DE583988C - Feinablesung, insbesondere fuer Vermessungsgeraete - Google Patents

Feinablesung, insbesondere fuer Vermessungsgeraete

Info

Publication number
DE583988C
DE583988C DE1930583988D DE583988DD DE583988C DE 583988 C DE583988 C DE 583988C DE 1930583988 D DE1930583988 D DE 1930583988D DE 583988D D DE583988D D DE 583988DD DE 583988 C DE583988 C DE 583988C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
reading
plane
division
surveying equipment
fine reading
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE1930583988D
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Application granted granted Critical
Publication of DE583988C publication Critical patent/DE583988C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00Measuring angles
    • G01C1/02Theodolites
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00Measuring angles
    • G01C1/02Theodolites
    • G01C1/06Arrangements for reading scales

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Mikroskope zum Ablesen von Kreis- und Längenteilungjen, bei denen das Messen von Bruchteilen des kleinsten Teilungsintervalles durch Kippen einer planparallelen, in den Strahlengang eingeschalteten Glasplatte vorgenommen wird, sind bekannt. (J. Porro, Note sur le micrometre parallel ind6pandant. Comptes rendus, Paris 1855, S. 1058.) (Hohe η η er, Eine neue Ableselupe und ihre Verwendung als Ablesevorrichtung sowie als selbständiges Meßgerät. Zeitschrift für Vermessungswesen 1929,. S. 353.) Dabei wird die Größe der Kippung an einem Gradbogen außerhalb des Mikroskops abgelesen.
Es sind auch Ableseeinrichtungen bekannt, bei denen die Messung der'Kippungsgröße einer Planparallelglasplatte durch eine im Bildfelde sichtbare Teilung erfolgt, wobei aber diese Teilung erst durch mechanische
ao Zwischenmittel (Schrauben, Stifte, Zahnräder usw.) mit der Kippachse der Planplatte verbunden ist. Infolgedessen ist, abgesehen von anderen durch die Zwischenschaltung mechanischer Übertragungsglieder bedingter Fehlerquellen, ein toter Gang zwischen den Bewegungen unvermeidlich, so daß diese Einrichtungen nur in einer Richtung gebraucht werden können, um sichere Ergebnisse zu liefern.
Bekannt ist ferner eine Feinablesung mit Planparallelplatte an Fernrohren von Nivellierinstrumenten, die dazu dient, die letzte Dezimalstelle der Lattenteilung, die man sonst schätzen muß, in zehnfacher Vergrößerung am Bild der Nivellierplatte zu ermitteln. (H eckmann,Eine neue optische Teilstricheinstellungsvorrichtung an Feinnivellieren. Zeitschrift für Instrumentenkunde 1929, S. 204 bis 207.) Das Ablesemittel ist hier ohne Zwischengetriebe fest mit der Glasplatte verbunden und liegt in der Bildebene des Okulars. Durch die Verwendung eines strichförmigen Ablesemittels besteht aber der Nach- · teil, daß in umständlicher Weise zwei Ablesungen an zwei verschiedenen. Ablesestrichen nötig sind, und es ist die Bildung des Unterschiedes der beiden Ablesungen erforderlich, welche an einer im allgemeinen nicht mit Null beginnenden Teilung vorzunehmen sind.
Die vorliegende Erfindung vermeidet alle Nachteile, die mit den verschiedenen schon bestehenden Feinmeßeinrichtungen mittels Planparallelplatten verbunden sind, dadurch, daß das in der Bildebene schwingende Ablesemittel eine Teilung ist, die mit der Planglasplatte starr verbunden ist.
Die Abb. 1 bis 3 zeigen die Erfindung an einem Ausführungsbeispiel, und zwar stellt Abb. ι einen Längsschnitt des Ablesemikroskops durch die Kippachse der planparallelen Glasplatte, Abb. 2 einen Längsschnitt rechtwinklig zu dieser Achse und Abb. 3 das Bildfeld des Mikoskops dar. Es bedeutet in Abb. ι und 2 tt die Fläche, auf der die abzulesende Kreis1- oder Längenteilung aufgetragen ist, ο das Objektiv, α das Okular des Mikroskops. Der Ablesefaden oder Ablesestrich & (Abb. 3) liegt in der Bildebene/'
und überspannt das ganze Gesichtsfeld. Zwischen dem' Objektiv ο und der Bildebene/ ist die planparallele Platte ρ so angebracht, daß sie um eine Achsel mittels eines Knopfes k gekippt werden kann. Mit der planparallelen Glasplatte ρ und ihrer Drehachse steht in starrer Verbindung der Arm/·, dessen obere, mit einer Hilfsteüüng versehene Zylinderfläche bis zur Mitte in die Bildebene hineinragt und unmittelbar unter der Strichmarke liegt. Durch diese Anordnung ergibt sich, daß das Bildfeld aus zwei halbkreisförmigen Teilen besteht und daß in dem einen dieser Bildfeldteile nur die Kreis- oder Längenteilung, in dem anderen nur die Hilfsteilung sichtbar ist. Kippt man mittels des Knopfes k die Planplatte p, so verschiebt sich in bekannter Weise das Bild der abzulesenden, auf der Fläche tu aufgetragenen Kreis-
ao oder Längenteilung im Bildfeld des Mikroskops so, daß man einen der Striche, die der Strichmarke b zunächst stehen, mit dieser zur Deckung bringen kann. Gleichzeitig hat sich die auf der oberen Zylinderfläche des Ar-
»5 mes r befindliche Hilfsteilung q durch dies Kippen verschoben, und man kann nun an ihr die Größe der Kippung der planparallelen Glasplatte ρ in bezug auf die Kreis- oder Längenteilung ablesen. ■ In Abb. 3 ist der Strich 30' der Kreisteilung mit der Strichmarke b zur Deckung gebracht. An der Teilung <? liest man dann 4,5 ab. Die Länge deß Armes r und seine Teilung q kann z. B. so abgestimmt werden, daß eine Kippbewegung um ein Intervall dieser Teilung einer Minute der Kreisteilung entspricht. Man würde dann in der Abb. 3 ablesen 240 34,5'.

Claims (1)

  1. Patentanspruch:
    Feinablesung, insbesondere für Vermessungsinstrumente, mit einer im Ableserohr kippbar gelagerten durchsichtigen Planparallelplatte, deren Kippungswinkel im Gesichtsfeld des Okulars ablesbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß das den Kip-ρungswinkel anzeigende Ablesemittel in für sich bekannter Weise fest mit der Planparallelplatte verbunden ist und in der Bildebene des Okulars liegt und daß das Ablesemittel in ebenfalls für sich bekannter Weise aus einer Teilung (q) besteht.
    Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
DE1930583988D 1930-10-07 1930-10-07 Feinablesung, insbesondere fuer Vermessungsgeraete Expired DE583988C (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE583988T 1930-10-07

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE583988C true DE583988C (de) 1933-09-13

Family

ID=6571598

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1930583988D Expired DE583988C (de) 1930-10-07 1930-10-07 Feinablesung, insbesondere fuer Vermessungsgeraete

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE583988C (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3068741A (en) * 1957-03-22 1962-12-18 Askania Werke Ag Objective reading of scales
DE1163035B (de) * 1959-08-11 1964-02-13 Zeiss Carl Fa Vorrichtung zum Bewegen eines Werkstueckes um Intervalle gleicher Laenge

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3068741A (en) * 1957-03-22 1962-12-18 Askania Werke Ag Objective reading of scales
DE1163035B (de) * 1959-08-11 1964-02-13 Zeiss Carl Fa Vorrichtung zum Bewegen eines Werkstueckes um Intervalle gleicher Laenge

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE583988C (de) Feinablesung, insbesondere fuer Vermessungsgeraete
DE635316C (de) Messeinrichtung fuer Pruefgeraete o. dgl.
DE591704C (de) Winkelmesser, Theodolit o. dgl.
AT100954B (de) Tangenten-Tachymeter.
AT125950B (de) Ablesemikroskop.
DE971054C (de) Messgeraet zum Ablesen und Einstellen von Messstrecken, insbesondere an Werkzeugmaschinen
DE589045C (de) Messgeraet
DE590508C (de) Optische Feinmessvorrichtung
DE817819C (de) System fuer optische Laengenmessung
DE936238C (de) Vorrichtung zum Messen der Parallelverschiebung der Ziellinie bei optischen Geraeten
DE522914C (de) Totalrefraktometer
DE590789C (de) Winkelmessgeraet, insbesondere Theodolit
DE937205C (de) Messtisch
DE440898C (de) Optisches Messgeraet
DE834898C (de) Ablesevorrichtung an Holzbearbeitungsmaschinen
DE1235006B (de) Messmikroskop, insbesondere fuer Kernspuren
DE1001008B (de) Laengenmessmaschine
DE499084C (de) Vorrichtung zur Untersuchung von Linsensystemen
DE205177C (de)
AT97845B (de) Doppelbildentfernungsmesser mit Latte am Ziel.
DE682419C (de) Dehnungsmesser
AT212579B (de) Einrichtung zur Entfernungsmessung
DE573886C (de) Messgeraet
DE616562C (de) Optisches Basisinstrument zum Messen von Winkeln, insbesondere optischer Basisentfernungsmesser
DE588540C (de) Winkelmessgeraet, Theodolit o. dgl.