DE3708309A1 - Chip-packung - Google Patents
Chip-packungInfo
- Publication number
- DE3708309A1 DE3708309A1 DE19873708309 DE3708309A DE3708309A1 DE 3708309 A1 DE3708309 A1 DE 3708309A1 DE 19873708309 DE19873708309 DE 19873708309 DE 3708309 A DE3708309 A DE 3708309A DE 3708309 A1 DE3708309 A1 DE 3708309A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- cavity
- chip
- substrate
- conductors
- attached
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/10—Containers; Seals characterised by the material or arrangement of seals between parts, e.g. between cap and base of the container or between leads and walls of the container
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/538—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
- H01L23/5385—Assembly of a plurality of insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01014—Silicon [Si]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01057—Lanthanum [La]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01068—Erbium [Er]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16152—Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft gedruckte Schaltungskarten und
insbesondere das Einkapseln und Befestigen von inte
grierten Schaltungschips.
Es gibt verschiedenartige Verfahren, um integrierte
Schaltungschips zu verpacken und sie auf einer gedruck
ten Schaltungskarte zu befestigen. Das vermutlich am
meisten angewandte Verfahren besteht darin, einen Chip
in Epoxyd-Harz einzukapseln oder ihn in einer kerami
schen Verpackung einzuschließen. Bei diesem Verfahren
wird der Chip zuerst am Mittelpunkt mehrerer sich radi
al erstreckender Leitungen angebracht. Dann werden fei
ne Drähte auf Bondinseln auf dem Chip geschweißt. Das
entgegengesetzte Ende jedes dieser Drähte wird mit dem
inneren Ende einer der radialen Leitungen verschweißt.
Dieser Vorgang des elektrischen Verbindens des Chips
mit den Leitungen mittels feiner Drähte wird als
"Drahtbonden" ("wire bonding") bezeichnet. Der Chip und
das innere Ende jeder radialen Leitung werden dann in
Epoxyd-Harz eingekapselt oder in Keramik eingeschlos
sen, wobei das äußere Ende jeder Leitung zugänglich
bleibt. Die zugänglichen Enden der Leitungen werden
abwärts gebogen, so daß sie in die Fassung für einen
Schaltungschip gesteckt oder direkt auf die gedruckte
Schaltungskarte gelötet werden können. Auf diese Weise
wird der Chip elektrisch und mechanisch mit der ge
druckten Schaltungskarte verbunden.
Dieses Verfahren zum Befestigen und Verpacken von inte
grierten Schaltungen weist mehrere Vorteile auf. Bei
spielsweise werden integrierte Schaltungschips gele
gentlich beschädigt, wenn Drähte auf die Drahtbondin
seln auf der Chipoberfläche geschweißt werden. Deshalb
müssen die Chips getestet werden, nachdem sie mit den
Leitungen drahtverbondet worden sind. Bei diesem Ver
fahren läßt sich jeder Chip testen, nachdem er im Epo
xyd-Harz eingekapselt oder in der Keramikverpackung
eingeschlossen worden ist, jedoch bevor er mit der
Schaltungskarte verbunden wird. Wenn der Chip nicht
korrekt funktioniert, läßt er sich entnehmen und durch
einen funktionierenden Chip ersetzen. Wenn zudem eine
fertigmontierte Schaltungskarte nicht korrekt funktio
nieren sollte, läßt sich der defekte Chip leicht aus
seiner Fassung entnehmen oder durch Löten von der Plat
te lösen und durch einen funktionsfähigen Chip erset
zen.
Die Epoxyd-Harz- und Keramik-Packungsmaterialien dienen
auch zum Schützen des Chips vor Feuchtigkeit und ande
ren schädigenden Außeneinflüssen, die ein Korrodieren
der Drahtbondverbindungen bewirken könnten. Jedoch be
steht der Nachteil dieses Verfahrens darin, daß jeder
individuell verpackte Chip einen vergleichsweise großen
Raum auf der gedruckten Schaltungskarte beansprucht.
Somit ist die Dichte, mit der individuell verpackte
Chips auf einer Platte angeordnet werden können, durch
die Außenabmessungen der Chipverpackungen beschränkt.
Ein anderes Verfahren zum Befestigen integrierter Schal
tungen auf gedruckten Schaltungskarten wird als "Chip
auf-Platte" ("chip-on-board") - Verfahren bezeichnet.
Bei dem Chip-auf-Platte-Verfahren wird ein unverpackter
integrierter Schaltungschip direkt auf die Oberfläche
der gedruckten Schaltungskarte geleimt oder gelötet.
Der Chip wird dann direkt auf die gedruckten Leiter
("Bahnen" -"traces"- genannt) der gedruckten Schal
tungskarte drahtgebondet. Zum Schutz des Chips, welcher
sonst den Außenbedingungen ausgesetzt wäre, werden der
Chip und die Drahtverbindungen anschließend mit einem
Tropfen Epoxyd-Harz bedeckt.
Das Chip-auf-Platte-Verfahren läßt sich sich kostengün
stiger ausführen als das zuvor beschriebene individuel
le Einkapselungsverfahren, da das Chip-auf-Platte-Ver
fahren keine individuellen Schutzkapseln für jeden Chip
erfordert. Da keine individuellen Kapseln verwendet
werden, beansprucht zudem jeder auf diese Weise befe
stigte Chip wesentlich weniger Raum auf der gedruckten
Schaltungskarte als ein entsprechender eingekapselter
Chip. Somit lassen sich durch das Chip-auf-Platte-Ver
fahren befestigte Chips dichter auf einer Platte zusam
menballen.
Allerdings hat das Chip-auf-Platte-Verfahren mehrere
Nachteile. Wie zuvor erwähnt, werden Chips gelegentlich
während des Drahtbondens beschädigt. Da es generell
unpraktisch ist, jeden einzelnen Chip unmittelbar nach
dem Drahtverbonden des Chips mit der Platte zu testen,
muß somit das Testen verschoben werden, bis alle ein
zelnen integrierten Schaltungschips auf der Platte be
festigt und mit dieser drahtverbondet worden sind. An
schließend muß die gesamte Platte als eine ganze Funk
tionseinheit getestet werden. Dieses Verfahren führt zu
einem vergleichsweise hohen Prozentanteil von defekten
Platten, da die Wahrscheinlichkeit, eine funktionieren
de Platte zu erhalten, nicht größer ist als das Produkt
der Wahrscheinlichkeiten, daß jeder der Chips auf der
Platte funktionsfähig ist.
Zudem können Platten mit auf diese Weise befestigten
Chips nicht kostengünstig repariert werden, da defekte
Chips manuell gelöst und ersetzt werden müssen. Dies
stellt ein sehr kostspieliges Verfahren dar. Somit läßt
sich das Chip-auf-Platte-Verfahren nur für die Vorrich
tungen kostengünstig verwenden, die einen hohen Pro
zentanteil funktionierender Platten aufweisen, und wenn
die gesamte zusammengesetzte Platte vergleichsweise
kostengünstig ist, so daß nur wenige Platten entfernt
werden müssen und die defekten Platten ohne unnötige
Kosten entfernbar sind.
Im Gegensatz zu diesen bekannten Verfahren kombiniert
die Erfindung die vor dem Test gegebenen Vorteile des
individuellen Chip-Einkapselungsverfahrens mit einem
Großteil der Raumeinsparung des Chip-auf-Platte-Verfah
rens.
Die Erfindung betrifft eine Chip-Packung mit Befesti
gungsvorrichtung. Zusätzlich zu den Chips selbst weist
die erfindungsgemäße Vorrichtung zwei andere Komponen
ten auf, nämlich einen den Kontaktabstand spreizenden
Verteiler (spreader) und ein Substrat.
Der Verteiler besteht aus einer Isolierplatte mit leit
fähigen Leitungen, die auf einer Seite der Platte ange
ordnet sind und sich zu deren Rand hin erstrecken. Vom
Rand wegweisend und im wesentlichen in Richtung der
Mitte der Platte werden ein oder mehrere integrierte
Schaltungen auf der gleichen Seite der Platte wie die
Leitungen befestigt. Der Chip oder die Chips werden
anschließend mit den Verteilerleitungen drahtverbondet.
Nachdem der oder die Chips am Verteiler befestigt und
mit diesem drahtverbondet worden sind, läßt sich jede
Verteiler- und Chip-Einheit individuell testen, um zu
gewährleisten, daß beide funktionieren und als Teil
einer vollständig zusammengesetzten Vorrichtung verläß
lich arbeiten.
Das Substrat gleicht insofern einer herkömmlichen ge
druckten Schaltungskarte, daß es verschiedenartige elek
tronische Komponenten trägt und elektrisch untereinan
der verbindet. Bahnen sind entweder auf der Oberfläche
oder zwischen den inneren Schichten des Substrates oder
an beiden Orten angeordnet. Die Bahnen bilden eine funk
tionierende Schaltung, indem sie die verschiedenen auf
dem Substrat befestigten elektronischen Komponenten
verbinden.
Das erfindungsgemäße Substrat unterscheidet sich von
vielen herkömmlichen gedruckten Schaltungskarten da
durch, daß das Substat ein oder mehrere Hohlräume auf
weist. Mehrere Bahnen stoßen gegen den Rand jedes Hohl
raums. Diese Bahnen sind so angeordnet, daß sie die
Leitungen auf dem Verteiler kontaktieren, wenn der Ver
teiler mit nach unten gerichtetem Chip über dem Hohl
raum plaziert ist.
In fertigmontiertem Zustand bedeckt der Verteiler die
Öffnung des Hohlraums, wobei der Chip in den Hohlraum
gerichtet ist und die Leitungen des Verteilers die an
den Rand des Hohlraums grenzenden Bahnen kontaktieren.
Auf diese Weise ist die integrierte Schaltung bzw. sind
die Schaltungen, die auf dem Verteiler befestigt sind,
durch die Leitungen und Bahnen passend mit verschiede
nen anderen auf dem Substrat angeordneten elektroni
schen Elementen verbunden. Zudem ist der Chip vor Um
gebungsbedingungen geschützt, da er zwischen dem Ver
teiler und den Hohlraumwänden verschlossen ist.
Bei der Erfindung sind verschiedene Verfahren möglich,
um den Verteiler in Position zu halten. Beispielsweise
läßt sich der Verteiler am Substrat halten, indem die
an den Rand des Hohlraums grenzenden Bahnen mit den
gegenüberliegenden Leitungen des Verteilers verlötet
werden. Eine derartige Lötverbindung läßt sich z.B.
durch eine erste Siebdruck-Lötpaste auf den Verteiler
leitungen herstellen. Anschließend wird der Verteiler
mit nach unten gerichtetem Chip über dem Hohlraum pla
ziert, so daß die Verteilerleitungen gegen die an den
Rand des Hohlraums grenzenden Bahnen anliegen. Dann
werden die Ränder des Verteilers erhitzt, um die Löt
paste zu schmelzen. Wenn sich das Lötmittel wieder ver
festigt, schafft es eine elektrische und mechanische
Verbindung zwischen dem Verteiler und dem Substrat.
Alternativ können gegenüberliegende Leiter auf dem Ver
teiler und dem Substrat durch ein elektrisch leitendes
Polymer aneinander befestigt werden. Das Polymer kann
an den Verteilerleitungen in einem Siebdruckvorgang
appliziert werden, der demjenigen zum Anwenden der Löt
paste gleicht. In diesem Fall hält das Polymer nach dem
Aushärten den Verteiler fest in Position.
Das Substrat kann auch dreidimensional geformt sein, so
daß es das Gehäuse einer elektronischen Vorrichtung
bildet. In diesem Fall erfüllt das Substrat drei Funk
tionen gleichzeitig: es bildet das Gehäuse der Vorrich
tung, es funktioniert wie eine gedruckte Schaltungskar
te und dient als Schutzpackung für die integrierte
Schaltung.
Im folgenden werden Ausführungsformen der Erfindung im
Zusammenhang mit den Zeichnungen näher erläutert. Es
zeigen:
Fig. 1 einen integrierten Schaltungschip, der in der
Mitte einer ersten Ausführungsform des Verteilers be
festigt ist und der durch Drähte mit den Verteilerlei
tungen verbunden ist;
Fig. 2 eine erste Ausführungsform des als Formkörper
ausgebildeten Substrates mit einem einzigen großen
Hohlraum zum Aufnehmen der Chip-Verteiler-Einheit und
zwei kleinen Hohlräume zum Aufnehmen anderer Typen von
elektronischen Schaltungskomponenten;
Fig. 3 einen Querschnitt des Substrats gemäß Fig. 2
längs der Linie 3-3, und eines integrierten Schaltungs
chips, eines Verteilers und eines Kühlblechs innerhalb
der öffnung des Substrathohlraums;
Fig. 4 einen integrierten Schaltungschip, der in der
Mitte einer zweiten Ausführungsform des Verteilers be
festigt ist, um dessen Rand ein Verschließring ausge
bildet ist;
Fig. 5 einen Querschnitt des Verteilers gemäß Fig. 4
längs der Linie 5-5, der mit nach unten gerichtetem
Chip in einem Substrat gezeigt ist, das einen Ver
schließring aufweist, der dem Verschließring des Ver
teilers gegenüberliegt;
Fig. 6 einen Querschnitt einer dritten Ausführungsform,
bei der ein Verteiler mit nach unten gerichtetem Chip
über einem Hohlraum im Substrat angeordnet ist und um
den Umfang des Verteilers eine spitze thermoplastische
Verschließkante geformt ist.
Fig. 1 bis 3 zeigen verschiedene Bestandteile der er
sten Ausführungsform der Chip-Packung mit Befestigungs
vorrichtung. Fig. 1 ist eine perspektivische Ansicht
eines Verteilers 10. In dieser Figur ist ein Chip 12
mit einer metallisierten Bondinsel 14 in der Mitte
einer Verteilerplatte 16 verlötet. Die Bondinsel 14
weist eine Kerbe 18 auf, die in Hinblick auf die vier
seitige Symmetrie des Verteilers 10 und des Chips 12
zur Unterscheidung der Seiten dient, so daß der Vertei
ler 10 korrekt auf dem Substrat plazierbar ist (vgl.
Fig. 3). Feine Drähte 22 dienen zum elektrischen Ver
binden oder "Drahtbonden" der Bondinseln 24 auf dem
Chip 12 mit den passenden Kupferleitungen 26 auf dem
Verteiler 10.
Fig. 1 zeigt einen Verteiler 10 mit vierundachtzig Lei
tungen. ln dieser Figur hat der Verteiler 10 vierund
vierzig Leitungen 26 mehr, als zum Verbinden jeder Bond
insel 24 des Chip 12 erforderlich sind. Somit werden
entsprechend dieser Figur einige Leitungen 26 nicht
benutzt. Wenn jedoch mit dem Verteiler 10 ein Chip ver
bondet würde, der 84 Außenverbindungen erfordert, wür
den alle Leitungen 26 verwendet.
Fig. 2 ist eine perspektivische Ansicht eines Substrats
110. Das Substrat 110 weist einen Hohlraum 112 auf, die
den Verteiler 10 aufnimmt, wobei der Chip 12 zum
Hohlraum hin gerichtet ist. Die freien Enden mehrerer
Kupferbahnen 114 sind um den Umfang des Hohlraums 112
angeordnet, so daß sie an den Verteilerleitungen 26
ausgerichtet und mit diesen verbunden sind. Die Bahnen
114 sind innerhalb des Substrats 110 laminiert und ver
binden den auf dem Verteiler 10 befestigten Chip 12
passend mit verschiedenen anderen elektronischen Be
standteilen, die auf dem Substrat 110 befestigbar sind.
Das Substrat 110 gemäß Fig. 2 weist zwei zusätzliche
Hohlräume 116 auf, die bedarfsweise (nicht gezeigte)
herkömmliche getrennte Vorrichtungen aufnehmen und in
der Figur lediglich aus Gründen der Anschaulichkeit
gezeigt sind. In der Praxis hat jedes Substrat weitere
in oder auf ihm befestigte elektronische Komponenten
sowie Bahnen, welche diese Komponenten, wie zum Funkti
onieren der betreffenden Schaltung erforderlich, unter
einander verbinden.
Die Ausführungsform gemäß Fig. 2 weist zudem leitende
Streifen 117 auf, die längs des Randes des Substrates
geordnet sind. Bahnen innerhalb des Substrates
110 verbinden die leitenden Streifen 117 und die ver
schiedenen auf dem Substrat 110 befestigten elektroni
schen Komponenten. Die Streifen 117 ermöglichen es, daß
diese elektronischen Bestandteile über einen herkömm
lichen Schaltungsplatten-Konnektor elektrisch mit ande
ren Bestandteilen verbunden werden.
Fig. 3 ist ein Querschnitt des Substrates 110 gemäß
Fig. 2 längs der Linie 3-3. Fig. 3 zeigt zudem die
Chip-Verteiler-Einheit gemäß Fig. 1 in der Position an
der Öffnung der Substratsaussparung 112. Wie aus Fig. 3
ersichtlich ist, ist der Verteiler 10 mit nach unten in
den Hohlraum 112 gerichtetem Chip 12 orientiert, so daß
der Chip 12 zwischen dem Verteiler 10 und den den
Hohlraum 112 bildenden Wänden 210 des Substrats 110
eingekapselt ist.
Fig. 3 zeigt zudem das Kühlblech 212, das an der Seite
des Verteilers 10 gegenüber dem Chip 12 befestigt ist.
Abbildungsgemäß ist der Verteiler 10 in die Öffnung des
Hohlraums 112 eingesetzt, so daß das Kühlblech 212 mit
der Oberfläche des Substrats 110 bündig ist. Da das
Kühlblech 212 der Atmosphäre ausgesetzt ist und einen
größeren Oberflächenbereich als der Chip 12 hat, unter
stützt das Kühlblech 212 die Kühlung des Chips 12, in
dem es die Wärme vom Chip über den Verteiler aufnimmt
und die aufgenommene Wärme in die umliegende Atmosphäre
verteilt. Wunschgemäß können (nicht gezeigte) wärmelei
tende Teile in die Verteilerplatte 16 eingepreßt sein.
Ein Ende der wärmeleitenden Teile wäre mit der Bondin
sel 14 und das andere Ende mit dem Kühlblech 212 ver
bunden. Auf diese Weise würde Wärme vom Chip 12 über
die wärmeleitenden Teile zum Kühlblech 212 geleitet.
Die Chip-Verteiler-Einheit läßt sich auf verschiedene
Weise am Substrat 110 anbringen. Beispielsweise kann
Lötpaste durch Siebdruck auf die Kupferleitungen 26 des
Verteilers 10 aufgetragen werden. Wenn anschließend der
Verteiler 10 über dem Hohlraum 112 plaziert wird, wobei
der Chip 12 gemäß Fig. 3 zum Inneren des Hohlraums 112
weist, läßt sich die gesamte Einheit aus dem Substrat
110 und dem Verteiler 10 in einem Ofen plazieren, bis
die Lötpaste schmilzt. Durch das geschmolzene Lötmittel
wird jede Verteilerleitung 26 mit der
gegenüberliegenden Bahn 114 verlötet. Somit müssen das
Substrat 110 und der Verteiler 10 aus einem Isolierma
terial bestehen, das der Temperatur von geschmolzenem
Lötmittel standhält.
Nach dem Schmelzen der Lötpaste wird die gesamte Ein
heit aus dem Ofen entfernt. Wenn sich das geschmolzene
Lötmittel wieder verfestigt, verbindet es die Chip-Ver
teiler-Einheit elektrisch und mechanisch mit dem Sub
strat 110.
Die Chip-Verteiler-Einheit läßt sich auch am Substrat
110 anbringen, indem ein leitender Polymerleim durch
Siebdruck auf die Leitungen 26 des Verteilers 10 aufge
tragen wird. Zum Anbringen des Verteilers 10 an dem
Substrat 110 wird der Verteiler 10 einfach umgekehrt
und so über dem Hohlraum 112 plaziert, daß die Vertei
lerleitungen 26 die an den Umfang des Hohlraums 112
grenzenden Bahnen 114 kontaktieren. Wenn das Polymer
aushärtet, hält es den Verteiler 10 fest am Substrat
110 und verbindet die Verteilerleitungen 26 elektrisch
mit den Bahnen 114.
Die Verteilerleitungen 26 der in Fig. 1 bis 3 gezeigten
Ausführungsform erstrecken sich radial vom Mittelpunkt
des Verteilers 10. Da jede Leitung 26 einen Abstand von
der benachbarten Leitung 26 hat, könnte Flüssigkeit
zwischen benachbarten Leitungen 26 hindurch in den Hohl
raum 112 sickern und ein Korrodieren der elektrischen
Kontakte zwischen dem Chip 12, den Verbindungsdrähten
22 und den Leitungen 26 bewirken. Zur Verhinderung die
ses Effektes läßt sich gemäß Fig. 3 ein Isolierstreifen
214 zwischen dem Rand des Verteilers 10 und dem Sub
strat plazieren.
Fig. 4 zeigt eine zweite Ausführungsform des Verteilers
310. Wie die zuvor beschriebene Ausführungsform ist
beim Verteiler 310 gemäß Fig. 4 ein Chip 312 an einer
Bondinsel 314 in der Mitte des Verteilers 310 befe
stigt. Auch bei der Ausführungsform gemäß Fig. 4 ist
eine Stufe 316 um den Rand des Verteilers 310 vorgese
hen. Zudem ist ein verlötbarer Kupferdichtring 318 auf
der Oberfläche der Stufe plaziert.
Fig. 5 ist ein Querschnitt des Verteilers 310 gemäß
Fig. 4 längs der Linie 5-5 in Fig. 4. Fig. 5 zeigt ein
Substrat 410 mit einem verlötbaren Kupferdichtring 412,
der in einer Stufe 414 an der Öffnung des Substrathohl
raums 416 ausgebildet ist. Der Dichtring 412 im
Hohlraum ist dem Dichtring 318 im Verteiler 310 ge
genüber angeordnet.
Bevor die Verteiler-Chip-Einheit gemäß Fig. 5 am Sub
strat 410 angebracht wird, wird Lötpaste durch Sieb
druck sowohl auf dem Dichtring 318 auf dem Verteiler
310 als auch auf die Leitungen 418 aufgetragen. Die
Chip-Verteiler-Einheit wird dann bei abwärtsweisender
Chipseite über dem Hohlraum 416 plaziert. Wenn die
Lötpaste geschmolzen ist, werden gegenüberliegende Ver
teilerleitungen 418 und Bahnen 420 wie bei der vorheri
gen Ausführungsform zusammengelötet. Zusätzlich werden
jedoch die beiden gegenüberliegenden Dichtringe 318,
412 zusammengelötet. Deshalb werden beim Wiedererhärten
des Lötmittels nicht nur elektrische und mechanische
Verbindungen zwischen gegenüberliegenden Leitungen und
Bahnen geschaffen, sondern zudem eine hermetische Dich
tung um den gesamten Hohlraum 416 herum. Diese Dichtung
hält Feuchtigkeit vom Hohlraum ab.
Fig. 6 zeigt eine dritte Ausführungsform. Wie die Aus
führungsform gemäß Fig. 4 weist auch diese Ausführungs
form eine Stufe 510 um den Rand des Verteilers 512 auf.
Der Verteiler 512 und das Substrat 520 bestehen aus
einem thermoplastischen Material, und eine spitze Kante
514 ist an die Stufe 510 ausgebildet. Die Kante 514
erstreckt sich entlang der Stufe 510 um alle vier Sei
ten des Verteilers 512. Bei Plazierung über dem Sub
strathohlraum d abwärtsgerichtem Chip liegt die
Spitze der Kante 514 auf einer Stufe 516, die an der
Öffnung des Hohlraums 518 in dem Substrat 520 ausge
bildet ist. Wie bei den beiden zuvor beschriebenen Aus
führungsformen sind die Verteilerleitungen 522 mit den
gegenüberliegenden Bahnen 524 an der Öffnung des
Hohlraums 516 ausgerichtet. Da jedoch der Verteiler 512
auf der spitzen Kante 514 liegt, sind die Verteilerlei
tungen 522 von den Bahnen 524 ferngehalten.
Wie bei der zuvor beschriebenen Ausführungsform werden
die Leitungen 522 des Verteilers 512 mit Lötpaste be
schichtet, bevor der Verteiler 512 über der Öffnung des
Hohlraums 516 plaziert wird. Wenn ein Ultraschall
schweißer 526 auf die freiliegende Rückfläche des Ver
teilers 512 einwirkt, läßt die Reibung zwischen der
Spitze der Verteilerkante 514 und ihrem Berührungsbe
reich auf der Substratstufe 518 die Spitze der Kante
514 und die Stufe 518 zusammenschmelzen. Der Verteiler
512 sinkt dann in den Hohlraum 516, bis die Leitungen
522 auf den Bahnen 524 aufliegen. Die geschmolzene Kan
te 514 bildet eine wasserundurchlässige Dichtung um den
Substrathohlraum 516 herum.
Anschließend lassen sich die Leitungen 522 mit den Bah
nen 524 verlöten, indem man die gesamte Einheit in
einem Ofen plaziert, um die Lötpaste schmelzen zu las
sen, und dann die Einheit abkühlen und die Paste wie
dererhärten läßt. Auf diese Weise verbindet das Lötmit
tel den Verteiler 512 elektrisch und mechanisch mit dem
Substrat 520. Die durch Ultraschall geschmolzene Kante
514 um den Verteiler 512 unterstützt die Befestigung
des Verteilers 512 am Substrat 520 und dichtet gleich
zeitig den Chip 528 im Substrathohlraum 516 hermetisch
ab.
Abgesehen von den drei beschriebenen Ausführungsformen
sind verschiedene Abwandlungen der beschriebenen Vor
richtung möglich. So z.B. können die Dichtringe gemäß
Fig. 4 und 5 auf der gleichen Verteilerebene wie die
Leitungen plaziert sein. Bei dieser Anordnung gäbe es
keine Stufe um die Kante des Verteilers und keine ent
sprechende Stufe im Substrat. Ebenso kann die spitze
Kante gemäß Fig. 6 auf der gleichen Verteilerebene wie
die Leitungen angeordnet sein.
Claims (16)
1. Packung für elektronische Bauteile zum Einkapseln
und Kontaktieren des Bauteils,
gekennzeichnet durch
ein isolierendes Substrat (110, 410, 520) mit einem Hohlraum (112, 416, 516) und mehreren für elektronische Bauteile vorgesehenen Verbindungsstellen, die auf dem Substrat (110, 410, 520) mit Abstand von dem Hohlraum (112, 416, 516) angeordnet sind;
mehrere erste Leiter (114, 420, 524), deren eines Ende jeweils mit Abstand um den Öffnungsumfang des Hohlraums (112, 416, 516) angeordnet ist, wobei die ersten Leiter (114, 420, 524) elektrisch mit den Verbindungsstellen für elektronische Bauteile verbunden sind;
einen Isolierteil (10, 310, 512), der die Öffnung des Hohlraums (112, 416, 516) bedeckt und dessen erste Sei te zum Inneren des Hohlraums (112, 416, 516) weist;
mehrere zweite Leiter (26, 418, 522), die derart auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) ange ordnet sind, daß jeder der zweiten Leiter (26, 418, 522) einen der ersten Leiter (114, 420, 524) kontak tiert;
einen elektronischen Bauteil (12, 312, 528), der auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) befestigt ist; und
Verbindungsvorrichtungen (22) zum elektrischen Verbin den des elektronischen Bauteils (12, 312, 528) mit den zweiten Leitern (26, 418, 522).
ein isolierendes Substrat (110, 410, 520) mit einem Hohlraum (112, 416, 516) und mehreren für elektronische Bauteile vorgesehenen Verbindungsstellen, die auf dem Substrat (110, 410, 520) mit Abstand von dem Hohlraum (112, 416, 516) angeordnet sind;
mehrere erste Leiter (114, 420, 524), deren eines Ende jeweils mit Abstand um den Öffnungsumfang des Hohlraums (112, 416, 516) angeordnet ist, wobei die ersten Leiter (114, 420, 524) elektrisch mit den Verbindungsstellen für elektronische Bauteile verbunden sind;
einen Isolierteil (10, 310, 512), der die Öffnung des Hohlraums (112, 416, 516) bedeckt und dessen erste Sei te zum Inneren des Hohlraums (112, 416, 516) weist;
mehrere zweite Leiter (26, 418, 522), die derart auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) ange ordnet sind, daß jeder der zweiten Leiter (26, 418, 522) einen der ersten Leiter (114, 420, 524) kontak tiert;
einen elektronischen Bauteil (12, 312, 528), der auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) befestigt ist; und
Verbindungsvorrichtungen (22) zum elektrischen Verbin den des elektronischen Bauteils (12, 312, 528) mit den zweiten Leitern (26, 418, 522).
2. Packung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310,
512) befestigte elektronische Bauteil ein intergrierter
Schaltungschip (12, 312, 528) mit integrierter elektro
nischer Schaltung ist.
3. Packung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß eine Dichtung (214; 318, 412) zwischen dem
Substrat (110, 410, 520) und dem Isolierteil (10, 310,
512) den Hohlraum (112, 416, 516) hermetisch abdichtet.
4. Packung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß an der der ersten Seite entgegenge
setzten zweiten Seite des Isolierteils (10, 310, 512)
ein Kühlblech (212) befestigt ist.
5. Packung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
einen ersten Dichtmaterialstreifen (412) auf dem Sub
strat (110, 410, 520), der die Öffnung des Hohlraums
(112, 416, 516) außerhalb der Enden der ersten Leiter
(114, 420, 524) umgibt;
einen zweiten Dichtmaterialstreifen (318) auf der er sten Seite des Isolierteils (10, 310, 512), der die zweiten Leiter (26, 418, 522) derart umgibt, daß der zweite Streifen (318) dem ersten Streifen (412) gegen überliegt; und
ein Dichtmittel zwischen dem ersten (412) und dem zwei ten Streifen (318) zum hermetischen Abdichten des Hohl raums (112, 416, 516).
einen zweiten Dichtmaterialstreifen (318) auf der er sten Seite des Isolierteils (10, 310, 512), der die zweiten Leiter (26, 418, 522) derart umgibt, daß der zweite Streifen (318) dem ersten Streifen (412) gegen überliegt; und
ein Dichtmittel zwischen dem ersten (412) und dem zwei ten Streifen (318) zum hermetischen Abdichten des Hohl raums (112, 416, 516).
6. Packung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
das Dichtmittel ein Lötmittel ist.
7. Packung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
das Dichtmittel ein elektrisch leitendes Polymer ist.
8. Packung für elektronische Bauteile zum Einkapseln
und Kontaktieren des Bauteils, gekennzeichnet durch
ein isolierendes Substrat (110, 410, 520) mit einem Hohlraum (112, 416, 516) und mehreren für elektronische Bauteile vorgesehenen Verbindungsstellen, die auf dem Substrat (110, 410, 520) mit Abstand vom Hohlraum (112, 416, 516) angeordnet sind;
mehrere erste Leiter (114, 420, 524), deren eines Ende jeweils mit Abstand um den Öffnungsumfang des Hohlraums (112, 416, 516) angeordnet ist, wobei die ersten Leiter (114, 420, 524) elektrisch mit den Verbindungsstellen für elektronische Bauteile verbunden sind;
einen Isolierteil (10, 310, 512), der die Öffnung des Hohlraums (112, 416, 516) bedeckt und dessen erste Sei te zum Inneren des Hohlraums (112, 416, 516) weist;
mehrere zweite Leiter (26, 418, 522), die derart auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) ange ordnet sind, daß jeder der zweiten Leiter (26, 418, 522) einem der ersten Leiter (114, 420, 524) gegenüber liegt;
einen elektronischen Bauteil (12, 312, 528), der auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) befe stigt ist;
Verbindungsvorrichtungen (22) zum elektrischen Verbin den des elektronischen Bauteils (12, 312, 528) mit den zweiten Leitern (26, 418, 522); und
eine Kante (514) aus thermoplastischem Material, die von der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) vorsteht und die zweiten Leiter (26, 418, 522) umgibt.
ein isolierendes Substrat (110, 410, 520) mit einem Hohlraum (112, 416, 516) und mehreren für elektronische Bauteile vorgesehenen Verbindungsstellen, die auf dem Substrat (110, 410, 520) mit Abstand vom Hohlraum (112, 416, 516) angeordnet sind;
mehrere erste Leiter (114, 420, 524), deren eines Ende jeweils mit Abstand um den Öffnungsumfang des Hohlraums (112, 416, 516) angeordnet ist, wobei die ersten Leiter (114, 420, 524) elektrisch mit den Verbindungsstellen für elektronische Bauteile verbunden sind;
einen Isolierteil (10, 310, 512), der die Öffnung des Hohlraums (112, 416, 516) bedeckt und dessen erste Sei te zum Inneren des Hohlraums (112, 416, 516) weist;
mehrere zweite Leiter (26, 418, 522), die derart auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) ange ordnet sind, daß jeder der zweiten Leiter (26, 418, 522) einem der ersten Leiter (114, 420, 524) gegenüber liegt;
einen elektronischen Bauteil (12, 312, 528), der auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) befe stigt ist;
Verbindungsvorrichtungen (22) zum elektrischen Verbin den des elektronischen Bauteils (12, 312, 528) mit den zweiten Leitern (26, 418, 522); und
eine Kante (514) aus thermoplastischem Material, die von der ersten Seite des Isolierteils (10, 310, 512) vorsteht und die zweiten Leiter (26, 418, 522) umgibt.
9. Packung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
der auf der ersten Seite des Isolierteils (10, 310,
512) befestigte elektronische Bauteil ein Schaltungs
chip (12, 312, 528) mit integrierter elektronischer
Schaltung ist.
10. Packung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß an der der ersten Seite entgegengesetzten zweiten
Seite des Isolierteils (10, 310, 512) ein Kühlblech
(212) befestigt ist.
11. Packung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß das Isoliersubstat (110, 410, 520), der Isolierteil
(10, 310, 512) und die Kante (514) aus dem gleichen
thermoplastischen Material bestehen.
12. Chip-Packung, gekennzeichnet durch
einen nicht leitenden Teil (10, 310, 512) mit einer ersten Seite;
eine Bondinsel (14, 314) für integrierte Schaltungs chips, die in der Mitte auf der ersten Seite angeordnet ist; und
mehrere elektrische Leitungen (26, 418, 522), die nur auf der ersten Seite des nicht leitenden Teils (10, 310, 512) und mit Abstand von der Bondinsel (14, 314) derart angeordnet sind, daß ein Ende jeder Leitung (26, 418, 522) näher zum Mittelpunkt des nicht leitenden Teils (10, 310, 512) angeordnet ist als das entgegen gesetzte Ende jeder Leitung (26, 418, 522).
einen nicht leitenden Teil (10, 310, 512) mit einer ersten Seite;
eine Bondinsel (14, 314) für integrierte Schaltungs chips, die in der Mitte auf der ersten Seite angeordnet ist; und
mehrere elektrische Leitungen (26, 418, 522), die nur auf der ersten Seite des nicht leitenden Teils (10, 310, 512) und mit Abstand von der Bondinsel (14, 314) derart angeordnet sind, daß ein Ende jeder Leitung (26, 418, 522) näher zum Mittelpunkt des nicht leitenden Teils (10, 310, 512) angeordnet ist als das entgegen gesetzte Ende jeder Leitung (26, 418, 522).
13. Chip-Packung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeich
net, daß auf der ersten Seite ein Dichtmaterialstreifen
(214; 318, 412) die Leitungen (26, 418, 522) umgibt.
14. Chip-Packung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeich
net, daß eine Kante (514) aus thermoplastischem Mate
rial von der ersten Seite vorsteht und die Leitungen
(26, 418, 522) umgibt.
15. Chip-Packung nach Anspruch 12, gekennzeichnet durch
einen integrierten Schaltungschip (12, 312, 528), der auf der Bondinsel (14, 314) befestigt ist;
mehrere Drähte (22), wobei das eine Ende jedes Drahtes (22) mit dem Chip (12, 312, 528) verbunden ist und das gegenüberliegende Ende jedes Drahtes (22) mit dem näher zur Mitte hin angeordneten Ende einer der Leitungen (26, 418, 522) verbunden ist.
einen integrierten Schaltungschip (12, 312, 528), der auf der Bondinsel (14, 314) befestigt ist;
mehrere Drähte (22), wobei das eine Ende jedes Drahtes (22) mit dem Chip (12, 312, 528) verbunden ist und das gegenüberliegende Ende jedes Drahtes (22) mit dem näher zur Mitte hin angeordneten Ende einer der Leitungen (26, 418, 522) verbunden ist.
16. Chip-Packung nach einem der Ansprüche 12, 13, 14
oder 15, dadurch gekennzeichnet, daß an der der ersten
Seite entgegengesetzten zweiten Seite des nicht leiten
den Teils (10, 310, 512) ein Kühlblech (212) befestigt
ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/843,592 US4843188A (en) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | Integrated circuit chip mounting and packaging assembly |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3708309A1 true DE3708309A1 (de) | 1987-10-01 |
Family
ID=25290468
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873708309 Ceased DE3708309A1 (de) | 1986-03-25 | 1987-03-14 | Chip-packung |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4843188A (de) |
JP (1) | JPH02342A (de) |
KR (1) | KR900003826B1 (de) |
CA (1) | CA1266725A (de) |
DE (1) | DE3708309A1 (de) |
FR (1) | FR2596608A1 (de) |
GB (1) | GB2188485B (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3924823A1 (de) * | 1989-07-27 | 1991-02-21 | Telefunken Electronic Gmbh | Halbleiteranordnung |
DE4021871A1 (de) * | 1990-07-09 | 1992-01-23 | Lsi Logic Products Gmbh | Hochintegriertes elektronisches bauteil |
DE4038168A1 (de) * | 1990-11-30 | 1992-06-04 | Daimler Benz Ag | Multichip-modul und verfahren zu dessen herstellung |
US5929516A (en) * | 1994-09-23 | 1999-07-27 | Siemens N.V. | Polymer stud grid array |
DE4138818B4 (de) * | 1990-11-28 | 2004-04-01 | Kitagawa Industries Co., Ltd., Nagoya | Gehäuse zur Aufnahme elektronischer Komponenten und Verfahren zu seiner Herstellung |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56133775A (en) | 1980-03-25 | 1981-10-20 | Canon Inc | Image synthesizing and recording method |
US5182420A (en) * | 1989-04-25 | 1993-01-26 | Cray Research, Inc. | Method of fabricating metallized chip carriers from wafer-shaped substrates |
US5196377A (en) * | 1990-12-20 | 1993-03-23 | Cray Research, Inc. | Method of fabricating silicon-based carriers |
US5107328A (en) * | 1991-02-13 | 1992-04-21 | Micron Technology, Inc. | Packaging means for a semiconductor die having particular shelf structure |
JPH0714976A (ja) * | 1993-06-24 | 1995-01-17 | Shinko Electric Ind Co Ltd | リードフレーム及び半導体装置 |
US5608262A (en) * | 1995-02-24 | 1997-03-04 | Lucent Technologies Inc. | Packaging multi-chip modules without wire-bond interconnection |
US5856914A (en) * | 1996-07-29 | 1999-01-05 | National Semiconductor Corporation | Micro-electronic assembly including a flip-chip mounted micro-device and method |
US5734617A (en) * | 1996-08-01 | 1998-03-31 | Micron Technology Corporation | Shared pull-up and selection circuitry for programmable cells such as antifuse cells |
US5953276A (en) * | 1997-12-18 | 1999-09-14 | Micron Technology, Inc. | Fully-differential amplifier |
US6104209A (en) | 1998-08-27 | 2000-08-15 | Micron Technology, Inc. | Low skew differential receiver with disable feature |
US6212482B1 (en) | 1998-03-06 | 2001-04-03 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for specifying performance parameters in integrated circuits |
GB2341482B (en) * | 1998-07-30 | 2003-07-09 | Bookham Technology Ltd | Lead frame attachment for integrated optoelectronic waveguide device |
JP2004165501A (ja) * | 2002-11-14 | 2004-06-10 | Alps Electric Co Ltd | 回路モジュール |
US20040195697A1 (en) * | 2003-04-01 | 2004-10-07 | United Test & Assembly Center Ltd. | Method of packaging circuit device and packaged device |
JP2004335710A (ja) * | 2003-05-07 | 2004-11-25 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
CN101146657B (zh) * | 2005-03-23 | 2011-12-07 | Thk英特克斯股份有限公司 | 划线装置 |
US8837159B1 (en) * | 2009-10-28 | 2014-09-16 | Amazon Technologies, Inc. | Low-profile circuit board assembly |
US20120009973A1 (en) * | 2010-07-12 | 2012-01-12 | Sony Ericsson Mobile Communications Ab | Module Connection in a Printed Wiring Board |
JP2019153658A (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | 富士通株式会社 | 基板モジュール及び基板モジュールの製造方法 |
EP3582259B1 (de) * | 2018-06-11 | 2021-11-03 | AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft | Gestufte baugruppe, die in einem gestuften hohlraum in einem baugruppenträger untergebracht ist |
US11540395B2 (en) * | 2018-10-17 | 2022-12-27 | Intel Corporation | Stacked-component placement in multiple-damascene printed wiring boards for semiconductor package substrates |
JP7514655B2 (ja) * | 2020-05-28 | 2024-07-11 | 新光電気工業株式会社 | 電子部品内蔵基板及びその製造方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2703358A1 (de) * | 1976-02-03 | 1977-08-18 | Angelucci Thomas L | Elektronisches modul und verfahren zu seiner herstellung |
DE2607083A1 (de) * | 1976-02-21 | 1977-09-01 | Standard Elektrik Lorenz Ag | Kunststoffgehaeuse mit elektrischem bauelement |
US4285002A (en) * | 1978-01-19 | 1981-08-18 | International Computers Limited | Integrated circuit package |
US4396935A (en) * | 1980-10-06 | 1983-08-02 | Ncr Corporation | VLSI Packaging system |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1514273B2 (de) * | 1964-08-21 | 1974-08-22 | Nippon Electric Co., Ltd., Tokio | Halbleiteranordmng |
DE1614575A1 (de) * | 1966-08-16 | 1970-05-27 | Signetics Corp | Aufbau einer integrierten Schaltung und Verfahren zum Herstellen dieses Aufbaues |
US3659035A (en) * | 1971-04-26 | 1972-04-25 | Rca Corp | Semiconductor device package |
US4054938A (en) * | 1974-05-13 | 1977-10-18 | American Microsystems, Inc. | Combined semiconductor device and printed circuit board assembly |
US3984620A (en) * | 1975-06-04 | 1976-10-05 | Raytheon Company | Integrated circuit chip test and assembly package |
GB1539470A (en) * | 1975-11-13 | 1979-01-31 | Tektronix Inc | Electrical connector |
GB2013027B (en) * | 1978-01-19 | 1982-09-22 | Int Computers Ltd | Integrated circuit packages |
JPS56137659A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-27 | Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Semiconductor device and its manufacture |
GB2098398A (en) * | 1981-05-13 | 1982-11-17 | Honeywell Ltd | Electronic packaging system |
US4437141A (en) * | 1981-09-14 | 1984-03-13 | Texas Instruments Incorporated | High terminal count integrated circuit device package |
JPS5853848A (ja) * | 1981-09-25 | 1983-03-30 | Nec Corp | チツプキヤリア |
JPS58101442A (ja) * | 1981-12-11 | 1983-06-16 | Hitachi Ltd | 電気的装置用基板 |
DE3213884A1 (de) * | 1982-04-15 | 1983-10-27 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Anschlussvorrichtung fuer ein plattenfoermiges elektrisches geraet |
FR2535110B1 (fr) * | 1982-10-20 | 1986-07-25 | Radiotechnique Compelec | Procede d'encapsulation d'un composant semi-conducteur dans un circuit electronique realise sur substrat et application aux circuits integres rapides |
US4618739A (en) * | 1985-05-20 | 1986-10-21 | General Electric Company | Plastic chip carrier package |
-
1986
- 1986-03-25 US US06/843,592 patent/US4843188A/en not_active Expired - Fee Related
-
1987
- 1987-03-14 DE DE19873708309 patent/DE3708309A1/de not_active Ceased
- 1987-03-18 KR KR1019870002445A patent/KR900003826B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1987-03-20 GB GB8706636A patent/GB2188485B/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-03-24 CA CA000532791A patent/CA1266725A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-03-25 JP JP62071311A patent/JPH02342A/ja active Pending
- 1987-03-25 FR FR8704150A patent/FR2596608A1/fr not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2703358A1 (de) * | 1976-02-03 | 1977-08-18 | Angelucci Thomas L | Elektronisches modul und verfahren zu seiner herstellung |
DE2607083A1 (de) * | 1976-02-21 | 1977-09-01 | Standard Elektrik Lorenz Ag | Kunststoffgehaeuse mit elektrischem bauelement |
US4285002A (en) * | 1978-01-19 | 1981-08-18 | International Computers Limited | Integrated circuit package |
US4396935A (en) * | 1980-10-06 | 1983-08-02 | Ncr Corporation | VLSI Packaging system |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Goosey, Martin T.: "Plastics for Electronics", Elsevier Applied Science Publishers, London (1985)S. 304-309 u. 347-349 * |
Taubitz, G.: Miniaturleiterphasen für die moderne Mikroelektronik. In: Elektronik 23/16.11.1984, S. 125-129 * |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3924823A1 (de) * | 1989-07-27 | 1991-02-21 | Telefunken Electronic Gmbh | Halbleiteranordnung |
DE4021871A1 (de) * | 1990-07-09 | 1992-01-23 | Lsi Logic Products Gmbh | Hochintegriertes elektronisches bauteil |
US5225710A (en) * | 1990-07-09 | 1993-07-06 | Lsi Logic Products Gmbh | Highly integrated electronic component with heat-conducting plate |
US5428246A (en) * | 1990-07-09 | 1995-06-27 | Lsi Logic Products Gmbh | Highly integrated electronic component with heat-conductive plate |
DE4138818B4 (de) * | 1990-11-28 | 2004-04-01 | Kitagawa Industries Co., Ltd., Nagoya | Gehäuse zur Aufnahme elektronischer Komponenten und Verfahren zu seiner Herstellung |
DE4038168A1 (de) * | 1990-11-30 | 1992-06-04 | Daimler Benz Ag | Multichip-modul und verfahren zu dessen herstellung |
DE4038168C2 (de) * | 1990-11-30 | 1998-09-24 | Daimler Benz Ag | Verfahren zur Herstellung eines Multichip-Moduls |
US5929516A (en) * | 1994-09-23 | 1999-07-27 | Siemens N.V. | Polymer stud grid array |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR900003826B1 (ko) | 1990-06-02 |
FR2596608A1 (fr) | 1987-10-02 |
CA1266725A (en) | 1990-03-13 |
US4843188A (en) | 1989-06-27 |
GB2188485B (en) | 1990-04-04 |
GB2188485A (en) | 1987-09-30 |
KR870009613A (ko) | 1987-10-27 |
GB8706636D0 (en) | 1987-04-23 |
JPH02342A (ja) | 1990-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3708309A1 (de) | Chip-packung | |
DE69532682T2 (de) | Nachgiebige zwischenschicht für einen halbleiterchip | |
DE3616494C2 (de) | ||
DE69212185T2 (de) | Halbleiteraufbau mit flexibler Trägerfolie | |
DE69705222T2 (de) | Gitteranordnung und verfahren zu deren herstellung | |
DE69432968T2 (de) | Gehäuse für elektronische Bauelemente | |
DE69737375T2 (de) | Verfahren zur Befestigung eines elektronischen Bauteils auf einer Leiterplatte und System zum Ausführen des Verfahrens | |
DE69525406T2 (de) | Halbleiteranordnung mit Metallplatte | |
DE102006005645B4 (de) | Stapelbarer Baustein, Bausteinstapel und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE3814469C2 (de) | ||
DE68923512T2 (de) | Gitterartige Steckerstift-Anordnung für einen paketförmigen integrierten Schaltkreis. | |
DE69431023T2 (de) | Halbleiteraufbau und Verfahren zur Herstellung | |
DE102014100509B4 (de) | Verfahren zur herstellung und testung eines chipgehäuses | |
DE10031951A1 (de) | Mehrchip-Halbleitermodul und Herstellungsverfahren dafür | |
DE102004010633A1 (de) | Elektronisches Baulelement zum Verkleben einer Mehrzahl von Elektroden und Verfahren zum Montieren desselben | |
DE19818824A1 (de) | Elektronisches Bauelement | |
DE8816922U1 (de) | Gehäuse für eine Halbleiteranordnung | |
DE10016135A1 (de) | Gehäusebaugruppe für ein elektronisches Bauteil | |
DE19500655A1 (de) | Chipträger-Anordnung sowie Chipträger zur Herstellung einer Chip-Gehäusung | |
DE19920444A1 (de) | Halbleiterbaustein ultrahoher Dichte mit integrierten Schaltungen sowie Verfahren zum Herstellen desselben | |
DE19752195A1 (de) | Halbleiterelement mit einer Tragevorrichtung und einem Zuleitungsrahmen und einem damit verbundenen Halbleiterchip | |
DE10232788A1 (de) | Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip | |
DE2528573A1 (de) | Halbleiterschaltungs-verbindungseinrichtung | |
DE10162676B4 (de) | Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip und einer Umverdrahtungsplatte und Systemträger für mehrere elektronische Bauteile sowie Verfahren zur Herstellung derselben | |
DE10145468C1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Befestigen von Halbleitereinrichtungen auf einer Schalteinrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8131 | Rejection |