DE579951C - Optisches Mikrometer - Google Patents

Optisches Mikrometer

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Publication number
DE579951C
DE579951C DEA66246D DEA0066246D DE579951C DE 579951 C DE579951 C DE 579951C DE A66246 D DEA66246 D DE A66246D DE A0066246 D DEA0066246 D DE A0066246D DE 579951 C DE579951 C DE 579951C
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DE
Germany
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plane
plate
eyepiece
parallel
mirror
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Expired
Application number
DEA66246D
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English (en)
Inventor
Dr Johannes Picht
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CARL BAMBERG FRIEDENAU
Askania Werke AG
Original Assignee
CARL BAMBERG FRIEDENAU
Askania Werke AG
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Publication date
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Priority to DEA66246D priority Critical patent/DE579951C/de
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Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00Measuring angles
    • G01C1/02Theodolites
    • G01C1/06Arrangements for reading scales

Description

  • Optisches Mikrometer Insbesondere zur genauen Ablesung von Teilungen sind mikroskopartige Mikrometer bekannt, bei denen in den Abbildungsstrahlengang eine schwenkbare planparallele Glasplatte gesetzt ist. Durch Drehung der planparallelen Platte wird eine. seitliche Verschiebung des Bildes erreicht. Der Winkel, der erforderlich ist, um die planparallele Glasplatte aus einer Anfangsstellung heraus, z. B. aus derjenigen senkrecht zur optischen Achse, herauszudrehen, bis eine derartige Verschiebung des Bildes erreicht ist, daß ein Teilstrich der abzulesenden Teilung mit einer in der Okularebene vorgesehenen Ablesemarke, z. B. einem Faden oder Strich, zur Deckung kommt, gibt ein sehr genaues Maß für die Anzahl der durch Teilstriche nicht gekennzeichneten Unterteile. Bei. bekannten Einrichtungen dieser Art, welche gegenüber Schraubenmikrometern-den Vorzug haben, daB durch Schraubenfehler bedingte Ungenauigkeiten nicht in die Messung eingehen, wird der als Maß für die Unterteile dienende Drehwinkel der planparallelen Platte mittels eines mechanischen Zeigers an einer Kreisteilung abgelesen.
  • Durch die Erfindung wird eine Verbesserung dieser bekannten Mikrometer erreicht. Erfindungsgemäß besteht diese im wesentlichen darin, daß mit der planparallelen Platte ein lichtablenkendes optisches System verbunden ist, welches, in den Strahlengang eines sammelnden optischen Systems eingeschaltet, die Messung des Drehwinkels durch Verschiebungswege abgelenkter Bilder vermittelt. Die Methode, Winkelmessungen durch Lichtablenkung durchzuführen, ist zwar für feine Meßinstrumente, wie Galvanometer, Drehwaagen und ähnliche, seit langem bekannt. Für optische Mikrometer der beschriebenen Art hat man diese Methoden jedoch bisher nicht nutzbar gemacht, obgleich diese Methoden gerade hier ganz besondere Vorteile bieten.
  • Eine zweckmäßige Ausführungsform der Erfindung ist in den Abbildungen dargestellt, von denen Abb. i das neue Mikrometer mit einem Teil eines abzulesenden Teilkreises in einem Längsschnitt zeigt, während Abb.2 einen Schnitt längs der Linie E-F darstellt.
  • Das Mikrometer ist Teil eines Winkelmeßinstrumentes, z. B. eines Theodolits, und soll zum Ablesen der Teilung des Kreises i dienen. Die optischen Teile des Mikrometers sind in einem Gehäuse 2 von rechteckigem Querschnitt untergebracht. Das Gehäuse 2 ist an einem Winkelträger 3 (Abb. 2) befestigt, mittels dessen es an dem Instrument, zu dem es gehört, festgeschraubt werden kann. Die Optik des Mikroskops besteht aus einem Objektiv 4 und einem Okular 5. Bevor sich die von dem Objektiv kommenden Strahlen zu dem Bild in der Bildebene vereinigen, treffen sie auf die planparallele Glasplatte 6, welche in eine rohrartige Fassung eingesetzt ist. Das Rohr 7 ist um eine zur optischen Achse senkrechte Achse drehbar, welche zweckmäßig durch die Spitzen zweier Schrauben 8 und 9 gebildet wird, in denen das Rohr mittels zweier Hohlkörner aufgehängt ist. In seitlicher Richtung wird das Rohr durch eine Schraube z i (Abb. 2) und eine Gegenfeder i2 gehalten, " so daß durch Verdrehen der Schrauben i i die Neigung der planparallelen Platte 6 gegen die optische Achse des Mikroskops geändert werden kann. Jede Neigung der Platte 6 bewirkt in der Bildebene eine entsprechende Verschiebung des Teilungsbildes, so daß man in der Lage ist, einen Strich der Teilung mit einer im Okular sichtbaren Ablesemarke in Dekkung zu bringen. Wie bereits erwähnt, erfolgt die Messung der Unterteile der Teilung in bekannter Weise durch den Neigungswinkel der Planparallelplatte 6. Um diesen kenntlich zu machen, ist erfindungsgemäß auf die Platte 6 ein Spiegel 14 aufgekittet oder ein entsprechendes Teil der Oberfläche der Platte 6 versilbert. über der Platte 6 ist eine Sammellinse i5 angeordnet. In der Bildebene des Objektivs 4 befindet sich eine durchsichtige Glasplatte 16. Diese trägt in bekannter Weise eine in dem Okular 5 direkt sichtbare Teilung. Außerdem trägt die Platte 16 eine Ablesemarke, etwa einen Indexstrich oder einen Nonius o. dgl., än einer Stelle, welche nicht durch das Okular 5 sichtbar ist. Auf die Platte 16 ist ein Prisma 17 aufgesetzt. Ferner ist in das Gehäuse 2 mittels eines Lampenstutzens 18 eine Glühlampe i9 eingesetzt. Beiderseits der Lampe i9 sind Kondensoren 2o, 21 angeordnet, welche in Rohren 22, 23 gehalten werden, die am inneren Ende durch Mattscheiben 24, 25 geschlossen sind. Gegenüber dem Kondensor 2o ist ein rechtwinkliges Prisma 26 angeordnet, welches das von der Lampe i9 ausgehende Licht auf eine in dem Objektiv zwischen den beiden Linsenhälften angeordnete schräge Glasplatte 27 wirft, die es in Richtung der optischen Achse auf die abzulesende Teilung wirft. Der andere durch den Kondensor 21 gerichtete Teil des von der Lampe i9 ausgehenden Lichtes tritt durch die Glasplatte 16 hindurch und wird an den schrägen Seitenflächen des Prismas 17 reflektiert. Das Licht tritt daher in entgegengesetzter Richtung durch die Linse 15 und trifft auf den Spiegel 14. Auf diesem reflektiert, tritt es wieder durch die Linse i5 hindurch und trifft durch die Platte 16 hindurch in das Okular 5. An der Stelle, an welcher das Licht die Glasplatte 16 das erste oder das zweite Mal durchsetzt, befindet sich eine Ablesemarke. Die Linse i 5 ist derart angeordnet, daß die Platte 16 in ihrer Brennebene liegt. Infolgedessen werden die von der Ablesemarke 15 kommenden Lichtstrahlen durch die Linse 15 parallel gerichtet und nach ihrer Reflexion an dem Spiegel 14 wieder zu einem in der Ebene der Platte 16 entstehenden Bild vereinigt. Die Einrichtung ist derart getroffen, daß dieses Bild über der im Okular 5 direkt sichtbaren Teilung entsteht. Die Anordnung der Striche ist derart, daß nach den verschiedenen Reflexionen und Abbildungen der Strich der Ablesemarke dem Strich der Teilung gleich ist. Die Lage des Bildes der Ablesemarke innerhalb der Teilung ist durch -die Neigung des Spiegels 14 bestimmt. Hat man daher durch Drehen der Schraube i i die Platte 6 so geneigt, daß ein im Okular sichtbarer Strich der Teilung mit dem Hauptablesestrich zusammenfällt, sa ergibt die Stellung des Bildes der Abiesemarke in bezug auf die Teilung auf der Platte 16 ein Maß für den Winkel, um den die Platte 6 aus der Normallage herausgedreht ist, und damit ein Maß für die Unterteile der Ablesung des Kreises i.
  • Die Unterteile können daher im Okular des Mikroskops unmittelbar nach dem Einstellen der planparallelen Platte 6 abgelesen werden.
  • Die Erfindung eignet sich in gleicher Weise zum Ablesen von geraden oder sonstigen Längenteilungen oder zum Messen sonstiger geeigneter Objekte. Auf der Platte in der Bildebene des Objektivs können Ablesemarke und Teilung vertauscht sein, so daß durch den Spiegel auch das Bild einer Teilung gegenüber einer festen Ablesemarke verschoben werden könnte. Statt eines Spiegels, der entweder durch Versilbern eines entsprechenden Teiles der planparallelen Platte oder durch Aufkitten eines Spiegels auf dieselbe hergestellt sein oder sonst mit der Planparallelplatte verbunden sein kann, könnte auch ein Prisma zur Ablenkung des Strahlenbündels dienen, durch welches die Verdrehung der planparallelen Platte zu messen ist.

Claims (3)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Optisches Mikrometer mit in den Strahlengang eines Mikroskops oder Ablesefernrohrs eingeschalteter drehbarer planparalleler Glasplatte, dadurch gekennzeichnet, daß mit der Planparallelplatte (6) ein lichtablenkendes optisches System, Spiegel (i4), Versilberung o. dgl., verbunden ist, welches in den Strahlengang eines sammelnden optischen Systems (i5) eingeschaltet ist und in an sich bekannter Weise die Messung des Dreh- Winkels der Planparallelplatte (6) durch die Verschiebungswege abgelenkter Bilder vermittelt.
  2. 2. Mikrometer nach Anspruch i mit einer in der Bildebene des Mikroskopobjektivs angebrachten durchsichtigen Platte, welche eine im Okular direkt sichtbare Teilung trägt, dadurch gekennzeichnet, daß auf dieser in der Bildebene des Objektivs (q.) angeordneten Platte (16) eine im Okular (5) nicht direkt sichtbare Ablesemarke oder Teilung angeordnet ist, von welcher über den Spiegel (14) mittels einer zwischen diesem und der Platte (16) angeordneten Sammellinse (15) über der im Okular (5) direkt sichtbaren Teilung oder Ahlesemarke ein reelles Bild entworfen wird.
  3. 3. Mikrometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daB die PlanparalleIplatte (6) mit dem Ablesesp:iegel in ein an dem-- oberen Ende, vorzugsweise in Spitzen (8, 9), gelagertes Rohr (7) gefaBt ist, welches in seiner Richtung in bezug auf die optische Achse des Mittelkörpers durch an dem unteren Ende des Rohres angreifende Schraube (i i) und Gegenfeder (12) eingestellt wird. q.. Mikrometer nach Anspruch i und 2, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Mikroskoprohr (2), vorzugsweise von rechteckigem Querschnitt, seitlich neben dem Strahlengang für die Abbildung eine Beleuchtungseinrichtung vorgesehen ist, bestehend aus einer im mittleren Teil angeordneten Glühlampe (i9) und beiderseits derselben parallel zur optischen Achse des Mikroskops angeordneten Kondensorrohren (22, 23) und je einem Umlenkprisma, deren eines (26) das Licht z. B. über eine gegen die optische Achse geneigte Planparallelglasplatte (27) auf das Objekt, deren anderes das Licht über ein Umlenkprisma (17) über den Ablenkungsspiegel (14) in das Okular (5) lenkt.
DEA66246D 1932-06-14 1932-06-14 Optisches Mikrometer Expired DE579951C (de)

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DEA66246D DE579951C (de) 1932-06-14 1932-06-14 Optisches Mikrometer

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DEA66246D DE579951C (de) 1932-06-14 1932-06-14 Optisches Mikrometer

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DE579951C true DE579951C (de) 1933-07-03

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ID=6944073

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102022125630A1 (de) 2022-10-05 2024-04-11 Karlsruher Institut für Technologie, Körperschaft des öffentlichen Rechts Anordnung mit zwei voneinander unter Ausbildung eines Spaltes beabstandeten Walzen mit einem Spaltweitenmesssystem

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE102022125630A1 (de) 2022-10-05 2024-04-11 Karlsruher Institut für Technologie, Körperschaft des öffentlichen Rechts Anordnung mit zwei voneinander unter Ausbildung eines Spaltes beabstandeten Walzen mit einem Spaltweitenmesssystem

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