NL8700612A - Confocale laserscanning microscoop. - Google Patents
Confocale laserscanning microscoop. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8700612A NL8700612A NL8700612A NL8700612A NL8700612A NL 8700612 A NL8700612 A NL 8700612A NL 8700612 A NL8700612 A NL 8700612A NL 8700612 A NL8700612 A NL 8700612A NL 8700612 A NL8700612 A NL 8700612A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- light
- return light
- scanning
- point
- confocal laser
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0068—Optical details of the image generation arrangements using polarisation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
- G02B21/0048—Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0072—Optical details of the image generation details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control
- G02B21/0084—Details of detection or image processing, including general computer control time-scale detection, e.g. strobed, ultra-fast, heterodyne detection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
* J- 1 ^ N.0. 3^292 * t
Confocale Xaserscanning microscoop
Aanvraagstser noemt als uitvinders: ing A. Draayer enP.M. Houpt 5 De uitvinding heeft betrekking op een confocale laserscanning microscoop voorzien van een laser als puntlichtbron, een deflektiestelsel voor de lijn- en beeldscanning en een lenzenstelsel, tenminste een objektief, een objekttafel, een ruimtelijk filter en een detektor samen als puntdetektor, en een elektronische stuur- en beeld-10 verwerkingsinrichting, waarbij het objekt door de lichtbundel puntge-wijs wordt afgetast en met de puntdetektor alleen daar wordt gemeten waar de puntlichtbron wordt gefocusseerd, waarbij resolutie en contrast in drie dimensies, in het bijzonder axiaal op het beeldvlak, sterk verbeteren, en waarbij een aantal dunne beeldsecties elektronisch gecombi-15 neerd kan worden tot een beeld met verhoogde scherptediepte. Een dergelijke confocale laserscanning microscoop is in de praktijk bekend.
Bij een dergelijke microscoop wordt het laserfocus-punt gescand over het stilstaande objekt of preparaat. Veelal wordt bij deze scanbeweging van het laserfocuspunt zowel voor de Üjnscanning 20 als voor de beeldscanning gebruik gemaakt van galvanometrische deflek-tie met behulp van spiegelgalvanometers. Ook wordt vaak het objekt door middel van de bewegende objekttafel gescand ten opzichte van een stilstaand laserfocuspunt. Het nadeel van dergelijke methoden om te scannen is dat zij een mechanisch karakter hebben en dus inherent traag zijn.
25 De uitvinding beoogt deze problemen te ondervangen en bij een confocale laserscanning microscoop een deflektie te realiseren die met hoge snelheid en flexibiliteit, d.w.z. met variabele scanampli-tude en diverse soorten microscopie, kan werken en die een optisch relatief eenvoudige uitvoering heeft. Door de snelle lijn- en beeldscan-30 ning is het dan mogelijk om in zeer korte tijd een aantal dunne beeldsecties te combineren tot een beeld met verhoogde scherptediepte.
Dit wordt bij een confocale laserscanning microscoop van de in de aanhef genoemde soort volgens de uitvinding aldus bereikt dat de confocale laserscanning microscoop een optische lichtweg heeft 35 die geometrisch optisch gezien zowel voor het heengaande als voor het teruggaande licht gelijk is, en hierbij het deflektiestelsel voor de snellere lijnscanning een akoesto-optische deflektor en voor de langzamere beeldscanning een andere deflektor omvat, zodanig uitgevoerd dat de scannende beweging van de teruggaande lichtbundel volledig wordt op-40 geheven zodat het teruggaande licht op het stilstaande ruimtelijke fil- 8700612 2 ter wordt gefocusseerd.
Bij een voordelige uitvoeringsvorm kan de andere de-flektor in het deflektiestelsel uit een spiegelgalvanometer bestaan.
Toepassing van een akoesto-optische deflektor is op 5 zich bij niet-confocale laserscanning microscopie bekend. Bij toepassing in confocale microscopie treden dan echter de bekende nadelen op van het dispersieve karakter en de noodzaak om meerdere lenzen te gebruiken, waardoor respectievelijk confocale microscopie met het te observeren licht van een andere golflengte dan het op het objekt inval-10 lende licht (fluorescentie e.d.) niet zonder meer mogelijk is en de storende invloed van reflekties aan oppervlakken van de gebruikte lenzen aanzienlijk is. Bovendien moeten deze van goede kwaliteit zijn om aberraties te voorkomen.
Met voordeel kan in de confocale laserscanning mi-15 croscoop volgens de uitvinding in de heengaande weg voor het objektief een kwartlabdaplaatje zijn opgenomen om de storende invloed te onderdrukken van optische reflekties in de heengaande weg die ontstaan door het gebruik van de akoesto-optische deflektor met de daaraan gekoppelde noodzaak om meerdere lenzen te gebruiken. In de weg van de gereflek-20 teerde lichtbundel dient dan een polarisatiefilter te zijn opgenomen waarvan de polarisatierichting loodrecht staat op de polarisatierich-ting van het heengaande licht. Door het kwartlabdaplaatje wordt het heengaande lineair gepolariseerde licht omgezet in circulair gepolariseerd licht. Na reflektie door het objekt valt dit circulair gepolari-25 seerd licht nogmaals door het kwartlabdaplaatje zodat dat licht lineair gepolariseerd wordt met een polarisatierichting loodrecht op die van de invallende bundel. Het in de weg van het gereflekteerde licht opgenomen polarisatiefilter laat alleen licht door met een polarisatierichting loodrecht op die van de heengaande bundel hetgeen daarna gedetekteerd 30 kan worden door de puntdetektor.
De uitvinding zal aan de hand van een uitvoerings-voorbeeld nader worden toegelicht met verwijzing naar de tekeningen, waarin:
Figuur 1 een schematisch aanzicht geeft van de opbouw 35 van de confocale laserscanning microscoop volgens de uitvinding; en
Figuur 2 een schematisch aanzicht geeft van de wijze waarop de lichtbundel op het objektief invalt.
Met verwijzing naar figuur 1 wordt het volgende toegelicht. De laserlichtbundel 1 passeert eerst een bundelexpansieoptiek 40 3, vervolgens een bundelsplitser 4, een akoesto-optische deflektor 5 8 7 0 06 12 * $ 3 6 met een planocilindrische lens 5.1 en een planokonvexe lens 5.2 zowel aan de intree- als aan de uittreezijde, een lens 6, een deflektor 7 die een spiegelgalvanometer kan zijn, een lens 8, een kwartlabdaplaatje 16, en een objektief 9. In het objektvlak 10 is een verder niet aangegeven 5 objekt geplaatst op een stilstaande objekttafel. Door het gereflekteer-de licht wordt een aan de heengaande weg identieke teruggaande weg afgelegd tot aan de bundelsplitser 4, waarna het wordt afgeplitst naar een polarisatiefilter 11, een band- of kantfilter 12, een objektief 13, een ruimtelijk filter 14, en uiteindelijk een detektor 15.
10 De genoemde expansieoptiek met expansiefaktor drie zorgt in combinatie met de overige optische elementen ervoor dat het licht de intreepupil van het objektief 9 volledig vult. De bnndelsplit-ser 4 zorgt ervoor dat het door het objekt gereflekteerde licht wordt afgescheiden van het heengaande laserlicht. De akoesto-optische deflek-15 tor 5 zorgt voor de snellere lijnscanning over het objekt, en de spiegelgalvanometer 7 zorgt voor de relatief langzamere beeldscanning over het objekt. Hierbij kan de akoesto-optische deflektor een afbuiging van de laserbundel met zodanige hoge frequentie realiseren dat deze met videosnelheid of zelfs hogere snelheid plaatsvindt.
20 De lens 6 vergroot de hoek waaronder de laserbundel door de akoesto-optische deflektor wordt afgebogen. Het focuspunt van de laserbundel komt op een zodanige plaats te liggen dat het objektief op de juiste manier wordt gebruikt. De spiegelgalvanometer 7 staat in het brandpunt van deze lens en in het middelpunt van de lens 8. Hier-25 door staat de laserbundel zowel op de spiegelgalvanometer als op de achterkant van het objektief stil, zodat op deze plaatsen alleen de hoek van inval maar niet de plaats van inval van de laserbundel verandert. Vergelijk ook figuur 2 daartoe.
Het objektief 9 focusseert de laserbundel op het ob-30 jekt, dat bijvoorbeeld een biologisch preparaat of elk ander objekt kan zijn. Het door het objekt gereflekteerde of verstrooide laserlicht volgt dezelfde optische weg terug tot aan de bundelsplitser 4. Hierna volgt het gereflekteerde licht de reeds aangegeven weg door de elementen 11, 12, 13, 14 tot in de detektor 15. De door de akoesto-optische 35 detektor en de spiegelgalvanometer geïntroduceerde scannende X-Y beweging van de laserbundel wordt op de teruggaande weg weer opgeheven zodat het gereflekteerde licht op het stilstaande ruimtelijke filter 14 (gat van twee micron) gefocusseerd wordt. Hiermede heeft de microscoop confocale eigenschappen.
40 Bij deze uitvoering Volgens de uitvinding worden de 0700012 f door de akoesto-optische deflektor in de heengaande weg geïntroduceerde storende reflekties ondervangen met behulp van een voor het objektief 9 opgenomen kwartlabdaplaatje 16 en een na de bundelsplitser opgenomen polarisatiefilter. Het heengaande lineair gepolariseerde licht wordt 5 door het plaatje 16 omgezet in circulair gepolariseerd licht waarna dit licht na reflektie nogmaals door dit kwartlabdaplaatje valt en weer wordt omgezet in lineair gepolariseerd licht met een polarisatierich-ting loodrecht op de invallende bundel. Het na de bundelsplitser opgenomen polarisatiefilter 11 staat ook ingesteld op deze polarisatierich-10 ting zodat alleen reflekties van het objekt en het objektief 9 worden gedetekteerd.
Eventueel kunnen verdere nadelige effekten veroorzaakt door het dispersieve karakter van de akoesto-optische deflektor, waardoor teruggaand licht van een andere golflengte (bijv. fluorescen-15 tie) dan het laserlicht niet meer door het ruimtelijk filter valt, worden opgevangen door het ruimtelijk filter in die gevallen te verplaatsen. Een dergelijk ruimtelijk filter kan met voordeel door drie piëzo-kristallen, elk voor een van de drie assen uit het xyz-coördinatenstel-sel, worden verplaatst.
20 Met voordeel kan een dergelijke microscoop worden toegepast voor onderzoek van fluorescerende preparaten, die zelf deze eigenschap hebben of die daartoe zijn gemerkt. Het bij lichtinval op het objekt daardoor uitgezonden licht heeft een andere golflengte dan het heengaande laserlicht. Door in de teruggaande weg een bandfilter of 25 kantfilter toe te passen dat afgestemd is op de te verwachten golflengte van het teruggaande licht kan dit selektief worden doorgelaten zodat geen storende invloed van het gereflekteerde laserlicht wordt ondervonden. Daar het licht van afwijkende golflengte in de akoesto-optische deflektor ook een andere afbuiging ondergaat, moet het ruimtelijke fil-30 ter in een andere positie worden ingesteld overeenkomstig de hoekdis-persie van de akoesto-optische deflektor.
Het is bij deze microscoop mogelijk om bijvoorbeeld 20 beelden per seconde op te bouwen bij een lijnfrequentie van 20 kHz. Dat wil zeggen dat elk beeld 1000 lijnen omvat. Bij een dergelijk aan-35 tal van 20000 lijnen per seconde, en wanneer er 1000 beeldpunten of pixels per lijn dienen te zijn, zal de detektor en de daarachtervolgen-de elektronica, die de grijswaarde van een pixel meten, tenminste een respons van maximaal 50 nanosec moeten hebben. Met voordeel kan bij een dergelijke snelle beeldopbouw door combinatie van een aantal dunne 40 beeldsecties een beeld worden opgebouwd met verhoogde scherptediepte.
fl *.? Λ t· Λ 4 rt Ö / u U D 1 4 * 5 r
In één seconde kunnen volgens bovenstaand voorbeeld 20 onder elkaar liggende secties worden gecombineerd zodat een object, dat 20 secties dik is, volledig scherp kan worden weergegeven.
Een dergelijke microscoop volgens de uitvinding kan 5 behalve in het toepassingsgebied van de biologie, ook bij forensisch onderzoek en in de micro-elektronika industrie worden toegepast. In alle gevallen is het feit, dat men bij deze microscoop niet onder vacuüm voor het objekt behoeft te werken, van groot voordeel. Tevens is deze methode non-destructief in tegenstelling tot de 10 scanningelektronenmicroscoop, waarbij de preparaten met een dunne geleidende metaallaag dienen te worden bedekt. Ook een voordeel ten opzichte van stelsels waarbij het preparaat wordt gescand, is dat bij . de microscoop volgens de uitvinding geen mechanische krachten op het preparaat worden uitgeoefend. Bij de micro-elektronika industrie kan 15 deze microscoop worden ingezet voor produktiecontrole van LSI- en VLSI-chips, de produktie van "custom design" chips en eveneens de funktionele controle van chips met behulp van de zogenaamde "optical beam induced contrast" methode.
r λ ί 9 V , v .. · Π
Claims (4)
1. Confocale laserscanning microscoop voorzien van een laser als puntlichtbron, een deflektiestelsel voor de lijn- en 5 beeldscanning en een lenzenstelsel, tenminste een objektief, een objekttafel, een ruimtelijk filter en een detektor samen als puntdetek-tor, en een elektronische stuur- en beeldverwerkingsinrichting, waarbij het objekt door de lichtbundel puntgewijs wordt afgetast en met de puntdetektor alleen daar wordt gemeten waar de puntlichtbron wordt ge-10 focusseerd, waarbij resolutie en contrast in drie dimensies, in het bijzonder axiaal op het beeldvlak, sterk verbeteren, en waarbij een aantal dunne beeldsecties elektronisch worden gecombineerd worden tot een beeld met verhoogde scherptediepte, met het kenmerk, dat de confocale laserscanning microscoop een optische lichtweg heeft, 15 die geometrisch optisch gezien zowel voor het heengaande als voor het teruggaande licht gelijk is en hierbij het deflektiestelsel voor de snellere lijnscanning een akoesto-optische deflektor en voor de langzamere beeldscanning een andere deflektor omvat, zodanig uitgevoerd dat de scannende beweging van de teruggaande lichtbundel volledig wordt op-20 geheven zodat het teruggaande licht op het stilstaande ruimtelijke filter wordt gefocusseerd.
2. Confocale laserscanning microscoop volgens conclusie 1,met het kenmerk, dat de andere deflektor in het deflektiestelsel uit een spiegelgalvanometer bestaat.
3. Confocale laserscanning microscoop volgens conclu sie 1, waarbij in de teruggaande lichtweg een bundelsplitser is opgenomen om de teruggaande lichtbundel af te splitsen en via een verder objektief naar de detektor te richten, met het kenmerk, dat in de heengaande lichtweg voor het objektief een kwartlabdaplaatje is 30 opgenomen en dat in de teruggaande lichtweg na de bundelsplitser een polarisatiefilter is opgenomen om de storende invloed van reflekties aan optische componenten in de heengaande lichtweg te ondervangen.
4. Confocale laserscanning microscoop volgens een der voorgaande conclusies voor toepassing bij fluorescentiemicroscopie, of 35 andere vormen van microscopie, waarbij de golflengte van het teruggaande licht verschilt van die van het heengaande licht, met het kenmerk, dat het ruimtelijke filter op drie piëzokristallen is gemonteerd en dienovereenkomstig in een xyz-coördinatenstelsel verplaatsbaar is waardoor de invloed van het dispersieve karakter van de ö / ü U Ö I L . -t v akoesto-optische deflektor op het teruggaande licht van een afwijkende golflengte, dat onder een andere hoek wordt afgebogen dan het gereflek-teerde laserlicht, wordt ondervangen en dat in de teruggaande lichtweg een overeenkomstig afgestemd band- of kantfilter is opgenomen om het 5 gereflekteerde laserlicht weg te filteren. !"(0 0 12
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8700612A NL8700612A (nl) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Confocale laserscanning microscoop. |
DE88200452T DE3873570T2 (de) | 1987-03-13 | 1988-03-09 | Konfokales Laserabtastmikroskop. |
AT88200452T ATE79476T1 (de) | 1987-03-13 | 1988-03-09 | Konfokales laserabtastmikroskop. |
ES198888200452T ES2034154T3 (es) | 1987-03-13 | 1988-03-09 | Microscopio de exploracion laser concentrico o de foco central. |
EP88200452A EP0284136B1 (en) | 1987-03-13 | 1988-03-09 | Confocal laser scanning microscope |
US07/166,226 US4863226A (en) | 1987-03-13 | 1988-03-10 | Confocal laser scanning microscope |
JP63059205A JPS63298211A (ja) | 1987-03-13 | 1988-03-12 | 共焦レーザー走査顕微鏡 |
JP1999000819U JP2607804Y2 (ja) | 1987-03-13 | 1999-02-22 | 共焦点レーザー走査顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8700612 | 1987-03-13 | ||
NL8700612A NL8700612A (nl) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Confocale laserscanning microscoop. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL8700612A true NL8700612A (nl) | 1988-10-03 |
Family
ID=19849704
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL8700612A NL8700612A (nl) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Confocale laserscanning microscoop. |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4863226A (nl) |
EP (1) | EP0284136B1 (nl) |
JP (2) | JPS63298211A (nl) |
AT (1) | ATE79476T1 (nl) |
DE (1) | DE3873570T2 (nl) |
ES (1) | ES2034154T3 (nl) |
NL (1) | NL8700612A (nl) |
Families Citing this family (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5200838A (en) * | 1988-05-27 | 1993-04-06 | The University Of Connecticut | Lateral effect imaging system |
JP2525893B2 (ja) * | 1989-04-07 | 1996-08-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 螢光特性検査装置 |
JP2525894B2 (ja) * | 1989-04-07 | 1996-08-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体試料の螢光特性検査装置 |
US5225924A (en) * | 1989-04-07 | 1993-07-06 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Optical beam scanning system |
US5002348A (en) * | 1989-05-24 | 1991-03-26 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Scanning beam optical signal processor |
EP0418928B1 (en) * | 1989-09-22 | 1996-05-01 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Scanning microscope and scanning mechanism for the same |
US5034613A (en) * | 1989-11-14 | 1991-07-23 | Cornell Research Foundation, Inc. | Two-photon laser microscopy |
US5386112A (en) * | 1990-06-29 | 1995-01-31 | Dixon; Arthur E. | Apparatus and method for transmitted-light and reflected-light imaging |
CA2106296C (en) * | 1991-04-10 | 2002-03-26 | Allison Christyne Bliton | Confocal imaging system for visible and ultraviolet light |
US5260578A (en) * | 1991-04-10 | 1993-11-09 | Mayo Foundation For Medical Education And Research | Confocal imaging system for visible and ultraviolet light |
US5306902A (en) * | 1992-09-01 | 1994-04-26 | International Business Machines Corporation | Confocal method and apparatus for focusing in projection lithography |
JP3343276B2 (ja) * | 1993-04-15 | 2002-11-11 | 興和株式会社 | レーザー走査型光学顕微鏡 |
US5479252A (en) * | 1993-06-17 | 1995-12-26 | Ultrapointe Corporation | Laser imaging system for inspection and analysis of sub-micron particles |
USH1530H (en) * | 1993-06-17 | 1996-05-07 | Ultrapointe Corporation | Surface extraction from a three-dimensional data set |
US5923430A (en) * | 1993-06-17 | 1999-07-13 | Ultrapointe Corporation | Method for characterizing defects on semiconductor wafers |
EP0646768A3 (en) * | 1993-09-29 | 1997-05-14 | Ushio Electric Inc | Confocal optical microscope and length measurement device using this microscope. |
US5923466A (en) * | 1993-10-20 | 1999-07-13 | Biophysica Technologies, Inc. | Light modulated confocal optical instruments and method |
US5587832A (en) * | 1993-10-20 | 1996-12-24 | Biophysica Technologies, Inc. | Spatially light modulated confocal microscope and method |
GB9408688D0 (en) * | 1994-04-30 | 1994-06-22 | Medical Res Council | Scanning confocal optical microscope |
US5561611A (en) * | 1994-10-04 | 1996-10-01 | Noran Instruments, Inc. | Method and apparatus for signal restoration without knowledge of the impulse response function of the signal acquisition system |
DE19510102C1 (de) * | 1995-03-20 | 1996-10-02 | Rainer Dr Uhl | Konfokales Fluoreszenzmikroskop |
NZ318277A (en) * | 1995-09-19 | 1999-02-25 | Cornell Res Foundation Inc | Multi-photon laser microscopy |
US6148114A (en) * | 1996-11-27 | 2000-11-14 | Ultrapointe Corporation | Ring dilation and erosion techniques for digital image processing |
DE19758744C2 (de) * | 1997-01-27 | 2003-08-07 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop |
DE19733193B4 (de) * | 1997-08-01 | 2005-09-08 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Mikroskop mit adaptiver Optik |
US6771417B1 (en) * | 1997-08-01 | 2004-08-03 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Applications of adaptive optics in microscopy |
US6366357B1 (en) | 1998-03-05 | 2002-04-02 | General Scanning, Inc. | Method and system for high speed measuring of microscopic targets |
US6098031A (en) * | 1998-03-05 | 2000-08-01 | Gsi Lumonics, Inc. | Versatile method and system for high speed, 3D imaging of microscopic targets |
US5936728A (en) * | 1998-04-14 | 1999-08-10 | Noran Instruments, Inc. | Flash photolysis method and apparatus |
WO2000055669A1 (en) * | 1999-03-18 | 2000-09-21 | Lucid, Inc. | System and method for enhancing confocal reflectance images of tissue specimens |
US6720547B1 (en) * | 1999-03-18 | 2004-04-13 | Lucid, Inc. | System and method for enhancing confocal reflectance images of tissue specimens |
US6548796B1 (en) * | 1999-06-23 | 2003-04-15 | Regents Of The University Of Minnesota | Confocal macroscope |
US6449039B1 (en) | 1999-07-28 | 2002-09-10 | Thermo Noran Inc. | Laser scanning fluorescence microscopy with compensation for spatial dispersion of fast laser pulses |
DE10050529B4 (de) * | 2000-10-11 | 2016-06-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop, Anordnung zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop und Scanmikroskop |
US7139122B1 (en) * | 2000-10-17 | 2006-11-21 | Lucid, Inc. | System and method for enhancing confocal reflectance images of tissue specimens |
WO2002057811A2 (en) | 2000-12-15 | 2002-07-25 | Sloan-Kettering Institute For Cancer Research | Beam-steering of multi-chromatic light using acousto-optical deflectors and dispersion-compensatory optics |
DE10107210C1 (de) * | 2001-02-16 | 2002-10-10 | Evotec Ag | Mikroskop |
US6750974B2 (en) | 2002-04-02 | 2004-06-15 | Gsi Lumonics Corporation | Method and system for 3D imaging of target regions |
CA2506300A1 (en) * | 2002-10-22 | 2004-05-06 | William Marsh Rice University | Random access high-speed confocal microscope |
GB0308072D0 (en) * | 2003-04-08 | 2003-05-14 | Visitech Internat Ltd | Fast multi-line laser confocal scanning microscope |
JP4987233B2 (ja) * | 2005-01-06 | 2012-07-25 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡 |
EP1895905B1 (en) | 2005-05-12 | 2024-10-23 | Lucid, Inc. | Confocal scanning microscope having optical and scanning systems which provide a handheld imaging head |
DE102007021378A1 (de) * | 2007-05-04 | 2008-11-06 | Ape Angewandte Physik Und Elektronik Gmbh | Verfahren und optische Anordnung zum Erzeugen eines nicht-linearen optischen Signals an einem durch ein Anregungsfeld angeregten Material sowie Verwendung des Verfahrens und der optischen Anordnung |
KR101119381B1 (ko) * | 2009-06-18 | 2012-03-07 | 한국과학기술원 | 세포 특성 측정 장치 및 시스템과 이를 이용한 세포 특성 측정 방법 |
CN101904735B (zh) * | 2010-07-20 | 2013-05-08 | 苏州微清医疗器械有限公司 | 基于快速倾斜镜的宽视场共焦扫描显微镜 |
CN102885612A (zh) * | 2012-02-14 | 2013-01-23 | 苏州微清医疗器械有限公司 | 一种用于临床诊断的眼底成像设备 |
CN105486638B (zh) * | 2015-11-30 | 2019-02-05 | 哈尔滨工业大学 | 一种超分辨阵列扫描结构光照明成像装置及其成像方法 |
CN106442335B (zh) * | 2016-12-16 | 2024-04-09 | 中国科学院工程热物理研究所 | 一种显微可视化抽运探测热反射系统 |
CN108519329B (zh) * | 2018-03-26 | 2021-01-15 | 华中科技大学 | 一种多路扫描与探测的线共聚焦成像装置 |
CN112261253B (zh) * | 2020-10-15 | 2022-05-03 | 浙江大华技术股份有限公司 | 共焦补偿滤片的控制方法、装置、存储介质以及电子装置 |
WO2023193480A1 (zh) * | 2022-04-08 | 2023-10-12 | 南京博视医疗科技有限公司 | 一种视网膜成像装置及其成像方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5118136B1 (nl) * | 1970-11-25 | 1976-06-08 | ||
US4044363A (en) * | 1974-12-23 | 1977-08-23 | Dymo Industries, Inc. | Laser photocomposition system and method |
US4634880A (en) * | 1982-04-19 | 1987-01-06 | Siscan Systems, Inc. | Confocal optical imaging system with improved signal-to-noise ratio |
GB2152697B (en) * | 1983-10-25 | 1987-03-25 | Atomic Energy Authority Uk | Improvements in or relating to scanning optical microscopes |
DE3427611A1 (de) * | 1984-07-26 | 1988-06-09 | Bille Josef | Laserstrahl-lithograph |
US4640626A (en) * | 1984-09-13 | 1987-02-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and apparatus for localizing weak points within an electrical circuit |
JPS61118710A (ja) * | 1984-11-15 | 1986-06-06 | Nippon Jido Seigyo Kk | 走査型顕微鏡撮像装置 |
JPS61121022A (ja) * | 1984-11-19 | 1986-06-09 | Nippon Jido Seigyo Kk | 走査型顕微鏡撮像装置 |
JPS61140914A (ja) * | 1984-12-14 | 1986-06-28 | Hitachi Ltd | 共焦点顕微鏡 |
JP2524574B2 (ja) * | 1985-03-27 | 1996-08-14 | オリンパス光学工業株式会社 | 走査型光学顕微鏡 |
-
1987
- 1987-03-13 NL NL8700612A patent/NL8700612A/nl not_active Application Discontinuation
-
1988
- 1988-03-09 DE DE88200452T patent/DE3873570T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-09 AT AT88200452T patent/ATE79476T1/de not_active IP Right Cessation
- 1988-03-09 ES ES198888200452T patent/ES2034154T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-09 EP EP88200452A patent/EP0284136B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-10 US US07/166,226 patent/US4863226A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-12 JP JP63059205A patent/JPS63298211A/ja active Pending
-
1999
- 1999-02-22 JP JP1999000819U patent/JP2607804Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11135U (ja) | 1999-11-09 |
EP0284136A1 (en) | 1988-09-28 |
DE3873570D1 (de) | 1992-09-17 |
US4863226A (en) | 1989-09-05 |
JPS63298211A (ja) | 1988-12-06 |
ATE79476T1 (de) | 1992-08-15 |
DE3873570T2 (de) | 1994-01-05 |
ES2034154T3 (es) | 1993-04-01 |
JP2607804Y2 (ja) | 2003-03-31 |
EP0284136B1 (en) | 1992-08-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL8700612A (nl) | Confocale laserscanning microscoop. | |
US5737121A (en) | Real time scanning optical macroscope | |
US5386112A (en) | Apparatus and method for transmitted-light and reflected-light imaging | |
US5760951A (en) | Apparatus and method for scanning laser imaging of macroscopic samples | |
US6088097A (en) | Point-scanning luminescent microscope | |
US9645375B2 (en) | Light microscope and microscopy method | |
EP1789831B1 (en) | Focusing method for the high-speed digitalisation of microscope slides and slide displacing device, focusing optics, and optical rangefinder | |
US7706584B2 (en) | Random access high-speed confocal microscope | |
US10341583B2 (en) | Full field visual-mid-infrared imaging system | |
NL8603108A (nl) | Mikroskoop. | |
GB2369953A (en) | Light source for illumination in scanning microscopy | |
EP0536273B1 (en) | Apparatus and method for transmitted-light and reflected-light imaging | |
US6836359B2 (en) | Microscope and segmenting device for a microscope | |
US20020021491A1 (en) | Microscope assemblage | |
US20050017197A1 (en) | Scanning microscope and method for scanning microscopy | |
JPH07111505B2 (ja) | 光電顕微鏡 | |
JPH05288992A (ja) | 透過型顕微鏡 | |
US20020054429A1 (en) | Arrangement for visual and quantitative three-dimensional examination of specimens and stereomicroscope therefor | |
JPH05224127A (ja) | 共焦点走査型微分干渉顕微鏡 | |
Stimson et al. | A unique optical arrangement for obtaining spectrally resolved confocal images | |
RU2018891C1 (ru) | Конфокальный сканирующий микроскоп | |
Wijnaendts-van-Resandt et al. | Application of confocal beam scanning microscopy to the measurement of submicron structures | |
Yoo et al. | Confocal scanning microscopy: a high-resolution nondestructive surface profiler | |
GB2416262A (en) | Laser linear scanning microscope with plural scanning arrangements | |
JPH02267512A (ja) | 共焦点走査型光学顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A1B | A search report has been drawn up | ||
BV | The patent application has lapsed |