CH251425A - Strecken-Messeinrichtung mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des Messstreckenfehlers. - Google Patents

Description

  



     Strecken-Messeinrichtung    mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des   Me@streckenfehlers.   



   Es ist bekannt, an Messeinrichtungen von    Präzisionsbearbeitungsmaschinen den MeB-    streckenfehler, das   heiBt    in diesem Falle den durch   Steigungsfehler    der MeBspindel verursachten Fehler der jeweils durch eine Strekkenmarke angezeigten Messstrecke, dadurch zu korrigieren, dass man diesen Fehler durch ein Kurvenlineal beriehtigt, von dem aus die   Ablesemarke    mechanisch in eine dem   jewei-    ligen   MeBstreckenfehler    entsprechende Stellung gegenüber der   Streckenmarke    gesteuert wird. Da sich die Spindel mit der Zeit abnutzt, ist es erforderlich, die Kurve in gewissen Zeitabständen nachzuarbeiten. Es ist auch nicht möglich, jeden Bruchteil einer Me¯strecke zu korrigieren.



   Man erhält nun nach vorliegender Erfindung eine fehlerfreie und beständige MeBeinrichtung, wenn man jeder Streckenmarke eine die zugehörige Messstrecke berichtigende Ablesemarke zuordnet, die relativ zur   Strecken-    marke eine feste Lage hat und die mit der entsprechenden Streckenmarke durch optische Mittel im Gesichtsfeld der MeBeinrichtung abgebildet wird. Eine zweckmässige   Aus-    führungsform ergibt sich dadurch, dass die Ablesemarken auf einer mit den   Strecken-    marken bewegten Platte je in mindestens der Länge der zugehörigen Streckeneinheit und parallel zu dieser aufgebracht und dem jeweiligen Messstreckenfehler entsprechend gegeneinander seitlich versetzt sind.

   Dabei werden diese Ablesemarken in eine parallele Lage zu den Teilstrichen einer Unterteilung gebracht, der eine grössere Auswanderung erteilt werden kann, als die Streckeneinheit lang erscheint. Die Ablesemarken können dabei auf der die Streckenmarken tragenden Platte aufgebracht sein. Die senkrecht zu den Streckenmarken verlaufenden Ablesemarken werden vorteilhaft durch ein Wendeprisma in die erforderliche parallele Lage zu den Teilstrichen der Unterteilung gebracht.



   Besonders vorteilhaft ist eine Ausführungsform, bei der die Ablesungen der Strekkenmarke durch ein Mikroskop mit einem Messokular erfolgt. Da die Länge der Unterteilung des Messokulars einem Vielfachen der zu messenden Streckeneinheit entspricht ; lässt sich durch die entsprechend grössere seitliche Versetzung der Ablesemarken eine hohe Genauigkeit   in der Korrektion erzielen.    Die Ablesemarken können durch an sich bekannte   optisehe Mittel    in einer parallelen Lage zu den   Teilstrecken    der in der   Okularbildebene    liegenden Unterteilung abgebildet werden.

   In Fällen, in denen bei der Ablesung die M¯glichkeit einer   Verwechslvzng    der Ablesemarken besteht, wird man dieselben entweder mit den Zahlen der entsprechenden   Strecken-    marken versehen oder verschieden einfärben.   



   In der Zeichnung ist e, in Ausführungsbei- spiel der erfindungsgemässen Strecken-Mess-      einrichtung s,cherrmatisch    dargestellt.



   Fig.   1      zeigteinübereinerMarkenplatte    angeordnetes Mikroskop mit   Messokular    in  Verbindung mit einer eine   Eorrektionsmar-      kenplatte    in die Okularbildebene abbildenden optischen Einrichtung.



   Fig. 2 zeigt neben einem Teil der Strekkenmarkenplatte den zugehörigen Teil der Ablese- oder Korrektionsmarkenplatte.



   Fig.   3    und 4 zeigen das in dem   Messokular    sichtbare Bild der Markenreihen vor und nach der Ausmessung.



   ¯ber der Platte 1, die die   Streckenmar-    ken 2 trägt, ist das Mikroskop, bestehend aus dem Objektiv 3 und dem   Prismenkeil-Mess-    okular 4, nach   DRP.    Nr. 679131 angeordnet.



  Neben der Streckenmarkenplatte   1    und mit derselben geführt liegt die Ablese-oder   Eor-      rektionsmarkenplatte 5. Letztere trägt    die Marken 6, die durch die Linsen 7 und   8,    das Prisma 9 und von   dem Wende-Prisma    10 um   90     gedreht in die Bildebene 11 des   Prismakeil-Messokulars    4 abgebildet werden.



   Die durch das Objektiv 3 vergrösserten Streckenmarken 2 werden beim Bewegen der Unterteilung 12 durch die damit verbundene Lageveränderung der   Prismenkeile    des Messokulars 4 von-der in der Okularbildebene fest angeordneten   Zwischenteilung 13    eingefangen. Werden nun die beiden   Marken-    platten   1    und 5 gegenüber der optischen Einrichtung 3, 4 und 7-11 verschoben, wobei sieh die relative Lage dieser Platten zuein  ander nicht ändert, so wandert mit    jeder   Streckenmarke    2 die zugehörige   Ablesemarke    6 in die Gebrauchsstellung.

   Die   Ablesemarke    6, welche verschwindet, gilt bis zur letzten ablesbaren   Dezimalstelle.    Mit der vollen nächstgrösseren   ZaMl    fängt der   Ablesebereich    h der   neueintretenden      Marte      6    an. Bei   entspre-      chender    Bezifferung trägt Ablesemarke   6    die Zahl der Eauptteilung und gilt dann nur für den Bereich des entsprechenden   Hauptteil-    striches. Die in Fig. 3 auf den Nullpunkt der Unterteilung 12 eingestellte Ablesemarke gilt von 54, 0000 bis 54, 9999 und k¯nnte entsprechend mit 54 bezeichnet sein.

   Um   beim Uber-    gang von der einen   Ablesemarke    6 auf die andere noch einwandfrei ablesen zu können, sind dieselben entsprechend lang gehalten.



  Die seitlichen Versetzungen der   Ablesemar-    ken 6 entsprechen, da dieselben der Unterteilung 12 zugeordnet sind, einem Vielfa, chen der jeweiligen   Streckeneinheitsfehler    der Streckenmarkenplatte   1.    Bei einem Plusfehler ist die   Ablesemarke    6 entsprechend mehr rechts, bei einem   Minusfehler    mehr links angeordnet.

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH : Strecken-Me¯einrichtung mit einer Vor- richtung zur Berichtigung des Messstreeken- fehlers durch entsprechend unterschiedliehe Lage der Ablesemarke, dadurch gekennzeich- net, da¯ jeder Streckenmarke eine die zugehörige Messstrecke berichtigende Ablesemarke zugeordnet ist, die relativ zur Streekenma, ke eine feste Lage hat und die mit der entsprechenden Streckenmarke durch optische Mittel im Gesichtsfeld der Messeinriehtung abgebildet wird.

   UNTERANSPRÜCHE : 1. MeBeinrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, daB die Ablesemarken auf einer mit den Streckenmarken beweg- ten Platte je in mindestens der Länge der zugehörigen Streckeneinheit und parallel zu dieser aufgebracht und dem jeweiligen Mess streckenfehler entsprechend gegeneinander seitlich versetzt sind und durch die optischen Mittel in eine parallele Lage zu den Teilstrichen einer Unterteilung gebracht werden, der die Ablesemarken zugeordnet sind und der eine grössere Auswanderung erteilt werden kann, als die Streekeneinheit lang erscheint.

   2. Messeinrichtung nach Patentanspruch und Unteransprueh 1, dadurch gekennzeich- net, da¯ die optischen Mittel ein Wende Prisma aufweisen.

   3. MeBeinrichtung nach Patentanspruch und Unteranspruch 1, bei der die Ablesung der Streckenmarken durch ein Mikroskop mit einem lVIeBokular erfolgt, dadurch gekennzeichnet, dass die Ablesemarken durch Linsen in die Okularbildebene derart abgebildet wer- den, da¯ sie zum Ablesen der Unterteilung dienen.