DE102007040409A1 - Bildsensor - Google Patents

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Abstract

Offenbart wird ein Bildsensor. Der Bildsensor enthält ein Substrat mit Photodioden darin; eine dielektrische Schicht auf dem Substrat; eine Passivierungsschicht auf der dielektrischen Schicht, die die dielektrische Schicht in einem Gebiet freilegt, das einem ersten Farbfilter entspricht; und eine Farbfilterschicht auf der freigelegten dielektrischen Schicht und der Passivierungsschicht.

Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Ausführungsformen beziehen sich auf einen Bildsensor und Verfahren zum Herstellen und Verwenden desselben.
  • Im Allgemeinen ist ein Bildsensor ein Halbleiterbauteil zum Umwandeln eines optischen Bilds in elektrische Signale und lässt sich in ein ladungsgekoppeltes Bauteil (Charge Coupled Device, CCD)- und einen CMOS (Complementary Metal Oxide Silicon, komplementärer Metall-Oxid-Silizum)-Bildsensor unterteilen. Der CMOS-Bildsensor enthält eine Photodiode und zumindest einen MOS-Transistor in jedem Einheitenpixel und erfasst nacheinander elektrische Signale eines jeden Einheitenpixels durch den MOS-Transistor in einem Schaltmodus.
  • In einem Herstellungsverfahren eines Bildsensors gemäß des Stands der Technik wird eine Passivierungsschicht ausgebildet, und dann wird eine Farbfilterschicht ausgebildet. Dies hat aber den Nachteil, dass eine relativ große Lichtmenge in der Passivierungsschicht auf Grund der Lichtübertragungseigenschaften der Passivierungsschicht verloren gehen kann.
  • In einer gepinnten Photodiode gemäß dem Stand der Technik wird eine Implantation eines Unreinheitsions des p-Typs durchgeführt, um die Erzeugung von Dunkelstrom auf einer Oberfläche der Photodiode zu reduzieren oder zu verhindern. Daher besteht ein Problem darin, dass die Farbwiedergabefähigkeit von blauem (B) Licht mit einer kurzen Wellenlänge in einer Reaktion mit einer Oberfläche eines Substrats (Si) im Vergleich zur Farbe Grün (G) oder Rot (R) unter denselben Bedingungen verringert wird. Weiterhin werden in einem Herstellungsprozess einer gepinnten Photodiode der verwandten Technik im Allgemeinen Ionen zur Verunreinigung vom p-Typ in eine Si-Oberfläche implantiert, um Dunkelstrom auf der Si-Oberfläche zu vermeiden.
  • Da aber blaues Licht eine kürzere Wellenlänge hat und daher einen Photodioden-Rezeptionsbereich aufweist, der kürzer ist als andere Farben, wird eine Reaktion nahe der Si-Oberfläche induziert. Elektronen, die auf Grund der Rezeption von blauem Licht erzeugt werden, werden im oben erwähnten Gebiet des p-Typs erfasst. In der Folge kann sich die Ausgabe von blauem Licht verschlechtern. Das heißt, gemäß dem Stand der Technik besteht das Problem, dass die Elektronenerzeugung durch das implantierte p-Typ-Gebiet beeinflusst werden kann, da das Reaktionsgebiet (oder Rezeptionsgebiet) des blauen Lichts nahe der Si-Oberfläche induziert wird.
  • ÜBERSICHT
  • Ausführungsformen der Erfindung sehen einen Bildsensor vor, der in der Lage ist, die Farbwiedergabefähigkeit in Abhängigkeit von den Farben zu verbessern.
  • Gemäß einem Aspekt wird ein Bildsensor ausgebildet, der ein Substrat mit Photodioden darin enthält; eine dielektrische Schicht auf dem Substrat; eine Passivierungsschicht auf der dielektrischen Schicht, die die dielektrische Schicht in einem Gebiet freilegt, das einem ersten Farbfilter entspricht; und eine Farbfilterschicht auf der freigelegten dielektrischen Schicht und der Passivierungsschicht.
  • Gemäß einem anderen Aspekt ist ein Bildsensor vorgesehen, der auf einem Substrat eine Isolierschicht enthält; aktive in dem Substrat ausgebildete Gebiete, so dass ein Gebiet, das einer ersten Farbe entspricht, tiefer ist als eines, das einer anderen Farbe entspricht; ein Ionenimplantationsgebiet auf einer gesamten Oberfläche der aktiven Gebiete; ein Photodioden-Gebiet unter dem Ionenimplantationsgebiet; und eine dielektrische Schicht auf dem Substrat.
  • Gemäß einem weiteren anderen Aspekt ist ein Bildsensor vorgesehen, der aktive Gebiete in einem Substrat enthält; ein Ionenimplantationsgebiet auf einer Gesamtfläche der aktiven Gebiete; ein Photodioden-Gebiet neben dem Ionenimplantationsgebiet; eine dielektrische Schicht auf dem Substrat dergestalt, dass ein Gebiet, das der ersten Farbe entspricht, höher ist als das, das einer anderen Farbe entspricht; und eine Farbfilterschicht auf der dielektrischen Schicht.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 ist eine Schnittsansicht eines beispielhaften Bildsensors gemäß einer ersten Ausführungsform;
  • 2 bis 4 sind Schnittansichten, die ein beispielhaftes Herstellungsverfahren des Bildsensors gemäß der ersten Ausführungsform veranschaulichen;
  • 5 ist eine Schnittsansicht eines beispielhaften Bildsensors gemäß einer zweiten Ausführungsform:
  • 6 bis 8 sind Schnittansichten, die ein beispielhaftes Herstellungsverfahren des Bildsensors gemäß der zweiten Ausführungsform veranschaulichen; und
  • 9 ist eine Schnittsansicht eines beispielhaften Bildsensors gemäß einer dritten Ausführungsform.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Im Folgenden wird ein Bildsensor und ein Verfahren zur Herstellung desselben gemäß verschiedener Ausführungsformen unter Bezugsnahme auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben.
  • In der Beschreibung der folgenden Ausführungsformen versteht es sich, dass wenn eine Schicht (oder Film) als "auf" einer anderen Schicht oder einem anderen Substrat befindlich beschrieben wird, diese sich direkt auf der anderen Schicht oder dem anderen Substrat befinden kann oder auch Zwischenschichten vorhanden sein können. Weiterhin versteht es sich, dass wenn eine Schicht als "unter" einer anderen Schicht befindlich beschrieben wird, diese sich direkt unter einer anderen Schicht befinden kann oder auch eine Zwischenschicht oder mehrere Zwischenschichten vorhanden sein können. Darüber hinaus versteht es sich, dass wenn eine Schicht als "zwischen" zwei Schichten befindlich beschrieben wird, dies die einzige Schicht zwischen den beiden Schichten sein kann oder auch eine Zwischenschicht oder mehrere Zwischenschichten vorhanden sein können.
  • Ausführungsform 1
  • 1 ist eine Schnittsansicht eines beispielhaften Bildsensors gemäß einer ersten Ausführungsform.
  • Der Bildsensor gemäß einer ersten Ausführungsform kann eine dielektrische Zwischenschicht 110 enthalten, die auf einem Substrat 100 mit Photodioden 105 darin ausgebildet ist; eine Passivierungsschicht 120, die auf der dielektrischen Zwischenschicht 110 ausgebildet ist, wobei die dielektrische Zwischenschicht 110 in einem Gebiet freigelegt ist, die einem bestimmten Farbfilter entspricht; eine Farbfilterschicht 130, die auf der Passivierungsschicht 120 ausgebildet ist; eine Planarisierungsschicht 150 (siehe 4), die auf der Farbfilterschicht 130 ausgebildet ist; und Mikrolinsen 160 (siehe 4), die auf der Planarisierungsschicht 150 ausgebildet sind.
  • In dem Bildsensor gemäß der ersten Ausführungsform wird die Farbfilterschicht 130 auf der Passivierungsschicht 120 zum Zwecke der Farbreproduktion ausgebildet. Ein Teil der Passivierungsschicht 120 unter der Farbfilterschicht 130 wird entfernt, so dass die Farbwiedergabefähigkeit verbessert werden kann. Im Besonderen fällt blaues Licht mit einer relativ kurzen Wellenlänge (z.B. von etwa 400 nm bis etwa 480 nm) auf die Photodiode 105 über den Blaufilter 132 ein, und Elektronen werden dann nahe der Si-Oberfläche (Silizium-Oberfläche) erzeugt. Aus diesem Grund ist ein Abstand zur Oberfläche des Substrats (Si) in der Farbfilterschicht 130 wichtig.
  • Weiterhin weist SiN, das als eine Schicht in der Passivierungsschicht 120 verwendet werden kann, oftmals eine weniger als optimale Lichtdurchlässigkeit auf, und daher werden die Eigenschaften eines CIS in hohem Maß durch SiN beeinflusst. Daher wird ein solches Problem, im Besonderen die Farbwiedergabefähigkeit von Blau in der Anordnung der Passivierungs- und Farbfilterschichten 120 und 130 in der ersten Ausführungsform verbessert.
  • Inzwischen kann in der ersten Ausführungsform eine Ausgabe für eine Farbe mit einem niedrigeren Ausgabeverhältnis als das der anderen Farben in jedem Grün-/Rotfarbfilter durch dasselbe Verfahren gesteigert werden, wie auch die Farbwiedergabefähigkeit von Blau. Wenn zum Beispiel bei der Gestaltung eines Bildsensors in Betracht gezogen wird, dass eine Bevorzugung von Rot gegenüber anderen Farben vorliegen kann, kann eine Passivierungsschicht unter einem Rotfilter entfernt werden, um die Farbwiedergabefähigkeit von Rot zu verbessern, so dass bestimmte Kundenanforderungen erfüllt werden können und der Umsatz von Produkten gesteigert werden kann.
  • Im Bildsensor gemäß der ersten Ausführungsform wird eine Passivierungsschicht für einen speziellen Farbfilter (z.B. blau) entfernt, um die Wahrscheinlichkeit zu erhöhen (z.B. so dass es sehr wahrscheinlich ist), dass das entsprechende Licht/die entsprechende Farbe die entsprechende Photodiode erreicht. Weiterhin kann die Lichtdurchlässigkeit für die entsprechende Farbe erhöht werden, so dass die Wiedergabefähigkeit der entsprechenden Farbe in außergewöhnlicher Weise verbessert werden kann. Im Bildsensor gemäß der ersten Ausführungsform wird eine Ausgabe für blaues Licht gesteigert, da bei dem durch den Blaufilter 132 hindurchgehende Licht weniger Licht verloren geht als bei anderen Farben. In der Folge kann die Farbwiedergabefähigkeit für Blau verbessert werden.
  • Obwohl in der ersten Ausführungsform ein Passivierungsschichtbereich 120, der dem Blaufilter 132 entspricht, entfernt wird, und ein Bereich davon, der einem Grünfilter 134 entspricht, nicht entfernt wird, ist die vorliegende Erfindung nicht darauf beschränkt. Das heißt, gemäß der ersten Ausführungsform besteht ein Vorteil darin, dass eine Ausgabe für eine Farbe mit einem niedrigeren Ausgabeverhältnis als das der anderen Farben bei Vorhandensein einer durchgängigen Passivierungsschicht 120 (d.h. einen der Blau-, Grün- oder Rotfilter) durch dasselbe Verfahren erhöht werden kann (z.B. durch Entfernen des Passivierungsschichtbereichs unterhalb des ersten Farbfilters, ohne diesen unterhalb der anderen Farbfilter zu entfernen). Die Erfindung ist gleichermaßen auf ein Yellow/Cyan/Magenta (YCM)-Farbfiltersystem anwendbar und/oder zur Verbesserung der relativen Ausgabe von zwei der drei Farbfiltern. Ebenso kann die Farbausgabe von einem der beiden Farbfilter teilweise verbessert werden, indem durch den Teil der Passivierungsschicht 120 unterhalb des Farbfilters 132 oder 134 teilweise durchgeätzt wird (z.B. durch Durchführen einer zeitlich festgelegten Ätzung der Passivierungsschicht 120). In einem Beispiel kann der Teil der Passivierungsschicht 120 unterhalb den Blaufiltern 132 vollständig entfernt werden, wobei der Teil der Passivierungsschicht 120 unterhalb der Rotfilter 134 vollständig erhalten bleiben kann (d.h. überhaupt nicht geätzt wird), und der Passivierungsschichtbereich 120 unterhalb der Grünfilter (nicht dargestellt) teilweise ganz entfernt werden kann (d.h. eine Dicke aufweist, die geringer ist als die Dicke der Passivierungsschicht 120 unter den Rotfiltern).
  • 2 bis 4 sind Schnittansichten, die ein Herstellungsverfahren des Bildsensors gemäß der ersten Ausführungsform veranschaulichen. Das Herstellungsverfahren des Bildsensors gemäß einer ersten Ausführungsform ist wie folgt:
    Wie in 2 gezeigt, wird eine dielektrische Zwischenschicht 110 zuerst auf einem Substrat 100 mit darin befindlichen Photodioden 105 ausgebildet. Hier kann die dielektrische Zwischenschicht 110 eine mehrschichtige Struktur umfassen. Obwohl in dieser Fig. nicht dargestellt, kann eine dielektrische Zwischenschicht ausgebildet sein, eine Lichtschutzschicht (nicht dargestellt) kann ausgebildet sein, um Licht am Einfallen auf (z.B. um das Licht zu blockieren von) andere Teile außer auf die Photodioden 105 zu hindern, und eine weitere dielektrische Zwischenschicht kann erneut ausgebildet sein. In verschiedenen Ausführungsformen umfasst die dielektrische Schicht eine oder mehrere Oxidschichten (z.B. Siliziumdioxid, das durch eine CVD [was Plasma-unterstützt sein kann] eines Oxid-Vorgängers wie Silan oder TEOS gebildet sein kann, im Allgemeinen bei Vorhandensein eines Oxidierungsmittels wie Sauerstoff und/oder Ozon), und die Lichtschutzschicht kann ein Material mit Lichtabsorptionseigenschaften (wie Metall, unkristallinisches oder polykristallines Silizium, Siliziumkarbid (das weiterhin Sauerstoff und/oder Wasserstoff enthalten kann) usw. umfassen.
  • Danach wird eine Passivierungsschicht 120 auf der dielektrischen Zwischenschicht 110 ausgebildet. Die Passivierungsschicht 120 enthält im Allgemeinen eine organische Schicht, wie ein Polymer (z.B. einen herkömmlichen Photolack), kann aber alternativ oder zusätzlich Siliziumnitrid und/oder Siliziumdioxid enthalten. Die organische Passivierungsschicht 120 kann eine Dicke von etwa 50 nm oder weniger aufweisen, und dann einer Hochtemperaturbehandlung (Hard Cure) unterzogen werden. Das heißt, um das Profil und die Einheitlichkeit einer später auszubildenden Farbfilterschicht 130 zu verbessern, enthält die Passivierungsschicht 120 vorzugsweise ein organische Material mit überdurchschnittlicher Lichtdurchlässigkeit in einer Wellenlänge des sichtbaren Lichts. Alternativ kann die Passivierungsschicht 120 SiN umfassen oder im Wesentlichen daraus bestehen.
  • Danach kann ein Photolackmuster 140, das ein Gebiet entsprechend eines bestimmten Farbfilters öffnet, auf der Passivierungsschicht 120 ausgebildet werden. Zum Beispiel kann das Photolackmuster 140 ein Blau-, Grün- oder Rotfiltergebiet öffnen. In einer ersten Ausführungsform wird ein Photolackmuster, das das Blaufiltergebiet öffnet, ausgebildet.
  • Wie in 3 dargestellt, wird die geöffnete und/oder freigelegte Passivierungsschicht 120 mit dem Photolackmuster 140 als Ätzmaske geätzt, wodurch die dielektrische Zwischenschicht in dem bestimmten Farbfiltergebiet (z.B. blau) freigelegt wird. In einer Ausführungsform (z.B. wenn die Passivierungsschicht 120 SiN enthält) kann das Photolackmuster 140 entfernt werden und die Passivierungsschicht 120 kann als Hartmaske verwendet werden.
  • Wie in 4 dargestellt, wird eine Farbfilterschicht 130 auf der geätzten Passivierungsschicht 120 und der freigelegten dielektrischen Zwischenschicht 110 ausgebildet. Beim Ausbilden der Farbfilterschicht 130 wird ein Beschichtungs- und Musterbildungsprozess auf der Passivierungsschicht 120 mit einem färbbaren Photolack durchgeführt, wodurch die Farbfilterschicht 130 mit den R-, G- und B-Farbfiltern (z.B. 132 und 134) zum Filtern des Lichts für jedes Wellenlängenband ausgebildet wird. Hier wird die Farbfilterschicht 130 vervollständigt, indem die entsprechenden R-, G- und B-Farbfilter durch dreifache Photolithographieprozesse in ausgewählter Weise bezüglich der R-, G- und B-Farbphotolackschichten ausgebildet werden.
  • Zu diesem Zeitpunkt wird nach Ausbilden der entsprechenden R-, G- und B- (oder Y-, C- und M-)Farbfilter eine UV-Belichtung durchgeführt, so dass ein instabiler Zustand der Oberflächen der R-, G- und B-Farbfilter verbessert werden kann. Im Besonderen kann in der ersten Ausführungsform ein geöffneter Blaufilter 132 auf der freigelegten dielektrischen Zwischenschicht 110 gebildet werden (z.B. kann der Blaufilter 132 direkt auf der freigelegten dielektrischen Zwischenschicht 110 ausgebildet sein, nachdem die Passivierungsschicht 120 in dem entsprechenden Gebiet entfernt wurde), und ein Grünfilter 134 und ein Rotfilter (nicht dargestellt; alternativ ein Rotfilter 134 und ein Grünfilter [nicht dargestellt]) können in einem Farbfiltergebiet ausgebildet sein, das nicht geöffnet ist (z.B. auf einem entsprechenden Gebiet der Passivierungsschicht 120, die nicht entfernt wurde oder die teilweise entfernt wurde). Das heißt, beim Herstellungsverfahren des vorliegenden Bildsensors gemäß einer Ausführungsform wird eine Passivierungsschicht für ein Blaufiltergebiet entfernt, so dass die Wahrscheinlichkeit, dass blaues Licht eine Photodiode erreicht, erhöht wird. Weiterhin, da die Lichtdurchlässigkeit des blauen Lichts erhöht werden kann, lässt sich die Wiedergabefähigkeit der Photodiode und/oder des Pixels der Farbe Blau in außergewöhnlicher Weise verbessern. Es zeigt sich, dass eine Ausgabe für eine Farbe mit einem niedrigeren Ausgabeverhältnis als das der anderen Farben (z.B. entsprechend den Grün- und/oder Rotfarbfiltern) mit demselben Verfahren erhöht werden kann.
  • Danach wird eine herkömmliche Planarisierungsschicht 150 auf der Farbfilterschicht 130 ausgebildet und Mikrolinsen 160 werden in herkömmlicher Weise auf der Planarisierungsschicht 150 ausgebildet. Die Planarisierungsschicht kann ein oder mehrere Materialien enthalten, die einfach planarisierbar sein können (z.B. ein herkömmliches transparentes Photolackmaterial, das durch Verfließen des Photolacks bei einer Temperatur von 150 bis 200 oder 250°C planarisiert werden kann, oder einem Siliziumdioxidmaterial, das durch chemisch-mechanisches Polieren [CMP] planarisiert werden kann).
  • Wie oben beschrieben, wird in einem Bildsensor und einem Herstellungsverfahren desselben gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung eine Ausgabe für eine Photodiode und/oder ein Pixel der Farbe Blau erhöht, da bei einem durch einen bestimmten (z.B. blauen) Farbfilter durchgehendes Licht weniger Licht verloren geht als dies bei Licht anderer Farben der Fall ist. In der Folge kann die Farbwiedergabefähigkeit für die blaue Photodiode und/oder das Pixel verbessert werden. Weiterhin besteht gemäß einer ersten Ausführungsform der Vorteil darin, dass eine Ausgabe für eine Farbe mit einem niedrigeren Ausgabeverhältnis als das der anderen Farben durch dasselbe Verfahren erhöht werden kann.
  • Ausführungsform 2
  • Obwohl die Verbesserung der Empfindlichkeit für blaues Licht auch in einer zweiten Ausführungsform beschrieben wird, ist das Grundkonzept der Ausführungsform nicht auf Blau beschränkt.
  • 5 ist eine Schnittsansicht eines Bildsensors gemäß einer zweiten Ausführungsform.
  • Der Bildsensor gemäß der zweiten Ausführungsform kann eine auf einem Substrat 210 ausgebildete Isolierschicht enthalten (z.B. flache Grabenisolationsstrukturen 230); aktive im Substrat 210 ausgebildete Gebiete, so dass ein Gebiet, das einer bestimmten Farbe entspricht, niedriger ist als das entsprechende Gebiet einer anderen Farbe; ein auf der Gesamtfläche des aktiven Gebiets ausgebildetes Ionenimplantationsgebiet; ein Photodiodengebiet 220, das unter dem Ionenimplantationsgebiet ausgebildet ist; eine dielektrische Zwischenschicht 240, die auf dem Substrat 210 mit dem Photodiodengebiet 220 ausgebildet ist; eine Farbfilterschicht 250, die auf der dielektrischen Zwischenschicht 240 ausgebildet ist; und Mikrolinsen 260 (siehe 8), die auf der Farbfilterschicht 250 ausgebildet sind.
  • In einer Ausführungsform sind eine rote (R) Photodiode (nicht dargestellt), ein grüne (G) Photodiode 224 und eine blaue (B) Photodiode 222 in entsprechenden Photodiodengebieten 220 ausgebildet. Weiterhin enthält die Farbfilterschicht 250 einen roten (R) Farbfilter (nicht dargestellt), einen grünen (G) Farbfilter 254 und einen blauen (B) Farbfilter 252, die den grünen (G) und blauen (B) Photodioden 222 und 224 entsprechen.
  • Darüber hinaus kann die zweite Ausführungsform weiterhin eine Passivierungsschicht (nicht dargestellt) enthalten, die auf der dielektrischen Zwischenschicht 240 ausgebildet ist. Zu diesem Zeitpunkt ist der Farbfilter 250 auf der Passivierungsschicht ausgebildet.
  • In der zweiten Ausführungsform weisen die aktiven Gebiete einen Tiefenunterschied (z.B. einen Abstand von der obersten Oberfläche der dielektrischen Schicht 240 [die koplanar über alle aktive Gebiete verlaufen kann] zur obersten Oberfläche des darunter liegenden aktiven Gebiets) von 10 bis 100 nm auf, und daher wird ein Abstand D2 (siehe 8), an dem ein bestimmtes (z.B. blaues) Licht die Photodiode erreicht, optimiert, so dass die Farbwiedergabefähigkeit für das bestimmte Licht (z.B. blaues) verbessert werden kann.
  • 6 bis 8 sind Schnittansichten, die ein Herstellungsverfahren des Bildsensors gemäß der zweiten Ausführungsform veranschaulichen. Obwohl die Verbesserung der Empfindlichkeit für blaues Licht in der zweiten Ausführungsform beschrieben wird, ist das Grundkonzept der Ausführungsform nicht auf die Verbesserung der Empfindlichkeit für blaues Licht beschränkt.
  • Das Herstellungsverfahren des Bildsensors gemäß der zweiten Ausführungsform ist wie folgt:
    Wie in 6 dargestellt, wird zuerst eine Isolierschicht mit Isolationsstrukturen 230 im Substrat 210 ausgebildet, um die aktiven Gebiete zu definieren. Die Isolationsstrukturen 230 umfassen vorzugsweise flache Grabenisolations (STI, Shallow Trench Isolation)-Strukturen.
  • Danach wird ein Photolackmuster 235 ausgebildet, das ein aktives Gebiet entsprechend einer bestimmten Farbe freilegt, wie in 7 dargestellt. Obwohl zu dieser Zeit die bestimmte Farbe in beispielhafter Weise blau ist, ist sie nicht darauf beschränkt.
  • Danach wird das freigelegte aktive Gebiet in einer bestimmten Dicke oder auf eine bestimmte Tiefe mit dem Photolackmuster 235 als Ätzmaske geätzt, so dass die Höhen der Licht aufnehmenden Bereiche in den nachfolgend ausgebildeten Photodiodengebieten für unterschiedliche Farben verschieden sind.
  • Zu dieser Zeit weisen die aktiven Gebiete in der zweiten Ausführungsform eine Tiefen- oder Höhendifferenz von 10 bis 100 nm auf (ähnlich der oben beschriebenen ersten Ausführungsform), und daher wird ein Abstand D2 optimiert, an dem blaues Licht die blaue Photodiode 222 erreicht, so dass die Farbwiedergabefähigkeit für die Photodiode 222 und/oder Pixel der Farbe Blau verbessert werden kann.
  • Danach wird das Herstellungsverfahren des Bildsensors wie in 8 dargestellt weitergeführt. Das heißt, das Photolackmuster 235 wird entfernt und ein oder mehrere Ionenimplantationsgebiete werden auf der Gesamtoberfläche des geätzten aktiven Gebiets ausgebildet. In einer Ausführungsform kann das Ionenimplantationsgebiet ein Ionenimplantationsgebiet des p-Typs sein, wie eine (tiefe) P-Wanne. Alternativ oder zusätzlich kann das Ionenimplantationsgebiet eine relativ flache Inversions- oder Oberflächenschicht einer P-N-Photodiode sein. Danach wird das Photodiodengebiet 220 unterhalb des Ionenimplantationsgebiets ausgebildet. Zu dieser Zeit sind eine rote (R) Photodiode (nicht dargestellt), ein grüne (G) Photodiode 224 und eine blaue (B) Photodiode 222 in den aktiven (Photodioden-)Gebieten 220 ausgebildet.
  • Danach wird eine dielektrische Zwischenschicht 240 auf dem Substrat 210 mit den Photodiodengebieten 220 darin ausgebildet. Die dielektrische Zwischenschicht 240 kann eine mehrschichtige Struktur wie bei der ersten Ausführungsform umfassen. Obwohl in dieser Fig. nicht dargestellt, kann eine dielektrische Zwischenschicht ausgebildet sein, eine Lichtschutzschicht (nicht dargestellt) kann ausgebildet sein, um den Lichteinfall auf andere Bereiche außer auf das zugehörige Photodiodengebiet 220 zu verhindern, und eine weitere dielektrische Zwischenschicht kann wie bei der ersten Ausführungsform erneut ausgebildet sein.
  • In der Folge kann eine Passivierungsschicht (nicht dargestellt) zum Schutz eines Elements vor Feuchtigkeit und Verkratzen auf der dielektrischen Zwischenschicht 240 ausgebildet sein. Die Passivierungsschicht kann eine anorganische oder eine organische Schicht enthalten. Die Passivierungsschicht kann eine Dicke von etwa 50 nm oder weniger aufweisen, und (wenn sie organisch ist) einer Hochtemperaturbehandlung (hard cure) unterzogen werden. Das heißt, um das Profil und die Einheitlichkeit einer später auszubildenden Farbfilterschicht 250 zu verbessern, enthält die Passivierungsschicht 120 vorzugsweise ein organische Material mit einer überdurchschnittlichen Lichtdurchlässigkeit in einer Wellenlänge des sichtbaren Lichts.
  • Danach wird ein Beschichtungs- und Musterbildungsprozess auf der dielektrischen Zwischenschicht 240 (oder der Passivierungsschicht, falls diese ausgebildet ist) mit einem färbbaren Photolack durchgeführt, wodurch ein bestimmter Farbfilter für die Farbfilterschicht 250 zum Filtern von Licht für jedes Wellenlängenband ausgebildet wird. Die Farbfilterschicht 250 enthält im Allgemeinen einen Rot (R)-Farbfilter (nicht dargestellt), einen Grün (G)-Farbfilter 254 und einen Blau (B)-Farbfilter 252, wobei die beiden letzteren jeweils den Photodioden 224 und 222 entsprechen. Alternativ kann die Farbfilterschicht 250 einen Yellow (Y)-Farbfilter, einen Cyan (C)-Farbfilter und einen Magenta (M)-Farbfilter enthalten.
  • Hier wird die Farbfilterschicht 250 durch Ausbilden der entsprechenden R-, G- und B-Farbfilter durch drei Photolithographieprozesse selektiv bezüglich der R-, G- und B-Farbphotolackschichten vervollständigt, obwohl die exakte Abfolge der Ausbildung der Schichten im Allgemeinen nicht für die Erfindung wesentlich ist. Zu dieser Zeit wird nach Ausbilden der entsprechenden R-, G- und B-Farbfilter eine W-Belichtung durchgeführt, so dass ein instabiler Zustand der Oberflächen der R-, G- und B-Farbfilter verbessert werden kann.
  • Danach wird eine Planarisierungsschicht (nicht dargestellt) auf der Farbfilterschicht 250 ausgebildet, um einen Fokalabstand anzupassen und eine planare Oberfläche zum nachfolgenden Ausbilden einer Linsenschicht zu fixieren. Danach werden Mikrolinsen 260 auf der Farbfilterschicht 250 (oder der Planarisierungsschicht, falls diese vorhanden ist) ausgebildet. Die Mikrolinsen 260 können durch Ablagern, Freisetzen, Entwickeln oder Verfließen eines Photolackmuster für Mikrolinsen gebildet werden.
  • Im Herstellungsverfahren des Bildsensors gemäß der zweiten Ausführungsform werden die Licht aufnehmenden Bereiche der Photodioden selektiv in einer bestimmten Dicke oder auf eine bestimmte Tiefe geätzt, so dass die Höhen der Licht aufnehmenden Bereiche der Photodioden für unterschiedliche Farben verschieden sind. Dementsprechend kann ein Gebiet, das blaues Licht aufnimmt, optimiert werden, so dass die Farbwiedergabefähigkeit für die Photodiode und/oder das Pixel der Farbe Blau verbessert werden kann.
  • Ausführungsform 3
  • 9 ist eine Schnittsansicht eines Bildsensors gemäß einer dritten Ausführungsform.
  • Der Bildsensor gemäß der dritten Ausführungsform kann aktive Gebiete enthalten, die durch eine auf einem Substrat 210 ausgebildete Isolierschicht 230 definiert sind; ein auf der Gesamtoberfläche der aktiven Gebiete ausgebildetes Ionenimplantationsgebiet; ein Photodiodegebiet 220, das unter dem Ionenimplantationsgebiet ausgebildet ist; eine dielektrische Zwischenschicht 245, die auf dem Substrat 210 mit dem Photodiodengebieten 220 dergestalt ausgebildet ist, dass ein Gebiet, das einer bestimmten Farbe entspricht, niedriger ist als das, das einer anderen Farbe entspricht; eine Farbfilterschicht 250, die auf der dielektrischen Zwischenschicht 245 ausgebildet ist; und Mikrolinsen 260, die auf oder über der Farbfilterschicht 250 ausgebildet sind. Optional kann eine Passivierungsschicht (nicht dargestellt) weiterhin auf der dielektrischen Zwischenschicht 245 ausgebildet sein, und die Passivierungsschicht kann wie in der ersten Ausführungsform geätzt werden.
  • Der Bildsensor gemäß der dritten Ausführungsform weist ein zu lösendes Problem auf und ein Prinzip zum Lösen des Problems wie bei der zweiten Ausführungsform. Das heißt, dass in der zweiten Ausführungsform ein aktives Gebiet, das einen Licht aufnehmenden Bereich enthält, so geätzt wird, dass das blaue Licht eine optimale Position einer Photodiode erreichen kann, wodurch ein (Fokal-)Abstand angepasst wird, an dem das blaue Licht im CIS-Bauteil aufgenommen wird. In der dritten Ausführungsform wird die dielektrische Zwischenschicht 245 oder die Passivierungsschicht (nicht dargestellt) auch so geätzt, dass das Blau eine optimale Position der Photodiode erreicht.
  • Das Herstellungsverfahren des Bildsensors gemäß der dritten Ausführungsform kann Verfahren der ersten und/oder zweiten Ausführungsform übernehmen. Die dritte Ausführungsform unterscheidet sich jedoch von der zweiten Ausführungsform in einem Ätzverfahren der dielektrischen Zwischenschicht 245 (oder der Passivierungsschicht) anstelle des aktiven Gebiets oder zusätzlich zum aktiven Gebiet. Das Herstellungsverfahren des Bildsensors gemäß der dritten Ausführungsform ist wie folgt:
    Zuerst wird eine Isolierschicht 230 auf einem Substrat 210 ausgebildet, um die aktiven Gebiete zu definieren, dann können ein (oder zwei) der aktiven Gebiete (z.B. durch eine zeitlich festgelegte Ätzung des Siliziumsubstrats) auf eine bestimmte Tiefe geätzt werden, um einen Höhen- oder Tiefenunterschied von 10 bis 100 nm auszubilden, wie in der zweiten Ausführungsform, um einen Abstand zu optimieren, an dem ein bestimmtes (z.B. blaues) Licht die Photodiode erreicht, so dass die Wiedergabefähigkeit des bestimmten Lichts (z.B. blau) verbessert werden kann. Danach wird ein Ionenimplantationsgebiet auf den gesamten Oberflächen der aktiven Gebiete ausgebildet. In einer Ausführungsform ist das Ionenimplantationsgebiet relativ flach, wie in der zweiten Ausführungsform.
  • Danach werden die Photodiodengebiete 220 (z.B. 222, 224) unter dem Ionenimplantationsgebiets ausgebildet, und eine dielektrische Zwischenschicht 245 wird auf dem Substrat 210, das Photodiodengebiete 220 darin enthält, ausgebildet. In der Folge wird ein Photolackmuster (nicht dargestellt), das ein Gebiet der dielektrischen Zwischenschicht 245 freilegt, das einer bestimmten Farbe (z. B. blau) entspricht, auf der dielektrischen Zwischenschicht 245 ausgebildet, und die freigelegte dielektrische Zwischenschicht 245 wird in einer bestimmten Dicke oder auf eine bestimmte Tiefe mit dem Photolackmuster als Ätzmaske geätzt.
  • Zu dieser Zeit kann in der dritten Ausführungsform die dielektrische Zwischenschicht 245 auch eine Tiefen- oder Höhendifferenz von 10 bis 100 nm aufweisen, wie in der ersten Ausführungsform, und daher kann ein (Fokal-)Abstand, an dem blaues Licht die blaue Photodiode 222 erreicht, weiter optimiert werden, so dass die Farbwiedergabefähigkeit für Licht, die Photodiode und/oder das Pixel der Farbe Blau verbessert werden kann.
  • Danach wird das Photolackmuster entfernt und eine Farbfilterschicht 250 wird auf der geätzten dielektrischen Zwischenschicht 245 ausgebildet. Weiterhin kann in der dritten Ausführungsform eine Passivierungsschicht (nicht dargestellt) zudem auf einer dielektrischen Zwischenschicht 245 ausgebildet sein. Die Passivierungsschicht kann geätzt werden, um eine Schrittdifferenz aufzuweisen, wie in der ersten Ausführungsform (anstelle der oder zusätzlich zur dielektrischen Zwischenschicht 245), und die Farbfilterschicht 250 kann auf der Passivierungsschicht ausgebildet sein. Weiterhin kann in der dritten Ausführungsform eine Planarisierungsschicht 255 weiter auf der Farbfilterschicht 250 ausgebildet sein. Mikrolinsen 260 werden dann auf der Planarisierungsschicht 255 ausgebildet, oder falls gewünscht (z.B. die Farbfilterschicht 250 weist eine planare Oberfläche auf) auf der Farbfilterschicht 250.
  • Gemäß der dritten Ausführungsform wird die dielektrische Zwischenschicht 245 oder die Passivierungsschicht (nicht dargestellt) selektiv geätzt, so dass die Höhen der (oder die Fokalabstände der) Licht aufnehmenden Bereiche der Photodioden unterschiedlich sind. Dementsprechend kann ein Photodiodengebiet, das blaues Licht aufnimmt, einen optimierten Fokalabstand aufweisen, so dass die Farbwiedergabefähigkeit für die Photodiode und/oder das Pixel der Farbe Blau verbessert werden kann.
  • Wie oben beschrieben können in einem Bildsensor und einem Herstellungsverfahren desselben Bereiche des Materials über Licht aufnehmende Photodioden selektiv in einer bestimmten Dicke oder Tiefe geätzt werden, so dass die Höhen oder Fokalabstände der Licht aufnehmenden Bereiche der Photodioden unterschiedlich sind. Dementsprechend kann ein Gebiet, das eine bestimmte Farbe (z.B. blau) aufnimmt, einen optimierten Fokalabstand aufweisen, so dass die Farbwiedergabefähigkeit für die Photodiode und/oder das Pixel der Farbe Blau verbessert werden kann.
  • Weiterhin besteht gemäß der dritten Ausführungsform der Vorteil, dass die Empfindlichkeit für eine bestimmte Farbe (z.B. blau) verbessert werden kann.
  • Weiterhin kann gemäß der dritten Ausführungsform eine dielektrische Zwischenschicht oder Passivierungsschicht selektiv geätzt werden, so dass die Höhen oder die Fokalabstände der Licht aufnehmenden Bereiche der Photodioden unterschiedlich sind. Dementsprechend kann ein Gebiet, das eine bestimmte Farbe (z.B. blau) aufnimmt, optimiert werden, so dass die Farbwiedergabefähigkeit für blaues Licht verbessert werden kann.
  • Jede Bezugnahme in dieser Beschreibung auf "die eine Ausführungsform", "eine Ausführungsform" usw. bedeutet, dass ein bestimmtes Merkmal, eine Struktur oder eine Eigenschaft, die in Verbindung mit der Ausführungsform beschrieben wird, in mindestens einer Ausführungsform der Erfindung enthalten ist. Die Vorkommen solcher Ausdrücke an verschiedenen Stellen in der Beschreibung beziehen sich nicht notwendigerweise alle auf dieselbe Ausführungsform. Weiterhin, wenn ein bestimmtes Merkmal, eine bestimmte Struktur oder eine bestimmte Eigenschaft in Verbindung mit einer beliebigen Ausführungsform beschrieben wird, versteht es sich, dass es im Bereich eines Fachmanns liegt, das Merkmal, die Struktur oder die Eigenschaft in Verbindung mit anderen Ausführungsformen zu verwirklichen.
  • Obwohl Ausführungsformen mit Bezugnahme auf mehrere veranschaulichende Ausführungsformen davon beschrieben wurden, versteht es sich, dass vielzählige andere Modifikationen und Ausführungsformen von Fachleuten erdacht werden können, die dem Geist und Umfang der Grundsätze dieser Offenlegung entsprechen. Im Besonderen sind verschiedene Variationen und Modifikationen in den Komponententeilen und/oder Anordnungen der kombinierten Anordnung des Themas im Umfang der Offenbarung, der Zeichnungen und der Ansprüche im Anhang möglich. Zusätzlich zu den Variationen und Modifikationen in den Komponententeilen und/oder Anordnungen sind für Fachleute auch alternative Verwendungen ersichtlich.

Claims (20)

  1. Ein Bildsensor, umfassend: ein Substrat mit Photodioden darauf; eine dielektrische Schicht auf dem Substrat; eine Passivierungsschicht auf der dielektrischen Schicht, die die dielektrische Schicht in einem Gebiet freilegt, das einem ersten Farbfilter entspricht; und eine Farbfilterschicht auf der freigelegten dielektrischen Schicht und der Passivierungsschicht.
  2. Der Bildsensor gemäß Anspruch 1, wobei die Farbfilterschicht umfasst: einen ersten Farbfilter auf der freigelegten dielektrischen Zwischenschicht; und einen zweiten Farbfilter auf der Passivierungsschicht.
  3. Der Bildsensor gemäß Anspruch 1 oder 2, weiterhin umfassend: eine Planarisierungsschicht auf der Farbfilterschicht; und Mikrolinsen auf der Planarisierungsschicht.
  4. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei die Passivierungsschicht ein Blaufiltergebiet freilegt.
  5. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei die Passivierungsschicht ein Grünfiltergebiet freilegt.
  6. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei die Passivierungsschicht ein Rotfiltergebiet freilegt.
  7. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei die Passivierungsschicht SiN umfasst.
  8. Ein Bildsensor, umfassend: eine Isolierschicht auf einem Substrat; aktive Gebiete im Substrat, so dass ein Gebiet, das einer ersten Farbe entspricht, tiefer ist als ein Gebiet, das einer anderen Farbe entspricht; ein Ionenimplantationsgebiet auf der Gesamtoberfläche der aktiven Gebiete; ein Photodiodengebiet im Substrat unter dem Ionenimplantationsgebiet; und eine dielektrische Schicht auf dem Substrat.
  9. Der Bildsensor gemäß Anspruch 8, weiterhin umfassend: eine Farbfilterschicht auf der dielektrischen Schicht; und Mikrolinsen auf oder über der Farbfilterschicht.
  10. Der Bildsensor gemäß Anspruch 9, wobei die Farbfilterschicht keine Schrittdifferenz aufweist.
  11. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 8 bis 10, wobei die aktiven Gebiete eine Tiefendifferenz von 10 bis 100 nm aufweisen.
  12. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 8 bis 11, weiterhin eine Passivierungsschicht auf der dielektrischen Schicht umfassend.
  13. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 8 bis 12, wobei die erste Farbe Grün ist.
  14. Ein Bildsensor, umfassend: aktive Gebiete in einem Substrat; ein Ionenimplantationsgebiet auf der gesamten Oberfläche der aktiven Gebiete; ein Photodiodengebiet unterhalb des Ionenimplantationsgebiets; eine dielektrische Schicht auf dem Substrat, so dass ein Gebiet, das einer ersten Farbe entspricht, höher ist als ein Gebiet, das einer anderen Farbe entspricht; und eine Farbfilterschicht auf der dielektrischen Schicht.
  15. Der Bildsensor gemäß Anspruch 14, weiterhin Mikrolinsen auf der Farbfilterschicht umfassend.
  16. Der Bildsensor gemäß Anspruch 14 oder 15, wobei die Farbfilterschicht eine Schrittdifferenz zwischen den Farben aufweist.
  17. Der Bildsensor gemäß Anspruch 16, wobei ein erster Farbfilter, der der ersten Farbe entspricht, höher ist als der, der einer anderen Farbe entspricht.
  18. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 14 bis 17, wobei die dielektrische Schicht eine Tiefendifferenz von 10 bis 100 nm aufweist.
  19. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 14 bis 18, weiterhin eine Passivierungsschicht auf der dielektrischen Schicht umfassend.
  20. Der Bildsensor gemäß einem der Ansprüche 14 bis 19, wobei die erste Farbe Grün ist.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013207801B4 (de) 2012-04-30 2020-07-16 Infineon Technologies Ag Photozelleneinrichtungen und verfahren für spektrometrische anwendungen

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8256147B2 (en) 2004-11-22 2012-09-04 Frampton E. Eliis Devices with internal flexibility sipes, including siped chambers for footwear
US7569804B2 (en) * 2006-08-30 2009-08-04 Dongbu Hitek Co., Ltd. Image sensor having exposed dielectric layer in a region corresponding to a first color filter by a passivation layer
US7851698B2 (en) * 2008-06-12 2010-12-14 Sunpower Corporation Trench process and structure for backside contact solar cells with polysilicon doped regions
US12074240B2 (en) * 2008-06-12 2024-08-27 Maxeon Solar Pte. Ltd. Backside contact solar cells with separated polysilicon doped regions
KR101057653B1 (ko) * 2008-11-07 2011-08-18 주식회사 동부하이텍 이미지 센서 및 그 제조 방법
JP5428479B2 (ja) * 2009-04-13 2014-02-26 ソニー株式会社 固体撮像装置の製造方法、固体撮像装置、および電子機器
US8247774B2 (en) * 2009-04-29 2012-08-21 Tyntek Corporation Output ratio adjusting method for optic sensor
JP5569715B2 (ja) * 2009-06-17 2014-08-13 株式会社ニコン 撮像素子
US8466000B2 (en) 2011-04-14 2013-06-18 United Microelectronics Corp. Backside-illuminated image sensor and fabricating method thereof
US20130010165A1 (en) 2011-07-05 2013-01-10 United Microelectronics Corp. Optical micro structure, method for fabricating the same and applications thereof
US9236411B2 (en) * 2011-08-03 2016-01-12 Omnivision Technologies, Inc. Color filter patterning using hard mask
US9312292B2 (en) 2011-10-26 2016-04-12 United Microelectronics Corp. Back side illumination image sensor and manufacturing method thereof
US8318579B1 (en) 2011-12-01 2012-11-27 United Microelectronics Corp. Method for fabricating semiconductor device
US8815102B2 (en) 2012-03-23 2014-08-26 United Microelectronics Corporation Method for fabricating patterned dichroic film
US9401441B2 (en) 2012-06-14 2016-07-26 United Microelectronics Corporation Back-illuminated image sensor with dishing depression surface
US8779344B2 (en) 2012-07-11 2014-07-15 United Microelectronics Corp. Image sensor including a deep trench isolation (DTI)that does not contact a connecting element physically
US8828779B2 (en) 2012-11-01 2014-09-09 United Microelectronics Corp. Backside illumination (BSI) CMOS image sensor process
US8779484B2 (en) 2012-11-29 2014-07-15 United Microelectronics Corp. Image sensor and process thereof
US8941159B2 (en) * 2013-01-30 2015-01-27 Omnivision Technologies, Inc. Color filter including clear pixel and hard mask
US9279923B2 (en) 2013-03-26 2016-03-08 United Microelectronics Corporation Color filter layer and method of fabricating the same
CN105074928B (zh) 2013-03-29 2019-05-10 索尼公司 图像拾取元件和图像拾取装置
US9537040B2 (en) 2013-05-09 2017-01-03 United Microelectronics Corp. Complementary metal-oxide-semiconductor image sensor and manufacturing method thereof
US9129876B2 (en) 2013-05-28 2015-09-08 United Microelectronics Corp. Image sensor and process thereof
US9130077B2 (en) * 2013-08-15 2015-09-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Structure of dielectric grid with a metal pillar for semiconductor device
US9054106B2 (en) 2013-11-13 2015-06-09 United Microelectronics Corp. Semiconductor structure and method for manufacturing the same
US9841319B2 (en) 2013-11-19 2017-12-12 United Microelectronics Corp. Light detecting device
US9543343B2 (en) 2013-11-29 2017-01-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Mechanisms for forming image sensor device
KR102299714B1 (ko) 2014-08-18 2021-09-08 삼성전자주식회사 컬러 필터 격리층을 구비하는 이미지 센서 및 상기 이미지 센서의 제조 방법
US10515991B2 (en) * 2015-04-17 2019-12-24 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Semiconductor structure and manufacturing method thereof
WO2018123884A1 (ja) * 2016-12-27 2018-07-05 凸版印刷株式会社 固体撮像素子及びその製造方法
US11810934B2 (en) * 2018-04-03 2023-11-07 Visera Technologies Company Limited Image sensors including insulating layers in different pixel regions having different thicknesses and methods for forming the same
JP7251946B2 (ja) * 2018-10-31 2023-04-04 浜松ホトニクス株式会社 固体撮像装置

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58196506A (ja) * 1982-04-28 1983-11-16 Toppan Printing Co Ltd カラ−フイルタ−の製造方法
JPS62144106A (ja) * 1985-12-18 1987-06-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd カラ−フイルタ−
JPS62144103A (ja) * 1985-12-18 1987-06-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd カラ−フイルタ−
JPH03274958A (ja) 1990-03-26 1991-12-05 Seiko Instr Inc カラーイメージセンサ
JP2601148B2 (ja) * 1993-07-23 1997-04-16 日本電気株式会社 固体撮像装置
US6200712B1 (en) * 1999-02-18 2001-03-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Color filter image array optoelectronic microelectronic fabrication with three dimensional color filter layer and method for fabrication thereof
JP2001160973A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Nikon Corp 固体撮像素子及び電子カメラ
JP2002231915A (ja) * 2001-01-31 2002-08-16 Sony Corp 固体撮像素子
US6946715B2 (en) * 2003-02-19 2005-09-20 Micron Technology, Inc. CMOS image sensor and method of fabrication
KR20040000877A (ko) 2002-06-26 2004-01-07 동부전자 주식회사 오목형 및 볼록형 마이크로렌즈를 갖는 씨모스 이미지센서및 그 제조 방법
KR100485892B1 (ko) * 2002-11-14 2005-04-29 매그나칩 반도체 유한회사 시모스 이미지센서 및 그 제조방법
KR100560309B1 (ko) * 2003-12-31 2006-03-14 동부아남반도체 주식회사 씨모스 이미지 센서 및 그 광 칼라 감도 감지 방법
KR100649018B1 (ko) * 2004-06-22 2006-11-24 동부일렉트로닉스 주식회사 이미지 센서의 금속패드 산화 방지 방법
KR20060010899A (ko) 2004-07-29 2006-02-03 매그나칩 반도체 유한회사 칼라필터를 제거한 이미지센서 및 그 제조 방법
KR100605814B1 (ko) * 2004-10-27 2006-08-01 삼성전자주식회사 반사 격자를 이용한 씨모스 이미지 센서 및 그 제조방법
KR100685874B1 (ko) 2004-12-23 2007-02-23 동부일렉트로닉스 주식회사 씨모스 이미지 센서 및 그 제조방법
KR20060076430A (ko) 2004-12-29 2006-07-04 동부일렉트로닉스 주식회사 시모스 이미지 센서의 광차폐막 및 그의 형성방법
KR100658930B1 (ko) * 2004-12-30 2006-12-15 매그나칩 반도체 유한회사 칼라별 초점 거리 조절이 가능한 이미지센서 및 그 제조방법
US20060180885A1 (en) * 2005-02-14 2006-08-17 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor using deep trench isolation
US7262400B2 (en) * 2005-12-02 2007-08-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Image sensor device having an active layer overlying a substrate and an isolating region in the active layer
US7569804B2 (en) * 2006-08-30 2009-08-04 Dongbu Hitek Co., Ltd. Image sensor having exposed dielectric layer in a region corresponding to a first color filter by a passivation layer
US8137901B2 (en) * 2008-05-28 2012-03-20 United Microelectronics Corp. Method for fabricating an image sensor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013207801B4 (de) 2012-04-30 2020-07-16 Infineon Technologies Ag Photozelleneinrichtungen und verfahren für spektrometrische anwendungen

Also Published As

Publication number Publication date
US7569804B2 (en) 2009-08-04
US20090243014A1 (en) 2009-10-01
US20080055733A1 (en) 2008-03-06
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US8203196B2 (en) 2012-06-19

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