DE2803686A1 - Festkoerperfernsehkamera mit rauschunterdrueckungsschalter - Google Patents

Festkoerperfernsehkamera mit rauschunterdrueckungsschalter

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Description

BESCHREIBUNG-
Die Erfindung bezieht sich auf eine Festkörperfernsehkamera, bei der als Bildfühler ein Halbleiterelement, z.B. eine mit Ladungskopplung arbeitende Vorrichtung, verwendet wird, und sie betrifft insbesondere eine Festkörperfernsehkamera mit einer Schaltung zum Ausschalten des Rauschens, das durch in dem Halbleitermaterial bzw. dem Kristall der mit Ladungskopp^ lung arbeitenden Vorrichtung vorhandene Fehler verursacht wird,
Es sind bereits Festkörperfernsehkameras bekannt, bei denen als Festkörperbildfühler mit Ladungskopplung arbeitende Vorrichtungen verwendet werden. Eine solche Vorrichtung wird aufgebaut, indem man mehrere Elektroden in vorbestimmten gleichmäßigen Abständen auf einer isolierenden Schicht erzeugt, die eine Fläche eines Halbleiterkristallsubstrats bedeckt. Ein optisches Bild eines Gegenstandes wird auf den Bildfühler von der mit den Elektroden versehenen Seite oder von der Gegenseite des Substrats aus projiziert. Dieses projizierte optische Bild erzeugt in dem Substrat unter den
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Elektroden ein entsprechendes Muster, das aus Ladungsträgern besteht. Diese Ladungen werden dann aus der Vorrichtung nacheinander ausgelesen oder durch den Elektroden zugeführte Taktimpulse einer aus solchen Vorrichtungen bestehenden Speicheranordnung zugeführt.
Da es ziemlich schwierig ist, den Halbleiterkristall einer mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung so herzustellen, daß er innerhalb einer Fläche von erheblicher Größe gleichmäßige Eigenschaften hat, sind häufig örtliche Kristallfehler festzustellen, und es besteht die Gefahr, daß an diesen Fehlstellen auf thermischem Wege elektrische Ladungen erzeugt werden, die zu einem ungewöhnlich starken Dunkelstrom führen. Wenn eine solche Fernsehkamera ein Bild eines Gegenstandes aufnimmt, das auf den Bildfühler projiziert wird, erscheint in dem resultierenden Ausgangssignal dort, wo der Dunkelstrom außergewöhnlich stark ist, ein Rauschen. Der Pegel dieses Rauschens kann höher sein als der Weißwert, wenn er mit dem Ausgangssignal der Kamera gemischt wird, so daß er sich in dem wiedergegebenen Bild auf unerwünschte Weise bemerkbar macht.
Um dieses Rauschen zu beseitigen, ist bereits vorgeschlagen worden, eine Speicherschaltung zu verwenden, in der die Lage der Kristallfehler in dem Halbleitersubstrat gespeichert wird. Das Ausgangssignal der mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung wird mit Hilfe des Ausgangssignals der Speicherschaltung geregelt, um das Rauschen zu beseitigen, z.B. dadurch, daß das Ausgangssignal der Vorrichtung durch eine Abfrage- und Halteschaltung geleitet wird, die veranlaßt wird, das Ausgangssignal nur so lange abzufragen, wie das Ausgangssignal der Speicherschaltung anzeigt, daß das betreffende Bildelement der Vorrichtung frei von Kristallfehlern ist.
Normalerweise wird das Vorhandensein odiar Nichtvorhandensein eines Kristallfehlers für jedes Bildelement der Vorrichtung gespeichert. Bei einer mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung, die eine Matrix aus Bildelementen aufweist, zu der
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NH Bildelemente in der waagerechten Richtung und NV Bildelemente in der senkrechten Richtung gehören, muß die Speicherschaltung eine Speicherkapazität von NH . NV Bits haben. Bei den üblichen mit Hilfe eines Fernsehempfängers wiedergegebenen Bildern liegt NH zwischen 300 und 500, während NV zwischen 200 und 300 liegt. Wenn die Lage der Kristallfehler für sämtliche Bildelemente gespeichert werden soll, benötigt man daher einen Speicher mit einer sehr hohen Speicherkapazität von z.B. 60 000 bis 150 000 Bits. Ein solcher Speicher ist sehr teuer, und daher ist es schwierig, eine Festkörperfernsehkamera der genannten Art mit einem vertretbaren Kostenaufwand herzustellen.
Um die benötigte Speicherkapazität zu verringern, ist es möglich, das Vorhandensein oder Nichtvorhandenseiη eines Kristallfehlers nicht für jedes der aufeinander folgenden Bildelemente zu speichern, sondern nur die Lage derjenigen Bildelemente festzuhalten, bei denen Kristallfehler vorhanden sind, und die betreffenden Bildelemente zu codieren und zu speichern. Beispielsweise kann man die Lage der mit Kristallfehlern behafteten Bildelemente bezüglich der zueinander rechtwinkligen X- und Y-Koordinatenachsen des Halbleitersubstrats codieren. Wenn in der horizontalen Abtastrichtung die Anzahl NH der Bildelemente etwa 500 beträgt, kann man die Lage eines beliebigen Bildelemente in der waagerechten Abtastrichtung unter Verwendung einer Kapazität von 9 Bits ausdrücken. Wenn die Anzahl NV der Bildelemente in der senkrechten Abtastrichtung etwa 250 beträgt, kann man die Lage jedes einzelnen Bildelemente in der senkrechten Abtastrichtung unter Verwendung einer Kapazität von 8 Bits ausdrücken. Wird nach dem Zeilensprungverfahren gearbeitet, benötigt man ein zusätzliches Bit zur Kennzeichnung eines geradzahligen oder ungeradzahligen Teilbildes. Somit benötigt man insgesamt 18 Bits, um die Lage jedes mit einem Kristallfehler behafteten Bildelements längs der X- und Y-Achsen auszudrücken und das betreffende Teilbild zu identifizieren. Wenn die maximal zulässige Anzahl von mit Kristallfehlern behafteten Bildelementen
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bei einer praktisch brauchbaren, mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung mit 20 gegeben ist, braucht der Speicher nur eine Kapazität von 400 Bits zu haben. Ein Speicher mit einer solchen geringen Kapazität läßt sich mit geringen Kosten herstellen. Vie im folgenden näher ausgeführt, benötigt man jedoch bei der bekannten Rauschunterdrückungsschaltung relativ komplizierte Schaltungselemente, z.B. Adressenzähler sowie eine Koinzidenzschaltung in Zuordnung zu dem Speicher.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Festkörperfernsehkamera mit einer verbesserten Rauschunterdrückungsschaltung zu schaffen. Ferner soll eine solche Kamera geschaffen werden, bei der es möglich ist, das Rauschen, das im Ausgangssignal eines Festkörperbildfühlers mit einem Halbleitersubstrat infolge von Kristallfehlern erscheint, mittels einer einfach aufgebauten Schaltung wirksam zu unterdrücken. Schließlich soll eine Festkörperfernsehkamera mit einer Rauschunterdrückungsschaltung geschaffen werden, bei der die einem Speicher zugeordneten Schaltungen im Vergleich zu bekannten Schaltungen vereinfacht sind.
Erfindungsgemäß ist diese Aufgabe durch die Schaffung einer Festkörperfernsehkamera gelöst, bei der eine Rauschunterdrückungsschaltung vorhanden ist, ferner ein Festkörperbildfühler aus einem Halbleitermaterial, der ein Ausgangssignal liefert, welches einem darauf projizierten Bild eines Gegenstandes entspricht, sowie eine Speicheranordnung zum Speichern der Lage von Kristallfehlern in dem Halbleitermaterial, wobei die Lage des ersten Kristallfehlers durch den Abstand zwischen einem Bezugspunkt und dem ersten Kristallfehler bestimmt wird, wobei dieser Abstand codiert und in der Speicheranordnung gespeichert wird und wobei die Lage mindestens eines der übrigen Kristallfehler durch den Abstand zwischen diesem Kristallfehler und dem ihm vorausgehenden Kristallfehler bestimmt wird, wobei auch dieser Abstand codiert und in der Speicheranordnung gespeichert wird; ferner ist eine Einrichtung vorhanden, die dazu dient, das Ausgangssignal des Festkörperbildfühlers mit Hilfe des Ausgangssignals der
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Speicheranordnung zu beeinflussen.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden anhand schematischer Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 eine bekannte Rauschunterdrückungsschaltung für eine Festkörperfernsehkamera;
Fig. 2 eine vereinfachte Darstellung einer mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung, bei der eine Übertragung zwischen benachbarten Zeilen stattfindet und die geeignet ist, bei der Schaltung nach Fig. 1 sowie bei erfindungsgemäßen Rauschunterdrückungsschaltungen verwendet zu werden;
Fig. 3 eine Wellenform eines Ausgangssignals, das der Vorrichtung nach Fig. 2 entnommen werden kann;
Fig. 4 eine Darstellung zur Identifizierung von Bildelementen einer mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung, bei der Kristallfehler vorhanden sind, wobei diese Darstellung zur Erläuterung bestimmter Ausführungsformen der Erfindung dient;
Fig. 5, 6 und 7 jeweils eine Darstellung zur Erläuterung einer erfindungsgemäßen Anordnung zum Speichern der Lage von Eri s tal1fehlerη;
Fig. 8 eine erfindungsgemäße Schaltung für die Rauschunterdrückung;
Fig. 9A, 9B und 10 jeweils eine Darstellung zur Erläuterung einer weiteren erfindungsgemäßen Anordnung zum Speichern der Lage von Kristallfehlern;
Fig. 11 eine zweite Rauschunterdrückungsschaltung nach der Erfindung; und
Fig. 12 eine dritte erfindungsgemäße Rauschunterdrückungsschaltung.
Um das Verständnis der Erfindung zu erleichtern, wird im folgenden zunächst anhand von Fig. 1 eine bekannte Rausch-
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Unterdrückungsschaltung mit einem Speicher beschrieben.
Sowohl bei der bekannten Schaltung nach Fig. 1 als auch bei den weiter unten beschriebenen Ausführungsformen der Erfindung wird bei der jeweils verwendeten, mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung das sogenannte Zwischenzeilen-Übertragungsverfahren angewendet. Da solche Vorrichtungen bekannt sind, wird im folgenden anhand von Fig. 2 nur eine kurze Erläuterung gegeben.
Bei der mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung 10 nach Fig. 2 sind Bildelemente 2 in mehreren senkrechten Reihen angeordnet. Längs der senkrechten Reihen von Bildelementen sind Senkrechtschieberegister 3 angeordnet, die dazu dienen, die Ladungsträger aus den Reihen von Bildelementen 2 weiterzuleiten. Die Ladungsträger werden durch die Senkrechtschieberegister 3 nacheinander einem Waagerechtschieberegister 4 zugeführt. Ein Informationssignal wird einer Ausgangsklemme 5 des Waagerechtschieberegisters 4 entnommen. Jedem der Bildelemente 2 wird ein Impuls PI zugeführt, um die Ladungsträger unter den Elektroden zu speichern und die Ladungsträger weiterzuleiten. Jedem der Senkrechtschieberegister 3 wird als Übertragungsimpuls ein Impuls PV zugeführt. Dem Waagerechtschieberegister 4 wird als Ausgabeimpuls ein Impuls PH zugeführt.
Gemäß Fig. 1 wird ein Bild eines Gegenstandes 11, der sich im Blickfeld der Kamera befindet, durch ein optisches System 12 auf die mit Ladungskopplung arbeitende Vorrichtung 10 projiziert. Dieser Vorrichtung wird das Ausgangssignal SO über eine Klemme 5 entnommen und über eine Abfrage- und Halteschaltung 13 einer Ausgangsklemme 14 zugeführt. Der Abfragezustand der Abfrage- und Halteschaltung 13 wird durch einen gesteuerten Abfrageimpuls PSO bestimmt, der mit dem Ausgabeimpuls PH synchronisiert ist und durch das Ausgangssignal eines Speichers 20 beeinflußt wird.
Die codierten Werte für die Lage der Kristallfehler werden in dem Speicher 20 festgehalten, bei dem es sich z.B. um
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einen Festwertspeicher handelt. Der Vorrichtung 10 ist ein Adressenzähler 30 zugeordnet, zu dem ein H-Zähler 3OH zum Zählen der codierten horizontalen Lagewerte und ein V-Zähler 30V zum Zählen der codierten senkrechten Lagewerte gehören. Der Ausgabeimpuls PH wird dem Η-Zähler 3OH zugeführt, während ein Horizontalsynchronsignal HD als Rücksetzsignal einer Rücksetzklemme des H-Zählers 3OH zugeführt wird. Der Übertragungsimpuls PV wird dem V-Zähler 30V zugeführt, während ein Vertikalsynchronsignal VD als Rücksetzsignal einer Rücksetzklemme des V-Zählers 30V zugeführt wird.
Ein dem Adressenzähler 30 entnommenes Lagesignal SL und ein Teilbildsignal SF, das anzeigt, ob es sich um ein ungeradzahliges oder ein geradzahliges Teilbild handelt, werden einer Koinzidenzschaltung 31 zugeführt, der außerdem ein Ausgangssignal SM des Speichers 20 zugeführt wird. Wenn der Inhalt des Teilbildsignals SF und des Lagesignals SL mit dem Inhalt des Speicherausgangssignals SM übereinstimmt, d.h. wenn das Speicherausgangssignal SM anzeigt, daß an einem bestimmten Punkt der Vorrichtung 10 ein Kristallfehler vorhanden ist, und wenn das Lagesignal SL des Zählers 30 den betreffenden Punkt identifiziert, erscheint am Ausgang der Koinzidenzschaltung 31 ein Koinzidenzsignal SQ, das einem Eingang eines NAND-Gatters 32 zugeführt wird, dem als zweites Eingangssignal eine mit den Ausgabeimpulsen PH synchronisierte Reihe von Abfrageimpulsen PS zugeführt wird. Wenn das Koinzidenzsignal SQ normalerweise einen relativ niedrigen Pegel hat bzw. dem Wert O entspricht und wenn dieses Signal auf einen relativ hohen Pegel bew. den Wert 1 gebracht wird, wie es geschieht, wenn der Inhalt des Teilbildsignals SF und des Lagesignals SL mit dem Inhalt des Speicherausgangssignals SM übereinstimmt, wird der Abfrageimpuls PS normalerweise von dem Gatter 32 als Abfrageimpuls PSO durchgelassen, und der Impuls PS wird durch das Gatter 32 immer dann zurückgehalten, wenn das Koinzidenzsignal SQ den Wert 1 annimmt. Solange das Koinzidenzsignal SQ den Wert O hat, wie es der Fall ist, wenn das Lagesignal SL einen Punkt bezeichnet, für den in dem Speicher 20 kein Kristallfehler gespeichert ist, wird das
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diesem Punkt entsprechende Ausgangssignal SO der Vorrichtung 10 abgefragt und in der Schaltung 13 festgehalten, um als Ausgangssignal der Klemme 14 zugeführt zu werden. Wenn dagegen das Koinzidenzsignal SQ auf den Wert 1 ansteigt, da das Ausgangssignal SO der Vorrichtung 10 einem Punkt entspricht, für den in dem Speicher 20 ein Kristallfehler gespeichert worden ist, bewirkt die Sperrung des Impulses PS durch das Gatter 32, daß der Abfragevorgang der Abfrage- und Halteschaltung 13 unterbrochen wird, so daß das Signal für das vorausgegangene Bildelement an der Klemme 14 festgehalten wird. Somit wird das Rauschsignal N, das infolge eines Kristallfehlers im Ausgangssignal SO der Vorrichtung 10 enthalten ist, wie es in Fig. 3 gezeigt ist, durch den selektiven Abfragebetrieb der Abfrage- und Halteschaltung beseitigt. Außerdem wird das das Rauschsignal N enthaltende Ausgangssignal durch das Ausgangssignal ersetzt, das während der Abtastung des vorausgehenden Bildelements der Vorrichtung 10 erzeugt wird.
Gemäß Fig. 1 wird das Koinzidenzsignal SQ außerdem einem weiteren Adressenzähler 33 für den Speicher 20 zugeführt, so daß nach jedem Auftreten eines auf 1 erhöhten Pegels des Koinzidenzsignals SQ der Adressenzähler 33 veranlaßt, daß der Speicher 20 das nächste Ausgangssignal SM abgibt. Ferner wird bei der bekannten Schaltung nach Fig. 1 einer Rücksetzklemme 33a des Adressenzählers 33 ein Rücksetzsignal zugeführt, dessen Periodenlänge gleich der Periodenlänge jedes Einzelbildes ist.
Wenn nur die Lagewerte derjenigen Bildelemente, bei denen Kristallfehler vorhanden sind, codiert werden, um in dem Speicher 20 gespeichert zu werden, ist es, wie erwähnt, möglich, die Kapazität des Speichers erheblich zu verkleinern. Daher läßt sich ein solcher Speicher für eine Festkörperfernsehkamera mit einem relativ geringen Kostenaufwand herstellen. Da man jedoch bei der bekannten Schaltung nach Fig. 1 den Adressenzähler 30 und die Koinzidenzschaltung 31 benötigt, um die Übereinstimmung zwischen dem Speicherausgangs-
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signal SM und dem Lagesignal SL festzustellen, ist es immer noch erforderlich, dem Speicher 20 ziemlich komplizierte periphere Schaltungen zuzuordnen.
Die durch die Erfindung ermöglichte Vereinfachung dieser peripheren Schaltungen wird im folgenden anhand von Fig. 4 bis 8 erläutert, wo Schaltungselemente, die anhand von Fig. 1 beschriebenen entsprechen, jeweils mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet sind. Nimmt man an, daß das Halbleitersubstrat der mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung 10 an den in Fig. 4 mit Al, A2, A3 und A4 bezeichneten Stellen Kristallfehler aufweist, werden bei dieser Ausführungsform der Erfindung die Punkte, an denen sich die Kristallfehler befinden, durch eine einzige Dimension ausgedrückt, obwohl die Kristallfehler auf dem Halbleitersubstrat tatsächlich zweidimensional verteilt sind.
Man kann als Bezugspunkt AO für die eine Dimension zum Ausdrücken der Lage der verschiedenen Kristallfehler den Anfangspunkt der ersten waagerecht abzutastenden Zeile eines Teilbildes wählen, wobei nacheinander die erste, die zweite, die dritte waagerechte Abtastzeile betrachtet werden. Bei dieser eindimensionalen Darstellung sind die Lagewerte der Kristallfehler Al bis A4 in der aus Fig. 5 ersichtlichen Weise gegeben.
Zum Codieren der Lagewerte der Kristallfehler A2, A3 und A4 wird nicht der Abstand jedes Kristallfehlers von dem Bezugspunkt AO gezählt, sondern es wird der Abstand zwischen aufeinander folgenden bzw. einander unmittelbar benachbarten Kristallfehlern gezählt, wobei jede Zähleinheit durch ein Bildelement gebildet wird. Jedoch wird die Lage des dem Bezugspunkt AO am nächsten benachbarten ersten Kristallfehlers Al durch die Strecke 1, zwischen dem Bezugspunkt AO und dem Kristallfehler Al ausgedrückt.
Die Strecke I1 wird z.B. als binäre Zahl codiert und als Lagewert für den Kristallfehler Al gespeichert. Die Strecke I2 zwischen den Kristallfehlern Al und A2 wird codiert und
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als Lagewert für den Kristallfehler A2 gespeichert, und entsprechend wird die Strecke I3 zwischen den Kristallfehlern A2 und A3 codiert und als Lagewert für den Kristallfehler A3 gespeichert; schließlich wird auch die Strecke I4 zwischen den Kristallfehlern A3 und A4 codiert und als Lagewert für den Kristallfehler A4 gespeichert. Bei dem Beispiel nach Fig. 4 für eine mit Ladungskopplung arbeitende Vorrichtung 10, bei der Kristallfehler an den vier Bildelementen Al bis A4 vorhanden sind, werden vier Speichereinheiten Ml bis M4 benötigt, um den Speicher 20 zu bilden. Gemäß Fig. 6 wird die Strecke 1- zwischen dem Bezugspunkt AO und dem Kristallfehler Al als erster Speicherinhalt in einer ersten Speichereinheit Ml gespeichert, die Strecke I2 zwischen den Kristallfehlern Al und A2 in einer zweiten Speichereinheit M2, die Strecke I3 zwischen den Kristallfehlern A2 und A3 in einer dritten Speichereinheit M3 und die Strecke I4 zwischen den Kristallfehlern A3 und A4 in einer vierten Speichereinheit M4.
Die Anzahl der Bits, die bei jeder Speichereinheit benötigt werden, um die Lage des betreffenden Kristallfehlers zu speichern, wird in der nachstehend beschriebenen Weise ermittelt. Wenn M Bits benötigt werden, um die Anzahl NH der Bildelemente in der Horizontalrichtung zu codieren, und N Bits, um die Anzahl NV der Bildelemente in der Vertikalrichtung zu codieren, ist die erforderliche Kapazität jeder der Speichereinheiten Ml bis M4 durch den Ausdruck (N + M) gegeben. Beispielsweise kann man eine Speichereinheit mit einer Kapazität von 17 Bits für jeden Kristallfehler einer Vorrichtung 10 verwenden, bei der NH etwa den Wert 500 und NV etwa den Wert 250 hat. Sind 20 Kristallfehler vorhanden, kann die Gesamtkapazität des bei der erfindungsgemäßen Rauschunterdrückungsschaltung verwendeten Speichern 20 etwa 400 Bits betragen.
Fig. 7 zeigt die codierten Speicherinhalte der Speichereinheiten Ml, i;2 und M3 zum Darstellen der Lage der Kristallfehler Al, A2 und A3 nach der Erfindung. Da der Abstand
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zwischen dem Bezugspunkt AO und dem Kristallfehler Al gemäß Fig. 4 den Wert 3 hat, wenn jeweils ein Bildelement als Zähleinheit gilt, wird in der ersten Speichereinheit Ml das binär codierte Signal 0000011 gespeichert. Da der Abstand zwischen den Kristallfehlern Al und A2 ebenfalls den Wert 3 hat, wird in der zweiten Speichereinheit M2 das binär codierte Signal 0000011 gespeichert, und da der Abstand zwischen den Kristallfehlern A2 und A3 gemäß Fig. 4 einer Anzahl von 23 Bildelementen entspricht, wird in der dritten Speichereinheit M3 das binär codierte Signal 0010111 gespeichert. Für die Strecke 15 zwischen den Kristallfehlern A3 und A4 nach Fig. 4 wird in der vierten Speichereinheit M4 ein in Fig. 7 nicht dargestelltes binär codiertes Signal gespeichert.
Fig. 8 zeigt eine erfindungsgemäße Rauschunterdrückungsschaltung mit einem Speicher 20, zu dem die Speichereinheiten Ml bis M4 gehören, in denen die codierten Strecken 1- bis gespeichert sind. Die Inhalte der Speichereinheiten werden nacheinander in ein Pufferregeister 41 überführt, und zwar entsprechend den Ausgangssignalen eines Adressenzählers 40, dessen Ausgang an den Speicher 20 angeschlossen ist. Zu dem Pufferregister 41 gehört ein Abwärtszähler zum Verkleinern des ihm von einer der Speichereinheiten zugeführten Speicherinhalts; ferner ist ein Nulldetektor vorhanden, der anspricht, wenn sich das Ausgangssignal des Abwärtszählers auf Null verringert hat. Der Abfrageimpuls PS wird als Taktimpuls dem Pufferregister 41 zugeführt, um den in das Register überführten Speicherinhalt durch Abwärtszählen zu verkleinern. Sobald der überführte Speicherinhelt in dem Pufferregister auf Null verkleinert worden ist, erscheint ein Fehlerlageoder Steuersignal SM am Ausgang des Pufferregisters, um dem NAND-Gatter 32 zugeführt zu werden.
Das Pufferregister 41 kann so ausgebildet sein, daß es ein sogenanntes Borgsignal liefert, wenn der Inhalt O des Abwärtszählers durch den nächsten Abfrageimpuls PS weiter verkleinert wird. Wenn dies geschieht, wird das Borgsignal als Steuer-
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signal SM verwendet und dem NAND-Gatter 32 zugeführt. Da der Abfragebetrieb der Abfrage- und Halteschaltung 13 durch das Ausgangssignal der Gatterschaltung 32 gesteuert wird, welcher das Steuersignal SM jeweils in einem Zeitpunkt zugeführt wird, welcher der Lage eines Kristallfehlers entspricht, wird das auf jeden Kristallfehler zurückzuführende Rauschen aus dem Ausgangssignal an der Klemme 14 mit Sicherheit entfernt; dies geschieht in der anhand von Fig. 1 beschriebenen Weise.
Gemäß Fig. 8 wird das Steuersignal SM auch dem Adressenzähler 40 zugeführt, so daß beim Auftreten jedes Steuersignals SM der nächste Speicherinhalt aus dem Speicher 20 in das Pufferregister 41 überführt wird. Nachdem das auf den Kristallfehler bei Al zurückzuführende Rauschen aus dem Ausgangssignal an der Klemme 14 entfernt worden ist, wird somit der Inhalt der Speichereinheit M2 in das Pufferregister 41 überführt, wo der AbwärtszählVorgang mit Hilfe des Abfrageimpulses PS durchgeführt wird. Sobald der Speicherinhalt auf Null verringert worden ist, liefert das Pufferregister 41 erneut das Steuersignal SM in dem Zeitpunkt, in welchem das den Kristallfehler A2 enthaltende Signal des betreffenden Bildelements an der Klemme 5 erscheint. Der Abfragebetrieb der Abfrage- und Halteschaltung 13 wird durch das Steuersignal SM unterbrochen, um das von dem Kristallfehler A2 herrührende Rauschen zu beseitigen. Entsprechend werden die Inhalte der Speichereinheiten M3 und M4 nacheinander in das Pufferregister 41 überführt, und das von den Kristallfehlern A3 und A4 herrührende Rauschen wird aus dem an der Klemme erscheinenden Ausgangssignal beseitigt.
Bei der Schaltung nach Fig. 8 wird der Abfrageimpuls PS der Gatterschaltung 32 über eine Verzögerungsschaltung 45 zugeführt, so daß er in einer vorbestimmten Phasenbeziehung zu dem Steuersignal SM steht.
Im folgenden wird anhand von Fig. 9 bis 11 eine weitere Ausführungsform der Erfindung beschrieben, bei der von der
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mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung 10 nach Fig. 4 Gebrauch gemacht wird. Bei dieser Ausführungsform wird mit einer anderen Art der Darstellung der Abstände zwischen den aufeinander folgenden Kristallfehlern gearbeitet; genauer gesagt, v/erden die Lagewerte bzw. die Abstände zwischen den Kristallfehlern mit Hilfe eines rechtwinkligen Koordinatennetzes dargestellt. Fig. 9A veranschaulicht die Lage der Kristallfehler Al bis A4 gegenüber der Y-Achse des Koordinatennetzes. Gemäß Fig. 10 setzt sich ein Speicherelement MV für die senkrechten Lagewerte der Kristallfehler Al bis A4 aus einer entsprechenden Anzahl von Speichereinheiten zusammen, und zwar aus vier Speichereinheiten MVl bis MV4, die den verschiedenen Kristallfehlern zugeordnet sind. Ein codierter senkrechter Lagewert ml für den Kristallfehler Al wird in der ersten Speichereinheit MVl gespeichert. Zur Speicherung einer codierten Strecke m2 zwischen den Kristallfehlern Al und A2 dient eine zweite Speichereinheit MV2; diese Strekke m hat den Wert Null, da die Kristallfehler Al und A2 bei der Vorrichtung 10 nach Fig. 4 in der gleichen waagerechten Zeile liegen. In einer dritten Speichereinheit MV3 wird ein codierter Abstand m3 zwischen den Kristallfehlern A2 und A3 gespeichert, während in einer vierten Speichereinheit MV4 der codierte Abstand m4 zwischen den Kristallfehlern A3 und A4 gespeichert wird.
Fig. 9B zeigt die Lage der Kristallfehler Al bis A4 gegenüber der X-Achse des Koordinatenkreuzes. Gemäß Fig. 10 gehören zu einem Speicherelement MH für die waagerechte Lage der vier Kristallfehler vier Speichereinheiten MHl bis MH4, die den Kristallfehlern zugeordnet sind. Ein codierter horizontaler Lagewert nl für den Kristallfehler Al wird in der ersten Speichereinheit MHl gespeichert und durch die Strecke zwischen dem Anfangspunkt AO der ersten waagerechten Abtastzeile, auf welcher der Kristallfehler Al liegt, und dem Kristallfehler Al dargestellt. Eine codierte Strecke n2 zwischen den Kristallfehlern Al und A2 wird als die waagerechte Lage des Kristallfehlers A2 in der zweiten Speichereinheit MH2 gespeichert. Die codierte waagerechte Strecke n3 zwischen dem
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Anfangspunkt der dritten horizontalen Abtastzeile, auf welcher der Kristallfehler A3 liegt, und dem Kristallfehler A3 stellt die waagerechte Lage dieses Kristallfehlers dar, und die zugehörige codierte waagerechte Strecke n3 wird in der dritten Speichereinheit MH3 gespeichert. Die codierte waagerechte Strecke n4 zwischen dem Anfangspunkt der fünften waagerechten Abtastzeile, auf welcher der Kristallfehler A4 liegt, und diesem Kristallfehler repräsentiert die waagerechte Lage des Kristallfehlers A4, und diese codierte horizontale Strecke wird in der vierten Speichereinheit MH4 gespeichert. In Fig. 9B sind die waagerechten Lagewerte der Kristallfehler Al bis A4 der Einfachheit halber auf einer Linie in der Abtastreihenfolge dargestellt, doch ist gemäß der vorstehenden Beschreibung anhand von Fig. 4 ersichtlich, daß die Strecke n4 tatsächlich kürzer ist als die Strecke n3.
Fig. 11 zeigt eine Rauschunterdrückungsschaltung nach der Erfindung, bei der zu dem Speicher 20 die vorstehend beschriebenen Speicherelemente MV und MH nach Fig. 10 gehören.
Die Speicherelemente MV und MH des Speichers 20 werden durch die Ausgangssignale des Adressenzählers 40 gleichzeitig betätigt bzw. adressiert. Jedoch wird ein Pufferregister 41H für das Speicherelement MH so betätigt, daß es eine Abwärtszählung bezüglich der waagerechten Lage bzw. des Inhalts des Speicherelements MH nur dann durchführt, wenn ein Steuersignal einem Pufferregister 41V für das Speicherelement MV entnommen wird, d.h. erst nachdem ein vertikaler Lagewert oder Inhalt einer der Speichereinheiten des Elements MV in dem Pufferregister · IV durch Abwärtszählen auf Null verkleinert worden ist.
Im folgenden wird näher auf die Anordnung und die Arbeitsweise der Rauschunterdrückungsschaltung nach Fig. 11 eingegangen.
Der erste Arbeitsschritt besteht darin, daß der Adressenzähler 40 veranlaßt, daß der Inhalt ml der Speichereinheit MVl des Speicherelements MV in das Pufferregister 41V über-
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führt wird. Dann bewirken die Taktimpulse HD, daß der Zähler in dem Pufferregister 41V von m ausgehend eine Abwärtszählung beginnt. Sobald der Speicherinhalt ml der Speichereinheit MVl in dem Register 41V auf Null verringert worden ist, wird durch den Nulldetektor des Pufferregisters 41V ein Steuersignal SMV erzeugt. Somit ist die vertikale Lage ml des Kristallfehlers Al gezählt worden, und das resultierende Steuersignal SMV wird über ein Oder-Gatter 42 einem Eingang eines Und-Gatters 43 zugeführt. Der Taktimpuls PS wird einem weiteren Eingang des Und-Gatters 43 zugeführt, so daß er dieses Gatter durchläuft, solange das Pufferregister 41V das Steuersignal SMV erzeugt.
Der Zähler des Pufferregisters 41H, dem vorher der Inhalt nl der Speichereinheit MHl zugeführt worden ist, wird durch die Taktimpulse PS veranlaßt, eine Abwärtszählung durchzuführen, wenn die Taktimpulse das Und-Gatter 43 durchlaufen. Sobald der Inhalt nl des Registers 41H auf Null verringert worden ist, erzeugt der Nulldetektor des Pufferregisters 41H ein Steuersignal SMH. Auf diese Weise wird der horizontale Lagewert nl ausgezählt. Das Steuersignal SMH wird ähnlich wie das Steuersignal SM nach Fig. 8 dem NAND-Gatter 32 zugeführt.
Das Steuersignal SMH wird ferner dem Adressenzähler 40 zugeführt, dessen Zählergebnis hierdurch erhöht wird, so daß die nächsten Speicherinhalte m2 und n2 der Speichereinheiten MV2 und MH2 in den Speicherelementen MV und MH in die zugehörigen Pufferregister 41V und 41H überführt werden. Hierauf wird die vorstehend beschriebene Operation wiederholt, um die vertikale Lage m und die horizontale Lage η des Kristallfehlers A2 auszuzählen.
Wenn zwei oder mehr Kristallfehler auf der gleichen waagerechten Abtastzeile liegen, wie es z.B. gemäß Fig. 4 bei den Fehlern Al und A2 der Fall ist, hat der Speicherinhalt für die vertikale Lage jedes dieser Kristallfehler den Wert Null, jedoch mit Ausnahme des ersten Kristallfehlers, der dem Anfangspunkt der betreffenden Horizontalabtastzeile am nächsten
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benachbart ist. Wenn z.B. der Speicherinhalt für die vertikale Lage des Kristallfehlers Al aus der Speichereinheit MVl in das Pufferregister 41V überführt wird, kann das Steuersignal SMV diesem Pufferregister entnommen werden, sobald dieses Register durch die Taktimpulse HD veranlaßt worden ist, eine Abwärtszählung bis Null durchzuführen, und danach kann das Pufferregister 41H durch die Taktimpulse PS veranlaßt werden, eine Abwärtszählung durchzuführen, da das Steuersignal SMV dem Und-Gatter 43 zugeführt wird. Wenn jedoch der Speicherinhalt für die vertikale Lage des Kristallfehlers A2, der auf den Kristallfehler Al folgt, dem Pufferregister 41V eingegeben wird, läßt sich das Steuersignal SMV diesem Pufferregister nicht entnehmen, denn der Speicherinhalt für die vertikale Lage des Kristallfehlers A2 hat den Wert O. Beim Fehlen eines Steuersignals SMV läßt sich das Pufferregister 41H nicht betätigen. Um in diesem Fall eine Betätigung des Pufferregisters 41H zu ermöglichen, ist der Speicher 20 gemäß Fig. 11 zusätzlich mit einem Speicherelement MC versehen. Gemäß Fig. 11 ist in jeder Speichereinheit des Steuerspeicherelements MC, die einer Speichereinheit, z.B. der Einheit MV2 des Speicherelements MV, entspricht, in der die vertikale Lage eines Kristallfehlers gespeichert ist, welcher auf der gleichen waagerechten Linie liegt wie ein vorausgehender Kristallfehler, eine 1 gespeichert. Das Speicherelement MC wird ebenfalls durch den Adressenzähler 40 betätigt bzw. adressiert, um die Speicherinhalte nacheinander einem Pufferregister 41C zuzuführen, dem ein Steuersignal SMC entnommen wird, um einem zweiten Eingang des Oder-Gatters zugeführt zu werden, wenn der Speicherinhalt 1 aus dem Speicherelement MC in das Pufferregister 41C überführt wird. Daher gelangt das Steuersignal SMC über das Oder-Gatter 42 zu dem Und-Gatter 43, und das Pufferregister 41H für die horizontale Lage des Kristallfehlers A2 wird durch die Taktimpulse PS betätigt, die das Und-Gatter 43 durchlaufen.
Bei der Ausführungsform nach Fig. 11 sind die Speicherelemente MV und MH parallelgeschaltet, und die Speicherinhalte werden aus den entsprechenden Speichereinheiten gleichzeitig in die
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Pufferregister 41V und 41H überführt. Im Gegensatz hierzu zeigt Fig. 12 eine weitere Ausführungsform der Erfindung, bei der die Speichereinheiten MVl bis MV4 und MIIl bis MH4 für die vertikalen und horizontalen Lagewerte der Kristallfehler bei dem Speicher 20 abwechselnd hintereinandergeschaltet sind, so daß die Speicherinhalte für die vertikalen und die horizontalen Lagewerte der aufeinander folgenden Kristallfehler dem Speicher 20 abwechselnd entnommen werden.
Zur Vereinfachung der Zeichnung sind in Fig. 12 nur die Speichereinheiten MVl, MHl, MV2 und MH2 dargestellt, d.h. die Speichereinheiten MV3, MH3, MV4 und MH4 sind fortgelassen. Ferner sei festgestellt, daß die Speicherinhalte der Speichereinheiten MVl bis MV4 und MHl bis MH4 die gleichen sind wie die Inhalte der Speichereinheiten, die in Fig. 11 die entsprechenden Bezeichnungen tragen.
Beim Betrieb der Schaltung nach Fig. 12 wird zuerst der Inhalt der Speichereinheit MVl in Abhängigkeit vom Ausgangssignal des Adressenzählers 40 in das zugehörige Pufferregister 41 überführt. Eine Schalteinrichtung 44 dient dazu, die Taktimpulse HD bzw. PS abwechselnd dem Pufferregister 41 zuzuführen, um eine Abwärtszählung bezüglich eines Speicherinhalts durchzuführen, der aus dem Speicher 20 in das Pufferregister überführt worden ist. Anfänglich werden die Taktimpulse HD dem Pufferregister 41 über die Schalteinrichtung 44 zugeführt, die durch ein Ausgangssignal SP des Pufferregisters 41 umgeschaltet worden ist. Sobald der anfänglich in das Pufferregister 41 überführte Inhalt der Speichereinheit MVl durch eine Abwärtszählung mit Hilfe der Taktimpulse HD auf Null verringert worden ist, erzeugt das Pufferregister 41 ein Treibersignal SVl, und diesem Register wird das Ausgangssignal SP entnommen. Der Inhalt der Speichereinheit MHl wird dadurch aus dem Speicher 20 in das Pufferregister 41 überführt, daß das Treibersignal SVl dem Speicher 20 zugeführt wird. Da die Schalteinrichtung 44 durch das Signal SP so umgeschaltet wird, daß die Taktimpulse PS jetzt zu dem Pufferregister 41 gelangen können, wird der Inhalt der
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Speichereinheit MHl in dem Register 41 mit Hilfe der Taktimpulse PS durch Abwärtszählen verkleinert. Sobald der Inhalt der Speichereinheit MHl des Pufferregisters 41 auf Null verringert worden ist, erzeugt das Pufferregister ein Steuersignal SM, das dem NAND-Gatter 42 und dem Adressenzähler 40 zugeführt wird. Somit werden die horizontalen oder X-Achsen-Lagewerte und die vertikalen oder Y-Achsen-Lagewerte des Kristallfehlers Al ausgezählt, und das auf diesen Kristallfehler zurückzuführende Rauschen wird aus dem Ausgangssignal der mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung 10 auf ähnliche Weise entfernt, wie es anhand von Fig. 1 beschrieben wurde. Das Abwärtszählen auf Null bezüglich des Inhalts der Speichereinheit MHl in dem Pufferregister 41 bewirkt wiederum, daß das Pufferregister ein Ausgangssignal SP abgibt, mittels dessen die Schalteinrichtung 44 wieder in den Zustand gebracht wird, bei dem die Taktimpulse HD dem Pufferregister 41 zugeführt werden. Die Zufuhr des Steuersignals SM zu dem Adressenzähler 40 bewirkt, daß der Adressenzähler dem Pufferregister 41 den Inhalt der Speichereinheit MV2 zuführt, damit dieser Inhalt mit Hilfe der Taktimpulse HD durch Abwärtszählen verkleinert werden kann, woraufhin sich die weiteren Arbeitsschritte in der bezüglich des Inhalts der Speichereinheiten MVl und MHl beschriebenen Weise abspielen. Somit werden die auf die Kristallfehler A2 und A4 zurückzuführenden Rauschsignale ebenfalls aus dem Ausgangssignal an der Klemme 14 entfernt. Bei der Ausführungsform nach Fig. 12 wird nur ein einziges Pufferregister 41 benötigt, während bei der Ausführungsform nach Fig. 11 mehrere Pufferregister verwendet werden.
Aus der vorstehenden Beschreibung ist ersichtlich, daß es gemäß der Erfindung möglich ist, das Rauschen, das auf Kristallfehler bei einem einen Bestandteil eines Bildfühlers bildenden Halbleitermaterial zurückzuführen ist, zuverlässig aus dem Ausgangssignal des Bildfühlers dadurch zu entfernen, daß jeder ein Rauschen enthaltender Teil des Ausgangssignals durch einen vorausgehenden rauschfreien Teil des Ausgangssignals ersetzt wird. Da gemäß der Erfindung ein spezielles
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Verfahren angewendet wird, um die Lage der Kristallfehler in dem Speicher 20 zu speichern, ist es im Vergleich zu der bekannten 'causchunterdrückungsschaltung nach Fig. 1, bei der man den Zähler 30 und die Koinzidenzschaltung 31 benötigt, möglich, die dem Speicher zugeordneten peripheren Schaltungen erheblich zu vereinfachen.
Zwar dienen die vorstehend beschriebenen Ausführungsformen der Erfindung insbesondere dazu, die Ausgangssignale einer Schwarz-Veiß-Fernsehkamera von dem durch Kristallfehler hervorgerufenen !lauschen zu befreien, doch läßt sich die Erfindung auch anwenden, um ein solches Rauschen aus den Ausgangssignalen einer Farbfernsehkamera zu entfernen.
Zwar wird bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen ein mit Ladungskopplung arbeitender Bildfühler mit Zwischenzeilenübertragung verwendet, doch liegt es auf der Hand, daß man stattdessen bei einer erfindungsgemäßen Fernsehkamera auch einen mit Einzelbildübertragung arbeitenden Bildfühler verwenden könnte.
Zv/ar wurde vorstehend erwähnt, daß es sich bei der mit Ladungskopplung arbeitenden Vorrichtung um eine Vorrichtung handelt, bei der Ladungen übertragen werden, doch könnte man stattdessen bei einer erfindungsgemäßen Fernsehkamera auch eine Vorrichtung vom Eimerkettentyp, eine Ladungsinjektionsvorrichtung oder eine Festkörpervorrichtung vom MOS-Typ verwenden.
Ferner könnte man den beschriebenen Festwertspeicher bei den erfindungsgemäßen Rauschunterdrückungsschaltungen durch einen Speicher mit wahlfreiem Zugriff ersetzen..
Der Pa/teirtanwalt:
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Claims (12)

  1. Dipl.-lng. H. MITSCHERLICH D-3000 MDNCHEN 22
    Dipi.-Ing. K. GUNSCHMANN Steinsdorfstraße 10
    Dr.rer.nat. W. KÖRBER * (°89) * 29 U M
    Dipl.-l η g. J. SCHMIDT-EVERS
    PATENTANWÄLTE
    27. Januar 1978
    SONY CORPORATION
    7-55» Kitashinagawa
    6-chome, Shinagawa-ku
    Tokio / Japan
    PATENTANSPRÜCHE
    fly Festkörperfernsehkamera mit einer Rauschunterdrükkungsschaltung und einer Festkörper-Bildfühleranordnung aus Halbleitermaterial zum Erzeugen eines Ausgangssignals, das einem auf das Halbleitermaterial projizierten Bild eines Gegenstandes entspricht, wobei zu der Bildfühleranordnung Bildelemente gehören, die in Form eines Rasters mit parallelen Abtastlinien angeordnet sind, wobei die Abtastlinien in einer zu ihrer Erstreckungsrichtung rechtwinkligen Richtung untereinander angeordnet sind und wobei das Halbleitermaterial dort, wo sich mehrere bestimmte Bildelemente befinden, Kristallfehler aufweist, die bei dem Ausgangssignal in entsprechenden Zeitpunkten Rauschsignale erzeugen, g e kennzeichnet durch eine Speicheranordnung (20) zum Speichern der Lagewerte der Kristallfehler des Halbleitermaterials, wobei die in Richtung des Rasters betrachtete Lage des ersten Kristallfehlers in der Speicheranordnung in Form eines codierten Inhalts gespeichert ist, der den Abstand zwischen einem Bezugspunkt auf dem Raster und dem ersten Kristallfehler darstellt, und wobei die Lage eines anderen Kristallfehlers in der Speicheranordnung als ein codierter Inhalt gespeichert ist, der den Abstand zwischen dem betreffenden Kristallfehler und einem ihm voraus-
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    gehenden Kristallfehler darstellt, eine Adressiereinrichtung (40), die bewirkt, daß die codierten Inhalte der Speicheranordnung nacheinander als Ausgangssignale der Speicheranordnung entsprechend der Reihenfolge der Lagewerte der betreffenden Kristallfehler innerhalb des Rasters erscheinen, sowie Steuereinrichtungen (41; 41V, 41.11, 45, 32, 13), die auf die Ausgangssignale der Speicheranordnung ansprechen, um die Rauschsignale aus dem Ausgangssignal der Bildfühleranordnung (10) zu entfernen.
  2. 2. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abstände zwischen dem Bezugspunkt und dem ersten Kristallfehler sowie zwischen jedem vorausgehenden Kristallfehler und dem nächsten Kristallfehler jeweils nacheinander längs der Abtastlinien nacheinander in der Reihenfolge ihres Vorhandenseins gemessen werden.
  3. 3. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zu der Speicheranordnung (20) Speichereinheiten (Ml, M2, M3, M4) gehören, deren Anzahl der Anzahl der Kristallfehler entspricht, und daß in jeder Speichereinheit ein codierter Inhalt gespeichert ist, der die Lage eines bestimmten Kristallfehlers darstellt.
  4. 4. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zu den Steuereinrichtungen eine die Ausgangssignale der Bildfühleranordnung (10) empfangende Abfrage- und Halteeinrichtung (13) gehört, ferner eine Gatteranordnung (32) zum Zuführen eines Abfragesignals zu der Abfrage- und Halteeinrichtung derart, daß die Ausgangssignale wiederholt abgefragt werden, sowie ein Pufferregister (41; 41V, 41H), dem die Ausgangssignale der Speicheranordnung zugeführt werden, um die codierten Inhalte auszuzählen und ein Gattersteuersignal zu erzeugen, mittels dessen das Abfragesignal an der Gatteranordnung zurückgehalten wird, sobald im Ausgangssignal der Bildfühleranordnung auf die betreffenden Kristallfehler zurückzuführende Rauschsignale auftreten.
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  5. 5. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Abstände zwischen dem Bezugspunkt und dem ersten Kristallfehler sowie zwischen jedem vorausgehenden Kristallfehler und dem nächsten Kristallfehler unter Bezugnahme auf die Anzahl der innerhalb dieser Abstände vorhandenen Bildelemente der Festkörper-Bildfühleranordnung (10) gemessen werden.
  6. 6. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei der Festkörper-Bildfühleranordnung (10) um eine mit Ladungsübertragung arbeitende Vorrichtung handelt.
  7. 7. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei der mit Ladungsübertragung arbeitenden Vorrichtung um eine mit Ladungskopplung arbeitende Vorrichtung handelt.
  8. 8. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der genannten Abstände durch eine erste und eine zweite Komponente bestimmt wird, die sich in einer ersten Richtung parallel zu den Abtastlinien bzw. in einer zweiten Richtung im rechten Winkel zu den Abtastlinien erstreckt, und daß der genannte weitere Kristallfehler sowie der ihm vorausgehende Kristallfehler auf ein und derselben Abtastlinie liegen.
  9. 9. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Halbleitermaterial einen weiteren Kristallfehler aufweist, der auf einer der Abtastlinien liegt, bei welcher es sich nicht um die Abtastlinie handelt, auf welcher der dem weiteren Kristallfehler vorausgehende Kristallfehler liegt, daß die erste Komponente des Abstandes zu dem weiteren Kristallfehler längs der zugehörigen Abtastlinie vom Anfangspunkt der Abtastlinie aus gemessen wird und daß die zweite Komponente des Abstandes zu dem weiteren Kristallfehler in der genannten zweiten Richtung von der Abtastlinie aus, auf welcher der dem weiteren Kristallfehler
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    vorausgehende Kristallfehler liegt, zu der betreffenden Abtastlinie gemessen wird.
  10. 10. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß zu der Speicheranordnung (20) erste und zweite Speichereinheiten (MVl bis MV4, MHl bis MH4) für die ersten bzw. die zweiten Komponenten gehören und daß die Anzahl der Speichereinheiten der Anzahl der Kristallfehler entspricht.
  11. 11. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten Speichereinheiten (MVl bis MV4, MHl bis MH4) parallel zueinander angeordnet sind, daß zu den Steuereinrichtungen eine Abfrage- und Halteeinrichtung (13) gehört, die dazu dient, in Abhängigkeit von einem Abfrageimpuls das Ausgangssignal der Bildfühlanordnung (10) periodisch abzufragen, ferner eine Gatteranordnung (32) zum Zuführen des Abfrageimpulses zu der Abfrage- und Halteeinrichtung sowie erste und zweite Pufferregister (41V, 41H), in welche die Inhalte der Speichereinheiten für die ersten und die zweiten Komponenten durch die Adressiereinrichtung (40) überführt werden, daß das erste Pufferregister das zweite Pufferregister in Abhängigkeit davon betätigt, daß das erste Pufferregister den Inhalt einer der ersten Speichereinheiten zählt, woraufhin das zweite Pufferregister den Inhalt der betreffenden zweiten Speichereinheit zählt und ein Gattersteuersignal erzeugt, mittels dessen der Abfrageimpuls an der Gatteranordnung zurückgehalten wird, sobald im Ausgangssignal der Bildfühleranordnung ein auf den betreffenden Kristallfehler zurückzuführendes Rauschsignal erscheint.
  12. 12. Festkörperfernsehkamera nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und die zweiten Speichereinheiten (MVl bis MV4, MHl bis MH4) für die ersten und die zweiten Komponenten abwechselnd hintereinander angeordnet sind und daß zu den Steuereinrichtungen eine Abfrage- und Halteeinrichtung (13) gehört, die dazu dient, das Ausgangssignal der Bildfühleranordnung (10) In Abhängigkeit von einem
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    Abfrageirapuls periodisch abzufragen, ferner eine Gatteranordnung (32) zum Zuführen des Abfrageimpulses zu der Abfrage- und Halteeinrichtung sowie ein Pufferregister (41) zum Aufnehmen und Zählen des Inhalts einer der ersten Speichereinheiten unter dem steuernden Einfluß der Adressiereinrichtung (40) und zum darauffolgenden Überführen des Inhalts der entsprechenden zweiten Speichereinheit in das Pufferregister, welch letzteres diesen Inhalt zählt und dann ein Gattersteuersignal erzeugt, um den Abfrageimpuls an der Gatteranordnung zurückzuhalten, sobald im Ausgangssignal der Bildfühleranordnung ein auf einen Kristallfehler zurückzuführendes Rauschsignal auftritt.
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