DE2803686C2

DE2803686C2 - Festkörperfernsehkamera

Info

Publication number: DE2803686C2
Application number: DE2803686A
Authority: DE
Inventors: Fumio Yokohama Kanagawa Nagumo; Kaichi Zama Kanagawa Yamamoto
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1977-01-28
Filing date: 1978-01-27
Publication date: 1986-07-31
Also published as: AT370574B; CA1110757A; JPS5394117A; NL191224C; NL7801066A; AU512355B2; ATA62278A; US4167754A; GB1592018A; NL191224B; FR2385277B1; FR2385277A1; JPS6034872B2; AU3271278A; DE2803686A1

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Festkörperfernsehkamera mit einer Rauschunterdrückungsschaltung und einer Festkörper-Bildfühleranordnung gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.

Eine Festkörper-Fernsehkamera der im Oberbegriff des Anspruchs 1 angegebenen Art ist bereits vorgeschlagen worden (DE-OS 27 55 552). Es hat sich gezeigt, daß die Rauschunterdrückung bei der vorgeschlagenen Festkörperfernsehkamera nicht immer den gestellten Forderungen genügt.

Zur Rauschunterdrückung bei Festkörperfernsfchkameras ist es bereits bekannt (JP-OS 5028937), eine Speicherschaltung zu verwenden, in der die Lage der Kristallfehler in dem jeweils verwendeten Halbleitersubstrat gespeichert wird. Das Ausgangssignal der mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung wird mit Hilfe des Ausgangssignals der Speicherschaltung gesteuert, um das Rauschen zu beseitigen, z.B. dadurch, daß das Ausgangssignal der Vorrichtung durch eine Abtast- und Halteschaltung geleitet wird, die dadurch veranlaßt wird, daß Ausgangssignal nur solange abzutasten, wie das Ausgangssignal der Speicherschaltung anzeigt, daß das betreffende Bildelement frei von Kristall fehlern ist. Demgemäß werden zur Korrektur der Schwankungen der Empfindlichkeit der Bildelemente dienende Daten in einem Festwertspeicher gespeichert. Diese zur Korrektur dienenden Daten bezüglich des jeweiligen Biidelements werden unter einer entsprechenden Adresse aus dem erwähnten Speicher ausgelesen und zur Korrektur des jeweils abgegebenen Videosignals herangezogen. Bei einer mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung, die eine Matrix aus Bildelementen aufweist, zu der NH Bildelemente in der waagerechten Richtung und NV Bildelemente in der senkrechten Richtung gehören, muß der vorzusehende Speicher eine Speicherkapazität von NH · NV Bits haben. Bei den üblichen, mit Hilfe eines Fernsehempfängers wiedergegebenen Bildern liegt NH zwischen 300 und 500, und der Wert für NV liegt zwischen 200 und 300. Wenn die Lage der Kristallfehler ·ίθΓ sämtliche Bildelemente gespeichert werden soll, benötigt man daher einen Speicher mit einer sehr hohen Speicherkapazität von z.B. 60000 bis 150000 Bits. Ein solcher Speicher ist sehr teuer, und daher ist es schwierig, eine Festkörperfernsehkamera der genannten Art mit einem vertretbaren Kostenaufwand herzustellen.

Um die benötigte Speicherkapazität zu verringern, ist es möglich, das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Kristallfehlers nicht für jedes der aufeinanderfolgenden Bildelemente zu speichern, sondern nur die Lage derjenigen Bildelemente festzuhalten, bei denen Kristallfehler vorhanden sind, und die betreffenden Bildelemente zu codieren und zu speichern (JP-OS 50 28 938). So kann beispielsweise die Lage der mit Kristallfehlern behafteten Bildelemente bezüglich der zueinander rechtwinkligen X- und /-Koordinatenachsen des Halbleitersubstrats codiert werden. Wenn in der horizontalen Abtasteinrichtung die Anzahl NH der Bildelemente etwa 500 beträgt, kann man die Lage eines beliebigen Bildelements in der waagerechten Abtastrichtung unter Verwendung einer Kapazität von 9 Bits ausdrücken. Wenn die Anzahl NV der Bildelemente in der senkrechten Abtastrichtung etwa 250 beträgt, kann man die Lage jedes einzelnen Bildelements in der senkrechten Abtastrichtung unter Verwendung einer Kapazität von 8 Bits ausdrücken. Wird nach dem Zeilensprungverfahren gearbeitet, benötigt man ein zusätzliches Bit zur Kennzeichnung eines geradzahligen oder ungeradzahligen Teilbildes. Somit benötigt man insgesamt 18 Bits, um die Lage jedes mit einem Kristallfehler behafteten Bildelements längs der X- und K-Achsen auszudrücken und das betreffende Teilbild zu identifizieren. Wenn die maximal zulässige Anzahl von mit Kristallfehlern behafteten Bildelementen bei einer praktisch brauchbaren, mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung mit 20 gegeben ist, braucht der Speicher nur eine Kapazität von 400 Bits zu haben. Ein Speicher mit einer solchen geringen Kapazität läßt sich zwar mit geringen Kosten herstellen; es ist jedoch zu berücksichtigen, daß man bei der betreffenden Rauschunterdrückungsschaltung relativ komplizierte Schaltungselemente, wie z. B. einen Adressenzähler sowie eine Koinzidenzschaltung in Zuordnung zu dem Speicher benötigt.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Festkörperfernsehkamera, von der im Oberbegriff des Anspruchs 1 ausgegangen wird, so weiterzubilden, daß mit einem insgesamt relativ geringen schaltungstechnischen Aufwand eine ausgezeichnete Unterdrückung des auf Kristallfehler zurückgehenden Rauschens gewährleistet ist.

Gelöst wird die vorstehend aufgezeigte Aufgabe

durch die im Anspruch 1 gekennzeichneten Maßnahmen.

Die Erfindung bringt den Vorteil eines insgesamt relativ geringen schaltungstechnischen Aufwands mit sich, um eine wirksame Unterdrückung des auf Kristallfehler in der verwendeten Festkörper-Bildfühleranordnung zurückgehenden Rauschens zu gewährleisten.

Zweckmäßige Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.

Ausfuhrungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden anhand schematischer Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt

Fig. 1 eine bekannte Rauschunterdrückungsschaltung für eine Festkörperfernsehkamera;

Fig. 2 eine vereinfachte Darstellung einer mit .Ladungskopplung arbeitenden Bildfühleranordnung, bei der eine Übertragung zwischen benachbarten Zeilen stattfindet und die geeignet ist, bei der Schaltung nach Fig. 1 sowie bei deir erfindungsgemäßen Festkörperfernsehkamera verwendet zu werden;

Fig. 3 eine Wellenform eines Ausgangssignals, das der Anordnung nach Fig. 2 entnommen werden kann;

Fig. 4 eine Darstellung zur Identifizierung von Bildelementen einer mit Ladungskopplung arbeitenden Bildfuhleranordnung, bei der Kristallfehler vorhanden sind, wobei diese Darstellung zur Erläuterung bestimmter Ausführungsformen der Erfindung dient;

Fig. 5,6 und 7 jeweils eine Darstellung zur Erläuterung einer erfindungsgemäßen Anordnung zum Speichern der Lage von Krislallfehlern;

F i g. 8 eine erfindungsgemäße Festkörperfernsehkamera mit einer Schaltung für die Rauschunterdrückung;

Fig. 9A, 9B und 10 jeweils eine Darstellung zur Erläuterung einer weiteren erfindungsgemäßen Anordnung zum Speichern der Lage von Kristallfehlern;

Fig. 11 eine zweite Festkörperfernsehkamera gemäß der Erfindung mit einer Rauschunterdrückungsschaltung und

Fig. 12 eine dritte Ausführungsform gemäß der Erfindung.

Um das Verständnis der Erfindung zu erleichtern, wird im folgenden zunächst anhand von Fig. 1 eine bekannte Rauschunterdrückungsschaltung mit einem Speicher beschrieben.

Sowohl bei der bekannten Schaltung nach Fig. 1 als auch bei den weiter unten beschriebenen Ausführungsformeri der Erfindung wird bei der jeweils verwendeten, mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung das sogenannte Zwischenzeilen-Übertragungsverfahren angewendet. Da solche Vorrichtungen bekannt sind, wird im folgenden anhand von Fig. 2 nur eine kurze Erläuterung gegeben.

Bei der mit Ladungskopplung arbeitenden Bildfuhleranordnung bzw. Vorrichtung 10 nach Fig. 2 sind Bildelemente 2 in mehreren senkrechten Reihen angeordnet. Längs der senkrechten Reihen von Bildelementen sind Vertikal-Schieberegister 3 angeordnet, die dazu dienen, die Ladungsträger aus den Reihen von Büdelementen 2 weiterzuleiten. Die Ladungsträger werden durch die Vertikal-Schieberegister3 nacheinander einem Horizontal-Schieberegister 4 zugeführt. Ein Informationssignal wird einer Ausgangsklemme 5 des Horizontal-Schieberegisters 4 entnommen. Jedem der Bildelemente 2 wird ein Impuls PI zugeführt, um die Ladungsträger unter den Elektroden zu speichern und die Ladungsträger weiterzuleiten. Jedem der Vertikal-Schieberegister 3 wird als Übertragungsimpuls ein Impuls PV zugeführt. Dem Horizontal-Schieberegister 4 wird als Ausgabeimpuls ein Impuls PH zugeführt.

Gemäß Fig. 1 wird ein Bild eines Gegenstandes U, der sich im Blickfeld der Kamera befindet, durch ein optisches System 12 auf die mit Ladungskopplung arbeitende Anordnung 10 projiziert. Dieser Vorrichtung wird das Ausgangssignal SO über eine Klemme S entnommen und über eine Abtast- und Halteschaltung 13 einer Ausgangsklemme 14 zugeführt. Der Abtastzustand der Abtast- und Halteschaltung 13 wird durch einen gesteuerten Abfrageimpuls PSO bestimmt, der mit dem Ausgabeimpuls PH synchronisiert ist und durch das Ausgangssignal eines Speichers 20 beeinflußt wird.

Die codierten Werte für die Lage der Kristallfehler werden in dem Speicher 20 festgehalten, bei dem es sich z.B. um einen Festwertspeicher handelt. Der Bildfühleranordnung 10 ist ein Adressenzähler 30 zugeordnet, zu dem ein //-Zähler 30//zum Zählen der codierten horizontalen Lagewerte und ein K-Zähler 3OK zum Zählen der codierten vertikalen Lagewerte gehören. Der Ausgabeimpuls PH wird dem //-Zähler 30// zugeführt, während ein Horizontalsynchronsignal HD als Rücksetzsignal einer Rücksetzklemme des //-Zählers 30// zugeführt wird. Der Übertragungsimpuls PV wird dem K-Zähler 30 V zugeführt, während ein Vertikalsynchronsignal VD als Rücksetzsignal einer Rücksetzklemme des K-Zählers 3OK zugeführt wird.

Ein dem Adressenzähler 30 entnommenes Lagesignal SL und ein Teilbildsignal SF, das anzeigt, ob es sich um ein ungeradzahliges oder ein geradzahliges Teilbild handelt, werden einer Koinzidenzschaltung 31 zugeführt, der außerdem ein Ausgangssignal SM des Speichers 20 zugeführt wird. Wenn der Inhalt des Teilbildsignals SF und des Lagesignals SL mit dem Inhalt des Speicherausgangssignals SM übereinstimmt, d. h. wenn das Speicherausgangssignal SM anzeigt, daß an einem bestimmten Punkt der Bildfühleranordnung 10 ein Kristallfehler vorhanden ist, und wenn das Lagesignal SL des Zählers 30 den betreffenden Punkt identifiziert, erscheint am Ausgang der Koinzidenzschaltung 31 ein Koinzidenzsignal SQ, das einem Eingang eines NAND-Gatters 32 zugeführt wird, dem als zweites Eingangssignal eine mit den Ausgabeimpulsen PH synchronisierte Reihe von Abfrageimpulsen PS zugeführt wird. Wenn das Kcinzidenzsigna! SQ normalerweise einen relativ niedrigen Pegel hat bzw. dem Wert 0 entspricht und wenn dieses Signal auf einen relativ hohen Pegel bzw. den Wert 1 gebracht wird, wie es geschieht, wenn der Inhalt des Teilbildsignals SF und des Lagesignals SL mit dem Inhalt des Speicherausgangssignals SM übereinstimmt, wird der Abfrageimpuls PS normalerweise von dem Verknüpfungsglied bzw. Gatter 32 als Abfrageimpuls PSO durchgelassen, und der Impuls PS wird durch das Gatter 32 immer dann zurückgehalten, wenn das Koinzidenzsignal SQ den Wert 1 annimmt. Solange das Koinzidenzsignal 5Q den Wert 0 hat, wie es der Fall ist, wenn das Lagesigna] SL einen Punkt bezeichnet, für den in dem Speicher 20 kein Kristallfehler gespeichert ist, wird das diesem Punkt entsprechende Ausgangssignal 50 der Bildfühleranordnung bzw. kurz Anordnung 10 abgefragt und in der Schaltung 13 festgehalten, um als Ausgangssignal der Klemme 14 zugeführt zu werden. Wenn dagegen das Koinzidenzsignal SQ auf den Wert 1 ansteigt, daß das Ausgangssignal SO der Anordnung 10 einem Punkt entspricht, für den in dem Speicher 20 ein Kristallfehler gespeichert worden ist, bewirkt die Sperrung des Impulses PS durch das Gatter 32, daß der Abfragevorgang der Abtast- und Halteschaltung 13 unterbrochen wird, so daß das Signal für das vorausge-

gangene Bildelement an der Klemme 14 festgehalten wird. Somit wird das Rauschsignal N, das infolge eines Kristallfehlers im Ausgangssignal SO der Anordnung 10 enthalten ist, wie es in Fig. 3 gezeigt ist, durch den selektiven Abfragebetrieb der Abtast- und Halteschaltung 13 beseitigt. Außerdem wird das das Rauschsignal N enthaltende Ausgangssignal durch das Ausgangssignal ersetzt, das während der Abtastung des vorausgehenden Bildelements der Vorrichtung 10 erzeugt wird.

Gemäß Fig. 1 wird das Koinzidenzsignal SQ außerdem einem weiteren Adressenzähler 33 für den Speicher 20 zugeführt, so daß nach jedem Auftreten eines auf 1 erhöhten Pegels des Koinzidenzsignals SQ der Adressenzähler 33 veranlaßt, daß der Speicher 20 das nächste Ausgangssignal SM abgibt. Ferner wird bei der bekannten Schaltung nach Fig. 1 einer Rücksetzklemme 33a des Adressenzählers 33 ein Rücksetzsignal zugeführt, dessen Periodenlänge gleich der Periodenlänge jedes Einzelbildes ist.

Wenn nur die Lagewerte derjenigen Bildelemente, bei denen Kristallfehler vorhanden sind, codiert werden, um in dem Speicher 20 gespeichert zu werden, ist es, wie erwähnt, möglich, die Kapazität des Speichers erheblich zu verkleinem. Daher läßt sich ein solcher Speicher für eine Festkörperfernsehkamera mit einem relativ geringen Kostenaufwand herstellen. Da man jedoch bei der bekannten Schaltung nach Fig. 1 den Adressenzähier 30 und die Koinzidenzschaltung 31 benötigt, um die Übereinstimmung zwischen dem Speicherausgangssignal SM und dem Lagesignal SL festzustellen, ist es immer noch erforderlich, dem Speicher 20 ziemlich komplizierte periphere Schaltungen zuzuordnen.

Die durch die Erfindung ermöglichte Vereinfachung dieser peripheren Schaltungen wird im folgenden anhand von Fig. 4 bis 8 erläutert, wo Schaltungselemente, die anhand von Fig. 1 beschriebenen entsprechen, jeweils mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet sind. Nimmt man an, daß das Halbleitersubstrat der mit Ladungskopplung arbeitenden Bildfühleranordnung 10 an den in Fig. 4 mit Al, Al, A3 und A4 bezeichneten Stellen Kristallfehler aufweist, werden bei dieser Ausführungsform der Erfindung die Punkte, an denen sich die Kristallfehler befinden, durch eine einzige Dimension ausgedrückt, obwohl die Kristallfehler auf dem Halbleitersubstrat tatsächlich zweidimensional verteilt sind.

Man kann als Bezugspunkt AU für die eine Dimension zum Ausdrücken der Lage der verschiedenen Kristallfehler den Anfangspunkt der ersten waagerecht abzutastenden Zeile eines Teilbildes wählen, wobei nacheinander die erste, die zweite, die dritte waagerechte Abtastzeile betrachtet werden. Bei dieser eindimensionalen Darstellung sind die Lagewerte der Kristallfehler Al bis A4 in der aus Fig. 5 ersichtlichen Weise gegeben.

Zum Codieren der Lagewerte der Kristallfehler Al, A3 und A4 wird nicht der Abstand jedes Kristallfehlers von dem Bezugspunkt AO gezählt, sondern es wird der Abstand zwischen aufeinanderfolgenden bzw. einander unmittelbar benachbarten Kristallfehlern gezählt, wobei jede Zähleinheit durch ein Bildelement gebildet wird. Jedoch wird die Lage des dem Bezugspunkt /10 am nächsten benachbarten ersten Kristallfehlers Al durch die Strecke /i zwischen dem Bezugspunkt AO und dem Kristallfehler A1 ausgedrückt.

Die Strecke /1 wird z. B. als binäre Zahl codiert und als Lagewert für den Kristallfehler Al gespeichert. Die Strecke h zwischen den Kristallfehlern A1 und Al wird codiert und als Lagewert für den Kristallfehler Al gespeichert, und entsprechend wird die Strecke /₃ zwischen den Kristallfehlern Al und A3 codiert und als Lagewert für den Kristallfehler A 3 gespeichert; schließlich wird auch die Strecke /4 zwischen den Kristallfehlern A3 und A4 codiert und als Lagewert für den Kristallfehler A4 gespeichert. Bei dem Beispiel nach F i g. 4 für eine mit Ladungskopplung arbeitende Bildfühleranordnung 10, bei der Kristallfehler an den vier Bildelementen Al bis A4 vorhanden sind, werden vier Speichereinheiten Ml bis MA benötigt, um den Speicher 20 zu bilden. Gemäß Fig. 6 wird die Strecke /1 zwischen dem Bezugspunkt AO und dem Kristallfehler Al als erster Speicherinhalt in einer ersten Speichereinheit Ml gespeichert, die Strecke /2 zwischen den Kristallfehlern Al und Al in einer zweiten Speichereinheit M2, die Strecke /3 zwischen den Kristallfehlern Al und A3 in einer dritten Speichereinheit M3 und die Strecke /4 zwischen den Kristallfehlern A3 und A4 in einer vierten Speichereinheit M4.

Die Anzahl der Bits, die bei jeder Speichereinheit benötigt werden, um die Lage des betreffenden Kristallfehlers zu speichern, wird in der nachstehend beschriebenen Weise ermittelt. Wenn M Bits benötigt werden, um die Anzahl NH der Bildelemente in der Horizontalrichtung zu codieren, und N Bits, um die Anzahl NV der Bildelemente in der Vertikalrichtung zu codieren, ist die erforderliche Kapazität jeder der Speichereinheiten Ml bis M4 durch den Ausdruck (N+ M) gegeben. Beispielsweise kann man eine Speichereinheit mit einer Kapazität von 17 Bits für jeden Kristallfehler einer Vorrichtung 10 verwenden, bei der NH etwa den Wert 500 und NV etwa den Wert 250 hat. Sind 20 Kristallfehler vorhanden, kann die Gesamtkapazität des bei der erfindungsgemäßen Rauschunterdrückungsschaltung verwendeten Speichern 20 etwa 400 Bits betragen.

Fig. 7 zeigt die codierten Speicherinhalte der Speichereinheiten Ml, Ml und M3 zum Darstellen der Lage der Kristallfehler Al, Al und A3 nach der Erfindung. Da der Abstand zwischen dem Bezugspunkt AO und dem Kristallfehler Al gemäß Fig. 4 den Wert 3 hai, wenn jeweils ein Bildelement als Zähleinheit gilt, wird in der ersten Speichereinheit Ml das binär codierte Signal 0000011 gespeichert. Da der Abstand zwischen den Kristallfehlern Al und Al ebenfalls den Wert 3 hat, wird in der zweiten Speichereinheit M2 das binär codierte Signal 0000011 gespeichert, und da der Abstand zwischen den Kristallfehlern Al und A3 gemäß Fig. 4 einer Anzahl von 23 Bildelementen entspricht, wird in der dritten Speichereinheit M3 das binär codierte Signal 0010111 gespeichert. Für die Strecke 15 zwischen den Kristallfehlern A3 und A4 nach Fig. 4 wird in der vierten Speichereinheit M4 ein in Fig. 7 nicht dargestelltes binär codiertes Signal gespeichert.

Fig. 8 zeigt eine erfindungsgemäße Festkörperfernsehkamera mit einer Rauschunterdrückungsschaltung umfassend einen Speicher 20, zu dem die Speichereinheiten Ml bis M4 gehören, in denen die codierten Strecken /1 bis /4 gespeichert sind. Die Inhalte der Speichereinheüen werden nacheinander in ein Pufferregister 41 überführt, und zwar entsprechend den Ausgangssignalen eines Adressenzählers 40, dessen Ausgang an den Speicher 20 angeschlossen ist. Zu dem Pufferregister 41 gehört ein Abwärtszähler zum Verkleinem des ihm von einer der Speichereinheiten zugeführten Speicherinhalts; ferner ist ein Nulldetektor vorhanden, der anspricht, wenn sich das Ausgangssignal des

Abwärtszählers auf Null verringert hat. Der Abfrageimpuls PS wird als Taktimpuls dem Pufferregister 41 zugeführt, um den in das Register überführten Speicherinhalt durch Abwärtszählen zu verkleinern. Sobald der überführte Speicherinhalt in dem Pufferregister 41 auf Null verkleinert worden ist, erscheint ein Fehlerlage- oder Steuersignal SM am Ausgang des Pufferregisters, um dem NAND-Glied 32 zugeführt zu werden.

Das Pufferregister 41 kann so ausgebildet sein, daß es ein sogenanntes Borgsignal liefert, wenn der Inhalt 0 des Abwärtszählers durch den nächsten Abfrageimpuls PS weiter verkleinert wird. Wenn dies geschieht, wird das Borgsignal als Steuersignal SM verwendet und dem NAND-Glied 32 zugeführt. Da der Abfragebetrieb der Abtast- und Halteschaltung 13 durch das Ausgangssignal der Verknüpfungsschaltung 32 gesteuert wird, welcher das Steuersignal SM jeweils zu einem Zeitpunkt zugeführt wird, welcher der Lage eines Kristallfehlers entspricht, wird das auf jeden Kristall fehler zurückzuführende Rauschen aus dem Ausgangssignal an der Klemme 14 mit Sicherheit entfernt; dies geschieht in der anhand von Fig. 1 beschriebenen Weise.

Gemäß Fig. 8 wird das Steuersignal SM auch dem Adressenzähler 40 zugeführt, so daß beim Auftreten jedes Steuersignals SM der nächste Speicherinhalt aus dem Speicher 20 in das Pufferregister 41 überführt wird. Nachdem das auf den Kristallfehler bei A1 zurückzuführende Rauschen aus dem Ausgangssignal an der Klemme 14 entfernt worden ist, wird somit der Inhalt der Speichereinheit Ml in das Pufferregister 41 überführt, wo der Abwärtszählvorgang mit Hilfe des Abfrageimpulses PS durchgeführt wird. Sobald der Speicherinhalt auf Null verringert worden ist, liefert das Pufferregister 41 erneut das Steuersignal SM zu dem Zeitpunkt, zu welchem das den Kristallfehler Al enthaltende Signal des betreffenden Bildelements an der Klemme 5 erscheint. Der Abfragebetrieb der Abtast- und Halteschaltung 13 wird durch das Steuersignal SM unterbrochen, um das von dem Kristallfehler Al herrührende Rauschen zu beseitigen. Entsprechend werden die Inhalte der Speichereinheiten M3 und MA nacheinander in das Pufferregister 41 überführt, und das von den Kristallfehlern A3 und A4 herrührende Rauschen wird aus dem an der Klemme 14 erscheinenden Ausgangssignal beseitigt.

Bei der Schaltung nach F i g. 8 wird der, Abfrageimpuls PS der Verknüpfungsschaltung 32 über eine Verzögerungsschaltung 45 zugeführt, so daß er in einer vorbestimmten Phasenbeziehung zu dem Steuersignal SM steht. so

Im folgenden wird anhand von Fig. 9 bis 11 eine weitere Ausführungsform der Erfindung beschrieben, bei der von der mit Ladungskopplung arbeitenden Bildfühleranordnung 10 nach Fig. 4 Gebrauch gemacht wird. Bei dieser Ausführungsform wird mit einer anderen Art der Darstellung der Abstände zwischen den aufeinanderfolgenden Kristallfehlern gearbeitet; genauer gesagt, werden die Lagewerte bzw. die Abstände zwischen den Kristallfehlem mit Hilfe eines rechtwinkligen Koordinatennetzes dargestellt. Fig. 9A veranschaulicht die Lage der Kristallfehler Al bis A4 gegenüber der Y-Achse des Koordinatennetzes. Gemäß Fig. 10 setzt sich ein Speicherelement MV für die senkrechten Lagewerte der Kristallfehler A\ bis A4 aus einer entsprechenden Anzahl von Speichereinheiten zusammen, und zwar aus vier Speichereinheiten MVl bis MV4, die den verschiedenen Kristallfehlern zugeordnet sind. Ein codierter senkrechter Lagewert m 1 für den Kristallfehler Al wird in der ersten Speichereinheit MVl gespeichert. Zur Speicherung einer codierten Strecke ml zwischen den Kristallfehlern Al und Al dient eine zweite Speichereinheit MVl; diese Strecke m hat den Wert Null, da die Kristallfehler Al und Al bei der Vorrichtung 10 nach Fig. 4 in der gleichen waagerechten Zeile liegen. In einer dritten Speichereinheit MV3 wird ein codierter Abstand /h3 zwischen den Kristallfehlern Al und A3 gespeichert, während in einer vierten Speichereinheit MV4 der codierte Abstand m4 zwischen den Kristallfehlern A3 und A4 gespeichert wird.

Fig. 9B zeigt die Lage der Kristallfehler Al bis A4 gegenüber der .Y-Achse des Koordinatenkreuzes. Gemäß F i g. 10 gehören zu einem Speicherelement MH für die waagerechte Lage der vier Kristallfehler vier Speichereinheiten MHl bis MH4, die den Kristallfehlern zugeordnet sind. Ein codierter horizontaler Lagewert «Ι für den Kristallfehler A1 wird in der ersten Speichereinheit MHl gespeichert und durch die Strecke zwischen dem Anfangspunkt Ad der ersten waagerechten Abtastzeile, aufweicher der Kristallfehler Al liegt, und dem Kristallfehler Al dargestellt. Eine codierte Strecke nl zwischen den Kristallfehlern A1 und Al wird als die waagerechte Lage des Kristallfehlers Al in der zweiten Speichereinheit MHl gespeichert. Die codierte waagerechte Strecke n3 zwischen dem Anfangspunkt der dritten horizontalen Abtastzeile, auf welcher der Kristallfehler A3 liegt, und dem Kristallfehler A3 stellt die waagerechte Lage dieses Kristallfehlers dar, und die zugehörige codierte waagerechte Strecke η3 wird in der dritten Speichereinheit MH3 gespeichert. Die codierte waagerechte Strecke n4 zwischen dem Anfangspunkt der fünften waagerechten Abtastzeile, auf welcher der Kristallfehler A4 liegt, und diesem Kristallfehler repräsentiert die waagerechte Lage des Kristallfehlers A4, und diese codierte horizontale Strecke wird in der vierten Speichereinheit MH4 gespeichert. In Fig. 9B sind die waagerechten Lagewerte der Kristallfehler Al bis A4 der Einfachheit halber auf einer Linie in der Abtastreihenfolge dargestellt, doch ist gemäß der vorstehenden Beschreibung anhand von F i g. 4 ersichtlich, daß die Strecke n4 tatsächlich kürzer ist als die Strecke «3.

Fi g. 11 zeigt eine Ausführungsform der Erfindung mit einer Rauschunterdrückungsschaltung, bei der zu dem Speicher 20 die vorstehend beschriebenen Speicherelemente MV und MH nach Fig. 10 gehören.

Die Speicherelemente MV und MH des Speichers 20 werden durcch die Ausgangssignale des Adressenzählers 40 gleichzeitig betätigt bzw. adressiert. Jedoch wird ein Pufferregister 41H für das Speicherelement MH so betätigt, daß es eine Abwärtszählung bezüglich der waagerechten Lage bzw. des Inhalts des Speicherelements MH nur dann durchführt, wenn ein Steuersignal einem Pufferregister 41V für das Speicherelement MV entnommen wird, d. h. erst nachdem ein vertikaler Lagewert oder Inhalt einer der Speichereinheiten des Elements MV in dem Pufferregister 41V durch Abwärtszählen auf Null verkleinert worden ist

Im folgenden wird näher auf die Anordnung und die Arbeitsweise der Rauschunterdrückungsschaltung nach Fig. 11 eingegangen.

Der erste Arbeitsschritt besteht darin, daß der Adressenzähler 40 veranlaßt, daß der Inhalt m 1 der Speichereinheit MVl des Speicherelements MV in das Pufferregister 41V überführt wird. Dann bewirken die Taktimpulse HD, daß der Zähler in dem Pufferregister 41V von m ausgehend eine Abwärtszählung beginnt. Sobald der

Speicherinhalt ml der Speichereinheit MVl in dem Register 41V auf Null verringert worden ist, wird durch den Nulldetektor des Pufferregisters 41K ein Steuersignal SMV erzeugt. Somit ist die vertikale Lage m 1 des Kristallfehlers A1 gezählt worden, und das resultierende Steuersignal SMV wird über ein Oder-Glied 42 einem Eingang eines Und-Gliedes 43 zugeführt. Der Taktimpuls PS wird einem weiteren Eingang des Und-Gliedes 43 zugeführt, so daß er dieses Glied durchläuft, solange das Pufferregister 41K das Steuersignal SMV erzeugt.

Der Zähler des Pufferregisters 41//, dem vorher der Inhalt «1 der Speichereinheit MHi zugeführt worden ist, wird durch die Taktimpulse PS veranlaßt, eine Abwärtszählung durchzuführen, wenn die Taktimpulse das Und-Glied 43 durchlaufen. Sobald der Inhalt nl des Registers 41// auf Null verringert worden ist, erzeugt der Nulldetektor des Pufferregisters 41// ein Steuersignal SMH. Auf diese Weise wird der horizontale Lagewert nl ausgezählt. Das Steuersignal SMH wird ähnlich wie das Steuersignal SM nach Fig. 8 dem NAND-Glied 32 zugeührt.

Das Steuersignal SMHwird ferner dem Adressenzähler 40 zugeführt, dessen Zählergebnis hierdurch erhöht wird, so daß die nächsten Speicherinhalte ml und nl der Speichereinheiten MVl und MHl in den Speicherelementen MVuna MH in die zugehörigen Pufferregister 41V und 41// überführt werden. Hierauf wird die vorstehend beschriebene Operation wiederholt, um die vertikale Lage m und die horizontale Lage η des Kristallfehlers Al auszuzählen.

Wenn zwei oder mehr Kristallfehler auf der gleichen waagerechten Abtastzeile liegen, wie es z.B. gemäß Fig. 4 bei den Fehlern Al und Al der Fall ist, hat der Speicherinhalt für die vertikale Lage jedes dieser Kristallfehler den Wert Null, jedoch mit Ausnahme des ersten Kristallfehlers, der dem Anfangspunkt der betreffenden Horizontalabtastzeile am nächsten benachbart ist. Wenn z. B. der Speicherinhalt für die vertikale Lage des Kristallfehlers Al aus der Speichereinheit MVl in das Pufferregister 41V überführt wird, kann das Steuersignal SMV diesem Pufferregister entnommen werden, sobald dieses Register durch die Taktimpulse HD veranlaßt worden ist, eine Abwärtszählung bis Null durchzuführen, und danach kann das Pufferregister 41// durch die Taktimpulse PS veranlaßt werden, eine Abwärtszählung durchzuführen, da das Steuersignal SMV dem Und-Glied 43 zugeführt wird. Wenn jedoch der Speicherinhalt für die vertikale Lage des Kristallfehlers Al, der auf den Kristallfehler Al folgt, dem Pufferregister 41V eingegeben wird, läßt sich das Steuersignal SMV diesem Pufferregister nicht entnehmen, denn der Speicherinhalt für die vertikale Lage des Kristallfehlers Al hat den Wert 0. Beim Fehlen eines Steuersignals SMV läßt sich das Pufferregister 41// nicht betätigen. Um in diesem Fall eine Betätigung des Pufferregisters 41// zu ermöglichen, ist der Speicher 20 gemäß Fi g. 11 zusätzlich mit einem Speicherelement MC versehen. Gemäß Fig. 11 ist in jeder Speichereinheit des Steuerspeicherelements MC, die einer Speichereinheit, z.B. der Einheit MYl des Speicherelements MV, entspricht, in der die vertikale Lage eines Kristallfehlers gespeichert ist, welcher auf der gleichen waagerechten Linie liegt wie ein vorausgehender Kristallfehler, eine 1 gespeichert. Das Speicherelement MC wird ebenfalls durch den Adressenzähler 40 betätigt bzw. adressiert, um die Speicherinhalte nacheinander einem Pufferregister 41C zuzuführen, dem ein Steuersignal SMC entnommen wird, um einem zweiten Eingang des Oder-Gliedes 42 zugeführt zu werden, wenn der Speicherinhalt 1 aus dem Speicherelement MC in das Pufferregister 41C überführt wird. Daher gelangt das Steuersignal SMC über das Oder-Glied 42 zu dem Und-Glied43, und das Pufferregister 41// für die horizontale Lage des Kristallfehlers Al wird durch die Taktimpulse PS betätigt, die das Und-Glied 43 durchlaufen.

Bei der Ausführungsform nach Fig. 11 sind die Speicherelemente MV und MH parallelgeschaltet, und die Speicherinhalte werden aus den entsprechenden Speichereinheiten gleichzeitig in die Pufferregister 41V und AlH überführt. Im Gegensatz hierzu zeigt Fig. 12 eine weitere Ausfuhrungsform der Erfindung, bei der die Speichereinheiten MVl bis MVA und MHl bis MHA für die vertikalen und horizontalen Lagewerte der Kristallfehler bei dem Speicher 20 abwechselnd hintereinandergeschaltet sind, so daß die Speicherinhalle für die vertikalen und die horizontalen Lagewerte der aufeinanderfolgenden Kristallfehler dem Speicher 20 abwechselnd entnommen werden.

Zur Vereinfachung der Zeichnung sind in F i g. 12 nur die Speichereinheiten MVl, MHl, MVl und MHl dargestellt, d.h. die Speichereinheiten MV3, MH3, MVA und MHA sind fortgelassen. Ferner sei festgestellt, daß die Speicherinhalte der Speichereinheiten MVl bis MVA und MHl bis MHA die gleichen sind wie die Inhalte der Speichereinheiten, die in Fig. 11 die entsprechenden Bezeichnungen tragen.

Beim Betrieb der Schaltung nach Fig. 12 wird zuerst der Inhalt der Speichereinheit MVl in Abhängigkeit vom Ausgangssignal des Adressenzählers 40 in das zugehörige Pufferregister 41 überführt. Eine Schalteinrichtung 44 dient dazu, die Taktimpulse HD bzw. PS abwechselnd dem Pufferregister 41 zuzuführen, um eine Abwärtszählung bezüglich eines Speicherinhalts durchzuführen, der aus dem Speicher 20 in das Pufferregister überführt worden ist. Anfänglich werden die Taktimpulse HD dem Pufferregister 41 über die Schalteinrichtung 44 zugeführt, die durch ein Ausgangssignal SP des Pufferregisters 41 umgeschaltet worden ist. Sobald der anfänglich in das Pufferregister 41 überführte Inhalt der Speichereinheit MKl durch eine Abwärtszählung mit Hilfe der Taktimpulse HD auf Null verringert worden ist, erzeugt das Pufferregister 41 ein Treibersignal 5Kl, und diesem Register wird das Ausgangssignal SP entnommen. Der Inhalt der Speichereinheit MHl wird dadurch aus dem Speicher 20 in das Pufferregister 41 überführt, daß das Treibersignal 5Kl dem Speicher 20 zugeführt wird. Da die Schalteinrichtung 44 durch das Signal SP so umgeschaltet wird, daß die Taktimpulse PS jetzt zu dem Pufferregister41 gelangen können, wird der Inhalt der Speichereinheit MH1 in dem Register 41 mit Hilfe der Taktimpulse PS durch Abwärtszählen verkleinert. Sobald der Inhalt der Speichereinheit MHl des Pufferregisters 41 auf Null verringert worden ist, erzeugt das Pufferregister ein Steuersignal SM, das dem NAND-Glied 42 und dem Adressenzähler 40 zugeführt wird. Somit werden die horizontalen oder X-Achsen-Lagewerte und die vertikalen oder y-Achsen-Lagewerte des Kristallfehlers Al ausgezählt, und das auf diesen Kristallfehler zurückzuführende Rauschen wird aus dem Ausgangssignal der mit Ladungskopplung arbeitenden Anordnung 10 auf ähnliche Weise entfernt, wie es anhand von Fi g. 1 beschrieben wurde. Das Abwärtszählen auf Null bezüglich des Inhalts der Speichereinheit MHl in dem Pufferregister 41 bewirkt wiederum, daß das Pufferregister ein Ausgangssignal SP abgibt, mittels dessen die Schalteinrichtung 44 wieder in den Zustand

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gebracht wird, bei dem die Taktimpulse HD dem Pufferregister 41 zugeführt werden. Die Zufuhr des Steuersignals SM zu dem Adressenzähler 40 bewirlct, daß der AdVessenzähler dem Pufferregister 41 den Inhalt der Speichereinheit MVl zuführt, damit dieser Inhalt mit Hilfe der Taktimpulse HD durch Abwärtszählen verkleinert werden kann, woraufhin sich die weiteren Arbeitsschritte in der bezüglich des Inhalts der Speichereinheiten MVl und MHX beschriebenen Weise abspielen. Somit werden die auf die Kristallfehler Al und A4 zurückzuführenden Rauschsignale ebenfalls aus dem Ausgangssignal an der Klemme 14 entfernt Bei der Ausfuhningsform nach Fig. 12 wird nur ein einziges Pufferregister 41 benötigt, während bei der Ausfuhrungsform nach Fi g. 11 mehrere Pufferregister verwendet werden.

Aus der vorstehenden Beschreibung ist ersichtlich, daß es gemäß der Erfindung möglich ist, das Rauschen, das auf Kristallfehler bei einem einen Bestandteil einer Bildfuhleranordnung bildenden Halbleitermaterial zurückzuführen ist, zuverlässig aus dem Ausgangssignal der Bildfuhleranordnung dadurch zu entfernen, daß jeder ein Rauschen enthaltende Teil des Ausgangssignals durch einen vorausgehenden rauschfreien Teil des Ausgangssignals ersetzt wird. Da gemäß der Erfindung ein spezielles Verfahren angewendet wird, um die Lage der Kristallfehler in dem Speicher 20 zu speichern, ist es im Vergleich zu der bekannten Rauschunterdrückungsschaltung nach Fig. 1, bei der man den Zähler 30 und die Koinzidenzschaltung 31 benötigt, möglich, die dem Speicher zugeordneten peripheren Schaltungen erheblich zu vereinfachen.

Zwar dienen die vorstehend beschriebenen Ausführungsfonnen der Erfindung insbesondere dazu, die Ausgangssignale einer Schwarz-Weiß-Fernsehkamera von dem durch Kristallfehler hervorgerufenen Rauschen zu befreien, doch läßt sich die Erfindung auch anwenden, um ein solches Rauschen aus den Ausgangssignalen einer Farbfernsehkamera zu entfernen.

Zwar wird bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen eine mit Ladungskopplung arbeitende Bildfuhleranordnung mit Zwischenzeilenübertragung verwendet, doch liegt es auf der Hand, daß man statt dessen auch eine mit Einzelbildübertragung arbeitende Bildfuhleranordnung verwenden könnte.

Zwar wurde vorstehend erwähnt, daß es sich bei der mit Ladungskopplung arbeitenden Anordnug um eine Anordnung handelt, bei der Ladungen übertragen werden, doch könnte man statt dessen erfindungsgemäß auch eine Vorrichtung vom Eimerkettentyp, eine Ladungsinjektionsvorrichtung oder eine Festkörpervorrichtung vom MOS-Typ verwenden.

Ferner könnte man den beschriebenen Festwertspeicher erfindungsgemäß auch durch einen Speicher mit wahlfreiem Zugriff ersetzen.

Hierzu 7 Blatt Zeichnungen

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Claims

Patentansprüche:

- 1. Festkörperfemsehkamera mit einer Rauschunterdrückungsschaltung und einer Festkörper- s Bildfühleranordnung aus Halbleitermaterial zum Erzeugen eines Ausgangssignals, das einem auf das Halbleitermaterial projezierten Bild eines Gegenstandes entspricht, wobei zu der Bildfühleranordnung Bildelemente gehören, die in Form eines Rasters mit parallelen Abtastlinien angeordnet sind, wobei die Abtastlinie in einer zu ihrer Erstreckungsrichtung rechtwinkeligen Richtung untereinander angeordnet sind und wobei das Halbleitermaterial dort, wo sich mehrere bestimmte Bildelemente befinden, Kristallfehler aufweist, die bei dem Ausgangssignal £u entsprechenden Zeitpunkten Rauschsignale erzeugen, mit einer Speicheranordnung (20) zum Speichern der Lagewerte der Kristallfehler des Halbleitermaterials, einer Adressiereinrichtung (40), die bewirkt, daß die codierten Inhalte der Speicheranordnung (20) nacheinander als Ausgangssignale der Speicheranordnung entsprechend der Reihenfolge der Lagerwerte der betreffenden Kristallfehler innerhalb des Rasters erscheinen, sowie Steuereinrichtungen (41; 41V, AlH, 45,32,13), die auf die Ausgangssignale der Speicheranordnung (20) ansprechen, um die Rauschsignale aus dem Ausgangssignal der Bildfühleranordnung (10) zu entfernen, dadurch gekennzeichnet, daß die Lage des in Richtung des Rasters ersten Kristallfehlers in der Speicheranordnung (20) in Form eines codierten Inhalts gespaichert ist, der den Abstand zwischen einem Bezugspunkt auf dem Raster und dem ersten Kristallfehler darstellt, und daß die Lage eines jeden weiteren Kristallfehlers in der Speicheranordnung (20) als ein codierter Inhalt gespeichert ist, der den Abstand zwischen dem betreffenden Kristallfehler und dem ihm jeweils vorausgehenden Kristallfehler darstellt.
2. Festkörperfemsehkamera nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abstände zwischen dem Bezugspunkt und dem ersten Kristallfehler sowie zwischen jedem vorausgehenden Kristallfehler und dem jeweils weiteren Kristallfehler längs der Abtastlinie nacheinander in der Reihenfolge ihres Vorhandenseins gemessen werden.
3. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,

daß zu der Speicheranordnung (20) Speichereinheiten (Ml, Af2, Λ/3, A/4) gehören, deren Anzahl der Anzahl der Kristallfehler entspricht,
und daß in jeder Speichereinheit (AfI, Ml, M3, M4) ein codierter Inhalt gespeichert ist, welcher für die Lage eines bestimmten Kristallfehlers kennzeichnend ist.
4. Festkörperfemsehkamera nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,

daß eine eine Abtast- und Halteeinrichtung (13) umfassende Steuereinrichtung des Ausgangssignal der Bildfühleranordnung aufnimmt,
daß eine Verknüpfungseinrichtung (32) ein Abtastsignal an die Abtast- und Halteeinrichtung (13) zur wiederholten Abtastung des genannten Ausgangssignals abgibt, und daß ein Pufferregister (41, 411/, 4\H) das Ausgangssignal der Speicheranordnung (20) zum Zählen des codierten Inhalts und zur Abgabe eines Verknüpfungssteuersignals aufnimmt, durch das die Abgabe des Abtastsignals an die Verknüpfungseinrichtung (32) in dem Fall blockiert wird, daß auf Kristallfehler zurückgehende Störungen in dem Ausgaugssignal von der Bildfühleranordnung (10) her auftreten.
5. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Messung der genannten Abstände unter Bezugnahme auf die Anzahl der zwischen den aufeinanderfolgenden Kristallfehlern liegenden Bildelemente der Bildfühleranordnung (10) erfolgt.
6. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildfühleranordnung (10) eine Ladungsübertragungsanordnung ist.
7. Festkörperfemsehkamera nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Ladungsübertragungsanordnung eine ladungsgekoppelte Anordnung ist.
8. Festkörperfemsehkamera nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,

daß jeder der genannten Abstände durch erste und zweite Komponenten bestimmt wird, die sich in einer ersten Richtung parallel zu den Abtastzeilen bzw. in einer zweiten, rechtwinklig zu den Abtastzeilen verlaufenden Richtung erstrecken,
und daß der jeweilige weitere Kristallfehler sowie der ihm vorausgehende Kristallfehler auf ein und derselben Abtastlinie liegen.
9. Festkörperfemsehkamera nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,

daß das Halbleitermaterial einen weiteren Kristallfehler aufweist, der auf einer der Abtastlinien liegt, welche verschieden ist von der Abtastlinie, aufweicher der dem betreffenden weiteren Fehler vorausgehende Kristallfehler liegt,
daß die erste Komponente des Abstands zu dem weiteren Kristallfehler längs der zugehörigen Abtastlinie von deren Ausgangspunkt aus gemessen wird und daß die zweite Komponente des Abstands zu dem weiteren Kristallfehler in der genannten zweiten Richtung von der Abtastlinie aus, auf der der dem weiteren Kristallfehler vorangehende Kristallfehler liegt, zu der betreffenden einen Abtastlinie hin gemessen wird.
10. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicheranordnung (20) erste und zweite Speichereinheiten (Af_n bis Λ/(/₄; M_H\ bis Mha) für die ersten bzw. zweiten Komponenten und in einer der Anzahl der Kristallfehler entsprechenden Anzahl aufweist.
11. Festkörperfemsehkamera nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,

daß die ersten und zweiten Speichereinheiten (M_V\ bis Α/™; Afm bis Mha) für die ersten bzw. zweiten Komponenten parallel zueinander angeordnet sind, daß die Steuereinrichtung eine Abtast- und Halteeinrichtung (13) enthält, welche das Ausgangssignal der Bildfühleranordnung (10) auf einen Abtastimpuls hin abtastet,

daß eine Verknüpfungseinrichtung (32) den Abtastimpuls an die Abtast- und Halteeinrichtung (13) abgibt,

daß erste und zweite Pufferregister (41 μ·, 41«) vorgesehen sind, zu denen die Inhalte der Speichereinheiten (Mv\ bis Mv*\ Mm bis Mm) für die ersten bzw. zweiten Komponenten mittels der Adressierungseinrichtung (40) übertragen werden,

daß das erste Pufferregister (41k) das zweite Pufferregister (41//) dadurch aktiviert, daß mittels des ersten Pufferregisters (41k) der Inhalt aus einer, der ersten Speichereinheiten (My] bis My) gezählt wird, und daß daraufhin das zweite Pufferregister (41//) den Inhalt der zweiten SpeichereirJjeit (Mh\ bis Mm) zählt und ein Verknüpfungssteuersignal abgibt, durch welches die Abgabe des Abtastimpulses an die Verknüpfungseinrichtung (32) in dem FaIi blockiert wird, daß auf Kristallfehler zurückgehende Störungen im Ausgangssignal der Bildfühleranordnung (10) auftretea
12. Festkörperferasehkamera nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten Speichereinheiten (Mv\ bis MyA-, Mh ι bis Λ///4) für die ersten bzw. zweiten Komponenten abwechselnd hintereinander angeordnet sind,

daß die Steuereinrichtung eine Abtast- und Halteeinrichtung (13) aufweist, durch welche das Ausgangssignal der Bildfühleranordnung (10) auf einen Abtastimpuls hin periodisch abgetastet wird, daß eine Verknüpfungseinrichtung (32) den Abtastimpuls an die Abtast- und Halteeinrichtung (13) abgibt,

und daß ein Pufferregister (41) den Inhalt einer der ersten Speichereinheiten (My 1 bis My*) auf die Ansteuerung durch die Adressiereinrichtung (40) hin aufnimmt und zählt sowie sodann die Übertragung des Inhalts der entsprechenden Speichereinheit der zweiten Speichereinheiten (Mh\ bis M_Hi) zu dem Pufferregister (41) hin bewirkt, welches den betreffenden Inhalt zählt und dann ein Verknüpfungssteuersignal zur Blockierung der Abgabe des Abtastimpulses an die Verknüpfungseinrichtung (32) abgibt, wenn infolge von Kristallfehlern Störungen im Ausgangssignal der Bildfühleranordnung (10) auftreten.

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