JPH02267512A - 共焦点走査型光学顕微鏡 - Google Patents

共焦点走査型光学顕微鏡

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JPH02267512A
JPH02267512A JP8791589A JP8791589A JPH02267512A JP H02267512 A JPH02267512 A JP H02267512A JP 8791589 A JP8791589 A JP 8791589A JP 8791589 A JP8791589 A JP 8791589A JP H02267512 A JPH02267512 A JP H02267512A
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JP
Japan
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image
light
pickup element
optical system
image pickup
Prior art date
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Pending
Application number
JP8791589A
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English (en)
Inventor
Shigeji Kimura
茂治 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、従来の光学顕微鏡より高分解能が実現可能な
共焦点走査型光学顕微鏡に関する。
〔従来の技術〕
共焦点走査型光学顕微鏡の、11(木枯成は、アプライ
ド・フイジクス、ビー27、(1982年)、第211
頁から第213頁(APPl、phys、H2°1 、
 I’P。
211−213(1982))において詳しく瞼じられ
ている。
このmv&mにおいては、細く絞り込んだ光を観察試料
面上で走査し、透過光あるいは反射光、さらにはこの光
で励起された蛍光等を検出する。共焦点光学系を実現す
るために、反射光等の像を作り。
その一部分の光をピンホールを通過させ検出する。
このような光学系を形成することによって、横方向の分
解能が従来の光学顕微鏡より向−■−シ、更に深さ方向
の分解能も有するようになる。
〔発明が解決しようとする課題〕
共焦点走査型光学顕微鏡では、上記のように。
ピンホールを光検出器の前に置き透過光斌を制限するこ
とで分解能を向上させる。したがって、ピンホールはこ
の顕v&鏡において非常に大切である。
ピンホールがこのw*mにおいて分解能向上の効果を発
揮するためには十分小さblものである必要がある。形
成された反射光像等及びピンホールは小さいので、1^
;者の位置合わせ非常に困短なものとなる0本発明の目
的は、このような位h)je合わせの困難さを解イ1す
ることにある6 〔履題を解決するための手段〕 上記目的を達成するために1本発明では2次元の強度分
布が分かり、かつ、その特定範囲の光鼠に比例する信号
を得ることが11能な2次元撮像素子を、従来のピンホ
ールの代わりにm h′lL、たものである、撮像素子
の位置合わせのために、撮#に素子は光軸方向に移II
JJ11能であるものとする。撮像素子にピンホールの
役割をさせるために、撮像素子の特定の画素からの(d
4+を検出する電子回路を設置した。さらに、撮像素子
全体からの信号で入射光の走査画像を得るようにしでお
り、この画像からどの画素から共焦点走査を光学顕微鏡
のための信号を得るべきか簡単に決定できる。
(作用〕 2次元撮像素子は細かい画素が2次元状に多数19、ん
でおり、これは多数のピンホールの後方にそれぞれ光検
出器を有しているのと同じである。しかも、任意の特定
位hvtの画素からの信号を選択的に取り出すことがI
Jf能である。この特性を利用することにより、共焦点
走査型光学顕微鏡の調整を簡単にする。
仮定として、反射光を検出するタイプの共焦点走査型光
学顕微鏡を使用するものとし、鏡面状IMの試料表面が
細く絞られたプローブ光のビームウェストの位置にある
ものとする。この状態で本顕微鏡のr&4@を行う、ま
ず最初に、光軸方向に移動III能な撮像素子を反射光
像の位置に合オ)せるために移動させる。このとき、反
射光が入射している撮像素子の画素に対応する部分が明
るくなる走査画像を撮る。この明るい部分の面積最小に
なった位らゝlが反射光の焦点位置に一致するので、こ
のような位置に撮像素子を固定する。
次に、共焦点光学系を構成するための撮像素子の使用方
法について述べる。撮像素子を使用した走査II勲津に
は強度分布があり、中心部の強度が強ぃ、この中心部の
信号のみを共焦点走査型光学顕微鏡の画像信号として使
用する。即ち、画像素子そのものの画像形成機能は使用
しない、光ビー11を試料面上で走査するどき撮像素子
上での反射光像が固定されるような光学系を使用してい
る場合には、特定位置の画素からのみM号を取ればよい
・この信号と試料上でのプローブ光による走査位置との
対応を付けて画像として表示装置に表せばよし)。
倍率の異なるレンズを使用して像の倍率を蛮えることが
あり、このとき、撮像素子へ絞り込む光ビームの大きさ
が変わり得る。このような場合は、信号を取り込むp(
イ索数を変えることで、調整がj+f能である。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。
レーザ光源1から出射したレーザ光2をレンズ3a及び
3bにより観察試料5の上で微細な光ビームスポットに
絞り込む、半透鏡4aはレーザ光の進行方向を変えるた
めのものである。上記3a及び4a、3bがプローブ光
集光光学系を形成している。お1察試料5は、xyzス
テージ6 a l:に載っており、3次元的な走査がu
(能である。このステージの位置制御はステージコント
ローラ7で行オ)れ、ステージ6uと共に走査機構を形
成する。
本実施例では応答光として反射光を検出する。
観察試料からの反射光はレンズ3b、半透鏡4u及び4
bを通過して、2次元撮像素子8上に絞り込まれる1本
実施例ではビームスポットに対しで試料を走査する方式
を採用しているので、2次元撮像素子8上での反射光像
の位置は固定されている。2次元撮像素子には、移動機
構であるステージ6bが取り付けられており、光軸方向
に移す1可詣である。信号処理回路である撮#に素子コ
ントロール回路S3は撮像素子の特定画素からの(r4
号を取り込み、ステージコントローラ7の走査位ttと
対応を付けて表示装置10に表示する。撮像素子コント
ロール回路9は複数の画素を選んで、それらのイー号を
加え合わせて2表示装置10の信号とすることも可能で
ある。
次に、2次元撮像素子の特定位置の画素の選び方につい
て述べる。試料5は鏡面としておき、レーザ光2のビー
・ムウエストの位置にこの表面があるものとする。撮像
素子コントロール回路9は。
上記のような特定位置の画素からの(r4号のみを取り
出す動作をせず、撮像素子の画素全体からの各々の(d
号を使用して表示装置10に画像を形成する。
撮像素子8の位置が反射光の結像位置にない場合は表示
装置10に表示される画像は広がった状態になる。光軸
上で撮像素子8をステージ6bにより移動させることで
、像の面積が一番小さくなる状態にすることができる。
この状態において、反射光像の中心に対応する画素が本
顕微鎖で使用すべき信号となる。この信号を使用するこ
とで。
共焦点走査光学系が実J3tされる。
本発明では通常の顕微鏡画像も得ることができる。11
は通常の照明光源である。半透i4bは照明光源11か
らの光の進行方向を変えるためのものである。11およ
びレンズ3c、半透鏡4 b 。
4a、レンズ:3bが構成する照明機構は、レンズ3b
の後焦点位F1tにレンズ3cで照明光源の像を作るケ
ラ−照明となっている。この照明機構を動作させるとき
には、レーザ光2はWg tQ’tされている。
N1察試料の像は撮像索/−8上に結像され、撮像素子
コントロール回路9により表示装置i’t10に表示さ
れる。このときの撮像素子コントロール回路9は表示装
Pt1oに2次元撮像素子上の像そのものを形成する通
常の動作になっている。
本発明は実施例で示した反射タイプだけでなく、透過タ
イプや蛍光タイプの共焦点走査型光学顕微鏡にも当然の
ことながら適用−1能である。また。
2次元撮像素子の前にイメージ・インテンシファイヤー
等の器具を使用して微弱な光にも感度を持たせた共焦点
走査型光学顕微鏡を構成することもOf能である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、共焦点走査型光学顕微鏡を構成するた
めに不可欠であったピンホールが不要になり、ピンホー
ルがあったときと比べて装置の調整が簡単になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の概略構成図である。 1・・・レーザ光源、2・・・レーザ光、3・・・レン
ズ、4・・・半透鏡、5・・・観察試料、6・・・ステ
ージ、7・・・ステージコントローラ、8・・・2次元
撮像素子、9・・・撮像素子コントロール回路、1o・
・・表示装置?。 ]1・・・照明光源。 茅1t!1 −8′

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、レーザ光源と、該レーザ光源からのレーザ光を観察
    試料上で微細な光ビームスポットに絞り込むプローブ光
    集光光学系と、該観察試料を該光ビームスポットに対し
    て相対的に走査する走査機構と該観察試料から発生する
    応答光を絞り込む応答光集光光学系と、該応答光集光光
    学系の焦点面に設置した2次元撮像素子と、該2次元撮
    像素子を光軸方向に移動させる移動機構と、該2次元撮
    像素子からの信号を演算処理する信号処理回路と、観察
    試料の走査位置と対応づけた該信号処理回路からの信号
    を表示する表示装置と、該試料を照明する照明機構とを
    備えたことを特徴とする共焦点査型光学顕微鏡。
JP8791589A 1989-04-10 1989-04-10 共焦点走査型光学顕微鏡 Pending JPH02267512A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06500637A (ja) * 1991-06-08 1994-01-20 レニショウ トランスデューサ システムズリミテッド 共焦点分光分析
WO1997037264A1 (fr) * 1996-03-29 1997-10-09 Komatsu Ltd. Appareil optique confocal
CN109782103A (zh) * 2019-03-11 2019-05-21 潘元志 探针与电子器件引脚的对准方法及系统

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06500637A (ja) * 1991-06-08 1994-01-20 レニショウ トランスデューサ システムズリミテッド 共焦点分光分析
WO1997037264A1 (fr) * 1996-03-29 1997-10-09 Komatsu Ltd. Appareil optique confocal
CN109782103A (zh) * 2019-03-11 2019-05-21 潘元志 探针与电子器件引脚的对准方法及系统
CN109782103B (zh) * 2019-03-11 2021-07-30 镇江宏祥自动化科技有限公司 探针与电子器件引脚的对准方法及系统

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