DE1750206U - Laengenmessmaschine. - Google Patents

Description

• LängenmneBmaschine Die Erfindung betrifft eine Längenmeßmaschine die eine am Maschinenbett angeordnete Hauptleitung mit großen Teilstrichabständen, eine Unterteilung mit kleinen Teilstrichabständen sowie optische Glieder enthält, um einem Beobachter Teilbilder beider Teilungen in der Bildebene eines Ablosemikroskops zueinander parallel und benachbart liegend darzubieten.
• Längenmeßmaschinen dieser Art waren bisher, wie aus der deutschen Patentschrift 410 130 ersichtlich, nur für Innen-und AuBenmessungen eingerichtet. Um sie auch für Steigungmessungen an langen Gewindespindeln, z. B. Leitspindeln, und für Teilungsmessungen, z. B. an Maßstäben, geeignet zu machen, werden sie gemäß der Erfindung wie folgt ausgebildet : Die Unterteilung, das Ablesemikroskop und einer von zwei Teilen der optischen Glieder zur Abbildung der Unterteilung in die Bildebene des Ablesemikroskops werden auf einem unteren Schlitten angeordnet, der amMaschinenbett in der Richtung der Hauptteilung verschiebbar gelagert ist.
• Dieser untere Schlitten trägt einen in der gleichen Richtung verschiebbaren oberen Schlitten, auf dem einerseits eine Testeinrichtung oder ein Meßmikroskop für Messungen an dem am Maschinenbett gelagerten Prüfling und andererseits der zweite jener beiden Teile von optischen Gliedern angeordnet

  w s d@t dwi t

  ist.la der Verläagoeuag der Haupttellung ist am

  o@'c'B @'3. n inQLexs'srs. ojM, jrosis än@&&ra@jETBg d@r cLuFon'E@s,, ! Lw@3Lse

  am Maschinenbettg teilweise an dem unteren Schlitten ange-

  ordneteoptische Mittel in die Bildebene des Ablesemikro°

  abgebildet wird. Die Haupt-teilung

  skops an den Ort das Blldes der Rguptteilung-iemd dez Index-

  strich mlt den Achsen zugehörender sammelnder optischer

  V ATrS ! nEf<3tTjan<*'aatnMfBjtS&f T''' ? f

  bA&u, AMAM U. S&J. t. niBfsu, u. {t3AAujf. <3Ajms ! A E>ammmAm's-'. Mt'. asj'.

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  zugehörenden vorderen sammelnden optischen Gliedes andererseits liegen in zwei gegeneinander geneigten Ebenen, die sich in der sogenannten Meßachse, d. h. in einer Geraden schneiden, die die am Prüfling auszumessenden Punkte enthalte Dabei müssen die Abstände der beiden Teilungen und des Indexstrishes von der Meßachse einander gleich sein und es müssen ferner sämtliche an der Bilderzeugung beteiligten sammelnden optischen Glieder gleiche Brennweite und solche Lage haben, daß ihre Brennpunkte in einer Teilung oder in einem Teilungsbild oder in dem Indexstrich liegen.
• Zum Ablenken der Achse des an dem oberen Schlitten angeordneten, an der Abbildung der Unterteilung mitwirkenden sammelnden optischen Gliedes aus der einen der beiden Ebenen in die andere dient zweckmäßig ein Spiegels ems

  dessen H&uptsehnitt mit d@n beiden Ebenen gleiche Winkel

  einschloßt-und d@F MeBa'shs@ pF&llel ist. Dabei empfiehlt es

  siehg im Abbildmsgsst ? l@ngang vor diesem Spiegelsystem

  glue o Be @'a in@m 9shk@ilpa@F bestehende, optische Ni-

  krometeeinFieht'nmg sm. M@s@n @n Bruchteilen der Unter-

  teilung Um daz Abl (38en zu erleichtern, empfiehlt

  es ES forn929 optische Mittel vorzusehen, um die beiden

  Glieder @in@F d@o Bn@ht@il@ abgebenden Anzeigevorrichtung,

  derenb@w@glieh@s Gled mit d@F optischen Mikrometerein=

  richtung gekuppelt ägtg in die BiM@ben@ des Ablesemikro-

  3&SO] P§ @SSSi@o

  Um ein@n ein Meßbereich sn ermöglichen ist es

  Fatsams am Masehin@nb@tt fuF di@ Lage des Prüflings und für

  den nt@r@n Sehlitten onei@nd@ unabhängige Führungsbahnen

  vorzusehen.

  Vorteilhaft ist es nohs in dem Beleuehtungsstrahlen°

  gang der vegchiedenen in ie Bildebene des Ablesemikroskops

  abzubildenden Striche geeignete Blenden anzubringen, damit

  derKontrast der verschedenen Bilder durch nicht zugehörige

  Beleuehtung§ein ? i@htnngen nieht störend beeinflußt werden

  kann.

  Es empfiehlt siehp di@ Hauptleitung und den Index an

  d@mN@. sehija. @nbott sowie die optischen Glieder am Unterwagen,

  so zu <t. ag63 ? jBi. p d&) B D !, 3 ? @jB,) &3, @gungQn <B. @s MsssmnenbeMes bzwe des

  Unterwagensdie gegenseitige Lage der Strich-

  marken nicht beeinflussen können,

  In der Zeichnung ist eine der Erfindung entsprechende

  TMjcyßM'MstTMsT'MfSt f ? fS) a)'\tF''3fTT ! ! <7fS)) R hM

  jsQtAHIJLAut AMA JLA t&A&jL. . tSAJL MAAM AUA

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  MAMAA s&AeSASA t&&U. JLA'JL'f. o Uo <

  glbt die Ließmaschine für die Außeümessung eingerichtet in

  eia@r Läagsansicht wiedeFo Abbo 2 zeigt di@ gl@iehe Maschine

  .u3?u?@Nsüct@ugsNssuäg@iBg@n@n6@u in einer

  Läsggaieht. Abbo 3 4 nd 5 sind drei Querschnitte dur<3h

  diefür'die AuB@am@ssung @ig@ri@htet@ Maschine entlang den

  in Abb. eingezeichneten Schnittlinien A-B g C-D bzw.

  WJ&t f7T* W f' ? t<Si

  Bt =* o . MUc 0/ULNUA 0 NMU'm's. Jt.'M. t9AaJLjü !. JLt) S UUJ-.'JH,'MJLo

  Maschine entlang der in Abb= 2 eingezeichneten Schnittlinie

  H 9 wobei die rdasehine In Abb. 6 für die Steigungsmessungy

  'o

  inAubo t x die Mossungon @ilungen in einer srciic&jLeDene

  und in Abb. 8 für di, 9 hiessung von Teilungen in einer Horizon=

  talebene eingerirhtet ist. Abb. 9 zeigt die in Abb. 1 und 2

  uetJt.'BMBUs <8J. j [tg'mJH<tm<'BU Asbo &H'Oo dSSAgü UJm AB. UUo) ULM. U C.

  enthaltenenplä. ags der Maschine verschieblichens, optischen

  Bestandteile in größerem Maßstab. Abb. 10 gibt das Gesichts-

  feld im Ablesemikroskop der Maschine vergröBert wieder.

  Die Meßmaschine enthält ein Bett 1 mit einem Dessi-

  metermaßstab 2 d dessen Teilstriche je einem auf dem Bett

  1 befestigten Glasstreifen 3 angehören und als Doppelstriche

  ausgebildet sind.

  In der Terlängernng-dieser Teilung 2 über h. r@n Null-

  h $er @h@a ist 0

  ES 2 $9E @g@Ad U-

  punkt hinaus ist auf einem an dem Bett 1 befestigteu

  Glasstreifen4 ein Zeiger 5 angebrachte zu dessen Auf°

  hallung eine Ist"

  Das@in@ Bl@@htnag§einlßht ag 6 Torgsehen ist. c

  Das Bett enthält zwei a. ebeneia. anderliegendeg zn=.

  einanderparallele Fuhnngsbahnen 7 uM 8. In dar

  Füh. F'M. ngsbahn 7 itt ein einstellbarer MeBboek 9 der

  als Gehäuse füF die BeleueMu&gs'ainricht-u&g 6 ausgebildet

  ist und ein einfaches Spiegelprisma 10 sowie ein Kolli-

  matox'obgekti'v täg dessen Achse M°H den Führungs

  bahnen 7 und 8 parallel ist und aus dem die von dem

  Zeiger 5 kommenden Strahlen achsenparallel austreten.

  Auf der oberen Fläche des MeBbocks 9 kann für Außen-und

  Innenmessungeneine verstellbare Meßpinole 2 aufgeklemmt

  werden. Längs der Fuhrungsbahn 8 ist ein Wagen 13 (der

  Unterwagen der Meßeinrichtung) mit Hilfe von Rollen 14

  verschieblich angeordnet. Der Unterlagen 13 träg-i einen

  Wagen 15 (den Oberwagen der Meßeinrichtung) der mit

  Hilfe von Rollen 16 gegenüber dem Unterwagen 13 ver°

  schdeblich ist. Die Führungsb-aB-an beider agen sind'einander

  parallel.

  An dem Unterwagen 13 ist ein Ablesemikroskop 17

  befestigte dem die von dem Zeiger 5 kommenden, aus dem

  Kollimatorobjektiv 1 achsenparallel austretenden Strahlen

  mit Hilfe eines zweiten Kollimatorobjektivs 18 dessen

  Achse mit der Achse M-M zusammenfällt und eines Doppelprismas 19 mit halbversilberter Hypotenusenfläche so zugeführt werden, daß ein Bild des Zeigers 5 in die Ebene der Dezimeterteilung 2 zu liegen kommt. Das Objektiv 20 (siehe Abbe 5) das Ablesemikroskops 17, dessen Achse die Meßachse X-X senkrecht schneidet, bildet die Dezimeterteilung 2 und dieses Zeigerbild mittels eines zweifach spiegelnden Prismas 21 in das obere Drittel der Bildebene des Mikroskops 17 ab. In Abb. 10S die das Bildfeld des Mikroskops 17 veranschaulichte ist das Bild der Dezimeterteilung mit 2' und das Zeigerbild mit 53 bezeichnet. Zum Betrachten dieser Bilder dient das Okular 24 (so Abb. 5).
• An dem Unterwagen 13 ist ein Glasmaßstab 25 von 100 mm Länge befestigte der nach Zehntel Millimetern geteilt ist. Die zugehörende Beleuchtungseinrichtung 26 befindet sich im Obcrwagen 15, der entsprechend der Länge des maßstabs 25 gegenüber dem Unterwagen 13 verschieblich ist.
• Der Oberwagen 15 trägt ein Kollimatorobjektiv 27, dessen Achse N-N der Achse M°ü parallel ist und eine solche Lage hat, daß die beiden der Verschiebungsrichtung der beiden ragen 13 und 15 parallelen Ebenen, deren eine durch die Achsen X-X und M-M und deren andere durch die Achsen X-X und N-N bestimmt ist, die sich also in der roeßachse X-X schneiden einen Winkel αmiteinander einschließen. Dem Kollimatorobjektiv 27 werden die vom Maßstab 25 kommenden Strahlen mittels eines im Oberwagen 15 angeordneten Prismas 28 zugeführt. Die aus dem Objektiv 27 achsenparallel austretenden Strahlen durchlaufen eine im Unterwagen 13 angeordnete lliikrometereinrichtung aus zwei Keilen 29 , die in einer um die Achse NUN drehbaren Büchse 30 angeordnet sind, und werden dann durch ein ebenfalls im Unterwagen liegendes Prismensystom 31 so gerichtet, daß sie in das Kollimatorobjektiv 18 parallel zu dessen Achse M-M eintreten, so daß in der Bildebene des Mikroskops 17 ein Bild 25' der Skala 25 entsteht (siehe Abb. 10).
• Der zugehörende Zeiger ist ein Doppelstrich 22 , der auf der in der Okularbildebene des Ablesemikroskops 17 liegenden Seite einer Glasplatte 23 aufgetragen ist. Durch Verdrehen der Büchse 30 kann das Skalenbild 25' gegenüber dem Doppelstrich 22 verschoben werden. Zum Verdrehen dient ein Einstellknopf 32, durch den eine Stange 33 (siehe Abbo 9) verdreht werden kann, die mit der Büchse 30 so gekuppelt zu denken ist, daß ihre Drehung auf die Büchse übertragen wird.
• Am Außenrand der Büchse 30 ist eine Glasplatte 34 befestigte auf der eine zur Achse N-N konzentrische kreis= förmige Skala 35 aufgetragen ist. Der zugehörende Zeiger 36 ist auf einer Glasplatte 37 aufgetragen und wird mittels zweier Prismen 38 und 39 und eines Objektivs 40 in die Ebene der Skala 35 abgebildet. Zum Beleuchten der Anzeige-Vorrichtung 35 , 36 dient eine Beleuchtungseinrichtung 41.
• Die von der Anzeigevorrichtung kommenden Strahlen werden mittels eines Prismas 42 einem Kollimatorobjektiv 43 zugeführt. Sie verlassen dieses Objektiv achsenparallel und werden durch drei Prismen 44, 45 und 45'so gerichtet, daß sie in ein Kollimatorobjektiv 46 , dessen Achse mit der

  desMikroskopobjektivs 20 zusammenfällt. achsenparallel

  eintreten. Dieses Kollimatorobjektiv bildet die Anzeigevorrichtung 35 , 36 in die Ebene der Dezimetertellung 2 ab. In Abb. 10 ist Im unteren Drittel der Bildebene des Mikroskops 17 das Bild der Skala 35 mit 35' und das Bild des Zeigers 36 mit 36 bezeichnet. Der aus Abb. 10 zu entnehmende Meßwert ist 253,2724 mm.
• Für Außenmessungen (Abb. 1) kann auf dem Oberwagen 15 eine Pinole 47 aufgeklemmt werden. Zwischen den beiden Pinolen 12 und 47 liegt der Prüfling, in Abb. i eine-Welle 48, deren Länge gemessen werden soll. Die Telle 48 ist in zwei längs der Führungsbahn 7 einstellbaren Lagerbrocken 49 und 50 gelagert. Diese beiden Lagerböcke können auch durch andere ersetzt werden, wenn die Maschine für Steilungs gungs- oder Teimessungen von Prüflingen verwendet werden soll

  (s. Abb. 2, 6, 7 und 8s) e Für Messungen dieser Art ist auf dem

  Oberwagen 15 statt der moßpinole 47 ein Meßmikroskop 51 zu befestigen, dessen optisches System der Art der Messung angepaßt sein muß. Die Abbildungen 6, 7 und 8 lassen die zu verwendende Optik erkennen, die für Steigungsmessungen, bzw. für die Messung von Teilungen in einer. Vertikaleenen, bzw. für die Messung von Teilungen in einer Horizontalebene erforderlich ist.

Claims (1)

1. Schut ? ansprüche 10 Längenmeßmaschine, die eine am Maschinenbett angeordnete Hauptteilung mit großen Teilstrichabständen, eine Unterteilung mit kleinen Teilstrichabständen sowie optische Glieder enthält, um einem Beobachter Teilbilder beider Teilungen in der Bildebene eines Ablesemikroskops zueinander parallel und benachbart liegend darzubieten, dadurch gekennzeichnet daß als Träger der Unterteilung, des Ablesemikroskops und eines von zwei Teilen der optischen Glieder zur Abbildung der Unterteilung in die Bildebene des Ablesemikroskops ein am Maschinenbett in der Richtung der Hauptteilung verschiebbar gelagerter, unterer Schlitten diente der einen in der gleichen Richtung verschiebbaren oberen Schlitten trägt, auf dem einerseits eine Tasteinrichtung oder ein Lleßmikroskop für Messungen an dem am Maschinenbett gelagerten Prüfling und andererseits der zweite jener beiden Teile von optischen Gliedern angeordnet ist, ferner gekennzeichnet durch einen in der Verlängerung der Hauptteilung am Maschinen bett fest angebrachten Indexstriah, der durch teilweise am maschinenbett teilweise an dem unteren Schlitten angeordnote optische Mittel in die Bildebene des Ablesemikroskops an den Ort des Bildes der Hauptteilung abgebildet wird, weiter dadurch gekennzeichnet, daß die Hauptteilung und der Indexstrich mit den Achsen zugehörender sammelnder optischer Glieder einerseits und die Unterteilung mit der Achse des zugehörenden vorderen sammelnden optischen Gliedes andererseits in zwei gegeneinander geneigten Ebenen liegen, die sich in der sogenannten MeBachse Schneidens und gehlieBlich dadurch gekennzeishnetg daß die Abstände der beiden Teilungen und des Indexstriches von der Meßachse einander gleich sind und daß sämtliche an der Bilderzeugung beteiligten sammelnden optischen Glieder eine diesen Abständen gleiche iurd -, olche Lage habeng daß ihre Brennpunkte in einer Teilung oder einem Teilungsbild oder dem Indexstrich liegen.

   2o Längenmeßmaschine nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet das zum Ablenken der Achse des an dem oberen Schlitten angeordneten, an der Abbildung der Unterteilung mitwirkenden, sammelnden optischen Gliedes aus der einen jener beiden Ebenen in die andere ein Spiegelsystem diente dessen Hauptschnitt mit den beiden Ebenen gleiche Winkel einschließt und der Meßachse parallel ist. 3c LängenmeBmaschine nach Anspruch 2 dadurch ge- kennzeichnet, daß im Abbildungsstrahlengang vor jenem Spiegelsystem eine optische Mikrometereinrichtung zum Messen von Bruchteilen der Unterteilung angeordnet ist.

   4. Längenmeßmaschine nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß optische Mittel vorgesehen sind, um die beiden Glieder einer diese Bruchteile anGebenden An= zeigevorrichtung in die Bildebene des Ablesemikroskops abzubilden.

   5. Längonmeßmaschine nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet daß am Maschinenbett für die Lager des Prüflings und für den unteren Schlitten voneinander unabhängige Führungsbahnen vorgesehen sind.