CN1163043C - 显示单元及使用它的电子机器和显示单元的检查方法 - Google Patents

显示单元及使用它的电子机器和显示单元的检查方法 Download PDF

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Abstract

一种可自动化检查连接器的连接不良的检查工序的显示单元。该显示单元具有：液晶显示部、显示用驱动集成电路、第1基板、微处理器、第2基板和连接器。所述微处理器具有在检查模式时输出测试命令，接着读取检查结果信号的单元。显示用驱动集成电路具有接口电路、命令译码器和检查电路。通过微处理器读取经接口电路和连接器输入的检查结果信号，可判断连接器的连接不良。本发明还涉及含有所述显示单元的电子机器，以及检测显示单元的检查方法。

Description

显示单元及使用它的电子机器和显示单元的检查方法
技术领域
本发明涉及包含显示用驱动集成电路和控制它的微处理器的显示单元及使用该显示单元的电子机器和显示单元的检查方法。
背景技术
图1是现有技术的便携式电话的显示单元的概略截面图。如图1所示，便携式电话的显示部由搭载了内藏检查电路的液晶显示驱动集成电路10的液晶模块20、搭载了微处理器300的印刷电路基板30和使液晶模块20和印刷电路基板30电连接的连接器40构成。该连接器40例如由交替形成导电部和绝缘部的弹性连接构件(耶勃拉橡胶)构成。弹性连接构件40是沿着从图1的里面到表面的方向，交替层叠导电部和绝缘部构成。通过在该弹性连接构件40的延长方向均等地施加压力，电连接液晶模块20和印刷电路基板30的端子。
液晶模块20具有在2个玻璃基板22、24之间封闭液晶26构成的液晶显示部28，在一基板24的延伸部搭载了液晶显示驱动集成电路10。
在此，如果作用于弹性连接构件40的压力不一样，则液晶模块20和印刷电路基板30接触不良。
过去，检查该接触不良是通过根据来自微处理器300的信号，驱动液晶显示驱动集成电路10，在液晶显示部28显示显示图案，注视该图案来进行。
但是，虽然这种显示单元的制造工序除了上述注视检查工序之外完全自动化，但由于需要注视检查，所以只有检查工序不能自动化。
而且，采用上述注视检查会有因人为的错误忽略不良的情况，从而在检查精度的方面也有改善的余地。
近年，为了满足最终使用者的要求，或响应电子机器厂家的销售战略，需要制造改变显示容量、图像大小等规格的多种显示单元。此时，对每一个不同规格的机种准备部件不仅因部件的品种增多会比较贵，而且部件管理也麻烦。
因此，本发明的目的在于提供可以自动化检查连接器的连接不良的检查工序的显示单元及使用该显示单元的电子机器和显示单元的检查方法。
本发明的另一目的在于提供在检查连接器的连接不良的检查工序中，可以检查升压电路的输出异常或振荡电路的输出异常，或可以读取显示用驱动集成电路的标识的显示单元及使用该显示单元的电子机器和显示单元的检查方法。
本发明的又另一目的在于提供可以将微处理器共用于多种显示用驱动集成电路，而且，微处理器可以正确设定适合于装入的显示用驱动集成电路的控制内容的显示单元以及使用该显示单元的电子机器。
因此，根据本发明，提供了一种显示单元，所述显示单元具有：显示部、用于驱动控制上述显示部的显示用驱动集成电路、用于搭载上述显示用驱动集成电路的第1基板、用于向上述显示用驱动集成电路输出命令以显示数据的微处理器、用于搭载上述微处理器的第2基板、用于电连接上述第1和第2基板的连接器，其特征在于：上述微处理器具有在检查模式时输出测试命令、接着读取从上述显示用驱动集成电路输出的检查结果信号的单元，上述显示用驱动集成电路具有：与上述微处理器之间输入输出信号的接口电路、译码从上述微处理器经上述接口电路输入的上述测试命令的命令译码器、根据来自上述命令译码器的信号输出上述检查结果信号的检查电路。
在上述显示单元中，上述第1基板可以为玻璃基板，上述显示部可以为包括上述玻璃基板构成的液晶显示部。
上述显示用驱动集成电路可以具有：用于写入从上述微处理器经上述接口电路输入的显示数据的存储部、用于根据写入上述存储部的显示数据来驱动显示部的显示驱动部、用于升压并生成供给上述显示驱动部的电压的升压电路，上述升压电路通过上述连接器至少与1个升压电容器连接，上述检查电路具有比较上述升压电路的输出和参考值的比较器和根据上述比较器的比较结果，锁定上述升压电路在其输出低于上述参考值时的失效状态的闩锁电路，在上述检查模式时，上述微处理器输出用于监视由一个升压时钟驱动的上述升压电路的输出电压的测试命令，接着等待上述升压时钟的1周期以上的时间，读取上述检查结果信号。
上述显示用驱动集成电路中可以包含一个标识设定部，在上述检查模式时，上述微处理器输出用于监视上述标识设定部的输出的测试命令，在用上述命令译码器译码上述测试命令之后，上述检查电路根据上述标识设定部的输出，输出上述检查结果信号。优选地，上述检查电路根据上述标识设定部的输出，输出包含高比特位数据和低比特位数据的上述检查结果信号，而且，根据通过上述命令译码器译码上述测试命令而生成的信号，使上述高比特位数据和上述低比特位数据成为正相-反相关系。
上述显示用驱动集成电路可以具有根据通过上述连接器供给的逻辑电源电压振荡的振荡电路，上述接口电路具有数据输入输出端和串行时钟端，每计数所定数目的从上述微处理器经上述串行时钟端供给的串行时钟，在可输入状态和可输出状态之间切换上述数据输入输出端的自动返回电路，上述微处理器在上述检查模式时，输出用于监视上述振荡电路的输出的测试命令和上述所定数的串行时钟，在通过上述检查电路以及上述数据输入输出端输入来自上述振荡电路的输出时，停止上述串行时钟的输出，在读取上述振荡电路的输出之后输出上述所定数的串行时钟；上述显示用驱动集成电路根据计数在输出上述振荡电路的输出后输入的上述所定数串行时钟，使上述自动返回电路工作，将上述数据输入输出端设定为可输入状态。
根据本发明的另一个方面，提供了一种显示单元，所述显示单元具有：显示部、驱动控制上述显示部的显示用驱动集成电路、向上述显示用驱动集成电路输出命令以显示数据的微处理器，其特征在于：上述显示用驱动集成电路具有标识设定部和译码来自上述微处理器的上述命令的命令译码器，上述微处理器具有存储包含上述显示用驱动集成电路的多种显示用驱动集成电路的多种控制内容的存储部，上述微处理器在读取来自上述标识设定部的标识时，向上述显示用驱动集成电路输出标识监视命令，上述显示用驱动集成电路根据通过上述命令译码器译码上述标识监视命令而生成的信号，将来自上述标识设定部的标识信息输出给上述微处理器，上述微处理器通过读取上述标识信息，根据上述存储部内的对应的控制内容，驱动控制上述显示用驱动集成电路。
本发明还提供了一种电子机器，它包括如上所述的显示单元。
根据本发明，还提供了一种显示单元的检查方法，所述显示单元具有：显示部、用于驱动控制上述显示部的显示用驱动集成电路、用于搭载上述显示用驱动集成电路的第1基板、用于向上述显示用驱动集成电路输出命令以显示数据的微处理器、用于搭载上述微处理器的第2基板、用于电连接上述第1和第2基板的连接器，所述检查方法的特征在于具有：从上述微处理器通过上述连接器向上述显示用驱动集成电路输出测试命令的工序；用上述显示用驱动集成电路译码上述测试命令，接着，将根据上述测试命令而得到的检查结果信号输出给上述微处理器的工序；通过上述微处理器读取上述检查结果信号，判断上述连接器的连接是否不良的工序。
在所述检查方法中，还可以包括：按照升压时钟驱动通过上述连接器至少与1个升压电容器连接的升压电路的工序；根据上述测试命令，比较上述升压电路的输出和参考值的工序；根据上述比较器的比较结果，用闩锁电路锁定上述升压电路的输出低于上述参考值时的失效状态的工序；接着，等待上述升压时钟的1周期以上的时间，读取基于上述闩锁电路的输出的上述检查结果信号的工序。
在所述检查方法中，根据上述测试命令，输出用于在上述检查电路监视标识设定部的输出的另一个测试命令，上述另一个测试命令在被命令译码器译码之后，根据上述标识设定部的输出，从上述检查电路输出上述检查结果信号。其中，根据上述标识设定部的输出，从上述检查电路输出包含高比特位数据和低比特位数据的上述检查结果信号，而且，根据通过上述命令译码器译码上述测试命令而生成的信号，使上述高比特位数据和上述低比特位数据成为正相-反相的关系。
在检查模式时，从上述微处理器输出用于监视根据通过上述连接器供给的逻辑电源电压振荡的振荡电路的输出的测试命令和所定数的串行时钟，每计数所定数目的从上述微处理器通过接口电路的串行时钟端供给的上述串行时钟，由自动返回电路在可输入状态和可输出状态之间切换上述接口电路中的数据输入输出端，在通过上述检查电路以及上述数据输入输出端输入来自上述振荡电路的输出时，上述微处理器停止上述串行时钟的输出，在读取上述振荡电路的输出之后，上述微处理器输出上述所定数串行时钟；根据计数在输出上述振荡电路的输出之后输入的上述所定数串行时钟，上述自动返回电路工作，将上述数据输入端设定为可输入状态。
附图说明
图1是搭载了本发明实施例1的液晶显示驱动集成电路的液晶模块的概略截面图。
图2是图1所示的液晶显示驱动集成电路的方框图。
图3是表示图2所示的检查电路和与该检查电路的工作有关的结构的方框图。
图4是图3所示的多路转换器的逻辑电路图。
图5是监视液晶显示驱动集成电路的振荡电路输出的工序的流程图。
图6是监视液晶显示驱动集成电路的振荡电路输出的工序的时序图。
图7是监视来自液晶显示驱动集成电路的标识设定部的标识的工序的流程图。
图8是监视来自液晶显示驱动集成电路的标识设定部的标识的工序的时序图。
图9是表示图3所示的升压电路和附属的升压电容器的电路图。
图10是供给图9所示的升压晶体管群的升压时钟的波形图。
图11是图9所示的升压电路正常时的输出电压VOUT的波形图。
图12是图9所示的升压电路异常时的输出电压VOUT的波形图。
图13是电压监视工序的流程图。
图14是作为搭载了图1所示的液晶模块的电子机器的1例的便携式电话的概略透视图。
具体实施方式
下面，参照附图说明将本发明适用于便携式电话用液晶装置的实施例。
本发明方案的总体概要
本发明的液晶装置也具有图1所示的便携式电话的显示单元。图1所示的第1基板是作为液晶显示部28的一结构元件的玻璃基板24，在该玻璃基板24搭载了液晶显示驱动集成电路10。第2基板是搭载了微处理器300的印刷电路基板30，通过连接器(例如耶勃拉橡胶等弹性连接构件)40与第1基板24连接。另外，图1所示的液晶模块20若是透光型液晶装置，就搭载背照灯或侧照灯，但如果是反射型，就不需要光源。
如图14所示，该液晶模块20配置为在便携式电话机500露出液晶显示部28。便携式电话机500除液晶显示部28之外，还具有受话部510、送话部520、操作部530和天线540等。而且，微处理器300根据由天线540接收的信息或由操作部530操作输入的信息，向液晶模块20输出命令数据或显示数据。
液晶显示驱动集成电路
图2是表示液晶显示驱动集成电路的方框图。在图2中，该液晶显示驱动集成电路10设有电源电路50、显示存储器例如显示数据RAM60、作为显示驱动器的分段(SEG)驱动器70以及公共(COM)驱动器80、振荡电路90和显示定时信号发生器92等液晶驱动所需的结构。显示数据RAM60具有与在132个分段电极SEG0～SEG131和65个公共电极COM0～COM64的交点形成的像素个数相同个数(132×65个)的存储元件。
另外，在该液晶显示驱动集成电路10设有检查电路200和标识设定部400。标识设定部400设有该液晶显示驱动集成电路10固有的标识。在本实施例中，检查电路200串行输出基于来自电源电路50、振荡电路90或标识设定部400的信号的检查数据(检查结果信号)。该检查数据通过后述的微处理器接口电路100、第1输入输出端101输入到微处理器300。
在液晶显示驱动集成电路10还设有微处理器接口100、命令译码器110和内部总线120。在本实施例中，该微处理器接口100设有用于输入来自微处理器300的各种信号的第1输入输出端101、第2～第4输入端102～104。在第1输入输出端101输入输出串行数据信号(SDA)、在第2输入端102输入串行时钟信号(SCL)、在第3输入端103输入选片信号(XCS)、在第4输入端104输入复位信号(XRES)。
在此，作为串行数据信号(SDA)，作为微处理器300输入的数据有命令数据以及显示数据，作为来自显示用驱动集成电路10的输出数据有上述检查数据。这些串行数据信号(SDA)由微处理器300同时处理的位数构成，在本实施例中是1字节(8位)。命令数据以及显示数据的位数也可以是1字(16位)或1长字(32位)。
微处理器接口100在选片信号(XCS)有效(例如低电平有效)时，变换按照串行时钟信号(SCL)输入的串行数据信号(SDA)，进行串行一并行变换并输入输出。
微处理器接口100如果串行数据信号(SDA)为命令数据，就将该命令数据并行输出给命令译码器110，如果串行数据信号(SDA)为显示数据，就将该显示数据并行输出给内部总线120。
另外，微处理器接口电路100具有通过第1输入输出端101输出来自检查电路200的检查数据的功能。
经译码的命令数据除了用于电源电路50、显示定时信号发生器92的工作命令之外，还用于指定与显示数据RAM60连接的页面·地址电路61、列地址电路62、行地址电路63的各地址。另外，在经译码的命令数据要求来自检查电路200的检查数据时，第1输入输出端101成为可输出状态，并输出来自检查电路200的检查数据。
另一方面，并行显示数据通过内部总线120、显示数据RAM60的I/O缓冲器64，按照由命令指定的页面和列的各地址被写入显示数据RAM60中的存储元件。
显示数据RAM60起液晶模块20的液晶显示部28的信息组存储器或帧存储器作用。按照来自显示定时信号发生器92的定时信号，指定地址并读取写入显示数据RAM60的显示数据，并用显示数据·闩锁电路65锁定。由显示数据·闩锁电路65锁定的显示数据在分段(SEG)驱动器70变换为液晶驱动所需的例如5电平的电位V1～V5，并供给液晶显示部28的分段电极SEG0～SEG131。
通过根据来自显示定时信号发生器92的定时信号，经公共(COM)驱动器80，一边切换公共电极COM0～COM64的选择，一边实施向该分段电极SEG0～SEG131的电位供给，显示驱动液晶显示部28。
内部包含的检查电路的说明
图3是表示图2中的检查电路200和与该检查电路200的工作有关的结构。检查电路200具有根据来自命令译码器110的信号，串行输出设置在图2所示的电源电路50内的升压电路52的输出、振荡电路90的输出和标识设定部400的输出的功能。因此，如图3所示，检查电路200具有电压监视电路210、比较器212和多路转换器214。
电压监视电路210利用电阻分割分压升压电路52的输出，生成适合比较器21的参考电压Vref的监视电压。比较器212比较参考电压Vref和监视电压，并输出该比较结果。多路转换器214根据来自命令译码器110的信号，边切换边串行输出振荡电路90、比较器214和标识设定部400的输出。
微处理器接口100为了将第1输入输出端101切换到可输入状态或可输出状态，设有自动返回电路111、第1、第2传输门112、114和反相器116。自动返回电路111每计8个来自第2输入端102的串行时钟信号(SCL)，就翻转其输出。第1传输门112由自动返回电路111的高电平输出导通，第2传输门114由反相器116翻转自动返回电路111的低电平输出的高电平信号导通。另外，通过导通第1传输门112，可以输出来自多路转换器214的检查数据。通过导通第2传输门114，成为来自第1输入输出端101的命令数据等可输入到液晶显示驱动集成电路10内的状态。另外，第2传输门114与移位寄存器109连接，将串行输入的命令数据逐个移位，作为8位并行数据输出给命令译码器110。
另外，在图3中，将来自功率集成电路310的逻辑电压VDD(例如2.7V)、VIO(例如1.8V)和GND(0V)通过弹性连接构件40输入给液晶显示驱动集成电路10的逻辑电压输入部。而且，升压用的附属的电容器C1～C4通过连接器40与升压电路52连接。
多路转换器的结构
图4是图3所示的多路转换器214的逻辑电路图。该多路转换器214根据图3所示的命令译码器110的输出TSINV、TEST1S、TEST11～14、16，选择图3所示的振荡电路90的振荡输出XC集成电路L、比较器212的输出COMP、标识设定部400的输出，从而得到多路转换器214的输出TSTOUT。因此，多路转换器214具有反相器INV1～INV5、与非门NAND1～NAND13、或非门NOR1～NOR8以及D型触发器DFF。在比较器212的输出成为低电平时，反相器INV2、D型触发器DFF以及或非门NOR1起锁定该失效状态的电路216的作用。另外，多路转换器214的其他输出XTESTO在检查电路200为检查状态时输出低电平、其他时候输出高电平。
在此，图4所示的信号TEST1S只在监视振荡电路90的输出时成为高电平，信号TEST16只在根据比较器212的输出监视电压时成为高电平。信号TEST11～TEST14在监视来自标识设定部40的标识时，按顺序逐个成为高电平。
另外，图4所示的信号TSINV用于切换从图4所示的正相输出路由OUT1和反相输出路由OUT2的任一方输出图4所示的节点a的输出信号。如果节点a的输出信号经由正相输出路由OUT1，则直接输出其逻辑，如果经由反相输出路由OUT2，则翻转其逻辑并输出。
振荡电路输出的监视工序
首先，参照图5的流程图和图6的时序图说明液晶显示驱动集成电路的振荡电路90是否正常的检查方法，如图5所示，微处理器300解除液晶显示驱动集成电路10的节能模式(图5的步骤1)。该步骤用于进行不用节能模式而用正常模式驱动振荡电路90。
接着，微处理器300输出用于由微处理器300监视振荡电路90的输出的测试命令(图5的步骤2)。如图6所示，8位测试命令与8个串行时钟SCL同步输出，经第1输入输出端101串行输入到液晶显示驱动集成电路10。
该测试命令经图3所示的第2传输门114串行输入到移位寄存器109。在移位寄存器109按照经第2输入端102输入的串行时钟信号(SCL)，对串行数据进行移位，并行输出8位测试命令D0～D8。该测试命令由命令译码器110译码，多路转换器214控制选择并输出振荡电路90的输出。
即在振荡电路输出的监视工序中，在作为命令译码器110的输出的图4所示的信号TSINV、TEST1S、TEST11～14、16之中，只有信号TEST1S成为高电平，其余成为低电平。
此时，振荡电路90的输出X集成电路L的逻辑分别在反相器INV1、与非门NAND1、或非门NOR7、或非门NOR15及与非门NAND11翻转，在图4的节点a可得到振荡电路90的输出X集成电路L的反相输出。
在此，由于输入到或非门NOR7的信号TSINV为低电平、信号TEST1S为高电平，所以或非门NOR7的输出固定成为低电平。此时，作为节点a以后的输出路由，选择图4的反相输出路由OUT2。
因此，由于节点a的振荡电路90的输出X集成电路L的反相输出分别在或非门NOR8、反相器INV5和与非门NAND13翻转，所以可以从多路转换器214的输出TSTOUT选择性地得到振荡电路90的输出X集成电路L。
另外，由于一输入8位测试命令，图3的自动返回电路111就计8个串行时钟信号(SCL)，所以截止第2传输门114，导通第1传输门112。于是，作为多路转换器214的输出选择的振荡电路90的输出经第1输入输出端101输出到外部的微处理器300。
在此，通过解除节能模式，振荡电路90以正常模式振荡。此时，微处理器300设定为振荡输出的读状态(图5的步骤3)，测定振荡电路90的振荡频率。此时，如图6所示，最好微处理器300停止产生串行时钟信号(SCL)。对于振荡输出例如为数10KHz的低频，串行时钟信号(SCL)例如为4MHz高频。因此，即使按照高频串行时钟信号(SCL)的定时计测低频振荡输出，也是重复测定振荡输出毫无变化的状态。因此，停止串行时钟信号(SCL)，以适合振荡输出的一定的定时读振荡输出的电平变化点或使用信号计数器等计测振荡频率。
该计测一结束，如图6所示，微处理器300输出8个串行时钟(SCL)。通过用液晶显示驱动10的自动返回电路111计数该时钟，截止第1传输门112、导通第2传输门114，随后复位该检查项目(图5的步骤4)。
监视该振荡电路90的振荡输出的意义在于从振荡电路90接受来自逻辑电压输入部54的逻辑电压供给而工作可知如果其振荡输出正常，则对逻辑电压输入部54的逻辑电压供给正常。换言之，功率集成电路310和逻辑电压输入部54之间的弹性连接构件40的接触正常。
进而，从可以正常输入输出来自微处理器300的命令数据和来自液晶显示驱动集成电路10的振荡输出的数据可知第1输入输出端101和第2输入端102(串行接口)也接触正常。
标识的监视工序
下面，参照图7的流程图和图8的时序图说明监视来自液晶显示驱动集成电路10的标识设定部400的标识的工序。
该标识监视工序最好在上述振荡输出监视工序的检查结果为正常时接着执行，但也可以在其他时刻执行。
在此，在图4所示的标识设定部400中，为了设置该液晶显示驱动集成电路10固有的标识信息，配线为将与非门NAND6的一个输入端连接到电位VDD，将其他与非门NAND3～5的一个输入端连接到电位VSS。通过组合该配线，可以设置24＝16的标识。
在读取液晶显示驱动集成电路10的标识，如图7的步骤1所示，从微处理器300向液晶显示驱动集成电路10输入测试命令。按从TEST14到TEST11的顺序，由该测试命令将上述与非门NAND3～6的另一输入端的信号TEST11～TEST14选择性地依次设为HIGHI。此时，在读取各与非门NAND3～6的输出的过程中，设信号TSINV前一半为低电平、后一半为高电平。图4所示的其他信号TEST1S、TEST16成为低电平。由此设定，依次读出下述表1所示的8位标识1～标识4，并用微处理器300监视总计32位的标识。
                             表1
标识的种类 读取对象    高比特位数据正相    低比特位数据反相
  D7   D6   D5   D4   D3   D2   D1   D0
    标识1标识2标识3标识4   NAND6NAND5NAND4NAND3   1000   1000   1000   1000   0111   0111   0111   0111
在此，将用于读取该标识的测试命令如上所述，通过输入输出端101、第2传输门114、移位寄存器109，用命令译码器110译码，多路转换器214控制选择并输出标识设定部400的输出。
由该测试命令首先TEST11成为高电平，TEST12～14成为低电平。而且，信号TSINV最初为低电平。这样，图4所示的与非门NAND6的一输入电位VDD(高电平)分别在与非门NAND9、反相器INV4、与非门NAND11翻转，从而在节点a得到高电平。此时，由于与非门7的输出固定为高电平，所以选择正相输出路由OUT1，作为多路转换器214的输出TSTOUT直接得到节点a的逻辑高电平。
该多路转换器214的输出在微处理器接口100由串行时钟CLK输出，如上述的表1和图8所示，分别输出高4位状态D7～D4“1”。
接着，如图8所示，信号TSINV从低电平切换到高电平。这样，由于与非门7的输出固定为低电平，所以选择反相输出路由OUT2，翻转节点a的逻辑高电平，作为多路转换器214的输出TSTOUT得到低电平。
该多路转换器214的输出也由微处理器接口100的串行时钟CLK输出，如上述表1和图8所示，分别输出低4位状态D3～D0“0”。
同样，通过依次将信号TEST12、13、14设为高电平，作为表1所示的标识2～标识4得到正相高4位和反相低4位。
这样，在微处理器300输入表1所示的总计32位的标识1～标识4，微处理器300读取该标识(图7的步骤2)。如果输入到微处理器300的各标识1～标识4的8位中低4位与高4位的逻辑反相，则可以判断逻辑电源接通和串行接口的连接正常。这是因为如果这些连接有异常，各标识1～标识4的8位数据不会按4位成为正相和反相的逻辑。
一般，为了判断是否正常变换串行数据，进行奇偶校验。在该奇偶校验中，用加法器检验有几个数据“1”。但是，由于加法器电路规模大，从而增大了集成电路的占用面积。在本实施例中，不需要那样大规模电路，就可以判断串行接口是否正常。该判断一结束，微处理器300输出复位命令，结束标识监视工序(图7的步骤3)。
电压监视工序
下面说明检查液晶显示驱动集成电路10内的升压电路52的输出电压VOUT是否正常的电压监视工序。
该电压监视工序最好在上述标识监视工序的检查结果为正常时接着执行，但也可以在其他时刻执行。
首先，参照图9和图10说明升压电路52的结构和工作。图9表示升压电路52和附属的升压电容器C1～C4，图10表示驱动图9所示的升压晶体管群的升压时钟的信号波形。
如图9所示，升压晶体管群52A经弹性连接构件40连接升压电容器C1～C4。按图10所示的时序，将升压时钟信号CLH1、CLH2、CL1P、CL2P、CL1N、CL2N供给该升压晶体管群52A的各栅极。另外，该升压时钟信号是通过分频振荡电路90的输出而生成。因此，该电压监视工序最好在判断振荡电路90的振荡输出为正常之后再进行。
根据上述升压时钟信号，VDD2(例如2.7V)和2×VDD2交替对升压电容器C1充电，2×VDD2和4×VDD2交替对升压电容器C2充电，3×VDD2和4×VDD2交替对升压电容器C3充电。于是，4×VDD2(例如2.7V×4＝10.8V)对升压电容器C4充电，并成为升压电路52的输出电压VOUT。
以上工作是以经弹性连接构件40的升压晶体管群52A和升压电容器C1～C4的连接没有接触不良为前提。因此，如果没有接触不良，如图11所示，升压电路52的输出电压VOUT维持在一定电压。但是，如果例如升压电容器C1连接不良，如图12所示，输出电压VOUT与升压时钟同步地变化。但是，在异常时的输出电压VOUT的波形产生纹波，该峰值与图11所示的正常值几乎一样。
为了检查该连接状态，监视升压电路52的输出电压VOUT。该输出电压VOUT在电压监视电路210由电阻分割分压，并输入到比较器212的一个输入端。对比较器212的另一输入端供给参考电压(例如1.5V)。在此，电压监视电路210在升压电路52的输出电压VOUT为正常值时，分压输出电压VOUT，以便成为比参考电压还略高的电压。因此，可知如果电压监视电路210的输出电压比参考电压高，比较器212的输出就成为高电平，输出电压VOUT为正常。另一方面，由于如果移开任何一个以上的升压电容器，就成为图12所示的电压波形，所以比较器212的输出通常不能成为高电平，而转换为低电平。
接着，按照图13所示的流程图详细说明检查液晶显示驱动集成电路10内的升压电路52的输出电压VOUT是否正常的电压监视工序。
首先，解除节能模式(图13的步骤1)，用正常模式驱动振荡电路90。接着，接通升压电路52(图13的步骤2)，等待只对升压电容器C4充电到4×VDD2的电压所需的时间(图13的步骤3)。
接着，微处理器300输出测试命令。也对该测试命令如上所述，由命令译码器110译码。于是，只有图4所示的信号TEST16成为高电平，其余信号TSINV、TEST1S、TEST11～TEST14全部成为低电平。
在此，由于如果升压电路52的输出电压VOUT为正常，比较器212的输出成为高电平，所以图4所示的反相器INV2的输出一直为低电平。于是，由于其后部分的或非门NOR1的一个输入固定为低电平，所以与另一输入逻辑无关，或非门NOR1的输出成为高电平。
另一方面，在电压监视工序中，由于只有上述的通用信号TEST16成为高电平，所以输入或非门NOR1的输出(高电平)和信号TEST16(高电平)的与非门NAND2的输出低电平分别在与非门NAND7、或非门NOR5、与非门NAND11翻转，节点a的逻辑成为高电平。
另外此时，由于信号ITSINV为低电平，所以选择正相输出路由OUT1。因此，节点a的逻辑(GHIH)经与非门NAND12、NAND13，作为多路转换器214的输出TSTOUT直接输出。
虽然该多路转换器214的输出也在微处理器接口100由串行时钟CLK输出，但经该升压工作的1周期H以上的期间执行(图13的步骤5)。
由微处理器300读取该多路转换器214的输出(图13的步骤6)，如果多路转换器214的输出逻辑为高电平，可以判明升压电路52的输出电压VOUT正常。
接着，说明附属的升压电容器C1～C4中的至少1个连接不良时的工作。例如，如果升压电容器C1连接不良，则升压电路52的输出电压VOUT如图12所示变化。在此，从图12可看出，在连接不良时，在升压时钟的1周期H期间，输出电压VOUT一定变化为比正常时的电压电平还低得多的电平。
因此，在图13的步骤5，监视升压时钟的至少1周期H的期间的电压，同时可以用图4所示的失效状态闩锁电路216锁定输出电压VOUT的异常。
即在输出电压VOUT如图12所示变化时，在升压时钟的1周期H期间比较器212的输出从高电平转换为低电平。这样，经图4所示的反相器INV2，对D型触发器DFF的时钟输入端C输入高电平，在D型触发器DFF的输出Q出现数据端D的电位VDD(高电平)。该输出Q一旦变成高电平，即使比较器212的输出变成高电平，对D型触发器DFF的时钟输入端C的输入电位也只成为低电平，输出Q固定为高电平。
这样，该D型触发器的后部分的或非门NOR1的一输入端的逻辑由Q输出固定为高电平。于是，该或非门NOR1的输出与反相器INV2的逻辑无关，固定为低电平。
这样，在失效状态闩锁电路216中，可以锁定输出电压VOUT成为异常的失效状态，可以将或非门NOR1的输出固定为低电平。
此时，图4所示的节点a的逻辑(低电平)经与非门NAND12、NAND13，作为多路转换器214的输出TSTOUT直接输出。因此，在输入它的微处理器300中，通过读取在图13的步骤5等待后的多路转换器214的输出(图13的步骤6)，如果其逻辑成为低电平，可以判断升压电路52的输出电压VOUT为异常。接着，通过微处理器300输出复位命令，结束电压监视工序(图13的步骤7)。
液晶显示驱动集成电路的标识的其他利用例
在本实施例中，由于液晶显示驱动集成电路10具有固有的标识，所以微处理器300可以构成为共用于多种液晶显示驱动集成电路。此时，微处理器300在存储部例如PROM(可编程只读存储器)与多个标识对应存储适合于多个液晶显示驱动集成电路的显示控制内容。
例如，作为共用1个微处理器300的多种液晶显示驱动集成电路，可以举出由它驱动的液晶屏的显示容量不同的以下机种A、B。
机种A---65×96点的液晶屏驱动用集成电路
机种B---48×96点的液晶屏驱动用集成电路
这样，如果液晶屏的显示容量不同，则液晶显示驱动集成电路也不同，从而微处理器300的控制内容不同。
另外，与液晶屏的显示容量的异同无关，如果液晶屏生产商(折弯机)不同，只要生产商之间不兼容，控制命令体系就不同。
因此，由液晶驱动集成电路10的标识设定部400设定的标识不限于用于上述检查工序，也可以用于选择存储在如下所述微处理器300的存储部的多个机种中的每一个的控制内容。
作为选择该控制内容的程序，可以举出例如下述例。即可以每次对搭载了该集成电路的机器接通电源或进行电源接通复位之后，都执行液晶显示驱动集成电路10的标识读取。如果按该定时从微处理器300输出标识读取的命令，与标识监视工序同样，由微处理器300读取来自液晶驱动集成电路10的标识。此时，标识读取方法可以在各折弯机机种间共同化。
将读取的标识存储于设在机器内的寄存器或存储器例如RAM。如果该存储器不是易失性的存储器，则存储在工厂执行上述检查工序时读取的标识号码即可，从而不需要每次接通上述电源或电源接通复位后都实施。
另外，根据存储于存储器等的标识号码，选择与其对应的控制内容，并可以根据该控制内容，驱动控制各液晶显示驱动集成电路10。
例如，根据存储在RAM的标识，参照ROM内的查找表，选择与该标识对应的控制内容并保存到RAM。作为该控制内容的信息，包含例如液晶屏的图像大小、显示容量、各种命令(地址设置、显示接通/断开等)。
在此，在按照上述的控制内容控制对图2所示的显示数据RAM60写入数据时，如果重复实施在由RAM地址设置的命令指定的区域写入显示数据的工作，就可以进行适合于液晶屏的显示容量的数据写入。
另外，本发明不局限于上述的实施例，可以在本发明的要点的范围内有各种变形例。例如，本发明也可以适用于由用户切换串行输入还是并行输入命令数据、显示数据等输入的例子。这是因为至少在串行输入时可以进行按照本发明的结构的工作。
另外，本发明的显示用驱动集成电路不限于一定用于液晶显示，可适用于其他各种方式的显示装置。本发明的电子机器也不限于便携式电话，可以适用于接受串行数据的输入而驱动除液晶之外的其他显示部的其他各种电子机器。

Claims (13)

1.一种显示单元，所述显示单元具有：显示部、用于驱动控制上述显示部的显示用驱动集成电路、用于搭载上述显示用驱动集成电路的第1基板、用于向上述显示用驱动集成电路输出命令以显示数据的微处理器、用于搭载上述微处理器的第2基板、用于电连接上述第1和第2基板的连接器，其特征在于：
上述微处理器具有在检查模式时输出测试命令、接着读取从上述显示用驱动集成电路输出的检查结果信号的单元，
上述显示用驱动集成电路具有：与上述微处理器之间输入输出信号的接口电路、译码从上述微处理器经上述接口电路输入的上述测试命令的命令译码器、根据来自上述命令译码器的信号输出上述检查结果信号的检查电路。
2.根据权利要求1所述的显示单元，其特征在于：
上述第1基板为玻璃基板，上述显示部为包括上述玻璃基板构成的液晶显示部。
3.根据权利要求1所述的显示单元，其特征在于：
上述显示用驱动集成电路具有：用于写入从上述微处理器经上述接口电路输入的显示数据的存储部、用于根据写入上述存储部的显示数据来驱动显示部的显示驱动部、用于升压并生成供给上述显示驱动部的电压的升压电路，
上述升压电路通过上述连接器至少与1个升压电容器连接，
上述检查电路具有：比较上述升压电路的输出和参考值的比较器，和根据上述比较器的比较结果、锁定上述升压电路在其输出低于上述参考值时的失效状态的闩锁电路，
在上述检查模式时，上述微处理器输出用于监视由一个升压时钟驱动的上述升压电路的输出电压的测试命令，接着等待上述升压时钟的1周期以上的时间，读取上述检查结果信号。
4.根据权利要求1所述的显示单元，其特征在于：
上述显示用驱动集成电路中包含一个标识设定部，
在上述检查模式时，上述微处理器输出用于监视上述标识设定部的输出的测试命令，
在用上述命令译码器译码上述测试命令之后，上述检查电路根据上述标识设定部的输出，输出上述检查结果信号。
5.根据权利要求4所述的显示单元，其特征在于：
上述检查电路根据上述标识设定部的输出，输出包含高比特位数据和低比特位数据的上述检查结果信号，而且，根据通过上述命令译码器译码上述测试命令而生成的信号，使上述高比特位数据和上述低比特位数据成为正相-反相关系。
6.根据权利要求1所述的显示单元，其特征在于：
上述显示用驱动集成电路具有根据通过上述连接器供给的逻辑电源电压振荡的振荡电路，
上述接口电路具有数据输入输出端和串行时钟端，每计数所定数目的从上述微处理器经上述串行时钟端供给的串行时钟，在可输入状态和可输出状态之间切换上述数据输入输出端的自动返回电路，
上述微处理器在上述检查模式时，输出用于监视上述振荡电路的输出的测试命令和上述所定数的串行时钟，在通过上述检查电路以及上述数据输入输出端输入来自上述振荡电路的输出时，停止上述串行时钟的输出，在读取上述振荡电路的输出之后输出上述所定数的串行时钟，
上述显示用驱动集成电路，根据计数在输出上述振荡电路的输出后输入的上述所定数串行时钟，使上述自动返回电路工作，将上述数据输入输出端设定为可输入状态。
7.一种显示单元，所述显示单元具有：显示部、驱动控制上述显示部的显示用驱动集成电路、向上述显示用驱动集成电路输出命令以显示数据的微处理器，其特征在于：
上述显示用驱动集成电路具有标识设定部和译码来自上述微处理器的上述命令的命令译码器，
上述微处理器具有存储包含上述显示用驱动集成电路的多种显示用驱动集成电路的多种控制内容的存储部，
上述微处理器在读取来自上述标识设定部的标识时，向上述显示用驱动集成电路输出标识监视命令，
上述显示用驱动集成电路根据通过上述命令译码器译码上述标识监视命令而生成的信号，将来自上述标识设定部的标识信息输出给上述微处理器，
上述微处理器通过读取上述标识信息，根据上述存储部内的对应的控制内容，驱动控制上述显示用驱动集成电路。
8.一种电子机器，包括一个显示单元，所述显示单元具有：显示部、用于驱动控制上述显示部的显示用驱动集成电路、用于搭载上述显示用驱动集成电路的第1基板、用于向上述显示用驱动集成电路输出命令以显示数据的微处理器、用于搭载上述微处理器的第2基板、用于电连接上述第1和第2基板的连接器，其特征在于：
上述微处理器具有在检查模式时输出测试命令，接着读取从上述显示用驱动集成电路输出的检查结果信号的单元，
上述显示用驱动集成电路具有与上述微处理器之间输入输出信号的接口电路、译码从上述微处理器经上述接口电路输入的上述测试命令的命令译码器、根据来自上述命令译码器的信号，输出上述检查结果信号的检查电路。
9.一种显示单元的检查方法，所述显示单元具有：显示部、用于驱动控制上述显示部的显示用驱动集成电路、用于搭载上述显示用驱动集成电路的第1基板、用于向上述显示用驱动集成电路输出命令以显示数据的微处理器、用于搭载上述微处理器的第2基板、用于电连接上述第1和第2基板的连接器，所述检查方法的特征在于具有：
从上述微处理器通过上述连接器向上述显示用驱动集成电路输出测试命令的工序；
用上述显示用驱动集成电路译码上述测试命令，接着，将根据上述测试命令而得到的检查结果信号输出给上述微处理器的工序；
通过上述微处理器读取上述检查结果信号，判断上述连接器的连接是否不良的工序。
10.根据权利要求9所述的显示单元的检查方法，其特征在于包含：
按照升压时钟驱动通过上述连接器至少与1个升压电容器连接的升压电路的工序；
根据上述测试命令，比较上述升压电路的输出和参考值的工序；
根据上述比较器的比较结果，用闩锁电路锁定上述升压电路的输出低于上述参考值时的失效状态的工序；
接着，等待上述升压时钟的1周期以上的时间，读取基于上述闩锁电路的输出的上述检查结果信号的工序。
11.根据权利要求9所述的显示单元的检查方法，其特征在于：
根据上述测试命令，输出用于在检查电路监视标识设定部的输出的另一个测试命令，
上述另一个测试命令在被命令译码器译码之后，根据上述标识设定部的输出，从上述检查电路输出上述检查结果信号。
12.根据权利要求11所述的显示单元的检查方法，其特征在于：
根据上述标识设定部的输出，从上述检查电路输出包含高比特位数据和低比特位数据的上述检查结果信号，而且，根据通过上述命令译码器译码上述测试命令而生成的信号，使上述高比特位数据和上述低比特位数据成为正相-反相的关系。
13.根据权利要求9所述的显示单元的检查方法，其特征在于：
在检查模式时，从上述微处理器输出用于监视根据通过上述连接器供给的逻辑电源电压振荡的振荡电路的输出的测试命令和所定数的串行时钟，
每计数所定数目的从上述微处理器通过接口电路的串行时钟端供给的上述串行时钟，由自动返回电路在可输入状态和可输出状态之间切换上述接口电路中的数据输入输出端，
在通过上述检查电路以及上述数据输入输出端输入来自上述振荡电路的输出时，上述微处理器停止上述串行时钟的输出，在读取上述振荡电路的输出之后，上述微处理器输出上述所定数串行时钟，
根据计数在输出上述振荡电路的输出之后输入的上述所定数串行时钟，上述自动返回电路工作，将上述数据输入端设定为可输入状态。
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