DE947026C - Winkelmessgeraet - Google Patents

Winkelmessgeraet

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DE947026C
DE947026C DEA16456A DEA0016456A DE947026C DE 947026 C DE947026 C DE 947026C DE A16456 A DEA16456 A DE A16456A DE A0016456 A DEA0016456 A DE A0016456A DE 947026 C DE947026 C DE 947026C
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DE
Germany
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Expired
Application number
DEA16456A
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English (en)
Inventor
Dr Ottomar Douglas
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Askania Werke AG
Original Assignee
Askania Werke AG
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Filing date
Publication date
Application filed by Askania Werke AG filed Critical Askania Werke AG
Priority to DEA16456A priority Critical patent/DE947026C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE947026C publication Critical patent/DE947026C/de
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
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    • GPHYSICS
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    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00Measuring angles
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    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
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    • G01D7/02Indicating value of two or more variables simultaneously
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  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Winkelmeßgerät Die Erfindung betrifft ein Winkelmeßgerät, welches mit einer Teilkreis-Ableseeinrichtung ausgerüstet ist, bei der zwei gegeneinander versetzte Teilkreisstellen - z. B. zwei gegenüberliegende zur Ausschaltung des Exzentrizitätsfehlers des Instrumentes - aufeinander abgebildet werden. Diese Abbildung erfolgt- bisher in der Weise, daß die Teilstriche der einen Kreisstelle mit geringem Abstand neben den zugehörigen Teilstrichen der zweiten Kreisstelle im Gesichtsfeld der Ablese= einrichtung erscheinen, so daß die einander zugeordneten Teilstriche der beiden Teilkreisstellen Doppelstriche bilden, auf die eine Ablesemarke eingestellt wird. Hierbei können die Teilkreisstellen dem gleichen Teilkreis oder zwei getrennten konzentrischen Kreisteilungen angehören. Es sind andererseits auch Ableseeinrichtungen bekanntgeworden, bei denen diametral gegenüberliegende Kreisteilungsabschnitte unter gleichzeitiger Winkelverdrehung so aufeinander abgebildet werden, daß die einander zugeordneten Teilstriche sich schneiden und die Mittelwertbildung durch Einstellung auf den Ort der Überdeckung der Teilstriche vorgenommen wird.
  • Bei Wink elmeßgeräten größerer Meßgenauigkeit, z. B. bei Präzisionstheodoliten für die Triangulation erster Ordnung, wo die Eliminierung von periodischen Kreisteilungsfehlern auch höherer Ordnung eine Rolle spielt, ist ferner bereits vorgeschlagen worden, mehr als zwei, z. B. vier Teilkreisstellen zur Ablesung zu benutzen, die jeweils um 90° zueinander versetzt sind. In diesem Falle werden je zwei gegenüberliegende Teilstriche zu einem Doppelstrich kombiniert, wobei diese beiden Doppelstriche im Gesichtsfeld der gemeinsamen Ableseeinrichtung in bekannter Weise längs einer Berührungslinie für die Ablesung auf Koinzidenz eingestellt werden.
  • Gemäß der Erfindung wird vorgeschlagen, bei diesen Winkelmeßgeräten, insbesondere bei denen der letzteren Art, die Abbildung der Teilkreisstellen aufeinander nicht in der Weise vorzunehmen, daß Doppelstriche entstehen, sondern so, daß die einander zugeordneten Teilstriche in ihrer ganzen Länge zur Deckung, d. h. aufeinander zu liegen kommen, so daß sich wieder Einzelstriche ergeben. Man verringert damit die Zahl der bisher im Gesichtsfeld der Ableseeinrichtung (z. B. des Ablesemikroskops) sichtbaren Teilstriche um die Hälfte, wodurch das Skalenbild einfacher und damit übersichtlicher wird, was dem Beobachter zugute kommt. Dieser Vorteil wirkt sich natürlich dann besonders stark aus, wenn im Gesichtsfeld der gemeinsamen Ableseeinrichtung sowohl die Angaben des Seiten- als auch die des Höhenkreises ablesbar sind und darüber hinaus gegebenenfalls sogar für jeden Teilkreis .eine gleichzeitige Ablesung von mehr als zwei, z. B. vier Kreisstellen vorgesehen ist. Wenn man berücksichtigt, daß bei solchen Geräten außer dem eigentlichen Teilkreisbild zumeist noch weitere Teilungen und Hilfsskalen (z. B. Mikrometerteilung, Libellentelung usw.) im Gesichtsfeld des Ablesemikroskops erscheinen, also der Beobachter sich einer Fülle von Teilungen gegenüber sieht, muß jede Reduzierung der Strichzahl für den Beobachter eine wesentliche Erleichterung bedeuten und dazu beitragen, Ableseirrtümer auszuschließen.
  • An Hand der Abb. i bis 5 ist der Erfindungsvorschlag im folgenden mit zwei Ausführungsbeispielen näher erläutert.
  • In Abb. i sind mit i und 2 der Horizontal- bzw. Vertikalkreis eines in seinen Einzelheiten nicht weiter dargestellten Präzisionstheodoliten bekannter Bauart angedeutet, bei dem die Angaben beider Kreise im Gesichtsfeld io des gemeinsamen Ablesemikroskops 3 ablesbar sind. Sowohl beim Horizontal- als auch beim Vertikalkreis werden je zwei gegenüberliegende Teilkreisstellen 4, 4' bzw. 5, 5' aufeinander abgebildet. Im vorliegenden Falle sollen die jeweils gegenüberliegenden Teilkreisstellen ein und derselben Teilung angehören. über das Prisma 6 werden die aufeinander abgebildeten Teilkreisstellen des Horizontal- und Vertikalkreises zusammengeführt und gemeinsam in der Ebene 7 abgebildet, in welcher auch die Teilung 8 (vgl. Abb. 3) eines Fadenmikrometers erscheint. 9 ist der Ableseindex für die Mikrometerteilung (Abt. 3). Die Anordnung und Ausbildung des optischen Systems i1 bzw. 12 für die Abbildung der einen Kreisstelle 4 bzw. 5 auf die gegenüberliegende 4' bzw. 5' ist nun so getroffen, daß nicht, wie bisher üblich, Doppelstriche entstehen, sondern daß die einander zugeordneten Teilstriche unter Bildung von- Einzelstrichen zur Deckung kommen. Mittel, um hierbei die Bezifferung der jeweils gegenüberliegenden Tellkreisstelle zu unterdrücken, sind nicht weiter angedeutet. Im Ablesemikroskop ergibt sich dann das in Abb;3 dargestellte Bild, wo jeder Teilstrich 13 zwei gegenüberliegende Teilstriche repräsentiert. Dies gilt sowohl für die Angabe des Horizontal- als auch für die des Vertikalkreises. Als Ablesemarke dient der beiden Teilungen gemeinsame mikrometrisch verstellbare Doppelfaden 14, mit welchem in bekannter Weise ein Teilstrich eingefangen wird.
  • In Abb. 2 ist das Gesichtsfeld io' im Ablesemikroskop bekannter Anordnungen dargestellt, das sich ergibt, wenn unter sonst gleichen Bedingungen die Teilstriche jeweils gegenüberliegender Teilkreisstellen zu Doppelstrichen vereinigt werden. Ein. Vergleich der beiden Abb. 2 und 3 zeigt, daß durch die erfindungsgemäße Überdeckung der einander zugeordneten Teilstriche die Anzahl der im Gesichtsfeld getrennt erscheinenden. Teilstriche auf die Hälfte herabgesetzt und somit das Skalenbild einfacher und das Gesichtsfeld übersichtlicher wird.
  • Letzteres tritt noch deutlicher in Erscheinung, wenn man das in Abb. 5 gezeigte Gesichtsfeld 2o des Ablesem;ikroskops eines sonst nicht weiter dargestellten Theodoliten mit Koinzidenzablesung betrachtet, bei dem sowohl am Horizontal- als auch am Vertikalkreis gleichzeitig vier um 9o° zueinander versetzte Teilkreisstellen zur Ablesung benutzt und je zwei gegenüberliegende Teilkreisstellen erfindungsgemäß so aufeinander abgebildet werden, daß die einander zugeordneten Teilstriche in ihrer ganzen Länge zur Deckung kommen und nun .in üblicher Weise wie Einzelstriche längs einer Berührungslinie auf Koinzidenz eingestellt werden können. Die Teilstriche 15 und 16 repräsentieren also wieder je zwei gegenüberliegende Teilstriche des gleichen Teilkreises (Vertikalkreis), so daß die Ablesung trotz des vereinfachten Skalenbildes das Mittel aus vier Einzelanzeigen darstellt. Das gleiche gilt bezüglich der Teilstriche 15' und 16' des Horizontalkreises. Mit 17 und 18 sind Felder angedeutet, in denen die Mikrometerteilung und eine Libellenteilung erscheinen.
  • In Abb. 4 ist zum Vergleich hierzu das entsprechende Gesichtsfeld 2o' der bekannten Anordnung wiedergegeben, bei der die gegenüberüberliegenden Teilstriche unter Bildung von Doppelstrichen nebeneinander abgebildet werden.

Claims (3)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Winkelmeßgeräf mit einer Teiilkreis-Ableseeinrichtung, bei der jeweils zwei gegeneinander versetzte Teilkreisstellen aufeinander abgebildet werden und die Mittelwertbildung durch Einstellung auf den Ort der Überdeckung der einander zugeordneten Teilstriche vorgenommen wird, insbesondere Theodolit, bei dem sowohl die Angaben des Seiten- als auch die des Höhenkreises gleichzeitig im Gesichtsfeld einer gemeinsamen Ableseeinrichtung (z. B. Ablesemikroskop) ablesbar sind und/oder bei dem zur Beseitigung von Kreisteilungsfehlern auch höherer Ordnung mehr als zwei zueinander versetzte Teilkreisstellen gleichzeitig beobachtbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß diie Abbildung der einen Teilkreisstelle auf die zweite in der Weise erfolgt, daß die einander zugeordneten Teilstriche in ihrer ganzen Länge zur Deckung kommen.
  2. 2. Winkelmeßgerät nach Anspruch i, bei der nur zwei gegeneinander versetzte Teilkreisstellen gleichzeitig beobachtbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß als Ablesemarke ein mikrometrisch verstellbarer Doppelstrich vorgesehen ist.
  3. 3. Winkelmeßgerät nach Anspruch z, bei dem sowohl die Angaben des -Seiten- als auch die des Höhenkreises gleichzeitig im Gesichtsfeld eines Ablesemikroskops ablesbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß der verstellbare Doppelstrich der Ablesung beider Teilkreishilder dient. In Betracht gezogene Druckschriften: Schweizerische Patentschriften Nr. 197 gor, 232 925; Prospekt DK 425: »Doppelkreis Theodolite Construction Dr. H. Wild« der Firma Kern & Co. A. G., Aarau (Schweiz).
DEA16456A 1952-08-31 1952-08-31 Winkelmessgeraet Expired DE947026C (de)

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DEA16456A DE947026C (de) 1952-08-31 1952-08-31 Winkelmessgeraet

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DEA16456A DE947026C (de) 1952-08-31 1952-08-31 Winkelmessgeraet

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE947026C true DE947026C (de) 1956-08-09

Family

ID=6923652

Family Applications (1)

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DEA16456A Expired DE947026C (de) 1952-08-31 1952-08-31 Winkelmessgeraet

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DE (1) DE947026C (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1206162B (de) * 1963-07-06 1965-12-02 Wenczler & Heidenhain Vorrichtung zum Ablesen der Relativstellung zweier zueinander laengs- oder drehbeweglicher Teile
EP0027100A1 (de) * 1979-10-01 1981-04-15 Jenoptik Jena G.m.b.H. Verfahren zur Bestimmung der Stehachsenfehler eines Vermessungsgerätes

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH197901A (de) * 1937-01-30 1938-05-31 Wild Dr Heinrich Winkelmessinstrument.
CH232925A (de) * 1941-12-18 1944-06-30 Optikotechna Ges Mbh Optikotec Winkelmessgerät.

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