DE931805C - Einrichtung zum Vergleich zweier parallel nebeneinander verlaufender Messstrecken - Google Patents

Einrichtung zum Vergleich zweier parallel nebeneinander verlaufender Messstrecken

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DE931805C
DE931805C DEL18579A DEL0018579A DE931805C DE 931805 C DE931805 C DE 931805C DE L18579 A DEL18579 A DE L18579A DE L0018579 A DEL0018579 A DE L0018579A DE 931805 C DE931805 C DE 931805C
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Germany
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measuring
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collimator
optical
telescope
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DEL18579A
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Gerhard Dr Stade
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Herbert Lindner GmbH
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Herbert Lindner GmbH
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21BROLLING OF METAL
    • B21B38/00Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/02Rulers with scales or marks for direct reading
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D18/00Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00

Description

  • Einrichtung zum Vergleich zweier parallel nebeneinander verlaufender Meßstrecken Die Erfindung richtet sich auf eine Einrichtung zum Vergleich zweier parallel neben.einander verlaufender Meßstrecken, die aus einem Meßsystem zum Anvi,sieren des Werkstückes, einem Kollimatorsystem mit Fernrohr zum Anvisieren des Urmaßstabes sowie optischen Mitteln zum Ausgleich von Ablesefehlern infolge von Ungenauigkeiten in den parallel zu den Meßstrecken verlaufenden Führungs bahnen besteht.
  • Nach dem Abbeschen Komparatorprinzip müssen zwei Meßstrecken, von denen die eine im allgemeinen das Urmaß und die andere das auszumessende Werkstück darstellt, zum Vergleich in einer Geraden, also hintereinander angeordnet sein, wenn Ablesefehler, die auf Ungenauigkeiten der Führungsbahnen beruhen, bis auf solche zweiter Ordnung vermieden werden sollen.
  • Gemäß den Patentschriften 394 809, 399 849 und 409 808 wurden Vorrichtungen vorgeschlagen, die auch bei parallel nebeneinander verlaufenden Meßstrecken Ablesefehler, die auf Ungenauigkeiteu der Führungsbahnen beruhen, bis auf solche zweiter Ordnung vermeiden. Diese Anordnungen bestehen grundsätzbcli aus einem Kollimatorsystem, das das Bild des Urmaßstabes ins Unendliche projiziert, und einem Fernrohr zur Beobachtung des unendlich fernen Bildes. Das Kollimatorsystem wird längs der Meßstrecke geführt und ist starr mit dem Meßsystem für das auszumessende Werkstück, z. B. einem Ablesemikroskop, oder mit der Meßmutter verbunden. Das Fernrohr dagegen ist starr mit dem Bett der Vorrichtung verbunden, auf dem auch das auszumessende Werkstück und der Urmaßstab starr befestigt sind. Macht man dann die Brennweite des Kollimato.robjektivs gleich dem Abstand der beiden parallel nebeneinander verlaufenden Meß strecken, so kann die Beseitigung der Ablesefehler durch Ungenauigkeiten der Führungsbahnen bis auf solche zweiter Ordnung herbeigeführt werden.
  • Die vorstehend genannten Systeme haben den Vorteil, daß infolge der Nebeneinanderlagerunglder beiden Meßstrecken die Baulänge der Meßvorrichtung gegenüber solchen, die nach dem reinen Abbeschein Komparatorprinzip arbeiten, auf etwa die Hälfte reduziert wird, was beim Ausmessen großer Teile sehr erwünscht ist. Sie haben jedoch den Nachteil, daß die Meßstelle vom Ableseort bei langen Werkstücken sehr weit entfernt liegt, so daß zum Ablesen des Urmaß.stabes am Fernrohr und zum optischen Einstellen des Werlçstückes mit einem starr mit dem Kollimatorobjektiv verbundenen Mikroskop zwei Beobachter benötigt werden, wenn man das lästige Hinundherlaufen eines Beobachters während der Messung vermeiden will. Man kann dies zwar, wie dies in der Patentschrift 399 849 vorgeschlagen wurde, dadurch vermeiEden, daß man auch das Bild des Werkstückes durch einen zweiten Kollimator mit in das Fernrohr projiziert. Dadurch wird jedoch nicht viel gebessert, da beim optischen Messen, z. B. von Gewindespindeln, stets Manipulationen am zu messenden Gewindegang, z. B. das Anlegen von Meßschneiden oder die Beseitigung von störenden Staubteilchen, durchgeführt werden müssen. Alle diese Manipulationen können nur bei gleichzeitiger mikroskopischer Beobachtung ausgeführt werden, und es ist deshalb erforderlich, daß der Ort der Beobachtung bei der Meßstelle liegt.
  • Unvofteilhaft ist ferner, daß infolge der Bedingung; daß die Brennweite des Kollimatorobjektivs gleich der Entfernung der beiden Meßebenen sein muß, entweder dieser Abstand nur klein sein darf, wodurch sperrige Werkstücke nicht untersucht werden können, oder nur Kollimatcrobj ektive mit sehr langer Brennweite benützt wer'den dürfen., was bei der erforderlichen hohen Öffnung dieser Objektive zu optischen Schwierigkeiten führt.
  • Die Aufgabe der Erfindung ist es, diese Nachteile zu vermeiden. Dies geschieht nach der Erfindung dadurch, daß einerseits das Meßsystem, das Kollimatorsystem und das' Fernrohr andererseits das Werkstück, der Urmaßstab und das optische Ausgleichssystem starr miteinander verbunden sind, wobei entweder das Meßsystem, ,das Kollimatofsystem und das Fernrohr auf ,den Führungsbahnen bewegt werden,, während das Werkstück, der Urmaßstab und das optische Ausgleilchsstystem feststehen, oder umgekehrt. Es wird also vorgeschlagen, das Fernrohr starr mit demjenigen Geräteteil zu verbinden, welches das Kollim'atorsystem zur Pro; ektio,n des Urmaßstabbildes ins Unendliche und das Meßsystem für das auszumessende Werkstück trägt, während der optische Ausgleich wider Ablesefehler in folge von Ungenauigkeiten der Führungsbahnen durch ein .starr mit der Werkstück- und Urmaßstabhalterung verbundenes optisches System, z. B. ein Spiegelsystem, erreicht wird. Hierbei islb es dann gleichgültig, ob das auszumessende Werkstück, der Urmaßstab und das Spiegelsystem feststehen, während das Kollimatorfernrohrsystem und das mit ihm starr verbundene Meßsystem für das Werkstück auf den Führungsbahnen bewegt werden oder ob umgekehrt das Kollimatorfernrohrsystem und das Meßsystem feststehen, während die starr verbundenen. Teile Werkstück, Spiegelsystem und Urmaßstab auf den Führungsbahnen bewegt werden. Im Sinne der Erfindung ist es auch möglich, den optischen Ausgleich von Ablesefehlern infolge von U.ng,enauigkeiten der Führungsbahnen nicht am Abiesesystem des Urmaßstabes, sondern am Meßsystem für das Werkstückes oder aber an beiden zusammeln durchzuführen.
  • Der Gegenstand der Erfindung ist in den Zeichnungen beispielsweise dargestellt, und zwar zeigt Fig. I eine Einrichtung schem.atisch in persktivischer Darstellung, Fig. 2 den Strahlengang nach Fig. I schematisch zur Erläuterung der Wirkungsweise der Heinrich tung nach Fig. I und Fig. 3 eine abgeänderte Ausführungsform der Einrichtung nach Fig. I schematisch in perspektivischer Darstellung.
  • Als einfachster Fall wird die erfindungsgemäße Anordnung in Fig. I für den Fall feststehen,den Werkstückes und optischen Ausgleichs der Ablesefehler infolge von Ungenauigkeiten der Führungsbahnen im Ablesesystem des Urmaßstabes beschrieben. In dieser Figur stellt I das auszumessende Objekt, z. B. einen Strichmaßstab, und 2 .den Vergleichsmaßstab dar. Der Maßstab I wird durch ein aus dem Objektiv 3, dem Prisma 4, der Bezugsstrichplatte 5 und dem Okular 6 bestehendes Mikro skop derart anvisiert, daß der anvisierte Maß stab strich I' von I zwischen den beiden Strichen 7 der Bezugsstrichplatte 5 gesehen wird. Dieses Mikroskop ist auf dem in den Führungen 8 und 9 laufenden Tisch 10 fest aufmontiert, ebenso wie ein Kollimatorsystem, das aus einem Objektiv Ii und einem Prisma 12 besteht. Das Objektiv bildet den betreffenden Maßstabstrich 2' von 2 im Unendlichen ab, wobei durch das Prisma 12 eine Knickung der Abbildungsstrahien um go0 stattfindet.
  • Auf der Grundplatte des gesamten Gerätes sind die Führungen 8 und 9 und der Tisch 13, der die beiden Maßstäbe I und 2 trägt, fest aufmontiert, ebenso wie der Tisch I4, der ein Spiegelsystem trägt, das zu.r räumlichen Trennung von Kollimator und Fernrohr als dreimal reflektierendes Prisma I5 ausgebildet ist und zu dem die Ahbildungsstrahlen aus dem Objektiv II nach Knickung im Prisma I2 gelangen. Nach erfolgter Reflexion im Prisma 15 verlaufen die Strahlen entgegengesetzt zur ursFprünglichen Richtung zum Beobachtungsfernrohr, das fest auf dem Tisch 10 aufmontiert ist. Das Fernrohrobj,ektiv I6 sammelt dabei die Abbildungsstrahlen derart, daß wider Maßstabstrich 2' des Maßstabes 2 nach Knickung der Strahlen im Prisma I7 zwischen den Strichen 18 der Bezugsstrichplatte 19 abgebildet wird und durch das Okular 20 beobachtet werden kann.
  • Mit ,dem Tisch 10 ist außerdem eine Beleuchtungsvornchtung 21 fest verbunden, die nach beiden Maßstäben Licht sendet.
  • Zur Erklärung der Wirkungsweise der beschriebenen Anordnung bezüglich der Behebung von Ablesefehlern, die auf Ungenauigkeiten der Führungsbahnen beruhen, dient die Fig. 2, in der gleiche Teile mit gleichen Bezugszeichen versehen sind.
  • Es stellt I die achsensenkrechte Meßebene des Werkstückes und 2 die achsensenkrechte Meßebene des Vergleichsmaßstabes dar. Die Meßebene I wird, wie in Fig. I dargestellt ist durch ein Mikroskop oder beispielsweise durch die Spitze eines Taststiftes anvisiert, dessen Objektivachse mit 22 bezeichnet ist. Der anvisierte Objektpunkt ist I'. Das Kollimatorobjekttv ii bildet den Maßstabstrich 2' im Unendlichen ab, wobei durch das Prisma 12 eine Knickung der Abbildungsstrahlen um go0 stattfindet. Die Abbildungsstrahlen gelangen zu dem Spiegelsystem I5, in dem die Reflexionen bei 23, 24 und 25 erfolgen. Hierauf verlaufen die Strahlen entgegen,gesetzt zur ursprünglichen Richtung zum Beobachtungsfernrohr, von dem in Fig. 2 nur das Fernrohrobjektiv i6 dargestellt wurde. Das Fernrohrobj ektiv sammelt dile Lichtstrahlen derart, daß der Maßstabpunkt 2' im hinteren Brennpunkt indes FernlrolDrobjelçtivs auf dessen Achse 26 abgebildet wird, wo sich dann dile in Fig. I dargestellte Bezugsstrichplatte I9 befindet. Der das Anvisiermikroskop, das Kollimatorsystem und das Fernrohr tragende Tisch (Io in Fig. I) läuft in den Führungen 8 und 9.
  • Es ist leicht einzusehen und in den Patentschriften 394 809, 399 849 und 409 808 mehrfach erklärt worden, daß zu Abiesefehlern erster Ordnung infolge von Ungenauigkeiten der Führungsbahnen nur solche führen, die eine Drehung des gesamten; bewegten Systems um eine zur Zeichenebene von Fig.2 senkrechte Achse, z..B. um die Achse mit dem Durchstoßpunkt 27 durch die Zeichenebene bewirken. Hierdurch findet nämlich eine Verschiebung des Anvisiermikroskopes in die neue Achsenstellung 22' des Kollimatorsystems in die Stellung II', I2' und des Ferurohres in die Stellung I6' mit der Achse 26' statt. Das Mikroskop visiert dann die Meßebene des Objektes in. I" an, während die Achse des Kollimatorsystems die Meßebene des Vergleichsmaßstabes 2 in 2" durchstößt. Bei Nichtvorhandensein eines optischen Ausgleichs würde demnach der Ab lesefehler gleich der Strecke 28-2" sein.
  • Die optische Achse unterliegt jedoch wieder der dreifachen Reflexion in dem Prisma I5, wobeil die bei kleinen Winkeln unerhebliche Brechung an der Ein;tritts- und Austrittsfläche des Pnsmas nicht dargestellt ist. Nach der dreifachen Reflexion bei 23', 2ß' und 25' verläßt der Achsenstrahl das Prisma bei 29 und schließt, wie man leicht nachweist, mit der Fernrohrachse 26' den Winkel 2# ein, wenn der Drehwinkel um die Achse 27# beträgt. Will man demnach einen optischen Ausgleich der Ablesefehler infolge von Ungenau,igkeiten in den Führungsbahnen erreichen, so muß man durch geeignete Wahl der optischen Bedingungen dafür sorgen, daß der zu dem Punkt 28 (Korrespondenzpunkt zu I") gehörende Lichtstrahl 30 nach erfolgter Reflexion im Prisma 15 in Punkten 3I, 32, 33 parallel zur Fernrohrachse 26' verläuft, da dann der Punkt 28 durch das Kollimlator- und das Fernrohrobjektiv wieder auf der optischen Achse 26' abgebildet wird. Dies ist stets dann der Fall, wenn der Punkt 28 dem Kollimatorobjektiv unter dem Winkel a = 2 p erscheint, wie man aus den in Fig. 2 eingezeichneten Winkeln erkennt.
  • Bezeichnet man den Abstand der beiden Meßebenen von Werkstück und Vergleichsmaß stab mit d und die Brennweite des Kollimatorobjektivs mit f, so ergibt sich bei den hierbei auftretenden kleinen Winkeln dann der gesuchte optische Ausgleich, wenn d f = 2 ' d. h. die Brennweite,des Kollimatorobjektivs, gleich dem halben Abstand der beiden zu vergleichenden Meßebenen ist.
  • Mit der von der Erfindung vorgeschlagenen Anordnung wird demnach erreicht, daß der Ableseort (Fernrohrokular) im Gegensatz zu den bekanntgewordenen Anordnungen in unmittelbarer Nähe der Meßstelle des Werkstückes (Punkt I' auf I) liegt und daß die Brennweite des Kollimatorobjektivs nur noch halb so groß ist wie der Abstand der Meßebenen von Objekt und Vergleichsmaßstab, wodurch bei hinreichend kleinen Brennweiten des Kollimatorobjektivs auch sperrige Werkstücke ausgemessen werden können.
  • Da das Werkstück und der Vergleichsmaßstab in Fig. 1 und 2 gegeneinander ausgetauscht werden können, kann der erfindungsgemäße optische Ausr gleich a,uch am Anvisiersystem vorgenommen werden.
  • Die Brennweite des Kollimato,robjekti'vs kann nochmals auf die Hälfte,. d. h. auf ein Viertel des Abstandes der beiden Meßebenen, reduziert werden, wenn man den erfindungsgemäßen optischen Ausgleich von Ablesefehlern infolge von Ungenauigkeiten der Führungsbahnen am Anvisiersystem des Werkstückes und am Abiesesystem des Vergleichsmaßstabes gemeinsam durchgeführt. Hierfür ist in Fig. 3 eine einfache Anordnung dargestellt. Das Kollimatorsystem 34 besteht in UbereinLstimmung mit Fig. I aus dem Objektiv II und dem Prisma I2 und das Fernrohr 36 aus dem Objektiv I6, dem Prisma I7, der Strichplatte I8, 19 und dem Okular 20. Das Kollimatorsystem 35 entspricht dem Kollimatorsystem 34 und das Fernrohr 37 dem Fernrohr 36.
  • Auf den Führungsbahnen 8 und 9, die parallel zu dem Werkstück I und dem Vergieichsmaßstab 2 verlaufen, bewegt sich ein Tisch I0, der die beiden Kollimatorsysteme 34 und 35 und die beiden Fernrohre 36 und 37 fest montiert trägt. Durch die Prismen der beiden Kellimatersyssteme werden die Abbildungsstrahlen zu den beiden Prismen 15 und I5' reflektiert, aus denen sie nach dreimaliger Reflexion wieder austreten und in den beiden Fernrohren 36, 37 ein beobachtbares Bild von Werkstück und Vergleichsmaßstab erzeugen. Die beiden Prismen 15 und I5' sind dabei ebenso wie das Werkstück I und der Vergleichsmaßsbab 2 sowie die beiden Führungsbahnen 8 und 9 fest mit dem Bett der gesamten Anordnung verbunden. Die Lichtquelle 21, die dem Objekt 1 und dem Vergleichlsmaßstab 2 Licht gibt, ist fest mit dem Tisch 10 verbunden.
  • Das erste Gesamtsystem korrigiert Ab lesefehler infolge von Ungenauigkeiten der Führungsbahnen in bezug auf das Werkstück I und die Mittelachse AA, während das zweite Gesamtsystem die Ablesefehler in bezug auf den Vergleichsmaßstab 2 und die Mittelachse AA korrigiert. Beide Systeme zusammen bewirken demnach den optischen Ausgleich der Ablesefehler in bezug auf das Werkstück und den Vergleichs maßstab, wenn deren Abstand das Vierfache (4/) jeder der beiden einander gleichen Brennweiltenf der Koll i'matorobj ektive beträgt.
  • Durch ein geeignetes, an sich bekanntes optisches Verbindungsglied kann man es dann noch erreichen, daß die Bilder des Werkstückes und des Vergleichs, maß stabes zusammen, beispielsweise ilm Okular des WeXrkstücks,ystems, beobachtet werden können, wodurch eine engste Nachbarschaft von Meßstelle auf dem Objekt und Ablesestelle erreicht wird, wobei auch die Projektion auf eine Mattscheibe stattfinden kann. Ferner ist es- erfindungsgemäß möglich, die subjektive Anvisierung einer oder beider Meßebenen durch mechanische, lichtelektrische oder magnetische Einrichtungen zu zersetzen. Auch ist es im Sinne der Erfindung möglich, bei Bedarf mit dem Spiegelsystem I5 in Fig. I und 2 bzw. 15 und I5' in Fig. 3 noch andere optische Elemente, z. B. zur Erzeugung einer Zwischenabbildung, zu verbinden. Außerdem kann erfindungsgemäß mit demselben Erfolg an Stlellelder starr verbundenen Anordnung aus Anvisiersystem, Kollimatorsystem und Fernrohr auch die starr verbundene Anordnung aus Werkstück, Verglei chsmaß'stab und Spiegelsystem bewegt werden, während die andere Anordnung feststeht.

Claims (10)

  1. PATENTANSPRÜCHE: I. Einrichtung zum Vergleich zweier parallel nebeneinander verlaufender Meßstrecken, die aus einem Meßsystem zum Anvisierten des Werkstückes, einem Kollimato'rsystem mit Fernrohr zum Anvisieren des Urmaßstabes sowie optischen Mitteln zum Ausgleich von Ablesefehlern infolge von Ungenauigkeiten in den parallel zu den Meß strecken verlaufenden Führungsbahnen besteht, dadurch gekennzeichnet, daß einerseits das Meßsystem, das Kollimatorsystem und das Fernrohr, andererseits das Werstück, der Urmaßstab und das optische Ausgleichssystem starr miteinander verbunden sind, so daß entweder das Meßsystem, das Kollimatorsystem und das Fernrohr auf den Führungsbahnen bewegbar sind, während das Werkstück, der Urmaßstab und -das optische Ausgleichs system feststelhen, oder umgekehrt.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch I, dadurch gelçemlzeichnet, daß das optische Ausglei cbs system aus einer einmal oder drei-, fünf-, sieben- usw. mal reflektierenden Spiegel anordnung besteht, die die einfallenden Lichtstrahlen zu.r Einfallsrichtung parallel oder annähernd parallel aber in entgegengesetzter Richtung reflektiert.
  3. 3. Einrichtung nach den Ansprüchen I und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Brennweite des Kollimatorobjektivs gleich dem halben Abstand der beiden. Meßebenen voneinander ist.
  4. 4. Einrichtung nach ,den Ansprüchen I bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der optische Ausgleich am Meßsystem für !das Werkstück durchgeführt ist.
  5. 5. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß der optische Ausgleich sowohl an dem Ablesesystem für faden Urmaßstab al.s auch an dem Meßsystem für das Werkstück durchgeführt ist.
  6. 6. Einrichtung nach den Ansprüchen I, 2 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Brennweiten der beiden Kollimatorobjektive gleich groß sind und ein Viertel des Abstandes der beiden Meßebenen voneinander betragen.
  7. 7. Einrichtung nach Anspruch I und einem oder mehreren der Ansprüche 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die im Ablesesystem und im Meßsystem entstehenden Bisher mit Hilfe eines einzigen Okulars beobachtbar sind.
  8. 8. Einrichtung nach Anspruch I und einem oder mehreren der Ansprüche 2 bis 7,dadurch gekennzeichnet, daß der Ort der Ablesung von Werkstück und Urmaßstab in dier Nähe der Meßstelle am Werkstück liegt.
  9. 9. Einrichtung nach Anspruch I und einem oder mehreren der Ansprüche 2 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß an Stelle der Beobachtung mit Okularen die Anvisierung durch Beobachtung von Projektionsbildern geschieht.
  10. 10. Einrichtung nach Anspruch I und einem oder mehreren der Ansprüche 2 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die subjektive Anvisierung einer oder beider Meßebenen durch mechanische, lichtelektrische oder magnetische Einrichtungen ersetzt ist.
    II. Einrichtung nach Anspruch I und einem oder mehreren der Ansprüche 2 bis I0, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem Spiegelsystem zur Erzeugung des optischen Ausgleichs noch andere optische Elemente verbunden sind.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2961917A (en) * 1957-09-23 1960-11-29 Askania Werke Ag Means for examination of graduated circles
DE1241128B (de) * 1965-04-17 1967-05-24 Leitz Ernst Gmbh Vorrichtung zur fotoelektrischen Abtastung

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