DE1001008B - Laengenmessmaschine - Google Patents

Laengenmessmaschine

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DE1001008B
DE1001008B DEV10221A DEV0010221A DE1001008B DE 1001008 B DE1001008 B DE 1001008B DE V10221 A DEV10221 A DE V10221A DE V0010221 A DEV0010221 A DE V0010221A DE 1001008 B DE1001008 B DE 1001008B
Authority
DE
Germany
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optical
division
image
axis
subdivision
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEV10221A
Other languages
English (en)
Inventor
Max Nestler
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Carl Zeiss Jena GmbH
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Publication date
Application filed by Carl Zeiss Jena GmbH filed Critical Carl Zeiss Jena GmbH
Priority to DEV10221A priority Critical patent/DE1001008B/de
Publication of DE1001008B publication Critical patent/DE1001008B/de
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/20Slide gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/14Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Längenmeßmaschine Die Erfindung betrifft eine Längenmeßmaschine, die eine am Maschinenbett angeourdnete Hauptteilung mit großen Teilstrichabständen, eine Unterteilung mit kleinen Teilstrichabständen sowie optische Glieder enthält, um einem Beobachter Teilbilder beider Teilungen in der Bildebene eines Ablesemikroskops zueinander parallel und benachbart liegend darzubieten.
  • Längenmeßmaschinen dieser Art waren bisher nur für Innen- und Außenmessungen eingerichtet. Um sie auch für Steigungsmessungen an langen Gewindespindeln, z. B. Leitspindeln, und für Tei.lungsmessungen, z. B. an Maßstäben, geeignet zu machen, werden sie gemäß der Erfindung wie folgt ausgebildet: Die Unterteilung, das Ablesemikroskop und einer von zwei Teilern der optischen Glieder zur Abbildung der Unterteilung in die Bildebene des Ablesemikroskops werden auf einem unteren Schlitten angeordnet, der am Maschinenbett in der Richtung der Hauptteilung verschiebbar gelagert ist. Dieser untere Schlitten trägt einen in der gleichen Richtung verschiebbaren oberen Schlitten, auf dem einerseits eine Tasteinrichtung oder ein Meßmikroskop für Messung gen an dem am Maschinenbett gelagerten Prüfling und andererseits der zweite jener beiden Teile von optischen Gliedern angeordnet ist. In der Verlängerung der Haupttei;lung ist am Maschinenbett ein Indexstrich fest angebracht, der durch teilweise am Maschinenbett, teilsweise an dem unteren Schlitten angeordnete optische Mittel in die Bildebene des Ablesemikroskops an den Ort des Bildes der Hauptteilung abgebildet wird. Die Hauptteilung und der Indexstrich mit den Achsen zugehörender sammelnder optischer Glieder einerseits und die Unterteilnug mit der Achse des zugehörenden vorderen sammelnden optischen Gliedes andererseits liegen in zwei gegeneinander geneigten Ebenen, die sich in der sogenannten Meßachse, d. b. in einer Geraden schneiden, die die am Prüft in auszumessenden Punkte enthält. Dabei müssen die Abstände der beiden Teilungen und des Indexstriches von der Meßachse einander gleich sein und es müssen ferner sämtliche an der Bi,lderzeugung beteiligten sammelnden optischen Glieder gleiche Brennweite und solche Lage haben, daß ihre Brennpunkte in einer Teilung oder in einem Teilungsbild oder in dem Indexstrich liegen.
  • Zum Ablenken der Achse des an dem oberen Schlitten angeordneten, an der Abbildung dler Unterteilung mitwirkenden sammelnden optischen Gliedes aus der einen der beiden Ebenen in die andere dient zweckmäßig ein Spiegelsystem, dessen Hauptschnitt mit den beiden Ebenen gleiche Winkel einschließt und der Meßachse parallel ist. Dabei empfiehlt es sich, im Abbildungsstrahlengang vor diesem Spiegelsystem eine z. B. aus einem Drehkeilpaar bestehende, optische Mikrometereinfichtung zum Messen von Bruchteilen der Unterteilung anzuordnen. Um das Ablesen zu erleichtern, empfiehlt es sich ferner, optische Mittel vorzusehen, um die beiden Glieder einer diese Bruchteile angebenden Anzeigevorrichtung, deren bewegliches Glied mit der optischen Mikrometereinrichtung gekuppelt ist, in die Bildebene des Ablesemikroskops abzubilden.
  • Um einen weiten Meßbereich zu ermöglichen, ist es ratsam, am Maschinenbett für die Lage des Prüflings und für den unteren Schlitten voneinander unabhängige Führungsbahnen vorzusehen.
  • Vorteilhaft ist es noch, in dem Beleuchtungsstrahlengang der verschiedenen in die Bildebene des Ablesemikroskops abzubildenden Striche geeignete Blenden anzubringen, damit der Kontrast der verschiedenen Bilder durch nicht zugehörige Beleuchtungseinrichtungen nicht störend beeinflußt werden kann.
  • Es empfiehlt sich, die Hauptteilung und den Index an dem Maschinenbett sowie die optischen Glieder am Unterwagen so zu lagern, daß Durchbiegungen des Maschinenbettes bzw. des Unterwagens die gegenseitige Lage der verschiedenen Strichmarken nicht beeinflussen können.
  • In der Zeichnung ist eine der Erfindung entsprechend Längenmeßmaschine mit den verschiedenen Zubehörteilen für Außenmessung, Steigungsmessung und Teilungsmessung in einem Ausführungsbeispiel schematisch veranschaulicht.
  • Abb. 1 gibt die Meßmaschine für die Außenmlessung eingerichtet in einer Längsansicht wieder; Abb. 2 zeigt die gleiche Maschine für die Teilungs-und Steigungsmessung eingerichtet in einer Längsansicht; Abh. 3, 4 und 5 sind drei Querschnitte durch die für die Außenmessung eingerichtete Maschine entlang den in Abb. 1 eingezeicl1neten Schnittlinien A-B, C-D bzw. E-F; Abb. 6, 7 und 8 sina drei Querschnitte durch die Maschine entlang der in Abb. 2 eingezeichneten Schnittlinvie G-H, wobei die Maschine in Abb. 6 für die Steigungsmessung, in Abb. 7 für die.l'Iessung von Teilungen in einer Vertikalebene und in Abb. 8 für die Messung von Teilungen in einer Horizontalebene eingerichtet ist; Abb. 9 zeigt die in Abb. 1 und 2 enthaltenen, längs der Maschine verschieblichen, optischen Bestandteile in größerem Maßstab; Abb. 10 gibt das Gesichtsfeld im Ablesemikroskop der Maschine vergrößert wieder.
  • Die h/Ießmaschine enthält ein Bett 1 mit einem Dezimetermaßstab 2, dessen Teilstriche je einem auf dem Bett 1 befestigten Glasstreifen 3 angehören und als Doppelstriche ausgebildet sind.
  • In der Verlängerung dieser Teilung 2 über ihren Nullpunkt hinaus ist auf einem an diem Bett 1 befestigten Glasstreifen 4 ein Zeiger 5 angebracht, zu dessen Aufhellung eine Beleuchtungseinrichtung 6 vorgesehen ist.
  • Das Bett 1 enthält zwei nebeneinanderliegende, zueinander parallele Führungsbahnen 7 und 8. In der Fübrungsbahn 7 sitzt ein einstellbarer Meßbock 9. der als Gehäuse für die Beleuchtungseinrichtung 6 ausgehildet ist und ein einfaches Spiegelprisma 10 sowie ein Kollimatorobjektiv 11 trägt, dessen Achse M-JI den Führnngsbahnen 7 und 8 parallel ist und aus dem die von dem Zeiger 5 kommenden Strahlen achsenparallel austreten. Auf der oberen Fläche des Meßbocks 9 kann für Außen- und Innenmessungen eine verstellbare Meßpinole 12 aufgeklemmt werden.
  • Längs der Fühsungsbahn 8 ist ein Wagen 13 (der Unterwagen der Meßeinrichtung) mit Hilfe von Rollen 14 verschiebllich angeordnet. Der Unterwagen 13 trägt einen Wagen 15 (den Oberwagen der Meßeinrichtung), der mit Hilfe von Rollen 16 gegenüber dem Unterwagen 13 verschieblich ist. Die Führungsbahnen beider Wagen sind einander parallel.
  • An dem Unterwagen 13 ist ein Ablesemikroskop 17 befestigt, dem die von dem Zeiger 5 kommenden, aus dem Koll imatorobj ektiv 11 achsenparallel austretenden Strahlen mit Hilfe eines zweiten Kollimatorobjektivs 18, dessen Achse mit der Achse M-M zusammenfällt, und eines Doppelprismas 19 mit halb versiliberter Hypotenusenfläche so zugeführt werden, daß ein Bild des Zeigers 5 in die Ebene der Dezimeterteilung 2 zu liegen kommt. Das Objektiv 20 (s. Abb. 5) des Ablesemikroskops 17, dessen Achse die Meßachse X-X senkrecht schneidet, bildet die Dezimeterteilung 2 und dieses Zeigerbild mittels eines zweifach spiegelnden Prismas 21 in das obere Drittel der Bildebene des Mikroskops 17 ab. In Abb. 10, die das Bildfeld des Mikroskops 17 veranschaulicht, ist das Bild der Dezimeterbeilung mit 2' und das Zeilgerbild mit 5' bezeichnet. Zum Betrachten dieser Bilder dient das Okular 24 (s. Abb. 5).
  • An dem Unterwagen 13 ist ein Glasmaßstab 25 von 100 mm Länge befestigt, der nach Zelintelmillimetern geteilt ist. Die zugehörende Beleuchtungseinrichtung 26 befindet sich im Oberwagen 15, der entsprechend der Länge des Maßstabs 25 gegenüber dem Unterwagen 13 verschieblich ist. Der Oberwagen 15 trägt ein Kollimatorobjektiv 27, dessen Achse N-N der Achse M-.1I parallel ist und eine solche Lage hat, daß die beiden der Verschiebungsrichtung der beiden Wagen 13 und 15 parallelen Ebenen, deren eine durch die Achsen X-X und M-M und deren andere durch die Achsen X-X und N-N bestimmt ist, die sich also in der Meßachse X-X sclmeiden, einen Winkel a mit- einander einschließen. Dem Kollimatorobjektiv 27 werden die vom Maßstab 25 kommenden Strahlen mittels eines im Oberwagen 15 angeordneten Prismas 28 zugeführt. Die aus dem Objektiv 27 achsenparallel austretenden Strahlen durchlaufen eine im Unterwagen 13 angeordnete Mikrometereinrichtung aus zwei Keilen 29, die in einer um die Achse N-N drehbaren Büchse 30 angeordnet sind, und werden dann durch ein ebenfalls im Unterwagen liegendes Prismensystem 31 so gerichtet, daß sie in das Kollimatorobjektiv 18 parallel zu dessen Achse M-M eintreten, so daß in der Bildebene des Mikroskops 17 ein Bild 25' der Skala 25 entsteht (s. Abb. 10). Der zugehörende Zeiger ist ein Doppelstrich 22, der auf der in der Okularbildebene des Ablesemikroskops 17 liegenden Seite einer Glasplatte 23 aufgetragen ist. Durch Verdrehen der Büchse 30 kann das Skalenbild 25' gegenüber dem Doppelstrich 22 verschoben werden.
  • Zum Verdrehen dient ein Einstellknopf 32, durch den eine Stange 33 (s. Abb. 9) verdreht werden kann, die mit der Büchse 30 so gekuppelt zu denken ist, daß ihre Drehung auf die Büchse übertragen wird. Am Außenrand der Büchse 30 ist eine Glasplatte 34 befestigt, auf der eine zur Achse N-N konzentrische kreisförmige Skala 35 aufgetragen ist. Der zugehörende Zeiger 36 ist auf einer Glasplatte 37 aufgetragen und wird mittels zweier Prismen 38 und 39 und eines Objektivs 40 in die Ebene der Skala 35 abgebild!et. Zum Beleuchten der Anzeigevorrichtung 35, 36 dient eine Beleuchtungseinrichtung 41. Die von der Anzeigevorrichtung kommenden Strahlen werden mittels eines Prismas 42 einem Kollimatorobjektiv 43 zugeführt. Sie verlassen dieses Objektiv achsenparallel und werden durch drei Prismen 44, 45 und 45' so gerichtet, daß sie in ein Kollimatorobjektiv 46, dessen Achse mit der des Mikroskopobjektivs 20 zusammenfällt, achsenparallel eintreten. Dieses Kollimatorobjektiv bildet die Anzeigevorrichtung 35, 36 in die Ebene der Dezimeterteilung 2 ab. In Abb. 10 ist im unteren Drittel der Bildebene des Mikroskops 17 das Bild der Skala 35 mit 35' und das Bild des Zeigers 36 mit 36' bezeichnet. Der aus Abb. 10 zu entnehmende Meßwert ist 253,2724 mm.
  • Für Außenmessungen (Abb. 1) kann auf dem Oberwagen 15 eine Pinole 47 aufgeklemmt werden. Zwischen den beiden Pinolen 12 und 47 liegt der Prüfling, in Abb. 1 eine Welle 48, deren Länge gemessen werden soll. Die Welle 48 ist in zwei längs der Führungsbabn 7 einstellbaren Lagerböcken 49 und 50 gelagert. Diese beiden Lagerböcke können auch durch andere ersetzt werden, wenn die Maschine für Steigungs- oder Teilungsmessungen von Prüflingen verwendet werden soll (s. Abb. 2, 6, 7 und 8). Für Messungen dieser Art ist auf dem Oberwagjen 15 statt der Meßpinole 47 ein Meßmikroskop 51 zu befestigen, dessen optisches System der Art der Messung angepaßt sein muß. Die Abb. 6, 7 und 8 lassen die zu verwendende Optik erkennen, die für Steigungsmessungen bzw. für die Messung von Teilungen in einer Vertikal ebene bzw. für die Messung von Teilungen in einer Horizontalebene erforderlich ist.

Claims (5)

  1. PATENTANSPRj CIIE 1. Längenmeßmaschine, die eine am Maschinenbett angeordnete Hauptteilnng mit großen Teilstrichabständen, eine Unterteilung mit kleinen Teilstrichabständen sowie optische Glieder ent hält, um einem Beobachter Teilbilder beider Teilungen in der Bildebene eines Ablesem'ikroskcps zueinander parallel und benachbart liegend darzubieten, gekennzeichnet durch die Kombination folgender Merkmale, und zwar erstens dadurch gekennzeichnet, daß als Träger der Unterteilung, des Ablesemikroskops und eines von zwei Teilen der optischen Glieder zur Abbildung der Unterteilung in die Bildebene des Ablesemikroskops ein am Maschinenbett in der Richtung der Hauptteilung verschiebbar gelagerter, unterer Schlitten dient, der einen in der gleichen Richtung verschiebbaren oberen Schlitten trägt, auf dem einerseits eine Tasteinrichtung oder ein Meßmikroskop für Messungen an dem am Maschinenbett gelagerten Prüfling und andererseits der zweite jener beiden Teile von optischen Gliedern angeordnet ist, zweitens, daß in der Verlängerung der Hauptteilung am Maschinenbett ein Indexstrich fest angebracht ist, der durch teilweise am Maschinenbett, teilweise an dem unteren Schlitten angeordnete optische Mittel in die Bildebene des Ablesemikroskops an den Ort des Bildes der Hauptteilung abgebildet wird, drittens, daß die Hauptteilung und der Indexstrich mit den Achsen zugehörender sammelnder optischer Glieder einerseits und die Unterteilung mit der Achse des zugehörenden vorderen sammelnden optischen Gliedes andererseits in zwei gegeneinander geneigten Ebenen liegen, die sich in der sogenannten Meßachse schneiden, und viertens, daß die Abstände der beiden Teilungen und des Indexstriches von der Meßachse einander gleich sind und daß sämtliche an der Bilderzeugung beteiligten sammelnden optischen Glieder eine diesen Abständen gleiche Brennweite und eine solche Lage haben, daß ihre Brennpunkte in einer Teilung oder einem Teilungsbild oder dem Indexstrich liegen.
  2. 2. Längenmeßmaschine nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zum Ablenken der Achse des an dem oberen Schlitten angeordneten, an der Abbildung der Unterteilung mitwirkenden, sammelnden optischen Gliedes aus der einen jener beiden Ebenen in die andere ein Spiegelsystem dient, dessen Hauptschnitt mit den beiden Ebenen gleiche Winkel einschließt und der Meßachse parallel ist.
  3. 3. Längenmeßmaschine nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß im Abbildangsstrahlengang vor jenem Spiegelsystem eine optische Mikrometereinrichtung zum Messen von Bruchteilen der Unterteilung angeordnet ist.
  4. 4. Längenmeßmaschine nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß optische Mittel vorgesehen sind, um die beiden Glieder einer diese Bruchteile angebenden Anzeigevorrichtung in die Bildebene des Ablesemikroskops abzubilden.
  5. 5. Längenmeßmaschine nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß am Maschinenbett für die Lager des Prüflings und für den unteren Schlitten voneinander unabhängige Führungsbahnen vorgesehen sind.
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DE (1) DE1001008B (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3106127A (en) * 1957-04-11 1963-10-08 Johannes Heidenhain Feinmechan Device for the alignment and reading of distances and angles
US3114976A (en) * 1959-08-21 1963-12-24 Hensoldt & Sohne M Slide gauges, screw gauges, or the like
DE102016110956A1 (de) * 2016-06-15 2017-12-21 Schreiner Group Gmbh & Co. Kg Messanordnung zum Vermessen von Strukturen eines Messobjekts

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