DE596620C - Mikroskop zur optischen Laengenmessung - Google Patents
Mikroskop zur optischen LaengenmessungInfo
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- DE596620C DE596620C DEO19496D DEO0019496D DE596620C DE 596620 C DE596620 C DE 596620C DE O19496 D DEO19496 D DE O19496D DE O0019496 D DEO0019496 D DE O0019496D DE 596620 C DE596620 C DE 596620C
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- G01B9/04—Measuring microscopes
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H47/00—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current
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Description
- Mikroskop zur optischen Längenmessung Die Erfindung betrifft ein Mikroskop zur optischen Längenmessung astronomischer Negative, Spektren, feiner Teilungen u. dz-Il., dessen Objektiv nach Art eines Doppelbildmikrometers ausgebildet ist, nämlich mit gegeneinander verschiebbaren Ob j ektiv h ä1 f ten. Die Erfindung bezweckt die Steigerung der Meßgenauigkeit sowie die Erleichterung der Einstellung.
- Erfindungsgemäß ist dieeineObjel:tivll<ilfte um eine zur Verschiebungsrichtung parallele Achse schwenkbar. Um die von den beiden Objektivhälften erzeugten Bilder gleich lichtstark zu machen, ist ferner erfindungsgemäß die Mikroskopröhre um eine außerhalb der Röhre in der Teilebene des Objektivs liegende Achse parallel zu sich selbst schwenkbar.
- In der Zeichnung .ist eine Ausbildungsform eines Meßmikroskops gemäß der Erfindung veranschaulicht, und zwar zeigt Abb..i eine Ansicht des Mikroskopkopfes von oben, Abb.2 einen Grundriß der eigentlichen Meßeinrichtung mit' den beiden Objektivhälften, Abb.3 einen Axialschnitt senkrecht zur Schnittfläche der Ob,jektivhälften, während Abb.4 schematisch die Anwendung des Meßgeräts zur Ausmessung von Skalen, Spektren u. dgl. veranschaulicht.
- Aus Abb. I ist die Zentriereinrichtung der Mikroskopröhre /' erkenntlich. Diese ist mit ihrem unteren Ende in eine Fassung geschraubt, welche um den Stift c geschwenkt und durch die Stellschrauben d, e festgehalten werden kann.
- In Abb. 2 und 3 bezeichnet i eine exakt geschnittene Mikrometerschraube. Diese ist in einer Durchbohrung des Objektivkopfes gelagert und drückt zufolge der auf Stift 3 aufgewickelten Schraubenfeder 4. mit ihrer Spitze gegen den Anschlag 2. Die Mikrometerschraube gestattet, den Objektivhälftenträger i i meßbar zu verschieben. Die Verschiebung wird an den miteinander gekuppelten Trommeln 1q. abgelesen. Die Führung des Objektivhälftenträgers i i erfolgt durch die Führungsstange 3 und den polierten Fuß der Stellschraube 12, der auf der unteren Deckplatte des Objektivköpfes schleift und durch den Federhügel 13 an diese gedrückt wird. Die Schraube 12 dient zur einmaligen Zentrierung der beweglichen Objektivhälfte. Über dem beweglichen Olyjektivhälftenträger ist der Tisch für die andere Objektivhälfte angeordnet. Dieser. Tisch ist durch drei Schrauben justierbar, von denen die beiden Schrauben io ein für allemal fest eingestellt werden, während die Schrauben a, b, welche auf eine Zunge des festen Tisches 9 wirken, von außen zugänglich sind und die Möglichkeit bieten, die Objektivhälfte um einen geringen Betrag zu neigen. Die Fassungen- 6 und S der Linsenhälften ä und 7 sind zur leichteren Justierung mit geschlitzten Schraubenlöchern versehen.
- Die Benutzung des Mikroskops zur Ausmessung von Linienabständen in Spektren, Teilungen u. dgl. sei an Hand der Abb. q. erläutert.
- i und 2 seien zwei Teilstriche oder Spektrallinien, deren Abstand. zu bestimmen ist. Man geht von der Nullstellung der Schraube (strenge Deckung der Bilder) aus, dreht die Schraube so lange, bis i', das bewegte Bild von i, sich mit dem festen Bild von 2 deckt. Der Unterschied der Schraubenablespngen ergibt die Entfernung i bis 2. Durch Neigen der einen Ob-jektivhälfte mit den Schrauben a, b erzielt man eine Verschiebung der Bilder senkrecht zur Richtung der '.Messung und kann an den Kontraststellen zc. ia die strenge Überlagerung der Bilder genau einstellen.
Claims (2)
- PATENTANSPRÜCHE: i. Mikroskop zur optischen Längenmessung, dessen Objektivhälften in einer zur .gemeinsamen optischen Achse senkrechten Ebene gegeneinander verschiebbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß die eine Objektivhälfte um eine zur Verschiebungsrichtung parallele Achse schwenkbar ist.
- 2. Mikroskop nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Mikroskopröhre um eine außerhalb der Röhre in der Teilebene des Objektivs liegende, _ zur optischen Achse parallele Achse schwenkbar ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEO19496D DE596620C (de) | Mikroskop zur optischen Laengenmessung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEO19496D DE596620C (de) | Mikroskop zur optischen Laengenmessung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE596620C true DE596620C (de) | 1934-05-08 |
Family
ID=7355005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEO19496D Expired DE596620C (de) | Mikroskop zur optischen Laengenmessung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE596620C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2626363A1 (de) * | 1975-06-13 | 1976-12-16 | Hitachi Ltd | Fotoelektrisches mikroskop |
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- DE DEO19496D patent/DE596620C/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2626363A1 (de) * | 1975-06-13 | 1976-12-16 | Hitachi Ltd | Fotoelektrisches mikroskop |
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