DE19702753A1 - Laser-Scanning-Mikroskop - Google Patents

Laser-Scanning-Mikroskop

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    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes

Description

Stand der Technik
Handbook of Biological Confocal Microscopy, Second Edition, Plenum Press New York and London 1995 S. 519, Fig. 6: Fasereinkopplungsoptik S. 595, fig. 14: Telezentrisches System für mehrere Detektionsstrahlengänge US 5283433 Einkoppeloptik für Detektionsstrahlengänge DE 43 23 129 A1, Spalte 6: zentrierbare und bezüglich ihres Durchmessers variierbare Konfokalblenden US 5444528, US 5377003, US 5317379, US 5216484: AOTF US 5081350, EP 283256 A1, WO 90/00754: Faserverbindung zwischen Laser und Scaneinheit.
Darstellung der Wirkungsweise und Vorteile erfindungsgemäßen Lösungen anhand der Ausführungsbeispiele gemäß der schematischen Darstellungen Fig. 1-6
Es zeigen:
Fig. 1 Eine modulare Anordnung aus Mikroskop M, Scankopf S und Lasereinheit,
Fig. 2 Eine Darstellung des Strahlverlaufs im Scankopf S,
Fig. 3 Die optische Wirkung der verschieblichen Kollimationsoptik 16,
Fig. 4 Die optische Wirkung der in Richtung der optischen Achse verschieblichen Pinholes,
Fig. 5 Die optische Wirkung der senkrecht t zur optischen Achse verschieblichen Pinholes bei verschiedenen reflektierenden Strahlteilern,
Fig. 6 Scankopf S, Mikroskop M sowie eine Faser hinter dem Pinhole im Detektionsstrahlengang
1. In Fig. 1 sind schematisch eine Mikroskopeinheit M und ein Scankopf S dargestellt, die eine gemeinsame optische Schnittstelle über eine Zwischenabbildung z gemäß Fig. 2 ausweisen.
Der Scankopf S kann sowohl an den Phototubus eines aufrechten Mikroskopes sowie auch vorteilhaft an einen seitlichen Ausgang eines inversen Mikroskopes.
In Fig. 1 ist ein zwischen Auflichtscan und Durchlichtscan mittels eines schwenkbaren Spiegels 14 umschaltbarer mikroskopischer Strahlengang dargestellt,
mit Lichtquelle 1, Beleuchtungsoptik 2, Strahlteiler 3, Objektiv 4, Probe 5, Kondensor 5, Lichtquelle 7 Empfängeranordnung 8, einer ersten Tubuslinse 9, einem Beobachtungsstrahlengang mit einer zweiten Tubuslinse 10 und einem Okular 11 sowie einem Strahlteiler zur Einkopplung des Scanstrahls dargestellt.
Ein Lasermodul 13.1, 13.2 nimmt die Laser auf und ist über Lichtleitfasern 14.1, 14.2 mit der Lasereinkoppeleinheit des Scankopfes S verbunden.
Die Einkopplung der Lichtleitfasern 14.1, 14.2 erfolgt mittels einer verschieblichen Kollimationsoptik 16, auf die noch näher eingegangen wird,sowie Strahlumlenkelementen 17.1, 17.2. Mittels eines teildurchlässigen Spiegels 18 wird ein Überwachungsstrahlengang in Richtung einer Monitordiode 19 der, vorteilhaft auf einem nicht dargestellten drehbaren Filterrad Linienfilter 21 sowie Neutralfilter 20 vorgeordnet sind, ausgeblendet.
Die eigentliche Scaneinheit besteht aus Scanningobjektiv 22, Scanner 23, Hauptstrahlteiler 24 und einer gemeinsamen Abbildungsoptik 25 für Detektionskanäle 26.1-26.4 Ein Umlenkprisma 27 hinter der Abbildungsoptik 25 spiegelt die vom Objekt 5 kommende Strahlung in Richtung dichroitischer Strahleiler 28 im konvergenten Strahlengang der Abbildungsoptik 25, denen in Richtung und senkrecht zur optischen Achse verstellbare und in ihrem Durchmesser veränderbare Pinholes 29, individuell für jeden Detektionskanal sowie Emissionsfilter 30 und geeignete Empfängerelemente 31 (PMT) nachgeordnet sind.
Die Strahlteiler 27, 28 können vorteilhaft , wie in Fig. 5 schematisch dargestellt, als Teilerrad mit mehreren Positionen, motorisch durch Schrittmotoren umschaltbar, ausgebildet sein.
2. Vorteilhaft erfolgt eine Einkopplung von UV-Strahlung in Glasfaser 14.1, vorzugsweise einer Single-Mode-Glasfaser mittels eines AOTF, als Strahlablenker, d. h. wenn Strahl nicht auf Fasereingang fallen soll, wird er mittels des AOTF vom Fasereingang, beispielsweise in Richtung einer nicht dargestellten Lichtfalle, abgelenkt.
Die Einkoppeloptik 33 zur Einkopplung der Laserstrahlung weist zur Einkopplung nicht dargestellte Linsensysteme auf, deren Brennweite durch den Strahlquerschnitt der Laser und die für die optimale Einkopplung erforderliche numerische Apertur festgelegt ist.
Im Lasermodul 13.2, sind Einzel- und Multiwellenlängenlaser vorgesehen, die einzeln oder gemeinsam über einen AOTF in eine oder mehrere Fasern eingekoppelt werden.
Weiterhin kann die Einkopplung auch über mehrere Fasern gleichzeitig erfolgen, deren Strahlung mikroskopseitig nach Durchlaufen einer Anpaßoptik durch Farbvereiniger gemischt wird.
Auch die Mischung der Strahlung verschiedener Laser am Fasereingang ist möglich und kann anhand der schematisch dargestellten, auswechselbar und schaltbar ausgebildeten Teilerspiegel 39 erfolgen.
3. Die in Fig. 2 und 3 divergent aus dem Faserende der Fasern 14.1,2 an der Scaneinheit S austretende Laserstrahlung wird mittels der Kollimationsoptik 16 auf einen Unendlichstrahl kollimiert.
Die erfolgt vorteilhaft mit einer einzelnen Linse, die durch Verschiebung entlang der optischen Achse mittels einer über eine zentrale Ansteuereinheit 34 ansteuerbare Steuereinheit 37 eine Fokussierungsfunktion hat, indem ihr Abstand zum Ende der Lichtleitfaser 14.1,2 an der Scaneinheit erfindungsgemäß veränderbar ist.
Die Wirkung Verschiebung der Kollimationsoptik 16 ist schematisch in Fig. 3a und 3b dargestellt.
In Fig. 3a ist der strahlverlauf für zwei unterschiedliche Wellenlängen λ1, λ2 dargestellt. Da für eine polychromatische Lichtquelle mittels einer feststehenden Abbildungsoptik in eine Bildebene nur für eine mittlere Wellenlänge des Spektralbereiches abgebildet wird, wird mittels der Ansteuereinheit 37 der Abstand von Faserende und Kollimationsoptik verändert. Für die beiden dargestellten Wellenlängen ergeben sich die Linsenstellungen S1, S2, um für beide Wellenlängen die gleiche Fokuslage zu gewährleisten.
Dadurch wird vorteilhaft bewirkt, daß im Falle der Fluoreszenzmikroskopie die Fluoreszenzstrahlung im Fokus des auf unendlich eingestellten Objektives 4 entsteht und die Anregungsstrahlung in dieselbe Ebene fokussiert wird.
Es können auch mehrere Fasern und Faserkollimatoren zur Einstellung unterschiedlicher chromatischer Kompensationen für unterschiedliche Anregungswellenklängen Verwendung finden. Weiterhin kann eine hierdurch eine chromatische Korrektion der eingesetzten Optik, insbesondere der Mikroskopobjektive erfolgen.
Durch mehrere Einkoppelfasern und Kollimationsoptiken für unterschiedliche Wellenlängen können unabhängig verschiedene chromatische Kompensationen eingestellt werden.
Die variable Kollimation durch Verschiebung der Linse 16 kann auch zur Realisierung eines z-scans verwendet werden, indem mittels der verschieblichen Kollimatorlinse 16 der Fokus im Präparat in z-Richtung verschoben wird und ein optischer Schnitt nach dem anderen detektiert wird. Dies ist in Fig. 3b für eine Wellenlänge λ dargestellt, wobei den Stellungen S1, S2 die Fokuslagen F1, F2 entsprechen.
4. In Fig. 2 dient eine Monitordiode 19, die auch, hier nicht dargestellt, eine vorgesetzte Fokussierlinse aufweisen kann wirkt in Verbindung mit einem linien- oder bereichsselektiven Filterrad oder Filterschieber 21, angesteuert von einer Steuereinheit 36, zur permanenten Überwachung der in das Scanmodul eingekoppelten Laserstrahlung, insbesondere um die Leistung in einer bestimmten Laserlinie isoliert zu kontrollieren und gegebenenfalls mittels eines Regelsignales der Ansteuereinheit 34 zu stabilisieren. Die Detektion mittels der Monitordiode 19 erfaßt das Laserrauschen und Variationen aufgrund des mechanisch­ optischen Übertragungssystems.
Aus der detektierten momentanen Laserleistung kann dabei ein Fehlersignal abgeleitet werden, das on-line direkt auf den Laser oder einen dem Laser nachgeschalteten Intensitätsmodulator (ASOM, AOTF, EOM, Shutter) zwecks der Stabilisierung der in das Scanmodul eingestrahlten Laserleistung zurückwirkt.
Durch die Ansteuerung der Filtereinheit 21 kann somit eine wellenlängenweise Stabilisierung der Intensität und Laserleistungskontrolle erfolgen.
Durch eine Verbindung zur Detektion 31 (PMT) und jeweils zur zentralen Ansteuereinheit kann durch Bildung von Signalquotienen/oder Signalsubtraktion des Detektionssignales und des Monitorsignales der Diode 19 eine Rauschverminderung bewirkt werden, indem das entsprechende Sensorsignal eines Detektionskanals pixelweise als Pixel-Bildinformation auf das Signal der Monitordiode normiert wird ( z. B. Division), um auf diese Weise Intensitätsfluktuationen im Bild zu verringern.
5. In Fig. 1 sind schematisch in verschiedener Weise verstellbare Pinholes 29 in den Detektionskanälen 26.1-26.4 dargestellt. Sie können insbesondere senkrecht zur optischen Achse oder in Richtung der optischen Achse verschiebbar angeordnet sowie in bekannter Weise in ihrem Durchmesser, beispielsweise mittels Scherenmechanismus oder Katzenauge veränderbar sein. Die Verstellung der Pinholedurchmesser gestattet ihre Anpassung an die Durchmesser der Airyscheibchen bei unterschiedlichen Beobachtungswellenlängen.
In Fig. 4 und 5 sind schematisch Ansteuermittel 38 für die Verstellung oder Verschiebung der einzelnen Pinholes dargestellt, die Datenleitungen zur zentralen Ansteuereinheit 34 aufweisen.
Die ansteuerbare Verschiebbarkeit der Pinholes in Richtung der optischen Achse ist in Fig. 4 schematisch dargestellt. Sie ist für den Ausgleich von optischen Fehlern, insbesondere chromatischen Längsabberationen, vorteilhaft.
Diese Fehler können beim Scanobjektiv 22, aber auch beispielsweise bei der für die Detektionskanäle gemeinsamen Abbildungsoptik 25 auftreten.
Für unterschiedliche Wellenlängen λ1, λ2 ergeben sich durch chromatische Längsabweichungen unterschiedliche Fokuslagen, die unterschiedlichen Pinholelagen P1, P2 entsprechen. Bei Auswechslung abbildender Optik, beispielsweise des Mikroskopobjektives, kann bei bekannten chromatischen Längsfehler der eingesetzten Optik über die Ansteuereinheit 34 und Steuer- und Verschiebemittel 38 eine automatische Verschiebung der Pinholes entlang der optischen Achse erfolgen. Es kann eine genaue Einstellung auf die verwendete Anregungswellenlänge erfolgen.
Durch eine gemeinsame Abbildungsoptik 25 für alle Detektionskanäle, die vorteilhaft nur aus einem optischen Glied besteht, wird das vom Scanobjektiv 22 erzeugte, im Unendlichen liegende Bild in die Pinholeebene abgebildet. Die gemeinsame Abbildungsoptik 25 bewirkt eine verbesserte Transmissionseffizienz gegenüber bekannten Lösungen. Im Zusammenwirken der Abbildungsoptik mit individuell verstellbaren Pinholes in den einzelnen Detektionskanälen kann dennoch eine genaue Justierung erfolgen.
6. Im Strahlengang können unterschiedliche dichroitische Strahlteiler 28 eingesetzt werden, je nach verwendeter Wellenlänge, um nur diese zu sperren und einem Detektionsstrahlengang zuzuführen.
Es sind daher (nicht dargestellte) Teilerrevolver oder Teilerräder in verschiedenen Strahlengängen zur Einschwenkung unterschiedlicher möglichst kleiner Teiler vorgesehen insbesondere Teilerräder, deren Radachse in 45 Grad gegen die optische Achse geneigt ist, so daß die Teiler immer nur in der Reflexionsebene verschoben werden.
Da die auf den Teilerrädern angebrachten Teiler 28 nicht genau gleich justiert sein können oder Schwankungen innerhalb ihrer Justierung oder Standard - Keiltoleranzen unterschiedliche Strahlablenkwinkel verursachen können, erfolgt gemäß der Darstellung in Fig. 5 eine Verschiebung des jeweiligen Pinholes aber Steuereinheit 38 senkrecht zur optischen Achse entsprechend der Strahlablenkung.
Hier sind schematisch zwei durch unterschiedliche Stellungen von Teilern 28.1, 28.2 auf einem nicht dargestellten durch eine Steuereinheit 36 angetriebenen Teilerrad dargestellt, die senkrecht zur optischen Achse verschobene Fokuslagen in der Ebene der Pinholes 29 bewirken.
Hierbei kann mittels der Ansteuereinheit 34 über die Steuereinheiten 36,38 eine Kopplung der Stellung des Pinhole 29 mit der Teilerradstellung für die Teiler 28 erfolgen, d. h. für alle Teilerkonfigurationen verschiedener Teilerrevolver ist eine optimale Pinholeposition abgespeichert und abrufbar. Dies betrifft nicht nur die Stellung eines bestimmten Teilerrades, sondern auch die Stellung mehrerer Teilerräder, so daß immer die jeweils optimale Pinholepositon automatisch eingestellt wird.
7. In Fig. 6 ist schematisch dargestellt, wie am Pinhole 29, am Ausgang zum PMT hinter dem Pinhole, eine Lichtleitfaser 40 angesetzt werden kann, um durch das Pinhole des Detektionskanals die Strahlung zu einem externen Sensor 31 zu leiten.
Dies erfolgt vorteilhaft ohne zusätzliche Koppeloptik dicht hinter dem Pinhole mit Hilfe der Lichtleitfaser 38.
Da die Pinholeöffnung verstellbar ist, wird das Austauschen von Fasern mit unterschiedlichen Kerndurchmessern stark vereinfacht,indem die Pinholegröße
an den Kerndurchmesser angepaßt wird.
Bezugszeichenliste
M Mikroskop
S Scankopf
1
Lichtquelle
2
Beleuchtungsoptik
3
Strahlteiler
4
Objektiv
5
Probe
6
Kondensor
7
Lichtquelle
8
Empfänger
9
Tubuslinse
10
Tubuslinse
11
Okular
12
Strahlteiler
13.1
,
13.2
Laser
14
Lichtleitfasern
15
schwenkbarer Spiegel
16
Kollimationsoptik
17
Strahlumlenkelement
18
teildurchlässiger Spiegel
19
Monitordiode
20
Neutralfilter
21
Linienfilter
22
Scanobjektiv
23
Scanner
24
Hauptstrahlteiler
25
Abbildungsoptik
26.1
-
26.4
Detektionskanäle
27
Umlenkprisma
28
,
28.1
,
28.2
dichroitische Strahlteiler
29
verstellbare Pinholes (Lochblenden)
30
Emissionsfilter
31
PMT
32
AOTF
33
Einkoppeloptik
34
zentrale Ansteuereinheit
35,
36
,
37
,
38
: lokale Ansteuereinheiten für Diode
19
, Filterwechsler
21
, Kollimatoroptik
16
, verstellbare Pinholes
29
39
Strahlteiler
40
Lichtleitfaser
81,
S
2
, F
1
, F
2
Fokusstellungen
P
1
, P
2
Pinholestellungen

Claims (20)

1. Anordnung zur Einkopplung von Strahlung vorzugsweise Laserstrahlung in einen Scankopf mit einer mindestens zweidimensional ablenkenden Scaneinheit wobei die Strahlung über ein Mikroskopobjektiv auf ein Objekt fokussiert wird, über mindestens eine Lichtleitfaser, die den Scankopf angekoppelt ist, wobei dem Faserende am Scankopf eine Kollimationsoptik zur Kollimierung der am Faserende divergent austretenden Strahlung nachgeordnet ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1, wobei die Kollimatinsoptik zur Veränderung ihres Abstands zum Faserende verschieblich ausgebildet ist.
3. Verfahren zum Betrieb einer Anordnung nach Anspruch 2, wobei für eingekoppelte Strahlung mehrerer Wellenlängen über eine Faser und/oder für unterschiedliche chromatische Fehler eine wellenlängenabhängige Verschiebung der Kollimationsoptik erfolgt.
4. Verfahren zum Betrieb einer Anordnung nach Anspruch 2, wobei für eine Wellenlänge durch Verschiebung der Kollimationsoptik eine Verstellung der Fokuslage in einer zur zweidimensionalen Ablenkung senkrechten Richtung erfolgt.
5. Anordnung zur Einkopplung von Strahlung, vorzugsweise Laserstrahlung in einen Scankopf mit einer mindestens zweidimensional ablenkenden Scaneinheit, wobei die Strahlung über ein Mikroskopobjektiv auf ein Objekt fokussiert wird, über mindestens eine Lichtleitfaser, die an den Scankopf angekoppelt ist, wobei zwischen einem UV-Laser und einem Lichtleitereingang ein AOTF angeordnet ist
6. Verfahren zum Betrieb einer Anordnung nach Anspruch 5, wobei durch Ansteuerung des AOTF die UV-Strahlung auf den Lichtleitereingang gelenkt oder an diesem vorbei gelenkt wird.
7. Anordnung zur Überwachung der in einen Scankopf eingekoppelten Laserstrahlung, mittels eines ersten Detektionselementes, auf das ein Teil der eingekoppelten Strahlung über einen Strahlteiler gelenkt wird.
8. Anordnung nach Anspruch 7, wobei dem Detektionselement im Strahlengang auswechselbare Filter zur wellenlängenabhängigen Überwachung der Laserstrahlung vorgeordnet sind.
9. Anordnung nach Anspruch 7 oder 8, wobei das Detektionssignal ein Regelsignal zur Einstellung der Laserleistung, der Laserintensität oder anderer Parameter der eingekoppelten Strahlung ist.
10. Verfahren zum Betrieb einer Anordnung nach mindestens einem der Ansprüche 7-9, wobei gleichzeitig mit dem Detektionssignal des ersten Detektionselementes das Detektionssignal mindestens eines zweiten Detektionselementes aufgenommen wird, das sich im Abbildungsstrahlengang zur Abbildung der vom abgescannten Objekt stammenden Strahlung befindet.
11. Verfahren nach Anspruch 10, wobei das mit dem zweiten Detektionselement erfaßte Signal und das mit dem ersten Detektionselement erfaßte Signal zur Unterdrückung von Störsignalen und Signalschwankungen mathematisch, vorzugsweise durch Division oder Subtraktion, miteinander verknüpft werden. subtrahiert oder
12. Mikroskop mit einer Scaneinheit, der eine Detektionseinheit zur Erfassung der vom gescannten Objekt stammenden Strahlung nachgeordnet ist, die mehrere konfokale Detektionskanäle aufweist, in denen einstellbare Konfokalblenden in einer zur Fokusebene des Mikroskopobjektives konjugierten Ebene angeordnet sind, wobei zur Abbildung des vom Mikroskopobjektives erzeugten Bildes in die Ebene der Konfokalblenden eine gemeinsame Optik für die Detektionskanäle vorgesehen ist, die vorzugsweise aus einem einzigen optischen Glied, vorteilhaft aus einer Einzellinse besteht.
13. Mikroskop mit einer Scaneinheit, der eine Detektionseinheit zur Erfassung der vom gescannten Objekt stammenden Strahlung nachgeordnet ist, die über Strahlteiler in mehrere konfokale Detektionskanäle aufgeteilt ist, in denen in Richtung der optischen Achse verschiebbare Konfokalblenden in einer zur Fokusebene des Mikroskopobjektives konjugierten Ebene angeordnet sind.
14. Mikroskop mit einer Scaneinheit, der eine Detektionseinheit zur Erfassung der vom gescannten Objekt stammenden Strahlung nachgeordnet ist, die über Strahlteiler in mehrere mehrere konfokale Detektionskanäle aufgeteilt ist, in denen senkrecht zur optischen Achse verschiebbare Konfokalblenden in einer zur Fokusebene des Mikroskopobjektives konjugierten Ebene angeordnet sind.
15. Anordnung nach Anspruch 14, wobei mindestens ein Strahlteiler als Strahlteilerwechsler ausgebildet ist.
16. Verfahren zum Betrieb einer Anordnung nach Anspruch 15, wobei durch Steuerungsmittel eine zur optischen Achse senkrechte Verschiebung mindestens einer Lochblende in Abhängigkeit von der Stellung mindestens eines Strahlteilerwechslers erfolgt.
17. Verfahren zum Betrieb einer Anordnung nach Anspruch 13, wobei die Verschiebung der Lochblende zur Einstellung auf eine bestimmte Wellenlänge und/oder zum Ausgleich chromatischer Fehler abbildender Elemente des Mikroskopes und/oder der Scaneinheit erfolgt.
18. Verfahren nach Anspruch 17, wobei beim Wechsel von abbildenden Elementen, insbesondere des Mikroskopobjektives durch Steuerungsmittel eine Verschiebung der Lochblende in eine für das jeweilige abbildende Element vorgespeicherte Stellung erfolgt.
19. Mikroskop mit einer Scaneinheit, der eine Detektionseinheit zur Erfassung der vom gescannten Objekt stammenden Strahlung nachgeordnet ist, die mehrere konfokale Detektionskanäle aufweist, in denen einstellbare Konfokalblenden in einer zur Fokusebene des Mikroskopobjektives konjugierten Ebene angeordnet sind wobei mindestens einer Konfokalblende eine Lichtleitfaser zur Übertragung der Strahlung auf mindestens ein Detektionselement unmittelbar nachgeordnet ist.
20. Anordnung nach Anspruch 2, wobei für verschiedene Wellenlängen und/oder Wellenlängenbereiche eine Einkopplung über mehrere Fasern erfolgt und jeweils verschiebliche Kollimationsoptiken dem Faserausgang nachgeordnet sind.
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Cited By (109)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000037985A2 (de) * 1998-12-22 2000-06-29 Carl Zeiss Jena Gmbh Anordnung zur separierung von anregungs- und emissionslicht in einem mikroskop
EP1093001A2 (de) * 1999-10-12 2001-04-18 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Konfokales Laserscan-Mikroskop
DE19951480A1 (de) * 1999-10-26 2001-05-03 Zeiss Carl Jena Gmbh Teilerwechsler in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zur Korrektur von Toleranzfehlern
DE19951482A1 (de) * 1999-10-26 2001-05-10 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Beleuchtung mit mehreren Wellenlängen in einem Mikroskop
EP1115021A2 (de) * 1999-12-31 2001-07-11 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Verfahren und System zur Verarbeitung von Abtastdaten von einem konfokalen Mikroskop
EP1164400A1 (de) * 2000-06-17 2001-12-19 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop
EP1164402A1 (de) * 2000-06-17 2001-12-19 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauelement für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung
DE19919091C2 (de) * 1999-04-27 2002-01-17 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Einstellung der Laserleistung und/oder der Pulslänge eines Kurzpulslasers in einem Mikroskop
EP1184701A1 (de) * 2000-06-17 2002-03-06 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Beleuchtungseinrichtung
EP1186929A2 (de) * 2000-06-17 2002-03-13 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop
DE10142945A1 (de) * 2001-09-01 2003-04-03 Leica Microsystems Vorrichtung zur Ermittlung einer Lichtleistung und Mikroskop
DE10156506C1 (de) * 2001-11-16 2003-05-22 Leica Microsystems Verfahren zur Erzeugung eines mehrfarbigen Bildes und Mikroskop
EP1355181A2 (de) * 2002-04-17 2003-10-22 CARL ZEISS JENA GmbH Laser-scanning-Mikroskop mit Kollimator- und/oder Pinholeoptik
DE10217545A1 (de) * 2002-04-17 2003-11-06 Zeiss Carl Jena Gmbh Mikroskop mit Positionserkennung von Wechslern optischer Elemente
DE10231667A1 (de) * 2002-07-12 2004-01-22 Olympus Biosystems Gmbh Beleuchtungsvorrichtung und optische Objektuntersuchungseinrichtung
DE10302259B3 (de) * 2003-01-22 2004-06-03 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop mit einem akustooptischen Bauteil
DE10038526B4 (de) * 2000-08-08 2004-09-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Erfassung des wellenlängenabhängigen Verhaltens einer beleuchteten Probe
US6806950B2 (en) 2001-05-25 2004-10-19 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Apparatus for determining a light power level, microscope, and method for microscopy
DE10324478B3 (de) * 2003-05-30 2004-12-09 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Vorrichtung zum Ermitteln der Lichtleistung eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
DE10323921A1 (de) * 2003-05-22 2004-12-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Einstellbares Pinhole, insbesondere für ein Laser-Scanning-Mikroskop
EP1496385A1 (de) * 2003-07-11 2005-01-12 CARL ZEISS JENA GmbH Anordnung im Beleuchtungsstrahlengang eines Laser-Scanning-Mikroskopes
WO2005006042A1 (de) * 2003-07-15 2005-01-20 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Lichtquelle mit einem mikrostrukturierten optischen element und mikroskop mit lichtquelle
EP1500962A2 (de) * 2003-07-11 2005-01-26 CARL ZEISS JENA GmbH Laser-Scanning-Mikroskop mit mindestens vier Einkoppelstellen zu Beleuchtungszwecken
EP1496384A3 (de) * 2003-07-11 2005-03-16 CARL ZEISS JENA GmbH Anordnung zur Erfassung der Beleuchtungsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop
EP1542051A1 (de) * 2003-12-08 2005-06-15 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Trennen unterschiedlicher Emissionswellenlängen in einem Scanmikroskop
WO2005064913A1 (de) 2003-12-19 2005-07-14 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur scanneransteuerung in mindestens einer scanachse in einem laser-scanning-mikroskop
US6947127B2 (en) 2001-12-10 2005-09-20 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement for the optical capture of excited and/or back scattered light beam in a sample
EP1617256A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung und Verwendung des Mikroskops
EP1617252A1 (de) 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung
EP1617263A1 (de) 2004-07-16 2006-01-18 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop und Verwendung
EP1617205A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 Carl-Zeiss Jena GmbH Lichtrastermikroskop und Verwendung
EP1617206A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop und Verwendung
EP1617270A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung und Verwendung des Mikroskops
DE19835070B4 (de) * 1998-08-04 2006-03-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop
US7110645B2 (en) 2000-06-17 2006-09-19 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and instrument for microscopy
EP1720055A2 (de) * 2005-05-03 2006-11-08 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Laser-Scanning-Mikroskop
US7271382B2 (en) 2004-07-16 2007-09-18 Carl Zeiss Jena Gmbh Process for the observation of at least one sample region with a light raster microscope with light distribution in the form of a point
US7298551B2 (en) 2002-09-04 2007-11-20 Carl Zeiss Jena Gmbh Method and arrangement for changing the spectral composition and/or intensity of illumination light and/or specimen light in an adjustable manner
US7323679B2 (en) 2004-07-16 2008-01-29 Carl Zeiss Jena Gmbh Procedure for the optical acquisition of objects by means of a light raster microscope with line by line scanning
EP1882970A1 (de) * 2006-07-28 2008-01-30 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Laser-Scanning-Mikroskop zur Fluoreszenzuntersuchung
WO2008012056A1 (de) * 2006-07-28 2008-01-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-scanning-mikroskop
WO2008022728A1 (de) * 2006-08-25 2008-02-28 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Konfokales scanmikroskop mit optischem ausgang und pinholebaugruppe zur raumfilterung eines lichtstrahls
WO2008043459A2 (de) * 2006-10-06 2008-04-17 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Anordnung zur aufteilung von detektionslicht
US7369305B2 (en) 2004-07-16 2008-05-06 Carl Zeiss Jena Gmbh Optical zoom system for a light scanning electron microscope
EP1944600A2 (de) 2005-07-22 2008-07-16 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Auflösungsgesteigerte Lumineszenz-Mikroskopie
EP1944642A2 (de) 2004-07-16 2008-07-16 Carl-Zeiss Jena GmbH Lichtrastermikroskop
WO2008086792A1 (de) * 2007-01-18 2008-07-24 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laserscanmikroskop und strahlvereinigende optische baugruppe
WO2008101605A1 (de) * 2007-02-21 2008-08-28 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Konfokales lasermikroskop
DE102007009659A1 (de) 2007-02-21 2008-08-28 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop mit einem UV-Beleuchtungsstrahlengang
US7420674B2 (en) 2002-05-16 2008-09-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method and arrangement for analyzing samples
EP1164403B1 (de) * 2000-06-17 2008-09-03 Leica Microsystems CMS GmbH Scanmikroskop
US7459698B2 (en) 2004-07-16 2008-12-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Process for the observation of at least one sample region with a light raster microscope
DE102007025821A1 (de) 2007-06-02 2008-12-04 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Anordnung und Verfahren zur zeitlichen Einstellung der Pulse eines Kurzpulslasers
US7463344B2 (en) 2003-07-11 2008-12-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Arrangement for the optical detection of light radiation which is excited and/or backscattered in a specimen with a double-objective arrangement
US7468834B2 (en) 2004-07-16 2008-12-23 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Microscope with heightened resolution and linear scanning
US7485875B2 (en) 2005-07-22 2009-02-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Resolution-enhanced luminescence microscopy
US7488931B2 (en) 2004-07-16 2009-02-10 Carl Zeiss Jena Gmbh Optical zoom system for a light scanning electron microscope
DE102007040238A1 (de) 2007-08-25 2009-03-05 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur Laser-Scanning-Mikroskopie und Strahlverteiler
DE102007047467A1 (de) 2007-09-28 2009-04-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Anordnung zur optischen Erfassung von in einer Probe angeregter und/oder rückgestreuter Lichtstrahlung
EP2045642A1 (de) * 2000-06-17 2009-04-08 Leica Microsystems CMS GmbH Scanmikroskop
DE102007047183A1 (de) 2007-10-02 2009-04-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Spiegeltreppe zur Vereinigung mehrerer Lichtquellen und Laser-Scanning-Mikroskop
US7554664B2 (en) 2006-07-28 2009-06-30 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser scanning microscope
EP2085805A2 (de) 2008-01-31 2009-08-05 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Laser-Scanning-Mikroskop und Baugruppe zur non-descannten Detektion
DE202009007789U1 (de) 2009-06-03 2009-08-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Breitbandige Lichtquelle und Mikroskop
US7593581B2 (en) 2004-07-16 2009-09-22 Carl Zeiss Micro Imaging Gmbh Process for the acquisition of images from a sample with a microscope
US7605976B1 (en) 2005-05-03 2009-10-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method and device for changing light in an adjustable manner
DE102008028707A1 (de) 2008-06-17 2009-12-24 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop mit einer Laserdiode
US7649683B2 (en) 2004-07-16 2010-01-19 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Process for the observation of at least one sample region with a light raster microscope with linear sampling
DE102008038467A1 (de) 2008-08-21 2010-02-25 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zur Bildauswertung und/oder Manipulation einer Probe
DE102008055655A1 (de) 2008-10-29 2010-05-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur Einstellung eines Dunkelsignals einer Laserquelle in einem Laser- Scanning-Mikroskop
DE10033269B4 (de) * 2000-07-10 2010-07-01 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung zum Einkoppeln von Licht mindestens einer Wellenlänge einer Laserlichtquelle in ein konfokales Rastermikroskop
DE102009006729A1 (de) 2009-01-29 2010-08-05 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop
US7852474B2 (en) 2006-04-15 2010-12-14 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Spectral analysis unit with a diffraction grating
DE102009034347A1 (de) 2009-07-23 2011-01-27 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Justierelement zur Einstellung der Pinholelage
DE102009043747A1 (de) 2009-09-30 2011-03-31 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zur Erzeugung eines Mikroskopbildes und Mikroskop
DE102009048710A1 (de) * 2009-10-08 2011-04-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Lasersystem für ein Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Lasersystems für ein Mikroskop
DE102009050021A1 (de) 2009-10-16 2011-04-28 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop, insbesondere Laser-Scanning-Mikroskop und Betriebsverfahren
EP2317362A1 (de) 2009-10-28 2011-05-04 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerter Auflösung
EP2322965A1 (de) * 2009-10-12 2011-05-18 Leica Microsystems CMS GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Stabilisieren einer Lichtleistung eines Beleuchtungslichtstrahls und Mikroskop
DE102010018967A1 (de) 2010-04-29 2011-11-03 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Anordnung und Verfahren zur nichtlinearen Mikroskopie
US8076632B2 (en) 2006-12-22 2011-12-13 Universitaet Leipzig Device and method for the contactless manipulation and alignment of sample particles in a measurement volume using a nonhomogeneous electric alternating field
DE102010033722A1 (de) 2010-08-07 2012-02-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Anordnung und/oder Verfahren zur Eliminierung unerwünschter Strahlungsanteile aus detektiertem Licht von einer beleuchteten Probe
DE10151217B4 (de) * 2001-10-16 2012-05-16 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Laser-Scanning-Mikroskops
EP2469320A1 (de) 2010-12-22 2012-06-27 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Einstellbares Pinholein Form einer matrixartigen Verteilung einzeln auslesbarer Empfängerelemente für ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop
EP2497412A1 (de) 2011-03-08 2012-09-12 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zu seinem Betrieb
USRE43702E1 (en) 2004-07-16 2012-10-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Microscope with heightened resolution and linear scanning
US8294728B2 (en) 2005-10-01 2012-10-23 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Process for generating display images from acquired recorded images, and means for carrying out the process
US8300310B2 (en) 2005-09-29 2012-10-30 Leica Microsytems Cms Gmbh Method for FCS measurements
US8310754B2 (en) 2007-10-31 2012-11-13 Nikon Corporation Laser excitation fluorescent microscope
DE102011104379A1 (de) 2011-06-18 2012-12-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Konfokales Rastermikroskop und Betriebsverfahren für ein solches sowie Verfahren zum Manipulieren einer Probe
DE102011109653A1 (de) 2011-08-06 2013-02-07 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Beleuchtungsarray
DE102012010208A1 (de) 2012-05-15 2013-11-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop
US8643946B2 (en) 2006-06-16 2014-02-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Autofocus device for microscopy
DE102012016346A1 (de) 2012-08-16 2014-05-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laserrastermikroskop
US8908271B2 (en) 2006-07-28 2014-12-09 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser scanning microscope and its operating method
DE102014000473A1 (de) 2014-01-16 2015-07-16 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop und Verstärkerbaugruppe
DE102014002328A1 (de) 2014-02-12 2015-08-13 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multifokales Fluoreszenzrastermikroskop
DE102014010185A1 (de) 2014-07-09 2016-01-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Laser-Scanning-Mikroskops
DE10029680B4 (de) * 2000-06-23 2016-06-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop-Aufbau
DE10257237B4 (de) * 2001-12-10 2016-09-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur optischen Erfassung von in einer Probe angeregter und/oder rückgestreuter Lichtstrahlung
DE102015107367A1 (de) 2015-05-11 2016-11-17 Carl Zeiss Ag Auswertung von Signalen der Fluoreszenzrastermikroskopie unter Verwendung eines konfokalen Laserscanning-Mikroskops
EP1865306B1 (de) 2005-04-01 2017-02-01 Olympus Corporation Optische messvorrichtung
EP2498116B1 (de) 2011-03-10 2017-02-15 Olympus Corporation Mikroskopsystem
EP3156838A1 (de) 2015-10-14 2017-04-19 Abberior Instruments GmbH Scannerkopf und vorrichtung mit scannerkopf
DE102016116309A1 (de) * 2016-05-02 2017-11-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Beleuchtungsmodul für winkelselektive Beleuchtung
US11194147B2 (en) 2014-07-25 2021-12-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope and method for optically examining and/or manipulating a microscopic sample
DE102006045130B4 (de) 2006-09-25 2023-06-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laserscanning-Mikroskopieverfahren zur Analyse des Bleichverhaltens einer Probe sowie dazu ausgebildetes Laserscanning-Mikroskop und Computerprogrammprodukt hierfür
DE102022102763A1 (de) 2022-02-07 2023-08-10 Carl Zeiss Meditec Ag Mikroskop und Bildgebungsverfahren für ein Mikroskop
DE102009021993B4 (de) 2009-05-19 2023-11-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und zugehörige Verfahren

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007047187A1 (de) 2007-10-02 2009-04-09 Carl Zeiss Sms Gmbh Abbildungs- oder Inspektionssystem mit Energiemonitoring
DE102014009142A1 (de) 2014-06-20 2015-12-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Ansteuerung eines akustooptischen Bauteils
DE102019116626B4 (de) 2019-06-19 2021-03-18 Abberior Instruments Gmbh Verfahren und Vorrichtungen zur Überprüfung der Konfokalität einer scannenden und entscannenden Mikroskopbaugruppe

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8700612A (nl) * 1987-03-13 1988-10-03 Tno Confocale laserscanning microscoop.
EP0283256A3 (de) * 1987-03-18 1990-02-07 Tektronix Inc. Optisches Abtastmikroskop
EP1245987B1 (de) * 1988-07-13 2008-01-23 Optiscan Pty Ltd Konfokales Rastermikroskop
EP0418928B1 (de) * 1989-09-22 1996-05-01 Fuji Photo Film Co., Ltd. Rastermikroskop und Rastermechanismus dafür
DE4128506A1 (de) * 1991-08-28 1993-03-04 Zeiss Carl Fa Verfahren zum betreiben eines spektrometers
US5216484A (en) * 1991-12-09 1993-06-01 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Real-time imaging spectrometer
US5317379A (en) * 1992-02-11 1994-05-31 Rosemount Analytical Inc. Chemical species optical analyzer with multiple fiber channels
US5377003A (en) * 1992-03-06 1994-12-27 The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services Spectroscopic imaging device employing imaging quality spectral filters
DE4323129C2 (de) * 1992-07-24 2002-10-02 Zeiss Carl Inverses Mikroskop
JP2625330B2 (ja) * 1992-09-30 1997-07-02 浜松ホトニクス株式会社 共焦点光学系のピンホール位置制御方法及びその制御装置
US5283433A (en) * 1992-10-05 1994-02-01 The Regents Of The University Of California Scanning confocal microscope providing a continuous display
GB2290411A (en) * 1994-06-15 1995-12-20 Zeiss Stiftung Laser and adapter for mounting it on a surgical microscope
US5444528A (en) * 1994-07-27 1995-08-22 The Titan Corporation Tunable spectrometer with acousto-optical tunable filter
DE4446185C2 (de) * 1994-08-25 1997-03-27 Leica Lasertechnik Vorrichtung zum Einkoppeln eines UV-Laserstrahls in ein konfokales Laser-Scanmikroskop
DE19533092A1 (de) * 1995-09-07 1997-03-13 Basf Ag Vorrichtung zur parallelisierten Zweiphotonen-Fluoreszenz-Korrelations-Spektroskopie (TPA-FCS) und deren Verwendung zum Wirkstoff-Screening

Cited By (178)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19835070B4 (de) * 1998-08-04 2006-03-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Anordnung zur einstellbaren wellenlängenabhängigen Detektion in einem Fluoreszenzmikroskop
WO2000037985A2 (de) * 1998-12-22 2000-06-29 Carl Zeiss Jena Gmbh Anordnung zur separierung von anregungs- und emissionslicht in einem mikroskop
WO2000037985A3 (de) * 1998-12-22 2001-04-12 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur separierung von anregungs- und emissionslicht in einem mikroskop
US7009763B1 (en) 1998-12-22 2006-03-07 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement for separating excitation light and emission light in a microscope
US6521899B1 (en) 1999-04-27 2003-02-18 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement for the adjustment of laser power and/or pulse length of a short pulse laser in a microscope
DE19919091C2 (de) * 1999-04-27 2002-01-17 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Einstellung der Laserleistung und/oder der Pulslänge eines Kurzpulslasers in einem Mikroskop
EP1093001A2 (de) * 1999-10-12 2001-04-18 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Konfokales Laserscan-Mikroskop
DE19949272A1 (de) * 1999-10-12 2001-04-19 Leica Microsystems Konfokales Laserscan-Mikroskop
EP1093001A3 (de) * 1999-10-12 2003-10-29 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Konfokales Laserscan-Mikroskop
DE19949272C2 (de) * 1999-10-12 2003-09-11 Leica Microsystems Scanmikroskop
US6693742B1 (en) 1999-10-26 2004-02-17 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement for illumination with a plurality of wavelengths in a microscope
DE19951482C2 (de) * 1999-10-26 2003-01-09 Zeiss Carl Jena Gmbh Fluoreszenzmikroskop
DE19951482A1 (de) * 1999-10-26 2001-05-10 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Beleuchtung mit mehreren Wellenlängen in einem Mikroskop
DE19951480A1 (de) * 1999-10-26 2001-05-03 Zeiss Carl Jena Gmbh Teilerwechsler in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zur Korrektur von Toleranzfehlern
EP1115021A3 (de) * 1999-12-31 2004-10-20 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Verfahren und System zur Verarbeitung von Abtastdaten von einem konfokalen Mikroskop
EP1115021A2 (de) * 1999-12-31 2001-07-11 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Verfahren und System zur Verarbeitung von Abtastdaten von einem konfokalen Mikroskop
US7110645B2 (en) 2000-06-17 2006-09-19 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and instrument for microscopy
EP2045642A1 (de) * 2000-06-17 2009-04-08 Leica Microsystems CMS GmbH Scanmikroskop
EP1164400A1 (de) * 2000-06-17 2001-12-19 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop
EP1186929A2 (de) * 2000-06-17 2002-03-13 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop
EP1184701A1 (de) * 2000-06-17 2002-03-06 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Beleuchtungseinrichtung
EP1186929A3 (de) * 2000-06-17 2004-02-04 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop
EP1164402A1 (de) * 2000-06-17 2001-12-19 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauelement für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung
EP1164403B1 (de) * 2000-06-17 2008-09-03 Leica Microsystems CMS GmbH Scanmikroskop
EP2045643A1 (de) * 2000-06-17 2009-04-08 Leica Microsystems CMS GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop
EP1186929B2 (de) 2000-06-17 2009-09-30 Leica Microsystems CMS GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop
EP2045641A3 (de) * 2000-06-17 2009-10-28 Leica Microsystems CMS GmbH Beleuchtungseinrichtung
US7679822B2 (en) 2000-06-17 2010-03-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Broadband laser illumination device for a scanning microscope with output stabilization
DE10029680B4 (de) * 2000-06-23 2016-06-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop-Aufbau
DE10033269B4 (de) * 2000-07-10 2010-07-01 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung zum Einkoppeln von Licht mindestens einer Wellenlänge einer Laserlichtquelle in ein konfokales Rastermikroskop
DE10038526B4 (de) * 2000-08-08 2004-09-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Erfassung des wellenlängenabhängigen Verhaltens einer beleuchteten Probe
DE10125469B4 (de) * 2001-05-25 2008-01-10 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung zur Ermittlung einer Lichtleistung, Mikroskop und Verfahren zur Mikroskopie
US6806950B2 (en) 2001-05-25 2004-10-19 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Apparatus for determining a light power level, microscope, and method for microscopy
DE10142945B4 (de) * 2001-09-01 2004-07-29 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Vorrichtung zur Ermittlung einer Lichtleistung und Mikroskop
DE10142945A1 (de) * 2001-09-01 2003-04-03 Leica Microsystems Vorrichtung zur Ermittlung einer Lichtleistung und Mikroskop
DE10151217B4 (de) * 2001-10-16 2012-05-16 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Laser-Scanning-Mikroskops
DE10156506C1 (de) * 2001-11-16 2003-05-22 Leica Microsystems Verfahren zur Erzeugung eines mehrfarbigen Bildes und Mikroskop
US6717726B2 (en) 2001-11-16 2004-04-06 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method for generating a multicolor image, and microscope
DE10257237B4 (de) * 2001-12-10 2016-09-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur optischen Erfassung von in einer Probe angeregter und/oder rückgestreuter Lichtstrahlung
US6947127B2 (en) 2001-12-10 2005-09-20 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement for the optical capture of excited and/or back scattered light beam in a sample
DE10217545A1 (de) * 2002-04-17 2003-11-06 Zeiss Carl Jena Gmbh Mikroskop mit Positionserkennung von Wechslern optischer Elemente
EP1355181A3 (de) * 2002-04-17 2004-08-04 CARL ZEISS JENA GmbH Laser-scanning-Mikroskop mit Kollimator- und/oder Pinholeoptik
US7324271B2 (en) 2002-04-17 2008-01-29 Carl Zeiss Jena Gmbh Laser-scanning microscope with collimator and/or pinhole optics
US7145652B2 (en) 2002-04-17 2006-12-05 Carl Zeiss Jena Gmbh Microscope with position detection of changers of optical components
EP1355181A2 (de) * 2002-04-17 2003-10-22 CARL ZEISS JENA GmbH Laser-scanning-Mikroskop mit Kollimator- und/oder Pinholeoptik
US7420674B2 (en) 2002-05-16 2008-09-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method and arrangement for analyzing samples
DE10231667A1 (de) * 2002-07-12 2004-01-22 Olympus Biosystems Gmbh Beleuchtungsvorrichtung und optische Objektuntersuchungseinrichtung
US7298551B2 (en) 2002-09-04 2007-11-20 Carl Zeiss Jena Gmbh Method and arrangement for changing the spectral composition and/or intensity of illumination light and/or specimen light in an adjustable manner
US7701632B2 (en) 2002-09-04 2010-04-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method and arrangement for changing the spectral composition and/or intensity of illumination light and/or specimen light in an adjustable manner
EP1914572A1 (de) 2002-09-04 2008-04-23 Carl-Zeiss Jena GmbH Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
DE10241472B4 (de) 2002-09-04 2019-04-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
US7087891B2 (en) 2003-01-22 2006-08-08 Leica Mircosystems Heidelberg Gmbh Scanning microscope having an acoustooptical component
DE10302259B3 (de) * 2003-01-22 2004-06-03 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop mit einem akustooptischen Bauteil
DE10323921A1 (de) * 2003-05-22 2004-12-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Einstellbares Pinhole, insbesondere für ein Laser-Scanning-Mikroskop
US7428043B2 (en) 2003-05-30 2008-09-23 Leica Microsystems Cms Gmbh Apparatus for ascertaining the light power level of a light beam, and scanning microscope
DE10324478B3 (de) * 2003-05-30 2004-12-09 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Vorrichtung zum Ermitteln der Lichtleistung eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
US7498561B2 (en) 2003-07-11 2009-03-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Arrangement for the detection of illumination radiation in a laser scanning microscope
EP1500962A2 (de) * 2003-07-11 2005-01-26 CARL ZEISS JENA GmbH Laser-Scanning-Mikroskop mit mindestens vier Einkoppelstellen zu Beleuchtungszwecken
US7463344B2 (en) 2003-07-11 2008-12-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Arrangement for the optical detection of light radiation which is excited and/or backscattered in a specimen with a double-objective arrangement
EP1780572A1 (de) * 2003-07-11 2007-05-02 CARL ZEISS JENA GmbH Anordnung zur Erfassung der Beleuchtungsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop
US7212337B2 (en) 2003-07-11 2007-05-01 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement in the illumination beam path of a laser scanning microscope
EP1496385A1 (de) * 2003-07-11 2005-01-12 CARL ZEISS JENA GmbH Anordnung im Beleuchtungsstrahlengang eines Laser-Scanning-Mikroskopes
EP1496384A3 (de) * 2003-07-11 2005-03-16 CARL ZEISS JENA GmbH Anordnung zur Erfassung der Beleuchtungsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop
EP1500962A3 (de) * 2003-07-11 2005-02-09 CARL ZEISS JENA GmbH Laser-Scanning-Mikroskop mit mindestens vier Einkoppelstellen zu Beleuchtungszwecken
WO2005006042A1 (de) * 2003-07-15 2005-01-20 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Lichtquelle mit einem mikrostrukturierten optischen element und mikroskop mit lichtquelle
US7038193B2 (en) 2003-12-08 2006-05-02 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method and device for separating different emission wavelengths in a scanning microscope
EP1542051A1 (de) * 2003-12-08 2005-06-15 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Trennen unterschiedlicher Emissionswellenlängen in einem Scanmikroskop
WO2005064913A1 (de) 2003-12-19 2005-07-14 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur scanneransteuerung in mindestens einer scanachse in einem laser-scanning-mikroskop
US7796149B2 (en) 2003-12-19 2010-09-14 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method for scanner control in at least one scan axis in a laser scanning microscope
US7649683B2 (en) 2004-07-16 2010-01-19 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Process for the observation of at least one sample region with a light raster microscope with linear sampling
US7459698B2 (en) 2004-07-16 2008-12-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Process for the observation of at least one sample region with a light raster microscope
US7271382B2 (en) 2004-07-16 2007-09-18 Carl Zeiss Jena Gmbh Process for the observation of at least one sample region with a light raster microscope with light distribution in the form of a point
EP1944642A2 (de) 2004-07-16 2008-07-16 Carl-Zeiss Jena GmbH Lichtrastermikroskop
US7369305B2 (en) 2004-07-16 2008-05-06 Carl Zeiss Jena Gmbh Optical zoom system for a light scanning electron microscope
EP1617252A1 (de) 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung
US7561326B2 (en) 2004-07-16 2009-07-14 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Light scanning microscope and use
USRE43702E1 (en) 2004-07-16 2012-10-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Microscope with heightened resolution and linear scanning
EP1617263A1 (de) 2004-07-16 2006-01-18 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop und Verwendung
US7323679B2 (en) 2004-07-16 2008-01-29 Carl Zeiss Jena Gmbh Procedure for the optical acquisition of objects by means of a light raster microscope with line by line scanning
EP1617270A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung und Verwendung des Mikroskops
US7369307B2 (en) 2004-07-16 2008-05-06 Carl Zeiss Jena Gmbh Light raster microscope and its use
US7304280B2 (en) 2004-07-16 2007-12-04 Carl Zeiss Jena Gmbh Laser line scanning microscope and method of use
US7235777B2 (en) 2004-07-16 2007-06-26 Carl Zeiss Jena Gmbh Light scanning microscope and use
US7468834B2 (en) 2004-07-16 2008-12-23 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Microscope with heightened resolution and linear scanning
EP1617205A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 Carl-Zeiss Jena GmbH Lichtrastermikroskop und Verwendung
US7488931B2 (en) 2004-07-16 2009-02-10 Carl Zeiss Jena Gmbh Optical zoom system for a light scanning electron microscope
EP1617256A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 CARL ZEISS JENA GmbH Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung und Verwendung des Mikroskops
EP1617206A1 (de) * 2004-07-16 2006-01-18 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop und Verwendung
US7593581B2 (en) 2004-07-16 2009-09-22 Carl Zeiss Micro Imaging Gmbh Process for the acquisition of images from a sample with a microscope
EP1865306B1 (de) 2005-04-01 2017-02-01 Olympus Corporation Optische messvorrichtung
US7605976B1 (en) 2005-05-03 2009-10-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method and device for changing light in an adjustable manner
EP1720055A2 (de) * 2005-05-03 2006-11-08 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Laser-Scanning-Mikroskop
EP1720055A3 (de) * 2005-05-03 2006-11-15 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Laser-Scanning-Mikroskop
EP1944600A2 (de) 2005-07-22 2008-07-16 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Auflösungsgesteigerte Lumineszenz-Mikroskopie
US7485875B2 (en) 2005-07-22 2009-02-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Resolution-enhanced luminescence microscopy
DE102005046510B4 (de) 2005-09-29 2022-02-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem für FCS-Messungen
US8300310B2 (en) 2005-09-29 2012-10-30 Leica Microsytems Cms Gmbh Method for FCS measurements
US8294728B2 (en) 2005-10-01 2012-10-23 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Process for generating display images from acquired recorded images, and means for carrying out the process
US7852474B2 (en) 2006-04-15 2010-12-14 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Spectral analysis unit with a diffraction grating
US8643946B2 (en) 2006-06-16 2014-02-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Autofocus device for microscopy
US8908271B2 (en) 2006-07-28 2014-12-09 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser scanning microscope and its operating method
US7746553B2 (en) 2006-07-28 2010-06-29 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser scanning microscope for fluorescence testing
EP1882970A1 (de) * 2006-07-28 2008-01-30 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Laser-Scanning-Mikroskop zur Fluoreszenzuntersuchung
WO2008012056A1 (de) * 2006-07-28 2008-01-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-scanning-mikroskop
US7554664B2 (en) 2006-07-28 2009-06-30 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser scanning microscope
DE102006034908B4 (de) 2006-07-28 2023-01-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop
WO2008022728A1 (de) * 2006-08-25 2008-02-28 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Konfokales scanmikroskop mit optischem ausgang und pinholebaugruppe zur raumfilterung eines lichtstrahls
DE102006045130B4 (de) 2006-09-25 2023-06-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laserscanning-Mikroskopieverfahren zur Analyse des Bleichverhaltens einer Probe sowie dazu ausgebildetes Laserscanning-Mikroskop und Computerprogrammprodukt hierfür
WO2008043459A2 (de) * 2006-10-06 2008-04-17 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Anordnung zur aufteilung von detektionslicht
WO2008043459A3 (de) * 2006-10-06 2008-07-10 Zeiss Carl Microimaging Gmbh Anordnung zur aufteilung von detektionslicht
US8076632B2 (en) 2006-12-22 2011-12-13 Universitaet Leipzig Device and method for the contactless manipulation and alignment of sample particles in a measurement volume using a nonhomogeneous electric alternating field
WO2008086792A1 (de) * 2007-01-18 2008-07-24 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laserscanmikroskop und strahlvereinigende optische baugruppe
DE102007009660A1 (de) 2007-02-21 2008-08-28 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Konfokales Lasermikroskop
US8477418B2 (en) 2007-02-21 2013-07-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Confocal laser microscope
WO2008101605A1 (de) * 2007-02-21 2008-08-28 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Konfokales lasermikroskop
DE102007009659A1 (de) 2007-02-21 2008-08-28 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop mit einem UV-Beleuchtungsstrahlengang
DE102007025821A1 (de) 2007-06-02 2008-12-04 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Anordnung und Verfahren zur zeitlichen Einstellung der Pulse eines Kurzpulslasers
DE102007040238A1 (de) 2007-08-25 2009-03-05 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur Laser-Scanning-Mikroskopie und Strahlverteiler
DE102007047467A1 (de) 2007-09-28 2009-04-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Anordnung zur optischen Erfassung von in einer Probe angeregter und/oder rückgestreuter Lichtstrahlung
DE102007047183A1 (de) 2007-10-02 2009-04-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Spiegeltreppe zur Vereinigung mehrerer Lichtquellen und Laser-Scanning-Mikroskop
US8310754B2 (en) 2007-10-31 2012-11-13 Nikon Corporation Laser excitation fluorescent microscope
DE102008007452A1 (de) 2008-01-31 2009-08-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop und Baugruppe zur non-descannten Detektion
US7655888B2 (en) 2008-01-31 2010-02-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser scanning microscope and assembly for non-descanned detection
EP2085805A2 (de) 2008-01-31 2009-08-05 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Laser-Scanning-Mikroskop und Baugruppe zur non-descannten Detektion
DE102008028707A1 (de) 2008-06-17 2009-12-24 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop mit einer Laserdiode
US8830563B2 (en) 2008-06-17 2014-09-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser scanning microscope having a laser diode comprising a light modulation device
DE102008038467A1 (de) 2008-08-21 2010-02-25 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zur Bildauswertung und/oder Manipulation einer Probe
DE102008055655A1 (de) 2008-10-29 2010-05-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur Einstellung eines Dunkelsignals einer Laserquelle in einem Laser- Scanning-Mikroskop
US8599480B2 (en) 2009-01-29 2013-12-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser scanning microscope
DE102009006729B4 (de) 2009-01-29 2021-12-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop
DE102009006729A1 (de) 2009-01-29 2010-08-05 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop
DE102009021993B4 (de) 2009-05-19 2023-11-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und zugehörige Verfahren
DE202009007789U1 (de) 2009-06-03 2009-08-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Breitbandige Lichtquelle und Mikroskop
DE102009034347A1 (de) 2009-07-23 2011-01-27 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Justierelement zur Einstellung der Pinholelage
DE102009043747A1 (de) 2009-09-30 2011-03-31 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zur Erzeugung eines Mikroskopbildes und Mikroskop
US9588045B2 (en) 2009-09-30 2017-03-07 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method for generating a microscope image and microscope
WO2011038817A1 (de) 2009-09-30 2011-04-07 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur erzeugung eines mikroskopbildes und mikroskop
DE102009048710B4 (de) * 2009-10-08 2020-04-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Lasersystem für ein Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Lasersystems für ein Mikroskop
DE102009048710A1 (de) * 2009-10-08 2011-04-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Lasersystem für ein Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Lasersystems für ein Mikroskop
EP2322965A1 (de) * 2009-10-12 2011-05-18 Leica Microsystems CMS GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Stabilisieren einer Lichtleistung eines Beleuchtungslichtstrahls und Mikroskop
DE102009050021B4 (de) 2009-10-16 2019-05-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop, insbesondere Laser-Scanning-Mikroskop und Betriebsverfahren
DE102009050021A1 (de) 2009-10-16 2011-04-28 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop, insbesondere Laser-Scanning-Mikroskop und Betriebsverfahren
EP3667391A1 (de) 2009-10-28 2020-06-17 Carl Zeiss Microscopy GmbH Mikroskopisches verfahren und mikroskop mit gesteigerter auflösung
DE102010049627A1 (de) 2009-10-28 2011-05-05 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerter Auflösung
EP2317362A1 (de) 2009-10-28 2011-05-04 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerter Auflösung
DE102010018967A1 (de) 2010-04-29 2011-11-03 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Anordnung und Verfahren zur nichtlinearen Mikroskopie
DE102010018967B4 (de) 2010-04-29 2021-11-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnungen und Verfahren zur nichtlinearen Mikroskopie
DE102010033722A1 (de) 2010-08-07 2012-02-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Anordnung und/oder Verfahren zur Eliminierung unerwünschter Strahlungsanteile aus detektiertem Licht von einer beleuchteten Probe
EP2469320A1 (de) 2010-12-22 2012-06-27 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Einstellbares Pinholein Form einer matrixartigen Verteilung einzeln auslesbarer Empfängerelemente für ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop
DE102010055882A1 (de) 2010-12-22 2012-06-28 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Pinhole für ein konfokales Laser-Scanning Mikroskop
DE102011013614A1 (de) 2011-03-08 2012-09-13 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zu seinem Betrieb
US8879072B2 (en) 2011-03-08 2014-11-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser scanning microscope and method for operation thereof
EP2497412A1 (de) 2011-03-08 2012-09-12 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zu seinem Betrieb
EP2498116B1 (de) 2011-03-10 2017-02-15 Olympus Corporation Mikroskopsystem
DE102011104379B4 (de) 2011-06-18 2021-11-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Konfokales Rastermikroskop und Verwendung, Steuerverfahren sowie programmierbare Steuereinheit für ein solches Mikroskop
DE102011104379A1 (de) 2011-06-18 2012-12-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Konfokales Rastermikroskop und Betriebsverfahren für ein solches sowie Verfahren zum Manipulieren einer Probe
DE102011109653B4 (de) 2011-08-06 2021-11-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Beleuchtungsarray
DE102011109653A1 (de) 2011-08-06 2013-02-07 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Beleuchtungsarray
WO2013020663A1 (de) 2011-08-06 2013-02-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh "laser-scanning-mikroskop mit einem beleuchtungsarray"
DE102012010208A1 (de) 2012-05-15 2013-11-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop
DE102012016346B4 (de) 2012-08-16 2023-01-05 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop
DE102012016346A1 (de) 2012-08-16 2014-05-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laserrastermikroskop
US10345567B2 (en) 2012-08-16 2019-07-09 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser scanning microscope
DE102014000473A1 (de) 2014-01-16 2015-07-16 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop und Verstärkerbaugruppe
US10175105B2 (en) 2014-01-16 2019-01-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser scanning microscope and amplifier assembly
DE102014002328B4 (de) 2014-02-12 2021-08-05 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multifokales Fluoreszenzrastermikroskop
US10802256B2 (en) 2014-02-12 2020-10-13 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multifocal scanning fluorescence microscope
DE102014002328A1 (de) 2014-02-12 2015-08-13 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multifokales Fluoreszenzrastermikroskop
DE102014010185A1 (de) 2014-07-09 2016-01-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Laser-Scanning-Mikroskops
US9671341B2 (en) 2014-07-09 2017-06-06 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method for the operation of a laser scanning microscope
US11194147B2 (en) 2014-07-25 2021-12-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope and method for optically examining and/or manipulating a microscopic sample
WO2016180403A1 (de) 2015-05-11 2016-11-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Auswertung von signalen der fluoreszenzrastermikroskopie unter verwendung eines konfokalen laserscanning-mikroskops
DE102015107367A1 (de) 2015-05-11 2016-11-17 Carl Zeiss Ag Auswertung von Signalen der Fluoreszenzrastermikroskopie unter Verwendung eines konfokalen Laserscanning-Mikroskops
US9645376B1 (en) 2015-10-14 2017-05-09 Abberior Instruments Gmbh Scanner head and device with scanner head
EP3156838A1 (de) 2015-10-14 2017-04-19 Abberior Instruments GmbH Scannerkopf und vorrichtung mit scannerkopf
US11493746B2 (en) 2016-05-02 2022-11-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Illumination module for angle-selective illumination
DE102016116309A1 (de) * 2016-05-02 2017-11-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Beleuchtungsmodul für winkelselektive Beleuchtung
DE102022102763A1 (de) 2022-02-07 2023-08-10 Carl Zeiss Meditec Ag Mikroskop und Bildgebungsverfahren für ein Mikroskop

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