-Ausdehnschaltung gemäß dem sechsten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
  • Fig. 16 ist ein Zeitdiagramm, das einen Betrieb der Wellenform-Ausdehnschaltung gemäß dem sechsten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • Fig. 17A ist ein Kennliniengraph, der die Änderung einer ATD-Signalbreite relativ zu der Adreßrauschbreite gemäß dem Stand der Technik zeigt;
  • Fig. 17B ist ein Kennliniengraph, der die Änderung der Initialisierungssignalbreite relativ zu der Adreßrauschbreite gemäß dem Stand der Technik zeigt;
  • Fig. 18A ist ein Kennliniengraph, der die Änderung der ATD-Signalbreite relativ zu dem Adreßrauschen gemaß dem sechsten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt; und
  • Fig. 18B ist ein Kennliniengraph, der die Änderung der Initialisierungssignalbreite relativ zu dem Adreßrauschen gemäß dem sechsten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • DETAILBESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
  • Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden im folgenden anhand der Fig. 4 bis 18 beschrieben.
  • Fig. 4 ist ein Blockdiagramm, das eine Impulsgeneratorschaltung A gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • Diese Impulsgeneratorschaltung A ist mit der rückwärtigen Stufe der herkömmlichen Adreßübergangs-Detektorschaltung (im folgenden einfach als ATD-Schaltung bezeichnet) B verbunden. Eine Schaltungsanordnung der ATD-Schaltung B wird nunmehr beschrieben. Die ATD-Schaltung B umfaßt eine exklusive ODER-Schaltung 1 mit zwei Eingängen sowie eine erste Verzögerungsschaltung 2, die eine Verzögerungszeit T&sub1; hat. Ein Adreßsignal Sa von dem Adreßbus wird in einen Eingangsanschluß der exklusiven ODER-Schaltung 1 eingespeist, und ein Verzögerungssignal dSa, das auf einem Verzögern des Adreßsignales Sa durch die erste Verzögerungs schaltung 2 beruht, wird in den anderen Eingangsanschluß hiervon eingegeben.
  • Die Impulsgeneratorschaltung A gemäß diesem Ausführungsbeispiel umfaßt eine Flip-Flop-Schaltung mit Setz- und Rücksetz-Eingangsanschlüssen (im folgenden einfach als eine Flip-Flop-Schaltung bezeichnet) FF und eine zweite Verzögerungsschaltung 3. Ein Ausgangsanschluß der ATD- Schaltung B ist mit dem Setz-Eingangsanschluß der Flip-Flop-Schaltung FF verbunden, und das Ausgangssignal P der Flip-Flop-Schaltung FF wird in die zweite Verzögerungsschaltung 3 mit einer Verzögerungszeit T&sub2; eingegeben. Ein Verzögerungssignal dP von der zweiten Verzögerungsschaltung 3 wird zu dem Rücksetzanschluß R des Flip-Flops FF gespeist. Ein Ausgangsanschluß Q der Flip-Flop-Schaltung FF ist über einen Kontakt, wie einen Ausgangsanschluß φa der Impulsgeneratorschaltung A nach außen geführt.
  • In der so aufgebauten Impulsgeneratorschaltung A wird das Ausgangssignal P der Flip-Flop-Schaltung FF automatisch auf [0] rückgesetzt Das heißt, wenn das Ausgangssignal P auf einem logischen Wert [1] ist, dann wird das Signal einer logischen [1] über die zweite Verzögerungsschaltung 3 zu dem Rücksetzeingangsanschluß R der Flip-Flop-Schaltung FF übertragen, so daß das Ausgangssignal P auf [0] rückgesetzt ist. Demgemäß sollte bemerkt werden, daß die Impulsgeneratorschaltung A die Schaltung ist, die auf [0] mit der Verzögerungszeit T&sub2; der zweiten Verzögerungsschaltung 3 nach dem Anstieg des Ausgangssignales P rückgesetzt ist.
  • Der Betrieb der Impulsgeneratorschaltung A gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird nunmehr anhand eines Zeitdiagrammes von Fig. 5 beschrieben.
  • Wenn das Adreßsignal Sa, das in den Eingangsanschluß φin der ATD- Schaltung B eingespeist ist, zu einem Zeitpunkt t&sub1; verändert wird, wird aus dem ähnlichen Grund, der anhand des Betriebes des herkömmlichen Beispiels mit den Fig. 1 und 2 erläutert wurde, das Impulssignal einer positiven Polarität mit einer Impulsbreite T&sub1; (Signal, das eine Bezugsgröße des ATD-Signales wird), nämlich ein Signal Pa ausgegeben und auch in den Setz-Eingangsanschluß S der Flip-Flop-Schaltung FF eingespeist.
  • Wie oben beschrieben ist, wird das Impulssignal Pa in den Setz-Eingangsanschluß S der Flip-Flop-Schaltung FF eingespeist, wodurch das Ausgangssignal P der Flip-Flop-Schaltung FF zu einer logischen [1] invertiert wird.
  • Das Ausgangssignal der Flip-Flop-Schaltung FF wird durch die Verzögerungszeit T&sub2; der zweiten Verzögerungsschaltung 3 verzögert und dann in den Rücksetz-Eingangsanschluß R der Flip-Flop-Schaltung FF eingespeist, so daß das Ausgangssignal P der Flip-Flop-Schaltung FF zu einer logischen [0] invertiert wird. Somit wird das Impulssignal Pa mit der konstanten Impulsbreite t&sub2; von dem Ausgangsanschluß φa der Impulsgeneratorschaltung A ausgegeben.
  • Wenn das impulsförmige Signal mit einer Impulsbreite Δt, die kürzer als die Verzögerungszeit T&sub1; der ersten Verzögerungsschaltung 2 ist, in den Eingangsanschluß φin der ATD-Schaltung B eingespeist wird, so werden zwei Impulssignale mit der Impulsbreite Δt kontinuierlich von dem Ausgangsanschluß der ATD-Schaltung B zu einem Zeitintervall von T&sub1; ausgegeben, und gleichzeitig werden die beiden kontinuierlichen Impulssignale in den Setz-Eingangsanschluß S der Flip-Flop-Schaltung FF eingespeist.
  • Obwohl zu dieser Zeit das Ausgangssignal P zu einer logischen [1] abhängig von dem ersten Impulssignal invertiert ist, spricht ein derartiges Ausgangssignal nicht auf den zweiten Impuls an. Die Ursache hierfür liegt darin, daß eine Beziehung zwischen der Verzögerungszeit T&sub1; der ersten Verzögerungsschaltung 2 und der Verzögerungszeit T&sub2; der zweiten Verzögerungsschaltung 3 so eingestellt ist, daß T&sub2; > T&sub1; vorliegt. Selbst wenn daher das Potential an dem Setz-Eingangsanschluß S innerhalb der Verzögerungszeit T&sub2; verändert wird, wirkt sich die Änderung des Potentials nicht auf das Ausgangssignal P aus.
  • Das Ausgangssignal P von dem Ausgangsanschluß Q der Flip-Flop- Schaltung FF wird um die Verzögerungszeit T&sub2; der zweiten Verzögerungsschaltung 3 verzögert und in den Rücksetz-Eingangsanschluß R der Flip- Flop-Schaltung FF eingespeist, so daß das Ausgangssignal P der Flip- Flop-Schaltung FF zu einer logischen [0] invertiert wird. Somit wird ähnlich zu dem Fall des Zeitpunktes t&sub1; das Impulssignal P mit der konstanten Impulsbdreite T&sub2; von dem Ausgangsanschluß φa der Impulsgeneratorschaltung A ausgegeben.
  • Da, wie oben beschrieben ist, gemaß der Impulsgeneratorschaltung A des ersten Ausführungsbeispiels das Impulssignal (Signal, das eine Bezugsgröße für das ATD-Signal wird) von der ATD-Schaltung B in den Setz- Eingangsanschluß S eingespeist ist und das Ausgangssignal dP, das auf einem Verzögern des Ausgangssignales P der Flip-Flop-Schaltung FF durch die zweite Verzögerungsschaltung 3 beruht, in den Rücksetz- Eingangsanschluß R eingespeist ist, wird das Ausgangssignal P von der Flip-Flop-Schaltung FF an der Vorderfianke des ersten Adreßsignales Sa invertiert, das bei der Änderung einer Adresse erzeugt ist. Folglich wird nach der durch die zweite Verzögerungsschaltung 3 bestimmten konstanten Verzögerungszeit T&sub2; das Ausgangssignal der Flip-Flop-Schaltung FF erneut invertiert.
  • Das heißt, obwohl die Impulsgeneratorschaltung A auf die erste Änderung des Adreßsignales Sa anspricht, spricht sie nicht auf das Adreßsignal Sa an, das sich wieder innerhalb der konstanten Verzögerungszeit T&sub2; verändert. Demgemäß liefert die Impulsgeneratorschaltung A das Impulssignal P (Signal, das eine Bezugsgröße für das ATD-Signal wird) mit der konstanten Impulsbreite T&sub2; abhängig von lediglich der ersten Änderung des Adreßsignales Sa.
  • Eine Impulsbreiten-Vergrößerungs- bzw. Dehnschaltung C gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird im folgenden anhand der Fig. 6 und 7 beschrieben. In den Fig. 6 und 7 sind ähnliche Teile, die Teilen von Fig. 4 entsprechen, mit den gleichen Bezugszeichen versehen.
  • Wie in Fig. 6 gezeigt ist, umfaßt die Impulsbreiten-Dehnschaltung C eine Vielzahl von in Fig. 4 gezeigten Impulsgeneratorschaltungen A&sub1;, A&sub2;, A&sub3;, ..., An, die in Reihe über einer dritten Verzögerungsschaltung 11 angeschlossen sind, und eine ODER-Schaltung 12, die mit Ausgangsanschlüssen von diesen Impulsgeneratorschaltungen A&sub1;, A&sub2;, A&sub3;, ... An verbunden sind. Eine Verzögerungszeit T&sub3; der dritten Verzögerungsschaltung 11 ist so eingestellt, daß T&sub3; < T&sub2; vorliegt. Die herkömmliche ATD-Schaltung B (vgl. Fig. 1) ist mit der vorangehenden Stufe der Impulsgeneratorschaltung A&sub1; der ersten Stufe verbunden.
  • Der Betrieb der Impulsbreiten-Dehnschaltung C wird im folgenden anhand eines Zeitdiagrammes von Fig. 7 beschrieben. Wenn, wie in Fig.7 gezeigt ist, das zu dem Eingangsanschluß &phi;in der ATD-Schaltung B gespeiste Adreßsignal Sa verändert wird, wird gleichzeitig ein Impulssignal P&sub1; mit einer Impulsbreite T&sub2; von der Impulsgeneratorschaltung A&sub1; der ersten Stufe ausgegeben. Zu dieser Zeit wird das Impulssignal P&sub1; in die ODER- Schaltung 12 eingespeist, und ein Ausgangssignal Pc von dem Ausgangsanschluß &phi;c der ODER-Schaltung 12 wird beispielsweise auf einen hohen Pegel invertiert.
  • Das Impulssignal P&sub1; von der Impulsgeneratorschaltung A&sub1; der ersten Stufe wird um die Verzögerungszeit T&sub3; der dritten Verzögerungsschaltung 11 verzögert und in die Impulsgeneratorschaltung A&sub2; der zweiten Stufe eingespeist. Daher liefert die Impulsgeneratorschaltung A&sub1; ein Impulssignal P&sub2;, das zu einer mit der Zeit T&sub3; von der Vorderflanke des ersten Impulssignales P&sub1; verzögerten Zeit ansteigt und das eine Impulsbreite T&sub2; hat. Da in diesem Fall die Verzögerungszeit T&sub3; kürzer als die Impulsbreite T&sub2; eingestellt ist, überlappen das erste Impulssignal P&sub1; und das zweite Impulssignal P&sub2; einander teilweise unter einem zeitlichen Gesichtspunkt. Demgemäß wird das Ausgangssignal Pc von der ODER-Schaltung 12 noch auf einem hohen Pegel gehalten.
  • Ähnlich werden Impulssignale P&sub3;, ..., Pn sequentiell mit der Verzögerungszeit t&sub3; von der Impulsgeneratorschaltung A&sub3; zu der Impulsgeneratorschaltung An der n-ten Stufe (Endstufe) ausgegeben. Wenn dann kein Ausgangssignal von der Impulsgeneratorschaltung An der letzten Stufe ausgegeben wird, wird das Ausgangssignal Pc von der ODER-Schaltung 12 invertiert und nimmt einen niedrigen Pegel an. Demgemäß kann ein Impulssignal Pc, das an der Vorderflanke des Impulssignales P&sub1; von der Impulsgeneratorschaltung A&sub1; der ersten Stufe ansteigt, d.h., das gleichzeitig an der Vorderflanke des ATD-Signales Pa von der ATD-Schaltung B ansteigt und das eine Impulsbreite T&sub2; + (n-1)T&sub3; hat, von dem Ausgangsanschluß &phi;c der ODER-Schaltung 12 erhalten werden.
  • Da das Impulssignal P von der Impulsgeneratorschaltung A und die Signale, die auf einem sequentiellen Verzögern des Ausgangssignales P beruhen, gemäß der Impulsbreiten-Dehnschaltung C der vorliegenden Erfindung in die ODER-Schaltung 12 eingespeist werden, kann die Impulsbreite des Impulssignales P mit der konstanten Breite von der Impulsgeneratorschaltung A einfach vergrößert werden. Daher wird die Impulsbreiten-Dehnschaltung C wirksam, wenn das Impulssignal P mit der konstanten Breite von der Impulsgeneratorschaltung A nicht eine Impulsbreite aufweist, die ausreichend ist, so daß die interne Schaltung von beispielsweise dem SRAM nicht initialisiert werden kann.
  • Wenn in dem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung die Impulsgeneratorschaltungen A&sub2;, A&sub3;, ..., An der zweiten Stufe und der folgenden Stufen weggelassen werden, können die gleichen Ergebnisse erhalten werden. In diesem Fall kann wirksam vermieden werden, daß die Schaltungsanordnung komplex wird.
  • Eine Impulssummen-Generatorschaltung D gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird im folgenden anhand der Fig. 8 und 9 beschrieben. In den Fig. 8 und 9 sind ähnliche Teile, die Teilen von Fig. 4 und 6 entsprechen, mit den gleichen Bezugszeichen versehen.
  • Wie in Fig. 8 gezeigt ist, umfaßt die Impulssummen-Generatorschaltung D eine Vielzahl von Impulsgeneratorschaltungen A&sub1;, A&sub2;, A&sub3;, ..., An und eine ODER-Schaltung 12. Ausgangsanschlüsse von den Impulsgeneratorschaltungen A&sub1;, A&sub2;, A&sub3;, ..., An sind parallel mit der ODER-Schaltung 12 verbunden. Entsprechende ATD-Schaltungen B&sub1;, B&sub2;, B&sub3;, ..., Bn sind mit den Impulsgeneratorschaltungen A&sub1;, A&sub2;, A&sub3;, ..., An verbunden.
  • Der Betrieb der Impulssummen-Generatorschaltung D wird im folgenden anhand eines Zeitdiagrammes von Fig. 9 beschrieben. Wenn lediglich das Adreßsignal Sa1 zu einem Zeitpunkt t&sub1; verändert wird, wird das Impulssignal P&sub1; mit der Impulsbreite T&sub2; von der ersten Impulsgeneratorschaltung A&sub1; ausgegeben, und ein Ausgangssignal Pd mit der gleichen Wellenform wie die Wellenform des Impulssignales P&sub1; wird von dem Ausgangsanschluß &phi;d der ODER-Schaltung 12 geliefert.
  • Wenn das Adreßsignal Sa1 wieder zu einem Zeitpunkt t&sub2; verändert wird und das Adreßsignal Sa3 nach einer Zeit &Delta;t (&Delta;t < T&sub2;) geändert wird, so wird wiederum das Impulssignal P&sub1; von der ersten Impulsgeneratorschaltung A&sub1; ausgegeben, und das Impulssignal P&sub3; mit der Impulsbreite T&sub2; wird von der dritten Impulsgeneratorschaltung A&sub3; nach einer Zeit &Delta;t ausgegeben. Demgemäß wird das Ausgangssignal Pd, das zu einem Zeitpunkt t&sub2; ansteigt und das die Impulsbreite T&sub2; + &Delta;t hat, von dem Ausgangsanschluß &phi;d der ODER-Schaltung 12 geliefert.
  • Wenn lediglich das Adreßsignal Sa1 zu einem Zeitpunkt t&sub4; verändert wird, wird das Impulssignal P&sub2; mit der Impulsbreite T&sub2; von der zweiten Impulsgeneratorschaltung A&sub2; ausgegeben, und das Ausgangssignal Pd, das die gleiche Wellenform wie diejenige des Impulssignales P&sub2; hat, wird von dem Ausgangsanschluß &phi;d der ODER-Schaltung 12 abgegeben.
  • Wie oben beschrieben ist, kann die ODER-Schaltung 12 das Impulssignal Pd mit der konstanten Impulsbreite abhängig von der Änderung von wenigstens einem Adreßsignal einer Vielzahl von Adreßsignalen Sa1, Sa2, Sa3, ..., San erzeugen.
  • Wenn das Ausgangssignal Pd von der Impulssummen-Generatorschaltung D in das Signal einer negativen Polarität umgesetzt und als das ATD- Signal *RX oder *CX von der Zeilen-ATD-Steuerschaltung 113 oder der Spalten-ATD-Steuerschaltung 114 verwendet wird, wie dies in Fig. 3 gezeigt ist, dann kann die interne Schaltung des SRAM ausreichend initialisiert werden, und die Zugriffzeit des SRAM kann wirksam gesteigert werden.
  • Eine Impulssummen-Generatorschaltung E gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird im folgenden anhand der Fig. 10 und 11 beschrieben. In den Fig. 10 und 11 sind ähnliche Teile, die denjenigen der Fig. 6 und 8 entsprechen, mit den gleichen Bezugszeichen versehen.
  • Wie in Fig. 10 gezeigt ist, umfaßt die Impulssummen-Generatorschaltung E eine Vielzahl von Impulsbreiten-Dehnschaltungen C&sub1;, C&sub2;, C&sub3;, ..., Cn des zweiten Ausführungsbeispiels und eine ODER-Schaltung 21. Ausgangsanschlüsse der Impulsbreiten-Dehnschaltungen C&sub1;, C&sub2;, C&sub3;, ..., Cn sind mit der ODER-Schaltung 21 parallel verbunden. Entsprechende ATD- Schaltungen B&sub1;, B&sub2;, B&sub3;, ..., Bn sind jeweils mit den Impulsbreiten- Dehnschaltungen C&sub1;, C&sub2;, C&sub3;, ..., Cn verbunden.
  • Der Betrieb der Impulssummen-Generatorschaltung E wird im folgenden anhand eines Zeitdiagrammes von Fig. 11 erläutert. Wenn, wie in Fig. 11 gezeigt ist, lediglich das Adreßsignal Sa1 zu einem Zeitpunkt t&sub1; verändert wird, so erzeugt die erste Impulsbreiten-Vergrößerungsschaltung C&sub1; ein Impulssignal Pc1 mit der Impulsbreite T&sub2; + (n-1)T&sub3; (vgl. die Beschreibung des Betriebes der Impulsbreiten-Dehnschaltung C des zweiten Ausführungsbeispiels, das anhand der Fig. 6 und 7 erläutert ist). Ein Ausgangssignal Pe mit der gleichen Wellenform wie diejenige des Impulssignales Pc1 wird von dem Ausgangsanschluß &phi;e der ODER-Schaltung 21 ausgegeben.
  • Wenn das Adreßsignal Sa1 wieder im Zeitpunkt t&sub2; verändert wird und das Adreßsignal Sa3 nach einer Zeit &Delta;t (beispielsweise &Delta;t < T&sub2;) geändert wird, so wird das Impulssignal Pc1 wieder von der ersten Impulsbreiten- Dehnschaltung C&sub1; ausgegeben, und das Impuissignal Pc3 mit der Impulsbreite T&sub2; + (n-1)T&sub3; wird von der dritten Impulsbreiten-Dehnschaltung C3 nach einer Zeit &Delta;t geliefert. Demgemäß wird das Ausgangssignal Pe, das zu einem Zeitpunkt t&sub2; ansteigt und das die Impulsbreite &Delta;t + T&sub2; + (n-1)T&sub3; hat, von dem Ausgangsanschluß &phi;e der ODER-Schaltung 21 abgegeben.
  • Wenn lediglich das Adreßsignal Sa2 zu einem Zeitpunkt t&sub4; verändert wird, wird das Impulssignal der Impulsbreite T&sub2; + (n-1)T&sub3; von der zweiten Impulsbreiten-Dehnschaltung C2 ausgegeben, und das Ausgangssignal Pe mit der gleichen Wellenform wie diejenige des Impulssignales Pc2 wird von dem Ausgangsanschluß &phi;e der ODER-Schaltung 21 geliefert.
  • Auch im vierten Ausführungsbeispiel kann ähnlich wie im dritten Ausführungsbeispiel abhängig von der Änderung von wenigstens einem Adreßsignal einer Vielzahl von Adreßsignalen Sa1, Sa2, Sa3, ..., San die ODER- Schaltung 21 das Impulssignal (ATD-Signal) Pe mit der beliebigen Impulsbreite so ausreichend erzeugen, daß die interne Schaltung von beispielsweise dem SRAM initialisiert werden kann.
  • Eine Impulssummen-Generatorschaltung F gemäß einem fünften Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird im folgenden anhand der Fig. 12 beschrieben. In Fig. 12 sind ähnliche Teile, die Teilen von Fig. 6 und 8 entsprechen, mit den gleichen Bezugszeichen versehen.
  • Wie in Fig. 12 gezeigt ist, umfaßt die Impulssummen-Generatorschaltung F eine Vielzahl von Impulsgeneratorschaltungen A&sub1;, A&sub2;, A&sub3;, ..., An, eine ODER-Schaltung 12 und eine Impulsbreiten-Dehnschaltung C. Ausgangsanschlüsse der Impulsgeneratorschaltungen A&sub1;, A&sub2;, A&sub3;, ..., An sind mit der ODER-Schaltung 12 verbunden, und der Ausgangsanschluß der ODER- Schaltung 12 ist an die Impulsbreiten-Dehnschaltung C angeschlossen. Die entsprechenden ATD-Schaltungen B&sub1;, B&sub2;, B&sub3;, ..., Bn sind jeweils mit den Impulsgeneratorschaltungen A&sub1;, A&sub2;, A, ..., An verbunden.
  • Auch in der Impulssummen-Generatorschaltung F gemäß dem fünften Ausführungsbeispiel kann das Impulssignal Pf ähnlich zu demjenigen des vierten Ausführungsbeispiels von dem Ausgangsanschluß &phi;f der Impulsbreiten-Dehnschaltung C erhalten werden. Abhängig von der Änderung von wenigstens einem Adreßsignal einer Vielzahl von Adreßsignalen Sa1, Sa2, Sa3, ..., San kann die Impulsbreiten-Dehnschaltung C das Impulssignal (ATD-Signal) Pf mit der beliebigen Impulsbreite so ausreichend erzeugen, daß die interne Schaltung von beispielsweise dem SRAM initialisiert werden kann.
  • Eine Impulsgeneratorschaltung G gemäß einem sechsten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird anhand der Fig. 13 beschrieben. Fig. 13 ist ein Blockdiagramm, das einen Hauptteil einer Halbleiterspeichervorrichtung gemäß dem sechsten Ausführungsbeispiel, insbesondere eine Schaltungsanordnung, zeigt, die ein Initialisierungssignal zum Initialisieren der internen Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung erzeugen kann.
  • Eine Schaltung, die ein Initialisierungssignal erzeugt, umfaßt Adreßübergangs-Detektorschaltungen (im folgenden einfach als ATD-Schaltungen bezeichnet) 21, die entsprechend mit einer Vielzahl von Adreßleitungen (in diesem Ausführungsbeispiel lediglich einer Adreßleitung AL&sub1;, wie dies zur Vereinfachung gezeigt ist) und einer Synthesizerschaltung 22 zum Berechnen einer Summe der ATD-Signale von den jeweiligen ATD- Schaltungen 21 verbunden sind. In Fig. 13 gibt ein Bezugszeichen 23 einen Adreßpuffer an.
  • Die ATD-Schaltung 21 umfaßt eine exklusive ODER-Schaltung 24 mit zwei Eingängen und eine erste Verzögerungsschaltung 25 mit einer Verzögerungszeit T&sub1;. Ein Adreßsignal Sa1 von der Adreßleitung AL&sub1; wird in den Eingangsanschluß der exklusiven ODER-Schaltung 24 eingespeist, und ein Verzögerungssignal dS, das auf einem Verzögern des Adreßsignales Sa1 durch die erste Verzögerungsschaltung 25 beruht, wird in den anderen Eingangsanschluß hiervon eingespeist. Ein ATD-Signal (ATD-Signal ist durch das Bezugssymbol Pa1 bezeichnet, da die erste Adreßleitung in diesem Ausführungsbeispiel beschrieben ist) entsprechend der Änderung der Adresse wird von dem Ausgangsanschluß der ATD-Schaltung 21 ausgegeben. Die Synthesizerschaltung 22 wird aus beispielsweise einer NAND- Schaltung gebildet. Die Synthesizerschaltung 22 berechnet allgemein eine Summe der ATD-Signale aus den jeweiligen ATD-Schaltungen 21 und setzt auch das Signal in das Signal einer negativen Polarität um und liefert dasselbe als das in Fig. 3 gezeigte Initialisierungssignal *RD oder *CD.
  • In diesem Ausführungsbeispiel liegt eine Impulsgeneratorschaltung 26, die die Impulsbreite des ATD-Signales konstant macht, zwischen den ATD- Schaltungen 21 und der Synthesizerschaltung 22 (lediglich eine Impulsgeneratorschaltung 26 entsprechend einer Adreßschaltung AL&sub1; ist in Fig. 13 gezeigt). Wie in Fig. 13 gezeigt ist, umfaßt die Impulsgeneratorschaltung 26 eine Verriegelungsschaltung 27, gebildet aus zwei N-Kanal- Transistoren Q1, Q2, einem P-Kanal-Transistor Q3 und zwei Invertern G1, G2, sowie eine Verzögerungsschaltung 28, die aus drei Invertern G3, G4, G5 gebildet ist.
  • Von den beiden N-Kanal-Transistoren Q1 und Q2 ist ein Gate von einem Transistor Q1 an den Ausgang der ATD-Schaltung 21 angeschlossen, eine Source-Elektrode hiervon ist mit der Eingangsleitung der Verriegelungsschaltung 27 über einen Knoten a verbunden, und eine Drain-Elektrode hiervon ist an eine Drain-Elektrode des anderen N-Kanal-Transistors Q2 angeschlossen. Eine Source-Elektrode des Transistors Q2 ist geerdet, und eine Gate-Elektrode hiervon ist mit dem Ausgang der zweiten Verzögerungsschaltung 28 über einen Knoten d verbunden.
  • Eine Drain-Elektrode des P-Kanal-Transistors Q3 ist mit dem positiven Spannungsquellenanschluß Vcc verbunden, eine Source-Elektrode hiervon ist an die Eingangsleitung der Verriegelungsschaltung 27 über den Knoten a angeschlossen, und ein Gate hiervon ist mit dem Ausgang der zweiten Verzögerungsschaltung 28 verbunden.
  • In dieser Impulsgeneratorschaltung 26 sind die Verriegelungsschaltung 27 und die zweite Verzögerungsschaltung 28 über einen Knoten b verbunden, und der Ausgangsanschluß hiervon ist nach außen von dem Zwischenteil der zweiten Verzögerungsschaltung 28, d.h. dem Ausgang des zweiten Inverters G4 der die zweite Verzögerungsschaltung 28 verbindenden drei Inverter G3, G4, G5 über einen Knoten c geführt.
  • Der Betrieb der Impulsgeneratorschaltung 26 wird anhand eines Zeitdiagrammes von Fig. 14 näher beschrieben.
  • Unter der Bedingung, daß das zu dem Eingangsanschluß &phi;in der Adreßleitung AL&sub1; gespeiste Adreßsignal Sa1 keine Änderung aufweist, d.h., unter der Bedingung, daß keine Adreßänderung vorliegt, sind die Knoten a und d beide auf einem hohen Pegel, so daß die Transistoren Q3 und Q2 aus- bzw. eingeschaltet werden. Die Pegel der Knoten a und d sind durch die Verriegelungsschaltung 27 stabilisiert.
  • Wenn die Adreßänderungen zu einem Zeitpunkt t&sub1; auftreten und das ATD- Signal Pa1 von der ATD-Schaltung 21 in Gate des Transistors Q1 eingespeist wird, so wird der Transistor Q1 eingeschaltet, so daß der Knoten a auf einen niedrigen Pegel invertiert wird. Diese Pegeländerung wird über den Inverter G1 der Verriegelungsschaltung 27 und die drei Inverter G3, G4, G5 der zweiten Verzögerungsschaltung 28 zu dem Knoten d übertragen, so daß der Knoten d auf einen niedrigen Pegel invertiert wird.
  • Wenn der Knoten d auf einen niedrigen Pegel übergeht, wird der Transistor Q3 eingeschaltet, und der Transistor Q2 wird ausgeschaltet, so daß der Knoten a auf die Hochpegelseite angehoben wird. Wenn der Knoten a auf den hohen Pegel übergeht, so wird diese Pegeländerung über den Inverter G1 der Verriegelungsschaltung 27 und die drei Inverter G3, G4, G5 der zweiten Verzögerungsschaltung 28 zu dem Knoten d übertragen, so daß der Transistor Q3 ausgeschaltet wird und eine Betriebsreihe endet. Während dieses Betriebes wird ein Impulssignal P&sub1; von dem Knoten c erzeugt und dann von dem Ausgangsanschluß ausgegeben. Dieses Impulssignal P&sub1; hat eine Impulsbreite, die durch eine Zeit t&sub2; bestimmt wird, während welcher sich das Impulssignal P&sub1; über die Knoten b, c und d zu dem Knoten a ausbreitet. Eine derartige Impulsbreite wird eine konstante Impulsbreite.
  • Wenn das impulsförmige Signal mit der Impulsbreite &Delta;t, die kürzer als die Verzögerungszeit T&sub1; der ersten Verzögerungsschaltung 22 ist, in die ATD- Schaltung 21 zu einem Zeitpunkt t&sub2; eingespeist wird, so liefert die ATD- Schaltung 21 kontinuierlich zwei Ausgangssignale mit der Impulsbreite &Delta;t zu einem Zeitintervall der Verzögerungszeit T&sub1;. Zur selben Zeit werden die beiden kontinuierlichen Impulse in das Gate des Transistors Q1 eingespeist.
  • Obwohl zu dieser Zeit der Pegel des Knotens c auf Hoch durch das erste Impulssignal invertiert ist, spricht er nicht auf das zweite Impulssignal an. Die Ursache hierfür liegt darin, daß, nachdem die Änderung des Knotens auf den niedrigen Pegel durch das erste Impulssignal über die Knoten b, c und d übertragen ist und der Knoten a auf einen hohen Pegel übergeht, diese Pegeländerung wiederum über die Knoten b und c zu dem Knoten d übertragen wird. Obwohl daher das Potential am Gate des Transistors Q1 innerhalb einer Zeit T&sub3; (> T&sub1;) verändert wird, während welcher der Transistor Q2 eingeschaltet wird, so wirkt sich eine derartige Änderung nicht auf den Pegel des Knotens c aus. Dann wird der Transistor Q2 eingeschaltet, und eine Betriebsreihe endet. Während dieses Betriebs wird ein Impulssignal P&sub1; von dem Knoten c erzeugt und dann von dem Ausgangsanschluß ausgegeben. Dieses Impulssignal P&sub1; hat eine Impulsbreite, die durch die Zeit T&sub2; bestimmt ist, während welcher sich das Signal am Knoten a zu dem Knoten a wieder über die Knoten b, c und d ausbreitet. Eine derartige Impulsbreite wird eine konstante Impulsbreite.
  • Impulssignale P (P&sub1;, P&sub2;, ..., Pn) von den Impulsgeneratorschaltungen 26, die zusammen mit einer Vielzahl von Adreßleitungen vorgesehen sind, werden zu der Synthesizerschaltung 22 der folgenden Stufe gespeist, und ein Initialisierungssignal S wird von der Synthesizerschaltung 22 ausgegeben.
  • Wenn die Impulssignale (P&sub1;, P&sub2;, ..., Pn) von den jeweiligen Impulsgeneratorschaltungen 26 nicht ausreichende Impulsbreiten haben, so daß die interne Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung initialisiert werden kann, kann eine Wellenform-Dehnschaltung 29 an die folgende Stufe der Impulsgeneratorschaltung 26 angeschlossen werden, wie dies in Fig. 13 gezeigt ist. Da in diesem Fall die Impulsbreite des Impulssignales P&sub1; von der Impulsgeneratorschaltung 26 garantiert ist, kann die Wellenform- Dehnschaltung 29 aus einer einfachen Schaltung gebildet werden.
  • Wie beispielsweise in Fig. 15 gezeigt ist, umfaßt die Wellenform- Dehnschaltung 29 eine Konstantstromquelle 31, die aus P-Kanal- Transistoren einer Mehrfachstufe in Reihenschaltung gebildet ist, eine Schalteinheit 32, die aus einer Anzahl von parallel verbundenen N-Kanal- Transistoren besteht, und einen Kondensator C, der durch die Auslegung der Verdrahtung erzeugt ist. Die Schalteinheit 32 und die Konstantstromquelle 31 sind mit dem Knoten e verbunden, und ein Ausgangssignal von dem Knoten e wird zu einem negativen Anschluß eines Vergleichers 33 der rückwärtigen Stufe gespeist. Ein Bezugspotential Vr liegt an einem positiven Anschluß des Vergleichers 33.
  • In diesem Ausführungsbeispiel ist eine Vielzahl von Adreßleitungen in Blöcke von jeweils mehreren Blöcken getrennt, und eine Wellenform- Dehnschaltung 29 ist bei jedem Block vorgesehen. Die Impulssignale P&sub1;, P&sub2;, ..., Pj von den Impulsgeneratorschaltungen 26 in den entsprechenden Blöcken werden in die jeweiligen Wellenform-Dehnschaltungen 29 eingespeist. Demgemäß sind zu der Synthesizerschaltung 22 der folgenden Stufe Impulssignale Pa1, Ps2, ..., Psm von den jeweiligen Wellenform- Dehnschaltungen 29 gespeist.
  • Der Betrieb der Wellenform-Dehnschaltung 29 wird im folgenden anhand eines Zeitdiagrammes von Fig. 16 beschrieben.
  • Unter der Bedingung, daß keine Adreßänderung vorliegt, ist das Ausgangssignal von dem Knoten e auf einem hohen Pegel, so daß das Ausgangssignal Ps1 des Vergleichers 33 auf einen hohen Pegel übergeht. Wenn beispielsweise das zu der Adreßleitung AL&sub1; gespeiste Adreßsignal Sa1 verändert wird, wie dies oben beschrieben ist, wird ein Impulssignal P mit der konstanten Impulsbreite T&sub2; von der Impulsgeneratorschaltung 26 ausgegeben. Als eine Folge geht der Knoten e auf einen niedrigen Pegel auf der Grundlage der Vorderflanke o des Impulssignales P&sub1; über. Wenn der Pegel des Knotens e unter das Bezugspotential VR abgesenkt wird, wird der Pegel des Vergleichers 33 nach niedrig invertiert. Wenn der Pegel des Impulssignales P&sub1; wieder nach der Zeit T&sub2; abgesenkt wird, wird der entsprechende Transistor der Schalteinheit 22 ausgeschaltet, um den Pegel des Knotens e auf die Hochpegelseite anzuheben.
  • Zu dieser Zeit wird durch die durch den Innenwiderstand des P-Kanal- Transistors, der die Konstantstromquelle bildet, und den Kondensator c bestimmte Zeitkonstante die Vorderflanke des Knotens e abgeschwächt, um so eine gewisse Zeit zu erfordern, bis der Pegel des Knotens e höher als das Bezugspotential Vr wird. Indem diese Zeit als Zeit T&sub4; bestimmt wird, wird die Zeit T&sub4; länger als die Breite T&sub2; des Impulssignales P&sub1; von der Impulsgeneratorschaltung 26 eingestellt, indem in geeigneter Weise die Anzahl der Stufen des P-Kanal-Transistors gewählt wird.
  • Wenn, wie oben beschrieben ist, der Pegel des Knotens e höher als das Bezugspotential Vr wird, dann wird das Ausgangssignal Ps1 des Vergleichers 33 auf einen hohen Pegel invertiert, und eine Betriebsreihe wird beendet. Während dieses Betriebes liefert der Vergleicher 33 ein Impulssignal Ps1 einer negativen Polarität mit einer Impulsbreite T&sub4;. Die Wellenform-Dehnschaltung 29 dient auch als eine Schaltung, die eine Summe der Impulssignale P&sub1;, P&sub2;, ..., Pn von den jeweiligen Impulsgeneratorschaltungen 26 berechnet. Nachdem eine Adresse verändert ist, wird, wenn eine solche Adresse innerhalb der Zeit T&sub4; geändert wird oder wenn eine andere Adresse verändert wird, die Breite des Impuissignales Ps1, das von dem Vergleicher 33 ausgegeben ist, zu einer Breite, die auf einem Addieren einer Zeit von der ersten Adreßänderung zu der nächsten Adreßänderung zu der Zeit T&sub4; beruht.
  • Die Synthesizerschaltung 22 der folgenden Stufe empfängt die Impulssignale P&sub1;, P&sub2;, ..., Pn von den Impulsgeneratorschaltungen 26 entsprechend einer Vielzahl von Adreßleitungen oder die Impulssignale Ps1, Ps2, Psn von den Wellenform-Dehnschaltungen 29. Dann berechnet die Synthesizerschaltung 29 eine Summe von diesen Impulssignalen und gibt dieselbe als das Initialisierungssignal S für die interne Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung aus. Unter der Annahme, daß das Initialisierungssignal S mit dem Signal *RX oder *CX, wie in Fig. 3 gezeigt ist, angepaßt ist, kann in diesem Fall, wenn die Impulssignale P (P&sub1;, P&sub2;, ....) von den Impulsgeneratorschaltungen 26 oder Impulssignale Ps (Ps1, Ps2, ...) von den Wellenform-Dehnschaltungen 29 in der Polarität negativ sind, die Synthesizerschaltung 22 aus einer Mehreingang-NAND-Schaltung und einem Inverter gebildet werden. Wenn weiterhin die Impulssignale P (P&sub1;, P&sub2;, ...) von der Impulsgeneratorschaltung 26 oder der Impulssignale Ps (Ps1, Ps2, ...) von der Wellenform-Dehnschaltung 29 in der Polarität negativ sind, kann die Synthesizerschaltung 22 aus einer Mehreingang-NOR-Schaltung gebildet werden.
  • Weiterhin können die Impulssignale P&sub1;, P&sub2;, ..., Pn von den Impulsgeneratorschaltungen 26 bezüglich allen Adreßleitungen in die Wellenform- Dehnschaltung 29 eingespeist werden. In diesem Fall kann eine Synthesizerschaltung 22 vorgesehen werden.
  • Da, wie oben beschrieben ist, gemäß diesem Ausführungsbeispiel die Impuisgeneratorschaltung 26 zum Konstantmachen der Impulsbreite des ATD-Signales Pa1 zwischen der ATD-Schaltung 21 und der Synthesizerschaltung 22 angeschlossen ist, ist es möglich, die konstante Impulsbreite des ATD-Signales Pa1 als eine Bezugsgröße für das Initialisierungssignal S zu nehmen, das zum Initialisieren (Rücksetzen und Ausgleichen) der internen Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung notwendig ist.
  • Als ein Ergebnis kann das Initialisierungssignal S mit der ausreichenden Impulsbreite erhalten werden, so daß die interne Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung initialisieret werden kann. Selbst wenn daher das Impulssignal, das eine Impulsbreite hat, die unzureichend ist, damit die interne Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung initialisiert werden kann, als das Adreßsignal eingespeist wird, ist es möglich, das Initialisierungssignal S mit der notwendigen Impulsbreite zu erhalten.
  • Da in der herkömmlichen ATD-Schaltung 21, wie dies in einer Kennlinienkurve von Fig. 17A gezeigt ist, die Impulsbreite des ATD-Signales Pa kontinuierlich bezüglich der Änderung der Breite eines Adreßrauschens verändert wird, wird auch das Initialisierungssignal S kontinuierlich in ähnlicher Weise zu dem ATD-Signal Pa verändert (vgl. Fig. 17B). Wenn insbesondere ein Adreßrauschen (beispielsweise ein feiner Einbruch oder ein Zufallsfehler mit einer Breite von etwa 5 ns) in einem Strichlinienbereich eingegeben wird, können das ATD-Signal Pa mit der für die Initialisierung der internen Schaltung notwendigen Breite und das Initialisierungssignal S nicht erhalten werden.
  • Obwohl die Impulsbreite des ATD-Signales Pa kontinuierlich bezüglich der Änderung der Breite des Adreßrauschens verändert wird, wie dies in einer charakteristischen Kurve von Fig. 18A gezeigt ist, wird andererseits gemäß diesem Ausführungsbeispiel die Impulsbreite des ATD-Signales Pa durch die Impulsgeneratorschaltung 26 der folgenden Stufe auf einen konstanten Wert korrigiert. Daher wird, wie in einer charakteristischen Kurve von Fig. 18B gezeigt ist, die Impulsbreite des Initialisierungssignales S in einer diskreten Weise verändert, so daß, selbst wenn das Adreßrauschen mit der Breite von etwa 5 ns eingegeben wird, die Impulsbreite des Initialisierungssignales S konstant wird und das Initialisierungssignal S mit einer Impulsbreite erhalten werden kann, die ausreichend ist, damit die interne Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung initialisiert werden kann.
  • Wenn demgemäß das Adreßsignal in einem kurzen Zyklus verändert wird oder wenn ein Rauschen in den Adreßeingangsanschluß eingegeben wird, so kann die interne Schaltung mit ausreichender Zeit initialisiert werden. Somit können eine Fluktuation einer Zugriffzeit und eine Fehlfunktion aufgrund der Wellenform des Adreßsignales entfernt werden. Auch kann die Halbleiterspeichervorrichtung mit hoher Geschwindigkeit betrieben werden. Wenn weiterhin ein PWL- bzw. Leistungspegel-Zeitgeber verwendet und durch das Initialisierungssignal aktiviert wird, kann ein Fehler im Auslesebetrieb aufgrund der unzureichenden Betriebsperiode des PWL- Zeitgebers verhindert werden.
  • Während bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der begleitenden Zeichnungen beschrieben sind, ist es selbstverständlich, daß die Erfindung nicht auf diese genauen Ausführungsbeispiele beschränkt ist und daß verschiedene Änderungen und Modifikationen durch den Fachmann vorgenommen werden können, ohne von dem Bereich der Erfindung abzuweichen, wie dieser in den beigefügten Patentansprüchen festgelegt ist.

Claims (3)

1. Halbleiterspeichervorrichtung mit Adreßübergangs- Detektorschaltungen (B1, B2, ...), die jeweils mit einer Vielzahl von Adreßleitungen verbunden sind und wobei jede Adreßübergangs- Detektorschaltung (B1,B2,...) eine erste Verzögerungsschaltung (2) und eine Synthesizerschaltung (12;21;22) hat, die mit einer folgenden Stufe der Adreßübergangs-Detektorschaltungen verbunden ist und eine Summe von Adreßübergangs-Detektorsignalen (P1, P2, ...) von den jeweiligen Adreßübergangs-Detektorschaltungen (B1,B2,...) berechnet, um dadurch eine interne Schaltung der Halbleiterspeichervorrichtung auf der Grundlage eines Ausgangssignales (PD; Pe; S) von der Synthesizerschaltung (12;21;22) rückzusetzen oder auszugleichen, dadurch gekennzeichnet, daß eine Impulsgeneratorschaltung (A1,A2,...; C1,C2, ...; 26, 29) jeweils zwischen den Adreßübergangs- Detektorschaltungen (B1,B2,...) und der Synthesizerschaltung (12;21;22) angeschlossen ist, wobei die Impulsgeneratorschaltung abhängig von jedem eingespeisten Adreßübergangs-Detektorsignal ein Ausgangssignal (P1,P2,...) mit einer konstanten Impulsbreite und abhängig von der ersten Änderung des Adreßsignales auf der jeweiligen Adreßleitung erzeugt.
2. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Impulsgeneratorschaltung eine Flip-Flop-Schaltung (FF) und eine zweite Verzögerungsschaltung (3) aufweist, die Flip-Flop-Schaltung (FF) einen ersten Eingangsanschluß (S), zu dem ein Steuersignal (Pa) zum Setzen eines Ausgangssignales (P) der Flip-Flop-Schaltung (FF) auf einen ersten logischen Wert als ein Triggerimpulssignal eingespeist ist, einen zweiten Eingangsanschluß (R), zu dem ein Steuersignal zum Setzen des Ausgangssignales (P) auf einen zweiten logischen Wert eingespeist ist, hat, wobei ein Signal, das auf einem Verzögern des Ausgangssignales (P) der Flip-Flop-Schaltung durch die zweite Verzögerungsschaltung (3) beruht, in den zweiten Eingangsanschluß (R) eingespeist ist und das Ausgangssignal (P) der Flip-Flop- Schaltung (FF) zu der Synthesizerschaltung (12) ausgegeben ist und die Verzögerungszeit (T2) der zweiten Verzögerungsschaltung (3) länger als eine Verzögerungszeit (T1) jeder der ersten Verzögerungsschaltungen (2) eingestellt ist.
3. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Impulsgeneratorschaltung (C1,C2,...) eine Impulsbreiten-Dehnschaltung aufweist, umfassend:
- eine ODER-Schaltung (12), die eine Vielzahl von Eingangsanschlüssen hat und eine Summe von allen ihren Eingangssignalen (P1,P2,...) bildet,
- wenigstens eine Generatorschaltung (A1,A2,A3) für konstante Impulsbreite mit:
- einer Flip-Flop-Schaltung (FF) und einer zweiten Verzögerungsschaltung (3), wobei die Flip-Flop-Schaltung (FF) einen ersten Eingangsanschluß (S), zu dem ein Steuersignal (Pa) zum Setzen eines Ausgangssignales (P) der Flip-Flop- Schaltung (FF) auf einen ersten logischen Wert als ein Triggerimpulssignal eingespeist ist, einen zweiten Eingangsanschluß (R), zu dem ein Steuersignal zum Setzen des Ausgangssignales (P) auf einen zweiten logischen Wert eingespeist ist, hat, ein Signal, das auf einem Verzögern des Ausgangssignales (P) der Flip-Flop-Schaltung durch die zweite Verzögerungsschaltung (3) beruht, in den zweiten Eingangsanschluß (R) eingespeist ist, das Ausgangssignal (P) der Flip-Flop- Schaltung (FF) mit einem ersten Eingangsanschluß der ODER-Schaltung (12) gekoppelt ist und ein verzögertes Signal von wenigstens einer der Generatorschaltungen für konstante Impulsbreite mit wenigstens einem zweiten Eingangsanschluß der ODER-Schaltung (12) gekoppelt ist und wobei das verzögerte Signal durch eine dritte Verzögerungsschaltung (11) vorgesehen ist, deren Verzögerungszeit (T3) kürzer als die Verzögerungszeit (T2) der zweiten Verzögerungsschaltung (3) ist.
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