DE19702753C2 - Laser-Scanning-Mikroskop - Google Patents
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Description
S Scankopf
S1, S2, F1, F2 Fokusstellungen
P1, P2 Pinholestellungen
Claims (3)
mit einer Laseranordnung zur Beleuchtung einer zu untersuchenden Probe mit mehreren Wellenlängen
und mindestens einer der Laseranordnung nachgeordneten Lichtleitfaser zur Übertragung des Beleuchtungslichtes auf die Probe
sowie einer das Probenlicht detektierenden Detektorvorrichtung,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Lichtleitfaser (14) eine in Längsrichtung der optischen Achse verschiebbare Kollimationsoptik (16) nachgeordnet ist, die für unterschiedliche Wellenlängen die Einstellbarkeit der Fokuslage in der Probe (5) gewährleistet.
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