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Ablesemikroskop.
Strichmikroskope zur Ablesung von Kreis- oder Längenteilungen. bei denen die Messung von Bruchteilen des kleinsten Teilungsintervalles durch Kippung einer planparallelen in den Strahlengang eingeschalteten Glasplatte vorgenommen wird. sind bekannt. (Hohenner : Eine neue Messlupe und ihre Verwendung als Ablesevorrichtung sowie als selbständiges Messgerät. Zeitschrift für Vermessungswesen. Jahrgang 1929. Seite 353.) Dabei wird die Grösse der Kippung an einem Gradbogen ausserhawlb des M ikroskopes abgelesen. Man muss also z. B.
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diese deutlich sieht und danach die relativ gröbere Teilung des Gradbogens mit unbewathietem Auge bei anderer Akkomodationsstellung desselben und bei anderer Kopflage ablesen.
Die nachstehend näher beschriebene Erfindung bezweckt. diese Umstellung zu vermeiden und beide Operationen zu vereinigen, indem der Gradbogen zur Ablesung des Kippungswinkels der Planplatte verkleinert und in das Innere des Mikroskopes verlegt ist. derart, dass seine Teilung im Bildfeld zugleich mit der abzulesenden Kreisteilung erscheint. Hiedurch wird nicht nur eine Beschleunigung des ganzen Messvorganges. sondern auch eine schonung des Auges erreicht. Dies kommt besonders bei geodätischen Winkelmessungen an Theodoliten in Betracht. bei denen oft hunderte von Altlesungen unmittelbar hintereinander vorgenommen werden.
Wie dieser Erfindungsgedanke verwirklicht ist, geht aus nachstehenden Zeichnungen und Beschreibungen hervor.
Fig. 1 stellt einen Längsschnitt des Mikroskopes durch die Kippachse der planparallelen Glasplatte dar. Fig. 2 ist ein Längsschnitt rechtwinklig zu der Kippachse. Fig. 3 und 4 zeigen die Gesichtsfelder eines ersten Ausführungsbeispiels. Fig. 5 und 6 zeigen die Gesichtsfelder eines zweiten Ausführungsheispieles. Fig. 7 zeigt den Längschnitt durch eine Feinstellvorrichtung.
Es bedeutet in den Fig. 1 und 2 tt die Fläche. auf der die abzulesende Teilung aufgetragen ist. o das Objektiv. a das Okular des Mikroskopes. Der Ablesefaden oder Ablesestrich b (Fig. 3 und 4), der das ganze Gesichtsfeld überspannt, ist auf der Strichplatte w aufgetragen und liegt in der Bildehene f. Zwischen dem Objektiv o und der Bildebene f ist die planparallele Platte p so angeordnet, dass sie um eine Achse mittels des Knopfes k gekippt werden kann.
Mit der planparallelen Glasplatte p und ihrer Drehachse d steht in
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sich in bekannter Weise das Bild der abzulesenden. auf der Fläche tt aufgetragenen Kreisteilung g (Fig. 3 und 4) im Bildfeld des Mikroskopes so. dass man einen der Striche, die dem Aglesefaden b zunächst stehen. mit diesem zur Deckung bringen kann. Gleichzeitig hat sich die auf der oberen Fläche des Armes r befindliche Teilung i (Fig. 3 und 4) durch diese Kippung verschoben, und man kann nun an ihr die Grösse der Kippung der plan- parallelen Glasplatte p in bezug auf die Kreisteilung y ablesen.
Die Fig. 3 und 4 zeigen als Beispiel das Bildfeld eines solchen Mikroskopes. In
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Eine andere Ausführungsform des neuen Ablesemikroskopes ergibt sich daraus, dass die Hilfsteilung i von dem oberen Ende des Arrhes) au die Strichplatte 1C in die Bildebene/* des Mikroskopes verlegt ist, wie die Fig. 5 und 6 zeigen, und der Arm auf seiner oberen Fläche nur eine Ablesemarke M trägt, die bei der Kippung der Planplatte p sich gegen die Hilfsteilung i auf der Strichplatte w verschiebt. In der Fig. 5 steht die Ablesemarke m auf dem Nullstrich der Hilfsteilung i.
Wird der Strich 24 der Kreisteilung 9 durch Kippen der Planparallelplatte p mit dem Ablesestrich b zur Deckung gebracht. so wandert die Ab- lesemarke m. wie in Fig. 6 dargestellt ist. beispielsweise auf 5'5 der Hilfsteilung i und die Ablesung des Kreises lautet 24035'5'oder 24035'30".
In der Beschreibung und in den Figuren ist der Einfachheit halber angenommen, dass die Kippung der Planplatte p um die Achse (/durch einen an ihr befestigten Rändelknopfkerfolgt.
Statt dessen kann auch die Kippung um die Achse rl durch irgendeine bekannte, die Bewegung verlangsamende Einrichtung erfolgen, z. B, durch die in Fig. 7 dargestellte Feinstellvorrichtung. Dabei ist ein Hebel 7 an der Achse cl befestigt, der durch den federnden Stift c gegen die Feinstellschraube s angedruckt wird. Dreht man die Schraube s, so erfolgt
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PATENT-ANSPRÜCHE :
1.
Ablesemikroskop für Kreis und Längenteilungen, bei dem die Bruchteile eines Intervalles der abzulesenden Teilung durch Kippung einer planparallelen in den Strahlengang eingeschalteten Glasplatte gemessen werden. dadurch gekennzeichnet, dass die Grösse der Kippung in bezug auf die abzulesende Teilung (g) an einem im Innern des Mikroskopes liegenden mit der Kippachse (d) und der Planparallelplatte (p) fest verbundenen Arm (r) gemessen wird, dessen oberes Ende mit einer im Sehfeld (f) des Mikroskopes sichtbaren Teilung
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