DE3022962A1 - Verfahren zum regenerieren einer chemischen verkupferungsloesung - Google Patents
Verfahren zum regenerieren einer chemischen verkupferungsloesungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Regenerleren
einer chemischen Verkupferungslösung durch selektives
Entfernen der die chemische Abscheidungareaktion inhibierenden Bestandteile aus der gebrauchten chemischen
Verkupferungslösung.
Verkupferungslösung.
Eine chemische Verkupferungslösung enthält Kupfer!onen,
ein Reduktionsmittel für Kupferionen, ein Chelatbildungsmittel für Kupferionen und ein Alkalimetallhydroxid als wesentliche
Bestandteile.
Bei fortgesetzter Verwendung einer chemischen Verkupferungslösung
mit einer solchen, vorstehend angegebenen Zusammensetzung sammeln sich Bestandteile mit einer, inhibie-
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renden Wirkung auf die chemische Abseheidungsreaktion in
der Verkupferungslösung an. Die in der chemischen Verkupferungslösung
verbrauchten Kupferionen werden nämlich ergänzt, um ihre optimale Konzentration aufrechtzuerhalten.
Dabei werden die Kupferionen in der Form einer wässerigen Lösung einer Kupferverbindung ergänzt. So
sammeln sieh Gegenanionen für die Kupferionen in der Verkupferungslösung
durch wiederholtes Ergänzen der Kupferionen an. Für die Ergänzung wird aus wirtschaftlichen
Gründen Kupfersulfat als die Kupferverbindung verwendet,
und so sammeln sieh üblicherweise Sulfationen in der Verkupferungslösung
an.
Als Reduktionsmittel für Kupferionen wird hauptsächlich
ebenfalls aus wistschaftliehen Gründen,Formaldehyd verwendet.
Formaldehyd kann Kupferionen bei der Abscheidung zu metallischem Kupfer reduzieren, während der Formaldehyd
selbst dadurch zu Ameisensäure oxidiert wird und Formiationen gebildet werden. Daher wird der bei der chemischen Verkupferung
verbrauchte Formaldehyd ergänzt, um seine optimale Konzentration aufrechtzuerhalten. Demgemäß sammeln sich in
der Verkupferungslösung durch wiederholte Ergänzung des Formaldehyds
Formiationen an.
Eine chemische Verkupferungslösung 1st allgemein alkalisch
und absorbiert daher Kohlendioxid aus der Luft, so daß sich Karbonationen in der Verkupferungslösung ansammeln.
Außerdem setzt man einer chemischen Verkupferungslösung
eine wässerige Lösung eines Alkalimetallhydroxide zu, um den pH-Wert einzustellen, der sich während der chemischen.
Abscheidereaktion geändert hat. Als das Alkalimetallhydroxid wird aus wirtschaftlichen Gründen hauptsächlich Natriumhydroxid
verwendet.
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Anionen, wie ζ. B. Sulfationen, Formlationen, Kartoonationen
usw., fangen, wenn sie sich, wie oben erläutert, in einer chemischen Verkupferungslösung angesammelt haben,
zweiwertige Kupferionen ein, was zu einer Verschlechterung der Stabilität der Verkupferungslösung, einer Zersetzung
der Verkupferungslösung und zu einer Herabsetzung der mechanischen Eigenschaften der Abscheidesehicht führt.
Bisher wird, wenn die chemische Verkupferungslösung solche angesammelte Anionen, wie oben erwähnt, enthält,
SO2," in der Verkupferungslösung daraus als Na2SO^ durch
Ausfällung entfernt, und die erhaltene Verkupferungslösung wird dann wieder verwendet (JP-OS 119 428/77). Jedoch ist
diese Verfahrensweise wegen sehr hoher Besehichtungschemikalien- und Besehiehtungslösungsbeseitigungskosten nicht
vorteilhaft, und außerdem wurde so keine Abscheidesehicht mit guter Qualität erhalten. t
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
zum Regenerieren einer chemischen Verkupferungslösung zu entwickeln, das unter Überwindung der erwähnten Nachteile
des bekannten Verfahrens dazu geeignet ist, selektiv nur die Abscheidereaktion inhibierende Bestandteile aus der
chemischen Verkupferungslösung zu entfernen und dadurch die Brauchbarkeitsdauer der Verkupferungslösung erheblich zu
verbessern, die Verkupferungslösung zu stabilisieren und dadurch auch die Qualität der Abscheidesehicht zu verbessern
und die Beschlchtungskosten zu senken.
Diese Aufgabe der Erfindung läßt sich durch irgendeines der folgenden Verfahren (a) bis (d) lösen.
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(d) Der pH-Wert einer VerkupferungslSsung wird auf 2-8 Justiert, um CO, zu entfernen, das bei der Elektrodialyse
eine niedrige selektive Durchlässigkeit hat, und gleichzeitig die selektiven Durchlässigkeiten einer Gruppe
der in der VerkupferungslSsung angesammelten Ionen einander vorab im wesentlichen gleicb/zujbachen, und dann wird
die VerkupferungslSsung dem erwähnten Verfahren (e) unterworfen,
oder der pH-Wert der VerkupferungslSsung wird auf über 8, jedoch nicht hSher als 11 justiert, um vorab
-2 -
CO, in HCG, umzuwandeln, und dann wird die VerkupferungslSsung
dem oben erwähnten Verfahren (c) unterworfen, um
-2 — -2
SOw , HCOO und CO, zu entfernen, die eine Ihhibier-
SOw , HCOO und CO, zu entfernen, die eine Ihhibier-
wirkung auf die chemische Abscheidereaktion haben.
Jedoch ist es nach dem Verfahren (a) schwierig, CO,"
in der VerkupferungslSsung zu entfernen, und es entweicht etwas Kupferchelatverbindung.
Mach dem Verfahren (b) entweicht etwas Kupferchelatverbindung. Nach dem Verfahren (ö)trfbt . kein Entweichen der Kupfer-
Mach dem Verfahren (b) entweicht etwas Kupferchelatverbindung. Nach dem Verfahren (ö)trfbt . kein Entweichen der Kupfer-
_p
chelatverbindung auf, jedoch läßt sieh CO, überhaupt
nicht entfernen.
Nach dem Verfahren (d) kann CO, entfernt werden, und
es tritt kein Entweichen der Kupferchelatverbindung auf.
Wenn die Regenerierwirkung auf die chemische VerkupferungslSsung nach dem Maß der Festigkeit der Abseheideschicht
beobachtet wird, haben sämtliche Verfahren (a)-(d) ziemlich gleiche Effekte, doch ist die Wirkung der Steuerung
der Kupferionenabgabe bei der Regenerierung in der Reihenfolge
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(a) ^ (c) ^ (b) ^ (d) höher.
Bb Rahmen der Erfindung hat das Chelatbildungsmittel fUr
Kupferionen mit dem Wesen der Erfindung nichts zu tun, und dementsprechend kann die Erfindung auch auf die Regenerierung
einer chemischen Verkupferungslösung angewandt werden,
die ein anderes Chelatbildungsmittel als die lh den Beispielen angegebenen enthält, d. h. ein Chelatbildungsmittel,
das sich nicht zur Bildung chellerter Verbindungen des einwertigen Kupferions,sondern zur Bildung von Chelatverblndungen
des zweiwertigen KupferIons eignet, wie z. B. Nitriltriessigsäure, Imindiessigsäure, Zyklohexandianurtetraessigsäure
und Triäthyltetraminhexaessigsäure, ihre
Alkalimetallsalze, ihre Phosphonsäureabkömmllnge, Phosphlnsäureabkömmlinge
usw.
Gegenstand der Erfindung, womit die genannte Aufgabe gelöst wird, ist ein Verfahren zum Regenerieren einer chemischen
Verkupferungslösung, mit dem Kennzeichen, daß man eine Lösung, die Kupferionen, ein Reduktionsmittel für
Kupferionen, ein Komplexblldungsraittel für Kupferionen und ein Alkalimetallhydroxid als wesentliche Bestandteile enthält
und beim chemischen Verkupfern verwendet wurde, in eine Elektrodialysezelle leitet, die abwechselnd mit Anionenaustauschmembranen'
und Kationenaustausohmembranen ausgerüstet ist, und Gegenionen für Kupferionen, durch Oxidationsreaktion des Reduktionsmittels gebildete Ionen und aus in
der Yerkupferungslösung gelöstem Kohlendloxid gebildetes CO, oder HCO, , die eine InhibierwiEkung auf die chemische
Verkupferung haben, und Alkallmetallionen, die frei von einer Inhibierung der chemischen Verkupferung sind, welche
inhibierenden und nicht inhibierenden Ionen sich In der
gebrauchten Veckupferungslösung angesammelt haben, durch Elektrodialyse
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Ausgestaltungen und Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens sind in den Unteransprüchen 2 bis 4 gekennzeichnet.
Die Erfindung kann auch auf die Regenerierung einer chemischen Verkupferungslösung angewandt werden, die als
Reduktionsmittel für Kuperionen anfangsgehärtete Erzeugnisse ▼on Formaldehyd oder Glyeolaldehyd, Paraformaldehyd,
Dimethy!hydantoin, Glyoxal und diesen ähnliehe Produkte,
wie ihre Abkömmlinge, Alkalimetallborhydride, Borane usw. enthält.
Weiter kann die Erfindung auch auf die Regenerierung
einer chemischen Verkupferungslösung angewandt werden, die Xmsätze zur Verbesserung der Stabilität der Verkupferungslösung,
der mechanischen Eigenschaften der abgeschiedenen Schicht und der Abscheidungsgeschwindigkeit, wie z. B.
Äthoxy-pberflächenaktivmittel, zur Bildung regelmäßiger
Tetraederkomplexe s mit einwertigen Kupferionen geeignete
Chelat»,bildungsmittel, Schwefelverbindungen, Seltenerde lernen?
te usw^ enthält.
Außerdem lÄßt sich die Erfindung auch auf die Regenerierung
einer chemischen Verkupferungslösung anwenden, die als Kupferquelle für die Beschichtungslösung alle wasserlöslichen
Kupferverbindungen in der Segenwart des Chelatbildungsmittels für Kupferionen, z, B. basisches Kupferkarbonat,
Kupferhydroxid, Kupfernitrat, Kupferhalogenide, Kupferformiat, Kupferacetat, Kupferperehlorat usw#/enthält.
Weiter läßt sich die Erfindung auch auf die Regenerierung einer chemischen Verkupferungslösung anwenden, die als
BAD
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ein pH-Wert-Steuerungsmittel ein Alkalimetallhydroxid, vorzugsweise
NaOH und KOH, enthält.
In den oben erwähnten Verfahrensarten (c) und (d) ist es wünschenswert, unter Berücksichtigung des Prinzips der
Erfindung zur Abgabe der inhibierenden Ionen in der Form einwertiger Ionen geeignete Verbindungen zu wählen, doch
auch wenn die Verbindungen zur Abgabe einwertiger Ionen ungeeignet sind, geht der Effekt der Erfindung nicht verloren,
indem man die Ionen durch einwertige Ionen mittels zusätzlicher Maßnahmen ersetzt oder die Ionen In einwertige Ionen
umwandelt.
Als Säure zur Behandlung angesammelter Ionen für den Einsatz bei der pH-Justierung kann jede Säure verwendet
werden, sofern der Säurerückstand der Säure keinen merklichen ungünstigen Effekt auf die chemische Verkupferungsreaktion
hat, und eine besonders geeignete Säure 1st die, die sich zur Abgabe eines Säurerückstands (Anions) eignet, der mit
dem Gegenanion der Kupferionen oder der durch Oxidationsreaktion des verwendeten Reduktionsmittels gebildeten Ionen
identisch ist. Beispielsweise sind Schwefelsäure, Ameisensäure, Essigsäure und Perchlorsäure vorzuziehen.
Die Erfindung wird anhand der in der Zeichnung veranschaulichten Ausführungsbeispiele näher erläutert; darin
zeigen:
Fig. 1 und 2 Flußpläne zur Veransohaulichung von Regeneriersystemen
gemäß Ausführungsbeispielen der Erfindung; und
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-ίο _
Pig. 5 ein Diagramm zur Veransehauliehung der Beziehungen
zwiBehen der Kohlendioxidkonzentration und der
Stehzeit einer chemischen VerkupferungslSsung bei variierten pH-Werten.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nun im einzelnen besehrieben.
Bei der Elektrodialyse sind bevorzugte Ionenaustauschmembranen
selektiv für einwertige Ionen durchlässige Membranen und selektiv für einwertige und zweiwertige Ionen durchlässige Membranen sowohl für die Anionen- als auch für die
Kationenaustausehmembranen, und im Fall der Anionenaustausehmembran
sind selektiv für einwertige Ionen durchlässige Membranen besonders bevorzugt.
Die chemische Verkupferung wird in der folgenden Weise durchgeführt: Eine rostfreie Stahlplatte wird zunächst in der
üblichen pyrophosphorsauren KupfergalvanisierlSsung zur
Bildung von Keimen für die chemische Verkupferung galvanisiert und dann der chemischen Verkupferung bis zu einer Abscheidedicke
von etwa 30 yum unterworfen. Dann wird die erhaltene
Abscheideschicht abgeschält, , auf ein Format von 1 cm χ 10 cm
geschnitten und als Probenstüeke für eine Zugprüfvorrichtung
verwendet, wodurch die mechanischen Eigenschaften der Abscheideschicht
gemessen werden.
Die Konzentration der Hauptbestandteile einer chemischen VerkupferungslSsung können während der Abscheidung automatisch
erfaßt und mittels einer automatischen Steuereinrichtung zum
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automatischen Ausgleich der Verarmungen auf einer bestimmten
Konzentration gehalten werden.
Die Stabilität einer Beschiehtungslösung wird durch Sichtbeobachtung eines Punktes bestimmt, wo eine Beschichtungsoberfläche
beginnt, dunkelbraun zu werden, oder wo Kupfer beginnt, sich erheblich auf der Wand eines Beschichtungstanks
aus Jenaer Glas abzuscheiden, was als Beginn der Zersetzung der Beschiehtungslösung gewertet wird.
(a) Chemische VerkupferungslSsung:
13 g 40 g 5 ml
Menge, um den pH-Wert auf 12,5 zu bringen
20 mg 100 mg
0,01 mg
Menge zur Auffüllung auf 1 1.
EDTA-2Na 37 £iges Formalin
NaOH
oC, cC' -Dipyridyl
Polyäthylenglyeolstearyl-
y amln
IC2S Wasser
Abscheidetemperatur Abscheidebelastung
70 °C 1 dm2/l
(b) Kupferionen-ErgänzungslSsung:
.5HgO 200 g
Menge zur Auffüllung auf
Wasser
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(c) Formaldehyd-Ergänzungslösung:
Formalin 300 ml
Wasser Menge zur Auffüllung auf
1 1.
(d) pH-Steuerungs-Ergänzungslösung:
NaOH 200 g
Wasser Menge zur Auffüllung auf
1 1.
Die folgenden Ionen sammeln sich in der chemischen Verkupferungslösung
aus der Zusammensetzung der chemischen Terkupferungslösung und der Zusammensetzung der Ergänzungslösungen
durch den Ablauf der Besehiohtungsreaktion an: Na+, SO^"2, HGOO" und CO3"2.
Eine Beschichtung bis zur Dicke von etwa J>0 xm, wird als
ein Besehichtungsrersuch angenommen,und wenn die Beschichtung
wiederholt durchgeführt wird, erhält man die folgenden Ergebnis se hinsichtlich der mechanischen Eigenschaften der
Abscheideschieht, der Stabilität der Abscheidelösung und der Konzentrationen der in der Abscheidelösung angesammelten
Bestandteile, wie sie in der Tabelle 1 aufgeführt sind.
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Beschiehtungsversuch | 1« | 2. | δ. | 4. . | 5. |
Dehnung {%) | 5,6 | *,* | 2,3 | UnMb'g-' 1 ich/zu messen |
|
Zugfestigkeit (kg/mm2) | 4 8f0 | "5V2 | 5 5,7 | 5 9,4 | W |
Sulfatiönenkonzehträtion (M/l) |
I · 0^09 5 |
0,1 4 | 0,1 8 | 0,22 | H |
Formlat i pnenkonzentratlon (M/l) |
r 0,085 |
0,17 | 0,26 | 0,34 | tt |
Karbonat iijneni onenlösun« (M/l) |
13,090 | 0,1 8 | 0,23 | 0,27 | W |
Natriumi pnenkonzentrat i on (M/l) |
0,85 | ^s | \f | 1 M | |
Stabilität der Besohich- - tungslösung |
gut | gut | gut | etwas Insta bil . |
zer- .. setzt |
Wie aus der Tabelle 1 ersichtlich ist, sinken die mechanischen
Eigenschaften der Abscheideschicht und die Stabilität der AbscheidelSsung durch die Ansammlung der vier Ionenbestandteile,
und die Abscheidelösung wird beim fünften Beschichtungsversuch zersetzt.
Die Konzentrationen der angesammelten Bestandteile werden duroh Flüssigchromatographie und Absorptiometrle bestimmt.
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- i4 -
Eine Elektrodialyse der chemischen Verkupferungslösung
wird zuerst nach vier Versuchen der chemischen Verkupferung unter den gleichen Bedingungen wie oben unter Verwendung
der gleichen chemischen Verkupferungslösung und Ergänzungslösungen wie oben und danach nach Jeweils drei Versuchen
der chemischen Verkupferung zur Regenerierung der chemischen Verkupferungslösung durchgeführt, wobei die Zusammensetzungen
eäjier Elektrodenlösung und einer Konzentrati ons r
lösung, die im folgenden erläutert werden, folgende sind:
(e) Konzentrationslösung:
HCOONa 34 g
Wasser Menge'zur Auffüllung'auf 1
(f) Elektrodenlösung:
HGOONa 68 g
Wasser Menge'zur Auffüllung auf
Das System für die Elektrodialyse, wie es in Fig. 1 dargestellt ist, wird in der folgenden Arbeitsweise verwendet
:
Eine chemische Verkupferungslösung in einem Beschichtungstank 1 wird stets im Umlauf geführt und gemischt, indem man
die Lösung mittels einer Umlaufpumpe 2 durch ein Ventil J führt. Die Lösung wird„„von der Umlauf leitung abgezweigt
und mittels einer Umlaufpumpe 5 dureh ein Filter 4 zu einem
Kühler 8 geleitet, um die Lösung auf Raumtemperatur abzukühlen, und anschließend einer Elektrodialysezelle 9 zugeführt.
Die die Elektrodialysezelle 9 verlassende ehemische
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Verkupferungslösung wird zum Beschiehtungstank 1 zurückgeführt.
Der Druck in der Elektrodialysezelle 9 wird bei 0,05 at gehalten, indem man ein Ventil 6 entsprechend der Anzeige
eines Druckmessers 7 in der abgezweigten Umlaufleitung
steuert. Elektrodenlösung in einem Elektrodenlösungstank wird mittels einer Umlaufpumpe 11 in die Elektrodialysezelle
9 eingeführt, und der Druck in der Elektrodialysezelle 9 wird auf 0,05 at gehalten, indem man ein Ventil 12
entsprechend der Anzeige eines Druokmessers 13 steuert.
Die die Elektrodialysezelle 9 verlassende Elektrodenlösung wird zum Elektrodenlösungstank 10 rückgeführt.
Konzentrationslösung in einem Konzentrationslösungstank wird mittels einer Umlaufpumpe 15 in die Elektrodialysezelle
9 eingeführt, und der Druck in der Elektrodialysetelle wird auf 0,05 at gehalten, indem man ein Ventil 16 entsprechend
der Anzeige eines Druckmessers 17 steuert. Die die
^Elektrodialysezelle 9 verlassende Konzentrationslösung
wird zum-Konzentrationslösungstank 14 rückgeführt. Die
Elektrodialysezelle 9 hat eine verfügbare Membranober-
flächenausdehnung von 209 cm durch die Verwendung von jeweils 11 Platten von Anionenaustausehmembranen ("Cellemion
AMV") und Kationenaustauschraembranen ("Cellemion CMV"). In
jeder der Entsalzungskammern, in die die chemische Verkupferungslösung
eingeführt wird, ist die Kationenaustausohmembran an der Seite zur Kathode hin angeordnet, und die
Anionenaustauschmembran ist an der Seite zur Anode hin
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- .16 -
angeordnet, und es sind neun Entsalzungskammern vorgesehen.
Die Einschaltung und die Unterbrechung der Elektrodialyse werden in der folgenden Weise vorgenommen.
Die themische Verkupferungslösung wird mit einem Durchsatz
von-,50 ml/h durch eine Konstantdosierpumpe 18 während
der Beschichtung abgezogen und einer Entsalzungskammer 20 in einer kleinen Elektrodialysezelle 19 zur Erfassung der
angesammelten Ionen zugeführt, wo ein Potential von ψ an die Anode und Kathode 22 in der Elektrodenkaramer von
einer Konstantspannungsquelle 21 angelegt wird. In der Entsalzungskammer 20 sind eine Kationenaustauschmembran
("Cellemion CMV") 2J>
und eine Anionenaustauschmembran ("Cellemion ASV") 24 angeordnet, so daß ^ede Membran einen
verfügbaren Membranoberflächenbereieh von 20 cm haben kann,
und die angesammelten Ionen in der chemischen Verkupferungslösung werden durch die Kationen- und Anionenaustauschmembranen
mittels Elektrodialyse bei konstanter Spannung dialysiert. Die Stärke des Dialysestroms wird durch einen
Strommesser 25 gemessen, und wenn die Stärke des gemessenen Stroms größer als der vorbestimmte Stromwert ist, werden
eine Konstantstroraquelle 26 und die Umlaufpumpen 5, 11 und automatisch oder von Hand eingeschaltet, um die Beschichtungslösung
zu regenerieren, während deren Antrieb automatisch oder von Hand unterbrochen wird, wenn die gemessene Stromstärke
geringer als der vorbestimmte Stromwert wird. Die
- -2 -2 Konzentrationen an HCOO , SO^ und CO, können in der
vorstehenden Weise erfaßt werden.
Die Regenerierung der chemischen Verkupferungslösung
wird im vorstehenden Regeneriersystem durchgeführt, währen^
die chemische Verkupferung wiederholt wird.
Der Stromwert des Strommessers 25 überstieg 0,55 A
zum ersten Mal beim vierten Beschichtungsversueh, und daher wurde die Beschichtungslösung der Elektrodialyse bei
einer Stromdichte von ήΐΑ/dm nach dem vierten Beschiehtungsversuch
unterworfen. Danach wurde die Besohichtungslösung der Elektrodialyse Jeweils 0,5-2 h nach je drei
Besehichtungsversuchen unter den gleichen Bedingungen, do h. nach dem vierten, siebten, zehnten, dreizehnten und
sechzehnten Beschichtungsversuch ungeführt, um die chemische Verkupferungslösung zu regenerieren. Die Ergebnisse
hiervon sind in der Tabelle 2 angegeben.
Wie man aus der Tabelle 2 ersieht, verschlechtern sich
die mechanischen Eigenschaften der abgeschiedenen Schicht
-2 - -? durch Ansammlung solther Ionen wie SO2, , HCOO , CO, und
Na+ in der Besehichtungslö'sung durch wiederholte Beschiehtungsversuche,
doch lassen sich die angesammelten Ionen durch Elektrodialyse beseitigen, und die mechanischen
Eigenschaften der abgeschiedenen Schicht können dadurch verbessert werden. Wie die Tabelle 2 zeigt, können die
mechanischen Eigenschaften der abgeschiedenen Schicht nach jedem Regeneriervorgang wieder auf die ursprünglichen Werte wie
mit einer frischen Verkupferungslösung gebracht werden. Als Ergebnis von insgesamt zehn Hegenerlersehritten wurde
gefunden, daß die BeschichtungslSsung die ganze Zelt stabil war und so ausgezeichnete mechanische Eigenschaften der
abgeschiedenen Schicht wie eine Dehnung von 3 % und eine
Zugfestigkeit von mehr als 45 kg/mm erhalten wurden.
Es wurde bei der Elektrodialyse auch gefunden, daß der selektive Durchdringungskoeffizient auf der Basis
von HCOO"1 als Bezugswert für SOj,"2 1,1, für CO "2 0,5,
für Cu-EDTA"2 0,15 und für EDTA"* 0,15 betrug und daß
die Ionenarten in der folgenden Reihenfolge leichter durchdringungsfähig sind:
"2- HCOO" *>
CO,"2 >>C-U-EDTA"2 ~
-2 - -2
So wurde gefunden, daß nur SO2^ , HCOO und C0_ , d. h.
nur die Abseheidereaktion inhibierende Bestandteile, selektiv aus der chemischen Verkupferungslösung entfernt werden
konnten und sich die Beschiehtungslösung so regenerieren ließ. Kationen in der regenerierten Beschichtungslösung
waren nur Alkalimetallionen, und demnach wurde gefunden, daß die Alkalimetallionen mit einem Stromwirkungsgrad von
etwa 100 % erfaßt werden konnten.
Es wurde außerdem festgestellt, daß die Abgabe des Chelatbildungsmittels für Kupferionen dureh einen Schritt
der Regenerierbehandlung so gering wie weniger als 2-3 % der
ursprünglichen Konzentration in der Beschichtungslösung war.
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Besehiohtungs- versuch |
1 | 2 | 3 | 4 | 5 . | 52,6 | 7 | 8 | 1 h | 1 4 ·: | 1 7 '. |
Dehnung (£) | 5,8 | V'' | 3,? | 2,5 | 5,0; | 0,1 2 | 3,1 | 5,5 | 5,3 | 5,2 | 5,2 |
Zugfestigkeit (kg/mm ) |
4<!y7 | 5 0,9 | 5 5,5 | 57,9 | 4 9,4 | 0,2 9 | 5 5,4 | 4 5,3 | 4 4,1 | 4 8,1 | 4 9,5 |
Sulfationenkon- zentration (ftA) |
0,1 0 | 0,1 4 | 0,1 8 | .0,22 | q.081 | 0,2 8 | 0,1 7 | 0,05 | 0,07 | 0,09 | 0,06 |
Formiationenkon- zentration (M/l) |
0,0 8 5 | 0,17 | O1 2 6 | 0,3 4 | 0,2 0 | 1,5 | 0,3 7 | 0,1 0 | 0,1 5 | C,1 7 | 0,1 8 |
Karbonationen- ι konzentration (M/l) |
0,085 | 0f1 7 | 0,2 3 | 0,2 9 | 0,22 | gut | 0,33 | 0,1 4 | 0,1 7 | 0,2 0 | 0,2 1 |
Natriumionenkon zentration (M/l) |
0,8 3 | \5 | .1,8 | ». V2 |
1,8 | 0,88 | 1,0 | \1 | 1,1 | ||
Stabilität der Beschichtungs- lösung |
gut | gut | gut | etwas insta bil |
gut | etwas insta bil |
gut | gut | gut | gut | |
(a) Chemische Verkupferungslösung: CuSOi1.5Ho0
Trinatriumhydroxyäthyläthylendiamintriacetat
(HEDTA)
57 Jiiges Formalin
NaOH
NaOH
o£ ,*&' Dipyridyl
Polyäthylenglycolstearylamin Wasser
Polyäthylenglycolstearylamin Wasser
(b) Abscheidebedingungen: Abscheidetemperatur Abscheidebelastung
(c) Kupferionen-Ergänzungslösung:
Diejgleiohe wie im Beispiel 1 .
(d) Formaldehyd-Ergänzungslösung: Die gleiche wie im Beispiel 1 .
(e) pH-Steuerungs-Ergänzungslösung:
Die gleiche wie im Beispiel 1 .
(f) Konzentrationslösung:
Die gleiche wie im Beispiel 1 .
(g) Elektrodenlösung:
Die gleiche wie im Beispiel 1.
g | 10 | mg | °C | |
S | 100 | mg | ||
ml | zur Auffüllung auf | |||
10 | Menge zur Einstellung des pH-Wertes auf 12,3 |
70 | ||
28 | ||||
10 | ||||
Menge 1 1. |
||||
dm2/l.
Q3ÖÖ67/083S
Die oben erwähnte chemische Verkupferungslösung hat einen
solchen Vorteil wie hohe Besehichtungsgeschwindlgkeit von 5 /um/h. Im gleichen Regeneriersystem, wie es im Beispiel 1
verwendet wurde und in Fig. 1 dargestellt ist, wurde die Elektrodialyse in der gleichen Weise wie im Beispiel I1
d. h. zum erster* Mal nach dem vierten Beschichtungsversuch
und danach nach je drei Beschiehtungsversuehen mit einer Stromdichte von 4 A/dm für 0,5-2 h durchgeführt. Die
Ergebnisse sind in der Tabelle J aufgeführt.
Es wurde gefunden, daß die Abgabe des Chelatbildungsmittels für Kupferionen durch einen Schritt der Regenerierbehandlung
so gering wie weniger als 2-5 % der ursprünglichen
Konzentration in der BeschichtungsliJsung war.
Q3Q067/Q63S
CaJ O O σ>
-Λ 's«
σ> er*
Beschiehtungs- versuch |
1 | • 2 | 3 | 4 - | 5 | 6 < | 7 | 8 . | 1 1 ν | 1 4 . | 1 7 | O |
Dehnung {%) | 4,2 | V | ^2 | 5,4 | 4,0. | 3,5 | 4,6 | 4,5 | 4,8 | 4,3 | ||
Zugfestigkeit (kg/mm ) |
42,5 | 4 2,0 | 4 4,1 | 5 13 | 4 0,3 | 4 3,2 | 4 8,7 | 42,3 | 4 2,0 | 4 1,2 | 4 4,1 | |
SuIfat i onenkon- zentration (M/l) |
0/0 8 | ι 0,1 3 |
0,17 | 0,20 | 0,0 7 | 0,1 2 | 0,1 8 | 0,0 6 | 0,0 8 | 0,0 6 | 0,0 6 | |
Formiationenkon- zentration (M/l) |
0,09 | 0,18 | 0,3 0 | 0,3 7 | 0,1 6 | 0,2 7 | 0,3 7 | 0,1 & | 0,0 7 | 0,0 5 | 0,0 6 | |
Karbonat ionenkon- zentration (M/l) |
O1Q? | 0,14 | 0,2 2 | 0,29 | 0,17 I, |
0,26 | 0,3 4 | 0,1 8 | 0,1 8 | 0,17 | 0,1 8 | |
Natriumionenkon zentration (M/l) |
0,4 7 , ' |
;o | V4 | \* | 1,0 | 1,3 | 0,9 0 | 1,0 | 0,7 4 | 0A1 | ||
Stabilität der Besehichtungslö- sung |
gut | gut | gut | gut | gut | gut | gut | gut | gut | gut | gut | |
•ro ro
N) CD
Die chemische Verkupferung wird in der folgenden Weise durchgeführt. Eine rostfreie Stahlplatte wird zunächst augenblicklich
in der üblichen pyrophosphorsauren Galvanisierlösung zur Bildung von Abscheidekeimen für die chemische
Abscheidung galvanisiert und dann der chemischen Verkupferung in der folgenden chemischen Verkupferungslösung zur Bildung
einer Abscheideschicht unterworfen.
(a) Chemische Verkupferungslösung:
Cu(HCOO)2.4HgO 10 g
EDTA 2Na 40 g
37 ^iges Formalin 5 ml
o6, cL>' -Dipyridyl 20 mg
Polyäthylenglycolstearylamin 100 mg
K2S 0,01 mg
NAOH Menge zur Einstellung des
pH-Werts auf 12,3
Wasser Menge zur Auffüllung auf
1 1.
Die rostfreie Stahlplatte mit den Abscheidekeimen wird also in die oben erwähnte chemische Verkupferungslösung eingetaucht
und der chemischen Verkupferung bei einer Temperatur von 70 0C und einer Belastung von 1 dm /1 unterworfen. Zum
Halten der Kupferionen, des Formalins und des pH-Wertes auf konstanten Werten während der Abscheidung werden Ergänzungslösungen und eine pH-Steuerungslösung mit den folgenden
Zusammensetzungen automatisch zugeführt, wodurch die Verluste ausgeglichen werden. ,
(b) Kupferionen-Ergänzungslösung:
Cu(HCOO)2.4H2O 100 g
Wasser Mengen zur Auffüllung
auf 1 1.
030067/0636
- .24-
(c) Formaldehyd-Ergänzungslösung:
37 jiiges Formalin 300 ml
Wasser Menge zur Auffüllung auf 1
(d) pH-Steuerungslösung:
NaOH 200 g
Wasser Menge zur Auffüllung auf 1
Während der chemischen Abscheidung wird zur Durchrührung der Abscheidelösung stets Luft in die chemische Abs,eheidelösung
eingeblasen.
Die Beschichtung bis zu einer Dicke von etwa 50 yum.wird
als ein Beschichtungsversuch angenommen, und die erhaltene Abseheidesehieht wird von der rostfreien Stahlplatte abgeschält,
zu einer Abmessung von 1 cm χ 10 cm geschnitten und als Probestücke für ein Zugprüfgerät verwendet, womit die
mechanischen Eigenschaften der Abseheidesehieht gemessen worden.
Die in der Abscheidelösung angesammelten Mengen von Na ,
- -2
HCOO und CO-, werden mit einer Natriumionenelektrode und Flüssigchromatographie analysiert, und die Konzentrationen an Kupferionen und EDTA werden durch ein Spektrophotometer und eine Atomabsorptionsspektrometrie gemessen.
HCOO und CO-, werden mit einer Natriumionenelektrode und Flüssigchromatographie analysiert, und die Konzentrationen an Kupferionen und EDTA werden durch ein Spektrophotometer und eine Atomabsorptionsspektrometrie gemessen.
Die chemische Beschichtung wurde in der oben erwähnten chemischen Verkupferungslösung durchgeführt, und die BesohichtungslSsung
mit einem pH-Wert von 12,3 nach vier Besehichtungsversuchen beim gleichen chemischen Verkupferungsvorgang
wurde in einen Säurezumischtank 39 abgezweigt, der mit einem SEuretank 37 und einem Ventil 38 versehen und
030067/0636
zwischen dem Auslaß für die gebrauchte Beschiehtungslösung
vom Beschichtungstank 1 und dem Einlaß zum Filter 4 im System nach Fig.l eingeschaltet war, wie in Fig. 2 dargestellt
ist, und wurde dort mit Ameisensäure vermischt, um den pH-Wert auf 11-2 einzustellen, um die Wirkung des
veränderten pH-Werts zu untersuchen.
In Fig.3 sind die Beziehungen zwischen dem- pH-Wert, der
Kohlendioxidentfernungsrate und dem Restgehalt des Kohlendioxids in der Beschichtungslösung für solche Fälle dargestellt,
wo der pH-Wert niedriger als 8 gemacht wurde. Es zeigt sich daraus deutlich, daß Kohlendioxid innerhalb von
etwa 30 min entfernt werden kann, indem man den pH-Wert der Besehichtungslösung niedriger als 8 maeht, und vorzugsweise
senkt man den pH-Wert unter 7* um das Kohlendioxid am
wirksamsten zu entfernen. Ein pH-Wert unter 2 ist nicht günstig, da dann das Chelatblldungsaittel beginnt, in der
Besehichtungslösung auszufallen.
Die chemische Verkupferungslösung mit einem pH-Wert von
12,3 und chemische Verkupferungslösungen mit auf 11, 10, 9
und 8 justierten pH-Werten wurden in der gleichen Welse wie im Beispiel 1 elektrodialysiert, und die selektive Durchlässigkeit
des Kohlendioxids bei der Elektrodialyse wurde bestimmt. Als Ergebnis fand man, daß der selektive Durch-
Tsezugs,
dringungskoeffizient des Kohlendioxids auf der^äsis von
HCOO" für einen pH-Wert von 12,3 etwa 0, für einen pH-Wert
von 11 etwa 0,2, für einen pH-Wert von 10 etwa 0,6, für einen pH-Wert von 9 etwa 0,8 und für einen pH-Wert von 8
etwa 1,0 war. Dies bedeutet, daß gefunden wurde,daß, wenn die Kohlendioxid enthaltende gebrauchte chemische Verkupferungslösung
ohne Justierung des pH-Wertes elektrodialysiert wurde, Karbonationen aus der Beschichtungslösung überhaupt
030067/0636
_26 _ .
nicht entfernt werden konnten, daß sich jedoch die Karbonationen wirksam im pH-Bereich von 8-11, vorzugsweise 8-10
elektrodyalisieren ließen.
Man ersieht daraus, daß beim vorliegenden Verfahren die Elektrodialyse zur Regenerierung unter Steuerung des
pH-Werts der Besehichtungslösung auf 2-8 durchgeführt werden muß, um die Karbonationen aus der Besehiehtungslösung vorab
zu entfernen, oder indem man den pH-Wert auf über 8, jedoch nicht höher als 11 steuert, um die Elektrodialyse zu er*
leichtern.
Als Säure zur Steuerung des pH-Wertes wurden Perchlorsäure und Essigsäure außer der oben erwähnten Ameisensäure
und der ebenfalls schon erwähnten Schwefelsäure untersucht. Es wurde gefunden, daß Perchlorsäure und Essigsäure keinen
sehr ungünstigen Effekt auf die chemische Abseheidereaktion ergeben und daher verwendet werden können, obwohl die Abscheidung
'etwas instabil wird, da sie Verunreinigungen enthalten.
Beim Regenerieren der ehemischen Verkupferungslosung
im vorliegenden Beispiel, wie es in Fig. 2 veranschaulicht ist, sind der Säuretank 37, das Ventil 38 und der Säurezumisehtank
39 zur Steuerung des pH-Wertes zusätzlich an der Leitung zur Elektrodialysezelle 9 nach Pig. I angebracht.
So ist es wünschenswert, die Konzentrationen der angesammelten Ionen in der chemischen Verkupferungslosung in der in
Pig. 2 dargestellten Weise zu erfassen.
Und zwar wird die Erfassung der CO, -Konzentration in der chemischen Verkupferungslosung wegen der pH-Steuerung
gesondert durchgeführt. Die Konzentration an CO^ -Ionen wird
Q3ÖÖS7/QS3e
durch Dosierung einer Salzsäurelösung 24, die Chinon und Hydrochinon enthält, und der chemischen Verkupferungslösung
durch eine Konstantdurchsatzpumpe 25, die in
gleichen Volumina in einem Mischer 25 vermischt werden, erfaßt, indem die erhaltene Mischlösung in Kontakt mit
Platinelektroden 27 in einer Analysezelle 26 zur Erfassung einer pH-Änderung nach der Säurezumischung als Potentialdifferenz
von einer Bezugselektrode 28 gebracht wird. Wenn die in einem Voltmeter 29 gezeigte Potentialdifferenz
aufgrund der CO, -Ansammlung größer als fer bestimmte
Wert ist, wird das Ventil 38 zur Steuerung des pH-Wertes
geöffnet, um der chemischen Verkupferungslösung Säure
zuzusetzen, und gleichzeitig werden die Umlaufpumpen 5# H
und 15 und eine elektrische Stromquelle 30 für die Elektrodialyse
eingeschaltet.
Andererseits lassen sich andere Arten der angesammelten
Ionen als CO-, in der gleichen kleinen Elektrodialysezelle
31 zur Analyse wie der in Pig.l dargestellten
Zelle 19 erfassen, doeh wird hierbei eine vielwertige organische Säurelösung 32 der chemische»Verkupferungslösung
in gleichen Volumina in einem Mischer zugemischt, um den
-2
Einfluß von CO-, auszuschalten, und dann lassen sich die
Einfluß von CO-, auszuschalten, und dann lassen sich die
Konzentrationen der anderen Arten von angesammelten Ionen als CO, durch ein Strommeßgerät 35 durch Elektrodialyse unter eiinem
konstanten Potential von einer Konstantspannungsquelle
in der gleichen Weise wie in Fig. 1 erfassen.
Die chemische Abscheidung wurde wiederholt, wobei das
Regenerieren der chemischen Verkupferungslösung im Regenerlersystem
des oben beschriebenen Aufbaus in der gleichen Welse wie im Beispiel 1 erfolgte,d. h. zum ersten Mal nach dem vierten
Besehichtungsversueh und danach nachje drei Beschichtungsversuehen.
030067/0636
Die Ergebnisse sind in der Tabelle 4 angegeben.
Das Regenerieren gemäß der Erfindung konnte die mechanischen Eigenschaften der abgeschiedenen Schicht beträchtlich
an die ursprünglichen Werte annähern, und der selektive Durchdringungskoeffizient der Karbonationen bei der Elektrodialyse
war auf Basis der Formiationen als Bezugswert etwa 1,0. Eine Abgabe der wesentlichen Bestandteile der
Beschlehtungslösung, Cu-EDTA" und EDTA"2 durch Elektrodialyse
konnte ebenfalls auf 1-2 J^ deren ursprünglichen Konzentrationen in der Besehichtungslösung durch einen
Schritt der Elektrodialyse gesteuert werden (Elektrodialyseergebnisse
vor dem nachfolgenden Beschichten sind in Klammern nach dem 14. Beschichtungsversuch gezeigt). Die
Konzentrationen des Chelatbildungsmittels und der Kupferionen
im durch die Dialyse gebildeten Ausflußwasser waren solche, daß sie ohne weitere Behandlung verwerfbar waren.
Die die Elektrodialysezelle 9 verlassende regenerierte BesohichtungslSsung wird mit einer kaustischen Sodalösung
in einem Alkalilösungs-Misohtank 22 vermischt, der mit einem
Alkalllösungstank 20 und einem Ventil 21 versehen und
zwischen dem Auslaß für die regenerierte Besehichtungslösung von der Elektrodialysezelle 9 und dem Einlaß für die regenerierte
Besehichtungslösung zum Besehiehtungstank 1 des Systems nach Fig.l angebracht ist, wie Fig. 2 zeigt, um den pH-Wert
der regenerierten Besehichtungslösung auf 11-12 zu justieren. Dann wurde die regenerierte Besehichtungslösung mit dem
justierten pH-Wert zum Beschichtungstank 1 geleitet und erneut zur Beschichtung verwendet.
0300S7/0636
Ca> O O
σ co
Beschichtungs- versuch ί |
! | 2 | - | 3 | 4 - | 5 \ | 6 - | 7 .. | CQ | 29 ■· | 38 - | 50 i.'. |
ι Zugfestigkeit (kg/mm ) |
45,3 | 48,1 | 5.1,2 | 50,3 | 51,0 | 53t5 | 52,3 | 53f5 | 52,3 | 50,6 | 51,5 | |
Dehnung _(£■) ■ | 6,0 | 5,5 | 4,2 | 2,8 | 5T6 | 5,3 | 4,8 | 5,8 | ||||
Formriationenkon- zentration (M/ll |
0,25 | 0,43 | 0,62 | 0,93 | 0,22 | 0,39 | 0,54 | 0,20 | LT,25 | 0,22 | 0,23 | |
Karbonationenkon- zentration (M/l) |
0,02 T | 0,02 | .0,03 | 0,05 | 0f05 | 0,07 | 0,05 | 0,07 | 0,07 | 0,10 | ||
Natr-iumiönenkon- zentration (M/l) |
0,53 | 0,60 | 0,85 | ' 12 | 0,49 | 0f72 | 0,85 | 0,4·4 | 0,51 | 0,48 | 0,58 | |
Abgabeprozent von KuDferionen und |
■ ι | — | — | ',5 | — | — | 1,3 | -— | (1,5) | (2,0) | ||
Chelatbildungs- mittel (^) |
ι ru
- .50-
Belspiel 4
Eine chenische Verkupferung wurde in der gleichen Weise wie im Beispiel 1 mit der Ausnahme durchgeführt, daß Lösungen
mit den folgenden Zusammensetzungen und die folgenden gegenüber einwertigen Anionen selektiv durchlässigen Membranen
anstelle der Anionenaustauschraembranen des Beispiels 1 verwendet wurden.
(a) Chemische Verkupferungslösung:
Cu(HCOO)2.4H2O 10 g
EDTA-2 Na 40 g
37 £iges Formalin 5 ml
oC, cC'Dipyridyl 20 mg
PoIySthylenglycolstearylamin 100 mg
KgS 0,01 mg
NaOH Menge zur Einstellung des
pH-Wertes um 12,3 Wasser Menge zur Auffüllung auf 1
(b) Kupferionen-Ergänzungslösung:
Cu(HCOO)2.4H2O 13 g
Wasser Menge zur Auffüllung auf 1
(c) Formaldehyd-Ergänzungslösung:
37 £lges Formalin 300 ml
Wasser Menge zur Auffüllung auf 1
(d) pH-Wert-Steuerungslösung:
NaOH 200 g
Wasser Menge zur Auffüllung auf 1 1«
030067/0638
Die die Besehichtungsreaktion inhibierenden Ionen, die
sich in der chemischen Verkupferungslösung von der chemischen Verkupferung, den Ergänzungslösungen und der pH-Wert-Steuerungslösung
mit den oben angegebenen Zusammensetzungen ange-
-2 sammelt hatten, waren drei Arten, d. h. HCOO , CO, und
Die Elektrodialyse der gebrauchten chemischen ■Verkupferungslösung
wurde im gleichen System, wie es in Flg. 1 gezeigt ist, zunächst nach vier Beschichtungsversuchen und
danach nach Je drei Beschichtungsversuchen durchgeführt.
In diesem Beispiel wurde der im Beispiel 3 angewandte
pH-Wert-Steuerungsschritt ausgelassen, und man verwendete eine Kombination von selektiv für einwertige Anionen durchlässigen
Membranen ("Cellemion ASV") mit den Kationenaustauschmembranen
("Cellemlon CMV") in der Elektrodialysezelle
9 nach Fig. 1.
In diesem Beispiel wurde die chemische Verkupferungslösung durch Elektrodialyse bei einer Stromdichte von 2 A/dm für
2-4 h in der gleichen Weise wie im Beispiel 1, d. h. zuerst nach vier Beschiehtungsversuchen und danach nach je drei
Beschichtungsversuchen regeneriert. Die Ergebnisse sind in der Tabelle 5 gezeigt. Man ersieht daraus, daß ein etwa
gleicher erheblicher Effekt auf die Stabilisierung der chemischen Eigenschaften der abgeschiedenen Schicht wie im
Beispiel 1 mit der Ausnahme erhältlich ist, daß die Menge der durch den Regeneriervorgang abgegebenen Kupferionen und
des Chelatbildungsraittels vom einem Regenerlervorgang zum
—2 anderen entsprechend der steigenden Ansammlung von CO, in
der chemischen Verkupferungslösung allmählich anzuwachsen neigt. Außerdem ist der selektive Durchdringungskoeffizient
030067/0636
von CO, der gegenüber einwertigen Ionen selektiv durchlässigen
Membran bei der Elektrodialyse im wesentlichen Null, und daher ist es schwierig, CO, zu entfernen.
030067/0636
Beschichtungsversuch
-Zugfestigkeit (kg/mar)
Dehnung (£)
Formiationenkpn^ zentration (M/l)
Karbonat i onenkonzentration
(M/l)
Natriumionenkonzentration (M/l)
Abgabeprozent von Kupferionen und ChelatbildungsiBittel
Ί | •!jr. | ' 1 ■ | !■iji: | — |
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Die Regenerierung der chemischen Verkupferungslösung wurde in der gleichen Weise wie im Beispiel 3 mit der Ausnahme
durchgeführt, daß Lösungen mit den folgenden Zusammensetzungen und den folgenden gegenüber einwertigen Anionen
selektiv durchlässigen Membranen anstelle der ' Anioaemaustauschmembranen
des Beispiels 2 verwendet wurden.
(a) Chemische VerkupferungslSsung: Cu(HCOO)2.2H2O 10 g
EDTA 2 Na 40 g 37 ^iges Formalin 5 ml
o6, <L> f -Dipyridyl 20 mg
FolyEthylenglycolstearylamin 100 rag K2S 0,01 mg
NaOH Menge zur Einstellung des
pH-Wertes auf 12,3 Wasser Menge zur Auffüllung auf 1 1.
(b) Kupferionen-Ergänzungslösung:
Cu(HCOO)2.4H2O 13 g
Wasser Menge zur Auffüllung auf 1 1.
(c) Formaldehyd-ErgänzungslSsung:
37 jfiges Formalin 300 ml
Wasser Menge zur Auffüllung auf 1 1.
(d) pH-Wert-Steuerungslösung:
NaOH 200 g
Wasser Menge zur Auffüllung auf 1 1.
030081/0836
- 55 -
Die die.Abseheidereaktion inhibierenden Ionen, die sich
in der chemischen Verkupferungslösung vom chemischen Verkupfern,
von den Ergänzungslösungen und der pH-Wert-Steuerungslösung
mit den vorstehend erwähnten Zusammensetzungen angesammelt hatten, waren solche Arten von einwertigen Ionen
wie HCOO" und Na+. Außerdem wurde aus der Luft in der
chemischen Verkupferungslösung absorbiertes Kohlendioxid durch Ameisensäure als permeable einwertige Ionen als für
die Erfindung charakteristisch ersetzt. Und zwar wurden 10-25 nil Ameisensäure der ehemischen Verkupferungslösung,
die Kohlendioxid absorbiert hatte, zugesetzt, um CO^
durch HCOO" su ersetzen, und dann wurde die Besehichtungslösung
den Entsalzungskammern der Elektrodialysezelle zugeführt. Die Absorption von Kohlendioxid hängt von den
Arbeitsbedingungen der chemischen Verkupferungslösung ab, und auch wenn sieh Kohlendioxid In der Besehiohtungslösung
wie in diesem Beispiel angesammelt hat, kann der vorstehende Ersatzvorgang offensichtlich der Elektrodialyse als einwertige
Ionen genügen, was ein zusätzliches Merkmal der Erfindung ist.
In diesem Beispiel wurde die Besehiohtungslösuqg auf
Raumtemperatur zunächst nach vier Beschichtungsversuchen und dann jeweils nach drei Beschiehtungsversuehen abgekühlt, und
das absorbierte Kohlendioxid wurde durch Ameisensäure in der oben beschriebenen Weise ersetzt. Dann wurde der Besbhiehtungslösung
NaOH zugesetzt, um den pH-Wert der Besohlehtungslösung
wieder auf 12,5 zvl bringen, und anschließend wurde sie der
Elektrodialyse für 2 bis 4 h unter Verwendung der gleichen Konzentrationslösung und der gleichen Elektrodenlösung wie
im Beispiel 3 unterworfen.
030067/0636
Bei der Elektrodialyse waren die zu entfernenden Kationen nur Na , und es gab keine andere Art von erwünscht zu entfernenden
Kationen. Daher war es nicht erforderlich, besonders die selektiv gegenüber einwertigen Kationen durchlässigen
Ionenaustauschmerabranen zu verwenden, und folglich
wurde der Typ "Cellemion CM?" mit einer verhältnismäßig guten Alkalibeständigkeit als Kationenaustausehmembran verwendet
.
Andererseits waren die zu entfernenden Anionen nur HCOO", doch es gab außerdem die Anionen, die mSgliehst
nicht zu entfernen sind, d. h. EDTA-ehelierte Ionen, wie
-p -4 - z'. B. Cu-EDTA und-EDTA sowie OH , die ein Yielkomponentensystem
zusammen mit HCOO" bildeten. Daher wurden die selektiv gegenüber einwertigen Anionen durchlässigen
Anionenaustauschmembranen "Cellemion ASV" als Anionenaustauschmembranen
verwendet.
Die Ergebnisse des Hegenerierens d&r chemischen Verlauf
erungslöNsung sind in der Tabelle 6 aufgeführt. Es ist daraus ersichtlich, daß sieh die mechanischen Eigenschaften
der abgeschiedenen Schicht beträchtlich verbessern lassen undjstöi
die Menge der in die Konzentrationslösung durch einen Schritt der Elektrodialyse abgegebenen Kupferionen merklich auf
weniger als etwa 0,1 % der anfänglichen Konzentration in der
Beschichtungslösung senken läßt (Ergebnisse der Regenerierung vor dem nachfolgenden Beschichten sind in Klammern nach dem
14. Beschiehtungsversuch angegeben).
Außerdem wurde die Konzentration der Kupferionen im gleichen Volumen der Konzentrationslösung wie dem der
chemischen Verkupferungslösung durch Atomabsorptionsspektrometrie
analysiert, und man fand, daß sie auf so eine Spurenmenge wie unter 5 ppm verringert werden konnte, wie in der
Tabelle 6 gezeigt ist. Außerdem konnte das Chelatbildungs-
030067/0636
mittel. EDTA, durch ein Spektrophotometer nicht erfaßt
werden, und der selektive Durehdringungskoeffizient von Cu-EDTA" gegenüber dem Bi
gering wie etwa 2 χ 10"'.
-2 -
Cu-EDTA gegenüber dem Bezugswert von HCOO war so
Eine sehr geringe Menge von abzugebenden Kupferionen
ist eine solche Konzentration, wie sie lediglich durch Verdünnung auf weniger als eine zulässige Grenze ohne irgendeine
Zusatzbehandlung verwerfbar ist.
Wie sich aus den vorstehenden Beispielen ergibt, kann die Lebensdauer einer chemischen Verkupferungslösung praktisch
ewig gemacht werden, indem man lediglich in geeigneter Welse eine Kombination einer chemischen VerkupferungslSsung,
von Ergänzungslösungen urö einer pH-Wert-Steuerungslösung
wählt und Ionenaustausehmembranen mit geeigneten
Eigenschaften beim Regenerieren einer chemischen Verkupferungslösung gemäß der Erfindung verwendet, ohne daß
besondere Einrichtungen benötigt werden, und gleichzeitig ist die Abfallösungsbehandlung, die bisher unerläßlich war,
erfindungsgemäß überflüssig. Dahexjhat die Erfindung erhebliche
Vorteile.
030067/0636
σ σ> ω
σ»
Beschichtungsversuch | I : | 2 | 3 | 4 - | 5 ·. | 6 . | 7 . | 8 | 14 | 20 | 29 |
Dehnung (£) | 4,1 | 3,7 | 3,5 | 4,5 | 4,4 | 4,2 | 4,6 | 4,6 | 4,9 | 4,5 | |
Zugfestigkeit (kg/mm2) | 51,0 | 48,2 | 50,2 | 51,0 | 45,8 | 47,6 | 48,3 | 46,1 | 45,8 | 43,6 | 46,4 |
Porrnaationenkonzentration (M/lT |
0,09 | 0,2 j | 0,28 | 0,33 | 0,04 | o;i5 | 0,22 | 0,05 | 0,03 | 0,05 | 0,07 |
Karbonationenkonzentra- tion (M/l) |
qO2 | 0r07 | 0,15 | O1IS | 0r05 | 0,05 | 0/13 | 0,06 | 0,02 | 0,04 | 0,05 |
Natriumionenkonzentration (M/l) |
0,15 | 0r42 | 0,65 | 0,78 | 0,20 | 0,29 | 0,56 | 0,21 | 0,11 | 0,(8 | 0,25 |
Abgabeprozent von Kupfer ionen (%) |
— | — | — | — | 0,08 | — | — | 0,04 | 0,08 | 0,08 | 0,12 |
Kupferionenkonzentration in der Konzentrationslö sung |
— | — | — | 2 | — | — | I | — | (2) | (2) | (3) |
OD I
CO O IS1) ISJ Cß
CD K)
Die Regenerierung einer chemischen Verkupferungslösung
wurde in der gleichen Weise wie im Beispiel 5 in der gleichen Vorrichtung, wie sie im Beispiel 5 verwendet wurde, unter
Verwendung von Lösungen der folgenden Zusammensetzungen durchgeführt.
wurde in der gleichen Weise wie im Beispiel 5 in der gleichen Vorrichtung, wie sie im Beispiel 5 verwendet wurde, unter
Verwendung von Lösungen der folgenden Zusammensetzungen durchgeführt.
(a) Chemische.Verkupferungslösung:
Cu(HCOO)2.4H2O 10 g
Rochellesalz 50 g
37 ^iges Formalin 20 ml
NaOH Menge zur Einstellung des
pH-Wertes auf 12,5
2,9-DImethylphenan- * n m<r
throlin 1U m
Polyäthylenglycolstearyl- 1Oq mg
amin
Wasser Menge zur Auffüllung auf 1 1.
(b) Kupferionen-Ergänzungslösung:
Die gleiche wie im Beispiel 5.
(c) Formaldehyd-Ergänzungslösung: Die gleiche wie im Beispiel 5.
(d) pH-Wert-Steuerungslösung:
Die gleiche wie im Beispiel 5.
Die oben erwähnte chemische Verkupferungslösung war etwas instabil, und die mechanischen Eigenschaften der abgeschiedenen
ähicht waren auch nicht befriedigend. Außerdem wurde beobachtet, daß die Beschichtungslösung bereits in einem Beschiehtungs-
030067/0636
- 4ο -
versuch für eine Beschiehtungsdicke von JO /um zur Zersetzung
neigte. Daher wurde die Regenerierung der Beschichtungslösung durch Elektrodialyse nach jedem Beschichtungsversuch
für Je eine Beschichtungsdicke von JO /um durchgeführt,
um die Stabilität der Besehiehtungslösung zu verbessern.
Die Kationen in der Besehiehtungslösung von den Lösungen
der oben erwähnten Zusammensetzungen waren Na+ und K+, und
die angesammelten Kationen sind im wesentlichen Na+. Jedoch
war die Chelatbildungskonstante der Tartrationen so gering,
+2 daß es eine größere Menge von Cu gab. Um die Dialyse
+2
von Cu zu vermeiden, wurden selektiv gegenüber einwertigen Kationen durchlässige Kationenaustauschmembranen "Cellemion CSV" als Kationenaustauschmembranen verwendet, und es wurden gegenüber einwertigen Anionen selektiv durchlässige Membranen, d. h. die gleichen wie im Beispiel 5* als die Anionenaustauschmembranen für die Elektrodialyse verwendet.
von Cu zu vermeiden, wurden selektiv gegenüber einwertigen Kationen durchlässige Kationenaustauschmembranen "Cellemion CSV" als Kationenaustauschmembranen verwendet, und es wurden gegenüber einwertigen Anionen selektiv durchlässige Membranen, d. h. die gleichen wie im Beispiel 5* als die Anionenaustauschmembranen für die Elektrodialyse verwendet.
Die Membran "Cellemion CSV" war in der AlkalibestEndigkeit
nicht befriedigend, und daher wurde der Beschiehtungslösung
Ameisensäure zugesetzt, um ihren pH-Wert auf 8 einzustellen, und danach wurde die Beschichtungslösung elektrodialysiert.
Nach der Elektrodialyse wurde der pH-Wert der regenerierten Beschichtungslösung durch eine konzentrierte NaOH-Lösung wieder
auf den bestimmten Wert gebracht, und sie wurde zum Beschichtungstank zur Wiederholung der Beschichtung rückgeführt.
Die beträchtliche Zersetzung der Besehiehtungslösung konnte durch die Regenerierung verhindert werden, und es konnten
auch abgeschiedene Schichten mit den gewünschten mechanischen Eigenschaften erhalten werden. Die Abgabe von Kupferionen
ließ sich auf den gleichen Wert wie im Beispiel 5 steuern.
030067/0636
Claims (1)
- Patentansprüche'Ii Verfahren zum Regenerieren einer chemischen Jferto*pfer»nge· lösung, dadurch gekennzeichnet, daß man eine Lösung, die Kupferionen, ein Reduktionsmittel für Kupferionen, ein Komplexbildungsmittel für Kupferionen und ein Alkalimetallhydroxid als wesentliche Bestandteile enthält und beim chemischen Verkupfern verwendet wurde, in eine Elektrodialysezelle leitet, die abwechselnd mit Anionenaustausohmembranen und Katlonenaustauschmembranen ausgerüstet ist, und Gegenionen für Kupferionen, durch Oxidationsreaktion des Reduktionsmittels gebildete Ionen und aus in der Verkupferungslösung gelöstem Kohlendioxid gebildetes CO, oder HCO , die eine Inhibierwirkung auf die ehemische Verkupferung haben, und Alkalimetallionen, die frei von einer Inhibierung der chemischen Verkupferung sind, welohe inhibierenden und nicht inhibierenden Ionen sich in der gebrauchten Verkupferungslösung angesammelt haben, durch Elektrodialyse entfernt.2. Verfahren nach Anspruch !,dadurch gekennzeichnet, daß die Gegenionen für Kupferionen wenigstenseeine Art der Gruppe SO^" , HCOO , CO, und OH" ist, das Reduktionsmittel HCHO ist, die durch die Oxidation des Reduktionsmittels gebildeten Ionen HCOO" sind, die Alkaliaetalllonen Na''' oder K+ sind, die Anionenaustauschmembranen für monovalente und divalente Anionen durchlässige Membranen oder selektiv für monovalente Anionen durchlässige Membranen sind und die Kationenaustausohmettbranen für monovalente und divalente Kationen durchlässige Membranen oder selektiv für monovalente Kationen durchlässige Membranen sind.
8l-(A4833-01~03)TF030067/06365. Verfahren nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß man den pH-Wert der gebrauchten Verkupferungslösung, die ein Chelatbildungsaiittel für Kupferionen als Komplexbildungsmittel enthält, auf 2-11 Justiert und die VerkupferungslösuiE dann in Entsalzungskammern der Elektrodialysezelle einführt.4. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß als pH-Wert-Justiersäure wenigstens eine der Gruppe Schwefelsäure, Perchlorsäure, Ameisensäure und Essigsäure verwendet wird.030067/0636
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JP3823680A JPS56136967A (en) | 1980-03-27 | 1980-03-27 | Method and apparatus for deionizing chemical copper plating bath |
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