DE102004011741B4 - Halbleiterspeicherschaltung und zugehöriger Halbleiterspeicherbaustein - Google Patents
Halbleiterspeicherschaltung und zugehöriger Halbleiterspeicherbaustein Download PDFInfo
- Publication number
- DE102004011741B4 DE102004011741B4 DE102004011741A DE102004011741A DE102004011741B4 DE 102004011741 B4 DE102004011741 B4 DE 102004011741B4 DE 102004011741 A DE102004011741 A DE 102004011741A DE 102004011741 A DE102004011741 A DE 102004011741A DE 102004011741 B4 DE102004011741 B4 DE 102004011741B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- semiconductor memory
- signal
- output
- clock signal
- memory circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1066—Output synchronization
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1093—Input synchronization
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
- G11C7/222—Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
Abstract
Halbleiterspeicherschaltung
mit
– einem Verzögerungsregelkreis (211), der eine Verzerrung oder einen Versatz eines Eingabetaktsignals (ECLK) kompensiert und ein Ausgabetaktsignal (DCLK) erzeugt, und
– einer Ausgabeeinheit (231), die in der Halbleiterspeicherschaltung (201) gespeicherte Daten puffert und die Daten aus der Halbleiterspeicherschaltung (201) ausgibt,
gekennzeichnet durch
– eine Ausgabesteuereinheit (241), welche die Ausgabeeinheit (231) deaktiviert, während der Verzögerungsregelkreis (211) einen Synchronisiervorgang mit dem Eingabetaktsignal (ECLK) ausführt.
– einem Verzögerungsregelkreis (211), der eine Verzerrung oder einen Versatz eines Eingabetaktsignals (ECLK) kompensiert und ein Ausgabetaktsignal (DCLK) erzeugt, und
– einer Ausgabeeinheit (231), die in der Halbleiterspeicherschaltung (201) gespeicherte Daten puffert und die Daten aus der Halbleiterspeicherschaltung (201) ausgibt,
gekennzeichnet durch
– eine Ausgabesteuereinheit (241), welche die Ausgabeeinheit (231) deaktiviert, während der Verzögerungsregelkreis (211) einen Synchronisiervorgang mit dem Eingabetaktsignal (ECLK) ausführt.
Description
- Die Erfindung betrifft eine Halbleiterspeicherschaltung, insbesondere eine synchrone dynamische Speicherschaltung mit direktem Zugriff und doppelter Datenrate (DDR-SDRAM-Schaltung), nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 und einen zugehörigen Halbleiterspeicherbaustein.
- In der Regel wird ein DDR-SDRAM-Halbleiterbauelement, vorliegend auch als DDR-SDRAM-Schaltung bezeichnet, mit einer DRAM-Steuerschaltung verbunden. Die DRAM-Steuerschaltung schreibt Daten in die DDR-SDRAM-Schaltung und liest Daten aus der DDR-SDRAM-Schaltung aus. Die DDR-SDRAM-Schaltung umfasst eine Speicherbank, die Daten speichert, einen Verzögerungsregelkreis (DLL-Schaltung), der ein Taktsignal erzeugt, einen Ausgabepuffer, die ein Taktsignal erzeugt, einen Ausgabepuffer, der Daten puffert, die in der Speicherbank gespeichert sind, und die gepufferten Daten in Synchronisation mit dem Taktsignal ausgibt, und eine Ausgabesteuerschaltung, die den Betrieb des Ausgabepuffers steuert.
-
1 zeigt ein Zeitablaufdiagramm100 , das eine Fehlfunktion einer herkömmlichen DDR-SDRAM-Schaltung beschreibt, wenn die DRAM-Steuerschaltung Daten in die DDR-SDRAM-Schaltung schreibt. Nachfolgend werden die Gründe für die Fehlfunktion unter Bezugnahme auf1 beschrieben. - Nachdem die DRAM-Steuerschaltung einen Lesebefehl RD an die DDR-SDRAM-Schaltung ausgegeben hat und eine CAS-Latenz abgelaufen ist, gibt der Ausgabepuffer Daten DQR aus. Hierbei werden die Daten DQR vom Ausgabepuffer in Synchronisation mit einem Taktsignal CLK_DLL ausgegeben, das von der DLL-Schaltung ausgegeben wird.
- Die Ausgabesteuerschaltung empfängt das Taktsignal CLK_DLL und den Lesebefehl RD. Während des Empfangs des Taktsignals CLK_DLL aktiviert die Ausgabesteuerschaltung den Ausgabepuffer, wenn der Lesebefehl RD aktiviert ist, und deaktiviert den Ausgabepuffer, wenn der Lesebefehl deaktiviert ist. Diese Vorgehensweise verhindert einen unnötigen Energieverbrauch des Ausgabepuffers.
- Wird ein Vorladebefehl PR an die Speicherbank angelegt, nachdem der Ausgabepuffer die Daten DQR ausgegeben hat, dann wird das Taktsignal CLK_DLL nicht mehr an die Ausgabesteuerschaltung ausgegeben. Dieser Zustand wird beibehalten, während die DLL-Schaltung zurückgesetzt wird und einen Synchronisiervorgang mit dem der DLL-Schaltung zugeführten Signal abschließt, d. h. während einer Zeitdauer tD. Hierbei sollte die Ausgabesteuerschaltung den Ausgabepuffer deaktivieren, weil der Lesebefehl RD nicht aktiv ist. Da jedoch das Taktsignal CLK_DLL nicht in die Ausgabesteuerschaltung eingegeben wird, kann die Ausgabesteuerschaltung fälschlicherweise einen in ihr zwischengespeicherten aktiven Lesebefehl RD an den Ausgabepuffer ausgeben und den Ausgabepuffer aktivieren. Daher kann es sein, dass der Ausgabepuffer Da ten DQR an die DRAM-Steuerschaltung ohne Empfang des Lesebefehls ausgibt, wenn die in der DDR-SDRAM-Schaltung erzeugten Daten DQR in den Ausgabepuffer eingegeben werden.
- Wird anschließend ein Schreibbefehl WR aktiviert, dann schreibt die DRAM-Steuerschaltung Daten DQW in die DDR-SDRAM-Schaltung und es kann ein Datenkonflikt zwischen den in die DDR-SDRAM-Schaltung geschriebenen Daten DQW und den Daten DQR auftreten, die von der DDR-SDRAM-Schaltung ausgegeben werden. Ein solcher Konflikt kann eine Fehlfunktion der DDR-SDRAM-Schaltung verursachen.
- In der Patentschrift
US 5.835.444 ist ein Verfahren zur Steuerung eines Datenausgabepuffers eines synchronen Halbleiterspeicherbauelements, das eine Leselatenzzeit einer vorgebbaren Anzahl von Taktzyklen aufweist, offenbart, bei dem der Ausgabepuffer in Abhängigkeit von einem Eingabetaktsignal bei einem Lesevorgang freigegeben und bei einem Schreibvorgang gesperrt wird. - In der Patentschrift
US 5.325.330 ist ein System zum Treiben gespeicherter Daten auf einem bidirektionalen Bus offenbart, bei dem eine Ausgabeeinheit eines Halbleiterspeichers gesperrt wird, solange keine als gültig angesehenen Daten vorliegen. - Es ist Aufgabe der Erfindung, eine Halbleiterspeicherschaltung der eingangs genannten Art und einen zugehörigen Halbleiterspeicherbaustein zur Verfügung zu stellen, bei denen der oben erläuterte Datenkonflikt ganz oder weitgehend vermieden wird.
- Die Erfindung löst diese Aufgabe durch eine Halbleiterspeicherschaltung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 und durch einen Halbleiterspeicherbaustein mit den Merkmalen des Patentanspruchs 11.
- Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
- Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sowie das zu deren besserem Verständnis oben erläuterte, herkömmliche Ausführungsbeispiel sind in den Zeichnungen dargestellt und werden nachfolgend beschrieben. Es zeigen:
-
1 ein Zeitablaufdiagramm einer herkömmlichen DDR-SDRAM-Schaltung, wenn Daten in die DDR-SDRAM-Schaltung geschrieben werden, -
2 ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen DDR-SDRAM-Schaltung, -
3 ein Schaltbild einer Ausgabesteuereinheit aus2 und -
4 ein Zeitablaufdiagramm für Signale der DDR-SDRAM-Schaltung aus2 . -
2 zeigt ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen DDR-SDRAM-Schaltung201 . Wie aus2 ersichtlich ist, umfasst die DDR-SDRAM-Schaltung201 einen Verzögerungsregelkreis211 (DLL-Schaltung), eine Taktsignalsteuerschaltung221 , eine Ausgabesteuereinheit241 und eine Ausgabeeinheit231 . - Die DLL-Schaltung
211 kompensiert eine Verzerrung bzw. einen Versatz eines Eingabetaktsignals ECLK und erzeugt ein Ausgabetaktsignal DCLK. Die Taktsignalsteuerschaltung221 umfasst eine erste Logikeinheit223 und eine zweite Logikeinheit225 . - Die erste Logikeinheit
223 empfängt ein Lesesignal RD und ein DLL-Synchronisiersignal PDLLON. Ist das Lesesignal RD oder das DLL-Synchronisiersignal PDLLON aktiviert, dann aktiviert die erste Logikeinheit223 ihr Ausgabesignal. Sind das Lesesignal RD und das DLL-Synchronisiersignal PDLLON beide inaktiv, dann deaktiviert die erste Logikeinheit223 ihr Ausgabesignal. Das Lesesignal wird aktiviert, wenn in der DDR-SDRAM-Schaltung201 gespeicherte Daten ausgelesen werden. Das DLL-Synchronisiersignal PDLLON wird aktiviert, wenn die DLL-Schaltung211 zurückgesetzt wird und einen Synchronisiervorgang mit dem Eingabetaktsignal ECLK ausführt. Die erste Logikeinheit223 kann als ODER-Gatter ausgeführt sein. - Die zweite Logikeinheit
225 empfängt das Ausgabesignal der ersten Logikeinheit223 und das Ausgabetaktsignal DCLK der DLL-Schaltung211 . Ist das Ausgabesignal der ersten Logikeinheit223 aktiviert, dann gibt die zweite Logikeinheit225 ein Taktsignal CLK_DLL aus. Ist das Ausgabesignal der ersten Logikeinheit223 nicht aktiviert, dann gibt die zweite Logikeinheit225 das Taktsignal CLK_DLL nicht aus. Die zweite Logikeinheit kann als UND-Gatter ausgeführt sein. - Die Ausgabesteuereinheit
241 empfängt das Lesesignal RD und das Taktsignal CLK_DLL, das von der zweiten Logikeinheit225 ausgegeben wird, und gibt das Lesesignal RD als ein Steuersignal P1 synchronisiert mit dem empfangenen Taktsignal CLK_DLL an die Ausgabeeinheit231 aus. Die Ausgabesteuereinheit241 wird unter Bezugnahme auf3 näher beschrieben. - Die Ausgabeeinheit
231 empfängt Daten DQi, die in der DDR-SDRAM-Schaltung201 gespeichert sind, das Taktsignal CLK_DLL, das von der zweiten Logikeinheit225 ausgegeben wird, und das Steuersignal P1, das von der Ausgabesteuereinheit241 ausgegeben wird. Die Ausgabeeinheit231 ist aktiviert, wenn das Steuersignal P1 aktiviert ist. Wird das Steuersignal P1 deaktiviert, dann wird die Ausgabeeinheit231 deaktiviert. Daher puffert die Ausgabeeinheit231 die in der DDR-SDRAM-Schaltung201 gespeicherten Daten DQi und gibt sie als Daten DQ synchronisiert mit dem von der zweiten Logikeinheit225 ausgegebenen Taktsignal CLK_DLL aus, wenn das Steuersignal P1 aktiviert ist. Ist das Steuersignal P1 nicht aktiv, dann gibt die Ausgabeeinheit231 die Daten DQ nicht aus. - Sind die Signale DCLK, CLK_DLL, RD und PDLLON aktiv, dann sind sie in diesem Beispiel auf einem hohen logischen Pegel, und wenn sie nicht aktiv sind, dann sind sie auf einem niedrigen logischen Pegel. In alternativen Ausgestaltungen der Erfindung können die Zusammenhänge zwi schen den Signale und ihren logischen Zuständen jedoch umgekehrt sein.
-
3 zeigt ein Schaltbild der Ausgabesteuereinheit241 aus2 . Wie aus3 ersichtlich ist, umfasst die Ausgabesteuereinheit241 in dieser Realisierung eine Mehrzahl von Zwischenspeicherschaltungen311 ,312 ,313 und314 und eine Mehrzahl von Übertragungsgattern321 ,322 ,323 und324 . - Die Übertragungsgatter
321 ,322 ,323 und324 empfangen das von der zweiten Logikeinheit aus2 ausgegebene Taktsignal CLK_DLL. Ist das Taktsignal CLK_DLL auf einem hohen logischen Pegel, dann sind die Übertragungsgatter321 ,322 ,323 und324 aktiviert und geben das empfangene Lesesignal RD aus. Ist das Taktsignal CLK_DLL auf einem niedrigen logischen Pegel, dann sind die Übertragungsgatter321 ,322 ,323 und324 deaktiviert und geben das empfangene Lesesignal RD nicht aus. - Die Zwischenspeicherschaltungen
311 ,312 ,313 und314 speichern das empfangene Lesesignal RD zwischen und geben es aus. Während das Taktsignal CLK_DLL eingegeben wird, passiert das empfangene Lesesignal RD die Zwischenspeicherschaltungen311 ,312 ,313 und314 und wird als Steuersignal P1 ausgegeben. Selbstverständlich kann in Abhängigkeit von der gewünschten Konfiguration der Ausgabesteuerschaltung241 die Anzahl der Zwischenspeicherschaltungen und Übertragungsgatter verändert werden. -
4 zeigt ein Zeitablaufdiagramm400 für die Signale DCLK, CLK_DLL, RD und PDLLON aus2 . Nachfolgend wird die Funktionsweise der DDR-SDRAM-Schaltung aus2 unter Bezugnahme auf4 beschrieben. - Werden in der DDR-SDRAM-Schaltung
201 gespeicherte Daten DQi ausgelesen, dann wird das in die erste Logikeinheit223 und in die Ausgabesteuerschaltung241 eingegebene Lesesignal RD aktiviert und das Ausgabetaktsignal DCLK von der DLL-Schaltung211 ausgegeben. Dann wird das Taktsignal CLK_DLL von der zweiten Logikeinheit225 ausgegeben und an die Ausgabeeinheit231 und die Ausgabesteuereinheit241 angelegt. Wird das von der Ausgabesteuereinheit241 ausgegebene Steuersignal P1 aktiv, dann wird die Ausgabeeinheit231 aktiviert und gibt Daten DQ aus der DDR-SDRAM-Schaltung201 aus. - Ist der Datenlesevorgang abgeschlossen, dann wird das Lesesignal inaktiv und solchermaßen in die DLL-Schaltung
211 eingegeben. Hierdurch wird die DLL-Schaltung zurückgesetzt und führt einen Synchronisiervorgang mit dem Eingabetaktsignal ECLK durch. Während des Synchronisiervorgangs wird das DLL-Synchronisiersignal PDLLON aktiv, d. h. auf hohen logischen Pegel gesetzt. Daraus resultiert, dass die erste Logikeinheit223 ein Signal mit einem hohen Pegel an die zweite Logikeinheit225 ausgibt und die zweite Logikeinheit225 das Taktsignal CLK_DLL ausgibt. Hierdurch gibt die Ausgabesteuereinheit241 ein inaktives Steuersignal P1 synchronisiert mit dem von der zweiten Logikeinheit225 ausgegebenen Taktsignal CLK_DLL aus. Da das von der Ausgabesteuerschaltung241 ausgegebene Steuersignal P1 inaktiv ist, d. h. auf einem niedrigen Logikpegel ist, ist die Ausgabeeinheit231 deaktiviert und gibt keine Daten DQ aus. - Da hierbei die DDR-SDRAM-Schaltung
201 die Ausgabeeinheit231 deaktiviert, während die DLL-Schaltung211 zurückgesetzt wird und den Synchronisiervorgang ausführt, kann die Ausgabeeinheit231 keine Daten ausgeben, wenn Daten von außerhalb in die DDR-SDRAM-Schaltung201 geschrieben werden. Deshalb kann, wenn Daten in die DDR-SDRAM-Schaltung201 geschrieben werden, kein Konflikt zwischen den Daten, die aus der DDR-SDRAM-Schaltung201 ausgelesen werden, und den Daten auftreten, die in die DDR-SDRAM-Schaltung201 geschrieben werden. - Während oben beispielhaft auf eine DDR-SDRAM-Schaltung eingegangen wurde, versteht es sich, dass die Erfindung in gleicher Weise bei anderen Halbleiterspeicherschaltungen mit Verzögerungsregelkreis und Ausgabeeinheit der eingangs genannten Art nutzbringend einsetzbar ist. Da, wie oben ausgeführt wurde, kein Konflikt zwischen den Lesedaten und den Schreibdaten der erfindungsgemäßen Halbleiterspeicherschaltung auftritt, wenn Daten in selbige geschrieben werden, vermeidet die erfindungsgemäße Halbleiterspeicherschaltung die herkömmliche Fehlfunktion während eines Datenschreibvorgangs.
Claims (12)
- Halbleiterspeicherschaltung mit – einem Verzögerungsregelkreis (
211 ), der eine Verzerrung oder einen Versatz eines Eingabetaktsignals (ECLK) kompensiert und ein Ausgabetaktsignal (DCLK) erzeugt, und – einer Ausgabeeinheit (231 ), die in der Halbleiterspeicherschaltung (201 ) gespeicherte Daten puffert und die Daten aus der Halbleiterspeicherschaltung (201 ) ausgibt, gekennzeichnet durch – eine Ausgabesteuereinheit (241 ), welche die Ausgabeeinheit (231 ) deaktiviert, während der Verzögerungsregelkreis (211 ) einen Synchronisiervorgang mit dem Eingabetaktsignal (ECLK) ausführt. - Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch – eine Taktsignalsteuereinheit (
221 ), die ein Lesesignal (RD), welches aktiviert ist, wenn in der Halbleiterspeicherschaltung gespeicherte Daten ausgelesen werden, ein DLL-Synchronisiersignal (PDLLON) für den Verzögerungsregelkreis (211 ), welches aktiviert ist, wenn der Verzögerungsregelkreis (211 ) den Synchronisiervorgang mit dem Eingabetaktsignal (ECLK) durchführt, und das Ausgabetaktsignal (DCLK) empfängt und abhängig davon ein Taktsignal (CLK_DLL) ausgibt, wenn das Lesesignal (RD) oder das DLL-Synchronisiersignal (PDLLON) aktiviert ist, – wobei die Ausgabeeinheit (231 ) die Daten synchronisiert mit dem Taktsignal (CLK_DLL) der Taktsignalsteuereinheit (221 ) aus der Halbleiterspeicherschaltung (201 ) ausgibt und – wobei die Ausgabesteuereinheit (241 ) das Taktsignal (CLK_DLL) der Taktsignalsteuereinheit (221 ) und das Lesesignal (RD) empfängt und als Steuersignal (P1) das Lesesignal (RD) synchronisiert mit dem Taktsignal (CLK_DLL) der Taktsignalsteuereinheit (221 ) an die Ausgabeeinheit (231 ) ausgibt. - Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausgabeeinheit (
231 ) vom aktivierten Steuersignal (P1) der Ausgabesteuereinheit (241 ) aktiviert und vom inaktiven Steuersignal (P1) deaktiviert wird. - Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Steuersignal (P1) der Ausgabesteuereinheit (
241 ) aktiviert wird, wenn in der Halbleiterspeicherschaltung (201 ) gespeicherte Daten ausgelesen werden, und deaktiviert wird, wenn Daten in die Halbleiterspeicherschaltung (201 ) geschrieben werden. - Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Steuersignal (P1) der Ausgabesteuereinheit (
241 ) auf einem hohen logischen Pegel aktiviert ist und auf einem niedrigen logischen Pegel deaktiviert ist. - Halbleiterspeicherschaltung nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das in die Taktsignalsteuereinheit (
221 ) eingegebene DLL-Synchronisiersignal (PDLLON) aktiviert ist, wenn der Verzögerungsregelkreis (211 ) zurückgesetzt ist. - Halbleiterspeicherschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausgabesteuereinheit (
241 ) folgende Komponenten umfasst: – eine Mehrzahl von Übertragungsgattern (321 ,322 ,323 ,324 ) und – eine Mehrzahl von Zwischenspeicherschaltungen (311 ,312 ,313 ,314 ), von denen jede zwischen zwei Übertragungsgattern (321 ,322 ,323 ,324 ) eingeschleift ist und ein über das ihr vorgeschaltete Übertragungsgatter (321 ,322 ,323 ,324 ) eingegebenes Signal zwischenspeichert und das zwischengespeicherte Signal an das ihr nachfolgende Übertragungsgatter (321 ,322 ,323 ,324 ) ausgibt. - Halbleiterspeicherschaltung nach einem der Ansprüche 2 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Taktsignalsteuereinheit (
221 ) folgende Komponenten umfasst: – eine erste Logikschaltung (223 ), die das Lesesignal (RD), welches aktiviert ist, wenn in der Halbleiterspeicherschaltung gespeicherte Daten ausgelesen werden, und das DLL-Synchronisiersignal (PDLLON) empfängt, welches aktiviert ist, wenn der Verzögerungsregelkreis (211 ) den Synchronisiervorgang mit dem Eingabetaktsignal (ECLK) durchführt, und ein Ausgabesignal ausgibt, wenn das Lesesignal (RD) oder das DLL-Synchronisiersignal (PDLLON) aktiviert ist, und – eine zweite Logikschaltung (225 ), die das Ausgabesignal der ersten Logikschaltung (223 ) und das Ausgabetaktsignal (DCLK) des Verzögerungsregelkreises (211 ) empfängt und das Taktsignal (CLK_DLL) ausgibt, wenn das Ausgabesignal der ersten Logikschaltung (223 ) aktiviert ist. - Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Logikschaltung (
223 ) als ODER-Gatter ausgeführt ist und/oder die zweite Logikschaltung (225 ) als UND-Gatter ausgeführt ist. - Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, dass sie als synchrone dynamische Halbleiterspeicherschaltung (
201 ) mit direktem Zugriff und doppelter Datenrate (DDR-SDRAM-Schaltung) ausgeführt ist. - Halbleiterspeicherbaustein, gekennzeichnet durch eine Halbleiterspeicherschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 10.
- Halbleiterspeicherbaustein nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausgabesteuereinheit (
241 ) die Ausgabeeinheit (231 ) wieder aktiviert, wenn der Verzögerungsregelkreis (211 ) einen Synchronisiervorgang mit dem Eingabetaktsignal (ECLK) abgeschlossen hat, wobei der Halbleiterspeicherbaustein folgende weitere Komponenten umfasst: – Synchronisationssteuermittel, die mit der Ausgabesteuereinheit (241 ) zum Erzeugen eines Synchronisationssteuersignals kommunizieren, wenn das DLL-Synchronisiersignal (PDLLON) oder die Ausgabeeinheit (231 ) aktiviert sind, und – Synchronisationsmittel, die mit den Synchronisationssteuermitteln zum Synchronisieren der Ausgabeeinheit (231 ) in Reaktion auf das Synchronisationssteuersignal und das Ausgabetaktsignal (DCLK) kommunizieren.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR03/13423 | 2003-03-04 | ||
KR10-2003-0013423A KR100510521B1 (ko) | 2003-03-04 | 2003-03-04 | 더블 데이터 레이트 동기식 디램 반도체 장치 |
KR10-2003-0013423 | 2003-03-04 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102004011741A1 DE102004011741A1 (de) | 2005-03-03 |
DE102004011741B4 true DE102004011741B4 (de) | 2008-11-27 |
Family
ID=32923782
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102004011741A Expired - Fee Related DE102004011741B4 (de) | 2003-03-04 | 2004-03-03 | Halbleiterspeicherschaltung und zugehöriger Halbleiterspeicherbaustein |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7038972B2 (de) |
KR (1) | KR100510521B1 (de) |
DE (1) | DE102004011741B4 (de) |
TW (1) | TWI240931B (de) |
Families Citing this family (50)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7325099B2 (en) * | 2004-10-27 | 2008-01-29 | Intel Corporation | Method and apparatus to enable DRAM to support low-latency access via vertical caching |
US7395375B2 (en) * | 2004-11-08 | 2008-07-01 | International Business Machines Corporation | Prefetch miss indicator for cache coherence directory misses on external caches |
US7466783B2 (en) * | 2004-12-13 | 2008-12-16 | Lexmark International, Inc. | Method and system to implement a double data rate (DDR) interface |
US7499368B2 (en) * | 2005-02-07 | 2009-03-03 | Texas Instruments Incorporated | Variable clocking read capture for double data rate memory devices |
US7233543B2 (en) * | 2005-03-01 | 2007-06-19 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method to change data window |
US7392338B2 (en) | 2006-07-31 | 2008-06-24 | Metaram, Inc. | Interface circuit system and method for autonomously performing power management operations in conjunction with a plurality of memory circuits |
US8081474B1 (en) | 2007-12-18 | 2011-12-20 | Google Inc. | Embossed heat spreader |
US20080082763A1 (en) | 2006-10-02 | 2008-04-03 | Metaram, Inc. | Apparatus and method for power management of memory circuits by a system or component thereof |
US8089795B2 (en) | 2006-02-09 | 2012-01-03 | Google Inc. | Memory module with memory stack and interface with enhanced capabilities |
US8327104B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-12-04 | Google Inc. | Adjusting the timing of signals associated with a memory system |
US8077535B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-12-13 | Google Inc. | Memory refresh apparatus and method |
US8111566B1 (en) | 2007-11-16 | 2012-02-07 | Google, Inc. | Optimal channel design for memory devices for providing a high-speed memory interface |
US9171585B2 (en) | 2005-06-24 | 2015-10-27 | Google Inc. | Configurable memory circuit system and method |
US8130560B1 (en) | 2006-11-13 | 2012-03-06 | Google Inc. | Multi-rank partial width memory modules |
US8397013B1 (en) | 2006-10-05 | 2013-03-12 | Google Inc. | Hybrid memory module |
US8386722B1 (en) | 2008-06-23 | 2013-02-26 | Google Inc. | Stacked DIMM memory interface |
US7386656B2 (en) | 2006-07-31 | 2008-06-10 | Metaram, Inc. | Interface circuit system and method for performing power management operations in conjunction with only a portion of a memory circuit |
US7590796B2 (en) * | 2006-07-31 | 2009-09-15 | Metaram, Inc. | System and method for power management in memory systems |
US8090897B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-01-03 | Google Inc. | System and method for simulating an aspect of a memory circuit |
US8438328B2 (en) | 2008-02-21 | 2013-05-07 | Google Inc. | Emulation of abstracted DIMMs using abstracted DRAMs |
US8041881B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-10-18 | Google Inc. | Memory device with emulated characteristics |
US8169233B2 (en) | 2009-06-09 | 2012-05-01 | Google Inc. | Programming of DIMM termination resistance values |
US9507739B2 (en) | 2005-06-24 | 2016-11-29 | Google Inc. | Configurable memory circuit system and method |
US8244971B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-08-14 | Google Inc. | Memory circuit system and method |
US8335894B1 (en) * | 2008-07-25 | 2012-12-18 | Google Inc. | Configurable memory system with interface circuit |
US10013371B2 (en) | 2005-06-24 | 2018-07-03 | Google Llc | Configurable memory circuit system and method |
US9542352B2 (en) | 2006-02-09 | 2017-01-10 | Google Inc. | System and method for reducing command scheduling constraints of memory circuits |
US8055833B2 (en) | 2006-10-05 | 2011-11-08 | Google Inc. | System and method for increasing capacity, performance, and flexibility of flash storage |
US8060774B2 (en) | 2005-06-24 | 2011-11-15 | Google Inc. | Memory systems and memory modules |
US8359187B2 (en) | 2005-06-24 | 2013-01-22 | Google Inc. | Simulating a different number of memory circuit devices |
US20080028136A1 (en) | 2006-07-31 | 2008-01-31 | Schakel Keith R | Method and apparatus for refresh management of memory modules |
US8796830B1 (en) | 2006-09-01 | 2014-08-05 | Google Inc. | Stackable low-profile lead frame package |
KR100599216B1 (ko) * | 2005-07-11 | 2006-07-12 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 출력회로 및 데이터 출력방법 |
US7379316B2 (en) | 2005-09-02 | 2008-05-27 | Metaram, Inc. | Methods and apparatus of stacking DRAMs |
WO2007095080A2 (en) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Metaram, Inc. | Memory circuit system and method |
US9632929B2 (en) | 2006-02-09 | 2017-04-25 | Google Inc. | Translating an address associated with a command communicated between a system and memory circuits |
US7783911B2 (en) * | 2006-06-27 | 2010-08-24 | International Business Machines Corporation | Programmable bus driver launch delay/cycle delay to reduce elastic interface elasticity requirements |
US7882322B2 (en) * | 2006-06-27 | 2011-02-01 | International Business Machines Corporation | Early directory access of a double data rate elastic interface |
US7734944B2 (en) * | 2006-06-27 | 2010-06-08 | International Business Machines Corporation | Mechanism for windaging of a double rate driver |
US7739538B2 (en) * | 2006-06-27 | 2010-06-15 | International Business Machines Corporation | Double data rate chaining for synchronous DDR interfaces |
US7752475B2 (en) * | 2006-06-27 | 2010-07-06 | International Business Machines Corporation | Late data launch for a double data rate elastic interface |
US7724589B2 (en) | 2006-07-31 | 2010-05-25 | Google Inc. | System and method for delaying a signal communicated from a system to at least one of a plurality of memory circuits |
KR100910853B1 (ko) * | 2007-03-29 | 2009-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법 |
US8209479B2 (en) | 2007-07-18 | 2012-06-26 | Google Inc. | Memory circuit system and method |
US8080874B1 (en) | 2007-09-14 | 2011-12-20 | Google Inc. | Providing additional space between an integrated circuit and a circuit board for positioning a component therebetween |
KR101418015B1 (ko) * | 2008-02-20 | 2014-07-09 | 삼성전자주식회사 | 스큐 조정 회로 및 방법 |
KR100985410B1 (ko) * | 2008-12-30 | 2010-10-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치 |
US8355294B2 (en) * | 2011-03-18 | 2013-01-15 | Freescale Semiconductor, Inc | Synchronous data processing system for reliable transfer of data irrespective of propagation delays and process, voltage and temperature (PVT) variations |
KR101882852B1 (ko) * | 2011-12-22 | 2018-07-31 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 클럭 신호 생성 회로와 그를 이용하는 반도체 메모리 장치 |
CN103730149B (zh) * | 2014-01-20 | 2016-05-25 | 中国科学院电子学研究所 | 一种双端口存储器的读写控制电路 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5325330A (en) * | 1993-02-11 | 1994-06-28 | Micron Semiconductor, Inc. | Memory circuit with foreshortened data output signal |
US5835444A (en) * | 1995-09-11 | 1998-11-10 | Samsung Electronics, Co., Ltd. | Method for controlling data output buffer for use in operation at high frequency of synchronous memory |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4397076B2 (ja) * | 1999-08-20 | 2010-01-13 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
JP3807593B2 (ja) | 2000-07-24 | 2006-08-09 | 株式会社ルネサステクノロジ | クロック生成回路および制御方法並びに半導体記憶装置 |
JP2002230972A (ja) | 2001-02-06 | 2002-08-16 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
KR100438778B1 (ko) * | 2001-11-07 | 2004-07-05 | 삼성전자주식회사 | 웨이브 파이프라인 구조를 갖는 동기식 반도체 메모리장치및 웨이브 파이프라인 제어방법 |
JP2003297083A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
-
2003
- 2003-03-04 KR KR10-2003-0013423A patent/KR100510521B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-03-03 DE DE102004011741A patent/DE102004011741B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2004-03-04 TW TW093105713A patent/TWI240931B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-03-04 US US10/793,209 patent/US7038972B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5325330A (en) * | 1993-02-11 | 1994-06-28 | Micron Semiconductor, Inc. | Memory circuit with foreshortened data output signal |
US5835444A (en) * | 1995-09-11 | 1998-11-10 | Samsung Electronics, Co., Ltd. | Method for controlling data output buffer for use in operation at high frequency of synchronous memory |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20040174765A1 (en) | 2004-09-09 |
KR20040078471A (ko) | 2004-09-10 |
TWI240931B (en) | 2005-10-01 |
US7038972B2 (en) | 2006-05-02 |
DE102004011741A1 (de) | 2005-03-03 |
TW200428409A (en) | 2004-12-16 |
KR100510521B1 (ko) | 2005-08-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102004011741B4 (de) | Halbleiterspeicherschaltung und zugehöriger Halbleiterspeicherbaustein | |
DE10322364B4 (de) | Datenpuffer und Halbleiterspeicher sowie zugehöriges Verfahren zur Verzögerungszeitsteuerung | |
DE19860650B4 (de) | Synchrone Halbleiter-Speichervorrichtung mit einer Chip-Satz-Speichersteuervorrichtung mit Datenausblend-Maskenfunktion | |
DE69906793T2 (de) | Verfahren und anordnung für hochgeschwindigkeitsdatenerfassung mit korrektur der bit-zu-bit-zeitgebung und speicheranordnung unter verwendung derselben | |
DE19645437C2 (de) | Synchronhalbleiterspeichereinrichtung mit einer internen Schaltungseinrichtung, die nur dann betriebsberechtigt ist, wenn in normaler Reihenfolge Befehle angelegt sind | |
DE102006045254B4 (de) | Verzögerungsregelschleife für Hochgeschwindigkeits-Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE102005010906A1 (de) | Taktsignalerzeugungsvorrichtung zur Verwendung in einer Halbleiterspeichervorrichtung und ihr Verfahren | |
DE102004050080B4 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung mit Spaltenadresspfad darin zur Energieverbrauchsreduzierung | |
DE102006004596A1 (de) | Verfahren und Vorrichtungen zum Implementieren einer Leistungsreduzierung bei einer Speichervorrichtung | |
DE10210904A1 (de) | Speichermodul, zugehöriges Speichersystem und Taktsignalerzeugungsverfahren | |
DE102006020857A1 (de) | Integrierter Halbleiterspeicher zur Synchronisierung eines Signals mit einem Taktsignal | |
DE102009020758A1 (de) | Halbleiterspeicherbauelement und zugehöriges Zugriffsverfahren | |
DE10049029B4 (de) | Schaltung und Verfahren zur Latenzbestimmung, Pufferschaltung mit variabler Latenz und Speicherbauelement | |
DE102006052338B4 (de) | Schreibzugriff und nachfolgender Lesezugriff auf einen Speicherbaustein | |
DE19951677A1 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE60037846T2 (de) | Synchronhalbleiterspeicheranordnung | |
DE10208715A1 (de) | Latenz-Zeitschalter für ein S-DRAM | |
DE102005030545A1 (de) | Halbleiterspeicherbauelement mit Datenleitungspaaren | |
DE19738893A1 (de) | Schaltsignalgenerator und diesen verwendendes, synchrones SRAM | |
DE60100612T2 (de) | Synchrone Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE10208716B4 (de) | Steuerschaltung für ein S-DRAM | |
DE102006046140A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum dynamischen Steuern eines Datentransfers in einer Speichervorrichtung | |
DE10217359A1 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung, die sowohl für eine CAS-Latenzzeit von eins als auch für eine CAS-Latenzzeit von mehr als eins betreibbar ist | |
DE19752664C2 (de) | Synchrone Halbleitervorrichtung mit Speicherchips in einem Modul zur Steuerung eines Freigabesignals als Auslöser beim Lesen von Daten | |
DE10029887A1 (de) | Synchrone Halbleiterspeichervorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20141001 |