KR100738325B1 - 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기에 관한 것으로, 더욱 자세히 설명하면, 핸드폰 등의 단말기에 설치되는 디스플레이 모듈의 조립공정에서 상기 디스플레이 모듈의 성능, 불량여부 등을 검사할 수 있는 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기에 관한 것이다.
검사

Description

복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기{Testing Device for a plurality of Display Modules}
도 1 은 본 발명에 따른 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기의 블록 구성도이다.
도 2 는 본 발명에서 엘씨디 모듈의 카메라 프리뷰 (Camera Preview) 구동을 하는 경우의 테스터기의 블록도이다.
도 3 은 본 발명에 따른 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기의 사시도이다.
** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 **
10: 통신부 50: 전원입력부
105: CPLD 110: 핵심 중앙처리장치 (CPU)
120: I/O 전압안정화기 130: 메모리 블록
150: 엘씨디 모듈 커넥터부 170: 엘씨디 모듈
200: 카메라 운영 블록 320, 340: 커넥터
본 발명은 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기에 관한 것으로, 더욱 자세히 설명하면, 핸드폰 등의 단말기에 설치되는 디스플레이 모듈의 조립공정에서 상기 디스플레이 모듈의 성능, 불량 여부 등을 검사할 수 있는 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기에 관한 것이다.
핸드폰 등의 단말기를 조립하는 공정 중에 단말기의 디스플레이부에 해당하는 엘씨디 (LCD) 모듈을 검사하는 공정이 있다. 종래에는 디스플레이 모듈의 제조 및 조립과정에서 제조, 조립라인의 일부분으로서 설치된 대규모의 검사용 장치에 의해 일률적으로 디스플레이부에 해당하는 엘씨디 (LCD) 모듈의 검사가 행하여졌다.
이러한 종래의 엘씨디 모듈 검사 장비는 핸드폰 등의 단말기의 조립, 생산공정라인에 합체되어 결합, 설치되어 있고, 가격 또한 지나치게 고가인 문제점이 있다. 특히, 기검사가 끝난 단말기의 엘씨디 모듈에 대해서 필요에 의해 재검사의 필요가 있는 경우에 다시 생산, 조립라인에서 재 검사를 하는 것은 진행중인 공정을 방해하는 것이 되는 문제점도 있다.
또한, 종래의 테스트장비로는 18비트 인터페이스의 핸드폰 등의 단말기용 엘씨디 모듈을 구동하는 드라이버 아이씨 (Driver IC) 에 대하여 직접적으로 18비트 인터페이스를 지원해 주지 못하는 문제점이 있어서 모든 모델의 단말기의 엘씨디 모듈을 검사하지 못하는 문제점이 있다.
본 발명은 핸드폰 등의 단말기의 생산, 조립라인과는 별도로 엘씨디 모듈의 검사의 필요성과 모든 모델의 단말기의 디스플레이용 엘씨디를 검사하기 위한 필요성을 충족시키기 위하여 안출된 것이다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로 핸드폰 등의 단말기의 생산, 조립라인의 일부분의 장치로서 종속되어 생산, 조립과정중에 단말기의 엘씨디 모듈을 검사하는 것과는 별개로, 단말기의 엘씨디 모듈을 조립공정라인과는 분리되어 독립적으로 검사할 수 있는 소형이고 가격이 저렴한, 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기를 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한, 본 발명에 따른 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는 한 개의 검사장비로 여러 개의 엘씨디 모듈을 동시에 검사할 수 있도록 하였다.
상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는,
복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기로서,
외부로부터 데이터를 수신하여 전송하는 통신부 (10);
상기 통신부 (10) 로 부터 전송된 데이터를 수신하고, 상기 검사용 테스터기의 전체적인 구동을 제어하고, 인터페이스를 결정하는 핵심블록 (100);
상기 핵심블록 (100) 과 연결되고, 엘씨디 모듈 (170) 의 테스트에 필요한 샘플영상 데이터를 저장하는 메모리 블록 (130); 및
상기 핵심블록 (100) 과 연결되고, 테스트의 대상이 되는 복수 개의 엘씨디 모듈들 (170) 과 연결되게 하는 엘씨디 모듈 커넥터부 (150) 를 포함하고,
상기 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는 전원을 공급하는 전원입력부 (50) 를 더 포함하고,
상기 핵심블록 (100) 에는 상기 검사용 테스터기를 구동하는 프로그램이 설치되어 있는 핵심중앙처리장치 (110) 와
상기 핵심중앙처리장치 (110) 로부터 제어신호를 수신하고, 수신된 제어신호의 폭을 확장하여 주는 CPLD (105) 가 서로 연결되게 설치되고,
테스트의 대상이 되는 디스플레이모듈이 18 비트 병렬인터페이스를 가지는 경우에, 상기 핵심중앙처리장치 (110) 는 8 비트의 단위로 분리된 데이터를 한 번씩 두번에 걸쳐 상기 CPLD (105) 로 전송하고 마지막으로 2 비트의 데이터를 전송하고, 상기 CPLD (105) 는 18 비트의 데이터의 전송이 완료되면 상기 18 비트의 데이터를 한번에 상기 테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 로 전송하고,
상기 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는 상기 핵심블록 (100) 과 연결되고, 테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 의 드라이버 아이씨의 전압레벨을 체크하여 전송될 데이터의 전압레벨을 맞추어주는 I/O 전압안정화기 (120) 를 더 포함하고,
상기 전원 입력부 (50) 는,
상기 메모리블록 (170) 과 핵심블록 (100) 에 전력을 공급하고 조절하는 핵심전력발생기 (65);
테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 의 전원을 조절하고 전력을 공급하 는 변압기 (70) 및 엘씨디 모듈 전력발생기 (75); 및
상기 테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 의 백라이트 전원을 조절하고 전력을 공급하는 변압기 (80) 및 백라이트 전력발생기 (85) 를 포함하고,
상기 핵심블록 (100) 에는 상기 검사용 테스터기를 구동하는 프로그램이 설치되어 있는 핵심중앙처리장치 (110) 와
상기 핵심중앙처리장치 (110) 로부터 제어신호를 수신하고, 수신된 제어신호의 폭을 확장하여 주는 CPLD (105) 가 서로 연결되게 설치되어 있고,
상기 통신부 (10) 는, 외부로부터 프로그램을 상기 핵심중앙처리장치 (110) 에게 전송하거나 상기 메모리블록 (130) 에 저장될 이미지데이터를 전송하는 경로인 RS 232 통신부 (20); 및
상기 CPLD (105) 에 프로그램하는 프로그램을 외부로부터 전송받아 전송하게 하는 연결장치인 병렬통신부 (30) 와 상기 병렬통신부 (30) 와 연결되고 상기 CPLD (105) 와 연결된 JTAG 컨버터 (40) 를 포함하고,
상기 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는, 카메라 센서 (210) 와 상기 핵심중앙처리장치 (110) 에 의해 제어되는 백앤드 아이씨 (220) 를 포함하는 카메라운영블록 (200) 을 더 포함하고,
상기 카메라 운영블록 (200) 은 엘씨디 모듈 커넥터부 (150) 에 연결되고,
상기 카메라운영블록 (200) 에는 테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 이 연결되고, 상기 엘씨디 모듈 (170) 은 백앤트아이씨 (220) 가 제어하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 장점, 특징 및 바람직한 실시예는 첨부한 도면들을 참조하여 아래에서 상세히 설명한다.
도 1 은 본 발명에 따른 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기의 블록 구성도이다.
도 1 에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는 외부의 개인용 컴퓨터 (5) 과 연결되어 데이터통신을 담당하는 통신부 (10), 도 1의 주요 구성부분과 테스트의 대상이 되는 단말기용 엘씨디 모듈 (170) 에 전원을 공급하는 전원부 (50), 본 발명에 따른 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기의 전체적인 구동을 관장하고, 인터페이스를 결정할 수 있도록 해주는 핵심블록 (100), I/O 전압 안정화기 (120), 단말기용 엘씨디 모듈 (170) 의 테스트에 필요한 샘플 영상을 반영구적으로 저장해 주는 역할을 하는 메모리블록 (130), 다수개의 단말기용 엘씨디 모듈 (170) 과 각각 직접 연결되는 단자인 엘씨디모듈 커넥터부 (150) 및 본 발명에 따른 테스터기의 동작을 외부에서 제어할 수 있는 버튼인 외부버튼부 (115) 로 구성되어 있다.
본 발명에 따른 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기의 각각의 구성부분을 분설하면 다음과 같다.
본 발명에 따른 통신부 (10) 는 PC와 같은 개인용컴퓨터 (5)와 연결되고, RS 232C 통신부 (20) 및 병렬통신부 (30) 를 포함하게 구성되어 있다. 통신부 (10) 의 RS232C 통신부 (20) 는 핵심중앙처리장치 (Core CPU) (110) 에 개인용컴퓨터 (5)로부터 입력된 프로그램을 전송하고, 필요에 따라 본 발명에 따른 테스터기의 상태를 모니터링 할 수 있는 기능을 지원하고 또한, 본 발명에 따른 테스터기의 플래쉬메모리 (Flash Memory) (135) 에 저장될 이미지데이터를 전송해 준다. 병렬 (Parallel) 통신부(30) 는 CPLD (105) 에 업데이트된 프로그램을 전송하게 하는 연결장치인 JTAG 컨버터 (40) 를 통하여 CPLD (105) 에 업데이트된 프로그램을 전송할 수 있게 하여 준다.
본 발명에 따른 전원 입력부 (50) 는 외부전원 커넥터 (60)를 포함하고, 외부전원 커넥터 (60) 는 핵심전력발생기 (Core Power Generator) (65), 핸드폰 등의 단말기용 엘씨디 모듈 (170) 의 전원을 조절하는 변압기 (70) 및 엘씨디 모듈 전력발생기 (75), 핸드폰 등의 단말기용 엘씨디 모듈의 백라이트 전원을 조절하는 변압기 (80) 및 백라이트 전력발생기 (85) 를 포함하게 구성되어 있다.
본 발명에 따른 CPLD (Complex Programmable Logic Device) 블록 (105)과 메모리 블록 (130)이 요구하는 전원은 3.3V이고, 핵심 중앙처리장치 (CPU) 블록 (110) 이 요구하는 전원은 5V 인데, 이 2가지 전원은 핵심전력발생기 (Core Power Generator) (65)를 통하여 공급되게 된다.
단말기에 설치되는 엘씨디 모듈 (170) 의 경우 각 모델별로 요구되는 드라이버 아이씨 (Driver IC) 의 구동 전압과 백라이트 전압의 차가 크므로 2V ~ 9.5V로 가변할 수 있도록 구성한다. 비록 도 1에 명시되어 있지는 않으나 본 발명에 따른 테스터기의 외부에서 전원의 확인과 조절을 간편하게 하기 위하여 LED로 수치가 표기되는 전압계 (330) 와 전원 조절용 다이얼 (335) 이 설치될 수 있다. (도 3 참 조)
본 발명에 따른 핵심블록 (Core block) (100) 은 핵심 중앙처리장치 (CPU) (110) 와 CPLD (Complex Programmable Logic Device) (105) 로 구성되어 있다.
본 발명에 따른 핵심 중앙처리장치 (Core CPU) (110)는 본 발명에 따른 테스터기를 구동하는 프로그램이 설치되어 있어 각기 다른 엘씨디 드라이버 아이씨 (LCD Driver IC) 에 맞는 제어 신호와 플래쉬메모리 (Flash Memory) (135) 의 제어를 담당하게 된다. 또한, 엘씨디 모듈 (170) 에 직접적인 제어를 필요로 하는 부분, 예를 들어 백라이트의 On/Off, 엘이디 (LED)의 제어, 모터의 구동, 스피커의 동작 등을 제어하게 된다.
본 발명의 핵심 중앙처리장치(Core CPU) (110) 에서 출력된 제어 신호는 CPLD (105) 를 통하여 각 구동 소자에 전달되게 된다.
본 발명의 CPLD (105) 의 주요한 동작은 핵심 중앙처리장치 (110) 의 제어신호를 전달하고, 데이터 버스(data bus)의 폭을 확장시켜 주는 역할을 하게 된다.
본 발명에 따른 메모리블록 (130) 은 플래쉬메모리 (135) 로 구성되어 있다.
본 발명에 따른 I/O 전압 안정화기 (Voltage Stabilizer) (120)는 드라이버 아이씨 (Driver IC) 에 입력되는 I/O 버스 전압이 드라이버 아이씨 구동 전압과 달라 테스트에 이상이 발생하는 것을 방지하기 위한 안전장치이다. 모든 데이터 버스의 전압은 자동적으로 전원입력부 (30) 의 엘씨디 모듈 전력발생기 (75) 에서 출력되는 값과 동일하게 설정된다.
본 발명에 따른 엘씨디 모듈 커넥터부 (150) 는 테스트하고자 하는 단말기용 엘씨디 모듈 (170) 들이 끼워져 연결되는 구성요소로서, 드라이버 IC 전원 (155) 과 백라이트 전원 (160) 으로 구성되어 있고, 본 발명에서는 5개의 엘씨디 모듈 커넥터부 (150) 가 설치되어 있다.
이와 같이, 본 발명에 따른 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는 하나의 장비로 5개의 듀얼 엘씨디 (Dual LCD) 모듈을 동시에 테스트 하거나 5가지 종류의 단말기용 엘씨디 모듈 (170) 을 테스트할 수 있도록 구성되어 있다.
본 발명에 따른 외부버튼부 (115) 는 본 발명에 따른 테스터기의 동작을 외부에서 제어하도록 하는 버튼이다.
또한, 본 발명에 따른 테스터기는 외부의 개인용컴퓨터 (5) 와 연결되어 개인용 컴퓨터 (5) 와 같은 외부입력장치를 통하여 CPLD (105)에 새로운 논리프로그램을 전송하게 하고, 핵심중앙처리장치 (110) 에 새로운 제어프로그램을 전송하고, 메모리블록 (130) 에 테스트용 이미지데이터를 전송한다.
이하 본 발명에 따른 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기의 구동 방법을 상세히 설명한다.
우선 개인용컴퓨터 (5) 로부터 출력된 이미지데이터를 메모리블록 (130) 의 플래쉬 메모리 (135)에 저장되는 과정을 살펴보면, 통신부 (10) 의 RS 232C의 통신부 (20) 로 샘플 이미지 데이터를 전송해 주면, 핵심블록 (100) 의 핵심 중앙처리장치 (Core CPU) (110)에서 그 데이터를 R, G, B로 분리하여 테스트의 대상이 되는 핸드폰 등의 단말기용 엘씨디 모듈 (170) 에 적합한 조합으로 재구성한다. 그 후 재구성된 데이터를 CPLD (105) 에 전송하여 주게 된다. CPLD (105) 는 이 데이터 를 핵심 중앙처리장치 (Core CPU) (110)에서 지정하는 방식으로 3개의 플래쉬메모리 (135)에 각각 분리하여 전송하여 준다. 이후 메모리블록 (130) 의 플래쉬 메모리 (135) 에 데이터를 저장하게 된다.
그리고, 저장된 데이터를 엘씨디 모듈 (170) 에 전송하는 과정은 다음과 같다.
먼저 외부 버튼부 (115) 로부터 샘플 데이터를 전송하는 버튼의 입력을 받게 되면, 핵심블록 (100) 의 핵심 중앙처리장치 (Core CPU) (110)에서 엘씨디 모듈의 드라이버 아이씨 (Driver IC) 를 구동하는 정보 (이하 "초기 코드 (Initial Code)"라 한다.)를 CPLD (105)에 전송한다. 이 초기코드는 다양한 데이터 인터페이스를 가지게 된다.
실시예로서, 18비트 인터페이스의 핸드폰 등의 단말기용 엘씨디 모듈을 구동하는 드라이버 아이씨 (Driver IC) 에 대하여 직접적으로 18비트 인터페이스를 지원해 주지 못하는 문제점을 해결한 방안을 설명하면 다음과 같다.
18 Bit 병렬 인터페이스 (Parallel Interface)의 경우의 구동과정은, 일단은 핵심 중앙처리장치 (Core CPU) (110) 의 하드웨어의 한계로 8 Bit 단위로 밖에 전송할 수 없다. 이 경우 18 Bit 병렬 인터페이스의 초기 코드 및 GRAM 데이터를 전송하는 것이 불가능해 지게 된다.
이러한 문제점을 해결하기 위하여 사용되는 것이 CPLD (105) 이다. 핵심 중앙처리장치 (110) 에서는 우선 데이터를 8Bit 단위로 분리하여 전송한다. 18bit 인터페이스의 경우 하위 Bit에서부터 순차적으로 0~7Bit, 8~15Bit, 16~17bit 로 분 리하여 전송한다. 이렇게 핵심중앙처리장치 (Core CPU) (110)로부터 데이터가 전송이 되면, CPLD (105) 는 전송된 데이터를 내부 로직으로 구성된 멀티플렉서 (Multiplexer)(이하 "먹스 (Mux)" 라 한다.) 에 저장하였다가 출력 off bit가 해제되는 순간 한번에 18 bit 데이터로 출력을 하게 된다.
이런 방식은 핵심 중앙처리장치 (110) 에서 직접 데이터를 핸드폰 등의 단말기용 엘씨디 모듈 (170) 로 전송해야 하는 경우, 주로 엘씨디 모듈의 초기코드 (Initial Code) 를 전송하는데 사용된다. 이와 같이 호출된 18bit 데이터는 CPLD (105) 의 먹스 (Mux)를 거쳐 엘씨디 모듈 (170) 에 전송하게 된다.
본 발명의 플레쉬메모리 (135)에 저장되어 있는 이미지 데이터를 읽어 엘씨디 모듈 (170) 에 전송하는 경우에는 상기와 다른 방식을 사용하게 된다.
플레쉬메모리 (135) 에 저장할 때부터 엘씨디 모듈 (170) 에 적합한 형태로 저장되는 것은 위에서 설명한 바와 같다. 각각의 플레쉬 메모리 (135) 에 저장된 데이터는 핵심 중앙처리장치 (Core CPU) (110)에 의하여 호출된다. 핵심중앙처리장치 (110) 는 플레쉬 메모리 (135)에 의해 호출되는 데이터에 대하여 논리적인 연산을 하지 않고, 플레쉬 메모리 (135) 에 저장된 이미지 픽셀 데이터의 카운트, 호출할 이미지 데이터의 형식만을 지정해 준다.
최종적으로 송신된 이미지데이터가 엘씨디 모듈 커넥터부 (150) 에 연결되어 있는 각각의 엘씨디 모듈 (170) 에 전송되는 과정을 살펴 보면 다음과 같다.
모든 이미지데이터들은 전송되기 전에 엘씨디 모듈 (170) 의 드라이버 아이씨 (IC) 의 전압 레벨에 적합하게 변환된다. 전압을 맞추어 주는 역할을 하는 것 이 I/O 전압 안정화기 (Voltage Stabilizer) (120)이다. 본 발명의 I/O 전압안정화기 (120) 는 데이터를 입력할 것인가, 출력할 것인가를 결정하는 역할도 한다. 일단 I/O 전압 안정화기 (120) 를 통과한 이미지데이터는 엘씨디 모듈 커넥터부 (150)의 포트에 공통적으로 송신되게 된다.
단, 칩 선택 (Chip Select) 신호는 별개의 제어 비트 (Bit) 를 가지기 때문에 5개의 포트 (Port)에 서로 다른 엘씨디 모듈 (170) 을 디스플레이할 수 있다.
도 2 는 본 발명에서 엘씨디 모듈의 카메라 프리뷰 (Camera Preview) 구동을 하는 경우의 테스터기의 블록도이다.
2004년 중반부터에 핸드폰의 디스플레이부에 해당하는 엘씨디 모듈 (170) 에 핸드폰 등의 단말기용 카메라 센서 (210) 를 부착하는 일이 많아짐에 따라 핸드폰의 엘씨디 모듈 (170) 과 함께 핸드폰 등의 단말기용 카메라 센서의 동작을 제조, 조립시에 확인하는 작업이 필요해졌다.
이에 따라 본 발명에 따른 테스터기의 엘씨디 모듈 커넥터부 (150) 에 백앤드 아이씨 (Back End IC) (220)를 추가하여 엘씨디 모듈 (170)의 테스트와 백앤드 아이씨 (Back End IC) (220)의 테스트를 동시에 진행할 수 있도록 하였다.
도 2 를 참조하면, 본 발명에 따른 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기의 핵심 중앙처리장치 (Core CPU) (110) 는 백앤드 아이씨 (220) 를 제어해 주며, 엘씨디 모듈 (170) 의 제어는 백앤드 아이씨 (220) (Back End IC) 가 관리하게 된다. 핵심 중앙처리장치 (110) 에서 백앤드 아이씨 (220) 에 프리뷰 동작을 수행 하게 하면, 백앤드 아이씨 (220) 는 센서 (Sensor) (210)에서 출력되고 있는 데이터를 엘씨디 모듈 (170) 에 적합한 데이터로 변환하여 단말기에 사용되는 엘씨디 모듈 (170)로 출력을 해 주게 된다.
이와 같이, 본 발명에서는 카메라센서나 카메라용 백앤드아이씨가 없는 엘씨디 모듈의 경우에도 카메라의 프리뷰 영상을 디스플레이 할 수 있으므로 카메라영상 테스트를 할 수 있다.
본 발명에서는 백앤드 아이씨 (220) 와 카메라 센서 (210) 를 포함하는 카메라 운영블록 (200) 을 소켓타입으로 제작하여 다양한 종류의 백앤드 아이씨 (220) 와 핸드폰 등의 단말기용 카메라 센서 (210) 를 손쉽게 테스트하도록 하였다.
도 3 은 본 발명에 따른 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기의 사시도이다.
도 3 을 참조하면, 위쪽의 도면은 본 발명에 따른 테스터기의 정면에서 비스듬히 바라본 사시도이고, 아래쪽의 도면은 본 발명의 테스터기의 배면도이다.
본 발명에 따른 테스터기의 정면에는 전압계 (330), 전원조절용 다이얼 (335) 및 외부버튼들 (310) 이 배치되어 있다. 본 발명의 전압계 (330) 및 전원조절용 다이얼 (335) 는 도 1 의 전원입력부 (50) 와 연결되고, 본 발명의 외부버튼들 (310) 은 도 1 의 외부버튼부 (115) 와 전기적으로 연결된다.
본 발명에 따른 테스터기의 우측면에 설치된 2개의 커넥터들 (320) 은 외부의 개인용 컴퓨터 (5) 와 연결되는 커넥터 부분으로 도 1 의 통신부 (10) 와 연결된다.
본 발명에 따른 테스터기의 배면에는 5개의 커넥터들 (340) 이 설치되어 테스트하고자 하는 단말기의 엘씨디 모듈 (170) 을 연결시킨다. 상기 커넥터들 (340) 은 도 1 의 엘씨디 모듈 커넥터부 (150) 와 연결되어 설치된다.
도면 부호 350 은 전원커넥터 및 스위치이다.
본 발명에 따른 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는 핸드폰 등의 단말기용 엘씨디 모듈의 생산 및 조립과정의 일부로서 생산라인에 설치되어 운영되는 것과는 별도로 필요에 의하여 개개의 단말기용 엘씨디 모듈을 테스트할 필요가 있을 경우와 연구, 개발을 하는데 있어서 선행하여 테스트를 손쉽게 진행할 수 있는 효과가 있다.
무엇보다도 종래에는 단말기용 엘씨디모듈의 검사장치가 생산라인의 일부로서 설치되어 있었기 때문에 장비의 가격이 고가이고, 종래의 테스트장비로는 18비트 인터페이스의 단말기용 엘씨디 모듈을 구동하는 드라이버 아이씨 (Driver IC) 에 대하여 직접적으로 18비트 인터페이스를 지원해 주지 못하는 등 문제점이 있었으나 본 발명은 이러한 문제점을 해결하였다.
본 발명의 기술적인 효과를 분설하면 다음과 같다.
(1) 다양한 엘씨디 모듈 인터페이스 가능:
본 발명은 현재 개발된 거의 모든 종류의 단말기용 엘씨디 모듈을 테스트할 수 있는 것으로, 시스템 버스 인터페이스의 경우 18bit R/W 버스를 보유하고 있으며, 다양한 용도로 사용할 수 있는 12개의 GPIO(R/W) 핀을 가지고 있다. 또한 일 반적으로 사용되지 않는 특수한 인터페이스에도 대응할 수 있게 하며, 하드웨어의 변경 없이 업그레이드를 할 수 있도록 프로그램이 가능한 CPLD를 채용한다.
(2) 가변가능한 파워시스템:
단말기용 엘씨디 모듈과 백라이트 모듈이 요구하는 다양한 전원에 대응하기 위하여 엘씨디 모듈에 적용되는 전원의 경우에는 2.0V ~ 9.5V, 백라이트용 전원의 경우에는 2.0V ~ 9.5V의 범위에 대응할 수 있으며 보다 간단하게 전원을 변환하게 할 수 있도록 전압계 및 전압 조절용 다이얼을 가지고 있다.
(3) 5개의 단말기용 엘씨디 모듈의 동시 검사가능 :
독립적으로 제어할 수 있는 5개의 단말기용 엘씨디 모듈 인터페이스(즉, 커넥터가 5개)가 있어 최대 5개 (Main LCD, Sub LCD의 Dual LCD Module 기준)의 서로 다른 엘씨디 모듈 모델들을 하나의 본 발명에 따른 테스터기로 검사가 가능하며, 또한, 동일한 모델 5개를 동시에 검사할 수도 있다.
본 발명의 바람직한 실시례가 특정 용어들을 사용하여 기술되어 왔지만, 그러한 기술은 오로지 설명을 하기 위한 것이며, 다음의 청구범위의 기술적 사상 및 범위로부터 이탈되지 않고서 여러 가지 변경 및 변화가 가해질 수 있는 것으로 이해 되어져야 한다.

Claims (9)

  1. 복수 개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기로서,
    외부로부터 데이터를 수신하여 전송하는 통신부 (10);
    상기 통신부 (10) 로 부터 전송된 데이터를 수신하고, 상기 검사용 테스터기의 전체적인 구동을 제어하고, 인터페이스를 결정하는 핵심블록 (100);
    상기 핵심블록 (100) 과 연결되고, 엘씨디 모듈 (170) 의 테스트에 필요한 샘플영상 데이터를 저장하는 메모리 블록 (130); 및
    상기 핵심블록 (100) 과 연결되고, 테스트의 대상이 되는 복수 개의 엘씨디 모듈들 (170) 과 연결되게 하는 엘씨디 모듈 커넥터부 (150) 를 포함하고,
    상기 핵심블록 (100) 에는 상기 검사용 테스터기를 구동하는 프로그램이 설치되어 있는 핵심중앙처리장치 (110) 와
    상기 핵심중앙처리장치 (110) 로부터 제어신호를 수신하고, 수신된 제어신호의 폭을 확장하여 주는 CPLD (Complex Programmable Logic Device) (105) 가 서로 연결되게 설치되어 있고,
    상기 통신부 (10) 는, 외부로부터 프로그램을 상기 핵심중앙처리장치 (110) 에게 전송하거나 상기 메모리블록 (130) 에 저장될 이미지데이터를 전송하는 경로인 RS 232 통신부 (20); 및
    상기 CPLD (Complex Programmable Logic Device) (105) 에 프로그램하는 프로그램을 외부로부터 전송받아 전송하게 하는 연결장치인 병렬통신부 (30) 와 상기 병렬통신부 (30) 와 연결되고 상기 CPLD (105) 와 연결된 JTAG 컨버터 (40) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는 전원을 공급하는 전원입력부 (50) 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기.
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 이 18 비트 병렬인터페이스를 가지는 경우에, 상기 핵심중앙처리장치 (110) 는 8 비트의 단위로 분리된 데이터를 한 번씩 두번에 걸쳐 상기 CPLD (Complex Programmable Logic Device) (105) 로 전송하고 마지막으로 2 비트의 데이터를 전송하고, 상기 CPLD (Complex Programmable Logic Device) (105) 는 18 비트의 데이터의 전송이 완료되면 상기 18 비트의 데이터를 한번에 상기 테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 로 전송하는 것을 특징으로 하는 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는, 상기 핵심블록 (100) 과 연결되고, 테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 의 드라이버 아이씨의 전압레벨을 체크하여 전송될 데이터의 전압레벨을 맞추어주는 I/O 전압안정화기 (120) 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기.
  6. 제 2 항에 있어서,
    상기 전원 입력부 (50) 는,
    상기 메모리블록 (170) 과 핵심블록 (100) 에 전력을 공급하고 조절하는 핵심전력발생기 (65);
    테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 의 전원을 조절하고 전력을 공급하는 변압기 (70) 및 엘씨디 모듈 전력발생기 (75); 및
    상기 테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 의 백라이트 전원을 조절하고 전력을 공급하는 변압기 (80) 및 백라이트 전력발생기 (85) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기.
  7. 삭제
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기는, 카메라 센서 (210) 와 상기 핵심중앙처리장치 (110) 에 의해 제어되는 백앤드 아이씨 (220) 를 포함하는 카메라운영블록 (200) 을 더 포함하고,
    상기 카메라 운영블록 (200) 은 엘씨디 모듈 커넥터부 (150) 에 연결되는 것을 특징으로 하는 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 카메라운영블록 (200) 에는 테스트의 대상이 되는 엘씨디 모듈 (170) 이 연결되고, 상기 엘씨디 모듈 (170) 은 백앤트아이씨 (220) 가 제어하는 것을 특징으로 하는 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기.
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