Ablesemikroskop für Kreis- und Längenteilungen. Ablesemikroskope für Kreis- und Län genteilungen, bei denen die Bruchteile eines Intervalles der abzulesenden Teilung durch Kippung einer planparallelen, in den Strah lengang eingeschalteten Glasplatte gemessen werden, sind bekannt. Bei diesen bekannten Ablesemikroskopen wird die Grösse der Kip- pung an einem Gradbogen ausserhalb des Mikroskoptubus abgelesen.
Man muss dabei bei Ablesung einer Teilung das Auge so einstellen, dass man durch das Okular diese deutlich sieht und dann so, dass man die re lativ gröbere Teilung des Gradbogens ablesen kann, wobei zur letzten Ablesung sowohl die Akkomodationsstellung des Auges wie die Kopflage geändert werden muss.
Gegenstand der vorliegenden- Erfindung ist nun ein Ablesemikroskop der eingangs erwähnten Art, vermittelst welchem vorge nannte Umstellung vermieden und beide Ope rationen vereinigt werden sollen.
Das Ablesemikroskop gemäss der Erfin dung zeichnet sich dadurch aus, dass di:@ Grösse der Kippung in bezug auf die abzu-. lesende Teilung mit einem im Innern des Mikroskoptubus liegenden, mit der Kipp- achse und der Glasplatte fest verbundenrn Arm messbar ist.
Die Zeichnung bezieht sich auf eine bei spielsweise Ausführungsform des Erfin dungsgegenstandes und auf Varianten, und es zeigt: Fig. 1 einen Längsschnitt durch das Ausführungsbeispiel, Fig. 2 einen Längsschnitt rechtwinklig zu der Kippachse desselben, Fig. 3 und 4 die Gesichtsfelder dieses Ausführungsbeispiels, Fig. 5 und 6 die Gesichtsfelder einer Variante, und Fig. 7 einen Längsschnitt durch eine De tailvariante.
Es bedeutet in den Fig. 1 und 2 tt die Fläche, auf der die abzulesende Teilung auf getragen ist, o das Objektiv, a das Okular des Mikroskopes. Der Ablesestrich b (Fig. 3 und 4), der das ganze Gesichtsfeld überspannt, ist auf der Strichplatte w auf- getragen und liegt in der Bildebene f. Zwi schen dem Objektiv o und der Bildebene ; ist im Strahlengang die planparallele Glas platte p so angeordnet, dass sie um eine Kipp achse<I>d</I> mittelst des Knopfes<I>k</I> gekippt wer den kann.
Mit der planparallelen Glasplatte <I>p</I> und ihrer Kippachse <I>d</I> steht in starrer Verbindung der im Mikroskoptubus befind liche Arm r, dessen obere mit einer Teilung versehene Fläche direkt unter dem Ablese strich b liegt, und zwar so, dass die Teileng im Gesichtsfeld des Mikroskopes sichtbar ist.
Kippt man mittelst des Knopfes k die Glasplatte p, so verschiebt sich das Bild der abzulesenden, auf der Fläche tt aufgetra genen Kreisteilung g (Fig. 3 und 4) im Bild feld des Mikroskopes so, dass man einen der Striche, die dem Ablesestrich b zunächst stehen, mit diesem zur Deckung bringen kann.
Gleichzeitig hat sich die auf der obern Fläche des Armes r befindliche, gleich mässige Teilung i (Fig. 3 und 4) durch diese Kippung verschoben, und man kann nun an ihr die Grösse der Kippung der planparallelen Glasplatte p in bezug auf die Kreisteilung g ablesen. Die Stellung der Teilung i ist am Ablesestrich b feststellbar.
Die Fig. 3 und 4 zeigen das Bildfeld des eben beschriebenen Mikroskopes. In Fig. 3 (Nullstellung) fällt der Nullpunkt der Teilung i des Armes r mit dem Ablese strich b zusammen. Wird durch Drehung des Knopfes k der Strich 24'30' der Kreis teilung g mit dem Ablesestrich b zur @ek- kung gebracht, wie Fig. 4 zeigt, so kann an der Teilung i des Armes r am Ablesestrich 5,5 abgelesen werden.
Die Länge des Armes r und seine Teilung i können zum Beispiel so abgestimmt sein, dass eine Kippbewegung um ein Intervall dieser Teilung einer Mi nute der Kreisteilung g entspricht. Man würde dann in Fig. 4 ablesen 24 35,5'.
Die Variante, deren Gesichtsfeld in den Figuren 5 und 6 dargestellt ist, unterschei det sich von dem vorbeschriebenen Ausfüh rungsbeispiel nur dadurch, dass sich die Tei lung, die mit<B>1</B> bezeichnet ist, statt auf dem Arm r auf die Strichplatte u# in der Bild ebene f des Mikroskopes befindet, während der Arm r auf seiner obern Fläche eine Ablesemarke ni. trägt, die bei der Kippung der Glasplatte p sich gegen die Teilung<I>l</I> auf der Strichplatte tv verschiebt.
In der Fig. 5 steht die Ableseniarke m, auf dem Nullstrich der Teilung d. Wird der Strich 24 30' der Kreisteilung g durch Kippen der Glasplatte p mit dem Ablesestrich b zur Deckung gebracht, so wandert die Ablesemarke m, wie in Fig. 6 dargestellt ist, beispielsweise auf 5,5 der Teilung i. und die Ablesung lautet 24 35,5' oder 24 35'30".
Beim dargestellten Ausführungsbeispiel erfolgt die Kippung der Glasplatte p um die Kippachse d, wie erwähnt, durch einen an ihr befestigten Knopf k. Statt dessen kann auch die Kippung der Kippachse d durch eine die Bewegung verlangsamende Einrichtung erfolgen, zuin Beispiel durch die in Fig. 7 dargestellte Feinstellvorrichtung. Dabei ist ein Hebel la au der Kippachse <I>d</I> befestigt, der durch. den federnden Stift c gegen die Feinstellschraube s angedrückt wird.
Dreht man die Schraube s, so erfolgt eine feine Kippung der Achse d.
Das dargestellte Mikroskop gewährleistet eine Beschleunigung des Messvorganges und wird auch eine Schonung des Auges erreicht. Dies kommt besonders bei geodätischen Winkelmessungen an Theodoliten in Betracht, bei denen oft hunderte von Ablesungen un mittelbar hintereinander vorgenommen wer den.
Reading microscope for circular and length divisions. Reading microscopes for circular and length divisions, in which the fractions of an interval of the division to be read are measured by tilting a plane-parallel glass plate switched on in the beam path, are known. In these known reading microscopes, the size of the tilt is read on an arc outside the microscope tube.
When reading a graduation, you have to adjust the eye so that you can see it clearly through the eyepiece and then so that you can read the relatively coarser graduation of the arc, whereby for the last reading both the accommodation position of the eye and the head position are changed got to.
The subject of the present invention is a reading microscope of the type mentioned, by means of which the aforementioned conversion is avoided and both Ope rations are to be combined.
The reading microscope according to the invention is characterized in that di: @ the size of the tilt in relation to the. reading division can be measured with an arm located inside the microscope tube, firmly connected to the tilt axis and the glass plate.
The drawing relates to an example embodiment of the invention and to variants, and it shows: Fig. 1 is a longitudinal section through the embodiment, Fig. 2 is a longitudinal section at right angles to the tilt axis of the same, Figs. 5 and 6 the fields of view of a variant, and FIG. 7 shows a longitudinal section through a De tail variant.
In FIGS. 1 and 2 it means the area on which the graduation to be read is carried, o the objective, a the eyepiece of the microscope. The reading line b (FIGS. 3 and 4), which spans the entire field of view, is applied to the graticule w and lies in the image plane f. Between the lens o and the image plane; the plane-parallel glass plate p is arranged in the beam path in such a way that it can be tilted about a tilting axis <I> d </I> using the <I> k </I> button.
The arm r located in the microscope tube is rigidly connected to the plane-parallel glass plate <I> p </I> and its tilting axis <I> d </I>, the upper surface of which is provided with a graduation is directly below the reading line b, in such a way that the parts are visible in the field of view of the microscope.
If the glass plate p is tilted by means of the button k, the image of the circular graduation g (Fig. 3 and 4) to be read on the surface tt is shifted in the image field of the microscope so that one of the lines that corresponds to the reading line b initially stand, with this can be brought to congruence.
At the same time, the uniform division i (Fig. 3 and 4) located on the upper surface of the arm r has shifted due to this tilting, and one can now read off the tilt of the plane-parallel glass plate p in relation to the circular division g . The position of the division i can be determined from the reading line b.
3 and 4 show the image field of the microscope just described. In Fig. 3 (zero position) the zero point of the division i of the arm r coincides with the reading line b. If, by turning the button k, the line 24'30 'of the circle division g is brought back with the reading line b, as shown in FIG. 4, then the division i of the arm r can be read on the reading line 5.5.
The length of the arm r and its division i can, for example, be matched so that a tilting movement by an interval of this division corresponds to one minute of the circular division g. One would then read off 24 35.5 'in FIG.
The variant, the field of view of which is shown in FIGS. 5 and 6, differs from the above-described exemplary embodiment only in that the division labeled <B> 1 </B> is on the arm r instead of the reticle u # is located in the image plane f of the microscope, while the arm r has a reading mark ni on its upper surface. carries which, when the glass plate p is tilted, moves against the graduation <I> l </I> on the graticule tv.
In FIG. 5, the reading mark m is on the zero line of the division d. If the line 24 30 'of the circular division g is brought to coincide with the reading line b by tilting the glass plate p, the reading mark m moves, as shown in FIG. 6, for example to 5.5 of the division i. and the reading is 24 35.5 'or 24 35'30 ".
In the illustrated embodiment, the tilting of the glass plate p about the tilting axis d, as mentioned, is carried out by a button k attached to it. Instead of this, the tilting axis d can also be tilted by a device that slows down the movement, for example by the fine adjustment device shown in FIG. A lever la is attached to the tilting axis <I> d </I> through which. the resilient pin c is pressed against the fine adjustment screw s.
If the screw s is turned, the axis d is tilted slightly.
The microscope shown ensures that the measuring process is accelerated and the eyes are protected. This is particularly important for geodetic angle measurements on theodolites, where hundreds of readings are often made directly one after the other.