DE3717367A1 - Optisches aufzeichnungssystem - Google Patents

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Aufzeichnungssystem, das mittels Laserstrahlscanning arbeitet, und insbesondere ein optisches System, das die Form des Aufzeichnungslaserstrahlflecks während des Aufzeichnens ändern kann. Die Erfindung eignet sich zum Aufzeichnen von Halbtönen bei einem Laserstrahldrucker.

Beim Bilden und Aufzeichnen eines Bildes mittels Laserstrahlabtastung wird die Bildebene durch eine Anzahl von Bildelementpunkten gebildet.

Im allgemeinen wird ein lichtempfindliches Material oder ein photoleitendes Material auf einer Aufzeichnungsfläche aufgebracht und die Anzahl von Bildelementpunkten, die auf der Oberfläche gebildet wird, wird bestimmt durch die Laserlicht-Belichtungsfläche pro Zeittakt während des Abtastens. Die Belichtungsfläche bestimmt sich näherungsweise sowohl durch die Lichtfleckgröße als auch durch die Abtastgeschwindigkeit des Laserstrahls.

Bei herkömmlichen Laserstrahldruckern ist es bekannt, daß die Lichtfleckgröße und die Abtaststrahlgeschwindigkeit auf der Aufzeichnungsfläche während des Abtastens und Aufzeichnens konstant gehalten werden. Daher wird die Bildelementpunkt (im folgenden Pixel) -Größe konstant gehalten, wie z. B. aus der Druckschrift IBM J. Res. Dev. Band 21 (1977), Seiten 479-483 bekannt ist. Falls der Lichtfleckdurchmesser auf der Abtastoberfläche geändert werden muß, ist ein Verfahren vorgeschlagen worden, wonach die Position der Laserlichtquelle oder die Position einer Linie in dem optischen Weg des Laserstrahls geändert wird (siehe JP-A-58-65 410 und JP-A-58-121 145). Ferner wurde ein Verfahren vorgeschlagen, wonach der Durchmesser des einfallenden Strahls, der auf die Fokussierungslinse fällt, durch eine Blende oder ähnliches eingestellt wird (siehe JP-A-60- 220 309). Alle diese Verfahren sind dazu bestimmt, den Lichtfleckdurchmesser auf der Abtastoberfläche während des Aufzeichnens konstant zu halten.

Bei den oben erwähnten konventionellen Techniken wird der Aspekt, daß die Lichtfleckgröße während des Abtastens sich ändert, nicht berücksichtigt. Es ist daher schwer, Nuancen eines Halbtons zu reproduzieren, die Dicke eines Buchstabens in einer Abtastzeile zu ändern und die Dichte von Druckpunkten in einer Abtastzeile zu ändern.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein optisches Laserstrahlaufzeichnungssystem anzugeben, das während einer Abtastoperation beliebig von einer vorgegebenen Pixelgröße auf eine andere vorgegebene Pixelgröße änderbar ist.

Mit dem erfindungsgemäßen optischen Aufzeichnungssystem ist es möglich, die Wiedergabe von Halbtönen genau zu gestalten und Buchstaben mit großer Strickstärke oder mit feiner Strichstärke wiederzugeben. Ferner kann die Pixeldichte bzw. die Dichte der Druckpunkte in einer Abtastlinie beliebig geändert werden. Daher kann die Anzahl der in einer Bildebene ausdrückbaren Abbildungsmuster gesteigert werden und die Bildqualität dieser Muster kann leicht verbessert werden. Ferner ist es vorteilhafterweise möglich, leicht Korrekturen durchzuführen, um einen Laserlichtfleckdurchmesser oder ähnliches zu vergleichmäßigen. Erfindungsgemäß kann ferner bei einem Laserabtastaufzeichnungsgerät die fortschrittliche Arbeitsweise und die hohe Bildqualität gewährleistet werden, die mit herkömmlichen Geräten nicht erreichbar ist.

Diese Aufgabe wird gelöst durch die Kombination einer Modulation der Strahlabmessungen in der Richtung, die senkrecht zu der Richtung der Laserstrahlabtastung verläuft, und der Modulation der Lichtintensitätspulsbreite. Die Modulation der Abtaststrahlgröße kann durch Änderung der Größe des einfallenden Strahls in eine Fokussierlinse erfolgen, die den Strahl zu einem Lichtfleck auf der Abtastfläche fokussiert.

In diesem Fall wird der Lichtstrahlfleckdurchmesser d _x in der Abtastrichtung des Laserstrahls auf der Abtastoberfläche (in diese Richtung wird im folgenden die x-Richtung gelegt) auf einem konstanten Wert gehalten, der hinreichend kleiner als der Abstand zwischen den Pixeln ist. Nur der Lichtstrahlfleckdurchmesser d _y in der Richtung senkrecht zu der Abtastungsrichtung (im folgenden y-Richtung) bleibt veränderlich. Ferner, wenn eine An-Aus-Modulation des Laserstrahls durchgeführt wird, wird die An-Aus-Weite (oder Aus-Zeit) synchron mit der Modulation des Lichtfleckdurchmessers d _y geändert, wodurch die Belichtungsweite p _y in x-Richtung gesteuert wird. Die Ausmaße des Pixels werden durch den Lichtfleckdurchmesser d _y in y-Richtung und die Belichtungsweite P _x in x-Richtung bestimmt.

Auf diese Weise wird der Belichtungsbereich an einer vorbestimmten Pixellage auf einer Abtastlinie mit hoher Geschwindigkeit moduliert, so daß jede Pixeldimension geändert werden kann.

Angenommen, daß die Brennweite der Brennlinse f ist und die Wellenlänge des Laserstrahls λ ist, so besteht folgende Beziehung zwischen dem Lichtfleckdurchmesser d auf der Abtastoberfläche und dem Durchmesser D des auf die Fokussierungslinse einfallenden Strahls. Es gilt die Beziehung

Dabei ist k eine Konstante, die von der Intensitätsverteilung von der Querschnittsfläche des Laserstrahls abhängt. Eine Änderung des Durchmessers D _y des einfallenden Strahls führt somit zu einem Lichtfleckdurchmesser d _y in y-Richtung, wobei d _y durch die folgende Beziehung moduliert werden kann:

Andererseits, wenn der Lichtstrahlfleckdurchmesser d _x in der Abtastrichtung so gesetzt wird, daß er hinreichend viel kleiner als der Abstand zwischen den Pixeln ist, dann ist die Belichtungsweite P _x in der Abtastrichtung gegeben durch

wobei die Abtastgeschwindigkeit auf der Abtastoberfläche mit v und die Belichtungszeit mit η bezeichnet sind. Daher kann P _x durch Modulation der Belichtungspulsbreite geändert werden.

Daher kann durch synchrones Ändern von D _y und η die Fläche (P _x × d _x ) eines jeden Pixels auf der Abtastlinie moduliert werden.

Im folgenden wird die Erfindung anhand der Beschreibung von Ausführungsbeispielen in Verbindung mit der Zeichnung näher erläutert. Darin zeigt

Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform eines erfindungsgemäßen optischen Aufzeichnungssystems;

Fig. 2A und 2B schematische Ansichten einer Vorrichtung zum Ändern des Strahldurchmessers, die in dem optischen Aufzeichnungssystem einer Ausführungsform verwendet wird, und einen schematischen Querschnitt durch diese Strahldurchmesseränderungsvorrichtung;

Fig. 3 eine schematische Darstellung einer weiteren Ausführungsform einer Strahldurchmesseränderungsvorrichtung, die bei dem erfindungsgemäßen optischen Aufzeichnungssystem Verwendung findet;

Fig. 4 eine schematische Abbildung einer weiteren Strahldurchmesseränderungsvorrichtung, die bei der oben genannten Ausführungsform des erfindungsgemäßen optischen Aufzeichnungssystems verwendet wird;

Fig. 5 ein Blockschaltbild eines Signalsystems, das bei der obigen Ausführungsform des erfindungsgemäßen optischen Aufzeichnungssystems verwendet wird; und

Fig. 6 ein Diagramm, das den zeitlichen Verlauf der Signale des Signalsystems wiedergibt.

Im folgenden wird eine Ausführungsform des erfindungsgemäßen optischen Aufzeichnungssystems beschrieben. Fig. 1 zeigt den Aufbau eines optischen Systems für den Fall, daß Muster oder Daten auf ein elektrophotographisches Material oder einen lichtempfindlichen Film mittels Laserstrahlabtastung oder ähnlichem aufgezeichnet wird.

Eine Lichtquelle 1 besteht aus einem Laseroszillator, der als Halbleiterlaser selbstmoduliert werden kann oder als Laseroszillator mit einem externen Modulator, wie z. B. einem akusto-optischen Lichtmodulator. Das von der Lichtquelle 1 emittierte Licht wird einer An-Aus-Modulation der Lichtintensität auf der Grundlage eines Signals eines Ausgabemustergenerators 11 moduliert und wird ebenfalls der Modulation der Belichtungspulsbreite ( η ) entsprechend des Pixeldurchmessers (P _x ) in der Abtastrichtung (x-Richtung) unterworfen. Der von der Lichtquelle 1 emittierte Laserstrahl tritt in ein optisches Strahlformungssystem 2 ein. Der Laserstrahl wird dort in einen Strahl mit einem Strahldurchmesser D₀ umgewandelt (was dem maximalen Strahldurchmesser entspricht), der dem Lichtfleckdurchmesser auf der Abtastoberfläche 6 bei maximaler Auflösung entspricht. Anschließend tritt der Strahl in eine Vorrichtung 3 zum Ändern des Strahldurchmessers ein. Diese Vorrichtung 3 zum Ändern des Strahldurchmessers an den Durchmesser (D _y ) des einfallenden Laserstrahls nur in y-Richtung ändern, ohne ihn in x-Richtung (D _x = D₀) zu ändern. Daher wird die Vorrichtung 3 durch einen Strahldurchmessermodulator 12 auf der Grundlage der Ausgabemusterdaten moduliert und der Durchmesser D _y in y-Richtung wird geändert. Anschließend wird der Laserstrahl durch eine Lichtumlenkvorrichtung, wie z. B. einen sich drehenden mehreckigen Spiegel 4 umgelenkt und durch eine Abtast- und Fokussierlinse, wie z. B. eine F R Linse 5 umgelenkt und fokussiert. Der Lichtfleckdurchmesser des Laserstrahls d _y in y-Richtung wird auf der Abtastfläche 6 in Abhängigkeit von dem Ausgabemuster geändert. Die Ausgabemusterdaten enthalten z. B. die Daten, die im Halbton reproduziert werden sollen, fettzudruckende Daten, Daten, wonach ein Buchstabe fettgedruckt werden soll und ähnliches. Der Laserstrahl wird ferner in x-Richtung mit konstanter Geschwindigkeit gescanned. Andererseits ist ein Photodetektor 8, der die Lage des optischen Strahls erfaßt, in der Nähe der Abtaststartposition angeordnet. Das Erfassungssignal von dem Photodetektor 8 wird als ein synchrones Bezugssignal für jede Abtastlinie verwendet und ein Laserlichtfleck wird in der vorbestimmten Lage eines Pixels auf der Abtastlinie gebildet und belichtet. Die Abtastoberfläche 6 wird in y-Richtung mit konstanter Geschwindigkeit bewegt. Ein gewünschtes Ausgabemuster oder Bild kann durch einen Satz von Laserlichtflecken in jeder Abtastlinie gebildet und reproduziert werden.

Im folgenden wird die Vorrichtung 3 zum Ändern des Lichtstrahldurchmessers erläutert. Fig. 2A zeigt schematisch eine Ausführungsform der Vorrichtung 3 für den Fall, daß der elektrooptische Effekt verwendet wird. Fig. 2B zeigt schematisch im Querschnitt die Vorrichtung nach Fig. 2A. Eine gemeinsame transparente Elektrode 21 ist an einer Oberfläche eines elektrooptischen Kristalls 20, wie z. B. LiNbO₃, KH₂PO₄, LiTaO₃, Sr _x Ba_1-x Nb₂O₆ oder ähnlichen Kristallen angebracht. Die Anzahl der isolierten transparenten Elektroden 22¹, 22², . . ., 22 ^m ist aneinander anstoßend auf der anderen Oberfläche des Kristalls 20 angebracht. Zwei Elektroden 22¹, zwei Elektroden 22², . . ., und zwei Elektroden 22 ^m bilden jeweils ein Paar und sind symmetrisch bezüglich der optischen Achse angeordnet. Jedes dieser Paare ist elektrisch miteinander verbunden und die Signalanlegeklemmen sind mit in Reihe von außen nach innen bezeichnet. Ein linear polarisierter Laserstrahl wird als Laserstrahl 25 verwendet. Wenn der Laserstrahl 25 nicht polarisiert ist, so wird eine polarisierende Platte 23 vor dem optischen Kristall 20 angeordnet. Nachdem der Laserstrahl durch die Platte 23 gelaufen ist, ist er in einen linear polarisierten Strahl umgewandelt, der auf die Elektrodenoberfläche gelenkt wird. Andererseits ist eine polarisierende Platte 24 zur Analyse an der Ausgangsseite des Kristalls 20 angeordnet, derart, daß der Laserstrahl durchgelassen wird, wenn keine Spannung an den Kristall 20 angelegt wird. Das heißt, die Polarisierungsrichtungen der polarisierenden Platten 23 und 24 sind parallel zueinander angeordnet. Bei der oben beschriebenen Anordnung wird, wenn eine Gleichspannung, die durch die Ausmaße des optischen Kristalls bestimmt ist, selektiv an jede Elektrode parallel zum optischen Strahl angelegt wird, die Polarisation der Bereiche des einfallenden Laserstrahls, an die eine Spannung angelegt wird, aufgrund des elektrooptischen Effekts gedreht und durch die Polarisatorplatte 24 abgeschnitten. Wenn z. B. die Spannung an das Elektrodenpaar 22¹ und das Elektrodenpaar 22² angelegt wird, so wird nur der Querschnittsbereich des einfallenden kreisförmigen Strahls 26 durchgelassen, der in der Mitte zwischen den Elektrodenpaaren 22¹ und 22² liegt. Der Strahldurchmesser D _y in der y-Richtung des auf die Fokussierungslinse 5 in Fig. 1 einfallenden Strahls und entsprechend der Lichtfleckdurchmesser d _y in y-Richtung auf der Abtastoberfläche können entsprechend geändert werden. Der Strahldurchmesser in x-Richtung bleibt andererseits unverändert, wenn die Spannung an die betreffenden Elektroden angelegt wird. Um den Laserstrahl vollständig zu unterbrechen, ist es wünschenswert, daß die angelegte Spannung so eingestellt wird, daß der einfallende Strahl um π/2 bezüglich der Polarisierungsrichtung des einfallenden Strahls gedreht wird.

Fig. 3 zeigt ein Beispiel einer weiteren Vorrichtung zur Änderung des Strahldurchmessers. Bei diesem Ausführungsbeispiel unterscheidet sich die Konstruktion von der gemäß dem Ausführungsbeispiel nach den Fig. 2A und 2B, obwohl ebenso der elektrooptische Effekt auf ähnlichen Prinzipien verwendet wird, dadurch, daß das elektrische Feld in einer Richtung senkrecht zum optischen Weg angelegt wird. Eine gemeinsame Elektrode 29 ist auf einer Seite eines optischen Kristalls 27, die senkrecht zu einer mit dem Laserstrahl 25 bestrahlten Fläche 28 liegt, angeordnet. m-Paare von Elektroden 30¹, 30², . . ., und 30 ^m sind aneinanderliegend auf der Kristalloberfläche 27 auf der Seite angeordnet, die der Seite der gemeinsamen Elektrode 29 gegenüber liegt. Diese Elektrodenpaare 30¹ bis 30 ^m sind symmetrisch bezüglich der optischen Achse in y-Richtung um einen Bereich in der Nähe der Mitte des Kristalls 27 angeordnet. Polarisatorplatten 31 und 32, deren polarisierende Richtungen koinzidieren, sind nahe den beiden Eingangs- und Ausgangsseiten des Kristalls 27 angeordnet. Ferner verläuft der einfallende Laserstrahl 25 durch eine Zylinderlinse 34 und ist nur in x-Richtung fokussiert, wie in Fig. 3 dargestellt ist, und wird als flachgeformter Laserstrahl 33 auf die Einstrahlungsfläche 28 des Kristalls 27 gestrahlt. Nachdem der Strahl 25 den Kristall verlassen und die Polarisatorplatte 32 passiert hat, wird er durch eine Zylinderlinse 35 geschickt und der Strahldurchmesser wird in x-Richtung auf einen bestimmten Wert geändert, bevor der Strahl auf den Kristall geschickt wird oder der Durchmesser auf einen anderen Wert geändert wird.

Diese Konstruktion ist insofern vorteilhaft, daß die Dicke des Kristalls reduziert werden kann und die angelegte Spannung kann auf einen geringeren Wert eingestellt werden, als dies bei dem in den Fig. 2A und 2B gezeigten Beispiel der Fall ist.

Wenn die Spannung an eine Vorrichtung 3 zur Änderung des Strahldurchmessers ähnlich wie im Fall der in den Fig. 2A und 2B gezeigten Vorrichtung angelegt wird, wird der Laserstrahl nur in den Bereichen abgeschnitten, in denen die Spannung angelegt ist. Daher kann durch selektives Anlegen der Spannung an den Elektroden der Strahldurchmesser D _y in y-Richtung geändert werden, nachdem der Laserstrahl den Kristall verlassen und die Polarisatorplatte passiert hat. Wenn der Laserstrahl schon vorher linear polarisiert war, ist die Verwendung der Polarisatorplatte 31 nicht erforderlich. Der Strahldurchmesser in x-Richtung wird nicht verändert, selbst wenn die Spannung angelegt ist.

Fig. 4 zeigt eine Ausführungsform einer weiteren Vorrichtung 3 zur Änderung des Strahldurchmessers. Diese Vorrichtung verwendet ein optisch aktives Medium 40, wie z. B. eine Flüssigkristallzelle, oder ein PLZT-Material
(Pb _x La_1-x ) (Zr _y Ti_1-y ) O₃
(oder ein Material, das aus diesen Komponenten und geringen Spuren anderer Elemente besteht), deren Polarisationsebene für das einfallende Licht durch ein elektrisches Feld verändert wird. Eine gemeinsame transparente Elektrode 41 ist auf einer Oberfläche des Mediums 40 angebracht. m-Paare isolierter transparenter Elektroden 42¹ bis 42 ^m sind auf der anderen Oberfläche des Mediums 40 gegenüber der Oberfläche mit der gemeinsamen Elektrode 41 angeordnet. In diesem Fall bilden zwei Elektroden 42¹ ein Paar, zwei Elektroden 42² bilden ein Paar, usw. Diese Elektrodenpaare 42¹ bis 42 ^m sind in y-Richtung symmetrisch um die optische Achse als Zentrum angeordnet. Ein Laserstrahl 45, der in einer konstanten Richtung linear polarisiert ist, wird auf das Medium 40 geführt. Eine Polarisationsplatte 43 ist in der Nähe der Ausgangsseite des Mediums 40 angeordnet, um den Anteil des Strahls mit anderer Polarisierungsrichtung als die des einfallenden Laserstrahls am Durchgang zu hindern. Mit der oben erläuterten Konstruktion der Vorrichtung wird die Polarisationsebene des Laserstrahls, wenn eine Spannung an den Elektrodenbereich angelegt wird, nur in dem Bereich in dem Medium lokal gedreht, in dem eine Spannung angelegt ist. Dieser Teil des Laserstrahls, dessen Polarisationsrichtung gedreht ist, wird durch die Polarisierungsplatte 43 abgeschnitten. Beim selektiven Anlegen der Spannung an die Elektroden kann der Ausgangsstrahldurchmesser d _y in der y-Richtung geändert werden. Zu diesem Zeitpunkt ist der Strahldurchmesser D _x in der x-Richtung nicht verändert. Durch Anlegen der Spannung an die Vorrichtung 3 kann somit der Lichtstrahlfleckdurchmesser d _y in y-Richtung auf der Abtastfläche verändert werden.

Im folgenden wird ein Signalschaltungssystem und ein Signalverlaufsdiagramm erläutert für den Fall, daß der Lichtfleckdurchmesser auf der Abtastoberfläche während des Aufzeichnens verändert wird.

Fig. 5 zeigt ein Blockdiagramm des Signalschaltungssystems der Ausführungsform nach Fig. 1. Druckmusterdaten werden als Pixelsignale im Ausgangsmustergenerator 11 auf der Grundlage der von einem Computer (CPU) 10 gelieferten Daten erzeugt. Die Druckmusterdaten werden zeitweise in einem Steuergerät 13-1 für jede Abtastlinie gespeichert. Diese Musterdaten werden an eine Pixelsignalverarbeitungsvorrichtung 13-3 synchron mit einem Taktsignal von einem Taktsignalgenerator 13-2 weitergeleitet, der ein Signal vom Laserstrahlpositionsdetektor 8 als Triggersignal verwendet. Das Pixelsignal wird in ein Signal für die Laser-An-Aus-Modulation und für die Pulsweitenmodulation und ein Signal für die Strahldurchmessermodulation unterteilt. Diese Signale werden an einen Intensitätspulsbreitenmodulator 14 und den Strahldurchmessermodulator 12 angelegt. Angenommen, der Pixeldurchmesser wird in (m + 1)-Stufen moduliert und die Vorrichtung 3 zum Ändern des Strahldurchmessers hat m-Elektrodenpaare. Das Signal wird jeder Elektrode entsprechend den Pixeldimensions(Pixeldurchmesser)daten, die in den Druckmusterdaten enthalten sind, angelegt. Der Pixeldurchmesser entspricht dem Lichtstrahlfleckdurchmesser d _y in y-Richtung.

In dem Zustand, in dem kein Signal an die Elektroden angelegt ist, hat der Strahldurchmesser D _y in y-Richtung seinen maximalen Wert. Der Durchmesser des Lichtstrahlflecks d _y in y-Richtung auf der Abtastoberfläche wird minimal. Während die Spannung sequentiell an die Elektroden von der Außenseite zur Mitte hin entsprechend der Reihe von angelegt wird, nimmt der Strahldurchmesser D _y in y-Richtung ab und der Durchmesser des Lichtstrahlflecks nimmt zu. Wenn das Signal an alle Elektroden angelegt ist, wird der Durchmesser d _y maximal. Da der Pixeldurchmesser (eine Belichtungsweite) in x-Richtung durch die Strahlabtastgeschwindigkeit und die Laserbestrahlungszeit η bestimmt wird, ist die Pulsweitenmodulation von (m + 1)- Niveaus in Übereinstimmung mit dem Modulationsniveau des Pixeldurchmessers ausgeführt. In diesem Fall werden das an die Vorrichtung 3 zur Änderung des Strahldurchmessers anzulegende Signal und das Laserpulsweitensignal auf geeignete Werte in Abhängigkeit von dem Pixeldurchmesser auf der Grundlage der Laserstrahlabtastgeschwindigkeit v eingestellt. Wenn ein vollständig weißer Hintergrund (ein schwarzer Hintergrund im Fall eines negativen Bildes) reproduziert wird, wird der Laserstrahl ausgeschaltet.

Fig. 6 zeigt ein Beispiel eines Zeitverlaufs für den Fall einer Wiedergabe mittels Änderung des Pixeldurchmessers auf einer Abtastlinie. Dieses Beispiel bezieht sich auf den Fall, in dem der Pixeldurchmesser in vier Stufen von ϕ₁ bis ϕ₄ geändert wird. Das Bezugszeichen 50 bezeichnet eine Abtastlinie und die Pixel verschiedener Durchmesser sind jeweils mit ihrem Mittelpunkt auf der Scanninglinie in der jeweiligen Pixelposition angeordnet. Der Abstand zwischen Pixeln wird durch die Laserstrahlabtastgeschwindigkeit und das Taktsignalintervall bestimmt. Das Bezugszeichen 52 bezeichnet ein Lasermodulationssignal, das vom Intensitätspulsweitenmodulator 14 geliefert wird. Die Pulsweitenmodulation wird durchgeführt, um die Belichtungsweite P _x in der x-Richtung zu ändern. Die Bezugszeichen 53, 54 und 55, die Ausgangssignale vom Strahldurchmessermodulator 12 wiedergegeben, bezeichnen Strahldurchmessermodulationssignale, die an die Vorrichtung 3 zum Ändern des Strahldurchmessers angelegt werden. Das Signal 53 ist in dem Zeitdiagramm als ein Signal gezeigt, das an den am weitesten außen gelegenen Elektrodenanschluß angelegt wird. Die Signale 54 und 55 sind in den Diagrammen als Signale gezeigt, die sequentiell an die inneren Elektrodenterminals und angelegt werden. Bei minimalem Pixeldurchmesser wird das Signal nicht an alle Elektroden angelegt. Bei maximalem Pixeldurchmesser wird das Signal an alle Elektroden angelegt.

Die Signale 52 und 53 bis 55 werden auf der Grundlage der Druckmusterdaten bestimmt und es besteht eine konstante Beziehung zwischen den Pixelausmaßen und jedem Signal. Es versteht sich von selbst, daß das Intervall zwischen den Taktsignalen 51 geändert werden muß, um die Druckpunktdichte zu ändern.

Bei dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel wurde eine Vorrichtung zum Ändern des Strahldurchmessers gezeigt, die den elektrooptischen Effekt ausnutzt. Ein ähnlicher Effekt kann ebenfalls erhalten werden, indem andere Vorrichtungen, die z. B. den akusto-optischen Effekt benutzen, verwendet werden oder falls ein optisches Photoschaltsystem oder ähnliches verwendet wird.

Erfindungsgemäß können die Bilddaten aufgezeichnet werden, indem während der Laserscanningaufzeichnung die Pixelabmessungen verändert werden. Daher kann ein sehr getreues Bild von Halbtönen aufgezeichnet werden und Bilddaten können durch Änderung der Druckpunktdichte auf einer Abtastlinie oder ähnliches aufgezeichnet werden. Auf diese Weise werden die Bildqualität und die Aufzeichnungsleistungsfähigkeit verbessert.

Claims (4)

1. Optisches Aufzeichnungssystem mit:

• - einer Laserlichtquelle (1),
• - Mitteln (14) zum Modulieren der Intensität des von der Laserlichtquelle (1) emittierten Laserstrahls,
• - Mitteln (2, 3, 12) zum Formen der Querschnittsfläche des Laserstrahls,
• - Mitteln (13) zum Steuern der Modulationsmittel (14) und der Formungsmittel (2, 3, 12) und
• - Ablenk- und Fokussierungsmittel (4, 5) zum Fokussieren und Scannen des geformten Laserstrahls auf eine abzutastende Oberfläche,

wobei die Laserstrahlgröße (d _y ) in y-Richtung senkrecht zur Scanningrichtung (x) auf der abzutastenden Oberfläche (6) durch die Strahlformungsmittel variiert wird.

2. Optisches Aufzeichnungssystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Laserlichtbelichtungszeit in Funktion von der Laserstrahlgröße in der zur Scanningrichtung senkrechten Richtung variiert wird.

3. Optisches Aufzeichnungssystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuermittel das Zeitintervall zwischen den Taktsignalen (51) in Funktion von der Laserstrahlgröße in der Richtung senkrecht zur Scanningrichtung variieren.