DE19951482C2 - Fluoreszenzmikroskop - Google Patents
FluoreszenzmikroskopInfo
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- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
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Description
Die Erfindung betrifft die Beleuchtung einer Probe mit Laserlicht unterschiedli
cher Wellenlängen, vorzugsweise bei der Kreuzkorrelationsvariante der Fluo
reszenz-Korrelations-Spektroskopie (FCS).
Sie ist aber auch vorteilhaft in anderen mikroskopischen Systemen wie dem Laser-
Scanning-Mikroskop und bei der Detektion zeitaufgelöster Fluoreszenz anwendbar, um Be
leuchtung mehrerer Wellenfängen simultan oder sequentiell exakt an den gleichen Probenort
heranzuführen.
Bei der Kreuzkorrelations-FCS erfolgt eine gleichzeitige, spektral separierte Detektion von
zwei unterschiedlich markierten Reaktionspartnern und von deren zweifarbigem Reaktions
produkt.
Der mathematische Vergleich der Detektorsignale liefert Informationen über Konzentration
und Dynamik der assoziierten Reaktionspartner ohne störende Beiträge der Einzelkompo
nenten.
Es ist erforderlich, ein kleines Probenvolumen, welches einen Durchmesser im Bereich des
Airyscheibchens hat, mit zwei Lasern unterschiedlicher Wellenlänge auszuleuchten. Die bei
den Volumina müssen einander dabei sehr gut überdecken.
Infolge unumgänglicher Fertigungs- und Justiertoleranzen ist ein Farbquerfehler und damit
eine unzureichende Überdeckung der Volumina bei Beleuchtung mit unterschiedlichen Wel
lenlängen nicht auszuschließen.
In DE 692 29 777 T2 wird eine Korrekturlinse beschrieben, die der Korrektur der longitudina
len chromatischen Abberration dient. Vorhandene (rotationssymmetrische) chromatische
Fehler in Querrichtung (Farbvergrößerungsdifferenz) müssen durch das Optikdesign auf
wendig ausgeglichen werden.
DE 41 28 506 A1 beschreibt ein Mikroskop-Spektrometer mit einer Verschiebung des ge
samten Mikroskopobjektives in Richtung der optischen Achse in Abhängigkeit der einge
stellten Wellenlänge für einen chromatischen Längsausgleich.
DE 195 08 100 A1 beschreibt Bauelemente mit konstanter Dispersion, wobei zur Einkopplung
unterschiedlicher Wellenlängen mehrere Lichtquellen unter unterschiedlichen Winkeln ange
ordnet werden müssen.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine möglichst exakte Überdeckung der Anregungsvolumina
bei der Ausleuchtung mit unterschiedlichen Wellenlängen zu gewährleisten.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale des Anspruchs 1 ge
löst.
Bevorzugte Weiterbildungen sind Gegenstand der Unteransprüche.
Die Erfindung und ihre Wirkungen und Vorteile werden nachstehend anhand der schemati
schen Darstellungen näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1: Eine beispielhafte Anordnung zur Kreuzkorrelations-FCS oder anderer mikro
skopischer Detektionsmethoden mit einer erfindungsgemäßen Korrektionsoptik;
Fig. 2: Einen schematisierten Strahlverlauf an der im parallelen Strahlengang einge
setzten Korrektionsoptik nach Ausführung 1;
Fig. 3: Einen schematisierten Strahlverlauf an der im parallelen Strahlengang einge
setzten Korrektionsoptik nach Ausführung 5.
Licht mit mehreren Wellenlängen wird in den Beleuchtungsstrahlengang eingekop
pelt. Dieses erfolgt über eine Einkoppeloptik EO, die auf unendlich korrigierte
Strahlbündel erzeugt.
Des Einkoppeloptik ist im parallelen Strahlengang die erfindungsgemäße Korrektion
soptik KO nachgeordnet, welche im Strahlengang zu Justierzwecken beweglich
angeordnet ist.
Über einen Hauptfarbteiler, eine zwischenbilderzeugende Übertragungsoptik ÜO
(die auch das einem Scanner nachgeordnete Scanningobjektiv eines Laser-Scanning-
Mikroskopes - beispielsweise gemäß DE 197 02 753 A1 - sein kann),
eine Tubuslinse TL und ein Objektiv Obj erfolgt die Beleuchtung des Probenvolu
mens P.
Die Detektion des Meßsignales erfolgt in einer Detektionseinheit DE, welche sich
hinter dem Hauptfarbteiler und einer fokussierenden Detektionsoptik befindet. Die
Detektionseinheit enthält wellenlängendispersive Elemente, z. B. dichroitische Strahl
teiler und entsprechende Filter und Detektoren.
Zwischen der Einkoppeloptik EO und der Übertragungsoptik ÜO sowie zwischen
Tubuslinse TL und Objektiv Obj ist der Strahlengang parallel.
Erfindungsgemäß erfolgt über eine Korrektionsoptik KO in einem der beiden
parallelen Strahlengänge eine Korrektion auftretender Farbquerfehler.
Die Korrektionsoptik besteht aus einer afokal wirkenden Kombination von Gläsern mit
gleichem Brechungsindex, aber unterschiedlicher Dispersion. Durch den Dispersionssprung
an einer inneren Grenzfläche GF der Korrektionsoptik wird bei
Durchgang eines Strahlenbündels dieses in Abhängigkeit von seiner Wellenlänge
bezüglich der optischen Achse unterschiedlich abgelenkt.
Um den gewünschten Korrektions-Effekt zu erreichen, sind verschiedene technische
Realisierungen möglich.
Ein erster vorteilhafter Lösungsansatz basiert auf der Ausnützung des
Brechzahlsprunges an einer gewölbten Grenzfläche zwischen einer Plankonvex- und
einer Plankonkavlinse bei außeraxialem Durchgang des parallelen
Beleuchtungslichtes durch ein solches Korrekturglied.
Unterschiedliche Wellenlängen werden bezüglich ihrer Richtung (Farbquerfehler)
und ihrer Konvergenz/Divergenz (Farblängsfehler) unterschiedlich beeinflußt.
Eine mögliche Realisierung ist nach Ausführung 1 in Tabelle 1 aufgebaut und durch
Fig. 2 veranschaulicht. Andere Realisierungen sind durch Glaskombinationen
entsprechend den Ausführungen 2, 3 und 4 in Tabelle 1 charakterisiert.
Die Ausführungen 1 und 2 sind zueinander entgegengesetzt aufgebaut, d. h. einmal
ist die Kronglaslinse sammelnd und die Flintglaslinse zerstreuend und umgekehrt.
Die Lösungen sind gleichwertig und unterscheiden sich nur in der notwendigen
Bewegungsrichtung der Verschiebung zur Kompensation des Farbquerfehlers. Die
Wirkung auf den Farblängsfehler ist entgegengesetzt.
Bei den Ausführungen 3 und 4 wird durch einen gegenwirkenden afokalen Achro
maten die Beeinflussung des Farblängsfehlers für die verkippten Wellenlängen kom
pensiert.
Hierzu werden die Ausführungen 1 und 2 bzw. 2 und 1 miteinander kombiniert
Zunachst werden beide Korrektionsglieder nach Ausführung 1 und 2 zentrisch in den
Strahlengang eingesetzt und dann eines der beiden außeraxial verschoben.
Die Ausführungen 3 und 4 sind bezüglich des Farblängsfehlers nebenwirkungsfrei.
Wird der Farblängsfehler im Design des Gesamtstrahlenganges berücksichtigt, sind
die Ausführungen 1 und 2 vorteilhaft einzusetzen.
Ein weiterer vorteilhafter Lösungsansatz basiert auf einem Brechzahlsprung an
einer ebenen Grenzfläche mit veränderlichem Neigungswinkel dieser Grenzfläche
und der wellenlängenabhängigen Beeinflussung der Strahlrichtung. Eine Lösung mit
einstellbarem veränderbarem Keilwinkel ist in Fig. 3 und der zugehörigen
Ausführung 5 in Tabelle 2 veranschaulicht.
Eine in halbkugelförmigen Halterungen HK drehbare Glaskugel GK ist aus
unterschiedlichen Materialien aufgebaut (Kronglas/Flintglas). An der Grenzfläche
GF erfolgt je nach Einfallswinkel eine unterschiedliche Brechung, die
wellenlängenabhängig ist.
Das Material der Halterungen HK entspricht jeweils dem Material der benachbarten
Kugelhälfte, so daß die Strahlung durch die Halterungen HK unbeeinflußt bleibt.
Ausführung 5 ist ohne Nebenwirkung auf den Farblängsfehler und damit optisch zu
den Ausführungen 3 und 4 äquivalent. Der benötigte Bauraum ist aber größer.
Denkbar sind auch Anordnungen aus mehreren Glaskeilen mit veränderlichem Keil
winkel zur Erzeugung einer Divergenz für bestimmte Wellenlängen, die auswechsel
bar/drehbar im Strahlengang angeordnet werden können.
Durch Verschiebung der Korrektionsoptik senkrecht zur optischen Achse in
Ausführung 1 bis 4 und Fig. 2 bzw. durch Drehen der verkitteten Kugel in Ausführung
5 und Fig. 3 erfolgt eine Einstellung der Stärke der Ablenkung und somit eine
Beseitigung vorhandener Farbquerfehler in der Probe. Während die (mittlere)
Wellenlänge g bei jeder Stellung der Korrektionsoptik im gewählten Beispiel gerade
hindurchgeht, werden die Wellenlänge r und b unterschiedlich abgelenkt.
Das Einstellen der Korrektionsoptik kann zweckmäßigerweise unter direkter Beob
achtung der Beleuchtungsvolumina oder auch indirekt durch Auswertung der Analy
sensignale wie z. B. des Kreuzkorrelationssignales erfolgen.
Claims (8)
1. Fluoreszenzmikroskop,
mit einer Laseranordnung zur Anregung einer zu untersuchenden Probe mit verschiedenen Wellenlängen,
wobei die Abbildungsoptik des Fluoreszenzmikroskops bezüglich Farblängs- und Farbquerfehler korrigiert ist, um mit jeder Anregungswellenlänge das gleiche Probenvolumen anzuregen,
dadurch gekennzeichnet,
dass in einem Parallelstrahlengang des Beleuchtungsstrahlengangs eine Korrektionsoptik (KO) vorgesehen ist, die Überdeckungsfehler bei der Probenausleuchtung korrigiert,
wobei die Korrektionsoptik (KO) eine gegenüber dem Parallelstrahlengang in ihrer Neigung einstellbare Grenzfläche (GF) aufweist und unterschiedliche Neigungen der Grenzfläche (GF) unterschiedlich starke Korrektionen der Überdeckungsfehler bei der Probenausleuchtung bewirken.
mit einer Laseranordnung zur Anregung einer zu untersuchenden Probe mit verschiedenen Wellenlängen,
wobei die Abbildungsoptik des Fluoreszenzmikroskops bezüglich Farblängs- und Farbquerfehler korrigiert ist, um mit jeder Anregungswellenlänge das gleiche Probenvolumen anzuregen,
dadurch gekennzeichnet,
dass in einem Parallelstrahlengang des Beleuchtungsstrahlengangs eine Korrektionsoptik (KO) vorgesehen ist, die Überdeckungsfehler bei der Probenausleuchtung korrigiert,
wobei die Korrektionsoptik (KO) eine gegenüber dem Parallelstrahlengang in ihrer Neigung einstellbare Grenzfläche (GF) aufweist und unterschiedliche Neigungen der Grenzfläche (GF) unterschiedlich starke Korrektionen der Überdeckungsfehler bei der Probenausleuchtung bewirken.
2. Fluoreszenzmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Grenzfläche
(GF) zwischen zwei Glaskörpern ausgebildet ist, wobei die Brechungsindizes der beiden
Glaskörper für eine mittlere Wellenlänge gleich und ihre Dispersionen unterschiedlich sind.
3. Fluoreszenzmikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die
Grenzfläche (GF) eben und gegenüber dem Parallelstrahlengang kippbar ausgebildet ist.
4. Fluoreszenzmikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die
Grenzfläche (GF) gewölbt und senkrecht zum Parallelstrahlengang verschiebbar ist.
5. Fluoreszenzmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die
Korrektionsoptik (KO) als afokaler Achromat ausgebildet ist.
6. Fluoreszenzmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass
die Korrektionsoptik (KO) als zwei im Strahlengang hintereinander liegende, afokale
Achromate ausgebildet ist, die entgegengesetzte Wirkung bezüglich des Farblängsfehlers
aufweisen.
7. Fluoreszenzmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass
das Fluoreszenzmikroskop als Zweifarben-Fluoreszenz-Kreuzkorrelationsmikroskop
ausgebildet ist.
8. Fluoreszenzmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass
das Fluoreszenzmikroskop als Laserscanmikroskop ausgebildet ist.
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