Ablesemikroskop für Kreis- und Längenteilungen. Ablesemikroskope für Kreis- und Län genteilungen, bei denen die Bruchteile eines Intervalles der abzulesenden Teilung durch Kippung einer planparallelen, in den Strah lengang eingeschalteten Glasplatte gemessen werden, sind bekannt. Bei diesen bekannten Ablesemikroskopen wird die Grösse der Kip- pung an einem Gradbogen ausserhalb des Mikroskoptubus abgelesen.
Man muss dabei bei Ablesung einer Teilung das Auge so einstellen, dass man durch das Okular diese deutlich sieht und dann so, dass man die re lativ gröbere Teilung des Gradbogens ablesen kann, wobei zur letzten Ablesung sowohl die Akkomodationsstellung des Auges wie die Kopflage geändert werden muss.
Gegenstand der vorliegenden- Erfindung ist nun ein Ablesemikroskop der eingangs erwähnten Art, vermittelst welchem vorge nannte Umstellung vermieden und beide Ope rationen vereinigt werden sollen.
Das Ablesemikroskop gemäss der Erfin dung zeichnet sich dadurch aus, dass di:@ Grösse der Kippung in bezug auf die abzu-. lesende Teilung mit einem im Innern des Mikroskoptubus liegenden, mit der Kipp- achse und der Glasplatte fest verbundenrn Arm messbar ist.
Die Zeichnung bezieht sich auf eine bei spielsweise Ausführungsform des Erfin dungsgegenstandes und auf Varianten, und es zeigt: Fig. 1 einen Längsschnitt durch das Ausführungsbeispiel, Fig. 2 einen Längsschnitt rechtwinklig zu der Kippachse desselben, Fig. 3 und 4 die Gesichtsfelder dieses Ausführungsbeispiels, Fig. 5 und 6 die Gesichtsfelder einer Variante, und Fig. 7 einen Längsschnitt durch eine De tailvariante.
Es bedeutet in den Fig. 1 und 2 tt die Fläche, auf der die abzulesende Teilung auf getragen ist, o das Objektiv, a das Okular des Mikroskopes. Der Ablesestrich b (Fig. 3 und 4), der das ganze Gesichtsfeld überspannt, ist auf der Strichplatte w auf- getragen und liegt in der Bildebene f. Zwi schen dem Objektiv o und der Bildebene ; ist im Strahlengang die planparallele Glas platte p so angeordnet, dass sie um eine Kipp achse<I>d</I> mittelst des Knopfes<I>k</I> gekippt wer den kann.
Mit der planparallelen Glasplatte <I>p</I> und ihrer Kippachse <I>d</I> steht in starrer Verbindung der im Mikroskoptubus befind liche Arm r, dessen obere mit einer Teilung versehene Fläche direkt unter dem Ablese strich b liegt, und zwar so, dass die Teileng im Gesichtsfeld des Mikroskopes sichtbar ist.
Kippt man mittelst des Knopfes k die Glasplatte p, so verschiebt sich das Bild der abzulesenden, auf der Fläche tt aufgetra genen Kreisteilung g (Fig. 3 und 4) im Bild feld des Mikroskopes so, dass man einen der Striche, die dem Ablesestrich b zunächst stehen, mit diesem zur Deckung bringen kann.
Gleichzeitig hat sich die auf der obern Fläche des Armes r befindliche, gleich mässige Teilung i (Fig. 3 und 4) durch diese Kippung verschoben, und man kann nun an ihr die Grösse der Kippung der planparallelen Glasplatte p in bezug auf die Kreisteilung g ablesen. Die Stellung der Teilung i ist am Ablesestrich b feststellbar.
Die Fig. 3 und 4 zeigen das Bildfeld des eben beschriebenen Mikroskopes. In Fig. 3 (Nullstellung) fällt der Nullpunkt der Teilung i des Armes r mit dem Ablese strich b zusammen. Wird durch Drehung des Knopfes k der Strich 24'30' der Kreis teilung g mit dem Ablesestrich b zur @ek- kung gebracht, wie Fig. 4 zeigt, so kann an der Teilung i des Armes r am Ablesestrich 5,5 abgelesen werden.
Die Länge des Armes r und seine Teilung i können zum Beispiel so abgestimmt sein, dass eine Kippbewegung um ein Intervall dieser Teilung einer Mi nute der Kreisteilung g entspricht. Man würde dann in Fig. 4 ablesen 24 35,5'.
Die Variante, deren Gesichtsfeld in den Figuren 5 und 6 dargestellt ist, unterschei det sich von dem vorbeschriebenen Ausfüh rungsbeispiel nur dadurch, dass sich die Tei lung, die mit<B>1</B> bezeichnet ist, statt auf dem Arm r auf die Strichplatte u# in der Bild ebene f des Mikroskopes befindet, während der Arm r auf seiner obern Fläche eine Ablesemarke ni. trägt, die bei der Kippung der Glasplatte p sich gegen die Teilung<I>l</I> auf der Strichplatte tv verschiebt.
In der Fig. 5 steht die Ableseniarke m, auf dem Nullstrich der Teilung d. Wird der Strich 24 30' der Kreisteilung g durch Kippen der Glasplatte p mit dem Ablesestrich b zur Deckung gebracht, so wandert die Ablesemarke m, wie in Fig. 6 dargestellt ist, beispielsweise auf 5,5 der Teilung i. und die Ablesung lautet 24 35,5' oder 24 35'30".
Beim dargestellten Ausführungsbeispiel erfolgt die Kippung der Glasplatte p um die Kippachse d, wie erwähnt, durch einen an ihr befestigten Knopf k. Statt dessen kann auch die Kippung der Kippachse d durch eine die Bewegung verlangsamende Einrichtung erfolgen, zuin Beispiel durch die in Fig. 7 dargestellte Feinstellvorrichtung. Dabei ist ein Hebel la au der Kippachse <I>d</I> befestigt, der durch. den federnden Stift c gegen die Feinstellschraube s angedrückt wird.
Dreht man die Schraube s, so erfolgt eine feine Kippung der Achse d.
Das dargestellte Mikroskop gewährleistet eine Beschleunigung des Messvorganges und wird auch eine Schonung des Auges erreicht. Dies kommt besonders bei geodätischen Winkelmessungen an Theodoliten in Betracht, bei denen oft hunderte von Ablesungen un mittelbar hintereinander vorgenommen wer den.