WO2018123884A1 - 固体撮像素子及びその製造方法 - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to a technology relating to a solid-state imaging device using a photoelectric conversion device such as a CCD or a CMOS.
- CCD Charge Coupled Device
- CMOS Complementary Metal Oxide Semiconductor
- the solid-state imaging device is colored by a photoelectric conversion device disposed in each pixel and a color filter layer having a predetermined color pattern.
- the region (opening) where each photoelectric conversion element contributes to photoelectric conversion depends on the size of the solid-state imaging element and the number of pixels. The opening is limited to about 20 to 50% with respect to the entire area of the solid-state imaging device. Since a small aperture leads to a decrease in sensitivity of the photoelectric conversion element as it is, in a solid-state imaging element, a condensing microlens is generally formed on the photoelectric conversion element in order to compensate for the decrease in sensitivity.
- the opening of the photoelectric conversion element can be made 50% or more of the total area of the solid-state imaging element.
- leakage light from another color filter adjacent to the one color filter may enter, so it is necessary to form a microlens having an appropriate size and shape.
- Patent Document 1 As a method of forming a color filter layer having a predetermined pattern, a method of patterning color filters of each color by a photolithography process is generally used as described in Patent Document 1.
- Patent Document 2 discloses that a color filter layer of the first color is formed by patterning on a solid-state imaging device by a dry etching process, and a color filter layer of the second color and thereafter is formed by a photolithography process. Describes a method of forming by patterning.
- Patent Document 3 describes a method of forming color filters of all colors by patterning by dry etching.
- the aspect ratio of the color filter layer pattern is increased (the thickness is increased with respect to the width of the color filter layer pattern).
- a portion that should originally be removed (a non-effective portion of the pixel) is not completely removed, resulting in a residue that adversely affects the pixels of other colors. End up.
- a method such as extending the development time in order to remove the residue is performed, there is a problem in that even the necessary cured pixels are peeled off.
- the film thickness of the color filter must be increased.
- the resolution tends to decrease, for example, the corners of each color filter that is patterned are rounded as the pixels become finer.
- the pigment concentration colorant concentration
- the pigment concentration is increased, the light required for the photocuring reaction does not reach the bottom of the color filter layer, and the color filter layer may be insufficiently cured. For this reason, there is a problem that the color filter layer is peeled off in the development process in photolithography, and pixel defects are generated.
- the photocuring component is relatively reduced. For this reason, photocuring of a color filter layer becomes inadequate, and it becomes easy to generate
- the film thickness of the color filter layer affects not only the problem in the manufacturing process but also the characteristics as a solid-state imaging device.
- the film thickness of the color filter layer is thick, light incident from an oblique direction may be separated by the color filter of a specific color and then enter the adjacent filter pattern part of the other color and the photoelectric conversion element below it. is there. In this case, there arises a problem that color mixing occurs. This problem of color mixture becomes more pronounced as the pixel size becomes smaller and the aspect ratio between the pixel size defining the pattern size and the film thickness of the color filter becomes larger.
- the problem of color mixing of incident light is prominent even when the distance between the color filter pattern and the photoelectric conversion element is increased by forming a material such as a planarizing layer on the substrate on which the photoelectric conversion element is formed. Arise. For this reason, it is important to reduce the thickness of the color filter layer and the flattening layer formed under the color filter layer.
- the conventional pattern formation of the color filter layer formed by photolithography by imparting photosensitivity to the color filter material is a thin film having a film thickness of the color filter layer as the size of the pixel is miniaturized. It is also required to In this case, since the content ratio of the pigment component in the color filter material is increased, there is a problem that a sufficient amount of the photosensitive component cannot be contained, resolution cannot be obtained, residue is likely to remain, and pixel peeling is likely to occur. There is a problem of deteriorating the characteristics of the solid-state imaging device.
- Patent Documents 2 and 3 have been proposed in order to make the pattern of the color filter layer finer and thinner.
- a plurality of color filters are formed by dry etching that can be patterned without containing a photosensitive component so that the pigment concentration in the color filter material can be improved.
- the pigment concentration can be improved, and a color filter pattern capable of obtaining sufficient spectral characteristics even when the film thickness is reduced can be produced.
- JP 11-68076 A Japanese Patent No. 4,857,569 Japanese Patent No. 4905760
- Patent Documents 2 and 3 do not show the relationship between the film thicknesses of the respective color filters, and it may not be possible to increase the sensitivity with all the color filters.
- the present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a high-definition and high-sensitivity solid-state imaging device with reduced color mixing.
- a solid-state imaging device which is one embodiment of the present invention includes a semiconductor substrate in which a plurality of photoelectric conversion elements are two-dimensionally arranged, and the semiconductor substrate formed on the semiconductor substrate, and corresponding to each photoelectric conversion element.
- the film thickness of the color filter is C [nm]
- the lower planarization layer may be omitted.
- a lower planarization layer is formed on a semiconductor substrate, and a coating liquid for a color filter of the first color is applied and cured thereon, After forming the lower flattening layer and the color filter layer in this order, the color filter layer portion other than the arrangement position of the color filter of the first color and the lower flattening layer portion located below the color filter layer portion to be removed A first step of removing the first color filter by dry etching and forming a color filter of a color other than the first color by photolithography or dry etching after the first step; A second step of forming.
- the formation of the lower planarization layer may be omitted.
- the film thickness of each color filter it is possible to reduce the film thickness of each color filter and reduce the total distance from the microlens top to the device, so that color mixing can be reduced and all the color filters arranged in a pattern can be obtained. It is possible to provide a high-definition solid-state imaging device with high sensitivity.
- the solid-state imaging device includes a semiconductor substrate 10 having a plurality of photoelectric conversion elements 11 arranged two-dimensionally and a plurality of microlenses arranged above the semiconductor substrate 10. 18 and a color filter layer 30 provided between the semiconductor substrate 10 and the microlens 18.
- the color filter layer 30 includes a plurality of color filters 14, 15, and 16 arranged in a predetermined regular pattern.
- the lower planarization layer 12 formed on the surface of the semiconductor substrate 10 is formed only under the color filter 14 having the widest area.
- the lower planarization layer 12 may not be formed.
- an upper planarization layer 13 is formed between the color filter layer 30 and a microlens group including a plurality of microlenses 18.
- the color filter having the widest area formed first in the manufacturing process is defined as the color filter 14 of the first color.
- the color filter formed second in the manufacturing process is defined as the second color filter 15, and the color filter formed third in the manufacturing process is defined as the third color filter 16.
- the color filter 14 of the first color includes a thermosetting resin and a photocurable resin. The content of the photocurable resin is less than the content of the thermosetting resin.
- the color filter 14 of the first color may not be the color filter having the widest area, and may not be the color filter formed first.
- the color filter layer 30 is exemplified by a case where a plurality of colors are composed of three colors of green, red, and blue, and arranged in a Bayer arrangement pattern.
- the color filter layer includes four or more colors. It may be.
- the case where the first color is green is described.
- the first color may be blue or red.
- the semiconductor substrate 10 has a plurality of photoelectric conversion elements 11 arranged two-dimensionally corresponding to the pixels. Each photoelectric conversion element 11 has a function of converting light into an electrical signal.
- the semiconductor substrate 10 on which the photoelectric conversion element 11 is formed usually has a protective film formed on the outermost surface for the purpose of protecting and planarizing the surface (light incident surface).
- the semiconductor substrate 10 is formed of a material that transmits visible light and can withstand a temperature of at least about 300 ° C. As such a material, e.g., Si, oxides such as SiO 2 and nitride such as SiN, and mixtures thereof, materials containing Si and the like.
- Each microlens 18 is disposed above the semiconductor substrate 10 in correspondence with the pixel position. That is, the microlens 18 is provided for each of the plurality of photoelectric conversion elements 11 that are two-dimensionally arranged on the semiconductor substrate 10. The microlens 18 compensates for a decrease in sensitivity of the photoelectric conversion element 11 by condensing incident light incident on the microlens 18 on each of the photoelectric conversion elements 11.
- the microlens 18 preferably has a height from the lens top to the lens bottom in the range of 400 nm to 800 nm.
- the lower planarization layer 12 is a layer provided for surface protection and planarization of the semiconductor substrate 10. That is, the lower planarization layer 12 reduces unevenness on the upper surface of the semiconductor substrate 10 due to the production of the photoelectric conversion element 11 and improves the adhesion of the color filter material. In the present embodiment, the lower planarization layer 12 is not present except for a portion other than the lower portion of the color filter 14 of the first color, which is removed by a dry etching process or the like to be described later.
- the lower planarizing layer 12 is made of, for example, one or more resins such as acrylic resin, epoxy resin, polyimide resin, phenol novolac resin, polyester resin, urethane resin, melamine resin, urea resin, and styrene resin. It is formed of a resin containing a plurality.
- the lower planarization layer 12 is not limited to these resins, and any material can be used as long as it transmits visible light having a wavelength of 400 nm to 700 nm and does not hinder pattern formation or adhesion of the color filters 14, 15, and 16. Can also be used.
- the lower planarization layer 12 is preferably formed of a resin that does not affect the spectral characteristics of the color filters 14, 15, 16.
- the lower planarization layer 12 is preferably formed so as to have a transmittance of 90% or more for visible light having a wavelength of 400 nm to 700 nm.
- the lower planarization layer 12 provided under the first color filter 14 may be omitted.
- the film thickness B [nm] of the lower planarization layer 12 is formed to be 0 [nm] or more and 200 [nm] or less.
- the film thickness B is preferably 100 [nm] or less, more preferably 60 [nm] or less.
- the thickness B of the lower planarization layer 12 is preferably as thin as possible from the viewpoint of preventing color mixing.
- the upper planarization layer 13 is a layer provided for planarizing the upper surfaces of the color filters 14, 15, 16.
- the upper planarization layer 13 is made of, for example, a resin such as an acrylic resin, an epoxy resin, a polyimide resin, a phenol novolac resin, a polyester resin, a urethane resin, a melamine resin, a urea resin, or a styrene resin. It is formed of a resin containing a plurality. Note that the upper planarization layer 13 may be integrated with the microlens 18 without any problem.
- the film thickness of the upper planarization layer 13 is, for example, 1 [nm] or more and 300 [nm] or less. Preferably it is 100 [nm] or less, More preferably, it is 60 [nm] or less. From the viewpoint of preventing color mixing, the thinner the better.
- the color filters 14, 15, and 16 constituting the color filter layer 30 with a predetermined pattern are filters corresponding to the colors that separate the incident light.
- the color filters 14, 15, and 16 are provided between the semiconductor substrate 10 and the microlens 18 and are arranged in a regular pattern set in advance so as to correspond to each of the plurality of photoelectric conversion elements 11 according to the pixel position.
- FIG. 2 is a plan view showing the arrangement of the color filters 14, 15, 16 for each color.
- the arrangement example shown in FIG. 2 is a so-called Bayer arrangement.
- the color filters 14, 15, and 16 include a predetermined color pigment (colorant), a thermosetting component, and a photocuring component.
- the color filter 14 includes a green pigment as a colorant
- the color filter 15 includes a blue pigment
- the color filter 16 includes a red pigment.
- thermosetting resin and photocurable resin are included, it is preferable that the compounding quantity of thermosetting resin is larger.
- the curing component in the solid content is 5 mass% to 40 mass%
- the thermosetting resin is 5 mass% to 20 mass%
- the photocurable resin is 1 mass% to 20 mass%.
- the thermosetting resin is 5% by mass or more and 15% by mass or less
- the photocurable resin is 1% by mass or more and 10% by mass or less.
- the curing component in the solid content is in the range of 5% by mass to 40% by mass, more preferably 5% by mass to 15% by mass.
- the curing component in the solid content is in the range of 10% by mass to 40% by mass, more preferably 10% by mass to 20% by mass.
- a solid-state imaging device having the Bayer array color filter shown in FIG. 2 will be described.
- the color filter of the solid-state imaging device is not necessarily limited to the Bayer arrangement, and the color filter color is not limited to three colors of RGB.
- a transparent layer with an adjusted refractive index may be disposed in part of the color filter array.
- the film thickness A [nm] of the color filter 14 of the first color is formed to be 200 [nm] or more and 700 [nm] or less.
- the film thickness A [nm] is 400 [nm] or more and 600 [nm] or less. More preferably, the film thickness A [nm] is 500 [nm] or less.
- the film thickness of the color filters 15 and 16 of colors other than the first color is C [nm]
- the film is formed to a film thickness that satisfies the following expression (4).
- the film thickness is formed to satisfy the following formula (5).
- the film thickness of the second color filter 15 and the film thickness of the third color filter 16 may be different.
- the film thickness difference between the film thickness of (A + B) and the film thickness of C is set to 200 [nm] or less. There is a possibility that the light receiving sensitivity may decrease due to the influence of obliquely incident light on the pixel.
- the concentration of the pigment (colorant) contained in each of the first to third color filters is preferably 50% by mass or more.
- a method for manufacturing the solid-state imaging device of the first embodiment will be described.
- (Formation process of lower planarization layer) As shown in FIG. 3A, a semiconductor substrate 10 having a plurality of photoelectric conversion elements 11 is prepared, and a lower planarization layer 12 is formed on the entire surface of the filter layer forming position on the surface.
- the lower planarization layer 12 is formed of, for example, a resin including one or more resin materials such as the acrylic resin described above, or a compound such as an oxide compound or a nitride compound.
- the lower planarization layer 12 is formed by a method in which a coating liquid containing the above-described resin material is applied and heated to be cured.
- the lower planarization layer 12 may be formed by depositing the above-described compound film by various methods such as vapor deposition, sputtering, and CVD.
- the manufacturing method of the solid-state imaging device according to the present embodiment is manufactured by directly patterning the color filters 14, 15, and 16 constituting the color filter layer 30 by photolithography using a conventional photosensitive color filter material. Different from the way you do. That is, in the method for manufacturing the solid-state imaging device according to the present embodiment, after the color filter material of the first color is applied and cured on the entire surface to form the color filter layer 14A of the first color (FIG. 3 ( d)), a portion of the first color filter layer 14A where the other color filter is formed is removed by dry etching. Thereby, the pattern of the color filter 14 of the first color (see FIG. 4B) is formed.
- the second and subsequent color filters (the second and third color filter patterns 15 and 16) are formed in a pattern in which the periphery is surrounded by the pattern of the first color filter 14.
- the second and subsequent color filter materials are cured by a high-temperature heat treatment using the pattern of the first color filter 14 formed in advance as a guide pattern. Therefore, the adhesion between the semiconductor substrate 10 and the color filters 15 and 16 can be improved without the lower planarization layer 12 below the second and subsequent color filters.
- the formation process will be described.
- the color filter 14 of the first color is preferably a color filter having the widest occupied area in the solid-state imaging device.
- the color filter material 14a of the first color made of the first resin dispersion in which the colorant is dispersed is applied.
- the solid-state imaging device according to the present embodiment is assumed to use a Bayer color filter as shown in FIG. For this reason, it is preferable that the first color is green (G).
- thermosetting resin such as an epoxy resin
- photocurable resin such as an ultraviolet curable resin
- the blending amount of the photocurable resin is made smaller than the blending amount of the thermosetting resin.
- the color filter layer 14A is photocured by irradiating the entire surface of the color filter layer 14A of the first color with ultraviolet rays.
- the entire surface of the color filter layer 14A is cured. Curing is possible even if the content of is reduced.
- the color filter layer 14A of the first color is thermally cured at 200 ° C. or higher and 300 ° C. or lower. More specifically, it is preferable to heat at a temperature of 230 ° C. or higher and 270 ° C. or lower.
- a high-temperature heating process of 200 ° C. or more and 300 ° C. or less is often used when the microlens 18 is formed. Therefore, the color filter material of the first color is desirably resistant to high temperatures. . For this reason, it is more preferable to use a thermosetting resin having high temperature resistance as the resin material.
- an etching mask pattern having an opening is formed on the color filter layer 14A of the first color formed in the previous step.
- a photosensitive resin mask material is applied to the surface of the color filter layer 14 ⁇ / b> A of the first color and dried to form a photosensitive resin layer 20.
- the photosensitive resin layer 20 is exposed using a photomask (not shown), and a chemical reaction is caused in which a necessary pattern is soluble in the developer. .
- unnecessary portions (exposed portions) of the photosensitive resin layer 20 are removed by development. Thereby, the etching mask pattern 20a having the opening 20b is formed.
- a color filter of the second color or a color filter of the third color is formed in the position of the opening 20b in a later step.
- an acrylic resin, an epoxy resin, a polyimide resin, a phenol novolac resin, and other photosensitive resins can be used singly or as a mixture or copolymerized.
- the exposure machine used in the photolithography process for patterning the photosensitive resin layer 20 include a scanner, a stepper, an aligner, and a mirror projection aligner. Further, exposure may be performed by direct drawing with an electron beam, drawing with a laser, or the like.
- a stepper or a scanner is generally used to form the color filter 14 of the first color of the solid-state imaging device that needs to be miniaturized.
- the photosensitive resin mask material it is desirable to use a general photoresist in order to produce a high-resolution and high-precision pattern.
- a photoresist unlike the case of forming a pattern with a color filter material having photosensitivity, it is possible to form a pattern with easy shape control and good dimensional accuracy.
- the photoresist used at this time has high dry etching resistance.
- a thermosetting process called post-baking is often used after development in order to improve the selectivity, which is the etching rate with the etching member.
- a thermosetting process it may be difficult to remove the residual resist used as an etching mask in the removing process after dry etching.
- a photoresist what can obtain a selection ratio between etching members, without using a thermosetting process is preferable.
- a good selection ratio cannot be obtained, it is necessary to form a photoresist film with a large film thickness.
- the film thickness is increased, it becomes difficult to form a fine pattern.
- a material having high dry etching resistance is preferable as the photoresist.
- the etching rate ratio (selection ratio) between the photosensitive resin mask material that is an etching mask and the color filter material of the first color that is the target of dry etching is preferably 0.5 or more, and 0.8 The above is more preferable. With this selection ratio, it is possible to etch the color filter 14 without erasing all of the etching mask pattern 20a.
- the film thickness of the color filter material of the first color is about 0.3 ⁇ m or more and 0.8 ⁇ m or less
- the film thickness of the photosensitive resin mask layer 20a is preferably about 0.6 ⁇ m or more and 2.0 ⁇ m or less. .
- a part of the color filter layer 14A of the first color exposed from the opening 20b is removed by dry etching using an etching mask pattern and a dry etching gas.
- the dry etching method include ECR, parallel plate magnetron, DRM, ICP, or dual frequency type RIE (Reactive Ion Etching).
- the etching method is not particularly limited, but it can be controlled so that the etching rate and the etching shape do not change even if the line width or area is different, such as a large area pattern with a width of several mm or more or a micro pattern with a few hundreds of nm. Is desirable. Further, it is desirable to use a dry etching method of a control mechanism capable of uniformly performing dry etching on the entire surface of a wafer having a size of about 100 mm to 450 mm.
- the dry etching gas may be any gas that has reactivity (oxidation / reducibility), that is, an etching property.
- the gas having reactivity include a gas containing fluorine, oxygen, bromine, sulfur and chlorine.
- a rare gas containing an element that is less reactive, such as argon or helium, and that performs etching by physical impact with ions can be used alone or in combination.
- 90% or more of the total gas flow rate in the initial stage is a gas that is mainly etched by a physical impact of ions such as a rare gas, and an etching gas in which a fluorine-based gas or an oxygen-based gas is mixed therewith is used.
- the chemical reaction is also used to improve the etching rate.
- the semiconductor substrate 10 is made of a material mainly composed of silicon. Therefore, as the dry etching gas, it is desirable to use a gas that etches the color filter material and does not etch the underlying semiconductor substrate 10. Further, when a gas for etching the semiconductor substrate 10 is used, a gas for etching the semiconductor substrate 10 may be used first, and the etching may be performed by changing to a gas that does not etch the semiconductor substrate 10 during the etching. Note that the type of etching gas is not limited as long as the color filter material can be etched in a nearly vertical shape by using the etching mask pattern 20a without any influence on the semiconductor substrate 10, and the color filter material residue is not formed. .
- a rare gas containing an element with low reactivity such as argon and helium is made 90% or more of the total gas flow rate, and one or more kinds of reactive gases such as fluorine and oxygen are mixed.
- Use dry etching gas Thereby, an etching rate can be improved using a chemical reaction.
- the amount of reaction product attached to the side wall of the etching mask pattern increases, making it difficult to remove the etching mask 20. Therefore, it is desirable to facilitate removal of the etching mask 20 by changing the dry etching conditions in multiple stages according to the situation.
- etching is performed using an etching gas containing a reactive gas with a rare gas having low reactivity at 90% or more of the total gas flow rate.
- etching it is preferable to perform etching of 30% or more and 90% or less, more preferably etching of 50% or more and 80% or less with respect to the initial film thickness of the first color filter layer 14A. It is more preferable to perform etching of not less than 70% and not more than 70%.
- a rare gas with less reactivity is set to 80% or less of the total gas flow rate, and a reactive gas such as a fluorine-based gas or an oxygen-based gas or a dry etching gas in which a plurality of these gases are mixed is used. Etching is performed. At this time, the amount of the rare gas is more preferably 70% or less, and further preferably 50% or less of the total gas flow rate.
- the color filter layer 14A of the first color is etched within the range where the semiconductor substrate 10 is not etched at these gas flow rates. Thereafter, the fluorine-based gas is removed and a gas that does not chemically etch Si, for example, a single gas of oxygen or a rare gas, or a gas in which a plurality of these gases are mixed, is used to form the first color filter layer 14A. Over-etching is performed to perform etching beyond the film thickness. By performing over-etching, the influence of in-plane variation in etching of the semiconductor substrate 10 is reduced, and the color filter layer 14A of the first color at a desired position is removed on the entire surface of the semiconductor substrate 10, and the first color It is possible to form the pattern of the color filter 14.
- a gas that does not chemically etch Si for example, a single gas of oxygen or a rare gas, or a gas in which a plurality of these gases are mixed
- the first color filter layer 14A is dry-etched until it reaches the surface of the semiconductor substrate 10, and then the etching mask pattern 20a is removed to remove the first A pattern of the color filter 14 of one color can be formed.
- the portion of the lower planarization layer 12 located in the opening 20b is etched. Therefore, the lower planarization layer 12 remains only at the lower part of the pattern position of the color filter 14 of the first color.
- the dry etching process described above has a slow etching rate, and the lower flattening layer 12 at the second and subsequent color filter formation locations may not be completely removed. In that case, the distance from the microlens top to the device becomes long, and the effect of thinning the second and subsequent color filters decreases. Therefore, a further step of removing the lower planarization layer 12 is performed. Specifically, physical etching such as argon is used to remove the etching mask pattern 20 by increasing the film thickness by long-time etching, or a wet etching process using a solvent that etches the lower planarization layer 12. Implementation.
- the upper part of the color filter of the first color is covered with the etching mask pattern 20, but the color filter of the first color is exposed on the side surface except for the reaction product of dry etching.
- An etching solution that does not affect the filter material or has a slight effect is desirable.
- the removal of the etching mask pattern 20a includes a removal method in which the etching mask pattern 20a is dissolved and peeled without affecting the first color filter 14 by using, for example, a chemical solution or a solvent.
- the solvent for removing the etching mask pattern 20a include N-methyl-2-pyrrolidone, cyclohexanone, diethylene glycol monomethyl ether acetate, methyl lactate, butyl lactate, dimethyl sulfoxide, diethylene glycol diethyl ether, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl.
- An organic solvent such as ether or propylene glycol monomethyl ether acetate is used alone, or a mixed solvent obtained by mixing a plurality of organic solvents is used.
- it is desirable that the solvent used at this time does not affect the color filter material. If the color filter material is not affected, there is no problem even with a peeling method using an acid chemical.
- the etching mask pattern 20a can be removed by a method using an ashing technique that is a resist ashing technique using photoexcitation or oxygen plasma. A combination of these methods can also be used. For example, first, an altered layer by dry etching of the surface layer of the etching mask pattern 20a is removed using an ashing technique that is an ashing technique using photoexcitation or oxygen plasma, and then the remaining layers are removed by wet etching using a solvent or the like. The method of removing is mentioned. Further, the etching mask 20 may be removed only by ashing as long as the first color filter material is not damaged. Further, not only a dry process such as ashing but also a polishing process by CMP may be used.
- the patterning of the first color filter 14 is completed by the above process.
- the color filter 14 of the first color is applied to the entire surface of the semiconductor substrate 10, as shown in FIGS. 3B and 3C, photocuring and heat curing are performed on the entire surface.
- a hardening process For example, a high temperature heating process at 200 ° C. or more and 300 ° C. or less, or photocuring by exposure.
- second and third color filters 15 and 16 including a pigment having a color different from that of the first color filter 14 are formed.
- the methods for producing the patterns of the color filters 15 and 16 for the second and third colors can be roughly divided into two methods.
- the first method uses a pattern of the color filter 14 of the first color as a guide pattern, and a photosensitive color filter material containing a photocurable resin in the color filters 15 and 16 of the second and third colors. In this method, a pattern is formed by selective exposure using a conventional method.
- the color filter material of the second color is applied to the entire surface of the opening 20b formed by the patterned color filter 14 of the first color. Subsequently, dry etching is performed using the patterned photosensitive resin mask material layer as an etching mask, and an opening is provided at a position where the third color filter 16 is formed. Finally, the third color filter 16 is formed in the opening by applying the color filter material of the third color to the location of the opening and removing the excess color filter by polishing or the like. It is a technique.
- the first method is characterized in that a color filter material (color resist) having a photosensitive component is used for the color filter 15 of the second color.
- a photosensitive color filter material is applied as a second color filter material to the entire surface of the semiconductor substrate 10 on which the first color filter 14 is patterned. That is, it is applied to the entire surface of the opening 20b and dried to form the second color filter layer 15A.
- the photosensitive color filter material used at this time contains a negative photosensitive component that cures when exposed to light.
- the film thickness of the first color filter 14 is A [nm]
- the film thickness of the lower planarizing layer 12 is B [nm]
- the film thickness of the second color filter 15 is C1 [nm].
- the film thickness C1 of the color filter 15 of the second color is set so that the following expressions (1), (3), and (4a) are satisfied. 200 [nm] ⁇ A ⁇ 700 [nm] (1) 0 [nm] ⁇ B ⁇ 200 [nm] (3) C1 ⁇ A + B + 200 (4a)
- the film thickness C1 is preferably in the range of (A + B) ⁇ 200 [nm]. If the color filter 15 of the second color is in the range of the film thickness C1, it is dispersed as a pigment concentration that provides desired spectral characteristics while containing a thermosetting resin and a photocurable resin sufficient for curing. be able to.
- FIG. 5B a portion where the second color filter 15 is formed is exposed using a photomask, and a part of the second color filter layer 15A is exposed. Is photocured.
- FIG. 5C a part 15Aa (third color filter forming position) of the second color filter layer 15 that is not selectively exposed in the development process is removed. Opening 31 is formed.
- FIG. 5D in order to improve the adhesion between the part of the color filter layer 15A of the second color that has been exposed to the semiconductor substrate 10 and the heat resistance when using an actual device.
- the remaining second color filter 15 is cured by performing a curing process by high-temperature heating. Thereby, the pattern of the color filter 15 of the second color is formed.
- the temperature used for curing is preferably 200 ° C. or higher.
- the color filter material of the third color is applied to the entire surface of the semiconductor substrate 10, that is, applied to the entire surface of the opening formed in the color filter 15 of the second color.
- the third color filter layer 16A is formed.
- a portion of the third color filter layer 16 ⁇ / b> A where the third color filter 16 is formed is selectively exposed and positioned in the opening 30.
- the third color filter layer 16A is photocured.
- the photosensitive third color filter layer 16A is developed, and a part of the third color filter layer 16A that is not exposed is removed.
- FIG. 5G the photosensitive third color filter layer 16A is developed, and a part of the third color filter layer 16A that is not exposed is removed.
- the remaining third color filter layer 16A is cured by performing a curing process by heating at a high temperature. Thereby, the color filter 16 of the third color is formed. It should be noted that a color filter having a desired number of colors can be formed by repeating the pattern forming process after the second color filter 15.
- the film thickness of the color filter 16 of the third color is C2 [nm]
- the second color of the second color so as to satisfy the following expressions (1), (3), and (4b):
- the film thickness C2 of the color filter 16 is set. 200 [nm] ⁇ A ⁇ 700 [nm] (1) 0 [nm] ⁇ B ⁇ 200 [nm] (3) C2 ⁇ A + B + 200 (4b)
- the film thickness C2 only needs to be set so as to satisfy the expression (4b). Further, it is preferable that “A + B ⁇ 200 [nm] ⁇ C1 ⁇ A + B + 200” is satisfied.
- the film thickness C2 is preferably in the range of (A + B) ⁇ 200 [nm]. If the color filter 16 of the third color is in the range of this film thickness C2, it is dispersed as a pigment concentration that provides the required spectral characteristics while containing a thermosetting resin and a photocurable resin sufficient for curing. Can do.
- the heights of the second color filter 15 and the third color filter 16 are equal to the value obtained by adding the film thicknesses of the first color filter 14 and the lower planarization layer 12. At the height, a color filter is formed.
- the upper planarization layer 13 is formed on the formed color filters 14, 15 and 16.
- the upper planarization layer 13 can be formed using a resin containing one or more resin materials such as the acrylic resin described above.
- the upper planarization layer 13 can be formed by applying a resin material to the surface of the semiconductor substrate 10 and heating to cure.
- the upper planarization layer 13 can be formed using, for example, a compound such as the above-described oxide or nitride.
- the upper planarization layer 13 can be formed by various film forming methods such as vapor deposition, sputtering, and CVD.
- the microlens 18 is formed on the upper planarization layer 13.
- the microlens 18 is formed by a known technique such as a manufacturing method using heat flow, a macrolens manufacturing method using a gray tone mask, or a microlens transfer method to the upper planarization layer 13 using dry etching.
- the film thickness of the upper planarization layer 13 is, for example, 1 [nm] or more and 300 [nm] or less. Preferably it is 100 [nm] or less, More preferably, it is 60 [nm] or less.
- a method for forming a microlens by using a dry etching patterning technique having excellent shape controllability is as follows. First, as shown in FIG. May also be formed on the color filter. Next, as shown in FIG. 7B, a microlens matrix 33 (lens matrix) is formed on the transparent resin layer 32 by a heat flow method. Next, as shown in FIG. 7C, the lens matrix shape is transferred to the transparent resin layer 32 by dry etching using the lens matrix 33 as a mask. An appropriate lens shape can be transferred to the transparent resin layer 32 by selecting the height and material of the lens matrix 33 and adjusting the etching conditions. By using the above method, a microlens can be formed with good controllability. Using this technique, it is desirable to produce a microlens such that the height from the lens top to the lens bottom of the microlens is 400 to 800 nm. Through the above steps, the solid-state imaging device of this embodiment is completed.
- the color filter 14 of the first color is preferably a color filter with the largest occupied area.
- the second color filter 15 and the third color filter 16 are formed by photolithography using a photosensitive color resist.
- a technique using a color resist having photosensitivity is a conventional technique for producing a color filter pattern. Since the color filter material of the first color is applied to the entire surface of the lower planarization layer 12 and heated at a high temperature, the adhesion between the semiconductor substrate 10 and the lower planarization layer 12 can be made extremely strong. Therefore, the colors of the second and third colors are formed so as to fill the place surrounded by the four sides with the pattern of the first color filter 14 having good adhesion and good rectangularity as a guide pattern. Filters 15 and 16 can be formed.
- the portion where the second and subsequent color filters are formed is a step in which the lower planarization layer 12 is removed in the etching process when the first color filter 14 is etched, and the semiconductor substrate 10 is exposed to the surface. Yes. In this case, it is considered that the surface of the semiconductor substrate 10 is oxidized and is hydrophilic.
- the developer flows into a portion where the hydrophilic semiconductor substrate 10 and the second and subsequent color filters are in contact with each other. . For this reason, it is assumed that the second and subsequent color filters (color filters 15 and 16 of the second and third colors) are peeled off.
- the surface of the semiconductor substrate 10 exposed by an existing method for example, a method such as HDMS (hexamethyldisilazane) treatment is made hydrophobic, so that the second and subsequent colors The possibility that the filter will peel off can be reduced.
- HDMS hexamethyldisilazane
- the color filter 14 of the first color is formed of a color filter material having a low content of a resin component involved in photocuring and a high pigment content.
- the pigment content in the first color filter material is preferably set to 70% by mass or more.
- the first color filter 14 of the first color mainly focuses on photocuring, not pattern formation, reduces the photosensitive component, and further cures with the thermosetting component. It is formed using a color filter material. By doing so, the color filter 14 of the first color is in close contact with the semiconductor substrate 10 and the lower planarization layer 12, and there is no residue or peeling that occurs when other color filters are formed, and a high resolution can be achieved. Then, the color filters 15 and 16 for the second and third colors are formed by an efficient photolithography forming method using a photosensitive color filter material for the second and third colors with few steps. The By doing so, the pattern of the first color filter 14 formed first becomes an accurate pattern guide, and the patterns of the color filters 15 and 16 of the second and third colors are formed with good shape by photolithography. be able to.
- the second method is a case where the color filters 15 and 16 of the second and third colors are formed using a color filter material that does not have photosensitivity.
- the method will be described below.
- As the color filter material for the second color used at this time a thermosetting resin material that does not have photosensitivity and is cured by heating is used.
- the color filter material for the second color does not have photosensitivity, as described above, it is not necessary to add a photosensitive component, and the pigment concentration can be increased. Therefore, the film thickness of the second color filter 15 can be reduced. Thereafter, in order to cure the color filter material of the second color and form the color filter layer 15A of the second color, heating at a high temperature is performed.
- the heating temperature is preferably within a range that does not affect the device, specifically 300 ° C. or lower, and more preferably 240 ° C. or lower.
- the color filter material of the second color is excessively formed on the color filter 14 of the first color.
- an etch back process is performed using a polishing process such as CMP or a dry etching technique.
- the color filter material of the second color can be removed by a process using a known technique such as flattening or removing a desired film thickness. Further, the removal process of the extra color filter layer 15A for the second color is not a problem in the etching process for opening the formation place of the color filter 16 for the third color, which will be described later. , 15 and 16 may be performed last after the formation.
- a photosensitive resin mask material is applied to the upper portion of the second color filter layer 15 ⁇ / b> A to form a photosensitive resin mask layer 35.
- the etching mask 20 provided with the opening 20c is exposed and developed so that the place where the color filter 16 of the third color is arranged is opened.
- the third color is selected in the region of the color filter layer 15A of the second color by using the dry etching technique using the etching mask 20 provided with the opening.
- An opening 20d is formed by removing a portion unnecessary for arranging the color filter 16.
- the etching mask 20 may be subjected to a curing process such as heating or ultraviolet irradiation.
- a curing process such as heating or ultraviolet irradiation.
- the etching mask 20 is removed by a known removal method such as ashing, which is stripping with a solvent, cleaning, photoexcitation, or ashing with oxygen plasma.
- ashing which is stripping with a solvent, cleaning, photoexcitation, or ashing with oxygen plasma.
- a third color is formed so that the opening 20d is filled in the entire surface of the substrate 10 on which the color filter 14 of the first color and the color filter 15 of the second color are formed.
- the color filter material of the color is applied and heated and cured to form the color filter layer 16A of the third color.
- the extra third color filter layer 16 on the first and second color filters 14 and 15 is polished to a predetermined film thickness by CMP or the like.
- the third color filter 16 is formed by performing a process using a known technique such as flattening or removing a desired film thickness by performing an etch back process using a process or a dry etching technique. At this time, if the second color filter 15 formed excessively on the first color filter remains, there is no problem even if it is removed simultaneously.
- the color filter material is applied and cured in the same manner as the color filters 15 and 16 of the second and third colors. Can be done. Thereafter, patterning is performed and dry etching is performed using the photosensitive resin material provided with the opening as an etching mask, and the excess photosensitive resin mask layer 20a is removed, thereby forming a color filter of a plurality of colors. it can.
- the solid-state imaging device of this embodiment is completed by performing the upper planarization layer 13 and the microlens formation method on the formed color filter materials of a plurality of colors by the above-described processing.
- the above-described first method is a method of forming the color filters after the color filter 15 of the second color by photolithography.
- the color filter material after the second color filter 15 is made photocurable, and selectively exposed and developed to form the second color filter 15 and later.
- the second method described above is a formation method in which dry etching is repeated a plurality of times.
- the color filter material after the color filter 15 of the second color is provided with a thermosetting component without having a photosensitive component, and is applied to the entire surface to perform thermosetting.
- a photosensitive mask material is formed as an etching mask on the color filters 14 and 15 of the first and second colors to be left, and the second color filter 15 and later are also produced by dry etching.
- the color filters of the second and third colors are formed by repeating the same process. However, if desired spectral characteristics can be obtained, these processes can be used in combination. good.
- both the thermosetting resin and the photocurable resin are used for the color filter 14 of the first color.
- photocuring by exposure and heat curing by heat are used.
- the solvent resistance is likely to decrease. For this reason, when the solvent is contacted in the development process, the etching mask removal process, the application of the second and subsequent color filters, the development process, etc., the components of the color filter 14 of the first color are dissolved to affect the spectral characteristics.
- Solid-state imaging device and a method for manufacturing the solid-state imaging device according to the second embodiment of the present invention will be described.
- the structure of the solid-state imaging device according to the second embodiment of the present invention is the same as that of the first embodiment.
- the process of curing the first color filter is different because the process at the time of curing the first color filter is different.
- the solid-state imaging device is characterized in that the first color filter material does not include a photosensitive resin material and is formed only from a thermosetting resin. Since only the thermosetting resin is used, the pigment concentration can be improved, and there is an advantage that the color filter of the first color can be easily thinned.
- the solid-state imaging device includes a semiconductor substrate 10 having a plurality of photoelectric conversion elements 11 arranged two-dimensionally, and a microlens 18.
- the solid-state imaging device includes a color filter layer 30 including a plurality of color filters 14, 15, and 16 provided between the semiconductor substrate 10 and the microlens 18, and the semiconductor substrate 10.
- the lower planarization layer 12 provided partially and the upper planarization layer 13 provided on the surface of the color filter layer 30 are provided.
- each of the semiconductor substrate 10 having the photoelectric conversion element 11, the lower planarization layer 12, the color filters 14, 15, 16, the upper planarization layer 13, and the microlens 18 is the solid-state imaging device according to the first embodiment.
- the configuration is the same as each part. For this reason, detailed description of portions common to the respective portions of the solid-state imaging device according to the first embodiment is omitted. The same applies to other embodiments.
- a lower planarization layer 12 is formed on a semiconductor substrate 10 having a plurality of photoelectric conversion elements 11 arranged two-dimensionally.
- the lower planarization layer 12 has an effect of improving the adhesion of the color filter.
- the color filter layer 14A of the first color is formed, and the photosensitive resin mask layer 20 is formed thereon.
- the first color filter layer 14A shown in the present embodiment contains a thermosetting resin and does not contain a photocurable resin.
- the color filter may have reduced solvent resistance as described above. Therefore, high-temperature heating is performed using a thermosetting resin having solvent resistance, and heat-curing with a high crosslinking density is performed. Specifically, it is a high-temperature curing step of 230 ° C. or higher, and a high-temperature curing of 250 ° C. or higher, which is a subsequent step of the device, is more desirable.
- a photosensitive resin mask layer 20 is formed on the color filter layer 14A of the first color formed in this high temperature heating process.
- the subsequent steps are the same as those in the first embodiment described above.
- the pigment concentration can be easily increased because the color filter 14 of the first color does not include a photosensitive component and is only a thermosetting component.
- the solvent tolerance of the color filter 14 of the 1st color can be improved by raising thermosetting temperature.
- the invention according to the second embodiment has the following effects in addition to the effects described in the first embodiment.
- the solid-state imaging device according to the present embodiment is characterized in that the color filter material of the first color is composed of only a photosensitive resin as a curing component.
- the configuration including the photosensitive resin material is the same as the color filter forming step by photolithography using a color resist imparted with photosensitivity according to a conventional method.
- a photosensitive resin is used, but the conventional patterning is not performed.
- Photocuring is performed by exposing the entire surface, and then moisture of the color filter is evaporated by high-temperature heating to perform heat curing. For this reason, compared with the conventional method, since the amount of the photosensitive curing component can be reduced and the pigment concentration can be improved, there is an advantage that the color filter 14 of the first color can be easily thinned.
- the structure of the solid-state imaging device according to this embodiment is the same as the first and second structures. However, the process at the time of curing the color filter 14 of the first color is different. For this reason, it demonstrates about the hardening process of the color filter 14 of a 1st color, and a patterning process.
- a lower planarization layer 12 is formed on the surface of the semiconductor substrate 10 shown in FIG.
- a color filter layer 14A of the first color is formed on the lower planarization layer 12 by coating.
- the first color filter layer 14A is cured by exposing the entire surface and photocuring.
- the formation of the photosensitive resin mask material 40 shown in FIG. 12 is performed. To do. After patterning the photosensitive resin mask material 40, after forming the second and subsequent color filter formation portions by dry etching, the first color filter 14 can be cured by heating at a high temperature. .
- the first color filter layer 14A contains a photosensitive component that is insufficient in solvent resistance
- a high-temperature heating step of 200 ° C. or higher is performed as shown in FIG. It is desirable to sufficiently cure the first color filter layer 14A.
- the first color filter layer 14A has a soft structure as compared with the case where the high-temperature heating process is performed. This has the effect of reducing the possibility of remaining.
- the color filter 14 of the first color is formed by including only a sufficient amount of the photosensitive component for photocuring instead of pattern formation. Since it only reduces, there exists an advantage which can be produced easily and there exists an advantage which is easy to raise a pigment content rate easily. Moreover, the solvent tolerance of the color filter 14 of the 1st color can be improved by raising thermosetting temperature.
- the film thickness B [nm] of the lower planarization layer 12 is formed to be 1 [nm] or more and 200 [nm] or less.
- the film thickness B is preferably 100 [nm] or less, more preferably 60 [nm] or less.
- the thickness B of the lower planarization layer 12 is preferably as thin as possible from the viewpoint of preventing color mixing.
- a solid-state imaging device having the Bayer array color filter shown in FIG. 2 will be described.
- the color filter of the solid-state imaging device is not necessarily limited to the Bayer arrangement, and the color filter color is not limited to three colors of RGB.
- a transparent layer with an adjusted refractive index may be disposed in part of the color filter array.
- the film thickness A [nm] of the color filter 14 of the first color is formed to be 200 [nm] or more and 700 [nm] or less.
- the film thickness A [nm] is 400 [nm] or more and 600 [nm] or less. More preferably, the film thickness A [nm] is 500 [nm] or less.
- the film thickness of the color filters 15 and 16 of colors other than the first color is C [nm]
- the film is formed to a film thickness that satisfies the following expression (7).
- the film thickness satisfies A + B [nm] ⁇ C ⁇ A + B + 200 [nm] (where B ⁇ 1 [nm]).
- the film thickness of the second color filter 15 and the film thickness of the third color filter 16 may be different.
- the film thickness of the red color filter is preferably larger than the film thickness of the green color filter.
- Other configurations are the same as those of the first embodiment.
- second and subsequent color filter patterns in the fourth embodiment will be described below.
- second and third color filters 15 and 16 including a pigment having a color different from that of the first color filter 14 are formed.
- the pattern of the first color filter 14 is used as a guide pattern, and the second and third color filters 15 and 16 are formed using a photosensitive color filter material containing a photocurable resin. In this method, a pattern is formed by selective exposure using a conventional method.
- the first method is characterized in that a color filter material (color resist) having a photosensitive component is used for the color filter 15 of the second color.
- a photosensitive color filter material is applied as a second color filter material to the entire surface of the semiconductor substrate 10 on which the first color filter 14 is patterned. That is, it is applied to the entire surface of the opening 20b and dried to form the second color filter layer 15A.
- the photosensitive color filter material used at this time contains a negative photosensitive component that cures when exposed to light.
- the film thickness of the first color filter 14 is A [nm]
- the film thickness of the lower planarizing layer 12 is B [nm]
- the film thickness of the second color filter 15 is C1 [nm].
- the film thickness C1 of the color filter 15 of the second color is set so as to satisfy the following expressions (1), (6), and (7a).
- the color filter 15 of the second color is in the range of the film thickness C1, it is dispersed as a pigment concentration that provides desired spectral characteristics while containing a thermosetting resin and a photocurable resin sufficient for curing. be able to.
- FIG. 14B a portion where the second color filter 15 is formed is exposed using a photomask, and a part of the second color filter layer 15A is exposed. Is photocured.
- FIG. 14C a part 15Aa (third color filter forming position) of the second color filter layer 15A not selectively exposed in the development process is removed. Opening 31 is formed.
- FIG. 14 (d) in order to improve the adhesion between the part of the color filter layer 15A of the second color that has been exposed and the semiconductor substrate 10, and the heat resistance when using an actual device.
- the remaining second color filter 15 is cured by performing a curing process by high-temperature heating. Thereby, the pattern of the color filter 15 of the second color is formed.
- the temperature used for curing is preferably 200 ° C. or higher.
- the color filter material of the third color is applied to the entire surface of the semiconductor substrate 10, that is, the entire surface of the opening formed in the color filter 15 of the second color.
- the third color filter layer 16A is formed.
- a portion of the third color filter layer 16 ⁇ / b> A where the third color filter 16 is formed is selectively exposed and positioned in the opening 30.
- the third color filter layer 16A is photocured.
- the photosensitive third color filter layer 16A is developed, and a part of the third color filter layer 16A that is not exposed is removed.
- FIG. 14H in order to improve the adhesion between the part of the third color filter layer 16A that has been exposed to the semiconductor substrate 10 and the heat resistance when using the actual device.
- the remaining third color filter layer 16A is cured by performing a curing process by heating at a high temperature. Thereby, the color filter 16 of the third color is formed.
- a color filter having a desired number of colors can be formed by repeating the pattern forming process after the second color filter 15.
- the film thickness of the color filter 16 of the third color is C2 [nm]
- the second color of the second color so as to satisfy the following expressions (1), (6), and (7b):
- the film thickness C2 of the color filter 16 is set. 200 [nm] ⁇ A ⁇ 700 [nm] (1) 0 [nm] ⁇ B ⁇ 200 [nm] (6) A ⁇ C2 ⁇ A + B + 200 [nm] (7b) If the color filter 16 of the third color is in the range of this film thickness C2, it is dispersed as a pigment concentration that provides the required spectral characteristics while containing a thermosetting resin and a photocurable resin sufficient for curing. Can do.
- the height of the second color filter 15 and the third color filter 16 is formed higher than the film thickness of the first color filter 14 by the above process.
- the red color filter 15 is preferably formed to be higher than the sum of the thicknesses of the first color filter 14 and the lower planarization layer 12.
- the height of the color filter 15 of the second color and the color filter 16 of the third color is greater than the value obtained by adding the film thicknesses of the color filter 14 of the first color and the lower planarization layer 12. Form high.
- the upper planarization layer 13 is formed on the formed color filters 14, 15, 16.
- the upper planarization layer 13 can be formed using a resin containing one or more resin materials such as the acrylic resin described above.
- the upper planarization layer 13 can be formed by applying a resin material to the surface of the semiconductor substrate 10 and heating to cure.
- the upper planarization layer 13 can be formed using, for example, a compound such as the above-described oxide or nitride.
- the upper planarization layer 13 can be formed by various film forming methods such as vapor deposition, sputtering, and CVD.
- the microlens 18 is formed on the upper planarization layer 13.
- the microlens 18 is formed by a known technique such as a manufacturing method using heat flow, a macrolens manufacturing method using a gray tone mask, or a microlens transfer method to the upper planarization layer 13 using dry etching.
- the film thickness of the upper planarization layer 13 is, for example, 1 [nm] or more and 300 [nm] or less. Preferably it is 100 [nm] or less, More preferably, it is 60 [nm] or less.
- a method for forming a microlens by using a dry etching patterning technique having excellent shape controllability is as follows. First, a transparent resin layer 32 (upper flattening layer 13) that finally becomes a microlens. May be formed on the color filter. Next, as shown in FIG. 16B, a microlens matrix 33 (lens matrix) is formed on the transparent resin layer 32 by a heat flow method. Next, as shown in FIG. 16C, the lens matrix 33 is transferred to the transparent resin layer 32 by dry etching using the lens matrix 33 as a mask. An appropriate lens shape can be transferred to the transparent resin layer 32 by selecting the height and material of the lens matrix 33 and adjusting the etching conditions.
- a microlens can be formed with good controllability. Using this technique, it is desirable to produce a microlens such that the height from the lens top to the lens bottom of the microlens is 400 to 800 nm. Through the above steps, the solid-state imaging device of this embodiment is completed.
- the color filter 14 of the first color is preferably a color filter with the largest occupied area.
- the second color filter 15 and the third color filter 16 are formed by photolithography using a photosensitive color resist.
- a technique using a color resist having photosensitivity is a conventional technique for producing a color filter pattern. Since the color filter material of the first color is applied to the entire surface of the lower planarization layer 12 and heated at a high temperature, the adhesion between the semiconductor substrate 10 and the lower planarization layer 12 can be made extremely strong. Therefore, the colors of the second and third colors are formed so as to fill the place surrounded by the four sides with the pattern of the first color filter 14 having good adhesion and good rectangularity as a guide pattern. Filters 15 and 16 can be formed.
- the portion where the second and subsequent color filters are formed is a step in which the lower planarization layer 12 is removed in the etching process when the first color filter 14 is etched, and the semiconductor substrate 10 is exposed to the surface. Yes. In this case, it is considered that the surface of the semiconductor substrate 10 is oxidized and is hydrophilic.
- the developer flows into a portion where the hydrophilic semiconductor substrate 10 and the second and subsequent color filters are in contact with each other. . For this reason, it is assumed that the second and subsequent color filters (color filters 15 and 16 of the second and third colors) are peeled off.
- the surface of the semiconductor substrate 10 exposed by an existing method for example, a method such as HDMS (hexamethyldisilazane) treatment is made hydrophobic, so that the second and subsequent colors The possibility that the filter will peel off can be reduced.
- HDMS hexamethyldisilazane
- the present embodiment is characterized in that the second and subsequent color filters are formed thicker than the first color filter.
- the color filter 14 of the first color is desirably formed of a material for a color filter having a small content of a resin component involved in photocuring and a high pigment content.
- the pigment content in the first color filter material is preferably set to 70% by mass or more.
- a red filter or a blue filter is conventionally used by using a green filter that has the highest photosensitivity in the conventional color resist having photosensitivity.
- the first color filter When green is used for the first color filter and red and blue are used for the second and third color filters, the first color filter is formed with good rectangularity by dry etching. Signal strength increases. From the relationship of the refractive index of light, the light tends to bend from green to red and from blue to green. However, since the color filters of the second and third colors protrude to the top, red The effect of increasing the signal intensity can be expected, and the effect of preventing color mixing increases.
- the first color filter 14 of the first color mainly focuses on photocuring, not pattern formation, reducing the photosensitive component, and further curing with the thermosetting component. It is formed using a material. By doing so, the color filter 14 of the first color is in close contact with the semiconductor substrate 10 and the lower planarization layer 12, and there is no residue or peeling that occurs when other color filters are formed, and a high resolution can be achieved. Then, the color filters 15 and 16 for the second and third colors are formed by an efficient photolithography forming method using a photosensitive color filter material for the second and third colors with few steps. The By doing so, the pattern of the first color filter 14 formed first becomes an accurate pattern guide, and the patterns of the color filters 15 and 16 of the second and third colors are formed with good shape by photolithography. be able to.
- the lower flattening layer is not provided on the lower side of the color filter other than the color filter of the first color, so that it is formed relatively thicker than the color filter of the first color. Therefore, even if the whole is made thin, it can be made thin with the use of the conventional color filter material with a low pigment content except for the color filter of the first color.
- a solid-state image sensor can be provided.
- the thicknesses of the color filters 15 and 16 of the second and third colors are both (film thickness of the first color filter + film thickness of the lower planarization layer 12).
- the upper surface of the blue color filter and the upper surface of the green color file may be flush with each other.
- FIG. 8 shows an example in which the upper planarizing layer is omitted.
- the formation order of the second and subsequent color filters may be set so that a color filter having a relatively thin film thickness is formed first.
- the color filter material having a high pigment content has a problem that the solvent resistance decreases and the spectral characteristics change. Further, when patterning three or more color filters constituting the color filter layer in the dry etching process, the number of processes increases, and a plurality of residues may be generated in the dry etching. On the other hand, when the color filters for the second and subsequent colors are produced by lithography, there is a limit to reducing the thickness from the viewpoint of the content of the photosensitive resin and the patterning property, and it is difficult to reduce the thickness as with the first color filter. .
- the fourth embodiment provides a high-definition and high-sensitivity solid-state imaging device that is easy to manufacture and reduces color mixing. That is, in the fourth embodiment, since the lower level flattening layer is not provided below the color filter other than the color filter of the first color, the film thickness is relatively larger than that of the color filter of the first color. Therefore, even if the whole is thinned, it is possible to carry out thinning while using a conventional color filter material having a low pigment content other than the color filter of the first color. As a result, it is possible to provide a high-definition solid-state imaging device with reduced color mixing.
- a photosensitive resin is used, but the conventional patterning is not performed. Photocuring is performed by exposing the entire surface, and then moisture of the color filter is evaporated by high-temperature heating to perform heat curing. For this reason, compared with the conventional method, since the amount of the photosensitive curing component can be reduced and the pigment concentration can be improved, there is an advantage that the color filter 14 of the first color can be easily thinned. In this modification, the process at the time of curing the color filter 14 of the first color is different. The other operations are the same as those in the third embodiment.
- Example A is an example based on the first to third embodiments.
- Example 1-1 A coating solution containing an acrylic resin is spin-coated on a semiconductor substrate having a two-dimensionally arranged photoelectric conversion element at a rotation speed of 2000 rpm, and the resin is cured by performing a heat treatment at 200 ° C. for 20 minutes on a hot plate. did.
- a lower planarization layer was formed on the semiconductor substrate.
- the layer thickness of the lower planarization layer at this time was 60 nm.
- a green pigment dispersion containing a photosensitive curable resin and a thermosetting resin as a first color filter material containing a green pigment as the first color was spin-coated at 1000 rpm.
- the green pigment of the first color filter material has a color index of C.I. I. PG58 was used, and the pigment concentration was 70% by mass and the layer thickness was 500 nm.
- the entire surface was exposed using a stepper which is an i-line exposure device, and the photosensitive component was cured.
- the surface of the color filter was cured by curing the photosensitive component.
- baking was performed at 230 ° C. for 6 minutes to thermally cure the green filter layer.
- a positive resist (OFPR-800: manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) was spin-coated at 1000 rpm using a spin coater, and then pre-baked at 90 ° C. for 1 minute. This produced the sample which apply
- This positive resist which is the photosensitive resin mask material layer, is dissolved in the developer by causing a chemical reaction when irradiated with ultraviolet rays.
- the sample was subjected to photolithography that was exposed through a photomask.
- an exposure apparatus using an i-line wavelength as a light source was used as the exposure apparatus.
- a development process was performed using 2.38% by mass of TMAH (tetramethylammonium hydride) as a developing solution, and an etching mask having openings at positions where the second and third color filters were formed was formed.
- TMAH tetramethylammonium hydride
- dehydration baking is performed after development, and the photoresist, which is a photosensitive resin mask material layer, is often cured.
- the baking process was not performed in order to facilitate the removal of the etching mask after the dry etching. Therefore, the resist cannot be cured and the selectivity cannot be improved. Therefore, the thickness of the resist is 1.5 ⁇ m, which is more than twice the thickness of the color filter of the first color as a green filter. Formed with.
- the opening pattern at this time was 1.1 ⁇ m ⁇ 1.1 ⁇ m.
- etching was carried out by mixing three kinds of gas, CF 4 , O 2 and Ar gas.
- the gas flow rates of CF 4 and O 2 were 5 ml / min each, and the Ar gas flow rate was 200 ml / min. That is, in the total gas flow rate, the Ar gas flow rate was 95.2%.
- the pressure in the chamber was set to 1 Pa, and the RF power was set to 500 W.
- the etching conditions were changed to the following etching conditions when etching was performed up to about 350 nm corresponding to 70% of the total film thickness of the green filter layer.
- etching was performed by mixing three kinds of CF 4 , O 2 , and Ar gas.
- the gas flow rates of CF 4 and O 2 were each 25 ml / min, and the Ar gas flow rate was 50 ml / min. That is, the Ar gas flow rate was 50% in the total gas flow rate.
- the pressure in the chamber at this time was 5 Pa, and the RF power was 300 W.
- the etching was performed so that the removal of the reaction product adhering to the side surface of the photoresist which is an etching mask proceeds. Under these conditions, etching was performed to about 450 nm, which is 90% of the total film thickness of 500 nm of the green first color filter layer.
- the etching amount in the second stage is about 100 nm. Since the gas flow rates of CF 4 and O 2 were increased, the etching rate was about 5 nm / sec and proceeded very quickly.
- etching was performed using Ar single gas under the conditions of Ar gas flow rate of 200 ml / min, chamber internal pressure of 1.5 Pa, and RF power of 400 W.
- Ar gas flow rate 200 ml / min
- chamber internal pressure 1.5 Pa
- RF power 400 W
- the remaining portion of the green filter layer is etched, and at the same time, the lower planarization layer is etched.
- this etching condition has the purpose of adjusting the difference in etching rate in the plane of the etching sample, and the etching was performed so that the overetching amount was 10%.
- the film thickness is 550 nm, which is 110% with respect to the total film thickness of 500 nm of the green color filter material, and is etched under three conditions.
- etching was performed using O2 single gas under the conditions of an O2 gas flow rate of 100 ml / min, a chamber pressure of 15 Pa, and an RF power of 150 W. Under these conditions, the surface of the etching mask, which was damaged by the surface, was removed, and the residue of the green color filter material that could not be removed by the Ar single gas remaining on the bottom surface was etched.
- the photosensitive resin mask material used as an etching mask was removed. The method used at this time was a method using a solvent, and the resist was removed with a spray cleaning apparatus using a stripping solution 104 (manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.).
- a second color filter forming step was performed.
- the lower planarization layer 12 is removed in the first color filter forming step, so that the semiconductor substrate 10 is exposed. Since the surface of the semiconductor substrate 10 is formed with a surface protective layer such as SiO 2 , the surface is hydrophilic, and the color filter of the second color may be peeled off due to the wraparound of the developer in the development process. Can be considered. Therefore, HMDS treatment was performed to make the exposed semiconductor substrate 10 hydrophobic.
- a photosensitive second color filter material containing pigment-dispersed blue was applied on the entire surface of the semiconductor substrate to provide a second color filter.
- the photosensitive color filter material of the second color was selectively exposed by photolithography.
- the photosensitive color filter material was developed to form a blue filter.
- the pigment used for the photosensitive color filter material of the blue resist is C.I. I. PB156, C.I. I. PV23 and the pigment concentration was 50% by mass.
- the layer thickness of the blue color filter was 0.56 ⁇ m.
- an acrylic resin having photosensitivity was used as the resin that is the main component of the blue resist.
- the photosensitive color filter material for the second color which becomes the color filter (blue filter) for the second color, it was cured by being placed in an oven at 230 degrees for 30 minutes. After passing through this heating step, peeling and pattern collapse were not confirmed even after passing through a third color filter forming step and the like.
- the color filter of the second color is covered with the color filter of the first color having good rectangularity and is formed with good rectangularity, so that it can be cured with good adhesion between the bottom surface and the periphery. confirmed.
- a photosensitive third color filter material containing pigment-dispersed red was applied to the entire surface of the semiconductor substrate.
- a photomask pattern was selectively exposed to the photosensitive color filter material of the third color by photolithography.
- the photosensitive third color filter material was developed to form a red third color filter.
- the pigment used for the red resist is C.I. I. PR254, C.I. I. PY139, and the pigment concentration was 60% by mass.
- the layer thickness of the third color filter was 0.56 ⁇ m.
- the photosensitive red color filter material of the third color which becomes the color filter of the third color, it was cured by being placed in an oven at 230 degrees for 20 minutes. At this time, since the color filter of the third color is covered with the color filter of the first color having good rectangularity and is formed with good rectangularity, the adhesion between the bottom surface and the surroundings is good. It was confirmed to be cured.
- the film thickness C (560 nm) of the color filter is a film thickness based on the present invention.
- a coating solution containing an acrylic resin is spin-coated on the color filter formed in the above flow at a rotation speed of 1000 rpm, and subjected to a heat treatment at 200 ° C. for 30 minutes on a hot plate to cure the resin.
- An upper planarization layer was formed.
- a microlens having a height from the lens top to the lens bottom of 500 nm is formed on the upper planarizing layer using the transfer method by etch back, which is a well-known technique described above.
- a solid-state image sensor was completed.
- the lower flattening layer is thinly formed below the color filter of the first color, and the color filters of the second and third colors are formed on the semiconductor substrate.
- the first color green filter uses a thermosetting resin and a small amount of a photosensitive curable resin, the concentration of the pigment in the solid content can be increased, and the color filter can be formed thin.
- the second and third color filters, blue and red, use a photosensitive resin. Therefore, the solid-state imaging device has a small distance to the semiconductor substrate under the microlens and has good sensitivity.
- the color filter material of the first color filter consisting of a green filter has its inside hardened by thermosetting, and the surface is hardened by exposure with a small amount of photosensitive resin, thus improving solvent resistance. ing.
- a green filter material having a high pigment content it may react with a solvent or other color filter material to change the spectral characteristics. Therefore, by using the above-mentioned thermosetting and photocuring together, the hardness can be improved, and there is an effect of suppressing the change in spectral characteristics.
- Example 1-2 is an example corresponding to the solid-state imaging device having the configuration described in the second embodiment.
- the solid-state imaging device of Example 1-2 has a configuration in which only a thermosetting resin is used as a first color filter material without using a photocurable resin. Since only the thermosetting resin is used, the pigment concentration can be increased and it can be formed into a thin film.
- a coating solution containing an acrylic resin was spin-coated on a semiconductor substrate at a rotational speed of 2000 rpm, and heat treatment was performed at 200 ° C. for 20 minutes on a hot plate to cure the resin and form a lower planarization layer.
- the layer thickness of the lower planarization layer at this time was 60 nm.
- a green pigment dispersion containing a thermosetting resin and no photosensitive resin was prepared as a color filter material for the first color filter (green filter). This green pigment dispersion was spin-coated on the surface of the lower planarization layer at 1000 rpm. A thermosetting acrylic resin was used as the resin as the main component of the green pigment dispersion. In addition, the green pigment contained in the green pigment dispersion has C.I. I. PG58 was used, and the green pigment concentration in the green pigment dispersion was 70% by mass. The coating thickness of the green color filter material was 500 nm. Next, the green color filter was baked at 250 ° C. for 6 minutes to cure the green filter material to form a green filter layer. By performing high-temperature baking at 250 ° C., the crosslinking density of the thermosetting resin was improved and the green pigment was hardened more firmly.
- the photosensitive resin mask material was patterned by the method shown in Example 1-1 to form an etching mask.
- etching was carried out by mixing three kinds of gas, CF 4 , O 2 and Ar gas.
- the gas flow rate of CF 4 and O 2 was 5 ml / min, and the gas flow rate of Ar was 200 ml / min.
- Etching was performed with the pressure in the chamber at the time of etching being 1 Pa and the RF power being 500 W. Using this condition, the etching conditions were changed to the following etching conditions when etching was performed up to about 350 nm corresponding to 70% of 500 nm of the total film thickness of the green filter material.
- etching was performed using an etching gas in which three types of CF 4 , O 2 , and Ar gas were mixed.
- the gas flow rates of CF 4 and O 2 were each 25 ml / min, and the Ar gas flow rate was 50 ml / min.
- etching was performed with the pressure in the chamber being 5 Pa and the RF power being 300 W. Under these conditions, the etching was performed so that the removal of the reaction product adhering to the side surface of the photoresist which is an etching mask proceeds. Under these conditions, etching was performed to about 450 nm, which is 90% of the total film thickness of 500 nm of the first color filter layer (green filter).
- the etching amount in the second stage was about 100 nm. Since the gas flow rates of CF 4 and O 2 were increased, the etching rate was about 5 nm / sec and proceeded very quickly.
- etching was performed using Ar single gas under the conditions of Ar gas flow rate of 200 ml / min, chamber internal pressure of 1.5 Pa, and RF power of 400 W.
- Ar gas flow rate 200 ml / min
- chamber internal pressure 1.5 Pa
- RF power 400 W
- the remaining portion of the green color filter material was etched, and at the same time, the lower planarization layer was etched.
- residues remaining without being etched by the chemical reaction of the green filter can be effectively removed.
- this etching condition was also intended to adjust the difference in etching rate within the surface of the etching sample, and the etching was performed so that the overetching amount was 10%.
- the film thickness is 550 nm, which is 110% of the total film thickness of the green filter material, which is 500 nm.
- etching was performed using an O 2 single gas under the conditions of an O 2 gas flow rate of 100 ml / min, a chamber pressure of 15 Pa, and an RF power of 150 W. Under these conditions, the surface of the etching mask, which was damaged by the surface, was removed, and the green filter layer residue that could not be removed by the Ar single gas remaining on the bottom surface was etched.
- the photosensitive resin mask material used as an etching mask was removed.
- the method used at this time was a method using a solvent, and the resist was removed with a spray cleaning apparatus using a stripping solution 104 (manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.).
- Example 1-2 (Production of color filters for the second and third colors)
- the color filters of the second and third colors, the upper planarizing layer, and the microlens are formed in the same manner as in Example 1-1, and the solid of Example 1-2 is formed.
- An image sensor was formed.
- Example 1-2 is also the same as Example 1-1, using the first color filter, the green film thickness A (500 nm), the film thickness B (60 nm) of the underlying flattening layer, The film thickness C (560 nm) of blue and red, which are the color filters of the second and third colors, satisfies the film thickness defined in the present invention.
- Example 1-3 is an example corresponding to the solid-state imaging device having the configuration described in the third embodiment.
- the solid-state imaging device shown in Example 1-3 has a configuration in which only the photocurable resin is used as the material for the first color filter without using the thermosetting resin.
- it is different from the process of patterning a conventional color resist having a photosensitivity as described later, and it is only necessary to cure the entire surface by exposure, so that the pigment content can be increased. Can be formed.
- a coating solution containing an acrylic resin was spin-coated on a semiconductor substrate at a rotational speed of 2000 rpm, and heat treatment was performed at 200 ° C. for 20 minutes on a hot plate to cure the resin and form a lower planarization layer.
- the layer thickness of the lower planarization layer at this time was 60 nm.
- a green pigment dispersion containing a photosensitive resin and no thermosetting resin was prepared as a color filter material for the first color filter (green filter). This green pigment dispersion was spin-coated on the surface of the lower planarization layer at 1000 rpm.
- a photocurable acrylic resin was used as the resin that is the main component of the green pigment dispersion.
- the green pigment contained in the green pigment dispersion has C.I. I. PG58 was used, and the green pigment concentration in the green pigment dispersion was 70% by mass.
- the coating thickness of the green color filter material was 500 nm.
- the entire surface of the wafer was exposed to light by using an i-line stepper type exposure apparatus for the green filter material.
- the light-cured green filter was baked at 230 ° C. for 6 minutes to cure the green filter material to form a green filter layer.
- a positive resist (OFPR-800: manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) is spin coated on the surface of the green filter layer at a rotation speed of 1000 rpm using a spin coater, and then prebaked at 90 ° C. for 1 minute. It was.
- a sample in which a photoresist, which is a photosensitive resin mask material, was applied to a film thickness of 1.5 ⁇ m was produced.
- the positive resist which is this photosensitive resin mask material, undergoes a chemical reaction and is dissolved in the developer by ultraviolet irradiation.
- this sample was subjected to photolithography that was exposed through a photomask.
- an exposure apparatus using an i-line wavelength as a light source was used as the exposure apparatus.
- a development process is performed using 2.38% by mass of TMAH (tetramethylammonium hydride) as a developer, and a photoresist having openings at positions where the second and third color filters are formed is formed.
- TMAH tetramethylammonium hydride
- the photoresist which is a photosensitive resin mask material
- the baking process was not performed in order to facilitate the removal of the etching mask after the dry etching. Therefore, since the resist cannot be cured and the improvement of the selection ratio cannot be expected, the film thickness of the photoresist is 1.5 ⁇ m, which is more than twice the film thickness of the first color filter that is a green filter. Formed with.
- the size of the opening at this time was 1.1 ⁇ m ⁇ 1.1 ⁇ m.
- dry etching was performed using the formed photosensitive resin mask material layer as an etching mask.
- a parallel plate type dry etching apparatus was used as a dry etching apparatus.
- dry etching was performed in multiple stages so as not to affect the underlying semiconductor substrate.
- Etching was performed by mixing three types of gas, CF 4 , O 2 and Ar gas.
- the gas flow rates of CF 4 and O 2 were 5 ml / min each, and the Ar gas flow rate was 200 ml / min.
- Etching was performed with the pressure in the chamber at the time of etching being 1 Pa and the RF power being 500 W. Using this condition, the etching conditions were changed to the following etching conditions when etching was performed up to about 350 nm corresponding to 70% of 500 nm of the total film thickness of the green filter material.
- etching was performed using an etching gas in which three types of CF 4 , O 2 , and Ar gas were mixed.
- the gas flow rates of CF 4 and O 2 were each 25 ml / min, and the Ar gas flow rate was 50 ml / min.
- etching was performed with the pressure in the chamber being 5 Pa and the RF power being 300 W. Under these conditions, the etching was performed so that the removal of the reaction product adhering to the side surface of the photoresist which is an etching mask proceeds. Under these conditions, etching was performed to about 450 nm, which is 90% of the total film thickness of 500 nm of the green first color filter layer.
- the etching amount in the second stage is about 100 nm. Since the gas flow rates of CF 4 and O 2 were increased, the etching rate was about 5 nm / sec and proceeded very quickly.
- etching was performed using Ar single gas under the conditions of Ar gas flow rate of 200 ml / min, chamber internal pressure of 1.5 Pa, and RF power of 400 W.
- Ar gas flow rate 200 ml / min
- chamber internal pressure 1.5 Pa
- RF power 400 W
- the remaining portion of the green filter layer was etched, and at the same time, the lower planarization layer was etched.
- this etching condition has the purpose of adjusting the difference in etching rate in the plane of the etching sample, and the etching was performed so that the overetching amount was 10%.
- the film thickness is 550 nm, which is 110% with respect to the total film thickness of 500 nm of the green color filter material, and is etched under three conditions.
- etching was performed using an O 2 single gas under the conditions of an O 2 gas flow rate of 100 ml / min, a chamber pressure of 15 Pa, and an RF power of 150 W. Under these conditions, the surface of the etching mask, which was damaged by the surface, was removed, and the green color filter film residue that could not be removed by the Ar single gas remaining on the bottom surface was etched.
- the photosensitive resin mask material used as an etching mask was removed. The method used at this time was a method using a solvent, and the resist was removed with a spray cleaning apparatus using a stripping solution 104 (manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.).
- Example 1-3 (Production of color filters for the second and third colors)
- the color filters of the second and third colors, the upper planarizing layer, and the microlens are formed in the same manner as in Example 1-1, and the solid of Example 1-3 is formed.
- An image sensor was formed.
- Example 1-3 is also the same as Example 1-1, using the first color filter, the green film thickness A (500 nm), the film thickness B (60 nm) of the underlying planarizing layer, and the first color filter.
- the film thickness C (560 nm) of blue and red, which are the color filters of the second and third colors, satisfies the film thickness defined in the present invention.
- the green filter which is the color filter of the first color, is cured by ultraviolet irradiation and then heat-cured by high-temperature heating.
- the green filter is used in the development process for patterning the photosensitive resin mask material used as an etching mask and the cleaning process for removing the photosensitive resin mask material after dry etching, even if it is hardened by photocuring. This is because there is a possibility of peeling off. Due to the effect of this embodiment, the surface of the green pattern can be hardened with a photosensitive component at a high density, and even when the pigment concentration is high, the solvent resistance is improved.
- ⁇ Conventional method> Based on the conventional method described in Patent Document 1, a color filter of each color was formed by a photolithography process. However, the film thickness of three colors of green, blue, and red was set to a thin film of 700 nm, and a lower flattening layer (60 nm) was provided under the entire color filter of each color. Other than that, a solid-state imaging device according to a conventional method was manufactured in the same manner as in the first example.
- Example A Each example in Example A is different in the curing method of the color filter of the first color, but the film thickness A (500 nm) of green and the film thickness B (60 nm) of the underlying flattening layer, the second and second The film thickness is C (560 nm) of blue and red, which are color filters of the three colors.
- the intensity of the red, green and blue signals of the solid-state imaging device of each embodiment the spectral characteristics of the three colors of green, blue and red are adjusted to 700 nm by conventional photolithography. The intensities of the red signal, the green signal, and the blue signal of the manufactured solid-state imaging device were evaluated. Table 1 below shows the evaluation results of the signal intensity of each color.
- the solid-state imaging devices of Examples 1-1 to 1-3 in which the green filter was thinned and formed with good rectangularity using a dry etching method were formed by conventional photolithography. Compared to the case, the signal intensity of each color increased. According to the manufacturing method of this example, the green filter film thickness is 500 nm, the film thickness of the lower planarizing layer (60 nm) is 560 nm, and the red and blue filter film thicknesses are 560 nm. Compared to the case where the filter film thickness is formed by photolithography, the distance from the microlens top to the device could be shortened by reducing the film thickness by 20%.
- the thinned film reduces the probability that incident light from an oblique direction passes through the color filter and travels to another color filter pattern, and suppresses light traveling to another color filter pattern from entering another photoelectric conversion element.
- the signal intensity is increased because the color mixture is reduced.
- the flattened layer with blue and red colors formed by etching with good rectangularity is removed, and the distance from the microlens top to the device is shorter than the color filter formed by photolithography, and the signal intensity is reduced. Increased.
- the heights of the color filter 15 of the second color and the color filter 16 of the third color are the same as those of the color filter 14 of the first color and the lower layer by using the method of Example 1-1 to Example 1-3. Even when the color filter is formed at a height lower than the value obtained by adding the film thickness of the flattening layer 12, when the film thickness is reduced, the pigment content is increased, so that the color filter is formed by conventional photolithography. Compared with the signal intensity increased.
- Example B Next, Example B will be described.
- Example B is an example based on the fourth embodiment.
- the first color filter is composed of a green film thickness A (500 nm) and a flattening layer film thickness B (60 nm) below it, and blue and red.
- the film thicknesses C (700 nm) of the color filters of the second and third colors were set to satisfy the film thickness defined in the fourth embodiment.
- a coating solution containing an acrylic resin is spin-coated on the color filter formed in the above flow at a rotation speed of 1000 rpm, and subjected to a heat treatment at 200 ° C. for 30 minutes on a hot plate to cure the resin.
- An upper planarization layer was formed.
- a microlens having a height from the lens top to the lens bottom of 500 nm is formed on the upper planarization layer using the transfer method by etch back, which is a well-known technique described above.
- a solid-state image sensor was completed.
- the lower flattening layer is thinly formed below the color filter of the first color, and the color filters of the second and third colors are formed on the semiconductor substrate.
- the first color green filter uses a thermosetting resin and a small amount of a photosensitive curable resin, the concentration of the pigment in the solid content can be increased, and the color filter can be formed thin.
- the second and third color filters, blue and red, use a photosensitive resin.
- the color filters of the second and third colors are not thinned to match the color filter of the first color, and the thickness of the photosensitive resin is increased so that the pattern can be formed satisfactorily. Formed.
- the total film thickness is reduced compared to the conventional method of pattern formation using photolithography. The distance from the lens to the light receiving element can be formed short.
- the color filter material of the first color filter which is a green filter
- a green filter material having a high pigment content it may react with a solvent or other color filter material to change the spectral characteristics. Therefore, by using the above-mentioned thermosetting and photocuring together, the hardness can be improved, and there is an effect of suppressing the change in spectral characteristics.
- Example 2-2 In Example 2-2, the same method as in Example 1-2 was used. However, in the same way as in Example 2-1, Example 2-2 also uses the first color filter with a green film thickness A (500 nm) and a flattening layer film thickness B (60 nm) below it, the second and second color filters. The film thickness C (700 nm) of blue and red, which are color filters of the three colors, was used.
- Example 2-3 was produced in the same manner as Example 1-3. However, according to the above process, Example 2-2 is also the same as Example 2-1, with the first color filter, the green film thickness A (500 nm) and the underlying flattening film thickness B (60 nm). The film thickness C (700 nm) of blue and red as the color filters of the second and third colors was set.
- the heat curing is performed by heating at a high temperature.
- the green filter is used in the development process for patterning the photosensitive resin mask material used as an etching mask and the cleaning process for removing the photosensitive resin mask material after dry etching, even if it is hardened by photocuring. This is because there is a possibility of peeling off. Due to the effect of this embodiment, the surface of the green pattern can be hardened with a photosensitive component at a high density, and even when the pigment concentration is high, the solvent resistance is improved.
- ⁇ Conventional method> Based on the conventional method described in Patent Document 1, a color filter of each color was formed by a photolithography process. However, the film thickness of three colors of green, blue, and red was set to a thin film of 700 nm, and a lower flattening layer (60 nm) was provided under the entire color filter of each color. Other than that, a solid-state imaging device according to a conventional method was manufactured in the same manner as in the first example.
- Example B is different in the curing method of the color filter of the first color.
- the intensity of the red, green and blue signals of the solid-state imaging device of each embodiment the spectral characteristics of the three colors of green, blue and red are adjusted to 700 nm by conventional photolithography.
- the intensities of the red signal, the green signal, and the blue signal of the manufactured solid-state imaging device were evaluated. Table 1 below shows the evaluation results of the signal intensity of each color.
- the solid-state imaging devices of Examples 2-1 to 2-3 in which the green filter was thinned and formed with good rectangularity by using a dry etching method, were formed by conventional photolithography. Compared with the solid-state imaging device, the signal intensity of each color increased.
- the green filter film thickness was 500 nm
- the film thickness of the lower planarizing layer (60 nm) was 560 nm
- the red and blue filter film thicknesses were 700 nm. Since the red and blue filter film thickness when formed by all-color photolithography is 760 nm together with the film thickness (60 nm) of the lower planarization layer, the red and blue filter film thickness of this embodiment is flattened. A thin layer (60 nm) could be obtained. In particular, the film thickness of the green filter was great, and the distance from the microlens top to the device could be shortened.
- the flattened layer with blue and red colors formed by etching with good rectangularity is removed, and the distance from the microlens top to the device is shorter than the color filter formed by photolithography, and the signal intensity is reduced. Increased. From the above results, it was found that the blue and red filters have a structure that can easily obtain a thinning effect even when a conventional color filter material having a low pigment content is used.
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Abstract
混色を低減した高精細で感度の良い固体撮像素子を提供する。固体撮像素子は、複数の光電変換素子(11)を二次元的に配置した半導体基板(10)と、光電変換素子(11)に対応させて複数色の色フィルターを予め設定した規則パターンで二次元的に配置した色フィルター層(30)と、第1の色の色フィルター(14)と半導体基板(10)との間のみに配置された下層平坦化層(12)と、を備える。第1の色の色フィルター(14)の膜厚をA[nm]、上記下層平坦化層(12)の膜厚をB[nm]、第1の色以外の色の色フィルター(15、16)の膜厚をC[nm]とした場合に、下記式を満足する。 200[nm]≦A≦700[nm] 0[nm]≦B≦200[nm] C≦A+B+200[nm]
Description
本発明は、CCD、CMOS等の光電変換素子を使用した固体撮像素子に関する技術である。
デジタルカメラ等に搭載されるCCD(電荷結合素子)やCMOS(相補型金属酸化膜半導体)等の固体撮像素子は、近年、高画素化、微細化が進んでおり、特に微細なものでは1.4μm×1.4μmを下回るレベルの画素サイズとなっている。
固体撮像素子は、画素のそれぞれに配置された光電変換素子と、所定の色パターンからなる色フィルター層とによってカラー化を図っている。また、各光電変換素子が光電変換に寄与する領域(開口部)は、固体撮像素子のサイズや画素数に依存する。その開口部は、固体撮像素子の全面積に対し、20~50%程度に限られている。開口部が小さいことはそのまま光電変換素子の感度低下につながることから、固体撮像素子では感度低下を補うために、光電変換素子上に集光用のマイクロレンズを形成することが一般的である。
また、近年、裏面照射の技術を用いたイメージセンサが開発されており、光電変換素子の開口部を固体撮像素子の全面積の50%以上にすることができるようになっている。しかしながら、この場合、一の色フィルターに対し隣接する他の色フィルターの漏れ光が入る可能性があるため、適切なサイズや形状のマイクロレンズを形成することが必要となっている。
また、近年、裏面照射の技術を用いたイメージセンサが開発されており、光電変換素子の開口部を固体撮像素子の全面積の50%以上にすることができるようになっている。しかしながら、この場合、一の色フィルターに対し隣接する他の色フィルターの漏れ光が入る可能性があるため、適切なサイズや形状のマイクロレンズを形成することが必要となっている。
所定パターンの色フィルター層を形成する方法としては、通常、特許文献1に記載のように、フォトリソグラフィプロセスによって各色の色フィルターをパターン形成する手法が用いられる。
また、他のパターン形成の方法として、特許文献2には、固体撮像素子上に、1色目の色フィルター層をドライエッチング工程によりパターニングして形成し、2色目以降の色フィルター層をフォトリソグラフィ工程によりパターニングして形成する方法が記載されている。
更に、特許文献3には、全ての色の色フィルターをドライエッチングによりパターニングして形成する方法が記載されている。
また、他のパターン形成の方法として、特許文献2には、固体撮像素子上に、1色目の色フィルター層をドライエッチング工程によりパターニングして形成し、2色目以降の色フィルター層をフォトリソグラフィ工程によりパターニングして形成する方法が記載されている。
更に、特許文献3には、全ての色の色フィルターをドライエッチングによりパターニングして形成する方法が記載されている。
近年、800万画素を超える高精細CCD撮像素子への要求が大きくなり、これら高精細CCDにおいて付随する色フィルターパターンの画素サイズとして1.4μm×1.4μmを下回るレベルの撮像素子への要求が大きくなっている。しかしながら、画素サイズを小さくすることにより、フォトリソグラフィプロセスでパターン形成された色フィルター層の解像性が不足し、固体撮像素子の特性に悪影響を及ぼすという問題が生じている。一辺が1.4μm以下、あるいは1.1μmや0.9μm近傍の画素サイズの固体撮像素子では、解像性の不足がパターンの形状不良に起因する色むらとなって現れる。
また、画素サイズが小さくなると、色フィルター層のパターンのアスペクト比が大きくなる(色フィルター層のパターンの幅に対して厚みが大きくなる)。このような色フィルター層をフォトリソグラフィプロセスでパターン形成する場合、本来除去されるべき部分(画素の有効外部分)が完全に除去されず、残渣となって他の色の画素に悪影響を及ぼしてしまう。このとき、残渣を除去するために現像時間を延長する等の方法を行った場合、硬化させた必要な画素まで剥がれてしまうという問題も発生している。
また、満足する分光特性を得ようとすると、色フィルターの膜厚を厚くせざるを得ない。しかしながら、色フィルターの膜厚が厚くなると、画素の微細化が進むに従って、パターン形成した各色フィルターの角が丸まる等、解像度が低下する傾向となる。色フィルターの膜厚を厚くし且つ分光特性を得ようとすると、色フィルターの材料に含まれる顔料濃度(着色剤の濃度)を上げる必要がある。しかしながら、顔料濃度を上げると光硬化反応に必要な光が色フィルター層の底部まで届かず、色フィルター層の硬化が不十分となるおそれがある。このため、フォトリソグラフィにおける現像工程で色フィルター層が剥離し、画素欠陥が発生するという問題がある。
また、色フィルターの膜厚を薄くし且つ分光特性を得るために色フィルターの材料に含まれる顔料濃度を上げた場合、相対的に光硬化成分を低減させることになる。このため、色フィルター層の光硬化が不十分となり、形状の悪化、面内での形状不均一、形状崩れ等が発生しやすくなる。また、十分に光硬化させるために硬化時の露光量を多くすることで、スループットが低下するという問題が発生する。
色フィルター層のパターンの高精細化により、色フィルター層の膜厚は、製造工程上の問題だけではなく、固体撮像素子としての特性にも影響する。色フィルター層の膜厚が厚い場合、斜め方向から入射した光が特定色の色フィルターによって分光されたのち、隣接する他の色のフィルターパターン部及びその下の光電変換素子に入光する場合がある。この場合、混色が生じるという問題が発生する。この混色の問題は、画素サイズが小さくなり、パターンサイズを規定する画素サイズと色フィルターの膜厚とのアスペクト比が大きくなるにつれて顕著になる。また、入射光の混色という問題は、光電変換素子が形成された基板上に平坦化層等の材料を形成することで、色フィルターパターンと光電変換素子との距離が長くなる場合にも顕著に生じる。このため、色フィルター層やその下部に形成される平坦化層等の膜厚の薄膜化が重要となる。
以上のことから、固体撮像素子の画素数を増やすためには、色フィルター層のパターンの高精細化が必要であり、また色フィルター層の薄膜化が重要となる。
上述のように、従来の、色フィルター材料に感光性を持たせてフォトリソグラフィにより形成される色フィルター層のパターン形成は、画素の寸法の微細化が進むにつれて、色フィルター層の膜厚の薄膜化も求められる。この場合、色フィルター材料中の顔料成分の含有割合が増えることから、感光性成分を十分な量含有できず、解像性が得られない、残渣が残りやすい、画素剥がれが生じやすいという問題があり、固体撮像素子の特性を低下させる課題があった。
上述のように、従来の、色フィルター材料に感光性を持たせてフォトリソグラフィにより形成される色フィルター層のパターン形成は、画素の寸法の微細化が進むにつれて、色フィルター層の膜厚の薄膜化も求められる。この場合、色フィルター材料中の顔料成分の含有割合が増えることから、感光性成分を十分な量含有できず、解像性が得られない、残渣が残りやすい、画素剥がれが生じやすいという問題があり、固体撮像素子の特性を低下させる課題があった。
そこで、色フィルター層のパターンの微細化及び薄膜化を行うために、特許文献2、3の技術が提案されている。特許文献2、3では、色フィルター用材料中の顔料濃度を向上できるように、感光性成分を含有しなくてもパターニングが可能なドライエッチングにより複数色の色フィルターをパターン形成している。これらのドライエッチングを用いる技術により、顔料濃度を向上させることが可能となり、薄膜化を行っても十分な分光特性を得られる色フィルターパターンが作製可能となる。
しかしながら、発明者らは、特許文献2、3では各色フィルターの膜厚の関係が示されておらず、全ての色フィルターで高感度化できない場合があることを知見した。
本発明は、上述のような点に鑑みてなされたものであって、混色を低減した高精細で感度の良い固体撮像素子を提供することを目的とする。
本発明は、上述のような点に鑑みてなされたものであって、混色を低減した高精細で感度の良い固体撮像素子を提供することを目的とする。
課題の解決のために、本発明の一態様である固体撮像素子は、複数の光電変換素子を二次元的に配置した半導体基板と、上記半導体基板上に形成され、各光電変換素子に対応させて複数色の色フィルターを予め設定した規則パターンで二次元的に配置した色フィルター層と、場合によって設けられ、上記複数色から選択した第1の色の色フィルターと半導体基板との間のみに配置された下層平坦化層と、を備え、上記第1の色の色フィルターの膜厚をA[nm]、上記下層平坦化層の膜厚をB[nm]、上記第1の色以外の色の色フィルターの膜厚をC[nm]とした場合に、下記(1)式及び(2)式、若しくは(1)式、(3)式及び(4)式を満足することを要旨とする。上記の下層平坦化層は省略されていても良い。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
C≦A+200[nm] ・・・(2)
又は
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]≦B≦200[nm] ・・・(3)
C≦A+B+200[nm] ・・・(4)
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
C≦A+200[nm] ・・・(2)
又は
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]≦B≦200[nm] ・・・(3)
C≦A+B+200[nm] ・・・(4)
また、本発明の態様である固体撮像素子の製造方法は、半導体基板上に、下層平坦化層を形成し、その上に第1の色の色フィルター用の塗布液を塗布し硬化させて、下層平坦化層及び色フィルター層をこの順に形成した後、第1の色の色フィルターの配置位置以外の色フィルター層部分及びその除去する色フィルター層部分の下層に位置する下層平坦化層部分をドライエッチングによって除去して第1の色の色フィルターを形成する第1の工程と、第1の工程後に、第1の色の以外の色の色フィルターを、フォトリソグラフィ若しくはドライエッチングによってパターニングして形成する第2の工程と、を有する。
上記の下層平坦化層の形成を省略しても良い。
上記の下層平坦化層の形成を省略しても良い。
本発明の態様によれば、各色フィルターの膜厚を全て薄膜化しマイクロレンズトップからデバイスまでの総距離を短くすることが可能となることから、混色を低減でき、パターン配置した全ての色フィルターが高感度化した高精細な固体撮像素子を提供することが可能となる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。
ここで、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法との関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なる。また、以下に示す各実施形態は、本発明の技術的思想を具体化するための構成を例示するものであって、本発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造等が下記のものに特定されるものでない。本発明の技術的思想は、特許請求の範囲に記載された請求項が規定する技術的範囲内において、種々の変更を加えることができる。
ここで、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法との関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なる。また、以下に示す各実施形態は、本発明の技術的思想を具体化するための構成を例示するものであって、本発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造等が下記のものに特定されるものでない。本発明の技術的思想は、特許請求の範囲に記載された請求項が規定する技術的範囲内において、種々の変更を加えることができる。
「第1の実施形態」
<固体撮像素子の構成>
本実施形態に係る固体撮像素子は、図1に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10と、半導体基板10の上方に配置された複数のマイクロレンズ18からなるマイクロレンズ群と、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられた色フィルター層30とを備えている。色フィルター層30は、複数色の色フィルター14、15、16が所定の規則パターンで配置されて構成される。
本実施形態の固体撮像素子は、半導体基板10の表面に形成された下層平坦化層12が最も面積の広い色フィルター14の下部にのみ形成されている。もっとも、半導体基板10と色フィルター14との密着性が別途確保可能な場合には、下層平坦化層12は形成されていなくても良い。
また、色フィルター層30と複数のマイクロレンズ18からなるマイクロレンズ群との間に、上層平坦化層13が形成されている。
<固体撮像素子の構成>
本実施形態に係る固体撮像素子は、図1に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10と、半導体基板10の上方に配置された複数のマイクロレンズ18からなるマイクロレンズ群と、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられた色フィルター層30とを備えている。色フィルター層30は、複数色の色フィルター14、15、16が所定の規則パターンで配置されて構成される。
本実施形態の固体撮像素子は、半導体基板10の表面に形成された下層平坦化層12が最も面積の広い色フィルター14の下部にのみ形成されている。もっとも、半導体基板10と色フィルター14との密着性が別途確保可能な場合には、下層平坦化層12は形成されていなくても良い。
また、色フィルター層30と複数のマイクロレンズ18からなるマイクロレンズ群との間に、上層平坦化層13が形成されている。
以下、本実施形態に係る固体撮像素子の説明にあたり、製造工程上最初に形成する、最も面積が広い色フィルターを第1の色の色フィルター14と定義する。また、製造工程上二番目に形成する色フィルターを第2の色の色フィルター15、製造工程上三番目に形成する色フィルターを第3の色の色フィルター16と定義する。他の実施形態であっても同様である。
本実施形態に係る固体撮像素子では、第1の色の色フィルター14には、熱硬化性樹脂と光硬化性樹脂を含んでいる。光硬化性樹脂の含有量は、熱硬化性樹脂の含有量よりも少ない。
本実施形態に係る固体撮像素子では、第1の色の色フィルター14には、熱硬化性樹脂と光硬化性樹脂を含んでいる。光硬化性樹脂の含有量は、熱硬化性樹脂の含有量よりも少ない。
ここで、第1の色の色フィルター14は、最も面積が広い色フィルターで無くとも良く、また一番最初に形成される色フィルターで無くても良い。
また本実施形態では、色フィルター層30が、複数色がグリーン、レッド、ブルーの3色から構成され、ベイヤー配列の配置パターンで配置される場合で例示するが、4色以上からなる色フィルター層であってもよい。
以下の説明では、第1の色がグリーンの場合を想定して説明するが、第1の色がブルー若しくはレッドであっても良い。
以下、固体撮像素子の各部について詳細に説明する。
また本実施形態では、色フィルター層30が、複数色がグリーン、レッド、ブルーの3色から構成され、ベイヤー配列の配置パターンで配置される場合で例示するが、4色以上からなる色フィルター層であってもよい。
以下の説明では、第1の色がグリーンの場合を想定して説明するが、第1の色がブルー若しくはレッドであっても良い。
以下、固体撮像素子の各部について詳細に説明する。
(光電変換素子及び半導体基板)
半導体基板10は、画素に対応させて複数の光電変換素子11が二次元的に配置されている。各光電変換素子11は、光を電気信号に変換する機能を有している。
光電変換素子11が形成されている半導体基板10は、通常、表面(光入射面)の保護及び平坦化を目的として、最表面に保護膜が形成されている。半導体基板10は、可視光を透過して、少なくとも300℃程度の温度に耐えられる材料で形成されている。このような材料としては、例えば、Si、SiO2等の酸化物及びSiN等の窒化物、並びにこれらの混合物等、Siを含む材料等が挙げられる。
半導体基板10は、画素に対応させて複数の光電変換素子11が二次元的に配置されている。各光電変換素子11は、光を電気信号に変換する機能を有している。
光電変換素子11が形成されている半導体基板10は、通常、表面(光入射面)の保護及び平坦化を目的として、最表面に保護膜が形成されている。半導体基板10は、可視光を透過して、少なくとも300℃程度の温度に耐えられる材料で形成されている。このような材料としては、例えば、Si、SiO2等の酸化物及びSiN等の窒化物、並びにこれらの混合物等、Siを含む材料等が挙げられる。
(マイクロレンズ)
各マイクロレンズ18は、画素位置に対応させて、半導体基板10の上方に配置されている。すなわち、マイクロレンズ18は、半導体基板10に二次元配置された複数の光電変換素子11毎に設けられる。マイクロレンズ18は、マイクロレンズ18に入射した入射光を光電変換素子11のそれぞれに集光させることにより、光電変換素子11の感度低下を補う。
マイクロレンズ18は、レンズトップからレンズボトムの高さが400nm以上800nm以下の範囲であることが好ましい。
各マイクロレンズ18は、画素位置に対応させて、半導体基板10の上方に配置されている。すなわち、マイクロレンズ18は、半導体基板10に二次元配置された複数の光電変換素子11毎に設けられる。マイクロレンズ18は、マイクロレンズ18に入射した入射光を光電変換素子11のそれぞれに集光させることにより、光電変換素子11の感度低下を補う。
マイクロレンズ18は、レンズトップからレンズボトムの高さが400nm以上800nm以下の範囲であることが好ましい。
(下層平坦化層)
下層平坦化層12は、半導体基板10の表面保護及び平坦化のために設けられた層である。すなわち、下層平坦化層12は、光電変換素子11の作製による半導体基板10の上面の凹凸を低減し、色フィルター用材料の密着性を向上させる。
本実施形態では、下層平坦化層12は、第1の色の色フィルター14の下部以外の箇所は後述するドライエッチング工程その他で除去されて存在していない。
下層平坦化層12は、半導体基板10の表面保護及び平坦化のために設けられた層である。すなわち、下層平坦化層12は、光電変換素子11の作製による半導体基板10の上面の凹凸を低減し、色フィルター用材料の密着性を向上させる。
本実施形態では、下層平坦化層12は、第1の色の色フィルター14の下部以外の箇所は後述するドライエッチング工程その他で除去されて存在していない。
下層平坦化層12は、例えばアクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、フェノールノボラック系樹脂、ポリエステル系樹脂、ウレタン系樹脂、メラミン系樹脂、尿素系樹脂及びスチレン系樹脂等の樹脂を一又は複数含んだ樹脂により形成される。また、下層平坦化層12は、これらの樹脂に限らず、波長が400nmから700nmの可視光を透過し、色フィルター14、15、16のパターン形成や密着性を阻害しない材料であれば、いずれも用いることができる。
下層平坦化層12は、色フィルター14、15、16の分光特性に影響を与えない樹脂により形成されることが好ましい。例えば、下層平坦化層12は、波長が400nmから700nmの可視光に対して透過率90%以上となるように形成されることが好ましい。
ここで、第1の色の色フィルター14の下側に設ける下層平坦化層12を省略しても良い。
本実施形態では、下層平坦化層12の膜厚B[nm]を、0[nm]以上200[nm]以下に形成する。膜厚Bは好ましくは100[nm]以下であり、更に好ましくは60[nm]以下である。下層平坦化層12の膜厚Bは、混色防止の観点からは薄いほど好ましい。
ここで、第1の色の色フィルター14の下側に設ける下層平坦化層12を省略しても良い。
本実施形態では、下層平坦化層12の膜厚B[nm]を、0[nm]以上200[nm]以下に形成する。膜厚Bは好ましくは100[nm]以下であり、更に好ましくは60[nm]以下である。下層平坦化層12の膜厚Bは、混色防止の観点からは薄いほど好ましい。
(上層平坦化層)
上層平坦化層13は、色フィルター14、15、16の上面を平坦化するために設けられた層である。
上層平坦化層13は、例えばアクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、フェノールノボラック系樹脂、ポリエステル系樹脂、ウレタン系樹脂、メラミン系樹脂、尿素系樹脂、スチレン系樹脂等の樹脂を一又は複数含んだ樹脂により形成される。なお、上層平坦化層13は、マイクロレンズ18と一体化していても問題ない。
上層平坦化層13の膜厚は、例えば1[nm]以上300[nm]以下である。好ましくは100[nm]以下、より好ましくは60[nm]以下である。混色防止の観点からは薄いほど好ましい。
上層平坦化層13は、色フィルター14、15、16の上面を平坦化するために設けられた層である。
上層平坦化層13は、例えばアクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、フェノールノボラック系樹脂、ポリエステル系樹脂、ウレタン系樹脂、メラミン系樹脂、尿素系樹脂、スチレン系樹脂等の樹脂を一又は複数含んだ樹脂により形成される。なお、上層平坦化層13は、マイクロレンズ18と一体化していても問題ない。
上層平坦化層13の膜厚は、例えば1[nm]以上300[nm]以下である。好ましくは100[nm]以下、より好ましくは60[nm]以下である。混色防止の観点からは薄いほど好ましい。
(色フィルター)
所定パターンで色フィルター層30を構成する色フィルター14、15、16は、入射光を色分解する各色に対応するフィルターである。色フィルター14、15、16は、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられ、画素位置に応じて、複数の光電変換素子11のそれぞれに対応するように予め設定された規則パターンで配置されている。
図2に、各色の色フィルター14、15、16の配列を平面的に示す。図2に示す配列例は、いわゆるベイヤー配列である。
色フィルター14、15、16は、所定の色の顔料(着色剤)と、熱硬化成分や光硬化成分を含んでいる。例えば、色フィルター14は着色剤としてグリーン顔料を含み、色フィルター15はブルー顔料を含み、色フィルター16はレッド顔料を含んでいる。
所定パターンで色フィルター層30を構成する色フィルター14、15、16は、入射光を色分解する各色に対応するフィルターである。色フィルター14、15、16は、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられ、画素位置に応じて、複数の光電変換素子11のそれぞれに対応するように予め設定された規則パターンで配置されている。
図2に、各色の色フィルター14、15、16の配列を平面的に示す。図2に示す配列例は、いわゆるベイヤー配列である。
色フィルター14、15、16は、所定の色の顔料(着色剤)と、熱硬化成分や光硬化成分を含んでいる。例えば、色フィルター14は着色剤としてグリーン顔料を含み、色フィルター15はブルー顔料を含み、色フィルター16はレッド顔料を含んでいる。
本実施形態では、熱硬化性樹脂と光硬化性樹脂とを含んでいるが、熱硬化性樹脂の配合量の方が多いことが好ましい。この場合、例えば、固形分中の硬化成分は5質量%以上40質量%以下とし、熱硬化性樹脂を5質量%以上20質量%以下とし、光硬化性樹脂を1質量%以上20質量%以下、好ましくは熱硬化性樹脂を5質量%以上15質量%以下とし、光硬化性樹脂を1質量%以上10質量%以下の範囲とする。
ここで、硬化成分を熱硬化成分のみとする場合には、固形分中の硬化成分は5質量%以上40質量%以下、より好ましくは5質量%以上15質量%以下の範囲とする。一方、硬化成分を光硬化成分のみとする場合には、固形分中の硬化成分は10質量%以上40質量%以下、より好ましくは10質量%以上20質量%以下の範囲とする。
ここで、硬化成分を熱硬化成分のみとする場合には、固形分中の硬化成分は5質量%以上40質量%以下、より好ましくは5質量%以上15質量%以下の範囲とする。一方、硬化成分を光硬化成分のみとする場合には、固形分中の硬化成分は10質量%以上40質量%以下、より好ましくは10質量%以上20質量%以下の範囲とする。
本実施形態では、図2に示すベイヤー配列の色フィルターを有する固体撮像素子について説明する。しかしながら、固体撮像素子の色フィルターは、必ずしもベイヤー配列に限定されず、また、色フィルターの色もRGBの3色にも限定されない。また、色フィルターの配列の一部に屈折率を調整した透明の層を配置してもよい。
第1の色の色フィルター14の膜厚A[nm]は、200[nm]以上700[nm]以下に形成する。好ましくは、膜厚A[nm]は、400[nm]以上600[nm]以下である。より好ましくは膜厚A[nm]は500[nm]以下である。
第1の色の色フィルター14の膜厚A[nm]は、200[nm]以上700[nm]以下に形成する。好ましくは、膜厚A[nm]は、400[nm]以上600[nm]以下である。より好ましくは膜厚A[nm]は500[nm]以下である。
また、第1の色以外の色の色フィルター15、16の膜厚をC[nm]とした場合に、下記(4)式を満足する膜厚に形成する。
C≦A+B+200[nm] ・・・(4)
好ましくは、下記(5)式を満足する膜厚に形成する。
A+B-200[nm]≦C≦A+B+200[nm]・・・(5)
但し、第2の色の色フィルター15の膜厚と、第3の色の色フィルター16の膜厚とが異なっていても良い。
ここで、(A+B)の膜厚とCの膜厚との膜厚差を200[nm]以下としているのは、一部の膜厚差が200[nm]を越える部分があると、他の画素への斜め入射光の影響により、受光感度が低下するおそれがある。また、200[nm]を越える段差が形成される場合、上部のマイクロレンズ18の形成が困難となる場合がある。
また、色フィルター層30を薄膜化するため、第1~第3の色の各色フィルターに含有する顔料(着色剤)の濃度は、50質量%以上であることが好ましい。
C≦A+B+200[nm] ・・・(4)
好ましくは、下記(5)式を満足する膜厚に形成する。
A+B-200[nm]≦C≦A+B+200[nm]・・・(5)
但し、第2の色の色フィルター15の膜厚と、第3の色の色フィルター16の膜厚とが異なっていても良い。
ここで、(A+B)の膜厚とCの膜厚との膜厚差を200[nm]以下としているのは、一部の膜厚差が200[nm]を越える部分があると、他の画素への斜め入射光の影響により、受光感度が低下するおそれがある。また、200[nm]を越える段差が形成される場合、上部のマイクロレンズ18の形成が困難となる場合がある。
また、色フィルター層30を薄膜化するため、第1~第3の色の各色フィルターに含有する顔料(着色剤)の濃度は、50質量%以上であることが好ましい。
<固体撮像素子の製造方法>
次に、図3及び図4を参照して、第1の実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
(下層平坦化層の形成工程)
図3(a)に示すように、複数の光電変換素子11を有する半導体基板10を準備し、その表面のフィルター層形成位置全面に、下層平坦化層12を形成する。下層平坦化層12は、例えば上述したアクリル系樹脂等の樹脂材料を一つもしくは複数含んだ樹脂や、酸化化合物、窒化化合物等の化合物により形成される。
下層平坦化層12は、上述した樹脂材料を含む塗布液を塗布して加熱を行い硬化させる方法によって形成される。また、下層平坦化層12は、上述した化合物の膜を、蒸着、スパッタ、CVD等の各種方法で成膜することにより形成してもかまわない。
次に、図3及び図4を参照して、第1の実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
(下層平坦化層の形成工程)
図3(a)に示すように、複数の光電変換素子11を有する半導体基板10を準備し、その表面のフィルター層形成位置全面に、下層平坦化層12を形成する。下層平坦化層12は、例えば上述したアクリル系樹脂等の樹脂材料を一つもしくは複数含んだ樹脂や、酸化化合物、窒化化合物等の化合物により形成される。
下層平坦化層12は、上述した樹脂材料を含む塗布液を塗布して加熱を行い硬化させる方法によって形成される。また、下層平坦化層12は、上述した化合物の膜を、蒸着、スパッタ、CVD等の各種方法で成膜することにより形成してもかまわない。
ここで、本実施形態に係る固体撮像素子の製造方法は、従来の感光性色フィルター用材料を用いてフォトリソグラフィによって色フィルター層30を構成する各色フィルター14、15、16を直接パターニングして製造する方法とは異なる。
すなわち、本実施形態に係る固体撮像素子の製造方法では、第1の色の色フィルター用材料を全面に塗布し硬化させて第1の色の色フィルター層14Aを形成した後で(図3(d)参照)、その第1の色の色フィルター層14Aにおける他の色フィルターを形成する箇所をドライエッチングで除去する。これにより、第1の色の色フィルター14のパターン(図4(b)参照)が形成される。そして、周辺が第1の色の色フィルター14のパターンで囲まれている部分に第2以降の色フィルター(第2、第3の色の色フィルターのパターン15、16)をパターン形成する。このとき、先に形成した第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとして用いて、高温の加熱処理により第2以降の色フィルター材料を硬化させる。このため、第2以降の色フィルターの下側に下層平坦化層12が無くても、半導体基板10と色フィルター15、16との密着性を向上させることができる。
以下、その形成工程について説明する。
すなわち、本実施形態に係る固体撮像素子の製造方法では、第1の色の色フィルター用材料を全面に塗布し硬化させて第1の色の色フィルター層14Aを形成した後で(図3(d)参照)、その第1の色の色フィルター層14Aにおける他の色フィルターを形成する箇所をドライエッチングで除去する。これにより、第1の色の色フィルター14のパターン(図4(b)参照)が形成される。そして、周辺が第1の色の色フィルター14のパターンで囲まれている部分に第2以降の色フィルター(第2、第3の色の色フィルターのパターン15、16)をパターン形成する。このとき、先に形成した第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとして用いて、高温の加熱処理により第2以降の色フィルター材料を硬化させる。このため、第2以降の色フィルターの下側に下層平坦化層12が無くても、半導体基板10と色フィルター15、16との密着性を向上させることができる。
以下、その形成工程について説明する。
(第1の色の色フィルター層形成工程(第1の工程))
まず、図3(b)~(d)に示すように、半導体基板10上に形成した下層平坦化層12の表面に、第1の色の色フィルター14を形成する工程について説明する。ガイドパターンとしては、第1の色の色フィルター14は、固体撮像素子で最も占有面積の広い色の色フィルターが好ましい。
複数の光電変換素子11が二次元的に配置された半導体基板10上に形成した下層平坦化層12の表面に、図3(b)のように、樹脂材料を主成分とし第1の顔料(着色剤)を分散させた第1の樹脂分散液からなる第1の色の色フィルター用材料14aを塗布する。本実施形態に係る固体撮像素子は、図2に示すようにベイヤー配列の色フィルターを用いることを想定している。このため、第1の色は、グリーン(G)であることが好ましい。
まず、図3(b)~(d)に示すように、半導体基板10上に形成した下層平坦化層12の表面に、第1の色の色フィルター14を形成する工程について説明する。ガイドパターンとしては、第1の色の色フィルター14は、固体撮像素子で最も占有面積の広い色の色フィルターが好ましい。
複数の光電変換素子11が二次元的に配置された半導体基板10上に形成した下層平坦化層12の表面に、図3(b)のように、樹脂材料を主成分とし第1の顔料(着色剤)を分散させた第1の樹脂分散液からなる第1の色の色フィルター用材料14aを塗布する。本実施形態に係る固体撮像素子は、図2に示すようにベイヤー配列の色フィルターを用いることを想定している。このため、第1の色は、グリーン(G)であることが好ましい。
第1の色の色フィルター用材料の樹脂材料としては、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂及び紫外線硬化樹脂等の光硬化性樹脂を含有する混合樹脂を用いる。但し、光硬化性樹脂の配合量を熱硬化性樹脂の配合量よりも少なくする。樹脂材料として熱硬化性樹脂を多く用いることで、硬化性樹脂として光硬化性樹脂を多く用いる場合と異なり、第1の色の色フィルター層14Aの顔料含有率を高くすることが可能となり、薄膜で且つ所望の分光特性を得られる第1の色の色フィルター14を形成し易くなる。
ただし、本実施形態では、熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂の両方を含有する混合樹脂で説明するが、必ずしも混合樹脂に限定されず、いずれか一方の硬化性樹脂のみを含有する樹脂でもよい。
ただし、本実施形態では、熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂の両方を含有する混合樹脂で説明するが、必ずしも混合樹脂に限定されず、いずれか一方の硬化性樹脂のみを含有する樹脂でもよい。
次に、図3(c)に示すように、第1の色の色フィルター層14Aの全面に紫外線を照射して、色フィルター層14Aを光硬化する。本実施形態では、従来手法のように色フィルター用材料に感光性を持たせて露光することで所望のパターンを直接形成する場合と異なり、色フィルター層14Aの全面を硬化するため、感光性成分の含有量を低下させても硬化が可能となる。
次に、図3(d)に示すように、第1の色の色フィルター層14Aを200℃以上300℃以下で熱硬化する。より具体的には、230℃以上270℃以下の温度で加熱することが好ましい。固体撮像素子の製造においては、マイクロレンズ18の形成時に200℃以上300℃以下の高温加熱工程が用いられることが多いため、第1の色の色フィルター用材料は、高温耐性があることが望ましい。このため、樹脂材料として、高温耐性のある熱硬化性樹脂を用いることがより好ましい。
(エッチングマスクパターン形成工程)
次に、図3(e)から図3(g)に示すように、前工程で形成した第1の色の色フィルター層14A上に開口部を有するエッチングマスクパターンを形成する。
まず、図3(e)に示すように、第1の色の色フィルター層14Aの表面に、感光性樹脂マスク材料を塗布して乾燥し、感光性樹脂層20を形成する。
次に、図3(f)に示すように、感光性樹脂層20に対してフォトマスク(図示せず)を用いて露光し、必要なパターン以外が現像液に可溶となる化学反応を起こす。
次に、図3(g)に示すように、現像により感光性樹脂層20の不要部(露光部)を除去する。これにより、開口部20bを有するエッチングマスクパターン20aが形成される。開口部20bの位置には、後の工程で第2の色の色フィルター又は第3の色の色フィルターが形成される。
次に、図3(e)から図3(g)に示すように、前工程で形成した第1の色の色フィルター層14A上に開口部を有するエッチングマスクパターンを形成する。
まず、図3(e)に示すように、第1の色の色フィルター層14Aの表面に、感光性樹脂マスク材料を塗布して乾燥し、感光性樹脂層20を形成する。
次に、図3(f)に示すように、感光性樹脂層20に対してフォトマスク(図示せず)を用いて露光し、必要なパターン以外が現像液に可溶となる化学反応を起こす。
次に、図3(g)に示すように、現像により感光性樹脂層20の不要部(露光部)を除去する。これにより、開口部20bを有するエッチングマスクパターン20aが形成される。開口部20bの位置には、後の工程で第2の色の色フィルター又は第3の色の色フィルターが形成される。
感光性樹脂材料としては、例えば、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、フェノールノボラック系樹脂、その他の感光性を有する樹脂を単独でもしくは複数混合あるいは共重合して用いることができる。感光性樹脂層20をパターニングするフォトリソグラフィプロセスに用いる露光機は、スキャナー、ステッパー、アライナー、ミラープロジェクションアライナーが挙げられる。また、電子線での直接描画、レーザでの描画等により露光を行ってもよい。なかでも、微細化の必要な固体撮像素子の第1の色の色フィルター14を形成するためには、ステッパーやスキャナーが一般的に用いられる。
感光性樹脂マスク材料としては、高解像で高精度なパターンを作製するために、一般的なフォトレジストを用いることが望ましい。フォトレジストを用いることで、感光性を持たせた色フィルター用材料でパターンを形成する場合と異なり、形状制御が容易で、寸法精度の良いパターンを形成することが出来る。
この際用いるフォトレジストは、ドライエッチング耐性の高いものが望ましい。ドライエッチング時のエッチングマスク材として用いる場合は、エッチング部材とのエッチング速度である選択比を向上させるために、現像後にポストベークと呼ばれる熱硬化工程が用いられることが多い。しかし、熱硬化工程が含まれると、ドライエッチング後に、エッチングマスクとして用いた残留レジストの除去工程での除去が困難となることがある。このため、フォトレジストとしては、熱硬化工程を用いなくてもエッチング部材との間で選択比が得られるものが好ましい。また、良好な選択比が得られない場合、フォトレジスト材料の膜厚を厚く形成する必要があるが、厚膜化すると微細パターン形成が困難となる。このため、フォトレジストとしては、ドライエッチング耐性が高い材料が好ましい。
具体的には、エッチングマスクである感光性樹脂マスク材料とドライエッチングの対象である第1の色の色フィルター用材料のエッチング速度比(選択比)は、0.5以上が好ましく、0.8以上がより好ましい。この選択比があれば、エッチングマスクパターン20aを全て消滅させることなく、色フィルター14をエッチングする事が可能である。第1の色の色フィルター用材料の膜厚が0.3μm以上0.8μm以下程度の場合、感光性樹脂マスク層20aの膜厚は、0.6μm以上2.0μm以下程度であることが望ましい。
またこの際に用いるフォトレジストとしては、ポジ型レジスト又は、ネガ型レジストのどちらでも問題ない。しかしながら、エッチング後のフォトレジスト除去を考えると、外部要因により、化学反応が進み硬化する方向に変化するネガ型レジストよりも、化学反応が進み溶解する方向に化学反応が起こりやすいポジ型レジストが望ましい。
以上のようにして、エッチングマスクパターンが形成される。
以上のようにして、エッチングマスクパターンが形成される。
(第1の色の色フィルター形成工程)
エッチングマスクパターン及びドライエッチングガスを用いたドライエッチングにより、図4(a)に示すように、開口部20bから露出する第1の色の色フィルター層14Aの一部分を除去する。
ドライエッチングの手法としては、例えば、ECR、平行平板マグネトロン、DRM、ICP、あるいは2周波タイプのRIE(Reactive Ion Etching)等が挙げられる。エッチング方式については特に制限されないが、幅数mm以上の大面積パターンや数百nmの微小パターン等の線幅や面積が異なってもエッチングレートや、エッチング形状が変わらないように制御できる方式のものが望ましい。また100mmから450mm程度のサイズのウエハ全面で、面内均一にドライエッチングできる制御機構のドライエッチング手法を用いることが望ましい。
エッチングマスクパターン及びドライエッチングガスを用いたドライエッチングにより、図4(a)に示すように、開口部20bから露出する第1の色の色フィルター層14Aの一部分を除去する。
ドライエッチングの手法としては、例えば、ECR、平行平板マグネトロン、DRM、ICP、あるいは2周波タイプのRIE(Reactive Ion Etching)等が挙げられる。エッチング方式については特に制限されないが、幅数mm以上の大面積パターンや数百nmの微小パターン等の線幅や面積が異なってもエッチングレートや、エッチング形状が変わらないように制御できる方式のものが望ましい。また100mmから450mm程度のサイズのウエハ全面で、面内均一にドライエッチングできる制御機構のドライエッチング手法を用いることが望ましい。
ドライエッチングガスは、反応性(酸化性・還元性)を有する、すなわちエッチング性のあるガスであればよい。反応性を有するガスとしては、例えば、フッ素、酸素、臭素、硫黄及び塩素等を含むガスを挙げることができる。また、アルゴンやヘリウム等の反応性が少なくイオンでの物理的衝撃によるエッチングを行う元素を含む希ガスを単体又は混合させて使用することが出来る。またガスを用いてのプラズマ環境下でのドライエッチング工程で、所望のパターンを形成する反応を起こすガスであれば、これらには限定されなくても問題ない。本実施形態では初期の段階で全ガス流量の90%以上を希ガス等のイオンの物理的衝撃が主体でエッチングを行うガスとし、そこにフッ素系ガスや酸素系ガスを混合したエッチングガスを用いることで、化学反応も利用してエッチングレートを向上させる。
本実施形態では、半導体基板10はシリコンを主体とした材料により構成されている。このため、ドライエッチングガスとしては、色フィルター用材料をエッチングし、且つ下地の半導体基板10をエッチングしないガスを用いることが望ましい。また、半導体基板10をエッチングするガスを用いる場合には、最初に半導体基板10をエッチングするガスを用い、途中で半導体基板10をエッチングしないガスに変更してエッチングを行う多段階エッチングとしてもよい。なお、半導体基板10に影響がなく、エッチングマスクパターン20aを用いて垂直に近い形状で色フィルター用材料のエッチングができ、色フィルター用材料の残渣が形成されなければ、エッチングガスの種類は制限されない。
本実施形態では、アルゴン、ヘリウム等の反応性の少ない元素を含む希ガスを全ガス流量の90%以上にして、且つフッ素系及び酸素系等の反応性を有するガス種が1種類以上混合されたドライエッチングガスを用いる。これにより、化学反応を用いてエッチングレートを向上させられる。
また、このエッチング条件でエッチングを実施した場合、エッチングマスクパターン側壁への反応生成物の付着量が多くなり、エッチングマスク20の除去が困難となる。そのため、ドライエッチング条件を、状況に応じて多段階で変更することでエッチングマスク20の除去を容易とすることが望ましい。
また、このエッチング条件でエッチングを実施した場合、エッチングマスクパターン側壁への反応生成物の付着量が多くなり、エッチングマスク20の除去が困難となる。そのため、ドライエッチング条件を、状況に応じて多段階で変更することでエッチングマスク20の除去を容易とすることが望ましい。
具体的には、エッチング初期において、反応性の少ない希ガスを全ガス流量の90%以上とし、かつ反応性を有するガスを含むエッチングガスを用いてエッチングを行う。このとき、第1の色の色フィルター層14Aの初期膜厚に対して、30%以上90%以下のエッチングを行うことが好ましく、50%以上80%以下のエッチングを行うことがより好ましく、60%以上70%以下のエッチングを行うことが更に好ましい。
次の段階では、反応性の少ない希ガスを全ガス流量の80%以下とし、且つフッ素系ガスや、酸素系ガス等の反応性を有するガス又はこれらを複数混合させたドライエッチングガスを用いてエッチングを行う。このとき、希ガスの量は、全ガス流量の70%以下であることがより好ましく、50%以下であることが更に好ましい。
次の段階では、反応性の少ない希ガスを全ガス流量の80%以下とし、且つフッ素系ガスや、酸素系ガス等の反応性を有するガス又はこれらを複数混合させたドライエッチングガスを用いてエッチングを行う。このとき、希ガスの量は、全ガス流量の70%以下であることがより好ましく、50%以下であることが更に好ましい。
次に、これらのガス流量で、半導体基板10をエッチングしない範囲で、第1の色の色フィルター層14Aのエッチングを行う。その後、フッ素系ガスを除去して、Siを化学的にエッチングしないガス、例えば、酸素や希ガスの単ガス、又はこれら複数を混合したガスを用いて、第1の色の色フィルター層14Aの膜厚以上にエッチングを行うオーバーエッチングを行う。オーバーエッチングを行うことで、半導体基板10のエッチングの面内ばらつきによる影響を低減して、半導体基板10の全面で所望の位置の第1の色の色フィルター層14Aを除去し、第1の色の色フィルター14のパターンを形成することが可能となる。
上述した条件で、図4(b)に示すように、半導体基板10表面に達するまで第1の色の色フィルター層14Aのドライエッチングを行った後、エッチングマスクパターン20aを除去することで、第1の色の色フィルター14のパターンを形成することができる。本実施形態において、開口部20bから露出する第1の色の色フィルター層14Aの一部分を除去する際、開口部20bに位置する下層平坦化層12の部分がエッチングされる。そのため第1の色の色フィルター14のパターン位置の下部のみ、下層平坦化層12が残存する構成となる。
下層平坦化層12の材質によっては、前述したドライエッチング工程では、エッチングレートが遅く、第2以降の色フィルター形成箇所の下層平坦化層12が除去しきれない場合がある。その場合は、マイクロレンズトップからデバイスまでの距離が長くなり、第2以降の色フィルターの薄膜化の効果が低下する。このため、更なる下層平坦化層12の除去工程を実施する。具体的には、アルゴンなどの物理的エッチングを用い、エッチングマスクパターン20の膜厚を増加しての長時間エッチングによる除去や、下層平坦化層12をエッチングする溶剤を用いてのウェットエッチング工程の実施である。この場合、第1の色の色フィルターの上部は、エッチングマスクパターン20に覆われているが、側面はドライエッチングの反応生成物以外は第1の色の色フィルターが露出しているため、色フィルター材に影響を与えないか、もしくは影響が軽微なエッチング液が望ましい。
次に、残存しているエッチングマスクパターン20aの除去を行う(図4(b)参照)。エッチングマスクパターン20aの除去には、例えば薬液や溶剤を用いることで第1の色の色フィルター14に影響を与えず、エッチングマスクパターン20aを溶解、剥離する除去方法が挙げられる。エッチングマスクパターン20aを除去する溶剤としては、例えば、N-メチル-2-ピロリドン、シクロヘキサノン、ジエチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、乳酸メチル、乳酸ブチル、ジメチルスルホキシド、ジエチレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等の有機溶剤を単独もしくは、複数を混合した混合溶剤が用いられる。また、この際用いる溶剤は、色フィルター用材料に影響を与えないものであることが望ましい。色フィルター用材料に影響を与えないのであれば、酸系の薬品を用いた剥離方法でも問題ない。
また、溶剤等のウェットプロセス以外の除去方法も用いることができる。光励起や酸素プラズマを用いたレジストの灰化技術であるアッシング技術を用いる方法により、エッチングマスクパターン20aを除去することができる。また、これらの方法を組み合わせて用いることもできる。例えば、始めに、光励起や酸素プラズマによる灰化技術であるアッシング技術を用いて、エッチングマスクパターン20aの表層のドライエッチングによる変質層を除去した後、溶剤等を用いたウェットエッチングにより残りの層を除去する方法が挙げられる。また、第1の色の色フィルター用材料にダメージの無い範囲であれば、アッシングのみでエッチングマスク20を除去しても構わない。また、アッシング等のドライプロセスだけでなく、CMPによる研磨工程等を用いても良い。
上記の工程により、第1の色の色フィルター14のパターニング形成が完了する。
第1の色の色フィルター14は、半導体基板10の全面に塗布した時点で、図3(b)(c)に示すように、全面に光硬化及び熱硬化を行っているが、現像工程や洗浄工程を行うため、更に硬化工程を用いてもよい。たとえば、200℃以上、300℃以下での高温加熱工程や、露光による光硬化である。
第1の色の色フィルター14は、半導体基板10の全面に塗布した時点で、図3(b)(c)に示すように、全面に光硬化及び熱硬化を行っているが、現像工程や洗浄工程を行うため、更に硬化工程を用いてもよい。たとえば、200℃以上、300℃以下での高温加熱工程や、露光による光硬化である。
(第2以降の色フィルターのパターンの形成工程(第2の工程)について)
次に、図5に示すように、第1の色の色フィルター14とは異なる色の顔料を含む第2、第3の色の色フィルター15、16を形成する。第2、第3の色の色フィルター15、16のパターンの作製方法は、大きく分けて2つの手法を用いることができる。
第1の手法は、第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとすると共に、第2、第3の色の色フィルター15、16に光硬化性樹脂を含んだ感光性色フィルター用材料を用いて形成し、従来手法で選択的に露光してパターンを形成する手法である。
次に、図5に示すように、第1の色の色フィルター14とは異なる色の顔料を含む第2、第3の色の色フィルター15、16を形成する。第2、第3の色の色フィルター15、16のパターンの作製方法は、大きく分けて2つの手法を用いることができる。
第1の手法は、第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとすると共に、第2、第3の色の色フィルター15、16に光硬化性樹脂を含んだ感光性色フィルター用材料を用いて形成し、従来手法で選択的に露光してパターンを形成する手法である。
第2の手法は、パターニングした第1の色の色フィルター14で形成された開口部20b全面に、第2の色の色フィルター用材料を塗布する。続いて、パターニングを行った感光性樹脂マスク材料層をエッチングマスクとしてドライエッチングを行い、第3の色の色フィルター16の形成箇所に開口部を設ける。最後に、その開口部の場所に第3の色の色フィルター用材料を塗布して、余分な色フィルターを研磨等で除去することで、開口部内に第3の色の色フィルター16を形成する手法である。
(第2以降の色フィルターのパターンを形成する第1の手法)
はじめに、第2以降の色フィルターのパターンを形成する第1の手法について図5を用いて説明する。第1の手法は、第2の色の色フィルター15に感光性成分を有した色フィルター材料(カラーレジスト)を用いることに特徴がある。
まず図5(a)に示すように、第1の色の色フィルター14をパターン形成した半導体基板10の表面全面に、第2の色の色フィルター用材料として感光性色フィルター用材料を塗布、すなわち開口部20b全面に塗布し、乾燥を行い第2の色の色フィルター層15Aを形成する。この際用いる感光性色フィルター用材料は、光を当てることで硬化するネガ型の感光性成分を含有する。
はじめに、第2以降の色フィルターのパターンを形成する第1の手法について図5を用いて説明する。第1の手法は、第2の色の色フィルター15に感光性成分を有した色フィルター材料(カラーレジスト)を用いることに特徴がある。
まず図5(a)に示すように、第1の色の色フィルター14をパターン形成した半導体基板10の表面全面に、第2の色の色フィルター用材料として感光性色フィルター用材料を塗布、すなわち開口部20b全面に塗布し、乾燥を行い第2の色の色フィルター層15Aを形成する。この際用いる感光性色フィルター用材料は、光を当てることで硬化するネガ型の感光性成分を含有する。
この際、第1の色の色フィルター14の膜厚をA[nm]、下層平坦化層12の膜厚をB[nm]、第2の色の色フィルター15の膜厚をC1[nm]とした場合に、下記(1)式、(3)式及び(4a)式を満足するように、第2の色の色フィルター15の膜厚C1を設定する。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]≦B≦200[nm] ・・・(3)
C1≦A+B+200 ・・・ ・・・(4a)
図5では、A+B=C1の場合を例示しているが、(4a)式を満足するように膜厚C1が設定されていればよい。
更に「A+B-200[nm]≦C1≦A+B+200」を満足することが好ましい。すなわち、膜厚C1は(A+B)±200[nm]の範囲に収まっていることが好ましい。
第2の色の色フィルター15として、この膜厚C1の範囲であれば、硬化に十分な熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂を含みながら、所望の分光特性が得られる顔料濃度として、分散することができる。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]≦B≦200[nm] ・・・(3)
C1≦A+B+200 ・・・ ・・・(4a)
図5では、A+B=C1の場合を例示しているが、(4a)式を満足するように膜厚C1が設定されていればよい。
更に「A+B-200[nm]≦C1≦A+B+200」を満足することが好ましい。すなわち、膜厚C1は(A+B)±200[nm]の範囲に収まっていることが好ましい。
第2の色の色フィルター15として、この膜厚C1の範囲であれば、硬化に十分な熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂を含みながら、所望の分光特性が得られる顔料濃度として、分散することができる。
次に、図5(b)に示すように、第2の色の色フィルター15を形成する部分に対して、フォトマスクを用いて露光を行い、第2の色の色フィルター層15Aの一部を光硬化させる。
次に、図5(c)のように、現像工程で選択的に露光されていない第2の色の色フィルター層15の一部15Aa(第3の色の色フィルター形成位置)を除去して開口部31を形成する。次に、図5(d)に示すように露光を行った第2の色の色フィルター層15Aの一部と半導体基板10との密着性向上、及び実デバイス利用での耐熱性を向上させるために、高温加熱での硬化処理を行うことで残存した第2の色の色フィルター15を硬化させる。これにより、第2の色の色フィルター15のパターンを形成する。この際、硬化に用いる温度は、200℃以上が好ましい。
次に、図5(c)のように、現像工程で選択的に露光されていない第2の色の色フィルター層15の一部15Aa(第3の色の色フィルター形成位置)を除去して開口部31を形成する。次に、図5(d)に示すように露光を行った第2の色の色フィルター層15Aの一部と半導体基板10との密着性向上、及び実デバイス利用での耐熱性を向上させるために、高温加熱での硬化処理を行うことで残存した第2の色の色フィルター15を硬化させる。これにより、第2の色の色フィルター15のパターンを形成する。この際、硬化に用いる温度は、200℃以上が好ましい。
次に、図5(e)に示すように、第3の色の色フィルター用材料を半導体基板10の全面に塗布、すなわち第2の色の色フィルター15に形成した開口部の全面に塗布して、第3の色の色フィルター層16Aを形成する。
次に、図5(f)に示すように、第3の色の色フィルター層16Aのうちの第3の色の色フィルター16を形成する箇所を選択的に露光し、開口部30に位置する第3の色の色フィルター層16Aを光硬化させる。
次に、図5(g)のように、感光性の第3の色の色フィルター層16Aを現像し、露光されていない第3の色の色フィルター層16Aの一部を除去する。次に、図5(h)のように、露光を行った第3の色の色フィルター層16Aの一部と半導体基板10との密着性向上及び実デバイス利用での耐熱性を向上させるために、高温加熱での硬化処理を行うことで残存した第3の色の色フィルター層16Aを硬化させる。これにより、第3の色の色フィルター16が形成される。
なお、この第2の色の色フィルター15以降のパターン形成工程を繰り返すことで、所望の色数の色フィルターを形成することができる。
次に、図5(f)に示すように、第3の色の色フィルター層16Aのうちの第3の色の色フィルター16を形成する箇所を選択的に露光し、開口部30に位置する第3の色の色フィルター層16Aを光硬化させる。
次に、図5(g)のように、感光性の第3の色の色フィルター層16Aを現像し、露光されていない第3の色の色フィルター層16Aの一部を除去する。次に、図5(h)のように、露光を行った第3の色の色フィルター層16Aの一部と半導体基板10との密着性向上及び実デバイス利用での耐熱性を向上させるために、高温加熱での硬化処理を行うことで残存した第3の色の色フィルター層16Aを硬化させる。これにより、第3の色の色フィルター16が形成される。
なお、この第2の色の色フィルター15以降のパターン形成工程を繰り返すことで、所望の色数の色フィルターを形成することができる。
この際、第3の色の色フィルター16の膜厚をC2[nm]とした場合に、下記(1)式、(3)式及び(4b)式を満足するように、第2の色の色フィルター16の膜厚C2を設定する。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]≦B≦200[nm] ・・・(3)
C2≦A+B+200 ・・・(4b)
図5では、A+B=C2の場合を例示しているが、(4b)式を満足するように膜厚C2が設定されていればよい。
更に「A+B-200[nm]≦C1≦A+B+200」を満足することが好ましい。すなわち、膜厚C2は(A+B)±200[nm]の範囲に収まっていることが好ましい。
第3の色の色フィルター16として、この膜厚C2の範囲であれば、硬化に十分な熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂を含みながら、求める分光特性が得られる顔料濃度として、分散することができる。
上記の工程により、第2の色の色フィルター15及び第3の色の色フィルター16の高さが第1の色の色フィルター14と下層平坦化層12の膜厚を足した値と同等の高さで、色フィルターが形成される。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]≦B≦200[nm] ・・・(3)
C2≦A+B+200 ・・・(4b)
図5では、A+B=C2の場合を例示しているが、(4b)式を満足するように膜厚C2が設定されていればよい。
更に「A+B-200[nm]≦C1≦A+B+200」を満足することが好ましい。すなわち、膜厚C2は(A+B)±200[nm]の範囲に収まっていることが好ましい。
第3の色の色フィルター16として、この膜厚C2の範囲であれば、硬化に十分な熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂を含みながら、求める分光特性が得られる顔料濃度として、分散することができる。
上記の工程により、第2の色の色フィルター15及び第3の色の色フィルター16の高さが第1の色の色フィルター14と下層平坦化層12の膜厚を足した値と同等の高さで、色フィルターが形成される。
次いで、図6(a)に示すように、形成された色フィルター14、15、16上に上層平坦化層13を形成する。上層平坦化層13は、例えば上述したアクリル系樹脂等の樹脂材料を一つもしくは複数含んだ樹脂を用いて形成することができる。この場合、上層平坦化層13は、樹脂材料を半導体基板10の表面に塗布して加熱を行って硬化することにより形成することができる。また、上層平坦化層13は、例えば上述した酸化物又は窒化物等の化合物を用いて形成することができる。この場合、上層平坦化層13は、蒸着、スパッタ、CVD等の各種の成膜方法により形成することができる。
最後に、図6(b)に示すように、上層平坦化層13上に、マイクロレンズ18を形成する。マイクロレンズ18は、熱フローを用いた作製方法、グレートーンマスクによるマクロレンズ作製方法、ドライエッチングを用いた上層平坦化層13へのマイクロレンズ転写方法等の公知の技術により形成される。
上層平坦化層13の膜厚は、例えば1[nm]以上300[nm]以下である。好ましくは100[nm]以下、より好ましくは60[nm]以下である。
上層平坦化層13の膜厚は、例えば1[nm]以上300[nm]以下である。好ましくは100[nm]以下、より好ましくは60[nm]以下である。
形状制御性に優れるドライエッチングによるパターニング技術を用いてマイクロレンズを形成する方法は、図7(a)に示すように、先ず最終的にマイクロレンズとなる透明樹脂層32(上層平坦化層13を兼ねても良い)を色フィルター上に形成する。
次に、図7(b)に示すようにその透明樹脂層32の上に熱フロー法によってマイクロレンズの母型33(レンズ母型)を形成する。次に図7(c)に示すように、そのレンズ母型33をマスクとして、ドライエッチングの手法によってレンズ母型形状を透明樹脂層32に転写するという方法である。レンズ母型33の高さや材料を選択し、エッチングの条件を調整することで、適正なレンズ形状を透明樹脂層32に転写することができる。
上記の方法を用いることで、制御性良くマイクロレンズを形成することが可能となる。この手法を用いて、マイクロレンズのレンズトップからレンズボトムの高さが400~800nmの膜厚となるようにマイクロレンズを作製することが望ましい。
以上の工程により、本実施形態の固体撮像素子が完成する。
次に、図7(b)に示すようにその透明樹脂層32の上に熱フロー法によってマイクロレンズの母型33(レンズ母型)を形成する。次に図7(c)に示すように、そのレンズ母型33をマスクとして、ドライエッチングの手法によってレンズ母型形状を透明樹脂層32に転写するという方法である。レンズ母型33の高さや材料を選択し、エッチングの条件を調整することで、適正なレンズ形状を透明樹脂層32に転写することができる。
上記の方法を用いることで、制御性良くマイクロレンズを形成することが可能となる。この手法を用いて、マイクロレンズのレンズトップからレンズボトムの高さが400~800nmの膜厚となるようにマイクロレンズを作製することが望ましい。
以上の工程により、本実施形態の固体撮像素子が完成する。
本実施形態では、第1の色の色フィルター14を、最も占有面積の広い色フィルターとすることが好ましい。そして、第2の色の色フィルター15及び第3の色の色フィルター16は、感光性を有したカラーレジストを用いてフォトリソグラフィによりそれぞれ形成する。
感光性を有したカラーレジストを用いる技術は従来の色フィルターパターンの製造技術である。第1の色の色フィルター用材料は、下層平坦化層12の全面に塗布後、高温で加熱するため、半導体基板10及び下層平坦化層12との密着性を非常に強くできる。そのため、密着性が良好であり、矩形性良く形成されている第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとして、四辺が囲われた場所を埋めるように第2、第3の色の色フィルター15、16を形成することができる。そのため第2以降の色フィルターに感光性を持たせたカラーレジストを用いた場合でも、従来のように解像性を重視したカラーレジストとする必要はない。このため、光硬化性樹脂中の光硬化成分を少なくすることができるため、色フィルター用材料中の顔料の割合を多くでき、色フィルター15、16の薄膜化に対応できる。
感光性を有したカラーレジストを用いる技術は従来の色フィルターパターンの製造技術である。第1の色の色フィルター用材料は、下層平坦化層12の全面に塗布後、高温で加熱するため、半導体基板10及び下層平坦化層12との密着性を非常に強くできる。そのため、密着性が良好であり、矩形性良く形成されている第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとして、四辺が囲われた場所を埋めるように第2、第3の色の色フィルター15、16を形成することができる。そのため第2以降の色フィルターに感光性を持たせたカラーレジストを用いた場合でも、従来のように解像性を重視したカラーレジストとする必要はない。このため、光硬化性樹脂中の光硬化成分を少なくすることができるため、色フィルター用材料中の顔料の割合を多くでき、色フィルター15、16の薄膜化に対応できる。
第2以降の色フィルターを形成する箇所は、第1の色の色フィルター14のエッチング時に、下層平坦化層12がエッチング工程で除去されており、半導体基板10が表面に露出する工程となっている。この場合、半導体基板10の表面が酸化しており、親水性となっていることが考えられる。このような半導体基板10の表面に、第2以降の色フィルターをフォトリソグラフィ工程で形成すると、親水性を有する半導体基板10と第2以降の色フィルターとが接触している部分に現像液が回り込む。このため、第2以降の色フィルター(第2、第3の色の色フィルター15、16)が剥がれることが想定される。そのため、半導体基板10の表面状態によっては、既存の手法、例えばHDMS(ヘキサメチルジシラザン)処理等の方法により露出している半導体基板10の表面を疎水性とすることで、第2以降の色フィルターが剥がれる可能性を低減できる。
また、本実施形態では、第1の色の色フィルター14は、光硬化に関与する樹脂成分等の含有率が少なく、かつ顔料含有率の高い色フィルター用材料で形成することが望ましい。特に、1色目の色フィルター用材料における顔料の含有率を70質量%以上に構成することが望ましい。それにより、第1の色の色フィルター用材料に、従来の感光性カラーレジストを用いたフォトリソグラフィプロセスでは硬化不充分になってしまう濃度の顔料が含まれていても、第1の色の色フィルター14を精度良く、残渣や剥がれもなく形成することができる。具体的には、第1の色の色フィルター14としてグリーンフィルターを用いた場合、レッドフィルターあるいはブルーフィルターの光硬化成分を減らすことが出来る。このため、顔料含有率を高くにしても、フォトリソグラフィで各色フィルターパターンを容易に形成出来る。
いずれの理由によっても、最初の第1の色の色フィルター14を、パターン形成ではなく光硬化に重点を置き感光性成分を少なくし、更に熱硬化成分で硬化させることを主体とした第1の色の色フィルター用材料を用いて形成する。そうすることで、第1の色の色フィルター14は、半導体基板10及び下層平坦化層12に密着し、他の色フィルター形成時に生じる残渣や剥がれがなく、また高い解像度とすることができる。そして、第2、第3の色の色フィルター15、16は、感光性の第2、第3の色の色フィルター用材料を用いて、工程が少なく効率のよいフォトリソグラフィの形成工法で形成される。そうすることで、最初に形成した第1の色の色フィルター14のパターンが、正確なパターンガイドとなり、第2、第3の色の色フィルター15、16のパターンをフォトリソグラフィで形状良く形成することができる。
(第2以降の色フィルターのパターンを形成する第2の手法)
次に、第2以降の色フィルターパターンを形成する第2の手法について図8及び図9を参照して説明する。第2の手法は、感光性を持たせない色フィルター用材料で第2、第3の色の色フィルター15、16を形成する場合である。
以下、その手法について説明する。
図8(a)に示す、前述した形成方法で、第1の色の色フィルター14が形成された基板10の全面に対し、図8(b)示すように、第2の色の色フィルター用材料の塗布を行う。この際用いる第2の色の色フィルター用材料は、感光性を持たせず、加熱により硬化する熱硬化型の樹脂材料を用いる。第2の色の色フィルター用材料は感光性を持たないため、前述しているように、感光成分の添加が不要となり顔料濃度を濃くすることができる。このため、第2の色の色フィルター15の膜厚の薄膜化が可能となる。この後、第2の色の色フィルター用材料を硬化して第2の色の色フィルター層15Aを形成するため、高温での加熱を行う。加熱温度はデバイスに影響の出ない範囲での加熱が好ましく、具体的には300℃以下で有り、更に240℃以下が好ましい。
次に、第2以降の色フィルターパターンを形成する第2の手法について図8及び図9を参照して説明する。第2の手法は、感光性を持たせない色フィルター用材料で第2、第3の色の色フィルター15、16を形成する場合である。
以下、その手法について説明する。
図8(a)に示す、前述した形成方法で、第1の色の色フィルター14が形成された基板10の全面に対し、図8(b)示すように、第2の色の色フィルター用材料の塗布を行う。この際用いる第2の色の色フィルター用材料は、感光性を持たせず、加熱により硬化する熱硬化型の樹脂材料を用いる。第2の色の色フィルター用材料は感光性を持たないため、前述しているように、感光成分の添加が不要となり顔料濃度を濃くすることができる。このため、第2の色の色フィルター15の膜厚の薄膜化が可能となる。この後、第2の色の色フィルター用材料を硬化して第2の色の色フィルター層15Aを形成するため、高温での加熱を行う。加熱温度はデバイスに影響の出ない範囲での加熱が好ましく、具体的には300℃以下で有り、更に240℃以下が好ましい。
このとき、図8(b)に示すように、第2の色の色フィルター層15Aの膜厚を均一とするため、第2の色の色フィルター用材料を多めに塗布する必要がある。このため、第2の色の色フィルター用材料は、第1の色の色フィルター14の上に余分に形成されている。余分な第2の色の色フィルターを除去するためCMP等の研磨工程又はドライエッチング技術を用いてエッチバック工程を行う。なお、第2の色の色フィルター用材料は、平坦化や所望の膜厚を除去する等の公知の技術を用いた工程により除去することができる。また、余分な第2の色の色フィルター層15Aの除去工程は、後述する第3の色の色フィルター16の形成箇所を開口させるエッチング工程で問題とならないのであれば、複数色の色フィルター14、15、16を形成した後で最後に行っても良い。
次に、図8(c)に示すように、第2の色の色フィルター層15Aの上部に感光性樹脂マスク材料を塗布して感光性樹脂マスク層35を形成する。
続いて、図8(d)、(e)に示すように、第3の色の色フィルター16を配置する場所が開口するように、露光、現像を行い開口部20cを設けたエッチングマスク20を形成する。
続いて、図8(f)に示すように、開口部を設けたエッチングマスク20を用いたドライエッチング技術を用いて、第2の色の色フィルター層15Aの領域の中で、第3の色の色フィルター16を配置するために不要となる部分を除去して開口部20dを形成する。この際、エッチングマスク20に対しては、加熱や紫外線照射等の硬化処理を行ってもよい。
次に、図8(g)に示すように、エッチングマスク20を溶剤による剥離、洗浄や光励起又は酸素プラズマによる灰化処理であるアッシング等の公知の除去方法により除去する。これにより、第3の色の色フィルター16が形成される位置に開口が設けられており、それ以外の位置に、第1の色の色フィルター14と第2の色の色フィルター15が形成された状態になっている。
続いて、図8(d)、(e)に示すように、第3の色の色フィルター16を配置する場所が開口するように、露光、現像を行い開口部20cを設けたエッチングマスク20を形成する。
続いて、図8(f)に示すように、開口部を設けたエッチングマスク20を用いたドライエッチング技術を用いて、第2の色の色フィルター層15Aの領域の中で、第3の色の色フィルター16を配置するために不要となる部分を除去して開口部20dを形成する。この際、エッチングマスク20に対しては、加熱や紫外線照射等の硬化処理を行ってもよい。
次に、図8(g)に示すように、エッチングマスク20を溶剤による剥離、洗浄や光励起又は酸素プラズマによる灰化処理であるアッシング等の公知の除去方法により除去する。これにより、第3の色の色フィルター16が形成される位置に開口が設けられており、それ以外の位置に、第1の色の色フィルター14と第2の色の色フィルター15が形成された状態になっている。
次に図9(a)に示すように、第1の色の色フィルター14と第2の色の色フィルター15が形成された基板10の全面に対して、開口部20dを埋めるように第3の色の色フィルター用材料を塗布して、加熱硬化し第3の色の色フィルター層16Aを形成する。このあと、図9(b)に示すように、第1、第2の色の色フィルター14、15上の余分な第3の色の色フィルター層16を所定の膜厚まで、CMP等の研磨工程又はドライエッチング技術を用いてエッチバック工程を行い平坦化や所望の膜厚を除去する等の公知の技術を用いた工程により除去して、第3の色の色フィルター16とする。この際、第1の色の色フィルター上に余分に形成されている第2の色の色フィルター15が残存している場合には、同時に除去しても問題ない。
ここで、色フィルターの色を四色以上として、第四以降の色フィルターを形成する場合、第2、第3の色の色フィルター15、16と同様に、色フィルター用材料の塗布、硬化処理を行えばよい。この後で、パターニングを行って開口部を設けた感光性樹脂材料をエッチングマスクとしてドライエッチングを行い、余分な感光性樹脂マスク層20aを除去することで、複数色の色フィルターを形成することができる。
形成した複数色の色フィルター材料上に、前述した処理によって、上層平坦化層13及びマイクロレンズ形成方法を行うことで本実施形態の固体撮像素子が完成する。
形成した複数色の色フィルター材料上に、前述した処理によって、上層平坦化層13及びマイクロレンズ形成方法を行うことで本実施形態の固体撮像素子が完成する。
上述した第1の手法は、第2の色の色フィルター15以降の色フィルターをフォトリソグラフィで形成する手法である。第1の手法では、第2の色の色フィルター15以降の色フィルター用材料に光硬化性を持たせて、選択的に露光、現像を行い第2の色の色フィルター15以降を形成している。
また、上述した第2の手法は、ドライエッチングを複数回繰り返す形成方法である。第2の手法では、第2の色の色フィルター15以降の色フィルター用材料に感光性成分を持たせず熱硬化成分を持たせ、全面に塗布して熱硬化を行う。そして、感光性マスク材料を、残存させたい第1及び第2の色の色フィルター14、15の上にエッチングマスクとして形成して、第2の色の色フィルター15以降もドライエッチングで作製する。これらの2つの手法は、同じ工程を繰り返すことで、第2、第3の色の色フィルターを形成しているが、所望の分光特性が得られるならば、これらの工程を組み合わせて用いても良い。
また、上述した第2の手法は、ドライエッチングを複数回繰り返す形成方法である。第2の手法では、第2の色の色フィルター15以降の色フィルター用材料に感光性成分を持たせず熱硬化成分を持たせ、全面に塗布して熱硬化を行う。そして、感光性マスク材料を、残存させたい第1及び第2の色の色フィルター14、15の上にエッチングマスクとして形成して、第2の色の色フィルター15以降もドライエッチングで作製する。これらの2つの手法は、同じ工程を繰り返すことで、第2、第3の色の色フィルターを形成しているが、所望の分光特性が得られるならば、これらの工程を組み合わせて用いても良い。
本実施形態では、第1の色の色フィルター14に熱硬化性樹脂と光硬化性樹脂の両方を用いている。また第1の色の色フィルター14の硬化工程では、露光による光硬化及び熱による加熱硬化を用いている。色フィルター層30を薄膜化するためには、顔料濃度を高くする必要があるが、顔料含有率が高いと溶剤耐性の低下が起こりやすくなる。このため、現像工程や、エッチングマスク除去工程、第2以降の色フィルターの塗布、現像工程などで溶剤と触れた際、第1の色の色フィルター14の成分が溶け出すことで分光特性に影響を与える可能性が考えられる。感光性の光硬化成分樹脂を混在させ露光することで、色フィルターの表面を硬化し、熱硬化性樹脂を混在させ、高温で加熱硬化することで、色フィルターの内部及び表面を硬化させて、溶剤耐性を向上させる効果がある。
以上のように、本実施形態によれば、各色フィルターの膜厚を全て薄膜化しマイクロレンズトップからデバイスまでの総距離を短くすることが可能となることから、混色を低減でき、パターン配置した全ての色フィルターが高感度化した高精細な固体撮像素子を提供することが可能となる。
以上のように、本実施形態によれば、各色フィルターの膜厚を全て薄膜化しマイクロレンズトップからデバイスまでの総距離を短くすることが可能となることから、混色を低減でき、パターン配置した全ての色フィルターが高感度化した高精細な固体撮像素子を提供することが可能となる。
「第2の実施形態」
以下、図10を参照して、本発明の第2の実施形態に係る固体撮像素子及び固体撮像素子の製造方法について説明する。本発明の第2の実施形態に係る固体撮像素子は、構造は第1の実施形態と同様である。
第2の実施形態は、第1の色の色フィルターの硬化時点での工程が異なるため、第1の色の色フィルターの硬化工程について示す。
以下、図10を参照して、本発明の第2の実施形態に係る固体撮像素子及び固体撮像素子の製造方法について説明する。本発明の第2の実施形態に係る固体撮像素子は、構造は第1の実施形態と同様である。
第2の実施形態は、第1の色の色フィルターの硬化時点での工程が異なるため、第1の色の色フィルターの硬化工程について示す。
<固体撮像素子の構成>
本実施形態に係る固体撮像素子は、第1の色の色フィルター材料に感光性樹脂材料が含まれておらず、熱硬化性樹脂のみで形成されている点に特徴を有している。熱硬化性樹脂のみの為、顔料濃度を向上させることができ、第1の色の色フィルターを薄膜化しやすくなる利点がある。
本実施形態に係る固体撮像素子は、図1に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10と、マイクロレンズ18とを備えている。また、本実施形態に係る固体撮像素子は、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられた、複数色の色フィルター14、15、16かなる色フィルター層30と、半導体基板10上に部分的に設けられた下層平坦化層12と、色フィルター層30の表面上に設けられた上層平坦化層13と、を備えている。
本実施形態に係る固体撮像素子は、第1の色の色フィルター材料に感光性樹脂材料が含まれておらず、熱硬化性樹脂のみで形成されている点に特徴を有している。熱硬化性樹脂のみの為、顔料濃度を向上させることができ、第1の色の色フィルターを薄膜化しやすくなる利点がある。
本実施形態に係る固体撮像素子は、図1に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10と、マイクロレンズ18とを備えている。また、本実施形態に係る固体撮像素子は、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられた、複数色の色フィルター14、15、16かなる色フィルター層30と、半導体基板10上に部分的に設けられた下層平坦化層12と、色フィルター層30の表面上に設けられた上層平坦化層13と、を備えている。
ここで、第2の実施形態に係る固体撮像素子において、第1の実施形態に係る固体撮像素子の各部と同様の構成である場合には、第1の実施形態に用いた参照符号と同じ参照符号を付すものとする。すなわち、光電変換素子11を有する半導体基板10、下層平坦化層12、色フィルター14、15、16、上層平坦化層13及びマイクロレンズ18のそれぞれは、第1の実施形態に係る固体撮像素子の各部と同様の構成である。このため、第1の実施形態に係る固体撮像素子の各部と共通する部分についての詳細な説明については省略する。その他の実施形態でも同様である。
<固体撮像素子の製造方法>
次に、図10を参照して、本実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
図10(a)に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10の上に下層平坦化層12を形成する。下層平坦化層12は、色フィルターの密着性を向上する効果がある。
次に、図10(b)から図10(d)に示すように、第1の色の色フィルター層14Aを形成し、その上に感光性樹脂マスク層20を形成する。本実施形態で示す第1の色の色フィルター層14Aは熱硬化性樹脂を含んでおり、光硬化性樹脂を含んでいない。また、顔料含有率を向上させた場合、前述した通り色フィルターは、溶剤耐性が低下する可能性がある。そのため、溶剤耐性のある熱硬化性樹脂を用いて、高温加熱を行い、架橋密度が高い加熱硬化を実施する。具体的には、230℃以上の高温硬化工程であり、デバイスの後工程でかかる250℃以上の高温硬化がより望ましい。この高温加熱工程で形成した第1の色の色フィルター層14A上に感光性樹脂マスク層20を形成する。
次に、図10を参照して、本実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
図10(a)に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10の上に下層平坦化層12を形成する。下層平坦化層12は、色フィルターの密着性を向上する効果がある。
次に、図10(b)から図10(d)に示すように、第1の色の色フィルター層14Aを形成し、その上に感光性樹脂マスク層20を形成する。本実施形態で示す第1の色の色フィルター層14Aは熱硬化性樹脂を含んでおり、光硬化性樹脂を含んでいない。また、顔料含有率を向上させた場合、前述した通り色フィルターは、溶剤耐性が低下する可能性がある。そのため、溶剤耐性のある熱硬化性樹脂を用いて、高温加熱を行い、架橋密度が高い加熱硬化を実施する。具体的には、230℃以上の高温硬化工程であり、デバイスの後工程でかかる250℃以上の高温硬化がより望ましい。この高温加熱工程で形成した第1の色の色フィルター層14A上に感光性樹脂マスク層20を形成する。
次にフォトマスクを用いて、第2、第3の色の色フィルター形成箇所が開口するように露光し、現像することで、開口部を有するエッチングマスク20を形成する。このあとの工程は前述した第1の実施形態の工程と同様である。
本実施形態により、第1の色の色フィルター14に感光性成分を含まず、熱硬化成分のみのため、顔料濃度を容易に高濃度化しやすい利点がある。また、熱硬化温度を高温化することで、第1の色の色フィルター14の溶剤耐性を向上することができる。
第2の実施形態に係る発明は、第1の実施形態に記載した各効果に加えて、更に以下の効果を有する。第1の色の色フィルター14を熱硬化成分である熱硬化性樹脂で形成することで、顔料成分の高濃度化が容易となり、所望の分光特性を薄膜で形成することが可能となる。
本実施形態により、第1の色の色フィルター14に感光性成分を含まず、熱硬化成分のみのため、顔料濃度を容易に高濃度化しやすい利点がある。また、熱硬化温度を高温化することで、第1の色の色フィルター14の溶剤耐性を向上することができる。
第2の実施形態に係る発明は、第1の実施形態に記載した各効果に加えて、更に以下の効果を有する。第1の色の色フィルター14を熱硬化成分である熱硬化性樹脂で形成することで、顔料成分の高濃度化が容易となり、所望の分光特性を薄膜で形成することが可能となる。
「第3の実施形態」
以下、図11を参照して、本発明の第3の実施形態に係る固体撮像素子及び固体撮像素子の製造方法について説明する。
<固体撮像素子の構成>
本実施形態に係る固体撮像素子は、第1の色の色フィルター材料が硬化成分として感光性樹脂のみで構成されている点に特徴を有している。感光性樹脂材料を含んでいる構成は、従来手法の感光性を付与したカラーレジストを用いてのフォトリソグラフィによる色フィルター形成工程と同様である。しかし本実施形態では、感光性樹脂を用いるが従来のようなパターニングを行うわけではなく、全面を露光することで光硬化を行い、その後高温加熱で色フィルターの水分を蒸発させ加熱硬化を行う。このため、従来手法に比べて、感光性の硬化成分量を少なくでき、顔料濃度を向上させることが可能となるため、第1の色の色フィルター14を薄膜化しやすくなる利点がある。
本実施形態に係る固体撮像素子の構造は、第1及び第2と同様である。ただし、第1の色の色フィルター14の硬化時点での工程が異なる。このため、第1の色の色フィルター14の硬化工程及び、パターニング工程について示す。
以下、図11を参照して、本発明の第3の実施形態に係る固体撮像素子及び固体撮像素子の製造方法について説明する。
<固体撮像素子の構成>
本実施形態に係る固体撮像素子は、第1の色の色フィルター材料が硬化成分として感光性樹脂のみで構成されている点に特徴を有している。感光性樹脂材料を含んでいる構成は、従来手法の感光性を付与したカラーレジストを用いてのフォトリソグラフィによる色フィルター形成工程と同様である。しかし本実施形態では、感光性樹脂を用いるが従来のようなパターニングを行うわけではなく、全面を露光することで光硬化を行い、その後高温加熱で色フィルターの水分を蒸発させ加熱硬化を行う。このため、従来手法に比べて、感光性の硬化成分量を少なくでき、顔料濃度を向上させることが可能となるため、第1の色の色フィルター14を薄膜化しやすくなる利点がある。
本実施形態に係る固体撮像素子の構造は、第1及び第2と同様である。ただし、第1の色の色フィルター14の硬化時点での工程が異なる。このため、第1の色の色フィルター14の硬化工程及び、パターニング工程について示す。
<固体撮像素子の製造方法>
次に、図11を参照して、本実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
図11(a)に示す半導体基板10の表面に下層平坦化層12を形成する。
次に、図11(b)に示すように、下層平坦化層12上に第1の色の色フィルター層14Aを塗布により形成する。
次に、図11(c)に示すように、全面に対して露光を行い光硬化により、第1の色の色フィルター層14Aを硬化する。
この際、第1の色の色フィルター層14Aの硬化に十分な量の感光性成分が含まれており、溶剤耐性が十分ある場合は、図12に示す感光性樹脂マスク材料40の形成を実施する。感光性樹脂マスク材料40のパターニング後、第2以降の色フィルター形成箇所をドライエッチングで形成したあとで、高温加熱を行うことで、第1の色の色フィルター14の加熱硬化を行うことができる。
次に、図11を参照して、本実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
図11(a)に示す半導体基板10の表面に下層平坦化層12を形成する。
次に、図11(b)に示すように、下層平坦化層12上に第1の色の色フィルター層14Aを塗布により形成する。
次に、図11(c)に示すように、全面に対して露光を行い光硬化により、第1の色の色フィルター層14Aを硬化する。
この際、第1の色の色フィルター層14Aの硬化に十分な量の感光性成分が含まれており、溶剤耐性が十分ある場合は、図12に示す感光性樹脂マスク材料40の形成を実施する。感光性樹脂マスク材料40のパターニング後、第2以降の色フィルター形成箇所をドライエッチングで形成したあとで、高温加熱を行うことで、第1の色の色フィルター14の加熱硬化を行うことができる。
一方、第1の色の色フィルター層14Aに溶剤耐性に不十分な程度の感光性成分が含まれている場合は、図11(d)に示すように、200℃以上の高温加熱工程を行い、第1の色の色フィルター層14Aを十分に硬化することが望ましい。前者の高温加熱工程を実施しない場合は、高温加熱工程を実施した場合に比べて、第1の色の色フィルター層14Aが柔らかい構造のため、ドライエッチング工程で容易にエッチングが行え、残渣などの残留する可能性が低下する効果がある。
このあとの工程は前述した第1の実施形態で説明した工程と同様である。
本実施形態により、第1の色の色フィルター14にパターン形成ではなく、光硬化に十分な量の感光性成分のみを含ませて形成するため、従来手法での色フィルター材料の感光性成分を低減するだけの為、容易に作製できる利点があり、顔料含有率を容易に高めやすい利点がある。また、熱硬化温度を高温化することで、第1の色の色フィルター14の溶剤耐性を向上することができる。
本実施形態により、第1の色の色フィルター14にパターン形成ではなく、光硬化に十分な量の感光性成分のみを含ませて形成するため、従来手法での色フィルター材料の感光性成分を低減するだけの為、容易に作製できる利点があり、顔料含有率を容易に高めやすい利点がある。また、熱硬化温度を高温化することで、第1の色の色フィルター14の溶剤耐性を向上することができる。
「第4の実施形態」
<固体撮像素子の構成>
本実施形態に係る固体撮像素子の基本構成は、第1の実施形態と同様である。
ただし、本実施形態では、図13のように隣り合う色フィルター間に段差が形成されている。
また、以下の実施形態の説明では、第1の色がグリーン、第2の色がレッドの場合を想定して説明する。
本実施形態では、下層平坦化層12の膜厚B[nm]を、1[nm]以上200[nm]以下に形成する。膜厚Bは好ましくは100[nm]以下であり、更に好ましくは60[nm]以下である。下層平坦化層12の膜厚Bは、混色防止の観点からは薄いほど好ましい。
<固体撮像素子の構成>
本実施形態に係る固体撮像素子の基本構成は、第1の実施形態と同様である。
ただし、本実施形態では、図13のように隣り合う色フィルター間に段差が形成されている。
また、以下の実施形態の説明では、第1の色がグリーン、第2の色がレッドの場合を想定して説明する。
本実施形態では、下層平坦化層12の膜厚B[nm]を、1[nm]以上200[nm]以下に形成する。膜厚Bは好ましくは100[nm]以下であり、更に好ましくは60[nm]以下である。下層平坦化層12の膜厚Bは、混色防止の観点からは薄いほど好ましい。
本実施形態でも、図2に示すベイヤー配列の色フィルターを有する固体撮像素子について説明する。しかしながら、固体撮像素子の色フィルターは、必ずしもベイヤー配列に限定されず、また、色フィルターの色もRGBの3色にも限定されない。また、色フィルターの配列の一部に屈折率を調整した透明の層を配置してもよい。
第1の色の色フィルター14の膜厚A[nm]は、200[nm]以上700[nm]以下に形成する。好ましくは、膜厚A[nm]は、400[nm]以上600[nm]以下である。より好ましくは膜厚A[nm]は500[nm]以下である。
また、第1の色以外の色の色フィルター15、16の膜厚をC[nm]とした場合に、下記(7)式を満足する膜厚に形成する。
A[nm]<C≦A+B+200[nm] ・・・(7)
好ましくは、A+B[nm]<C≦A+B+200[nm](但し、B≧1[nm])を満足する膜厚とする。
第1の色の色フィルター14の膜厚A[nm]は、200[nm]以上700[nm]以下に形成する。好ましくは、膜厚A[nm]は、400[nm]以上600[nm]以下である。より好ましくは膜厚A[nm]は500[nm]以下である。
また、第1の色以外の色の色フィルター15、16の膜厚をC[nm]とした場合に、下記(7)式を満足する膜厚に形成する。
A[nm]<C≦A+B+200[nm] ・・・(7)
好ましくは、A+B[nm]<C≦A+B+200[nm](但し、B≧1[nm])を満足する膜厚とする。
但し、第2の色の色フィルター15の膜厚と、第3の色の色フィルター16の膜厚とが異なっていても良い。第2の色がレッドであり、第3の色がブルーの場合、レッドの色フィルターの膜厚が、グリーンの色フィルターの膜厚よりも厚いことが好ましい。
その他の構成は第1の実施形態と同様である。
その他の構成は第1の実施形態と同様である。
<固体撮像素子の製造方法>
第4の実施形態の固体撮像素子の製造方法は、第1の色の色フィルター層形成工程(第1の工程)までは、
第1の実施形態の固体撮像素子の製造方法(図3及び図4参照)と同様である。
第4の実施形態の固体撮像素子の製造方法は、第1の色の色フィルター層形成工程(第1の工程)までは、
第1の実施形態の固体撮像素子の製造方法(図3及び図4参照)と同様である。
第4の実施形態における第2以降の色フィルターのパターンの形成について、以下説明する。
次に、図14に示すように、第1の色の色フィルター14とは異なる色の顔料を含む第2、第3の色の色フィルター15、16を形成する。第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとすると共に、第2、第3の色の色フィルター15、16に光硬化性樹脂を含んだ感光性色フィルター用材料を用いて形成し、従来手法で選択的に露光してパターンを形成する手法である。
次に、図14に示すように、第1の色の色フィルター14とは異なる色の顔料を含む第2、第3の色の色フィルター15、16を形成する。第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとすると共に、第2、第3の色の色フィルター15、16に光硬化性樹脂を含んだ感光性色フィルター用材料を用いて形成し、従来手法で選択的に露光してパターンを形成する手法である。
(第2以降の色フィルターのパターンを形成する手法(第2の工程))
はじめに、第2以降の色フィルターのパターンを形成する第1の手法について図14を用いて説明する。第1の手法は、第2の色の色フィルター15に感光性成分を有した色フィルター材料(カラーレジスト)を用いることに特徴がある。
まず図14(a)に示すように、第1の色の色フィルター14をパターン形成した半導体基板10の表面全面に、第2の色の色フィルター用材料として感光性色フィルター用材料を塗布、すなわち開口部20b全面に塗布し、乾燥を行い第2の色の色フィルター層15Aを形成する。この際用いる感光性色フィルター用材料は、光を当てることで硬化するネガ型の感光性成分を含有する。
はじめに、第2以降の色フィルターのパターンを形成する第1の手法について図14を用いて説明する。第1の手法は、第2の色の色フィルター15に感光性成分を有した色フィルター材料(カラーレジスト)を用いることに特徴がある。
まず図14(a)に示すように、第1の色の色フィルター14をパターン形成した半導体基板10の表面全面に、第2の色の色フィルター用材料として感光性色フィルター用材料を塗布、すなわち開口部20b全面に塗布し、乾燥を行い第2の色の色フィルター層15Aを形成する。この際用いる感光性色フィルター用材料は、光を当てることで硬化するネガ型の感光性成分を含有する。
この際、第1の色の色フィルター14の膜厚をA[nm]、下層平坦化層12の膜厚をB[nm]、第2の色の色フィルター15の膜厚をC1[nm]とした場合に、下記(1)式、(6)式及び(7a)式を満足するように、第2の色の色フィルター15の膜厚C1を設定する。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]<B≦200[nm] ・・・(6)
A<C≦A+B+200[nm] ・・・(7a)
第2の色の色フィルター15として、この膜厚C1の範囲であれば、硬化に十分な熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂を含みながら、所望の分光特性が得られる顔料濃度として、分散することができる。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]<B≦200[nm] ・・・(6)
A<C≦A+B+200[nm] ・・・(7a)
第2の色の色フィルター15として、この膜厚C1の範囲であれば、硬化に十分な熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂を含みながら、所望の分光特性が得られる顔料濃度として、分散することができる。
次に、図14(b)に示すように、第2の色の色フィルター15を形成する部分に対して、フォトマスクを用いて露光を行い、第2の色の色フィルター層15Aの一部を光硬化させる。
次に、図14(c)のように、現像工程で選択的に露光されていない第2の色の色フィルター層15Aの一部15Aa(第3の色の色フィルタ形成位置)を除去して開口部31を形成する。次に、図14(d)に示すように露光を行った第2の色の色フィルター層15Aの一部と半導体基板10との密着性向上、及び実デバイス利用での耐熱性を向上させるために、高温加熱での硬化処理を行うことで残存した第2の色の色フィルター15を硬化させる。これにより、第2の色の色フィルター15のパターンを形成する。この際、硬化に用いる温度は、200℃以上が好ましい。
次に、図14(c)のように、現像工程で選択的に露光されていない第2の色の色フィルター層15Aの一部15Aa(第3の色の色フィルタ形成位置)を除去して開口部31を形成する。次に、図14(d)に示すように露光を行った第2の色の色フィルター層15Aの一部と半導体基板10との密着性向上、及び実デバイス利用での耐熱性を向上させるために、高温加熱での硬化処理を行うことで残存した第2の色の色フィルター15を硬化させる。これにより、第2の色の色フィルター15のパターンを形成する。この際、硬化に用いる温度は、200℃以上が好ましい。
次に、図14(e)に示すように、第3の色の色フィルター用材料を半導体基板10の全面に塗布、すなわち第2の色の色フィルター15に形成した開口部の全面に塗布して、第3の色の色フィルター層16Aを形成する。
次に、図14(f)に示すように、第3の色の色フィルター層16Aのうちの第3の色の色フィルター16を形成する箇所を選択的に露光し、開口部30に位置する第3の色の色フィルター層16Aを光硬化させる。
次に、図14(f)に示すように、第3の色の色フィルター層16Aのうちの第3の色の色フィルター16を形成する箇所を選択的に露光し、開口部30に位置する第3の色の色フィルター層16Aを光硬化させる。
次に、図14(g)のように、感光性の第3の色の色フィルター層16Aを現像し、露光されていない第3の色の色フィルター層16Aの一部を除去する。次に、図14(h)のように、露光を行った第3の色の色フィルター層16Aの一部と半導体基板10との密着性向上及び実デバイス利用での耐熱性を向上させるために、高温加熱での硬化処理を行うことで残存した第3の色の色フィルター層16Aを硬化させる。これにより、第3の色の色フィルター16が形成される。
なお、この第2の色の色フィルター15以降のパターン形成工程を繰り返すことで、所望の色数の色フィルターを形成することができる。
なお、この第2の色の色フィルター15以降のパターン形成工程を繰り返すことで、所望の色数の色フィルターを形成することができる。
この際、第3の色の色フィルター16の膜厚をC2[nm]とした場合に、下記(1)式、(6)式及び(7b)式を満足するように、第2の色の色フィルター16の膜厚C2を設定する。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]<B≦200[nm] ・・・(6)
A<C2≦A+B+200[nm] ・・・(7b)
第3の色の色フィルター16として、この膜厚C2の範囲であれば、硬化に十分な熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂を含みながら、求める分光特性が得られる顔料濃度として、分散することができる。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
0[nm]<B≦200[nm] ・・・(6)
A<C2≦A+B+200[nm] ・・・(7b)
第3の色の色フィルター16として、この膜厚C2の範囲であれば、硬化に十分な熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂を含みながら、求める分光特性が得られる顔料濃度として、分散することができる。
上記の工程により、第2の色の色フィルター15及び第3の色の色フィルター16の高さが第1の色の色フィルター14の膜厚よりも高く形成される。特に、レッドの色フィルター15は、第1の色の色フィルター14と下層平坦化層12の膜厚を足した値よりも高く形成することが好ましい。本実施形態では、第2の色の色フィルター15及び第3の色の色フィルター16の高さを、第1の色の色フィルター14と下層平坦化層12の膜厚を足した値よりも高く形成する。
次いで、図15(a)に示すように、形成された色フィルター14、15、16上に上層平坦化層13を形成する。上層平坦化層13は、例えば上述したアクリル系樹脂等の樹脂材料を一つもしくは複数含んだ樹脂を用いて形成することができる。この場合、上層平坦化層13は、樹脂材料を半導体基板10の表面に塗布して加熱を行って硬化することにより形成することができる。また、上層平坦化層13は、例えば上述した酸化物又は窒化物等の化合物を用いて形成することができる。この場合、上層平坦化層13は、蒸着、スパッタ、CVD等の各種の成膜方法により形成することができる。
最後に、図15(b)に示すように、上層平坦化層13上に、マイクロレンズ18を形成する。マイクロレンズ18は、熱フローを用いた作製方法、グレートーンマスクによるマクロレンズ作製方法、ドライエッチングを用いた上層平坦化層13へのマイクロレンズ転写方法等の公知の技術により形成される。
上層平坦化層13の膜厚は、例えば1[nm]以上300[nm]以下である。好ましくは100[nm]以下、より好ましくは60[nm]以下である。
上層平坦化層13の膜厚は、例えば1[nm]以上300[nm]以下である。好ましくは100[nm]以下、より好ましくは60[nm]以下である。
形状制御性に優れるドライエッチングによるパターニング技術を用いてマイクロレンズを形成する方法は、図16(a)に示すように、先ず、最終的にマイクロレンズとなる透明樹脂層32(上層平坦化層13を兼ねても良い)を色フィルター上に形成する。
次に、図16(b)に示すようにその透明樹脂層32の上に熱フロー法によってマイクロレンズの母型33(レンズ母型)を形成する。次に図16(c)に示すように、そのレンズ母型33をマスクとして、ドライエッチングの手法によってレンズ母型形状を透明樹脂層32に転写するという方法である。レンズ母型33の高さや材料を選択し、エッチングの条件を調整することで、適正なレンズ形状を透明樹脂層32に転写することができる。
上記の方法を用いることで、制御性良くマイクロレンズを形成することが可能となる。この手法を用いて、マイクロレンズのレンズトップからレンズボトムの高さが400~800nmの膜厚となるようにマイクロレンズを作製することが望ましい。
以上の工程により、本実施形態の固体撮像素子が完成する。
次に、図16(b)に示すようにその透明樹脂層32の上に熱フロー法によってマイクロレンズの母型33(レンズ母型)を形成する。次に図16(c)に示すように、そのレンズ母型33をマスクとして、ドライエッチングの手法によってレンズ母型形状を透明樹脂層32に転写するという方法である。レンズ母型33の高さや材料を選択し、エッチングの条件を調整することで、適正なレンズ形状を透明樹脂層32に転写することができる。
上記の方法を用いることで、制御性良くマイクロレンズを形成することが可能となる。この手法を用いて、マイクロレンズのレンズトップからレンズボトムの高さが400~800nmの膜厚となるようにマイクロレンズを作製することが望ましい。
以上の工程により、本実施形態の固体撮像素子が完成する。
本実施形態では、第1の色の色フィルター14を、最も占有面積の広い色フィルターとすることが好ましい。そして、第2の色の色フィルター15及び第3の色の色フィルター16は、感光性を有したカラーレジストを用いてフォトリソグラフィによりそれぞれ形成する。
感光性を有したカラーレジストを用いる技術は従来の色フィルターパターンの製造技術である。第1の色の色フィルター用材料は、下層平坦化層12の全面に塗布後、高温で加熱するため、半導体基板10及び下層平坦化層12との密着性を非常に強くできる。そのため、密着性が良好であり、矩形性良く形成されている第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとして、四辺が囲われた場所を埋めるように第2、第3の色の色フィルター15、16を形成することができる。そのため第2以降の色フィルターに感光性を持たせたカラーレジストを用いた場合でも、従来のように解像性を重視したカラーレジストとする必要はない。このため、光硬化性樹脂中の光硬化成分を少なくすることができるため、色フィルター用材料中の顔料の割合を多くでき、色フィルター15、16の薄膜化に対応できる。
感光性を有したカラーレジストを用いる技術は従来の色フィルターパターンの製造技術である。第1の色の色フィルター用材料は、下層平坦化層12の全面に塗布後、高温で加熱するため、半導体基板10及び下層平坦化層12との密着性を非常に強くできる。そのため、密着性が良好であり、矩形性良く形成されている第1の色の色フィルター14のパターンをガイドパターンとして、四辺が囲われた場所を埋めるように第2、第3の色の色フィルター15、16を形成することができる。そのため第2以降の色フィルターに感光性を持たせたカラーレジストを用いた場合でも、従来のように解像性を重視したカラーレジストとする必要はない。このため、光硬化性樹脂中の光硬化成分を少なくすることができるため、色フィルター用材料中の顔料の割合を多くでき、色フィルター15、16の薄膜化に対応できる。
第2以降の色フィルターを形成する箇所は、第1の色の色フィルター14のエッチング時に、下層平坦化層12がエッチング工程で除去されており、半導体基板10が表面に露出する工程となっている。この場合、半導体基板10の表面が酸化しており、親水性となっていることが考えられる。このような半導体基板10の表面に、第2以降の色フィルターをフォトリソグラフィ工程で形成すると、親水性を有する半導体基板10と第2以降の色フィルターとが接触している部分に現像液が回り込む。このため、第2以降の色フィルター(第2、第3の色の色フィルター15、16)が剥がれることが想定される。そのため、半導体基板10の表面状態によっては、既存の手法、例えばHDMS(ヘキサメチルジシラザン)処理等の方法により露出している半導体基板10の表面を疎水性とすることで、第2以降の色フィルターが剥がれる可能性を低減できる。
また、本実施形態では、第1の色の色フィルターに対して、第2以降の色フィルターの膜厚を厚く形成することに特徴がある。第1の色の色フィルター14は、光硬化に関与する樹脂成分等の含有率が少なく、かつ顔料含有率の高い色フィルター用材料で形成することが望ましい。特に、1色目の色フィルター用材料における顔料の含有率を70質量%以上に構成することが望ましい。それにより、第1の色の色フィルター用材料に、従来の感光性カラーレジストを用いたフォトリソグラフィプロセスでは硬化不充分になってしまう濃度の顔料が含まれていても、第1の色の色フィルター14を精度良く、残渣や剥がれもなく形成することができる。具体的には、第1の色の色フィルター14として従来手法の感光性を有したカラーレジストで最も顔料含有率を高くするのが困難なグリーンフィルターを用いることで、レッドフィルターあるいはブルーフィルターを従来手法どおりの膜厚で形成することで、容易に所望の分光特性を満たせる効果が期待できる。
第1の色の色フィルターにグリーン、第2、第3の色の色フィルターにレッド及びブルーを用いた場合、ドライエッチングを用いて第1の色の色フィルターを矩形性良く形成することでグリーンの信号強度が上昇する。光の屈折率の関係から、グリーンからレッド方向及びブルーからグリーン方向へ、光が曲げられる傾向にあるが、第2及び第3の色の色フィルターが上部に飛び出ている形であるため、レッドの信号強度が上昇する効果が期待できて、混色防止効果が増大する。
また、最初の第1の色の色フィルター14を、パターン形成ではなく光硬化に重点を置き感光性成分を少なくし、更に熱硬化成分で硬化させることを主体とした第1の色の色フィルター用材料を用いて形成する。そうすることで、第1の色の色フィルター14は、半導体基板10及び下層平坦化層12に密着し、他の色フィルター形成時に生じる残渣や剥がれがなく、また高い解像度とすることができる。そして、第2、第3の色の色フィルター15、16は、感光性の第2、第3の色の色フィルター用材料を用いて、工程が少なく効率のよいフォトリソグラフィの形成工法で形成される。そうすることで、最初に形成した第1の色の色フィルター14のパターンが、正確なパターンガイドとなり、第2、第3の色の色フィルター15、16のパターンをフォトリソグラフィで形状良く形成することができる。
以上のように、本実施形態によれば、第1の色の色フィルター以外の色フィルターの下側に下層平坦化層を設けない分、第1の色の色フィルターよりも相対的に厚く形成出来るため、全体を薄膜化しても、第1の色の色フィルター以外は、顔料含有率の少ない従来色フィルター材料を用いたまま、薄膜化を実施することができ、混色を低減した高精細な固体撮像素子を提供することが可能となる。
ここで、上記説明では、図13では、第2及び第3の色の色フィルター15、16の膜厚が共に、(第1の色の色フィルターの膜厚+下層平坦化層12の膜厚)よりも大きい場合を例示しているが、図17に示すように、ブルーの色フィルターの上面とグリーンの色ファイルーの上面とが面一となるように構成しても良い。また図8では、上側平坦化層を省略した例である。
第2以降の色フィルターの形成順序は、相対的に膜厚の薄い色フィルターを先に形成するように形成順序を設定しても良い。
ここで、上記説明では、図13では、第2及び第3の色の色フィルター15、16の膜厚が共に、(第1の色の色フィルターの膜厚+下層平坦化層12の膜厚)よりも大きい場合を例示しているが、図17に示すように、ブルーの色フィルターの上面とグリーンの色ファイルーの上面とが面一となるように構成しても良い。また図8では、上側平坦化層を省略した例である。
第2以降の色フィルターの形成順序は、相対的に膜厚の薄い色フィルターを先に形成するように形成順序を設定しても良い。
ここで、従来、顔料含有率を高くした色フィルター材料は、溶剤耐性が低下して分光特性が変化するという課題があった。また、色フィルター層を構成する3色以上の色フィルターをドライエッチング工程でパターン形成する場合には、工程数が増加して、ドライエッチングでの残渣の発生が複数発生する可能性が起こる。一方、第2色目以降の色フィルターをリソグラフィで作製する場合は、感光性樹脂の含有量とパターニング性の観点から薄膜化に限界が生じ、1色目の色フィルターと同様の薄膜化は困難となる。
第4の実施形態は、上述の課題に鑑み、製造が容易で混色を低減した高精細で感度の良い固体撮像素子を提供する。
すなわち、第4の実施形態にあっては、第1の色の色フィルター以外の色フィルターの下側に下層平坦化層を設けない分、第1の色の色フィルターよりも相対的に膜厚を厚く形成出来るため、全体を薄膜化しても、第1の色の色フィルター以外は、顔料含有率の少ない従来色フィルター材料を用いたまま、薄膜化を実施することが可能となる。この結果、混色を低減した高精細な固体撮像素子を提供することが可能となる。
すなわち、第4の実施形態にあっては、第1の色の色フィルター以外の色フィルターの下側に下層平坦化層を設けない分、第1の色の色フィルターよりも相対的に膜厚を厚く形成出来るため、全体を薄膜化しても、第1の色の色フィルター以外は、顔料含有率の少ない従来色フィルター材料を用いたまま、薄膜化を実施することが可能となる。この結果、混色を低減した高精細な固体撮像素子を提供することが可能となる。
「第4の実施形態の変形例」
(1)第4の実施形態に係る固体撮像素子の製造方法において、第2の実施形態と同様の第1の色の色フィルターの硬化工程(図10参照)を採用して製造するようにしても良い。作用その他は、第3の実施形態と同様である。
(2)また、第4の実施形態に係る固体撮像素子の製造方法において、第3の実施形態に係る固体撮像素子の製造方法(図11,図12参照)を採用するようにしても良い。
この固体撮像素子は、第1の色の色フィルター材料が硬化成分として感光性樹脂のみで構成されている点に特徴を有している。感光性樹脂材料を含んでいる構成は、従来手法の感光性を付与したカラーレジストを用いてのフォトリソグラフィによる色フィルター形成工程と同様である。しかし本実施形態では、感光性樹脂を用いるが従来のようなパターニングを行うわけではなく、全面を露光することで光硬化を行い、その後高温加熱で色フィルターの水分を蒸発させ加熱硬化を行う。このため、従来手法に比べて、感光性の硬化成分量を少なくでき、顔料濃度を向上させることが可能となるため、第1の色の色フィルター14を薄膜化しやすくなる利点がある。
この変形例では、第1の色の色フィルター14の硬化時点での工程が異なる。
作用その他は、第3の実施形態と同様である。
(1)第4の実施形態に係る固体撮像素子の製造方法において、第2の実施形態と同様の第1の色の色フィルターの硬化工程(図10参照)を採用して製造するようにしても良い。作用その他は、第3の実施形態と同様である。
(2)また、第4の実施形態に係る固体撮像素子の製造方法において、第3の実施形態に係る固体撮像素子の製造方法(図11,図12参照)を採用するようにしても良い。
この固体撮像素子は、第1の色の色フィルター材料が硬化成分として感光性樹脂のみで構成されている点に特徴を有している。感光性樹脂材料を含んでいる構成は、従来手法の感光性を付与したカラーレジストを用いてのフォトリソグラフィによる色フィルター形成工程と同様である。しかし本実施形態では、感光性樹脂を用いるが従来のようなパターニングを行うわけではなく、全面を露光することで光硬化を行い、その後高温加熱で色フィルターの水分を蒸発させ加熱硬化を行う。このため、従来手法に比べて、感光性の硬化成分量を少なくでき、顔料濃度を向上させることが可能となるため、第1の色の色フィルター14を薄膜化しやすくなる利点がある。
この変形例では、第1の色の色フィルター14の硬化時点での工程が異なる。
作用その他は、第3の実施形態と同様である。
以下、本発明の固体撮像素子及び固体撮像素子について、実施例により具体的に説明する。
「実施例A」
まず実施例Aについて説明する。
実施例Aは、第1~第3の実施形態に基づく実施例である。
<実施例1-1>
二次元的に配置された光電変換素子を備える半導体基板上に、アクリル樹脂を含む塗布液を回転数2000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で20分間の加熱処理を施して樹脂を硬化した。これにより、半導体基板上に下層平坦化層を形成した。この際の下層平坦化層の層厚は60nmであった。
次に、1色目であるグリーンの顔料を含む第1の色の色フィルター用材料として、感光性硬化樹脂と熱硬化性樹脂を含ませたグリーン顔料分散液を1000rpmの回転数でスピンコートした。この1色目の色フィルター用材料のグリーンの顔料には、カラーインデックスにてC.I.PG58を用いており、その顔料濃度は70質量%、層厚は500nmであった。
「実施例A」
まず実施例Aについて説明する。
実施例Aは、第1~第3の実施形態に基づく実施例である。
<実施例1-1>
二次元的に配置された光電変換素子を備える半導体基板上に、アクリル樹脂を含む塗布液を回転数2000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で20分間の加熱処理を施して樹脂を硬化した。これにより、半導体基板上に下層平坦化層を形成した。この際の下層平坦化層の層厚は60nmであった。
次に、1色目であるグリーンの顔料を含む第1の色の色フィルター用材料として、感光性硬化樹脂と熱硬化性樹脂を含ませたグリーン顔料分散液を1000rpmの回転数でスピンコートした。この1色目の色フィルター用材料のグリーンの顔料には、カラーインデックスにてC.I.PG58を用いており、その顔料濃度は70質量%、層厚は500nmであった。
次に、第1の色の色フィルター材料の硬化を実施するため、i線の露光装置であるステッパーを用いて全面の露光を行い、感光性成分の硬化を実施した。この感光性成分の硬化により、色フィルターの表面の硬化を実施した。続いて、230℃で6分間ベークを行い、グリーンフィルター層の熱硬化を行った。
次に、ポジ型レジスト(OFPR-800:東京応化工業株式会社製)を、スピンコーターを用いて1000rpmの回転数でスピンコートした後、90℃で1分間プリベークを行った。これにより、感光性樹脂マスク材料層あるフォトレジストを膜厚1.5μmで塗布したサンプルを作製した。
この、感光性樹脂マスク材料層であるポジ型レジストは、紫外線照射により、化学反応を起こして現像液に溶解するようになった。
このサンプルに対して、フォトマスクを介して露光するフォトリゾグラフィーを行った。露光装置は光源にi線の波長を用いた露光装置を使用した。
次に、ポジ型レジスト(OFPR-800:東京応化工業株式会社製)を、スピンコーターを用いて1000rpmの回転数でスピンコートした後、90℃で1分間プリベークを行った。これにより、感光性樹脂マスク材料層あるフォトレジストを膜厚1.5μmで塗布したサンプルを作製した。
この、感光性樹脂マスク材料層であるポジ型レジストは、紫外線照射により、化学反応を起こして現像液に溶解するようになった。
このサンプルに対して、フォトマスクを介して露光するフォトリゾグラフィーを行った。露光装置は光源にi線の波長を用いた露光装置を使用した。
次に、2.38質量%のTMAH(テトラメチルアンモニウムハイドライド)を現像液として用いて現像工程を行い、第2、第3の色フィルターを形成する場所に開口部を有するエッチングマスクを形成した。ポジ型レジストを用いる際には、現像後脱水ベークを行い、感光性樹脂マスク材料層であるフォトレジストの硬化を行うことが多い。しかしながら、今回はドライエッチング後のエッチングマスクの除去を容易にするため、ベーク工程を実施しなかった。そのため、レジストの硬化が出来ず、選択比の向上が見込めないため、レジストの膜厚をグリーンフィルターである第1の色の色フィルターの膜厚の2倍以上である、1.5μmの膜厚で形成した。この際の開口部パターンは、1.1μm×1.1μmであった。
次に、形成したエッチングマスクを用いて、ドライエッチングを行った。この際、用いたドライエッチング装置は、並行平板方式のドライエッチング装置を用いた。また、下地の半導体基板に影響を与えないように、途中でエッチング条件の変更を行い、ドライエッチングを多段階で実施した。
始めにガス種は、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を各5ml/min、Arのガス流量を200ml/minとした。すなわち、全ガス流量中、Arのガス流量が95.2%であった。また、この際のチャンバー内の圧力を1Paの圧力とし、RFパワーを500Wとして実施した。この条件を用いて、グリーンフィルター層の総膜厚の500nmのうちの70%に当たる350nm程度までエッチングした段階で、次のエッチング条件に変更した。
始めにガス種は、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を各5ml/min、Arのガス流量を200ml/minとした。すなわち、全ガス流量中、Arのガス流量が95.2%であった。また、この際のチャンバー内の圧力を1Paの圧力とし、RFパワーを500Wとして実施した。この条件を用いて、グリーンフィルター層の総膜厚の500nmのうちの70%に当たる350nm程度までエッチングした段階で、次のエッチング条件に変更した。
次に、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を各25ml/min、Arのガス流量を50ml/minとした。すなわち、全ガス流量中、Arのガス流量が50%であった。また、この際のチャンバー内の圧力を5Paの圧力とし、RFパワーを300Wとして実施した。この条件により、エッチングマスクであるフォトレジストの側面に付着している反応生成物の除去が進むようにエッチングを行った。この条件により、グリーンの第1の色の色フィルター層の総膜厚500nmの90%である450nm程度までエッチングを実施した。二段階目でのエッチング量は100nm程度である。CF4とO2のガス流量を増やしたため、エッチングレートは5nm/sec程度であり、非常に早く進行した。
次に、Ar単ガスを用いて、Arのガス流量を200ml/min、チャンバー内圧力を1.5Pa、RFパワーを400Wの条件でエッチングを行った。この条件でエッチングを行うことで、グリーンフィルター層の残存分のエッチングを行うと同時に、下層平坦化層のエッチングを行う。Ar単ガスの条件でのエッチングでは、イオンによる物理的衝撃が主反応のため、グリーンフィルターの化学反応で、エッチングされずに残る残渣を効果的に除去可能となる。また、このエッチング条件はエッチングサンプルの面内でのエッチングレートの差を調整する目的もあり、オーバーエッチング量が10%となるようにエッチングを実施した。言い換えるとグリーンの色フィルター用材料の総膜厚500nmに対して110%になる膜厚550nmを3段階の条件でエッチングを行った状況である。
次に、O2単ガスを用いて、O2ガス流量を100ml/min、チャンバー内圧力を15Pa、RFパワーを150Wの条件でエッチングを行った。この条件により、エッチングマスクのトップである表面のダメージを受けて変質している層の除去と共に、底面に残っているAr単ガスで除去できなかったグリーンの色フィルター用材料の残渣をエッチングした。
次に、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料の除去を行った。この際用いた方法は溶剤を用いた方法であり、剥離液104(東京応化工業株式会社製)を用いてスプレー洗浄装置でレジストの除去を行った。
次に、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料の除去を行った。この際用いた方法は溶剤を用いた方法であり、剥離液104(東京応化工業株式会社製)を用いてスプレー洗浄装置でレジストの除去を行った。
(第2の色の色フィルターの作製)
次に第2の色の色フィルター形成工程を行った。第2、及び第3の色の色フィルター形成箇所は、第1の色の色フィルター形成工程で、下層平坦化層12を除去しているため、半導体基板10が露出している。半導体基板10は、表面がSiO2などの表面保護層が形成されているため、表面が親水性となっており、現像工程で現像液の回り込みにより、第2の色の色フィルターが剥がれる可能性が考えられる。そのため、露出している半導体基板10を疎水性にするため、HMDS処理を実施した。
次に第2の色の色フィルター形成工程を行った。第2、及び第3の色の色フィルター形成箇所は、第1の色の色フィルター形成工程で、下層平坦化層12を除去しているため、半導体基板10が露出している。半導体基板10は、表面がSiO2などの表面保護層が形成されているため、表面が親水性となっており、現像工程で現像液の回り込みにより、第2の色の色フィルターが剥がれる可能性が考えられる。そのため、露出している半導体基板10を疎水性にするため、HMDS処理を実施した。
次に、第2の色の色フィルターを設けるべく顔料分散ブルーを含有している感光性の第2の色の色フィルター用材料を半導体基板全面に塗布した。
次に、フォトリソグラフィにより感光性の第2の色の色フィルター用材料に選択的に露光した。
次に、感光性の色フィルター用材料を現像して、ブルーフィルターを形成した。このとき、ブルーレジストの感光性の色フィルター用材料に用いた顔料は、それぞれカラーインデックスにてC.I.PB156、C.I.PV23であり、顔料濃度は50質量%であった。また、ブルーの色フィルターの層厚は0.56μmであった。また、ブルーレジストの主成分である樹脂としては、感光性を持たせたアクリル系の樹脂を用いた。
次に、フォトリソグラフィにより感光性の第2の色の色フィルター用材料に選択的に露光した。
次に、感光性の色フィルター用材料を現像して、ブルーフィルターを形成した。このとき、ブルーレジストの感光性の色フィルター用材料に用いた顔料は、それぞれカラーインデックスにてC.I.PB156、C.I.PV23であり、顔料濃度は50質量%であった。また、ブルーの色フィルターの層厚は0.56μmであった。また、ブルーレジストの主成分である樹脂としては、感光性を持たせたアクリル系の樹脂を用いた。
次に、第2の色の色フィルター(ブルーフィルター)となる感光性の第2の色の色フィルター用材料を強固に硬化させるため、230度のオーブンに30分間入れて硬化を行った。この加熱工程を経た後は、第3の色の色フィルター形成工程等の工程を経ても、剥がれや、パターンの崩れ等が確認されなかった。第2の色の色フィルターは周囲を矩形性の良い第1の色の色フィルターに覆われており、矩形性良く形成されているため、底面及び周囲との間で密着性良く硬化することが確認された。
(第3の色の色フィルターの作製)
次に、顔料分散レッドを含有している感光性の第3の色の色フィルター用材料を半導体基板全面に塗布した。
次に、フォトリソグラフィにより、感光性の第3の色の色フィルター用材料にフォトマスクのパターンを選択的露光した。
次に、感光性の第3の色の色フィルター用材料を現像して、レッドの第3の色の色フィルターを形成した。
このとき、レッドレジストに用いた顔料は、それぞれカラーインデックスにてC.I.PR254、C.I.PY139であり、顔料濃度は60質量%であった。また、第3の色の色フィルターの層厚は0.56μmであった。
次に、顔料分散レッドを含有している感光性の第3の色の色フィルター用材料を半導体基板全面に塗布した。
次に、フォトリソグラフィにより、感光性の第3の色の色フィルター用材料にフォトマスクのパターンを選択的露光した。
次に、感光性の第3の色の色フィルター用材料を現像して、レッドの第3の色の色フィルターを形成した。
このとき、レッドレジストに用いた顔料は、それぞれカラーインデックスにてC.I.PR254、C.I.PY139であり、顔料濃度は60質量%であった。また、第3の色の色フィルターの層厚は0.56μmであった。
次に、第3の色の色フィルターとなるレッドの感光性の第3の色の色フィルター用材料を強固に硬化させるため、230度のオーブンに20分間入れて硬化を行った。この際、第3の色の色フィルターは周囲を矩形性の良い第1の色の色フィルターに覆われており、矩形性良く形成されているため、底面及び周囲との間で、密着性良く硬化することが確認された。
上記の工程により、グリーンからなる第1の色の色フィルターの膜厚A(500nm)と、その下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、ブルーとレッドからなる第2及び第3の色の色フィルターであるの膜厚C(560nm)は、本発明に基づく膜厚となっている。
上記の工程により、グリーンからなる第1の色の色フィルターの膜厚A(500nm)と、その下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、ブルーとレッドからなる第2及び第3の色の色フィルターであるの膜厚C(560nm)は、本発明に基づく膜厚となっている。
次に、上記の流れで形成された色フィルター上にアクリル樹脂を含む塗布液を回転数1000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で30分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、上層平坦化層を形成した。
最後に、上層平坦化層上に、上述した公知の技術であるエッチバックによる転写方法を用いてレンズトップからレンズボトムまでの高さを500nmとなるマイクロレンズを形成し、実施例1-1の固体撮像素子を完成した。
最後に、上層平坦化層上に、上述した公知の技術であるエッチバックによる転写方法を用いてレンズトップからレンズボトムまでの高さを500nmとなるマイクロレンズを形成し、実施例1-1の固体撮像素子を完成した。
以上のようにして得た固体撮像素子は、第1の色の色フィルターの下部に薄く下層平坦化層が形成され、第2、第3の色の色フィルターは半導体基板上に形成されている。また、1色目であるグリーンフィルターは熱硬化性樹脂と少量の感光性硬化樹脂を用いているため固形分中の顔料の濃度を上げることが出来、色フィルターを薄く形成することが出来た。また、第2及び第3の色の色フィルターである、ブルー及びレッドは感光性樹脂を用いている。そのため、固体撮像素子は、マイクロレンズ下の半導体基板までの距離が小さく、良好な感度を有するものであった。
更に、グリーンフィルターからなる第1の色の色フィルターの色フィルター用材料は、熱硬化で内部を固めており、更に少量の感光性樹脂を用いて露光で表面を固めるため、溶剤耐性が向上している。顔料含有率の高いグリーンフィルター材料を用いた場合、溶剤や他の色フィルター材料と反応して分光特性が変化することがある。そのため、上記の熱硬化及び光硬化を併用することで、硬度を向上することができ、分光特性の変化を抑制する効果がある。
<実施例1-2>
実施例1-2は、第2の実施形態で説明した構成の固体撮像素子に対応する実施例である。
実施例1-2の固体撮像素子は第1の色の色フィルター材料として、光硬化性樹脂を用いず、熱硬化性樹脂のみを用いる構成である。熱硬化性樹脂のみのため、顔料濃度を高濃度にすることができ、薄膜に形成することが可能である。
実施例1-2は、第2の実施形態で説明した構成の固体撮像素子に対応する実施例である。
実施例1-2の固体撮像素子は第1の色の色フィルター材料として、光硬化性樹脂を用いず、熱硬化性樹脂のみを用いる構成である。熱硬化性樹脂のみのため、顔料濃度を高濃度にすることができ、薄膜に形成することが可能である。
(下層平坦化層の形成)
半導体基板上に、アクリル樹脂を含む塗布液を回転数2000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で20分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、下層平坦化層を形成した。この際の下層平坦化層の層厚は60nmであった。
半導体基板上に、アクリル樹脂を含む塗布液を回転数2000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で20分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、下層平坦化層を形成した。この際の下層平坦化層の層厚は60nmであった。
(第1の色の色フィルターの形成)
第1の色の色フィルター(グリーンフィルター)の色フィルター用材料として、熱硬化性樹脂を含み、感光性樹脂を含まないグリーン顔料分散液を準備した。このグリーン顔料分散液を、下層平坦化層の表面に1000rpmの回転数でスピンコートした。グリーン顔料分散液の主成分である樹脂としては、熱硬化タイプのアクリル系樹脂を用いた。また、グリーン顔料分散液に含まれるグリーン顔料には、カラーインデックスにてC.I.PG58を用いており、グリーン顔料分散液におけるグリーン顔料濃度は70質量%であった。また、グリーンの色フィルター材料の塗布厚は500nmであった。
次に、グリーンの色フィルターに対して250℃で6分間ベークを行い、グリーンフィルター用材料を硬化させてグリーンフィルター層を形成した。250℃の高温ベークを行うことで、熱硬化性樹脂の架橋密度を向上させて、より強固にグリーン顔料の硬化を実施した。
第1の色の色フィルター(グリーンフィルター)の色フィルター用材料として、熱硬化性樹脂を含み、感光性樹脂を含まないグリーン顔料分散液を準備した。このグリーン顔料分散液を、下層平坦化層の表面に1000rpmの回転数でスピンコートした。グリーン顔料分散液の主成分である樹脂としては、熱硬化タイプのアクリル系樹脂を用いた。また、グリーン顔料分散液に含まれるグリーン顔料には、カラーインデックスにてC.I.PG58を用いており、グリーン顔料分散液におけるグリーン顔料濃度は70質量%であった。また、グリーンの色フィルター材料の塗布厚は500nmであった。
次に、グリーンの色フィルターに対して250℃で6分間ベークを行い、グリーンフィルター用材料を硬化させてグリーンフィルター層を形成した。250℃の高温ベークを行うことで、熱硬化性樹脂の架橋密度を向上させて、より強固にグリーン顔料の硬化を実施した。
(第1の色の色フィルターの形成)
実施例1-1に示す方法にて、感光性樹脂マスク材料のパターニングを行い、エッチングマスクを形成した。
始めにガス種は、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を5ml/min、Arのガス流量を200ml/minとした。また、エッチングの際のチャンバー内の圧力を1Paとし、RFパワーを500Wとしてエッチングを実施した。この条件を用いて、グリーンフィルター用材料の総膜厚の500nmのうち70%に当たる350nm程度までエッチングした段階で、次のエッチング条件に変更した。
実施例1-1に示す方法にて、感光性樹脂マスク材料のパターニングを行い、エッチングマスクを形成した。
始めにガス種は、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を5ml/min、Arのガス流量を200ml/minとした。また、エッチングの際のチャンバー内の圧力を1Paとし、RFパワーを500Wとしてエッチングを実施した。この条件を用いて、グリーンフィルター用材料の総膜厚の500nmのうち70%に当たる350nm程度までエッチングした段階で、次のエッチング条件に変更した。
次に、CF4、O2、Arガスの三種を混合したエッチングガスを用いてエッチングを実施した。このとき、CF4、O2のガス流量を各25ml/min、Arのガス流量を50ml/minとした。また、このとき、チャンバー内の圧力を5Paとし、RFパワーを300Wとしてエッチングを実施した。この条件により、エッチングマスクであるフォトレジストの側面に付着している反応生成物の除去が進むようにエッチングを行った。この条件により、第1の色の色フィルター層(グリーンフィルター)の総膜厚500nmの90%である450nm程度までエッチングを実施した。二段階目でのエッチング量は100nm程度であった。CF4とO2のガス流量を増やしたため、エッチングレートは5nm/sec程度であり、非常に早く進行した。
次に、Ar単ガスを用いて、Arのガス流量を200ml/min、チャンバー内圧力を1.5Pa、RFパワーを400Wの条件でエッチングを行った。この条件でエッチングを行うことで、グリーンの色フィルター用材料の残存分のエッチングを行うと同時に、下層平坦化層のエッチングを行った。Ar単ガスの条件でのエッチングでは、イオンによる物理的衝撃が主反応のため、グリーンフィルターの化学反応で、エッチングされずに残る残渣を効果的に除去可能となる。
また、このエッチング条件は、エッチングサンプルの面内でのエッチングレートの差を調整する目的もあり、オーバーエッチング量が10%となるようにエッチングを実施した。言い換えると、グリーンフィルター用材料の総膜厚500nmに対して110%になる膜厚550nmを3段階の条件でエッチングを行った状況である。
次に、O2単ガスを用いて、O2ガス流量を100ml/min、チャンバー内圧力を15Pa、RFパワーを150Wの条件でエッチングを行った。この条件により、エッチングマスクのトップである表面のダメージを受けて変質している層の除去と共に、底面に残っているAr単ガスで除去できなかったグリーンフィルター層の残渣をエッチングした。
次に、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料の除去を行った。この際用いた方法は溶剤を用いた方法であり、剥離液104(東京応化工業株式会社製)を用いてスプレー洗浄装置でレジストの除去を行った。
次に、O2単ガスを用いて、O2ガス流量を100ml/min、チャンバー内圧力を15Pa、RFパワーを150Wの条件でエッチングを行った。この条件により、エッチングマスクのトップである表面のダメージを受けて変質している層の除去と共に、底面に残っているAr単ガスで除去できなかったグリーンフィルター層の残渣をエッチングした。
次に、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料の除去を行った。この際用いた方法は溶剤を用いた方法であり、剥離液104(東京応化工業株式会社製)を用いてスプレー洗浄装置でレジストの除去を行った。
(第2、第3の色の色フィルター等の作製)
実施例1-2では、この後、実施例1-1と同様の手法で第2、第3の色の色フィルター、上層の平坦化層及びマイクロレンズを形成し、実施例1-2の固体撮像素子を形成した。
上記の工程により、実施例1-2も実施例1-1同様に第1の色の色フィルターでグリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(560nm)は、本発明で規定する膜厚を満足している。
実施例1-2では、この後、実施例1-1と同様の手法で第2、第3の色の色フィルター、上層の平坦化層及びマイクロレンズを形成し、実施例1-2の固体撮像素子を形成した。
上記の工程により、実施例1-2も実施例1-1同様に第1の色の色フィルターでグリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(560nm)は、本発明で規定する膜厚を満足している。
<実施例1-3>
実施例1-3は、第3の実施形態で説明した構成の固体撮像素子に対応する実施例である。
実施例1-3に示す固体撮像素子は、第1の色の色フィルターの材料として、熱硬化性樹脂を用いず、光硬化性樹脂のみを用いる構成である。しかし後述する工程のように従来の感光性を持たせたカラーレジストをパターニングする工程とことなり、全面露光で硬化する程度であれば良いため、顔料含有率を高くする事が可能であり、薄膜に形成することができる。
実施例1-3は、第3の実施形態で説明した構成の固体撮像素子に対応する実施例である。
実施例1-3に示す固体撮像素子は、第1の色の色フィルターの材料として、熱硬化性樹脂を用いず、光硬化性樹脂のみを用いる構成である。しかし後述する工程のように従来の感光性を持たせたカラーレジストをパターニングする工程とことなり、全面露光で硬化する程度であれば良いため、顔料含有率を高くする事が可能であり、薄膜に形成することができる。
(下層平坦化層の形成)
半導体基板上に、アクリル樹脂を含む塗布液を回転数2000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で20分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、下層平坦化層を形成した。この際の下層平坦化層の層厚は60nmであった。
半導体基板上に、アクリル樹脂を含む塗布液を回転数2000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で20分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、下層平坦化層を形成した。この際の下層平坦化層の層厚は60nmであった。
(第1の色の色フィルターの形成)
第1の色の色フィルター(グリーンフィルター)の色フィルター用材料として、感光性樹脂を含み、熱硬化性樹脂を含まないグリーン顔料分散液を準備した。このグリーン顔料分散液を、下層平坦化層の表面に1000rpmの回転数でスピンコートした。グリーン顔料分散液の主成分である樹脂としては、光硬化タイプのアクリル系樹脂を用いた。また、グリーン顔料分散液に含まれるグリーン顔料には、カラーインデックスにてC.I.PG58を用いており、グリーン顔料分散液におけるグリーン顔料濃度は70質量%であった。また、グリーンの色フィルター材料の塗布厚は500nmであった。
第1の色の色フィルター(グリーンフィルター)の色フィルター用材料として、感光性樹脂を含み、熱硬化性樹脂を含まないグリーン顔料分散液を準備した。このグリーン顔料分散液を、下層平坦化層の表面に1000rpmの回転数でスピンコートした。グリーン顔料分散液の主成分である樹脂としては、光硬化タイプのアクリル系樹脂を用いた。また、グリーン顔料分散液に含まれるグリーン顔料には、カラーインデックスにてC.I.PG58を用いており、グリーン顔料分散液におけるグリーン顔料濃度は70質量%であった。また、グリーンの色フィルター材料の塗布厚は500nmであった。
次に、グリーンフィルター用材料をi線ステッパー型の露光装置を用いてウエハ全面の露光を行い、光硬化を行った。
次に、光硬化を行ったグリーンフィルターに対して230℃で6分間ベークを行い、グリーンフィルター用材料を硬化させてグリーンフィルター層を形成した。
次に、グリーンフィルター層の表面に、ポジ型レジスト(OFPR-800:東京応化工業株式会社製)を、スピンコーターを用いて1000rpmの回転数でスピンコートした後、90℃で1分間プリベークを行った。これにより、感光性樹脂マスク材料であるフォトレジストが膜厚1.5μmで塗布されたサンプルを作製した。
この感光性樹脂マスク材料であるポジ型レジストは、紫外線照射により、化学反応を起こして現像液に溶解するようになる。
次に、このサンプルに対して、フォトマスクを介して露光するフォトリゾグラフィーを行った。露光装置は光源にi線の波長を用いた露光装置を使用した。
次に、光硬化を行ったグリーンフィルターに対して230℃で6分間ベークを行い、グリーンフィルター用材料を硬化させてグリーンフィルター層を形成した。
次に、グリーンフィルター層の表面に、ポジ型レジスト(OFPR-800:東京応化工業株式会社製)を、スピンコーターを用いて1000rpmの回転数でスピンコートした後、90℃で1分間プリベークを行った。これにより、感光性樹脂マスク材料であるフォトレジストが膜厚1.5μmで塗布されたサンプルを作製した。
この感光性樹脂マスク材料であるポジ型レジストは、紫外線照射により、化学反応を起こして現像液に溶解するようになる。
次に、このサンプルに対して、フォトマスクを介して露光するフォトリゾグラフィーを行った。露光装置は光源にi線の波長を用いた露光装置を使用した。
次に、2.38質量%のTMAH(テトラメチルアンモニウムハイドライド)を現像液として用いて現像工程を行い、第2、第3の色フィルターを形成する位置に開口部が設けられたフォトレジストを形成した。ポジ型レジストを用いる際には、現像後脱水ベークを行い感光性樹脂マスク材料であるフォトレジストの硬化を行うことが多い。しかしながら、今回はドライエッチング後のエッチングマスクの除去を容易にするため、ベーク工程を実施しなかった。そのため、レジストの硬化が出来ず、選択比の向上が見込めないため、フォトレジストの膜厚をグリーンフィルターである第1の色の色フィルターの膜厚の2倍以上である1.5μmの膜厚で形成した。この際の開口部のサイズは、1.1μm×1.1μmであった。
次に、形成した感光性樹脂マスク材料層をエッチングマスクとして、ドライエッチングを行った。この際ドライエッチング装置として、並行平板方式のドライエッチング装置を用いた。また、下地の半導体基板に影響を与えないように、ドライエッチングを多段階で実施した。
ガス種は、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を各5ml/min、Arのガス流量を200ml/minとした。また、エッチングの際のチャンバー内の圧力を1Paとし、RFパワーを500Wとしてエッチングを実施した。この条件を用いて、グリーンフィルター用材料の総膜厚の500nmのうち70%に当たる350nm程度までエッチングした段階で、次のエッチング条件に変更した。
ガス種は、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を各5ml/min、Arのガス流量を200ml/minとした。また、エッチングの際のチャンバー内の圧力を1Paとし、RFパワーを500Wとしてエッチングを実施した。この条件を用いて、グリーンフィルター用材料の総膜厚の500nmのうち70%に当たる350nm程度までエッチングした段階で、次のエッチング条件に変更した。
次に、CF4、O2、Arガスの三種を混合したエッチングガスを用いてエッチングを実施した。このとき、CF4、O2のガス流量を各25ml/min、Arのガス流量を50ml/minとした。また、このとき、チャンバー内の圧力を5Paとし、RFパワーを300Wとしてエッチングを実施した。この条件により、エッチングマスクであるフォトレジストの側面に付着している反応生成物の除去が進むようにエッチングを行った。この条件により、グリーンの第1の色の色フィルター層の総膜厚500nmの90%である450nm程度までエッチングを実施した。二段階目でのエッチング量は100nm程度である。CF4とO2のガス流量を増やしたため、エッチングレートは5nm/sec程度であり、非常に早く進行した。
次に、Ar単ガスを用いて、Arのガス流量を200ml/min、チャンバー内圧力を1.5Pa、RFパワーを400Wの条件でエッチングを行った。この条件でエッチングを行うことで、グリーンフィルター層の残存分のエッチングを行うと同時に、下層平坦化層のエッチングを行った。Ar単ガスの条件でのエッチングでは、イオンによる物理的衝撃が主反応のため、グリーンフィルターの化学反応で、エッチングされずに残る残渣を効果的に除去可能となる。また、このエッチング条件はエッチングサンプルの面内でのエッチングレートの差を調整する目的もあり、オーバーエッチング量が10%となるようにエッチングを実施した。言い換えるとグリーンの色フィルター用材料の総膜厚500nmに対して110%になる膜厚550nmを3段階の条件でエッチングを行った状況である。
次に、O2単ガスを用いて、O2ガス流量を100ml/min、チャンバー内圧力を15Pa、RFパワーを150Wの条件でエッチングを行った。この条件により、エッチングマスクのトップである表面のダメージを受けて変質している層の除去と共に、底面に残っているAr単ガスで除去できなかったグリーンの色フィルター膜の残渣をエッチングした。
次に、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料の除去を行った。この際用いた方法は溶剤を用いた方法であり、剥離液104(東京応化工業株式会社製)を用いてスプレー洗浄装置でレジストの除去を行った。
次に、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料の除去を行った。この際用いた方法は溶剤を用いた方法であり、剥離液104(東京応化工業株式会社製)を用いてスプレー洗浄装置でレジストの除去を行った。
(第2、第3の色の色フィルター等の作製)
実施例1-3では、この後、実施例1-1と同様の手法で第2、第3の色の色フィルター、上層の平坦化層及びマイクロレンズを形成し、実施例1-3の固体撮像素子を形成した。
上記の工程により、実施例1-3も実施例1-1同様に第1の色の色フィルターでグリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(560nm)は、本発明で規定する膜厚を満足している。
実施例1-3では、第1の色の色フィルターであるグリーンフィルターを紫外線照射で硬化させたあと、高温加熱で加熱硬化を行っている。顔料含有率を高くすると、光硬化で固めても、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料をパターニングする現像工程及び、ドライエッチング後の感光性樹脂マスク材料を除去する洗浄工程で、グリーンフィルターが剥がれてしまう可能性があるためである。
本実施例の効果により、グリーンパターンの表面を感光性成分で高密度に硬化することができ、顔料濃度が高濃度の場合でも、溶剤耐性が向上する効果がある。
実施例1-3では、この後、実施例1-1と同様の手法で第2、第3の色の色フィルター、上層の平坦化層及びマイクロレンズを形成し、実施例1-3の固体撮像素子を形成した。
上記の工程により、実施例1-3も実施例1-1同様に第1の色の色フィルターでグリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(560nm)は、本発明で規定する膜厚を満足している。
実施例1-3では、第1の色の色フィルターであるグリーンフィルターを紫外線照射で硬化させたあと、高温加熱で加熱硬化を行っている。顔料含有率を高くすると、光硬化で固めても、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料をパターニングする現像工程及び、ドライエッチング後の感光性樹脂マスク材料を除去する洗浄工程で、グリーンフィルターが剥がれてしまう可能性があるためである。
本実施例の効果により、グリーンパターンの表面を感光性成分で高密度に硬化することができ、顔料濃度が高濃度の場合でも、溶剤耐性が向上する効果がある。
<従来法>
特許文献1に記載の従来法に基づき、フォトリソグラフィプロセスによって各色の色フィルターをパターン形成した。
但し、グリーン、ブルー、レッドの三色の膜厚を700nmと薄膜に設定し、各色の色フィルター全部の下層に下層平坦化層(60nm)を設けた。
その他は、第1実施例と同様にして、従来法による固体撮像素子を製造した。
特許文献1に記載の従来法に基づき、フォトリソグラフィプロセスによって各色の色フィルターをパターン形成した。
但し、グリーン、ブルー、レッドの三色の膜厚を700nmと薄膜に設定し、各色の色フィルター全部の下層に下層平坦化層(60nm)を設けた。
その他は、第1実施例と同様にして、従来法による固体撮像素子を製造した。
(評価)
実施例Aにおける各実施例は、第1の色の色フィルターの硬化方法が異なるが、グリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(560nm)となっている。
このような各実施例の固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度について、従来手法のフォトリソグラフィでグリーン、ブルー、レッドの三色の膜厚を700nmで分光特性を合わせた構造で作製した固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度を評価した。
以下の表1に、各色の信号強度の評価結果を示す。
実施例Aにおける各実施例は、第1の色の色フィルターの硬化方法が異なるが、グリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(560nm)となっている。
このような各実施例の固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度について、従来手法のフォトリソグラフィでグリーン、ブルー、レッドの三色の膜厚を700nmで分光特性を合わせた構造で作製した固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度を評価した。
以下の表1に、各色の信号強度の評価結果を示す。
表1に示すように、ドライエッチング法を用いて、グリーンフィルターを薄膜化及び矩形性良く形成した実施例1-1から実施例1-3の固体撮像素子では、従来法のフォトリソグラフィで形成した場合と比較して、各色の信号強度が増加した。
本実施例の作製方法により、グリーンフィルター膜厚は500nmであり、下層の平坦化層の膜厚(60nm)と合わせて560nm、レッド及びブルーフィルター膜厚は560nmで形成しており、全ての色フィルター膜厚をフォトリソグラフィで形成した場合と比較して、20%薄膜化することで、マイクロレンズトップからデバイスまでの距離を短くすることができた。
本実施例の作製方法により、グリーンフィルター膜厚は500nmであり、下層の平坦化層の膜厚(60nm)と合わせて560nm、レッド及びブルーフィルター膜厚は560nmで形成しており、全ての色フィルター膜厚をフォトリソグラフィで形成した場合と比較して、20%薄膜化することで、マイクロレンズトップからデバイスまでの距離を短くすることができた。
本実施例の作製方法でOCF形成後に分光特性の評価をした結果、分光特性の変化は観察されなかった。これは、本実施例の熱硬化及び光硬化により、薄膜化したグリーンフィルターの硬度が十分であることを示している。薄膜化したグリーンフィルターでフォトリソグラフィ形成のグリーンフィルター膜厚(700nm)と同等の色分光を行う為に、顔料含有率の高いグリーンフィルター材料を使用したが分光特性の変化は発生せず、薄膜化の効果によりマイクロレンズトップからデバイスまでの距離が短くなりグリーンの信号強度が増加した。
また、薄膜化により斜め方向からの入射光が色フィルターを通過して他の色フィルターパターンに向かう確率が低下し、他の色フィルターパターンに向かう光が他の光電変換素子に入射することが抑制され、混色を低減したため信号強度が増加した。
また、エッチングにより矩形性良く形成したブルー及びレッドが入色されるパターンの平坦化層は除去しており、フォトリソグラフィ形成の色フィルターよりもマイクロレンズトップからデバイスまでの距離が短くなり信号強度が増加した。
また、エッチングにより矩形性良く形成したブルー及びレッドが入色されるパターンの平坦化層は除去しており、フォトリソグラフィ形成の色フィルターよりもマイクロレンズトップからデバイスまでの距離が短くなり信号強度が増加した。
また、実施例1-1から実施例1-3の手法を用いて、第2の色の色フィルター15及び第3の色の色フィルター16の高さが第1の色の色フィルター14と下層平坦化層12の膜厚を足した値より低い高さで色フィルターを形成した場合においても、膜厚を薄くした分、顔料含有率を高くする事で、従来手法のフォトリソグラフィで形成した場合と比較して、信号強度が増加した。
「実施例B」
次に、実施例Bについて説明する。
実施例Bは、第4の実施形態に基づく実施例である。
<実施例2-1>
実施例2-1は、実施例1-1と同じ製造方法で製造した。
ただし、
次に、実施例Bについて説明する。
実施例Bは、第4の実施形態に基づく実施例である。
<実施例2-1>
実施例2-1は、実施例1-1と同じ製造方法で製造した。
ただし、
第3の色の色フィルターの作成の工程までで、第1の色の色フィルターでグリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、ブルーとレッドからなる第2及び第3の色の色フィルターの膜厚C(700nm)となるように設定し、第4の実施形態で規定する膜厚を満足させた。
次に、上記の流れで形成された色フィルター上にアクリル樹脂を含む塗布液を回転数1000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で30分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、上層平坦化層を形成した。
最後に、上層平坦化層上に、上述した公知の技術であるエッチバックによる転写方法を用いてレンズトップからレンズボトムまでの高さを500nmとなるマイクロレンズを形成し、実施例2-1の固体撮像素子を完成した。
次に、上記の流れで形成された色フィルター上にアクリル樹脂を含む塗布液を回転数1000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で30分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、上層平坦化層を形成した。
最後に、上層平坦化層上に、上述した公知の技術であるエッチバックによる転写方法を用いてレンズトップからレンズボトムまでの高さを500nmとなるマイクロレンズを形成し、実施例2-1の固体撮像素子を完成した。
以上のようにして得た固体撮像素子は、第1の色の色フィルターの下部に薄く下層平坦化層が形成され、第2、第3の色の色フィルターは半導体基板上に形成されている。また、1色目であるグリーンフィルターは熱硬化性樹脂と少量の感光性硬化樹脂を用いているため固形分中の顔料の濃度を上げることが出来、色フィルターを薄く形成することが出来た。また、第2及び第3の色の色フィルターである、ブルー及びレッドは感光性樹脂を用いている。第2及び第3の色の色フィルターは第1の色の色フィルターに合わせての薄膜化は実施しておらず、感光性樹脂の含有量を増やして、パターン形成を良好に行える膜厚で形成した。しかし、第2及び第3の色の色フィルターの下部には下層の平坦化層が無いため、フォトリソグラフィを用いてパターン形成する従来手法と比較して、総膜厚は薄くなっており、マイクロレンズから受光素子までの距離が短く形成できている。
更に、グリーンフィルターである第1の色の色フィルターの色フィルター用材料は、熱硬化で内部を固めており、更に少量の感光性樹脂を用いて露光で表面を固めるため、溶剤耐性が向上している。顔料含有率の高いグリーンフィルター材料を用いた場合、溶剤や他の色フィルター材料と反応して分光特性が変化することがある。そのため、上記の熱硬化及び光硬化を併用することで、硬度を向上することができ、分光特性の変化を抑制する効果がある。
<実施例2-2>
実施例2-2では、実施例1-2と同様の方法で作製した。
ただし、実施例2-2も実施例2-1同様に第1の色の色フィルターでグリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(700nm)とした。
実施例2-2では、実施例1-2と同様の方法で作製した。
ただし、実施例2-2も実施例2-1同様に第1の色の色フィルターでグリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(700nm)とした。
<実施例2-3>
実施例2-3は、実施例1-3と同様の方法で作製した。
ただし、上記の工程により、実施例2-2も実施例2-1同様に第1の色の色フィルターでグリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(700nm)に設定した。
実施例2-3は、実施例1-3と同様の方法で作製した。
ただし、上記の工程により、実施例2-2も実施例2-1同様に第1の色の色フィルターでグリーンの膜厚A(500nm)とその下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(700nm)に設定した。
ここで、作製する際に、第1の色の色フィルターであるグリーンフィルターを紫外線照射で硬化させたあと、高温加熱で加熱硬化を行っている。顔料含有率を高くすると、光硬化で固めても、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料をパターニングする現像工程及び、ドライエッチング後の感光性樹脂マスク材料を除去する洗浄工程で、グリーンフィルターが剥がれてしまう可能性があるためである。
本実施例の効果により、グリーンパターンの表面を感光性成分で高密度に硬化することができ、顔料濃度が高濃度の場合でも、溶剤耐性が向上する効果がある。
本実施例の効果により、グリーンパターンの表面を感光性成分で高密度に硬化することができ、顔料濃度が高濃度の場合でも、溶剤耐性が向上する効果がある。
<従来法>
特許文献1に記載の従来法に基づき、フォトリソグラフィプロセスによって各色の色フィルターをパターン形成した。
但し、グリーン、ブルー、レッドの三色の膜厚を700nmと薄膜に設定し、各色の色フィルター全部の下層に下層平坦化層(60nm)を設けた。
その他は、第1実施例と同様にして、従来法による固体撮像素子を製造した。
特許文献1に記載の従来法に基づき、フォトリソグラフィプロセスによって各色の色フィルターをパターン形成した。
但し、グリーン、ブルー、レッドの三色の膜厚を700nmと薄膜に設定し、各色の色フィルター全部の下層に下層平坦化層(60nm)を設けた。
その他は、第1実施例と同様にして、従来法による固体撮像素子を製造した。
(評価)
実施例Bの各実施例は、第1の色の色フィルターの硬化方法が異なるが、グリーンの膜厚A(500nm)と、その下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(700nm)となっている。
このような各実施例の固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度について、従来手法のフォトリソグラフィでグリーン、ブルー、レッドの三色の膜厚を700nmで分光特性を合わせた構造で作製した固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度を評価した。
以下の表1に、各色の信号強度の評価結果を示す。
実施例Bの各実施例は、第1の色の色フィルターの硬化方法が異なるが、グリーンの膜厚A(500nm)と、その下層の平坦化層の膜厚B(60nm)、第2及び第3の色の色フィルターであるブルーとレッドの膜厚C(700nm)となっている。
このような各実施例の固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度について、従来手法のフォトリソグラフィでグリーン、ブルー、レッドの三色の膜厚を700nmで分光特性を合わせた構造で作製した固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度を評価した。
以下の表1に、各色の信号強度の評価結果を示す。
表2に示すように、ドライエッチング法を用いて、グリーンフィルターを薄膜化及び矩形性良く形成した実施例2-1~実施例2-3の固体撮像素子では、従来手法のフォトリソグラフィで形成した固体撮像素子と比較して、各色の信号強度が増加した。
本実施例の作製方法により、グリーンフィルター膜厚は500nmであり、下層の平坦化層の膜厚(60nm)と合わせて560nm、レッド及びブルーフィルター膜厚は700nmで形成した。全色フォトリソグラフィで形成した場合のレッド及びブルーフィルター膜厚は、下層平坦化層の膜厚(60nm)と合わせて760nmで形成されるため、本実施例のレッド及びブルーフィルター膜厚は平坦化層分(60nm)薄膜化できた。特にグリーンフィルターの膜厚が薄膜化の効果が大きく、マイクロレンズトップからデバイスまでの距離を短くすることができた。
本実施例の作製方法により、グリーンフィルター膜厚は500nmであり、下層の平坦化層の膜厚(60nm)と合わせて560nm、レッド及びブルーフィルター膜厚は700nmで形成した。全色フォトリソグラフィで形成した場合のレッド及びブルーフィルター膜厚は、下層平坦化層の膜厚(60nm)と合わせて760nmで形成されるため、本実施例のレッド及びブルーフィルター膜厚は平坦化層分(60nm)薄膜化できた。特にグリーンフィルターの膜厚が薄膜化の効果が大きく、マイクロレンズトップからデバイスまでの距離を短くすることができた。
本実施例の作製方法でOCF形成後に分光特性の評価をした結果、分光特性の変化は観察されなかった。これは、本実施例の熱硬化及び光硬化により、薄膜化したグリーンフィルターの硬度が十分であることを示している。薄膜化したグリーンフィルターでフォトリソグラフィ形成のグリーンフィルター膜厚(700nm)と同等の色分光を行う為に、顔料含有率の高いグリーンフィルター材料を使用したが分光特性の変化は発生せず、薄膜化の効果によりマイクロレンズトップからデバイスまでの距離が短くなりグリーンの信号強度が増加した。
また、エッチングにより矩形性良く形成したブルー及びレッドが入色されるパターンの平坦化層は除去しており、フォトリソグラフィ形成の色フィルターよりもマイクロレンズトップからデバイスまでの距離が短くなり信号強度が増加した。上記の結果から、ブルー及びレッドフィルターは顔料含有率の低い従来色フィルター材料を用いても容易に薄膜化の効果を得られる構造であることが判明した。
以上、各実施形態により本発明を説明したが、本発明の範囲は、図示され記載された例示的な実施形態に限定されるものではなく、本発明が目的とするものと均等な効果をもたらす全ての実施形態をも含む。更に、本発明の範囲は、請求項により画される発明の特徴の組み合わせに限定されるものではなく、全ての開示されたそれぞれの特徴のうち特定の特徴のあらゆる所望する組み合わせによって画されうる。
ここで、本願が優先権を主張する、日本国特許出願2016-253556号(2016年12月27日出願)及び日本国特許出願2016-253650号(2016年12月27日出願)の全内容は、参照により本開示の一部をなす。
10・・・半導体基板
11・・・光電変換素子
12・・・下層平坦化層
13・・・上層平坦化層
14・・・第1の色の色フィルター
15・・・第2の色の色フィルター
16・・・第3の色の色フィルター
18・・・マイクロレンズ
20・・・エッチングマスク
20a・・・感光性樹脂マスク層
20b・・・開口部
30・・・色フィルター層
11・・・光電変換素子
12・・・下層平坦化層
13・・・上層平坦化層
14・・・第1の色の色フィルター
15・・・第2の色の色フィルター
16・・・第3の色の色フィルター
18・・・マイクロレンズ
20・・・エッチングマスク
20a・・・感光性樹脂マスク層
20b・・・開口部
30・・・色フィルター層
Claims (12)
- 複数の光電変換素子を二次元的に配置した半導体基板と、
上記半導体基板上に形成され、各光電変換素子に対応させて複数色の色フィルターを予め設定した規則パターンで二次元的に配置した色フィルター層と、を備え、
上記複数色から選択した一つの色を第1の色とした場合、
上記第1の色の色フィルターの膜厚をA[nm]、上記第1の色以外の色の色フィルターの膜厚をC[nm]とした場合に、下記(1)式及び(2)式を満足することを特徴とする固体撮像素子。
200[nm]≦A≦700[nm] ・・・(1)
C≦A+200[nm] ・・・(2) - 上記複数色から選択した第1の色の色フィルターと半導体基板との間のみに下層平坦化層を設ける、又は全色フィルターと半導体基板との間に下層平坦化層を設けず、
上記下層平坦化層の膜厚をB[nm]とした場合に、更に下記(3)、(4)式を満足することを特徴とする請求項1に記載した固体撮像素子。
0[nm]≦B≦200[nm] ・・・(3)
C≦A+B+200[nm] ・・・(4) - 更に、下記(5)式を満足することを特徴とする請求項2に記載した固体撮像素子。
A+B-200[nm]≦C≦A+B+200[nm]・・・(5) - 更に、下記(6)式及び(7)式を満足することを特徴とする請求項2に記載した固体撮像素子。
0[nm]<B≦200[nm] ・・・(6)
A ≦C≦A+B+200[nm] ・・・(7) - 第1の色はグリーンであり、第1の色以外の色にレッドを含み、
上記レッドの色からなる色フィルターの膜厚Cは、(A+B)[nm]より厚いことを特徴とする請求項4に記載した固体撮像素子。 - 上記第1の色の色フィルターには、熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂を含有し、光硬化性樹脂の含有量よりも熱硬化性樹脂の含有量の方が多いことを特徴とする請求項1~請求項5のいずれか1項に記載した固体撮像素子。
- 上記第1の色の色フィルターは、着色剤である顔料の濃度が50質量%以上であることを特徴とする請求項1~請求項6のいずれか1項に記載した固体撮像素子。
- 更に、上記色フィルター層上に、上記光電変換素子のそれぞれに対応して二次元的に配置されたマイクロレンズを有し、上記マイクロレンズのレンズトップからレンズボトムまでの高さが400nm以上800nm以下の範囲であることを特徴とする請求項1~請求項7のいずれか1項に記載した固体撮像素子。
- 上記複数色の色フィルターのうち、上記第1の色の色フィルターの専有面積が一番広いことを特徴とする請求項1~請求項8のいずれか1項に記載した固体撮像素子。
- 請求項2~請求項9のいずれか1項に記載の固体撮像素子の製造方法であって、
上記半導体基板上に上記下層平坦化層を形成し、その上に上記第1の色の色フィルター用の塗布液を塗布し硬化させて下層平坦化層及び色フィルター層をこの順に形成した後、第1の色の色フィルターの配置位置以外の上記形成した色フィルター層部分及びその除去する色フィルター層部分の下層に位置する下層平坦化層部分をドライエッチングによって除去して第1の色の色フィルターをパターン形成する第1の工程と、
第1の工程後に、第1の色の以外の色の色フィルターを、フォトリソグラフィによってパターニングして形成する第2の工程と、を有することを特徴とする固体撮像素子の製造方法。 - 請求項3に記載の固体撮像素子の製造方法であって、
上記半導体基板上に、上記下層平坦化層を形成し、その上に上記第1の色の色フィルター用の塗布液を塗布し硬化させて下層平坦化層及び色フィルター層をこの順に形成した後、第1の色の色フィルターの配置位置以外の上記形成した色フィルター層部分及びその除去する色フィルター層部分の下層に位置する下層平坦化層部分をドライエッチングによって除去して第1の色の色フィルターをパターン形成する第1の工程と、
第1の工程後に、第1の色の以外の色の色フィルターを、ドライエッチングによってパターニングして形成する第2の工程と、を有することを特徴とする固体撮像素子の製造方法。 - 上記第1の色の色フィルターの硬化時の加熱温度が230℃以上270℃以下であることを特徴とする請求項10又は請求項11に記載した固体撮像素子の製造方法。
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Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS495760B1 (ja) | 1963-02-04 | 1974-02-08 | ||
JPH1168076A (ja) | 1997-08-14 | 1999-03-09 | Sony Corp | カラーフィルタアレイの製造方法 |
JP2004335598A (ja) * | 2003-05-02 | 2004-11-25 | Toppan Printing Co Ltd | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP2006222291A (ja) * | 2005-02-10 | 2006-08-24 | Toppan Printing Co Ltd | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP4857569B2 (ja) | 2005-02-10 | 2012-01-18 | 凸版印刷株式会社 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP2012118443A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Toppan Printing Co Ltd | 着色感光性組成物、それを用いた固体撮像素子用カラーフィルタ及びその製造方法 |
JP2013054080A (ja) * | 2011-08-31 | 2013-03-21 | Fujifilm Corp | 着色組成物、並びに、これを用いたカラーフィルタの製造方法、カラーフィルタ、及び、固体撮像素子 |
JP2013165216A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Fujifilm Corp | 撮像素子 |
WO2017086321A1 (ja) * | 2015-11-16 | 2017-05-26 | 凸版印刷株式会社 | 固体撮像素子の製造方法及び固体撮像素子、並びにカラーフィルタの製造方法及びカラーフィルタ |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7084472B2 (en) | 2002-07-09 | 2006-08-01 | Toppan Printing Co., Ltd. | Solid-state imaging device and manufacturing method therefor |
CN100449764C (zh) * | 2003-11-18 | 2009-01-07 | 松下电器产业株式会社 | 光电探测器 |
US8139131B2 (en) * | 2005-01-18 | 2012-03-20 | Panasonic Corporation | Solid state imaging device and fabrication method thereof, and camera incorporating the solid state imaging device |
EP1855320B1 (en) * | 2005-02-10 | 2013-12-11 | Toppan Printing Co., Ltd. | Solid-state imaging device and method for manufacturing same |
JP4905760B2 (ja) * | 2005-06-15 | 2012-03-28 | 富士フイルム株式会社 | カラーフィルタの製造方法、カラーフィルタ、固体撮像素子の製造方法およびこれを用いた固体撮像素子 |
US7569804B2 (en) * | 2006-08-30 | 2009-08-04 | Dongbu Hitek Co., Ltd. | Image sensor having exposed dielectric layer in a region corresponding to a first color filter by a passivation layer |
KR100821475B1 (ko) * | 2006-08-30 | 2008-04-11 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 씨모스 이미지 센서 및 그 제조방법 |
US7544982B2 (en) * | 2006-10-03 | 2009-06-09 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Image sensor device suitable for use with logic-embedded CIS chips and methods for making the same |
KR20080058549A (ko) * | 2006-12-22 | 2008-06-26 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 이미지 센서 및 이미지 센서의 제조 방법 |
KR20080060969A (ko) * | 2006-12-27 | 2008-07-02 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 이미지 센서 및 이미지 센서의 제조 방법 |
US8158307B2 (en) * | 2007-02-14 | 2012-04-17 | Fujifilm Corporation | Color filter and method of manufacturing the same, and solid-state image pickup element |
JP4741015B2 (ja) * | 2009-03-27 | 2011-08-03 | 富士フイルム株式会社 | 撮像素子 |
JP2010238848A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Sony Corp | 固体撮像装置および電子機器 |
JP5649990B2 (ja) * | 2010-12-09 | 2015-01-07 | シャープ株式会社 | カラーフィルタ、固体撮像素子、液晶表示装置および電子情報機器 |
US20130100324A1 (en) * | 2011-10-21 | 2013-04-25 | Sony Corporation | Method of manufacturing solid-state image pickup element, solid-state image pickup element, image pickup device, electronic apparatus, solid-state image pickup device, and method of manufacturing solid-state image pickup device |
JP6233775B2 (ja) * | 2013-09-30 | 2017-11-22 | 富士フイルム株式会社 | 感光性樹脂組成物、その樹脂硬化物およびカラーフィルター |
TWI675907B (zh) * | 2015-01-21 | 2019-11-01 | 日商Jsr股份有限公司 | 固體攝像裝置 |
US9673239B1 (en) * | 2016-01-15 | 2017-06-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Image sensor device and method |
-
2017
- 2017-12-22 EP EP17887913.6A patent/EP3565000B1/en active Active
- 2017-12-22 CN CN201780077151.9A patent/CN110073493A/zh active Pending
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- 2017-12-22 KR KR1020197021754A patent/KR102471568B1/ko active IP Right Grant
- 2017-12-26 TW TW106145650A patent/TWI749137B/zh active
-
2019
- 2019-06-27 US US16/454,157 patent/US11205671B2/en active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS495760B1 (ja) | 1963-02-04 | 1974-02-08 | ||
JPH1168076A (ja) | 1997-08-14 | 1999-03-09 | Sony Corp | カラーフィルタアレイの製造方法 |
JP2004335598A (ja) * | 2003-05-02 | 2004-11-25 | Toppan Printing Co Ltd | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP2006222291A (ja) * | 2005-02-10 | 2006-08-24 | Toppan Printing Co Ltd | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP4857569B2 (ja) | 2005-02-10 | 2012-01-18 | 凸版印刷株式会社 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP2012118443A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Toppan Printing Co Ltd | 着色感光性組成物、それを用いた固体撮像素子用カラーフィルタ及びその製造方法 |
JP2013054080A (ja) * | 2011-08-31 | 2013-03-21 | Fujifilm Corp | 着色組成物、並びに、これを用いたカラーフィルタの製造方法、カラーフィルタ、及び、固体撮像素子 |
JP2013165216A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Fujifilm Corp | 撮像素子 |
WO2017086321A1 (ja) * | 2015-11-16 | 2017-05-26 | 凸版印刷株式会社 | 固体撮像素子の製造方法及び固体撮像素子、並びにカラーフィルタの製造方法及びカラーフィルタ |
Non-Patent Citations (1)
Title |
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See also references of EP3565000A4 |
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---|---|
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