DE60016678T2

DE60016678T2 - Anzeigeeinheit, selbige verwendendes elektronisches Gerät, und Verfahren zur Inspektion der Anzeigeeinheit

Info

Publication number: DE60016678T2
Application number: DE60016678T
Authority: DE
Inventors: Shigeki Suwa-shi Aoki
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 1999-08-12
Filing date: 2000-08-09
Publication date: 2005-10-06
Anticipated expiration: 2020-08-10
Also published as: JP2001051644A; EP1076292B1; DE60040761D1; EP1320084A2; US6657648B1; US20040066382A1; EP1076292A2; KR20010021274A; EP1988540A3; CN1163043C; EP1076292A3; EP1320084B1; EP1988540A2; US7129936B2; DE60016678D1; USRE42569E1; EP1320084A3; CN1284808A; KR100380258B1; JP3815131B2

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG
Gebiet der Erfindung.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Anzeigeeinheit, die eine integrierte Anzeigetreiberschaltung (Anzeigetreiber-IC) und eine die Anzeigetreiber-IC steuernde MPU enthält, ein die Anzeigeeinheit verwendendes elektronisches Gerät sowie ein Verfahren zum Prüfen der Anzeigeeinheit.
Beschreibung des einschlägigen Stands der Technik
1 ist eine schematische Schnittansicht einer Anzeigeeinheit eines Mobiltelefons. Wie aus 1 hervorgeht, weist die Anzeigeeinheit des Mobiltelefons ein Flüssigkristallmodul 20 auf, für das eine Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 mit eingebauter Prüfschaltung verwendet ist, eine Leiterplatte 30 mit darauf angebrachter MPU 300 sowie einen Verbinder 40, der das Flüssigkristallmodul 20 und die Leiterplatte 30 elektrisch miteinander verbindet. Der Verbinder 40 besteht aus einem elastischen Verbindungsglied (Zebragummi), welches zum Beispiel abwechselnd gebildete leitfähige Teile und isolierende Teile hat. Das elastische Verbindungsglied 40 ist aus leitfähigen Teilen und isolierenden Teilen gebildet, die abwechselnd schichtartig in Längsrichtung von der Rückseite zur Vorderseite der Zeichnung in 1 angeordnet sind. Die Anschlüsse des Flüssigkristallmoduls 20 und die Anschlüsse der Leiterplatte 30 sind durch gleichmäßiges Aufbringen von Druck auf das elastische Verbindungsglied 40 in Längsrichtung elektrisch verbunden.
Das Flüssigkristallmodul 20 hat einen Flüssigkristallanzeigeabschnitt 28, in dessen Aufbau ein Flüssigkristall 26 zwischen zwei Glasträgern 22 und 24 abgedichtet ist. Die Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 ist auf dem verlängerten Teil des Substrats 24 angebracht.
Wenn der auf das elastische Verbindungsglied 40 aufgebrachte Druck nicht gleichmäßig ist, wird die Verbindung zwischen dem Flüssigkristallmodul 20 und der Leiterplatte 30 fehlerhaft.
Eine Überprüfung der Verbindung ist üblicherweise so durchgeführt worden, daß die Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 anhand eines Signals von der MPU 300 angesteuert wurde, um die Anzeigemuster auf dem Flüssigkristallanzeigeabschnitt 28 zu zeigen und diese Muster visuell zu prüfen.
Das Herstellungsverfahren für diese Art von Anzeigeeinheit ist mit Ausnahme des vorstehend beschriebenen visuellen Prüfverfahrens vollständig automatisiert worden. Nur das Prüfverfahren kann nicht automatisiert werden, weil es die visuelle Inspektion erfordert. Da außerdem eine fehlerhafte Verbindung aus Versehen beim visuellen Prüfen übersehen werden kann, muß diese Art der Prüfung hinsichtlich der Genauigkeit verbessert werden.
Außerdem erfordert es die Vertriebsstrategie von Herstellern elektronischer Geräte zum Befriedigen des Bedarfs von Endverbrauchern, verschiedene Typen von Anzeigeeinheiten zu fertigen, die jeweils unterschiedliche Spezifikationen hinsichtlich des Anzeigevolumens, der B1ldschirmgröße und sonstiger Posten haben. Wenn in diesem Fall die Teile gemäß unterschiedlichen Spezifikationen getrennt hergestellt werden, führt die erhöhte Anzahl an zu fertigenden Teilen nicht nur zu erhöhten Kosten, sondern erschwert auch die Handhabung der Teile.
Die Veröffentlichung von Erhart, A. et al. "P-9: LCD Drivers with Built-in Self-Test" SID International Symposium – Digest of Technical Papers, Seattle, Playa Del Rey, SID, US, vol. 1 VOL. 24, 16. Mai 1993 (1993-05-16), SS. 479–482, XP000470765 ISSN: 0097–966X offenbart LCD-Treiber mit eingebauter Fähigkeit zur Selbstprüfung. In dieser Veröffentlichung beschriebene LCD-Treiberchips führt Selbstprüfungen durch, um interne IC-Schaltkreise und I/O-Anschlußfähigkeit einschließlich aller Anzeigeverbindungen zu überprüfen. Eine spezielle Schaltkreisanordnung ist vorgesehen, um die Verbindungen vom Anzeigetreiber zur Anzeige zu überprüfen. Die Treiber-ICs haben eine IEEE 1149.1 kompatible Schnittstelle. Über diesen Prüfanschluß können sämtliche verschiedenen Prüfmerkmale ausgeführt werden, einschließlich einer Grenzabtastung des System-I/O, der eingebauten Selbstprüfung der internen IC-Schaltkreisanordnung und die Anschließbarkeitsprüfung der Anzeige. Die Grenzabtastprüfung wird angewandt, um die gegenseitige Verbindung zwischen dem Anzeigetreiber und der Systemsteuerschnittfläche zu prüfen. In diesem Stand der Technik wird nichts über das Prüfen von Verbindungen durch einen Verbinder offenbart.
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine Anzeigeeinheit bereitzustellen, in der fehlerhafte Verbindungen des Verbinders automatisch geprüft werden können, ein elektronisches Gerät, in welchem eine solche Anzeigeeinheit verwendet ist, sowie ein Verfahren zum Prüfen der Anzeigeeinheit.
Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Anzeigeeinheit zu schaffen, die Anomalitäten in der Ausgabe der Spannungserhöhungsschaltung oder Ausgabe des Schwingkreises während des Prüfverfahrens auf fehlerhafte Verbindungen des Verbinders prüfen kann oder die ID der Anzeigetreiber-IC lesen kann, ein elektronisches Gerät, in dem eine solche Anzeigeeinheit verwendet ist, sowie ein Verfahren zum Prüfen der Anzeigeeinheit.
Weiterer Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung einer Anzeigeeinheit, in der die MPU gemeinsam auf eine Vielzahl von Typen von Anzeigetreiber-ICs verwendet werden kann und einen Steuerinhalt für die eingebauten Anzeigetreiber-ICs korrekt setzen kann, ein elektronisches Gerät, in dem eine solche Anzeigeeinheit verwendet ist, und ein Verfahren zum Prüfen der Anzeige einheit.
Diese Ziele werden mit einer Anzeigeeinheit gemäß Anspruch 1 und einem Verfahren gemäß Anspruch 8 erreicht. Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung sind der Gegenstand der abhängigen Ansprüche.
Die Anzeigetreiber-IC weist eine Spannungserhöhungsschaltung (Boostschaltung) auf, die Spannungen erzeugt, welche dem Anzeigetreiber durch Erhöhen der Spannung zugeführt werden sollen. Die Spannungserhöhungsschaltung ist mit mindestens einem Spannungserhöhungskondensator über den Verbinder verbunden. Andererseits weist die Prüfschaltung eine Vergleichsschaltung auf, die eine Ausgabe der Spannungserhöhungsschaltung mit einem Bezugswert vergleicht; und eine Verriegelungsschaltung, die einen Auswahlzustand in einem Zeitpunkt, wo die Ausgabe der Spannungserhöhungsschaltung unter den Bezugswert sinkt, gemäß einem Vergleichsergebnis der Vergleichsschaltung einklinkt.
In der Anzeigeeinheit mit diesem Aufbau kann die MPU einen Prüfbefehl zum Überwachen einer Ausgabespannung der von einem Spannungserhöhungstakt im Prüfmodus angesteuerten Spannungserhöhungsschaltung senden und dann nach dem Abwarten mindestens einer Periode des Spannungserhöhungstaktes das Prüfergebnissignal lesen.
Dadurch wird der Auswahlzustand von der Verriegelungsschaltung eingeklinkt, wenn mindestens ein Spannungserhöhungskondensator wegen einer fehlerhaften Verbindung nicht normal mit der Spannungserhöhungsschaltung verbunden ist. In dieser nicht normalen Situation tritt unweigerlich während einer Periode des Spannungserhöhungstaktes der oben beschriebene Auswahlzustand ein. Deshalb kann die fehlerhafte Verbindung festgestellt werden, wenn die MPU das Prüfergebnissignal nach einer Periode des Spannungserhöhungstaktes oder einer längeren Zeit liest.
Gemäß der vorliegenden Erfindung liest die MPU das Prüfergebnissignal, welches über die Schnittstellenschaltung und den Verbinder eingegeben wird, so daß eine fehlerhafte Verbindung des Verbinders beurteilt wird. Insbesondere wenn das Prüfergebnissignal normal ist, kann die Verbindung durch den Verbinder auf den Ausgangswegen des Prüfergebnissignals als normal beurteilt werden. Da der Zustand der Verbindung mittels des Verbinders auf diese Weise ohne Verlaß auf visuelle Inspektion geprüft werden kann, läßt sich das Prüfverfahren automatisieren.
KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
1 ist eine schematische Schnittansicht eines Flüssigkristallmoduls, welches mit einer darauf angebrachten Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC versehen ist, gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
2 ist ein Blockschaltbild der in 1 gezeigten Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC;
3 ist ein Blockschaltbild der in 2 gezeigten Prüfschaltung und der zum Betrieb der Prüfschaltung gehörenden Struktur;
4 ist ein Logikschaltungsdiagramm des in 3 gezeigten Multiplexers;
5 ist ein Ablaufdiagramm des Verfahrens zum Überwachen der Ausgabe der Schwingschaltung der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC;
6 ist eine Impulsübersicht für das Verfahren zum Überwachen der Ausgabe der Schwingschaltung der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC;
7 ist ein Ablaufdiagramm des Verfahrens zum Überwachen der ID von der ID-Setzschaltung der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC;
8 ist eine Impulsübersicht des Verfahrens zum Überwachen der ID von der ID-Setzschaltung der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC;
9 ist ein Schaltkreisdiagramm der in 3 gezeigten Spannungserhöhungsschaltung und der externen Spannungserhöhungskondensatoren;
10 zeigt Signalverläufe des an die in 9 gezeigten Spannungserhöhungstransistoren angelegten Spannungserhöhungstaktsignals;
11 zeigt einen Signalverlauf der Ausgangsspannung der in 9 gezeigten Spannungserhöhungsschaltung in normalem Betrieb;
12 ist ein Signalverlauf der Ausgangsspannung der in 9 gezeigten Spannungserhöhungsschaltung in nicht normalem Betrieb;
13 ist ein Ablaufdiagramm des Spannungsüberwachungsverfahrens; und
14 ist eine schematische perspektivische Ansicht eines Mobiltelefons als Beispiel eines mit dem in 1 gezeigten Flüssigkristallmodul versehenen elektronischen Geräts.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DES BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELS
Unter Hinweis auf die Zeichnungen wird nachfolgend ein Ausführungsbeispiel beschrieben, bei dem die vorliegende Erfindung an einer Flüssigkristallvorrichtung verwendet ist, die für ein Mobiltelefon benutzt wird.
Umriß der gesamten Flüssigkristallvorrichtung. Die Flüssigkristallvorrichtung gemäß diesem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung besitzt auch die Anzeigeeinheit für ein Mobiltelefon gemäß 1. In 1 ist eine erste Platte eine Glasplatte 24, die Bestandteil des Flüssigkristallanzeigeabschnitts 28 ist, und auf der Glasplatte 24 ist eine Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 angebracht. Eine zweite Platte ist eine Leiterplatte 30 mit darauf angebrachter MPU, die mit der ersten Platte 24 durch einen Verbinder (elastisches Verbindungsglied, beispielsweise Zebragummi) verbunden ist. Es sei darauf hingewiesen, daß an dem in 1 gezeigten Flüssigkristallmodul 20 ein rückwärtiges oder seitliches Licht angebracht ist, wenn es für eine Flüssigkristallanzeigevorrichtung mit Durchlicht benutzt wird. Handelt es sich um einen reflektierenden Typ, so ist keine Lichtquelle erforderlich.
Wie 14 zeigt, ist das Flüssigkristallmodul 20 in einem Mobiltelefon 500 so angeordnet, daß der Flüssigkristallanzeigeabschnitt 28 freiliegt. Das Mobiltelefon 500 weist zusätzlich zu dem Flüssigkristallanzeigeabschnitt 28 einen Empfängerabschnitt 510, einen Senderabschnitt 520, einen Betriebsabschnitt 530, eine Antenne 540 und dergleichen auf. Die MPU 300 sendet Befehlsdaten oder Anzeigedaten an das Flüssigkristallmodul 20 entsprechend der von der Antenne 540 empfangenen Information oder der über den Betriebsabschnitt 530 eingegebenen Information.
Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC
2 ist ein Blockschaltbild, welches die Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC zeigt. Die in 2 dargestellte Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 ist mit wesentlichen Bauelementen zum Ansteuern eines Flüssigkristalls versehen, z.B. mit einer Stromversorgungsschaltung 50, einem Anzeigespeicher, beispielsweise einem Anzeigedaten-RAM 60, einem Segmenttreiber SEG 70 und einem zentralen Treiber COM 80 als Anzeigetreiber, einem Schwingkreis 90 und einer Anzeigezeitsteuergeneratorschaltung 92. Der Anzeigedaten-RAM 60 ist mit Speicherzellen in einer Anzahl (132 × 65) versehen, die Bildelementen entspricht, welche an den Schnittpunkten zwischen 132 Segmentelektroden SEG 0 bis SEG 131 sowie 65 zentralen Elektroden COM 0 bis COM 64 gebildet sind.
Zu dieser Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 gehört auch eine Prüfschaltung 200 und eine ID-Setzschaltung 400. Die ID-Setzschaltung 400 setzt ein ID, welches der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 eigen ist. Die Prüfschaltung 200 gibt bei diesem Ausführungsbeispiel seriell die Prüfdaten (ein Prüfergebnissignal) anhand des Signals von der Stromversorgungsschaltung 50, dem Schwingkreis 90 oder der ID-Setzschaltung 400 aus. Die Prüfdaten werden über eine weiter unten beschriebene MPU-Schnittstellenschaltung 100 und einen ersten Eingabe/ Ausgabeanschluß 101 in die MPU 300 eingegeben.
Die Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 ist ferner mit einer MPU-Schnittstelle 100, einem Befehlsdekodierer 110 und einem internen Bus 120 versehen. Bei diesem Ausführungsbeispiel hat die MPU-Schnittstelle 100 einen ersten Eingabe/Ausgabeanschluß 101 für die Eingabe verschiedener Signale von der MPU 300 sowie einen zweiten bis vierten Eingabeanschluß 102 bis 104. Ein serielles Datensignal SDA wird über den ersten Eingabe/ Ausgabeanschluß 101 ein- oder ausgegeben, ein serielles Taktsignal SCL wird in den zweiten Eingabeanschluß 102 eingegeben, ein Chipwählsignal XCS wird in den dritten Eingabeanschluß 103 eingegeben und ein Rückstellsignal XRES wird in den vierten Eingabeanschluß 104 eingegeben.
Hier umfaßt das serielle Datensignal SDA Befehlsdaten und Anzeigedaten als die von der Zentraleinheit 300 eingegebenen Daten, und die vorstehend beschriebenen Prüfdaten als die Ausgabedaten von der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10. Diese seriellen Datensignale SDA sind aus der Anzahl Bits zusammengesetzt, die die MPU 300 gleichzeitig verarbeitet; bei diesem Ausführungsbeispiel ein Byte (8 Bits). Die Anzahl Bits von Befehlsdaten oder Anzeigedaten kann so gewählt sein, daß sie ein Wort (16 Bits) oder ein langes Wort (32 Bits) ist, Wenn das Chipwählsignal XCS aktiv ist (z.B. TIEF aktiv) überträgt die MPU-Schnittstelle 100 das serielle Datensignal SI entsprechend dem seriellen Taktsignal SCL und nimmt eine Seriell/Parallel-Umwandlung an dem Signal vor, um das umgewandelte Signal ein- oder auszugeben.
Die MPU-Schnittstelle 100 sendet Befehlsdaten parallel zum Befehlsdekodierer 110, wenn das serielle Datensignal SDA Befehlsdaten sind, und sendet Anzeigedaten parallel an die interne Busleitung 120, wenn das serielle Datensignal SDA Anzeigedaten sind.
Außerdem hat die MPU-Schnittstellenschaltung 100 die Funktion, Prüfdaten von der Prüfschaltung 200 durch den ersten Eingabe/ Ausgabeanschluß 101 auszugeben.
Die dekodierten Befehlsdaten dienen als Betriebsbefehl für die Stromversorgungsschaltung 50 und die Anzeigezeitsteuergeneratorschaltung 92 und gleichfalls dazu, jeder Adresse einer Seitenadressenschaltung 61,eine Spaltenadressenschaltung 62 und eine Zeilenadressenschaltung 63 zuzuteilen, die mit dem Anzeigedaten-RAM 60 verbunden sind. Wenn die dekodierten Befehlsdaten ein Befehl sind, der Prüfdaten von der Prüfschaltung 200 anfordert, wird der erste Eingabe/Ausgabeanschluß 101 in den Ausgabeerlaubniszustand gesetzt, und die Prüfdaten von der Prüfschaltung 200 werden ausgegeben.
Andererseits werden parallele Anzeigedaten über den I/O Puffer 64 des Anzeigedaten-RAM 60 in die Speicherzellen im Anzeigedaten-RAM 60 entsprechend der von einem Befehl spezifizierten Seitenadresse und Spaltenadresse eingegeben.
Der Anzeigedaten-RAM 40 wirkt als Feld- oder Blockspeicher des Flüssigkristallanzeigeabschnitts 28 des Flüssigkristallmoduls 20. Die in den Anzeigedaten-RAM 60 eingegebenen Anzeigedaten werden über Adressenzuteilung entsprechend einem Zeitsteuersignal von der Anzeigezeitsteuergeneratorschaltung 92 gelesen und von einer Anzeigedatenverriegelungsschaltung 65 eingeklinkt. Die von der Anzeigedatenverriegelungsschaltung 65 eingeklinkten Anzeigedaten werden in zum Ansteuern eines Flüssigkristalls erforderliche Daten umgewandelt, beispielsweise mit fünf Potentialniveaus V1 bis V5 und an die Segmentelektroden SEG 0 bis SEG 131 des Flüssigkristallanzeigeabschnitts 28 angelegt.
Den Segmentelektroden SEG 0 bis SEG 131 wird anhand eines Zeitsteuersignals von der Anzeigezeitsteuergeneratorschaltung 92 ein Potential zugeführt, während die zentralen Elektroden COM 0 bis COM 64 über den zentralen Treiber COM 80 geschaltet werden, wodurch der Flüssigkristallan zeigeabschnitt 28 angesteuert wird.
Beschreibung der eingebauten Prüfschaltung.
3 zeigt die Prüfschaltung 200 aus 2 und die zum Betrieb der Prüfschaltung 200 gehörige Konfiguration. Die Prüfschaltung 200 hat eine Funktion, die Ausgabe der im Innern der Stromversorgungsschaltung 50 gebildeten Spannungserhöhungsschaltung 52 (Boost-Schaltung), die Ausgabe des Schwingkreises 90 und die Ausgabe der ID-Setzschaltung 400, die in 2 gezeigt sind, entsprechend dem Signal vom Befehlsdekodierer 110 seriell auszugeben. Zu diesem Zweck besitzt die Prüfschaltung 200 eine Spannungsüberwachungsschaltung 210, eine Vergleichsschaltung 212 und einen Multiplexer 214, wie in 3 gezeigt.
Die Spannungsüberwachungsschaltung 210 teilt die Ausgabe der Spannungserhöhungsschaltung 52 durch Widerstandsdivision, um eine Überwachungsspannung zu erzeugen, die der Bezugsspannung Vref entspricht, welche in die Vergleichsschaltung 212 eingegeben wird. Die Vergleichsschaltung 212 vergleicht die Überwachungsspannung mit der Bezugsspannung Vref und gibt das Ergebnis des Vergleichs aus. Vom Multiplexer 214 werden die Ausgaben des Schwingkreises 90, der Vergleichsschaltung 212 und der ID-Setrschaltung 400 unter Schalten dieser Ausgaben entsprechend den Signalen des Befehlsdekodierers 110 seriell gesendet.
Die MPU-Schnittstelle 100 umfaßt eine automatische Rückschaltung 111, ein erstes und ein zweites Transfergatter 112 und 114 sowie eine Inverterschaltung 116 zum Umschalten des ersten Ausgabeanschlusses 101 zwischen dem Eingabeerlaubniszustand und dem Ausgabeerlaubniszustand. Die automatische Rückschaltung 111 kehrt die Ausgabe jedes Mal um, wenn sie acht Impulse des seriellen Taktsignals SCL vom zweiten Eingabeanschluß 102 zählt. Das erste Transfergatter 112 wird von der Ausgabe H der automatischen Rückschaltung 111 eingeschaltet. Das zweite Transfergatter 114 wird von dem H Signal eingeschaltet, bei dem es sich um die Ausgabe L der automatischen Rückschaltung 111, invertiert vom Inverter 116 handelt. Die Prüfdaten können vom Multiplexer 214 durch Einschalten des ersten Transfergatters 112 ausgegeben werden. Auf der anderen Seite werden die Befehlsdaten und sonstige Daten vom ersten Eingabe/Ausgabeanschluß 101 durch Einschalten des zweiten Transfergatters 114 in den Zustand gebracht, in dem sie in den Flüssigkristalltreiber IC 10 eingegeben werden können. Mit dem zweiten Transfergatter 114 ist ein Schieberegister 109 verbunden. Eine seriell eingegebene Befehlsinformation wird Bit für Bit darin verschoben und in 8-Bit parallelen Daten in den Befehlsdekodierer 110 eingegeben.
Ferner werden gemäß 3 logische Spannungen VDD (z.B. 2,7 V), VIO (z.B. 1,8 V) und GND (0 V) von einer Leistungs-IC 310 dem logischen Spannungseingabeabschnitt der Flüssigkristallsteuerung IC 10 durch das elastische Verbindungsglied 40 zugeführt. Die externen Kondensatoren C1 bis C4 zum Erhöhen der Spannung sind an die Spannungserhöhungsschaltung 52 über das Verbindungsglied 40 angeschlossen.
Multiplexer-Konfiguration
4 ist ein Logikschaltungsdiagramm des in 3 gezeigten Multiplexers 214. Für diesen Multiplexer 214 wird die Schwingausgabe XCICL der Schwingschaltung 90, die Ausgabe COMP von der Vergleichsschaltung 212 oder die Ausgabe von der ID-Setzschaltung 400 entsprechend der Ausgabe TSINV, TEST1S, TEST11 bis TEST14 und TEST16 von dem in 3 gezeigten Befehlsdekodierer 110 ausgewählt, und die Ausgabe TSTOUT des Multiplexers 214 erhalten. Hierzu umfaßt der Multiplexer 214 Inverter INV1 bis INV5, NAND-Gates NAND1 bis NAND13, NOR-Gates NOR1 bis NOR8 und einen Flip-Flop des D-Typs DFF. Der Inverter INV2, das Flip-Flop des D-Typs DFF und das NOR-Gate NOR1 wirken als ein Schaltkreis 216, der den Ausfallzustand einklinkt, wenn die Ausgabe der Vergleichsschaltung 212 TIEF ist. Als weitere Ausgabe XTEST0 des Multiplexers 214 wird TIEF während der Prüfung an der Prüfschaltung 200 und ansonsten HOCH ausgegeben.
Hierbei wird das in 4 gezeigte Signal TEST1S nur dann HOCH gehalten, wenn die Ausgabe des Schwingkreises 90 überwacht wird. Das Signal TEST16 wird nur HOCH gehalten, wenn Spannungen entsprechend der Ausgabe der Vergleichsschaltung 212 überwacht werden. Die Signale TEST11 bis TEST14 werden ihrerseits der Reihe nach HOCH gehalten, wenn das ID von der ID-Setzschaltung 400 überwacht wird.
Darüber hinaus wird das in 4 gezeigte Signal TSINV zum Umschalten benutzt, so daß das Ausgabesignal an dem in 4 gezeigten Knoten "a" entweder über den nichtinvertierenden Ausgabeweg OUT1 oder den invertierenden Ausgabeweg OUT2 ausgegeben wird, wie in 4 gezeigt. Wenn das Ausgabesignal am Knoten "a" über den nichtinvertierenden Ausgabeweg OUT1 läuft, wird die Logik ohne Veränderung ausgegeben, und wenn das Ausgabesignal am Knoten "a" den invertierenden Ausgabeweg OUT2 durchläuft, wird eine umgekehrte Logik ausgegeben.
Überwachungsverfahren für die Schaltkreisausgabe.
Zunächst wird unter Hinweis auf das Ablaufdiagramm in 5 und die Impulsübersicht in 6 das Verfahren beschrieben, mit dem geprüft wird, ob der Schwingkreis 90 der Flüssigkristallanzeigeansteuerung IC 90 normal oder nicht normal ist. Wie 5 zeigt, hebt die MPU 300 den Stromsparmodus des Flüssigkristallanzeige-Treibers-IC 10 auf (Schritt 1 in 5). Dieser Schritt wird durchgeführt, um den Schwingkreis 90 im normalen Modus und nicht im Stromsparmodus zu betätigen.
Als nächstes gibt die MPU 300 den Prüfbefehl zum Überwachen der Ausgabe des Schwingkreises 90 mittels der MPU 300 aus (Schritt 2 in 5). Der 8-Bit Prüfbefehl wird synchronisiert mit acht Impulsen des seriellen Taktes SCL ausgegeben, wie in 6 gezeigt, und wird über den ersten Eingabe/Ausgabeanschluß 101 seriell in den Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 eingegeben.
Dieser Prüfbefehl wird über das in 3 gezeigte zweite Transfergatter 114 seriell in das Schieberegister 109 eingegeben. Das Schieberegister 109 verschiebt die seriellen Daten entsprechend dem seriellen Taktsignal SCL, welches über den zweiten Eingabeanschluß 102 eingegeben wird, und gibt den 8-Bit Prüfbefehl D0 bis D8 parallel aus. Dieser Prüfbefehl wird vom Befehlsdekodierer 110 dekodiert. Der Multiplexer 214 wird so gesteuert, daß er die Ausgabe des Schaltkreises 90 auswählt und ausgibt.
Im einzelnen geht von den in 4 gezeigten Signalen TSINV, TEST1S, TEST11 bis TEST14 und TEST16, bei denen es sich um Ausgaben des Befehlsdekodierers 110 handelt, allein das Signal TEST1 S während des Überwachungsprozesses der Ausgabe des Schaltkreises auf HOCH, während alle anderen Signale TIEF sind.
Hierbei wird die Logik der Ausgabe XICL des Schaltkreises 90 sowohl vom Inverter INV1, NAND-Gate NAND1, NOR-Gate NOR 7, NOR-Gate NOR15 und NAND-Gate NAND11 invertiert und folglich die invertierte Ausgabe der Ausgabe XICL des Schwingkreises 90 am Knoten "a" erhalten.
Dabei sind die in das NOR-Gate NOR7 eingegebenen Signale TSINV und TEST1 S TIEF bzw. HOCH, und dementsprechend wird die Ausgabe des NOR-Gates NOR7 auf TIEF gesetzt. In diesem Zustand wird der invertierende Ausgabewert OUT2 in 3 als Ausgabeweg nach dem Knoten "a" gewählt.
Die invertierte Ausgabe der Ausgabe XICL des Schwingkreises 90 am Knoten "a" wird also sowohl vom NOR-Gate NOR8, Inverter INV5 und NAND-Gate NAND13 umgekehrt. Infolgedessen wird die Ausgabe XICL des Schwingkreises 90 wahlweise von der Ausgabe TSTOUT des Multiplexers 214 erhalten.
Zusätzlich zählt die automatische Rückschaltung 111 in 3 acht Impulse des seriellen Taktsignals SCL, wenn der 8-Bit Prüfbefehl eingegeben wird, wodurch das zweite Transfergatter 114 ausgeschaltet und das erste Transfergatter 112 eingeschaltet wird. Folglich wird die als Ausgabe des Multiplexers 214 gewählte Ausgabe des Schwingkreises 90 über den ersten Eingabe/Ausgabeanschluß 101 an die externe MPU 300 ausgegeben.
Hierbei schwingt der Schwingkreis 90 im normalen Modus, weil der Stromsparmodus aufgehoben wurde. Die MPU 300 wird hierbei in den Zustand zum Lesen der Schwingausgabe gesetzt (Schritt 3 in 5) und mißt die Schwingfrequenz des Schwingkreises 90. Bei diesem Schritt wird vorgezogen, daß die MPU 300 mit der Erzeugung des seriellen Taktsignals SCL aufhört. Die Schwingausgabe hat eine niedrige Frequenz von zum Beispiel einigen -zig Kilohertz, während das serielle Taktsignal SCL eine hohe Frequenz hat, beispielsweise 4 MHz. Das Messen der niederfrequenten Schwingausgabe mit der Zeitsteuerung des seriellen Taktsignals SCL führt also nur dazu, viele Male den Zustand der Schwingausgabe ohne Änderung zu messen. Aus diesem Grund wird die Schwingfrequenz durch Anhalten des seriellen Taktsignals SCL und Lesen der Änderung des Pegels der Schwingausgabe mit einer zur Schwingfrequenz passenden konstanten Zeitsteuerung oder mit Hilfe eines Ereigniszählers gemessen.
Nach Beendigung dieser Messung gibt die MPU 300 acht serielle Taktimpulse SCL aus, wie in 6 gezeigt. Da diese Takte von der automatischen Rückschaltung 111 der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 gezählt wurden, ist das erste Transfergatter 112 ausgeschaltet und das zweite Transfergatter 114 eingeschaltet. Anschließend wird dieser Posten der Prüfung zurückgesetzt (Schritt 4 in 5).
Die Bedeutung dieser Überwachung der Schwingausgabe des Schwingkreises 90 liegt darin, daß die Bedienungsperson, da ja der Schwingkreis 90 mit der logischen Spannungszufuhr vom logischen Spannungseingabeabschnitt 54 arbeitet, wissen kann, daß dem logischen Spannungseingabeabschnitt 54 normale logische Spannungen zugeführt werden, wenn die Schwingausgabe normal ist. Dies ist ein Hinweis darauf, daß der Kontakt des elastischen Verbindungsmaterials 40 der Leistungs-IC 310 und der logische Spannungseingabeabschnitt 54 normal ist.
Ferner ist aufgrund der Tatsache, daß die Befehlsdaten von der MPU 300 und die Schwingausgabedaten von der Flüssigkristall-anzeige-Treiber-IC 10 normal eingegeben oder ausgegeben werden können, bekannt, daß der erste Eingabe/Ausgabeanschluß 101 und der zweite Eingabeanschluß 102 (serielle Schnittstelle) auch in normalem Kontakt gehalten werden.
ID-Überwachungsverfahren
Als nächstes wird unter Hinweis auf das Ablaufdiagramm gemäß 7 und die Impulsübersicht gemäß 8 das Verfahren zum Überwachen des ID von der ID-Setzschaltung 400 der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 beschrieben.
Auch wenn das ID-Überwachungsverfahren vorzugsweise im Anschluß an das vorstehend beschriebene Überwachungsverfahren für die Schwingausgabe durchgeführt ist, wenn das Prüfergebnis normal ist, kann es auch zu einem anderen Zeitpunkt durchgeführt werden.
In der in 4 gezeigten ID-Setzschaltung 400 wird der eine Eingangsanschluß des NAND-Gate 6 an die Spannung VDD gelegt und ein Eingabeanschluß jedes der weiteren NAND-Gates 3 bis 5 wird an das Potential VSS gelegt, um ein bestimmtes ID für die Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 zu setzen. 2⁴ = 16 IDs können durch Ändern der Verdrahtung gesetzt werden.
Um das ID der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 zu lesen, wird der Prüfbefehl von der MPU 300 in die Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 gegeben. Durch diesen Befehl werden die Signale TEST11 bis TEST14 an den anderen Eingangsanschlüssen der zuvor genannten NAND-Gates NAND3 bis NAND6 wahlweise eines nach dem anderen in der Reihenfolge von TEST14 bis TEST11 auf HOCH gebracht. In diesem Fall wird das Signal TSINV in der ersten halben Periode, während der die Ausgaben der NAND-Gates NAND3 bis NAND6 gelesen werden, TIEF gehalten, während es in der zweiten halben Periode HOCH gehalten wird. Die übrigen in 4 gezeigten Signale TEST1 S und TEST16 werden TIEF gehalten. Aufgrund dieses Setzens werden ID1 bis ID4, die je aus 8 Bits bestehen, wie in der folgenden Tabelle 1 gezeigt, nacheinander einzeln gelesen, und die IDs von 32 Bits insgesamt werden von der MPU 300 überwacht.
Tabelle 1
Der Prüfbefehl zum Lesen des ID wird vom Befehlsdekodierer 110 über den Eingabe/Ausgabeanschluß 101, das zweite Transfergatter 114 und das Schieberegister 109 in der vorstehend beschriebenen Weise dekodiert. Damit wird der Multiplexer 214 so gesteuert, daß er die Ausgabe der ID-Setzschaltung 400 auswählt und ausgibt.
Von diesem Prüfbefehl wird zunächst TEST11 auf HOCH gebracht, während TEST12 bis TEST14 TIEF gehalten werden. Das Signal TSINV wird zu Anfang TIEF gehalten. Infolgedessen wird eine Eingabespannung VDD (HOCH) sowohl vom NAND-Gate NAND9, Inverter INV4 und NAND-Gate NAND11 invertiert und damit HOCH am Knoten "a" erhalten. Da hierbei die Ausgabe des NAND-Gate NAND7 HOCH gehalten wird, wird der nichtinvertierende Ausgabeweg OUT1 ausgewählt, und das logische "HOCH" am Knoten "a" wird als die Ausgabe TSTOUT des Multiplexers 214 erhalten.
Diese Ausgabe des Multiplexers 214 wird von der MPU-Schnittstelle 100 entsprechend dem seriellen Taktsignal CLK ausgegeben, das heißt der Zustand jedes der hochwertigen vier Bits D7 bis D4 wird als "1" ausgegeben, wie in der Tabelle 1 und in 8 gezeigt.
Danach wird das Signal TSINV von TIEF auf HOCH umgeschaltet, wie in 8 gezeigt. Hiermit wird die Ausgabe des NAND-Gate NAND7 auf TIEF fixiert, und der invertierende Ausgabeweg OUT2 ausgewählt. Das logische HOCH am Knoten "a" wird damit umgekehrt und TIEF als Ausgabe TSTOUT des Multiplexers 214 erhalten.
Diese Ausgabe des Multiplexers 214 wird auch von der MPU-Schnittstelle 100 entsprechend dem seriellen Taktsignal CLK ausgegeben, das heißt der Zustand jedes der vier niederwertigen Bits D3 bis D0 wird als "0" ausgegeben, wie in der Tabelle 1 und in 8 gezeigt.
Auf die gleiche Weise werden die nichtinvertierten vier hochwertigen Bits und die invertierten vier niederwertigen Bits als ID2 bis ID4 erhalten, wie in Tabelle 1 gezeigt, indem die Signale TEST12, TEST13 und TEST14 eins nach dem anderen auf HOCH gebracht werden.
Die in der Tabelle 1 gezeigten ID1 bis ID4, insgesamt 32 Bits, werden somit in die MPU 300 eingegeben, und die MPU 300 liest das ID (Schritt 2 in 7). Wenn die acht Bits jedes der in die MPU 300 eingegebenen ID1 bis ID4 die vier niederwertigen Bits gegen die Logik der vier hochwerti gen Bits umgekehrt haben, kann die Verbindung der logischen Leistungszufuhr und die der seriellen Schnittstelle als normal beurteilt werden. Das ist so, weil die acht Bits jedes der ID1 bis ID4 im Fall irgendeines nicht normalen Zustands in diesen Verbindungen nicht die um vier Bits nichtinvertierten und invertierten logischen Zustände haben.
Im allgemeinen wird eine Paritätsprüfung vorgenommen, um zu sehen, ob serielle Daten normal übertragen werden. Bei der Paritätsprüfung wird die Zahl der Daten "1" mit Hilfe eines Addierers geprüft. Allerdings nimmt ein Addierer, weil er eine große Schaltkieisgröße hat, einen wesentlichen Bereich in der IC ein. Mit diesem Ausführungsbeispiel ist es möglich, zu beurteilen, ob die serielle Schnittstelle normal ist, ohne daß dafür ein solcher großer Schaltkreis erforderlich ist. Nach der Beurteilung sendet die MPU 300 den Rückstellbefehl, womit das ID-Überwachungsverfahren endet (Schritt 3 in 7).
Spannungsüberwachungsverfahren
Als nächstes wird das Spannungsüberwachungsverfahren beschrieben, mit dem geprüft wird, ob die Ausgabespannung VOUT der Spannungserhöhungsschaltung 52 in der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 normal ist oder nicht.
Auch wenn dieses Spannungsüberwachungsverfahren vorzugsweise im Anschluß an das vorstehend beschriebene ID-Überwachungsverfahren durchgeführt wird, wenn das Prüfergebnis normal ist, kann es auch zu jedem beliebigen anderen Zeitpunkt ausgeführt werden.
Zunächst wird unter Hinweis auf 9 und 10 die Konfiguration und der Betrieb der Spannungserhöhungsschaltung 52 beschrieben. 9 zeigt die Spannungserhöhungsschaltung 52 und ihre externen Spannungserhöhungskondensatoren C1 bis C4. 10 zeigt Signalverläufe des Boost- oder Spannungserhöhungstaktsignals zum Ansteuern der Spannungserhöhungstransistoren, die in 9 gezeigt sind.
Wie aus 9 hervorgeht, sind die Spannungserhöhungskondensatoren C1 bis C4 mit der Gruppe der Spannungserhöhungstransistoren 52A über das elastische Verbindungsglied 40 verbunden. Die Spannungserhöhungstaktsignale CLH1, CLH2, CL1P, CL2P, CL1N und CL2N werden zu den in 10 gezeigten Zeitpunkten an die Gates der Spannungserhöhungstransistoren 52A angelegt. Diese Spannungserhöhungstaktsignale werden durch Dividieren der Ausgabe des Schwingkreises 90 erzeugt. Aus diesem Grund kann dieses Spannungsüberwachungsverfahren vorzugsweise durchgeführt werden, nachdem entschieden wurde, daß die Schwingausgabe des Schwingkreises 90 normal ist.
Der Spannungserhöhungskondensator C1 wird abwechselnd mit Spannungen VDD2 (z.B. 2,7 V) und 2 × VDD2 geladen, der Spannungserhöhungskondensator C2 wird abwechselnd mit Spannungen 2VDD2 und 4 × VDD2 geladen, der Spannungserhöhungskondensator C3 wird abwechselnd mit Spannungen von 3 × VDD2 und 4 × VDD2 geladen. Folglich wird der Spannungserhöhungskondensator C4 mit einer Spannung von 4 × VDD2 (z.B. 2,7 V × 4 = 10,8) geladen, und diese Spannung wird die Ausgabespannung der Spannungserhöhungsschaltung 52.
Für den obigen Vorgang ist eine Verbindung zwischen den Spannungserhöhungstransistoren 52A und den Spannungserhöhungskondensatoren C1 bis C4 über das elastische Verbindungsglied 40 ohne irgendeinen unzureichenden Kontakt erforderlich. Wenn es kein Problem mit der Verbindung gibt, wird die Ausgabespannung VOUT der Spannungserhöhungsschaltung 52 konstant gehalten, wie in 11 gezeigt. Wenn aber die Verbindung beispielsweise des Spannungserhöhungskondensators C1 fehlerhaft ist, schwankt die Ausgabespannung VOUT synchron mit dem Spannungserhöhungstakt, wie in 12 gezeigt. Im Signalverlauf der Ausgabespannung treten kleine Wellen auf, wenn die Verbindung nicht normal ist, und die Spitzen dieser kleinen Wellen haben etwa die gleichen Werte wie der in 11 gezeigte normale Wert.
Um den Zustand der Verbindung zu prüfen, wird die Ausgabespannung VOUT der Spannungserhöhungsschaltung 52 überwacht. Die Spannung VOUT wird von der Spannungsüberwachungsschaltung 210 durch Widerstandsteilung dividiert und in einen Eingangsanschluß der Vergleichsschaltung 212 eingegeben. Am anderen Eingangsanschluß der Vergleichsschaltung 212 liegt eine Bezugsspannung (z.B. 1,5 V) an. In der Spannungsüberwachungsschaltung 210 wird die Ausgabespannung VOUT dividiert, so daß die Ausgabespannung VOUT der Spannungserhöhungsschaltung 52 geringfügig höher ist als die Bezugsspannung, wenn die Ausgabespannung VOUT normal ist. Wenn also die Ausgabespannung der Spannungsüberwachungsschaltung 210 höher ist als die Bezugsspannung, ist die Ausgabe der Vergleichsschaltung 212 HOCH, was anzeigt, daß die Ausgabespannung VOUT normal ist. Wenn einer oder mehr der Spannungserhöhungskondensatoren keine Verbindung haben, wird andererseits der in 12 gezeigte Signalverlauf erzeugt, bei dem die Ausgabespannung der Vergleichsschaltung 212 nicht immer "HOCH" ist, sondern auf TIEF gehen kann.
Die Einzelheiten des Spannungsüberwachungsverfahrens, mit dem geprüft wird, ob die Ausgabespannung VOUT der Spannungserhöhungsschaltung 52 in der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 normal ist, werden unter Hinweis auf das in 13 gezeigte Ablaufdiagramm beschrieben.
Zuerst wird der Stromsparmodus aufgehoben (Schritt 1 in 13), und der Schwingkreis 90 im normalen Modus angesteuert. Die Spannungserhöhungsschaltung 52 wird dann eingeschaltet (Schritt 2 in 13), und es wird eine Wartezeit eingelegt, bis der Spannungserhöhungskondensator C4 auf die Spannung 4 × VDD2 geladen ist (Schritt 3 in 13).
Danach sendet die MPU 300 den Prüfbefehl (Schritt 4 in 13). Dieser Prüfbefehl wird auch vom Befehlsdekodierer 110 in der gleichen Weise wie schon beschrieben dekodiert. Infolgedessen geht allein das in 4 gezeigte Signal TEST16 auf HOCH, und alle anderen Prüfsignale TSINV, TEST1S und TEST11 bis TEST14 sind TIEF.
Wenn jetzt die Ausgabespannung VOUT der Spannungserhöhungsschaltung 52 normal ist, geht die Ausgabe der Vergleichsschaltung 212 auf HOCH, und folglich ist die Ausgabe des in 4 gezeigten Inverters INV2 konstant TIEF. Eine Eingabe des NOR-Gates NOR1 im Anschluß an den Inverter wird aus diesem Grund auf TIEF gehalten, und deshalb geht die Ausgabe des NOR-Gate NOR1 auf HOCH, gleichgültig wie die Logik der anderen Eingabe aussieht.
Da bei dem vorstehend beschriebenen Spannungsüberwachungsverfahren allein das Signal TEST16 auf HOCH umgeschaltet wird, wird andererseits die Ausgabe TIEF des NAND-Gate NAND2, in die die Ausgabe (HOCH) des NOR-Gates NOR1 und das Signal TEST16 (HOCH) eingegeben werden, vom NAND-Gate NAND7, NOR-Gate NOR5 und NAND-Gate NAND11 invertiert, und die Logik am Knoten "a" geht auf HOCH.
Da außerdem das Signal ITSINV TIEF ist, wird der nichtinvertierende Ausgabeweg OUT1 gewählt. Die Logik (HOCH) am Knoten "a" wird deshalb so wie sie ist als Ausgabe TSTOUT des Multiplexers 214 über das NAND-Gate NAND12 und das NAND-Gate NAND13 ausgegeben.
Das Ausgabesignal des Multiplexers 214 wird auch über die MPU-Schnittstelle 100 an das serielle Taktsignal CLK ausgegeben. Das geschieht während einer Periode H der Spannungserhöhungsoperation oder einer längeren Zeit (Schritt 5 in 13).
Die Ausgabe des Multiplexers 214 wird von der MPU 300 gelesen (Schritt 6 in 13), und die Ausgabespannung VOUT der Spannungserhöhungsschaltung 52 wird als normal beurteilt, wenn die ausgegebene Logik des Multiplexers 214 HOCH ist.
Als nächstes wird die Operation für den Fall beschrieben, daß die Verbindung mindestens eines der externen Spannungserhöhungskondensatoren C1 bis C4 fehlerhaft ist. Wenn zum Beispiel die Verbindung des Spannungserhöhungskondensators C1 fehlerhaft ist, schwankt die Ausgabespannung VOUT der Spannungserhöhungsschaltung 52, wie in 12 gezeigt. Aus 12 geht deutlich hervor, daß die Ausgabespannung VOUT unweigerlich während einer Periode H des Spannungserhöhungstaktes im Fall einer fehlerhaften Verbindung auf beträchtlich niedrigere Pegel sinkt als den Spannungspegel zu normaler Zeit.
Deshalb wird im Schritt 5 gemäß 13 die Spannung während mindestens einer Periode H des Spannungserhöhungstaktes überwacht, und jegliche Abweichung von der Normalität der Ausgabespannung VOUT kann von der Verriegelungsschaltung 216 für den Ausfallstatus, der in 4 gezeigt ist, eingeklinkt werden.
Wenn die Ausgabespannung VOUT schwankt, wie in 12 gezeigt, geht die Ausgabe der Vergleichsschaltung 212 während einer Periode H von HOCH nach TIEF. Also ist HOCH die Eingabe in den Takteingabeanschluß C des Flip-Flops des D-Typs DFF über den Inverter INV2 gemäß 4, und die Spannung VDD (HOCH) des Datenanschlusses D erscheint am Ausgang Q des Flip-Flops des D-Typs DFF. Sobald der Ausgang Q auf HOCH geht, geht die Eingabespannung des Takteingabeanschlusses C des Flip-Flops des D-Typs DFF auf TIEF, und der Ausgang Q wird auf HOCH fixiert, selbst wenn die Ausgabe der Vergleichsschaltung 212 danach auf HOCH umschaltet.
Die Logik eines Eingabeanschlusses des NOR-Gates NOR1 im Anschluß an das Flip-Flop des D- Typs wird vom Ausgang auf HOCH fixiert, und deshalb geht die Ausgabe des NOR-Gates NOR1 unabhängig von der Logik des Inverters INV2 auf TIEF.
Auf diese Weise kann ein Ausfallzustand, bei dem die Ausgabespannung VOUT nicht normal ist, von der Verriegelungsschaltung 216 für den Ausfallzustand eingeklinkt werden.
Hierbei wird als Ausgabe TSTOUT des Multiplexers 214 die Logik (TIEF) am Knoten "a" gemäß 4 so wie sie ist über die NAND-Gates NAND12 und NAND13 ausgegeben. Die MPU 300, die diese Eingabe erhält, kann urteilen, daß die Ausgabespannung VOUT der Spannungserhöhungsschaltung 52 nicht normal ist, wenn die Logik TIEF ist, indem sie die Ausgabe des Multiplexers 214 (Schritt 6 in 13) nach der Wartezeit im Schritt 5 gemäß 13 liest. Die MPU 300 sendet dann den Rückstellbefehl, und das Spannungsüberwachungsverfahren endet (Schritt 7 in 13).
Weitere Verwendung der ID des Flüssigkristallanzeige-Treiber-ICs.
Da die Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 dieses Ausführungsbeispiels ein bestimmtes ID hat, kann die MPU 300 so gestaltet werden, daß sie mit zwei oder mehr Typen integrierter Treiberschaltungen für Flüssigkristallanzeigen verwendet werden kann. In diesem Fall umfaßt die MPU 300 zwei oder mehr Sätze Anzeigesteuerinhalte für zwei oder mehr Flüssigkristallanzeige-Treiber-ICs, die in einem Speicherabschnitt gespeichert sind, beispielsweise einem PROM (Festwertspeicher) entsprechend einer Vielzahl von IDs.
Als Beispiel für in der gleichen MPU 300 verwendete Flüssigkristallanzeige-Treiber-ICs sei auf die nachfolgenden Typen A und B verwiesen, die zum Ansteuern von Flüssigkristallfeldern unterschiedlicher Anzeigekapazitäten verwendet werden.

Typ A: 65 × 96 Punkte Flüssigkristallfeld-Ansteuer-IC
Typ B: 48 × 96 Punkte Flüssigkristallfeld-Ansteuer-IC

Wenn sich die Anzeigekapazitäten der Flüssigkristallfelder unterscheiden, sind auch deren Flüssigkristallanzeige-Treiber-ICs unterschiedlich und folglich auch die Sätze der Steuerinhalte in der MPU.
Außerdem sind bei unterschiedlichen Herstellern (Verkäufern) der Flüssigkristallfelder deren Steuerbefehlsysteme unterschiedlich, wenn sie nicht unabhängig von der Art der Anzeigekapazitäten der Flüssigkristallfelder unter den Herstellern kompatibel sind.
Ein von der ID-Setzschaltung 400 der Flüssigkristalltreiber IC 10 gesetztes ID kann nicht nur für das vorstehend beschriebene Prüfverfahren verwendet werden, sondern auch zur Auswahl eines Satzes von Steuerinhalten unter denen, die für eine Vielzahl von Typen von Treiber-ICs im Speicherabschnitt der MPU 300 gespeichert sind, wie nachfolgend beschrieben.
Für das Verfahren zum Auswählen eines Satzes von Steuerinhalten kann folgendes Beispiel gelten. Das Lesen der ID aus dem Flüssigkristallanzeige-Treiber IC 10 kann jedes Mal erfolgen, wenn ein Gerät mit diesem eingebauten IC eingeschaltet wird, oder nach jedem Rücksetzen des Strom-EIN. Wenn der ID-Lesebefehl von der MPU 300 zu diesem Zeitpunkt gesendet wird, wird das ID von der Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 von der MPU 300 in der gleichen Weise gelesen wie beim ID-Überwachungsverfahren. Hierbei ist die ID-Lesemethode unter Verkäufern und Typen standardisiert.
Das gelesene ID wird in einem Register oder Speicher, beispielsweise einem RAM in der Vorrichtung gespeichert. Wenn der Speicher nichtflüchtig ist, kann das ID, welches im vorstehend beschriebenen Prüfverfahren in der Fabrik gelesen wird, gespeichert werden. Damit ist es unnötig, das ID jedesmal beim Einschalten des Geräts oder nach jedem Rücksetzen des Strom-ein zu lesen und zu speichern.
Steuerinhalte, die dem im Speicher gespeicherten ID entsprechen, werden dann in Übereinstimmung mit dem gespeicherten ID ausgewählt, und die Flüssigkristallanzeige-Treiber-IC 10 kann mittels der Steuerinhalte gesteuert werden.
Die dem ID entsprechenden Steuerinhalte werden unter Rückgriff auf eine Nachschlagetabelle im ROM beispielsweise entsprechend dem im RAM gespeicherten ID ausgewählt und im RAM gespeichert. Zu der Information in den Steuerinhalten gehört beispielsweise die Bildschirmgröße und das Anzeigevolumen des Flüssigkristallfeldes sowie verschiedene Befehle (Adresse setzen, Anzeige EIN/AUS usw.).
Wenn in Übereinstimmung mit den beschriebenen Steuerinhalten Daten in den in 2 gezeigten Anzeige-RAM 60 eingegeben werden, können Daten in Übereinstimmung mit dem Anzeigevolumen des Flüssigkristallfeldes durch wiederholtes Ausführen der Operation zur Eingabe von Anzeigedaten in den vom RAM Adressensetzbefehl spezifizierten Bereich geschrieben werden.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf die vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt, sondern es können verschiedene Abwandlungen innerhalb des Umfangs der vorliegenden Ansprüche vorgenommen werden. Zum Beispiel kann die vorliegende Erfindung auch auf eine Konfiguration angewandt werden, die es dem Benutzer erlaubt, die Eingabe von Daten, beispielsweise Befehlsdaten und Anzeigedaten zwischen seriell und parallel umzuschalten, weil die Operation mittels der Konfiguration der vorliegenden Erfindung mindestens dann durchgeführt werden kann, wenn auf serielle Eingabe zurückgegriffen wird.
Außerdem kann die Anzeigetreiber-IC gemäß der vorliegenden Erfindung nicht nur für Flüssigkristallanzeigen, sondern auch für verschiedene andere Arten von Anzeigen verwendet werden. Ein elektronisches Gerät für die vorliegende Erfindung ist nicht auf ein Mobiltelefon beschränkt. Es ist eine Anwendung auf verschiedene andere elektronische Geräte möglich, deren Flüssigkristall oder sonstige Art von Anzeigeeinheit entsprechend seriell eingegebenen Daten angesteuert wird.

Claims

Anzeigeeinheit, aufweisend: einen Anzeigeabschnitt (28); eine Anzeigetreiber-IC (10) zum Ansteuern des Anzeigeabschnitts (28); eine erste Platte (24), auf der die Anzeigetreiber-IC (10) angebracht ist; und eine Steuereinheit (300), die Befehls- und Anzeigedaten an die Anzeigetreiber-IC (10) sendet; wobei die Steuereinheit einen Schaltkreis umfaßt, der während eines Prüfmodus einen Prüfbefehl an den Anzeigetreiber sendet und danach ein von dem Anzeigetreiber-IC (10) ausgegebenes Prüfergebnissignal liest; wobei die Anzeigetreiber-IC (10) folgendes umfaßt: eine Schnittstellenschaltung (100) zum Empfang eines Signals von der Steuereinheit und zum Ausgeben eines Signals an dieselbe; einen Befehlsdekodierer (110) zum Dekodieren des von der Steuereinheit (300) über die Schnittstellenschaltung (100) empfangenen Prüfbefehls; eine Prüfschaltung (200) zur Ausgabe des Prüfergebnissignals in Übereinstimmung mit dem Signal vom Befehlsdekodierer (110) über die Schnittstellenschaltung (100); einen Speicherabschnitt (60), in den von der Steuereinheit (300) über die Schnittstellenschaltung (100) eingegebene Anzeigedaten geschrieben werden; und einen Anzeigetreiber (70), der den Anzeigeabschnitt (28) auf der Grundlage der in den Speicherabschnitt (60) geschriebenen Anzeigedaten ansteuert; dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinheit eine auf einer zweiten Platte (30) angebrachte MPU (300) ist); ein Verbinder (40) die erste und zweite Platte elektrisch miteinander verbindet; die MPU (300) geeignet ist, das Prüfergebnissignal über den Verbinder (40) zu lesen, so daß eine fehlerhafte Verbindung des Verbinders (40) beurteilt wird; die Anzeigetreiber-IC (10) ferner eine Spannungserhöhungsschaltung (52) aufweist, die von einem Spannungserhöhungstaktsignal angesteuert wird, um Spannungen zu erzeugen, die durch Spannungserhöhung an den Anzeigetreiber (70) geliefert werden, wobei die Spannungserhöhungsschaltung (52) über den Verbinder (40) mit mindestens einem Spannungserhöhungskondensator (C1–C4) verbunden ist; und die Prüfschaltung (200) folgendes aufweist: eine Vergleichsschaltung (212), die eine Ausgabe der Spannungserhöhungsschaltung (52) mit einem Bezugswert vergleicht; und eine Verriegelungsschaltung (216), die auf die Vergleichsschaltung (212) anspricht und einen Ausfallzustand zwischenspeichert, wenn die Ausgabe der Spannungserhöhungsschaltung (52) unter den Bezugswert sinkt; wobei die MPU (300) geeignet ist, im Prüfmodus einen Prüfbefehl zum Überwachen einer Ausgabespannung der Spannungserhöhungsschaltung (52) zu senden, und dann nach dem Abwarten mindestens einer Periode des Spannungserhöhungstaktsignals das Prüfergebnissignal zu lesen.
Anzeigeeinheit nach Anspruch 1, bei der die erste Platte (24) eine Glasplatte und der Anzeigeabschnitt (28) ein die Glasplatte einschließender Flüssigkristallanzeigeabschnitt ist.
Anzeigeeinheit nach Anspruch 1 oder 2, bei der der Anzeigetreiber-IC (10) eine ID-Setzschaltung (400) enthält ist; die MPU (300) geeignet ist, während des Prüfmodus einen Prüfbefehl zum Lesen einer Ausgabe der ID-Setzschaltung (400) zu senden; und die Prüfschaltung (200) geeignet ist, das Prüfergebnissignal entsprechend der Ausgabe der ID-Setzschaltung (400) auszugeben, nachdem der Prüfbefehl vom Befehlsdekodierer (110) dekodiert wurde.
Anzeigeeinheit nach Anspruch 3, bei der die Prüfschaltung (200) geeignet ist, das Prüfergebnissignal einschließlich hochwertiger Bits und niederwertiger Bits auf der Basis der Ausgabe der ID-Setzschaltung (400) auszugeben und Einrichtungen (NOR8, INV5, NANDO12) aufweist, welche die niederwertigen Bits invertieren, aber die hochwertigen Bits nicht invertieren.
Anzeigeeinheit nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei der die Anzeigetreiber-IC (10) einen Schwingkreis (90) umfaßt, der auf der Grundlage einer logischen Speisespannung schwingt, die über den Verbinder (40) zugeführt wird; die Schnittstellenschaltung (100) einen Dateneingabe/Ausgabeanschluß (101), einen seriellen Taktanschluß (102) und eine automatische Rückschaltung (111) umfaßt, welche den Dateneingabe/Ausgabeanschluß (101) immer dann zwischen einem Eingabeerlaubniszustand und einem Ausgabeerlaubniszustand umschaltet, wenn eine vorherbestimmte Anzahl serieller Taktimpulse gezählt wurde, die von der MPU (300) über den seriellen Taktanschluß (102) geliefert werden; die MPU (300) geeignet ist, einen Prüfbefehl zum Überwachen einer Ausgabe des Schwingkreises (90) und der vorherbestimmten Anzahl serieller Taktimpulse im Prüfmodus zu senden, mit dem Senden der seriellen Taktimpulse aufzuhören, wenn die Ausgabe vom Schwingkreis (90) über die Prüfschaltung (200) und den Dateneingabe/Ausgabeanschluß (101) empfangen wird, und die vorherbestimmte Anzahl serieller Taktimpulse nach dem Lesen der Ausgabe des Schwingkreises (90) zu senden; und die Anzeigetreiber-IC (10) geeignet ist, den Dateneingabe/Ausgabeanschluß (101) entsprechend einer Operation der automatischen Rückschaltung (111), mit der die nach dem Senden der Ausgabe des Schwingkreises (90) eingegebenen, seriellen Taktimpulse gezählt werden, in den Eingabeerlaubniszustand zu setzen.
Anzeigeeinheit nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der die Anzeigetreiber-IC (10) ferner eine ID-Setzschaltung (400) aufweist; die MPU (300) einen Speicherabschnitt hat, der eine Vielzahl von Typen von Steuerinhalten für eine Vielzahl von Typen von Anzeigetreiber-ICs, einschließlich des betroffenen Anzeigetreiber-ICs (10) speichert; die MPU (300) geeignet ist, einen ID-Lesebefehl an die Anzeigetreiber-IC (10) zu senden; die Anzeigetreiber-IC (10) geeignet ist, ID-Information von der ID-Setzschaltung (400) entsprechend einem Signal, welches der den ID-Lesebefehl dekodierende Befehlsdekodierer (110) erzeugt, an die MPU (300) zu senden; und die MPU (300) geeignet ist, die ID-Information zu lesen, um die Anzeigetreiber-IC (10) in Übereinstimmung mit den entsprechenden Steuerinhalten im Speicherabschnitt zu steuern.
Elektronisches Gerät mit der Anzeigeeinheit nach einem der Ansprüche 1 bis 6.
Verfahren zum Prüfen einer Anzeigeeinheit nach Anspruch 1 mit folgenden Schritten: a) Senden eines Prüfbefehls von der MPU (300) an die Anzeigetreiber-IC (10) über den Verbinder (40); b) Dekodieren des Prüfbefehls; c) Erfassen der Art von Prüfbefehl; und, wenn der erfaßte Prüfbefehl ein Befehl zur Spannungsüberwachung ist: d) Ansteuern der Spannungserhöhungsschaltung (52) mit einem Spannungserhöhungstaktsignal; e) Vergleichen einer Ausgabe der Spannungserhöhungsschaltung (52) mit einem Bezugswert; f) Erfassen eines Ausfallzustands, wenn die Ausgabe der Vergleichsschaltung (212) anzeigt, daß die Ausgabe der Spannungserhöhungsschaltung (52) unterhalb des Bezugswerts liegt, und Zwischenspeichern des Ausfallzustands in der Verriegelungsschaltung (216); g) Ausgeben eines Prüfergebnissignals an die MPU auf der Grundlage einer Ausgabe der Verriegelungsschaltung (216) nach Abwarten mindestens einer Periode des Spannungserhöhungstaktsignals; und h) Lesen des Prüfergebnissignals durch die MPU (300) und Beurteilen, ob eine Verbindung des Verbinders (40) fehlerhaft ist oder nicht.
Verfahren nach Anspruch 8 zum Prüfen einer Anzeigeeinheit nach Anspruch 3, ferner aufweisend, wenn der im Schritt c) erfaßte Prüfbefehl ein Prüfbefehl zum Lesen einer Ausgabe der ID-Setzschaltung (400) ist, i) Ausgeben des Prüfergebnissignals durch die Prüfschaltung (200) in Übereinstimmung mit der Ausgabe der ID-Setzschaltung (400), wobei das Prüfergebnissignal hochwertige Bits und niederwertige Bits umfaßt, wobei die hochwertigen Bits nichtinvertiert ausgegeben werden und die niederwertigen Bits ausgegeben werden, nachdem sie invertiert wurden.
Verfahren nach Anspruch 8 oder 9 zum Prüfen einer Anzeigeeinheit nach Anspruch 5, ferner aufweisend, wenn der im Schritt c) erfaßte Prüfbefehl ein Prüfbefehl zum Überwachen einer Ausgabe des Schwingkreises (90) ist, j) Senden einer vorherbestimmten Anzahl serieller Taktimpulse von der MPU (300); k) Zählen der von der MPU (300) über einen seriellen Taktanschluß (102) gelieferten, seriellen Taktimpulse in der Schnittstellenschaltung (100) und Umschalten des Dateneingabe/Ausgabeanschlusses (101) in der Schnittstellenschaltung (100) zwischen einem Eingabeerlaubniszustand und einem Ausgabeerlaubniszustand, jedes Mal wenn eine vorherbestimmte Anzahl serieller Taktimpulse gezählt wurde; l) Aufhören mit dem Senden der seriellen Taktimpulse von der MPU (300), wenn die Ausgabe des Schwingkreises (90) über die Prüfschaltung (200) und den Dateneingabe/Ausgabeanschluß (101) eingegeben wird, und erneutes Senden der vorherbestimmten Anzahl serieller Taktimpulse, nachdem die Ausgabe des Schwingkreises (90) gelesen wurde; und m) Setzen des Dateneingabe/Ausgabeanschlusses (101) in den Eingangserlaubniszustand entsprechend einer Operation der automatischen Rückschaltung (111), die die seriellen Taktimpulse zählt, die eingegeben werden, nachdem die Ausgabe des Schwingkreises (90) gesandt wurde.