JPH07260857A - 液晶表示装置の駆動回路および液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置の駆動回路および液晶表示装置

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JPH07260857A
JPH07260857A JP6048416A JP4841694A JPH07260857A JP H07260857 A JPH07260857 A JP H07260857A JP 6048416 A JP6048416 A JP 6048416A JP 4841694 A JP4841694 A JP 4841694A JP H07260857 A JPH07260857 A JP H07260857A
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JP6048416A
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Yuichi Miwa
裕一 三輪
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 IC出荷試験等の試験時間を短縮でき、低電
流容量の駆動電源によるIC試験が可能で、TCPの液
晶パネル実装後の各出力チャネルのチェックが可能な液
晶表示装置の駆動回路を提供する。 【構成】 シフトレジスタ1各段入力を供給する第1切
り換え回路11と、サンプリング信号を供給する第2切
り換え回路12と、ラッチ回路3入力を供給する第4切
り換え回路14と、データレジスタ2の一部を特定する
デコーダ21と、サンプリング信号を供給する第3切り
換え回路13と、ラッチ回路3用パルスを切り換える第
5切り換え回路13と、テスト用シフトレジスタ22
と、セレクタ4のチャネルを特定する第6切り換え回路
16と、出力部5を特定する第7切り換え回路17と、
出力部5をショート可能な出力ショート回路18と、テ
ストモードデコーダ24とを有して構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置およびその
駆動回路に係り、特に、データドライバICについて、
IC出荷試験等の試験時間を短縮でき、低電流容量の駆
動電源によるIC試験が可能で、TCP(tape carried
package)の液晶パネル実装後の各出力チャネルのチェッ
クが可能な液晶表示装置の駆動回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の液晶表示装置の駆動回路では、デ
ィジタルデータドライバの構成は、一般に図11(a)
に示すように、シフトレジスタ1、データ入力部6、デ
ータレジスタ2、ラッチ回路3、セレクタ4、及び出力
部5を備えて構成されている。
【0003】このディジタルデータドライバの動作は、
図11(b)のタイミングチャートに示すように、先
ず、シフトレジスタ1の各段の出力が次段の入力となっ
て、順次制御信号がデータレジスタ2に供給されて、入
力データDATAがデータ入力部6を介してデータレジ
スタ2内に取り込まれる。データレジスタ2の出力はラ
ッチパルスLPによりラッチ回路3にラッチされる。セ
レクタ4では、ラッチ回路3出力に基づき選択データが
生成され、出力部5のアナログスイッチを該選択データ
によって制御して、それぞれのデータラインQ1〜Q1
92について電圧レベルV1〜V8が決定されて液晶表
示パネル100を駆動する。
【0004】このようなディジタルデータドライバをI
C化した場合、該ICのデータ入力端子数は階調数に相
当するビット数×3(R,G,B)である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従って、従来の液晶表
示装置の駆動回路では、ディジタルデータドライバの出
力チャネル数が(例えば、図11では192チャネル
と)多く、データ入力Dataはチャネル毎のシリーズ
データであるため、所定のチャネルのデータレジスタ2
にデータをサンプリング入力するまでには、シフトレジ
スタ1でスタートパルスSTを順次シフトして、個々の
チャネル用のサンプリングパルスを作成する必要があ
り、IC出荷試験等の試験に時間を要するという問題が
あった。
【0006】本発明は、上記問題点を解決するもので、
IC出荷試験等の試験時間を短縮できる液晶表示装置の
駆動回路を提供することを目的とする。また本発明の他
の目的は、低電流容量の駆動電源によるIC試験を行い
得る液晶表示装置の駆動回路を提供することである。
【0007】更に本発明の目的は、TCPの液晶パネル
実装後の各出力チャネルのチェックが可能な液晶表示装
置の駆動回路を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第1の特徴の液晶表示装置の駆動回路は、
図1に示す如く、入力データDATAのサンプリング信
号を生成するシフトレジスタ1とを備える液晶表示装置
の駆動回路であって、第1テストモード信号Tm1に基
づき、前記シフトレジスタ1の各段の入力として、該段
の前段のシフトレジスタ出力、またはn段(nは任意の
正整数)毎に分割したときの該段が含まれる分割群の先
頭段の前段のシフトレジスタ出力の何れかを供給する第
1切り換え回路11を有して構成する。
【0009】また、本発明の第2の特徴の液晶表示装置
の駆動回路は、図1に示す如く、入力データDATAの
サンプリング信号を生成するシフトレジスタ1と、サン
プリング入力を保持するデータレジスタ2とを備える液
晶表示装置の駆動回路であって、第2テストモード信号
Tm2に基づき、前記シフトレジスタ1出力、または前
記シフトレジスタ1の動作を開始するスタートパルスS
Tの何れかを、前記サンプリング信号として前記データ
レジスタ2に供給する第2切り換え回路12を有して構
成する。
【0010】また、本発明の第3の特徴の液晶表示装置
の駆動回路は、図1に示す如く、入力データDATAの
サンプリング信号を生成するシフトレジスタ1と、サン
プリング入力を保持するデータレジスタ2と、前記デー
タレジスタ2出力をラッチするラッチ回路3とを備える
液晶表示装置の駆動回路であって、第3テストモード信
号Tm3に基づき、前記ラッチ回路3入力として、デー
タレジスタ2出力、または入力データDATAの何れか
を供給する第4切り換え回路14を有して構成する。
【0011】また、本発明の第4の特徴の液晶表示装置
の駆動回路は、図1に示す如く、入力データDATAの
サンプリング信号を生成するシフトレジスタ1と、サン
プリング入力を保持するデータレジスタ2とを備える液
晶表示装置の駆動回路であって、前記データレジスタ2
の一部を特定する信号を生成するデコーダ21と、第4
テストモード信号Tm4に基づき、前記シフトレジスタ
1出力、またはデコーダ21出力の何れかを、前記サン
プリング信号として前記データレジスタ2に供給する第
3切り換え回路13とを有して構成する。
【0012】また、本発明の第5の特徴の液晶表示装置
の駆動回路は、図1に示す如く、入力データDATAの
サンプリング信号を生成するシフトレジスタ1と、サン
プリング入力を保持するデータレジスタ2と、前記デー
タレジスタ2出力をラッチするラッチ回路3とを備える
液晶表示装置の駆動回路であって、第5テストモード信
号Tm5に基づき、全チャネル共通のラッチパルスL
P、またはチャネル毎のラッチパルスの何れかを、前記
ラッチ回路3に供給する第5切り換え回路13を有して
構成する。
【0013】また、本発明の第6の特徴の液晶表示装置
の駆動回路は、図1に示す如く、入力データDATAの
サンプリング信号を生成するシフトレジスタ1と、サン
プリング入力を保持するデータレジスタ2と、前記デー
タレジスタ2出力をラッチするラッチ回路3と、前記ラ
ッチ回路3出力に基づき選択信号を生成するセレクタ4
と、前記選択信号に基づき出力電圧レベルを決定する出
力部5とを備える液晶表示装置の駆動回路であって、前
記シフトレジスタ1の動作を開始するスタートパルスS
Tでシフト動作するテスト用シフトレジスタ22と、第
6テストモード信号Tm6に基づき、前記ラッチ回路3
出力、または前記テスト用シフトレジスタ22出力の何
れかを、前記セレクタ4に供給する第6切り換え回路1
6とを有して構成する。
【0014】また、本発明の第7の特徴の液晶表示装置
の駆動回路は、入力データDATAのサンプリング信号
を生成するシフトレジスタ1と、サンプリング入力を保
持するデータレジスタ2と、前記データレジスタ2出力
をラッチするラッチ回路3と、前記ラッチ回路3出力に
基づき選択信号を生成するセレクタ4と、前記選択信号
に基づき出力電圧レベルを決定する出力部5とを備える
液晶表示装置の駆動回路であって、前記シフトレジスタ
1の動作を開始するスタートパルスSTでシフト動作す
るテスト用シフトレジスタ22と、第7テストモード信
号Tm7に基づき、前記セレクタ4出力、または前記テ
スト用シフトレジスタ22出力の何れかを、前記出力部
5に供給する第7切り換え回路17とを有して構成す
る。
【0015】また、本発明の第8の特徴の液晶表示装置
の駆動回路は、図1に示す如く、入力データDATAの
サンプリング信号を生成するシフトレジスタ1と、サン
プリング入力を保持するデータレジスタ2と、前記デー
タレジスタ2出力をラッチするラッチ回路3と、前記ラ
ッチ回路3出力に基づき選択信号を生成するセレクタ4
と、前記選択信号に基づき出力電圧レベルを決定する出
力部5とを備える液晶表示装置の駆動回路であって、前
記出力部5出力の各チャネル間に第8テストモード信号
Tm8により制御されるスイッチング素子を備える出力
ショート回路18を有して構成する。
【0016】更に、本発明の第9の特徴の液晶表示装置
の駆動回路は、請求項1、2、3、4、5、6、7、ま
たは8に記載の液晶表示装置の駆動回路において、前記
液晶表示装置の駆動回路は、テストモード信号TMに基
づき前記第1、第2、第3、第4、第5、第6、第7、
または第8テストモード信号Tm1〜Tm8を生成する
テストモードデコーダ24を有して構成する。
【0017】また、請求項10に記載の液晶表示装置の
発明は、各請求項1乃至9のいずれかの駆動回路を有
し、その駆動回路によって駆動される液晶表示パネル1
00を備えて構成される。
【0018】
【作用】本発明の第1の特徴の液晶表示装置の駆動回路
では、図1に示す如く、第1切り換え回路11により、
第1テストモード信号Tm1に基づき、通常動作時に
は、シフトレジスタ1の各段の入力として該段の前段の
シフトレジスタ出力を供給し、第1テストモード下で
は、シフトレジスタ1の各段の入力として、n段(nは
任意の正整数)毎に分割したときの該段が含まれる分割
群の先頭段の前段のシフトレジスタ出力を供給するよう
にしている。
【0019】これにより、第1テストモード時には、シ
フトレジスタ1を実効的に1/n段のシフトレジスタに
短縮するため、データサンプリングに要する時間が通常
動作時の1/nとなり、IC出荷試験等の試験時間を短
縮できる。
【0020】また、本発明の第2の特徴の液晶表示装置
の駆動回路では、図1に示す如く、第2切り換え回路1
2により、第2テストモード信号Tm2に基づき、通常
動作時にはシフトレジスタ1出力を、また、第2テスト
モード下ではシフトレジスタ1の動作を開始するスター
トパルスSTを、サンプリング信号としてデータレジス
タ2に供給するようにしている。
【0021】これにより、第2テストモード時には、任
意チャネルのデータレジスタへのデータ入力を、スター
トパルスSTで全チャネルのデータレジスタに一度に入
力でき、シフトレジスタ1におけるシフト動作分の時間
短縮が可能となり、IC出荷試験等の試験時間を短縮で
きる。
【0022】また、本発明の第3の特徴の液晶表示装置
の駆動回路では、図1に示す如く、第4切り換え回路1
4により、第3テストモード信号Tm3に基づき、通常
動作時には、ラッチ回路3入力としてデータレジスタ2
出力を、また、第3テストモード下ではデータ入力部6
を供給するようにしている。
【0023】これにより、例えばデータを繰り返し入力
し、またはデータ入力を頻繁に変更するようなテストの
場合にも、同一の入力データを全チャネルのラッチ回路
3に直接ストアでき、データサンプリング時間が短縮さ
れ、ラッチ回路3以降の回路ブロツクの試験時間の短縮
が可能となる。
【0024】また、本発明の第4の特徴の液晶表示装置
の駆動回路では、図1に示す如く、デコーダ21からデ
ータレジスタ2の一部を特定する信号を生成し、第3切
り換え回路13により、第4テストモード信号Tm4に
基づき、通常動作時にはシフトレジスタ1出力を、また
第4テストモード下ではデコーダ21出力を、サンプリ
ング信号としてデータレジスタ2に供給するようにして
いる。
【0025】このように、アドレス等によってデータレ
ジスタ2の一部を特定することができるので、チャネル
を任意に選択して、且つシフトレジスタ1におけるシフ
ト動作分の時間を短縮してテストを行うことができるの
で、IC出荷試験等の試験時間を短縮できると共に、ラ
ンダムサンプリングテスト等の種々のテストが可能とな
る。
【0026】また、本発明の第5の特徴の液晶表示装置
の駆動回路では、図1に示す如く、第5切り換え回路1
3により、第5テストモード信号Tm5に基づき、通常
動作時には全チャネル共通のラッチパルスLPを、また
第5テストモード下ではチャネル毎のラッチパルスをラ
ッチ回路3に供給するようにしている。
【0027】このように第5切り換え回路13により、
第5テストモード下ではラッチパルスの供給されたチャ
ネルのラッチ回路のみを有効とすることができ、ICテ
スタ等を用いて試験を行う場合に、外部からの低電流容
量の駆動電源にも対応できる。
【0028】また、本発明の第6の特徴の液晶表示装置
の駆動回路では、図1に示す如く、テスト用シフトレジ
スタ22においてスタートパルスSTでシフト動作し、
第6切り換え回路16により、第6テストモード信号T
m6に基づき、通常動作時にはラッチ回路3出力を、ま
た第6テストモード下ではラッチ回路3出力とテスト用
シフトレジスタ22出力との論理積をセレクタ4に供給
するようにしている。
【0029】これにより、第6テストモード時には、テ
ストすべきチャネルのセレクタのみが有効となり、IC
テスタ等を用いて試験を行う場合に、外部からの低電流
容量の駆動電源にも対応できる。
【0030】また、本発明の第7の特徴の液晶表示装置
の駆動回路では、テスト用シフトレジスタ22において
スタートパルスSTでシフト動作し、第7切り換え回路
17により、第7テストモード信号Tm7に基づき、通
常動作時にはセレクタ4出力を、また第7テストモード
下ではセレクタ4出力とテスト用シフトレジスタ22出
力との論理積を出力部5に供給するようにしている。
【0031】これにより、第7テストモード時には、テ
ストすべきチャネルの出力部のみが有効となり、ICテ
スタ等を用いて試験を行う場合に、外部からの低電流容
量の駆動電源にも対応できる。
【0032】また、本発明の第8の特徴の液晶表示装置
の駆動回路では、図1に示す如く、出力ショート回路1
8により、第8テストモード下では、出力部5出力の各
チャネル間に具備するスイッチング素子をオンさせて、
出力部5における全チャネルを横断的にショートするこ
とができ、TCPの液晶表示パネルへの実装後の動作解
析が容易になる。
【0033】例えば、第8テストモードを個々のチャネ
ルを1チャネルずつ順次出力するテストモードとすれ
ば、各チャネルの出力波形を、TCP上のモニターパッ
ドMPで順次観測することが可能となり、また、第8テ
ストモードをチャネルに相当するアドレス付きデータの
フォーマットで入力するテストモードとすれば、チャネ
ルを直接指定できるため、時間的遅れなく観測すること
も可能である。
【0034】更に、本発明の第9の特徴の液晶表示装置
の駆動回路では、テストモードデコーダ24により、テ
ストモード信号TMに基づき第1、第2、第3、第4、
第5、第6、第7、または第8テストモード信号Tm1
〜Tm8を生成するようにしている。従って、テストモ
ード信号TMの指定によって種々の組合せのテストが可
能となる。
【0035】請求項10に記載の発明によれば、上記各
請求項1乃至9に記載の駆動回路によって液晶表示パネ
ル100が駆動される液晶表示装置の具現化が可能とな
る。
【0036】
【実施例】次に、本発明に係る実施例を図面に基づいて
説明する。図1は、以下で説明する本発明の各実施例に
係る液晶表示装置の駆動回路の構成図であり、ディジタ
ルデータドライバについての部分構成図である。同図に
おいて、図11(従来例)と重複する部分には同一の符
号を附する。
【0037】図1において、ディジタルデータドライバ
は、従来例と同様に、シフトレジスタ1、データ入力部
6、データレジスタ2、ラッチ回路3、セレクタ4、及
び出力部5を備えている。通常動作(テストモードでは
ない)時におけるこれら構成要素の動作は、従来と同様
である。
【0038】以上の構成に加えて、本発明では、第1切
り換え回路11、第2切り換え回路12、第3切り換え
回路13、第4切り換え回路14、第5切り換え回路1
5、第6切り換え回路16、第7切り換え回路17、出
力ショート回路18、テスト用アドレスデコーダ21、
テスト用シフトレジスタ22、及びテストモードデコー
ダ24が付加された構成となっている。
【0039】以下、付加された各構成要素の機能及び動
作について、各実施例において詳細に説明する。第1実施例 図2は本発明の第1実施例に係る液晶表示装置の駆動回
路におけるデータドライバの特徴的部分の説明図であ
り、図2(a)は回路構成図、図2(b)はタイミング
チャートである。
【0040】本実施例の液晶表示装置の駆動回路は、図
2(a)に示すように、第1テストモード信号Tm1に
基づき、シフトレジスタ1の各段の入力として、該段の
前段のシフトレジスタ出力、またはn段(nは任意の正
整数)毎に分割したときの該段が含まれる分割群の先頭
段の前段のシフトレジスタ出力の何れかを供給する第1
切り換え回路11を備えた構成である。
【0041】尚、図2(a)においてはn=16であ
り、第1切り換え回路11において、第1テストモード
信号Tm1に基づき、該信号がアクティブの第1テスト
モード時にn段前のシフトレジスタ出力が選択され、該
信号がインアクティブの通常動作時に前段のシフトレジ
スタ出力が選択される。
【0042】つまり、第1テストモード時には、例えば
64段のシフトレジスタ1を1/n段のシフトレジスタ
に短縮するため、図2(b)のタイミングチャートに示
すように、n段毎のグループに同じパルスを入力し、該
グループからはクロックパルス供給時に1段シフトした
パルスを出力する。この出力が次のn段のグループに対
する入力として選択され、更にシフトしたパルスを出力
するようになる。
【0043】従ってn=16とした図2(a)の場合に
は、通常動作時に64段の奥行きのあるシフトレジスタ
の場合、第1テストモード下では奥行きが4段のシフト
レジスタとして動作することとなり、データサンプリン
グに要する時間は、通常動作時の1/16となる。
【0044】また、本実施例の変形として、n段のグル
ープを連続したグループではなく、n段おきに構成する
ことも可能である。この場合、スタートパルスSTを
(m×n+1)段目シフトレジスタ入力に、1段目シフ
トレジスタ出力を(m×n+2)段目のシフトレジスタ
入力に、(n−1)段目シフトレジスタ出力を((m+
1)×n)段目シフトレジスタ入力に、それぞれ接続し
ていく構成となる。
【0045】本変形例の構成では、同じシフトパルス出
力がn段おきに(m+1)本出力されることとなる。第2実施例 図3は本発明の第2実施例に係る液晶表示装置の駆動回
路におけるデータドライバの特徴的部分の説明図であ
り、図3(a)は構成図、図3(b)はタイミングチャ
ートである。
【0046】本実施例の液晶表示装置の駆動回路は、第
2テストモード信号Tm2に基づき、シフトレジスタ1
出力、またはシフトレジスタ1の動作を開始するスター
トパルスSTの何れかを、サンプリング信号としてデー
タレジスタ2に供給する第2切り換え回路12を備えた
構成である。
【0047】一般にデータドライバの構成は、チャネル
数が例えば192チャネルと多く、データ入力はチャネ
ル毎のシリーズデータであるため、所定のチャネルのデ
ータレジスタにデータをサンプリング入力するまでに、
シフトレジスタ1でスタートパルスSTを順次シフト
し、個々のチャネル用のサンプリングパルスを作成する
必要がある。
【0048】本実施例では、テスト時のデータサンプリ
ングの時間短縮のため、第2テストモード時には、シフ
トレジスタ1を介することなく、入力データDataを
サンプリング入力する構成とする。即ち、第2切り換え
回路12により、シフトレジスタ1出力のサンプリング
パルスの代わりに、スタートパルスSTをデータサンプ
リング用クロックとしてデータレジスタ2に供給する。
【0049】第2切り換え回路12を設けたことによ
り、第2テストモード時には、図3(b)のタイミング
チャートに示すように、第1チャネルデータレジスタへ
のデータ入力を、スタートパルスSTで全チャネルのデ
ータレジスタに一度に入力でき、シフトレジスタ1でパ
ルスをシフト動作させる分の時間短縮が可能となる。第3実施例 図4は本発明の第3実施例に係る液晶表示装置の駆動回
路におけるデータドライバの特徴的部分の説明図であ
り、図4(a)は構成図、図4(b)はタイミングチャ
ートである。
【0050】本実施例の液晶表示装置の駆動回路は、第
3テストモード信号Tm3に基づき、ラッチ回路3入力
として、データレジスタ2出力、またはデータ入力部6
の何れかを供給する第4切り換え回路14を備えた構成
である。
【0051】第4切り換え回路14により、データを繰
り返し入力し、またはデータ入力を頻繁に変更するよう
なテストの場合、図4(b)のタイミングチャートに示
すように、同一の入力データを全チャネルのラッチ回路
3に直接ストアできるので、データサンプリングの時間
が短縮され、ラッチ回路3以降の回路ブロツクの試験時
間の短縮が可能となる。第4実施例 図5は本発明の第4実施例に係る液晶表示装置の駆動回
路におけるデータドライバの特徴的部分の構成図であ
る。
【0052】本実施例の液晶表示装置の駆動回路は、デ
ータレジスタ2の一部を特定する信号を生成するデコー
ダ21と、第4テストモード信号Tm4に基づき、シフ
トレジスタ1出力、またはデコーダ21出力の何れか
を、サンプリング信号としてデータレジスタ2に供給す
る第3切り換え回路13とを備えた構成である。
【0053】第4テストモード下では、データサンプリ
ングの時間短縮のため、テストしようとするチャネルの
アドレス付きデータを入力する。デコーダ21で該アド
レスADRをデコードし、該当するチャネルのデコーダ
21出力により、所定のチャネルのデータレジスタを選
択して、シフトレジスタ1における段数分のシフト動作
による遅れなしに、直接入力データDataを該当チャ
ネルのデータレジスタにストアすることができる。第5実施例 図6は本発明の第5実施例に係る液晶表示装置の駆動回
路におけるデータドライバの特徴的部分の構成図であ
る。
【0054】本実施例の液晶表示装置の駆動回路は、第
5テストモード信号Tm5に基づき、全チャネル共通の
ラッチパルスLP、またはチャネル毎のラッチパルスの
何れかをラッチ回路3に供給する第5切り換え回路13
を備えた構成である。
【0055】本実施例は、ICテスタ等を用いて試験を
行う場合に、外部からの低電流容量の駆動電源にも対応
できるようにした構成である。通常、データドライバの
出力部5は外部から基準電源V1〜V8を供給する方式
である。通常使用時では、ラッチパルスLPにより全チ
ャネルのラッチ回路3が同時出力し、セレクタ4では同
時に各チャネル毎の基準電源V1〜V8を選択し、液晶
表示パネル100を駆動する出力電圧となる。
【0056】ところで、ICテスト時にICテスタ等の
駆動電源を外部基準電源として用いる場合、その電流容
量が制限されることが多い。本実施例は、その電流容量
が小さい場合でも対応できるよう、第5テストモード時
には同時に出力するチャネル数を制限する構成とし、出
力電流を抑えるものである。具体的には、1チャネルず
つ出力できる回路構成とする。
【0057】つまり、第5切り換え回路13により、ラ
ッチ回路3において、全チャネル共通のラッチパルスL
Pの代わりに、1チャネルずつ個別のラッチパルスをラ
ッチクロックとして入力する。この時のラッチクロック
としては、スタートパルスSTを選択する。従って、第
5テストモード時にはラッチクロックが入力されたチャ
ネルのみ出力が有効となる。選択されていない周期とチ
ャネルでは、出力は例えばオープンの状態に固定する。第6実施例 図7は本発明の第6実施例に係る液晶表示装置の駆動回
路におけるデータドライバの特徴的部分の説明図であ
り、図7(a)は構成図、図7(b)はタイミングチャ
ートである。
【0058】本実施例の液晶表示装置の駆動回路は、図
7(a)に示すように、シフトレジスタ1の動作を開始
するスタートパルスSTでシフト動作するテスト用シフ
トレジスタ22と、第6テストモード信号Tm6に基づ
き、ラッチ回路3出力、またはラッチ回路3出力とテス
ト用シフトレジスタ22出力との論理積の何れかをセレ
クタ4に供給する第6切り換え回路16とを備えた構成
である。
【0059】または、第6切り換え回路16を省略し
て、シフトレジスタ22の各段の出力を、順次各チャネ
ルのセレクタの入力に追加する構成としてもよい。本実
施例では、第6テストモード時には、図7(b)に示す
ように、テスト用シフトレジスタ22の制御によってテ
ストすべきチャネルのセレクタのみが有効となる。従っ
て、セレクタ4の論理出力により、スタートパルスST
の周期毎に選択されたチャネルが順次有効となり、順
次、基準電源V1〜V8が選択されて出力されることと
なる。尚、選択されていない周期とチャネルでは、出力
は例えばオープンの状態に固定する。
【0060】更に、2チャネル以上の複数のチャネルず
つ出力するよう構成することも可能である。第7実施例 図8は本発明の第7実施例に係る液晶表示装置の駆動回
路におけるデータドライバの特徴的部分の構成図であ
る。
【0061】本実施例の液晶表示装置の駆動回路は、シ
フトレジスタ1の動作を開始するスタートパルスSTで
シフト動作するテスト用シフトレジスタ22と、第7テ
ストモード信号Tm7に基づき、セレクタ4出力、また
はテスト用シフトレジスタ22出力の何れかを出力部5
に供給する第7切り換え回路17とを備えた構成であ
る。
【0062】本実施例では、テスト用シフトレジスタ2
2でスタートパルスST周期のパルス幅を備えるパルス
を作成し、第7切り換え回路17により、シフトレジス
タ22から供給されるシフトレジスタ各段の出力と各チ
ャネルのセレクタ出力との論理積と、各チャネルのセレ
クタの出力とが切り換えられる。第7テストモード時に
は、テストすべきチャネルの出力部のみが有効となる。
【0063】これにより、スタートパルス周期毎に各チ
ャネルの出力部が選択され、順次、基準電源が選択され
て出力されることとなる。更に、2チャネル以上の複数
のチャネルずつ出力するよう構成することも可能であ
る。第8実施例 図9は本発明の第8実施例に係る液晶表示装置の駆動回
路におけるデータドライバの特徴的部分の構成図であ
る。
【0064】本実施例の液晶表示装置の駆動回路は、出
力部5出力の各チャネル間に第8テストモード信号Tm
8により制御されるスイッチング素子を備える出力ショ
ート回路18を備えた構成である。
【0065】データドライバはTCPパッケージ(Tape
Carried Package)に実装されることが多い。TCPの
出力側アウターリードのピッチは、160〜180[μ
m]前後と狭い。
【0066】実装前のTCP製品には、全チャネルのリ
ード終端部にチェック用として、テストパッドを設ける
ことが一般的だが、液晶表示パネル100に実装時に
は、その部分はスペースの制限からカットされてしまう
ため、液晶表示パネル100に実装後のTCP出力チャ
ネルを個々にプロービングして、波形観測等の動作解析
をすることはほとんど困難である。但し、TCPの両端
のチャネルのみ、TCP上にモニター用パッドMPを設
けることがスペース的に可能である。
【0067】そこで、このモニターパッドMPに中間の
チャネルの波形を出力させることを目的として、出力部
に全チャネルを横断的にショートする回路18を備え
る。チャネル間のショートはアナログスイッチ素子SW
による。中間のチャネル波形を観測する場合、第8テス
トモード信号Tm8をアクティブにして、出力部5にお
ける全チャネルを横断的にショートする。
【0068】この時、第8テストモードを個々のチャネ
ルを1チャネルずつ順次出力するテストモードとすれ
ば、各チャネルの出力波形を、TCP上のモニターパッ
ドMPで順次観測することが可能となる。
【0069】また、第8テストモードをチャネルに相当
するアドレス付きデータのフォーマットで入力するテス
トモードとすれば、チャネルが直接指定できるため、時
間的遅れなく観測することも可能である。第9実施例 図10は本発明の第9実施例に係る液晶表示装置の駆動
回路におけるデータドライバの特徴的部分の説明図であ
り、図10(a)は構成図、図10(b)はタイミング
チャートである。
【0070】本実施例の特徴の液晶表示装置の駆動回路
は、テストモード信号TMに基づき第1、第2、第3、
第4、第5、第6、第7、及び第8テストモード信号T
m1〜Tm8を生成するテストモードデコーダ24を備
えた構成である。
【0071】テスト端子からテストモード毎に違う複数
種類のテストコードを、テストモード信号TMとして入
力する。該テストモード信号TMをテストモードデコー
ダ24でデコードしテストモードを判別する。
【0072】各テストモードに対応するデコーダ出力を
第1、第2、第3、第4、第5、第6、第7、及び第8
テストモード信号Tm1〜Tm8とし、上記第1〜第8
実施例で説明したようなテスト用に付加された構成要素
を通常動作またはテストモードに切り換え制御する信号
とする。複数のテストモードをシリーズに入力し、テス
トモードの重複組合わせも可能である。
【0073】また、テスト端子を複数個のテスト端子で
構成して、該テスト端子に直流信号を入力して、その組
合わせで複数種類のテストモードを表現することも可能
である。
【0074】更に、テスト端子の代わりに、テスト端子
以外の端子、例えばスタート入力端子等を使用して複数
種類のテストコードを入力することも可能である。第10実施例 以上の各実施例に開示した駆動回路を含む液晶表示の要
部を図1に開示した。図1に示すように、入力データD
ATAはデータ入力部6を介してシリアルにデータレジ
スタ2に送られたのち、パラレルデータとして出力ショ
ート回路18を経由して液晶表示パネル100に印加さ
れる。
【0075】このように、本発明に係る液晶表示装置
は、各実施例に示した駆動回路を備え、前述した種々の
試験が可能な構成となっている。
【0076】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
第1切り換え回路により、第1テストモード下では、シ
フトレジスタの各段の入力として、n段毎に分割したと
きの該段が含まれる分割群の先頭段の前段のシフトレジ
スタ出力を供給することとしたので、シフトレジスタを
実効的に1/n段のシフトレジスタに短縮することがで
き、データサンプリングに要する時間が通常動作時の1
/nとなり、IC出荷試験等の試験時間を短縮し得る液
晶表示装置の駆動回路を提供することができる。
【0077】また、本発明によれば、第2切り換え回路
により、第2テストモード下ではシフトレジスタの動作
を開始するスタートパルスを、サンプリング信号として
データレジスタに供給することとしたので、任意チャネ
ルのデータレジスタへのデータ入力を、スタートパルス
で全チャネルのデータレジスタに一度に入力でき、シフ
トレジスタにおけるシフト動作分の時間短縮が可能とな
り、IC出荷試験等の試験時間を短縮し得る液晶表示装
置の駆動回路を提供することができる。
【0078】また、本発明によれば、第4切り換え回路
により、第3テストモード下ではラッチ回路入力として
データ入力部を供給することとしたので、同一の入力デ
ータを全チャネルのラッチ回路に直接ストアでき、デー
タサンプリング時間が短縮され、ラッチ回路以降の回路
ブロツクの試験時間を短縮し得る液晶表示装置の駆動回
路を提供することができる。
【0079】また、本発明によれば、デコーダからデー
タレジスタの一部を特定する信号を生成し、第3切り換
え回路により、第4テストモード下ではデコーダ出力を
サンプリング信号としてデータレジスタに供給すること
としたので、アドレス等によってデータレジスタの一部
を特定することができ、チャネルを任意に選択して、且
つシフトレジスタにおけるシフト動作分の時間を短縮し
てテストを行うことができるので、IC出荷試験等の試
験時間を短縮できると共に、ランダムサンプリングテス
ト等の種々のテストが可能な液晶表示装置の駆動回路を
提供することができる。
【0080】また、本発明によれば、第5切り換え回路
により、第5テストモード下ではラッチパルスの供給さ
れたチャネルのラッチ回路のみを有効とすることがで
き、ICテスタ等を用いて試験を行う場合に、外部から
の低電流容量の駆動電源にも対応し得る液晶表示装置の
駆動回路を提供することができる。
【0081】また、本発明によれば、テスト用シフトレ
ジスタにおいてスタートパルスでシフト動作し、第6切
り換え回路により、第6テストモード下ではテスト用シ
フトレジスタ出力をセレクタに供給することとしたの
で、テストすべきチャネルのセレクタのみが有効とな
り、ICテスタ等を用いて試験を行う場合に、外部から
の低電流容量の駆動電源にも対応し得る液晶表示装置の
駆動回路を提供することができる。
【0082】また、本発明によれば、テスト用シフトレ
ジスタにおいてスタートパルスでシフト動作し、第7切
り換え回路により、第7テストモード下ではテスト用シ
フトレジスタ出力を出力部に供給することとしたので、
テストすべきチャネルの出力部のみが有効となり、IC
テスタ等を用いて試験を行う場合に、外部からの低電流
容量の駆動電源にも対応し得る液晶表示装置の駆動回路
を提供することができる。
【0083】また、本発明によれば、出力ショート回路
により、第8テストモード下では、出力部出力の各チャ
ネル間に具備するスイッチング素子をオンさせて、出力
部における全チャネルを横断的にショートすることがで
きるので、TCPの液晶表示パネルへの実装後の動作解
析が容易な液晶表示装置の駆動回路を提供することがで
きる。
【0084】更に、本発明によれば、テストモードデコ
ーダ24により、テストモード信号に基づき第1、第
2、第3、第4、第5、第6、第7、または第8テスト
モード信号を生成することとしたので、テストモード信
号TMの指定によって種々の組合せのテストが可能な液
晶表示装置の駆動回路を提供することができる。
【0085】加えて、本発明に係る液晶表示装置は、請
求項1乃至9のいずれかに記載の駆動回路を含むので、
実装後における各種試験を可能とする液晶表示装置を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の各実施例に係る液晶表示装置の駆動回
路の構成図であり、ディジタルデータドライバについて
の部分構成図である。
【図2】第1実施例に係る液晶表示装置の駆動回路にお
けるデータドライバの特徴的部分の説明図であり、図2
(a)は回路構成図、図2(b)はタイミングチャート
である。
【図3】第2実施例に係る液晶表示装置の駆動回路にお
けるデータドライバの特徴的部分の説明図であり、図3
(a)は構成図、図3(b)はタイミングチャートであ
る。
【図4】第3実施例に係る液晶表示装置の駆動回路にお
けるデータドライバの特徴的部分の説明図であり、図4
(a)は構成図、図4(b)はタイミングチャートであ
る。
【図5】第4実施例に係る液晶表示装置の駆動回路にお
けるデータドライバの特徴的部分の構成図である。
【図6】第5実施例に係る液晶表示装置の駆動回路にお
けるデータドライバの特徴的部分の構成図である。
【図7】第6実施例に係る液晶表示装置の駆動回路にお
けるデータドライバの特徴的部分の説明図であり、図7
(a)は構成図、図7(b)はタイミングチャートであ
る。
【図8】第7実施例に係る液晶表示装置の駆動回路にお
けるデータドライバの特徴的部分の構成図である。
【図9】第8実施例に係る液晶表示装置の駆動回路にお
けるデータドライバの特徴的部分の構成図である。
【図10】第9実施例に係る液晶表示装置の駆動回路に
おけるデータドライバの特徴的部分の説明図であり、図
10(a)は構成図、図10(b)はタイミングチャー
トである。
【図11】従来の液晶表示装置の駆動回路の説明図であ
り、図11(a)は構成図、図11(b)はタイミング
チャートである。
【符号の説明】
1…シフトレジスタ 2…データレジスタ 3…ラッチ回路 4…セレクタ 5…出力部 6…データ入力部 11…第1切り換え回路 12…第2切り換え回路 13…第3切り換え回路 14…第4切り換え回路 15…第5切り換え回路 16…第6切り換え回路 17…第7切り換え回路 18…出力ショート回路 21…テスト用アドレスデコーダ 22…テスト用シフトレジスタ 24…テストモードデコーダ 100…液晶表示パネル TM…テストモード信号 Tm1〜Tm8…第1〜第8テストモード信号 ST…スタートパルス CK…クロック ADR…アドレス DATA…入力データ(R,G,B) Data…入力データ LP…ラッチパルス Lp…ラッチパルス V1〜V8…基準電源 SE2〜SE32…セレクタ S1〜S32…シフトレジスタ SOUT1〜SOUT64…シフトレジスタ出力 MP…TCP上モニターパッド SW…アナログスイッチ(スイッチング素子) R1…データレジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G09G 3/36

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力データ(DATA)のサンプリング
    信号を生成するシフトレジスタ(1)を備える液晶表示
    装置の駆動回路であって、 第1テストモード信号(Tm1)に基づき、前記シフト
    レジスタ(1)の各段の入力として、該段の前段のシフ
    トレジスタ出力、またはn段(nは任意の正整数)毎に
    分割したときの該段が含まれる分割群の先頭段の前段の
    シフトレジスタ出力の何れかを供給する第1切り換え回
    路(11)を有することを特徴とする液晶表示装置の駆
    動回路。
  2. 【請求項2】 入力データ(DATA)のサンプリング
    信号を生成するシフトレジスタ(1)と、サンプリング
    入力を保持するデータレジスタ(2)とを備える液晶表
    示装置の駆動回路であって、 第2テストモード信号(Tm2)に基づき、前記シフト
    レジスタ(1)出力、または前記シフトレジスタ(1)
    の動作を開始するスタートパルス(ST)の何れかを、
    前記サンプリング信号として前記データレジスタ(2)
    に供給する第2切り換え回路(12)を有することを特
    徴とする液晶表示装置の駆動回路。
  3. 【請求項3】 入力データ(DATA)のサンプリング
    信号を生成するシフトレジスタ(1)と、サンプリング
    入力を保持するデータレジスタ(2)と、前記データレ
    ジスタ(2)出力をラッチするラッチ回路(3)とを備
    える液晶表示装置の駆動回路であって、 第3テストモード信号(Tm3)に基づき、前記ラッチ
    回路(3)入力として、データレジスタ(2)出力、ま
    たは入力データ(DATA)の何れかを供給する第4切
    り換え回路(14)を有することを特徴とする液晶表示
    装置の駆動回路。
  4. 【請求項4】 入力データ(DATA)のサンプリング
    信号を生成するシフトレジスタ(1)と、サンプリング
    入力を保持するデータレジスタ(2)とを備える液晶表
    示装置の駆動回路であって、 前記データレジスタ(2)の一部を特定する信号を生成
    するデコーダ(21)と、 第4テストモード信号(Tm4)に基づき、前記シフト
    レジスタ(1)出力、またはデコーダ(21)出力の何
    れかを、前記サンプリング信号として前記データレジス
    タ(2)に供給する第3切り換え回路(13)を有する
    ことを特徴とする液晶表示装置の駆動回路。
  5. 【請求項5】 入力データ(DATA)のサンプリング
    信号を生成するシフトレジスタ(1)と、サンプリング
    入力を保持するデータレジスタ(2)と、前記データレ
    ジスタ(2)出力をラッチするラッチ回路(3)とを備
    える液晶表示装置の駆動回路であって、 第5テストモード信号(Tm5)に基づき、全チャネル
    共通のラッチパルス(LP)、またはチャネル毎のラッ
    チパルスの何れかを、前記ラッチ回路(3)に供給する
    第5切り換え回路(13)を有することを特徴とする液
    晶表示装置の駆動回路。
  6. 【請求項6】 入力データ(DATA)のサンプリング
    信号を生成するシフトレジスタ(1)と、サンプリング
    入力を保持するデータレジスタ(2)と、前記データレ
    ジスタ(2)出力をラッチするラッチ回路(3)と、前
    記ラッチ回路(3)出力に基づき選択信号を生成するセ
    レクタ(4)と、前記選択信号に基づき出力電圧レベル
    を決定する出力部(5)とを備える液晶表示装置の駆動
    回路であって、 前記シフトレジスタ(1)の動作を開始するスタートパ
    ルス(ST)でシフト動作するテスト用シフトレジスタ
    (22)と、 第6テストモード信号(Tm6)に基づき、前記ラッチ
    回路(3)出力、または前記ラッチ回路(3)出力と前
    記テスト用シフトレジスタ(22)出力との論理積の何
    れかを、前記セレクタ(4)に供給する第6切り換え回
    路(16)を有することを特徴とする液晶表示装置の駆
    動回路。
  7. 【請求項7】 入力データ(DATA)のサンプリング
    信号を生成するシフトレジスタ(1)と、サンプリング
    入力を保持するデータレジスタ(2)と、前記データレ
    ジスタ(2)出力をラッチするラッチ回路(3)と、前
    記ラッチ回路(3)出力に基づき選択信号を生成するセ
    レクタ(4)と、前記選択信号に基づき出力電圧レベル
    を決定する出力部(5)とを備える液晶表示装置の駆動
    回路であって、 前記シフトレジスタ(1)の動作を開始するスタートパ
    ルス(ST)でシフト動作するテスト用シフトレジスタ
    (22)と、 第7テストモード信号(Tm7)に基づき、前記セレク
    タ(4)出力、または前記セレクタ(4)出力と前記テ
    スト用シフトレジスタ(22)出力との論理積の何れか
    を、前記出力部(5)に供給する第7切り換え回路(1
    7)を有することを特徴とする液晶表示装置の駆動回
    路。
  8. 【請求項8】 入力データ(DATA)のサンプリング
    信号を生成するシフトレジスタ(1)と、サンプリング
    入力を保持するデータレジスタ(2)と、前記データレ
    ジスタ(2)出力をラッチするラッチ回路(3)と、前
    記ラッチ回路(3)出力に基づき選択信号を生成するセ
    レクタ(4)と、前記選択信号に基づき出力電圧レベル
    を決定する出力部(5)とを備える液晶表示装置の駆動
    回路であって、 前記出力部(5)出力の各チャネル間に第8テストモー
    ド信号(Tm8)により制御されるスイッチング素子を
    備える出力ショート回路(18)を有することを特徴と
    する液晶表示装置の駆動回路。
  9. 【請求項9】 前記液晶表示装置の駆動回路は、テスト
    モード信号(TM)に基づき前記第1、第2、第3、第
    4、第5、第6、第7、または第8テストモード信号
    (Tm1〜Tm8)を生成するテストモードデコーダ
    (24)を有することを特徴とする請求項1、2、3、
    4、5、6、7、または8に記載の液晶表示装置の駆動
    回路。
  10. 【請求項10】 液晶表示パネル(100)と、この液
    晶表示パネル(100)に駆動電圧を供給する駆動回路
    と、を備え、 前記駆動回路は前記請求項1乃至9のいずれかに記載の
    駆動回路を含むことを特徴とする液晶表示装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990038116A (ko) * 1997-11-03 1999-06-05 윤종용 Lcd 디스플레이 제어 회로
WO2004066247A1 (ja) * 2003-01-22 2004-08-05 Sony Corporation フラットディスプレイ装置及び携帯端末装置
KR100604069B1 (ko) * 2004-11-11 2006-07-24 삼성에스디아이 주식회사 데이터 드라이버와 그의 구동방법
US7129936B2 (en) 1999-08-12 2006-10-31 Seiko Epson Corporation Display unit and electronic device including the same
KR100738325B1 (ko) * 2005-10-27 2007-07-12 주식회사 이너텍 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기
KR100870400B1 (ko) * 2002-07-19 2008-11-25 매그나칩 반도체 유한회사 액정표시소자의 소오스 드라이버회로 및 그의 테스트방법
WO2012140815A1 (ja) * 2011-04-12 2012-10-18 パナソニック株式会社 アクティブマトリクス基板、アクティブマトリクス基板の検査方法、表示パネル、および表示パネルの製造方法
JP2017032726A (ja) * 2015-07-30 2017-02-09 ラピスセミコンダクタ株式会社 表示ドライバ
WO2022183894A1 (zh) * 2021-03-05 2022-09-09 常州瑞神安医疗器械有限公司 射频热凝触点切换装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990038116A (ko) * 1997-11-03 1999-06-05 윤종용 Lcd 디스플레이 제어 회로
US7129936B2 (en) 1999-08-12 2006-10-31 Seiko Epson Corporation Display unit and electronic device including the same
USRE42569E1 (en) 1999-08-12 2011-07-26 Seiko Epson Corporation Display unit, electronic device using the same, and method of inspecting the display unit
KR100870400B1 (ko) * 2002-07-19 2008-11-25 매그나칩 반도체 유한회사 액정표시소자의 소오스 드라이버회로 및 그의 테스트방법
US7420532B2 (en) 2003-01-22 2008-09-02 Sony Corporation Flat display apparatus and portable terminal apparatus
WO2004066247A1 (ja) * 2003-01-22 2004-08-05 Sony Corporation フラットディスプレイ装置及び携帯端末装置
KR100604069B1 (ko) * 2004-11-11 2006-07-24 삼성에스디아이 주식회사 데이터 드라이버와 그의 구동방법
KR100738325B1 (ko) * 2005-10-27 2007-07-12 주식회사 이너텍 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기
WO2012140815A1 (ja) * 2011-04-12 2012-10-18 パナソニック株式会社 アクティブマトリクス基板、アクティブマトリクス基板の検査方法、表示パネル、および表示パネルの製造方法
JP2012220851A (ja) * 2011-04-12 2012-11-12 Panasonic Corp アクティブマトリクス基板、アクティブマトリクス基板の検査方法、表示パネル、および表示パネルの製造方法
US9293074B2 (en) 2011-04-12 2016-03-22 Joled Inc. Active-matrix substrate, display panel, and display panel manufacturing method including plural testing signal selection circuits
JP2017032726A (ja) * 2015-07-30 2017-02-09 ラピスセミコンダクタ株式会社 表示ドライバ
WO2022183894A1 (zh) * 2021-03-05 2022-09-09 常州瑞神安医疗器械有限公司 射频热凝触点切换装置

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