JP6806933B2 - インセル型タッチパネル用試験回路 - Google Patents
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Description
前記試験回路は、カスケード接続された複数の走査回路を含み、各ステージの前記走査回路は1つのタッチ電極に対応して接続されており、
前記走査回路は少なくとも、
試験信号源からの信号を受信するための1つの試験信号入力端子と、
第1信号線を介して前記1つのタッチ電極に対応して接続されており、試験信号が対応する前記タッチ電極に入力されるようにせしめる1つの試験信号出力端子と、
第2信号線を介して、前ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続された前記タッチ電極に接続されている1つの短絡フィードバック端子とを含み、
現ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されているタッチ電極と、前ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されているタッチ電極との間が短絡すると、前記第1信号線と、前記第2信号線と、現ステージの前記走査回路との間でループが形成され、現ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されているタッチ電極の電圧値が下降し、対応する表示領域の輝度が相対的に暗くなり、
各々の前記走査回路の試験信号出力端子は、高電位レベルの信号を対応する前記タッチ電極に順次かつ周期的に出力し、前記1つのタッチ電極に高電位レベルの信号が入力される際、その他のタッチ電極には各々、低電位レベルの信号が入力される。
タッチ電極の経路試験を行なう際、前記データ線は前記ピクセルユニットに0Vの電圧を印加する。
前記試験回路は、カスケード接続された複数の走査回路を含み、各ステージの前記走査回路は1つのタッチ電極に対応して接続されており、
前記走査回路は少なくとも、
試験信号源からの信号を受信するための1つの試験信号入力端子と、
第1信号線を介して前記1つのタッチ電極に対応して接続されており、試験信号が対応する前記タッチ電極に入力されるようにせしめる1つの試験信号出力端子と、
第2信号線を介して、前ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続された前記タッチ電極に接続されている1つの短絡フィードバック端子とを含み、
現ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されている前記タッチ電極と、前ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されている前記タッチ電極との間が短絡すると、前記第1信号線と、前記第2信号線と、現ステージの前記走査回路との間でループが形成され、現ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続さている前記タッチ電極の電圧値が下降することで、これに対応する表示領域の輝度が相対的に暗くなる。
タッチ電極の経路試験を行なう際、前記データ線は前記ピクセルユニットに0Vの電圧を印加する。
前記試験回路は、カスケード接続された複数の走査回路を含み、各ステージの前記走査回路は一行のタッチ電極に対応して接続されており、
前記走査回路は少なくとも、
試験信号源からの信号を受信するための1つの試験信号入力端子と、
1本の第1信号線に接続された試験信号出力端子であって、同一の行にある前記タッチ電極はそれぞれ1本の第2信号線を介して前記第1信号線に接続されており、試験信号が対応する前記タッチ電極に入力されるようにせしめる1つの試験信号出力端子とを含み、
現ステージの前記走査回路に接続されている1つの前記タッチ電極を第1タッチ電極とし、前ステージの前記走査回路に接続されている1つの前記タッチ電極を第2タッチ電極とし、前記第1タッチ電極と前記第2タッチ電極とで短絡が生じると、前記第1タッチ電極に接続された前記第2信号線と、前記第2タッチ電極に接続された前記第2信号線と、前ステージの前記走査回路と、現ステージの前記走査回路と、現ステージの前記走査回路に接続された前記第1信号線との間でループが形成され、前記第1タッチ電極の電圧値が下降し、対応する表示領域の輝度が相対的に暗くなる。
タッチ電極の経路試験を行なう際、前記データ線は前記ピクセルユニットに0Vの電圧を印加する。
図2に示すように、本発明の提供するインセル型タッチパネル用試験回路において、前記試験回路はタッチ電極アレイに接続されており、前記タッチ電極アレイはディスプレイアレイ(図示せず)に接続されており、前記ディスプレイアレイと前記タッチ電極は積層するように設けられている。
図3に示すように、本発明はインセル型タッチパネル用試験回路をさらに提供しており、前記試験回路はタッチ電極アレイに接続されており、前記タッチ電極アレイは前記アレイ基板301上に形成されており、前記タッチ電極は複数のタッチ電極302を含んでおり、前記タッチ電極302はディスプレイアレイ(図示せず)に接続されており、前記ディスプレイアレイと前記タッチ電極302は積層するように設けられている。
Claims (10)
- インセル型タッチパネル用試験回路であって、前記試験回路はタッチ電極アレイに接続されており、前記タッチ電極アレイはディスプレイアレイに接続されており、
前記試験回路は、カスケード接続された複数の走査回路を含み、各ステージの前記走査回路は1つのタッチ電極に対応して接続されており、
前記走査回路は少なくとも、
試験信号源からの信号を受信するための1つの試験信号入力端子と、
第1信号線を介して前記1つのタッチ電極に対応して接続されており、試験信号が対応する前記タッチ電極に入力されるようにせしめる1つの試験信号出力端子と、
第2信号線を介して、前ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続された前記タッチ電極に接続されている1つの短絡フィードバック端子とを含み、
現ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されているタッチ電極と、前ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されているタッチ電極との間が短絡すると、前記第1信号線と、前記第2信号線と、現ステージの前記走査回路との間でループが形成され、現ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されているタッチ電極の電圧値が下降することで、これに対応する表示領域の輝度が相対的に暗くなり、
各々の前記走査回路の試験信号出力端子は、高電位レベルの信号を対応するタッチ電極に順次かつ周期的に出力し、前記1つのタッチ電極に高電位レベルの信号が入力される際、その他のタッチ電極には各々、低電位レベルの信号が入力されることを特徴とするインセル型タッチパネル用試験回路。 - 前記ディスプレイアレイは複数の走査線及び複数のデータ線を含み、前記走査線と前記データ線とが直交することで、複数のピクセルユニットが形成されており、前記複数のピクセルユニットの各々には、1つのピクセル電極と1つの薄膜トランジスタとが含まれ、前記薄膜トランジスタは、ゲート電極と、ソース電極と、ドレイン電極とを含み、前記薄膜トランジスタのゲート電極は対応する前記走査線に接続されており、前記薄膜トランジスタのドレイン電極は対応する前記ピクセル電極に接続されており、前記薄膜トランジスタのソース電極は対応する前記データ線に接続されており、
タッチ電極の経路試験を行なう際、前記データ線は前記ピクセルユニットに0Vの電圧を印加することを特徴とする請求項1に記載のインセル型タッチパネル用試験回路。 - 前記走査回路の試験信号出力端子は高電位レベルの信号又は低電位レベルの信号を出力し、前記高電位レベルの信号と前記データ線が出力する信号との電位差の絶対値、及び前記低電位レベルの信号と前記データ線が出力する信号との電位差の絶対値は等しいことを特徴とする請求項2に記載のインセル型タッチパネル用試験回路。
- インセル型タッチパネル用試験回路であって、前記試験回路はタッチ電極アレイに接続されており、前記タッチ電極アレイはディスプレイアレイに接続されており、
前記試験回路は、カスケード接続された複数の走査回路を含み、各ステージの前記走査回路は1つのタッチ電極に対応して接続されており、
前記走査回路は少なくとも、
試験信号源からの信号を受信するための1つの試験信号入力端子と、
第1信号線を介して前記1つのタッチ電極に対応して接続されており、試験信号が対応する前記タッチ電極に入力されるようにせしめる1つの試験信号出力端子と、
第2信号線を介して、前ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続された前記タッチ電極に接続されている1つの短絡フィードバック端子とを含み、
現ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されているタッチ電極と、前ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されているタッチ電極との間が短絡すると、前記第1信号線と、前記第2信号線と、現ステージの前記走査回路との間でループが形成され、現ステージの前記走査回路の試験信号出力端子に接続されているタッチ電極の電圧値が下降することで、これに対応する表示領域の輝度が相対的に暗くなることを特徴とするインセル型タッチパネル用試験回路。 - 前記ディスプレイアレイは複数の走査線及び複数のデータ線を含み、前記走査線と前記データ線とが直交することで、複数のピクセルユニットが形成されており、前記複数のピクセルユニットの各々には、1つのピクセル電極と1つの薄膜トランジスタとが含まれ、前記薄膜トランジスタは、ゲート電極と、ソース電極と、ドレイン電極とを含み、前記薄膜トランジスタのゲート電極は対応する前記走査線に接続されており、前記薄膜トランジスタのドレイン電極は対応する前記ピクセル電極に接続されており、前記薄膜トランジスタのソース電極は対応する前記データ線に接続されており、
タッチ電極の経路試験を行なう際、前記データ線は前記ピクセルユニットに0Vの電圧を印加することを特徴とする請求項4に記載のインセル型タッチパネル用試験回路。 - 前記走査回路の試験信号出力端子は高電位レベルの信号又は低電位レベルの信号を出力し、前記高電位レベルの信号と前記データ線が出力する信号との電位差の絶対値、及び前記低電位レベルの信号と前記データ線が出力する信号との電位差の絶対値は等しいことを特徴とする請求項5に記載のインセル型タッチパネル用試験回路。
- インセル型タッチパネル用試験回路であって、前記試験回路はタッチ電極アレイに接続されており、前記タッチ電極アレイはディスプレイアレイに接続されており、
前記試験回路は、カスケード接続された複数の走査回路を含み、各ステージの前記走査回路は一行のタッチ電極に対応して接続されており、
前記走査回路は少なくとも、
試験信号源からの信号を受信するための1つの試験信号入力端子と、
1本の第1信号線に接続された試験信号出力端子であって、同一の行にある前記タッチ電極はそれぞれ1本の第2信号線を介して前記第1信号線に接続されており、試験信号が対応する前記タッチ電極に入力されるようにせしめる1つの試験信号出力端子とを含み、
現ステージの前記走査回路に接続されている1つの前記タッチ電極を第1タッチ電極とし、前ステージの前記走査回路に接続されている1つの前記タッチ電極を第2タッチ電極としたとき、前記第1タッチ電極と前記第2タッチ電極とで短絡が生じると、前記第1タッチ電極に接続された前記第2信号線と、前記第2タッチ電極に接続された前記第2信号線と、前ステージの前記走査回路と、現ステージの前記走査回路と、現ステージの前記走査回路に接続された前記第1信号線との間でループが形成され、前記第1タッチ電極の電圧値が下降し、対応する表示領域の輝度が相対的に暗くなることを特徴とするインセル型タッチパネル用試験回路。 - 各々の前記走査回路の試験信号出力端子は、高電位レベルの信号を対応する前記タッチ電極に順次かつ周期的に出力し、1つの前記タッチ電極に高電位レベルの信号が入力される際、その他の各々の前記タッチ電極には低電位レベルの信号が入力されることを特徴とする請求項7に記載のインセル型タッチパネル用試験回路。
- 前記ディスプレイアレイは複数の走査線及び複数のデータ線を含み、前記走査線と前記データ線とが直交することで、複数のピクセルユニットが形成されており、各々の前記ピクセルユニットは、1つのピクセル電極と1つの薄膜トランジスタとを含み、前記薄膜トランジスタは、ゲート電極と、ソース電極と、ドレイン電極とを含み、前記薄膜トランジスタのゲート電極は対応する前記走査線に接続されており、前記薄膜トランジスタのドレイン電極は対応する前記ピクセル電極に接続されており、前記薄膜トランジスタのソース電極は対応する前記データ線に接続されており、
タッチ電極の経路試験を行なう際、前記データ線は前記ピクセルユニットに0Vの電圧を印加することを特徴とする請求項8に記載のインセル型タッチパネル用試験回路。 - 前記走査回路の試験信号出力端子は高電位レベルの信号又は低電位レベルの信号を出力し、前記高電位レベルの信号と前記データ線が出力する信号との電位差の絶対値、及び前記低電位レベルの信号と前記データ線が出力する信号との電位差の絶対値は等しいことを特徴とする請求項9に記載のインセル型タッチパネル用試験回路。
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