DE3634131A1 - Verfahren und vorrichtung zur substrat-beheizung in einer vorrichtung zum axial symmetrischen epitaxialen abscheiden - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur substrat-beheizung in einer vorrichtung zum axial symmetrischen epitaxialen abscheidenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich allgemein auf das epitaxiale
Abscheiden oder Niederschlagen von Materialien auf ein
Substrat und insbesondere auf das epitaxiale Abscheiden
von Materialien auf ein Substrat in einer axial symmetrischen
Konfiguration. Wegen der axial symmetrischen
Konfiguration muß die Abscheidekammer speziell gestaltet
sein, um eine gleichmäßige Beheizung des Substrats zu
bewirken.
Es ist bekannt, daß die Qualität des abgeschiedenen oder
niedergeschlagenen Materials in einer Kammer für die epitaxiale
Abscheidung unter anderem von der Gleichmäßigkeit
der Temperatur des Substrats und der Gleichmäßigkeit des
Abscheidematerials im Trägergas abhängen kann. Kürzlich
wurden die Vorteile der epitaxialen Abscheidung in einer
axial symmetrischen Konfiguration erkannt. Der volle Vorteil
dieser Konfiguration kann kommerziell nur mit einer
raschen gleichmäßigen Beheizung des Substrats realisiert
werden. Bisher wurden massive Aufnahmevorrichtungen oder
Suszeptoren durch Reihen von geraden Lampen oder durch
HF-Felder beheizt, wobei die Temperaturgleichmäßigkeit
zum Teil durch die große thermische Masse und hohe Wärmeleitfähigkeit
einer dem Substrat zugeordneten Aufnahmevorrichtung
erhalten wurde. Die großte thermische Masse der
Aufnahmevorrichtung ergibt jedoch eine thermische Trägheit,
die die Heiz- und Kühlzyklen, die der epitaxialen Abscheideprozess
umfaßt, verlängert.
Es bestand daher ein Bedarf für eine Vorrichtung und für
ein Verfahren, die eine Scheibe, speziell eine Halbleiterscheibe,
rasch und gleichmäßig zu erhitzen vermögen, und
die insbesondere eine Aufnahmevorrichtung und/oder eine
Scheibe von kleiner thermischer Masse in einer axial
symmetrischen Umgebung gleichmäßig aufheizen können.
Ein Ziel der Erfindung besteht daher darin, eine verbesserte
Vorrichtung und ein verbessertes Verfahren für die
Verwendung in Verbindung mit einem epitaxialen Abscheideprozess
zu schaffen.
Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, eine Heizvorrichtung
und eine Heizmethode in einer Umgebung für
epitaxiale Abscheidung zu schaffen, in der eine axial
symmetrische Gasströmung zur Anwendung gelangt.
Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, ein Verfahren
und eine Vorrichtung zur gleichförmigen Erhitzung
eines Halbleitersubstrats in einer Vorrichtung für die
epitaxiale Abscheidung zu schaffen, in der die Gasströmung
und das Substrat axial symmetrisch sind.
Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, eine
gleichmäßige Erwärmung der Kombination aus einem Halbleitersubstrat
und der zugehörigen Aufnahme- oder Suszeptorvorrichtung
zu erreichen, und zwar unter Verwendung
von Heizlampen oberhalb und unterhalb der Kombination,
wobei die beiden Sätze von Heizlampen zueinander im
wesentlichen senkrecht sind.
Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, eine gleichförmige
Beheizung oder Erwärmung der Halbleitersubstrat-
Suszeptor-Kombination zu erreichen, und zwar unter Verwendung
einer eine Gruppe von Heizlampen aufweisenden
ersten Kammer und einer zweiten Kammer, wobei das Reflektionsvermögen
der Kammer auf der entgegengesetzten Seite
der Kombination eine vorbestimmte Konfiguration aufweist
und mindestens zwei Bereiche mit unterschiedlichem Reflektionskoeffizienten
aufweist.
Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, eine Substrat-
Suszeptorkombination zu schaffen, die von zwei im
allgemeinen rechteckigen Heizkammern eingeschlossen ist.
Ein spezielleres Ziel der Erfindung besteht darin, eine
Substrat-Suszeptor-Kombination mittels zweier im wesentlichen
rechteckiger Heizkammern einzuschließen, wobei
die Heizkammern Heizlampen mit einer Strahlung aufweisen,
die mit Hilfe von Parabolreflektoren, die im wesentlichen
senkrecht bezüglich der Heizlampen in der anderen Kammer
angeordnet sind, fokussiert ist.
Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, eine Substrat-
Suszeptor-Kombination mittels zweier Heizkammern
einzuschließen, in denen die von Heizlampen ausgehende
Strahlung durch Parabolreflektoren fokussiert ist, wobei
die Heizlampen in jeder Kammer etwa senkrecht zu den Heizlampen
in der anderen Kammer ausgerichtet sind und wobei
einer Vielzahl von inneren Heizlampen in zumindest einer
Kammer eine ebene Reflektionsfläche zugeordnet ist.
Die vorgenannten und weitere Ziele werden gemäß der Erfindung
durch eine epitaxiale Reaktorvorrichtung erreicht,
die im wesentlichen aus einer oberen Kammer und einer unteren
Kammer besteht, die eine Substrat/Suszeptor oder
Aufnahme-Kombination im wesentlichen einschließen. In der
oberen Kammer erstreckt sich eine Reihe von Heizlampen
durch das Innere der Kammer, wobei die Lampen zumindest
einen Teil der Wärmeenergie für die Halbleitersubstrat/
Suszeptor-Kombination erzeugen. Die Heizlampen erstrecken
sich im wesentlichen parallel zueinander und können voneinander
gleichen Abstand haben, und wenn eine kreisförmige
Kammer verwendet wird, können sich die Lampen mit
unterschiedlichen Lampenteilen durch die Kammer hindurch
erstrecken. Das Reflektionsvermögen der Kammerwände ist
so gewählt, daß es die Heizlampen komplementär ergänzt
und eine gleichmäßige Verteilung der Wärmestrahlung innerhalb
des Reaktors bewirkt. Gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung ist eine kreisförmige untere Kammer des Reaktors
ähnlich oder gleich einem kreisförmigen oberen Teil
gestaltet. Die Heizlampen in der unteren Kammer sind jedoch
im wesentlichen senkrecht zu den Heizlampen der oberen
Kammer angeordnet. Gemäß einer anderen, zweiten Ausführungsform
der Erfindung weist eine untere Kammer des
Reaktors eine kreisförmige Kammer auf, in der reflektierte
Energie aus einer kreisförmigen oberen Kammer dafür benutzt
wird, Wärmeenergie für den unteren Teil der Substrat-
Suszeptor-Kombination zu liefern. Ein Mittelteil der unteren
Kammerwand weist ein Reflektionsvermögen auf, das so
gewählt ist, daß eine gleichmäßige Beheizung oder Erwärmung
der Substrat/Suszeptor-Kombination dadurch erhalten
wird, daß das Reflektionsvermögen von demjenigen des restlichen
Teiles der Kammer verschieden ist. Gemäß einer weiteren
Ausführungsform der Erfindung sind Heizlampen in
der oberen Kammer und in der unteren Kammer Parabol-Reflektoren
zugeordnet, um eine im wesentlichen parallele, auf
die Substrat-Suszeptor-Kombination auftreffende Strahlung
herbeizuführen. Bei dieser Ausführungsform sind die Kammern
vorzugsweise rechteckig. Gemäß einer weiteren Ausführungsform
können zumindest bei einer der Kammern die
Parabol-Reflektoren für ausgewählte Heizlampen durch eine
ebene reflektierende Fläche ersetzt sein. Auf den Wänden
der Reflektoren befindet sich eine passendes reflektierendes
Medium. Für eine weitere Gleichmäßigkeit der Beheizung
der Suszeptor-Substrat-Kombination können die Heizlampen
mit wachsendem Abstand von den mittleren Lampen her
eine höhere Erregerenergie oder einen geringeren gegenseitigen
Abstand haben, um beispielsweise Wärmeverluste durch
Teile, die nötig sind, um z. B. Gaskomponenten in den Reaktor
einzuleiten, zu kompensieren.
Diese und weitere Vorteile, Merkmale und Ziele der Erfindung
ergeben sich in näheren Einzelheiten aus der nachstehenden
Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand
der Zeichnung. In der Zeichnung zeigt:
Fig. 1 die schematische Darstellung der Gasströmung gegen
ein Substrat zwecks Erzeugung eines axial
symmetrischen Flusses,
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht der einen Kammer des
Reaktors, die mit hindurchgehenden Heizlampen
ausgerüstet ist,
Fig. 3 eine schematische Querschnittsansicht einer Konfiguration
zum gleichmäßigen Beheizen einer Substrat-
Suszeptor-Kombination, die Heizlampen oderhalb
und unterhalb der Kombination aufweist,
Fig. 4 eine schematische Querschnittsansicht, die eine
Konfiguration zeigt, bei der eine Substrat-Suszeptor-
Kombination durch eine Gruppe von Lampen
oberhalb von dieser und durch reflektierte Energie
von der anderen Seite der Kombination her beheizt
wird,
Fig. 5 die perspektivische Ansicht einer unterschiedlichen
weiteren Konfiguration einer Heizkammer
mit sich durch diese hindurch erstreckenden Heizlampen,
und
Fig. 6 eine schematische Querschnittsansicht, die die
Konfiguration wiedergibt, bei der eine Substrat-
Suszeptor-Kombination durch eine Vielzahl von
Lampen mit zugehörigen parabolischen und ebenen
Reflektoren beheizt wird.
Die Fig. 1 zeigt die allgemeine Konfiguration für eine
axial symmetrische, epitaxiale Abscheidung. Bei der bevorzugten
Ausführungsform besteht die Technik darin, daß
ein die Abscheidematerialien enthaltenden oder führendes
Gas mit einer gleichmäßigen Geschwindigkeit senkrecht zu
der Kombination aus dem Substrat 10 und dem dieses tragenden
Suszeptor 15, der auch als Aufnahme- oder Haltevorrichtung
bezeichnet werden kann, gerichtet und zugeführt
wird. Mit einer nicht dargestellten Vorrichtung wird das
Gas von der Kante der kreisförmigen Substrat-Suszeptor-
Kombination weggeleitet, und das Ergebnis ist eine Konfiguration
für eine chemische Reaktion, die allgemein
als Staupunktströmungs-Konfiguration bezeichnet wird. Mit
"Staupunktströmung" ist eine Gasströmung gegen ein kreisförmiges
Substrat gemeint, die eine gleichmäßige Temperatur
und eine gleichmäßige Geschwindigkeitskomponente
gegen das Substrat in einem vorbestimmten Abstand hat.
Die Fig. 2 gibt in perspektivischer Ansicht eine Kammer 49
eines Reaktors wieder, durch die Heizlampen 50 hindurchgehen.
Bei dieser Ausführungsform ist die Heizkammer 49
kreisrund.
Die Fig. 3 zeigt die allgemeine Struktur des Reaktors zum
Beheizen oder Erhitzen des Substrats 10 und des zugehörigen
Suszeptors 15. Die in dieser Querschnittdarstellung
wiedergegebene Vorrichtung ist nicht vollständig. Es fehlen
z. B. die Vorrichtung zum Erzeugen der gleichförmigen
oder gleichmäßigen Gasströmung in Richtung gegen das Substrat
sowie die zum Tragen des Substrats nötigen Strukturen
oder Bauteile. Wiedergegeben sind jedoch die sich auf
das Beheizen oder Erwärmen des Suszeptors 15 und des Substrats
10 ziehenden Teile der Vorrichtung. Der Reaktor besteht
aus zwei kreisförmigen Kammern 49, von denen sich eine
oberhalb und eine unterhalb der Substrat-Suszeptor-Kombination
befindet. Der Zweck der Reaktorkonfiguration besteht
darin, eine Umgebung zu schaffen, die so weit, wie
dies möglich ist, für das Substrat und den zugehörigen
Suszeptor eine gleichförmige Strahlung bewirkt. Wenn die
Strahlung gleichmäßig ist, wird die Temperatur der Substrat-
Suszeptor-Kombination in dem Maße gleichmäßig sein,
daß auch Wärmeverluste gleichmäßig sind. Der obere Teil
hat einen kreisrunden Oberflächenbereich mit einem zylindrischen
Seitenteil. Durch den zylindrischen Teil der
Kammer 49 hindurch sind eine Reihe von parallelen Heizlampen
50 eingefügt. Die Oberfläche der oberen Kammer ist
mit einem diffusen reflektierenden Material überzogen, z. B.
mit einer Goldplattierung, und die Seiten der Kammer sind
mit einem diffusen oder spiegelnden reflektierenden Material
überzogen. Bei dieser Ausführung ist die untere Kammer
49 gleich oder ähnlich der oberen Kammer mit der
Ausnahme, daß die Lampen 15 im wesentlichen senkrecht zu
den Lampen in der oberen Kammer angeordnet sind. Der Boden
und die Seitenflächen der Kammer 60 weisen Überzüge gleich
denjenigen, die für die obere Kammer beschrieben wurden, auf.
Zwischen den beiden Kammern befindliche Öffnungen 71, die
zum Einführen von Gas in den Hohlraum sowie für andere
Funktionen verwendet werden, sind wesentlich, weil dieser
Bereich kühl ist und die Tendenz hat, ungleichmäßige Wärmeverluste
vom Umfang des Substrats her hervorzurufen.
Bei der Ausführungsform gemäß Fig. 4 hat die obere Kammer
49 eine ähnliche Konfiguration wie die obere Kammer der Ausführungsform
gemäß Fig. 2. Die Lampen 50 der oberen Kammer
sind vorhanden, das diffuse reflektierende Material 52 ist
auf die obere Fläche aufgebracht und die Seitenflächen
können entweder einen diffusen oder einen spiegelnden reflektierenden
Überzug 53 aufweisen. Unter der oberen Kammer
befindet sich eine zweite Kammer 61. Die Kammer 61
weist eine Oberfläche 54 auf, die an der Seite und einem
Teil des Bodens mit einem diffusen Reflektormaterial überzogen
ist, das z. B. ein Reflektionsvermögen in der
Größenordnung von 0,95 aufweist. In der Mitte des kreisrunden
Bodenteiles der Kammer befindet sich ein kreisförmiger
Bereich 55, der einen diffus reflektierenden Überzug
hat, dessen Reflektionsvermögen geringer ist als dasjenige
der anderen Teile, wobei das Reflektionsvermögen bei der
beschriebenen speziellen Konfiguration in der Größenordnung
von 0,8 liegt. Die untere Kammer 61 wird dafür benützt,
die Substrat-Suszeptor-Kombination unter Verwendung
von Strahlung von der oberen Kammer her zu beheizen. Auch
hier ist wieder ein Durchlaß 71 vorhanden, der zu einem
ungleichmäßigen Strahlungsfeld führt.
Die Fig. 5 zeigt eine unterschiedliche Konfiguration für
die Heizkammern. Bei dieser Ausführungsform ist die Kammer
49 im wesentlichen rechteckig bzw. quadratisch. Auch
hier sind wieder Heizlampen 50 durch die Kammer hindurch
eingesetzt, um die Beheizung der Substrat-Suszeptor-Kombination
durch Strahlung zu bewirken. Diese Konfiguration
hat den Nachteil, daß die Symmetrie der Substrat-Suszeptor-
Kombination in der Kammerkonfiguration nicht vorhanden ist.
Es wurde aber gefunden, daß trotz des Fehlens der axialen
Symmetrie diese Konfiguration eine gleichmäßige Beheizung
der Substrat-Suszeptor-Kombination ergeben kann.
Die Fig. 6 zeigt eine Ausführungsform zum Beheizen einer
Substrat-Suszeptor-Kombination, die die Kammerkonfiguration
gemäß Fig. 5 benützt. Zusätzlich dazu wird die von
den Heizlampen 50 ausgesandte Strahlung durch Parabol-
Reflektoren 53 reflektiert. In der Praxis können die Parabol-
Reflektoren durch andere geometrische Oberflächen-
Konfigurationen angenähert werden. Der Parabol-Reflektor
richtet die reflektierte Strahlung parallel, wodurch die
Gleichmäßigkeit der auf ausgewählte Bereiche der Substrat-
Suszeptor-Kombination auftreffenden Strahlung vergrößert
wird. Wie bei der in Fig. 3 dargestellten Ausführungsform
sind die Heizlampen in der unteren Kammer im
wesentlichen senkrecht zu den Heizlampen der oberen Kammer
angeordnet, um etwas von der Strukturierung, die die auf
die Substrat-Suszeptor-Kombination auftreffende Strahlung
aufgrund der Verwendung von diskreten Wärmequellen erhält,
auszumitteln. Wie für die obere Kammer dargestellt, können
die Parabol-Reflektoren für die inneren Heizlampen
der Kammer durch eine Ebene ersetzt werden. Zusätzlich
dazu können die äußeren Parabol-Reflektoren der Reflektorgruppe
so ausgerüstet sein, daß die Reflektoren geneigt
werden können, womit eine zusätzliche Steuerungsmöglichkeit
für die Umgebung der Substrat-Suszeptor-Kombination
geschaffen wird.
Die Funktion der Kammern des epitaxialen Reaktors besteht
darin, von der Perspektive des Substrats und des zugehörigen
Suszeptors her einen Hohlraum zu schaffen, der ein
gleichmäßiges Strahlungsfeld zum Beheizen der Substrat-
Suszeptor-Kombination aufweist. Wegen der Notwendigkeit,
das Gas mit den Abscheidematerialien einzuführen und abzuführen,
sowie wegen der Notwendigkeit, die Substrat-Suszeptor-
Kombination selbst einzubringen und zu entfernen,
kann der Reaktor wegen der erforderlichen Ausnehmungen
zum Erfüllen dieser zugehörigen Funktionen keine wirklich
gleichmäßige Strahlungsquelle haben. Die Öffnung 71 kann
daher bei den Bemühungen, eine Umgebung gleichmäßiger Temperatur
für die Substrat/Suszeptor-Kombination zu schaffen,
kritisch sein, weil die Temperaturverluste durch die
Öffnung hindurch die Kombination nicht gleichmäßig kühlen.
Die Bereiche, die keine Strahlungsquelle enthalten, können
jedoch relativ schmal gemacht werden. Die Bereiche, in denen
eine Strahlungsquelle fehlt, sind dem Umfang der Substrat-
Suszeptor-Kombination nächstgelegen. Um diese Ungleichmäßigkeit
im Strahlungsfeld zu korrigieren, können die
endseitigen Lampen der Reihe 50 mit eine höhere Temperatur
und damit eine höhere Strahlungsintensität hervorrufenden
höheren Energieniveaus als die anderen Heizlampen
betrieben werden. Diese zusätzliche Beheizung kann die
sonst niedrigere Strahlungsintensität am Umfang des Substrats
kompensieren. Die Schaffung einer axial gleichmäßigen
Strahlung kann des weiteren dadurch begünstigt werden,
daß die Heizlampen in der unteren Kammer unter einem
großen Winkel, vorzugsweise 90°, bezüglich der Lampen in
der oberen Kammer angeordnet werden. Außerdem wird zur
Schaffung einer gleichmäßigeren thermischen Umgebung an
den verschiedenen Teilen der Kammer ein diffuser Reflektor
im Unterschied zu den Parabol-Reflektoren angeordnet,
um so weit wie möglich einen konstanten Temperaturbereich -
von jedem Bereich des Substrats aus gesehen - zu schaffen.
Außerdem kann die Substrat-Suszeptor-Kombination durch
eine nicht dargestellte Vorrichtung gedreht werden, um
jegliche Abweichungen von der Einhaltung einer Umgebung
gleichmäßiger Temperatur für die Substrat-Suszeptor-Kombination
weiter auszumitteln.
Bei der Ausführungsform gemäß Fig. 4 ist nur die obere
Kammer mit Wärme erzeugenden Lampen versehen. Die untere
Kammer erzeugt Energie nicht direkt, sondern reflektiert
Energie, die aus der oberen Heizkammer stammt. Durch
Computersimulation wurde gefunden, daß es zur Erzielung
einer gleichförmigen Temperatur bei dieser Konfiguration
nötig ist, über einen Bereich 55 mit einem Reflektionsvermögen
zu verfügen, das einen Zwischenwert hat. Der Bereich
55 bewirkt, daß das Zentrum der Substrat-Suszeptor-Kombination
im Vergleich zum Umfang eine reflektierte Strahlung
von niedrigerer Intensität empfängt und so die oben besprochene
ungleichmäßige Strahlung kompensiert wird. Wie
oben erwähnt, enthalten die Bereiche 54 einen diffusen
Reflektor mit einem Reflektionsvermögen in der Größenordnung
von 0,95, während der Bereich 55 einen diffusen
Reflektor mit einem Reflektionsvermögen von Durchmesser
des Bereichs 55 beträgt etwa 2/3 des Durchmessers der
Suszeptor-Substrat-Kombination. Diese Beziehung ist jedoch
eine Funktion der Größe des Substrats, des Abstandes
zwischen dem Substrat und der reflektierenden Oberfläche
und weiterer struktureller Dimensionen.
Es ist offensichtlich, daß zusätzliche thermische Energie
in den Außenbezirken der Kammer durch eine größere Dichte
von Lampen in dem äußeren Bereich erhalten werden kann. Des
weiteren kann die Dimension der Kammer ausgedehnt werden,
so daß die Öffnung 71 einen kleineren Einfluß auf das ungleichmäßige
Feld hat, das die Substrat/Suszeptor-Kombination
empfindet. Die Verwendung rechteckiger bzw. quadratischer
Heizkammern schafft eine Situation, bei der die
Ecken der Heizkammer eine größere effektive Kammer ergeben
und den Einfluß der Öffnung 71 vermindern können.
Dem Fachmann ist es bekannt, daß verschiedene, mit dem
Substrat in Wechselwirkung tretende Gase im wesentlichen
eingeschlossen sein müssen, während sie in der Nähe des
Substrats fließen. Der Einschluß kann durch Materialien
wie Quarz bewirkt werden, die einen großen Teil der
Strahlung durchlassen. Die Eigenschaften von Quarz oder
anderweitigen Einschlußmaterialien, wie die Absorbtions-
oder Emissions-Charakteristiken, müssen bei der Bestimmung
der thermischen Umgebung der Substrat/Suszeptor-Kombination
jedoch in Betracht gezogen werden.
Die vorstehende Beschreibung soll nur die Merkmale und
die Arbeitsweise der bevorzugten Ausführungsformen näher
erläutern und bezweckt nicht eine Einschränkung des
Rahmens der Erfindung. Es ist offensichtlich, daß der
Fachmann vielerlei Abwandlungen vornehmen kann, ohne daß
der Erfindungsgedanke und der Rahmen der Erfindung überschritten
werden.
Claims (24)
1. Vorrichtung zum Heizen oder Erwärmen eines kreisförmigen
Substrats, gekennzeichnet durch
eine im wesentlichen entlang der Achse des Substrats und auf einer Seite von diesem angeordnete Kammer,
eine Vielzahl von sich durch die Kammer hindurch erstreckenden Heizlampen, und
einen Überzug zum Reflektieren der Strahlung von den Lampen in der Kammer.
eine im wesentlichen entlang der Achse des Substrats und auf einer Seite von diesem angeordnete Kammer,
eine Vielzahl von sich durch die Kammer hindurch erstreckenden Heizlampen, und
einen Überzug zum Reflektieren der Strahlung von den Lampen in der Kammer.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine zweite Kammer auf einer zweiten Seite des Substrats,
wobei die Lampen in der zweiten Kammer etwa
senkrecht zu den Lampen der ersten Kammer angeordnet
sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß jeder Lampe ein Parabol-Reflektor zugeordnet ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß ausgewählten Heizlampen Parabol-Reflektoren
zugeordnet sind.
5. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kammern im wesentlichen rechteckig
bzw. quadratisch sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine zweite Kammer, die auf einer zweiten Seite des
Substrats entlang einer Achse des Halbleitersubstrats
angeordnet ist, wobei diese Kammer einen Überzug
von hohem Reflektionsvermögen aufweist und des
weiteren einen symmetrisch um die Achse des Substrats
herum angeordneten überzogenen Bereich von niedrigerem
Reflektionsvermögen beinhaltet.
7. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die den Lampen zugeführte Energie eine
Funktion der Lampenposition ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Abstand zwischen den Lampen eine
Funktion der Lampenanordnung bezüglich des Substrats
ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Substrat gedreht wird.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das Substrat in einem epitaxialen
Reaktor angeordnet ist und die Vielzahl von Lampen
so angeordnet und erregt wird, daß über das Substrat
hinweg eine gleichmäßige Temperatur geschaffen
wird.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, gekennzeichnet durch
einen reflektierenden Überzug im Innern der zweiten
Kammer, der einen axial symmetrischen Bereich mit
einer Bedeckung aufweist, die ein Reflektionsvermögen
von niedrigerem Wert hat als der Rest des
Überzugs.
12. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite Kammer eine Vielzahl von
Strahlungsmitteln aufweist, die so angeordnet sind
und erregt werden, daß eine gleichmäßige Temperaturverteilung
durch den von beiden Kammern gebildeten
Bereich erhalten wird.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß jedes der Vielzahl von Strahlungsmitteln
eine Strahlungsquelle mit zugeordnetem Parabol-
Reflektor aufweist.
14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet,
daß das kreisförmige Substrat gedreht
wird.
15. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Überzug aus einem Material besteht,
das einen hohen Reflektionskoeffizienten aufweist,
auf einer zweiten Seite des kreisförmigen Substrats
eine zweite Kammer angeordnet ist, die Wände aufweist,
die mit einem Material überzogen sind, das
einen hohen Reflektionskoeffizienten aufweist, wobei
beide Kammern einen Hohlraum für das kreisförmige
Substrat bilden, und
die Heizlampen das Substrat in dem Hohlraum gleichmäßig
beheizen bzw. erwärmen.
16. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
daß eine zweite Vielzahl von Heizlampen
durch die zweite Kammern hindurch angeordnet ist,
wobei die Vielzahl der Lampen der Kammen ungefähr
senkrecht zu der zweiten Vielzahl von Heizlampen der
zweiten Kammer angeordnet ist.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet,
daß jeder Heizlampe bei beiden Vielzahlen
von Heizlampen ein Parabol-Reflektor zugeordet ist.
18. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet,
daß eine gleichmäßigere Temperatur dadurch
erzielt wird, daß die Lampen in den Kammern in
einer vorgewählten räumlichen Beziehung relativ zueinander
angeordnet werden und/oder die den Lampen
zugeführten Erregerenergie variiert wird.
19. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
daß ein im wesentlichen axial symmetrischer
Bereich ein Reflektionsvermögen aufweist, das kleiner
ist als das restliche Reflektionsvermögen in der
zweiten Kammer.
20. Vorrichtung nach Anspruch 15, gekenzeichnet durch
eine Vorrichtung zum Drehen des Substrats.
21. Verfahren zum gleichmäßigen Beheizen oder Erwärmen
eines kreisförmigen Substrats gemäß Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß
eine Kammer auf jeder Seite des Substrats angeordnet
wird,
die Heizlampen durch die Wände der Kammer hindurch
in zumindest eine Kammer erstreckt werden und
die den Heizlampen zugeführte Energie so eingestellt
wird, daß das Substrat gleichmäßig beheizt oder erwärmt
wird.
22. Verfahren zum Beheizen oder Erwärmen eines kreisförmigen
Substrats gemäß Anspruch 21, dadurch
gekennzeichnet, daß das Reflektionsvermögen der
Wände einer zweiten Kammer eingestellt wird, wobei
ein symmetrischer Teil ein Reflektionsvermögen aufweist,
das einen vom Reflektionsvermögen eines verbleibenden
Teiles der Kammerwände unterschiedlichen
Wert aufweist.
23. Verfahren zum Beheizen oder Erwärmen eines kreisförmigen
Substrats gemäß Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die erste und die zweite Kammer
mit sich durch sie hindurch erstreckenden Heizlampen
versehen sind und die zweite Kammer in Stellung gebracht
wird, bis sich Heizlampen der Kammer unter
einem Winkel von etwa 90° befinden.
24. Verfahren zum Beheizen oder Erwärmen eines kreisförmigen
Substrats gemäß Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet,
daß das Substrat gedreht wird.
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