DE19649441A1 - Optische Regelvorrichtung - Google Patents

Optische Regelvorrichtung

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Description

Diese Erfindung betrifft eine optische Regelvorrichtung wie zum Beispiel einen optischen Schalter.
Optische Kommunikationssysteme und optische Meßtechno­ logien verwenden in großem Umfang optische Regelvorrichtun­ gen wie zum Beispiel optische Modulatoren, optische Schal­ ter oder Polarisationsregler, die optische Modulation, op­ tisches Schalten oder Polarisationsregelung auf der Grund­ lage elektrischer Signale mittels Verwendung ferroelektri­ scher Materialien, die einen elektrooptischen Effekt auf­ weisen, wie zum Beispiel Kristallen aus Lithiumniobat (LiNbO₃: LN), durchführen.
Die Fig. 1 und 2 zeigen eine Beispielskonstruktion eines optischen Hochgeschwindigkeitsintensitätsmodulators vom Wanderwellentyp mit der größten Bandbreite, die wir, die Erfinder, unter Verwendung von LN-Kristallen erforscht und entwickelt haben. Fig. 1 ist eine Draufsicht auf einen optischen Modulator, der komplanare Wellenleitermodulati­ onselektroden verwendet. Fig. 2 ist eine Schnittansicht ei­ nes zentralen Teils des Modulators. In diesem Beispiel sind die Kerne 102, die optische Wellenleiter vom Mach-Zehnder- Typ bilden, mittels thermischer Diffusion von Ti in einem z-Schnitt-LN-Substrat 101, das einen elektrooptischen Ef­ fekt aufweist, ausgebildet. Die Umgebung eines jeden Kerns 102 weist eine Stegstruktur auf, die mehrere Mikrometer tief eingegraben bzw. eingebettet ist. Auf dem Substrat 101 ist eine Pufferschicht 103 (die gleichzeitig als eine Deck­ schicht des optischen Wellenleiters fungiert) mit einer Dicke tb ausgebildet, die ein Dielektrikum wie zum Beispiel SiO₂ aufweist, um die durch die Modulationselektroden ver­ ursachte Ausbreitungsdämpfung des Lichtes zu unterdrücken. Auf der Pufferschicht 103 sind komplanare Wellenleitermodu­ lationselektroden ausgebildet, die aus einer Zentralelek­ trode 104 und Erdungselektroden 105, die Au oder Al aufwei­ sen, bestehen.
Bei diesem herkömmlichen bzw. konventionellen Modulator stimmen die Geschwindigkeit des modulierenden Mikrowellen­ signals und die Geschwindigkeit der geführten Lichtwelle nicht notwendigerweise miteinander überein. Die Betriebs­ bandbreite des Modulators wird hauptsächlich durch diese Geschwindigkeitsfehlanpassung zwischen der Mikrowelle und der Lichtwelle begrenzt. Sei der effektive Index der Elek­ trode für das modulierende Mikrowellensignal nm, und der effektive Index des optischen Wellenleiters sei no (no = 2,15 im Band der Wellenlänge λ = 1,55 µm). Unter der Bedin­ gung, daß die Impedanzen übereinstimmen, ist die Bandbreite des optischen Modulators (elektrisch 3dB) Δf1 bekannterma­ ßen durch
Δf₁ = 1,4c/(π|nm - no|L) (1)
gegeben, wobei c die Vakuumlichtgeschwindigkeit und L die Wechselwirkungslänge bzw. Koppellänge der Modulationse­ lektroden ist. Die Größe der Steuerspannung Vπ des Modula­ tors ist umgekehrt proportional zu der Länge L der Modula­ tionselektrode. Folglich werden, auf der Grundlage der Be­ ziehung der Gleichung (1), und um die Bandbreite zu vergrö­ ßern, ohne die Steuerspannung zu erhöhen, die Elektroden­ dicke tm, die Pufferschichtdicke tb, die Zwischenelektro­ denlücke G, die Zentralelektrodenbreite W und die Stegtiefe tr so gewählt bzw. eingestellt, daß der Wert von nm nahe dem Wert von no ist.
Gleichzeitig müssen die obigen Parameter so gewählt bzw. eingestellt werden, daß der Wellenwiderstand der Modu­ lationselektroden 50 Ω beträgt und mit der Impedanz des externen Schaltkreises übereinstimmt.
Durch diese Maßnahmen haben wir die Betriebsbandbreite der optischen Regelvorrichtung auf 70 GHz verbreitert.
Wie in Fig. 2 zu sehen ist, sind die Breiten der Zen­ tralelektrode und der Erdungselektroden auf der Seite, wo diese Elektroden in Kontakt mit der Pufferschicht stehen, klein. Der Grund ist der folgende: Um die Geschwindigkeit des modulierenden Mikrowellensignals nahe an die Geschwin­ digkeit des sich durch den optischen Wellenleiter hindurch ausbreitenden Lichtes zu bringen, ist es erforderlich, die Elektrodendicke tm so zu wählen bzw. einzustellen, daß sie vergleichbar mit der Zwischenelektrodenlücke G (normalerweise 10 bis 50 µm) ist. Folglich müssen die Zen­ tralelektrode und die Erdungselektroden beträchtlich dicker werden. Zu diesem Zweck werden diese Elektroden mittels Elektroplattieren unter Verwendung eines Musters aus einer dicken Schutzschicht als einer Führung ausgebildet. Die Ge­ stalt dieser Schutzschicht wird trapezförmig (je näher die Schutzschicht dem Substrat ist, desto größer ist ihre Brei­ te), so daß die Zentralelektrode und die Erdungselektroden an der Seite schmäler sind, wo diese Elektroden die Puffer­ schicht kontaktieren, wie in Fig. 2 veranschaulicht ist.
In diesem Fall, da die Merkmale bzw. Eigenschaften ei­ ner optischen Regelvorrichtung hauptsächlich von ihrer Breite an der Seite, wo sie die Pufferschicht kontaktiert, abhängen, ist es von Bedeutung, wie man die Breite der Elektrode definiert. Folglich sollen die Maßangaben für die Elektrodenbreiten, die in der Spezifikation und den Zeich­ nungen der vorliegenden Anmeldung verwendet werden, die Maßangaben bzw. Abmessungen an der Seite sein, wo die Elek­ troden mit der Pufferschicht in Kontakt stehen.
In den Fig. 1 und 2 ist die Oberfläche der Puffer­ schicht 103 nicht flach bzw. abgeflacht. Deswegen nehmen die elektrischen Kraftlinien für Mikrowellen mehr Raum ein, der mit Luft mit einem niedrigeren Brechungsindex gefüllt ist, und machen es folglich leichter, nm an no anzunähern.
Im Prinzip sollte der Wellenwiderstand der optischen Regelvorrichtung gleich dem Wellenwiderstand des externen Schaltkreises (normalerweise 50 Ω) sein. Jedoch kann die Vorrichtung mit einem kleinen Wellenwiderstand verwendet werden, um die optische Regelvorrichtung mit einer niedri­ geren Spannung zu betreiben. In diesem Fall treten reflek­ tierte Wellen auf, da die Frequenzbandbreite kleiner wird. Die reflektierten Wellen werden mittels eines Isolators entfernt, um die Betriebsinstabilität der Steuersignalquel­ le zu verhindern. In diesem Fall wird der Wellenwiderstand der optischen Regelvorrichtung auf einen erwünschten Wert eingestellt, beispielsweise 40 Ω, oder weniger, so daß das geforderte Leistungsverhalten in Anbetracht des Effekts der Erniedrigung der Steuerspannung und des Effekts der Verrin­ gerung der Bandbreite erhalten werden kann.
Die Vorrichtung von Fig. 1 und 2, die die vorstehenden Mittel zur Erreichung einer breiten Bandbreite enthält, bringt noch ungelöste Probleme mit sich. Wir sind auf diese Tatsache während unserer Forschungs- und Entwicklungsarbei­ ten zur Verbreiterung bzw. Vergrößerung der Bandbreite der Vorrichtung gestoßen.
Das heißt, die Herstellung der Vorrichtung wie in den Fig. 1 und 2 realisiert nicht immer dieses hohe Lei­ stungsverhalten. Die Betriebsbandbreite, die Steuerspannung und der Wellenwiderstand für die hergestellten jeweiligen Vorrichtungen sind nicht konstant.
Darüber hinaus sollte gemäß Gleichung (1), falls nm und no identisch sind, die Bandbreite unendlich sein. Jedoch, sogar falls nm und no innerhalb eines bestimmten Wertebe­ reiches aneinander angenähert werden, wird die Bandbreite nicht mehr breiter bzw. größer.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die Eigenschaften bzw. Kenndaten einer optischen Regelvorrich­ tung konstant zu machen, als ein erster Schritt, und dann über die oben beschriebenen Einschränkungen bzw. Begrenzun­ gen der Bandbreite hinauszugehen.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt durch die Merkmale der Ansprüche 1 bzw. 11.
Erfindungsgemäß wird ein optisches Regelglied bzw. eine optische Regelvorrichtung bereitgestellt, die aufweist: Ein Substrat mit einem elektrooptischen Effekt und mit darin ausgebildeten Stegen, die optische Wellenleiter aufweisen; eine auf der Oberfläche des Substrats ausgebildete Puffer­ schicht; und Elektroden, die aus Erdungselektroden, die auf dem Substrat über der Pufferschicht ausgebildet sind, und aus einer Zentralelektrode, die auf einem Steg über der Pufferschicht ausgebildet ist, bestehen; wobei die Oberflä­ che der Pufferschicht, die in den Teilbereichen ausgebildet ist, wo keine Stege sind, so ausgebildet ist, daß sie nied­ riger ist als die Oberfläche der Pufferschicht, die auf den Stegen ausgebildet ist; und wobei die Breite und Tiefe des Steges, die Dicke der Pufferschicht und die Gestalten und Abmessungen der Elektroden so gewählt bzw. eingestellt sind, daß der Mikrowellenverlust bzw. die Mikrowellendämp­ fung der Elektroden verringert ist, daß die Geschwindigkeit der sich in den Elektroden ausbreitenden Mikrowellen und die Geschwindigkeit des sich durch die optischen Wellenlei­ ter hindurch ausbreitenden Lichtes exakt oder nahezu mit­ einander übereinstimmen, und daß die Impedanz der Elektro­ den exakt oder nahezu mit einer erwünschten Impendanz über­ einstimmt; und wobei die Breite der Zentralelektrode an der Seite, wo die Zentralelektrode die Pufferschicht kontak­ tiert bzw. mit der Pufferschicht in Kontakt steht, größer ist als die Breite des Kerns des optischen Wellenleiters.
Hierbei und im folgenden kann die erwünschte Impedanz die Wellenimpedanz bzw. der Wellenwiderstand eines externen Schaltkreises sein.
Bei der obigen Konstruktion bzw. Anordnung kann die Breite der Zentralelektrode an der Seite, wo die Zentral­ elektrode die Pufferschicht kontaktiert, größer als der Mittelwert aus der Breite des Steges und der Breite des Kerns in dem optischen Wellenleiter sein. Weiterhin kann die Breite der Zentralelektrode an der Seite, wo die Zen­ tralelektrode die Pufferschicht kontaktiert, größer als die Breite des Steges sein. Weiterhin kann die Oberfläche der Pufferschicht direkt unter der Zentralelektrode flach bzw. nivelliert sein.
Bei der obigen Konstruktion bzw. Anordnung kann die Zentralelektrode auch aus einer Vielzahl von Schichten ge­ bildet sein. Weiterhin kann von der Vielzahl von Schichten die Schicht, die in Kontakt mit der Pufferschicht steht, eine Dicke von 1 µm oder weniger aufweisen.
Bei der obigen Konstruktion kann es auch zwischen der Zentralelektrode und den Erdungselektroden einen Bereich ohne die Pufferschicht geben.
Bei der obigen Konstruktion kann die instantane opti­ sche Regelvorrichtung auch ein optischer Intensitätsmodula­ tor vom Mach-Zehnder-Typ sein.
Bei der obigen Anordnung bzw. Konstruktion kann das Substrat auch aus LiNbO₃, LiTaO₃ oder PLZT (Bleilanthan- Zirkonattitanat bzw. lanthandotiertes Bleizirkonattitanat) bestehen.
Um die zuvor erwähnte Aufgabe zu lösen, wird erfin­ dungsgemäß ebenfalls ein optisches Regelglied bzw. eine op­ tische Regelvorrichtung bereitgestellt, die aufweist: Ein Substrat mit einem elektrooptischen Effekt und mit darin ausgebildeten Stegen, die optische Wellenleiter aufweisen; eine auf der Oberfläche des Substrates ausgebildete Puffer­ schicht; und Elektroden, die aus einer Streifenelektrode, die auf einem Steg über der Pufferschicht ausgebildet ist, und aus Erdungselektroden, die hinten auf bzw. auf der Rückseite des Substrates ausgebildet sind, bestehen; wobei die Oberfläche der Pufferschicht, die in den Teilbereichen ausgebildet ist, wo keine Stege sind, so ausgebildet ist, daß sie niedriger ist als die Oberfläche der Pufferschicht, die auf den Stegen ausgebildet ist; und wobei die Breite und Tiefe des Steges, die Dicke der Pufferschicht und die Gestalten und Abmessungen der Elektroden so gewählt bzw. eingestellt sind, daß der Mikrowellenverlust bzw. die Mi­ krowellendämpfung der Elektroden verringert ist, daß die Geschwindigkeit der sich in den Elektroden ausbreitenden Mikrowellen und die Geschwindigkeit des sich durch die op­ tischen Wellenleiter hindurch ausbreitenden Lichtes exakt oder nahezu miteinander übereinstimmen, und daß die Impe­ danz der Elektroden exakt oder nahezu mit einer erwünschten Impendanz übereinstimmt; und wobei die Breite der Streifen­ elektrode an der Seite, wo die Streifenelektrode die Puf­ ferschicht kontaktiert bzw. mit der Pufferschicht in Kon­ takt steht, größer ist als die Breite des Kerns des opti­ schen Wellenleiters.
Hierbei und im folgenden kann die erwünschte Impedanz die Wellenimpedanz bzw. der Wellenwiderstand eines externen Schaltkreises sein.
Bei der obigen Konstruktion bzw. Anordnung kann die Breite der Streifenelektrode an der Seite, wo die Streifen­ elektrode die Pufferschicht kontaktiert, größer als der Mittelwert aus der Breite des Kerns und der Breite des Ste­ ges in dem optischen Wellenleiter sein. Weiterhin kann die Breite der Streifenelektrode an der Seite, wo die Streifen­ elektrode die Pufferschicht kontaktiert, größer als die Breite des Steges sein. Weiterhin kann die Oberfläche der Pufferschicht direkt unter der Streifenelektrode flach bzw. abgeflacht sein.
Bei der obigen Konstruktion bzw. Anordnung kann die in­ stantane optische Regelvorrichtung auch ein optischer In­ tensitätsmodulator vom Mach-Zehnder-Typ sein.
Bei der obigen Konstruktion bzw. Anordnung kann das Substrat auch aus LiNbO₃, LiTaO₃ oder PLZT (Bleilanthan- Zirkonattitanat bzw. lanthandotiertes Bleizirkonattitanat) bestehen.
Die Unteransprüche beziehen sich auf vorteilhafte Aus­ gestaltungen der Erfindung.
Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile der Erfin­ dung ergeben sich aus der nachfolgenden detaillierten Be­ schreibung bevorzugter Ausführungsformen anhand der Zeich­ nungen; es versteht sich jedoch, daß die detaillierte Be­ schreibung und die beschriebenen spezifischen Ausführungs­ formen nur der Veranschaulichung dienen, da verschiedene Änderungen und Modifikationen innerhalb des Anwendungsbe­ reiches der Erfindung für Fachleute aus dieser detaillier­ ten Beschreibung offensichtlich werden. Es zeigen:
Fig. 1 eine Draufsicht eines Beispiels eines herkömmli­ chen optischen Intensitätsmodulators vom Mach-Zehnder-Typ;
Fig. 2 eine Schnittansicht des Beispiels eines herkömm­ lichen optischen Intensitätsmodulators vom Mach-Zehnder- Typ;
Fig. 3 eine Schnittansicht einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
Fig. 4 eine Schnittansicht einer zweiten Ausführungs­ form der Erfindung;
Fig. 5 ein Diagramm von Mikrowellenmerkmalen bzw. Mi­ krowellenkenndaten, um das Prinzip und die Effekte und Wir­ kungen der Erfindung zu veranschaulichen;
Fig. 6 ein Diagramm von Mikrowellenmerkmalen bzw. Mi­ krowellenkenndaten, um das Prinzip und die Effekte und Wir­ kungen der Erfindung zu veranschaulichen;
Fig. 7 ein Diagramm von Mikrowellenmerkmalen bzw. Mi­ krowellenkenndaten für das herkömmliche bzw. konventionelle Beispiel;
Fig. 8A eine Ansicht einer dritten Ausführungsform der Erfindung, die ein Beispiel eines Verfahrens zur Herstel­ lung der optischen Regelvorrichtung der Erfindung veran­ schaulicht;
Fig. 8B eine Ansicht einer dritten Ausführungsform der Erfindung, die ein Beispiel eines Verfahrens zur Herstel­ lung der optischen Regelvorrichtung der Erfindung veran­ schaulicht;
Fig. 8C eine Ansicht einer dritten Ausführungsform der Erfindung, die ein Beispiel eines Verfahrens zur Herstel­ lung der optischen Regelvorrichtung der Erfindung veran­ schaulicht;
Fig. 8D eine Ansicht einer dritten Ausführungsform der Erfindung, die ein Beispiel eines Verfahrens zur Herstel­ lung der optischen Regelvorrichtung der Erfindung veran­ schaulicht;
Fig. 8E eine Ansicht einer dritten Ausführungsform der Erfindung, die ein Beispiel eines Verfahrens zur Herstel­ lung der optischen Regelvorrichtung der Erfindung veran­ schaulicht;
Fig. 9 eine Schnittansicht einer vierten Ausführungs­ form der Erfindung;
Fig. 10 eine Schnittansicht einer fünften Ausführungs­ form der Erfindung;
Fig. 11 eine Schnittansicht einer sechsten Ausführungs­ form der Erfindung;
Fig. 12 eine Schnittansicht einer siebten Ausführungs­ form der Erfindung;
Fig. 13 eine Schnittansicht einer achten Ausführungs­ form der Erfindung, die eine Anwendung der Erfindung auf einen optischen Modulator mit Mikrostreifen-Wellenleitern zeigt;
Fig. 14 eine Schnittansicht einer neunten Ausführungs­ form der Erfindung;
Fig. 15 eine Schnittansicht einer zehnten Ausführun­ gungsform der Erfindung;
Fig. 16 ein Diagramm von Mikrowellenmerkmalen bzw. Mi­ krowellenkenndaten, um das Prinzip und die Effekte und Wir­ kungen der Erfindung zu veranschaulichen;
Fig. 17 eine Schnittansicht einer elften Ausführungs­ form der Erfindung; und
Fig. 18 eine Schnittansicht einer zwölften Ausführungs­ form der Erfindung.
Zuerst wird erklärt werden, wie die vorliegende Erfin­ dung die Vorrichtungseigenschaften konstant macht. Bei ei­ nem herkömmlichen Modulator, wie in den Fig. 1 und 2 ge­ zeigt, war die Breite W einer Zentralelektrode 104 so ge­ wählt bzw. eingestellt, daß sie kleiner als die Breite wr eines Steges und gleich der Breite wo eines Kerns 102 eines optischen Wellenleiters war (zum Beispiel wr = 9 µm, wo = W = 8 µm). Ein erster Grund dafür ist, daß die Zentralelek­ trode 104 auf dem Steg ausgebildet ist, und folglich er­ leichtert es ihre Herstellung, wenn ihre Breite kleiner als die Breite des Steges ist. Zweitens, falls die Breite der Zentralelektrode 104 groß ist, nimmt die Kapazität zwischen der Zentralelektrode 104 und der Erdungselektrode 105 zu, was es schwierig macht, die Impendanzanpassung zu errei­ chen; daher wurde die Breite der Zentralelektrode 104 auf die minimal erforderliche Größe eingestellt, d. h., auf die Breite des Kerns 102 des optischen Wellenleiters.
Wie später ausführlich in Verbindung mit Fig. 5 disku­ tiert werden wird, variieren jedoch die Vorrichtungseigen­ schaften einer optischen Regelvorrichtung abrupt in einem Bereich, wo die Breite W der Zentralelektrode kleiner ist als die Kernbreite wo des optischen Wellenleiters. Folglich läßt das Vorhandensein von nur geringen Unterschieden in der Breite W der Zentralelektrode in den entsprechend her­ gestellten Vorrichtungen die Vorrichtungseigenschaften fluktuieren. Dementsprechend werden die Steuerspannung, die Betriebsbandbreite und der Wellenwiderstand bzw. die Wel­ lenimpedanz stabilisiert, falls die Breite W der Zentral­ elektrode größer als die Kernbreite wo des optischen Wel­ lenleiters gewählt bzw. eingestellt wird, vorzugsweise bzw. vorteilhafterweise größer als der Mittelwert aus der Kern­ breite wo und der Stegbreite wr in dem optischen Wellenlei­ ter, und besser noch größer als die Stegbreite wr.
Als nächstes wird erläutert, wie die vorliegende Erfin­ dung die Begrenzungen in Bezug auf die Bandbreite, die in der herkömmlichen Vorrichtung vorhanden sind, eliminiert. Wenn nm an no angenähert bzw. herangebracht wird, verbrei­ tert sich die Betriebsbandbreite gemäß Gleichung (1), wird aber nicht über eine bestimmte Breite hinausgehen. Die Gleichung (1) ist eine theoretische Gleichung, die unter Vernachlässigung von Verlusten bzw. Dämpfung, die auftritt, wenn sich Mikrowellen in den Elektroden ausbreiten, abge­ leitet wurde. Da die tatsächliche Dämpfung der Elektroden nicht Null ist, muß sie in Betracht gezogen werden, wenn sich nm vollständig an no angenähert hat. Wenn nm mit no übereinstimmt, ist die Breite Δf₂ der Betriebsbandbreite durch
Δf₂ (GHz) = 40/(αL)² (2)
gegeben, wobei α die Dämpfungskonstante (Leitungsverlust, dB/cm) bei 1 GHz ist.
Folglich sollte die Mikrowellendämpfungskonstante er­ niedrigt werden, um eine breite bzw. große Bandbreite zu erreichen. Dabei muß die Impendanz der Mikrowellenelektro­ den mit dem externen Schaltkreis übereinstimmen bzw. ange­ paßt sein.
Zusammengefaßt, die Faktoren, die die Betriebsbandbrei­ te einer optischen Regelvorrichtung begrenzen bzw. ein­ schränken, sind bisher hauptsächlich die Geschwindigkeits­ fehlanpassung zwischen der Mikrowelle und dem Licht und die Fehlanpassung der Wellenimpedanz zwischen der Modulationse­ lektrode und dem externen Schaltkreis gewesen. Die Mikro­ wellendämpfung wurde als untergeordnet bzw. unbedeutend be­ trachtet.
Jedoch hat eine von uns entwickelte Vorrichtungsstruk­ tur, wie sie in den Fig. 1 und 2 gezeigt ist, es ermög­ licht, eine vollständige Geschwindigkeitsanpassung zwischen der Mikrowelle und dem Licht und eine vollständige Anpas­ sung des Wellenwiderstands der Modulationselektroden an den des externen Schaltkreises zu erreichen. Mit der Vorrich­ tungsstruktur der Fig. 1 und 2 haben wir folglich eine Vorrichtung entwickelt, bei der die Mikrowellendämpfung ei­ nen Hauptfaktor bei der Begrenzung der Bandbreite dar­ stellt.
Ausgehend von der Erkenntnis, daß die oben beschriebene Begrenzung der Betriebsbandbreite der optischen Regelvorri­ chtung der Dämpfung der Mikrowelle zuzuordnen ist, haben wir die Maßnahme entwickelt, die Breite W der Zentralelek­ trode größer als die Kernbreite wo des optischen Wellenlei­ ters zu machen, vorzugsweise bzw. vorteilhafterweise größer als der Mittelwert aus der Stegbreite wr und der Kernbreite wo in dem optischen Wellenleiter, und besser noch, größer als die Stegbreite wr. Die Dämpfung der Mikrowelle, oder die Dämpfungskonstante, ist durch
gegeben, vorausgesetzt, daß der Leckleitwert zwischen den Elektroden vernachläßigt werden kann. In der Gleichung (3) sind R und L der Widerstand bzw. die Induktivität pro Ein­ heitslänge der Koppellänge der Elektrode, und C ist die Ka­ pazität pro Einheitslänge zwischen den Elektroden.
Die vorliegende Erfindung umfaßt zwei Punkte: Erstens, die Breite der Zentralelektrode ist groß. Zweitens, wenn die Breite der Zentralelektrode zunimmt, nimmt die Dicke der Zentralelektrode ebenfalls zu (aufgrund der Herstel­ lungstechnologie ist das Höhe/Breite-Verhältnis, tm/W, auf höchstens 3 bis 4 beschränkt). Im Hinblick auf diese zwei Aspekte kann die Querschnittsfläche der Zentralelektrode groß werden, und somit R erniedrigen. Der Parameter C, der proportional zu der Breite der Elektrode, wie später disku­ tiert werden wird, groß werden sollte, nimmt kaum zu, wie später diskutiert werden wird. Folglich nimmt die Dämpfung ab, und die Betriebsfrequenz, die umgekehrt proportional zu dem Quadrat von α ist, kann dramatisch verbreitert bzw. erhöht werden.
Bei einer optischen Modulationsvorrichtung mit einem Steg, wie in den Fig. 1 und 2 gezeigt, ist die Breite der Zentralelektrode so ausgebildet worden, daß sie ver­ gleichbar mit der Breite des optischen Wellenleiters ist. Dies geschah deshalb, weil, wenn die Breite der Zentral­ elektrode vergrößert wird, eine Zunahme der Mikrowellen­ dämpfung und eine Abnahme des Wellenwiderstands und/oder eine Zunahme der Steuerspannung erwartet werden kann. Diese Möglichkeiten bzw. möglichen Effekte werden durch die Er­ kenntnisse und Ergebnisse nahegelegt, die man bei bzw. mit optischen Modulationsvorrichtungen erhielt, die einen opti­ schen Wellenleiter, der auf einem flachen Substrat ausge­ bildet ist, aufweisen (die Vorrichtungen, die früher als die optische Modulationsvorrichtung der Fig. 1 und 2 entwickelt wurden).
Der Wellenwiderstand bzw. die Wellenimpedanz Zo der Mo­ dulationselektrode ist durch
gegeben, falls der Leckleitwert G zwischen den Elektroden und der Widerstand R pro Einheitslänge der Koppellänge der Elektrode vernachläßigt werden kann.
Das heißt, wenn die Breite der Zentralelektrode vergrö­ ßert wird, nimmt die Kapazität der Modulationselektroden zu. Folglich nimmt gemäß Gleichung (3) die Mikrowellendämp­ fung zu, und der Wellenwiderstand nimmt nach Gleichung (4) ab. Um diese Nachteile zu vermeiden, muß die Dicke der Puf­ ferschicht oder/und die Lücke zwischen der Zentralelektrode und der Erdungselektrode vergrößert werden. Wenn man dies macht, wird jedoch die Intensität des elektrischen Feldes in dem optischen Wellenleiter verringert. Um ein erwünsch­ tes Extinktionsverhältnis zu erhalten, muß folglich die Steuerspannung erhöht werden.
Wie ausführlich bei den Ausführungsformen beschrieben werden wird, weist jedoch die vorliegende Erfindung, die mit einer Stegstruktur ausgebildete optische Wellenleiter aufweist, die folgende Merkmale auf: (1) Die elektrischen Kraftlinien konzentrieren sich in den Stegen, die in dem Substrat ausgebildet sind, das ein ferroelektrisches Mate­ rial wie zum Beispiel LN (Lithiumniobat, LiNbO₃) aufweist, so daß sich die Kapazität der Modulationselektroden nur mi­ nimal ändert, selbst wenn die Breite der Zentralelektrode größer als die Breite des Steges wird. (2) Die elektrischen Kraftlinien konzentrieren sich in den Stegen. Ferner, auf­ grund der Anisotropie des ferroelektrischen Materials, ist die dielektrische Konstante in einer Richtung parallel zu dem Substrat viel größer als die dielektrische Konstante in einer Richtung senkrecht zu dem Substrat. Folglich, selbst wenn die Lücke zwischen den Elektroden verbreitert bzw. vergrößert wird, variiert die elektrische Feldstärke in den Stegen kaum.
Die Mikrowellenelektroden sind in Verbindung mit kom­ planaren Wellenleitern beschrieben worden, bei denen die Erdungselektroden und die Zentralelektrode auf derselben Ebene bereitgestellt sind. Jedoch können dieselben Wirkun­ gen und Effekte gezeigt bzw. erhalten werden, indem man Mi­ krostreifen-Wellenleiter verwendet, bei denen die Erdungse­ lektroden auf der Rückseite des Substrates ausgebildet sind, und eine Streifenelektrode anstatt der Zentralelek­ trode verwendet wird.
Ausführungsform 1
Fig. 3 ist eine Ausführungsform eines optischen Inten­ sitätsmodulators vom Mach-Zehnder-Stegstruktur-Typ gemäß der vorliegenden Erfindung, der ein z-Achsenschnitt(c-Kri­ stallachsenschnitt)-LN-Substrat und komplanare Wellenlei­ terelektroden verwendet, wobei ein zentraler Teilbereich des Modulators als Querschnittsansicht gezeigt ist. Ein LN- Substrat 301 wird mit einer Stegstruktur mittels Ätzen der Oberfläche des LN-Substrates in der Nachbarschaft von Ker­ nen 302 optischer Wellenleiter beaufschlagt. Die Breite W einer Zentralelektrode 304 wird so ausgebildet, daß sie größer ist als die Stegbreite wr des unmittelbar darunter befindlichen Steges. Die Kante einer Erdungselektrode 305 ist so ausgebildet, daß sie einen anderen bzw. weiteren op­ tischen Wellenleitersteg bedeckt. Für eine Pufferschicht 303 ist ein Material mit einer kleineren dielektrischen Konstante als der von LN (LiNbO₃) ausgewählt, beispielswei­ se SiO₂ und Polyimid. Die Lücke G zwischen der Zentralelek­ trode 304 und der Erdungselektrode 305, die Dicke tb der Pufferschicht 303, die Tiefe tr des Steges und die Dicke tm der Elektrode sind so ausgebildet, daß die Geschwindig­ keitsanpassung zwischen dem Licht und der Mikrowelle si­ chergestellt ist, und daß der Wellenwiderstand Z für seine Anpassung an die Impendanz eines externen Schaltkreises auf einen geeigneten Wert (beispielsweise Z = 50 Ω) einge­ stellt ist. In der Zeichnung ist die Gestalt der Elektrode rechteckig, aber derselbe Effekt wird auftreten, falls die Zentralelektrode 304 und/oder die Erdungselektrode 305 ir­ gendeine Form aufweist, beispielsweise eine trapezförmige Form, eine invertierte trapezförmige Form oder eine Mehr­ fachschichtenform.
Ausführungsform 2
Fig. 4 ist eine Schnittansicht einer weiteren Ausfüh­ rungsform eines optischen Modulators gemäß der vorliegenden Erfindung. Ein Material 409 mit einer niedrigen dielektri­ schen Konstante wie zum Beispiel Polyimid ist ausgebildet, um die Stegbereiche eines LN-Substrates 401 einzubetten, um so eine flache Gestalt zu erzeugen. Eine Zentralelektrode 404 ist in der Gestalt eines invertierten Trapezes ausge­ bildet. Die Lücke G zwischen der Zentralelektrode 404 und einer Erdungselektrode 405, die Dicke tb einer Puffer­ schicht 403, die Tiefe tr des Steges und die Dicke tm der Elektrode sind so ausgebildet, daß die Geschwindigkeitsan­ passung zwischen dem Licht und der Mikrowelle sicherge­ stellt ist, und der Wellenwiderstand Z ist, beispielsweise, auf Z = 50 Ω eingestellt, wie in der ersten Ausführungs­ form von Fig. 3.
In der vorliegenden Erfindung kann, was auch immer die Querschnittsgestalt der Elektrode ist, und was auch immer das Material und die Gestalt der Pufferschicht und das Ma­ terial mit der niedrigen dielektrischen Konstante sind, die Breite W der Zentralelektrode an der Seite, wo die Zentral­ elektrode die Pufferschicht kontaktiert, so gewählt bzw. eingestellt werden, daß sie größer als die Kernbreite wo des optischen Wellenleiters ist, vorzugsweise bzw. vorteil­ hafterweise größer als der Mittelwert aus der Kernbreite wo und der Stegbreite wr in dem optischen Wellenleiter, und noch besser größer als die Stegbreite wr. Dadurch, daß die Dicke tm der Zentralelektrode größer gewählt bzw. einge­ stellt wird als die Breite W der Zentralelektrode, wird der Effekt bzw. die Wirkung der vorliegenden Erfindung erhöht bzw. vergrößert. Da das Material 409 mit der niedrigen die­ lektrischen Konstante die Oberfläche der Vorrichtung flach macht bzw. nivelliert, kann ferner die Breite W der Zen­ tralelektrode 404 auf einen willkürlichen Wert eingestellt werden, ohne durch die Größe der Stegbreite wr einge­ schränkt zu sein.
Die Fig. 5 und 6 sind Diagramme, um das Prinzip und die Effekte der vorliegenden Erfindung anhand von Beispie­ len zu veranschaulichen, in denen die Steuerspannung und die Mikrowellenmerkmale bzw. Mikrowellenkenndaten eines Mo­ dulators, der ein LN-Substrat (LiNbO₃-Substrat) verwendet, mittels dem quasistatischen Näherungsverfahren berechnet wurden.
Fig. 5 zeigt die Modulatoreigenschaften in Abhängigkeit von der Zentralelektrodenbreite W einer Elektrodenstruktur gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfin­ dung, die die folgenden Abmessungen, wie in Fig. 3 angedeu­ tet, aufweist: Elektrodendicke tm = 60 µm, G = 70 µm, SiO₂- Pufferschichtdicke tb = 1,0 µm, Stegtiefe tr = 3 µm, Steg­ breite wr = 9 µm und optische Wellenleiterkernbreite wo = 7 µm. Hierbei repräsentiert der Zustand, in dem W kleiner als 7 µm ist, die Kenndaten bzw. -merkmale des herkömmlichen bzw. konventionellen Beispiels (Fig. 1 und 2). Fig. 5 zeigt, daß, wenn die Zentralelektrodenbreite W allmählich von 0 an erhöht wird, die Steuerspannung VπL einer Ein­ heitslänge der Elektrode abnimmt, während Zunahmen in nm und Abnahmen im Wellenwiderstand Z deutlich werden. Falls jedoch die Zentralelektrodenbreite W auf 7 µm oder mehr er­ höht wird, vorzugsweise auf 8 µm oder mehr, und besser noch auf 9 µm oder mehr, sieht man, daß die W-Abhängigkeit von Z und nm extrem klein wird, und auch die Wachstumstendenz von VπL ist extrem klein. Dies bedeutet, daß, wenn man die Zen­ tralelektrodenbreite W vergrößert, was eines der Merkmale der vorliegenden Erfindung ist, nachteilige und ungünstige Einflüsse auf die Eigenschaften bzw. Kenndaten Z, VπL und nm, wie man sie bei dem herkömmlichen bzw. konventionellen Beispiel erwartet und fürchtet, nicht auftreten. Der Grund dafür ist, daß das LN-Substrat eine Stegstruktur aufweist, wobei der folgende Mechanismus arbeitet: (1) Das LN- Substrat besteht aus einem ferroelektrischen Material. Folglich, selbst wenn die Zentralelektrodenbreite W größer ist als die Stegbreite wr, variiert die Gesamtmenge der elektrischen Kraftlinien nicht so sehr bzw. nicht viel, aber diese elektrischen Kraftlinien konzentrieren sich wei­ terhin in den Stegbereichen des Substrates. Folglich erhöht sich die elektrostatische Kapazität zwischen den Elektroden nicht merklich. Mit anderen Worten, selbst wenn die Zen­ tralelektrodenbreite W größer ist als die Stegbreite wr, nimmt die elektrostatische Kapazität zwischen den Elektro­ den nicht viel bzw. stark zu, da die dielektrische Kon­ stante der Luft unterhalb des hervorstehenden Teiles der Elektrode viel kleiner ist als die dielektrische Konstante des LN. (2) Die dielektrische Konstante des LN weist An­ isotropie (ε//<ε⟂) in Richtungen parallel (:ε//) und senk­ recht (:ε⟂) zu der Oberfläche des c-Achsenschnitt-Kristalls auf. Folglich gibt es eine Wirkung bzw. einen Effekt, der das horizontale elektrische Feld schwächt, so daß, sogar wenn die optische Mach-Zehnder-Wellenleiterlücke (≈W/2+G) mit der Zunahme von W zunimmt, es nur eine kleine Änderung in der elektrischen Feldstärke der Mikrowelle in der Rich­ tung der c-Achse (der Richtung senkrecht zu der Substrat­ oberfläche) in den Stegbereichen des LN-Substrates gibt. Die Merkmale der vorliegenden Erfindung werden diesen strukturellen Kunstgriffen und Maßnahmen zugeschrieben. Diese Merkmale sind einer der strukturellen Vorteile, die die Effekte und Wirkungen der vorliegenden Erfindung be­ reitstellen und die in dem konventionellen Beispiel fehlen.
In Fig. 5 ist die Elektrodendicke tm auf 60 µm fixiert. In dem herkömmlichen Beispiel mit einer Breite W von 7 µm oder weniger ist jedoch die Ausbildung solch einer dicken Elektrode wegen einer Begrenzung des Höhe/Breite-Verhält­ nisses der Gestalt der Elektrode unmöglich. Im Gegensatz dazu kann bei der vorliegenden Erfindung die Breite W der Zentralelektrode im Vergleich zu der erforderlichen Größe der Elektrodendicke tm sehr groß gewählt bzw. eingestellt werden. Folglich unterliegt diese Erfindung nicht dieser Begrenzung, was es möglich macht, eine hinreichend dicke Elektrode auszubilden. Dies ist ein weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung.
Fig. 6 zeigt die Merkmale bzw. die Kenndaten, die man für die Ausführungsform von Fig. 3 erhält, bei der die Ab­ messungen so gewählt bzw. eingestellt sind, daß die Breite W der Zentralelektrode an der Seite, wo die Zentralelektro­ de die Pufferschicht kontaktiert, größer ist als die Breite wr des Steges, und daß die Geschwindigkeit der sich in der Elektrode ausbreitenden Mikrowelle und die Geschwindigkeit der sich durch den optischen Wellenleiter hindurch ausbrei­ tenden Lichtes einander gleich werden; und zwar: Breite der Zentralelektrode der Modulationselektroden W = 16 µm (fixierte Breite), Stegbreite wr = 9 µm, Stegtiefe tr = 3 µm und optische Wellenleiterkernbreite wo = 7 µm. Zum Vergleich zeigt Fig. 7 den Fall, bei dem die Abmessungen wie folgt eingestellt sind: Breite W der Zentralelektrode kleiner als die Breite wr des Steges, W = 8 µm, Stegbreite wr = 9 µm, Stegtiefe tr = 3 µm und optische Wellenleiterkernbreite wo = 7 µm.
Die Fig. 6(i) und Fig. 7(i) zeigt die Größe der Elek­ trodendicke tm, die notwendig ist, um die Geschwindigkeits­ anpassung zwischen der Mikrowelle und der Lichtwelle si­ cherzustellen bzw. zu gewährleisten, aufgetragen gegen die Pufferdicke tb des Modulators und hinsichtlich der Lücke G zwischen der Zentralelektrode und der Erdungselektrode. In diesen Zeichnungen zeigen (ii) bis (v) den Wellenwiderstand bzw. die Wellenimpendanz Z, die Mikrowellendämpfungskon­ stante α (Leitungsverlust bei 1 GHz), die Steuerspannung VπL und den Leistungsindex p des Modulators, die erhalten werden, wenn die Elektrodendicke tm auf den in (i) ange­ zeigten Wert eingestellt ist. Hierbei liegt die Wellenlänge der Lichtwelle in dem Band von 1,5 µm. Der Leistungsindex p ist durch
p = VπL · α (5)
definiert. Wenn die Mikrowelle und die Lichtwelle in ihrer Geschwindigkeit übereinstimmen, und wenn der Modulator und die Signalquelle ebenfalls in ihrer Impendanz übereinstim­ men, sind die Steuerspannung Vπ(V) und die elektrische 3dB- Bandbreite Δf (GHz) durch die folgende Beziehung gegeben.
Vπ/Δf1/2 = p/6,4 (6)
Das heißt, je kleiner das p der Elektrodenstruktur ist, de­ sto größer ist das Leistungsverhalten (niedrigere Steuer­ spannung, größere Bandbreite), das der Modulator erreichen kann.
Der Vergleich zwischen Fig. 6(ii) und Fig. 7(ii) zeigt, daß, unter der Bedingung der Geschwindigkeitsanpassung, der Wellenwiderstand Z minimal von der Größe der Zwischenelek­ trodenlücke G und der Zentralelektrodenbreite W abhängt, aber ansonsten fast uneingeschränkt durch die Puffer­ schichtdicke tb bestimmt wird. Die Steuerspannung VπL wird ebenfalls minimal durch die Größe der Zentralelektroden­ breite W und der Zwischenelektrodenlücke G beeinflußt, aber wird ansonsten fast uneingeschränkt durch die Puffer­ schichtdicke tb bestimmt. Folglich sieht man, daß die Zu­ nahme bzw. Vergrößerung von W, eines der Merkmale der vor­ liegenden Erfindung, minimalen ungünstigen Einfluß auf die Kenndaten Z und VπL ausübt.
Gemäß Fig. 6(iii) und (v) und Fig. 7(iii) und (v) hän­ gen die Dämpfungskonstante α und der Leistungsindex p stark von der Zwischenelektrodenlücke G ab, und wenn die Zwische­ nelektrodenlücke G breiter bzw. größer wird, nimmt die Dämpfungskonstante α ab und der Leistungsindex p wird klein.
Die Verwendung von Fig. 6 ermöglicht es, die struktu­ rellen Parameter für eine optische Kontrollvorrichtung zu bestimmen. Zuerst wird die Pufferschichtdicke tb mittels Fig. 6(ii) bestimmt, derart, daß der Wellenwiderstand 50 Ω betragen wird. Für diese vorgegebene Pufferschichtdicke wird die Zwischenelektrodenlücke G und die Elektrodendicke tm zum Anpassen der Geschwindigkeit des Lichtes an die Ge­ schwindigkeit der Mikrowelle mittels Fig. 6(i) bestimmt.
Wie oben festgestellt, wird der Leistungsindex p klein, wenn die Zwischenelektrodenlücke G breiter wird, und ein kleineres p wird bevorzugt. Jedoch besitzt die Größe der Zwischenelektrodenlücke G Grenzen, die durch die Breite W der Zentralelektrode bestimmt werden. Das heißt, die Ein­ schränkungen bei der Herstellung bzw. Produktion beschrän­ ken das Verhältnis der Elektrodendicke tm zu der Zentrale­ lektrodendicke W (Höhe/Breite-Verhältnis) auf 3 bis 4. So­ mit ist die obere Grenze für die Elektrodendicke tm festge­ setzt, wobei die oberer Grenze für die Zwischenelektroden­ lücke G ebenfalls festgesetzt bzw. bestimmt ist, wenn die Dicke der Pufferschicht fixiert ist (Fig. 6(i)).
Fig. 6 zeigt die Ergebnisse, die man für eine Berech­ nung erhält, wenn die Breite W der Zentralelektrode 16 µm beträgt. Bei einem Höhe/Breite-Verhältnis von 3,75 kommt die Elektrodendicke tm auf 60 µm. Für den Wellenwiderstand Z von 50 Ω beträgt die Pufferschichtdicke tb 1 µm. Unter diesen Bedingungen zeigt Fig. 6(iii) und (v), daß die Dämp­ fungskonstante α und der Leistungsindex p bei der Zwischen­ elektrodenlücke von 70 µm 0,1 dB/cm bzw. 1,0 betragen.
Fig. 7 zeigt die Ergebnisse mit einer Zentralelektro­ denbreite von 8 µm. Die Dämpfungskonstante α und der Lei­ stungsindex p, die bei demselben Höhe/Breite-Verhältnis er­ halten werden, betragen 0,23 dB/cm bzw. 2,5. In der in Fig. 6 gezeigten Ausführungsform (Zentralelektrodenbreite 16 µm) wurde folglich eine mehr als zweifache Verbesserung im Leistungsindex erreicht, verglichen mit der Ausführungs­ form mit der Zentralelektrodenbreite von 8 µm. Als ein Er­ gebnis war die Betriebsbandbreite mehr als viermal so breit.
Fig. 6 zeigt die Ergebnisse mit der Zentralelektroden­ breite W von 16 µm. Gemäß der vorliegenden Erfindung kann W bis zu einem Grad erhöht werden, bei dem die elektrische Feldstärke im Stegbereich des ferroelektrischen Substrates direkt unter der Zentralelektrode nicht merklich abnimmt (die Größe von VπL kaum variiert). Folglich können die Ef­ fekte der vorliegenden Erfindung erhalten werden, falls die Zentralelektrodenbreite W so eingestellt wird, daß sie in­ nerhalb des Bereiches von ungefähr 10 µm bis ungefähr 100 µm fällt, indem man sich entsprechend der Erfindung auf die Bestandsmaterialien des Modulators und die Größe von G stützt.
Im Bezug auf die Zentralelektroden-Erdungselektroden- Lücke G wird der Parameter p desto kleiner je größer der Wert von G wird. Jedoch ist der Wert von G durch das Hö­ he/Breite-Verhältnis begrenzt. Zusätzlich sollte man in Be­ tracht ziehen, daß ein Wert von G, der größer als notwendig ist, die Mikrowelleneigenschaften aufgrund der Frequenzdis­ persion nachteilig beeinflussen kann. Das heißt, es sollte in Betracht gezogen werden, eine hinreichend kleinere Ab­ messung zu wählen als die Wellenlänge des Mikrowellensig­ nals, entsprechend der oberen Grenze der Betriebsfrequenz, so daß ihr Einfluß verringert werden wird. In der Tat wird G auf ungefähr 10 bis 1000 µm eingestellt. Im Bezug auf die Dicke tm der Modulationselektrode werden die Merkmale bzw. Kenndaten um so wünschenswerter je größer tm wird. Vorzugs­ weise bzw. vorteilhafterweise wird die Elektrodendicke tm so eingestellt bzw. gewählt, daß sie gleich oder größer als die Breite der Zentralelektrode ist (tm<∼W). Die Dicke tb der Pufferschicht wird hauptsächlich in Abhängigkeit von der Begrenzung der Größe des Wellenwiderstandes eingestellt bzw. gewählt. Unter Berücksichtigung der Herstellbarkeit des Modulators, der Ausbreitungsdämpfung des optischen Wel­ lenleiters, der Stabilität der Kenndaten bzw. Eigenschaften oder der Steuerspannung, beträgt tb = 0,1 bis 10 µm.
Die Steggestalt des LiNbO₃ ist konkret für tr = 3 µm und wr = 9 µm beschrieben worden. Bei dem optischen Modula­ tor der vorliegenden Erfindung können jedoch die Stegabmes­ sungen normalerweise auch auf tr = 1 bis 10 µm und wr = 5 bis 20 µm eingestellt bzw. gesetzt werden, wie in dem her­ kömmlichen Beispiel von Fig. 1 und 2, angesichts des Ef­ fekts der Erniedrigung der VπL-Eigenschaft, der Mikrowel­ leneigenschaft, der Einfachheit des LiNbO₃-Ätzschrittes, der optischen Wellenleiterbreite wo und der optischen Aus­ breitungsdämpfung.
In Fig. 6 ist der Effekt des Verringerns des Leitungs­ verlustes gemäß der vorliegenden Erfindung beschrieben wor­ den, aber der Effekt, wie er in Fig. 5 erklärt wurde, ist natürlicherweise in Fig. 6 gegeben. Bei den herkömmlichen Beispiel, wie aus Fig. 5 ersichtlich ist, variieren der Wellenwiderstand Z, der effektive Index nm und die Steuer­ spannung VπL entsprechend kleiner Änderungen in der Zentra­ lelektrodenbreite W in großem Ausmaß, woraus sich große Va­ riationen in den Kenndaten bzw. Eigenschaften der Produkte ergeben. Indem man jedoch die Zentralelektrodenbreite W so einstellt, daß sie größer als die Stegbreite wr ist (d. h., auf 9 µm oder mehr), kann die Größe der Änderung einer je­ den charakteristischen Eigenschaft entsprechend einer Ände­ rung in der Zentralelektrodenbreite W verringert werden, und die Variationen bei den Produkten kann auf ein Minimum begrenzt werden.
Ausführungsform 3
Fig. 8 zeigt ein Beispiel eines Verfahrens zur Herstel­ lung eines optischen Modulators gemäß der vorliegenden Er­ findung (Fig. 8(e)). (a) Zuerst werden, wie bei dem her­ kömmlichen bzw. konventionellen Beispiel, Kerne 802, die optische Wellenleiter vom Mach-Zehnder-Typ bilden, auf der Oberfläche eines LN-Substrates 801 mittels Ti-Diffusion ausgebildet. Weiterhin wird jene Oberfläche des LN-Substra­ tes, die die Kerne 802 dieser optischen Wellenleiter um­ gibt, geätzt, um Stege auszubilden. (b) Eine Pufferschicht 803 wird auf der LN-Oberfläche mit einer Dicke tb ausgebil­ det. (c) Ein Material 806, wie zum Beispiel ein Fotolack oder Polyimid, wird auf der Oberfläche des LN-Substrates ausgebildet, um sie zu glätten bzw. glatt zu machen. (d) Dann wird das Material 806 über die ganze LN-Oberfläche hinweg gleichförmig geätzt, bis die Oberfläche der Puffer­ schicht 803 bei den Stegbereichen freigelegt ist. Dann wird eine Metallschicht 807, die eine gute Adhäsion in Bezug auf die Pufferschicht 803 aufweist, mittels Abscheidung oder ähnlichem ausgebildet. Weiter wird ein Muster 808 aus einer Schutzschicht für die Bildung von Elektroden auf der Me­ tallschicht 807 ausgebildet, und dicke Schichtelektroden 804, 805 werden mittels Elektroplattieren oder ähnlichem ausgebildet. (e) Die Schutzschicht 808 und die Metall­ schicht 807 zwischen der Zentralelektrode 804 und der Er­ dungselektrode 805 werden entfernt, und das Material 806 wird ebenfalls entfernt, um einen optischen Modulator gemäß der vorliegenden Erfindung bereitzustellen. Fig. 8 zeigt ein Beispiel für Elektrodenbildung mittels Plattieren. Es ist jedoch offensichtlich, daß andere Verfahren verwendet werden können, wie zum Beispiel mechanische Beschichtung von Drähten, oder verschiedene Ausbildungstechniken für dicke Schichtelektroden, einschließlich Herstellungstechni­ ken für Schaltungsplatinen. Die optische Regelvorrichtung der vorliegenden Erfindung kann ebenfalls hergestellt wer­ den, indem man verschiedene fotolithographische Technolo­ gien oder Schichtbildungstechniken mit dem Prozeß von Fig. 8 kombiniert oder zu diesem hinzufügt.
Ausführungsform 4
Fig. 9 ist eine Schnittansicht einer weiteren Ausfüh­ rungsform eines optischen Modulators gemäß der vorliegenden Erfindung. Die Stegbereiche werden so ausgebildet, daß sie in einem Material 909 mit einer niedrigen dielektrischen Konstante eingebettet sind. Das Bezugszeichen 903 bezeich­ net eine Pufferschicht. Da die dielektrische Konstante des dielektrischen Materials 909 kleiner ist als die dielektri­ sche Konstante eines LN-Substrates 901, können die Effekte der vorliegenden Erfindung wie in den Ausführungsformen von Fig. 3, Fig. 4 und Fig. 8(e) erhalten werden. Die Elektro­ den 904, 905 können aus zwei oder mehr Schichten mittels Verwendung eine Vielzahl von Schritten während der Elektro­ denschichtbildung ausgebildet werden, um diese Elektroden zu effektiven dicken Schichten auszubilden. Weiterhin wer­ den die Elektroden, wie in der Zeichnung gezeigt, positiv geformt, wie invertierte Trapeze, um die elektrische Ver­ bindung zwischen der Zentralelektrode 904 und den Erdungse­ lektroden 905 zu erhöhen. Dies bringt den Vorteil mit sich, daß die Elektrodendicke tm im Vergleich zu der Gestalt ei­ ner Elektrode, die rechteckig ist, relativ klein gemacht werden kann.
In Fig. 9 ist ein optischer Wellenleiter 902 unmittel­ bar unter der Erdungselektrode 905 in der Stegstruktur ent­ halten, die verschieden von jener der Ausführungsform von Fig. 3 ist. Jedoch ist die elektrische Feldstärke der Mikrowelle in einem Teilbereich eines Kernes 902 des opti­ schen Wellenleiters unmittelbar unter der Zentralelektrode 904 viel größer als die elektrische Feldstärke auf der Seite der Erdungselektrode 905. Folglich können Effekte vergleichbar zu den in den Fig. 5 und 6 gezeigten Merkmalen bzw. Kenndaten wie in Fig. 4 erhalten werden.
Im Gegensatz zu der Pufferschicht des herkömmlichen op­ tischen Modulators kommen die Teilbereiche der Puffer­ schicht 903, die auf dem Material 909 mit der niedrigen dielektrischen Konstante lokalisiert sind, mit dem Substrat 901 nicht in Kontakt. Folglich unterscheiden sich die Teil­ bereiche der Pufferschicht 903 in ihren Eigenschaften von der Pufferschicht des herkömmlichen optischen Modulators. Und zwar kann in Betracht gezogen werden, daß es keine Schicht in den Räumen der Teilbereiche des optischen Modu­ lators dieser Ausführungsform gibt, die der Pufferschicht des herkömmlichen optischen Modulators entspricht. Folglich kann der optische Modulator dieser Ausführungsform einen optischen Modulator aufweisen, der keine Pufferschicht zwi­ schen einer Zentralelektrode und Erdungselektroden auf­ weist, und die Zentralelektrode kann breit ausgebildet sein.
Ausführungsform 5
Fig. 10 ist eine Schnittansicht einer weiteren Ausfüh­ rungsform eines optischen Modulators gemäß der vorliegenden Erfindung. Um große effektive Elektrodendicken wie in der Ausführungsform von Fig. 9 auszubilden, werden die Elektro­ den in einer Vielzahl von Schichten ausgebildet. Die erste Schicht 1007, die an eine Pufferschicht 1003 angrenzt, wird mittels, beispielsweise, Vakuumverdampfung oder Beschichten durch Vakuumzerstäubung ausgebildet und besteht aus einer Metallschicht mit einem niedrigen Widerstand, wo notwendig, über einer metallischen Schicht, die eine gute Adhäsion in Bezug auf die Pufferschicht 1003 aufweist. Die zweiten und weiteren Schichten können wie in Fig. 9 ausgebildet sein. Die Breite W der ersten Metallschicht 1007 kann, wo notwen­ dig, größer sein als die Stegbreite wr. Falls zusätzlich die Dicke tm1 der ersten Schicht 1007 auf ungefähr 1 µm eingestellt wird, kann eine optische Regelvorrichtung auf der Grundlage des Prinzips der vorliegenden Erfindung mit einer niedrigen Spannung und einer breiten Bandbreite rea­ lisiert werden.
Solche einen Mehrfach-Schichtenstruktur macht die Dicke der entsprechenden Schichten klein. Folglich können die Ab­ messungen der Elektroden präzise gemacht bzw. eingestellt werden, so daß eine optische Modulationsvorrichtung wie entworfen erreicht werden kann. Die Breite der ersten Elek­ trodenschicht, die die Pufferschicht kontaktiert, beein­ flußt insbesondere die Eigenschaften bzw. Kenndaten der Vorrichtung in großem Ausmaß. Die präzisen Abmessungen der ersten Elektrodenschicht sind folglich in hohem Ausmaß wir­ kungsvoll.
Ausführungsform 6
Fig. 11 ist eine Schnittansicht einer weiteren Ausfüh­ rungsform eines optischen Modulators gemäß der vorliegenden Erfindung. In einem LN-Substrat 1101 sind Stege ausgebil­ det, und in den Stegbereichen sind Kerne 1102 optischer Wellenleiter ausgebildet. Diese Ausführungsform besteht aus einer Struktur, bei der ein Dielektrikum 1109 bei einer Lücke zwischen einer Zentralelektrode 1104 und einer Er­ dungselektrode 1105 entfernt worden ist. Dies bedeutet, daß das Dielektrikum 1109 durch Luft mit einer niedrigen die­ lektrischen Konstante ersetzt worden ist. Folglich kann die effektive dielektrische Konstante der Mikrowellenelektrode relativ klein gemacht werden, und die Elektrodendicke tm, die erforderlich ist, um die Bedingungen der Geschwindig­ keitsanpassung zu erfüllen, kann relativ klein gemacht wer­ den. Normalerweise ist die Erdungselektrode 1105 viel grö­ ßer im Bezug auf die Breite der Zentralelektrode 1104. Folglich ist, wie in der Zeichnung gezeigt, selbst wenn die Erdungselektrodendicke tm, viel kleiner als die Zentral­ elektrodendicke tm ist, der Einfluß auf die Stärke der elektrischen Verbindung zwischen der Zentralelektrode 1104 und der Erdungselektrode 1105 minimal. Folglich können die Effekte der vorliegenden Erfindung auf ähnliche Weise er­ halten werden. Selbst wenn die Erdungselektrode tm, kleiner oder größer als tm ist, wird es genügen, eine Vorrichtungs­ struktur gemäß der vorliegenden Erfindung in Übereinstim­ mung mit der Dicke tm zu entwerfen.
Ausführungsform 7
Fig. 12 ist eine Schnittansicht einer weiteren Ausfüh­ rungsform eines optischen LiNbO₃-Hochgeschwindigkeitsinten­ sitätsmodulators gemäß der vorliegenden Erfindung, der asymmetrische komplanare Streifenleitungs-Wellenleiter 1204, 1205 als Modulationselektroden verwendet. Das Bezugs­ zeichen 1201 bezeichnet ein LN-Substrat und das Bezugszei­ chen 1202 bezeichnet eine Kern eine optischen Wellenlei­ ters, und das Bezugszeichen 1209 bezeichnet ein Dielektri­ kum. In diesem Fall kann ebenfalls eine Modulatorkonstruk­ tion verwendet werden, bei der die Breite W der Zentral­ elektrode 1204 der Modulationselektroden so gewählt bzw. eingestellt ist, daß sie größer als die Stegbreite wr ist, wobei die Lücke G zwischen der Zentralelektrode 1204 und der Erdungselektrode 1205, die Dicke tb einer Pufferschicht 1203, die Stegtiefe tr und die Elektrodendicke tm so einge­ stellt werden, daß Geschwindigkeitsanpassung zwischen dem Licht und der Mikrowelle erreicht wird, und wobei der Wel­ lenwiderstand Z auf eine geeignete Größe (zum Beispiel Z = 50 Ω) eingestellt wird, unter Anwendung desselben Prinzips wie in der Ausführungsform von Fig. 3. Diese Kon­ struktion bzw. Anordnung macht es möglich, die Mikrowellen­ dämpfung der Elektrode viel kleiner als in dem herkömmli­ chen Beispiel zu machen, und eine niedrige Steuerspannung, eine große Bandbreite und einen optischen Modulator mit ho­ hem Leistungsverhalten zu realisieren.
Ausführungsform 8
In der Konstruktion der Ausführungsform 7, selbst wenn symmetrische complanare Streifenleitungs-Wellenleiter, oder verschiedene Mikrowellen-Streifenleitungs-Wellenleiter, wie zum Beispiel Mikrostreifenleitungs-Wellenleiter, die eine Streifenelektrode 1304 und, wie in Fig. 13 gezeigt, eine Erdungselektrode 1305 aufweisen, als die Modulationselektro­ den verwendet werden, werden dieselben Effekte klarerweise produziert. In Fig. 13 bezeichnet das Bezugszeichen 1301 ein LN-Substrat, und das Bezugszeichen 1302 bezeichnet eine Kern eines optischen Wellenleiters, und das Bezugszeichen 1303 bezeichnet eine Pufferschicht. In dieser Anordnung bzw. Struktur können zwei Zentralelektroden 1304 mittels einer Mikrowellensignalquelle angesteuert werden, und folg­ lich kann die in Fig. 13 gezeigte Vorrichtung, beispiels­ weise, im Gegentakt betrieben oder ternär-moduliert werden.
Ausführungsform 9
Fig. 14 ist eine Ausführungsform eines optischen Inten­ sitätsmodulators vom Mach-Zehnder-Typ gemäß der vorliegen­ den Erfindung, der ein z-Achsenschnitt(Kristallachsen­ schnitt)-LN-Substrat und komplanare Streifenleitungs- Wellenleiterelektroden verwendet, wobei eine zentraler Teilbereich des Modulators als Querschnittsansicht gezeigt ist. Ein LN-Substrat 1401 wird mit einer Stegstruktur mit­ tels Ätzen der Oberfläche des LN-Substrates in der Nachbar­ schaft von Kernen 1402 optischer Wellenleiter beaufschlagt. Eine Zentralelektrode 1404 der Steuerelektroden ist über dem Kern 1402 eines der optischen Wellenleiter bereitge­ stellt, während Erdungselektroden 1405 bereitgestellt sind, um die Zentralelektrode zwischen sich einzuschließen. Die Stegseitenbreite W der Zentralelektrode 1404 der Steuer­ elektroden ist so ausgebildet, daß sie größer ist als die Breite wo des Kernes 1402 des optischen Wellenleiters, der direkt bzw. unmittelbar darunter lokalisiert ist. Die Er­ dungselektrode 1405 der Steuerelektroden ist so ausgebil­ det, daß sie den Kern des anderen optischen Wellenleiters, der unmittelbar darunter lokalisiert ist, vollständig be­ deckt. Die Lücke G zwischen der Zentralelektrode 1404 und der Erdungselektrode 1405, die Dicke tb der Pufferschicht 1403, die Stegtiefe tr und die Elektrodendicke tm wird so ausgebildet, daß die Geschwindigkeitsanpassung zwischen dem Licht und der Mikrowelle sichergestellt wird, daß der Wel­ lenwiderstand Z eine geeignete Größe (beispielsweise Z = 50 Ω) für seine Anpassung mit der Impendanz des exter­ nen Schaltkreises aufweist, und daß ferner der Leitungs­ verlust (Dämpfungskonstante (α) der Elektrode klein gemacht wird.
Der optische Intensitätsmodulator von Fig. 14 wird mit­ tels desselben Verfahrens wie in dem herkömmlichen Beispiel der Fig. 1 und 2 hergestellt, obwohl er nicht darauf be­ schränkt ist. Die Querschnittsgestalten der Zentralelektro­ de 1404 und der Erdungselektrode 1405 in Fig. 14 sind sche­ matisch gezeigt, und dies bedeutet nicht, daß die Quer­ schnittsgestalt der Zentralelektrode 1404, beispielsweise, rechteckig sein sollte. Die Querschnittsgestalt der Zen­ tralelektrode 1404 kann invertiert-trapezförmig wie in den Fig. 1 und 2 sein, oder kann trapezförmig sein, solange wie die Breite W der Zentralelektrode an der Seite des opti­ schen Wellenleiters größer ist als die Breite wo des opti­ schen Wellenleiters.
Ausführungsform 10
Fig. 15 ist eine Querschnittsansicht einer weiteren Ausführungsform eine optischen Modulators gemäß der vorlie­ genden Erfindung. Eine Pufferschicht 1503 ist so ausgebil­ det, daß sie flach ist, um so ein LN-Substrat 1501 mit ei­ ner Stegstruktur zu bedecken. Eine Zentralelektrode 1504 ist in der Gestalt eines Trapezes ausgebildet, bei dem die Breite W′ seiner oberen Seite verschieden von seiner Breite W an der Seite der Pufferschicht ist. Die Breite W der Zen­ tralelektrode 1504 an der Seite, wo die Zentralelektrode 1504 die Pufferschicht 1503 kontaktiert, ist größer als die Breite wo eines Kernes 1502 eines optischen Wellenleiters. Die Lücken G, G′ zwischen der Zentralelektrode 1504 und der Erdungselektrode 1505, die Dicke tb der Pufferschicht 1503 auf dem Steg, die Tiefe tr des Steges und die Dicke tm der Elektrode sind so ausgebildet, daß die Geschwindigkeitsan­ passung zwischen dem Licht und der Mikrowelle sicherge­ stellt wird, und daß der Wellenwiderstand Z, beispielswei­ se, Z = 50 Ω wird, wie in der Ausführungsform von Fig. 14.
Fig. 16 ist ein Diagramm, um das Prinzip und die Ef­ fekte der vorliegenden Erfindung durch ein Beispiel zu ver­ anschaulichen, bei dem die Beziehungen zwischen der Breite W der Zentralelektrode und den Mikrowellenmerkmalen bzw. Mikrowellenkenndaten (Wellenwiderstand Z, effektiver Mikro­ wellenindex nm, Dämpfungskonstante (α) ebenso wie die Steu­ erspannung VπL einer Elektrodeneinheitslänge der Modulati­ onselektroden mittels des quasistatischen Näherungsverfah­ rens berechnet wurden.
Fig. 16 zeigt die Merkmale bzw. Kenndaten einer Elek­ trodenstruktur der Ausführungsform von Fig. 14, die die folgenden Abmessungen aufweist: W + G = 33 µm (fixierter Wert), Dicke der Pufferschicht (SiO₂) tb = 1.0 µm, Elektro­ dendicke tm = 20 µm, Stegtiefe tr = 3 µm, Stegbreite wr = 9 µm und optische Wellenleiterbreite wo = 7 µm. In dieser Ausführungsform, anders als bei der Ausführungsform 2, ist W + G konstant, und je größer die Zentralelektroden­ breite W gewählt wird, desto kleiner wird die Zwischenelek­ trodenlücke G. Fig. 16 zeigt, daß, wenn die Zentralelek­ trodenbreite W kleiner als 7 µm wird, die Steuerspannung VπL stark zunimmt. Der Wellenwiderstand Z und der effektive Mikrowellenindex nm verändern sich ebenfalls radikal, wenn W kleiner wird. Folglich verändern sich die verschiedenen Eigenschaften bzw. Merkmale deutlich bzw. ausgeprägt in Re­ aktion auf kleine Änderungen in der Zentralelektrodenbreite W, was zu der Verschlechterung der Frequenzeigenschaften führt. Jedoch verringert eine auf mehr als 7 µm einge­ stellte Zentralelektrodenbreite W die Steuerspannung VπL. Wenn die Zentralelektrodenbreite W größer ist als die Steg­ breite wr (9 µm), wird die Größe der Änderungen bei den verschiedenen Kenndaten entsprechend den Änderungen in der Zentralelektrodenbreite W besonders klein. Folglich sieht man, daß die Variationen in den Eigenschaften bzw. Kennda­ ten der Produkte reduziert werden können, wenn die Varia­ tionen in der Zentralelektrodenbreite W dieselben wie bei dem herkömmlichen Beispiel sind. Obwohl die Größe der Ände­ rung bei der Mikrowellendämpfungskonstante α etwas größer ist, sind die Einflüsse der Änderung von α auf die Modula­ toreigenschaften (Frequenzkenndaten, 3 dB Bandbreite) mini­ mal, und verursachen somit in der Praxis keine Probleme.
Ausführungsform 11
Fig. 17 ist eine Schnittansicht einer weiteren Ausfüh­ rungsform eines optischen Modulators gemäß der vorliegenden Erfindung. Kerne 1702 optischer Wellenleiter sind in den Stegbereichen eines LN-Substrates 1701 ausgebildet. Die Zentralelektrodenbreite W der Elektroden ist so ausgebil­ det, daß sie größer ist als die Breite des Kerns 1702 des optischen Wellenleiters, und die seitlichen Oberflächenbe­ reiche der Elektroden 1704, 1705 sind so ausgebildet, daß sie über die seitlichen Oberflächen einer Pufferschicht 1703 hinausragen. Die dielektrische Konstante der Luft, die zwischen der Zentralelektrode 1704 und der Erdungselektrode 1705 lokalisiert ist, ist kleiner als die dielektrischen Konstanten der Pufferschicht 1703 und des LN-Substrates 1701, so daß die Breite ws des Vorsprungs der Elektrode, der über die Pufferschicht 1703 hinausragt, einen minimalen Einfluß auf die verschiedenen Eigenschaften bzw. Kenndaten ausübt. Daher ist die vorliegende Ausführungsform dadurch gekennzeichnet, daß die Variationen in den Kenndaten, die auf Änderungen in der Zentralelektrodenbreite W ansprechen, viel kleiner als in den Ausführungsformen der Fig. 14 und 15 werden.
Ausführungsform 12
Fig. 18 ist eine Schnittansicht einer weiteren Ausfüh­ rungsform eines optischen Modulators gemäß der vorliegenden Erfindung, der asymmetrische komplanare Streifenleitungs- Wellenleiter als Modulationselektroden verwendet. Eine Puf­ ferschicht 1803 bedeckt die Oberfläche eines LN-Substrates 1801 entlang auf dem Substrat ausgebildeter Stege. Eine Er­ dungselektrode 1805 ist auf einem Kern 1802 eines optischen Wellenleiters und der Pufferschicht 1803 an der Seite die­ ses optischen Wellenleiters bereitgestellt. In diesem Fall werden ebenfalls die Effekte der vorliegenden Erfindung hervorgerufen, wenigstens dadurch, daß man die Breite W ei­ ner Zentralelektrode 1804 größer als die Breite des Kerns 1802 des optischen Wellenleiters macht. Auf ähnliche Weise können dieselben Effekte erhalten werden, indem man ver­ schiedene Mikrowellen-Streifenleitungs-Wellenleiter als Mo­ dulationselektroden verwendet, wie z. B. symmetrische kom­ planare Streifenleitungs-Wellenleiter.
Im vorhergehenden wies der Wellenleiter die Kernbreite wo = 7 µm und Stegbreite wr = 9 µm auf. Wenn diese Abmes­ sungen verändert werden, können die Effekte der vorliegen­ den Erfindung auf ähnliche Weise erhalten werden, falls die Größe der Zentralelektrodenbreite W gemäß den veränderten Abmessungen gewählt bzw. eingestellt wird.
Im vorhergehenden sind das Prinzip, die Effekte und Wirkungen und Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf einen optischen Hochgeschwindig­ keitsintensitätsmodulators beschrieben worden, der LiNbO₃ als ein elektrooptisches Substrat und SiO₂ als eine Puffer­ schicht verwendet. Alternativ können ferroelektrische Mate­ rialien wie z. B. LiTaO₃ oder PLZT (lanthandotiertes Blei­ zirkonattitanat), Halbleiter oder organische Materialien als Substrate mit elektrooptischen Effekt verwendet werden, und ein Dielektrikum mit einer niedrigeren dielektrischen Konstante als der des Substrates, wie z. B. Al₂O₃, ITO oder Polyimid, können als eine Pufferschicht verwendet werden. Weiterhin kann die vorliegende Erfindung selbstverständlich nicht nur auf optische Intensitätsmodulatoren angewendet werden, sondern auch auf optische Regelvorrichtungen wie z. B. optische Phasenmodulatoren, optische Schalter oder Po­ larisationsregler, die optische Ausgabe unter Verwendung elektrischer Signale steuern bzw. regeln.
Wie oben beschrieben, ist die vorliegende Erfindung da­ durch gekennzeichnet, daß die Breite der Zentralelektrode oder Streifenelektrode der Steuerelektroden so gewählt bzw. eingestellt wird, daß sie größer als die Kernbreite wo des optischen Wellenleiters ist, vorzugsweise bzw. vorteilhaf­ terweise größer als der Mittelwert aus der Kernbreite wo und der Stegbreite wr in dem optischen Wellenleiter, noch besser, größer als die Stegbreite wr. Diese Merkmale verhindern, daß die Eigenschaften bzw. Kenndaten der Vorrichtung infolge von Änderungen bzw. Schwankungen in den Abmessungen der Zentralelektrode unstabil werden, und gestatten es somit der Vorrichtung, die Begrenzungen und Einschränkungen in Bezug auf die Betriebsbandbreite zu überwinden, die bei den herkömmlichen bzw. konventionellen Vorrichtungen vorhanden sind.
Die vorliegende Erfindung ist ausführlich unter Bezug­ nahme auf bevorzugte Ausführungsformen beschrieben worden, und es ist klar, daß Änderungen und Modifikationen gemacht werden könne ohne vom Anwendungsbereich der Erfindung abzu­ weichen, und es ist folglich unsere Intention, alle diese Änderungen und Modifikationen einzuschließen, die in den Anwendungsbereich Erfindung, wie er durch die beigefügten Ansprüche definiert wird, fallen.

Claims (17)

1. Optische Regelvorrichtung mit:
einem Substrat mit einem elektrooptischen Effekt und mit darin ausgebildeten Stegen, die optische Wellenleiter aufweisen;
einer auf dem Substrat ausgebildeten Pufferschicht;
und Elektroden, die aus Erdungselektroden, die auf dem Substrat über der Pufferschicht ausgebildet sind, und aus einer Zentralelektrode, die auf dem Steg über der Pufferschicht ausgebildet ist, bestehen;
wobei die Oberfläche der Pufferschicht, die in den Teil­ bereichen ohne die Stege ausgebildet ist, so ausgebildet ist, daß sie niedriger als die Oberfläche der Puffer­ schicht ist, die auf den Stegen ausgebildet ist;
und wobei die Breite und Tiefe des Steges, die Dicke der Pufferschicht und die Gestalten und Abmessungen der Elektroden so eingestellt sind, daß die Mikrowellen­ dämpfung der Elektroden verringert ist, daß die Geschwindigkeit der sich in den Elektroden ausbreitenden Mikrowellen und die Geschwindigkeit des sich durch die optischen Wellenleiter hindurch ausbreitenden Lichtes exakt oder nahezu miteinander übereinstimmen, und daß die Impedanz der Elektroden exakt oder nahezu mit einer erwünschten Impedanz übereinstimmt;
dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der Zentralelek­ trode an der Seite, wo die Zentralelektrode die Puffer­ schicht kontaktiert, größer ist als die Breite des Kerns des optischen Wellenleiters.
2. Optische Regelvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die erwünschte Impedanz der Wellen­ widerstand eines externen Schaltkreises ist.
3. Optische Regelvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, da­ durch gekennzeichnet, daß die Breite der Zentralelektro­ de an der Seite, wo die Zentralelektrode die Puffer­ schicht kontaktiert, größer ist als der Mittelwert aus der Breite des Kerns in dem optischen Wellenleiter und der Breite des Steges.
4. Optische Regelvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Breite der Zentralelektrode an der Seite, wo die Zentralelektrode die Pufferschicht kontak­ tiert, größer ist als die Breite des Steges.
5. Optische Regelvorrichtung nach Anspruch 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Oberfläche der Pufferschicht un­ mittelbar unter der Zentralelektrode flach ist.
6. Optische Regelvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Zentralelektrode aus einer Vielzahl von Schichten gebildet ist.
7. Optische Regelvorrichtung nach Anspruch 6, dadurch ge­ kennzeichnet, daß von der Vielzahl der Schichten die Schicht in Kontakt mit der Pufferschicht eine Dicke von 1 µm oder weniger aufweist.
8. Optische Regelvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Zentralelek­ trode und den Erdungselektroden ein Bereich ohne die Pufferschicht bereitgestellt ist.
9. Optische Regelvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Regelvor­ richtung ein optischer Intensitätsmodulator vom Mach- Zehnder-Typ ist.
10. Optische Regelvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat aus LiNbO₃, LiTaO₃ oder PLZT besteht.
11. Optische Regelvorrichtung mit:
einem Substrat mit einem elektrooptischen Effekt und mit darin ausgebildeten Stegen, die optische Wellenleiter aufweisen,
einer auf der Oberfläche des Substrates ausgebildeten Pufferschicht;
und Elektroden, die aus einer Streifenelektrode, die auf dem Steg über der Pufferschicht ausgebildet ist, und aus Erdungselektroden, die auf der Rückseite des Substrates ausgebildet sind, bestehen;
wobei die Oberfläche der Pufferschicht, die in den Teil­ bereichen ohne die Stege ausgebildet ist, so ausgebildet ist, daß sie niedriger ist als die Oberfläche der Puf­ ferschicht, die auf den Stegen ausgebildet ist;
und wobei die Breite und Tiefe des Steges, die Dicke der Pufferschicht und die Gestalten und Abmessungen der Elektroden so eingestellt sind, daß die Mikrowellen­ dämpfung der Elektroden verringert ist, daß die Geschwindigkeit der sich in den Elektroden ausbreitenden Mikrowellen und die Geschwindigkeit des sich durch die optischen Wellenleiter hindurch ausbreitenden Lichtes exakt oder nahezu miteinander übereinstimmen, und daß die Impedanz der Elektroden exakt oder nahezu mit einer erwünschten Impedanz übereinstimmt;
dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der Streifen­ elektrode an der Seite, wo die Streifenelektrode die Pufferschicht kontaktiert, größer ist als die Breite des Kerns des optischen Wellenleiters.
12. Optische Regelvorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die erwünschte Impedanz der Wellen­ widerstand eines externen Schaltkreises ist.
13. Optische Regelvorrichtung nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der Streifen­ elektrode an der Seite, wo die Streifenelektrode die Pufferschicht kontaktiert, größer ist als der Mittelwert aus der Breite des Kernes und der Breite des Steges in dem optischen Wellenleiter.
14. Optische Regelvorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der Streifenelektrode an der Seite, wo die Streifenelektrode die Pufferschicht kontaktiert, größer ist als die Breite des Steges.
15. Optische Regelvorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche der Pufferschicht un­ mittelbar unter der Streifenelektrode flach ist.
16. Optische Regelvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Regel­ vorrichtung ein optischer Intensitätsmodulator vom Mach- Zehnder-Typ ist.
17. Optische Regelvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat aus LiNbO₃, LiTaO₃ oder PLZT besteht.
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