DE937205C - Messtisch - Google Patents

Messtisch

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Publication number
DE937205C
DE937205C DEL747D DEL0000747D DE937205C DE 937205 C DE937205 C DE 937205C DE L747 D DEL747 D DE L747D DE L0000747 D DEL0000747 D DE L0000747D DE 937205 C DE937205 C DE 937205C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
scale
measuring table
measuring
auxiliary
main
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEL747D
Other languages
English (en)
Inventor
Helmut Becker
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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Filing date
Publication date
Application filed by Ernst Leitz Wetzlar GmbH filed Critical Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority to DEL747D priority Critical patent/DE937205C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE937205C publication Critical patent/DE937205C/de
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23QDETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
    • B23Q17/00Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools
    • B23Q17/24Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools using optics or electromagnetic waves

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Description

  • Es sind Meßtische mit einem Hauptmaßstab bekannt, der auf eine mikrometrisch verschiebbare Unterteilung vergrößert abgebildet wird. Der Hauptmaßstab ist mit dem Grundkörper fest verbunden, und das Mikrometer sowie eine zweite bezifferte Unterteilung sind mit dem beweglichen Teil des Meßtisches verbunden. Insbesondere ist an der zweiten Unterteilung eine Marke angebracht, die über einen bezifferten Hilfsmaßstab läuft, der fest am Grundkörper angebracht ist, und dessen Teilung dem Hauptmaßstab entspricht.
  • Da der Hauptmaßstab und der Hilfsmaßstab weit voneinander entfernt liegen, so ist es schwierig, sie gegeneinander zu justieren. Ferner ist der Hilfsmaßstab weniger leicht abzulesen als die hellen Projektionsbilder auf den Unterteilungen.
  • Nach der Erfindung ist der Mangel dadurch behoben, daß der Hilfsmaßstab durch optische Mittel als Abbildung eines auf dem unbeweglichen Grundkörper angeordneten, grob gearbeiteten Hilfsmaßstabes erzeugt ist.
  • Insbesondere wird zur leichteren Justierung der Hilfsmaßstab auf dem Träger des Hauptteilungsmaßstabes zusätzlich angeordnet. Der Hilfsmaßstab kann hierbei aus einem durchsichtigen Werkstoff oder sogar nur aus Papier bestehen, auf das die Teilung und die Beschriftung aufgedruckt sind. Um nun die durch den Druck kräftiger ausgefallenen Teilungsstriche und die Bezifferung in der Projektionsebene nicht zu grob erscheinen zu lassen, wird im weiteren Ausbau der Erfindung der Hilfsmaßstab mit einem kleineren Vergrößerungsverhältnis abgebildet als der Hauptteilungsmaßstab. Bei einer derartigen Anordnung ist es nun sehr leicht möglich, bei einem Meßtisch mit Kreuzverschiebung die Abbildung der beiden Meßvorgänge an dieselbe Seite des Meßtisches zu legen.
  • In der Zeichnung ist die Erfindung in einem Ausführungsbeispiel dargestellt, und zwar an einem senkrechten Schnitt durch einen Meßtisch.
  • Mit dem Grundkörper i des Meßtisches ist der die Hauptteilung tragende Glasmaßstab 2 fest verbunden. Auf dieser Glasplatte ist zugleich der Hilfsmaßstab 3 angeordnet. Gegenüber diesem Grundkörper läßt sich der Tisch 4 auf der Kugelführung 18 verschieben. Dieser Tisch trägt die Beleuchtungseinrichtung, die aus der Glühbirne 5 und den beiden hinter den Maßstäben :2 und 3 angeordneten Spiegeln 2o und 21 besteht. Der Hauptmaßstab wird durch das optische System 6 und der Hilfsmaßstab 3 durch das optische System 22 auf die an der vorderen Längsseite des Meßtisches befindlichen Mattscheiben 7, 8 abgebildet,. wobei .zwischen dem System 22 und er Mattscheibe 23 noch ein Spiegel 24 zur Ablenkung des Strahlenganges gelagert ist. Auf den Mattscheiben 7, 8 erscheint nun mit starker Vergrößerung mindestens ein Teilstrich des Hauptmaßstabes 2, in der unteren Mattscheibe ist dann die Unterteilung angeordnet. Um nun zu dem auf die Mattscheiben 7, 8 projizierten Teilungsstrich die zugehörige Meßzahl festzustellen, liest man genau unterhalb in dem Projektionsfeld 23 den Wert des Hauptmaßstabes ab.

Claims (5)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Meßtisch, insbesondere für Werkstatt-Meßmikroskope mit einem Hauptmaßstab, der auf eine mikrometrisch verschiebbare Unterteilung abgebildet wird, während der Hauptmaßstab mit dem Grundkörper verbunden ist und die Unterteilung aus zwei Teilen besteht, deren einer mit dem beweglichen Tisch fest verbunden ist und deren anderer durch das Mikrometer gegenüber dem Tisch einstellbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß der in oder in der Nähe der Abbildungsebene des Hauptteilungsmaßstabes liegende, dem letzteren entsprechende Hilfsmaßstab durch optische Mittel als Abbildung eines auf dem unbeweglichen Teil des Meßtisches angeordneten, grob gearbeiteten Hilfsmaßstabes erzeugt ist.
  2. 2. Meßtisch nach Anspruch i, dadurch gekennzeic'hnet, daß der grob gearbeitete, optisch abzubildende Hilfsmaßstab auf dem Träger des Hauptmaßstabes angeordnet ist.
  3. 3. Meßtisch nach Anspruch i und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergrößerung des den Hilfsmaßstab abbildenden optischen Systems kleiner ist als die des den Hauptteilungsmaßstab abbildenden optischen Systems.
  4. 4. Meßtisch nach Anspruch i oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der grob gearbeitete Hilfsmaßstab auf einen durchsichtigen Werkstoff aufgedruckt ist.
  5. 5. Meßtisch nach Anspruch i mit Kreuzverschiebung, an dem die Einrichtung nach den Ansprüchen i bis 4 für beide Verschieberichtungen angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß die abbildenden optischen Systeme zusammen mit spiegelnden Flächen so angeordnet sind, daß die Abbildungen beider Meßvorrichtungen an derselben Seite des Meßtisches liegen.
DEL747D 1939-08-29 1939-08-29 Messtisch Expired DE937205C (de)

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DEL747D DE937205C (de) 1939-08-29 1939-08-29 Messtisch

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DEL747D Expired DE937205C (de) 1939-08-29 1939-08-29 Messtisch

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