JP2012220851A - アクティブマトリクス基板、アクティブマトリクス基板の検査方法、表示パネル、および表示パネルの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板と、前記基板上に配置された複数のゲート線102と、前記基板上に複数のゲート線102と交差する方向に配置された複数のソース線103と、m(mは2以上の整数)本のソース線103ごとにブロック化されたデータ線ブロックBごとに設けられた端子141と、データ線ブロックBごとに設けられ、m本のソース線103のうちから選択される少なくとも1本のソース線103と端子141とを導通させる第1選択回路121と、n(nは2以上の整数)個のデータ線ブロックBごとに設けられた端子142と、n個のデータ線ブロックBごとに設けられ、m×n本のソース線103のうちから選択される少なくとも1本のソース線103と端子142とを導通させる第2選択回路122と、を具備する。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明の第1の実施の形態におけるアクティブマトリクス基板100の機能的な構成の一例を示すブロック図である。
第2の実施の形態では、第1選択回路121および第2選択回路122のうちの一方が他方の冗長回路として機能し得る選択回路のレイアウトについて説明する。なお、ここで言う選択回路とは、第1選択回路121および第2選択回路122の総称である。
101 画素アレイ
102 ゲート線
103 ソース線
104〜107 配線
110 画素部
111、113 トランジスタ
112 コンデンサ
114 有機EL素子
115 給電部
121 第1選択回路
122 第2選択回路
131 選択トランジスタ
132 固定電位導入トランジスタ
141〜145 端子
800 検査システム
810 検査装置
811 ゲート信号源
812 選択信号源
813 測定回路
820 プローバー
821〜823 プローブ
831〜833 ケーブル
900 液晶装置
901 画素部
902 データ線
903 端子
904 デマルチプレクサ
905 シフトレジスタ
906 検査回路
907 読み出し線
908 TFTアレイ基板
Claims (14)
- 基板と、
前記基板上に配置された複数の信号線と、
m(mは2以上の整数)本の前記信号線ごとにブロック化された信号線ブロックごとに設けられた第1端子と、
前記信号線ブロックごとに設けられ、m本の信号線のうちから選択される少なくとも1本の信号線と前記第1端子とを導通させる第1選択回路と、
n(nは2以上の整数)個の前記信号線ブロックごとに設けられた第2端子と、
前記n個の信号線ブロックごとに設けられ、m×n本の信号線のうちから選択される少なくとも1本の信号線と前記第2端子とを導通させる第2選択回路と、
を具備するアクティブマトリクス基板。 - 前記第1端子、前記第1選択回路、前記第2端子、および、前記第2選択回路は、前記信号線を検査するための回路を構成している、
請求項1に記載のアクティブマトリクス基板。 - 前記第1選択回路が、検査される信号線と前記第1端子とを導通させた際に、前記第2選択回路は、前記検査される信号線以外の信号線と前記第2端子とを導通させ、当該第2端子より固定電位が入力されるように制御される、
請求項2に記載のアクティブマトリクス基板。 - 前記第1選択回路および前記第2選択回路の少なくとも一方は、マルチプレクサまたはデマルチプレクサとして動作する、
請求項1に記載のアクティブマトリクス基板。 - 前記第1選択回路は、前記信号線のうちの対応する1つと前記第1端子との導通および非導通を切り替える複数の第1スイッチング素子を含み、
前記第2選択回路は、前記信号線のうちの対応する1つと前記第2端子との導通および非導通を切り替える複数の第2スイッチング素子を含み、
前記第2スイッチング素子は、同一の信号線に接続された前記第1スイッチング素子の冗長回路として機能し得るよう構成されている、
請求項1に記載のアクティブマトリクス基板。 - 前記信号線は、データ信号線、及び前記データ信号線と交差する方向に配置された走査信号線のいずれか一方である、
請求項1に記載のアクティブマトリクス基板。 - 前記第2端子および前記第2選択回路は、全ての前記データ信号線ブロックに共通して、1つずつ設けられ、当該第2選択回路は、前記アクティブマトリクス基板上に設けられる全てのデータ信号線のうちから選択される少なくとも1本のデータ信号線と前記第2端子とを導通させる、
請求項6に記載のアクティブマトリクス基板。 - 前記第2端子および前記第2選択回路は、全ての前記走査信号線ブロックに共通して、1つずつ設けられ、当該第2選択回路は、前記アクティブマトリクス基板上に設けられる全ての走査信号線のうちから選択される少なくとも1本の走査信号線と前記第2端子とを導通させる、
請求項6に記載のアクティブマトリクス基板。 - 請求項6に記載のアクティブマトリクス基板と、
前記アクティブマトリクス基板の複数の走査信号線および複数のデータ信号線の交差部の各々に設けられた発光素子と、
を具備する表示パネル。 - 前記発光素子が、有機EL素子である、
請求項9に記載の表示パネル。 - 請求項9に記載の表示パネルの製造方法であって、
前記アクティブマトリクス基板のうち、前記第1端子、前記第1選択回路、前記第2端子、および前記第2選択回路のうちの少なくとも一つが配置された部分を除去する工程を含む、
表示パネルの製造方法。 - アクティブマトリクス基板の検査方法であって、
前記アクティブマトリクス基板は、
基板と、
前記基板上に配置された複数の信号線と、
m(mは2以上の整数)本の前記信号線ごとにブロック化された信号線ブロックごとに設けられた第1端子と、
前記信号線ブロックごとに設けられ、m本の信号線のうちから選択される少なくとも1本の信号線と前記第1端子とを導通させる第1選択回路と、
n(nは2以上の整数)個の前記信号線ブロックごとに設けられた第2端子と、
前記n個の信号線ブロックごとに設けられ、m×n本の信号線のうちから選択される少なくとも1本の信号線と前記第2端子とを導通させる第2選択回路とを備え、
前記第2端子に固定電位を印加するステップと、
前記第2選択回路により、検査される信号線以外の信号線と前記第2端子とを導通させるステップと、
前記第1選択回路により、検査される信号線と前記第1端子とを導通させるステップと、
前記第2端子から前記第2選択回路を介して前記検査される信号線以外の信号線に前記固定電位を導入しながら、前記第1端子に検査信号を入出力するステップと、
を含む検査方法。 - アクティブマトリクス基板の検査方法であって、
前記アクティブマトリクス基板は、
基板と、
前記基板上に配置された複数の信号線と、
m(mは2以上の整数)本の前記信号線ごとにブロック化された信号線ブロックごとに設けられた第1端子と、
前記信号線ブロックごとに設けられ、m本の信号線のうちから選択される少なくとも1本の信号線と前記第1端子とを導通させる第1選択回路と、
n(nは2以上の整数)個の前記信号線ブロックごとに設けられた第2端子と、
前記n個の信号線ブロックごとに設けられ、m×n本の信号線のうちから選択される少なくとも1本の信号線と前記第2端子とを導通させる第2選択回路とを備え、
前記第2端子に固定電位を印加するステップと、
前記第1選択回路により、検査される信号線と前記第1端子との導通および非導通を切り替えると共に、前記第2選択回路により、前記検査される信号線と前記第2端子との導通および非導通を切り替えるステップと、
前記検査される信号線と前記第1端子との導通または非導通、および前記検査される信号線と前記第2端子との導通または非導通の組み合わせごとに、前記第2端子に前記固定電位を印加するに応じて前記第1端子に流れる電流を測定するステップと、
を含む検査方法。 - アクティブマトリクス基板の検査方法であって、
前記アクティブマトリクス基板は、
基板と、
前記基板上に配置された複数の信号線と、
m(mは2以上の整数)本の前記信号線ごとにブロック化された信号線ブロックごとに設けられた第1端子と、
前記信号線ブロックごとに設けられ、m本の信号線のうちから選択される少なくとも1本の信号線と前記第1端子とを導通させる第1選択回路と、
n(nは2以上の整数)個の前記信号線ブロックごとに設けられた第2端子と、
前記n個の信号線ブロックごとに設けられ、m×n本の信号線のうちから選択される少なくとも1本の信号線と前記第2端子とを導通させる第2選択回路とを備え、
前記第1選択回路により、検査される信号線と前記第1端子とを導通させるステップと、
前記第2選択回路により、検査される信号線以外の信号線と前記第2端子とを導通させるステップと、
前記第2端子に固定電位を印加するステップと、
前記検査される信号線と前記第1端子とを導通させながら、前記第2端子から前記第2選択回路を介して検査される信号線以外の信号線に前記固定電位を導入するに応じて前記前記第1端子に流れる電流を測定するステップと、
を含む検査方法。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111508971A (zh) * | 2019-01-30 | 2020-08-07 | 夏普株式会社 | 有源矩阵基板以及其检查装置 |
KR20220051407A (ko) * | 2020-01-20 | 2022-04-26 | 윤구(구안) 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 | 표시 패널의 테스트 회로, 방법 및 표시 패널 |
WO2023203429A1 (ja) * | 2022-04-22 | 2023-10-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、及び表示装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101987434B1 (ko) * | 2013-01-15 | 2019-10-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그것의 테스트 방법 |
US10838000B2 (en) | 2017-03-15 | 2020-11-17 | National Instruments Corporation | Method and apparatus for simultaneously testing a component at multiple frequencies |
KR102656012B1 (ko) * | 2019-03-19 | 2024-04-11 | 삼성전자주식회사 | Led 디스플레이 패널 및 수리 방법. |
CN109949729A (zh) * | 2019-04-29 | 2019-06-28 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | Amoled面板成盒检测电路及其修复数据线的方法 |
JP7438044B2 (ja) * | 2020-07-10 | 2024-02-26 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板およびこれを備える表示装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07260857A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Fujitsu Ltd | 液晶表示装置の駆動回路および液晶表示装置 |
JP2004139092A (ja) * | 2003-10-27 | 2004-05-13 | Sharp Corp | データ伝送方法および信号線駆動回路 |
JP2006047197A (ja) * | 2004-08-06 | 2006-02-16 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置 |
JP2007206440A (ja) * | 2006-02-02 | 2007-08-16 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置用基板、電気光学装置および検査方法 |
JP2009063954A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-03-26 | Seiko Epson Corp | データ線駆動回路、電気光学装置及び電子機器 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6437596B1 (en) * | 1999-01-28 | 2002-08-20 | International Business Machines Corporation | Integrated circuits for testing a display array |
KR100488835B1 (ko) * | 2002-04-04 | 2005-05-11 | 산요덴키가부시키가이샤 | 반도체 장치 및 표시 장치 |
US7038484B2 (en) | 2004-08-06 | 2006-05-02 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Display device |
JP4345743B2 (ja) * | 2005-02-14 | 2009-10-14 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置 |
JP5233080B2 (ja) | 2006-05-10 | 2013-07-10 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器 |
CN102326193B (zh) | 2010-05-13 | 2014-11-26 | 松下电器产业株式会社 | 显示装置及其制造方法 |
-
2011
- 2011-04-12 JP JP2011088677A patent/JP5687117B2/ja active Active
-
2012
- 2012-01-27 WO PCT/JP2012/000550 patent/WO2012140815A1/ja active Application Filing
- 2012-09-04 US US13/602,881 patent/US9293074B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07260857A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Fujitsu Ltd | 液晶表示装置の駆動回路および液晶表示装置 |
JP2004139092A (ja) * | 2003-10-27 | 2004-05-13 | Sharp Corp | データ伝送方法および信号線駆動回路 |
JP2006047197A (ja) * | 2004-08-06 | 2006-02-16 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置 |
JP2007206440A (ja) * | 2006-02-02 | 2007-08-16 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置用基板、電気光学装置および検査方法 |
JP2009063954A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-03-26 | Seiko Epson Corp | データ線駆動回路、電気光学装置及び電子機器 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111508971A (zh) * | 2019-01-30 | 2020-08-07 | 夏普株式会社 | 有源矩阵基板以及其检查装置 |
KR20220051407A (ko) * | 2020-01-20 | 2022-04-26 | 윤구(구안) 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 | 표시 패널의 테스트 회로, 방법 및 표시 패널 |
JP2022551323A (ja) * | 2020-01-20 | 2022-12-08 | ユング(グアン)テクノロジー カンパニー リミテッド | 表示パネルのテスト回路、方法及び表示パネル |
US11893914B2 (en) | 2020-01-20 | 2024-02-06 | Yungu (Gu' An) Technology Co., Ltd. | Test circuit and method for display panel and display panel |
KR102634686B1 (ko) | 2020-01-20 | 2024-02-08 | 윤구(구안) 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 | 표시 패널의 테스트 회로, 방법 및 표시 패널 |
JP7458478B2 (ja) | 2020-01-20 | 2024-03-29 | ユング(グアン)テクノロジー カンパニー リミテッド | 表示パネルのテスト回路、方法及び表示パネル |
WO2023203429A1 (ja) * | 2022-04-22 | 2023-10-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、及び表示装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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